CN107112394B - 发光二极管和包括发光二极管的发光二极管阵列 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 137
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 35
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 24
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 19
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 18
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 16
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 16
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 16
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titanium dioxide Inorganic materials O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 254
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 9
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 InAlGaN Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000002248 hydride vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- QZQVBEXLDFYHSR-UHFFFAOYSA-N gallium(III) oxide Inorganic materials O=[Ga]O[Ga]=O QZQVBEXLDFYHSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
- 210000000707 wrist Anatomy 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L33/46—Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector
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- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/10—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
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- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
- H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
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- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/10—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
- H01L33/105—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector with a resonant cavity structure
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L2933/0016—Processes relating to electrodes
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Abstract
在一个实施例中提供了一种发光二极管,包括:发光结构,该发光结构包括第一导电半导体层、位于第一导电半导体层顶部的有源层、以及位于有源层顶部的第二导电半导体层;第一电极,布置在第一导电半导体层的一部分上;绝缘层,布置在第一电极、第一导电半导体层、有源层和第二导电半导体层的一部分上,并且具有DBR结构;以及第二电极,布置在第二导电半导体层上,其中第一电极经由第一表面与绝缘层接触,并且经由与第一表面相对的第二表面暴露于绝缘层。
Description
技术领域
实施例涉及一种发光二极管和包括该发光二极管的发光二极管阵列。
背景技术
诸如GaN和AlGaN等第III-V族化合物半导体由于其许多优点(例如,宽且容易调节的带隙能量)而广泛用于光电子学以及电子设备。
特别地,使用第III-V族或第II-VI族化合物半导体材料的发光器件(诸如发光二极管和激光二极管)能够凭借薄膜生长技术和器件材料的发展呈现诸如红色、绿色、蓝色和紫外等各种颜色,能够使用荧光材料或通过混色产生高效率的白光,并且与诸如荧光灯和白炽灯等常规光源相比,具有诸如低功耗、半永久寿命、快速响应速度、安全以及环保等优点。
