KR102216705B1 - 소스 드라이버 집적회로, 컨트롤러, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 실시예들은, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 서로 다른 센싱 구성이 동일한 서브픽셀에 대한 특성치를 함께 센싱할 수 있도록 하는 구조를 제공하고, 이러한 구조를 통해 서로 다른 센싱 구성으로부터 얻어진 각 센싱값에 근거하여 센싱 구성 간의 센싱 편차를 더욱 정확하게 파악할 수 있도록 해주며, 파악된 센싱 편차를 이용하여 센싱 편차를 보정해줌으로써 화상 품질을 향상시켜줄 수 있는 소스 드라이버 집적회로, 컨트롤러, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.

Description

소스 드라이버 집적회로, 컨트롤러, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법{SOURCE DRIVER IC, CONTROLLER, ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY PANEL, ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE, AND THE METHOD FOR DRIVING THE ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE}
본 실시예들은 소스 드라이버 집적회로, 컨트롤러, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.
최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다.
이러한 유기발광표시장치의 각 서브픽셀은 유기발광다이오드와 이를 구동하는 구동 트랜지스터 등을 포함하여 구성될 수 있다.
한편, 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터는 문턱전압, 이동도 등의 고유한 특성치를 갖는다. 또한, 각 구동 트랜지스터는 구동 시간에 따라 열화(Degradation)가 진행되어 고유한 특성치가 변할 수 있다.
또한, 각 서브픽셀 내 유기발광다이오드 또한 구성 시간에 따라 열화가 진행되어 고유한 특성치가 변할 수 있다.
이러한 점들 때문에, 각 서브픽셀 간의 구동 시간의 차이에 따라, 구동 트랜지스터 및/또는 유기발광다이오드 간의 열화 정도의 차이가 발생하고, 구동 트랜지스터 및/또는 유기발광다이오드 간의 특성치 편차도 발생할 수 있다.
구동 트랜지스터 간의 특성치 편차와 유기발광다이오드 간의 특성치 편차를 포함하는 개념의 서브픽셀 특성치 편차는, 각 서브픽셀 간 휘도 편차를 야기하여 화질 저하를 발생시키는 주요 요인이 될 수 있다.
이에, 서브픽셀 특성치 편차를 보상해주기 위한 다양한 기술이 개발되었다.
이러한 서브픽셀 특성치 편차 보상 기술은, 서브픽셀 특성치를 정확하게 센싱하는 것이 전제되어야만 한다.
하지만, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차가 발생하는 경우, 정확한 센싱 데이터를 얻을 수 없을 뿐만 아니라, 부정확 센싱 데이터에 의해 서브픽셀 특성치 보상이 진행될 수 있다.
또한, 센싱 구성 간의 센싱 편차가 발생하여, 서브픽셀 특성치 보상이 부정확하게 진행되면, 화면상에 일정 방향으로 흐릿한 블록이 보이는 현상(화상 편차)이 발생하여, 화상 품질이 저하될 수 있다.
본 실시예들의 목적은, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 줄여주거나 제거하여 화상 품질을 향상시켜 주는 데 있다.
본 실시예들의 다른 목적은, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 더욱 정확하게 파악할 수 있도록 해주는 데 있다.
본 실시예들은, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱부 간의 센싱 편차를 줄여주거나 제거하여 화상 품질을 향상시켜줄 수 있는 소스 드라이버 집적회로, 컨트롤러, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, Q(Q≥1)개의 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제1 소스 드라이버 집적회로와, S(S≥1)개의 제2 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 소스 드라이버 집적회로와, S개의 제2 센싱 라인 중 적어 하나의 제2 센싱 라인과 제1 소스 드라이버 집적회로를 전기적으로 연결해주는 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, 다수의 서브픽셀과, 데이터 전압을 공급하는 다수의 데이터 라인과, 해당 서브픽셀과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 라인과, 제1 드라이버 연결 영역에 일 단이 연결되고, 제2 드라이버 연결 영역에 대응되는 S(S≥1)개의 센싱 라인 중 하나와 타 단이 연결되는 편차 센싱 라인을 적어도 하나 포함하는 유기발광표시패널을 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, D(D≥1)개의 데이터 채널과 대응되는 D개의 출력 버퍼와, D개의 데이터 채널과 대응되는 D개의 디지털 아날로그 변환기와, S(S≥1)개의 센싱 채널을 통해 S개의 센싱 라인과 전기적으로 연결되고, 적어도 하나의 편차 센싱 채널을 통해 적어도 하나의 편차 센싱 라인과 전기적으로 연결되는 아날로그 디지털 변환기를 포함하는 소스 드라이버 집적회로를 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, Q(Q≥1)개의 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제1 아날로그 디지털 변환기와, S개의 제2 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 아날로그 디지털 변환기와, S개의 제2 센싱 라인 중 적어도 하나의 제2 센싱 라인과 제1 아날로그 디지털 변환기를 전기적으로 연결해주는 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, 제2 소스 드라이버 집적회로 내 제2 아날로그 디지털 변환기가, 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제2 센싱값으로 변환하는 단계와, 제1 소스 드라이버 집적회로 내 제1 아날로그 디지털 변환기가, 전기적으로 연결된 편차 센싱 라인을 통해, 상기 편차 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제1 이웃 센싱값으로 변환하는 단계와, 제1 이웃 센싱값과 제2 센싱값을 비교하여, 제1 아날로그 디지털 변환기 및 제2 아날로그 디지털 변환기 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 보정하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법을 제공할 수 있다.
또한, 본 실시예들은, 제1 아날로그 디지털 변환기에서 생성된 제1 이웃 센싱값을 포함하는 제1 센싱 데이터를 수신하는 제1 센싱 데이터 수신부와, 제2 아날로그 디지털 변환기에서 생성된 제2 센싱값을 포함하는 제2 센싱 데이터를 수신하는 제2 센싱 데이터 수신부와, 제1 이웃 센싱값 및 제2 센싱값을 토대로 다음에 수신되는 제1 센싱값과 제2 센싱값을 보정하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정부를 포함하는 컨트롤러를 제공할 수 있다.
제1 센싱 데이터 수신부가 수신하는 제1 이웃 센싱값과 제2 센싱 데이터 수신부가 수신하는 제2 센싱값은 동일한 서브픽셀의 특성치에 대한 센싱값일 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 줄여주거나 제거하여 화상 품질을 향상시켜 줄 수 있다.
본 실시예들에 의하면, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 더욱 정확하게 파악할 수 있도록 해줄 수 있다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 구조와 보상 회로를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서의 센싱 라인 배치의 예시도이다.
도 4는 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로의 개략도이다.
도 5는 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 내 구동 파트와 센싱 파트를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 6a 및 도 6b는 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차(아날로그 디지털 변환 편차)를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제1 센싱 편차 센싱 구조와, 이를 활용한 센싱 편차 센싱 및 보정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제2 센싱 편차 센싱 구조와, 이를 활용한 센싱 편차 센싱 및 보정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제1 센싱 편차 센싱 구조 하에서, 소스 드라이버 집적회로를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제2 센싱 편차 센싱 구조 하에서, 소스 드라이버 집적회로를 나타낸 도면이다.
도 11은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 시스템 구현 예시도이다.
도 12 및 도 13은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 유기발광표시패널(110)에 구성한 예시도이다.
도 14 및 도 15는 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널에 적어도 하나의 편차 센싱 라인이 위치하는 영역에서의 구조를 나타낸 도면이다.
도 16 및 도 17은 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 소스 인쇄회로기판에 구성한 예시도이다.
도 18은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동방법에 대한 흐름도이다.
도 19는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동방법에 따라 2개의 소스 드라이버 집적회로 간 센싱 편차를 센싱하는 방법을 설명하기 위한 예시도이다.
도 20은 본 실시예들에 따른 컨트롤러의 블록도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N) 및 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)이 배치되고, 다수의 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 배치된 유기발광표시패널(110)과, 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N)을 구동하는 데이터 드라이버(120)와, 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)을 구동하는 게이트 드라이버(130)와, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하는 컨트롤러(140) 등을 포함한다.
컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어한다.
이러한 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(DATA)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.
이러한 컨트롤러(140)는 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행하는 제어장치일 수 있다.
데이터 드라이버(120)는, 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N)으로 데이터 전압을 공급함으로써, 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N)을 구동한다. 여기서, 데이터 드라이버(120)는 "소스 드라이버"라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 드라이버(130)는 "스캔 드라이버"라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)으로 순차적으로 공급한다.
데이터 드라이버(120)는, 게이트 드라이버(130)에 의해 특정 게이트 라인이 열리면, 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터(DATA)를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N)으로 공급한다.
데이터 드라이버(120)는, 도 1에서는 유기발광표시패널(110)의 일 측(예: 상측 또는 하측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 유기발광표시패널(110)의 양측(예: 상측과 하측)에 모두 위치할 수도 있다.
게이트 드라이버(130)는, 도 1에서는 유기발광표시패널(110)의 일 측(예: 좌측 또는 우측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 유기발광표시패널(110)의 양측(예: 좌측과 우측)에 모두 위치할 수도 있다.
전술한 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(DATA)를 출력하는 것 이외에, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭 신호 등의 타이밍 신호를 입력받아, 각종 제어 신호들(DCS, GCS)을 생성하여 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 출력한다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(120)를 구성하는 둘 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(120)의 출력 타이밍을 제어한다.
한편, 데이터 드라이버(120)는, 둘 이상의 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit, SDIC #1 ~ SDIC #K, K는 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있다.
둘 이상의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1 ~ SDIC #K) 각각은, 쉬프트 레지스터, 래치 회로, 디지털 아날로그 변환기(DAC: Digital Analog Converter), 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다.
게이트 드라이버(130)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit, GDIC #1 ~ GDIC #L, L은 1이상의 자연수)를 포함할 수 있다.
하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC #1, ... , GDIC #L) 각각은 쉬프트 레지스터, 레벨 쉬프터 등을 포함할 수 있다.
한편, 유기발광표시패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀(SP)은 하나의 데이터 라인 및 하나 이상의 게이트 라인과 전기적으로 연결되고, 하나 이상의 다른 신호 라인과도 연결될 수 있다.
유기발광표시패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀(SP)은 서브픽셀 구동을 위해, 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode), 트랜지스터, 캐패시터 등의 각종 회로 소자를 포함하여 구성될 수 있다.
각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 유기발광표시장치(100)의 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 서브픽셀 구조와 보상 회로를 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 각 서브픽셀은, 기본적으로, 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT: Driving Transistor)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)로 데이터 전압을 전달해주기 위한 스위칭 트랜지스터(SWT: Switching Transistor)와, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압 또는 이에 대응되는 전압을 한 프레임 시간 동안 유지하는 스토리지 캐패시터(Cst: Storage Capacitor)를 포함하여 구성될 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)는 제1전극(예: 애노드 전극), 유기층 및 제2전극(예: 캐소드 전극) 등으로 이루어질 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)를 구동해준다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극과 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 스위칭 트랜지스터(SWT)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 연결될 수 있으며, 게이트 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제3노드(N3)는 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)과 연결될 수 있으며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)와 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 도 2의 예시와 같이 n 타입으로 구현될 수도 있고, p 타입으로도 구현될 수도 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2) 사이에 연결되고, 게이트 라인을 통해 스캔 신호(SCAN)를 게이트 노드로 인가받아 제어될 수 있다.
이러한 스위칭 트랜지스터(SWT)는 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴-온 되어 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)로 전달해줄 수 있다.
한편, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 각 서브픽셀(SP)의 구동 시간이 길어짐에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자가 열화되고, 이에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자가 갖는 고유한 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등)가 변할 수 있다.
이러한 회로 소자 간의 특성치 변화의 정도는 회로 소자 간의 열화 정도의 차이로 인해 서로 다를 수 있다.
이러한 회로 소자의 특성치의 변화 및 편차는 서브픽셀 특성치의 변화 및 편차라고 할 수 있는데, 이러한 서브픽셀 특성치의 변화 및 편차로 인해, 서브픽셀의 휘도의 부정확성과 서브픽셀(SP) 간의 휘도 편차를 발생시킬 수 있다. 이에 따라, 유기발광표시패널(110)의 화질이 저하될 수 있다.
여기서, 서브픽셀 특성치는, 일 예로, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압일 수도 있고, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압 및 이동도 등을 포함할 수 있다.
이에, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 서브픽셀 특성치의 변화 및 편차를 센싱하는 서브픽셀 센싱 기능과, 센싱 결과를 이용하여 서브픽셀의 변화 및 편차를 보상해주는 서브픽셀 보상 기능을 제공할 수 있다.
이러한 경우, 서브픽셀 구조의 변경과 센싱 및 보상 구성이 추가될 수 있다.
이에, 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에 배치된 각 서브픽셀은, 도 2에 도시된 바와 같이, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT), 스위칭 트랜지스터(SWT) 및 스토리지 캐패시터(Cst) 이외에, 센싱 트랜지스터(SENT: Sensing Transistor)를 더 포함할 수 있다.
도 2를 참조하면, 센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 기준전압(Vref)을 공급하는 센싱 라인(SL) 사이에 연결되고, 게이트 노드로 스캔 신호의 일종인 센싱 신호(SENSE)를 인가받아 제어될 수 있다.
여기서, 센싱 라인(SL)은, 센싱 트랜지스터(SENT)와 전기적으로 연결되어 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압과 등전위가 될 수 있다. 따라서, 센싱 라인(SL)은, 서브픽셀 특성치 센싱을 위한 경로가 될 수 있다.
이러한 센싱 라인(SL)은 서브픽셀과 전기적으로 연결되어 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)로 기준전압(Vref)을 공급한다는 점에서 기준전압 라인(Reference Voltage Line)이라고도 한다.
이러한 센싱 트랜지스터(SENT)는 센싱 신호(SENSE)에 의해 턴-온 되어 센싱 라인(SL)을 통해 공급되는 기준전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 인가해준다.
또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱할 수 있도록 센싱 경로로서의 역할도 해줄 수 있다.
한편, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 다른 게이트 라인을 통해 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드 및 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다. 이 경우, 각 서브픽셀에는 2개의 게이트 라인이 연결될 수 있다.
경우에 따라서는, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 동일한 신호로서, 동일한 게이트 라인을 통해 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드 및 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다. 이 경우, 각 서브픽셀에는 1개의 게이트 라인이 연결될 수 있다.
도 2를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 서브픽셀 특성치의 변화 및 편차를 센싱하기 위하여, 센싱부(210)와, 센싱부(210)의 센싱 결과를 저장하는 메모리(220)와, 서브픽셀 특성치의 변화 및 편차를 보상해주기 위한 보상부(230)를 포함할 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 센싱 구동을 제어하기 위하여, 즉, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 인가 상태를 서브픽셀 특성치 센싱에 필요한 상태로 제어하기 위하여, 제1스위치(SW1)와 제2스위치(SW2)를 더 포함할 수 있다.
제1스위치(SW1)를 통해, 센싱 라인(SL)으로의 기준전압(Vref)의 공급 여부가 제어될 수 있다.
제1스위치(SW1)가 턴-온 되어, 센싱 라인(SL)으로 기준전압(Vref)이 공급되면, 턴-온 되어 있는 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해, 기준전압(Vref)이 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)로 인가된다.
한편, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 서브픽셀 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 즉, 센싱 라인(SL)의 전압이 서브픽셀 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 제2스위치(SW2)가 턴-온 되어, 센싱부(210)와 센싱 라인(SL)이 연결된다.
이에 따라, 센싱부(210)는 서브픽셀 특성치를 반영하는 전압 상태인 센싱 라인(SL)의 전압, 즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱한다.
이러한 센싱 라인(SL)은, 일 예로, 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있고, 둘 이상의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
예를 들어, 1개의 픽셀이 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀, 흰색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀, 청색 서브픽셀)로 구성된 경우, 센싱 라인(SL)은 1개의 픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
센싱부(210)에서 센싱되는 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)을 센싱하기 위한 전압값일 수도 있고, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱하기 위한 전압값일 수도 있다.
예를 들어, 서브픽셀이 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압 센싱을 위해 구동되는 경우, 문턱전압 센싱 구동에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각은 문턱전압 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)과 기준전압(Vref)으로 초기화되고, 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하게 되고, 일정 시간이 지나면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 포화된다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 포화된 전압은 데이터 전압(Vdata)과 문턱전압(Vth)의 차이에 해당한다.
따라서, 센싱부(210)에 의해 센싱된 전압은 데이터 전압(Vdata)에서 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)을 뺀 전압에 해당한다.
서브픽셀이 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 센싱을 위해 구동되는 경우, 이동도 센싱 구동에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각은 이동도 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)과 기준전압(Vref)으로 초기화되고, 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)가 모두 플로팅되어 전압이 상승한다.
이때, 전압 상승 속도(시간에 대한 전압 상승치의 변화량)는 구동 트랜지스터(DRT)의 전류 능력, 즉 이동도를 나타낸다. 따라서, 전류 능력(이동도)가 큰 구동 트랜지스터(DRT)일 수록, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 더욱 가파르게 상승한다.
센싱부(210)는 일정 시간이 경과한 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 상승에 따라 함께 전압 상승이 이루어진 센싱 라인(SL)의 전압을 센싱한다.
센싱부(210)는 문턱전압 또는 이동도 센싱을 위해 센싱된 전압을 아날로그 값으로 변환하여 센싱 데이터를 생성하고 이를 메모리(220)에 저장시킨다.
보상부(230)는 메모리(220)에 저장된 센싱 데이터를 토대로 해당 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 문턱전압, 이동도)를 파악하여 특성치 보상 처리를 수행할 수 있다.
여기서, 특성치 보상 처리는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압을 보상하는 문턱전압 보상 처리와, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 보상하는 이동도 보상 처리를 포함할 수 있다.
문턱전압 보상 처리는 문턱전압을 보상하기 위한 보상값을 연산하고, 연산된 보상값을 메모리(220)에 저장하거나, 연산된 보상값으로 해당 영상 데이터(DATA)를 변경하는 처리를 포함할 수 있다.
이동도 보상 처리는 이동도를 보상하기 위한 보상값을 연산하고, 연산된 보상값을 메모리(220)에 저장하거나, 연산된 보상값으로 해당 영상 데이터(DATA)를 변경하는 처리를 포함할 수 있다.
보상부(230)는 문턱전압 보상 처리 또는 이동도 보상 처리를 통해 영상 데이터(DATA)를 변경하여 변경된 데이터를 데이터 드라이버(120) 내 해당 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, i=1, 2, ... , K)로 공급해줄 수 있다.
이에 따라, 데이터 드라이버(120) 내 해당 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는 컨트롤러(140)로부터 수신된 데이터(서브픽셀 특성치 보상을 위해 변경된 데이터)를 데이터 전압으로 변환하여 해당 서브픽셀로 공급해줌으로써, 특성치 보상(문턱전압 보상, 이동도 보상)이 실제로 적용되게 된다.
전술한 보상부(230)를 통해, 구동 트랜지스터의 특성치를 보상해주어, 서브픽셀 간의 휘도 편차를 줄여주거나 방지해줄 수 있다.
한편, 각 센싱부(210)는, 해당 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, i=1, 2, ... , K)에 포함될 수 있다.
또한, 각 센싱부(210)는 아날로그 디지털 변환기(ADC: Analog to Digital Converter)로 구현될 수 있다.
아래에서, 센싱부(210)는, 아날로그 디지털 변환기(ADC)로 구현되어 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)마다 하나씩 포함된 것으로 가정한다.
메모리(220)는 컨트롤러(140)의 내부 또는 컨트롤 인쇄회로기판(160)에 위치할 수 있다. 그리고, 보상부(230)는 컨트롤러(140)의 내부 또는 외부에 포함될 수 있다.
한편, 유기발광표시패널(110)에는, 데이터 전압을 해당 서브픽셀로 공급하는 다수의 데이터 라인(DL #1~DL #N)과 스캔 신호를 해당 서브픽셀로 공급하는 다수의 게이트 라인(GL #1~GL #M)이 배치되는 것 이외에, 해당 서브픽셀과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 라인(Sensing Line)이 더 배치될 수 있다.
또한, 유기발광표시패널(110)에는, 제1 드라이버 연결 영역(도 12의 경우, 1210)에 일 단이 연결되고, 제2 드라이버 연결 영역(도 12의 경우, 1220)에 대응되는 S(S≥1)개의 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 하나와 타 단이 연결되는 편차 센싱 라인(도 12의 경우, DSL #1)이 적어도 하나 더 배치될 수 있다.
이러한 센싱 라인 및 편차 센싱 라인 등의 배치 구조에 대해서는 아래에서 더욱 상세하게 설명한다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서의 센싱 라인 배치의 예시도이다.
이러한 센싱 라인(SL)은, 일 예로, 1개의 서브픽셀 열(Sub Pixel Column)마다 1개씩 배치되거나, 둘 이상의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
예를 들어, 1개의 픽셀이 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀, 흰색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀, 청색 서브픽셀)로 구성된 경우, 센싱 라인(SL)은 1개의 픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
몇 개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되느냐에 따라, 특정 센싱 타이밍 구간에, 해당 서브픽셀 행(Sub Pixel Row)에 포함된 서브픽셀들 중에서, 몇 개의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 함께 센싱할 수 있느냐가 결정된다.
예를 들어, 1개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 해당 서브픽셀 행(Sub Pixel Row)에 포함된 서브픽셀들에 대한 서브픽셀 특성치는, 한 센싱 타이밍 구간에서 함께 센싱될 수 있다.
즉, 1개의 센싱 라인(SL)은 1개의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 센싱하는데 이용된다.
다른 예로, 2개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 해당 서브픽셀 행(Sub Pixel Row)에 포함된 서브픽셀들 중 절반의 서브픽셀들에 대한 서브픽셀 특성치가 한 센싱 타이밍 구간에서 함께 센싱될 수 있다.
즉, 1개의 센싱 라인(SL)은 2개의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 센싱하는데 공유되어 이용된다.
또 다른 예로, 3개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 해당 서브픽셀 행(Sub Pixel Row)에 포함된 서브픽셀들 중 1/3에 해당한 서브픽셀들에 대한 서브픽셀 특성치는, 한 센싱 타이밍 구간에서 함께 센싱될 수 있다.
즉, 1개의 센싱 라인(SL)은 2개의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 센싱하는데 공유되어 이용된다.
또 다른 예로, 4개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 특정 센싱 타이밍 구간에, 해당 서브픽셀 행(Sub Pixel Row)에 포함된 서브픽셀들 중 1/4에 해당한 서브픽셀들에 대한 서브픽셀 특성치는, 한 센싱 타이밍 구간에서 함께 센싱될 수 있다.
즉, 1개의 센싱 라인(SL)은 4개의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 센싱하는데 공유되어 이용된다.
센싱 라인 배치의 특성은, 센싱 라인 공유 비율(R)이라는 것으로 정의될 수 있다. 여기서, 센싱 라인 공유 비율(R)은, 몇 개의 서브픽셀마다 1개의 센싱 라인(SL)이 공유되어 서브픽셀 특성치가 센싱되느냐를 나타낸다.
1개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/1에 해당한다. 2개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/2에 해당한다. 3개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/3에 해당한다. 4개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/4에 해당한다.
도 3은 4개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우로서, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/4에 해당한다.
아래에서는, 설명의 편의를 위해, 센싱 라인 공유 비율(R)이 1/4인 것으로 가정한다.
도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에 포함된 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, i=1, 2, ... , K)의 개략도이다.
도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에 포함된 K개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1, SDIC #2, ... , SDIC #K, K는 2 이상의 자연수) 중에서, 임의의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 구조를 개략화하여 나타낸 것이다.
도 4를 참조하면, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, 데이터 구동을 위한 구동 파트(DRP)와 서브픽셀 특성치의 센싱에 관여하는 센싱 파트(SENP) 등으로 이루어질 수 있다.
도 4를 참조하면, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 구동 파트(DRP)는, D(D는 1 이상의 자연수)개의 데이터 채널(DCH #1, ... , DCH #D)을 통해, D개의 데이터 라인(DL #1, ... , DL #D)으로 데이터 전압을 출력한다.
도 4를 참조하면, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 센싱 파트(SENP)는, S(S는 1 이상의 자연수)개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #D)을 통해, S개의 센싱 라인(SL #1, ... , SL #S) 각각의 전압을 센싱한다.
본 명세서에서, S개의 센싱 라인(SL #1, ... , SL #S) 각각의 전압은 해당 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1) 또는 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극)의 전압과 대응될 수 있다.
이러한 S개의 센싱 라인(SL #1, ... , SL #S) 각각의 전압은, 해당 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등) 또는 해당 서브픽셀 내 유기발광다이오드(OLED)의 특성치(예: 문턱전압 등)를 반영하는 전압일 수 있다.
도 5는 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 구동 파트(DRP)와 센싱 파트(SENP)를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 구동 파트(DRP)에는, D개의 래치 회로(LAT #1, ... , LAT #D), D개의 디지털 아날로그 컨버터(DAC #1, ... , DAC #D) 및 D개의 출력 버퍼(AMP #1, ... , AMP #D)가 D개의 데이터 채널(DCH #1, ... , DCH #D)에 대응되어 포함된다.
도 5를 참조하면, 본 실시예들에 따른 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 센싱 파트(SENP)에는, S개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 S개의 센싱 라인(SL #1, ... , SL #S) 각각의 전압을 저장하고 보유하는 샘플 앤 홀드 회로(Sample and Hold Circuit, S/H #i)와, 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)로부터 S개의 센싱 라인(SL #1, ... , SL #S) 각각의 전압을 차례대로 디지털 값에 해당하는 센싱값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 등을 포함한다.
도 6a 및 도 6b는 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j, i=1, 2, ... , K, j=1, 2, ... , K) 간 센싱 편차(아날로그 디지털 변환 편차)를 설명하기 위한 도면이다.
단, 아래에서는, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j)로서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)를 예로 든다.
제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 바로 옆에 위치한 소스 드라이버 집적회로들일 수 있다.
경우에 따라서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 바로 옆에 위치하지 않고, 1개 이상의 소스 드라이버 집적회로를 사이에 두고 떨어져 있을 수도 있다.
도 6a를 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, S(S≥1)개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)과 전기적으로 연결된다.
제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)와 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)를 포함한다.
도 6a를 참조하면, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, S(S≥1)개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS)과 전기적으로 연결된다.
도 6a를 참조하면, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)와 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)를 포함한다.
제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 서로 다른 개수의 센싱 채널을 통해 서로 다른 개수의 센싱 라인과 연결될 수도 있고, 서로 동일한 개수의 센싱 채널을 통해 서로 동일한 개수의 센싱 라인과 연결될 수도 있다.
가령, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)가 Q개의 센싱 채널을 통해 Q(Q≥1)개의 제1 센싱 라인과 연결되고, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)가 S(S≥1)개의 센싱 채널을 통해 S개의 제2 센싱 라인과 연결된다고 할 때, S와 Q는 동일한 값일 수도 있고 다른 값일 수도 있다.
다만, 본 실시예들은, 설명의 편의를 위해, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)가 S개의 센싱 채널을 통해 S개의 제1 센싱 라인과 연결되고, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)가 S개의 센싱 채널을 통해 S개의 제2 센싱 라인과 연결되는 것으로 설명한다. 즉, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 서로 동일한 개수의 센싱 채널을 통해 서로 동일한 개수의 센싱 라인과 연결되는 것으로 설명한다.
도 6a를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 전술한 서브픽셀 특성치의 센싱 및 보상 기능을 통해, 각 서브픽셀의 특성치를 센싱하여 서브픽셀 간 특성치의 편차를 줄여줄 수 있다.
이를 위해서는, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기( ADC #j) 각각의 아날로그 디지털 변환의 정확도가 기본적으로 담보되어야만 한다.
만약, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j)에 포함된 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 각각이, 동일한 아날로그 전압값에 대하여 다른 디지털 값(센싱값)으로 변환한다면, 즉, 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)가 발생한다면, 센싱 정확도가 떨어져 서브픽셀 특성치가 제대로 보상되지 못하는 문제점이 발생할 수 있다.
즉, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)가 S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS, S는 1 이상의 자연수)의 아날로그 전압값을 디지털 값으로 변환하여 얻어진 "제1 이웃 센싱값"과, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)가 가 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS, S는 1 이상의 자연수)의 아날로그 전압값을 디지털 값으로 변환하여 얻어진 제2 센싱값이 차이가 난다면, 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)가 발생한 것이고, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 각각에 얻어진 센싱 데이터가 부정확하게 된다. 이로 인해, 서브픽셀 특성치 편차도 정확하게 보상되지 못한다.
이러한 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차(즉, 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차)는, 일 예로, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 주변의 온도, 압력 등의 환경적인 요인 등에 의해 발생할 수 있다.
전술한 바와 같이, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차(즉, 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차)가 발생하면, 도 6b에 도시된 바와 같이, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 각각에 의한 화상 편차가 생길 수 있다.
즉, 도 6b를 참조하면, 센싱 편차가 있는 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 각각에 의해 데이터 구동이 이루지는 화면 영역의 경계 부분에서 화질 이질감이 생길 수 있다. 이러한 현상(화상 편차 현상)을 블록 딤(Block Dim) 현상이라고 한다.
이에, 본 실시예들은, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 서로 다른 센싱 구성(예: 서로 다른 아날로그 디지털 변환기)이 동일한 서브픽셀에 대한 특성치를 함께 센싱할 수 있도록 하는 구조(예: 편차 센싱 라인, 편차 센싱 채널 등)를 제공하고, 이러한 구조를 통해 서로 다른 센싱 구성으로부터 얻어진 각 센싱값에 근거하여 센싱 구성 간의 센싱 편차를 더욱 정확하게 파악할 수 있도록 해주며, 파악된 센싱 편차를 이용하여 센싱 편차를 보정해줌으로써 화상 품질을 향상시켜줄 수 있는 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1, ... , SDIC #K), 컨트롤러(140), 유기발광표시패널(110), 유기발광표시장치(100) 및 그 구동방법을 제공한다.
좀 더 구체적으로 설명하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차, 즉, 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차에 의한 화상 편차를 개선해줄 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차, 즉, 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여, 이를 토대로, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j)로부터 얻어진 센싱 데이터를 보정함으로써, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 화상 편차를 줄여주거나 방지해줄 수 있다.
본 실시예들에서는, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)가, 하나의 센싱 라인의 전압을 동시에 디지털 값(센싱값)으로 변환하고, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)에서 얻어진 제1 이웃 센싱값과 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)에서 얻어진 제2 센싱값을 비교하여, 차이가 나면, 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)가 발생한 것으로 파악한다.
아래에서는, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차, 즉, 2개의 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여 이를 보상해줄 수 있는 방법과, 이를 위한 구조 등에 대하여, 예시적인 도면들을 참조하여, 더욱 상세하게 설명한다.
도 7은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제1 센싱 편차 센싱 구조와, 이를 활용한 센싱 편차 센싱 및 보정 방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 8은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제2 센싱 편차 센싱 구조와, 이를 활용한 센싱 편차 센싱 및 보정 방법을 설명하기 위한 도면이다. 그리고, 도 9는 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제1 센싱 편차 센싱 구조 하에서, 소스 드라이버 집적회로를 나타낸 도면이고, 도 10은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 제2 센싱 편차 센싱 구조 하에서, 소스 드라이버 집적회로를 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서는, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)과, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)를 전기적으로 연결해주는 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)을 포함할 수 있다.
또는, 도 8을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서는, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)과, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)를 전기적으로 연결해주는 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)을 포함할 수 있다.
도 8에서는, 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)만 도시되었으나, 이는 설명의 편의를 위한 것일 뿐, 3개 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2, ...)이 존재할 수도 있다.
즉, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서는, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 3개 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2, ...)과, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)를 전기적으로 연결해주는 3개 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2, ...)을 포함할 수 있다.
따라서, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서는, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1, ...)과, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)를 전기적으로 연결해주는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 포함할 수 있다.
다만, 설명의 편의를 위해, 아래에서는, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중에서 1개의 센싱 라인(SL #j1)이 1개의 편차 센싱 라인(DSL #1)을 통해 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 연결되는 "제1 센싱 편차 센싱 구조"와, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중에서 2개의 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)이 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)을 통해 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 연결되는 "제2 센싱 편차 센싱 구조"로 나누어, 센싱 편차(아날로그 디지털 변환 편차)를 파악하여 보상해주는 방법을 설명한다.
여기서, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중에서, 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ... )을 통해, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1, ...)은, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 인접한 제2 센싱 라인일 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, 데이터 드라이버(120)에 포함된 임의의 소스 드라이버 집적회로로서, S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)과 전기적으로 연결되고, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 전기적으로 연결된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)를 포함한다.
제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 데이터 드라이버(120)에 포함된 다른 임의의 소스 드라이버 집적회로로서, S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS)과 전기적으로 연결된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)를 포함한다.
만약, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)가 한 측에만 다른 소스 드라이버 집적회로가 있는 최외곽 소스 드라이버 집적회로인 경우, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)는, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 전기적으로 연결되지 않는다.
만약, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)가 양측에 다른 소스 드라이버 집적회로가 모두 있는 소스 드라이버 집적회로인 경우, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)는, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 전기적으로 연결될 수 있다.
전술한 바에 따르면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 통해, 다른 인접한 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1, ...)과 전기적으로 연결되어, 다른 인접한 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 서브픽셀(700, 810, 820)에 대한 서브픽셀 특성치를 센싱할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS) 및 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 사이에, S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS) 및 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...) 각각의 전압을 저장하고 홀드하는 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)를 더 포함할 수 있다.
제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS)과 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 사이에, S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 각각의 전압을 저장하는 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)를 더 포함할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)는, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 통해 다른 인접한 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1, ...)과 전기적으로 연결되어, 다른 인접한 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 서브픽셀(700, 810, 820)에 대한 서브픽셀 특성치를 반영하는 전압을 저장 및 홀드할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)를 파악하고, 파악된 아날로그 디지털 변환 편차에 대한 정보를 토대로, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)를 더 포함할 수 있다.
아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)가 수행하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리는, 파악된 아날로그 디지털 변환 편차를 토대로, 다음에 수신하게 되는 서브픽셀 특성치에 대한 센싱 데이터를 변경하는 처리를 의미할 수 있다.
이를 위해, 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 파악된 아날로그 디지털 변환 편차에 대한 정보, 또는 아날로그 디지털 변환 특성치(예: 오프셋, 게인 등)에 대한 정보를 룩 업 테이블(LUT)에 저장해둘 수 있다.
도 7을 참조하면, 제1 센싱 편차 센싱 구조의 경우, 각 센싱 라인과 연결된 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 중에서 R 서브픽셀(700)에 대한 특성치를 센싱하는 센싱 구간에서, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에서, 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)는, 제2 센싱 라인(SL #j1)과 전기적으로 연결된 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 중에서 현재 센싱 구간에서 센싱 대상이 되는 R 서브픽셀(700) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압값에 해당하는 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값을 저장 및 홀드한다.
그리고, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에서, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)는, 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)에 의해 저장 및 홀드 된 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값을 디지털 값을 변환하여 제2 센싱값(SV2)를 얻는다.
또한, 도 7을 참조하면, 동일 센싱 구간에서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에서, 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)는, 편차 센싱 채널(DSCH #1)을 통해, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 R 서브픽셀(700)과 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값을 저장 및 홀드한다.
그리고, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에서, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)에 의해 저장 및 홀드 된 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값을 디지털 값을 변환하여 "제1 이웃 센싱값(NSV1)"를 얻는다.
여기서, "이웃 센싱값"은, 소스 드라이버 집적회로가, 편차 센싱 채널을 통해 인가된 아날로그 전압(이웃한 소스 드라이버 집적회로와 연결된 센싱 라인의 전압임)을 디지털값으로 변환한 센싱값을 의미한다.
제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)의 아날로그 디지털 변환에 따라 얻어진 제2 센싱값(SV2)을 포함하는 제2 센싱 데이터를 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)로 전송한다.
여기서, 제2 센싱값(SV2)의 생성 주체는 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)이고, 제2 센싱값(SV2)이 반영하는 서브픽셀 특성치에 대응되는 서브픽셀의 구동 주체 또한 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)로서 동일하다.
또한, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)의 아날로그 디지털 변환에 따라 얻어진 제1 이웃 센싱값(NSV1)을 포함하는 제1 센싱 데이터를 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)로 전송한다.
여기서, 제1 이웃 센싱값(NSV1)의 생성 주체는 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)이지만, 제1 이웃 센싱값(NSV1)이 반영하는 서브픽셀 특성치에 대응되는 서브픽셀의 구동 주체는 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)이다.
아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 제2 센싱 데이터에 포함된 제2 센싱값(SV2)와 제1 센싱 데이터에 포함된 제1 이웃 센싱값(NSV1) 간의 차이가 설정된 임계값(예: 0 이상) 이상이 되면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 및 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 간의 센싱 편차, 즉, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차가 발생한 것으로 파악하고, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리(센싱 편차 보정 처리)를 수행한다.
도 8을 참조하면, 제2 센싱 편차 센싱 구조의 경우, 각 센싱 라인과 연결된 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 중에서 R 서브픽셀(810, 820)에 대한 특성치를 센싱하는 센싱 구간에서, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에서, 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)는, 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 각각에 전기적으로 연결된 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 중에서 현재 센싱 구간에서 센싱 대상이 되는 R 서브픽셀(810, 820) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압값에 해당하는 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 각각의 아날로그 전압값을 저장 및 홀드한다.
그리고, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에서, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)는, 제2 샘플 앤 홀드 회로(S/H #j)에 의해 저장 및 홀드 된 2개의 제2 센싱 라인인(SL #j1, SL #j2) 각각의 아날로그 전압값을 디지털 값을 변환하여 2개의 제2 센싱값(SV2_1, SV2_2)를 얻는다.
또한, 도 8을 참조하면, 동일 센싱 구간에서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에서, 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)는, 2개의 편차 센싱 채널(DSCH #1, DSCH #2) 각각을 통해, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 2개의 R 서브픽셀(810, 820) 각각에 연결된 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 각각의 아날로그 전압값을 저장 및 홀드한다.
그리고, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에서, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 제1 샘플 앤 홀드 회로(S/H #i)에 의해 저장 및 홀드 된 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 각각의 아날로그 전압값을 디지털 값을 변환하여 2개의 제1 이웃 센싱값(NSV1_1, NSV1_2)를 얻는다.
제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)는, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)의 아날로그 디지털 변환에 따라 얻어진 2개의 제2 센싱값(SV2_1, SV2_2)을 포함하는 제2 센싱 데이터를 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)로 전송한다.
또한, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)의 아날로그 디지털 변환에 따라 얻어진 2개의 제1 이웃 센싱값(NSV1_1, NSV1_2)을 포함하는 제1 센싱 데이터를 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)로 전송한다.
아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 제2 센싱 데이터에 포함된 2개의 제2 센싱값(SV2_1, SV2_2)의 평균값과 제1 센싱 데이터에 포함된 2개의 제1 이웃 센싱값(NSV1_1, NSV1_2)의 평균값 간의 차이가 미리 설정된 임계값 이상이 되면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 및 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 간의 센싱 편차, 즉, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차가 발생한 것으로 파악하고, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리(센싱 편차 보정 처리)를 수행한다.
전술한 바에 따르면, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)와, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)의 동일 전압에 대하여 아날로그 디지털 변환을 동시에 수행하게 되는 것이다.
이를 통해, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 센싱 편차(즉, 아날로그 디지털 변환 편차)를 파악할 수 있다.
또한, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중에서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와도 전기적으로 연결되는 제2 센싱 라인 개수를 더욱 많게 하면, 즉, 편차 센싱 라인 개수를 더욱 많게 하면, 파악되는 센싱 편차의 정확도 높일 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하면, S(도 7의 경우, S는 1 이상의 자연수, 도 8의 경우, S는 2 이상의 자연수)개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)은, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 의해 데이터 구동이 되는 제1 서브픽셀과 전기적으로 연결된다.
마찬가지로, S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS)은 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 데이터 구동이 되는 제2 서브픽셀(700, 810, 820 포함)과 전기적으로 연결된다.
이에 비해, 도 7 및 도 8을 참조하면, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2...)은, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 적어도 하나의 편차 센싱 채널(DSCH #1, DSCH #2, ...)과, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)의 적어도 하나의 센싱 채널(SCH #1, SCH #2, ...)에 모두 전기적으로 연결될 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2...)은 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 연결된 S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)과는 연결되지 않는다. 즉, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2...)은 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 의해 데이터 구동이 되는 제1 서브픽셀과 전기적으로 연결되지 않는다.
한편, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2...)은 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중에서 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2, ...)과 연결된다. 즉, 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2...)은 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 제2 서브픽셀(700, 810, 820)과 전기적으로 연결된다.
전술한 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 통해 대응되는 적어도 하나의 제2 센싱 라인 각각의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제1 이웃 센싱값을 포함하는 제1 센싱 데이터를 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신하고, 적어도 하나의 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제2 센싱값을 포함하는 제2 센싱 데이터를 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 내 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)로부터 수신하며, 제1 센싱 데이터 및 제2 센싱 데이터를 비교하여, 비교 결과를 토대로, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행한다.
도 7을 참조하면, 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)을 통해 대응되는 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제1 이웃 센싱값(NSV1)을 포함하는 제1 센싱 데이터를 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신하고, 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제2 센싱값(SV2)을 포함하는 제2 센싱 데이터를 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 내 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)로부터 수신하며, 제1 센싱 데이터 및 제2 센싱 데이터를 비교하여, 비교 결과를 토대로, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행한다.
도 8에 도시된 바와 같이, 편차 센싱 라인 개수가 둘 이상인 경우, 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1)을 통해 대응되는 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 2개의 제1 이웃 센싱값(NSV1_1, NSV1_2)을 포함하는 제1 센싱 데이터를 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신하고, 2개의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 2개의 제2 센싱값(SV2_1, SV2_2)을 포함하는 제2 센싱 데이터를 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 내 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)로부터 수신하며, 제1 센싱 데이터 및 제2 센싱 데이터를 비교하여, 비교 결과를 토대로, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행한다.
더 구체적으로, 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)는, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신된 제1 센싱 데이터에 포함된 둘 이상의 제1 이웃 센싱값(NSV1_1, NSV1_2)을 평균하여 제1 평균 센싱값을 산출하고, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)로부터 수신된 제2 센싱 데이터에 포함된 둘 이상의 제2 센싱값(SV2_1, SV2_2)을 평균하여 제2 평균 센싱값을 산출하며, 산출된 제1 평균 센싱값과 제2 평균 센싱값의 차이를 토대로, 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하고, 이렇게 파악된 아날로그 디지털 변환 편차에 근거하여, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신될 센싱 데이터(S개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 얻어진 센싱값을 포함하는 센싱 데이터)와 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)로부터 수신될 센싱 데이터(S개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 얻어진 센싱값을 포함하는 센싱 데이터) 중 적어도 하나를 보정함으로써, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간의 파악된 센싱 편차(아날로그 디지털 변환 편차)를 토대로 센싱 편차를 줄여주거나 제거하는 센싱 편차 보정을 통해, 서브픽셀 특성치에 대한 센싱 데이터의 정확도를 높여줄 수 있다. 이에 따라, 서브픽셀 특성치에 대한 보상 처리를 제대로 이루어질 수 있어, 블록 딤 현상 등을 방지하여 화상 품질을 향상시켜줄 수 있다.
한편, 도 8의 편차 센싱 라인 연결 구조와는 다르게, 편차 센싱 라인 DSL #1은 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 편차 센싱 채널 DSCH #1과 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인 SL #2을 연결해주고, 편차 센싱 라인 DSL #2는 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 편차 센싱 채널 DSCH #2와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인 SL #1을 연결해줄 수도 있다.
또 한편, 도 8의 예시에서는, 표시패널(110)을 평면에서 볼 때, 편차 센싱 라인 DSL #1의 행 방향 부분이, 편차 센싱 라인 DSL #2의 행 방향 부분보다 소스 드라이버 집적회로들(SDIC #i, SDIC #j)에 더 인접하게 설계되어 있다.
이에 따라, 2개의 편차 센싱 라인 DSL #1과 DSL #2가 중첩되는 제1지점과, 편차 센싱 라인 DSL #2와 제2 센싱 라인 SL #1이 중첩되는 제2지점을 포함하는 2개의 신호 라인 중첩 지점이 존재할 수 있다.
따라서, 1개의 신호 라인 중첩 지점(제2지점)만이 존재하도록, 도 8과는 다르게, 편차 센싱 라인 DSL #2의 행 방향 부분이, 편차 센싱 라인 DSL #1의 행 방향 부분보다 소스 드라이버 집적회로들(SDIC #i, SDIC #j)에 더 인접하게 설계될 수도 있다.
아래에서는, 도 9 및 도 10을 참조하여, 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 파악할 수 있게 해 주는 소스 드라이버 집적회로 구조를 설명한다. 단, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)를 예로 든다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)는, D(D≥1)개의 데이터 라인(DL #1, ... , DL #D)과 연결된 D개의 서브픽셀 열에 대한 데이터 구동을 위한 구동 파트(DRP)와, D(D≥1)개의 데이터 라인(DL #1, ... , DL #D)과 연결된 D개의 서브픽셀 열에 대한 서브픽셀 특성치 센싱을 위한 센싱 파트(SENP)를 포함할 수 있다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 구동 파트(DRP)는, D개의 데이터 라인(DL #1, ... , DL #D)과 연결되고 D개의 데이터 채널(DCH #1, ... , DCH #D)에 대응되는 D개의 제1 출력 버퍼(AMP #1, ... , AMP #D)와, D개의 데이터 채널(DCH #1, ... , DCH #D)과 대응되는 D개의 제1 디지털 아날로그 변환기(DAC #1, ... , DAC #D)와, D개의 데이터 채널(DCH #1, ... , DCH #D)과 대응되는 D개의 제1 래치 회로(LAT #1, ... , LAT #D) 등을 포함한다.
1개의 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, i=1, ... , K, K는 2 이상의 자연수)의 데이터 채널 개수 D는 데이터 라인 총 개수(N)와 소스 드라이버 집적회로 총 개수(K)에 의해 결정된다(D=N/K). 예를 들어, N=1920, K=10인 경우, D=192이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)의 센싱 파트(SENP)는, S(S≥1)개의 센싱 채널(SCH #1, ... , SCH #S)을 통해 S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)과 전기적으로 연결되고, 적어도 하나의 편차 센싱 채널(DSCH #1, ...)을 통해 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 전기적으로 연결되는 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 등을 포함할 수 있다.
1개의 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, i=1, ... , K, K는 2 이상의 자연수)의 센싱 채널 개수 S는, 센싱 라인 공유 비율 R과 1개의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 채널 개수 D에 의해 결정될 수 있다(S=R*D). 예를 들어, N=1920, K=10이며, R=1/4인 경우, D=192이고, S=R*D=(1/4)*192=48이다.
제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 적어도 하나의 편차 센싱 채널(DSCH #1, ...)을 통해 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 전기적으로 연결됨으로써, 다른 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 연결되는 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)과 연결된 적어도 하나의 제2 센싱 라인(SL #i1, ...)과도 전기적으로 연결될 수 있다.
전술한 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 같이, 데이터 드라이버(120) 내 K개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, ... , SDIC #K) 각각을 구현할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 기존의 데이터 구동 및 서브픽셀 특성치 센싱 등을 위한 구성들을 그대로 유지하면서도, 각 소스 드라이버 집적회로 간의 센싱 편차를 정확하게 파악할 수 있는 소스 드라이버 집적회로를 제공할 수 있다.
아래에서는, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 구현하는 방법에 대하여, 도 11 내지 도 17을 참조하여 설명한다.
도 11은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 시스템 구현 예시도이다.
도 1에 개략적으로 도시된 유기발광표시장치(100)는 도 11에 도시된 바와 같이 구현될 수 있다.
데이터 드라이버(120)에 포함된 둘 이상의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1 ~ SDIC #K, K는 2 이상의 자연수) 각각은, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
둘 이상의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1 ~ SDIC #K) 각각은, 도 11에 도시된 바와 같이, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다
이 경우, 둘 이상의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #1 ~ SDIC #K) 각각은, 일 단은 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board, 150)에 본딩되고, 타 단은 유기발광표시패널(110)에 본딩되는 필름(121) 상에 실장될 수 있다. 여기서, 필름(121)은 가요성 필름(Flexible Film)일 수 있다.
도 11에서는, 1개의 소스 인쇄회로기판(150)이 있는 것으로 도시되었으나, 2개 이상의 소스 인쇄회로기판(150)이 있을 수도 있다.
도 11을 참조하면, 게이트 드라이버(130)에 포함된 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC #1 ~ GDIC #L, L은 1이상의 자연수) 각각은, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC #1, ... , GDIC #L) 각각은, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다.
이 경우, 각 게이트 드라이버 집적회로(GDIC #1, ... , GDIC #L)는 유기발광표시패널(110)과 연결된 필름(131) 상에 실장될 수 있다. 여기서, 필름(131)은 가요성 필름(Flexible Film)일 수 있다.
하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC #1, ... , GDIC #L) 각각은 쉬프트 레지스터, 레벨 쉬프터 등을 포함할 수 있다.
도 11을 참조하면, 일 예로, 컨트롤러(140)는 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board, 160)에 배치될 수 있다.
컨트롤 인쇄회로기판(160)은, 가요성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 가요성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체(170)를 통해 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(150)과 연결될 수 있다.
이러한 컨트롤 인쇄회로기판(160)에는, 유기발광표시패널(110), 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 컨트롤러(미도시)가 더 배치될 수 있다.
소스 인쇄회로기판(150)과 컨트롤 인쇄회로기판(160)은, 하나의 인쇄회로기판으로 되어 있을 수도 있다.
적어도 하나의 편차 센싱 라인은 유기발광표시패널(110)에 위치할 수도 있고, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 및 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 소스 인쇄회로기판(150)에 위치할 수도 있다.
도 12 및 도 13은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 유기발광표시패널(110)에 구성한 예시도이고, 도 14 및 도 15는 유기발광표시패널(110)에 적어도 하나의 편차 센싱 라인이 위치하는 영역에서의 구조를 나타낸 도면이다.
도 12 및 도 13을 참조하면, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 마다 존재하는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)은 유기발광표시패널(110)에 위치할 수 있다.
도 12 및 도 13을 참조하면, 유기발광표시패널(110)에서 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j)가 연결되는 2개의 드라이버 연결 영역(1210, 1220)의 주변에 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)이 위치한다.
이와 같이, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 마다 존재하는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 유기발광표시패널(110)에 위치시키는 경우, 패널 제조 공정 시, 2개의 드라이버 연결 영역(1210, 1220)의 주변에 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 다른 패턴들(전극, 신호 라인 등)과 함께 형성할 수 있기 때문에, 센싱 편차를 파악하기 위한 구조를 별도의 전용 공정 없이 형성할 수 있다.
유기발광표시패널(110)에 위치한 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)은 유기발광표시패널(110)에서 표시영역에 해당하는 액티브 영역(A/A)의 외곽 영역에 해당하는 넌-액티브 영역(N/A)에 위치할 수 있다.
도 12에 도시된 바와 같이 편차 센싱 라인 개수가 하나인 경우, 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)은, 도 14에 도시된 바와 구조로 유기발광표시패널(110)에 배치될 수 있다.
도 14는 도 12에서 편차 센싱 라인(DSL #1)과 제2 센싱 라인(SL #j1)과 연결되는 A영역을 확대하여 간략하게 나타낸 도면이다.
도 14를 참조하면, A영역에서, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 전기적으로 연결된 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)은, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)과 동일한 레이어(Layer)에 일체형으로 위치할 수 있다.
전술한 바와 같이, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 마다 1개의 편차 센싱 라인(DSL #1)인 존재하는 경우, 1개의 편차 센싱 라인(DSL #1)과 전기적으로 연결하고자 하는 1개의 제2 센싱 라인(SL #j1)을 일체형으로 하나의 레이어에 형성할 수 있기 때문에, 패널 설계 및 패널 제조 공정을 복잡하게 하지 않아도 되는 이점이 있다.
도 13에 도시된 바와 같이 편차 센싱 라인 개수가 둘 이상인 경우, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2, ...)은, 도 15에 도시된 바와 구조로 유기발광표시패널(110)에 배치될 수 있다.
도 15는 도 12에서 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)이 서로 중첩되는 지점을 포함하는 B영역과, 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)과 제2 센싱 라인(SL #j1)이 서로 중첩되는 지점을 포함하는 C영역을 확대하여 간략하게 나타낸 도면이다.
도 15를 참조하면, B영역과 C영역을 보면, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 S개의 제2 센싱 라인(SL #j1, ... , SL #jS) 중 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)과, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 전기적으로 연결된 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)은, 동일한 제1 레이어(L3)에서 서로 분리되어 위치할 수 있다.
도 15를 참조하면, 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)이 서로 중첩되는 지점을 포함하는 B영역에서, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)의 사이에는 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 다른 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)이 존재한다.
도 15를 참조하면, B영역에서, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1) 각각은, 컨택홀(CNT)을 통해, 다른 제2 레이어(L1)에 위치한 연결 라인(1500)과 연결된다.
이에 따라, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)은 다른 제2 레이어(L1)에 위치한 연결 라인(1500)에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
도 15를 참조하면, 2개의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)과 제2 센싱 라인(SL #j1)이 서로 중첩되는 지점을 포함하는 C영역에서, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j2)의 사이에는 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 다른 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)이 존재한다.
도 15를 참조하면, C영역에서, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j2) 각각은, 컨택홀(CNT)을 통해, 다른 제2 레이어(L1)에 위치한 연결 라인(1500)과 연결된다.
이에 따라, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2) 중 하나의 편차 센싱 라인(DSL #2)과 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2) 중 하나의 제2 센싱 라인(SL #j2)은 다른 제2 레이어(L1)에 위치한 연결 라인(1500)에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
도 15를 참조하면, 제1 레이어(L3)와 제2 레이어(L1) 사이에는, 절연층(L2)가 존재할 수 있다.
일 예로, 제1 레이어(L3)는 소스-드레인 물질의 패턴들이 패터닝되는 레이어일 수 있고, 제2 레이어(L1)는 게이트 물질의 패턴들이 패터닝되는 레이어일 수 있다.
센싱 편차를 더욱 정확하게 파악하기 위하여, 유기발광표시패널(110)에서의 편차 센싱 라인 개수를 2개 이상으로 하는 경우, 편차 센싱 라인 간의 중첩이 발생할 수 있고, 편차 센싱 라인과 센싱 라인 간의 중첩이 발생할 수 있다.
전술한 바와 같은 구조를 이용하면, 라인 간 중첩이 발생하더라도, 둘 이상의 편차 센싱 라인(DSL #1, DSL #2)을 둘 이상의 제2 센싱 라인(SL #j1, SL #j2)와 대응시켜 연결해줄 수 있다.
도 16 및 도 17은 본 실시예들에 따른 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDCI #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하기 위한 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 소스 인쇄회로기판(150)에 구성한 예시도이다.
도 16 및 도 17을 참조하면, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDCI #i, SDIC #j) 사이마다 존재하는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)은, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 및 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)와 전기적으로 연결된 인쇄회로기판(예: 소스 인쇄회로기판(150))에 위치할 수 있다.
이 경우, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDCI #i, SDIC #j) 사이마다 존재하는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)은, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 및 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 각각의 내부에서 바이패스 되어, 적어도 하나의 편차 센싱 채널(DSCH #1, ...)과 적어도 하나의 제2 센싱 채널(SCH #1, ...)을 서로 연결해줄 수 있다.
전술한 바와 같이, 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDCI #i, SDIC #j) 사이마다 존재하는 적어도 하나의 편차 센싱 라인(DSL #1, ...)을 인쇄회로기판에 배치시키는 경우, 유기발광표시패널(110)에 전혀 영향을 끼치지 않고, 센싱 편차를 파악하기 위한 구조를 만들어줄 수 있다.
도 18은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법에 대한 흐름도이고, 도 19는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법에 따라 2개의 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간 센싱 편차를 센싱하는 방법을 설명하기 위한 예시도이다.
도 18 및 도 19를 참조하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)와 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)를 포함하는 유기발광표시장치(100)의 구동 방법은, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j) 내 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)가, 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값(Vsen)을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제2 센싱값(SV2)으로 변환하는 단계(S1810)와, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i) 내 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)가, 전기적으로 연결되고 편차 센싱 라인(DSL #1)을 통해, 편차 센싱 라인(DSL #1)과 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인(SL #j1)의 아날로그 전압값(Vsen)을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제1 이웃 센싱값(NSV1)으로 변환하는 단계(S1820)와, 제1 이웃 센싱값(NSV1)과 제2 센싱값(SV2)을 비교하여, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)를 보정하는 단계(S1830) 등을 포함한다.
전술한 유기발광표시장치(100)의 구동 방법을 이용하면, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)와, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 하나의 제2 센싱 라인(SL #j1)의 동일 전압에 대하여 아날로그 디지털 변환을 동시에 수행할 수 있다.
이를 통해, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 센싱 편차(즉, 아날로그 디지털 변환 편차)를 파악할 수 있다.
도 19를 참조하면, 제1 이웃 센싱값(NSV1) 및 제2 센싱값(SV2) 모두는, 동일한 제2 센싱 라인(SL #j1)과 연결된 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치에 대한 전압 성분을 포함할 수 있다.
여기서, 서브픽셀 특성치는, 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등) 또는 서브픽셀 내 유기발광다이오드(OLED)의 특성치(예: 문턱전압 등)를 포함할 수 있다.
따라서, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 과정에서 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 간의 센싱 편차를 파악할 수 있다. 더 구체적으로, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)와, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 동일한 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치를 동시에 센싱하여, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 센싱 편차(즉, 아날로그 디지털 변환 편차)를 더욱 정확하게 파악할 수 있다.
도 20은 본 실시예들에 따른 컨트롤러(140)의 블록도이다.
도 20을 참조하면, 본 실시예들에 따른 컨트롤러(140)는, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)에서 생성된 제1 이웃 센싱값(NSV1)을 포함하는 제1 센싱 데이터를 수신하는 제1 센싱 데이터 수신부(2110)와, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)에서 생성된 제2 센싱값(SV2)을 포함하는 제2 센싱 데이터를 수신하는 제2 센싱 데이터 수신부(2120)와, 제1 이웃 센싱값(NSV1) 및 제2 센싱값(SV2)을 토대로 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i) 및 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하고, 파악된 아날로그 디지털 변환 편차(센싱 편차)에 근거하여, 다음에 수신되는 제1 센싱값(SV1)와 제2 센싱값(SV2)를 보정함으로써, 아날로그 디지털 변환 편차를 보정하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정부(700)를 포함할 수 있다.
제1 이웃 센싱값(NSV1) 및 제2 센싱값(SV2)은, 동일한 서브픽셀(SP #j1)의 특성치에 대한 센싱값이다.
제2 센싱값(SV2)은 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)가 제2 센싱 라인(SL #j1)의 전압을 변환한 디지털 값이다.
제1 이웃 센싱값(NSV1)은 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)가 편차 센싱 라인(DSL #1)을 통해 제2 센싱 라인(SL #j1)의 전압을 변환한 디지털 값이다.
여기서, "동일한 서브픽셀(SP #j1)"이란, 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j)를 포함하는 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 의해 데이터 구동이 되는 서브픽셀을 의미한다.
전술한 컨트롤러(140)를 이용하면, 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)와, 제2 소스 드라이버 집적회로(SDIC #j)에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기(ADC #j) 간의 센싱 편차(즉, 아날로그 디지털 변환 편차)를 정확하게 파악하여 보정해줄 수 있다.
제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)로부터 수신된 제1 센싱 데이터는, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)를 포함하는 제1 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i)에 의해 데이터 구동이 되는 S개의 서브픽셀(SP #i1, ... , SP #iS) 각각에 대한 서브픽셀 특성치의 제1 센싱값(SV1)을 더 포함할 수 있다.
여기서, S개의 서브픽셀(SP #i1, ... , SP #iS) 각각에 대한 서브픽셀 특성치의 제1 센싱값(SV1)은, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)가 S개의 제1 센싱 라인(SL #i1, ... , SL #iS)의 전압값을 변환한 디지털 값이다.
따라서, 제1 아날로그 디지털 변환기(ADC #i)는, 자신과 직접적으로 연결된 S개의 서브픽셀(SP #i1, ... , SP #iS) 각각에 대한 서브픽셀 특성치 센싱을 수행하면서, 센싱 편차를 파악하기 위한 센싱 처리를 동시에 수행할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 줄여주거나 제거하여 화상 품질을 향상시켜 줄 수 있다. 여기서, 센싱 구성은 위에서 언급한 센싱부(210), 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 및 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 등일 수 있다.
본 실시예들에 의하면, 서브픽셀 특성치를 센싱하는 센싱 구성 간의 센싱 편차를 더욱 정확하게 파악할 수 있도록 해줄 수 있다. 여기서, 센싱 구성은 위에서 언급한 센싱부(210), 아날로그 디지털 변환기(ADC #i, ADC #j) 및 소스 드라이버 집적회로(SDIC #i, SDIC #j) 등일 수 있다.
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 유기발광표시장치
110: 유기발광표시패널
120: 데이터 드라이버
130: 게이트 드라이버
140: 컨트롤러

Claims (19)

  1. Q(Q≥1)개의 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제1 소스 드라이버 집적회로;
    S(S≥1)개의 제2 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 소스 드라이버 집적회로; 및
    상기 S개의 제2 센싱 라인 중 적어도 하나의 제2 센싱 라인과 상기 제1 소스 드라이버 집적회로를 전기적으로 연결해주는 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 포함하고,
    상기 Q개의 제1 센싱 라인은 상기 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제1 서브픽셀과 전기적으로 연결되고,
    상기 S개의 제2 센싱 라인은 상기 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제2 서브픽셀과 전기적으로 연결되고,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인은 상기 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제1 서브픽셀과 전기적으로 미 연결되고 상기 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제2 서브픽셀과 전기적으로 연결되는 유기발광표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인은 유기발광표시패널에 위치하는 유기발광표시장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인은 상기 제1 소스 드라이버 집적회로 및 상기 제2 소스 드라이버 집적회로와 전기적으로 연결된 인쇄회로기판에 위치하는 유기발광표시장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 소스 드라이버 집적회로는 상기 Q개의 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결되고, 상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제1 아날로그 디지털 변환기를 포함하고,
    상기 제2 소스 드라이버 집적회로는 상기 S개의 제2 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 아날로그 디지털 변환기를 포함하는 유기발광표시장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 소스 드라이버 집적회로는, 상기 Q개의 제1 센싱 라인 및 상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인과 상기 제1 아날로그 디지털 변환기 사이에, 상기 Q개의 제1 센싱 라인과 상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인 각각의 전압을 저장하는 제1 샘플 앤 홀드 회로를 더 포함하고,
    상기 제2 소스 드라이버 집적회로는, 상기 S개의 제2 센싱 라인과 상기 제2 아날로그 디지털 변환기 사이에, 상기 S개의 제2 센싱 라인 각각의 전압을 저장하는 제2 샘플 앤 홀드 회로를 더 포함하는 유기발광표시장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 통해 대응되는 적어도 하나의 제2 센싱 라인 각각의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제1 이웃 센싱값을 포함하는 제1 센싱 데이터를 상기 제1 소스 드라이버 집적회로 내 상기 제1 아날로그 디지털 변환기로부터 수신하고, 상기 적어도 하나의 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값이 디지털값으로 변환된 제2 센싱값을 포함하는 제2 센싱 데이터를 상기 제2 소스 드라이버 집적회로 내 상기 제2 아날로그 디지털 변환기로부터 수신하며, 제1 센싱 데이터 및 제2 센싱 데이터를 비교하여, 비교 결과를 토대로, 상기 제1 아날로그 디지털 변환기 및 상기 제2 아날로그 디지털 변환기 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하여, 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정부를 더 포함하는 유기발광표시장치.
  7. 제6항에 있어서,
    편차 센싱 라인 개수가 둘 이상인 경우,
    상기 아날로그 디지털 변환 편차 보정부는,
    상기 제1 아날로그 디지털 변환기로부터 수신된 상기 제1 센싱 데이터에 포함된 둘 이상의 제1 이웃 센싱값을 평균하여 제1 평균 센싱값을 산출하고,
    상기 제2 아날로그 디지털 변환기로부터 수신된 상기 제2 센싱 데이터에 포함된 둘 이상의 제2 센싱값을 평균하여 제2 평균 센싱값을 산출하며,
    상기 제1 평균 센싱값과 상기 제2 평균 센싱값의 차이를 토대로, 상기 아날로그 디지털 변환 편차를 파악하고,
    상기 아날로그 디지털 변환 편차에 근거하여, 상기 제1 아날로그 디지털 변환기로부터 수신될 센싱 데이터와 상기 제2 아날로그 디지털 변환기로부터 수신될 센싱 데이터 중 적어도 하나를 보정함으로써, 상기 아날로그 디지털 변환 편차 보정 처리를 수행하는 유기발광표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    편차 센싱 라인 개수가 하나인 경우, 상기 하나의 편차 센싱 라인은,
    상기 제2 소스 드라이버 집적회로와 전기적으로 연결된 상기 S개의 제2 센싱 라인 중 하나의 제2 센싱 라인과 동일한 레이어(Layer)에 일체형으로 위치하는 유기발광표시장치.
  9. 제1항에 있어서,
    편차 센싱 라인 개수가 둘 이상인 경우,
    상기 제2 소스 드라이버 집적회로와 전기적으로 연결된 상기 S개의 제2 센싱 라인 중 둘 이상의 제2 센싱 라인과, 상기 제1 소스 드라이버 집적회로와 전기적으로 연결된 둘 이상의 편차 센싱 라인은, 동일한 레이어에서 서로 분리되어 위치하고,
    상기 둘 이상의 편차 센싱 라인 중 하나의 편차 센싱 라인과 상기 둘 이상의 제2 센싱 라인 중 하나의 제2 센싱 라인의 사이에는, 상기 둘 이상의 편차 센싱 라인 중 다른 하나의 편차 센싱 라인 또는 상기 둘 이상의 제2 센싱 라인 중 다른 하나의 제2 센싱 라인이 존재하고,
    상기 둘 이상의 편차 센싱 라인 중 하나의 편차 센싱 라인과 상기 둘 이상의 제2 센싱 라인 중 하나의 제2 센싱 라인은, 다른 레이어에 위치한 연결 라인에 의해 서로 전기적으로 연결되는 유기발광표시장치.
  10. 다수의 서브픽셀;
    데이터 전압을 공급하는 다수의 데이터 라인;
    해당 서브픽셀과 전기적으로 연결된 다수의 센싱 라인; 및
    제1 드라이버 연결 영역에 일 단이 연결되고, 제2 드라이버 연결 영역에 대응되는 S(S≥1)개의 센싱 라인 중 하나와 타 단이 연결되는 편차 센싱 라인을 적어도 하나 포함하고,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인은 상기 다수의 서브픽셀 중 상기 제1 드라이버 연결 영역에 연결된 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제1 서브픽셀과 전기적으로 연결되지 않고, 상기 다수의 서브픽셀 중 상기 제2 드라이버 연결 영역에 연결된 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제2 서브픽셀과 전기적으로 연결되는 유기발광표시패널.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 S개의 센싱 라인 각각은 서브픽셀 내 트랜지스터와 연결되는 유기발광표시패널.
  12. Q(Q≥1)개의 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제1 아날로그 디지털 변환기;
    S(S≥1)개의 제2 센싱 라인과 전기적으로 연결된 제2 아날로그 디지털 변환기; 및
    상기 S개의 제2 센싱 라인 중 적어도 하나의 제2 센싱 라인과 상기 제1 아날로그 디지털 변환기를 전기적으로 연결해주는 적어도 하나의 편차 센싱 라인을 포함하고,
    상기 Q개의 제1 센싱 라인은 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제1 서브픽셀과 전기적으로 연결되고,
    상기 S개의 제2 센싱 라인은 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제2 서브픽셀과 전기적으로 연결되고,
    상기 적어도 하나의 편차 센싱 라인은 상기 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제1 서브픽셀과 전기적으로 미 연결되고 상기 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 데이터 전압을 공급받는 제2 서브픽셀과 전기적으로 연결되는 유기발광표시장치.
  13. 제1 소스 드라이버 집적회로와 제2 소스 드라이버 집적회로를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 제2 소스 드라이버 집적회로 내 제2 아날로그 디지털 변환기가, 전기적으로 연결된 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제2 센싱값으로 변환하는 단계;
    상기 제1 소스 드라이버 집적회로 내 제1 아날로그 디지털 변환기가, 전기적으로 연결된 편차 센싱 라인을 통해, 상기 편차 센싱 라인과 전기적으로 연결된 상기 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털값에 해당하는 제1 이웃 센싱값으로 변환하는 단계; 및
    상기 제1 이웃 센싱값과 상기 제2 센싱값을 비교하여, 상기 제1 아날로그 디지털 변환기 및 상기 제2 아날로그 디지털 변환기 간의 아날로그 디지털 변환 편차를 보정하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제1 이웃 센싱값 및 상기 제2 센싱값 모두는, 상기 제2 센싱 라인과 연결된 서브픽셀에 대한 서브픽셀 특성치에 대한 전압 성분을 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
  15. 제1 서브픽셀이 연결된 제1 센싱 라인과 연결되고 제2 서브픽셀이 연결된 제2 센싱 라인과 편차 센싱 라인을 통해 연결되는 제1 소스 드라이버 집적회로와 연결되고, 상기 제1 소스 드라이버 집적회로에 포함된 제1 아날로그 디지털 변환기가 상기 편차 센싱 라인을 통해 상기 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털 값으로 변환한 제1 이웃 센싱값을 포함하는 제1 센싱 데이터를 상기 제1 소스 드라이버 집적회로로부터 수신하는 제1 센싱 데이터 수신부;
    상기 제2 서브픽셀이 연결된 상기 제2 센싱 라인과 연결되는 제2 소스 드라이버 집적회로와 연결되고, 상기 제2 소스 드라이버 집적회로에 포함된 제2 아날로그 디지털 변환기가 상기 제2 센싱 라인의 아날로그 전압값을 센싱하여 디지털 값으로 변환한 제2 센싱값을 포함하는 제2 센싱 데이터를 상기 제2 소스 드라이버 집적회로로부터 수신하는 제2 센싱 데이터 수신부; 및
    상기 제1 이웃 센싱값 및 상기 제2 센싱값을 토대로 다음에 상기 제1 아날로그 디지털 변환기 및 상기 제2 아날로그 디지털 변환기 각각에서 수신되는 센싱값들을 보정하는 아날로그 디지털 변환 편차 보정부를 포함하고,
    상기 제1 이웃 센싱값 및 상기 제2 센싱값은, 서로 다른 상기 제1 아날로그 디지털 변환기 및 상기 제2 아날로그 디지털 변환기에서 생성되었지만, 동일한 상기 제2 서브픽셀의 특성치에 대한 센싱값인 컨트롤러.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 센싱 데이터는,
    상기 제1 아날로그 디지털 변환기를 포함하는 상기 제1 소스 드라이버 집적회로에 의해 데이터 구동이 되는 제1 서브픽셀에 대한 특성치의 제1 센싱값을 더 포함하는 컨트롤러.
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