KR20200016042A - 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법 - Google Patents

데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시예들은 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 센싱 대상이 되는 서브픽셀을 센싱할 때, 센싱 대상이 되는 서브픽셀과 동일한 센싱 라인을 공유하는 다른 서브픽셀들에 대해서도 구동을 수행함으로써, 센싱 시 필요한 센싱 라인의 전압 변동을 보다 신속하게 발생시켜 줄 수 있고, 이를 통해 센싱 시간을 단축시킬 수 있는 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것이다.

Description

데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법{DATA DRIVING METHOD, ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE, AND DRIVING METHOD}
본 발명은 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것이다.
최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다.
유기발광표시장치는 유기발광다이오드와 이를 구동하기 위한 구동 트랜지스터가 포함된 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔 신호에 의해 선택된 서브픽셀들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다.
유기발광표시장치의 경우, 표시패널에 정의된 각 서브픽셀에는 유기발광다이오드와 이를 구동하기 위한 구동 트랜지스터가 배치되는데, 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터의 특성치 (예: 문턱전압, 이동도)가 구동 시간에 따라 변화되거나, 각 서브픽셀의 구동시간 차이로 인해 각 트랜지스터 간의 특성치 편차가 발생할 수 있다. 이로 인해, 서브픽셀 간의 휘도 편차 (휘도 불균일)를 발생하여 화상 품질이 저하될 수 있다.
종래의 유기발광표시장치의 경우, 서브픽셀 간 휘도 편차를 해결하기 위해, 구동 트랜지스터 간의 특성치 편차를 센싱하여 이를 보상해주기 위한 센싱 및 보상 기술이 제안되었다. 하지만, 여러 여건 상, 센싱 시간의 부족 등으로 인해, 정상적인 센싱 구동을 할 수 없거나 정확한 센싱값을 얻지 못하는 상황이 발생하고 있는 실정이고, 이 경우, 화상 품질도 저하될 수 있는 상황이 발생할 수 있다.
이러한 배경에서, 본 발명의 실시예들의 목적은, 센싱 시간을 단축시킬 수 있는 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 실시예들의 다른 목적은, 짧은 시간 내에 센싱을 하더라도, 정확한 센싱값을 얻을 수 있는 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 실시예들의 또 다른 목적은, 디스플레이 구동 중에 실시간으로 센싱을 하더라도, 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있는 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 실시예들의 또 다른 목적은, 센싱 시간이 부족한 다양한 상황에서도 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있는 데이터 구동회로, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공할 수 있다.
일 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 타입으로 배열되고, 다수의 센싱 라인이 배치되는 표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로와, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동회로와, 다수의 센싱 라인을 센싱하기 위한 센싱회로를 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다.
다수의 서브픽셀은 동일한 서브픽셀 행에 배열된 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀을 포함할 수 있다.
제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀은 다수의 센싱 라인 중 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능할 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 어시스트 구동에 의해 제2 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐를 수 있다.
센싱회로는 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 센싱값을 출력할 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 데이터 구동회로는, 센싱 구동에 따라 제1 데이터 라인을 통해 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압을 공급할 때, 어시스트 구동에 따라 제1 데이터 라인과 다른 제2 데이터 라인을 통해 제2 서브픽셀로 어시스트 데이터 전압을 공급할 수 있다.
센싱 구동용 데이터 전압은 어시스트 데이터 전압보다 높을 수 있다.
센싱회로는, 제1 센싱 라인과 기준전압 공급 노드 간의 연결 여부를 제어하는 제1 스위치와, 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 디지털 값에 해당하는 센싱값으로 변환하여 출력하는 아날로그 디지털 컨버터와, 제1 센싱 라인과 아날로그 디지털 컨버터 간의 연결 여부를 제어하는 제2 스위치를 포함할 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간은 블랭크 기간에 포함될 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 제1 센싱 라인의 전압이 상승할 수 있다. 센싱회로는, 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 센싱값을 출력할 수 있다.
제1 서브픽셀에 공급될 영상 데이터 전압은 제1 센싱 라인의 전압 상승 속도에 따라 달라질 수 있다.
메모리에 저장된 기준 센싱값과 센싱값을 비교하여, 비교 결과에 근거하여 제1 서브픽셀로 공급될 영상 데이터를 변경하기 위한 보상값을 산출하는 보상기를 더 포함할 수 있다. 여기서, 보상값은 제1 서브픽셀에 포함된 구동 트랜지스터의 특성치 변화를 보상해주기 위한 값일 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간보다 앞서서 진행된 그룹 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 모두로 동일한 기본 데이터 전압이 공급된 이후, 제1 센싱 라인의 전압이 상승할 수 있다.
그룹 센싱 기간 동안, 센싱회로는, 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 그룹 센싱값을 출력할 수 있다.
기준 센싱값은, 메모리에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값이 변경되어 저장된 값으로서, 초기 기준 센싱값에서 그룹 센싱값 만큼 오프셋 된 값에 해당할 수 있다.
그룹 센싱 기간 동안, 그룹 센싱 구동에 따라, 동일한 센싱 라인을 공유하는 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 모두로 기본 데이터 전압이 공급된 이후, 제1 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 제1 전류가 흐르고, 제2 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 제2 전류가 흐를 수 있다.
제1 전류 및 제2 전류는 어시스트 전류와 전류 량이 대응될 수 있다.
그룹 센싱 기간 이전에 진행된 초기 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀으로 센싱 구동용 데이터 전압이 공급된 이후, 제1 센싱 라인의 전압이 상승할 수 있다. 센싱회로는 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 초기 기준 센싱값을 출력할 수 있다.
초기 기준 센싱값은 메모리에 저장되어, 기준 센싱값의 생성 시, 그룹 센싱값과 함께 이용될 수 있다.
제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압이 공급될 때, 제2 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압보다 낮은 어시스트 데이터 전압이 공급되고, 어시스트 데이터 전압은 기본 데이터 전압과 대응될 수 있다.
다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 중에서 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압을 공급하고, 제2 서브픽셀로 어시스트 데이터 전압을 공급하는 단계와, 제1 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 제2 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐르기 시작하여 일정 시간이 경과되면, 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법을 제공할 수 있다.
유기발광표시장치의 구동방법은, 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 얻어진 센싱값과 메모리에 저장된 기준 센싱값을 비교하여, 비교 결과에 근거하여 보상값을 산출하는 단계와, 보상값에 기초하여 제1 서브픽셀로 공급될 영상 데이터를 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다.
유기발광표시장치의 구동방법은, 제1 서브픽셀에 대한 센싱보다 앞서서 그룹 센싱을 진행하는 단계를 더 포함할 수 있다.
그룹 센싱을 진행하는 단계는, 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 모두로 동일한 기본 데이터 전압을 공급하는 단계와, 제1 센싱 라인의 전압이 상승하기 시작하면, 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 그룹 센싱값을 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
유기발광표시장치의 구동방법은, 그룹 센싱을 진행하는 단계 이후, 메모리에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값에서 그룹 센싱값 만큼 오프셋 처리하여 기준 센싱값을 생성하고, 초기 기준 센싱값을 기준 센싱값으로 변경 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또 다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 표시패널에 매트릭스 타입으로 배열된 다수의 서브픽셀 중 동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 중에서 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀에 대응되는 제1 데이터 라인으로 센싱 구동용 데이터 전압을 출력하고, 제2 서브픽셀에 대응되는 제2 데이터 라인으로 어시스트 데이터 전압을 출력하는 데이터 전압 출력 회로와, 제1 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 제2 서브픽셀에서 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐르기 시작하여 일정 시간이 경과되면, 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하는 센싱회로를 포함하는 데이터 구동회로를 제공할 수 있다.
이상에서 전술한 본 발명의 실시예들에 의하면, 센싱 시간을 단축시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 짧은 시간 내에 센싱을 하더라도, 정확한 센싱값을 얻을 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 구동 중에 실시간으로 센싱을 하더라도, 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 센싱 시간이 부족한 다양한 상황에서도 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 시스템 구현 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀의 회로이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 보상 회로이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 문턱전압 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램이다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 이동도 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 다양한 타이밍에 진행될 수 있는 센싱 프로세스를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 하나의 센싱 라인과 연결 가능한 4개의 서브픽셀과 그 주변 배선들의 배치도이다.
도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 하나의 센싱 라인과 연결 가능한 4개의 서브픽셀의 등가회로이다.
도 10 내지 도 12는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제1 센싱 구동 방식에 따라 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 내지 제4 서브픽셀 중 제1 서브픽셀을 센싱하는 경우, 3가지 센싱 단계에 대응되는 회로 상태도이다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인의 전압 변화를 나타낸 도면이다.
도 14 내지 도 16은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제2 센싱 구동 방식에 따라 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 내지 제4 서브픽셀 중 제1 서브픽셀을 센싱하는 경우, 3가지 센싱 단계에 대응되는 회로 상태도이다.
도 17은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인의 전압 변화를 나타낸 도면이다.
도 18은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제2 센싱 구동 방식을 나타낸 다이어그램이다.
도 19 내지 도 21은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 서브픽셀에 대한 보상을 위해 필요한 기준 센싱값을 획득하기 위한 그룹 센싱 구동 방식과 이를 위한 3가지 그룹 센싱 단계에 대응되는 회로 상태도이다.
도 22는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인의 센싱 전압과, 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인의 센싱 전압과, 그룹 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인의 센싱 전압을 나타낸 도면이다.
도 23 및 도 24는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치 구동방법에 대한 흐름도이다.
도 25는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 페이크 데이터 삽입 구동을 나타낸 다이어그램이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)이 배치되고, 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀(SP)이 매트릭스 타입으로 배열된 표시패널(110)과, 표시패널(110)을 구동하기 위한 구동회로(111)를 포함할 수 있다.
구동회로(111)는, 기능적으로 볼 때, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동하는 데이터 구동회로(120)와, 다수의 게이트 라인(GL)을 구동하는 게이트 구동회로(130)와, 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130)를 제어하는 컨트롤러(140) 등을 포함할 수 있다.
표시패널(110)에서 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)은 서로 교차하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 다수의 게이트 라인(GL)은 행(Row) 또는 열(Column)으로 배열될 수 있고, 다수의 데이터 라인(DL)은 열(Column) 또는 행(Row)으로 배열될 수 있다. 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 다수의 게이트 라인(GL)은 행(Row)으로 배치되고, 다수의 데이터 라인(DL)은 열(Column)로 배치되는 것으로 가정한다.
표시패널(110)에는, 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL) 이외에, 다른 종류의 배선들이 배치될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 데이터 구동회로(120)로 영상데이터(DATA)를 공급할 수 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130)의 구동 동작에 필요한 각종 제어신호(DCS, GCS)를 공급하여 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130)의 동작을 제어할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상데이터를 데이터 구동회로(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상데이터(DATA)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.
컨트롤러(140)는, 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등의 타이밍 신호를 외부 (예: 호스트 시스템)로부터 입력 받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130)로 출력한다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 구동회로(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동회로(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
컨트롤러(140)는, 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행할 수 있는 제어장치일 수 있다.
컨트롤러(140)는, 데이터 구동회로(120)와 별도의 부품으로 구현될 수도 있고, 데이터 구동회로(120)와 함께 통합되어 집적회로로 구현될 수 있다.
데이터 구동회로(120)는, 컨트롤러(140)로부터 영상데이터(DATA)를 입력 받아 다수의 데이터 라인(DL)로 데이터 전압을 공급함으로써, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다. 여기서, 데이터 구동회로(120)는 소스 구동회로라고도 한다.
데이터 구동회로(120)는 시프트 레지스터(Shift Register), 래치 회로(Latch Circuit), 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital to Analog Converter), 출력 버퍼(Output Buffer) 등을 포함할 수 있다.
데이터 구동회로(120)는, 경우에 따라서, 하나 이상의 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)를 더 포함할 수 있다.
게이트 구동회로(130)는, 다수의 게이트 라인(GL)로 스캔신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 구동회로(130)는 스캔 구동회로라고도 한다.
게이트 구동회로(130)는 시프트 레지스터(Shift Register), 레벨 시프터(Level Shifter) 등을 포함할 수 있다.
게이트 구동회로(130)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔신호를 다수의 게이트 라인(GL)로 순차적으로 공급한다.
데이터 구동회로(120)는, 게이트 구동회로(130)에 의해 특정 게이트 라인이 열리면, 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상데이터(DATA)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL)로 공급한다.
데이터 구동회로(120)는, 표시패널(110)의 일 측(예: 상측 또는 하측)에만 위치할 수도 있고, 경우에 따라서는, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라 표시패널(110)의 양측(예: 상 측과 하 측)에 모두 위치할 수도 있다.
게이트 구동회로(130)는, 표시패널(110)의 일 측(예: 좌측 또는 우측)에만 위치할 수도 있고, 경우에 따라서는, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라 표시패널(110)의 양측(예: 좌 측과 우 측)에 모두 위치할 수도 있다.
데이터 구동회로(120)는 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 구현될 수 있다.
각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는, TAB (Tape Automated Bonding) 방식 또는 COG (Chip On Glass) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나 표시패널(110) 상에 직접 배치될 수도 있다. 경우에 따라서, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는 표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는 COF (Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는 회로필름 상에 실장 되어, 회로필름을 통해 표시패널(110)에서의 데이터 라인들(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
게이트 구동회로(130)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC: Gate Driver IC)가 TAB 방식 또는 COG 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결될 수 있다. 또한, 게이트 구동회로(130)는 GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 표시패널(110) 상에 직접 배치될 수도 있다. 또한, 게이트 구동회로(130)는 COF (Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 게이트 구동회로(130)에 포함된 각 게이트 드라이버 집적회로(GDIC)는 회로필름 상에 실장 되어, 회로필름을 통해 표시패널(110)에서의 게이트 라인들(GL)과 전기적으로 연결될 수 있다..
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 시스템 구현 예시도이다.
도 2의 예시는, 데이터 구동회로(120)에서 포함된 각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)가 다양한 방식들(TAB, COG, COF 등) 중 COF (Chip On Film) 방식으로 구현되고, 게이트 구동회로(130)가 다양한 방식들(TAB, COG, COF, GIP 등) 중 GIP (Gate In Panel) 타입으로 구현된 경우이다.
데이터 구동회로(120)에 포함된 다수의 소스 드라이버 집적회로(SDIC) 각각은, 소스 측 회로필름(SF) 상에 실장될 수 있다.
소스 측 회로필름(SF)의 일 측은 표시패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다.
소스 측 회로필름(SF) 상에는, 소스 드라이버 집적회로(SDIC)과 표시패널(110)을 전기적으로 연결해주기 위한 배선들이 배치될 수 있다.
유기발광표시장치(100)는, 다수의 소스 드라이버 집적회로(SDIC)와 다른 장치들 간의 회로적인 연결을 위해, 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(SPCB)과, 제어 부품들과 각종 전기 장치들을 실장 하기 위한 컨트롤 인쇄회로기판(CPCB)을 포함할 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(SPCB)에는 소스 드라이버 집적회로(SDIC)가 실장 된 소스 측 회로필름(SF)의 타 측이 연결될 수 있다.
즉, 소스 드라이버 집적회로(SDIC)가 실장 된 소스 측 회로필름(SF)은 일 측이 표시패널(110)과 전기적으로 연결되고, 타 측이 소스 인쇄회로기판(SPCB)과 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤 인쇄회로기판(CPCB)에는, 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130) 등의 동작을 제어하는 컨트롤러(140)와, 표시패널(110), 데이터 구동회로(120) 및 게이트 구동회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 파워 관리 집적회로(PMIC: Power Management IC, 210) 등이 실장될 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄회로기판(CPCB)은 적어도 하나의 연결 부재를 통해 회로적으로 연결될 수 있다. 여기서, 연결 부재는, 일 예로, 가요성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit), 가요성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 등일 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄회로기판(CPCB)은 하나의 인쇄회로기판으로 통합되어 구현될 수도 있다.
유기발광표시장치(100)는, 컨트롤 인쇄회로기판(CPCB)와 전기적으로 연결된 세트보드(Set Board, 230)를 더 포함할 수 있다. 이러한 세트 보드(230)는 파워 보드(Power Board)라고도 할 수 있다.
이러한 세트보드(230)에는 유기발광표시장치(100)의 전체적인 파워를 관리하는 메인 파워 관리 회로(220, M-PMC: Main Power Management Circuit)가 존재할 수 있다.
파워 관리 집적회로(210)는 표시패널(110)과 그 구동 회로(120, 130, 140) 등을 포함하는 표시모듈에 대한 파워를 관리하는 회로이고, 메인 파워 관리 회로(220)는 표시모듈을 포함한 전체적인 파워를 관리하는 회로이고, 파워 관리 집적회로(210)와 연동할 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에 포함된 표시패널(110)에 배열된 각 서브픽셀(SP)은 자 발광 소자인 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(Driving Transistor) 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.
각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 서브픽셀의 회로이다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시패널(110)에는, 다수의 데이터 라인(DL), 다수의 게이트 라인(GL), 다수의 구동전압 라인(DVL) 및 다수의 센싱 라인(SL) 등이 배치될 수 있다.
표시패널(110)에서의 각 서브픽셀(SP)은, 유기발광다이오드(OLED)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 해당 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결된 제1 트랜지스터(T1)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 다수의 센싱 라인(SL) 중 해당 센싱 라인(SL) 사이에 전기적으로 연결된 제2 트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결된 스토리지 캐패시터(Cst) 등을 포함하여 구현될 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)는 애노드 전극, 유기발광층 및 캐소드 전극 등으로 이루어질 수 있다.
도 3의 회로 예시에 따르면, 유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극은 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 전기적으로 연결될 수 있다. 유기발광다이오드(OLED)의 캐소드 전극에는 기저전압(EVSS)이 인가될 수 있다.
여기서, 기저전압(EVSS)은, 일 예로, 그라운드 전압이거나 그라운드 전압보다 높거나 낮은 전압일 수 있다. 또한, 기전전압(EVSS)은 구동상태에 따라 가변될 수 있다. 예를 들어, 영상 구동 시 기저전압(EVSS)과 센싱 구동 시 기저전압(EVSS)은 서로 다르게 설정될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 구동전류를 공급해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)를 구동해준다.
구동 트랜지스터(DRT)는 제1 노드(N1), 제2 노드(N2) 및 제3 노드(N3) 등을 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 게이트 노드일 수 있으며, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있으며, 유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극(또는 캐소드 전극)과 전기적으로 연결될 수 있고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스 노드 또는 드레인 노드와도 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)는 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있으며, 구동전압(EVDD)이 인가될 수 있고, 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)과 전기적으로 연결될 수 있다. 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 구동 트랜지스터(DRT)에서, 제1 노드(N1)는 게이트 노드이고, 제2 노드(N2)는 소스 노드이고, 제3노드(N3)는 드레인 노드인 것을 예로 들어 설명할 수 있다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되어, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압(Vdata) 또는 이에 대응되는 전압을 한 프레임 시간 (또는 정해진 시간) 동안 유지해줄 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)의 드레인 노드 또는 소스 노드는 해당 데이터 라인(DL)에 전기적으로 연결되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 노드 또는 드레인 노드는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결되고, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드는 해당 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 스캔신호(SCAN)를 인가 받을 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 해당 게이트 라인을 통해 스캔신호(SCAN)를 게이트 노드로 인가 받아 온-오프가 제어될 수 있다.
이러한 제1 트랜지스터(T1)는 스캔신호(SCAN)에 의해 턴-온 되어 해당 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)로 전달해줄 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)의 드레인 노드 또는 소스 노드는 센싱 라인(SL)에 전기적으로 연결되고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스 노드 또는 드레인 노드는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드는 해당 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 센스신호(SENSE)를 인가 받을 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 해당 게이트 라인을 통해 센스신호(SENSE)를 게이트 노드로 인가 받아 온-오프가 제어될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 센스신호(SENSE)에 의해 턴-온 되어 해당 센싱 라인(SL)으로부터 공급된 기준전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)로 전달해줄 수 있다.
한편, 스토리지 캐패시터(Cst)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 존재하는 내부 캐패시터(Internal Capacitor)인 기생 캐패시터(예: Cgs, Cgd)가 아니라, 구동 트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터(External Capacitor)일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT), 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2) 각각은 n 타입 트랜지스터이거나 p 타입 트랜지스터일 수 있다.
한편, 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)는 별개의 게이트 신호일 수 있다. 이 경우, 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)는 서로 다른 게이트 라인을 통해, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드 및 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다.
경우에 따라서는, 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)는 동일한 게이트 신호일 수도 있다. 이 경우, 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)는 동일한 게이트 라인을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드 및 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드에 공통으로 인가될 수도 있다.
도 3에 예시된 각 서브픽셀 구조는 3T(Transistor) 1C (Capacitor) 구조로서, 설명을 위한 예시일 뿐, 1개 이상의 트랜지스터를 더 포함하거나, 경우에 따라서는, 1개 이상의 캐패시터를 더 포함할 수도 있다. 또는, 다수의 서브픽셀들 각각이 동일한 구조로 되어 있을 수도 있고, 다수의 서브픽셀들 중 일부는 다른 구조로 되어 있을 수도 있다.
아래에서는, 각 서브픽셀(SP)의 영상 구동 동작을 간단하게 예를 들어 설명한다.
각 서브픽셀(SP)의 디스플레이 구동 (영상 구동이라고도 함) 동작은 영상 데이터 기록 단계, 부스팅 단계 및 발광 단계로 진행될 수 있다.
영상 데이터 기록 단계에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 영상 신호에 해당하는 영상 구동용 데이터 전압(Vdata)이 인가하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 영상 구동용 기준전압(Vref)이 인가될 수 있다. 여기서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 센싱 라인(SL) 사이의 저항 성분 등으로 인해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 기준전압(Vref)과 유사한 전압(Vref')이 인가될 수 있다.
영상 구동을 위한 기준전압(Vref)을 VpreR 이라고도 한다.
영상 데이터 기록 단계에서, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)는 동시에 또는 약간의 시간 차를 갖고 턴-온 될 수 있다.
영상 데이터 기록 단계에서, 스토리지 캐패시터(Cst)는 양단 전위차 (Vdata-Vref 또는 Vdata- Vref')에 대응되는 전하가 충전될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 영상 구동용 데이터 전압(Vdata)이 인가되는 것을 영상 데이터 기록(Data Writing)이라고 한다.
영상 데이터 기록 단계에 이어서 진행되는 부스팅 단계에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 동시에 또는 약간의 시간 차를 갖고 전기적으로 플로팅(Floating) 될 수 있다.
이를 위해, 스캔신호(SCAN)의 턴-오프 레벨 전압에 의해 제1 트랜지스터(T1)가 턴-오프 될 수 있다. 또한, 센스신호(SENSE)의 턴-오프 레벨 전압에 의해 제2 트랜지스터(T2)가 턴-오프 될 수 있다.
부스팅 단계에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2) 간의 전압 차이는 유지되면서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2) 각각의 전압이 부스팅(Boosting) 될 수 있다.
부스팅 단계 동안, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2) 각각의 전압이 부스팅(Boosting)되다가, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 상승된 전압이 일정 전압(즉, 유기발광다이오드(OLED)를 턴-온 시킬 수 있는 전압으로서, 기저전압(EVSS)에서 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압만큼 높은 전압)이상이 되면, 발광 단계로 진입된다.
이러한 발광 단계에서는, 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류가 흐르게 된다. 이에 따라, 유기발광다이오드(OLED)가 발광할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시패널(110)에 배열된 다수의 서브픽셀(SP) 각각에 배치된 구동 트랜지스터(DRT)는 문턱전압, 이동도 (전자 이동도 라고도 함) 등의 고유한 특성치를 갖는다.
구동 트랜지스터(DRT)는 구동시간에 따라 열화가 발생할 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 고유한 특성치는 구동시간에 따라 변할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 특성치 변화에 따라 온-오프 타이밍이 달라지거나 유기발광다이오드(OLED)의 구동 능력이 달라질 수 있다. 즉, 구동 트랜지스터(DRT)는 특성치 변화에 따라 유기발광다이오드(OLED)로 전류를 공급하는 타이밍과, 유기발광다이오드(OLED)로 공급하는 전류량이 달라질 수 있다. 이러한 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 변화에 따라, 해당 서브픽셀(SP)의 실제 휘도는 원하는 휘도와 달라질 수 있다.
또한, 표시패널(110)에 배열된 다수의 서브픽셀(SP)은 각기 구동 시간이 서로 다를 수 있다. 따라서, 각 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차 (문턱전압 편차, 이동도 편차)가 발생할 수 있다.
이러한 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차는 서브픽셀(SP) 간의 휘도 편차를 발생시킬 수 있다. 따라서, 표시패널(110)의 휘도 균일도도 나빠질 수 있으며, 결국, 화상 품질 저하로 이어질 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차를 보상해줄 수 있는 보상회로를 포함하고, 이를 이용한 보상 방법을 제공할 수 있다. 이에 대하여, 도 4 내지 도 7을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 예시적인 보상 회로이다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차를 보상하기 위하여, 각 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화를 센싱해야 한다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 보상회로는, 3T1C 구조 또는 이에 기반하여 변형된 구조를 갖는 서브픽셀(SP)을 구동(센싱 구동)하여 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화를 센싱하기 위한 센싱 회로(410)를 포함할 수 있다.
본 명세서에서, 설명의 편의를 위하여, "서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화를 센싱하는 것"을 "서브픽셀(SP)을 센싱한다"라고도 한다. 그리고, "서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화를 보상하는 것"을 "서브픽셀(SP)을 보상한다"라고도 한다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 센싱 구동을 통해, 센싱 라인(SL)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압으로부터 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화를 알아낼 수 있다. 여기서, 센싱 라인(SL)은 기준전압(Vref)을 전달해주는 역할 뿐만, 서브픽셀의 특성(예: 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치)을 센싱하기 위한 센싱 라인의 역할을 할 수 있다. 따라서, 센싱 라인(SL)을 기준전압(Vref)을 전달하는 역할도 하기 때문에 기준전압 라인이라고도 할 수 있다.
보다 구체적으로, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 센싱 구동에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 또는 특성치 변화는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압(예: Vdata-Vth)으로 반영된다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압은, 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 상태인 경우, 센싱 라인(SL)의 전압과 대응될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압에 의해, 센싱 라인(SL) 상의 라인 캐패시터(Cline)가 충전될 수 있다. 충전된 라인 캐패시터(Cline)에 의해 센싱 라인(SL)은 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압과 대응되는 전압을 가질 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 보상회로는, 센싱 대상이 되는 서브픽셀(SP) 내 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2) 각각의 온-오프 제어와, 데이터 전압(Vdata) 및 기준전압(Vref) 각각의 공급 제어를 통해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)가 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(문턱전압, 이동도) 또는 특성치 변화를 반영하는 전압 상태가 되도록 구동할 수 있다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 다수의 센싱 라인(SL)을 센싱하기 위한 센싱회로(410)을 포함할 수 있다.
센싱회로(410)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압과 대응되는 센싱 라인(SL)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압을 디지털 값에 해당하는 센싱값으로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와, 센싱 구동을 위한 스위치 회로(SAM, SPRE)를 포함할 수 있다.
이러한 센싱회로(410)는, 데이터 구동회로(120)의 외부(예: PCB 등)에 존재할 수도 있지만, 데이터 구동회로(120)의 내부에 포함될 수도 있다.
센싱 구동을 위한 스위치 회로(SAM, SPRE)는, 해당 센싱 라인(SL)의 전압 상태를 제어하거나, 해당 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 간의 연결 여부를 제어할 수 있다.
센싱 구동을 위한 스위치 회로(SAM, SPRE)는, 각 센싱 라인(SL)과 기준전압(Vref)이 공급되는 센싱 구동용 기준전압 공급 노드(Npres) 간의 연결을 제어하는 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)와, 각 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 간의 연결을 제어하는 샘플링 스위치(SAM)를 포함할 수 있다.
위에서 언급한 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)는 센싱 구동 시 이용되는 스위치이다. 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)에 의해 센싱 라인(SL)으로 공급되는 기준전압(Vref)은 "센싱 구동용 기준전압(VpreS)"이다.
한편, 도 4를 참조하면, 스위치 회로는, 영상 구동 시 이용되는 영상 구동용 기준 스위치(RPRE)를 포함할 수 있다.
영상 구동용 기준 스위치(RPRE)는, 각 센싱 라인(SL)과 기준전압(Vref)이 공급되는 영상 구동용 기준전압 공급 노드(Nprer) 간의 연결을 제어할 수 있다.
위에서 언급한 영상 구동용 기준 스위치(RPRE)는 영상 구동 시 이용되는 스위치이다. 영상 구동용 기준 스위치(SPRE)에 의해 센싱 라인(SL)에 공급되는 기준전압(Vref)은 "영상 구동용 기준전압(VpreR)"이다.
센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)와 영상 구동용 기준 스위치(RPRE)는 별도로 구비될 수도 있고, 하나로 통합되어 구현될 수도 있다. 센싱 구동용 기준전압(VpreS)과 영상 구동용 기준전압(VpreR)은 동일한 전압 값일 수도 있고, 다른 전압 값일 수도 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 보상회로는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 출력되는 센싱값을 저장하거나 기준 센싱값을 미리 저장하고 있는 메모리(MEM)와, 메모리(MEM)에 저장된 센싱값과 기준 센싱값을 비교하여 특성치 편차를 보상해주는 보상값을 산출하는 보상기(COMP)를 더 포함할 수 있다.
보상기(COMP)에 의해 산출된 보상값은 메모리(MEM)에 저장될 수 있다.
컨트롤러(140)는 보상기(COM)에 의해 산출된 보상값을 이용하여 데이터 구동회로(120)에 공급할 영상데이터(Data)를 변경하고, 변경된 영상데이터(Data_comp)를 데이터 구동회로(120)로 출력할 수 있다.
이에 따라, 데이터 구동회로(120)는, 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 통해 변경된 영상데이터(Data_comp)를 아날로그 신호 형태의 데이터 전압(Vdata_comp)으로 변환하고, 변환된 데이터 전압(Vdata_comp)을 출력버퍼(BUF)를 통해 해당 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. 이에 따라, 해당 서브픽셀(SP)의 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 특성치 편차(문턱전압 편차, 이동도 편차)가 보상될 수 있다.
한편, 도 4를 참조하면, 데이터 구동회로(120)는, 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터(DAC) 및 출력버퍼(BUF) 등을 포함하는 데이터 전압 출력 회로(400)를 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)을 더 포함할 수 있다.
이와 다르게, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)는, 데이터 구동회로(120)의 내부가 아니라, 데이터 구동회로(120)의 외부에 위치할 수도 있다.
도 4를 참조하면, 보상기(COMP)는 컨트롤러(140)의 외부에 존재할 수도 있지만, 컨트롤러(140)의 내부에 포함될 수도 있다. 또한, 메모리(MEM)는 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수도 있고, 컨트롤러(140)의 내부에 레지스터 형태로 구현될 수도 있다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 문턱전압 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램이다.
도 5를 참조하면, 문턱전압 센싱 구동은, 초기화 단계(S510), 트래킹 단계(S520) 및 샘플링 단계(S530)로 진행될 수 있다.
초기화 단계(S510)에서, 턴-온 레벨 전압의 스캔신호(SCAN)에 의해, 제1 트랜지스터(T1)가 턴-온 상태가 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 문턱전압 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)으로 초기화 된다.
초기화 단계(S510)에서, 턴-온 레벨 전압의 센스신호(SENSE)에 의해, 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 상태가 되고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-온 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화 된다.
트래킹 단계(S520)는 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)을 트래킹하는 단계이다. 즉, 트래킹 단계(S520)에서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)을 반영하는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압을 트래킹 한다.
트래킹 단계(S520)에서는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)는 턴-온 상태를 유지하고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-오프 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 플로팅 되고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 센싱 구동용 기준전압(VpreS)에서부터 상승하기 시작한다.
제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 되어 있기 때문에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 상승은 센싱 라인(SL)의 전압 상승으로 이어진다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압은 상승하다가 포화(Saturation)가 된다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 포화된 전압은, 문턱전압 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)에서 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)의 전압 차이(Vdata-Vth)와 대응된다.
따라서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 포화되었을 때, 센싱 라인(SL)의 전압은 문턱전압 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)에서 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압의 전압 차이(Vdata-Vth)와 대응된다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 포화(Saturation)가 되면, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되어, 샘플링 단계(S530)가 진행된다.
샘플링 단계(S530)에서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는, 샘플링 스위치(SAM)에 의해 연결된 센싱 라인(SL)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsen)을 디지털 값에 해당하는 센싱값으로 변환할 수 있다. 여기서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 의해 센싱된 전압(Vsen)은 "Vdata-Vth"에 해당한다.
보상기(COMP)는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 출력된 센싱값을 토대로 해당 서브픽셀(SP)의 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압을 파악할 수 있고, 구동 트랜지스터(DRT)의 파악된 문턱전압을 보상해 수 있다.
보상기(COMP)는, 센싱 구동을 통해 측정된 센싱값(Vdata-Vth와 대응되는 디지털 값)과, 이미 알고 있는 문턱전압 센싱 구동용 데이터(Vdata와 대응되는 디지털 값)으로부터 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth)을 파악할 수 있다.
보상기(COMP)는, 해당 구동 트랜지스터(DRT)에 대하여 파악된 문턱전압(Vth)을 기준 문턱전압 또는 다른 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압과 비교하여, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 문턱전압 편차를 보상해줄 수 있다. 여기서, 문턱전압 편차 보상은 영상데이터 변경 처리(영상데이터에 보상값(오프셋)을 가감하는 처리)를 의미할 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 이동도 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램이다.
도 6을 참조하면, 이동도 센싱 구동은, 초기화 단계(S610), 트래킹 단계(S620) 및 샘플링 단계(S630)로 진행될 수 있다.
초기화 단계(S610)에서, 턴-온 레벨 전압의 스캔신호(SCAN)에 의해, 제1 트랜지스터(T1)가 턴-온 상태가 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 이동도 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)으로 초기화 된다.
초기화 단계(S610)에서, 턴-온 레벨 전압의 센스신호(SENSE)에 의해, 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 상태가 되고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-온 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화 된다.
트래킹 단계(S620)는 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 트래킹하는 단계이다. 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 구동 트랜지스터(DRT)의 전류구동능력을 나타낼 수 있다. 즉, 트래킹 단계(S520)에서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 산출할 수 있는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압을 트래킹 한다.
트래킹 단계(S620)에서는, 턴-오프 레벨 전압의 스캔신호(SCAN)에 의해 제1 트랜지스터(T1)가 턴-오프 되고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-오프 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 모두 플로팅 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)의 전압이 모두 상승하게 된다. 특히, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압은 센싱 구동용 기준전압(VpreS)에서부터 상승하기 시작한다.
제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 되어 있기 때문에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 상승은 센싱 라인(SL)의 전압 상승으로 이어진다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 상승하기 시작한 시점으로부터 미리 정해져 있는 일정 시간(Δt)이 경과되면, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되어, 샘플링 단계(S630)가 진행된다.
샘플링 단계(S630)에서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는, 샘플링 스위치(SAM)에 의해 연결된 센싱 라인(SL)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsen)을 디지털 값에 해당하는 센싱값으로 변환할 수 있다. 여기서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 의해 센싱된 전압(Vsen)은 센싱 구동용 기준전압(VpreS)에서 일정 전압(ΔV)만큼 상승된 전압(VpreS+ΔV)에 해당한다.
보상기(COMP)는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 출력된 센싱값을 토대로 해당 서브픽셀(SP)의 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 파악할 수 있고, 구동 트랜지스터(DRT)의 파악된 이동도를 보상해 수 있다.
보상기(COMP)는, 센싱 구동을 통해 측정된 센싱값(VpreS+ΔV와 대응되는 디지털 값)과, 이미 알고 있는 센싱 구동용 기준전압(VpreS)과 경과시간(Δt)으로부터 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 파악할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 트래킹 단계(S620)에서 센싱 라인(SL)의 단위 시간 당 전압 변동량(ΔV/Δt)과 비례한다. 즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 도 6에서 센싱 라인(SL)의 전압 파형에서 기울기(Slope, SLP)와 비례한다.
보상기(COMP)는, 해당 구동 트랜지스터(DRT)에 대하여 파악된 이동도를 기준 이동도 또는 다른 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도와 비교하여, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 이동도 편차를 보상해줄 수 있다. 여기서, 이동도 편차 보상은 영상데이터 변경 처리(영상데이터에 보상값(게인)을 곱하는 연산처리)를 의미할 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 다양한 타이밍에 진행될 수 있는 센싱 프로세스를 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 유기발광표시장치(100)는, 파워 온 신호가 발생하면, 디스플레이 구동을 시작하기 위한 정해진 온 시퀀스 처리를 수행하고, 온 시퀀스 처리가 완료되면, 정상적인 디스플레이 구동이 시작된다.
유기발광표시장치(100)는, 파워 오프 신호가 발생하면, 진행 중이던 디스플레이 구동을 중지하고 정해진 오프 시퀀스 처리를 수행하고, 오프 시퀀스 처리가 완료되면, 완전한 오프 상태가 된다.
이러한 전원 처리 타이밍과 관련하여 센싱 구동 (문턱전압 센싱 구동, 이동도 센싱 구동)이 진행될 수 있다.
센싱 구동은, 파워 온 신호의 발생 이후 디스플레이 구동이 시작하기 전에 진행될 수 있다. 이러한 센싱 및 센싱 프로세스를 온-센싱(On-Sensing) 및 온-센싱 프로세스(On-Sensing Process)라고 한다.
또한, 센싱 구동은, 파워 오프 신호의 발생 이후 진행될 수 있다. 이러한 센싱 및 센싱 프로세스를 오프-센싱(Off-Sensing) 및 오프-센싱 프로세스(Off-Sensing Process)라고 한다.
또한, 센싱 구동은, 디스플레이 구동 중에서 실시간으로 진행될 수도 있다. 이러한 센싱 프로세서를 실시간(RT: Real-Time, 이하, RT라고 함) 센싱 프로세스라고 한다.
RT 센싱 프로세스의 경우, 디스플레이 구동 중에서 블랭크 시간마다 하나 이상의 서브픽셀 라인(서브픽셀 행)에서 하나 이상의 서브픽셀(SP)에 대하여 센싱 구동이 진행될 수 있다.
블랭크 시간에 센싱 구동 (RT 센싱 구동)이 수행될 때, 센싱 구동이 수행되는 서브픽셀 라인(서브픽셀 행)은 랜덤 하게 선택될 수 있다. 이에 따라, 블랭크 시간에서의 센싱 구동 후 액티브 시간에 센싱 구동이 된 서브픽셀 라인에서의 화상 이상 현상이 완화될 수 있다. 또한, 블랭크 시간에서의 센싱 구동 후 액티브 시간에 센싱 구동이 된 서브픽셀에 센싱 구동 이전의 데이터 전압과 대응되는 회복 데이터 전압을 공급해줄 수 있다. 이에 따라, 블랭크 시간에서의 센싱 구동 후 액티브 시간에 센싱 구동이 된 서브픽셀 라인에서의 화상 이상 현상이 더욱더 완화될 수 있다.
한편, 문턱전압 센싱 구동의 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 포화에 많은 시간이 걸릴 수 있기 때문에, 다소 긴 시간 동안 진행될 수 있는 오프-센싱 프로세스로 진행될 수 있다.
이동도 센싱 구동의 경우, 문턱전압 센싱 구동에 비해 상대적으로 짧은 시간만을 필요로 하기 때문에, 짧은 시간 동안 진행되는 온-센싱 프로세스 및/또는 RT 센싱 프로세스로 진행될 수 있다.
문턱전압 센싱 및/또는 이동도 센싱이 RT 센싱 프로세스가 진행될 수 있지만, 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 이동도 센싱이 RT 센싱 프로세스로 진행되는 것으로 가정한다.
한편, 도 3과 같은 구조를 갖는 하나의 서브픽셀(SP)에는, 1개의 데이터 전압(Vdata), 2가지의 게이트 신호(SCAN, SENSE), 기준전압(Vref), 구동전압(EVDD) 등이 공급되어야 한다. 따라서, 하나의 서브픽셀(SP)은 1개의 데이터 라인(DL), 1개 또는 2개의 게이트 라인(GL), 1개의 기준전압(SL), 1개의 구동전압 라인(DVL)과 전기적으로 연결되어야 한다(도 3 참조).
하나의 서브픽셀 행을 온-오프 시키기 위하여, 1개 또는 2개의 게이트 라인(GL)이 하나의 서브픽셀 행마다 배치되어야 한다. 단, 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 하나의 서브픽셀 행에 2개의 게이트 라인(GL)이 배치된 것으로 가정한다. 이 가정에 따르면, 스캔신호(SCAN)와 센스신호(SENSE)가 2개의 게이트 라인(GL)을 통해 각각 전달될 수 있다.
그리고, 각 서브픽셀(SP)마다 데이터 전압(Vdata)이 공급되어야 하기 때문에, 1개의 데이터 라인(DL)이 하나의 서브픽셀 열마다 배치될 수 있다. 경우에 따라서, 1개의 데이터 라인(DL)이 2개의 서브픽셀 열마다 공통으로 배치될 수도 있다.
구동전압(EVDD)은 공통전압일 수 있기 때문에, 1개의 서브픽셀 열(또는 1개의 서브픽셀 행)마다 1개의 구동전압 라인(DVL)이 배치될 수도 있고, 2개 이상의 서브픽셀 열(또는 2개 이상의 서브픽셀 열)마다 1개의 구동전압 라인(DVL)이 배치될 수 있다.
마찬가지로, 기준전압(Vref)은 공통전압일 수 있기 때문에, 1개의 서브픽셀 열(또는 1개의 서브픽셀 행)마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치될 수도 있고, 2개 이상의 서브픽셀 열(또는 2개 이상의 서브픽셀 열)마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치될 수 있다.
2개 이상의 서브픽셀 열(또는 2개 이상의 서브픽셀 열)마다 1개의 구동전압 라인(DVL) 및/또는 1개의 센싱 라인(SL)이 배치되는 경우, 표시패널(110)의 개구율을 보다 높여줄 수 있다.
예를 들어, 표시패널(100)이 4가지 색상(적색, 녹색, 청색, 흰색)을 발광하는 서브픽셀들로 구성되는 경우, 4개의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 배치될 수 있다. 이 경우, 4개의 서브픽셀 열에 포함된 모든 서브픽셀들은 1개의 센싱 라인(SL)으로부터 기준전압(Vref)을 공급받거나 1개의 센싱 라인(SL)을 통해 센싱 될 수 있다.
아래에서는, 표시패널(110)의 개구율을 높여주기 위하여, 4개 이상의 서브픽셀 열마다 1개의 구동전압 라인(DVL)이 데이터 라인(DL)과 평행하게 배치되고, 4개 이상의 서브픽셀 열마다 1개의 센싱 라인(SL)이 데이터 라인(DL)과 평행하게 배치되는 구조를 도 8을 참조하여 설명한다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 하나의 제1 센싱 라인(SP1)과 연결 가능한 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)과 그 주변 배선들(DL1 ~ DL4, DVL1, DVL2, SL1, GL1, GL2)의 배치도이고, 도 9는 도 8의 배치 구조에 도 3의 서브픽셀 구조와 센싱회로(410)를 적용한 등가회로이다.
1개의 서브픽셀 행은 많은 서브픽셀들을 포함할 수 있으며, 이 중에서 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)은 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결이 가능하다.
4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 각각은 4개의 서브픽셀 열을 대표하는 서브픽셀을 의미할 수 있다. 즉, 제1 서브픽셀(SP1)은 제1 서브픽셀 열을 대표하고, 제2 서브픽셀(SP2)은 제2 서브픽셀 열을 대표하며, 제3 서브픽셀(SP3)는 제3 서브픽셀 열을 대표하고, 제4 서브픽셀(SP4)은 제4 서브픽셀 열을 대표할 수 있다. 따라서, 도 8 및 도 9의 배치 구조가 표시패널(110)에 확대 적용될 수 있다.
도 8의 예시에 따르면, 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드에 인가되는 스캔신호(SCAN)와 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드에 인가되는 센스신호(SENSE)는 서로 별개의 게이트 신호인 것으로 가정한다.
따라서, 하나의 서브픽셀 행에 포함된 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 각각으로 스캔신호(SCAN)를 전달하기 위한 게이트 라인(GL1)과, 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 각각으로 센스신호(SENSE)를 전달하기 위한 게이트 라인(GL2)이 배치될 수 있다.
표시패널(110)에는, 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 각각으로 데이터 전압(Vdata)을 공급하기 위한 4개의 데이터 라인(DL1 ~ DL4)이 배치될 수 있다.
제1 데이터 라인(DL1)과 제2 데이터 라인(DL2)는, 제1 서브픽셀(SP1)과 제2 서브픽셀(SP2) 사이에 위치할 수 있다. 제3 데이터 라인(DL3)과 제4 데이터 라인(DL4)는 제3 서브픽셀(SP3)과 제4 서브픽셀(SP4) 사이에 위치할 수 있다.
표시패널(110)의 개구율을 높여주기 위하여, 공통전압일 수 있는 구동전압(EVDD)을 전달하는 구동전압 라인(DVL1, DVL2)과, 공통전압일 수 있는 기준전압(Vref)을 전달하는 제1 센싱 라인(SL1)은, 공유 구조로 배치될 수 있다.
즉, 구동전압 라인(DVL1, DVL2)은 1개의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치되지 않고, 복수 개의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수 있다. 제1 센싱 라인(SL1)은 1개의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치되지 않고, 복수 개의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수 있다.
보다 구체적으로, 제1 서브픽셀(SP1) 및 제2 서브픽셀(SP2)은 제1 구동전압 라인(DVL1)을 통해 구동전압(EVDD)을 공통으로 공급받을 수 있다. 제3 서브픽셀(SP3) 및 제4 서브픽셀(SP4)은 제2 구동전압 라인(DVL2)을 통해 구동전압(EVDD)을 공통으로 공급받을 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1), 제2 서브픽셀(SP2), 제3 서브픽셀(SP3) 및 제4 서브픽셀(SP4) 각각에 포함된 제2 트랜지스터(T1)의 소스 노드 또는 드레인 노드는 제1 센싱 라인(SL1)에 공통으로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 내지 제4 서브픽셀(SP1 ~ SP4)은 1개의 제1 센싱 라인(SL1)을 통해 기준전압(Vref)을 공통으로 공급받을 수 있다.
한편, 도 8 및 도 9를 참조하면, 일 예로, 1개의 제1 센싱 라인(SL1)은, 제2 서브픽셀(SP2) 및 제3 서브픽셀(SP3) 사이에 배치될 수 있다. 이 경우, 제1 서브픽셀(SP1) 및 제4 서브픽셀(SP4)은 연결 라인(CL)을 통해 1개의 제1 센싱 라인(SL1)과 연결될 수 있다. 연결 라인(CL)은 제1 센싱 라인(SL1)과 일체일 수 있고, 제1 센싱 라인(SL1)과 다른 층에 위치하여 컨택될 수도 있다.
한편, 데이터 라인들(DL1~DL4)은 1개의 제1 센싱 라인(SL1)을 기준으로 대칭적으로 배치될 수 있다. 구동전압 라인들(DVL1, DVL2)은 1개의 제1 센싱 라인(SL1)을 기준으로 대칭적으로 배치될 수 있다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 센싱회로(410)는 1개의 제1 센싱라인(SL1)과 연결될 수 있다. 이에 따라, 한 시점에, 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 하나의 서브픽셀만이 센싱될 수 있다.
아래에서는, 도 8 및 도 9와 같이, 하나의 제1 센싱 라인(SL1)이 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)에 의해 공유되는 경우, 센싱 및 보상에 대하여 설명한다. 단, 아래에서는 도 6과 같은 타이밍도로 진행되는 이동도 센싱을 예로 들어 설명한다.
도 10 내지 도 12는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제1 센싱 구동 방식에 따라 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결 가능한 제1 내지 제4 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하는 경우, 3가지 센싱 단계(S610, S620, S630)에 대응되는 회로 상태도이다. 도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 변화를 나타낸 도면이다. 아래 설명에서, 도 6을 함께 참조한다.
도 10을 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 중 초기화 단계(S610)에서, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)는 턴-온 되고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)는 턴-온 될 수 있다. 그리고, 데이터 구동회로(120)는 제1 데이터 라인(DL1)으로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)을 출력한다.
이에 따라, 제1 데이터 라인(DL1)에 출력된 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)은 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 인가될 수 있다. 그리고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-온 됨에 따라, 제1 센싱 라인(SL1)에 공급된 센싱 구동용 기준전압(VpreS)은 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 인가될 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 중 초기화 단계(S610)에서, 센싱 대상이 되는 제1 서브픽셀(SP1) 이외의 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2, SP3, SP4)은 센싱 구동이 되면 안 되기 때문에, 센싱 구동용 데이터 전압(Vdagta_sen)이 공급되지 않는다. 즉, 비 센싱 대상인 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2, SP3, SP4)은 어떠한 데이터 전압도 공급되지 않거나, 0[V] 또는 그 유사 전압에 해당하는 블랙 데이터 전압이 공급될 수 있다.
도 11을 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 중 트래킹 단계(S620)에서, 제1 트랜지스터(T1)는 턴-오프 되고, 제2 트랜지스터(T2)는 턴-온 상태를 유지하고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)는 턴-오프 될 수 있다.
이에 따라, 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)이 인가되어 있던 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 전기적으로 플로팅 될 수 있다. 또한, 센싱 구동용 기준전압(VpreS)이 인가되어 있던 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)도 전기적으로 플로팅 될 수 있다.
따라서, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 서브픽셀(SP1) 내 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 상태이므로, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 전류(Isen)가 흐르게 되고, 제1 센싱 라인(SL1)에 형성된 라인 캐패시터(Cline)가 충전될 수 있다.
따라서, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 상승하게 된다. 이때, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)의 전압도 함께 상승할 수 있다.
도 13을 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1) 내 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온 상태이므로, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 상승은 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승으로 이어진다.
트래킹 단계(S620)가 일정 시간(Δt)이 진행되면, 샘플링 단계(S630)가 진행된다. 즉, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 센싱 구동용 기준전압(VpreS)에서 상승하기 시작한 시점에서 일정 시간(Δt)이 경과하면, 샘플링 단계(S630)가 진행된다.
도 12를 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 중 샘플링 단계(S630)에서, 제1 트랜지스터(T1)는 턴-오프 되고, 제2 트랜지스터(T2)는 턴-온 상태를 유지하고, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)는 턴-오프 상태이다. 샘플링 스위치(SAM)는 초기화 단계(S610) 및 트래킹 단계(S620)에서는 턴-오프 상태이다가 샘플링 단계(S630)가 진행되면 턴-온 된다.
이에 따라, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 제1 센싱 라인(SL1)과 연결되어, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱하여 센싱된 전압(Vsen1)을 디지털 값을 변환하고, 디지털 값에 해당하는 센싱값(SEN)을 출력할 수 있다.
한편, 트래킹 단계(S620)가 시작되어 제1 센싱 라인(SL1)이 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 의해 센싱되기 전까지, 제1 센싱 라인(SL1)은 일정 시간(Δt) 동안 전압이 상승한다.
샘플링 단계(S630)에서, 제1 센싱 라인(SL1)의 상승된 전압(VpreS+ΔV)이 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 의해 센싱된다.
여기서, 도 13에서 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 변화 그래프에서 기울기(SLP1)는, 일정 시간(Δt) 동안 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 변동량(ΔV)을 의미한다. 이는, 제1 서브픽셀(SP1)의 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도와 비례할 수 있다.
그리고, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 정확하게 센싱하기 위해서는, 제1 센싱 라인(SL1)은 일정 수준 이상의 전압 변동(ΔV)이 발생해야만 한다. 따라서, 정확한 이동도 센싱을 위해서는, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 상승시키는 시간이 일정 시간(Δt) 이상이 필요하다.
한편, 전술한 이동도 센싱은, 영상 구동 중 블랭크 시간에 진행될 수 있다. 즉, 이동도 센싱은 실시간(RT) 센싱 프로세스로 진행될 수 있다.
정확한 이동도 센싱을 위해 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 상승시키기 위한 일정 시간(Δt) 이상이 필요하기 때문에, 이동도 센싱을 블랭크 기간 내에 진행하지 못할 수도 있다. 예를 들어, 디스플레이 성능이나 디스플레이 구동 조건의 변경으로 인해 블랭크 시간이 짧아지거나, 블랭크 시간 동안 이동도 센싱 이외에 다른 기능이 더 수행되는 경우, 블랭크 시간내에 이동도 센싱을 할 수 없는 상황이 발생할 수 있다.
아래에서는, 이동도 센싱을 위해 필요한 센싱 시간을 단축시킬 수 있는 제2 센싱 구동 방식에 대하여 설명한다. 제2 센싱 구동 방식을 어시스트 구동 방식이라고도 한다.
하나의 서브픽셀 행에서 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)이 제1 센싱 라인(SL1)에 공통으로 연결될 수도 있다. 이뿐만 아니라, 하나의 서브픽셀 행에서 3개의 서브픽셀(SP1, SP2, SP3)이 제1 센싱 라인(SL1)에 공통으로 연결될 수도 있고, 하나의 서브픽셀 행에서 2개의 서브픽셀(SP1, SP2)이 제1 센싱 라인(SL1)에 공통으로 연결될 수도 있다. 아래에서는, 하나의 서브픽셀 행에서 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)이 제1 센싱 라인(SL1)에 공통으로 연결되는 경우를 가정한다.
도 14 내지 도 16은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제2 센싱 구동 방식에 따라 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결 가능한 제1 내지 제4 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하는 경우, 3가지 센싱 단계(S610, S620, S630)에 대응되는 회로 상태도이고, 도 17은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 변화를 나타낸 도면이다.
도 14를 참조하면, 동일한 서브픽셀 행에 배열된 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)은 다수의 센싱 라인(SL) 중 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결 가능할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 동일한 서브픽셀 행에 배열된 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 동안, 제2 센싱 구동 방식에 따라 센싱 구동을 수행함에 따라, 도 15 및 도 16에 도시된 바와 같이, 센싱 대상인 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 메인 전류(Isen)가 흐를 뿐만 아니라, 비 센싱 대상인 제2 서브픽셀(SP2) 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)가 흐를 수 있다.
따라서, 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)에서 공급되는 메인 전류(Isen)와 제2 서브픽셀(SP2) 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에서 공급된 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)가 모두 합쳐진 전류(Isen_sum)가 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4)이 공통으로 연결된 제1 센싱 라인(SL1)에서 흐를 수 있다.
도 16을 참조하면, 센싱회로(410)는 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsen)을 디지털 값에 해당하는 센싱값(SEN)으로 변환하며, 변환된 센싱값(SEN)을 출력할 수 있다.
센싱회로(410)에 의해 센싱된 전압(Vsen)은, 제1 센싱 라인(SL1)에 흐르는 전류(Isen_sum)에 의해 충전된 라인 캐패시터(Cline)에 의한 제1 센싱 라인(SL1)의 전압일 수 있다.
센싱 대상인 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)에 공급된 메인 전류(Isen)는 비 센싱 대상인 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2 ~ SP4)에서 제1 센싱 라인(SL1)에 공급된 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)의 합과 대응될 수 있다.
메인 전류(Isen)는 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)의 합과 다를 수도 있다. 예를 들어, 메인 전류(Isen)는 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)의 합보다 클 수 있다.
다시 말해, 제2 센싱 구동 방식(어시스트 구동 방식)에 따르면, 센싱 대상인 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하는 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 전류가 발생할 때, 제1 서브픽셀(SP1)과 함께 제1 센싱 라인(SL1)을 공유하는 서브픽셀들(SP2 ~ SP4)에서도 제1 센싱 라인(SL1)으로 전류(Iassis2 ~ Iassist4)가 발생할 수 있다.
전술한 제2 센싱 구동 방식(어시스트 구동 방식)을 도 14 내지 도 16을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 중 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간은, 초기화 단계(S610), 트래킹 단계(S620) 및 샘플링 단계(S630)를 포함할 수 있다.
여기서, 제1 서브픽셀(SP1)을 센싱하기 위한 센싱 기간 내 초기화 단계(S610), 트래킹 단계(S620) 및 샘플링 단계(S630) 각각에서, 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE) 각각의 전압 레벨과, 2가지 스위치(SPRE, SAM)의 온-오프 상태는 도 6과 동일하다.
도 14를 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 초기화 단계(S610) 동안, 게이트 구동회로(130)는 턴-온 레벨 전압의 스캔신호(SCAN)를 제1 게이트 라인(GL1)에 공급하고, 턴-온 레벨 전압의 센스신호(SENSE)를 제2 게이트 라인(GL2)을 공급할 수 있다. 센싱회로(410) 내 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)는 턴-온 상태이다.
도 14를 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 초기화 단계(S610) 동안, 데이터 구동회로(120)는 제1 데이터 라인(DL1)을 통해 제1 서브픽셀(SP1)로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)을 공급할 뿐만 아니라, 제1 데이터 라인(DL1)과 다른 제2 내지 제4 데이터 라인(DL2, DL3, DL4)을 통해 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2, SP3, SP4)로 제2 내지 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2, Vdata_assist3, Vdata_assist4)을 더 공급할 수 있다.
따라서, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen) 및 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화될 수 있다.
제2 서브픽셀(SP2) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 제2 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2) 및 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화될 수 있다. 제3 서브픽셀(SP3) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 제3 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist3) 및 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화될 수 있다. 제4 서브픽셀(SP4) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen) 및 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist4)으로 초기화될 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 초기화 단계(S610) 동안, 초기화에 이용된 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)은 제2 내지 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2, Vdata_assist3, Vdata_assist4)보다 높을 수 있다.
예를 들어, 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)은 A[V] 이상일 수 있다. 제2 내지 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2, Vdata_assist3, Vdata_assist4)은 B[V] 이상 ~ C[V] 미만일 수 있으며, 블랙 데이터 전압보다 높은 전압일 수 있다. 여기서, B[V]는 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)가 발생되도록 하는 전압 값일 수 있으며, 일 예로, 1[V] 이상일 수 있다. C[V]는 A[V]와 동일하거나 A[V] 보다 작은 전압 값일 수 있으며, 일 예로, A[V]는 8[V]이고, C[V]는 8[V] 또는 4[V] 등일 수 있다.
도 15를 참조하면, 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 트래킹 단계(S620) 동안, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)가 턴-오프 되고, 제1 게이트 라인(GL1)에 공급되는 스캔신호(SCAN)는 턴-오프 레벨 전압이고, 제2 게이트 라인(GL2)에 공급되는 센스신호(SENSE)는 턴-온 레벨 전압이 유지된다.
제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 트래킹 단계(S620) 동안, 제1 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 플로팅 상태이다. 그리고, 센싱 대상인 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 메인 전류(Isen)가 흐르고, 비 센싱 대상인 제2 서브픽셀(SP2) 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 어시스트 전류(Iassist2, Iassist3, Iassist4)가 흐를 수 있다.
이에 따라, 제1 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압이 상승하고, 도 17에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제4 서브픽셀(SP4) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 전기적으로 연결된 제1 센싱 라인(SL1)의 전압도 상승한다.
제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 내 트래킹 단계(S620)이 일정 시간(Δt2) 동안 진행된 이후, 샘플링 단계(S630)가 진행될 수 있다.
센싱회로(410)는, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간(Δt2)이 경과한 이후, 제1 센싱 라인(SL1)의 상승된 전압을 센싱하여 센싱값(SEN)을 출력할 수 있다.
보다 구체적으로, 샘플링 단계(S630)에서, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되어, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결되고, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압(Vsen2)을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsen2)을 디지털 값에 해당하는 센싱값(SEN)으로 변환하여 출력할 수 있다.
도 17을 참조하면, 정확한 이동도 센싱을 위해 필요한 제1 센싱 라인(SL1)의 최소 전압 변동량이 ΔV이라고 가정할 때, 제1 센싱 구동 방식을 이용하면 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 ΔV만큼 변화되는데 걸리는 시간은 Δt1일 수 있다.
하지만, 제2 센싱 구동 방식에 따라 어시스트 구동을 함께 수행하게 되면, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 ΔV만큼 변화되는데 걸리는 시간은 Δt1보다 훨씬 짧은 Δt2일 수 있다(Δt2 < Δt1).
따라서, 제2 센싱 구동 방식에 따라 어시스트 구동을 함께 수행하게 되면, 짧은 시간에 정확한 이동도 센싱을 가능하게 할 수 있다. 즉, 센싱 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간은 블랭크 기간에 포함될 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1)에 공급될 영상 데이터 전압은 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승 속도에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승 속도가 빠를수록, 이동도가 큰 경우이므로, 상대적으로, 영상 데이터 전압에 곱해지는 게인 값(보상값)이 작아질 수 있다.
여기서, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승 속도는 단위 시간 당 전압 변동량(ΔV/Δt2)에 해당하며, 도 17에서 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 변화 그래프 상의 기울기(SLP2)와 비례할 수 있다.
전술한 제2 센싱 구동 방식을 위해서는, 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 구동회로(120)는 데이터 전압 출력 회로(400) 및 센싱회로(410) 등을 포함할 수 있다.
이상의 설명과 다르게, 하나의 서브픽셀 행에서 2개의 서브픽셀(SP1, SP2)이 제1 센싱라인(SL1)을 공유한다고 가정할 때, 데이터 전압 출력 회로(400)는, 표시패널(110)에 매트릭스 타입으로 배열된 다수의 서브픽셀(SP) 중 동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀(SP1) 및 제2 서브픽셀(SP2) 중에서 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)에 대응되는 제1 데이터 라인(DL1)으로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)을 출력하고, 제2 서브픽셀(SP2)에 대응되는 제2 데이터 라인(DL2)으로 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2)을 출력할 수 있다.
그리고, 센싱회로(410)는, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 메인 전류(Isen)가 흐르고, 제2 서브픽셀(SP2)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 어시스트 전류(Iassist)가 흐르기 시작하여 일정 시간이 경과되면, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱할 수 있다.
센싱회로(410)는, 제1 센싱 라인(SL1)과 기준전압 공급 노드(Npres) 간의 연결 여부를 제어하는 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)와, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱하여 디지털 값에 해당하는 센싱값(SEN)으로 변환하여 출력하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와, 제1 센싱 라인(SL1)과 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 간의 연결 여부를 제어하는 샘플링 스위치(SAM) 등을 포함할 수 있다.
도 18은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제2 센싱 구동 방식을 나타낸 다이어그램이다.
도 18을 참조하면, 제2 센싱 구동 방식에 따라, S610 단계 내지 S630 단계 동안, 센싱 대상인 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 구동과 함께, 비 센싱 대상인 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2 ~ SP4)에 대한 구동(어시스트 구동)도 수행된다.
제2 센싱 구동 방식에 따른 센싱 구동 결과에 따라 얻어진 센싱값(SEN)을 이용하여 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 보상 프로세스가 진행될 수 있다.
보상 프로세스는, 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 또는 그 변화를 파악하는 제1처리와, 파악된 결과를 토대로 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 변화를 보상해주기 위한 보상값을 산출하는 제2 처리와, 보상값을 토대로 영상 데이터를 변경하는 제3 처리 등을 포함할 수 있다.
보상 프로세스의 예시로서, 보상기(COMP)는, 메모리(MEM)에 미리 저장된 기준 센싱값(REF_SEN)과 센싱회로(410)에서 출력된 센싱값(SEN)을 비교하고 (제1 처리), 비교 결과에 근거하여, 제1 서브픽셀(SP1)로 공급될 영상 데이터를 변경하기 위한 보상값을 산출할 수 있다(제2 처리).
보상기(COMP)는, 기준 센싱값(REF_SEN)과 센싱값(SEN)의 비교 결과로부터 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 변화를 파악할 수 있다.
보상기(COMP) 또는 컨트롤러(140)는 산출된 보상값을 이용하여 영상 데이터를 변경할 수 있다 (제3 처리). 예를 들어, 산출된 보상값은 원래의 영상 데이터에 곱해지는 게인값일 수 있다.
산출된 보상값은 제1 서브픽셀(SP1)에 포함된 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 변화(이동도 변화)를 보상해주기 위한 값일 수 있다.
센싱값(SEN)이 기준 센싱값(REF_SEN)보다 작으면, 이동도가 기준 이동도(REF_SEN과 대응)보다 작아진 것을 의미하므로, 보상값이 큰 값으로 산출될 수 있다. 센싱값(SEN)이 기준 센싱값(REF_SEN)보다 크면, 이동도가 기준 이동도(REF_SEN과 대응)보다 큰 것을 의미하므로, 보상값이 작은 값으로 산출될 수 있다.
전술한 바와 같이, 센싱 대상이 되는 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 변화를 정확하게 파악하기 위하여, 센싱값(SEN)과 비교되는 기준 센싱값(REF_SEN)이 정확해야 한다.
또한, 기준 센싱값(REF_SEN)은 제2 센싱 구동 방식에서의 어시스트 구동을 고려하여 설정되어야만 한다. 그렇지 않으면, 정확한 보상값 산출(보상 처리)이 되지 못하여, 화상 품질이 저하될 수 있다.
제2 센싱 구동 방식에 따르면, 센싱 대상이 되는 제1 서브픽셀(SP1)이 구동(센싱 구동)될 때, 센싱 시간 단축을 위하여, 비 센싱 대상이 되는 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2 ~ SP4)도 구동(어시스트 구동)이 된다. 따라서, 어시스트 구동이 없는 제1 센싱 구동 방식에 비해 센싱값(SEN)이 변할 수 있다.
따라서, 도 18에 도시된 바와 같이, 기준 센싱값(REF_SEN)은, 어시스트 구동이 없는 제1 센싱 구동 방식에 따른 센싱값(SEN)과 비교되는 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)에서 오프셋 되어야만, 정확한 보상값 산출이 가능해질 수 있다.
기준 센싱값(REF_SEN)은, 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)과 오프셋 값(Offset value)을 더한 값일 수 있다 (REF_SEN = REF_SEN_INIT + Offset value).
기준 센싱값(REF_SEN)을 생성하는데 필요한 오프셋 값(Offset value)은, 어시스트 구동에 따른 센싱값(SEN)의 변화량에 대응되는 값일 수 있다. 이에 따라, 보상값 산출 시, 어시스트 구동에 따른 센싱값(SEN)의 변화 부분이 상쇄될 수 있으며, 정확한 보상값을 산출할 수 있다.
따라서, 오프셋 값(Offset value)은 정확하게 얻어질 필요가 있다.
예를 들어, 도 18을 참조하면, 오프셋 값(Offset value)은 S1810 단계 내지 S1830 단계로 진행되는 그룹 센싱 구동에 따라 얻어지는 그룹 센싱값(GROUP_SEN)일 수 있다. 아래에서, S1810 단계 내지 S1830 단계로 진행되는 그룹 센싱 구동과 그 결과 얻어지는 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 설명한다.
도 19 내지 도 21은 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 보상을 위해 필요한 기준 센싱값(REF_SEN)을 획득하기 위한 그룹 센싱 구동 방식과 이를 위한 3가지 그룹 센싱 단계에 대응되는 회로 상태도이다.
보상값 산출 시 필요한 기준 센싱값(REF_SEN)을 설정(산출)하기 위하여, 오프셋에 해당하는 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 얻어야 한다. 이를 위해, 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 실제의 센싱 기간보다 앞서서, 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 얻기 위한 그룹 센싱 기간이 진행될 수 있다.
도 19를 참조하면, 그룹 센싱 기간 내 그룹 초기화 단계(S1810) 동안, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)의 턴-온에 따라 제1 센싱 라인(SL1)에 센싱 구동용 기준전압(VpreS)이 인가될 수 있다. 그리고, 제1 게이트 라인(GL1) 및 제2 게이트 라인(GL2)으로 턴-온 레벨 전압의 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)가 공급된다. 그리고, 제1 센싱 라인(SL1)을 공유하는 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 모두로 동일한 기본 데이터 전압(Vdata_group)이 공급될 수 있다.
이에 따라, 제1 센싱 라인(SL1)을 공유하는 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 모두의 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 기본 데이터 전압(Vdata_group) 및 센싱 구동용 기준전압(VpreS)으로 초기화된다.
도 20을 참조하면, 그룹 센싱 기간 내 그룹 트래킹 단계(S1820) 동안, 센싱 구동용 기준 스위치(SPRE)의 턴-오프 되어, 제1 센싱 라인(SL1)에 센싱 구동용 기준전압(VpreS)이 인가되지 않는다. 그리고, 제1 게이트 라인(GL1)에는 턴-오프 레벨 전압의 스캔신호(SCAN)가 공급되고, 제2 게이트 라인(GL2)으로 턴-온 레벨 전압의 센스신호(SENSE)가 유지된다. 이에 따라, 제1 센싱 라인(SL1)을 공유하는 4개의 서브픽셀(SP1 ~ SP4) 모두의 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2)는 플로팅 된다.
도 20을 참조하면, 그룹 센싱 기간 내 그룹 트래킹 단계(S1820) 동안, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 제1 전류(Isp1)가 흐르고, 제2 서브픽셀(SP2)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 제2 전류(Isp2)가 흐르고, 제3 서브픽셀(SP3)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 제3 전류(Isp3)가 흐르고, 제4 서브픽셀(SP4)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 제4 전류(Isp4)가 흐를 수 있다.
이에 따라, 제1 센싱 라인(SL1)에는 제1 전류(Isp1), 제2 전류(Isp2), 제3 전류(Isp3) 및 제4 전류(Isp4)가 합쳐진 그룹 전류(Igroup)이 흐를 수 있다.
여기서, 제1 전류(Isp1), 제2 전류(Isp2), 제3 전류(Isp3) 및 제4 전류(Isp4)는 실제 센싱 시 비 센싱 대상인 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2 ~SP4)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 공급되는 제2 내지 제4 어시스트 전류(Iassist2 ~ Iassist4)와 전류 량이 대응될 수 있다.
그룹 트래킹 단계(S1820) 동안, 제1 전류(Isp1), 제2 전류(Isp2), 제3 전류(Isp3) 및 제4 전류(Isp4)에 따라, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승할 수 있다.
제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승이 일정 시간(△t2) 진행된 이후, 그룹 샘플링 단계(S1830)가 진행될 수 있다.
도 21을 참조하면, 그룹 샘플링 단계(S1830) 동안, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되어, 센싱회로(410) 내 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
이에 따라, 센싱회로(410) 내 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간(△t2)이 경과된 이후의 제1 센싱 라인(SL1)의 상승된 전압(Vsen2)을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsen2)을 디지털 값에 해당하는 그룹 센싱값(GROUP_SEN)으로 변환하여 출력할 수 있다.
그룹 센싱값(GROUP_SEN)은 메모리(MEM)에 저장될 수 있다.
보상기(COMP)는, 메모리(MEM)에 저장된 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)와 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 이용하여 새로운 기준 센싱값(REF_SEN)을 생성할 수 있다.
보상기(COMP)는, 새롭게 센싱된 기준 센싱값(REF_SEN)과, 도 14 내지 도 16에서의 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 결과 얻어진 센싱값(SEN)을 이용하여 보상값을 산출하게 된다.
기준 센싱값(REF_SEN)은, 메모리(MEM)에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)이 변경되어 저장된 값으로서, 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)에서 그룹 센싱값(GROUP_SEN) 만큼 오프셋 된 값에 해당할 수 있다 (즉, REF_SEN = REF_SEN_INIT + GROUP_SEN).
초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)는 도 19 내지 도 21의 3가지 단계(S1810, S1820, S1830)로 진행되는 그룹 센싱 기간 이전에, 제1 센싱 구동 방식에 따라 생성된 센싱값일 수 있다. 이는, 제품 출하 전에 생성되어 메모리(MEM)에 저장된 것일 수도 있고, 제품 출하 이후에 생성되어 메모리(MEM)에 저장된 것일 수도 있다.
즉, 도 19 내지 도 21의 3가지 단계(S1810, S1820, S1830)로 진행되는 그룹 센싱 기간 이전에, 제1 센싱 구동 방식에 따라 진행되었던 초기 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)으로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)이 공급된 이후, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승하고, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 센싱회로(410)는 제1 센싱 라인(SL1)의 상승된 전압을 센싱하여 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)을 출력할 수 있다. 이에 따라, 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)은 메모리(MEM)에 저장된 유기발광표시장치(100).
한편, 전술한 바와 같이, 제2 센싱 구동 방식에 따라 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)이 공급될 때, 어시스트 구동에 의해 비 센싱 대상인 제2 내지 제4 서브픽셀(SP2 ~ SP4)로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)보다 낮은 제2 내지 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2, Vdata_assist3, Vdata_assist4)이 공급될 수 있다.
어시스트 구동에 이용된 제2 내지 제4 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2, Vdata_assist3, Vdata_assist4)은 기본 데이터 전압(Vdata_group)과 대응될 수 있다.
이상에서 전술한 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 3가지 센싱 구동방식 (제1 센싱 구동 방식, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식, 그룹 센싱 구동 방식)을 서로 다른 타이밍에 수행할 수 있다. 아래에서는, 도 22를 참조하여, 3가지 센싱 구동 방식을 종합적으로 다시 간략하게 설명한다.
도 22는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen1)과, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen2)과, 그룹 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen3)을 나타낸 도면이다.
예를 들어, 유기발광표시장치(100)는, 제1 센싱 구동 방식을 통해, 센싱 대상이 되는 각 서브픽셀(예: SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 변화가 반영된 해당 센싱 라인(예: SL1)의 센싱된 전압(Vsen1)에 대한 디지털 값인 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)을 생성 및 저장할 수 있다.
다음으로, 유기발광표시장치(100)는, 그룹 센싱 구동 방식을 통해, 각 서브픽셀 행에 대하여 각 센싱 라인(예: SL1)을 공유하는 둘 이상의 서브픽셀(예: SP1 ~ SP4)을 동시에 센싱 구동하여, 해당 센싱 라인(예: SL1)의 센싱된 전압(Vsen3)의 디지털 값에 해당하는 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 생성 및 저장할 수 있다.
이에 따라, 유기발광표시장치(100)는, 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)과 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 이용하여 기준 센싱값(REF_SEN)을 생성 및 저장한다.
또 다음으로, 유기발광표시장치(100)는, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식을 통해, 센싱 대상이 되는 서브픽셀(예: SP1)에 대해서는 센싱 구동을 수행하고, 센싱 대상이 되는 서브픽셀(예: SP1)과 동일한 센싱 라인(예: SL1)을 공유하는 비 센싱 대상이 되는 서브픽셀(예: SP2 ~ SP4)에 대해서는 어시스트 구동을 수행하여, 해당 센싱 라인(예: SL1)의 센싱된 전압(Vsen2)의 디지털 값에 해당하는 센싱값(SEN)을 생성 및 저장할 수 있다.
이후, 유기발광표시장치(100)는, 센싱값(SEN)과 기준 센싱값(REF_SEN)을 이용하여 보상값을 산출하고, 산출된 보상값을 토대로 영상 데이터를 변경하여, 이를 통해 디스플레이 구동을 수행함으로써, 이동도 보상 처리를 실행할 수 있다.
도 22를 참조하면, 동일한 시간이 경과한 시점에서 3가지 센싱 전압(Vsen1, Vsen2, Vsen3)을 비교해보면, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen2)은, 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen1)과, 그룹 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen3)보다 더 높다.
즉, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식에 따르면, 제1 센싱 라인(SL1)은 동일한 시간 동안 가장 가파르게 전압 상승이 될 수 있다.
다시 말해, 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식을 이용하게 되면, 가장 짧은 시간 내에 정확한 이동도 센싱에 필요한 전압 변동량(△V)을 발생시킬 수 있으며, 결국, 센싱 시간을 상당히 단축시킬 수 있다.
그룹 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen3)은 제1 센싱 구동 방식에 따른 제1 센싱 라인(SL1)의 센싱 전압(Vsen1)보다 더 높을 수도 있고, 낮을 수도 있으며, 동일한 수준일 수도 있다.
이상에서는, 동일한 서브픽셀 행에서, 4개의 서브픽셀(SP1, SP2, SP3, SP4)이 제1 센싱 라인(SL1)을 공유하는 구조를 예로 들었지만, 2개의 서브픽셀(SP1, SP2)이 제1 센싱 라인(SL1)을 공유할 수도 있다. 이 경우, 어시스트 구동 및 그룹 센싱 구동 시, 제3 서브픽셀(SP3) 및 제4 서브픽셀(SP4)과 관련된 내용은 무시하면 된다. 3개의 서브픽셀(SP1, SP2, SP3)이 제1 센싱 라인(SL1)을 공유할 수도 있다. 이 경우, 어시스트 구동 및 그룹 센싱 구동 시, 제4 서브픽셀(SP4)과 관련된 내용은 무시하면 된다.
아래에서는, 동일한 서브픽셀 행에서 2개의 서브픽셀(SP1, SP2)이 하나의 제1 센싱 라인(SL1)을 공유한다고 가정할 때, 전술한 구동방법을 간략하게 다시 설명한다.
도 23 및 도 24는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100) 구동방법에 대한 흐름도이다.
도 23을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, 표시패널(110)에서 동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인(SL1)과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀(SP1) 및 제2 서브픽셀(SP2) 중에서 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 실제의 센싱 기간 동안, 제1 서브픽셀(SP1)로 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)을 공급하고, 제2 서브픽셀(SP2)로 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2)을 공급하는 단계(S2330)와, 일정 시간(Δt2) 동안, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 메인 전류(Isen)가 흐르고, 제2 서브픽셀(SP2)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 어시스트 전류(Iassist)가 흐르게 하여, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 상승시키는 트래킹 단계(S2340)와, 제1 서브픽셀(SP1)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 메인 전류(Isen)가 흐르고, 제2 서브픽셀(SP2)에서 제1 센싱 라인(SL1)으로 어시스트 전류(Iassist)가 흐르기 시작하여 일정 시간(Δt2)이 경과되면, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱하는 샘플링 단계(S2350) 등을 포함할 수 있다.
센싱 구동용 데이터 전압(Vdata_sen)은 어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2)보다 높을 수 있다.
일정 시간(Δt2) 동안, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승할 수 있다.
제1 서브픽셀(SP1)에 공급될 영상 데이터 전압은 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승 속도에 따라 달라질 수 있다. 여기서, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압 상승 속도는 제1 서브픽셀(SP1) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도에 비례할 수 있다.
도 23을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, S2350 단계 이후, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 센싱하여 얻어진 센싱값(SEN)과 메모리(MEM)에 저장된 기준 센싱값(REF_SEN)을 비교하여, 비교 결과에 근거하여 보상값을 산출하는 보상값 산출 단계(S2360)와, 보상값에 기초하여 제1 서브픽셀(SP1)로 공급될 영상 데이터를 변경하는 단계(S2370)를 더 포함할 수 있다.
도 23을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, 제1 서브픽셀(SP1)에 대한 센싱보다 앞서서 그룹 센싱을 진행하는 그룹 센싱 단계(S2310)를 더 포함할 수 있다.
도 24를 참조하면, 그룹 센싱 단계(S2310)는, 제1 서브픽셀(SP1) 및 제2 서브픽셀(SP2) 모두로 동일한 기본 데이터 전압(Vdata_group)을 공급하는 그룹 초기화 단계(S2410)와, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승하기 시작하면, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간(Δt2) 동안 제1 센싱 라인(SL1)의 전압을 상승시키는 그룹 트래킹 단계(S2420)와, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승하기 시작하여 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간(Δt2)이 경과한 이후, 제1 센싱 라인(SL1)의 상승된 전압을 센싱하여 그룹 센싱값(GROUP_SEN)을 생성하는 그룹 샘플링 단계(S2430)를 포함할 수 있다.
도 23을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, 그룹 센싱 단계(S2310) 이후, 메모리(MEM)에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)에서 그룹 센싱값(GROUP_SEN) 만큼 오프셋 처리하여 기준 센싱값(REF_SEN)을 생성하고, 초기 기준 센싱값(REF_SEN_INIT)을 기준 센싱값(REF_SEN)으로 변경 저장하는 단계(S2320)를 더 포함할 수 있다.
어시스트 데이터 전압(Vdata_assist2)은 기본 데이터 전압(Vdata_group)과 대응될 수 있다.
도 25는 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 페이크 데이터 삽입(FDI: Fake Data Insertion) 구동을 나타낸 다이어그램이다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시패널(110)에서 다수의 서브픽셀(SP)은 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 표시패널(110)에는 다수의 서브픽셀 행이 존재할 수 있다.
다수의 서브픽셀 행에 대응되는 다수의 게이트 라인들(GL)은 순차적으로 구동될 수 있다. 각 서브픽셀(SP)이 3T1C 구조를 갖는 경우, 다수의 서브픽셀 행 각각에는 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)를 전달하기 위한 1개 또는 2개의 게이트 라인(GL)이 배치될 수 있다.
그리고, 표시패널(110)에는 다수의 서브픽셀 열(Column)이 존재할 수 있으며, 다수의 서브픽셀 열(Column) 각각에는, 1개의 데이터 라인(DL)이 대응되어 배치될 수 있다.
전술한 서브픽셀 구동 동작과 같이, 다수의 서브픽셀 행 중에서 n+1 번째 서브픽셀 행이 구동될 때, n+1 번째 서브픽셀 행에 배열된 서브픽셀들(SP)에 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)가 인가되고, 다수의 데이터 라인(DL)을 통해 n+1 번째 서브픽셀 행에 배열된 서브픽셀들(SP)에 영상 구동용 데이터 전압(Vdata)이 공급된다.
이어서, n+1 번째 서브픽셀 행아래에 위치한 n+2 번째 서브픽셀 행이 구동된다. n+2 번째 서브픽셀 행에 배열된 서브픽셀들(SP)에 스캔신호(SCAN) 및 센스신호(SENSE)가 인가되고, 다수의 데이터 라인(DL)을 통해 n+2 번째 서브픽셀 행에 배열된 서브픽셀들(SP)에 영상 구동용 데이터 전압(Vdata)이 공급된다.
이러한 방식으로, 다수의 서브픽셀 행은 순차적으로 영상 데이터 기록이 이루어진다. 여기서, 영상 데이터 기록은 전술한 서브픽셀 구동 동작에서 영상 데이터 기록 단계에서 이루어지는 절차이다.
다수의 서브픽셀 행은, 한 프레임 시간 동안, 전술한 서브픽셀 구동 동작에 따라, 영상 데이터 기록 단계, 부스팅 단계 및 발광 단계가 순차적으로 진행될 수 있다.
한편, 도 25에 도시된 바와 같이, 다수의 서브픽셀 행은 한 프레임 시간 내에서 서브픽셀 구동 동작의 발광 단계에 따라 발광 기간(EP)이 끝까지 지속되지 않는다. 여기서, "발광 기간(EP)"을 디스플레이 하고자 하는 실제 영상이 표시되는 "리얼(Real) 영상 기간" 또는 "리얼 디스플레이 구동"이라고도 할 수 있다.
한 프레임 시간 내에서, 발광 기간(EP)을 제외하는 기간 동안에는, 디스플레이 하고자 하는 실제 영상과는 무관한 페이크 영상(Fake Image)이 표시될 수 있다. 이와 같이, 한 프레임 시간 내에서 페이크 영상이 표시되는 기간을 "페이크 영상 기간(FIP)"이라고 한다.
즉, 다수의 서브픽셀 행 각각에 대하여, 한 프레임 시간은 발광 기간(EP)과 페이크 영상 기간(FIP)을 포함한다. 다수의 서브픽셀 행 각각은, 발광 기간(EP) 동안에는 실제 영상을 표시하기 위한 리얼 디스플레이 구동이 진행되고, 페이크 영상 기간(FIP)에는 실제 영상과는 관계가 없는 페이크 영상을 표시하기 위한 페이크 디스플레이 구동이 진행된다.
페이크 디스플레이 구동 시, 실제 영상과 무관한 페이크 영상을 표시하기 위한 페이크 데이터가 해당 서브픽셀들(SP)로 공급된다. 이러한 의미에서, 페이크 디스플레이 구동을 페이크 데이터 삽입(FDI: Fake Data Insertion) 구동이라고도 한다.
다시 말해, 한 프레임 시간 동안, 1개의 서브픽셀(SP)은, 리얼 디스플레이 구동이 진행되는 동안 영상 데이터 기록 단계, 부스팅 단계 및 발광 단계를 거치면서 해당 발광 기간(EP) 동안 발광하고, 이어서, 페이크 디스플레이 구동이 진행된다. 이러한 페이크 디스플레이 구동은 실제 영상들 사이에 가짜 영상(페이크 영상)을 삽입하는 방식으로 이루어질 수 있다. 따라서, 페이크 디스플레이 구동을 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동이라고도 한다.
리얼 디스플레이 구동 시, 실제 영상을 표시하기 위하여 실제 영상에 대응되는 영상 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀들(SP)에 공급된다. 이와 다르게, 페이크 데이터 삽입 구동 시, 실제 영상과는 전혀 관계가 없는 페이크 영상에 대응되는 페이크 데이터 전압이 서브픽셀들(SP)로 공급된다.
즉, 일반적인 리얼 디스플레이 구동 시 서브픽셀들(SP)로 공급되는 영상 데이터 전압(Vdata)은 프레임에 따라 또는 영상에 따라 가변 될 수 있지만, 페이크 데이터 삽입 구동 시 서브픽셀들(SP)로 공급되는 페이크 데이터 전압은 프레임에 따라 또는 영상에 따라 가변 되지 않고 일정할 수 있다.
전술한 페이크 데이터 삽입 구동의 일 방식으로서, 1개의 서브픽셀 행이 페이크 데이터 삽입 구동되고, 그 다음의 1개의 서브픽셀 행이 페이크 데이터 삽입 구동될 수 있다.
또는, 전술한 페이크 데이터 삽입 구동의 다른 방식으로서, 복수의 서브픽셀 행이 동시에 페이크 데이터 삽입 구동되고, 그 다음의 복수의 서브픽셀 행이 페이크 데이터 삽입 구동될 수 있다. 즉, 복수의 서브픽셀 행 단위로 페이크 데이터 삽입 구동이 동시에 이루어질 수 있다.
페이크 데이터 삽입(FDI) 구동이 동시에 이루어지는 서브픽셀 행의 개수(k)는 2개, 4개, 또는 8개 등일 수 있다.
예를 들어, 제1 내지 제4 서브픽셀 행이 순차적으로 영상 데이터 기록이 진행된 후, 제1 서브픽셀 행보다 이전에 배치되어 일정 시간의 발광 기간(EP)이 이미 경과한 복수의 서브픽셀 행으로 페이크 데이터 전압이 동시에 공급될 수 있다.
이어서, 제5 내지 제 8 서브픽셀 행이 순차적으로 영상 데이터 기록이 진행된 후, 제1 서브픽셀 행 또는 제5 서브픽셀 행보다 이전에 배치되어 일정 시간의 발광 기간(EP)이 이미 경과한 복수의 서브픽셀 행으로 페이크 데이터 전압이 동시에 공급될 수 있다.
또한, 동시에 페이크 데이터 삽입 구동이 이루어지는 서브픽셀 행의 개수(k)는 동일할 수도 있고 다를 수도 있다. 일 예로, 처음의 2개의 서브픽셀 행이 동시에 페이크 데이터 삽입 구동되고, 그 다음에는 4개의 서브픽셀 행 단위로 동시에 페이크 데이터 삽입 구동될 수 있다. 다른 예로, 처음의 4개의 서브픽셀 행이 동시에 페이크 데이터 삽입 구동되고, 그 다음에는 8개의 서브픽셀 행 단위로 동시에 페이크 데이터 삽입 구동될 수도 있다.
전술한 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동을 통해, 동일 프레임에 실제 영상 데이터와 페이크 데이터를 표시함으로써, 영상이 구분되지 않고 끌리는 움직임 블러(Blur) 현상을 방지하여 영상 화질을 개선해줄 수 있다.
전술한 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동 시, 데이터 라인(DL)을 통해, 영상 데이터 기록과 페이크 데이터 기록이 이루어질 수 있다.
또한, 전술한 바와 같이, 페이크 데이터 기록을 복수의 라인(서브픽셀 행)에 동시에 진행함으로써, 라인 위치에 따른 발광 기간(EP)의 차이에 의한 휘도 편차를 보상해줄 수 있으며, 영상 데이터 기록 시간을 확보해줄 수 있다.
한편, 페이크 데이터 삽입 구동의 타이밍을 조절하여, 영상에 따라 발광 기간(EP)의 길이를 적응적으로 조정해줄 수 있다.
영상 데이터 기록 타이밍과 페이크 데이터 기록 타이밍은 게이트 구동의 제어를 통해 가변 될 수 있다.
한편, 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동 시, 서브픽셀들(SP)로 공급되는 페이크 데이터 전압은, 일 예로, 블랙 데이터 전압일 수 있다.
이 경우, 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동을 블랙 데이터 삽입(BDI: Black Data Insertion) 구동이라고도 할 수 있다. 페이크 데이터 삽입(FDI) 구동 시 페이크 데이터 기록을 블랙 데이터 기록이라고 할 수 있다. 또한, 페이크 영상 기간(FIP)을 블랙 영상 기간 또는 비 발광 기간이라고 할 수 있다.
이상에서 전술한 페이크 데이터 삽입 구동 (예: 블랙 데이터 삽입 구동)을 수행하는 경우, 동일 프레임에 실제 영상 데이터와 페이크 데이터를 표시함으로써, 영상이 구분되지 않고 끌리는 움직임 블러(Blur) 현상을 방지하여 영상 화질을 개선해줄 수 있다. 하지만, 실시간(RT) 센싱을 위해 할당될 수 있는 기간이 부족해지거나 줄어들 수 있다. 따라서, 실시간 센싱에 필요한 센싱 시간을 더욱 단축시킬 필요가 있다.
따라서, 본 발명의 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 페이크 데이터 삽입 구동 (예: 블랙 데이터 삽입 구동)을 수행하는 경우, 이상에서 전술한 어시스트 구동을 활용한 제2 센싱 구동 방식으로 실시간 센싱을 진행하면, 페이크 데이터 삽입 구동 (예: 블랙 데이터 삽입 구동)에 따른 영상 품질 향상의 효과를 얻을 수 있으면서도, 센싱 시간 단축의 상당한 효과를 얻을 수 있다.
이상에서 전술한 본 발명의 실시예들에 의하면, 센싱 시간을 단축시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 짧은 시간 내에 센싱을 하더라도, 정확한 센싱값을 얻을 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 구동 중에 실시간으로 센싱을 하더라도, 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 센싱 시간이 부족한 다양한 상황에서도 신속하고 정확한 센싱을 수행할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 유기발광표시장치
110: 표시패널
120: 데이터 구동회로
130: 게이트 구동회로
140: 컨트롤러

Claims (16)

  1. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 타입으로 배열되고, 다수의 센싱 라인이 배치되는 표시패널;
    상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로;
    상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동회로; 및
    상기 다수의 센싱 라인을 센싱하기 위한 센싱회로를 포함하고,
    상기 다수의 서브픽셀은 동일한 서브픽셀 행에 배열된 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀을 포함하고,
    상기 제1 서브픽셀 및 상기 제2 서브픽셀은 다수의 센싱 라인 중 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능하고,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안,
    상기 제1 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 상기 제2 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐르고,
    상기 센싱회로는 상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 센싱값을 출력하는 유기발광표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 구동회로는,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안,
    제1 데이터 라인을 통해 상기 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압을 공급할 때,
    상기 제1 데이터 라인과 다른 제2 데이터 라인을 통해 상기 제2 서브픽셀로 어시스트 데이터 전압을 공급하며,
    상기 센싱 구동용 데이터 전압은 상기 어시스트 데이터 전압보다 높은 유기발광표시장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 센싱회로는,
    상기 제1 센싱 라인과 기준전압 공급 노드 간의 연결 여부를 제어하는 제1 스위치와,
    상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 디지털 값에 해당하는 상기 센싱값으로 변환하여 출력하는 아날로그 디지털 컨버터와,
    상기 제1 센싱 라인과 상기 아날로그 디지털 컨버터 간의 연결 여부를 제어하는 제2 스위치를 포함하는 유기발광표시장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간은 블랭크 기간에 포함되는 유기발광표시장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안,
    상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승하고,
    상기 센싱회로는,
    상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 상기 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 센싱값을 출력하는 유기발광표시장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 공급될 영상 데이터 전압은 상기 제1 센싱 라인의 전압 상승 속도에 따라 달라지는 유기발광표시장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀 각각은,
    유기발광다이오드와,
    상기 유기발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제1 노드와 해당 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결된 제1 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제2 노드와 해당 센싱 라인 사이에 전기적으로 연결된 제2 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제1 노드와 제2 노드 사이에 전기적으로 연결된 캐패시터를 포함하고,
    상기 제1 서브픽셀의 상기 제2 트랜지스터의 소스 노드 또는 드레인 노드와, 상기 제2 서브픽셀의 상기 제2 트랜지스터의 소스 노드 또는 드레인 노드는, 상기 제1 센싱 라인에 공통으로 연결되는 유기발광표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    메모리에 저장된 기준 센싱값과 상기 센싱값을 비교하여, 비교 결과에 근거하여 상기 제1 서브픽셀로 공급될 영상 데이터를 변경하기 위한 보상값을 산출하는 보상기를 더 포함하고,
    상기 보상값은 상기 제1 서브픽셀에 포함된 구동 트랜지스터의 특성치 변화를 보상해주기 위한 값인 유기발광표시장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간보다 앞서서 진행된 그룹 센싱 기간 동안,
    상기 제1 서브픽셀 및 상기 제2 서브픽셀 모두로 동일한 기본 데이터 전압이 공급된 이후, 상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승하고,
    상기 센싱회로는,
    상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 상기 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 그룹 센싱값을 출력하고,
    상기 기준 센싱값은,
    상기 메모리에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값이 변경되어 저장된 값으로서, 상기 초기 기준 센싱값에서 상기 그룹 센싱값 만큼 오프셋 된 값에 해당하는 유기발광표시장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안,
    상기 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압이 공급될 때, 상기 제2 서브픽셀로 상기 센싱 구동용 데이터 전압보다 낮은 어시스트 데이터 전압이 공급되고,
    상기 어시스트 데이터 전압은 상기 기본 데이터 전압과 대응되는 유기발광표시장치.
  11. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 타입으로 배열된 표시패널과, 상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로와, 상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동회로를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법에 있어서,
    동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 중에서 상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 상기 제1 서브픽셀로 센싱 구동용 데이터 전압을 공급하고, 상기 제2 서브픽셀로 어시스트 데이터 전압을 공급하는 단계; 및
    상기 제1 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 상기 제2 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐르기 시작하여 일정 시간이 경과되면, 상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 센싱 구동용 데이터 전압은 상기 어시스트 데이터 전압보다 높은 유기발광표시장치의 구동방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 얻어진 센싱값과 메모리에 저장된 기준 센싱값을 비교하여, 비교 결과에 근거하여 보상값을 산출하는 단계; 및
    상기 보상값에 기초하여 상기 제1 서브픽셀로 공급될 영상 데이터를 변경하는 단계를 더 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱보다 앞서서 그룹 센싱을 진행하는 단계를 더 포함하고,
    상기 그룹 센싱을 진행하는 단계는,
    상기 제1 서브픽셀 및 상기 제2 서브픽셀 모두로 동일한 기본 데이터 전압을 공급하는 단계; 및
    상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승하기 시작하면, 상기 제1 센싱 라인의 전압이 상승한 시점으로부터 일정 시간이 경과한 이후, 상기 제1 센싱 라인의 상승된 전압을 센싱하여 그룹 센싱값을 생성하는 단계를 포함하고,
    상기 그룹 센싱을 진행하는 단계 이후,
    상기 메모리에 저장되어 있던 초기 기준 센싱값에서 상기 그룹 센싱값 만큼 오프셋 처리하여 상기 기준 센싱값을 생성하고, 상기 초기 기준 센싱값을 상기 기준 센싱값으로 변경 저장하는 단계를 더 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
  15. 표시패널에 배치된 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동회로에 있어서,
    상기 표시패널에 매트릭스 타입으로 배열된 다수의 서브픽셀 중 동일한 서브픽셀 행에 배열되며 제1 센싱 라인과 전기적으로 연결 가능한 제1 서브픽셀 및 제2 서브픽셀 중에서 상기 제1 서브픽셀에 대한 센싱 기간 동안, 상기 제1 서브픽셀에 대응되는 제1 데이터 라인으로 센싱 구동용 데이터 전압을 출력하고, 상기 제2 서브픽셀에 대응되는 제2 데이터 라인으로 어시스트 데이터 전압을 출력하는 데이터 전압 출력 회로; 및
    상기 제1 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 메인 전류가 흐르고, 상기 제2 서브픽셀에서 상기 제1 센싱 라인으로 어시스트 전류가 흐르기 시작하여 일정 시간이 경과되면, 상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하는 센싱회로를 포함하는 데이터 구동회로.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 센싱회로는,
    상기 제1 센싱 라인과 기준전압 공급 노드 간의 연결 여부를 제어하는 제1 스위치와,
    상기 제1 센싱 라인의 전압을 센싱하여 디지털 값에 해당하는 상기 센싱값으로 변환하여 출력하는 아날로그 디지털 컨버터와,
    상기 제1 센싱 라인과 상기 아날로그 디지털 컨버터 간의 연결 여부를 제어하는 제2 스위치를 포함하는 데이터 구동회로.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11804179B2 (en) 2020-12-28 2023-10-31 Lg Display Co., Ltd. Electroluminescent display device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140013146A (ko) * 2012-07-19 2014-02-05 엘지디스플레이 주식회사 화소 전류 측정을 위한 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법
KR20150074657A (ko) * 2013-12-24 2015-07-02 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR20160141237A (ko) * 2015-05-29 2016-12-08 엘지디스플레이 주식회사 슈퍼픽셀에서의 다중 센싱 방법 및 이를 적용하는 유기발광표시장치
KR20170064168A (ko) * 2015-11-30 2017-06-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동 방법
KR20170064142A (ko) * 2015-11-30 2017-06-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 그 영상 구동 방법 및 센싱 방법
KR20170080993A (ko) * 2015-12-31 2017-07-11 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140013146A (ko) * 2012-07-19 2014-02-05 엘지디스플레이 주식회사 화소 전류 측정을 위한 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법
KR20150074657A (ko) * 2013-12-24 2015-07-02 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR20160141237A (ko) * 2015-05-29 2016-12-08 엘지디스플레이 주식회사 슈퍼픽셀에서의 다중 센싱 방법 및 이를 적용하는 유기발광표시장치
KR20170064168A (ko) * 2015-11-30 2017-06-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동 방법
KR20170064142A (ko) * 2015-11-30 2017-06-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 그 영상 구동 방법 및 센싱 방법
KR20170080993A (ko) * 2015-12-31 2017-07-11 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11804179B2 (en) 2020-12-28 2023-10-31 Lg Display Co., Ltd. Electroluminescent display device

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