CN103177685A

CN103177685A - Oled显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法

Info

Publication number: CN103177685A
Application number: CN2012105322958A
Authority: CN
Inventors: 尹重先; 金承泰; 姜芝贤; 李志恩
Original assignee: LG Display Co Ltd
Current assignee: LG Display Co Ltd
Priority date: 2011-12-26
Filing date: 2012-12-11
Publication date: 2013-06-26
Anticipated expiration: 2032-12-11
Also published as: GB201222816D0; KR20130074147A; DE102012112569B4; KR101493226B1; DE102012112569A1; CN103177685B; US8988329B2; US20130162617A1; GB2498634A; GB2498634B

Abstract

本发明公开了一种OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。所述显示装置包括：包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动TFT的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动TFT的阈值电压（Vth）和所述驱动TFT的工艺特性参数（k参数）的偏差。

Description

OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法

本申请要求2011年12月26日提交的韩国专利申请No.10-2011-0142040的优先权，在此援引该专利申请作为参考，如同在这里完全阐述一样。

技术领域

本发明涉及一种有机发光二极管（OLED）显示装置，尤其涉及一种能够通过对特性参数的简单快速感测来修正亮度不均匀性的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）显示装置是有机发光层通过电子和空穴的再组合而发光的自发光装置。因为AMOLED显示装置表现出较高的亮度，并使用低驱动电压，同时具有超薄结构，所以AMOLED有望成为下一代显示装置。

这种AMOLED显示装置包括多个像素和用于独立驱动OLED的像素驱动电路，其中每个像素都包括由阳极、阴极和夹在阳极与阴极之间的有机发光层组成的有机发光二极管（OLED）。像素驱动电路主要包括开关薄膜晶体管（之后称作“TFT”）、电容器和驱动TFT。开关TFT响应于扫描脉冲利用对应于数据信号的电压向电容器充电。驱动TFT根据电容器中所充的电压的电平来控制提供给OLED的电流量，以调整从OLED发射的光量。从OLED发射的光量与从驱动TFT提供给OLED的电流量成正比。

然而，在这种AMOLED显示装置中，由于工艺容差，诸如驱动TFT阈值电压Vth和工艺容差因素（迁移率、寄生电容和沟道宽度/长度）这样的TFT特性在像素之间是不一致的。由于此原因，在AMOLED显示装置中会产生亮度的不均匀性。为解决此问题，使用数据补偿方法。根据该数据补偿方法，测量每个像素驱动电路中的驱动TFT的特性参数，并根据感测结果调整输入数据。

可通过感测在不同电压时流过相应像素的电流量来测量驱动TFT的特性。然而，对于尺寸增加的AMOLED显示装置来说，很难快速测量流过多个像素的电流量。例如，U.S.专利No.7,834,825公开了在逐个启动像素的同时感测流过OLED面板的电源线（VDD或VSS线）的电流量的方法。然而，该方法具有下述问题，即因为电流感测时间由于并行存在于电源线上的用于提高分辨率的寄生电容器而被延迟，所以很难获得快速的感测。

此外，在一般情形中，用于感测驱动TFT的特性的系统很复杂。由于此原因，在出货（shipment）之后，很难测量并补偿驱动TFT的特性。

发明内容

因此，本发明旨在提供一种基本上克服了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题的OLED显示装置及感测有机发光二极管显示装置中的像素驱动电路的特性参数的方法。

本发明的一个目的是提供一种能够通过对特性参数的简单快速感测来修正亮度不均匀性的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。

在下面的描述中将部分列出本发明的其它优点、目的和特点，部分优点、目的和特点从下面的描述对于所属领域普通技术人员来说是显而易见的，或者可从本发明的实施领会到。通过说明书、权利要求书以及附图中具体指出的结构可实现和获得本发明的这些目的和其他优点。

为了实现这些和其他优点，根据本发明的用途，如在此具体化和概括描述的，一种OLED显示装置包括：包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和用于感测每个像素中的像素驱动电路的特性参数的特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）和所述驱动薄膜晶体管的工艺特性参数（k参数）的偏差。

所述特性参数感测单元可包括：数据驱动器，所述数据驱动器用于驱动所述数据线、感测所述数据线上的电压、并输出测量的电压；和时序控制器，所述时序控制器用于：根据来自所述数据驱动器的测量的电压，检测所述阈值电压（Vth）和k参数偏差；计算用于补偿所检测到的阈值电压（Vth）的偏移值和用于补偿所检测到的k参数偏差的增益值；存储计算的偏移值和计算的增益值；通过使用存储的偏移值和存储的增益值来补偿输入数据；并向所述数据驱动器提供补偿后的输入数据。

所述时序控制器可通过计算来自所述数据驱动器的测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，检测所述阈值电压（Vth）。

所述时序控制器可通过基于来自所述数据驱动器的测量的电压，检测根据所述感测像素中的驱动TFT的特性而放电的电压的变化，以及计算所述感测像素中的检测到的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中预定或预先检测的电压变化的比率，来检测所述k参数偏差。

所述像素驱动电路可包括：驱动所述发光元件的驱动TFT；第一开关TFT，所述第一开关TFT响应于来自扫描线的第一扫描信号，向所述驱动TFT的第一节点提供所述数据线上的电压；第二开关TFT，所述第二开关TFT响应于来自所述扫描线的第二扫描信号，向所述驱动TFT的第二节点提供来自基准电压线的基准电压；和存储电容器，所述存储电容器充入在所述第一节点与所述第二节点之间的电压，并提供所充的电压作为用于所述驱动TFT的驱动电压。

所述数据驱动器可向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电。所述时序控制器可通过计算来自所述数据驱动器的测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，检测所述阈值电压（Vth）。

