CN210668280U - 一种半导体晶闸管性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体生产技术领域，尤其是一种半导体晶闸管性能测试装置，针对现有的使用不便的问题，现提出如下方案，其包括工作箱，所述工作箱的内壁固定连接有分隔板，所述分隔板的上侧固定连接有安装板，所述安装板的上侧设置有滑槽，所述安装板内滑动连接有位于滑槽内的滑块，所述滑块的下侧固定连接有与安装板固定连接的弹簧，两个所述滑块之间固定连接有移动板，所述移动板的底部通过螺栓固定连接有震动电机，所述移动板的上侧螺纹套接有连接柱，所述连接柱的上侧固定连接有功能块，本实用新型结构简单，使用方便，方便的进行检测，可以满足不同环境的改变，保证检测的全面，方便适应不同的工作，方便携带。

Description

一种半导体晶闸管性能测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体生产技术领域，尤其涉及一种半导体晶闸管性能测试装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用。如二极管就是采用半导体制作的器件，其中晶闸管是其中一中半导体，在生产生活中运用较为广泛。

在晶闸管验收的过程中，需要对晶闸管进行一定的检测，验收产品的质量，现有的检测装置一般为工厂内进行检测，使得携带和收纳不便，不方便使用。

实用新型内容

本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置，解决了使用不便的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体晶闸管性能测试装置，包括工作箱，所述工作箱的内壁固定连接有分隔板，所述分隔板的上侧固定连接有安装板，所述安装板的上侧设置有滑槽，所述安装板内滑动连接有位于滑槽内的滑块，所述滑块的下侧固定连接有与安装板固定连接的弹簧，两个所述滑块之间固定连接有移动板，所述移动板的底部通过螺栓固定连接有震动电机，所述移动板的上侧螺纹套接有连接柱，所述连接柱的上侧固定连接有功能块，所述功能块的内壁滑动套接有检测器，所述功能块内镶嵌有加热器，所述分隔板的下方设置有与工作箱固定连接的电源，所述安装板的下侧滑动连接有测控器。

优选的，所述功能块的上侧通过弹簧铰链转动连接有挤压门，所述挤压门的一侧固定连接有橡胶缓冲垫。

优选的，所述滑块与滑槽的槽壁滑动连接，所述滑块采用矩形结构。

优选的，所述功能块的下侧固定连接有导电圈，所述导电圈采用黄铜材质。

优选的，所述工作箱的一个通过铰链转动连接有密封门，所述安装板的上侧固定连接有平行设置的收料箱。

优选的，所述测控器的两侧均固定连接有连接有限定块，所述限定块与安装板滑动套接。

本实用新型的有益效果：

1、通过可以方便拆装的功能块和检测器，进而方便的进行检测，同时通过加热器的加热和震动电机的震动，可以满足不同环境的改变，保证检测的完全。

2、通过不同的收纳装置，可以对晶闸管进行收纳的同时，可以方便的将整个装置进行收纳和更换，方便适应不同的工作，方便携带。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的主视剖视示意图。

图2为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的左视剖视示意图。

图3为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的俯视示意图。

图4为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的A处放大示意图。

图中标号：1、工作箱；2、分隔板；3、限定块；4、安装板；5、收料箱；6、功能块；7、连接柱；8、检测器；9、滑槽；10、密封门；11、测控器；12、电源；13、震动电机；14、滑块；15、弹簧；16、移动板；17、导电圈；18、加热器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-4，一种半导体晶闸管性能测试装置，包括工作箱1，工作箱1的内壁固定连接有分隔板2，分隔板2的上侧固定连接有安装板4，安装板4的上侧设置有滑槽9，安装板4内滑动连接有位于滑槽9内的滑块14，滑块14的下侧固定连接有与安装板4固定连接的弹簧15，两个滑块14之间固定连接有移动板16，移动板16的底部通过螺栓固定连接有震动电机13，移动板16的上侧螺纹套接有连接柱7，连接柱7的上侧固定连接有功能块6，功能块6的内壁滑动套接有检测器8，功能块6内镶嵌有加热器18，分隔板2的下方设置有与工作箱1固定连接的电源12，安装板4的下侧滑动连接有测控器11，使用过程中，首先将检测器8拿出，然后将需要检测的晶闸管安装到检测器8内，或者不拿出检测器8直接将晶闸管安装到检测器8内，进行工作，在工作过程中，震动电机13和加热器18经过测控器11的指令，根据需要进行震动或者加热，改变检测的环境，以检测不同环境下的晶闸管性能的检测，其中测控器11为现有结构，可以根据需要进行更换，检测完成后，拿出晶闸管，进行下一个的测量。

功能块6的上侧通过弹簧铰链转动连接有挤压门，挤压门的一侧固定连接有橡胶缓冲垫，通过挤压门可以对检测器8进行一定的限定，保证器安全稳定的进行。

滑块14与滑槽9的槽壁滑动连接，滑块14采用矩形结构，经过滑块14与滑槽9之间的连接，使得移动板16可以限一定的限制下移动，保证装置的稳定。

功能块6的下侧固定连接有导电圈17，导电圈17采用黄铜材质，通过掉线圈17可以对上方的检测器8和加热器18进行通电，保证检测的进行。

工作箱1的一个通过铰链转动连接有密封门10，安装板4的上侧固定连接有平行设置的收料箱5，通过密封门10可以进行装置的密封，方便进行收纳，收料箱5进行测控后的优良品或者次品的放置。

测控器11的两侧均固定连接有连接有限定块3，限定块与安装板4滑动套接，限定块3保证测控器11的连接。

工作原理：使用时，首先将检测器8拿出，然后将需要检测的晶闸管安装到检测器8内，或者不拿出检测器8直接将晶闸管安装到检测器8内，进行工作，在工作过程中，震动电机13和加热器18经过测控器11的指令，根据需要进行震动或者加热，改变检测的环境，以检测不同环境下的晶闸管性能的检测，检测完成后，拿出晶闸管，进行下一个的测量，根据加测的结构，可以在收料箱5中进行收纳，方便进行后续的计算。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体晶闸管性能测试装置，包括工作箱(1)，其特征在于，所述工作箱(1)的内壁固定连接有分隔板(2)，所述分隔板(2)的上侧固定连接有安装板(4)，所述安装板(4)的上侧设置有滑槽(9)，所述安装板(4)内滑动连接有位于滑槽(9)内的滑块(14)，所述滑块(14)的下侧固定连接有与安装板(4)固定连接的弹簧(15)，两个所述滑块(14)之间固定连接有移动板(16)，所述移动板(16)的底部通过螺栓固定连接有震动电机(13)，所述移动板(16)的上侧螺纹套接有连接柱(7)，所述连接柱(7)的上侧固定连接有功能块(6)，所述功能块(6)的内壁滑动套接有检测器(8)，所述功能块(6)内镶嵌有加热器(18)，所述分隔板(2)的下方设置有与工作箱(1)固定连接的电源(12)，所述安装板(4)的下侧滑动连接有测控器(11)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述功能块(6)的上侧通过弹簧铰链转动连接有挤压门，所述挤压门的一侧固定连接有橡胶缓冲垫。

3.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述滑块(14)与滑槽(9)的槽壁滑动连接，所述滑块(14)采用矩形结构。

4.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述功能块(6)的下侧固定连接有导电圈(17)，所述导电圈(17)采用黄铜材质。

5.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述工作箱(1)的一个通过铰链转动连接有密封门(10)，所述安装板(4)的上侧固定连接有平行设置的收料箱(5)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述测控器(11)的两侧均固定连接有连接有限定块(3)，所述限定块(3)与安装板(4)滑动套接。

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