CN213091804U - 一种半导体晶闸管性能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚，避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体开发技术领域，尤其涉及一种半导体晶闸管性能测试装置。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；如二极管就是采用半导体制作的器件，其中晶闸管是其中一种半导体，在生产生活中运用较为广泛；而在晶闸管验收的过程中，常常需要对晶闸管进行一定的检测，验收产品的质量。
但是，在现有技术中，在对晶闸管进行性能检测常常是通过人工多次使用万用表多次触碰晶闸管的引脚来判断管子的触发灵敏度，从而判断晶闸管的性能，这种方式的检测效率较低，耗费大量人力资源，且在检测的过程中直接对晶闸管的引脚进行检测，常常导致引脚受力出现弯折损坏的问题，大大降低了晶闸管的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，如：传统晶闸管的检测常常通过人工进行依次检测，效率较低，耗费人力，且在检测时常常由于直接对晶闸管的引脚施加外力，常常导致晶闸管引脚弯折损坏，大大降低了晶闸管的使用寿命，提出的一种半导体晶闸管性能测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。
优选地，所述固定装置包括压板，所述压板的两端对称转动设置有两个锁紧螺母，两个所述锁紧螺母均贯穿压板设置，所述底座上开设有与锁紧螺母对应的螺纹孔，所述压板上设有与晶闸管对应的保护机构。
优选地，所述保护机构包括两根导体棒，所述压板的下壁上对称固定设置有两块固定板，两根所述导体棒分别转动贯穿两块固定板设置，且两根所述导体棒的侧壁上均设置有螺纹，所述固定板上设有与导体棒对应的螺纹口，且两根所述导体棒均与晶闸管的引脚对应设置。
优选地，所述传动机构包括电机，所述电机固定设置在背板靠近活动板的一侧侧壁上，且所述电机的输出端上均固定设置有主动齿轮，所述背板上还对称转动设置有两根转杆，两根所述转杆上均固定设置有传动齿轮，两个所述传动齿轮均与主动齿轮啮合设置，两根所述转杆靠近活动板的一端均固定设置有转轮，两块所述活动板上均设有与转轮对应的传动槽，所述转轮的侧壁上周向设置有半圈卡齿，所述传动槽的两侧侧壁上对称开设有与卡齿对应的若干卡齿槽。
优选地，所述测试机构包括两块测试板，两块所述测试板均滑动设置在背板靠近晶闸管的一侧侧壁上，且两块所述测试板靠近背板的一端均固定设置有滑杆，两根所述滑杆均贯穿背板设置，所述背板上对称开设有与滑杆对应的两个条形滑口，两根所述滑杆远离测试板的一端均与活动板固定连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过压板与锁紧螺母的配合，实现了对晶闸管的固定，通过设置导体棒，使得导体棒紧贴晶闸管的引脚，从而避免晶闸管引脚直接受力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命，通过主动齿轮与传动齿轮的配合，实现了电机转动带动转杆转动，从而带动转轮在传动槽内转动，进而使得活动板进行往复运动，从而带动测试板进行往复运动，进而实现对引脚的多次碰触完成对晶闸管触发灵敏度的检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，节约了劳动力。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的俯视结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种半导体晶闸管性能测试装置的正面结构示意图；
图3为活动板上的结构示意图。
图中：1底座、2背板、3活动板、4滑块、5滑杆、6转杆、7传动齿轮、8主动齿轮、9电机、10压板、11锁紧螺母、12晶闸管、13测试板、14固定板、15导体棒、16转轮、17传动槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-3，一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座1，底座1上固定设置有背板2，底座1上设有晶闸管12，且底座1上设有与晶闸管12对应的固定装置，固定装置包括压板10，压板10的两端对称转动设置有两个锁紧螺母11，两个锁紧螺母11均贯穿压板10设置，底座1上开设有与锁紧螺母11对应的螺纹孔，通过压板10与锁紧螺母11的配合，实现了对晶闸管12的固定，压板10上设有与晶闸管12对应的保护机构，保护机构包括两根导体棒15，压板10的下壁上对称固定设置有两块固定板14，两根导体棒15分别转动贯穿两块固定板14设置，且两根导体棒15的侧壁上均设置有螺纹，固定板14上设有与导体棒15对应的螺纹口，且两根导体棒15均与晶闸管12的引脚对应设置，通过设置导体棒15，使得导体棒15紧贴晶闸管12的引脚，从而避免晶闸管12引脚直接受力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管12的使用寿命，背板2远离晶闸管12的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板3，两块活动板3均通过滑块4滑动设置在背板2上，背板2上还设有与活动板3对应的传动机构，传动机构包括电机9，电机9固定设置在背板2靠近活动板3的一侧侧壁上，且电机9的输出端上均固定设置有主动齿轮8，背板2上还对称转动设置有两根转杆6，两根转杆6上均固定设置有传动齿轮7，两个传动齿轮7均与主动齿轮8啮合设置，两根转杆6靠近活动板3的一端均固定设置有转轮16，两块活动板3上均设有与转轮16对应的传动槽17，转轮16的侧壁上周向设置有半圈卡齿，传动槽17的两侧侧壁上对称开设有与卡齿对应的若干卡齿槽，背板2上还设有与晶闸管12对应的测试机构，测试机构包括两块测试板13，两块测试板13均滑动设置在背板2靠近晶闸管12的一侧侧壁上，且两块测试板13靠近背板2的一端均固定设置有滑杆5，两根滑杆5均贯穿背板2设置，背板2上对称开设有与滑杆5对应的两个条形滑口，两根滑杆5远离测试板13的一端均与活动板3固定连接，通过主动齿轮8与传动齿轮7的配合，实现了电机9转动带动转杆6转动，从而带动转轮16在传动槽17内转动，进而使得活动板3进行往复运动，从而带动测试板13进行往复运动，进而实现对引脚的多次碰触完成对晶闸管12触发灵敏度的检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，节约了劳动力。
本实用新型中，工作人员在对晶闸管12的性能进行检测时，只需拧送锁紧螺母11抬升压板10将晶闸管12放置在压板10的下侧再拧紧锁紧螺母11完成对晶闸管12的固定后，转动导体棒15使得导体棒15紧贴晶闸管12的引脚后，开启电机9带动主动齿轮8转动，通过传动齿轮7的配合，使得转杆6转动，从而带动转轮16转动，再通过卡齿与卡齿槽的配合，使得活动板3进行往复运动，从而带动测试板13往复运动，进而完成对晶闸管12的触发灵敏度的检测。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上固定设置有背板(2)，所述底座(1)上设有晶闸管(12)，且所述底座(1)上设有与晶闸管(12)对应的固定装置，所述背板(2)远离晶闸管(12)的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板(3)，两块所述活动板(3)均通过滑块(4)滑动设置在背板(2)上，所述背板(2)上还设有与活动板(3)对应的传动机构，所述背板(2)上还设有与晶闸管(12)对应的测试机构。
2.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述固定装置包括压板(10)，所述压板(10)的两端对称转动设置有两个锁紧螺母(11)，两个所述锁紧螺母(11)均贯穿压板(10)设置，所述底座(1)上开设有与锁紧螺母(11)对应的螺纹孔，所述压板(10)上设有与晶闸管(12)对应的保护机构。
3.根据权利要求2所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述保护机构包括两根导体棒(15)，所述压板(10)的下壁上对称固定设置有两块固定板(14)，两根所述导体棒(15)分别转动贯穿两块固定板(14)设置，且两根所述导体棒(15)的侧壁上均设置有螺纹，所述固定板(14)上设有与导体棒(15)对应的螺纹口，且两根所述导体棒(15)均与晶闸管(12)的引脚对应设置。
4.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述传动机构包括电机(9)，所述电机(9)固定设置在背板(2)靠近活动板(3)的一侧侧壁上，且所述电机(9)的输出端上均固定设置有主动齿轮(8)，所述背板(2)上还对称转动设置有两根转杆(6)，两根所述转杆(6)上均固定设置有传动齿轮(7)，两个所述传动齿轮(7)均与主动齿轮(8)啮合设置，两根所述转杆(6)靠近活动板(3)的一端均固定设置有转轮(16)，两块所述活动板(3)上均设有与转轮(16)对应的传动槽(17)，所述转轮(16)的侧壁上周向设置有半圈卡齿，所述传动槽(17)的两侧侧壁上对称开设有与卡齿对应的若干卡齿槽。
5.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述测试机构包括两块测试板(13)，两块所述测试板(13)均滑动设置在背板(2)靠近晶闸管(12)的一侧侧壁上，且两块所述测试板(13)靠近背板(2)的一端均固定设置有滑杆(5)，两根所述滑杆(5)均贯穿背板(2)设置，所述背板(2)上对称开设有与滑杆(5)对应的两个条形滑口，两根所述滑杆(5)远离测试板(13)的一端均与活动板(3)固定连接。
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| CN202021804703.7U CN213091804U (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 一种半导体晶闸管性能测试装置 |
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| CN (1) | CN213091804U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116718887A (zh) * | 2023-06-15 | 2023-09-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
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2020
- 2020-08-26 CN CN202021804703.7U patent/CN213091804U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116718887A (zh) * | 2023-06-15 | 2023-09-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
| CN116718887B (zh) * | 2023-06-15 | 2024-04-19 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
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