因此,这样的发光器件越来越多地应用于光通信单元的发送模块、作为构成液晶显示(LCD)器件背光的冷阴极荧光灯(CCFL)的替代的发光二极管背光、使用白色发光二极管作为荧光灯或白炽灯的替代的照明装置、车前灯、以及红绿灯。
在传统的发光器件中,形成包括n型半导体层、有源层和p型半导体层的发光结构,并且当经由n型半导体层注入有源层的电子与经由p型半导体层注入有源层的空穴结合时,传统发光器件发射的光具有的能量是由有源层的材料的本征能带决定的。
已经作出了形成像素同时减小发光结构的横截面积的许多尝试,但是因为每个发光结构的厚度太大,所以难以实现超薄单位像素。
也就是说,上述发光结构生长在由蓝宝石等形成的衬底上,然而,在生长发光结构之后将衬底保持原样的水平型发光二极管中,或者在将金属支撑件耦合到发光结构的一部分之后去除衬底的垂直型发光二极管中,因为衬底或金属支撑件具有的厚度大,所以难以实现超薄像素。
发明内容
【技术问题】
实施例提供一种省略了生长衬底或金属支撑件的超薄发光二极管。
【技术方案】
在一个实施例中,一种发光二极管包括:发光结构,包括:第一导电半导体层;有源层,布置在第一导电半导体层上;以及第二导电半导体层,布置在有源层上;第一电极,布置在第一导电半导体层的一部分上;绝缘层,布置在第一电极、第一导电半导体层、有源层、以及第二导电半导体层的一部分上,绝缘层具有DBR结构;以及第二电极,布置在第二导电半导体层上,其中第一电极包括第一表面和第二表面,第一表面与布置在第一电极上的绝缘层接触,第二表面与第一表面相对并被暴露。
发光结构可以包括第一台面(mesa)区域,第一导电半导体层可以包括第二台面区域,并且第一电极可以布置在第二台面区域中的第一导电半导体层上。
第一电极可以布置在第二台面区域中的第一导电半导体层的侧表面上。
第一电极可以延伸到第二台面区域的周边。
使第二导电半导体层暴露的开放(open)区域可以布置在第一台面区域上,并且第二电极的至少一部分可以布置在开放区域上。
第二导电半导体层、绝缘层和第二电极的至少一部分在第一台面蚀刻区域的开放区域的周边彼此重叠。
DBR结构可以形成为使得TiO2和SiO2的配置或Ta2O5和SiO2的配置重复至少两次。
第一电极可以包括欧姆层、反射层、以及布置在反射层上的耦合层。
耦合层可以包括钛(Ti)。
第二电极可以包括欧姆层和反射层。
第二电极的欧姆层可以包括铬(Cr)、银(Ag)或钛(Ti)。
第二电极的欧姆层可以具有1nm或更小的厚度。
反射层可以包括:铂(Pt)和金(Au)的合金,镍(Ni)和金(Au)的合金,铝(Al)、铂(Au)和金(Au)的合金,或铝(Al)、镍(Ni)和金(Au)的合金。
在另一个实施例中,一种发光二极管阵列包括电路板和多个发光二极管,每个发光二极管包括:发光结构,布置在电路板上且包括:第一导电半导体层;有源层,布置在第一导电半导体层上;以及第二导电半导体层,布置在有源层上;第一电极,布置在第一导电半导体层的一部分上;绝缘层,布置在第一电极、第一导电半导体层、有源层、以及第二导电半导体层的一部分上,绝缘层具有DBR结构;以及第二电极,布置在第二导电半导体层上,其中第一电极包括第一表面和第二表面,第一表面与布置在第一电极上的绝缘层接触,第二表面与第一表面相对并被暴露;以及各向异性导电膜(ACF),布置在电路板与发光二极管之间,其中ACF包括:基材;以及多个导电球,设置在基材中,并且导电球与电路板和第二电极接触。
绝缘层可以布置在第一电极的第一表面、第一导电半导体层、有源层、以及第二导电半导体层的一部分上。
第一电极的第二表面可以与第二台面区域中的第一导电半导体层的上表面和侧表面接触。
在再一个实施例中,一种发光二极管阵列包括电路板和多个发光二极管,每个发光二极管包括:发光结构,布置在电路板上且包括:第一导电半导体层;有源层,布置在第一导电半导体层上;以及第二导电半导体层,布置在有源层上;第一电极,布置在第一导电半导体层的一部分上;绝缘层,布置在第一电极、第一导电半导体层、有源层、以及第二导电半导体层的一部分上,绝缘层具有DBR结构;及第二电极,布置在第二导电半导体层上,其中第一电极包括第一表面和第二表面,第一表面与布置在第一电极上的绝缘层接触,第二表面与第一表面相对并被暴露;以及各向异性导电膜(ACF),布置在电路板与发光二极管之间,其中ACF包括:基材;以及多个导电球,设置在基材中,并且导电球与电路板和第二电极接触。
每个发光二极管的第一电极可以在与电路板相对定向的区域中使用单个布线结构连接到其他发光二极管的第一电极。
【有益效果】
根据实施例的发光二极管和包括该发光二极管的发光二极管阵列,具有DBR结构的绝缘层布置在发光结构的上表面、第二电极的上表面的一部分以及第一电极的上表面上,由此,从有源层发射的光可以被反射到发光二极管的下表面。
此外,除了第一电极和第二电极之外,通过具有DBR结构的绝缘层的反射,可以提高发光效率。
而且,在形成第二电极的过程中,可以通过将第二电极形成得比透射导电层的开放区域宽,来防止光泄漏。
附图说明
图1是发光二极管的实施例的截面图;
图2是示出第一电极的结构的详细视图;
图3是示出第二电极的结构的详细视图;
图4是示出钝化层的结构的详细视图;
图5a至图5j是示出发光二极管的制造工艺的视图;
图6是图1所示的发光二极管的俯视图;
图7a和图7b是图1所示的发光二极管的立体图和侧视图;以及
图8是示出包括发光二极管阵列的智能手表的实施例的视图。
