KR20230056852A - 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

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박승호
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Abstract

표시 장치는, 주사선들, 제어선들, 데이터선들, 및 센싱선들에 접속되는 화소들; 주사선들로 주사 신호를 공급하고, 제어선들로 제어 신호를 공급하는 주사 구동부; 데이터선들로 영상 데이터 신호 및 센싱 데이터 신호 중 하나를 공급하는 데이터 구동부; 및 이전 센싱 기간과 현재 센싱 기간에 서로 다른 화소들의 구동 트랜지스터들의 특성을 센싱하고, 이전 센싱 기간의 센싱에 기초하여 결정된 대상 화소의 이전 센싱 값과 현재 센싱 기간의 센싱에 기초하여 산출된 대상 화소의 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 현재 센싱 기간의 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정하는 센싱 구동부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING THE SAME}
본 발명은 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 외부 보상 방식이 적용되는 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 복수의 주사선들 및 데이터선들에 접속되는 화소들을 이용하여 영상을 표시한다. 이를 위하여, 화소들 각각은 발광 소자 및 구동 트랜지스터를 구비한다.
구동 트랜지스터는 데이터선으로부터 공급된 데이터 신호에 대응하여 발광 소자로 공급되는 전류량을 제어한다. 발광 소자는 구동 트랜지스터로부터 공급되는 전류량에 대응하여 소정 휘도의 빛을 생성한다.
표시 장치가 균일한 화질의 영상을 표시하기 위해서 화소들 각각에 포함된 구동 트랜지스터는 데이터 신호에 대응하여 균일한 전류를 발광 소자로 공급하여야 한다. 하지만, 화소들 각각에 포함된 구동 트랜지스터는 편차가 존재할 수 있는 고유의 특성값을 갖는다.
일례로, 구동 트랜지스터의 문턱 전압 및 이동도는 화소들 각각에서 상이하게 설정되거나, 사용에 따른 열화에 의해 변할 수 있고, 이에 따라 영상의 휘도 편차가 발생된다.
본 발명의 일 목적은 화소들 중 일부만에 대한 외부 보상 센싱을 진행하고, 현재 실제 센싱되지 않은 대상 화소의 이전 실제 센싱 값과 현재 보간된 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정하는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는, 주사선들, 제어선들, 데이터선들, 및 센싱선들에 접속되는 화소들; 상기 주사선들로 주사 신호를 공급하고, 상기 제어선들로 제어 신호를 공급하는 주사 구동부; 상기 데이터선들로 영상 데이터 신호 및 센싱 데이터 신호 중 하나를 공급하는 데이터 구동부; 및 이전 센싱 기간과 현재 센싱 기간에 서로 다른 화소들의 구동 트랜지스터들의 특성을 센싱하고, 상기 이전 센싱 기간의 상기 센싱에 기초하여 결정된 대상 화소의 이전 센싱 값과 상기 현재 센싱 기간의 상기 센싱에 기초하여 산출된 상기 대상 화소의 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 현재 센싱 기간의 상기 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정하는 센싱 구동부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는 상기 대상 화소와 인접한 화소들의 센싱 값들을 보간하여 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값은 상기 대상 화소에 연결된 센싱선으로부터 제공되는 센싱 신호에 의해 결정되는 실제 센싱 값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값 중 하나를 상기 최종 센싱 값으로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는, 상기 센싱선들 중 적어도 2개가 공유하는 아날로그 프론트 엔드(analog front end)를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는, 상기 이전 센싱 기간에 제1 화소 그룹을 센싱하고 상기 현재 센싱 기간에 제2 화소 그룹을 센싱하도록, 상기 센싱선들과 상기 아날로그 프론트 엔드 사이의 연결을 제어하는 센싱선 제어부; 상기 현재 센싱 기간에 상기 아날로그 프론트 엔드로부터 제공되는 신호에 기초하여 상기 제2 화소 그룹에 포함되는 화소들의 디지털 형식의 실제 센싱 값들을 출력하는 아날로그 디지털 컨버터; 상기 제2 화소 그룹의 상기 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 현재 센싱 기간에 센싱되지 않은 화소들에 대한 예비 센싱 값들을 산출하는 보간부; 상기 이전 센싱 기간에 센싱된 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값의 차이인 센싱 값 차이를 산출하는 차이 산출부; 및 상기 센싱 값 차이와 기 설정된 기준 값을 비교하여 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값을 결정하는 센싱 값 결정부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값보다 큰 경우, 상기 센싱 값 결정부는 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값 이하인 경우, 상기 센싱 값 결정부는 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는, 이전 센싱 기간에 센싱된 화소들의 패턴 정보에 상응하는 센싱선 옵션 정보 및 상기 화소들 각각의 상기 이전 센싱 값을 저장하는 메모리를 더 포함할 수 있다. 상기 센싱선 제어부는 상기 센싱선 옵션 정보에 기초하여 상기 현재 센싱 기간에 선택되는 센싱선들을 제어하며, 상기 차이 산출부는 상기 현재 센싱 기간에 대응하여 상기 메모리로부터 상기 제2 화소 그룹을 제외한 화소들 각각의 상기 이전 센싱 값을 독출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 결정부는 상기 최종 센싱 값을 상기 메모리에 업데이트할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는, 영상 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스 데이터를 누적하는 스트레스 누적부를 더 포함할 수 있다. 상기 센싱 구동부는 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각에 대한 기준 값을 가변하는 기준 값 결정부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 대상 화소의 상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값보다 큰 경우, 상기 기준 값 결정부는 상기 대상 화소에 사용되는 상기 기준 값을 증가시킬 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는, 상기 최종 센싱 값에 기초하여 영상 데이터의 보상 값을 결정하는 보상부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱선들과 상기 아날로그 프론트 엔드는 2:1의 비율로 연결될 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은, 이전 센싱 기간에 제1 화소 그룹으로부터 제1 센싱 신호들을 출력하고, 상기 제1 센싱 신호들에 기초하여 상기 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 이전 센싱 값을 생성하는 단계; 현재 센싱 기간에 상기 제1 화소 그룹과 다른 제2 화소 그룹으로부터 제2 센싱 신호들을 출력하고, 상기 제2 센싱 신호들에 기초하여 상기 제2 화소 그룹의 화소들의 실제 센싱 값들을 생성하는 단계; 상기 현재 센싱 기간에 대응하여 상기 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 예비 센싱 값을 산출하는 단계; 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 최종 센싱 값을 결정하는 단계; 및 상기 실제 센싱 값들 및 상기 최종 센싱 값에 기초하여 영상 데이터를 보상하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 상기 최종 센싱 값은 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값 중 하나로 결정될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 최종 센싱 값을 결정하는 단계는, 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값의 차이인 센싱 값 차이를 산출하는 단계; 상기 센싱 값 차이와 기 설정된 기준 값을 비교하는 단계; 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값보다 큰 경우, 상기 이전 센싱 값을 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는 단계; 및 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값 이하인 경우, 상기 예비 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 차이와 상기 기준 값을 비교하는 단계는, 상기 영상 데이터를 누적하여 상기 화소들 각각의 스트레스 데이터를 생성하는 단계; 상기 스트레스 데이터와 기 설정된 임계 값을 비교하는 단계; 상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값 이하인 경우, 제1 값을 상기 기준 값으로 설정하는 단계; 및 상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값을 초과하는 경우, 상기 제1 값보다 큰 제2 값을 상기 기준 값으로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는, 센싱선들에 접속되는 화소들; 및 제1 센싱 기간에 제1 화소 그룹의 화소들로부터 제공되는 센싱 신호들에 기초하여 제1 실제 센싱 값들을 생성하고, 제2 센싱 기간에 제2 화소 그룹의 화소들로부터 제공되는 센싱 신호들에 기초하여 제2 실제 센싱 값들을 생성하는 센싱 구동부를 포함할 수 있다. 상기 센싱 구동부는 상기 제1 화소 그룹에 포함되는 대상 화소와 인접한 상기 제2 화소 그룹의 상기 화소들의 일부의 상기 제2 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 대상 화소의 예비 센싱 값을 산출할 수 있다. 상기 센싱 구동부는 상기 제1 실제 센싱 값들 중 상기 대상 화소의 실제 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 제2 센싱 기간에 대응하는 상기 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 구동부는 상기 대상 화소의 상기 실제 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값 중 하나를 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하고, 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값에 기초하여 상기 대상 화소의 영상 데이터를 보상할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 이의 구동 방법은 센싱 기간에 전체 화소들 중 일부만이 실제 센싱되고, 센싱되지 않은 화소들의 센싱 값은 보간을 통해 산출되어, 외부 보상을 위한 화소 센싱 시간이 감소될 수 있다.
또한, 대상 화소의 보간된 센싱 값(예를 들어, 예비 센싱 값)과 이전 실제 센싱 값의 차이에 따라 대상 화소의 최종 센싱 값이 결정됨으로써, 센싱 시간이 감소와 함께 보간 오차(보간 에러) 발생이 감소될 수 있다. 따라서, 센싱 신뢰도 및 영상 품질이 개선될 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치의 동작의 일 예를 나타내는 타이밍도이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 5a는 제1 센싱 기간에 센싱되는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5b는 제2 센싱 기간에 센싱되는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 5a 및 도 5b의 화소들을 포함하는 화소부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 4의 센싱 구동부에 포함되는 아날로그 프론트 엔드들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 1의 표시 장치의 동작 및 이에 의해 결정되는 화소들의 센싱 값들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 도 1의 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 10은 도 9의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 11은 도 1의 표시 장치의 동작 및 이에 의해 결정되는 화소들의 센싱 값들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 도 1의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 14는 도 13의 표시 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 15는 도 14의 표시 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(1000)는 화소부(100), 주사 구동부(200), 데이터 구동부(300), 센싱 구동부(400), 및 타이밍 제어부(600)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 표시 장치(1000)는 메모리(700)를 더 포함할 수 있다.
각각의 기능부를 하나의 IC에 집적할 것인지, 복수의 IC들에 집적할 것인지, 표시 기판에 마운트할 것인지는 표시 장치(1000)의 사양(specification)에 따라 다양하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 타이밍 제어부(600), 데이터 구동부(300), 및 센싱 구동부(400)의 적어도 일부의 기능은 하나의 IC에 집적될 수도 있다.
표시 장치(1000)는 평면 표시 장치, 플렉서블(flexible) 표시 장치, 커브드(curved) 표시 장치, 폴더블(foldable) 표시 장치, 벤더블(bendable) 표시 장치일 수 있다. 또한, 표시 장치는 투명 표시 장치, 헤드 마운트(head-mounted) 표시 장치, 웨어러블(wearable) 표시 장치 등에 적용될 수 있다. 또한, 표시 장치(1000)는 스마트폰, 태블릿, 스마트 패드, TV, 모니터 등의 다양한 전자 기기에 적용될 수 있다.
한편, 표시 장치(1000)는 유기 발광 표시 장치, 액정 표시 장치 등으로 구현될 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서, 표시 장치(1000)의 구성이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 표시 장치(1000)는 무기 발광 소자, 퀀텀 닷/웰 발광 소자(quantum dot/well light emitting diode), 또는 무기/유기 복합 발광 소자를 포함하는 표시 장치일 수도 있다.
일 실시예에서, 표시 장치(1000)는 영상을 표시하기 위한 표시 기간 및 화소(PX)들 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 센싱하기 위한 센싱 기간으로 구분되어 구동될 수 있다.
화소부(100)는 데이터선들(DL1 내지 DLm, 단, m은 자연수), 주사선들(SL1 내지 SLn, 단, n은 자연수), 제어선들(CL1 내지 CLn), 및 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)에 접속되도록 위치되는 화소(PX)들을 구비한다. 화소(PX)들은 외부로부터 제1 전원 전압(VDD) 및 제2 전원 전압(VSS)을 공급받을 수 있다.
한편, 도 1에서는 n개의 주사선들(SL1 내지 SLn)이 도시되었지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다. 일례로, 화소(PX)의 회로 구조에 대응하여 화소부(100)에는 하나 이상의 제어선, 주사선, 발광 제어선, 센싱선 등이 추가로 형성될 수 있다.
일 실시예에서, 화소(PX)에 포함되는 트랜지스터들은 N-타입의 산화물 박막 트랜지스터일 수 있다. 예를 들어, 산화물 박막 트랜지스터는 저온 폴리 옥사이드(Low Temperature Polycrystalline Oxide; LTPO) 박막 트랜지스터일 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서, N-타입 트랜지스터들이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 트랜지스터들에 포함되는 액티브 패턴(반도체층)은 무기물 반도체(예를 들면, 아몰퍼스 실리콘(amorphous silicon) 및/또는 폴리 실리콘(poly silicon)) 또는 유기물 반도체 등을 포함할 수 있다. 또한, 표시 장치(1000)에 포함되는 트랜지스터들 중 적어도 하나는 P-타입 트랜지스터로 대체될 수도 있다.
타이밍 제어부(600)는 외부로부터 공급되는 동기 신호들에 대응하여 데이터 구동 제어 신호(DCS) 및 주사 구동 제어 신호(SCS)를 생성할 수 있다. 데이터 구동 제어 신호(DCS)는 데이터 구동부(300)로 공급되고, 주사 구동 제어 신호(SCS)는 주사 구동부(200)로 공급될 수 있다.
또한, 타이밍 제어부(600)는 외부로부터 공급되는 입력 영상 데이터(IDATA)에 기초하여 보상된 영상 데이터(CDATA)를 데이터 구동부(300)에 공급할 수 있다.
데이터 구동 제어 신호(DCS)에는 소스 시작 신호 및 클럭 신호들이 포함될 수 있다. 소스 시작 신호는 데이터의 샘플링 시작 시점을 제어할 수 있다. 클럭 신호들은 샘플링 동작을 제어하기 위하여 사용될 수 있다.
주사 구동 제어 신호(SCS)에는 주사 시작 신호, 제어 시작 신호, 및 클럭 신호들이 포함될 수 있다. 주사 시작 신호는 주사 신호의 타이밍을 제어할 수 있다. 제어 시작 신호는 제어 신호의 타이밍을 제어할 수 있다. 클럭 신호들은 주사 시작 신호 및/또는 제어 시작 신호를 쉬프트하기 위하여 사용될 수 있다.
타이밍 제어부(600)는 센싱 구동부(400)의 동작을 더 제어할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 제어부(600)는 센싱선(SSL1 내지 SSLm)들을 통해 화소(PX)들에 기준 전압을 공급하는 타이밍 및/또는 센싱선(SSL1 내지 SSLm)들을 통해 화소(PX)에서 생성된 전류를 센싱하는 타이밍을 제어할 수 있다.
주사 구동부(200)는 타이밍 제어부(600)로부터 주사 구동 제어 신호(SCS)를 수신할 수 있다. 주사 구동부(200)는 주사 구동 제어 신호(SCS)에 기초하여 주사선들(SL1 내지 SLn)로 주사 신호를 공급하고, 제어선들(CL1 내지 CLn)로 제어 신호를 공급할 수 있다.
일례로, 주사 구동부(200)는 주사선들(SL1 내지 SLn)로 주사 신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 주사선들(SL1 내지 SLn)로 주사 신호가 순차적으로 공급되면 화소(PX)들이 수평라인 단위로 선택될 수 있다. 이를 위하여, 주사 신호는 화소(PX)들에 포함된 트랜지스터가 턴-온될 수 있도록 게이트 온 전압(예를 들면, 논리 하이 레벨)으로 설정될 수 있다.
마찬가지로, 주사 구동부(200)는 제어선들(CL1 내지 CLn)로 제어 신호를 공급할 수 있다. 제어 신호는 화소에 흐르는 구동 전류(즉, 구동 트랜지스터를 통해 흐르는 전류)를 센싱(또는, 추출)하는 데에 이용될 수 있다. 주사 신호와 제어 신호가 공급되는 타이밍 및 파형은 표시 기간 및 센싱 기간에 따라 다르게 설정될 수 있다.
한편, 도 1에는 하나의 주사 구동부(200)가 주사 신호와 제어 신호를 모두 출력하는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 주사 구동부(200)는 주사 신호를 화소부(100)에 공급하는 제1 주사 구동부 및 제어 신호를 화소부(100)에 공급하는 제2 주사 구동부를 포함할 수 있다.
데이터 구동부(300)는 타이밍 제어부(600)로부터 데이터 구동 제어 신호(DCS)를 공급받을 수 있다. 데이터 구동부(300)는 센싱 기간에는 화소 특성 검출을 위한 데이터 신호(예를 들어, 센싱 데이터 신호)를 화소부(100)에 공급할 수 있다. 데이터 구동부(300)는 표시 기간에는 보상된 영상 데이터(CDATA)에 기초하여 영상 표시를 위한 데이터 신호를 화소부(100)에 공급할 수 있다.
센싱 구동부(400)는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)로부터 제공되는 센싱 신호(예를 들어, 센싱 전류)들에 기초하여 화소(PX)들의 특성 값을 보상하는 보상 값을 생성할 수 있다. 예를 들어, 센싱 구동부(400)는 화소(PX)에 포함되는 구동 트랜지스터의 특성(예를 들어, 문턱 전압 변화, 및 이동도 변화)을 검출 및 보상할 수 있다. 또한, 센싱 구동부(400)는 화소(PX)의 발광 소자의 특성 변화 등을 검출 및 보상할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 구동부(400)는, 제1 센싱 기간(예를 들어, 이전 센싱 기간)에 제1 화소 그룹의 화소들로부터 센싱 신호들을 검출하고, 제2 센싱 기간(예를 들어, 현재 센싱 기간)에 제2 화소 그룹의 화소들로부터 센싱 신호들을 검출할 수 있다. 여기서, 제1 화소 그룹과 제2 화소 그룹은 서로 다른 화소들을 포함할 수 있다.
예를 들어, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)에 접속되어 센싱 신호들을 수신하는 센싱 구동부(400)의 아날로그 프론트 엔드들(analog front ends; AFE) 각각은 2개 이상의 센싱선들에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 센싱선들(SSL1, SSL2)은 하나의 아날로그 프론트 엔드를 공유할 수 있다. 따라서, 제1 센싱 기간 및 제2 센싱 기간에 각각 화소(PX)들 중 일부만이 센싱될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 센싱 기간 및 제2 센싱 기간은 연속할 수도 있고, 상호 이격할 수도 있다. 예를 들어, 센싱 기간은 표시 장치에 대한 턴-오프 명령에 의해 활성화될 수 있다. 즉, 제1 센싱 기간은 표시 장치(1000)의 이전 턴-오프 시에 진행되고, 제2 센싱 기간은 표시 장치(1000)가 턴-온된 후 다시 턴-오프될 때 진행될 수 있다.
화소부(100)의 화소(PX)들이 제1 화소 그룹과 제2 화소 그룹으로 구분되어 센싱되는 경우, 제1 화소 그룹은 제N-1(단, N은 1보다 큰 정수) 센싱 기간에 실제 센싱되는 제1 화소들일 수 있고, 제2 화소 그룹은 제N 센싱 기간에 실제 센싱되는 제2 화소들일 수 있다. 제1 화소들과 제2 화소들은 서로 다른 화소들일 수 있다. 예를 들어, 제1 화소들과 제2 화소들은 행 방향 및 열 방향으로 상호 교번하여 배치되는 것으로 정의될 수 있다.
일 실시예에서, 제N-1 센싱 기간에 제1 화소들(즉, 제1 화소 그룹)로부터 센싱 신호들이 센싱 구동부(400)에 공급되고, 제1 화소들에 대한 실제 센싱 값들인 제1 그룹 센싱 값들이 생성될 수 있다. 또한, 센싱 구동부(400)는 제1 그룹 센싱 값들에 대한 보간 연산을 통해 제2 화소들에 대한 예비 센싱 값들을 산출할 수 있다.
제N-1 센싱 기간 전에 화소 센싱이 수행되지 않은 경우, 제2 화소들의 예비 센싱 값들은 그대로 제N-1 센싱 기간에서의 제2 그룹 최종 센싱 값들로 결정될 수 있다. 예를 들어, 제N-1 센싱 기간의 제2 화소들의 예비 센싱 값들은 제N-1 센싱 기간의 제2 화소들의 제2 그룹 최종 센싱 값들과 실질적으로 동일할 수 있다.
실시예에 따라, 센싱 구동부(400)는 제1 그룹 센싱 값들 및 제2 그룹 최종 센싱 값들을 이용하여 제N-1 센싱 기간의 센싱 데이터에 대응하는 센싱 맵을 생성할 수 있다. 예를 들어, 제N-1 센싱 기간의 센싱 맵은 제N-1 센싱 기간에서의 화소(PX)들 각각에 대응하는 센싱 값들일 수 있다.
일 실시예에서, 제N 센싱 기간에 제2 화소들(즉, 제2 화소 그룹)로부터 센싱 신호들이 센싱 구동부(400)에 공급되고, 제2 화소들에 대한 실제 센싱 값들인 제2 그룹 센싱 값들이 생성될 수 있다. 또한, 센싱 구동부(400)는 제2 그룹 센싱 값들에 대한 보간 연산을 통해 제1 화소들에 대한 예비 센싱 값들을 산출할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 구동부(400)는 제N-1 센싱 기간의 센싱 맵에 포함되는 제1 그룹 센싱 값들과 제N 센싱 기간에 산출된 제1 화소들의 예비 센싱 값들의 차이들에 기초하여 제N 센싱 기간의 제1 화소들의 최종 센싱 값들을 산출할 수 있다. 제N 센싱 기간의 제1 화소들의 최종 센싱 값들은 제1 그룹 최종 센싱 값들로 정의될 수 있다.
센싱 구동부(400)는 제1 그룹 최종 센싱 값들 및 제2 그룹 최종 센싱 값들을 이용하여 제N 센싱 기간의 화소(PX)들의 센싱 데이터에 대응하는 센싱 맵을 생성할 수 있다. 예를 들어, 제N 센싱 기간의 센싱 맵은 제N 센싱 기간에서의 화소(PX)들 각각에 대응하는 센싱 값들일 수 있다. 또한, 제N+1 기간에서는 다시 제1 화소들(즉, 제1 화소 그룹)로부터 센싱 신호들이 센싱 구동부(400)에 공급되어 제1 그룹 센싱 값들이 생성(또는, 업데이트)되고, 이들에 대한 보간 연산을 통해 제2 화소들에 대한 예비 센싱 값들이 산출될 수 있다. 센싱 구동부(400)는 제N 센싱 기간의 센싱 맵에 포함되는 제2 그룹 센싱 값들과 제N+1 센싱 기간에 산출된 제2 화소들의 예비 센싱 값들의 차이들에 기초하여 제N+1 센싱 기간의 제2 화소들의 최종 센싱 값들을 산출할 수 있다.
이와 같이, 센싱 기간에 전체 화소들 중 일부만이 센싱되고, 센싱되지 않은 나머지 화소들 각각의 센싱 값은 현재 센싱된 값들의 보간 값 또는 이전에 실제 센싱된 값 중 선택된 하나로 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 센싱 기간 동안 센싱 구동부(400)는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)을 통해 소정의 기준 전압을 화소(PX)들에 공급하고, 화소(PX)로부터 추출되는 전류 또는 전압을 제공받을 수 있다. 상기 추출되는 전류 또는 전압은 센싱 값에 대응하고, 센싱 구동부(400)는 센싱 값에 기초하여 구동 트랜지스터의 특성 변화를 검출할 수 있다. 센싱 구동부(400)는 상기 검출된 특성 변화에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보상하는 보상 값을 산출할 수 있다. 보상 값은 타이밍 제어부(600) 또는 데이터 구동부(300)에 제공될 수 있다.
표시 기간 동안 센싱 구동부(400)는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)을 통해 영상 표시를 위한 소정의 기준 전압을 화소부(100)에 공급할 수 있다.
도 1에는 센싱 구동부(400)가 타이밍 제어부(600)와 별개의 구성인 것으로 도시되었으나, 센싱 구동부(400)의 적어도 일부의 구성 및/또는 기능(예를 들어, 소프트웨어 구성 및/또는 하드웨어 구성)은 타이밍 제어부(600)에 포함될 수 있다. 예를 들어, 센싱 구동부(400)와 타이밍 제어부(600)는 하나의 구동 IC로 형성될 수 있다. 나아가, 데이터 구동부(300) 또한 타이밍 제어부(600)에 포함될 수 있다. 따라서, 센싱 구동부(400), 데이터 구동부(300), 및 타이밍 제어부(600) 중 적어도 일부는 하나의 구동 IC로 형성될 수 있다.
메모리(700)는 화소 센싱에 의해 추출되는 센싱 값들 및 보상 값들을 저장할 수 있다. 또한, 메모리(700)는 이전 센싱 기간(예를 들어, 제1 센싱 기간)에 선택된 화소 그룹과 관련된 정보인 센싱선 옵션 정보를 저장할 수 있다. 실시예에 따라, 메모리(700)는 영상 데이터 보상에 필요한 룩업테이블 등을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 메모리(700)는 비휘발성(non-volatile) 메모리일 수 있다. 예를 들어, 메모리(700)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM), 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 및 플래시 메모리(flash memory) 등으로 구현될 수 있다.
센싱 구동부(400)는 필요에 따라 생성된 데이터를 메모리(700)에 기입하거나, 메모리(700)에 저장된 데이터 중 필요한 정보를 독출할 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 2에서는 설명의 편의를 위하여 i번째 수평라인에 위치되며, j번째 데이터선(DLj)과 접속된 화소를 도시하기로 한다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 화소(PXij)는 발광 소자(LD), 제1 트랜지스터(T1, 구동 트랜지스터), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
발광 소자(LD)의 제1 전극(애노드 전극 또는 캐소드 전극)은 제2 노드(N2)에 접속되고 제2 전극(캐소드 전극 또는 애노드 전극)은 제2 전원 전압(VSS)이 제공되는 제2 전원선에 접속될 수 있다. 발광 소자(LD)는 제1 트랜지스터(T1)로부터 공급되는 전류량에 대응하여 소정 휘도의 빛을 생성한다.
제1 트랜지스터(T1)의 제1 전극은 제1 전원 전압(VDD)이 제공되는 제1 전원선에 접속되고, 제2 전극은 발광 소자(LD)의 제1 전극에 접속될 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속될 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 발광 소자(LD)로 흐르는 전류량을 제어한다.
제2 트랜지스터(T2)의 제1 전극은 데이터선(DLj)에 접속되고, 제2 전극은 제1 노드(N1)에 접속될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 i번째 주사선(SLi, 이하, 주사선(SLi))에 접속될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 주사선(SLi)으로 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 j번째 데이터선(DLj, 이하, 데이터선(DLj))으로부터의 데이터 신호를 제1 노드(N1)로 전달할 수 있다.
제3 트랜지스터(T3)는 j번째 센싱선(SSLj, 이하, 센싱선(SSLj))과 제1 트랜지스터(T1)의 제2 전극(즉, 제2 노드(N2)) 사이에 접속될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 i번째 제어선(CLi, 이하, 제어선(CLi))에 접속될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 제어선(CLi)으로 제어 신호가 공급될 때 턴-온되어 센싱선(SSLj)과 제2 노드(N2, 즉, 제1 트랜지스터(T1)의 제1 전극)를 전기적으로 접속시킬 수 있다.
일 실시예에서, 제3 트랜지스터(T3)가 턴-온되면, 기준 전압(Vint)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다. 다른 실시예에서, 제3 트랜지스터(T3)가 턴-온되면, 제1 트랜지스터(T1)에서 생성된 센싱 신호(예를 들어, 센싱 전류(IS)가 센싱 구동부(400)로 공급될 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 접속될 수 있다. 스토리지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이의 전압 차에 대응하는 전압을 저장할 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에서 화소(PXij)의 회로 구조는 도 2에 의하여 한정되지 않는다. 일례로, 발광 소자(LD)는 제1 전원 전압(VDD)을 제공하는 제1 전원선과 제1 트랜지스터(T1)의 제1 전극 사이에 위치될 수도 있다.
일 실시예에서, 센싱선(SSLi)은 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)에 연결될 있다. 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)는 화소부(100)가 배치되는 표시 패널에 집적되거나, 센싱 구동부(400)에 포함될 수 있다.
제1 스위치(SW1)와 제2 스위치(SW2)는 서로 교번하여 턴-온될 수 있다. 제1 스위치(SW1)가 턴-온되면 기준 전압(Vint)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다. 따라서, 제2 노드(N2)의 전압(즉, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전압)은 기준 전압(Vint)으로 초기화될 수 있다.
제2 스위치(SW2)가 턴-온되면 화소(PXij)의 센싱 전류(IS)가 센싱 구동부(400)로 흐를 수 있다.
한편, 도 2에서는 트랜지스터들(T1 내지 T3)을 NMOS로 도시하였지만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 일례로, 트랜지스터들(T1 내지 T3) 중 적어도 하나는 PMOS로 형성될 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치의 동작의 일 예를 나타내는 타이밍도이다.
도 1, 도 2, 및 도 3을 참조하면, 표시 장치(1000)는 영상을 표시하기 위한 표시 기간(DP) 및 화소(PX)들 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)의 특성을 센싱하기 위한 센싱 기간(SP)으로 구분되어 구동될 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 기간(SP)에는, 센싱된 특성 정보에 기초하여 영상 데이터가 보상될 수도 있다.
표시 기간(DP) 동안 화소(PXij)의 제1 스위치(SW1)가 턴-온되고, 제2 스위치(SW2)는 턴-오프 상태로 설정될 수 있다. 따라서, 센싱선(SSLj)으로 정전압인 기준 전압(Vint)이 공급될 수 있다.
표시 기간(DP) 동안 주사 구동부(200)는 주사선들(SL1 내지 SLn)로 주사 신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 또한, 표시 기간(DP) 동안 주사 구동부(200)는 제어선들(CL1 내지 CLn)로 제어 신호를 순차적으로 공급할 수 있다. i번째 수평라인에 대하여, 주사 신호와 제어 신호는 실질적으로 동시에 공급될 수 있다. 따라서, 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)는 동시에 턴-온 또는 턴-오프될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)가 턴-온되면 영상 데이터에 대응하는 데이터 신호(DS)가 제1 노드(N1)로 공급될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)가 턴-온되면 기준 전압(Vint)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다. 따라서, 스토리지 커패시터(Cst)는 데이터 신호(DS)와 기준 전압(Vint)의 전압 차에 대응하는 전압을 저장할 수 있다.
여기서, 기준 전압(Vint)은 정전압으로 설정되기 때문에 스토리지 커패시터(Cst)에 저장되는 전압은 데이터 신호(DS)에 의해 안정적으로 결정될 수 있다.
주사선(SLi) 및 제어선(CLi)으로의 주사 신호 및 제어 신호의 공급이 중단되면, 제2 트랜지스터(T2) 및 제3 트랜지스터(T3)가 턴-오프될 수 있다.
이후, 제1 트랜지스터(T1)는 스토리지 커패시터(Cst)에 저장된 전압에 대응하여 발광 소자(LD)로 공급되는 전류량(구동 전류)을 제어할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)는 제1 트랜지스터(T1)의 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 기간(SP) 동안 주사 구동부(200)는 주사선들(SL1 내지 SLn)로 주사 신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 또한, 센싱 기간(SP) 동안 주사 구동부(200)는 제어선들(CL1 내지 CLn)로 제어 신호를 순차적으로 공급할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 기간(SP)에 공급되는 제어 신호의 길이는 표시 기간(DP)에 공급되는 제어 신호의 길이보다 길 수 있다. 또한, 센싱 기간(SP)에, 제어선(CLi)으로 공급되는 제어 신호의 일부는 주사선(SLi)으로 공급되는 주사 신호와 중첩할 수 있다.
일 실시예에서, 제어 신호의 길이는 주사 신호의 길이보다 길 수 있다. 예를 들어, 제어선(CLi)으로 공급되는 제어 신호는 주사선(SLi)으로 공급되는 주사 신호와 동시에 공급되기 시작하고, 제어 신호가 주사 신호보다 더 오랫동안 공급될 수 있다.
주사 신호와 제어 신호가 동시에 공급되면, 제2 및 제3 트랜지스터들(T2, T3)이 턴-온된다. 이 때, 제1 스위치(SW1)는 턴-온 상태이다. 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온되면 센싱을 위한 센싱 데이터 신호(SGV, 또는 센싱 데이터 전압)가 제1 노드(N1)로 공급될 수 있다. 이와 동시에 제3 트랜지스터(T3)의 턴-온에 의해 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vint)이 공급될 수 있다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cst)에 센싱 데이터 신호(SGV)와 기준 전압(Vint)의 전압 차에 대응하는 전압이 저장될 수 있다.
이후, 주사 신호의 공급이 중단되면 제2 트랜지스터(T2)가 턴-오프될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)가 턴-오프되면 제1 노드(N1)가 플로팅된다. 이에 따라, 제2 노드(N2)의 전압이 상승하게 되고, 제1 트랜지스터(T1)를 통해 센싱 전류(IS)가 발생된다. 전압 상승이 이루어지는 동안, 센싱 전류(IS)는 센싱선(SSLj)으로 흐르게 되고, 센싱 커패시터(Cse)가 충전될 수 있다. 전압 상승의 속도는 제1 트랜지스터(T1)의 전류 능력, 즉, 이동도에 따라 달라질 수 있다.
기 설정된 시간 동안 전압 상승이 이루어진 후, 제2 스위치(SW2)가 턴-온되어 센싱선(SSLj)과 센싱 구동부(400)에 접속될 수 있다. 예를 들어, 센싱 구동부(400)에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터는 센싱 커패시터(Cse)에 충전된 전압(즉, 센싱 전류(IS)에 상응함)에 기초하여 디지털 코드를 생성할 수 있다.
센싱 기간(SP)은 표시 장치(1000)의 실사용 중에 소정 시점마다 수행될 수 있다. 일례로, 표시 장치(1000)가 턴-온 되는 시간 및/또는 턴-오프되는 시간의 일부에 센싱 기간(SP)이 배치될 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 센싱 기간(SP)은 소정의 표시 기간(DP)들 사이에 삽입될 수 있다. 따라서, 화소부(100)는 지속적으로 균일한 화질의 영상을 표시할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 기간(SP)에 화소부(100) 전체의 화소(PX)들 중 일부만에 대한 화소 센싱이 진행될 수 있다. 예를 들어, 제1 센싱 기간(예를 들어, 이전 센싱 기간)에는 제1 화소 그룹에 대한 화소 센싱이 수행되고, 제2 센싱 기간(예를 들어, 현재 센싱 기간)에는 제2 화소 그룹에 대한 화소 센싱이 수행될 수 있다. 제1 화소 그룹과 제2 화소 그룹은 서로 다른 화소들을 포함할 수 있다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이고, 도 5a는 제1 센싱 기간에 센싱되는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이며, 도 5b는 제2 센싱 기간에 센싱되는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1, 도 4, 도 5a, 및 도 5b를 참조하면, 센싱 구동부(400)는 아날로그 프론트 엔드 블록(410), 센싱선 제어부(420), 아날로그 디지털 컨버터 블록(430), 보간부(440), 차이 산출부(450), 센싱 값 결정부(460), 및 보상부(470)를 포함할 수 있다.
센싱 구동부(400)는 상호 인접한 센싱 기간들 각각에 서로 다른 화소들의 구동 트랜지스터들의 특성을 센싱할 수 있다.
아날로그 프론트 엔드 블록(410)은 제1 내지 제k(단, k는 m보다 작은 자연수) 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)을 포함할 수 있다. 아날로그 프론트 엔드 블록(410)은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)에 연결될 수 있다. 아날로그 프론트 엔드 블록(410)은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)로부터 제공되는 센싱 신호들 또는 상기 센싱 신호들이 샘플링된 전압들을 아날로그 디지털 컨버터 블록(430)에 제공할 수 있다.
제1 내지 제k 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm) 중 적어도 2개에 연관될 수 있다. 즉, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm) 중 적어도 2개는 제1 내지 제k 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 중 하나를 공유할 수 있다.
예를 들어, 제1 및 제2 센싱선들(SSL1, SSL2)은 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)를 공유하고, 제3 및 제4 센싱선들(SSL3, SSL4)은 제2 아날로그 프론트 엔드(AFE2)를 공유할 수 있다. 제m-1 및 제m 센싱선들(SSLm-1, SSLn)은 제k 아날로그 프론트 엔드(AFEk)를 공유할 수 있다. 이에 따라, 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)의 개수는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)의 개수의 절반에 상응하도록 감소될 수 있다. 즉, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)은 2:1의 비율로 연결될 수 있다. 이에 따라, 전체 화소들 중 절반이 센싱될 수 있고, 센싱 시간이 감소될 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)의 연결 비율이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)의 연결 비율은 3:1, 4:1 등의 비율로 확장될 수도 있다.
아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 센싱선 제어부(420)의 제어에 기초하여 한번에 하나의 센싱선에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)는 제1 센싱선(SSL1) 또는 제2 센싱선(SSL2)에 선택적으로 연결될 수 있다. 제2 아날로그 프론트 엔드(AFE2)는 제3 센싱선(SSL3) 또는 제4 센싱선(SSL4)에 선택적으로 연결될 수 있다. 제k 아날로그 프론트 엔드(AFEk)는 제m-1 센싱선(SSLm-1) 또는 제m 센싱선(SSLm)에 선택적으로 연결될 수 있다.
아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 복수의 스위치들을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 센싱 신호에 대한 샘플링 전압들을 생성하는 커패시터를 더 포함할 수 있다. 또한, 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 센싱 신호를 가공하기 위해, 필요에 따라 전하 증폭기, 로우 패스 필터, 밴드 패스 필터, 및 쵸퍼(chopper) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
센싱선 제어부(420)는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 사이의 연결을 제어할 수 있다. 예를 들어, 센싱선 제어부(420)는 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)의 스위치들을 제어하는 제어 신호들을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 구동부(400)는 제1 센싱 기간(또는, 이전 센싱 기간)에 제1 화소 그룹(PG1)을 센싱하고, 제2 센싱 기간(또는, 현재 센싱 기간)에 제2 화소 그룹(PG2)을 센싱할 수 있다. 예를 들어, 도 5a 및 도 5b의 제1 화소 그룹(PG1) 및 제2 화소 그룹(PG2)은 화소부(100) 전체의 화소들일 수 있다. 이 경우, 화소부(100)는 제1 화소 그룹(PG1) 및 제2 화소 그룹(PG2)으로 구분되어 구동될 수 있다.
도 5a에 도시된 바와 같이, 제1 화소 그룹(PG1)에 포함되는 화소들(P11, P13, P15, P22, P24, P26, P31, P33, P35, P42, P44, P46, P51, P53, P55, P62, P64, P66)은 제1 센싱 기간에서 실제 센싱 화소들(RSP)일 수 있다. 실제 센싱 화소들(RSP)은 해당 타이밍에 센싱 구동부(400)와 전기적으로 연결되어 센싱 구동부(400)로 센싱 신호를 제공하는 화소들일 수 있다.
예를 들어, 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)은 2:1의 비율로 연결되는 경우, 제1 화소 그룹(PG1) 및 제2 화소 그룹(PG2)은 각각 전체 화소들 중 서로 다른 절반을 포함할 수 있다. 이에 따라, 화소 센싱 시간이 절감될 수 있다.
일 실시예에서, 화소들(P11, P21, P31, P41, P51, P61)은 제1 센싱선(SSL1)에 연결되고, 화소들(P12, P22, P32, P42, P52, P62)은 제2 센싱선(SSL2)에 연결될 수 있다. 제1 및 제2 센싱선들(SSL1, SSL2)은 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)를 공유하며, 제1 센싱 기간에 P11 -> P22 -> P31 -> P42 -> P51 -> P62의 순서로 센싱 신호들이 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)를 통해 센싱 구동부(400)에 공급될 수 있다. 따라서, 제1 센싱 기간에는 "제1 센싱선(SSL1) -> 제2 센싱선(SSL2)의 순서(예를 들어, 홀수 번째 -> 짝수 번째)"로 제1 센싱선(SSL1)과 제2 센싱선(SSL2)이 교번하여 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)에 연결될 수 있다. 센싱선 제어부(420)는 제어 신호를 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)에 제공함으로써 제1 센싱 기간의 센싱 동작을 제어할 수 있다.
도 5b에 도시된 바와 같이, 제2 화소 그룹(PG2)에 포함되는 화소들(P12, P14, P16, P21, P23, P25, P32, P34, P36, P41, P43, P45, P52, P54, P56, P61, P63, P65)은 제2 센싱 기간에서 실제 센싱 화소들(RSP)일 수 있다.
제2 센싱 기간에 P12 -> P21 -> P32 -> P41 -> P52 -> P61의 순서로 센싱 신호들이 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)를 통해 센싱 구동부(400)에 공급될 수 있다. 따라서, 제2 센싱 기간에는 "제2 센싱선(SSL2) -> 제1 센싱선(SSL1)의 순서(예를 들어, 짝수 번째 -> 홀수 번째)"로 제2 센싱선(SSL2)과 제1 센싱선(SSL1)이 교번하여 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)에 연결될 수 있다. 센싱선 제어부(420)는 제어 신호를 제1 아날로그 프론트 엔드(AFE1)에 제공함으로써 제2 센싱 기간의 센싱 동작을 제어할 수 있다.
제2 내지 제k 아날로그 프론트 엔드들(AFE2 내지 AFEk)도 상술한 바와 유사한 방식으로 각각에 대응하는 센싱선들(SSL2 내지 SSLm)에 선택적으로 연결될 수 있다.
이와 같이, 제1 센싱 기간과 제2 센싱 기간에서의 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 사이의 연결 타이밍은 센싱선 제어부(420)에 의해 제어될 수 있다.
일 실시예에서, 센싱선 제어부(420)는 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)에 기초하여 제2 센싱 기간에 선택되는 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)을 제어할 수 있다. 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)는 제1 센싱 기간에 선택된 화소들의 패턴 정보에 상응할 수 있다. 예를 들어, 제1 센싱 기간에 제1 화소 그룹(PG1)이 선택된 경우, 이에 상응하는 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)가 업데이트될 수 있다.
제1 센싱 기간에 제1 화소 그룹(PG1)이 센싱된 경우, 제2 센싱 기간에 제2 화소 그룹(PG2)이 센싱되어야 한다. 센싱선 제어부(420)는 업데이트된 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)에 기초하여 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)에 포함되는 스위치들을 제어할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)는 센싱 기간마다 메모리(700)에서 업데이트되며, 센싱선 제어부(420)는 제1 센싱 기간에 업데이트(저장)된 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)를 메모리(700)로부터 독출하고, 이에 기초하여 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)과 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)의 연결을 제어할 수 있다.
아날로그 디지털 컨버터 블록(430)은 제1 내지 제k 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제k 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk)은 제1 내지 제k 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)과 일대일로 연결될 수 있다.
제1 내지 제k 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk) 각각은 제1 내지 제k 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)로부터 제공되는 센싱 신호(또는, 샘플링 신호, 가공된 신호)로부터 전압을 센싱하고, 센싱된 전압 값을 디지털 값(디지털 코드)으로 변환하여 센싱 값(또는, 실제 센싱 값, 센싱 데이터)로 출력할 수 있다. 예를 들어, 센싱 값은 12 비트의 디지털 값으로 표현될 수 있다.
한편, 본원에서는 설명의 편의를 위해 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)과 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk)을 별개인 구성인 것으로 설명하였으나, 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk)과 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk)이 통합된 구성이 각각의 아날로그 프론트 엔드들로 이해될 수도 있다.
일 실시예에서, 제1 내지 제k 아날로그 디지털 컨버터들(ADC1 내지 ADCk)에서 출력된 실제 센싱 값(RSV)들은 메모리(700)에 저장될 수 있다. 예를 들어, 제 센싱 기간에서는 제1 화소 그룹(PG1)의 위치 정보에 이에 대응하는 실제 센싱 값(RSV)들이 메모리에 저장될 수 있다. 제2 센싱 기간에서는 제2 화소 그룹(PG2)의 위치 정보에 이에 대응하는 실제 센싱 값(RSV)들이 메모리에 저장될 수 있다.
또한, 실제 센싱 값(RSV)들은 보간부(440) 및 센싱 값 결정부(460)에 제공될 수 있다.
보간부(440)는 실제 센싱 값(RSV)들을 보간하여 해당 센싱 기간에 센싱되지 않은 화소들에 대한 예비 센싱 값(PSV)들을 산출할 수 있다. 보간부(440)는 논리 소자들을 포함하여 하드웨어적으로 구현되거나, 센싱 구동부(400) 내에서 소프트웨어적으로 구현될 수 있다.
실제 화소 센싱이 수행되지 않은 화소들은 보간 센싱 화소들(ISP)로 표현될 수 있다. 예를 들어, 도 5a에 도시된 바와 같이, 제1 센싱 기간에는 제2 화소 그룹(PG2)의 화소들(P12, P14, P16, P21, P23, P25, P32, P34, P36, P41, P43, P45, P52, P54, P56, P61, P63, P65)은 보간 센싱 화소들(ISP)일 수 있다. 유사하게, 도 5b에 도시된 바와 같이, 제2 센싱 기간에는 제1 화소 그룹(PG1)의 화소들(P11, P13, P15, P22, P24, P26, P31, P33, P35, P42, P44, P46, P51, P53, P55, P62, P64, P66)은 보간 센싱 화소들(ISP)일 수 있다.
예비 센싱 값(PSV)들 각각은 보간 센싱 화소들(ISP) 각각과 인접한 실제 센싱 화소들(RSP)의 실제 센싱 값(RSV)들의 보간에 의해 산출될 수 있다. 예를 들어, 도 5b에서, 1행1열 화소(P11)의 예비 센싱 값(PSV, 예를 들어, 보간 센싱 값)은 1행2열 화소(P12)의 실제 센싱 값(RSV)과 2행1열 화소(P21)의 실제 센싱 값(RSV)의 보간에 의해 산출될 수 있다. 1행3열 화소(P13)의 예비 센싱 값(PSV)은 1행2열 화소(P12)의 실제 센싱 값(RSV), 1행4열 화소(P14)의 실제 센싱 값(RSV), 및 2행3열 화소(P23)의 실제 센싱 값(RSV)의 보간에 의해 산출될 수 있다. 2행2열 화소(P22)의 예비 센싱 값(PSV)은 1행2열 화소(P12)의 실제 센싱 값(RSV), 2행1열 화소(P21)의 실제 센싱 값(RSV), 2행3열 화소(P23)의 실제 센싱 값(RSV), 및 3행2열 화소(P32)의 실제 센싱 값(RSV)의 보간에 의해 산출될 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 보간 센싱 화소들(ISP)의 예비 센싱 값(PSV)들을 산출하는 방법이 이에 한정되는 것은 아니다.
제2 센싱 기간에 보간에 의한 예비 센싱 값(PSV)이 그대로 데이터 보상에 반영되어 보상 값(COMV)이 결정되는 경우, 보간 에러에 의해 보간 센싱 화소들(ISP)에 대한 실제 열화 또는 특성 변화가 정확히 반영되지 않을 수 있다.
예를 들어, 제1 센싱 기간에 1행2열 화소(P12)에서 센싱된 실제 센싱 값과 제2 센싱 기간에 보간에 의해 산출된 1행2열 화소(P12)의 보간 센싱 값(예비 센싱 값)이 다를 수 있다. 즉, 보간 센싱 값은 주변의 실제 센싱 값(RSV)들의 영향을 받으므로 보간 에러(대상 화소에 대한 실제 센싱 값(RSV)과 보간 센싱 값 사이의 편차를 의미함)가 발생될 수 있다.
특히, 장시간 동일한 위치에 표시되는 로고 영상의 경계(윤곽선) 부분의 인접한 화소들은 열화 편차가 클 수 있다. 이 때, 소정의 대상 화소에 대한 실제 센싱 없이 주변의 실제 센싱 값(RSV)들의 보간에 기초한 센싱 값 산출의 경우, 대상 화소에 대한 실제 센싱 값(RSV)과 보간 센싱 값 사이의 편차가 크고, 보간 에러가 커질 수 있다. 이에 따라, 대상 화소의 열화 등에 대한 영상 데이터 보상 신뢰도가 떨어질 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 센싱 구동부(400)는 제1 센싱 기간에 획득된 실제 센싱 값과 제2 센싱 기간에 획득된 예비 센싱 값과의 차이에 기초하여 제2 센싱 기간의 보간 센싱 화소들(ISP) 각각의 제2 센싱 기간의 최종 센싱 값(FSV)을 결정할 수 있다.
이하, 도 4를 참조하여 설명함에 있어서, 제2 센싱 기간의 동작을 기준으로 설명하기로 한다.
일 실시예에서, 차이 산출부(450)는 제2 센싱 기간에 센싱되지 않은 화소(예를 들어, 보간 센싱 화소(ISP))의 이전 센싱 값(예를 들어, 이전 실제 센싱 값(P_RSV))과 해당 화소의 예비 센싱 값(PSV)의 차이인 센싱 값 차이(SVD_AB)를 산출할 수 있다. 센싱 값 차이(SVD_AB)는 절대값 형태를 가질 수 있다. 예를 들어, 1행1열 화소(P11)의 이전 실제 센싱 값(P_RSV)과 예비 센싱 값(PSV)의 차이의 절대 값이 1행1열 화소(P11)의 센싱 값 차이(SVD_AB)로 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 차이 산출부(450)는 이전 실제 센싱 값(P_RSV)을 메모리(700)로부터 독출할 수 있다.
차이 산출부(450)는 디지털 값들의 차이를 산출하는 논리 소자들을 포함하는 공지된 다양한 구성의 하드웨어로 구현되거나, 센싱 구동부(400) 내에서 소프트웨어로 구현될 수 있다.
차이 산출부(450)는 제2 센싱 기간의 보간 센싱 화소들(ISP) 각각의 센싱 값 차이(SVD_AB)를 산출할 수 있다. 예를 들어, 도 5b의 제1 화소 그룹(PG1)의 화소들의 센싱 값 차이(SVD_AB)들이 산출될 수 있다. 센싱 값 차이(SVD_AB)는 센싱 값 결정부(460)에 제공될 수 있다.
일 실시예에서, 제2 센싱 기간에 실제 센싱된 제2 화소 그룹(PG2)의 실제 센싱 값(RSV)들은 차이 산출부(450)를 거치지 않고 센싱 값 결정부(460)로 제공될 수 있다.
센싱 값 결정부(460)는 센싱 값 차이(SVD_AB)와 기 설정된 기준 값(REF)을 비교하여 대상 화소의 최종 센싱 값(FSV)을 결정할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱 값 결정부(460)는 대상 화소의 이전 실제 센싱 값(P_RSV) 및 예비 센싱 값(PSV) 중 하나를 최종 센싱 값(FSV)으로 선택할 수 있다.
센싱 값 결정부(460)는 센싱 값 차이(SVD_AB)와 기준 값(REF)을 비교하는 비교 회로 및 상기 비교 결과에 기초하여 최종 센싱 값(FSV)을 선택하는 선택 회로를 포함할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서, 센싱 값 결정부(460) 또는 이에 포함되는 비교 회로 및 선택 회로는 논리 소자들을 포함하여 하드웨어적으로 구현되거나, 센싱 구동부(400) 내에서 소프트웨어적으로 구현될 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 값 차이(SVD_AB)가 기준 값(REF)보다 큰 경우, 센싱 값 결정부(460)는 대상 화소의 이전 센싱 값(예를 들어, 이전 실제 센싱 값(P_RSV))을 대상 화소의 최종 센싱 값(FSV)으로 결정할 수 있다. 즉, 보간에 의해 산출된 예비 센싱 값(PSV)과 이전 실제 센싱 값(P_RSV) 사이의 편차가 기준 값(REF)보다 큰 경우, 이는 보간 에러로 판단될 수 있다. 따라서, 대상 화소의 예비 센싱 값(PSV)은 버려지고, 이전 실제 센싱 값(P_RSV)이 대상 화소의 최종 센싱 값(FSV)으로 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 값 차이(SVD_AB)가 기준 값(REF) 이하인 큰 경우, 센싱 값 결정부(460)는 대상 화소의 예비 센싱 값(PSV)을 대상 화소의 최종 센싱 값(FSV)으로 결정할 수 있다. 보간부(440)에 의해 산출된 결과가 대상 화소의 최종 센싱 값(FSV)으로 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 아날로그 디지털 컨버터 블록(430)에서 제공되는 실제 센싱 값(RSV)들은 모두 그대로 최종 센싱 값(FSV)들로 출력될 수 있다.
최종 센싱 값(FSV)은 보상부(470)에 제공될 수 있다. 보상부(470)는 최종 센싱 값(FSV)들에 기초하여 화소(PX)들 각각의 제1 트랜지스터(T1)의 이동도 특성 및/또는 문턱 전압 특성을 산출할 수 있다. 보상부(470)는 이동도 특성 및/또는 상기 문턱 전압 특성에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)의 보상 값(COMV)을 결정할 수 있다.
예를 들어, 보상 값(COMV)은 소정의 계조에 대응하는 데이터 신호(즉, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극으로 공급되는 전압)를 조절하기 위한 값일 수 있다. 일 실시예에서, 입력 영상 데이터(IDATA)에 보상 값(COMP)이 적용되어 보상된 영상 데이터(CDATA)가 생성될 수 있다.
보상부(470)는 논리 소자들을 포함하여 하드웨어적으로 구현되거나, 센싱 구동부(400) 내에서 소프트웨어적으로 구현될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(1000)는 센싱 구동부(400)의 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각을 복수의 센싱선들이 공유하는 구조를 포함할 수 있다. 이에 따라, 센싱 기간에 전체 화소들 중 일부만이 실제 센싱되고, 센싱되지 않은 화소들의 센싱 값은 보간을 통해 산출되어, 외부 보상을 위한 화소 센싱 시간이 감소될 수 있다.
또한, 현재 실제 센싱되지 않은 대상 화소의 보간된 센싱 값(예를 들어, 예비 센싱 값(PSV))과 이전 실제 센싱 값(P_RSV)의 차이에 따라 대상 화소의 최종 센싱 값이 결정됨으로써, 센싱 시간이 감소와 함께 보간 오차(보간 에러) 발생이 감소될 수 있다. 따라서, 센싱 신뢰도 및 영상 품질이 개선될 수 있다.
도 6은 도 5a 및 도 5b의 화소들을 포함하는 화소부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1, 도 5a, 도 5b, 및 도 6을 참조하면, 화소부(100)는 화소(PX)들을 각각 포함하는 복수의 화소 블록들(BL1, BL2)을 포함할 수 있다.
제1 화소 블록(BL1)은 제1 화소 그룹(PG1) 및 제2 화소 그룹(PG2)으로 구분되어 구동될 수 있다. 예를 들어, 센싱 구동부(400)는 제1 센싱 기간에 제1 화소 그룹(PG1)을 센싱하고, 제2 센싱 기간에 제2 화소 그룹(PG2)을 센싱할 수 있다.
제2 화소 블록(BL2)은 제3 화소 그룹(PG3) 및 제4 화소 그룹(PG4)으로 구분되어 구동될 수 있다. 예를 들어, 센싱 구동부(400)는 제3 센싱 기간에 제3 화소 그룹(PG3)을 센싱하고, 제4 센싱 기간에 제4 화소 그룹(PG4)을 센싱할 수 있다. 다시 말하면, 제1 화소 블록(BL1)에 대한 센싱 시점과 제2 화소 블록(BL2)에 대한 센싱 시점이 분리될 수 있다.
제3 화소 그룹(PG3) 및 제4 화소 그룹(PG4)은 도 5a 및 도 5b를 참조하여 설명된 바와 같이 구동되는 화소들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3 화소 그룹(PG3)의 화소들과 제4 화소 그룹(PG4)의 화소들은 행 방향 및 열 방향으로 상호 교번하여 배치될 수 있다.
또는, 센싱 구동부(400)는 제1 센싱 기간에 제3 화소 그룹(PG3)을 센싱하고, 제2 센싱 기간에 제4 화소 그룹(PG4)을 센싱할 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 화소 블록들의 위치, 개수, 크기 및 화소 블록들 각각을 센싱하는 시점들이 이에 한정되는 것은 아니다.
도 7은 도 4의 센싱 구동부에 포함되는 아날로그 프론트 엔드들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 4 및 도 7을 참조하면, 2개의 센싱선들이 하나의 아날로그 프론트 엔드를 공유할 수 있다.
제1 내지 제4 센싱선들(SSL1, SSL2, SSL3, SSL4)에는 제1 내지 제4 센싱 커패시터들(Cse1, Cse2, Cse3, Cse4)이 각각 연결될 수 있다.
제1 및 제2 센싱선들(SSL1, SSL2)은 제1 아날로그 프론트 엔드(411)를 공유할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 아날로그 프론트 엔드(411)는 제1 스위치(SW1) 및 제3 스위치(SW3)를 포함할 수 있다.
제1 스위치(SW1)가 턴-온되면, 제1 센싱선(SSL1)이 제1 아날로그 프론트 엔드(411)에 연결되고, 제1 센싱선(SSL1)으로부터 제1 센싱 전류(IS1)가 흐를 수 있다. 제2 스위치(SW3)가 턴-온되면, 제2 센싱선(SSL2)이 제1 아날로그 프론트 엔드(411)에 연결되고, 제2 센싱선(SSL2)으로부터 제2 센싱 전류(IS2)가 흐를 수 있다.
제1 및 제3 스위치들(SW1, SW3)은 센싱선 제어부(420)에 의해 제어될 수 있다. 센싱선 제어부(420)는 센싱선 옵션 정보(SSL_OP)에 기초하여 제1 및 제3 스위치들(SW1, SW3)을 제어할 수 있다.
제1 센싱 전류(IS1) 또는 제2 센싱 전류(IS2)에 대응하는 센싱 신호는 제1 아날로그 디지털 컨버터(431)에 제공될 수 있다. 제1 아날로그 디지털 컨버터(431)는 센싱 신호가 디지털 변환된 제1 실제 센싱 값(RSV1)을 출력할 수 있다.
이와 마찬가지로, 제3 및 제4 센싱선들(SSL3, SSL4)은 제2 아날로그 프론트 엔드(412)를 공유할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 아날로그 프론트 엔드(412)는 제5 스위치(SW5) 및 제7 스위치(SW7)를 포함할 수 있다.
제5 스위치(SW5)가 턴-온되면, 제3 센싱선(SSL3)이 제2 아날로그 프론트 엔드(412)에 연결되고, 제3 센싱선(SSL3)으로부터 제3 센싱 전류(IS3)가 흐를 수 있다. 제7 스위치(SW7)가 턴-온되면, 제4 센싱선(SSL4)이 제2 아날로그 프론트 엔드(412)에 연결되고, 제4 센싱선(SSL4)으로부터 제4 센싱 전류(IS4)가 흐를 수 있다.
제3 센싱 전류(IS3) 또는 제4 센싱 전류(IS4)에 대응하는 센싱 신호는 제2 아날로그 디지털 컨버터(432)에 제공될 수 있다. 제2 아날로그 디지털 컨버터(432)는 센싱 신호가 디지털 변환된 제2 실제 센싱 값(RSV2)을 출력할 수 있다.
제5 및 제7 스위치들(SW5, SW7)은 센싱선 제어부(420)에 의해 제어될 수 있다.
제 1 및 제2 아날로그 프론트 엔드들(411, 412) 각각은 센싱 신호를 가공하는 커패시터, 전하 증폭기, 로우 패스 필터, 밴드 패스 필터, 및 쵸퍼 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
도 7에는 제2 스위치(SW2), 제4 스위치(SW4), 제6 스위치(SW6), 및 제8 스위치(SW8)가 센싱 구동부(400)에 포함되는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되는 것은 아니고, 제2 스위치(SW2), 제4 스위치(SW4), 제6 스위치(SW6), 및 제8 스위치(SW8)는 센싱 구동부(400) 외부의 표시 패널 내에 집적될 수도 있다. 또한, 제2 스위치(SW2), 제4 스위치(SW4), 제6 스위치(SW6), 및 제8 스위치(SW8)는 도 2의 제1 스위치(SW1)와 실질적으로 동일한 기능을 수행할 수 있다.
도 8은 도 1의 표시 장치의 동작 및 이에 의해 결정되는 화소들의 센싱 값들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 1, 도 4, 도 5a, 도 5b, 및 도 8을 참조하면, 제1 센싱 기간(SP1) 및 제2 센싱 기간(SP2)에 산출된 센싱 값들에 기초하여 제2 센싱 기간(SP2)에 대응하는 센싱 값들이 결정될 수 있다.
도 8은 표시 장치(1000)의 소정의 동작 기간에 따라 화소들에 대응하는 센싱 값들을 보여준다.
제1 센싱 기간(SP1)은 이전 센싱 기간일 수 있다. 제1 센싱 기간(SP1)에 제1 화소 그룹(PG1)에 대하여 제1 실제 센싱 값들(RS1)이 검출될 수 있다. 제2 화소 그룹(PG2)에는 제1 보간 값들(IV1)이 산출될 수 있다.
제2 센싱 기간(SP2)은 현재 센싱 기간일 수 있다. 제2 센싱 기간(SP2)에 제2 화소 그룹(PG2)에 대하여 제2 실제 센싱 값들(RS2)이 검출될 수 있다. 제1 화소 그룹(PG1)에는 제2 보간 값들(IV2)이 산출될 수 있다.
이후, 차이 산출부(450)는 제1 화소 그룹(PG1)에 대하여 제2 보간 값들(IV2)과 제1 실제 센싱 값들(RS1) 사이의 차이인 센싱 값 차이(SVD_AB)와 기준 값(REF)이 비교될 수 있다. 센싱 값 차이(SVD_AB)가 기준 값(REF)보다 큰 화소들은 에러 화소(ER)들로 검출될 수 있다.
결과적으로, 센싱 값 차이(SVD_AB)가 기준 값(REF) 이하인 화소들에는 제2 보간 값들(IV2)이 그대로 반영될 수 있다. 에러 화소(ER)에는 제1 센싱 기간(SP1)에 검출된 제1 실제 센싱 값들(RS1)이 반영될 수 있다. 또한, 제2 화소 그룹(PG2)에는 제2 실제 센싱 값들(RS2)이 그대로 반영될 수 있다. 따라서, 화소들의 센싱 오차 및 에러가 감소되어 센싱 신뢰도가 개선될 수 있다.
일 실시예에서, 에러 화소(ER)의 주소 정보는 메모리(700)에 저장될 수 있다. 이 때, 센싱 구동부(400)는 최종 센싱 값(FSV) 결정에 에러 화소(ER)의 주소 정보를 참조할 수 있다. 예를 들어, 에러 화소(ER)에 대해서는 센싱 값 차이(SVD_AB)의 크기와 관계 없이 해당 주소(좌표)의 실제 센싱 값(RSV 또는 P_RSV)이 적용될 수 있다. 따라서, 화소 센싱 성능이 더욱 개선될 수 있다.
도 9는 도 1의 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 9를 설명함에 있어서, 도 1과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 참조 부호를 할당함과 아울러 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 9를 참조하면, 표시 장치(1000A)는 화소부(100), 주사 구동부(200), 데이터 구동부(300), 센싱 구동부(400), 타이밍 제어부(600), 메모리(700), 및 스트레스 누적부(800)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 스트레스 누적부(800)는 영상 데이터(예를 들어, 입력 영상 데이터(IDATA))에 기초하여 화소(PX)들 각각의 스트레스 데이터(STDATA)를 누적할 수 있다. 예를 들어, 스트레스 데이터(STDATA)는 화소(PX) 별 계조 누적 값에 상응할 수 있다.
도 9에는 스트레스 누적부(800)로 입력 영상 데이터(IDATA)가 제공되는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 스트레스 누적부(800)는 보상된 영상 데이터(CDATA)에 기초하여 스트레스 데이터(STDATA)를 누적할 수 있다.
스트레스 데이터(STDATA)는 센싱 구동부(400)에 제공될 수 있다. 센싱 구동부(400)는 스트레스 데이터(STDATA)에 기초하여 영상 데이터 보상을 수행할 수 있다.
도 10은 도 9의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 10을 설명함에 있어서, 도 4와 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 참조 부호를 할당함과 아울러 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 센싱 구동부(400A)는 아날로그 프론트 엔드 블록(410), 센싱선 제어부(420), 아날로그 디지털 컨버터 블록(430), 보간부(440), 차이 산출부(450), 센싱 값 결정부(460), 보상부(470), 및 기준 값 결정부(480)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 기준 값 결정부(480)는 스트레스 데이터(STDATA)에 기초하여 화소(PX)들 각각에 대한 기준 값(REF)을 가변할 수 있다. 예를 들어, 기준 값 결정부(480)는 스트레스 데이터(STDATA)와 기 설정된 임계 값(TH_V)을 비교할 수 있다.
스트레스 데이터(STDATA)의 누적 값이 증가하는 경우, 화소(PX) 및 구동 트랜지스터의 열화가 더욱 증가할 수 있다. 구동 트랜지스터의 열화가 진행될수록 보상 능력이 떨어지는 경향이 있고, 보상 오차(센싱 오차)에 따른 시인성 불량이 상대적으로 덜 인지될 수 있다. 따라서, 대상 화소의 스트레스 데이터(STDATA)가 임계 값(TH_V)을 초과하는 경우, 기준 값 결정부(480)는 대상 화소에 사용되는 기준 값(REF)을 증가시킬 수 있다.
예를 들어, 대상 화소의 스트레스 데이터(STDATA)가 임계 값(TH_V) 이하인 경우, 기준 값 결정부(480)는 대상 화소에 사용되는 기준 값(REF)을 제1 값으로 결정할 수 있다. 대상 화소의 스트레스 데이터(STDATA)가 임계 값(TH_V)보다 큰 경우, 기준 값 결정부(480)는 대상 화소에 사용되는 기준 값(REF)을 제1 값보다 큰 제2 값으로 결정할 수 있다.
따라서, 대상 화소의 열화가 상대적으로 많이 진행된 경우, 상대적으로 큰 기준 값(RFE)이 적용되며, 예비 센싱 값(PSV)이 최종 센싱 값(FSV)으로 선택될 확률(비율)이 증가할 수 있다.
도 11은 도 1의 표시 장치의 동작 및 이에 의해 결정되는 화소들의 센싱 값들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11을 참조하면, 2x2 화소 단위로 센싱 기간들(SP1, SP2, SP3, SP4)마다 서로 다른 화소들이 센싱될 수 있다.
2x2 화소 단위는 센싱 단위(SU)로 이해될 수 있다. 제1 센싱 기간(SP1)에는 제1 화소 그룹의 화소들(P11, P13, P15, P32, P34, P36, P51, P53, P55)이 실제 센싱 화소들(RSP)로서 센싱될 수 있다. 나머지 화소들은 보간 센싱 화소들(ISP)이며, 실제 센싱된 값들의 보간에 의한 보간 센싱 값들을 가질 수 있다.
제2 센싱 기간(SP2)에는 제2 화소 그룹의 화소들(P22, P24, P26, P41, P43, P45, P62, P64, P66)이 실제 센싱 화소들(RSP)로서 센싱될 수 있다. 나머지 화소들은 보간 센싱 화소들(ISP)이며, 실제 센싱된 값들의 보간에 의한 보간 센싱 값들을 가질 수 있다.
제3 센싱 기간(SP3)에는 제3 화소 그룹의 화소들(P12, P14, P16, P31, P33, P35, P52, P54, P56)이 실제 센싱 화소들(RSP)로서 센싱될 수 있다. 나머지 화소들은 보간 센싱 화소들(ISP)이며, 실제 센싱된 값들의 보간에 의한 보간 센싱 값들을 가질 수 있다.
제4 센싱 기간(SP4)에는 제4 화소 그룹의 화소들(P21, P23, P24, P42, P44, P46, P61, P63, P65)이 실제 센싱 화소들(RSP)로서 센싱될 수 있다. 나머지 화소들은 보간 센싱 화소들(ISP)이며, 실제 센싱된 값들의 보간에 의한 보간 센싱 값들을 가질 수 있다.
각각의 센싱 기간들(SP1, SP2, SP3, SP)에서 보간 센싱 화소들(ISP) 각각의 보간 센싱 값과 해당 위치의 이전 실제 센싱 값의 차이에 기초하여 해당 위치에 대한 센싱 값이 결정될 수 있다. 각 화소의 최종 센싱 값은 도 4 내지 도 8을 참조하여 설명된 동작과 유사한 방식으로 결정될 수 있다.
도 11의 센싱에 의해 센싱 시간이 더욱 단축될 수 있다.
도 12는 도 1의 표시 장치에 포함되는 센싱 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 12을 설명함에 있어서, 도 4와 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 참조 부호를 할당함과 아울러 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 12를 참조하면, 센싱 구동부(400B)는 아날로그 프론트 엔드 블록(410B), 아날로그 디지털 컨버터 블록(430B), 보간부(440), 차이 산출부(450), 센싱 값 결정부(460), 및 보상부(470)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱 구동부(400B)는 도 10을 참조하여 설명된 기준 값 결정부를 더 포함할 수도 있다.
아날로그 프론트 엔드 블록(410B)은 제1 내지 제m 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEm)을 포함할 수 있다. 아날로그 프론트 엔드 블록(410)은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)에 연결될 수 있다. 아날로그 프론트 엔드 블록(410)은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)로부터 제공되는 센싱 신호들 또는 상기 센싱 신호들이 샘플링된 전압들을 아날로그 디지털 컨버터 블록(430B)에 제공할 수 있다.
제1 내지 제k(단, k는 m보다 작은 자연수) 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 센싱선들(SSL1 내지 SSLm)에 일대일로 연결될 수 있다. 예를 들어, 아날로그 프론트 엔드들(AFE1 내지 AFEk) 각각은 싱글 엔디드 회로 구성을 가질 수 있다. 따라서, 센싱선들과 아날로그 프론트 엔드의 연결을 제어할 필요가 없으므로, 도 4의 센싱선 제어부(420)는 생략될 수 있다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이고, 도 14는 도 13의 표시 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 13 및 도 14를 참조하면, 표시 장치의 구동 방법은, 이전 센싱 기간(예를 들어, 제1 센싱 기간)에 제1 신호들을 출력하고, 제1 센싱 신호들에 기초하여 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 이전 센싱 값을 생성(S100)하고, 현재 센싱 기간(예를 들어, 제2 센싱 기간)에 상기 제1 화소 그룹과 다른 제2 화소 그룹으로부터 제2 센싱 신호들을 출력하고, 제2 센싱 신호들에 기초하여 제2 화소 그룹의 화소들의 실제 센싱 값들을 생성(S200)하는 것을 포함할 수 있다.
또한, 표시 장치의 구동 방법은, 현재 센싱 기간에 대응하여 상기 실제 센싱 값들을 보간하여 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 예비 센싱 값을 산출(S300)하고, 이전 센싱 값과 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 최종 센싱 값을 결정(S400)할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 최종 센싱 값은 이전 센싱 값과 예비 센싱 값 중 하나로 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 도 14에 도시된 바와 같이, 최종 센싱 값을 결정(S400)하는 구동 방법은, 이전 센싱 값과 예비 센싱 값의 차이인 센싱 값 차이를 산출(S410)하고, 센싱 값 차이와 기 설정된 기준 값을 비교(S420)할 수 있다.
센싱 값 차이가 기준 값 이하인 경우, 예비 센싱 값이 대상 화소의 최종 센싱 값으로 결정(S430)될 수 있다.
센싱 값 차이가 기준 값보다 큰 경우, 이전 센싱 값이 대상 화소의 최종 센싱 값으로 결정(S440)될 수 있다.
이후, 실제 센싱 값들 및 최종 센싱 값에 기초하여 영상 데이터가 보상(S500)될 수 있다.
표시 장치의 구동 방법은 도 1 내지 8을 참조하여 자세히 설명되었으므로, 중복되는 내용의 설명은 생략하기로 한다.
도 15는 도 14의 표시 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 14 및 도 15를 참조하면, 센싱 값 차이와 기준 값을 비교(S420)하는 구동 방법은, 스트레스 데이터에 기초하여 기준 값을 조절하는 것을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 영상 데이터를 누적하여 화소들 각각의 스트레스 데이터가 생성(S421)되고, 스트레스 데이터와 기 설정된 임계 값이 비교(S422)될 수 있다.
스트레스 데이터가 임계 값 이하인 경우, 제1 값이 기준 값으로 설정(S423)될 수 있다.
스트레스 데이터가 임계 값을 초과하는 경우, 제1 값보다 큰 제2 값이 기준 값으로 설정(S424)될 수 있다.
기준 값을 조절하는 구동 방법은 도 9 및 도 10을 참조하여 자세히 설명하였으므로, 중복되는 내용의 설명은 생략하기로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 이의 구동 방법은 센싱 기간에 전체 화소들 중 일부만이 실제 센싱되고, 센싱되지 않은 화소들의 센싱 값은 보간을 통해 산출되어, 외부 보상을 위한 화소 센싱 시간이 감소될 수 있다.
또한, 대상 화소의 보간된 센싱 값(예를 들어, 예비 센싱 값)과 이전 실제 센싱 값의 차이에 따라 대상 화소의 최종 센싱 값이 결정됨으로써, 센싱 시간이 감소와 함께 보간 오차(보간 에러) 발생이 감소될 수 있다. 따라서, 센싱 신뢰도 및 영상 품질이 개선될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 화소부 200: 주사 구동부
300: 데이터 구동부 400: 센싱 구동부
AFE1~AFEk: 아날로그 프론트 엔드
ADC1~ADCk: 아날로그 디지털 컨버터
420: 센싱선 제어부 440: 보간부
450: 차이 산출부 460: 센싱 값 결정부
470: 보상부 480: 기준 값 결정부
600: 타이밍 제어부 700: 메모리
800: 스트레스 누적부 SSL1~SSLk: 센싱선
PX: 화소 RSV: 실제 센싱 값
PSV: 예비 센싱 값 SVD_AB: 센싱 값 차이
P_RSV: 이전 실제 센싱 값 FSV: 최종 센싱 값

Claims (20)

  1. 주사선들, 제어선들, 데이터선들, 및 센싱선들에 접속되는 화소들;
    상기 주사선들로 주사 신호를 공급하고, 상기 제어선들로 제어 신호를 공급하는 주사 구동부;
    상기 데이터선들로 영상 데이터 신호 및 센싱 데이터 신호 중 하나를 공급하는 데이터 구동부; 및
    이전 센싱 기간과 현재 센싱 기간에 서로 다른 화소들의 구동 트랜지스터들의 특성을 센싱하고, 상기 이전 센싱 기간의 상기 센싱에 기초하여 결정된 대상 화소의 이전 센싱 값과 상기 현재 센싱 기간의 상기 센싱에 기초하여 산출된 상기 대상 화소의 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 현재 센싱 기간의 상기 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정하는 센싱 구동부를 포함하는, 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는 상기 대상 화소와 인접한 화소들의 센싱 값들을 보간하여 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값을 산출하는, 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값은 상기 대상 화소에 연결된 센싱선으로부터 제공되는 센싱 신호에 의해 결정되는 실제 센싱 값인, 표시 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값 중 하나를 상기 최종 센싱 값으로 결정하는, 표시 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는,
    상기 센싱선들 중 적어도 2개가 공유하는 아날로그 프론트 엔드(analog front end)를 포함하는, 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는,
    상기 이전 센싱 기간에 제1 화소 그룹을 센싱하고 상기 현재 센싱 기간에 제2 화소 그룹을 센싱하도록, 상기 센싱선들과 상기 아날로그 프론트 엔드 사이의 연결을 제어하는 센싱선 제어부;
    상기 현재 센싱 기간에 상기 아날로그 프론트 엔드로부터 제공되는 신호에 기초하여 상기 제2 화소 그룹에 포함되는 화소들의 디지털 형식의 실제 센싱 값들을 출력하는 아날로그 디지털 컨버터;
    상기 제2 화소 그룹의 상기 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 현재 센싱 기간에 센싱되지 않은 화소들에 대한 예비 센싱 값들을 산출하는 보간부;
    상기 이전 센싱 기간에 센싱된 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값의 차이인 센싱 값 차이를 산출하는 차이 산출부; 및
    상기 센싱 값 차이와 기 설정된 기준 값을 비교하여 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값을 결정하는 센싱 값 결정부를 더 포함하는, 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값보다 큰 경우, 상기 센싱 값 결정부는 상기 대상 화소의 상기 이전 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는, 표시 장치.
  8. 제 6 항에 있어서, 상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값 이하인 경우, 상기 센싱 값 결정부는 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는, 표시 장치.
  9. 제 6 항에 있어서,
    이전 센싱 기간에 센싱된 화소들의 패턴 정보에 상응하는 센싱선 옵션 정보 및 상기 화소들 각각의 상기 이전 센싱 값을 저장하는 메모리를 더 포함하고,
    상기 센싱선 제어부는 상기 센싱선 옵션 정보에 기초하여 상기 현재 센싱 기간에 선택되는 센싱선들을 제어하며,
    상기 차이 산출부는 상기 현재 센싱 기간에 대응하여 상기 메모리로부터 상기 제2 화소 그룹을 제외한 화소들 각각의 상기 이전 센싱 값을 독출하는, 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 센싱 값 결정부는 상기 최종 센싱 값을 상기 메모리에 업데이트하는, 표시 장치.
  11. 제 6 항에 있어서,
    영상 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스 데이터를 누적하는 스트레스 누적부를 더 포함하고,
    상기 센싱 구동부는 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각에 대한 기준 값을 가변하는 기준 값 결정부를 더 포함하는, 표시 장치.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 대상 화소의 상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값보다 큰 경우, 상기 기준 값 결정부는 상기 대상 화소에 사용되는 상기 기준 값을 증가시키는, 표시 장치.
  13. 제 6 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는,
    상기 최종 센싱 값에 기초하여 영상 데이터의 보상 값을 결정하는 보상부를 더 포함하는, 표시 장치.
  14. 제 4 항에 있어서, 상기 센싱선들과 상기 아날로그 프론트 엔드는 2:1의 비율로 연결되는, 표시 장치.
  15. 이전 센싱 기간에 제1 화소 그룹으로부터 제1 센싱 신호들을 출력하고, 상기 제1 센싱 신호들에 기초하여 상기 제1 화소 그룹의 화소들 각각의 이전 센싱 값을 생성하는 단계;
    현재 센싱 기간에 상기 제1 화소 그룹과 다른 제2 화소 그룹으로부터 제2 센싱 신호들을 출력하고, 상기 제2 센싱 신호들에 기초하여 상기 제2 화소 그룹의 화소들의 실제 센싱 값들을 생성하는 단계;
    상기 현재 센싱 기간에 대응하여 상기 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 예비 센싱 값을 산출하는 단계;
    상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 최종 센싱 값을 결정하는 단계; 및
    상기 실제 센싱 값들 및 상기 최종 센싱 값에 기초하여 영상 데이터를 보상하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제 15 항에 있어서, 상기 제1 화소 그룹의 상기 화소들 각각의 상기 최종 센싱 값은 상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값 중 하나로 결정되는, 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 최종 센싱 값을 결정하는 단계는,
    상기 이전 센싱 값과 상기 예비 센싱 값의 차이인 센싱 값 차이를 산출하는 단계;
    상기 센싱 값 차이와 기 설정된 기준 값을 비교하는 단계;
    상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값보다 큰 경우, 상기 이전 센싱 값을 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는 단계; 및
    상기 센싱 값 차이가 상기 기준 값 이하인 경우, 상기 예비 센싱 값을 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 센싱 값 차이와 상기 기준 값을 비교하는 단계는,
    상기 영상 데이터를 누적하여 상기 화소들 각각의 스트레스 데이터를 생성하는 단계;
    상기 스트레스 데이터와 기 설정된 임계 값을 비교하는 단계;
    상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값 이하인 경우, 제1 값을 상기 기준 값으로 설정하는 단계; 및
    상기 스트레스 데이터가 기 설정된 임계 값을 초과하는 경우, 상기 제1 값보다 큰 제2 값을 상기 기준 값으로 설정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
  19. 센싱선들에 접속되는 화소들; 및
    제1 센싱 기간에 제1 화소 그룹의 화소들로부터 제공되는 센싱 신호들에 기초하여 제1 실제 센싱 값들을 생성하고, 제2 센싱 기간에 제2 화소 그룹의 화소들로부터 제공되는 센싱 신호들에 기초하여 제2 실제 센싱 값들을 생성하는 센싱 구동부를 포함하며,
    상기 센싱 구동부는 상기 제1 화소 그룹에 포함되는 대상 화소와 인접한 상기 제2 화소 그룹의 일부의 상기 제2 실제 센싱 값들을 보간하여 상기 대상 화소의 예비 센싱 값을 산출하고,
    상기 센싱 구동부는 상기 제1 실제 센싱 값들 중 상기 대상 화소의 실제 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값의 차이에 기초하여 상기 제2 센싱 기간에 대응하는 상기 대상 화소의 최종 센싱 값을 결정하는, 표시 장치.
  20. 제 19 항에 있어서, 상기 센싱 구동부는,
    상기 대상 화소의 상기 실제 센싱 값과 상기 대상 화소의 상기 예비 센싱 값 중 하나를 상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값으로 결정하고,
    상기 대상 화소의 상기 최종 센싱 값에 기초하여 상기 대상 화소의 영상 데이터를 보상하는, 표시 장치.
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