CN219758437U - 一种调节探针接触位置的测试座 - Google Patents
一种调节探针接触位置的测试座 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219758437U CN219758437U CN202321262459.XU CN202321262459U CN219758437U CN 219758437 U CN219758437 U CN 219758437U CN 202321262459 U CN202321262459 U CN 202321262459U CN 219758437 U CN219758437 U CN 219758437U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- positioning
- test seat
- locating
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 31
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种调节探针接触位置的测试座,包括测试座和定位板，测试座底部四个角落设置有凹槽，凹槽内连接有定位销和测试座螺丝孔，定位板表面设置有四个定位块，定位块分别开设有贯穿的定位块螺丝孔和定位孔，定位销卡入定位孔中，定位块螺丝孔螺纹配合有内六角螺栓，内六角螺栓上套接有弹簧，本实用新型通过定位板四个角落的四个定位块，微调测试座与定位板之间间距，使得接触不到位的探针重新与PCB接触点接触，避免接触不良现象。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种调节探针接触位置的测试座。
背景技术
芯片测试是现代电子工业中非常重要的一环，它是确保芯片质量和性能的关键步骤。在芯片测试中，测试设备通过对芯片进行电气性能和功能测试来评估其质量和可靠性。在过去的几十年里，随着电子设备的迅速发展，芯片测试技术也得到了极大的发展。近年来，人们对芯片测试技术进行了深入研究。
目前测试座在进行芯片测试时，由于探针高度，压缩量等可能会存在误差，会导致探针与PCB板接触点接触不良现象。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的目前测试座在进行芯片测试时，由于探针高度，压缩量等可能会存在误差，会导致探针与PCB板接触点接触不良现象的缺点，而提出的一种调节探针接触位置的测试座。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种调节探针接触位置的测试座，包括测试座和定位板，所述测试座底部四个角落设置有凹槽，所述凹槽内连接有定位销和测试座螺丝孔，所述定位板表面设置有四个定位块，所述定位块分别开设有贯穿的定位块螺丝孔和定位孔，所述定位销卡入定位孔中，所述定位块螺丝孔螺纹配合有内六角螺栓，所述内六角螺栓上套接有弹簧。
进一步的，所述测试座底部中间设置有探针。
进一步的，所述定位板中间位置设置有PCB板接触点。
进一步的，所述探针的根部接触PCB板接触点。
进一步的，所述定位块高出定位板3mm。
本实用新型的有益效果是：当测试座处于测试状态探针与PCB板接触点接触不良时，旋动内六角螺栓从而调节测试座与PCB接触点之间的距离，使探针与PCB接触点接触到位，通过定位板四个角落的四个定位块，微调测试座与定位板之间间距，使得接触不到位的探针重复与PCB接触点接触，避免接触不良现象。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种调节探针接触位置的测试座的侧视结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种调节探针接触位置的测试座的定位板底部结构示意图；
图中：1、测试座；2、内六角螺栓；3、弹簧；4、定位块；5、PCB板接触点；6、定位销；7、探针；8、定位块螺丝孔；9、测试座螺丝孔；10、定位板；11、定位孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖“、“直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
本实施例中，参照图1-2，一种调节探针接触位置的测试座，包括测试座1和定位板10，所述测试座1底部四个角落设置有凹槽，所述凹槽内连接有定位销6和测试座螺丝孔9，所述定位板10表面设置有四个定位块4，所述定位块4分别开设有贯穿的定位块螺丝孔8和定位孔11，所述定位销6卡入定位孔11中，所述定位块螺丝孔8螺纹配合有内六角螺栓2，所述内六角螺栓2上套接有弹簧3。
作为本实用的一个优选方案，所述测试座1底部中间设置有探针7。
作为本实用的一个优选方案，所述定位板10中间位置设置有PCB板接触点5。
作为本实用的一个优选方案，所述探针7的根部接触PCB板接触点5。
作为本实用的一个优选方案，所述定位块4高出定位板103mm。
工作原理：当测试座1处于测试状态探针7与PCB板接触点5接触不良时，旋动内六角螺栓2从而调节测试座1与PCB接触点5之间的距离，使探针7与PCB接触点5接触到位，通过定位板10四个角落的四个定位块4，微调测试座1与定位板10之间间距，使得接触不到位的探针7重新与PCB接触点5接触，避免接触不良现象。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种调节探针接触位置的测试座，其特征在于，包括测试座(1)和定位板(10)，所述测试座(1)底部四个角落设置有凹槽，所述凹槽内连接有定位销(6)和测试座螺丝孔(9)，所述定位板(10)表面设置有四个定位块(4)，所述定位块(4)分别开设有贯穿的定位块螺丝孔(8)和定位孔(11)，所述定位销(6)卡入定位孔(11)中，所述定位块螺丝孔(8)螺纹配合有内六角螺栓(2)，所述内六角螺栓(2)上套接有弹簧(3)。
2.根据权利要求1所述的一种调节探针接触位置的测试座，其特征在于，所述测试座(1)底部中间设置有探针(7)。
3.根据权利要求2所述的一种调节探针接触位置的测试座，其特征在于，所述定位板(10)中间位置设置有PCB板接触点(5)。
4.根据权利要求3所述的一种调节探针接触位置的测试座，其特征在于，所述探针(7)的根部接触PCB板接触点(5)。
5.根据权利要求1所述的一种调节探针接触位置的测试座，其特征在于，所述定位块(4)高出定位板(10)3mm。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321262459.XU CN219758437U (zh) | 2023-05-24 | 2023-05-24 | 一种调节探针接触位置的测试座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321262459.XU CN219758437U (zh) | 2023-05-24 | 2023-05-24 | 一种调节探针接触位置的测试座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219758437U true CN219758437U (zh) | 2023-09-26 |
Family
ID=88081770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321262459.XU Active CN219758437U (zh) | 2023-05-24 | 2023-05-24 | 一种调节探针接触位置的测试座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219758437U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117434318A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-01-23 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
-
2023
- 2023-05-24 CN CN202321262459.XU patent/CN219758437U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117434318A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-01-23 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
| CN117434318B (zh) * | 2023-12-20 | 2024-03-05 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN219758437U (zh) | 一种调节探针接触位置的测试座 | |
| CN100359328C (zh) | 测量电阻用的连接件、电路板的电阻测量设备和测量方法 | |
| US6902410B2 (en) | Contact unit and socket for electrical parts | |
| US20070126442A1 (en) | Probe chip and probe card | |
| CN204166012U (zh) | 一种pcba板多功能高效测试治具 | |
| CN114252838A (zh) | 一种mems垂直探针综合测试平台及测试方法 | |
| CN110850272A (zh) | 一种探针夹具及芯片电性测试装置 | |
| CN207992338U (zh) | 指纹模组测试治具 | |
| US20040046583A1 (en) | Modular socket of integrated circuit | |
| US20050009386A1 (en) | Compliant electrical probe device incorporating anisotropically conductive elastomer and flexible circuits | |
| CN211700197U (zh) | 一种自动芯片测试机 | |
| CN117368545A (zh) | 一种注塞式导电胶测试模组 | |
| CN218036996U (zh) | 一种用于大电流芯片的开尔文测试座 | |
| US20090163051A1 (en) | Socket for semiconductor device | |
| EP1655808A1 (en) | Contactor, frame comprising such a contactor, electrical measuring and testing apparatus and method of contacting by means of such a contactor | |
| KR200372568Y1 (ko) | Fpc 검사용 지그 | |
| JP3090329U (ja) | モジュール化集積回路ソケット | |
| EP1921459A1 (en) | Calibration board for electronic component testing apparatus | |
| CN210604887U (zh) | 一种bga芯片快速测试治具 | |
| CN219016386U (zh) | 一种中间开孔芯片的测试装置 | |
| CN221765523U (zh) | 一种芯片用连接板 | |
| CN219676199U (zh) | 一种多芯片同测的测试座 | |
| CN213875764U (zh) | 一种pcb电路板检测用治具 | |
| JP2007078456A (ja) | Ｉｃソケット及びこれを用いたｉｃテスタ | |
| CN214067358U (zh) | 一种可实现线材产品摇摆时测试的治具 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |
Denomination of utility model: A test stand for adjusting the contact position of the probe Granted publication date: 20230926 Pledgee: Bank of Nanjing Co.,Ltd. Changzhou Branch Pledgor: Anying Semiconductor Technology (Changzhou) Co.,Ltd. Registration number: Y2024980017574 |
|
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |