CN107871466A - 显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种显示装置。该显示装置包括：连接到数据线和扫描线的像素；第一补偿器，连接到检测线，并且在向相邻检测线供应不同电压的同时，检测检测线的偏差信息；以及检测单元，连接到第一补偿器并检测每个像素的特征信息。

Description

显示装置
本申请要求2016年9月22日递交的韩国专利申请第10-2016-0121321号的优先权以及从其获得的所有权益，其全部内容通过引用并入本文。
技术领域
本发明的示例性实施例涉及一种显示装置及其驱动方法，并且更具体地，涉及一种提高图像质量的显示装置及其驱动方法。
背景技术
随着信息技术的发展，对于作为用户和信息之间的连接媒介的显示装置有着很高的需求。作为回应，诸如液晶显示装置、有机发光显示装置等的显示装置越来越多地被使用。
显示装置中的有机发光显示装置通过连接到多条扫描线和多条数据线的像素来显示图像。为此，各像素中的每一个包括有机发光二极管和驱动晶体管。
驱动晶体管对应于从多条数据线中的数据线供应的数据信号控制供应给有机发光二极管的电流量。有机发光二极管发射与从驱动晶体管供应的电流量对应的预定亮度的光。
包括在各像素中的每一个像素中的驱动晶体管对应于数据信号向有机发光二极管供应均匀的电流，使得显示装置显示均匀的图像质量。然而，包括在各像素中的每一个像素中的驱动晶体管具有包括偏差的特征值。
已经提出了用于针对像素的来自于外部源的这种特征偏差进行补偿的外部补偿方法。例如，在外部补偿方法中，检测包括在各像素中的每一个像素中的驱动晶体管的迁移率和阈值电压信息，并且根据检测到的信息控制供应至各像素中的每一个像素的数据信号。
发明内容
由于相应的驱动晶体管的每个通道的偏差，外部补偿方法可能不能精确地探测像素的特征偏差，因而，相应地，在补偿图像质量时存在限制。
因此，本发明提供用于通过不管通道偏差如何，都精确地检测像素的特征偏差来提高图像质量的一种显示装置及其驱动方法。
根据本发明的示例性实施例，提供一种显示装置，包括：连接到数据线和扫描线的像素；第一补偿器，连接到检测线，并且在向检测线中的相邻检测线供应不同的电压的同时，检测检测线的偏差信息；以及检测单元，连接到第一补偿器并且检测像素中的每一个像素的特征信息。
在示例性实施例中，第一补偿器可以向设置在相邻检测线中的预定检测线中的第一电容器供应第一电压，并且向设置在相邻检测线中的与所述预定检测线相邻的检测线中的第二电容器供应不同于第一电压的第二电压。
在示例性实施例中，检测单元可以通过存储在第一电容器中的电压来生成数字形式的第一通道数据，并且通过存储在第二电容器中的电压来生成数字形式的第二通道数据。
在示例性实施例中，检测单元可以通过电荷共享第一电容器和第二电容器生成的电荷共享电压来生成数字形式的电荷数据。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括时序控制器，所述时序控制器通过第一通道数据、第二通道数据和电荷数据来获得第一电容器与第二电容器的比率，其中第一电容器与第二电容器的比率是偏差信息。
在示例性实施例中，第一补偿器可以包括连接到检测线的多路复用器和连接在多路复用器与检测单元之间的开关单元。
在示例性实施例中，开关单元可以包括连接在多路复用器与第一节点之间的第一开关、连接在多路复用器与第一节点之间的第二开关、连接在第一节点与参考电源之间的第三开关以及连接在第一节点与检测单元之间的第四开关。
在示例性实施例中，多路复用器可以将第一开关顺序地连接到检测线中的第一检测线至第(m-1)检测线，并且将第二开关顺序地连接到检测线中的第二检测线至第m检测线，其中m是大于2的自然数。
在示例性实施例中，第三开关可以在第一开关导通的至少一部分时段内导通，以将参考电源的第一电压供应给连接到第一开关的相邻检测线中的预定检测线，并且第三开关可以在第二开关导通的至少一部分时段内导通，以将参考电源的第二电压供应给连接到第二开关的相邻检测线中的与所述预定检测线相邻的检测线。
在示例性实施例中，第一电压和第二电压可以被设定为不同的值。
在示例性实施例中，第一电压可以被设定为比第二电压高。
在示例性实施例中，在将第一电压存储在等效地设置在预定检测线中的第一电容器中并且将第二电压存储在等效地设置在相邻检测线中的第二电容器中之后，第一开关和第二开关可以被导通，并且分别存储在第一电容器和第二电容器中的电压可以被电荷共享。
在示例性实施例中，第一电容器与第二电容器的比率可以是偏差信息。
在示例性实施例中，第一补偿器可以包括连接到检测线的第一开关单元、连接到第一开关单元的多路复用器以及连接在多路复用器与检测单元之间的第二开关单元。
在示例性实施例中，第一开关单元可以包括连接在检测线与多路复用器之间的第一开关、连接在检测线中的奇数检测线与参考电源之间的第二开关以及连接在偶数检测线与参考电源之间的第三开关。
在示例性实施例中，当第二开关导通时，参考电源可被设定为第一电压，并且当第三开关导通时，参考电源可被设定为与第一电压不同的第二电压。
在示例性实施例中，第二开关和第三开关可以在彼此不同的时间被导通。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括布置在第一开关中的一个第一开关与多路复用器之间并且连接在该一个第一开关与地电源之间的辅助电容器。
在示例性实施例中，第二开关单元可以包括连接在多路复用器和检测单元之间的第四开关，以及连接在多路复用器与检测单元之间的第五开关。
在示例性实施例中，多路复用器可以将第四开关顺序地连接到奇数检测线，并且多路复用器可以顺序地将第五开关连接到偶数检测线。
在示例性实施例中，第一开关单元可以包括连接在检测线与多路复用器之间的第一开关、连接在检测线中的奇数检测线与第一参考电源之间的第二开关以及连接在检测线中的偶数检测线与第二参考电源之间的第三开关。
在示例性实施例中，第一参考电源可以被设定为第一电压，并且第二参考电源可以被设定为不同于第一电压的第二电压。
在示例性实施例中，第二开关和第三开关可以被同时导通和关断。
在示例性实施例中，第一补偿器可以包括连接到检测线的开关单元以及连接在开关单元与检测单元之间的多路复用器。
在示例性实施例中，开关单元可以包括连接在检测线与多路复用器之间的第一开关、连接在检测线中的奇数检测线与第一参考电源之间的第二开关、连接在检测线中的偶数检测线与第二参考电源之间的第三开关、连接在第i检测线(其中i是等于1和大于1的奇数，即i为1、3、5、7...)与第(i+1)检测线之间的第四开关以及连接在第(i+1)检测线与第(i+2)检测线之间的第五开关。
在示例性实施例中，第一参考电源可以被设定为第一电压，并且第二参考电源可以被设定为不同于第一电压的第二电压。
在示例性实施例中，第二开关和第三开关可以被同时导通。
在示例性实施例中，在第一参考电源的电压被存储在奇数检测线中并且第二参考电源的电压被存储在偶数检测线中之后，第四开关和第一开关可以被导通，并且在第一参考电源的电压被存储在奇数检测线中并且第二参考电源的电压被存储在偶数检测线中之后，第五开关和第一开关可以被导通。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括设置在第一开关中的一个第一开关与多路复用器之间并且连接在该一个第一开关与地电源之间的辅助电容器。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括时序控制器，该时序控制器通过偏差信息从像素中的每一个像素的特征信息中去除检测线的偏差。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括向扫描线供应扫描信号的扫描驱动器以及通过第二数据生成数据信号并将数据信号供应给数据线的数据驱动器，其中时序控制器对应于去除了偏差的特征信息通过从外部源供应的第一数据生成第二数据。
在示例性实施例中，检测线可以是数据线。
在示例性实施例中，检测单元可以包括将偏差信息转换成数字形式的第一检测数据并且将特征信息转换成数字形式的第二检测数据的模数转换器，以及存储第一检测数据和第二检测数据的第二补偿器。
在示例性实施例中，显示装置可以包括分别连接到不同像素的第一检测线和第二检测线、设置在第一检测线与第一节点之间的第一开关、设置在第二检测线与第一节点之间的第二开关以及控制第一开关和第二开关的时序控制器。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括连接在第一节点与参考电源之间的第三开关。