具体实施方式
下文将参考附图详细描述实施例。
应当理解,当一个元件被称为位于另一个元件“上”或“下”时,其可以直接位于该元件上/下,或者也可以存在一个或多个介于中间的元件。当一个元件被称为位于“上”或“下”时,基于该元件,可以包括“位于该元件下”以及“位于该元件上”。
图1是发光二极管的一个实施例的截面图。
根据该实施例的发光二极管100包括:发光结构120,该发光结构包括第一导电半导体层122、有源层124以及第二导电半导体层126;透射导电层130,布置在第二导电半导体层126上;第一电极142,布置在第一导电半导体层122上;第二电极146,布置在第二导电半导体层126上;以及绝缘层150。
发光结构120包括第一台面区域和第二台面区域,其中第一台面区域可以布置在第一导电半导体层122、有源层124和第二导电半导体层126上,第二台面区域可以仅布置在第一导电半导体层122上。这是因为第一台面区域在暴露第一导电半导体层122的上表面以形成布置第一电极142的区域的第一蚀刻工艺中形成,第二台面区域在蚀刻所暴露的第一导电半导体层122的边缘以增大布置第一电极142的区域的第二蚀刻工艺中形成,这将在后文进行描述。
虽然图1示出了第一台面区域和第二台面区域的侧表面大致垂直定向,但是实际上它们也可以倾斜预定角度。
第一导电半导体层122可以由第III-V族或第II-VI族化合物半导体制成,并且可以掺杂有第一导电掺杂剂。第一导电半导体层122可以包括分子式为AlxInyGa(1-x-y)N(0≤x≤1,0≤y≤1,以及0≤x+y≤1)的半导体材料,并且可以由例如AlGaN、GaN、InAlGaN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP和AlGaInP中的至少之一制成。
当第一导电半导体层122是n型半导体层时,第一导电掺杂剂可以包括诸如Si、Ge、Sn、Se或Te等n型掺杂剂。第一导电半导体层122可以形成为具有单层结构或多层结构,但本公开不限于此。
在第一导电半导体层122中,第二台面区域形成在第一台面区域的一侧(图1中的右侧),并且在第二台面区域的右侧形成高度差。
有源层124布置在第一台面区域上的第一导电半导体层122的上表面上,并且可以包括单阱结构、多阱结构、单量子阱结构、多量子阱(MQW)结构、量子点结构以及量子线结构中的一种。
有源层124可以具有使用第III-V族元素的化合物半导体材料的阱层和阻挡层,例如,可以具有由AlGaN/AlGaN、InGaN/GaN、InGaN/InGaN、AlGaN/GaN、InAlGaN/GaN、GaAs(InGaAs)/AlGaAs和GaP(InGaP)/AlGaP中的至少之一制成的对结构,但本公开不限于此。阱层可以由能带隙比阻挡层的能带隙低的材料制成。
第二导电半导体层126可以使用半导体化合物形成在有源层124的表面上。第二导电半导体层126可以由第III-V族或第II-VI族化合物半导体制成,并且可以掺杂有第二导电掺杂剂。第二导电半导体层126可以由分子式例如为InxAlyGa1-x-yN(0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x+y≤1)的半导体材料制成,并且可以由AlGaN、GaN、AlInN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP和AlGaInP中的至少之一制成。
第二导电半导体层126可以掺杂有第二导电掺杂剂,并且当第二导电半导体层126是p型半导体层时,第二导电掺杂剂可以是诸如Mg、Zn、Ca、Sr或Ba等p型掺杂剂。第二导电半导体层126可以形成为具有单层结构或多层结构,但是本公开不限于此。
由氧化铟锡(ITO)制成的透射导电层130形成在第二导电半导体层126上,从而促进电流从第二电极146传到第二导电半导体层126。
第二导电半导体层126、有源层124和第一导电半导体层122被台面蚀刻,使得蚀刻从第二导电半导体层126进行到第一导电半导体层122的一部分,从而暴露第一导电半导体层122以确保形成第一电极146的区域。
第一电极142和第二电极146可以分别布置在第一导电半导体层122和第二导电半导体层126上。
绝缘层150形成在发光结构120上以及第一电极142的暴露表面上,绝缘层150的一部分在透射导电层130上是开放的,以暴露透射导电层130,并且绝缘层150可以形成为具有带有至少两个层的结构,后文对其进行详细描述。
在上述透射导电层130的暴露区域中,第二电极146可以与透射导电层直接接触。
在图1中,使第二电极146与透射导电层130紧密接触的区域的宽度w0与使透射导电层130和绝缘层150彼此接触的开放区域的两个相对侧部分的宽度w1和w2之和的比的范围可以为1比1至3比5,其中w0可以大于w1或w2,w1和w2可以彼此相等。具体地,使第二电极146与透射导电层130直接接触的区域的宽度w0可以处于10μm至30μm的范围,更具体地为22μm,而使透射导电层130和绝缘层150彼此接触的开放区域的两个相对侧部分的宽度w1和w2之和可以处于10μm至50μm的范围,更具体地为30μm。
随着使第二电极146与透射导电层130直接接触的区域的宽度w0增加,到第二导电半导体层126的电流注入增加,但是DBR结构(后文进行描述)的反射率可能降低。随着使透射导电层130和绝缘层150彼此接触的开放区域的两个相对侧部分的宽度w1和w2之和增大,DBR结构的反射率增加,但是到第二导电半导体层126的电流注入可能减少。