可向所述基准电压线提供第一基准电压。所述数据驱动器可向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第一测量电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电。可向所述基准电压线提供与所述第一基准电压不同的第二基准电压。所述数据驱动器可向所述数据线提供所述预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压通过驱动所述第一开关TFT和第二开关TFT实现的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第二测量电压。所述时序控制器可通过检测从所述数据驱动器输出的相应第一测量电压和第二测量电压之间的电压差等于或近似于所述第一基准电压和第二基准电压之间的电压差时的时间，并计算在所检测的时间测量的第一测量电压与所述第一基准电压之间的电压差或者在所检测的时间测量的第二测量电压与所述第二基准电压之间的电压差，来检测所述阈值电压（Vth）。

在编程周期中，所述数据驱动器可向所述数据线提供通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压与基准电压之和，所述驱动TFT根据所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而被驱动。在所述编程周期之后的预充电周期中，所述数据驱动器可利用所述预充电电压对所述数据线预充电，所述第一开关TFT和第二开关TFT截止。在所述预充电周期之后的放电周期中，所述数据驱动器可与所述数据线断开，所述数据线上的预充电电压通过所述第一开关TFT和所述驱动TFT放电。在所述放电周期之后并与所述时间或所述多个时间的每一个对应的感测时间，所述第一开关TFT可截止，所述数据驱动器可测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压。所述时序控制器可通过计算所述预充电电压与在所述感测时间测量的电压之间的电压差以检测所述感测像素中的电压变化，以及计算所述感测像素中的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中的电压变化之间的比率，来检测所述k参数偏差。

所述数据驱动器可包括：多个数字-模拟转换器（DAC），所述多个数字-模拟转换器（DAC）用于分别通过多个通道将输入数据转换为模拟数据电压；分别通过多个通道与所述数据线连接的多个采样/保持电路，每个采样/保持电路对所述数据线中的相应一条数据线上的电压采样，并保持和输出所采样的电压作为所述测量的电压；模拟-数字转换器（ADC），所述模拟-数字转换器（ADC）用于将来自每个采样/保持电路的测量的电压转换为数字数据，并输出所述数字数据；和分别通过多个通道连接在所述DAC与所述数据线之间的多个第一开关，所述多个第一开关对来自所述DAC的各个输出电压进行切换。

所述数据驱动器还可包括：连接在所述采样/保持电路与所述ADC之间的多路复用器/缩放器。所述多路复用器/缩放器可以以组为单位选择和缩放来自所述采样/保持电路的多个测量的电压，并将缩放的电压输出到所述ADC，每个组包括至少一个测量的电压。所述ADC在数量上可与所述多路复用器/缩放器的输出通道相等。

所述数据驱动器还可包括用于对所述预充电电压进行切换以提供给所述DAC的相应输出通道的第二开关。

根据本发明的另一个方面，提供一种感测OLED显示装置中的像素驱动电路的特性参数的方法，所述OLED显示装置包括多个像素，每个像素包括发光元件和独立驱动所述发光元件的相应一个像素驱动电路，所述方法包括下述步骤：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；并使用测量的电压检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）；以及使用通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压，驱动所述感测像素的像素驱动电路，感测在所述数据线上根据所述驱动薄膜晶体管的特性而放电的电压，并根据测量的电压检测所述驱动薄膜晶体管的k参数偏差。

检测所述阈值电压（Vth）的步骤可包括下述步骤：计算测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

检测所述k参数偏差的步骤可包括下述步骤：基于测量的电压，检测根据所述感测像素中的驱动TFT的特性而放电的电压的变化，以及计算所述感测像素中的检测到的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中预定或预先检测的电压变化的比率。

所述像素驱动电路可包括：驱动所述发光元件的驱动TFT；第一开关TFT，所述第一开关TFT响应于来自扫描线的第一扫描信号，向所述驱动TFT的第一节点提供所述数据线上的电压；第二开关TFT，所述第二开关TFT响应于来自所述扫描线的第二扫描信号，向所述驱动TFT的第二节点提供来自基准电压线的基准电压；和存储电容器，所述存储电容器用于充入在所述第一节点与所述第二节点之间的电压，并提供所充的电压作为用于所述驱动TFT的驱动电压。检测所述阈值电压（Vth）的步骤可包括下述步骤：向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的时间感测所述数据线上的电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；以及计算测量的电压与基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

所述像素驱动电路可包括：驱动所述发光元件的驱动TFT；第一开关TFT，所述第一开关TFT响应于来自扫描线的第一扫描信号，向所述驱动TFT的第一节点提供所述数据线上的电压；第二开关TFT，所述第二开关TFT响应于来自所述扫描线的第二扫描信号，向所述驱动TFT的第二节点提供来自基准电压线的基准电压；和存储电容器，所述存储电容器用于充入在所述第一节点与所述第二节点之间的电压，并提供所充的电压作为用于所述驱动TFT的驱动电压。检测所述阈值电压（Vth）的步骤可包括下述步骤：向所述基准电压线提供第一基准电压，向所述数据线提供预充电电压，在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间感测所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第一测量电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；向所述基准电压线提供与所述第一基准电压不同的第二基准电压，向所述数据线提供所述预充电电压，在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压通过驱动所述第一开关TFT和第二开关TFT实现的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间感测所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第二测量电压；以及检测从所述数据驱动器输出的相应第一测量电压和第二测量电压之间的电压差等于或近似于所述第一基准电压和第二基准电压之间的电压差时的时间，并计算在所检测的时间测量的第一测量电压与所述第一基准电压之间的电压差或者在所检测的时间测量的第二测量电压与所述第二基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

检测所述k参数偏差的步骤可包括下述步骤：在编程周期中，向所述数据线提供通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压与基准电压之和，并根据所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而驱动所述驱动TFT；在所述编程周期之后的预充电周期中，利用所述预充电电压对所述数据线预充电，并使所述第一开关TFT和第二开关TFT截止；在所述预充电周期之后的放电周期中，使所述数据线浮置，并且使所述数据线上的预充电电压通过所述第一开关TFT和所述驱动TFT放电；在所述放电周期之后并与所述时间或所述多个时间的每一个对应的感测时间，使所述第一开关TFT截止，并感测所述数据线上的电压；计算所述预充电电压与在所述感测时间测量的电压之间的电压差，以检测所述感测像素中的电压变化；以及计算所述感测像素中的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中的电压变化之间的比率，以检测所述k参数偏差。

应当理解，本发明前面的大致描述和下面的详细描述都是例示性的和解释性的，意在对要求保护的本发明提供进一步的解释。

附图说明

给本发明提供进一步理解并且并入本申请中组成本申请一部分的附图图解了本发明的实施方式，并与说明书一起用于解释本发明的原理。在附图中：

图1是显示根据本发明典型实施方式的具有感测像素驱动电路特性参数的功能的有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）显示装置的电路图；

图2A和2B是显示根据本发明第一个实施方式的用于感测每个像素驱动电路的阈值电压Vth的方法的顺序步骤的电路图；

图3是描述在图2A和2B的情形中，数据线上的输出电压根据时间流逝而变化的曲线图；

图4A和4B是显示根据本发明第二个实施方式的用于感测每个像素驱动电路的阈值电压Vth的方法的顺序步骤的电路图；

图5是描述在图4A和4B的情形中，数据线上的输出电压根据时间流逝而变化的曲线图；

图6A到6C是显示根据本发明实施方式的用于感测每个像素驱动电路的k参数的方法的顺序步骤的电路图；

图7是显示驱动图6A到6C中所示的像素驱动电路的波形图；

图8是描述在图7中的预充电周期和放电周期中多个像素的电压变化的视图；以及

图9是显示根据本发明实施方式的数据驱动器的详细构造的电路图。

具体实施方式

现在将详细描述本发明的优选实施方式，在附图中图解了这些实施方式的一些例子。

下文将详细描述根据本发明的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。

如下面的公式1所示，用于确定从AMOLED显示装置中的每个像素的有机发光二极管（OLED）发射的光量的驱动薄膜晶体管（TFT）的电流Ids由诸如驱动TFT的阈值电压Vth和驱动TFT的k参数这样的驱动TFT的特性参数、以及驱动TFT的驱动电压Vgs确定。

[公式1]

Ids = \frac{1}{2} \cdot \frac{W}{L} \cdot μ \cdot Cox {\cdot (Vgs - Vth)}^{2} = k \cdot {(Vgs - Vth)}^{2}

在公式1中，“k”表示工艺特性因素，包括工艺特性因素成分，如驱动TFT中的沟道宽度（W）与沟道长度（L）的比率W/L、迁移率μ和寄生电容Cox。即使当驱动电压Vgs恒定时，驱动TFT的阈值电压Vth和k参数也可导致驱动TFT的电流不均匀。也就是说，阈值电压Vth和k参数是导致亮度不均匀的因素成分。为此，根据本发明，在检查工艺和/或显示操作期间对每个像素测量阈值电压Vth和k参数。

在根据本发明的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法中，在驱动TFT由恒定电流驱动的条件下，通过相应数据线和数据驱动器单独测量每个像素驱动电路中的驱动TFT的阈值电压Vth和k参数。

图1示出了根据本发明典型实施方式的具有感测像素驱动电路特性参数的功能的AMOLED显示装置。

图1中所示的AMOLED显示装置包括形成有像素驱动电路的显示面板20、数据驱动器10和时序控制器30，其中数据驱动器10用于驱动显示面板20的数据线DL，并通过相应一条数据线DL感测电压，所述电压用于感测诸如阈值电压Vth和k参数偏差这样的每个像素驱动电路的特性参数，时序控制器30用于根据来自数据驱动器10的用于像素驱动电路的测量电压，检测每个像素驱动电路的特性参数，并补偿检测到的特性参数。数据驱动器10和时序控制器30用作特性参数检测部件。图1中所示的显示装置还包括用于驱动像素驱动电路的扫描线SL1和SL2的扫描驱动器（未示出）、以及用于驱动发光控制线EL的发光控制器（未示出）。AMOLED显示装置选择性地以测量每个像素驱动电路的特性参数的感测模式或以进行一般图像显示的显示模式进行操作。

数据驱动器10包括与每条数据线DL并行连接的数字-模拟转换器（之后称作“DAC”）12和模拟-数字转换器（之后称作“ADC”）16、连接在DAC 12与数据线DL之间的第一开关SW1、以及连接在ADC 16与数据线DL之间的采样/保持（S/H）电路14。数据驱动器10进一步包括连接在DAC 12与第一开关SW1之间的输出缓存器（未示出）。

在感测模式或显示模式中，DAC 12将来自时序控制器30的输入数据转换为模拟数据电压Vdata，并通过第一开关SW1将模拟数据电压Vdata提供给显示面板20的数据线DL。在感测模式中，S/H电路14测量数据线DL上的电压，以计算与数据线DL连接的像素驱动电路的阈值电压Vth和k参数，并输出测量的电压。ADC 16将测量的电压转换为数字数据。

为了独立驱动OLED，每个像素驱动电路包括第一和第二开关TFT ST1和ST2、驱动TFT DT、发光控制TFT ET、以及存储电容器Cs。像素驱动电路还包括分别为第一和第二开关TFT ST1和ST2提供作为控制信号的第一和第二扫描信号SS 1和SS2的第一和第二扫描线SL1和SL2、以及为发光控制TFT ET提供作为控制信号的发光控制信号EM的发光控制线EL。像素驱动电路中也包括数据线DL。数据线DL向第一开关TFT ST1提供预充电电压Vpre和数据电压Vdata。像素驱动电路进一步包括用于向第二开关TFT ST2提供基准电压Vref的基准电压线RL、用于向发光控制TFT ET提供高电平电压VDD的第一电源线PL1、以及用于向OLED的阴极提供低电平电压VSS的第二电源线PL2。像素驱动电路以用于感测驱动TFT DT的阈值电压Vth和k参数的偏差的感测模式或者用于数据显示的显示模式进行驱动。

在第一电源线PL1与第二电源线PL2之间，OLED与驱动TFT DT串联连接。除了与第二电源线PL2连接的阴极之外，OLED还包括与驱动TFT DT连接的阳极、以及布置于阳极与阴极之间的发光层。发光层包括电子注入层、电子传输层、有机发光层、空穴传输层和空穴注入层。在OLED中，当在阳极与阴极之间施加正偏压时，来自阴极的电子通过电子注入层和电子传输层被提供给有机发光层，来自阳极的空穴通过空穴注入层和空穴传输层被提供给有机发光层。因此，有机发光层通过提供的电子和空穴的再组合发出荧光或磷光。因而，OLED产生与提供给OLED的电流密度成正比的亮度。

第一开关TFT ST1包括与第一扫描线SL1连接的栅极、与数据线DL连接的第一电极、以及与第一节点N1连接的第二电极。根据流过第一开关TFTST1的电流的方向，第一和第二电极分别用作源极和漏极或者分别用作漏极和源极。在感测模式中，第一开关TFT ST1响应于从扫描驱动器提供给第一扫描线SL1的第一扫描信号SS1，向第一节点N1提供来自数据线DL的预充电电压Vpre。在感测模式或显示模式中，第一开关TFT ST1响应于提供给第一扫描线SL1的第一扫描信号SS1，向第一节点N1提供来自数据线DL的数据电压Vdata。

第二开关TFT ST2包括与第二扫描线SL2连接的栅极、与基准电压线RL连接的第一电极、以及与第二节点N2连接的第二电极，第二节点N2与驱动TFT DT的栅极连接。根据流过第二开关TFT ST2的电流的方向，第二开关TFT ST2的第一和第二电极分别用作源极和漏极或者分别用作漏极和源极。在感测模式或显示模式中，第二开关TFT ST2响应于从扫描驱动器提供给第二扫描线SL2的第二扫描信号SS2，向第二节点N2提供来自基准电压线RL的基准电压Vref。

存储电容器Cs被充有在提供给第一节点N1的预充电电压Vpre与提供给第二节点N2的基准电压Vref之间的电压差或者在数据电压Vdata与基准电压Vref之间的电压差。存储电容器Cs提供所充的电压作为驱动TFT DT的驱动电压Vgs。

驱动TFT DT的栅极与第一节点N1连接。驱动TFT DT还包括通过发光控制TFT ET与第一电源线PL1连接的第一电极、以及与第二节点N2连接的第二电极。根据流过驱动TFT DT的电流的方向，驱动TFT DT的第一和第二电极分别用作源极和漏极或者分别用作漏极和源极。驱动TFT DT向OLED提供与从存储电容器Cs提供的驱动电压对应的电流量，相应地，OLED发光。

发光控制TFT ET包括与发光控制线EL连接的栅极、与第一电源线PL1连接的第一电极、以及与第一节点N1连接的第二电极。根据流过发光控制TFTET的电流的方向，发光控制TFT ET的第一和第二电极分别用作源极和漏极或者分别用作漏极和源极。响应于从发光控制器提供给发光控制线EL的发光控制信号EM，发光控制TFT ET仅在显示模式的显示周期中向驱动TFT DT提供高电平电压VDD。在感测模式或显示模式的非显示周期中，发光控制TFTET阻止提供高电平电压VDD，以避免黑亮度的增加。

在显示模式中，第一开关SW1导通。DAC 12将输入数据转换为数据电压Vdata，并通过第一开关SW1将数据电压Vdata提供给数据线DL。在这种情形中，当第一和第二开关TFT ST1和ST2分别响应于第一和第二扫描信号SS1和SS2导通时，存储电容器Cs被充有在数据电压Vdata与基准电压Vref之间的电压差“Vdata-Vref”。当第一和第二开关TFT ST1和ST2分别响应于第一和第二扫描信号SS1和SS2截止，且发光控制TFT ET响应于发光控制信号EM导通时，驱动TFT DT向OLED提供与存储电容器Cs中所充的电压对应的驱动电流，相应地，OLED发光。

在感测模式中，数据驱动器10使用恒定电流驱动每个像素驱动电路的驱动TFT DT，测量与像素驱动电路连接的数据线DL上的电压，以计算像素驱动电路的阈值电压Vth和k参数，并输出测量的电压。对于各个像素驱动电路，以顺序的方式进行数据驱动器10的电压感测操作。之后将详细描述阈值电压Vth和k参数的感测。

时序控制器30使用由数据驱动器10测量的每个像素的电压，例如通过预定的计算公式检测特性参数，如阈值电压Vth和k参数偏差。然后，时序控制器30设定用于补偿检测到的阈值电压Vth的偏移值和用于补偿检测到的k参数偏差的增益值，并将为每个像素设定的偏移值和增益值存储在存储器（未示出）中。此外，时序控制器30使用存储在存储器中的用于每个像素的偏移值和增益值来补偿输入数据，并将通过像素的像素驱动电路的特性参数补偿的数据提供给数据驱动器10。

感测阈值电压Vth和第一补偿方法

图2A和2B是显示根据本发明第一个实施方式的感测每个像素驱动电路的阈值电压Vth的方法的顺序步骤的电路图。图3是描述在图2A和2B的情形中，数据线上的输出电压根据时间流逝而变化的曲线图。

如图2A中所示，DAC 12通过导通的第一开关SW1向数据线DL提供预充电电压Vpre。可通过第一开关SW1从外部电源向数据线DL提供预充电电压Vpre。之后，如图2B中所示，第一开关SW1关断，第一和第二开关TFT ST1和ST2导通。因此，驱动TFT DT通过在存储电容器Cs中所充的预充电电压Vpre与基准电压Vref之间的电压差而在饱和区域中被驱动。结果，来自数据线DL的预充电电压Vpre通过第一开关TFT ST1、驱动TFT DT和OLED放电。当存储电容器Cs的电压根据预充电电压Vpre的放电而达到驱动TFT DT的阈值电压Vth时，数据线DL上的电压饱和，如图3中所示。在数据线DL上的电压饱和时的时间T1，S/H电路14测量数据线DL上的电压，即电压Vsen，并输出测量的电压Vsen。ADC 16将来自S/H电路14的测量的电压Vsen转换为数字数据，并输出数字数据。时序控制器30计算在基准电压Vref与测量的电压Vsen之间的电压差“Vref-Vsen”，以检测驱动TFT DT的阈值电压Vth。然后，时序控制器30设定用于补偿检测到的阈值电压Vth的偏移值，并存储该偏移值。对每个像素执行时序控制器30的偏移值设定和存储步骤。

感测阈值电压Vth和第二补偿方法

图4A和4B是显示根据本发明第二个实施方式的感测每个像素驱动电路的阈值电压Vth的方法的顺序步骤的电路图。图5是描述在图4A和4B的情形中，数据线上的输出电压根据时间流逝而变化的曲线图。

如图4A中所示，在向数据线DL提供预充电电压Vpre以及向基准电压线RL提供第一基准电压Vref1之后，第一和第二开关TFT ST1和ST2导通。因此，驱动TFT DT被驱动。S/H电路14在多个时间测量数据线DL上的电压Vsen1，所述多个时间是当电压Vsen1根据来自数据线DL的预充电电压Vpre通过第一开关TFT ST1、驱动TFT DT和OLED的放电而饱和时的多个时间，如图5（a）中所示。然后，S/H电路14输出测量的电压。

之后，如图4B中所示，再次向数据线DL提供预充电电压Vpre，并向基准电压线RL提供与第一基准电压Vref1不同的第二基准电压Vref2。然后，第一和第二开关TFT ST1和ST2导通，由此使驱动TFT DT导通。S/H电路14在多个时间测量数据线DL上的电压Vsen2，所述多个时间是当电压Vsen2根据来自数据线DL的预充电电压Vpre通过第一开关TFT ST1、驱动TFT DT和OLED的放电而饱和时的多个时间，如图5（b）中所示。然后，S/H电路14通过ADC 16输出测量的电压。

同时，时序控制器30将下述时间定义为阈值电压（Vth）感测时间，即所述时间是当在图4A的情形中测量的第一测量电压Vsen1与在图4B的情形中测量的第二测量电压Vsen2之间的电压差“Vsen1-Vsen2”等于或近似于第一基准电压Vref1与第二基准电压Vref2之间的电压差“Vref1-Vref2”时的时间。时序控制器30计算第一基准电压Vref1与在Vth感测时间测量的第一测量电压Vsen1之间的电压差“Vref1-Vsen1”或者第二基准电压Vref2与第二测量电压Vsen2之间的电压差“Vref2-Vsen2”，以检测驱动TFT DT的阈值电压Vth。然后，时序控制器30设定用于补偿检测到的阈值电压Vth的偏移值，并存储偏移值。对每个像素执行时序控制器30的偏移值设定和存储步骤。

感测k参数和补偿方法

图6A到6C是显示根据本发明实施方式的感测每个像素驱动电路的k参数的方法的顺序步骤的电路图。图7是显示驱动图6A到6C中所示的像素驱动电路的波形图。

在图7中的编程周期中，如图6A中所示，DAC 12通过导通的第一开关SW1向数据线DL施加在前一阶段检测的阈值电压Vth，因而提供补偿后的数据电压Vdata（Vdata＝Vimage+Vth）与基准电压Vref之和，即电压之和“Vimage+Vth+Vref”。在编程周期中，第一和第二开关TFT ST1和ST2分别通过第一和第二扫描信号SS1和SS2导通。结果，存储电容器Cs被充有通过阈值电压Vth补偿的数据电压Vdata（Vdata＝Vimage+Vth）。因此，数据电压Vdata（Vdata＝Vimage+Vth）被提供作为驱动TFT DT的驱动电压Vgs。因而，驱动TFT DT提供与k参数和数据电压Vimage成比例的电流Ids，如下面公式2所示：

[公式2]

Ids＝k×Vimage²

在图7的预充电周期中，如图6B中所示，DAC 12利用预充电电压Vpre通过第一开关SW1向数据线DL充电。此外，第一和第二开关TFT ST1和ST2分别通过第一和第二扫描信号SS1和SS2截止。预充电电压Vpre可等于基准电压Vref。

在图7中所示的放电周期中，如图6C中所示，第一开关SW1关断，由此使得数据线DL浮置，即数据驱动器与数据线DL断开。第一开关TFT ST1通过第一扫描信号SS1导通。因此，驱动TFT DT以饱和状态被驱动，这样，数据线DL的预充电电压Vpre通过第一开关TFT ST1、驱动TFT DT和OLED放电。结果，数据线DL上的电压下降。参照图7，可以看出由于驱动TFT DT的不同的k参数特性，参考像素的电压梯度即电压变化ΔVref，和感测像素的电压梯度即电压变化ΔV，彼此不同。

在图7中的感测时间Tsen，第一开关TFT ST1通过第一扫描信号SS1截止。在这种状态下，S/H电路14测量数据线DL上的电压Vsen，并通过ADC16输出测量的电压Vsen。如图8中所示，时序控制器30计算下述比率，即预充电电压Vpre和在感测时间Tsen测量的参考像素的电压（Vsen0）之间的电压差（ΔVref＝Vpre-Vsen0）与预充电电压Vpre和感测像素的测量电压Vsen1或Vsen2之间的电压差ΔV（ΔV＝Vpre-Vsen1或Vsen2）的比率，以检测像素之间的k参数比率（即参考像素与感测像素之间的k参数比率）。通过检测的k参数比率，检测用于补偿像素之间的k参数偏差的增益值。然后，存储检测的增益值。换句话说，时序控制器130计算在放电周期期间产生的参考像素的（预定或预先检测的）电压变化ΔVref（ΔVref＝Vpre-Vsen0）与在放电周期期间产生的感测像素的电压变化ΔV（ΔV＝Vpre-Vsen1或Vsen2）之间的比率，以检测像素之间的k参数偏差，因而检测用于补偿检测到的k参数偏差的增益值。然后时序控制器130存储该增益值。

使用图8中所示的预充电电压Vpre与测量电压Vsen之间的电压差ΔV（ΔV＝Vpre-Vsen），可计算流过驱动TFT DT的电流量，并可感测像素之间的k参数比率（即，参考像素与感测像素之间的k参数比率）。

详细地说，因为驱动TFT DT在图7中的放电周期中在饱和区域中被驱动，所以可看到“ΔV”与驱动TFT DT的电流成正比，如下面的公式3所示。在公式3中，“Cload”表示施加给数据线DL的负载，即数据线DL的寄生电容。

[公式3]

ΔV = \frac{Ids \times t}{Cload}

因为放电周期和“Cload”恒定，并且已补偿了阈值电压Vth，所以可以看出参考像素与感测像素之间的“ΔV”比率等于参考像素与感测像素之间的电流比率，也等于参考像素与感测像素之间的k参数比率，如下面公式4中所示。还可以看出参考像素与感测像素之间的“ΔV”比率等于在图8中所示的确定感测时间Tsen测量的参考像素的电压与在确定感测时间Tsen测量的感测像素的电压之间的比率。因此，可以看出使用参考像素的测量电压Vsen0和感测像素的测量电压Vsen1或Vsen2之间的比率，很容易计算像素之间的k参数偏差（即，参考像素与感测像素之间的k参数比率）。

[公式4]

\frac{ΔVref}{ΔV} = \frac{(Iref \times t) / Cload}{(I \times t) / Cload} = \frac{Iref}{I}

= \frac{k_{ref} \times {Vimage}^{2}}{k \times {Vimage}^{2}} = \frac{k_{ref}}{k}

同时，用于补偿阈值电压Vth和k参数的“Vdata”包括参考像素与感测像素之间的“ΔV”比率，如下面的公式5所示：

[公式5]

Vdata = \sqrt{\frac{k_{ref}}{k}} \times Vimage + Vth + Vref

= \sqrt{\frac{ΔVref}{ΔV}} \times Vimage + vth + Vref

当通过公式5计算的“Vdata”应用于下面的公式6所示的电流公式时，可以看出驱动TFT DT的电流Ids被表示为与驱动TFT DT的阈值电压Vth和k参数无关。也就是说，可以看出进行了理想的补偿。

[公式6]

Ids = k {(Vgs - Vth)}^{2} = k {(Vdata - Vref - Vth)}^{2}

= k {(\sqrt{\frac{ΔVref}{ΔV}} \times Vimage)}^{2} = k \times \frac{Vref}{V} \times {Vimage}^{2}

= k_{ref} \times Vimage

换句话说，因为驱动所述驱动TFT DT的电压Vgs是补偿了“Vth”后的电压，所以可通过下面的公式7计算驱动TFT DT的电流：

[公式7]

I＝k(Vgs-Vth)²＝k(Vdata+Vth-Vth)²

＝k×Vdata²

因为具有标准k参数，即k’参数的参考像素中的驱动TFT DT的电流、和具有k参数的感测像素中的驱动TFT DT的电流应当相等，所以可使用参考像素的k’参数与感测像素的k参数之间的比率来表达参考像素的驱动电压V’data和感测像素的驱动电压Vdata，如下面的公式8中所示：

[公式8]

k×Vdata²＝k'×V'data²

V^{'} data = \sqrt{\frac{k}{k^{'}}} \times Vdata

因此，通过计算用于补偿像素之间的k参数比率的增益值gain和用于利用数据电压Vdata补偿阈值电压Vth的偏移值offset，可补偿感测像素中的驱动TFT的阈值电压Vth和k参数，如下面的公式9中所示。通过将数据电压Vdata乘以增益值，然后使通过乘法获得的值加上偏移值，可实现数据补偿。

[公式9]

V^{'} data = \sqrt{\frac{k}{k^{'}}} \times Vdata + Vth

gain = \sqrt{\frac{k}{k^{'}}}

offset＝Vth

图9中所示的数据驱动器10包括移位寄存器40、锁存器42、分别与多个输出通道CH1到CHn连接的n个DAC 12、与各个输出通道CH1到CHn连接的n个采样/保持（S/H）电路14、以及n个输出缓存器44，每个输出缓存器44连接在n个DAC 12中的相应一个DAC12与n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道之间。数据驱动器10还包括：n个第一开关SW1，每个第一开关SW1连接在n个输出缓存器44中的相应一个输出缓存器44与n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道之间；n个第二开关SW2，每个第二开关SW2连接在n个DAC 12中的相应一个DAC 12与n个输出缓存器44中的相应一个输出缓存器44之间；以及连接在n个S/H电路14与ADC 16之间的多路复用器（MUX）/缩放器46。

移位寄存器40在显示模式或感测模式中响应于来自图1中所示的时序控制器30的各个数据移位时钟，输出顺序采样信号。

响应于来自移位寄存器40的顺序采样信号，锁存器42顺序采样来自时序控制器30的数据并锁存采样的数据。当锁存一个水平行的数据时，锁存器43同时向n个DAC 12输出锁存的数据。

n个DAC 12中的每一个在显示模式或感测模式中将输入数据转换为相应数据电压，并通过n个第二开关SW2中的相应一个第二开关SW2、n个输出缓存器44中的相应一个输出缓存器44以及n个第一开关SW1中的相应一个第一开关SW1，将数据电压提供给n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道。

n个第二开关SW2中的每一个在感测模式的预充电周期期间对外部提供的预充电电压Vpre进行切换，并通过相应输出缓存器44和相应第一开关SW1将预充电电压Vpre提供给n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道。同时，可通过锁存器42和每个DAC 12从时序控制器30提供预充电电压Vpre。在这种情形中，也可免除用于对预充电电压Vpre进行切换的第二开关SW2。

在显示模式中，每个第一开关SW1总是导通。在感测模式中，每个第一开关SW1在其中提供预充电电压Vpre和数据电压Vdata的周期期间导通，而在其中测量通过n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道提供的相应数据线DL的电压的周期期间关断。

在感测模式中，n个S/H电路14中的每一个S/H电路14将通过n条数据线中的相应一条数据线以及n个输出通道CH1到CHn中的相应一个通道提供的测量电压进行采样，并保持采样的电压。

MUX/缩放器46顺序地选择从n个S/H电路14输出的测量电压，将选择的电压缩放，以与ADC 16的驱动电压范围匹配，并将缩放的电压输出到ADC16。MUX/缩放器46可将n个测量电压分组，使得每个组都包括一个或多个测量电压，从而以组为单位选择测量电压。这可由设计者以各种方式确定。

ADC 16将来自MUX/缩放器46的测量电压转换为数字数据，并将数字数据提供给时序控制器30。实践中，可设置一个或多个ADC 16，以在数量上与MUX/缩放器46的输出通道的数量相等，这样，ADC 16可与MUX/缩放器46的各个输出通道连接。

从上面的描述可以看出，根据本发明的感测像素驱动电路的特性参数的方法和装置，通过以恒定电流驱动所述驱动TFT，可简单快速地测量每个像素驱动电路中的驱动TFT的阈值电压Vth和k参数。因此，根据本发明，不仅可在检查工艺期间，而且还可在介于后续显示模式之间的感测模式中，测量每个像素的阈值电压Vth和k参数。因而，还可根据AMOLED显示装置的使用时间，测量阈值电压Vth和k参数的变化，并可补偿所测量的变化。

在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在本发明中可进行各种修改和变化，这对于所属领域技术人员来说是显而易见的。因而，本发明意在覆盖落入所附权利要求书的范围及其等效范围内的对本发明的所有修改和变化。

Claims

1.一种OLED显示装置，包括：

包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和

用于感测每个像素中的像素驱动电路的特性参数的特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）和所述驱动薄膜晶体管的工艺特性参数（k参数）的偏差。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述特性参数感测单元包括：

数据驱动器，所述数据驱动器用于驱动所述数据线、感测所述数据线上的电压、并输出测量的电压；和

时序控制器，所述时序控制器用于：根据来自所述数据驱动器的测量的电压，检测所述阈值电压（Vth）和k参数偏差；计算用于补偿所检测到的阈值电压（Vth）的偏移值和用于补偿所检测到的k参数偏差的增益值；存储计算的偏移值和计算的增益值；通过使用存储的偏移值和存储的增益值来补偿输入数据；并向所述数据驱动器提供补偿后的输入数据。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述时序控制器通过计算来自所述数据驱动器的测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，检测所述阈值电压（Vth）。

4.根据权利要求3所述的显示装置，其中所述时序控制器通过基于来自所述数据驱动器的测量的电压，检测根据所述感测像素中的驱动TFT的特性而放电的电压的变化，以及计算所述感测像素中的检测到的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中预定或预先检测的电压变化的比率，来检测所述k参数偏差。

5.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述像素驱动电路包括：

驱动所述发光元件的驱动TFT；

第一开关TFT，所述第一开关TFT响应于来自扫描线的第一扫描信号，向所述驱动TFT的第一节点提供所述数据线上的电压；

第二开关TFT，所述第二开关TFT响应于来自所述扫描线的第二扫描信号，向所述驱动TFT的第二节点提供来自基准电压线的基准电压；和

存储电容器，所述存储电容器充入在所述第一节点与所述第二节点之间的电压，并提供所充的电压作为用于所述驱动TFT的驱动电压。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其中：

所述数据驱动器向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；以及

所述时序控制器通过计算来自所述数据驱动器的测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，检测所述阈值电压（Vth）。

7.根据权利要求5所述的显示装置，其中：

向所述基准电压线提供第一基准电压，并且所述数据驱动器向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第一测量电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；

向所述基准电压线提供与所述第一基准电压不同的第二基准电压，并且所述数据驱动器向所述数据线提供所述预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压通过驱动所述第一开关TFT和第二开关TFT实现的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第二测量电压；以及

所述时序控制器通过检测从所述数据驱动器输出的相应第一测量电压和第二测量电压之间的电压差等于或近似于所述第一基准电压和第二基准电压之间的电压差时的时间，并计算在所检测的时间测量的第一测量电压与所述第一基准电压之间的电压差或者在所检测的时间测量的第二测量电压与所述第二基准电压之间的电压差，来检测所述阈值电压（Vth）。

8.根据权利要求6或7所述的显示装置，其中：

在编程周期中，所述数据驱动器向所述数据线提供通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压与基准电压之和，所述驱动TFT根据所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而被驱动；

在所述编程周期之后的预充电周期中，所述数据驱动器利用所述预充电电压对所述数据线预充电，所述第一开关TFT和第二开关TFT截止；

在所述预充电周期之后的放电周期中，所述数据驱动器与所述数据线断开，所述数据线上的预充电电压通过所述第一开关TFT和所述驱动TFT放电；

在所述放电周期之后并与所述时间或所述多个时间的每一个对应的感测时间，所述第一开关TFT截止，所述数据驱动器测量所述数据线上的电压，并输出测量的电压；以及

所述时序控制器通过计算所述预充电电压与在所述感测时间测量的电压之间的电压差以检测所述感测像素中的电压变化，以及计算所述感测像素中的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中的电压变化之间的比率，来检测所述k参数偏差。

9.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述数据驱动器包括：

多个数字-模拟转换器（DAC），所述多个数字-模拟转换器（DAC）用于分别通过多个通道将输入数据转换为模拟数据电压；

分别通过多个通道与所述数据线连接的多个采样/保持电路，每个采样/保持电路对所述数据线中的相应一条数据线上的电压采样，并保持和输出所采样的电压作为所述测量的电压；

模拟-数字转换器（ADC），所述模拟-数字转换器（ADC）用于将来自每个采样/保持电路的测量的电压转换为数字数据，并输出所述数字数据；和

分别通过多个通道连接在所述DAC与所述数据线之间的多个第一开关，所述多个第一开关对来自所述DAC的各个输出电压进行切换。

10.根据权利要求9所述的显示装置，其中：

所述数据驱动器还包括：连接在所述采样/保持电路与所述ADC之间的多路复用器/缩放器，所述多路复用器/缩放器以组为单位选择和缩放来自所述采样/保持电路的多个测量的电压，并将缩放的电压输出到所述ADC，每个组包括至少一个测量的电压；以及

所述ADC在数量上与所述多路复用器/缩放器的输出通道相等。

11.根据权利要求10所述的显示装置，其中所述数据驱动器还包括用于对所述预充电电压进行切换以提供给所述DAC的相应输出通道的第二开关。

12.一种感测OLED显示装置中的像素驱动电路的特性参数的方法，所述OLED显示装置包括多个像素，每个像素包括发光元件和独立驱动所述发光元件的相应一个像素驱动电路，所述方法包括下述步骤：

驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；并使用测量的电压检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）；以及

使用通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压，驱动所述感测像素的像素驱动电路，感测在所述数据线上根据所述驱动薄膜晶体管的特性而放电的电压，并根据测量的电压检测所述驱动薄膜晶体管的k参数偏差。

13.根据权利要求12所述的方法，其中检测所述阈值电压（Vth）的步骤包括下述步骤：计算测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

14.根据权利要求13所述的方法，其中检测所述k参数偏差的步骤包括下述步骤：基于测量的电压，检测根据所述感测像素中的驱动TFT的特性而放电的电压的变化，以及计算所述感测像素中的检测到的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中预定或预先检测的电压变化的比率。

15.根据权利要求14所述的方法，其中：

所述像素驱动电路包括：驱动所述发光元件的驱动TFT；第一开关TFT，所述第一开关TFT响应于来自扫描线的第一扫描信号，向所述驱动TFT的第一节点提供所述数据线上的电压；第二开关TFT，所述第二开关TFT响应于来自所述扫描线的第二扫描信号，向所述驱动TFT的第二节点提供来自基准电压线的基准电压；和存储电容器，所述存储电容器用于充入在所述第一节点与所述第二节点之间的电压，并提供所充的电压作为用于所述驱动TFT的驱动电压，

检测所述阈值电压（Vth）的步骤包括下述步骤：

向所述数据线提供预充电电压，然后在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的时间感测所述数据线上的电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；

计算测量的电压与基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

16.根据权利要求14所述的方法，其中：

检测所述阈值电压（Vth）的步骤包括下述步骤：

向所述基准电压线提供第一基准电压，向所述数据线提供预充电电压，在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间感测所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第一测量电压，其中所述预充电电压通过所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而放电；

向所述基准电压线提供与所述第一基准电压不同的第二基准电压，向所述数据线提供所述预充电电压，在所述驱动TFT根据来自所述数据线的预充电电压通过驱动所述第一开关TFT和第二开关TFT实现的放电而以饱和状态被驱动时的多个时间感测所述数据线上的电压，并输出测量的电压作为第二测量电压；以及

检测从所述数据驱动器输出的相应第一测量电压和第二测量电压之间的电压差等于或近似于所述第一基准电压和第二基准电压之间的电压差时的时间，并计算在所检测的时间测量的第一测量电压与所述第一基准电压之间的电压差或者在所检测的时间测量的第二测量电压与所述第二基准电压之间的电压差，以检测所述阈值电压（Vth）。

17.根据权利要求15或16所述的方法，检测所述k参数偏差的步骤包括下述步骤：

在编程周期中，向所述数据线提供通过所检测的阈值电压（Vth）补偿的数据电压与基准电压之和，并根据所述第一开关TFT和第二开关TFT的驱动而驱动所述驱动TFT；

在所述编程周期之后的预充电周期中，利用所述预充电电压对所述数据线预充电，并使所述第一开关TFT和第二开关TFT截止；

在所述预充电周期之后的放电周期中，使所述数据线浮置，并且使所述数据线上的预充电电压通过所述第一开关TFT和所述驱动TFT放电；

在所述放电周期之后并与所述时间或所述多个时间的每一个对应的感测时间，使所述第一开关TFT截止，并感测所述数据线上的电压；

计算所述预充电电压与在所述感测时间测量的电压之间的电压差，以检测所述感测像素中的电压变化；以及

计算所述感测像素中的电压变化与所述多个像素的一个参考像素中的电压变化之间的比率，以检测所述k参数偏差。