CN102109530B - 样本处理装置及样架运送方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种样本处理装置，包括：数个处理单元，对装在样本容器中的样本进行处理；运送装置，向所述数个处理单元其中之一运送安放所述样本容器的样架；样架送出部件，接受安放所述样本容器的样架，并将接受的样架送到所述运送装置的运送通道上；及控制部件，根据所述样架送出部件接受的样架多少，实施以下处理其中之一：(a)控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的所述样架，或者(b)控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的所述样架。同时，本发明还提供一种样本处理装置的样架运送方法。

Description

样本处理装置及样架运送方法
技术领域：
本发明涉及一种拥有数个处理单元的样本处理装置及向数个处理单元中的某一个运送样架的样架运送方法。
背景技术：
现在，处理血液和尿液等临床样本的样本分析仪在医院等医疗机构广为使用。为了提高处理能力，有些样本分析仪由数个测定单元和向这些测定单元分送样架的运送装置构成。
这种样本分析仪中测定负荷往往容易集中于一个测定单元。测定负荷过于集中，该测定单元就容易出故障和问题。因此，专利公开2000-88860号公报上记述了一种使各测定单元负荷均衡的办法。据专利公开2000-88860号公报记述，根据各测定单元的负荷等现状，决定是否向最上游的测定单元运送样架，以此平衡各测定单元的测定负荷。
根据上述专利公开2000-88860号公报的办法，不管样本分析仪的待测样本接受状况如何，一律采取平均分配测定单元负荷的运送模式。然而，当样本分析仪接受待测样本过多时、或预计测定会拥挤时，与其平均各测定单元的负荷，不如优先考虑加快测定速度更为理想。
发明内容：
本发明的范围仅由权利要求书所限定，在任何程度上并不受本说明书的陈述所限。
(1)一种样本处理装置，包括：数个处理单元，对装在样本容器中的样本进行处理；运送装置，向所述数个处理单元的其中之一运送安放所述样本容器的样架；样架送出部件，接受安放所述样本容器的样架，并将所接受的样架送到所述运送装置的运送通道上；及控制部件，根据所述样架送出部件所接受的样架数量，实施以下其中之一的处理：(a)控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，或者(b)控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(2)上述(1)所述的样本处理装置，还包括：置架部件，用于放置安放所述样本容器的样架，并将所放置的样架传递到所述样架送出部件；其中，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔不大于预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(3)上述(2)所述的样本处理装置，其中，所述样架送出部件有收纳部件，用于在向所述运送通道送出前收纳样架；当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架数量不少于预定数量时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架个数少于预定数量时，控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(4)上述(2)所述的样本处理装置，其中，所述样架送出部件具有感知部件，用于感知设置在所述置架部件上的样架的识别信息；所述接受间隔是所述感知部件的感知间隔。
(5)上述(1)所述的样本处理装置，其中，所述控制部件获取关于放置在所述置架部件上的样架拥挤状况高峰时段的信息，当所述时段包含现在时刻时，控制所述运送装置，在所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架数量少于预定数量时，也向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
根据上述(5)的结构，即使判断为样架现在不拥挤，也能在样架很可能拥堵的时段向能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送样架，从而得以实现更顺畅、更高效的样架运送作业。
(6)上述(1)所述的样本处理装置，其中，所述运送装置的所述运送通道包括不经过所述数个处理单元而运送所述样架送出部件送出的样架的超越通道和分别对应于所述数个处理单元设置的数条接受通道，其中各条所述接受通道将从所述超越通道接受的样架运至相应的处理单元，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔不大于预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置将下一个样架运到与没有所述样架送出部件送出的样架的接受通道相对应的处理单元。
根据上述(6)所述结构，可以向处于空闲状态的处理单元运送样架。
(7)上述(1)所述的样本处理装置，其中，所述控制部件获取所述数个处理单元过去处理样本的处理次数；所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元。
(8)上述(1)所述的样本处理装置，其中，所述控制部件获取所述数个处理单元在预定时间内处理样本的处理次数；所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元。
(9)上述(1)所述样本处理装置，其中，所述控制部件获取向所述数个处理单元运送的样架数；所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个测定单元中所述样架数少于其他处理单元的处理单元。
除上述(7)～(9)外，还可以根据处理单元中试样的余量和消耗量掌握处理单元的处理负荷。但是，试样的消耗量与样本的处理次数成正比，因此根据样本的处理次数掌握处理负荷也包括根据试样的余量和消耗量掌握处理单元的处理负荷。
(10)上述(1)所述的样本处理装置，还包括：选择接受部件，用于接受设定为第一运送方法还是设定为第二运送方法的选择，其中所述第一运送方法是向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，所述第二运送方法是向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，其中所述控制部件控制所述运送装置以所述选择接受部件所接受的运送方法运送所述样架送出部件送出的样架。
根据上述(10)的结构，操作者可以根据样架当前的接受情况及今后的接受预测等随意将运送方法设定为第一运送方法或第二运送方法其中之一。如此根据所接受的样架的情况，适当选择设定第一运送方法或第二运送方法，可以在实现样本的顺畅处理的同时，避免处理负荷对处理单元过于集中。
(11)一种样本处理装置，包括：数个处理单元，用于对装在样本容器中的样本进行处理；运送装置，用于向所述数个处理单的元其中之一运送安放所述样本容器的样架；样架送出部件，接受安放所述样本容器的样架，并将所接受的样架送到所述运送装置的运送通道上；选择接受部件，用于接受设定为第一运送方法还是设定为第二运送方法的选择，其中所述第一运送方法是向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，所述第二运送方法是向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架；及控制部件，控制所述运送装置以所述选择接受部件所接受的运送方法运送所述样架送出部件送出的样架。
(12)一种样本处理装置，包括：数个处理单元，用于对装在样本容器中的样本进行处理；运送装置，用于向所述数个处理单元的其中之一运送安放所述样本容器的样架；样架送出部件，接受安放所述样本容器的样架，并将接受的样架送到所述运送装置的运送通道上；及实施以下其中之一的处理的控制部件：(a)获取关于所述样本处理装置上的样架的拥挤状况高峰时段的信息，当所述时段包含现在时刻时，向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，或者(b)当现在时刻不在所述时段时，向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
根据上述(12)的结构，在很有可能出现样架拥堵状况的时段，向能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送样架。因此，在运送装置繁忙的时段，可以顺畅地进行样本处理。在样架拥堵时段以外的时候，样架运往处理负荷比其他处理单元小的处理单元。因此可以使各处理单元的处理负荷更加平均。
(13)上述(12)所述的样本处理装置，其中，所述运送装置的所述运送通道包括不经过所述数个处理单元而运送所述样架送出部件送出的样架的超越通道和分别对应于所述数个处理单元而设置的数条接受通道；其中，各条接受通道都将从所述超越通道接受的样架运至相应的处理单元，当所述时段包含现在时刻时，所述控制部件控制所述运送装置将下一个样架运到与没有所述样架送出部件送出的样架的接受通道相对应的处理单元。
(14)上述(12)所述的样本处理装置，其中，所述控制部件获取所述数个处理单元过去处理样本的处理次数，当所述时段不包含现在时间时，控制所述运送装置向所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(15)上述(12)所述的样本处理装置，其中，所述控制部件获取所述数个处理单元在一定时间内处理样本的处理次数，当所述时段不包含现在时间时，控制所述运送装置向所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(16)上述(12)所述样本处理装置，其中，所述控制部件获取向所述数个处理单元运送的样架数量，当所述时段不包含现在时间时，控制所述运送装置向所述数个测定单元中所述样架数量少于其他处理单元的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(17)上述(12)所述的样本处理装置，还包括：选择接受部件，用于接受设定为第一运送方法还是设定为第二运送方法的选择，其中所述第一运送方法是向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，所述第二运送方法是向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的所述样架，其中所述控制部件控制所述运送装置以所述选择接受部件所接受的运送方法运送所述样架送出部件送出的样架。
(18)上述(12)所述的样本处理装置，还包括：用于放置安放所述样本容器的样架的置架部件，其中当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔不大于预定间隔时，即使现在时间不在所述时段内，所述控制部件也控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(19)上述(18)所述的样本处理装置，其中，所述样架送出部件具有收纳部件，用于收纳向所述运送通道送出前的样架；当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的所述样架的接受间隔大于预定间隔、且收纳在所述收纳部件中的样架数量不少于预定数量时，即使现在时间不在所述时段内，所述控制部件也控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
(20)一种样本处理装置的样架运送方法，所述样本处理装置具有处理装在样本容器中的样本的数个处理单元、向所述数个处理单元的其中之一运送安放样本容器的样架的运送装置以及接受安放所述样本容器的样架并将所接受的样架送到所述运送装置的运送通道上的样架送出部件，所述方法包括：所述样架送出部件接受样架；及根据所述样架送出部件所接受的样架数量，实施以下其中之一的处理：(a)向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送样架，或者(b)根据所述样架送出部件所接受的样架数量，向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送样架。
(21)一种样本处理装置的样架运送方法，所述样本处理装置拥有处理装在样本容器中的样本的数个处理单元、向所述数个处理单元的其中之一运送安放样本容器的样架的运送装置以及接受安放所述样本容器的样架并将所接受的样架运送到所述运送装置的运送通道的样架送出部件，所述方法包括：获取关于放置在所述样本处理装置上的所述样架的拥挤状况高峰时段的信息，当所述时段包含现在时刻时，向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送样架，当现在时刻不在所述时段时，向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送样架。
附图说明：
图1为第一实施方式涉及的样本分析系统的结构图；
图2(a)和图2(b)为样本容器和样架的结构图；
图3为第一实施方式涉及的投样单元和送样单元的结构平面图；
图4为第一实施方式涉及的运样单元的结构平面图；
图5为第一实施方式涉及的测定单元的结构示意图；
图6为第一实施方式涉及的投样单元和送样单元的线路结构略图；
图7为第一实施方式涉及的运样单元、测定单元、信息处理单元及运送控制器的线路结构略图；
图8(a)～图8(c)为第一实施方式涉及的测定单元累计的测定次数示图以及实施方式变更例涉及的、取代测定次数所用的向测定单元运送样架的累计数量的示图；
图9(a)和图9(b)为第一实施方式涉及的、在投样单元后方位置的样架向运样单元送出之前的控制流程图；
图10为第一实施方式涉及的、在投样单元后方位置的样架向运样单元送出之前的控制流程图；
图11为第一实施方式涉及的、在投样单元后方位置的样架向运样单元送出之前的控制流程图；
图12为第二实施方式涉及的、在投样单元后方位置的样架向运样单元送出之前的控制流程图；
图13为第二实施方式涉及的样架拥挤状况的相关统计值的示图。
具体实施方式：
本实施方式是本发明在进行有关血液的检查和分析的样本分析系统上的应用。本实施方式涉及的样本分析系统有三个测定单元、一个样本涂片制备仪。三个测定单元同时进行血液分析，当根据其分析结果判断需要制作样本涂片时，由样本涂片制备仪制作样本涂片。
一、第一实施方式
下面参照附图就第一实施方式涉及的样本分析系统进行说明。
图1为从上俯视时的样本分析系统1的结构平面图。本实施方式涉及的样本分析系统1由样本回收单元21、投样单元22、送样单元23、三个运样单元3、血细胞分析仪4、运样单元5、样本涂片制备仪6和运送控制器7构成。本实施方式的样本分析系统1通过通信网络与主计算机8连接，可进行通信联系。
样本回收单元21、投样单元22和送样单元23分别可放置数个样架。
图2为样本容器T和样架L的结构图。图2(a)是样本容器T的外观斜视图，图2(b)是样架L的正面图。
从图2(a)看，样本容器T是由具有透光性的玻璃或合成树脂制成的管状容器，上端有开口。管内装有采自患者的血样，上端开口用盖CP密封。样本容器T侧面贴有条形码标签BL1。此条形码标签BL1上印有表示样本ID的条形码。
从图2(b)看，样架L有10个安放位置，可以垂直状态(直立状态)并排安放10支样本容器T。样架L正面如图所示贴有条形码标签BL2。此条形码标签BL2上印有表示样架ID的条形码。
返回图1，样本回收单元21收纳完成分析的样架L。投样单元22收纳操作者投入的样架L，并将收纳的样架L送到送样单元23。样本回收单元21和投样单元22与运送控制器7连接，可进行通信联系。
在送样单元23中，读取投样单元22送出的样架L的样架ID和与样架L安放位置相对应的样本容器T的样本ID。送样单元23将读取完条形码的样架L送到运样单元3。送样单元23也与运送控制器7连接，可进行通信联系，因此在送样单元23读取的样架ID和样本ID可以传送到运送控制器7。关于投样单元22和送样单元23的结构随后参照图3进一步说明。
三个运样单元3如图所示，分别配置在三个测定单元41的前面。相邻的两个运样单元3互相连接，可交接样架L。右侧的运样单元3的右端连接送样单元23，以便能交接样架L，左侧的运样单元3的左端连接运样单元5，以便能交接样架L。三个运样单元3分别与信息处理单元42和运送控制器7进行可通信连接。
这三个运样单元3如图所示，按在各自相应的测定单元41进行和不进行样本测定分别设定有运送样架L的二条运输线L1、L2。即当测定单元41进行样本测定时，样架L沿后面的箭头所示运输线L1运送。当测定单元41不进行样本测定时，沿中段的向左的箭头所示运输线L2运送样架L，以便跳过该测定单元。
三个运样单元3如图所示，还设有将样架L运到样本回收单元21的运输线L3。即，已测定或已制备样本涂片的样架L沿前面的向右的箭头所示运输线L3运到样本回收单元21。关于运样单元3的结构随后参照图4进行说明。
血细胞分析仪4是采用光学流式细胞技术的多项目血细胞分析装置，有三个测定单元41和信息处理单元42。信息处理单元42与三个测定单元41可通信联系，控制着三个测定单元41的动作。信息处理单元42也与三个运样单元3进行可通信连接。
三个测定单元41测定装在样本容器T中的血样。即三个测定单元41分别在配置于各自前方的运样单元3的运输线L1上的一定位置，从样架L上抽出样本容器T。该样本容器T中的血样在测定单元41内测定。在测定单元41测定完成后，该样本容器T再度被放回原样架L的安放位置。关于测定单元41的结构随后参照图5进行说明。
运样单元5配置在样本涂片制备仪6的前方。运样单元5与运样单元3一样，设有运输线L1、L2、L3。且运样单元5与运送控制器7进行可通信连接。运样单元5与样本涂片制备仪6连接，样本涂片制备仪6按照从运样单元5接收的指示进行驱动。
在样本涂片制备仪6制备血样的样本涂片。样本涂片制备仪6在运样单元5的运输线L1上的一定位置吸移样本容器T中的血样。所吸血样滴至载玻片上，在载玻片上推薄，干燥。然后在该载玻片加染色剂，对载玻片上的血液进行染色，制备样本涂片。
由运送控制器7根据三个测定单元41的分析结果判断是否需要制备血涂片。如后所述，各测定单元41的分析结果通过运样单元3传送到运送控制器7。若运送控制器7判断需要制备血涂片，则装有目标样本的样架L被沿运样单元5的运输线L1运送过来，在样本涂片制备仪6进行样本涂片制备。
运送控制器7与样本回收单元21、投样单元22、送样单元23、三个运样单元3和运样单元5进行可通信连接，控制各单元的驱动。可以使用电脑或组装在系统中的计算机作为运送控制器7。
运送控制器7从送样单元23收到样架L的样架ID、样本容器T的样本ID和样本容器T的安放位置后，向主计算机8查询测定订单。运送控制器7收到主计算机8发来的测定订单后将测定订单与样架ID、样本ID和安放位置相对应地存储起来。
运送控制器7根据样架L从投样单元22到送样单元23的时间间隔决定将送样单元23送出的样架L运送到三个测定单元41的哪一个。运送控制器7向定为运送地的测定单元41前面的运样单元3传送存储的测定订单。运送控制器7控制各运样单元3将此样架L运送到定为运送地的测定单元41。关于此决定运送地的过程随后参照图9～11进行说明。
主计算机8连接着通信网络，可与运送控制器7进行通信。主计算机8的存储部件中存有测定订单。当运送控制器7向主计算机8要求提供包括样本ID在内的测定订单时，主计算机8从存储部件读取与此样本ID相应的测定数据，传送到运送控制器7。
图3为从上俯视投样单元22和送样单元23时的结构平面图。在图3中，关于沿运输线L3向右运送样架L的部分为方便起见省略图示。
样架L若被投入到投样单元22的运送通道221上，样架送入装置222便顶着样架L前端向后移动，样架L被送入运送通道221的后方位置(以下称“P1位”)。样架L到达P1位后，样架送出装置223被向左驱动。由此，样架L从P1位被送到送样单元23的运送通道231的后方位置(以下称“P2位”)。反射型传感器232能检测样架L是否已位于P2位。
位于P2位的样架L由条形码读取部件233读取其样架ID和与样架L安放位置相应的样本容器T的样本ID。在P2位读取完条形码的样架L由样架送入装置234送到从P2位向前移动样架L前后方向宽度的位置(以下称“P3位”)。这样，即使P1位还有后续样架L，也能够迅速地将该样架L送到P2位。
位于P3位的样架L因样架送入装置235顶着样架L后端向前移动而移动到运送通道231的前方位置(以下称“P4位”)。在此，运送通道231前方的壁上配有接触型传感器236。当P4位后面有多个样架L时，被样架送入装置235送到前方的样架L被这几个样架L的最后面的样架L挤住。于是在P4位的样架L的前侧面顶住传感器236，从而得知样架送入装置235的送入动作已经完成。结束送入动作的样架送入装置235从送入结束的位置返回后方。
位于P4位的样架L由样架送出装置237向左(运样单元3一侧)送出。此时，条形码读取部件238读取此样架L的条形码标签BL2。
投样单元22和送样单元23配备有分别驱动样架送入装置222、234、235和样架送出装置223、237的步进电机(无图示)。投样单元22在相应位置还配有传感器(无图示)，用于检测运送通道221上的样架L的位置。
图4为运样单元3俯视时的平面图。运样单元3有：分析前存架部件310、运架部件320、分析后存架部件330、运架部件340、350。
当不对样架L进行测定时，样架L被运架部件340的传送带341a、341b沿运输线L2从运架部件340的右端直线运送到左端。
当对样架L进行测定时，样架L被运送到图4右下角的虚线所示运架部件340右端位置。即，图4中所示反射型传感器342检测到样架L被运送到图4右下角的虚线位置。此时传送带341a停止。样架推出装置343向后移动，将样架L推到分析前样存架部件310的运送通道311前端。当由发光部件和受光部件组成的光学传感器312a、312b探测到在运送通道311上的样架L时，样架送入装置313顶着样架L的前端向后移动，使样架L运到后面。这样，当样架运到运架部件320右端位置时，传送带321a、321b被驱动，样架L向左运送。
样架L到达样本容器传感器322的位置。样本容器传感器322为接触式传感器。当安放在样架L上的待检样本容器T从样本容器传感器322正下方通过时，此待检容器T碰弯样本容器传感器322的接触片，于是探测到样本容器T。
在从样本容器传感器322探测到样本容器T的位置向左二个样本容器距离的供样位，后述测定单元41的机械手抓住样本容器T，从样架L取出样本容器T。取出的样本容器T在测定单元41用于测定后再被送回样架L。到样本容器T被送回样架L之前，样架L的运送处于待命状态。
当对安放在样架L上的所有样本容器T的样本进行完测定时，样架L由传送带321a、321b运送到图4虚线所示运架部件320的左端，然后传送带321a、321b停止驱动。然后样架L由样架推出装置323运到分析后存架部件330的运送通道331后端。当由发光部件和受光部件组成的光学传感器332a、332b探测到运送通道331上有样架L时，样架送入装置333顶着样架L的后端向前移动，将样架L向前送入。此时，在分析后存架部件330的前方，运架部件340和350之间的隔断部件360受到开闭控制，样架L被置于运架部件340和350其中之一。
如果测定单元41的测定结果判断安放在样架L上的某个样本容器T需要由下游的样本涂片制备仪6制作标本涂片，则在运架部件340和350被隔断部件360分隔的状态下，样架L被样架送入装置333移到运架部件340的左端。然后此样架L由运架部件340的传送带341b送出到下游的运样单元。
另一方面，如果测定单元41的测定结果判断安放在样架L上的样本容器T均无需由下游的样本涂片制备仪6制作标本涂片，则隔断部件360下降到其上面与运架部件340的传送带341b上面同样高的位置，样架L随样架送入装置333向运架部件350的左端移动。这样，样架L在样架送入装置333的推动下，从分析后存架部件330横穿运架部件340移到该图左下角虚线所示运架部件350的左端。然后，此样架L由运架部件350的传送带351沿运输线L3向右移动。沿运输线L3运送的样架L被收纳到样本回收单元21。
运样单元3配备有用于分别驱动样架推出装置343和323、样架送入装置313和333、传送带321a、321b、341a、341b和351以及隔断部件360的步进式电机(无图示)。运样单元3除传感器342、312a、312b、332a和332b以及样本容器传感器322外，还在相应位置配备有探测运送途中的样架L位置的传感器(无图示)。
图5为测定单元41从上俯视时的结构示意图。测定单元41有样本容器运送部件411、条形码读取部件412、吸样部件413、制样部件414和检测部件415。
样本容器运送部件411有机械手411a和样本容器插入部件411b。机械手411a握住在供样位的样本容器T，从样架L向上抽出样本容器T。抽出的样本容器T被机械手411a搅拌后，插入样本容器插入部件411b。插入样本容器插入部件411b的样本容器T在读码位被条形码读取部件412读取贴在样本容器T上的条形码标签BL1。然后，样本容器T由于样本容器插入部件411b的后移而被置于吸样部件413正下方的吸样位。吸样部件413从位于吸样位的样本容器T中吸移样本。然后样本容器T沿原路径返回，回到原样架L的安放位置上。
制样部件414有数个反应室(无图示)。制样部件414与试剂容器414a～414c连接，可以向反应室供应试剂容器414a的染色剂、试剂容器414b的溶血剂和试剂容器414c的稀释液。此外，制样部件414还与吸样部件413连接，可以向反应室供应吸样部件413吸移的血样。制样部件414在反应室内对样本和试剂进行混合搅拌，制备检测部件415测定用试样。
检测部件415用于测定制样部件414制备的试样。此测定所得测定数据由信息处理单元42进行分析处理。
图6为投样单元22和送样单元23的线路结构略图。
投样单元22有通信部件220、控制部件224、传感部件225和驱动部件226。通信部件220用于与运送控制器7之间传输数据。控制部件224有CPU224a和存储部件224b。CPU224a一方面执行存在存储部件224b的计算机程序，一方面按照运送控制器7的控制部件控制各部分。存储部件224b有ROM、RAM和硬盘等存储设备。
传感部件225包含检测运送通道221上的样架L位置的传感器。驱动部件226包括上述样架送入装置222、样架送出装置223和分别驱动这些装置的步进式电机。
送样单元23具有通信部件230、条形码读取部件233和238、控制部件240、传感部件241及驱动部件242。通信部件230用于与运送控制器7之间的数据通信。控制部件240有CPU240a和存储部件240b。CPU240a用于执行存在存储部件240b中的计算机程序，同时按照运送控制器7的控制部件控制各部件。存储部件240b有ROM、RAM、硬盘等存储设备。
条形码读取部件233读取的样架L的样架ID和与样架L安放位置相应的样本容器T的样本ID通过控制部件240传送到运送控制器7。条形码读取部件238读取的样架L的样架ID也通过控制部件240传送至运送控制器7。
传感部件241包含上述传感器232和236，传感部件241的检测信号输出到控制部件240。驱动部件242包含上述样架送入装置234和235、样架送出装置237以及分别驱动这些装置的步进式电机。
图7为运样单元3、测定单元41、信息处理单元42和运送控制器7的线路结构概要图。该图为方便起见，运样单元3和测定单元41仅各显示了一个，其他运样单元3和测定单元41的结构也与此相同。
运样单元3有通信部件301和305、控制部件302、传感部件303和306以及驱动部件304、307。
驱动部件307承担在样架L被推入图4所示分析前存架部件310后到推出到分析后存架部件330这一区间的运架工作。在此区间的传感器包含在传感部件306中，这些传感器的输出信号传送至信息处理单元42。驱动部件304负责在驱动部件307运送区间外的区间运送样架L。在此区间的传感器包含在传感部件303中，这些传感器的输出信号传送至运送控制器7。
通信部件301在运送控制器7和信息处理单元42之间进行数据通信。控制部件302有CPU302a和存储部件302b。CPU302a用于执行存在存储部件302b中的计算机程序，同时按照运送控制器7的控制部件702a的指令控制驱动部件304。存储部件302b有ROM、RAM等存储设备。存储部件302b在该运样单元3的相应测定单元41存储迄今为止进行的累计测定次数。存储部件302b也作为CPU302a的工作空间使用。
在此就存储部件302b存储的累计测定次数进行说明。
图8(a)为存储在运样单元3存储部件302b中的测定单元41的累计测定次数示图。图8(a)中运样单元(1)～(3)分别表示三个运样单元3中左、中、右的运样单元3。
如图所示，运样单元(1)～(3)的存储部件302b分别存储着N1、N2、N3三个相应测定单元41的累计测定次数。此累计测定次数在相应测定单元41完成样本测定时更新。即信息处理单元42在测定单元41完成样本测定、收到该样本测定结果时通知相应运样单元3。运样单元3的CPU302a一收到该通知，便在存入存储部件302b中的累计测定次数加1。
返回图7，传感部件303包含上述传感器342及332a、332b，传感部件303的检测信号输出到控制部件302。驱动部件304包括上述样架推出装置343、样架送入装置333、传送带341a、341b、351、升降隔断部件360的升降装置以及分别驱动各装置的步进式电机。
通信部件305用于与信息处理单元42之间进行数据通信。传感部件306包含上述传感器312a、312b及样本容器传感器322，传感部件306的检测信号通过通信部件305传送至信息处理单元42。驱动部件307包含样架推出装置323、样架送入装置313、传送带321a、321b和分别驱动这些装置的步进式电机。驱动部件307各部分由信息处理单元42的控制部件422直接控制。
若传感部件306中传感器312a、312b的检测信号传到信息处理单元42，则信息处理单元42通过相应运样单元3的通信部件301将检测信号传送到控制部件302。据此，运送控制器7的CPU702a向各运样单元3查询传感器312a、312b有无检测，各运样单元3的控制部件302根据信息处理单元42传过来的检测信号，向运送控制器7发送传感器312a、312b有无检测的信息。
测定单元41有通信部件410、样本容器运送部件411、条形码读取部件412、吸样部件413、制样部件414和检测部件415。测定单元41的各部分直接受信息处理单元42的控制部件422控制。
信息处理单元42有通信部件421和控制部件422。此外，信息处理单元42还有进行映象输出的接口、从键盘等进行输入的接口以及CD驱动器或DVD驱动器等读取装置，在此省略关于其说明。
通信部件421用于在运样单元3的通信部件301、305和测定单元41的通信部件410之间进行数据通信。控制部件422有CPU422a和存储部件422b。CPU422a执行存储在存储部件422b中的计算机程序。存储部件422b有ROM、RAM和硬盘等存储设备。
CPU422a根据从测定单元41收到的测定结果(粒子数据)进行血液分析，并将分析结果显示在显示器(无图示)上。CPU422a通过运样单元3向运送控制器7传送分析结果。
运送控制器7有通信部件701和控制部件702。此外，运送控制器7还有进行映象输出的接口、从键盘等进行输入的接口以及CD驱动器或DVD驱动器等读取装置。
通信部件701用于在投样单元22、送样单元23及三个运样单元3之间进行数据通信。控制部件702有CPU702a和存储部件702b。CPU702a执行存储在存储部件702b中的计算机程序。存储部件702b有ROM、RAM和硬盘等存储设备。
CPU702a按照计算机程序控制驱动投样单元22、送样单元23及三个运样单元3。CPU702a还从相应运样单元3的存储部件302b接收各测定单元41的累计测定次数。收到的各测定单元41的累计测定次数按各个测定单元41分别存储在存储部件702b。
CPU702a根据投样单元22的传感部件225和送样单元23的传感部件241发出的检测信号，控制投样单元22的驱动部件226和送样单元23的驱动部件242。CPU702a根据运样单元3的传感部件303发出的检测信号，控制运样单元3的驱动部件304。CPU702a根据通过运样单元3从信息处理单元42接收的样本分析结果，判断是否要制作样本涂片。
此外，运样单元5(无图示)的结构与运样单元3相同。运样单元5按照运送控制器7的指示控制运样单元5的驱动部件，样本涂片制备仪6(无图示)根据运样单元5的指示进行驱动。
图9～图12为图3所示P1位上的样架L向运样单元3送出之前的控制流程图。
以下均由运送控制器7的CPU702a控制。以下流程图中所用P2标记～P4标记分别表示图3的P2位～P4位是否有样架L。即，当P2标记～P4标记的值均为0时，表示在P2位～P4位没有放置样架L，当P2标记～P4标记的值均为1时，表示在P2位～P4位放置有样架L。P2标记～P4标记的初始值为0，P2标记～P4标记存在运送控制器7的存储部件702b中。
图9(a)为P1位上的样架L送到P2位的控制流程图。
当判断P1位上有样架L(S101：是)，P2标记的值为0时(S102：是)，运送控制器7的CPU702a通过驱动样架送出装置223将P1位上的样架L送到P2位(S103)。此时，CPU702a获取从P1位向P2位送出样架L的开始时间(S104)，存入存储部件702b。
然后，CPU702a获取上一个样架L从P1位送出到P2位的开始时间与此次在S104获取的时间之差(以下称“送出间隔”)(S105)，判断此送出间隔是否大于Tmin(S106)。在此，Tmin为当送样单元23的运送通道231上没有样架L时，从P1位向P2位连续送出样架L时的送出间隔。即Tmin为送出间隔最小时的值。
当判断送出间隔大于Tmin时(S106：是)，送出间隔标记设置为0(S107)，当判断送出间隔不大于Tmin、即送出间隔等于Tmin时(S106：否)，送出间隔标记设置为1。送出间隔标记存储在运送控制器7的存储部件702b中，初始值为0。此外，当没有上一个样架L时、即此次送出的样架L为第一个送出的样架L时，在S106判断为是。
在此，送出间隔大于Tmin的情况，比如有样架L投入投样单元22的时间间隔很长时，或送样单元23的运送通道231上的样架L移动堵塞，从P1位到P2位送出的样架L需等待时等。
然后在P2位，由条形码读取部件233读取样架L的样架ID和与样架L安放位置相应的样本容器T的样本ID(S109)，P2标记设为1(S110)。S109的处理结束后，处理返回S101。
图9(b)为在P1位的样架L送至P3位的控制流程图。
判断P2标记的值为1(S201：是)，P3标记的值为0(S202：是)时，运送控制器7的CPU702a通过驱动样架送入装置234，使P2位的样架L移至P3位(S203)。CPU702a将P2标记设置为0(S204)，将P3标记设为1(S205)。S205的处理结束后，处理返回S201。
图10为在P3位的样架L送至P4位的控制流程图。
判断P3标记的值为1(S301：是)，P4标记的值为0(S302：是)时，运送控制器7的CPU702a通过驱动样架送入装置235，使P3位的样架L向P4位方向移动(S303)。此时将P3标记设为0(S304)。
由于样架L向P4位方向的移动，如上所述，传感器236探测到在P4位的样架L前侧方接触到传感器236(S305：是)，将P4标记设为1(S306)。这样，送往前方的样架L与P4位之间没有将样架L时置于P4位，当此样架L与P4位之间有一个以上样架L时，将其置于最后一个样架L的后面。
送完样架L的样架送入装置235开始向后移动，以便回到P3位(S307)。此时，计数向驱动样架送入装置235的步进式电机输出的脉冲数(S308)。当判断样架送入装置235已回到P3位时(S309：是)，判断所计数的脉冲数是否在Pc以下(S310)。设Pc为样架送入装置从P3位和P4位之间的一定位置回到P3期间所计脉冲数。
在此，如果所计脉冲数在Pc以下(S310：是)，则表示运送通道231上P4位后面有数个样架L，最后的样架L位于比P3位和P4位之间的一定位置更靠近P3位处。另一方面，如果所计脉冲数大于Pc(S310：否)，则表示运送通道231上P4位后面有数个样架L时，最后的样架L也位于比P3位和P4位之间的一定位置更靠近P4位处。即，判断所计脉冲数是否在Pc以下，可以知道有多少样架L在运送通道231上排队。
当判断所计脉冲数在Pc以下时(S310：是)，说明P4位后面排队的样架L数量在预定数量以上，满载标记设为1(S311)。另一方面，当判断所计脉冲数大于Pc时(S310：否)，说明P4位后面排队的样架L数量少于预定数量，满载标记设为0(S312)。满载标记存在运送控制器7的存储部件702b中，初始值为0。S311或S312的处理结束后，处理返回S301。
图11为在P4位的样架L向运样单元3送出的控制流程图。
当判断P4标记为1时(S401：是)，运送控制器7的CPU702a判断送出间隔标记是否为0(S402)。当判断送出间隔标记为0时(S402：是)，CPU702a判断满载标记是否为0(S403)。
当判断满载标记为0时(S403：是)，CPU702a根据存在图7所示存储器702b中的累计测定次数，获取累计测定次数最少的测定单元41(S404)。接着，CPU702a判断在S404获得的累计测定次数最少的测定单元41是否可接受样架L(S405)。在本实施方式中，如果测定单元41相应的运样单元3的分析前存架部件310上没有样架L，则认为此测定单元41可以接受样架L。这种确认如上所述通过CPU702a查询各运样单元3有无传感器312a、312b的检测动作来进行。
如果判断测定次数最少的测定单元41不能接受样架L(S405：否)，则处理待机，直至此测定单元41可以接受样架L。如果判断测定次数最少的测定单元41能接受样架L(S405：是)，则CPU702a将此测定单元41定为运送地(S406)。如果有累计测定次数相同的测定单元41可接受样架L，则将这些测定单元41中靠下游(左侧)的测定单元41定为运送地。
另一方面，当判断送出间隔标记不为0(S402：否)，或满载标记不为0时(S403：否)，CPU702a确认各测定单元41接受样架L的状况(S407)。当判断所有测定单元41都不能接受样架L时(S408：否)，处理返回S407。当判断某个测定单元41可以接受样架L时(S408：是)，CPU702a将在S407确认为可以接受样架L的测定单元41定为运送地(S409)。另外，当有数个测定单元41可以接受样架L时，将这些测定单元41中下游(左侧)的测定单元41定为运送地。
接着，CPU702a向在S406或S409定为运送地的测定单元41运送样架L(S410)。即，位于P4位的样架L由样架送出装置237从送样单元23向左送出。此样架L运到与测定单元41相应的运样单元3的分析前存架部件310，以便此样架L在S406或S409定为运送地的测定单元41中进行测定。
接着，CPU702a将P4标记设为0(S411)。S411的处理一结束，处理即返回S401。
如上所述，根据本实施方式，若送出间隔大于Tmin且送样单元23的P4位后面的样架L少于预定数量，则认为待测样架L不拥挤，从送样单元23送出的样架L运送到测定负荷小的测定单元41、即累计测定次数最少的测定单元41。这样，三个测定单元41的累计测定次数基本相同，可以使各测定单元41的测定负荷均衡。因此，各测定单元41的零部件等消耗相同，可以同时对各测定单元41进行维护保养，从而得以减少维护保养的工作量。
根据本实施方式，不仅送出间隔与Tmin一致时，如果送出间隔大于Tmin且送样单元23的P4位后面有超过预定数量的样架L，则认为待测样架L拥挤，从送样单元23送出的样架L运送到可接受样架L的测定单元41。以此，即使样本分析系统1受理了许多样架L也可以顺利地进行样本测定处理。
二、第二实施方式
上述第一实施方式根据送出间隔标记和满载标记决定运送样架L的测定单元，而本实施方式则进一步考虑样架L的拥挤状况的相关统计值。
图12为在P4位的样架L向运样单元3送出的控制流程图。图12中在图11中追加了S421、S422。下面仅就追加的S421、S422处理步骤进行说明。
当判断满载标记为0时(S403：是)，运送控制器7的CPU702a获取现在的时间(S421)。接着，CPU702a根据拥挤状况相关统计值判断在S421获取的现在时间是否在样架L不拥挤的时段(S422)。如果判断现在时间为不拥挤时段(S422：是)，处理进入S404，如果判断现在时间为拥挤时段(S422：否)，则处理进入S407。
在此，就在S422所用拥挤状况相关统计值进行说明。
图13为样架L的拥挤状况相关统计值示图。在图13中，横坐标表示时间，纵坐标表示三个测定单元41所进行的每小时测定次数。另外，为方便起见，图13中仅显示星期一和星期三的统计值。
图13所示样架L的拥挤状况相关统计值按如下顺序获得。
首先，运送控制器7在样本分析系统1的使用时间范围(在图13为19时～5时)，每30分钟获取一次三个测定单元41的测定次数，据此算出每小时测定次数。此每小时测定次数存入运送控制器7的存储部件702b。在本实施方式，三个测定单元41每小时的测定次数最大值(以下称“最大测定次数”)为300。
运送控制器7将这种每小时测定次数的变化按星期数存入存储部件702b，再将一定天数内存储的一星期各天的变化按每星期各天进行平均。这样，运送控制器7就获得了如图13所示拥挤状况的相关统计值。
参照图13所示星期一的拥挤状况相关统计值，时间19时～21时半之间(图13中的区间A)及时间为23时～5时之间(图13中的区间C)平均每小时测定次数小于最大测定次数。据此得知，在区间A和C，三个测定单元41并非始终处于测定状态(样架L拥挤状态)。另一方面，时间为21时半～23时之间(图13中的区间B)，平均每小时测定次数为最大测定次数。据此得知在区间B三个测定单元41始终在测定状态(样架L拥挤状态)。
在本实施方式，比如在星期一，除每小时测定次数为最大测定次数的时段(图13中的区间B)外，每小时测定次数达到最大测定次数之前的时段(图13中的区间A)也作为三个测定单元41可能进入始终在测定的状态(样架L拥挤状态)的时段。星期一可能进入样架L拥挤状态的时段，不仅包含区间B、还包含区间A的理由如下。
在区间A，虽然三个测定单元41并不是始终在测定的状态，但此后，现在时间一临近区间B，三个测定单元41转入始终测定状态的可能性非常高。因此，作为样架L拥挤时段，在区间A如图12的S407～S409所示，当决定了运送地测定单元41，现在时间逼近区间B时，也能够更加顺利地进行测定。
又如在星期三，平均每小时的测定次数不会达到最大测定次数，因此，没有设定样架L拥挤的时段。
返回图12，在S422，判断现在的星期数和时段是否为在如图13说明的样架L不拥挤的时段。比如，假设现在的星期数为星期一的话，当现在时间在区间A或B之内时，在S422判断为是，当现在时间在区间C之内时，在S422判断为否。假设现在的星期数为星期三，则现在时间在任何区间内，在S422都判断为是。
如此，根据本实施方式，即使在S402和S403判断为是，如果现在时间在样架L拥挤的时段之内，样架L也会不依据测定次数地被运送到可接受样架L的测定单元41。以此可以实现更顺畅、更有效率的样架L运送作业。
以上就本发明的实施方式进行了说明，本发明的实施方式不限于此。
比如在上述实施方式中，测定对象例示了血液，但也可以将尿液作为测定对象。即本发明也适用于检查尿液的样本处理装置，本发明还可以用于检查其他临床样本的临床样本检查装置。
在上述实施方式，以将样架分配到血细胞分析仪4的三个测定单元41为例进行了说明，但本发明不限于此。也可以连接数台样本涂片制备仪6，将样架分配给这些样本涂片制备仪6。
在上述实施方式，样架L运送到测定次数最少的测定单元41，但也可以样架L运送到测定次数比某一个测定单元41少的测定单元41。
在上述实施方式，样架L运送到迄今测定次数最少的测定单元41，但本发明不限于此。也可以先以周或月储存测定次数，样架L运送到周或月中累计测定次数最少的测定单元41。或者储存测定单元41保养后的累计测定次数，样架L运送到保养后累计测定次数最少的测定单元41。
在上述实施方式，样架L运送到测定次数最少的测定单元41，但也可以运送样架L到累计运入的样架L的数量最少的测定单元41。
图8(b)为运送到测定单元41的样架L累计数量的示图。此累计数量存储在各运样单元3的存储部件302b和运送控制器7的存储部件702b。此时，也可以运送样架L到运入的的样架L的累计数量比其他某个测定单元41少的测定单元41。
此时，如图8(c)所示，也可以存储测定单元41的累计测定次数和运送到测定单元41的样架L的累计数量。此时，可以先运送样架L到测定单元41的累计测定次数少的测定单元41，如果测定单元41的累计测定次数相同，则运送样架L到运入的样架L的累计数量少的测定单元41。或者先运送样架L到运送到运入的样架L的累计数量少的测定单元41，如果运送到测定单元41的样架L累计数量相同，再运送样架L到累计测定次数少的测定单元41。还可以使用测定单元41的测定次数的加权α和运送到测定单元41的样架L累计数量的加权β。以此方法，关于测定单元(1)～(3)，分别选择(αN1+βM1)、(αN2+βM2)、(αN3+βM3)中最小值的测定单元41为运送地。
在上述实施方式，根据送出间隔标记和满载标记决定运送地测定单元41，但也可以在投样单元22配备传感器，根据投入投样单元22的样架L的时间间隔决定运送地测定单元41。即当投入投样单元22的样架L的时间间隔大于预定值时，说明三个测定单元41为无需始终进行测定的状态即样架L不拥挤状态，进行S404～S406的处理，当投入投样单元22的样架L的时间间隔小于预定值时，说明三个测定单元41为需要始终进行测定的状态即样架L拥挤状态，进行S407～S409的处理。
在上述实施方式，根据输出到样架送入装置235的步进式电机的脉冲数判断在送样单元23的运送通道231上P4位后面有多少样架L滞留，但也可以在送样单元23安装传感器，通过探测运送通道231上装的样架L数量来判断有多少样架L滞留。
在上述实施方式，以投样单元的样架送出装置223送出样架L的间隔作为送出间隔，但也可以用送样单元23的样架送出装置237送出样架L的间隔。还可以用条形码读取部件233或238读取样架L条形码标签BL2的读取间隔。
在上述实施方式，在S407～S409当有多个测定单元41可接受样架L时，样架L运送到靠下游一侧的测定单元41，但也可以将样架L运送到能够最先接受样架L的测定单元41。
此时，判断运样单元3的运架部件320上是否有测定中或未测定的样架L，如果运架部件320上没有测定中或未测定样架L，则视为能更早接受样架L。
如果运架部件320上二有测定中或未测定样架L，则将吸样部件413最早吸移完放在样架L上的所有样本容器T的测定单元41视作能更早接受样架L。是否最早吸移完所有样本容器T可根据未测定样本容器T的支数来判断。此外，如果运架部件320上有正在测定的样架L，则将测定单元41的机械手411a最早完成对样架L上的所有样本容器T的抓取工作的测定单元41视作能更早接受样架L。此时，也可以将样架L运送到比其他某一测定单元41更早接受样架L的测定单元41。
在上述实施方式二，如图13的星期一，将每小时的处理样本数达到最大处理样本数的区间B和达到该区间之前的区间A作为样架L拥挤时段，但也可以只将区间B作为样架L拥挤时段。也可以将区间B和区间B前后的一定时段作为样架L拥挤时段。当每小时的处理样本数达到最大样本数的区间一天中有数个时，也可以将这些区间之间的区间也作为样架L拥挤时段。还可以由操作人员设定样架L拥挤时段。
在上述实施方式，测定单元41测定时混合盛放在样本容器T的样本和盛放在试剂容器441～443的试剂。为此，测定单元41的测定次数和该测定单元41的累计试剂消耗量实际上成正比。因此，根据测定单元41的测定次数判断测定单元41的测定负荷和根据测定单元41的累计试剂消耗量判断测定单元41的测定负荷具有等价关系。因此，权利要求项6的测定次数可以说实际上与试剂的消耗量相同，也包括与试剂消耗量和测定次数处于等价关系的其他参数。
在上述实施方式，运送控制器7从送样单元23收到样架L的样架ID和样本容器T的样本ID以及样本容器T的安放位置后，向主计算机8查询测定订单。然而，不限于此，也可以将样本ID相应的测定数据存在运送控制器7的存储部件702b，当运送控制器7从送样单元23收到上述数据时，运送控制器7从存储部件702b读取与收到的样本ID相应的测定数据，并将其发送至送样单元23。
在上述实施方式，样本回收单元21配置在投样单元22的右侧，但也可以配置在运样单元5的左侧。此时，完成分析或标本涂片制作的样架L沿运输线L2送到运样单元5左侧，回收到样本回收单元21。
在上述实施方式，运送控制器7根据送出间隔标记和满载标记决定将样架L运送到测定次数最少的测定单元41还是可接受样架L的测定单元41。然而，不限于此，也可以运送控制器7具备显示器，运送控制器7的控制部件702在此显示器上显示选择界面，用以选择运送到测定次数最少的测定单元41还是可接受样架L的测定单元41，操作者通过此选择界面可以选择样架L的运送方式。另外，选择界面也可以是能在减轻测定单元测定负荷优先模式和样本测定速度优先模式中选择其一来进行设定。
此外，本发明的实施方式在专利要求范围所示技术思想的范围内可以适当进行各种变更。

Claims (11)

1.一种样本处理装置，包括：
数个处理单元，对装在样本容器中的样本进行处理；
运送装置，向所述数个处理单元的其中之一运送安放所述样本容器的样架；
样架送出部件，接受安放所述样本容器的样架，并将所接受的样架送到所述运送装置的运送通道上；及
控制部件，根据所述样架送出部件所接受的样架数量，实施以下其中之一的处理：
(a)控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，或者
(b)控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
2.根据权利要求1所述样本处理装置，还包括：
置架部件，用于放置安放所述样本容器的样架，并将所放置的样架传递到所述样架送出部件；其中，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔不大于预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
3.根据权利要求2所述样本处理装置，其特征在于：
所述样架送出部件有收纳部件，用于在向所述运送通道送出前收纳样架；
当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架数量不少于预定数量时，所述控制部件控制所述运送装置向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架个数少于预定数量时，控制所述运送装置向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
4.根据权利要求2所述样本处理装置，其特征在于：
所述样架送出部件具有感知部件，用于感知设置在所述置架部件上的样架的识别信息；
所述接受间隔是所述感知部件的感知间隔。
5.根据权利要求3所述样本处理装置，其特征在于：
所述控制部件获取关于放置在所述置架部件上的样架拥挤状况高峰时段的信息，当所述时段包含现在时刻时，控制所述运送装置，在所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔大于所述预定间隔、且放在所述收纳部件中的样架数量少于预定数量时，也向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架。
6.根据权利要求2所述样本处理装置，其特征在于：
所述运送装置的所述运送通道包括不经过所述数个处理单元而运送所述样架送出部件送出的样架的超越通道和分别对应于所述数个处理单元设置的数条接受通道，其中各条所述接受通道将从所述超越通道接受的样架运至相应的处理单元，当所述样架送出部件接受放置在所述置架部件上的样架的接受间隔不大于预定间隔时，所述控制部件控制所述运送装置将下一个样架运到与没有所述样架送出部件送出的样架的接受通道相对应的处理单元。
7.根据权利要求1所述样本处理装置，其特征在于：
所述控制部件获取所述数个处理单元过去处理样本的处理次数；
所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元。
8.根据权利要求1所述样本处理装置，其特征在于：
所述控制部件获取所述数个处理单元在预定时间内处理样本的处理次数；
所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个处理单元中所述处理次数比其他处理单元少的处理单元。
9.根据权利要求1所述样本处理装置，其特征在于：
所述控制部件获取向所述数个处理单元运送的样架数；
所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元是所述数个处理单元中所述样架数少于其他处理单元的处理单元。
10.根据权利要求1所述样本处理装置，包括：
选择接受部件，用于接受设定为第一运送方法还是设定为第二运送方法的选择，其中所述第一运送方法是向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早地接受下一个样架的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，所述第二运送方法是向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送所述样架送出部件送出的样架，其中所述控制部件控制所述运送装置以所述选择接受部件所接受的运送方法运送所述样架送出部件送出的样架。
11.一种样本处理装置的样架运送方法，所述样本处理装置具有处理装在样本容器中的样本的数个处理单元、向所述数个处理单元的其中之一运送安放样本容器的样架的运送装置以及接受安放所述样本容器的样架并将所接受的样架送到所述运送装置的运送通道上的样架送出部件，所述方法包括：
所述样架送出部件接受样架；及
根据所述样架送出部件所接受的样架数量，实施以下其中之一的处理：
(a)向所述数个处理单元中能比其他处理单元更早接受下一个样架的处理单元运送样架，或者
(b)根据所述样架送出部件所接受的样架数量，向所述数个处理单元中处理负荷比其他处理单元小的处理单元运送样架。
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