下文参考图6详细描述透射导电层130、第二电极146和绝缘层150之间的配置关系。
第一电极142可以布置在形成第二台面区域的第一导电半导体层122的上表面和侧表面的一部分上,并且还可以从第一导电半导体层122的侧表面向外延伸。
第一电极142还可以布置在第一导电半导体层122的与第二台面区域具有高度差的一部分上。
图2是示出第一电极的结构的详细视图。
第一电极142可以包括欧姆层142a、反射层142b和耦合层142c。欧姆层142a可以包括铬(Cr)或银(Ag),反射层142b可以包括铂(Pt)和金的合金、镍(Ni)和金的合金、铝(Al)、铂(Au)和金(Au)的合金、以及铝(Al)、镍(Ni)和金(Au)的合金之一或其组合,并且耦合层142c可以包括钛(Ti)。
欧姆层142a是用于在第一导电半导体层122与反射层142b之间进行耦合的薄膜,并且可以具有厚度t1,其范围为0.5nm至3nm,具体为1nm。如果欧姆层142a的厚度t1小于0.5nm,则可能不能平滑地实现第一导电半导体层122与反射层142b之间的欧姆接触,而如果欧姆层142a的厚度t1大于3nm,则发生光吸收,因此第一电极142的光反射率可能降低。
用于在反射层142b与绝缘层150之间进行耦合的耦合层142c可以具有厚度t2,其范围为10nm至200nm,具体为50nm。如果耦合层142c的厚度t2小于10nm,则可能不能平滑地实现绝缘层150与反射层142b之间的耦合,而如果耦合层142c的厚度t2大于200nm,则耦合层142c的应力增加,因此产品的质量可能会下降。
第一电极142可以具有大约1μm的总厚度t3。
图3是示出第二电极的结构的详细视图。
第二电极146可以包括欧姆层146a和反射层146b。欧姆层146a可以由铬、银或钛制成,并且是在透射导电层130与反射层146b之间进行耦合的薄膜,具有厚度t4,其范围为0.5nm至3nm,具体为1nm。如果欧姆层146a的厚度t4小于0.5nm,则可能无法平滑地实现第一导电半导体层122与反射层146b之间的欧姆接触,而如果欧姆层146a的厚度t4大于3nm,则发生光吸收,因此第二电极146的光反射率可能降低。
反射层146b可以包括铂(Pt)和金的合金、镍(Ni)和金的合金、铝(Al)、铂(Au)和金(Au)的合金、以及铝(Al)、镍(Ni)和金(Au)的合金之一、或其组合。
第二电极146具有总厚度t5,其可以等于第一电极142的总厚度t3。
第二电极146布置在透射导电层130的开放区域上,如图1所示,第二电极146可以在透射导电层130的一部分区域中与绝缘层150重叠。在形成第二电极146的过程中,当第二电极146形成为比透射导电层130的开放区域宽时,可以防止光泄漏。
此外,在图1所示的发光二极管中,绝缘层150布置在发光二极管的上侧,并且由金属制成的第二电极146布置在透射导电层130的开放区域上。绝缘层150和第二电极146都用作反射膜,并沿图1中的向下方向反射光。
图4是示出绝缘层的结构的详细视图。
在图1的发光二极管100中,绝缘层150布置为覆盖第一台面蚀刻区域和第二台面蚀刻区域,并且在其中形成有开放区域,通过该开放区域暴露透射导电层130的一部分。具有这种结构的绝缘层150可以布置在表1中的区域A、区域B、区域C和区域D中,这将在后文进行描述。
为了防止第一导电半导体层122与第二导电半导体层126之间的电接触,绝缘层150可以由绝缘材料制成,特别是由具有高反射率的材料制成,用于反射从有源层124发出的光,并且例如可以形成DBR结构。
也就是说,DBR结构可以形成为使得具有不同折射率的两种材料交替布置几次至几十次,图4示出了第一层150a和第二层150b交替布置。
第一层150a和第二层150b可以由例如TiO2和SiO2或Ta2O5和SiO2制成。
在第一层150a和第二层150b由例如TiO2和SiO2制成的情况下,三个第一层150a和三个第二层150b可以被交替布置,其中第一层150a的厚度可以处于0.70nm至0.90nm的范围,分别具体为0.75nm、0.82nm和0.75nm,而第二层150b的厚度可以处于0.35nm至0.55nm的范围,分别具体为0.50nm、0.43nm和0.50nm。
绝缘层150布置在第一电极142上和发光结构120的暴露表面上,并且可以是开放的,使得透射导电层130的仅一部分通过其暴露。因此,在图1的第一台面蚀刻区域中,第二导电半导体层126、绝缘层150和第二电极146的至少一部分在透射导电层130的开放区域的周边彼此重叠。
在具有上述结构的发光二极管100中,沿图1中的向上方向和横向方向从有源层124发射的光被第一电极142、第二电极146和绝缘层150反射,因此被沿图1中的向下方向引导。
图5a至图5j是示出发光二极管的制造工艺的视图。在单个工艺中在晶片级衬底上制造多个发光二极管;然而,为了便于理解,在一些附图中仅示出了一个发光二极管。
如图5a所示,发光结构120和透射导电层130在衬底110上生长。
衬底110可以是导电衬底或绝缘衬底,例如,可以由蓝宝石(Al2O3)、SiO2、SiC、Si、GaAs、GaN、ZnO、GaP、InP、Ge和Ga2O3中的至少之一形成。
当发光结构120在由蓝宝石形成的衬底110上生长时,因为由氮化镓基材料形成的发光结构120与衬底110之间的晶格失配较大,并且它们之间的热膨胀系数之差较大,所以可能发生位错、回熔、裂纹、凹坑、表面形态缺陷以及其它原因的结晶度恶化,因而可以形成由AlN形成的缓冲层(未示出)。
包括第一导电半导体层、有源层和第二导电半导体层的发光结构120可以通过例如金属有机化学气相沉积(MOCVD)、化学气相沉积(CVD)、等离子体增强化学气相沉积(PECVD)、分子束外延(MBE)、氢化物气相外延(HVPE)等形成,但是本公开不限于此。
由ITO形成的透射导电层130可以生长到例如40nm的厚度。衬底110的厚度可以是发光结构120和透射导电层130的厚度的几倍到几百倍,但是为了便于说明,以减小的厚度示出衬底110。
随后,如图5b所示,通过对发光结构120的一部分进行第一蚀刻,暴露第一导电半导体层122的上表面的一部分。在这种情况下,发光结构120的第一蚀刻部分的厚度t6可以为大约1μm,并且有源层124和第二导电半导体层126可以从除了第一台面区域之外的区域去除。
随后,如图5c所示,对通过第一蚀刻工艺暴露的第一导电半导体层122的一部分执行第二蚀刻工艺,并且通过第二蚀刻工艺去除的第一导电半导体层122的区域的厚度t7可以是大约2μm。此外,第一导电半导体层122可以沿第二台面区域的向上方向暴露。
随后,如图5d所示,第一电极142可以形成在第一导电半导体层122的形成第二台面区域的上表面和侧表面的一部分上以及第一导电半导体层122的与第二台面区域具有高度差的一部分上。
第一电极142具有上述结构,并且与第一台面区域中发光结构120的侧表面间隔开,同时在其间形成预定区域,在该预定区域中布置有绝缘层150。例如,第一电极142可以形成为使得欧姆层由生长到50nm厚度的Ti形成,反射层由分别生长到50nm、900nm厚度的Ni和Au形成,耦合层由生长到50nm厚度的Ti形成。
随后,如图5e所示,绝缘层150可以通过沉积工艺生长在第一电极142、透射导电层130上和发光结构120的暴露表面上,并且绝缘层150可以形成为具有上述DBR结构,并且可以具有例如300nm的厚度。
如上所述,在第二台面区域中,第一电极142仅布置在第一导电半导体层122的上表面的一部分上,因此绝缘层150可以在第二台面区域上形成为具有台阶区域s。
此外,绝缘层150可以布置在第一台面区域上透射导电层130的周边区域上,以暴露透射导电层130的中心区域。
随后,如图5f所示,第二电极146可以生长在透射导电层130的暴露的中心区域上。例如,第二电极146可以形成为使得欧姆层由生长到50nm厚度的Ti形成,反射层由分别生长到50nm和900nm厚度的Ni和Au形成。
随后,如图5g所示,通过将电路板200接合到发光二极管阵列,将第二电极146连接到电路板200。后文描述的各向异性导电膜(ACF)可以用于第二电极146与电路板之间的电耦合。尽管图5g中未示出,但第一电极可以布置在绝缘层150下方。
如图5h所示,ACF 210形成为使得多个导电球212设置在基材211中,其中,如果热和压力施加到此,则基材211会受到压缩,使得发光二极管100和电路板200彼此耦合,此时,导电球212可以将发光二极管100的第二电极146电连接到电路板200。
随后,如图5i所示,衬底110和一部分的第一导电半导体层122被去除。此时,激光剥离(LLO)方法可以用于去除衬底;然而,可以可替代地使用干蚀刻方法或湿式蚀刻方法。
例如,在激光剥离方法的情况下,当沿衬底110的方向聚焦并照射具有指定波长的准分子激光束时,热能可以聚集到衬底110与发光结构120之间的界面,并且该界面可以分离成镓和氮分子,因此可以从激光束穿过的区域的发光结构瞬间去除衬底110。
随后,如图5j所示,第一导电半导体层122的一部分可以通过蚀刻方法去除,直到第一电极142暴露为止,并且第一导电半导体层122的被去除部分的厚度t8的范围可以为例如2μm至3μm。
随后,当每个发光二极管的第一电极142连接到电路板200时,就完成了使多个发光二极管100连接到电路板的发光二极管阵列的形成。在发光二极管阵列中,多个发光二极管100的第一电极142和第二电极146可以分别连接到电路板200。
虽然图5j示出了发光二极管100的第二电极146通过ACF 210连接到上部电路板200,并且第一电极142沿向下方向暴露,但是相邻的发光二极管100的第一电极142可以使用发光二极管100下侧的单独的单个布线结构彼此连接,然后可以连接到电路板200。
发光二极管阵列的高度(不包括电路板)可以是几微米,一个发光二极管的水平长度和垂直长度可以小于100μm,并且多个发光二极管、例如400个发光二极管和1080个发光二极管可以分别布置在水平方向和垂直方向上,从而形成各种显示装置中的像素。
此外,当电路板被具体实施为柔性印刷电路板(FPCB)时,可以实现能够凭借支撑整个发光二极管阵列的FPCB的柔性来弯曲的发光二极管阵列。
图6是图1所示的发光二极管的俯视图。
该图示出了图1所示的发光二极管的各个部件的尺寸。
绝缘层150的垂直长度W21可以处于10μm至40μm的范围,具体为26μm,并且绝缘层150的水平长度W22可以处于10μm至90μm的范围,具体为73μm。示出了垂直边(margin)a和水平边b存在于绝缘层150的周边,其中a可以为例如4.5μm,b可以为例如2.0μm。包括边a和b的整个区域的垂直长度W11可以处于10μm至50μm的范围,具体为30μm,并且其水平长度W12可以处于10μm至100μm的范围,具体为82μm。
在用于形成各个单位发光二极管的切割工艺之后,垂直长度可以处于10μm至30μm的范围,具体为20μm,水平长度可以处于10μm至70μm的范围,具体为50μm,并且可以从图6所示的结构去除包括绝缘层150的周边区域的一部分。