在示例性实施例中，当第三开关和第一开关导通时，参考电源可以被设定为第一电压，并且当第三开关和第二开关导通时，参考电源可以被设定为与第一电压不同的第二电压。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括连接到第一节点的第四开关和连接到第四开关并且将供应给第一检测线的电压和供应给第二检测线的电压中的至少一个转换成数字数据的模数转换器。
在示例性实施例中，显示装置可以进一步包括补偿器，该补偿器通过数字数据获得第一检测线的第一电容器与第二检测线的第二电容器的比率。
在示例性实施例中，一种显示装置的驱动方法包括：在分别向第一检测线和第二检测线供应不同电压的同时，检测第一检测线和第二检测线的偏差信息；检测连接到第一检测线和第二检测线的像素的特征信息；以及通过偏差信息从特征信息中去除第一检测线和第二检测线的偏差。
在示例性实施例中，偏差信息的检测可以包括：向第一检测线供应第一电压；向第二检测线供应不同于第一电压的第二电压；通过存储在等效设置在第一检测线中的第一电容器中的、与第一电压对应的电压生成数字形式的第一通道数据；通过存储在等效设置在第二检测线中的第二电容器中的、与第二电压对应的电压生成数字形式的第二通道数据；电荷共享第一电容器和第二电容器；以及通过由电荷共享生成的电荷共享电压生成数字形式的电荷数据。
在示例性实施例中，该方法可以进一步包括通过第一通道数据、第二通道数据和电荷数据获得第一电容器与第二电容器的比率。
在示例性实施例中，第一电容器与第二电容器的比率可以是第一检测线和第二检测线的偏差信息。
附图说明
通过更详细地描述示例性实施例以及参照其附图，本公开的上述和其它示例性实施例、优点和特征将变得更加明显，其中：
图1是图示根据本发明的显示装置的示例性实施例的图；
图2A和图2B是图示图1中示出的像素的示例性实施例的图；
图3是图示图1中示出的第一补偿器和检测单元的示例性实施例的图；
图4是图示图3中示出的第一补偿器的操作过程的波形图；
图5是图示图1中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图6是图示图5中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图7是图示图5中示出的第一补偿器的操作过程的波形图；
图8是图示图1中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图9是图示图8中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图10是图示图8中示出的第一补偿器的操作过程的波形图；
图11是图示图1中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图12是图示图11中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图；
图13是图示图11中示出的第一补偿器的操作过程的图；以及
图14是图示根据本发明的用于检测通道偏差信息的驱动方法的示例性实施例的图。
具体实施方式
在下文中，将参照附图详细描述本发明的实施例，并且将详细描述本领域技术人员理解本发明的内容所需的细节。然而，本发明可以在所附权利要求的范围内以多种不同的形式体现，使得下面描述的示例性实施例仅是示例性的，而不管它们是否被表达。
也就是说，本发明不限于下面描述的示例性实施例，而是可以以各种形式体现。在下面的描述中，当一部分连接到另一部分时，这意味着它们之间插入另一个元件而彼此电连接。应当注意，在附图中，尽管相同的构成元件在不同的附图中示出，但它们由相同的附图标记和数字表示。
在下文中将参照示出各种实施例的附图来更充分地描述本发明。然而，本发明可以采用很多不同的形式体现，并且不应被解释为限于本文提出的示例性实施例。相反，提供这些实施例使得本发明是彻底的和完整的，并且这些实施例将把本发明的范围充分地传达给本领域技术人员。贯穿全文，相同的附图标记指代相同的元件。
应该理解，当元件被称作在另一元件“上”时，它可以直接在该另一元件上，或者，中间元件可以在它们之间。相反，当元件被称为“直接在另一元件上”时，不存在中间元件。
应当理解，尽管术语“第一”、“第二”、“第三”等可以用于描述各种元件、部件、区域、层和/或部分，但这些元件、部件、区域、层和/或部分不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件、部件、区域、层或部分与另一个元件、部件、区域、层或部分区分开来。因此，在不脱离本文的教导的情况下，可以将下面讨论的“第一元件”、“部件”、“区域”、“层”或“部分”称为第二元件、部件、区域、层或部分。
本文使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，而不旨在限制。如本文所使用的，单数形式“一”和“该”旨在包括含有“至少一个”的复数形式，除非上下文另有明确指示。“或”表示“和/或”。如本文所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关列出的项目的任何和所有组合。将进一步理解，当在本说明书中使用时，术语“包括”或“包含”指定所述特征、区域、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或多个其它特征、区域、整数、步骤、操作、元件、部件和/或其组的存在或添加。
此外，在本文中可以使用诸如“下”或“底”和“上”或“顶”之类的相对术语来描述附图所示的一个元件与另一元件的关系。应当理解，除了附图中描绘的定向之外，相对术语旨在包括装置的不同定向。在示例性实施例中，当附图中的一个图中的装置翻转时，被描述为处于其它元件的“下”侧的元件将被定向在其它元件的“上”侧。因此，取决于附图的特定定向，示例性术语“下”可以包含“下”和“上”的取向。类似地，当附图中的一个图中的装置被翻转时，被描述为在其他元件的“下面”或“下方”的元件将被定向在“其他元件”的上方。因此，示例性术语“下面”或“下方”可以包括上和下的定向。
考虑到所讨论的测量和与特定量的测量相关联的误差(即，测量系统的限制)，本文使用的“大约”或“近似”包括所述值并且意味在由本领域普通技术人员确定的特定值的可接受的偏差范围内。例如，“大约”可意味着在一个或多个标准偏差内，或者在所述值的±30％、20％、10％、5％之内。
除非另有定义，本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。将进一步理解，诸如在通常使用的字典中定义的术语应被解释为具有与其在相关领域和本发明的上下文中的含义一致的含义，并且，将不会在理想化或过度正式的意义上来解释，除非本文明确定义。
本文参照为理想化实施例的示意图的截面图描述示例性实施例。因此，作为例如制造技术和/或容差的结果的图示的形状的变化是预期的。因此，本文描述的实施例不应被解释为限于如本文所示的区域的特定形状，而是要包括例如由制造导致的形状的偏差。在示例性实施例中，图示或描述为平坦的区域通常可能具有粗糙和/或非线性特征。此外，所示的尖角可能是圆的。因此，附图中图示的区域本质上是示意性的，并且它们的形状并不旨在图示区域的精确形状，并不意图限制权利要求的范围。
图1是图示根据本发明的示例性实施例的显示装置的图。在图1中，为了便于说明，将基于显示装置是有机发光显示装置的假设来描述本发明的示例性实施例。然而，本发明的显示装置不限于有机发光显示装置。
参考图1，根据本发明的示例性实施例的显示装置可以包括扫描驱动器100、数据驱动器200、控制线驱动器300、第一补偿器400、检测单元450、像素单元500和时序控制器600。
扫描驱动器100可以对应于时序控制器600的控制向扫描线S1至扫描线Sn供应扫描信号。例如，在示例性实施例中，扫描驱动器100可以将扫描信号顺序地供应给扫描线S1至Sn。当扫描信号顺序地供应给扫描线S1至Sn时，可以在水平线的基础上选择像素510。为此，扫描信号可以被设定为栅极导通电压，在该栅极导通电压处，包括在像素510中的晶体管可以被导通。
数据驱动器200可以生成与从时序控制器600供应的第二数据Data2对应的数据信号。生成数据信号的数据驱动器200可以将数据信号供应给数据线D1至Dm。供应给数据线D1至Dm的数据信号可以被供应给由扫描信号选择的像素510。像素510可以发射与数据信号对应的预定亮度的光，并且相应地，可以在像素单元500中显示预定图像。
上述第二数据Data2可以是基于从外部源输入的第一数据Data1的、对应于要在像素单元500上显示的图像的值，并且可以被设定为通过改变第一数据Data1使得可以补偿包括在像素510中的每一个像素中的驱动晶体管的偏差而获得的值。
响应于时序控制器600的控制，控制线驱动器300可以将控制信号供应给控制线CL1至CLn。例如，在示例性实施例中，在检测像素510中的每一个像素的特征信息期间，例如在检测期间，控制线驱动器300可以将控制信号顺序地供应给控制线CL1至CLn。根据示例性实施例，控制信号可以被设定为栅极导通电压，通过该栅极导通电压，包括在像素510中的晶体管可以被导通。在这种情况下，供应有控制信号的像素510可以电连接到检测线SEN1至检测线SENm。
在本发明的示例性实施例中，可以不必提供控制线驱动器300。例如，在示例性实施例中，扫描驱动器100可以替代控制线驱动器300，将控制信号供应给控制线CL1至CLn。在示例性实施例中，代替形成单独的控制线CL1至CLn，在检测期间，像素510与检测线SEN1至检测线SENm之间的电连接可以通过扫描线S1至Sn来控制。
第一补偿器400可以连接到检测线SEN1至检测线SENm。第一补偿器400可以检测检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的偏差信息(即，通道偏差信息)。在示例性实施例中，第一补偿器400可以检测在检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线中提供的寄生电容器的电容作为通道偏差信息。例如，下面将给出其详细描述。
在图1中，第一补偿器400连接到检测线SEN1至检测线SENm，但是本发明不限于此。例如，在示例性实施例中，本发明可以应用于本领域已知的各种类型的外部补偿方法，并且第一补偿器400可以连接到数据线D1至Dm。在这种情况下，第一补偿器400可以检测数据线D1至Dm中的每一条数据线的寄生电容器的电容作为通道偏差信息。
检测单元450可以检测像素510中的每一个像素的特征信息。例如，在示例性实施例中，检测单元450可以检测阈值电压信息、包括在像素510中的每一个像素中的驱动晶体管的迁移率信息和/或有机发光二极管的劣化信息作为像素510中的每一个像素的特征信息。
检测单元450可以将在第一补偿器400中检测的通道的偏差信息转换成数字形式的第一检测数据并且可以将像素510的特征信息转换成数字形式的第二检测数据，以输出第一检测数据和第二检测数据。为此，检测单元450可以包括模数转换器(“ADC”)(未示出)。从检测单元450输出的第一检测数据和第二检测数据可以存储在未示出的存储器中。
可以使用存储在存储器中的第一检测数据和第二检测数据将第一数据Data1转换成第二数据Data2，使得像素510的特征偏差可以被补偿。例如，在示例性实施例中，时序控制器600可以通过第一检测数据从第二检测数据中去除通道偏差，并且通过从其去除了通道偏差的第二检测数据生成第二数据Data2。因此，无论通道偏差如何，都可以精确地补偿像素510的特征偏差。
像素单元500可以包括设置成连接到扫描线S1至扫描线Sn、控制线CL1至控制线CLn、检测线SEN1至检测线SENm和数据线D1至数据线Dm的像素510。在这种情况下，像素单元500可以被设定为用于显示预定图像的显示区域。像素510中的每一个像素可以电连接到第一驱动电源ELVDD和第二驱动电源ELVSS。第一驱动电源ELVDD可以被设定为比第二驱动电源ELVSS高的电压。
像素510中的每一个像素可以包括驱动晶体管和有机发光二极管。驱动晶体管可以对应于数据信号控制经由有机发光二极管从第一驱动电源ELVDD流向第二驱动电源ELVSS的电流量。有机发光二极管可以发射与从驱动晶体管供应的电流量对应的亮度的光。然而，当供应与黑色灰度对应的数据信号时，驱动晶体管可以控制电流不流向有机发光二极管，使得有机发光二极管可以被设定在非发光状态。
时序控制器600可以控制扫描驱动器100、数据驱动器200、第一补偿器400和检测单元450。此外，时序控制器600可以通过对应于第一检测数据和第二检测数据改变第一数据Data1的比特来生成第二数据Data2。
图1仅示出用于解释本发明所期望的配置，而各种配置可以被添加到实际的显示装置。例如，在示例性实施例中，可以另外包括一个或多个虚设扫描线以用于驱动稳定性。此外，扫描驱动器100、数据驱动器200、第一补偿器400、检测单元450和/或时序控制器600可以与像素单元500一起布置(例如，安装)在面板(未示出)上。
图2A和图2B是图示图1中示出的像素的示例性实施例的图。在图2A中，为了便于说明，示出连接到第m条数据线Dm和第n条扫描线Sn的像素。
参考图2A，根据本发明的示例性实施例的像素510可以包括有机发光二极管OLED和像素电路512。
有机发光二极管OLED的阳极可以连接到像素电路512，并且阴极可以连接到第二驱动电源ELVSS。有机发光二极管OLED可以发射与从像素电路512供应的电流量对应的亮度的光。
像素电路512可以对应于数据信号控制经由有机发光二极管OLED从第一驱动电源ELVDD流向第二驱动电源ELVSS的电流量。为此，像素电路512可以包括第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3和存储电容器Cst。
例如，在示例性实施例中，第一晶体管M1至第三晶体管M3中的至少一个晶体管可以是包括有源层的氧化物半导体薄膜晶体管(“TFT”)，该有源层包括氧化物半导体。例如，在示例性实施例中，第一晶体管M1至第三晶体管M3中的至少一个晶体管可以是包括有源层的低温多晶硅(“LTPS”)TFT，该有源层包括多晶硅。
第一晶体管M1的第一电极可以连接到第一驱动电源ELVDD，并且第一晶体管M1的第二电极可以连接到有机发光二极管OLED的阳极。第一晶体管M1的栅电极可以连接到第一节点N1。第一晶体管M1可以对应于第一节点N1的电压控制经由有机发光二极管OLED从第一驱动电源ELVDD流向第二驱动电源ELVSS的电流量。
第二晶体管M2的第一电极可以连接到数据线Dm，并且第二晶体管M2的第二电极可以连接到第一节点N1。此外，第二晶体管M2的栅电极可以连接到扫描线Sn。当扫描信号被供应给扫描线Sn时，第二晶体管M2可以导通以电连接数据线Dm和第一节点N1。
第三晶体管M3的第一电极可以连接到第一晶体管M1的第二电极，并且第三晶体管M3的第二电极可以连接到检测线SENm。第三晶体管M3的栅电极可以连接到控制线CLn。当控制信号被供应给控制线CLn时，第三晶体管M3可以导通以将检测线SENm和第一晶体管M1的第二电极电连接。
存储电容器Cst可以连接在第一节点N1和第一晶体管M1的第二电极之间。存储电容器Cst可以存储第一节点N1的电压。
本发明的示例性实施例中的像素510的电路结构不限于图2A。例如，在本发明的示例性实施例中，如图2B所示，有机发光二极管OLED可以位于第一驱动电源ELVDD和第一晶体管M1的第一电极之间。也就是说，在本发明的示例性实施例中，像素510的电路结构可以被不同地改变为包括用于检测第一晶体管M1的特征信息的第三晶体管M3。
在示例性实施例中，尽管第一晶体管M1至第三晶体管M3在图2A和图2B中被示出为n沟道金属氧化物半导体(“NMOS”)晶体管，但本发明不限于此。例如，在另一示例性实施例中，第一晶体管M1至第三晶体管M3中的至少一个晶体管可以包括p沟道金属氧化物半导体(“PMOS”)晶体管。
上述像素510的亮度可以由数据信号确定。然而，第一晶体管M1的特征值可以被进一步反映到像素510的亮度上。也就是说，在本发明的示例性实施例中，应用外部补偿方法，该方法在检测期间检测第一晶体管M1的特征信息并通过反映检测到的特征信息来改变第一数据Data1。在这种情况下，无论第一晶体管M1的特征偏差如何，都可以在像素单元500中显示均匀的图像质量。
根据示例性实施例，在本发明中，可以检测检测线SEN1至检测线SENm的偏差信息，并且可以通过反映偏差信息来校正像素510的特征信息。也就是说，在本发明的示例性实施例中，不管检测线SEN1至检测线SENm的偏差如何，都可以精确地检测像素510的特征信息，从而提高补偿的精度。
根据示例性实施例，在显示装置出货之前，可以执行用于检测检测线SEN1至检测线SENm的偏差信息的第一检测时段和用于检测包括在像素510中的每一个像素中的第一晶体管M1的特征信息的第二检测时段至少一次。可以在显示装置的出货之前，存储第一晶体管M1的初始特征信息，并且可以通过初始特征信息并且校正第一数据Data1(即，生成第二数据Data2)在像素单元500中显示均匀的图像质量。
此外，即使在实际使用显示装置之后，也可以每隔预定时间段，执行第二检测时段。例如，在示例性实施例中，第二检测时段可以设置在显示装置在每个预定时段开启和/或关闭的时段的一部分处。因此，尽管像素510中的每一个像素包括的驱动晶体管的特征根据使用量而变化，但是特征信息可以实时更新并反映在数据信号的生成中。因此，像素单元500可以连续地显示均匀的图像质量。
图3是图示图1中示出的第一补偿器和检测单元的示例性实施例的图。图3中示出的ADC 460和第二补偿器470可以包括至少一个或多个通道并且共享多个通道。图3中示出的电容器C1至电容器Cm可以分别等效于检测线SEN1至检测线SENm的寄生电容器。
参考图3，根据本发明的示例性实施例的第一补偿器400可以包括多路复用器410和开关单元420。
多路复用器410可以将检测线SEN1至检测线SENm中的至少一条检测线连接到开关单元420。例如，在示例性实施例中，多路复用器410可以将两条检测线(检测线SEN1至检测线SENm中的两条)顺序地连接到开关单元420。为此，例如，可以以m:2的比例确定多路复用器410。
开关单元420可以经由多路复用器410连接到检测线SEN1至检测线SENm中的至少一条检测线，并将连接到其上的检测线SEN1至检测线SENm(检测线SEN1至检测线SENm中的至少一条检测线)连接到参考电源Vref或检测单元450。为此，开关单元420可以包括响应于时序控制器600的控制而导通或关断的第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3和第四开关SW4。
第一开关SW1可以布置在多路复用器410和第一节点N1之间。当第一开关SW1导通时，多路复用器410和第一节点N1可以电连接。
第二开关SW2可以布置在多路复用器410和第一节点N1之间。当第二开关SW2导通时，多路复用器410和第一节点N1可以电连接。
第三开关SW3可以布置在第一节点N1和参考电源Vref之间。当第三开关SW3导通时，参考电源Vref的电压可以被供应给第一节点N1。
第四开关SW4可以布置在第一节点N1和检测单元450之间。当第四开关SW4导通时，第一节点N1和检测单元450可以电连接。
根据本发明的示例性实施例，检测单元450可以包括ADC 460和第二补偿器470。
ADC 460可以在第一检测时段期间，通过供应给检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的电压来生成数字形式的第一检测数据。下面将给出其详细描述。
在检测像素510的特征偏差的第二检测时段期间，可以对应于像素510的特征变化将预定电压供应到检测线SEN1至检测线SENm。ADC 460可以将供应给检测线SEN1至检测线SENm的电压转换成数字形式的第二检测数据，并将第二检测数据供应给第二补偿器470。
第二补偿器470可以存储从ADC 460供应的第一检测数据和第二检测数据。为此，第二补偿器470可以进一步包括存储器(未示出)。第二补偿器470可以进一步包括在当前阶段公知的各种配置，并且可以被包括在时序控制器600中。
时序控制器600可以通过第一检测数据去除第二检测数据中的通道(即，检测线SEN1至检测线SENm)之间的偏差。此后，时序控制器600可以通过对应于去除了通道之间的偏差的第二检测数据改变第一数据Data1(参考图1)来生成第二数据Data2(参考图1)。
图4是图示图3中示出的第一补偿器的操作过程的波形图。
参考图4，多路复用器410可以将第一开关SW1顺序地连接到第一检测线SEN1至第(m-1)检测线SENm-1。此外，多路复用器410可以将第二开关SW2顺序地连接到第二检测线SEN2至第m检测线SENm。例如，假设第一开关SW1连接到第一检测线SEN1，并且第二开关SW2连接到第二检测线SEN2。
操作过程将被描述如下。在第一时段T1期间，参考电源Vref可以被设定为第一电压V1。在第一时段T1期间，第一开关SW1可以被导通。此外，在第一时段T1期间，第三开关SW3和第四开关SW4可以顺序地被导通。
当第一开关SW1导通时，第一检测线SEN1可以连接到第一节点N1。当第三开关SW3导通时，参考电源Vref的第一电压V1可以经由第一节点N1和第一开关SW1被供应给第一检测线SEN1。与第一电压V1对应的电压可以存储在第一电容器C1中。第一检测线SEN1的电荷量可以由以下公式1表示：
[公式1]
Q1＝C1×V1。
在公式1中，C1表示第一电容器C1，V1表示第一电压，Q1表示电荷量。
第三开关SW3可以被关断，第四开关SW4可以被导通。当第四开关SW4导通时，第一检测线SEN1可以经由第一开关SW1、第一节点N1和第四开关SW4连接到ADC460。存储在第一电容器C1中的电压可以被供应给ADC 460。ADC 460可以将存储在第一电容器C1中的电压作为数字形式的第一通道数据存储到第二补偿器470中。
在第二时段T2中，参考电源Vref可以被设定为与第一电压V1不同的第二电压V2。例如，在示例性实施例中，第二电压V2可以被设定为低于第一电压V1的电压。在第二时段T2期间，第二开关SW2可以被导通。在第二时段T2期间，第三开关SW3和第四开关SW4可以顺序地被导通。
当第二开关SW2导通时，第二检测线SEN2可以连接到第一节点N1。当第三开关SW3导通时，参考电源Vref的第二电压V2可以经由第一节点N1和第二开关SW2被供应给第二检测线SEN2。与第二电压V2对应的电压可以存储在第二电容器C2中。第二检测线SEN2的电荷量可以由以下公式2表示：
[公式2]
Q2＝C2×V2。
在公式2中，C2表示第二电容器C2，V2表示第二电压，Q2表示电荷量。
第三开关SW3可以被关断，并且第四开关SW4可以被导通。当第四开关SW4导通时，第二检测线SEN2可以经由第二开关SW2、第一节点N1和第四开关SW4连接到ADC 460。存储在第二电容器C2中的电压可以被供应给ADC 460。ADC 460可以将存储在第二电容器C2中的电压作为数字形式的第二通道数据存储到第二补偿器470。
在第三时段T3中，第一开关SW1和第二开关SW2可以被导通。第四开关SW4可以被导通，使得第一开关SW1和第二开关SW2的导通时段至少部分重叠。
当第一开关SW1和第二开关SW2分别导通时，第一检测线SEN1和第二检测线SEN2可以被电连接。存储在第一电容器C1和第二电容器C2中的电压可以被电荷共享，使得可以将预定的电荷共享电压供应给第一检测线SEN1和第二检测线SEN2。电荷共享电压可以由以下公式3表示：
[公式3]
C1×V1+C2×V2＝(C1+C2)×Vshare。
在公式3中，Vshare表示电荷共享电压。
在第一检测线SEN1和第二检测线SEN2电连接之后，第四开关SW4可以被导通。当第四开关SW4导通时，第一检测线SEN1和第二检测线SEN2可以电连接到ADC460。电荷共享电压可以被供应给ADC 460，并且ADC 460可以将电荷共享电压作为第一电荷数据存储在第二补偿器470中。
当使用第一通道数据、第二通道数据和第一电荷数据时，第一电容器C1与第二电容器C2的比率，即通道偏差信息可以由以下公式4表示：
[公式4]
C1/C2＝(Vshare-V2)/(V1-Vshare)。
第一电容器C1与第二电容器C2的比率可以作为第一检测数据存储在第二补偿器470中。
多路复用器410可以将第一开关SW1顺序地连接到第二检测线SEN2至第m-1检测线SENm-1，并将第二开关SW2顺序地连接到第三检测线SEN3至第m检测线SENm。
此外，每当第一开关SW1和第二开关SW2连接到检测线时，可以在重复第一时段T1至第三时段T3时，检测检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的偏差信息。例如，在示例性实施例中，可以将第一电容器C1与第二电容器C2至第m电容器Cm中的每一个电容器(例如，C1/C2，C1/C3...C1/Cm)的比率存储在第二补偿器470中。
时序控制器600可以通过第一检测数据显示通道偏差信息，并且相应地，通过反映通道偏差信息来校正第二检测数据。不管通道偏差如何，都可以对应于像素510(参考图1)中的每一个像素的特征信息生成第二数据Data2，从而提高图像质量。
图5是图示图1中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图。
参考图5，根据本发明的另一实施例的第一补偿器400可以包括第一开关单元422、多路复用器412和第二开关单元430。
第一开关单元422可以将检测线SEN1至检测线SENm连接到参考电源Vref或多路复用器412。为此，第一开关单元422可以包括第一开关SW1'、第二开关SW2'和第三开关SW3'。
第一开关SW1'可以布置在检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线与多路复用器412之间。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。
第二开关SW2'可以布置在奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的每一条检测线与参考电源Vref之间。当第二开关SW2'导通时，参考电源Vref的电压可以供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。
第三开关SW3'可以布置在偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的每一条检测线与参考电源Vref之间。当第三开关SW3'导通时，参考电源Vref的电压可以供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。
多路复用器412可以经由第一开关单元422将检测线SEN1至检测线SENm中的至少一条检测线连接到第二开关单元430。例如，在示例性实施例中，偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm可以顺序地连接到第五开关SW5。此外，多路复用器412可以将奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的至少一部分顺序地连接到第四开关SW4'。下面将结合波形图来对其进行详细描述。
第二开关单元430可以连接在多路复用器412与ADC 460之间。第二开关单元430可以包括第四开关SW4'和第五开关SW5。
第四开关SW4'可以经由多路复用器412将奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的至少一部分顺序地连接到ADC 460。
第五开关SW5可以经由多路复用器412将偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm顺序地连接到ADC 460。
在本发明的示例性实施例中，如图6中所示，可以另外提供布置在第一开关SW1'与多路复用器412之间并连接在第一开关SW1'中的每一个与地电源之间的辅助电容器Ct。辅助电容器Ct可以存储从第一开关SW1'供应的电压。
图7是图示图5中示出的第一补偿器的操作过程的波形图。
参考图7，在第一时段T11期间，参考电源Vref可以被设定为第一电压V1。在第一时段T11期间，第二开关SW2'可以被导通。当第二开关SW2'导通时，参考电源Vref的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别等效地位于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
在第一电压V1存储在布置于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中之后，第一开关SW1'和第四开关SW4'可以被导通。
当第一开关SW1'导通时，奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的每一条检测线可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
多路复用器412可以将奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1顺序地连接到第四开关SW4'。例如，在示例性实施例中，多路复用器412可以顺序地将第四开关SW4'连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...和第(m-1)检测线SENm-1。存储在奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1的电容器C1、C3、...、Cm-1中的电压可以被供应给ADC 460。ADC 460可以将存储在电容器C1、C3、...、Cm-1中的电压作为数字形式的奇数通道数据存储在第二补偿器470中。
在第二时段T12中，参考电源Vref可以被设定为与第一电压V1不同的第二电压V2。例如，在示例性实施例中，第二电压V2可以被设定为低于第一电压V1的电压。在第二时段T12中，第三开关SW3'可以被导通。当第三开关SW3'导通时，参考电源Vref的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别等效地位于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第二电压V2存储在布置于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中之后，第一开关SW1'和第五开关SW5可以被导通。
当第一开关SW1'导通时，偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的每一条检测线可连接到多路复用器412。当第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
多路复用器412可以将偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm顺序地连接到第五开关SW5。在示例性实施例中，多路复用器412可以将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...和第m检测线SENm。例如，存储在偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm的电容器C2、C4、...、Cm中的电压可以被供应给ADC460。ADC 460可以将存储在电容器C2、C4、...、Cm中的电压作为数字形式的偶数通道数据存储在第二补偿器470中。
根据示例性实施例，检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的通道数据可以根据上述第一时段T11和第二时段T12存储在第二补偿器470中。
在第三时段T13期间，第一开关SW1'、第四开关SW4'和第五开关SW5可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'和第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
在第三时段T13期间，多路复用器412可以电连接相邻的检测线。例如，在示例性实施例中，在第三时段T13期间，多路复用器412可以将预定检测线电连接到基于预定检测线布置在左侧的检测线。
例如，在示例性实施例中，在第三时段T13期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...和第(m-1)检测线SENm-1。在第三时段T13期间，多路复用器412可以将第五开关SW5连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...和第m检测线SENm。
当第一检测线SEN1连接到第四开关SW4'并且第二检测线SEN2连接到第五开关SW5时，存储在第一电容器C1和第二电容器C2中的电压可以被电荷共享。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第一检测线SEN1和第二检测线SEN2。
第一检测线SEN1和第二检测线SEN2的电荷共享电压可以被供应给ADC 460。ADC460可以将电荷共享电压作为第一电荷数据存储在第二补偿器470中。
如上所述，在第三时段T13期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...、第(m-1)检测线SENm-1，并且将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m检测线SENm。相应地，在第三时段T13期间，ADC 460可以生成第三电荷数据(对应于第三检测线SEN3和第四检测线SEN4)、第五电荷数据(对应于第五检测线SEN5和第六检测线SEN6)、...、等，并将其存储在第二补偿器470中。
在第四时段T14中，参考电源Vref可以被设定为第一电压V1，并且第二开关SW2'可以被导通。当第二开关SW2'导通时，参考电源Vref的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别布置于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
在第五时段T15中，参考电源Vref可以被设定为第二电压V2，并且第三开关SW3'可以被导通。当第三开关SW3'导通时，参考电源Vref的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别布置于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第六时段T16中，第一开关SW1'、第四开关SW4'和第五开关SW5可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'和第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
在第六时段T16期间，多路复用器412可以电连接相邻的检测线。例如，在示例性实施例中，在第六时段T16期间，多路复用器412可以将预定检测线与基于预定检测线位于右侧的检测线电连接。
例如，在示例性实施例中，在第六时段T16期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第三检测线SEN3、第五检测线SEN5、...、至第m-1检测线SENm-1。在第六时段T16期间，多路复用器412可以将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m-2检测线SENm-2。
当第三检测线SEN3连接到第四开关SW4'并且第二检测线SEN2连接到第五开关SW5时，存储在第二电容器C2和第三电容器C3中的电压可以被电荷共享。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第二检测线SEN2和第三检测线SEN3。
第二检测线SEN2和第三检测线SEN3的电荷共享电压可以被供应给ADC 460。ADC460可以将电荷共享电压作为第二电荷数据存储在第二补偿器470中。
如上所述，在第六时段T16期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第三检测线SEN3、第五检测线SEN5、...、第m-1检测线SENm-1，并且将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m-2检测线SENm-2。相应地，在第六时段T16期间，ADC 460可以生成第二电荷数据(对应于第二检测线SEN2和第三检测线SEN3)、第四电荷数据(对应于第四检测线SEN4和第五检测线SEN5)等，并将其存储在第二补偿器470中。
可以通过第一时段T11至第六时段T16检测检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的通道数据和电荷数据。第二补偿器470或时序控制器600可以通过通道数据和电荷数据来获得每个通道的电容器的比率。例如，在示例性实施例中，第二补偿器470或时序控制器600可以确定第一电容器C1与第二电容器C2至第m电容器Cm中的每一个电容器的比率(例如，C1/C2、C1/C3...C1/Cm)。关于在第二补偿器470或时序控制器600中获得的电容器的比率的信息，即检测线SEN1至检测线SENm的偏差信息，可以作为第一检测数据存储在第二补偿器470中。
时序控制器600可以通过第一检测数据示出通道偏差信息，并且通过反映通道偏差信息来校正第二检测数据。不管通道偏差如何，都可以对应于像素510(参考图1)中的每一个像素的特征信息生成第二数据Data2，从而提高图像质量。
图8是图示图1中示出的第一补偿器的另一实施例的图。相同的附图标记被分配给与图5中的组成元件相同的组成元件，并且将省略其详细描述。
参考图8，根据本发明的另一实施例的第一补偿器400可以包括第一开关单元422'、多路复用器412和第二开关单元430。
第一开关单元422'可以将奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1连接到第一参考电源Vref1或多路复用器412。此外，第一开关单元422'可以将偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm连接到第二参考电源Vref2或多路复用器412。为此，第一开关单元422'可以包括第一开关SW1'、第二开关SW2'和第三开关SW3'。
第一开关SW1'可以位于检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线与多路复用器412之间。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。
第二开关SW2'可以布置在奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的每一条检测线与第一参考电源Vref1之间。第一参考电源Vref1可以被设定为第一电压V1。当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。
第三开关SW3'可以布置在偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的每一条检测线与第二参考电源Vref2之间。第二参考电源Vref2可以被设定为第二电压V2。当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。
根据示例性实施例，如图9中所示，可以附加地提供布置在第一开关SW1'与多路复用器412之间并连接到第一开关SW1'中的每一个的辅助电容器Ct。辅助电容器Ct可以存储从第一开关SW1'供应的电压。
图10是图示图8中示出的第一补偿器的操作过程的波形图。
参考图10，在第一时段T21期间，第二开关SW2'和第三开关SW3'可以被导通。
当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别等效地位于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别等效地位于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的每一条检测线中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第一时段T21期间，第一开关SW1'和第四开关SW4'可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
多路复用器412可以将奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1顺序地连接到第四开关SW4'。例如，在示例性实施例中，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...、第(m-1)检测线SENm-1。分别存储在奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1的电容器C1、C3、...、Cm-1中的电压可以被供应给ADC 460。ADC 460可以将存储在电容器C1、C3、...、Cm-1中的电压作为数字形式的奇数通道数据存储在第二补偿器470中。
在第二时段T22中，第一开关SW1'和第五开关SW5可以被导通。
当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线可连接到多路复用器412。当第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
多路复用器412可以将偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm顺序地连接到第五开关SW5。例如，在示例性实施例中，多路复用器412可以将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m检测线SENm。例如，分别存储在偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm的电容器C2、C4、...、Cm中的电压可以被供应给ADC 460。ADC 460可以将存储在电容器C2、C4、...、Cm中的电压作为数字形式的偶数通道数据存储在第二补偿器470中。
根据示例性实施例，通过上述第一时段T21和第二时段T22，检测线SEN1至检测线SENm中的每一条检测线的通道数据可以被存储在第二补偿器470中。
随后，在第三时段T23期间，第一开关SW1'、第四开关SW4'和第五开关SW5可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'和第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
在第三时段T23期间，多路复用器412可以电连接相邻的检测线。例如，在示例性实施例中，在第三时段T23期间，多路复用器412可以将预定检测线和基于预定检测线布置在左侧的检测线连接。
例如，在示例性实施例中，在第三时段T23期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...、第m-1检测线SENm-1。此外，在第三时段T23期间，多路复用器412可以将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m检测线SENm。
当第一检测线SEN1连接到第四开关SW4'并且第二检测线SEN2连接到第五开关SW5时，存储在第一电容器C1和第二电容器C2中的电压可以被电荷共享。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第一检测线SEN1和第二检测线SEN2。
第一检测线SEN1和第二检测线SEN2的电荷共享电压可以被供应给ADC 460。ADC460可以将电荷共享电压作为第一电荷数据输出到第二补偿器470。
因此，在第三时段T23期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第一检测线SEN1、第三检测线SEN3、...、第m-1检测线SENm-1，并且将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m检测线SENm。相应地，在第三时段T23期间，ADC 460可以生成第三电荷数据(对应于第三检测线SEN3和第四检测线SEN4)、第五电荷数据(对应于第五检测线SEN5和第六检测线SEN6)等，并将其存储在第二补偿器470中。
在第四时段T24中，第二开关SW2'和第三开关SW3'可以被导通。当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别布置于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别布置于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第五时段T25中，第一开关SW1'、第四开关SW4'和第五开关SW5可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器412。当第四开关SW4'和第五开关SW5导通时，ADC 460可连接到多路复用器412。
在第五时段T25期间，多路复用器412可以电连接相邻的检测线。例如，在示例性实施例中，在第五时段T25期间，多路复用器412可以将预定检测线和基于预定检测线布置在右侧的检测线电连接。
例如，在示例性实施例中，在第五时段T25期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第三检测线SEN3、第五检测线SEN5、...、第m-1检测线SENm-1。在第五时段T25期间，多路复用器412可以将第五开关SW5连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m-2检测线SENm-2。
当第三检测线SEN3连接到第四开关SW4'并且第二检测线SEN2连接到第五开关SW5时，存储在第二电容器C2和第三电容器C3中的电压可以被电荷共享。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第二检测线SEN2和第三检测线SEN3。
第二检测线SEN2和第三检测线SEN3的电荷共享电压可以被供应给ADC 460。ADC460可以将电荷共享电压作为第二电荷数据存储在第二补偿器470中。
如上所述，在第五时段T25期间，多路复用器412可以将第四开关SW4'顺序地连接到第三检测线SEN3、第五检测线SEN5、...、第m-1检测线SENm-1，并且将第五开关SW5顺序地连接到第二检测线SEN2、第四检测线SEN4、...、第m-2检测线SENm-2。相应地，在第五时段T25期间，ADC 460可以生成第二电荷数据(对应于第二检测线SEN2和第三检测线SEN3)、第四电荷数据(对应于第四检测线SEN4和第五检测线SEN5)等，并将其存储在第二补偿器470中。
如上所述，通过第一时段T21至第五时段T25，可以检测检测线SEN1至检测线SENm的通道数据和电荷数据。第二补偿器470或时序控制器600可以通过通道数据和电荷数据来获得每个通道的电容器的比率。例如，在示例性实施例中，第二补偿器470或时序控制器600可获得第一电容器C1与第二电容器C2至第m电容器Cm的比率。关于在第二补偿器470或时序控制器600中获得的电容器的比率的信息，即检测线SEN1至检测线SENm的偏差信息，可以作为第一检测数据存储在第二补偿器470中。
时序控制器600可以通过第一检测数据示出通道偏差信息，并且通过反映通道偏差信息来校正第二检测数据。不管通道偏差如何，都可以对应于像素510(参考图1)中的每一个像素的特征信息生成第二数据Data2，从而提高图像质量。
图11是图示图1中示出的第一补偿器的另一示例性实施例的图。
参考图11，根据本发明的另一实施例的第一补偿器400可以包括开关单元424和多路复用器414。
开关单元424可以将检测线SEN1、SEN3、...、SENm连接到多路复用器414、第一参考电源Vref1或第二参考电源Vref2。开关单元424可以包括第一开关SW1'、第二开关SW2'、第三开关SW3'、第四开关SW4"和第五开关SW5"。
第一开关SW1'可以布置在检测线SEN1至检测线SENm与多路复用器414之间。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器414。
第二开关SW2'可以布置在奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1和第一参考电源Vref1之间。第一参考电源Vref1可以被设定为第一电压V1。当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。
第三开关SW3'可以布置在偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm与第二参考电源Vref2之间。第二参考电源Vref2可以被设定为第二电压V2。当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。
第四开关SW4″可以布置在第i检测线SENi(其中i为1、3、5、7、...)与第(i+1)检测线SENi+1之间。当第四开关SW4″导通时，第i检测线SENi和第(i+1)检测线SENi+1可以电连接。
第五开关SW5″可以布置在第(i+1)检测线SENi+1与第(i+2)检测线SENi+2之间。当第五开关SW5″导通时，第(i+1)检测线SENi+1和第(i+2)检测线SENi+2可以电连接。
多路复用器414可以控制检测线SEN1至检测线SENm与ADC 460的连接。例如，在示例性实施例中，多路复用器414可以将检测线SEN1至检测线SENm顺序地连接到ADC 460。
在本发明的示例性实施例中，如图12中所示，可以附加地提供布置在第一开关SW1'和多路复用器414之间并连接到第一开关SW1'中的每一个的辅助电容器Ct。辅助电容器Ct可以存储从第一开关SW1'供应的电压。
图13是图示图11中示出的第一补偿器的操作过程的图。
参考图13，在第一时段T31期间，第二开关SW2'和第三开关SW3'可以被导通。
当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别等效地位于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别等效地位于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第二时段T32中，第一开关SW1'可以被导通。当第一开关SW1'导通时，检测线SEN1至检测线SENm可连接到多路复用器414。
多路复用器414可以将检测线SEN1至检测线SENm顺序地连接到ADC 460。分别存储在检测线SEN1至检测线SENm的电容器C1至电容器Cm中的电压可以被供应给ADC 460。ADC460可以将存储在电容器C1至电容器Cm中的电压作为数字形式的通道数据存储在第二补偿器470中。
在第三时段T33中，第一开关SW1'和第四开关SW4″可以被导通。当第四开关SW4″导通时，第i检测线SENi和第(i+1)检测线SENi+1可以电连接。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第i检测线SENi和第(i+1)检测线SENi+1。
在第三时段T33期间，多路复用器414可以顺序地连接到第i检测线SENi或第(i+1)检测线SENi+1。然后，ADC 460可以生成第一电荷数据(对应于第一检测线SEN1和第二检测线SEN2)、第三电荷数据(对应于第三检测线SEN3和第四检测线SEN4)、第五电荷数据(对应于第五检测线SEN5和第六检测线SEN6)等，并且所生成的电荷数据可以存储在第二补偿器470中。
在第四时段T34期间，第二开关SW2'和第三开关SW3'可以被导通。当第二开关SW2'导通时，第一参考电源Vref1的第一电压V1可以被供应给奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1。第一电压V1可以存储在分别布置于奇数检测线SEN1、SEN3、...、SENm-1中的电容器C1、C3、...、Cm-1中。
当第三开关SW3'导通时，第二参考电源Vref2的第二电压V2可以被供应给偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm。第二电压V2可以存储在分别布置于偶数检测线SEN2、SEN4、...、SENm中的电容器C2、C4、...、Cm中。
在第五时段T35中，第一开关SW1'和第五开关SW5″可以被导通。当第五开关SW5″导通时，第(i+1)检测线SENi+1和第(i+2)检测线SENi+2可以电连接。在这种情况下，可以将预定的电荷共享电压供应给第(i+1)检测线SENi+1和第(i+2)检测线SENi+2。
在第五时段T35期间，多路复用器414可以被顺序地连接到第(i+1)检测线SENi+1或第(i+2)检测线SENi+2。ADC 460可以生成第二电荷数据(对应于第二检测线SEN2和第三检测线SEN3)、第四电荷数据(对应于第四检测线SEN4和第五检测线SEN5)等，并且所生成的电荷数据可以被供应给第二补偿器470。
如上所述，通过第一时段T31至第五时段T35，可以检测检测线SEN1至检测线SENm的通道数据和电荷数据。第二补偿器470或时序控制器600可以通过通道数据和电荷数据来获得每个通道的电容器的比率。例如，在示例性实施例中，第二补偿器470或时序控制器600可以基于第一电容器C1获得第二电容器C2至第m电容器Cm的比率。关于在第二补偿器470或时序控制器600中获得的电容器的比率的信息，即检测线SEN1至检测线SENm的偏差信息，可以作为第一检测数据存储在第二补偿器470中。
时序控制器600可以通过第一检测数据示出通道偏差信息，并且通过反映通道偏差信息来校正第二检测数据。不管通道偏差如何，都可以对应于像素510(参考图1)中的每一个像素的特征信息生成第二数据Data2，从而提高图像质量。
图14是图示根据示例性实施例的用于检测通道偏差信息的驱动方法的图。图14公开了通过两条检测线的本发明的驱动方法的原理。
参考图14，第一电压V1可以被供应给第一检测线(S1000)。对应于第一电压V1的电压可以被供应给等效于第一检测线的第一电容器。ADC 460可以通过存储在第一电容器中的电压来生成数字形式的第一通道数据(S1002)。
在生成第一通道数据之后，可以将与第一电压V1不同的第二电压V2供应给第二检测线(S1004)。对应于第二电压V2的电压可以存储在等效于第二检测线的第二电容器中。ADC 460可以通过存储在第二电容器中的电压来生成数字形式的第二通道数据(S1006)。
图14示出了在生成第一通道数据之后，第二电压被供应给第二检测线。然而，本发明不限于此。例如，在示例性实施例中，可以在将第二电压V2供应给第二检测线之后，生成第一通道数据。
在操作S1006中生成第二通道数据之后，第一检测线和第二检测线可以电连接。存储在第一电容器中的电压和存储在第二电容器中的电压可以被电荷共享，并且可以将预定的电荷共享电压供应给第一检测线和第二检测线(S1008)。
随后，ADC 460可以通过电荷共享电压生成数字形式的电荷数据(S1010)。时序控制器600或第二补偿器470可以通过第一通道数据、第二通道数据和电荷数据来确定或获得第一电容器与第二电容器的比率(S1012)。第一检测线和第二检测线的偏差信息可以用作第一电容器与第二电容器的比率。
根据本发明的示例性实施例的显示装置及其驱动方法，可以检测对应于通道偏差信息的第一检测数据和对应于像素的特征信息的第二检测数据。可以通过第一检测数据从第二检测数据去除通道偏差，因此可以精确地补偿像素的特征偏差。
虽然已经参照本发明的示例性实施例具体示出和描述了本发明，但是应当理解，本发明不限于所公开的示例性实施例。对于本领域技术人员显而易见的是，在不脱离本发明的范围的情况下，可以进行各种修改。
本发明的范围由所附权利要求限定，并不限于说明书的描述，并且落在权利要求的范围内的所有变化和修改都包括在本发明的范围内。

Claims (10)

1.一种显示装置，包括：
连接到数据线和扫描线的像素；
第一补偿器，所述第一补偿器连接到检测线并且在向所述检测线中的相邻检测线供应不同电压的同时，检测所述检测线的偏差信息；以及
检测单元，所述检测单元连接到所述第一补偿器并且检测所述像素中的每一个像素的特征信息。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述第一补偿器向设置在所述相邻检测线中的预定检测线中的第一电容器供应第一电压，并且向设置在所述相邻检测线中的与所述预定检测线相邻的检测线中的第二电容器供应不同于所述第一电压的第二电压。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述检测单元通过存储在所述第一电容器中的电压来生成数字形式的第一通道数据，并且通过存储在所述第二电容器中的电压来生成数字形式的第二通道数据。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其中所述检测单元通过电荷共享所述第一电容器和所述第二电容器生成的电荷共享电压来生成数字形式的电荷数据。
5.根据权利要求4所述的显示装置，进一步包括时序控制器，所述时序控制器通过所述第一通道数据、所述第二通道数据和所述电荷数据获得所述第一电容器与所述第二电容器的比率，
其中所述第一电容器与所述第二电容器的所述比率是所述偏差信息。
6.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述第一补偿器包括连接到所述检测线的多路复用器和连接在所述多路复用器与所述检测单元之间的开关单元。
7.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述第一补偿器包括：
连接到所述检测线的第一开关单元；
连接到所述第一开关单元的多路复用器；以及
连接在所述多路复用器和所述检测单元之间的第二开关单元。
8.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述第一补偿器包括连接到所述检测线的开关单元和连接在所述开关单元与所述检测单元之间的多路复用器。
9.根据权利要求1所述的显示装置，进一步包括时序控制器，所述时序控制器通过所述偏差信息从所述像素中的每一个像素的所述特征信息中去除所述检测线的偏差。
10.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述检测线是所述数据线。
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