CN102542971B - 显示驱动器电路、其操作方法、以及包括其的用户设备 - Google Patents

显示驱动器电路、其操作方法、以及包括其的用户设备 Download PDF

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Abstract

一种显示驱动器电路,包括:源极驱动器,其被配置为驱动显示面板的源极线;以及定时控制器,其被配置为向该源极驱动器传送图像数据,并控制该源极驱动器以使得经由该显示面板显示传送的图像数据,该定时控制器还被配置为向该源极驱动器传送控制信号和测试样式,其用于测试误码率,而且该源极驱动器被配置为响应于传送的控制信号而测试传送的测试样式的误码率。

Description

显示驱动器电路、其操作方法、以及包括其的用户设备
技术领域
示例实施例涉及显示驱动器电路、其操作方法、以及包括其的用户设备。
背景技术
对于轻便和低功率用户设备,可以使用诸如液晶显示器(LCD)的平板显示器设备代替阴极射线管(CRT)。平板显示器设备可以包括用于显示图像的显示面板,而显示面板可以由多个像素形成。可以在多条栅极线(用于选择像素的栅极)和多条源极线(用于传送诸如灰度数据的颜色数据)的交叉点处形成像素。
可以通过向栅极线施加控制信号并向源极线提供颜色数据来在显示面板上显示图像。集成显示驱动器(DDI)电路可以向显示面板提供控制信号和颜色数据。于是,DDI电路可以从系统的中央处理器接收图像数据,而且可以将输入图像数据转换为控制信号和颜色数据。
发明内容
一个实施例涉及一种显示驱动器电路,包括:源极驱动器,其被配置为驱动显示面板的源极线;以及定时控制器,其被配置为向该源极驱动器传送图像数据,并控制该源极驱动器以使得经由该显示面板显示传送的图像数据,该定时控制器还被配置为向该源极驱动器传送控制信号和测试样式(testpattern),其用于测试误码率,而且该源极驱动器被配置为响应于传送的控制信号而测试传送的测试样式的误码率。
该定时控制器可以包括加扰器,其被配置为将数据随机化,该加扰器将该图像数据随机化。
该加扰器可以被配置为将该测试样式随机化。
该定时控制器可以包括样式产生器,其被配置为产生该测试样式。
该源极驱动器可以包括解扰器,其被配置为将传送的图像数据解随机化。
该解扰器可以被配置为将传送的测试样式解随机化。
该源极驱动器可以包括错误计数器,其被配置为检测该测试样式的错误比特的数量。
该源极驱动器可以被配置为经由该显示面板输出误码率测试结果。
该源极驱动器可以被配置为经由数据端口输出误码率测试结果。
该显示驱动器电路可以进一步包括栅极驱动器,其被配置为驱动该显示面板的栅极线。
另一个实施例涉及一种显示驱动器电路的操作方法,该显示驱动器电路包括用于驱动显示面板的源极线的源极驱动器和用于控制该源极驱动器的定时控制器,该操作方法包括:传送用于测试该定时控制器与该源极驱动器之间传送的数据的误码率的控制信号;传送用于测试该误码率的测试样式;以及响应于该控制信号测试传送的测试样式的误码率。
可以在该源极驱动器和该定时控制器在误码率测试模式下工作时执行传送该控制信号、传送该测试样式、和测试该误码率。
该操作方法可以进一步包括:传送图像数据并经由该显示面板显示传送的图像数据。可以在该源极驱动器和该定时控制器在正常模式下工作时执行传送图像数据和显示传送的图像数据。
该操作方法可以进一步包括:在传送该测试样式之前将该测试样式随机化。
该操作方法可以进一步包括:在测试该错误比特率之前将随机化的测试样式解随机化。
该操作方法可以进一步包括:输出误码率测试结果。
可以经由该显示器输出该误码率测试结果。
可以经由数据端口向显示驱动器电路外面输出该误码率测试结果。
该误码率测试结果可以是在测试传送的测试样式的误码率时检测的错误比特的数量的累计结果。
另一个实施例涉及一种用户设备,包括:显示面板;显示驱动器电路,其被配置为驱动该显示面板,该显示驱动器电路包括:源极驱动器,其被配置为驱动显示面板的源极线,以及定时控制器,其被配置为向该源极驱动器传送图像数据,并控制该源极驱动器以使得经由该显示面板显示传送的图像数据,该定时控制器还被配置为响应于中央处理器的控制向该源极驱动器传送控制信号和测试样式,其用于测试误码率,而且该源极驱动器被配置为响应于传送的控制信号而测试传送的测试样式的误码率;以及中央处理器,其被配置为控制该显示驱动器电路以使得经由该显示面板显示图像。
另一个实施例涉及一种显示器设备,包括:显示面板,其包括多个像素;源极和栅极线,耦接到所述像素;以及显示驱动器,其包括定时控制器和具有错误计数器的源极驱动器,该显示驱动器被耦接到所述源极和栅极线,该显示驱动器被配置为执行误码率测试,其中,在该误码率测试期间,该定时控制器被配置为产生测试样式并向该源极驱动器发送该测试样式,而且该错误计数器被配置为对该源极驱动器接收的测试样式中的错误比特进行计数。
该显示驱动器可以包括多个源极驱动器,每个源极驱动器从该定时控制器接收对应的测试样式。
每个源极驱动器可以对对应的测试样式的错误比特进行计数。
每个源极驱动器可以对与该显示面板的列的唯一子集对应的错误比特进行计数。
附图说明
通过参照附图详细描述示例实施例,以上和其他特征和优点对本领域普通技术人员将变得更加显而易见,其中:
图1示出根据示例实施例的平板显示器设备的框图;
图2示出图1中的显示面板的像素的等价电路图;
图3示出根据示例实施例的显示驱动器电路中的定时控制器和源极驱动器的框图;
图4示出根据示例实施例在执行误码率测试时传送的数据流的图;
图5示出根据示例实施例在执行误码率测试时传送的控制信号和数据的定时图;
图6示出执行误码率测试之后的测试结果的图;以及
图7示出根据示例实施例的包括显示驱动器电路的用户设备的框图。
具体实施方式
通过引用将2010年12月13日向韩国特许厅提交的题为“Display DriverCircuit,Operating Method Thereof,And User Device Including That”的韩国专利申请No.10-2010-0127154整体合并于此。
以下将参照附图更全面地描述示例实施例;然而,它们可以以不同的形式实现,而不应当被解读为限于这里阐述的实施例。相反,提供这些实施例是为了使得本公开彻底和完整,并向本领域技术人员全面传达本发明的范围。附图中,为图示清楚,可以夸大层和区域的尺寸。全文中类似的参考数字指代类似的元件。
不难理解,虽然这里可以使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件、组件、区域、层、和/或部分,这些元件、组件、区域、层、和/或部分不应当受这些术语限制。这些术语仅仅用于将一个元件、组件、区域、层、或部分与另一个元件、组件、区域、层、或部分区分开。例如,可以将下面讨论的第一元件、组件、区域、层、或部分称为第二元件、组件、区域、层、或部分而不背离本发明概念的教导。
这里可以使用诸如“之下”、“以下”、“下面”、“在...下面”、“以上”、“上面”等的空间相对术语以便于说明,用于描述图中所示的一个元件或特征与其他元件或特征的关系。不难理解,空间相对术语意在涵盖使用的设备或操作除了图中所示的定向之外的不同的定向。例如,如果图中的设备被翻转,则被描述为在其他元件或特征“以下”、“之下”、或“上面”的元件将被定向为在其他元件或特征“以上”。因而,示例术语“以下”和“在…下面”可以涵盖以上和以下二者的定向。也可以以其他方式将设备定向(旋转90度或处于其他定向)并相应地解释这里使用的空间相对术语。此外,同样不难理解,当一个层被称为在两个层“之间”时,其可以是该两个层之间仅有的层,或者可以还存在一个或多个中间层。
这里使用的术语是用于描述具体实施例的目的,并非意在限制本发明概念。如这里所使用的,单数形式“一”、“一个”、和“该”意在同样包含复数形式,除非上下文清楚地另有指明。此外不难理解,术语“包括”和/或“包含”当在这里使用时,指定所述的特征、整数、步骤、操作、元件、和/或组件的存在,但并不排除存在或附加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或其群体。如这里所使用的,术语“和/或”包括一个或多个相关列出项目的任何和全部组合。
不难理解,当元素或层被称为“在...上”、“连接到”、“耦接到”、或“邻近”其他元素或层时,其可以直接在其他元素或层上、连接到、耦接到、或邻近其他元素或层,或者可以存在中间元素或层。相反,当元素被称为“直接在...上”、“直接连接到”、“直接耦接到”、或“直接邻近”其他元素或层时,不存在中间元素或层。
除非另外限定,这里使用的全部术语(包括技术和科学术语)具有与本领域普通技术人员通常理解的相同的含义。此外不难理解,诸如在常用词典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义,而不应当在理性化或过度形式性的意义上解读,除非这里明确地这样说明。
图1示出根据示例实施例的平板显示器设备的框图。参照图1,平板显示器设备100可以包括显示面板110、定时控制器130、栅极驱动器150、和源极驱动器170。
定时控制器130、栅极驱动器150、和源极驱动器170可以构成显示驱动器电路。显示驱动器电路可以进一步包括存储控制器、存储器件等。显示驱动器电路将从系统的CPU提供的图像数据转换为控制信号和颜色数据以将它们提供给显示面板110。该系统可以是用户设备,其被配置为经由显示面板110显示图像。
显示面板110可以包括显示图像的多个像素(未示出)。可以分别在栅极线GL0至GLh与源极线SL0-SLi、SLi+1-SLj、和SLj+1-SLk的交叉点处形成所述像素。每个像素可以包括与栅极线和源极线相连的开关元件(未示出)、与该开关元件相连的液晶电容器(未示出)、以及存储电容器(未示出)。下面将参照图2更全面地描述所述像素。
定时控制器130可以从系统的CPU接收误码率(BER)测试控制信号BERT。定时控制器130可以响应于误码率测试控制信号BERT的激活而在用于测试误码率的测试模式下工作。定时控制器130可以响应于误码率测试控制信号BERT的未激活而在正常模式下工作。
定时控制器130可以从系统的CPU接收RGB接口信号(以下,称为‘RGB I/F信号’)。RGB I/F信号可以包括控制信号和图像信号。例如,RGBI/F信号中包括的控制信号可以包括垂直同步信号VSYNC、水平同步信号HSYNC、和数据使能信号DE。定时控制器130可以基于输入的控制信号向各个块(例如,栅极驱动器150和源极驱动器170)提供用于驱动显示面板的控制信号。于是,定时控制器130可以控制显示驱动器电路100的总体操作。
这里,RGB I/F信号中包括的垂直同步信号VSYNC可以指示用于在显示面板110上显示一个帧所用的时间。水平同步信号HSYNC可以指示用于驱动与栅极线GL0至GLh之一相连的像素所用的时间。从而,水平同步信号HSYNC可以分别由与连接到一条栅极线的像素对应的脉冲形成。数据使能信号DE可以指示用于向显示面板110的像素提供图像数据所用的时间。
RGB I/F信号中包括的图像信号可以包括将要经由显示面板110的像素显示的颜色数据。图像信号可以根据定时控制器130的控制存储在存储器件(未示出)中,然后可以提供给源极驱动器170。
栅极驱动器150可以在定时控制器130的控制下驱动栅极线GL0至GLh。例如,响应于从定时控制器130提供的控制信号,栅极驱动器150可以控制使得栅极线GL0至GLh被依次激活。源极驱动器170可以在定时控制器130的控制下驱动源极线SL0至SLk。例如,响应于从定时控制器130提供的控制信号,源极驱动器170可以利用从存储器件(未示出)提供的图像数据驱动源极线SL0至SLk。
在显示面板110的尺寸巨大的情况下,源极驱动器170可以由多个源极驱动器170_a、170_b、和170_c形成。源极线SL0至SLk可以由源极驱动器170_a、170_b、和170_c驱动。例如,分别地,源极线SL0至SLi可以由源极驱动器170_a驱动,源极线SLi+1至SLj可以由源极驱动器170_b驱动,而源极线SLj+1至SLk可以由源极驱动器170_c驱动。
可以从定时控制器130经由信道CHa、CHb、和CHc向源极驱动器170_a、170_b、和170_c提供控制信号和颜色数据。信道CHa、CHb、和CHc的长度可以根据显示面板110的尺寸而有差异。于是,显示面板愈大,信道长度愈长。随着信道长度变长,提供给源极驱动器170_a、170_b、和170_c的控制信号和颜色数据可能因信号延迟或电磁干扰(EMI)而变得错误更多。
根据示例实施例的显示驱动器电路可以被配置为独立地进行误码率(BER)测试。于是,定时控制器130和源极驱动器170可以判断经由信道传送的数据是否在允许的错误限度内正常地传送。显示驱动器电路可以被配置为例如使用显示面板110显示BER测试结果。另一实施方式中,BER测试结果可以存储在源极驱动器170中,然后可以根据情况需要输出到外部设备。
显示驱动器电路可以被配置为执行BER测试操作。于是,可以不需要用于测试误码率的测试设备、以及测试环境。从而,将可以减少进行BER测试所需的成本和所用的时间。
图2示出图1中的显示面板的像素的等价电路图。参照图2,显示面板可以包括下显示板111、上显示板113、以及介于下显示板111与上显示板113之间的液晶层116。下显示板111可以布置为与上显示板113相对。
每个像素可以包括与栅极线GL和源极线SL相连的开关元件Q、与开关元件Q相连的液晶电容器Clc、以及存储电容器Cst。另一实施方式中,可以省略存储电容器Cst。
开关元件Q例如可以是提供在下显示板111处的诸如薄膜晶体管的三端子元件。开关元件Q的控制端子可以与传送栅极信号(或,扫描信号)的栅极线GL相连,其输入端子可以与源极线SL相连,而其输出端子可以与液晶电容器Clc和存储电容器Cst相连。
液晶电容器Clc可以以下显示板111的像素电极112和上显示板113的公共电极115作为它的两个端子。液晶层116可以担当电极112和115之间的电介质材料。像素电极112可以与开关元件Q相连。公共电极115可以在上显示板113的整个表面上形成,而且可以提供有公共电压。可以通过重叠下显示板111和像素电极112处配备的信号线(未示出),以绝缘材料介于下显示板111与像素电极112之间,来形成存储电容器Cst(充当液晶电容器Clc的辅助角色)。该信号线可以由诸如公共电压的电压偏置。
显示面板110可以以空分方式、时分方式等显示颜色。对于空分方式,每个像素可以分别显示一种原色。对于时分方式,每个像素可以轮流显示各种原色。于是,每个像素可以通过原色(例如,红色、绿色、和蓝色)的空间或时间和来显示需要的颜色。
图2中的示例像素中,可以使用空分。示范性地示出在与像素电极112对应的上显示板113的区域处形成指示一种原色的滤色片114。另一示例(未示出)中,可以在下显示板111的像素电极112之上或之下形成滤色片114。可以在显示面板110的外表面上附加至少一个偏振片以将光线偏振化。
图3示出根据示例实施例的显示驱动器电路中的定时控制器130和源极驱动器170的框图。参照图3,定时控制器130可以包括控制逻辑131、样式产生器132、复用器(MUX)133、和加扰器134。源极驱动器170可以包括控制逻辑171、解扰器172、解复用器(DEMUX)173、错误计数器174、和寄存器175。
通常,经由信道CH传送的数字信号可以根据数据样式受EMI影响。然而,根据本实施例,经由信道CH传送的数据可以被随机化(或,加扰)以使得不受EMI影响。于是,定时控制器130可以经由加扰器134将要提供给源极驱动器170的数据随机化,而且可以向源极驱动器170传送随机化的数据。源极驱动器170可以经由解扰器172将输入的数据解随机化。
根据示例实施例,定时控制器130和源极驱动器170可以在正常模式和误码率(BER)测试模式下工作。在正常模式下,定时控制器130和源极驱动器170可以发送和接收用于驱动图1中的显示面板110的控制信号和颜色数据。在BER测试模式下,定时控制器130和源极驱动器170可以发送和接收用于测试误码率的控制信号和测试样式。
下面将更全面地描述定时控制器130和源极驱动器170在正常模式下的操作。
定时控制器130的控制逻辑131可以控制复用器133以使得将像素数据提供给加扰器134。像素数据可以包括用于驱动显示面板110的颜色数据。加扰器134可以在控制逻辑131的控制下将像素数据随机化。可以经由信道CH向源极驱动器170发送随机化的像素数据。
源极驱动器170的解扰器172可以在控制逻辑171的控制下将传送的数据解随机化。源极驱动器170的控制逻辑171可以控制解复用器173以使得将解随机化的像素数据提供给寄存器175。可以在控制逻辑171的控制下将临时存储在寄存器175中的像素数据提供给各条源极线。
下面将更全面地描述定时控制器130和源极驱动器170在BER测试模式下的操作。
定时控制器130的控制逻辑131可以控制样式产生器132以使得产生用于测试误码率的测试样式。可以经由复用器133将产生的测试样式提供给加扰器134。此时,控制逻辑131可以产生复用器控制信号BERT_TC以使得将产生的测试样式提供给加扰器134。加扰器134可以在控制逻辑131的控制下将测试样式随机化。可以在控制逻辑131的控制下经由信道CH向源极驱动器170发送随机化的测试样式。
通过定时控制器130的上述操作,可以向源极驱动器170传送伪随机二进制序列(PRBS)测试样式。理想地,期望使用真实数据测量错误以便判断从定时控制器130向源极驱动器170传送的数据是否产生错误。然而,由于以这样的方式测量错误不是高效的,故可以使用PRBS测试样式。
如果向源极驱动器170发送用于BER测试的测试样式,则源极驱动器170可以分析输入的测试样式以判断传送的数据是否产生错误。源极驱动器170的控制逻辑171可以判断传送的数据是否是用于BER测试的数据,而且可以控制源极驱动器170的各构成块。这将参照图4更全面地描述。
源极驱动器170的解扰器172可以在控制逻辑171的控制下将传送的数据解随机化。解随机化的数据可以与样式产生器132产生的测试样式相同。可以经由解复用器173将解随机化的测试样式提供给错误计数器174。此时,控制逻辑171可以产生解复用器控制信号BERT_SD以使得将解随机化的测试样式提供给错误计数器174。
错误计数器174可以在控制逻辑171的控制下判断传送的测试样式是否出错。例如,在传送的测试样式的全部数据值预期为数据‘0’的情况下,错误计数器174可以对数据‘1’的数量进行计数。可以将错误计数器174计数的错误比特数量输出到外部设备或显示面板110作为BER测试结果。这将参照图6更全面地描述。
根据示例实施例的显示驱动器电路可以被配置为独立地进行BER测试。于是,定时控制器130和源极驱动器170可以执行BER测试操作以判断经由信道传送的数据是否在给定的错误范围内正常地传送。由于可以利用显示驱动器电路独立地进行BER测试,可以不需要用于测试误码率的测试设备和测试环境。从而,将可以减少用于执行BER测试操作的成本和时间。
图4示出根据示例实施例在执行误码率测试时传送的数据流的图。图4中,示范性地示出通过与一条栅极线GL相连的多个像素传送误码率(BER)测试样式的情况。例如,从图1中的定时控制器130向图1中的源极驱动器170传送的数据可以具有与连接到一条栅极线GL的像素的数量对应的尺寸。从而,在BER测试期间传送的数据可以具有与在正常模式下传送的数据相同的尺寸。
当定时控制器130和源极驱动器170在BER测试模式下工作时,从定时控制器130向源极驱动器170传送的数据可以被划分为控制信号和测试样式。控制信号可以包括指示与一条栅极线对应的数据的行开始信号SOL、配置信号、以及指示传送等待时间的等待信号Wait和HBP。控制信号可以提供给源极驱动器170的控制逻辑171。
随着从定时控制器130向源极驱动器170发送行开始信号SOL,可以进行数据传送以执行BER测试操作。之后,可以发送包括用于配置BER测试的信号的配置信号。
示例实施例中,用于配置BER测试的信号可以包括BER测试开始信号BEREN、解扰器信号DSEN、和解扰器重置信号DSRST。响应于BER测试开始信号BEREN,源极驱动器170的控制逻辑171(参照图3)可以控制各构成块以执行BER测试。控制逻辑171可以控制各构成块以执行BER测试,直到传送未激活的BER测试开始信号BEREN为止。
如果接收到激活的BER测试开始信号BEREN,则源极驱动器170的控制逻辑171可以激活解扰器172。如果接收到激活的解扰器重置信号DSRST,则源极驱动器170的控制逻辑171可以重置解扰器172。
如果根据配置信号完成了用于执行BER测试的配置,则可以传送测试样式。在发送测试样式之后,可以传送等待信号Wait和HBP。当定时控制器130和源极驱动器170在正常模式下工作时,等待信号Wait和HBP可以是通知用于驱动图1中的显示面板110的哑(dummy)时间的信号。
根据示例实施例,用于配置BER测试的信号BEREN、DSEN、和DSRST可以被包括在配置信号中,而且可以从定时控制器130向源极驱动器170传送。另一实施方式中,可以经由单独分配的信号线传送用于配置BER测试的信号BEREN、DSEN、和DSRST。
图5示出根据示例实施例在执行误码率测试时传送的控制信号和数据的定时图。
当定时控制器130(参照图3)在误码率(BER)测试模式下工作时,可以响应于加扰器信号SEN而激活加扰器134,而且可以开始用于执行BER测试的数据传送。如果加扰器134被激活,则可以传送与真实数据类似的伪随机二进制序列(PRBS)测试样式。
如果在t1从定时控制器130向源极驱动器170传送激活的BER测试开始信号BEREN,则源极驱动器170可以在BER测试模式下工作。源极驱动器170可以在传送未激活的BER测试开始信号BEREN时在正常模式下工作。
如果在t1传送激活的解扰器信号DSEN,则源极驱动器170的解扰器172可以将传送的数据解随机化(或,解扰)。解扰器172可以继续工作直到传送未激活的解扰器信号DSEN为止。解扰器172可以被解扰器重置信号DSRST重置。可以响应于计数信号CNTEN而激活错误计数器174。
如果在t2配置了用于执行BER测试操作的条件,则可以传送测试样式。在执行BER测试操作时传送的每个测试样式可以具有与连接到栅极线GL的像素的数量对应的尺寸。例如,首先,在时段t2到t3期间,可以传送将要提供给与第一栅极线GL0相连的像素的测试模式。可以连续地传送将要提供给与下一条栅极线相连的像素的测试模式。最后,在时段t4到t5期间,可以传送将要提供给与最后一条栅极线GLk相连的像素的测试模式。在时段t2到t5期间,错误计数器174可以对传送的测试样式的错误进行计数。
如果在t5传送了全部测试样式,则定时控制器130的加扰器134可以被解激活。进一步,可以从定时控制器130向源极驱动器170传送未激活的BER测试开始信号BEREN和未激活的解扰器信号DSEN。结果,可以完成用于BER测试的数据传送。
图5中,示范性地,可以传送具有与一个帧(从第一条栅极线到最后一条栅极线)对应的尺寸的测试样式。可以根据测试环境、测试方法等改变用于BER测试的测试样式的尺寸。另外,测试样式可以由适合用于错误测量的数据的组合形成。
图6示出执行误码率测试之后的测试结果的图。
由源极驱动器170的错误计数器174(参照图3)计数的错误比特数量可以被输出到外部设备或显示面板110作为BER测试结果。图6中,示范性地示出向显示面板110输出BER测试结果的方法。图6中,假定显示面板110具有45×20的分辨率。
显示面板110的区域A、B、和C可以分别由源极驱动器170_a、170_b、和170_c驱动(参照图1)。源极驱动器170_a、170_b、和170_c的每一个可以对从定时控制器130传送的BER测试模式中的错误比特进行计数(参照图1)。可以累计由源极驱动器170_a、170_b、和170_c的每一个计数的错误比特数量,直到BER测试结束为止。可以经由显示面板110的列线输出累计的错误比特数量。显示面板110的列线可以指与一条源极线SL相连的像素。
参照图6,例如,源极驱动器170_a可以针对传送的BER测试样式计数三个错误比特E,而且可以控制与三条列线(即,源极线SL0至SL2)相连的像素以显示任何颜色。源极驱动器170_b可以针对传送的BER测试样式计数七个错误比特E,而且可以控制与七条列线(即,源极线SL15至SL21)相连的像素以显示任何颜色。源极驱动器170_c可以针对传送的BER测试样式计数五个错误比特E,而且可以控制与五条列线(即,源极线SL30至SL34)相连的像素以显示任何颜色。
图6中,示范性地示出向显示面板110输出BER测试结果的情况。在其他实施方式中,可以经由显示面板110利用各种方法输出BER测试结果。另外,可以在源极驱动器170中存储BER测试结果。可以根据情况需要从源极170向外部输出存储在源极驱动器170中的BER测试结果。例如,可以经由与源极驱动器170相连的数据端口输出存储在源极驱动器170中的BER测试结果。
图7示出根据示例实施例的包括显示驱动器电路的用户设备的框图。参照图7,用户设备1000例如可以是被配置为经由显示面板1600显示图像的电子设备。用户设备1000可以包括CPU 1100、存储设备1200、音频单元1300、电源1400、显示驱动器电路1500、和显示面板1600。
CPU 1100可以控制用户设备1000的总体操作。例如,CPU 1100可以在用户设备1000加电时控制用户设备1000的引导过程。另外,CPU 1100可以根据用户的设置激活每个元件。CPU 1100可以被配置为驱动用于控制用户设备1000的固件。该固件可以在存储设备1200的工作存储器上加载和驱动。
存储设备1200可以包括诸如ROM、快闪存储器件等的非易失性存储设备、以及诸如DRAM的易失性存储设备。存储设备1200可以存储用于驱动用户设备1000所需的数据。例如,存储设备1200可以用于存储用于驱动用户设备1000的操作系统、应用程序、或固件。另外,可以在CPU 1100的控制下在存储设备1200中包括的易失性存储设备上加载操作系统、应用程序、或固件。
音频单元1300可以包括扬声器SPK。音频单元1300可以在CPU 1100的控制下重放音频数据。电源1400可以提供用于驱动用户设备100所需的电力。如果用户设备100是诸如移动电子设备的手持设备,则电源1440可以由诸如电池的小尺寸电源形成。
显示驱动器IC 1500可以从CPU 1100接收图像信号。显示驱动器IC 1500可以使用输入的图像信号产生颜色数据以将其提供给显示面板1600。显示面板1600可以显示输入的图像数据。
根据示例实施例,显示驱动器IC 1500可以被配置为独立地进行BER测试。于是,显示驱动器IC 1500中的定时控制器和源极驱动器可以执行BER测试操作以判断经由信道传送的数据是否在给定的错误范围内正常地传送。显示驱动器IC 1500可以经由显示面板1600显示BER测试结果。另一实施方式中,可以根据情况需要向外部设备输出存储在显示驱动器IC 1500中的BER测试结果。由于利用显示驱动器IC 1500独立地进行BER测试,可以不需要用于测试误码率的测试设备和测试环境。从而,将可以减少为执行BER测试操作而浪费的成本和时间。
虽然附图中未示出,但是用户设备100可以进一步包括用于接收用户的控制信号的输入部件、以及用于发送和接收语音数据、图像信号、和各种数据的RF部件等。
作为总结和回顾,将经由大尺寸和高分辨率显示面板显示巨大和清晰的图像。在大显示面板的情况下,将经由长传送线传送提供给显示面板的控制信号和颜色数据,使得因信号延迟或电磁干扰(EMI)而出现错误。可以进行误码率测试以测试提供给显示面板的控制信号和颜色数据是否在允许的错误限定内正常地传送。
这里已经公开示例实施例,而且虽然采用了特定术语,但是它们仅在一般和描述的意义上使用并应当这样理解。一些实例中,本申请提交时的本领域普通技术人员显然可知,结合特定实施例描述的特征、特性、和/或元素可以单独、或与结合其他实施例描述的特征、特性、和/或元素组合使用,除非具体地另外指明。因此,本领域技术人员不难理解,可以进行形式和细节上的各种修改而不背离所附权利要求书中阐述的本发明的精神和范围。

Claims (12)

1.一种显示驱动器电路,包括:
源极驱动器,其被配置为驱动显示面板的源极线;以及
定时控制器,其被配置为向该源极驱动器传送图像数据,并控制该源极驱动器以使得经由该显示面板显示传送的图像数据,该定时控制器还被配置为向该源极驱动器传送控制信号和测试样式,其用于测试误码率,而且该源极驱动器被配置为响应于传送的控制信号而测试传送的测试样式的误码率,其中该误码率的测试生成结果,该结果指示从定时控制器向源极驱动器传送的图像数据是否在预定的错误限制内,该错误基于定时控制器和源极驱动器之间的信道的信号延迟或电磁干扰,
其中,所述定时控制器包括:样式产生器,其被配置为产生该测试样式,其中该测试样式由加扰器随机化,并且其中该传送的测试样式由解扰器解随机化,其中该测试样式是要在配置误码率的测试的配置信号之后并且在指示传送等待时间的等待信号之前传送的伪随机二进制序列信号,并且,其中取决于误码率测试的该传送的测试样式的尺寸对应于连接到栅极线的像素数量。
2.如权利要求1所述的显示驱动器电路,其中该定时控制器包括加扰器,其被配置为将数据随机化,该加扰器将该图像数据随机化。
3.如权利要求1所述的显示驱动器电路,其中该源极驱动器包括解扰器,其被配置为将传送的图像数据解随机化。
4.如权利要求1所述的显示驱动器电路,其中该源极驱动器包括错误计数器,其被配置为检测该测试样式的错误比特的数量。
5.如权利要求1所述的显示驱动器电路,其中该源极驱动器被配置为经由该显示面板输出误码率测试结果。
6.如权利要求1所述的显示驱动器电路,其中该源极驱动器被配置为经由数据端口输出误码率测试结果。
7.如权利要求1所述的显示驱动器电路,进一步包括:
栅极驱动器,其被配置为驱动该显示面板的栅极线。
8.一种用户设备,包括:
显示面板;
显示驱动器电路,其被配置为驱动该显示面板,该显示驱动器电路包括:
源极驱动器,其被配置为驱动显示面板的源极线;以及
定时控制器,其被配置为向该源极驱动器传送图像数据,并控制该源极驱动器以使得经由该显示面板显示传送的图像数据,该定时控制器还被配置为响应于中央处理器的控制向该源极驱动器传送控制信号和测试样式,其用于测试误码率,而且该源极驱动器被配置为响应于传送的控制信号而测试传送的测试样式的误码率;以及
中央处理器,其被配置为控制该显示驱动器电路以使得经由该显示面板显示图像,其中该误码率的测试生成结果,该结果指示从定时控制器向源极驱动器传送的图像数据是否在预定的错误限制内,该错误基于定时控制器和源极驱动器之间的信道的信号延迟或电磁干扰,
其中,所述定时控制器包括:样式产生器,其被配置为产生该测试样式,其中该测试样式由加扰器随机化,并且其中该传送的测试样式由解扰器解随机化,其中该测试样式是要在配置误码率的测试的配置信号之后并且在指示传送等待时间的等待信号之前传送的伪随机二进制序列信号,并且,
其中,取决于误码率测试的该传送的测试样式的尺寸对应于连接到栅极线的像素数量。
9.一种显示器设备,包括:
显示面板,其包括多个像素;
源极和栅极线,耦接到所述像素;
显示驱动器,其包括定时控制器和具有错误计数器的源极驱动器,该显示驱动器被耦接到所述源极和栅极线,该显示驱动器被配置为执行误码率测试,
其中,在该误码率测试期间,该定时控制器被配置为产生测试样式并向该源极驱动器发送该测试样式,而且该错误计数器被配置为对该源极驱动器接收的测试样式中的错误比特进行计数,其中,该定时控制器包括样式产生器,其被配置为产生该测试样式,其中该测试样式由加扰器随机化,并且其中该传送的测试样式由解扰器解随机化,
其中,该测试样式是要在配置误码率的测试的配置信号之后并且在指示传送等待时间的等待信号之前传送的伪随机二进制序列信号,
其中,取决于误码率测试的该传送的测试样式的尺寸对应于连接到栅极线的像素的数量,以及
其中,所述误码率的测试生成结果,该结果指示从定时控制器向源极驱动器传送的图像数据是否在预定的错误限制内,该错误基于定时控制器和源极驱动器之间的信道的信号延迟或电磁干扰。
10.如权利要求9所述的显示器设备,其中
该显示驱动器包括多个源极驱动器,每个源极驱动器从该定时控制器接收对应的测试样式。
11.如权利要求10所述的显示器设备,其中每个源极驱动器对对应的测试样式的错误比特进行计数。
12.如权利要求11所述的显示器设备,其中每个源极驱动器对与该显示面板的列的唯一子集对应的错误比特进行计数。
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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9679664B2 (en) * 2012-02-11 2017-06-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and system for providing a smart memory architecture
TWI463457B (zh) * 2012-08-14 2014-12-01 Novatek Microelectronics Corp 呈現顯示器之資料通道錯誤率的方法
CN103632628B (zh) * 2012-08-22 2016-06-29 联咏科技股份有限公司 呈现显示器的数据信道错误率的方法
TWI474304B (zh) * 2012-11-09 2015-02-21 Novatek Microelectronics Corp 時序控制器、源極驅動器、顯示驅動電路及顯示驅動方法
TWI466086B (zh) * 2012-12-10 2014-12-21 Novatek Microelectronics Corp 時序擾亂方法及其時序控制裝置
CN103903573B (zh) * 2012-12-26 2016-05-11 联咏科技股份有限公司 时序扰乱方法及其时序控制装置
KR20140090761A (ko) * 2013-01-10 2014-07-18 삼성전자주식회사 디스플레이 구동회로 및 디스플레이 구동 회로의 데이터 전송 방법
KR102154186B1 (ko) * 2013-12-03 2020-09-10 삼성전자 주식회사 테스트 효율성을 향상한 타이밍 콘트롤러, 소스 드라이버, 디스플레이 구동회로 및 디스플레이 구동회로의 동작방법
US9536495B2 (en) * 2014-01-31 2017-01-03 Samsung Display Co., Ltd. System for relayed data transmission in a high-speed serial link
CN103943066B (zh) * 2014-03-27 2016-02-03 京东方科技集团股份有限公司 一种像素电路及其驱动方法、显示装置
US9805693B2 (en) * 2014-12-04 2017-10-31 Samsung Display Co., Ltd. Relay-based bidirectional display interface
KR102260670B1 (ko) * 2015-03-27 2021-06-08 삼성디스플레이 주식회사 데이터 구동회로, 그것을 포함하는 표시 장치 및 그것의 동작 방법
US9875707B2 (en) * 2015-05-11 2018-01-23 Novatek Microelectronics Corp. Display apparatus and gate driving method thereof
KR102406705B1 (ko) * 2015-10-30 2022-06-08 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시 장치
KR102543180B1 (ko) * 2016-09-02 2023-06-14 삼성전자주식회사 디스플레이 구동 장치
DE102017127641A1 (de) 2016-12-15 2018-06-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Verfahren zum Überbrückungstesten in benachbarten Halbleitervorrichtungen und Testaufbau
US10276458B2 (en) 2016-12-15 2019-04-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for testing bridging in adjacent semiconductor devices and test structure
TWI755482B (zh) * 2017-02-20 2022-02-21 日商精工愛普生股份有限公司 驅動器、光電裝置及電子機器
CN108696288B (zh) * 2017-06-09 2022-02-01 京东方科技集团股份有限公司 信号传输方法、发送单元、接收单元及显示装置
CN109036240B (zh) * 2017-06-09 2022-01-04 京东方科技集团股份有限公司 数据传输方法、时序控制器、源极驱动芯片和显示装置
CN108694917B (zh) 2017-06-09 2021-10-22 京东方科技集团股份有限公司 数据传输方法、组件及显示装置
TWI626643B (zh) * 2017-07-21 2018-06-11 宏碁股份有限公司 顯示器及其動態驅動電壓補償方法
KR102506919B1 (ko) * 2018-03-14 2023-03-07 주식회사 엘엑스세미콘 테스트 기능을 갖는 디스플레이 구동 장치 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
US11043154B1 (en) * 2019-12-02 2021-06-22 Tcl China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Signal processing method for display panel and device using same
CN113178169B (zh) * 2021-04-27 2023-08-04 深圳市芯视佳半导体科技有限公司 硅基oled芯片结构、ar设备及制作方法
KR20230071309A (ko) * 2021-11-16 2023-05-23 주식회사 엘엑스세미콘 타이밍 컨트롤러, 이를 포함하는 디스플레이 구동장치 및 타이밍 컨트롤러를 구동하는 방법
KR20230159767A (ko) * 2022-05-13 2023-11-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5341399A (en) * 1991-04-11 1994-08-23 Sony Corporation Digital transmission test signal generating circuit
US5726991A (en) * 1993-06-07 1998-03-10 At&T Global Information Solutions Company Integral bit error rate test system for serial data communication links
CN101454681A (zh) * 2006-03-31 2009-06-10 安立股份有限公司 被测试信号分析装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030057138A (ko) 2001-12-28 2003-07-04 엘지전자 주식회사 전송시스템의 타임슬롯의 에러검출장치 및 그 제어방법
JP2004126435A (ja) 2002-10-07 2004-04-22 Rohm Co Ltd 表示用駆動装置
US7219113B2 (en) 2003-09-26 2007-05-15 International Business Machines Corporation Pseudo-random binary sequence checker with automatic synchronization
KR100599607B1 (ko) 2004-10-28 2006-07-13 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 구동 방법
JP2006186521A (ja) 2004-12-27 2006-07-13 Leader Electronics Corp チューナのビットエラーレート(ber)測定の方法および装置
KR100896178B1 (ko) * 2006-04-11 2009-05-12 삼성전자주식회사 테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동회로
JP2008275964A (ja) * 2007-05-01 2008-11-13 Sharp Corp 映像表示装置
JP2009003155A (ja) * 2007-06-21 2009-01-08 Hitachi Displays Ltd 表示装置
US20100077211A1 (en) * 2008-09-24 2010-03-25 Apple Inc. Bit-error rate tester with pattern generation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5341399A (en) * 1991-04-11 1994-08-23 Sony Corporation Digital transmission test signal generating circuit
US5726991A (en) * 1993-06-07 1998-03-10 At&T Global Information Solutions Company Integral bit error rate test system for serial data communication links
CN101454681A (zh) * 2006-03-31 2009-06-10 安立股份有限公司 被测试信号分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201227677A (en) 2012-07-01
US9099023B2 (en) 2015-08-04
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JP2012128424A (ja) 2012-07-05
CN102542971A (zh) 2012-07-04
US20120146965A1 (en) 2012-06-14

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