第一台面区域的垂直长度W31可以处于10μm至20μm的范围,具体为14μm,第一台面区域的水平长度W32可以处于10μm至50μm的范围,具体为30μm,并且第一台面区域的形状或尺寸可以与第二电极的形状或尺寸相同。
第二台面区域的垂直长度W41和水平长度W42可以大于第一台面区域的垂直长度和水平长度,其中第二台面区域的垂直长度W41可以处于10μm至30μm的范围,具体为20μm,第二台面区域的水平长度W42可以处于10μm至70μm的范围,具体为50μm。
第一台面区域中被界定为具有垂直长度W61和水平长度W62的区域可以是使透射导电层130与第二电极146接触的区域,因为绝缘层150没有布置在该区域上,其中上述区域的垂直长度W61可以处于2μm至10μm的范围,具体为6μm,而上述区域的水平长度W62可以处于10μm至30μm的范围,具体为22μm。
第一电极142的垂直长度W51可以处于5μm至20μm的范围,具体为10μm,第一电极142的水平长度W52可以处于10μm至40μm的范围,具体为27μm。第一电极142与第一台面区域之间的距离d可以处于2μm至10μm的范围,具体为大约7μm。
因为第一电极142实际上布置在第二台面区域中布置的绝缘层150的下方,所以在图6的俯视图中可能看不见第一电极142。在上述切割工艺之后,第二台面区域的周边可以被完全去除,因此,第一电极142可以沿绝缘层150的向下方向暴露。
图7a和图7b是图1所示的发光二极管的立体图和侧视图。
图7a和图7b是示出根据绝缘层的上述成分的发光二极管的发光效率的视图。
A表示第一台面区域的周边,其中绝缘层和第二电极依次布置在发光结构上。B表示第一台面区域的侧表面,其中绝缘层布置在发光结构上,C表示第二台面区域的上表面,其中绝缘层布置在发光结构上,D表示第二台面区域的侧表面,其中绝缘层布置在发光结构上,E表示发光二极管的上部区域,其中如图5h所示布置有ACF,F表示发光结构的下部区域,其中布置有空气。
表1示出根据图7a和图7b所示的A至F的成分变化的发光效率(LEE)。
[表1]
A | B | C | D | E | F | LEE | |
实施例 | DBR/Cr/Al | DBR | DBR | DBR | ACF | 空气 | 37.27 |
比较示例1 | DBR/Cr/Al | DBR/Cr/Al | DBR | DBR | ACF | 空气 | 35.24 |
比较示例2 | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | ACF | 空气 | 27.60 |
比较示例3 | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | ACF | 空气 | 28.44 |
比较示例4 | DBR/Cr/Al | DBR | DBR | DBR | 空气 | 空气 | 37.89 |
比较示例5 | DBR/Cr/Al | DBR/Cr/Al | DBR | DBR | 空气 | 空气 | 35.59 |
比较示例6 | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | 空气 | 空气 | 30.47 |
比较示例7 | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub>/Cr/Al | SiO<sub>2</sub> | SiO<sub>2</sub> | 空气 | 空气 | 31.21 |
从表1可以看出,根据实施例的包括具有上述成分的A至F的发光二极管具有优异的发光效率(LEE),并且值得注意的是,根据比较示例4的发光二极管的发光效率是在使用ACF将发光二极管接合至电路板之前测量的。
如上所述,发光二极管阵列可以形成各种显示装置中的像素,并且可以用作照明装置的光源。具体地说,当FPCB用作电路板时,可以实现能够凭借FPCB的柔性而弯曲的发光二极管阵列,因此,发光二极管阵列可以用作可穿戴装置(例如,智能手表)的光源。
图8是示出包括发光二极管阵列的智能手表的实施例的视图。
智能手表300可以与外部数字设备执行配对,并且外部数字设备可以是可以连接到智能手表300从而与其进行通信的数字设备,例如,智能手机400、膝上型电脑410、互联网协议电视(IPTV)420等。
上述发光二极管阵列310可以用作智能手表300的光源,智能手表300可以凭借FPCB的柔性佩戴在用户的手腕上,并且发光二极管阵列310由于发光二极管的细小尺寸可以实现精细像素。
尽管已经参考许多说明性实施例描述了实施例,但是应当理解,本领域技术人员可以设计出落入本公开文本的原理的精神和范围内的许多其它修改和实施例。更具体地,在公开内容、附图和所附权利要求的范围内,主题组合排列的组成部分和/或排列的各种变型和修改是可行的。除了组成部分和/或排列的变型和修改之外,替代使用对于本领域技术人员来说也是显而易见的。
【工业实用性】
根据实施例的发光二极管和包括该发光二极管的发光二极管阵列可以应用于显示装置,具体地,可以应用于诸如智能手表等柔性可穿戴装置。
Claims (19)
1.一种发光二极管,包括:
发光结构,包括:第一导电半导体层;有源层,布置在所述第一导电半导体层上;以及第二导电半导体层,布置在所述有源层上;
第一电极,布置在所述第一导电半导体层的一部分上;
绝缘层,布置在所述第一电极、所述第一导电半导体层、所述有源层、以及所述第二导电半导体层的一部分上,所述绝缘层具有DBR结构;以及
第二电极,布置在所述第二导电半导体层上,
其中所述发光结构包括第一台面区域,并且所述第一导电半导体层包括第二台面区域,
其中所述第一电极布置在所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面上,并且所述第一电极沿着所述第一导电半导体层的底部延伸到所述第二台面区域的周边;
其中所述第一电极包括第一表面和第二表面,所述第一表面与布置在所述第一电极上的所述绝缘层的DBR结构直接接触,所述第二表面与所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面接触。
2.根据权利要求1所述的发光二极管,其中使所述第二导电半导体层暴露的开放区域布置在所述第一台面区域上,所述第二电极的至少一部分布置在所述开放区域上。
3.根据权利要求2所述的发光二极管,其中所述第二导电半导体层、所述绝缘层以及所述第二电极的至少一部分在所述第一台面蚀刻区域上的所述开放区域的周边彼此重叠。
4.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述DBR结构形成为使得TiO2和SiO2的配置或Ta2O5和SiO2的配置重复至少两次。
5.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述第一电极包括欧姆层、反射层、以及布置在所述反射层上的耦合层。
6.根据权利要求5所述的发光二极管,其中所述耦合层包括钛(Ti)。
7.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述第二电极包括欧姆层和反射层。
8.根据权利要求7所述的发光二极管,其中所述第二电极的欧姆层包括铬(Cr)、银(Ag)或钛(Ti)。
9.根据权利要求7所述的发光二极管,其中所述第二电极的欧姆层具有1nm或更小的厚度。
10.根据权利要求7所述的发光二极管,其中所述反射层包括:铂(Pt)和金(Au)的合金,镍(Ni)和金(Au)的合金,铝(Al)、铂(Au)和金(Au)的合金,或铝(Al)、镍(Ni)和金(Au)的合金。
11.一种发光二极管,包括:
发光结构,包括:第一导电半导体层;有源层,布置在所述第一导电半导体层上;第二导电半导体层,布置在所述有源层上;第一台面区域;以及第二台面区域,形成在所述第一导电半导体层中;
第一电极,布置在所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面上,并且所述第一电极沿着所述第一导电半导体层的底部延伸到所述第二台面区域的周边;
第二电极,布置在所述第一台面区域上;以及
绝缘层,布置在所述第一电极与所述第二电极之间,所述绝缘层具有DBR结构,
其中所述第一电极包括第一表面和第二表面,所述第一表面与所述绝缘层的DBR结构直接接触,所述第二表面与所述第一表面相对并具有开放部,以及
所述第二电极包括第一表面和第二表面,所述第一表面具有开放部,所述第二表面与所述第一表面相对并与所述发光结构接触;
其中所述第一电极的第二表面与所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面接触。
12.根据权利要求11所述的发光二极管,其中所述绝缘层布置在所述第一电极的第一表面、所述第一导电半导体层、所述有源层、以及所述第二导电半导体层的一部分上。
13.根据权利要求1或11所述的发光二极管,其中所述DBR结构形成为使得具有不同折射率的两种材料交替布置。
14.根据权利要求1或11所述的发光二极管,其中透射导电层形成在所述第二导电半导体层上。
15.根据权利要求14所述的发光二极管,其中所述透射导电层由氧化铟锡(ITO)制成。
16.根据权利要求1或11所述的发光二极管,其中一个发光二极管的水平长度和垂直长度小于100μm。
17.一种发光二极管阵列,包括:
电路板;
多个发光二极管,每个发光二极管包括:
发光结构,布置在所述电路板上且包括:第一导电半导体层;有源层,布置在所述第一导电半导体层上;以及第二导电半导体层,布置在所述有源层上;
第一电极,布置在所述第一导电半导体层的一部分上;
绝缘层,布置在所述第一电极、所述第一导电半导体层、所述有源层、以及所述第二导电半导体层的一部分上,所述绝缘层具有DBR结构;以及
第二电极,布置在所述第二导电半导体层上,以及
各向异性导电膜(ACF),布置在所述电路板与所述发光二极管之间,
其中所述ACF包括:基材;以及多个导电球,设置在所述基材中,并且所述导电球与所述电路板和所述第二电极接触,
其中所述第一电极包括第一表面和第二表面,所述第一表面与所述绝缘层的DBR结构直接接触,所述第二表面与所述第一表面相对并具有开放部,并且
所述第二电极包括第一表面和第二表面,所述第一表面具有开放部,所述第二表面与所述第一表面相对并与所述发光结构接触;
其中所述发光结构包括第一台面区域,所述第一导电半导体层包括第二台面区域,并且所述第一电极布置在所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面上,并且所述第一电极沿着所述第一导电半导体层的底部延伸到所述第二台面区域的周边,所述第一电极的第二表面与所述第二台面区域中的所述第一导电半导体层的上表面和侧表面接触。
18.根据权利要求17所述的发光二极管阵列,其中每个所述发光二极管的第一电极在与所述电路板相对定向的区域中使用单个布线结构连接到其他发光二极管的第一电极。
19.根据权利要求17或18所述的发光二极管阵列,其中一个发光二极管的水平长度和垂直长度小于100μm。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140187884A KR102322841B1 (ko) | 2014-12-24 | 2014-12-24 | 발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 어레이 |
KR10-2014-0187884 | 2014-12-24 | ||
PCT/KR2015/014236 WO2016105146A1 (ko) | 2014-12-24 | 2015-12-24 | 발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 어레이 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107112394A CN107112394A (zh) | 2017-08-29 |
CN107112394B true CN107112394B (zh) | 2020-02-14 |
Family
ID=56151069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201580071060.5A Active CN107112394B (zh) | 2014-12-24 | 2015-12-24 | 发光二极管和包括发光二极管的发光二极管阵列 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10186640B2 (zh) |
EP (1) | EP3240050B1 (zh) |
JP (1) | JP6934812B2 (zh) |
KR (1) | KR102322841B1 (zh) |
CN (1) | CN107112394B (zh) |
WO (1) | WO2016105146A1 (zh) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2018137139A1 (en) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | Goertek. Inc | Micro-led device, display apparatus and method for manufacturing a micro-led device |
JP7233859B2 (ja) * | 2017-06-20 | 2023-03-07 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 赤外線発光ダイオード |
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-
2014
- 2014-12-24 KR KR1020140187884A patent/KR102322841B1/ko active IP Right Grant
-
2015
- 2015-12-24 CN CN201580071060.5A patent/CN107112394B/zh active Active
- 2015-12-24 EP EP15873673.6A patent/EP3240050B1/en active Active
- 2015-12-24 JP JP2017529607A patent/JP6934812B2/ja active Active
- 2015-12-24 US US15/532,349 patent/US10186640B2/en active Active
- 2015-12-24 WO PCT/KR2015/014236 patent/WO2016105146A1/ko active Application Filing
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103811597A (zh) * | 2012-11-05 | 2014-05-21 | Lg伊诺特有限公司 | 发光器件和发光器件阵列 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107112394A (zh) | 2017-08-29 |
KR102322841B1 (ko) | 2021-11-08 |
US20170338380A1 (en) | 2017-11-23 |
JP2018501650A (ja) | 2018-01-18 |
EP3240050A4 (en) | 2017-11-01 |
KR20160077686A (ko) | 2016-07-04 |
JP6934812B2 (ja) | 2021-09-15 |
EP3240050A1 (en) | 2017-11-01 |
US10186640B2 (en) | 2019-01-22 |
WO2016105146A1 (ko) | 2016-06-30 |
EP3240050B1 (en) | 2021-05-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |