CN100559660C - 用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法及具有该装置的互连组件 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法和具有该装置的互连组件。根据本发明一个方面,用于印刷电路板的互连装置包括:第一接触部(10),其具有似棒形状用于与空间变换器(52)中的第二接触端子(76)进行接触;连接部(12),具有一侧打开的似O环形状并且以整体的方式连接到所述第一接触部(10)的一端;支撑部(14),在预定部分具有啮合突出(14a)并且以整体的方式连接到所述连接部(12)的一端;及第二接触部(16),具有似O环形状并且连接到所述支撑部(14)的一端,其中整个互连装置由相同的弹性材料组成。根据本发明的再一方面,具有用于印刷电路板的互连装置的互连组件包括:印刷电路板(40),包括接触孔(70),在其中连接到内部电路的导电膜(72)形成于内侧壁上;第一导向膜(60),固定在印刷电路板(40)的底表面上并具有第一导向开口(66)以打开接触孔(70);空间变换器,具有在顶部上的第二接触端子(76)和在所述第二接触端子(76)附近的隆起(64);第二导向膜(62),固定在所述空间变换器上,由所述隆起(64)支撑,并且具有第二导向开口(68)以与所述隆起(64)并联;及互连装置(2),包括具有似O环形状以通过干涉配合插入所述接触孔(70)中的第二接触部、以整体的方式连接到所述第二接触部以插入所述第一导向开口内侧中的支撑部、具有一侧打开的似O环形状并且以整体的方式连接到所述支撑部由此被放置于第一导向膜和第二导向膜之间的连接部、和以整体的方式连接到所述连接部用于通过所述第二导向开口与所述第二接触部(76)进行接触的第一接触部。

Description

用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法及具有该装置的互连组件
技术领域
本发明涉及用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法和具有该装置的互连组件,并且更具体地涉及保持弹力同时将上基板与下基板电互连的用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法和具有该装置的互连组件。
背景技术
典型地,半导体装置通过重复诸如氧化过程、扩散过程、蚀刻过程和金属化过程的晶圆过程在晶圆上实现,并且然后执行切片和包装过程以出货。另外,在完成晶圆过程之后但在对其切片之前在晶圆上实现的半导体装置要经受探测测试以验证其是否合格。
在这样的探测测试中,来自测试装备的预定电信号通过与电极垫耦合的探测卡的探测末端被施加于晶圆上的芯片中,然后相应的输出电信号被接收以测试晶圆上的芯片合格与否。
同样,在这样的用于测试晶圆上的芯片是否合格的探测测试中,典型的是使用探测卡,其包括与被探测物的布局(即在半导体基板上实现的每个垫)对应的探测末端。
如在韩国专利申请No.2001-0074710中所见,在常规探测卡组件500中,探测针(probe pin)或接触元件524与半导体晶圆508上的接合垫(bonding pad)526接触。
所述探测卡组件包括装配在一起的几个元件,包括探测卡502、内插器504和空间变换器506。所述探测卡502典型地是印刷电路板,其包括到各种电部件的电路迹线,该电部件用于执行对被探测的半导体晶片的电测试。
探测卡502上的接触元件通过包括所述内插器504和所述空间变换器506的一系列介入层与所述接合垫526接触。
所述内插器504提供定位在垂直或z方向的弹性物或似弹簧物以便在不考虑介入层上使用的接触元件长度情况下在接合垫处为所有接触元件提供足够的接触,例如类似弹簧的接触元件524。所述空间变换器506执行间距减少(pitch reduction)并且也是弹性接触元件置于其上的基板。
更详细地,所述内插器组件300具有弹性接触元件附着其上的基板302,包括接触元件312、314、316和318。通过直通连接304A,接触元件312和316从内插器300的一侧被电耦合到另一侧,而接触元件314和318通过直通连接306A被电耦合。
因此,接触元件,例如所述内插器504组件300中的弹簧,通过引线接合过程等被附着于所述基板302。所以,制作组件的过程是很困难的并且导致很多处理时间的损失。
特别地,用于弹性接触元件如弹簧的所述引线接合过程,为所述基板302的顶和底表面二者执行两次。这使得所述过程更困难且导致更多的处理时间损失。
连同以上问题,由于如弹簧的弹性接触元件通过引线接合过程等被附着于所述基板302的顶和底表面二者,所述被附着的部分易于损坏。另外,由于弹性如弹簧的接触元件被附着于所述基板的顶和底表面二者,电信号的总路径长度增加以致电噪声易于发生。
另外,由于探测卡组件包括元件、包括基板的内插器,制造探测卡组件的总成本增加。
发明内容
因此,本发明的目的是提供用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法、和具有该装置的互连组件,其能够省略用于将如弹簧的弹性接触元件附着于基板的引线接合过程以解决相关问题,例如由接合过程所引起的制造过程中的困难。
本发明的另一目的是提供用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法、和具有该装置的互连组件,通过减少电信号的总路径长度,其能够防止与如弹簧的弹性接触元件相应的基板部分的损坏及电噪声的发生。
本发明的再一目的是提供用于印刷电路板的互连装置、制造该装置的方法、和具有该装置的互连组件,通过从所述探测卡组件中省略所述内插器和基板其能够减少制造整个探测卡组件的成本。
为了实现以上目的,根据本发明一个方面的用于印刷电路板的互连装置包含:连接部,具有一侧打开的O环形状;第一接触部,其具有棒形状用于与空间变换器中的接触端子接触,所述第一接触部的一端以整体的方式连接到所述连接部的一端;支撑部,在预定部分具有啮合突出并且以整体的方式连接到所述连接部的另一端;以及第二接触部,具有O环形状并且以整体的方式连接到所述支撑部的与连接到所述连接部的侧表面相对的侧表面,其中整个互连装置由相同的弹性材料制成。
根据本发明的另一方面,制造用于印刷电路板的互连装置的方法包括以下步骤:在牺牲基板上形成保护膜图案,用于形成互连装置,所述互连装置包括:连接部,具有一侧打开的O环形状;第一接触部,具有棒形状,用于与空间变换器中的接触端子进行接触,第一接触部的一端以整体的方式连接到所述连接部的一端;支撑部,在预定部分具有啮合突出并且以整体的方式连接到所述连接部的另一端;以及第二接触部,具有O环形状并且以整体的方式连接到所述支撑部的与连接到所述连接部的侧表面相对的侧表面;将导电材料填充入保护膜图案的内侧内;并且去除所述保护膜图案和所述牺牲基板以完成互连装置,其中所述导电材料是弹性材料。
根据本发明的再一方面,具有用于印刷电路板的互连装置的互连组件包含:印刷电路板,包括接触孔,其中连接到内部电路的导电膜形成于所述接触孔的内侧壁上;第一导向膜,固定在印刷电路板的底表面上并具有第一导向开口以打开接触孔;空间变换器,具有在顶部上的接触端子和在接触端子附近的隆起;第二导向膜,固定于所述空间变换器上,由所述隆起支撑,并且具有第二导向开口以与所述隆起关联;以及互连装置,包括:第二接触部,具有O环形状以通过干涉配合插入所述接触孔;支撑部,在预定部分具有啮合突出,并且所述支撑部的侧表面以整体的方式连接到所述第二接触部以插入所述第一导向开口内侧;连接部,具有一侧打开的O环形状,并且以整体的方式连接到所述支撑部的与连接到所述第二接触部的侧表面相对的侧表面,从而被放置于所述第一导向膜和所述第二导向膜之间;以及第一接触部,以整体的方式连接到所述连接部的一端,以便通过所述第二导向开口与所述接触端子进行接触,其中整个互连装置由相同的弹性材料组成。
附图说明
本发明的以上和其他目的、优点及特征将从以下接合附图给出的优选实施例的描述中变得明显,其中:
图1是根据本发明实施例的互连装置的透视图;
图2a、ab和2c是用于阐明根据本发明的实施例来制造互连装置的方法的横截面视图;
图3是用于阐明根据本发明实施例的互连装置的横截面视图;
图4是用于更详细地阐明图3所示互连装置的装配关系的横截面视图;
图5是根据本发明的另一实施例的互连装置的透视图。
具体实施方式
为了实现以上目的,根据本发明的一个方面的用于印刷电路板的互连装置2包括:第一接触部10,具有似棒的形状用于与空间变换器52中的第二接触端子76接触;连接部12,其具有一侧打开的似O环的形状并且以整体的方式连接到所述第一接触部10的一端;支撑部14,在预定部分具有啮合突出14a并且以整体的方式连接到所述连接部12的一端;以及第二接触部16,具有似O环的形状并且以整体的方式连接到所述支撑部14的一端,其中整个互连装置由相同的弹性材料制成。
现在,将参考附图详细描述所述互连装置2的每个元件。
首先,所述互连装置2由导电材料,如Ni或Ni合金制成组成,以便显示出理想的弹性。
(1)第一接触部
所述第一接触部10具有似棒的形状。如图1所示,第一接触部10在所述互连装置的中心轴18的基础上以0°到10°向所述连接部12倾斜。
此外,所述第一接触部10的末端10a形成为尖锐的以便当所述末端与所述空间变换器中的接触端子接触时增加接触能力。
(2)连接部
所述连接部12以整体的方式连接到所述第一接触部10的一端。同样,所述连接部12是由与所述第一接触部10相同的材料制成的并且具有一侧打开的似O环形状。
另外,如图5中所示,所述连接部12具有多弯的(multi-bent)似弹簧的形状。
(3)支撑部
所述支撑部14以整体的方式连接到所述连接部12的一端。同样,所述支撑部14是由与所述连接部12相同的材料制成的并且在预定部分具有啮合突出14a,如图1所示。
(4)第二接触部
所述第二接触部16以整体的方式连接到所述支撑部14的一端。同样,所述第二接触部16是由与所述支撑部14相同的材料制成的并且具有似O环的形状。
另外,所述第二接触部16在其端部具有突出部分16a,如图1所示。
根据本发明的另一方面,制造用于印刷电路板的互连装置的方法包括以下步骤:在牺牲基板上形成保护膜图案用于形成互连装置,包括具有似棒形状的用于与空间变换器中第二接触端子76接触的第一接触部10、具有一侧打开的似O环的形状并且以整体的方式连接到所述第一接触部10的一端的连接部12、在预定部分具有啮合突出并且以整体的方式连接到所述连接部12的一端的支撑部14、和具有似O环的形状并且以整体的方式连接到所述支撑部14的一端的第二接触部16;将导电材料26填充到保护图案24的内侧内;并且去除所述保护膜图案24和所述牺牲基板20以完成互连装置。
现在,将详细描述根据本发明的制造用于印刷电路板的互连装置的方法的每一步骤。
(1)形成保护膜图案的步骤
该步骤将使所述互连装置2成形。
首先,在牺牲基板20上形成种子层22。然后,通过在种子层上涂覆具有预定厚度的光致抗蚀剂并且然后利用具有与所述互连装置相同形状的掩模执行曝光和显影,形成所述保护膜图案24。在这种情况下,所述种子层以包括Cu的材料制造并以溅射形成。
作为该步骤的结果,具有所述互连装置的形状的凹槽形成于所述牺牲基板上。
(2)填充导电材料的步骤
该步骤将导电材料填充入所述保护膜图案24上的凹槽中,所述保护膜图案在形成保护膜图案的步骤中形成。
更详细地,能显示出理想弹性的导电材料26被填充入所述牺牲基板上具有所述互连装置的形状的保护膜图案中的凹槽中。在这种情况下,如果导电材料26被填充得超过所述牺牲基板20上光致抗蚀剂其他部分的高度,则填充导电材料26之后执行平面化过程。
同样,所述导电材料26是用包括Ni或Ni合金的材料制成的。
(3)完成所述互连装置的步骤
该步骤要完成所述互连装置。
首先,通过利用化学材料的湿蚀刻等来去除在所述牺牲基板20上用例如光致抗蚀剂的材料制成的保护膜图案26,使得具有互连装置的形状的所述导电材料26暴露在所述牺牲基板20上。
然后,通过利用化学材料的湿蚀刻等来去除所述种子层22和所述牺牲基板20,以完成用导电材料制成的互连装置。
根据本发明的再一方面,具有用于印刷电路板的互连装置的互连组件包括:印刷电路板40,包括接触孔70,在其中连接到内部电路的导电膜72形成于内侧壁上;第一导向膜60,固定在印刷电路板40的底表面上并具有第一导向开口66以打开所述接触孔70;空间变换器,具有在顶部上的第二接触端子76和在所述第二接触端子76附近的隆起64;第二导向膜62,固定于所述空间变换器52上,由所述隆起64支撑,并且具有第二导向开口68以与所述隆起64关联;以及互连装置2,包括具有似O环的形状以通过干涉配合插入所述接触孔70的第二接触部、在预定部分具有啮合突出并以整体的方式连接到所述第二接触部以便插入所述第一导向开口内侧中的支撑部、具有一侧打开的似O环的形状并且以整体的方式连接到所述支撑部因此被放置于所述第一导向膜和所述第二导向膜之间的连接部、和以整体的方式连接到所述连接部以便通过所述第二导向开口与所述第二接触部76接触的第一接触部。
现在,将详细描述根据本发明的用于印刷电路板的互连组件的每个元件。
(1)印刷电路板:
印刷电路板40包括多个接触孔70。以导电材料制成的导电膜72形成于每个接触孔70的内侧壁上。
另外,以导电材料制成的第一接触端子74形成于所述印刷电路板40的底表面上的每个接触孔70的外围部分中。同样,通过使用如粘合剂的附着装置,第一导向膜60被固定在具有所述第一接触端子74的印刷电路板40的底表面上,并包括多个第一导向开口66。
(2)空间变换器
空间变换器52被安装于自所述印刷电路板40底表面的预定距离内。同样,所述空间变换器52包括多个第二接触端子76。另外,预定数目的隆起64被包括在所述第二接触端子76的附近。
具有第二导向开口68的第二导向膜通过如粘合剂的附着装置被固定于所述隆起的顶部。在这种情况下,所述第二导向膜62以这样的方式固定使得所述第二导向开口68与所述第二接触端子76关联。
(3)互连装置
在此,优选的是使用根据前述制造方法制造的所述互连装置2。
在这种情况下,所述互连装置2的第一接触部10与所述第二接触端子76进行接触,而所述第二接触部16与所述印刷电路板40中的接触孔70进行接触。
(4)其他元件
如图3所识,在用于印刷电路板的前述互连组件中,第一和第二加固板42和46分别附着于所述印刷电路板40的顶和底表面。所述第一和第二加固板42和46用螺栓44固定。
在这种情况下,所述第二加固板46连接到通过板簧50附着于所述空间变换器52的第三加固板48。
借助所述第二加固板46,可以在所述印刷电路板40和所述空间变换器52之间维持预定的距离。
所述第一和第二导向膜是以非导电的聚酰亚胺(polyimide)材料制成的。
现在,将参考附图详细描述本发明最优选的实施例。
图1是用于说明根据本发明的最优选实施例的用于印刷电路板的互连装置的透视图。
如图1所示,根据本发明的用于印刷电路板的互连装置2以整体的方式包括第一接触部10、连接部12、支撑部14、第二接触部16、和突出部分16a。所述第一接触部10、连接部12、支撑部14、第二接触部16和突出部分16a是以具有理想弹性的材料如Ni-Co合金制成的。
同样,如图1所识,所述第一接触部10在所述互连装置的中心轴19的基础上以0°到10°向所述连接部12倾斜。在这种情况下,具有似棒形状的第一接触部10的末端10a被形成为尖锐的以便与所述接触端子76进行接触,而且所述第一接触部10具有约1mm的总长度D1
另外,所述连接部12以整体的方式连接到所述第一接触部10,且具有一侧开放的似O环形状以便于被其弹性活动压缩或拉伸。这里,所述连接部12具有约2到3mm的总长度D2
在这种情况下,所述第一接触部10的端与所述连接部12的中心部分的端之间的总长度D5设置为约2到3mm。同样,具有一侧开放的似O环形状的所述连接部12可以具有多弯结构以便于被其似弹簧活动压缩或拉伸。
此外,所述支撑部14以整体的方式连接到所述连接部的一端并且具有薄矩形板的形状,在其下面的部分有啮合突出14a以便与孔啮合。在这种情况下,所述支撑部14具有约0.5mm的总长度D3
另外,所述第二接触部16以整体的方式连接到所述支撑部14的一端。具体地,所述第二接触部16具有长的空的似O环的形状,在其内部部分有中心开口且在其端部有突出部分16a,使得当所述第二接触部插入所述接触孔70时,弹力可以通过产生于其侧上的物理力施加。同样,所述第二接触部16具有约5mm的总长度D4。
图2a-2c是用于阐明根据本发明的优选实施例来制造用于印刷电路板的互连装置的方法的横截面视图。
现在,将参考附图详细描述根据本发明的最优选实施例来制造用于印刷电路板的互连装置的方法。
首先,如图2a所示,准备用硅等组成的牺牲基板20,并且通过如溅射的沉积过程在所述牺牲基板20上形成由包括Cu等的材料组成的种子层22。
另外,通过在种子层22上涂覆具有预定厚度的光致抗蚀剂并且然后利用掩模执行曝光和显影以形成具有如图1所示形状的所述互连装置2,形成由光致抗蚀剂等组成的所述保护膜图案24。在这种情况下,所述光致抗蚀剂具有100到200μm的厚度。最优选地,所述光致抗蚀剂具有140μm的厚度。
接下来,如图2b所示,形成于所述牺牲基板20上的保护膜图案上的凹槽被填充如Ni或Ni合金的导电材料26,例如Ni-Co或Ni-W-Co,其可显示出理想的弹性,并且然后所述牺牲基板20的顶表面被平面化。
在这种情况下,化学机械抛光(CMP)或研磨可以用于平面化过程。但是,当镀工艺得以理想执行以致只有所述保护膜图案24开口部分的内侧被填充以导电材料26时,所述平面化过程可以省略。
特别地,当导电材料26是以其他方法如物理气相沉积(PVD)或化学气相沉积(CVD)而不是镀工艺时,形成所述种子层22的在前步骤可以省略。
然后,如图2c所示,通过利用化学材料的湿蚀刻等来去除在所述牺牲基板20上由例如光致抗蚀剂的材料组成的保护膜图案24,使得所述导电材料26在所述牺牲基板20上暴露。因此,图1所示的所述互连装置28暴露在所述牺牲基板20上。
随后,通过利用化学材料的湿蚀刻等来去除所述种子层22和所述牺牲基板20,以完成用于印刷电路板的所述互连装置28。
因此,因为使用了半导体制造技术,用于印刷电路板的所述互连装置28具有优秀的可再现性和生产率。
图3是用于阐明根据本发明最优选实施例的包括用于印刷电路板的互连装置2的组件的横截面视图,而图4是用于更详细地阐明图3所示互连装置的装配关系的横截面视图。
如图3和4所示,根据本发明的包括用于印刷电路板的互连装置的组件,即,探测卡具有这样的结构使得具有多个附着于底表面上用于与被探测物直接接触的探头54的所述空间变换器52与具有多个连接到内部电路的接触孔70的所述印刷电路板40,借助几个辅助元件如所述第一加固板42、所述第二加固板46、所述第三加固板48、所述板簧50和螺栓44、50和58经由前述互连装置2电连接。
现在,将参考附图4来描述由所述互连装置装配的所述印刷电路板40和所述空间变换器52之间的关系。
所述印刷电路板40包括多个接触孔70,其中包括导电材料如Cu的导电膜72形成于其内侧壁上以便连接到内部电路。同样,由导电材料如Cu组成的所述第一接触端子74被包括于所述印刷电路板40底表面上的接触孔70的外围部分。
另外,通过使用如粘合剂的附着装置,具有多个第一导向开口66的所述第一导向膜60被固定在所述印刷电路板40的底表面上。
在这种情况下,所述第一导向膜60上的第一导向开口66得以形成以便完全打开所述接触孔70和所述第一接触端子74,并且所述第一导向开口66的直径做得比所述接触孔70大。
这是因为所述第一导向开口66起到将所述互连装置的第二接触部16引导入所述接触孔70内侧的作用。换句话说,即使由于制造过程中无法察觉的错误所述接触孔70的位置有些偏移,所述第一导向开口66也允许所述互连装置2的第二接触部16准确地插入所述接触孔70的内侧。
另外,具有多个第二接触端子76的所述空间变换器52被放置在自所述印刷电路板40的底表面的预定距离内,并且隆起并布置在所述第二接触端子76附近。
在此,通过使用附着装置如粘合剂,具有多个第二导向开口68的所述第二导向膜62被固定在所述隆起64上。所述第二导向膜62被固定以将所述第二导向开口68与所述第二接触端子76相关联。
另外,如图1所示,所述互连装置2的第二接触部16被插入所述接触孔70内。
在这种情况下,由于所述互连装置2的第二接触部16具有引起弹性的长的空的似O环的形状,当所述第二接触部16通过干涉配合从突出部分16a被插入所述接触孔70内侧时,其被收紧,籍此其可以通过其弹力与所述接触孔70内侧的导电膜72牢固接触。所述干涉配合意味着借助外力将具有大于所述接触孔70的直径的第二接触部强制插入所述接触孔70的方法。
然后,当所述第二接触部16完全插入所述接触孔70时,所述支撑部14的啮合突出14a与所述接触孔70的外围部分中的第一接触端子74进行接触。
同样,所述连接部12被放置于所述印刷电路板40和所述空间变换器52之间的间隙中。在包括于前述第二导向膜62中的第二导向开口68的导引下,所述第一接触部10与所述第二接触端子76进行接触。
在这种情况下,在所述互连装置2被插入所述印刷电路板40中的接触孔70之后,当通过利用所述第三加固板48、螺栓等所述空间变换器52与所述印刷电路板40啮合时,所述第二接触端子76与所述第一接触端子10接触。
特别地,由于所述互连装置的第一接触部10在所述互连装置的中心轴18的基础上以0°到10°向所述连接部倾斜,当所述第一接触部10通过所述导向开口68与所述第二接触端子76接触时即使由于外力所述连接部12有些弯曲并且所述第一接触部10的位置有些偏移,所述第一接触部10的末端10a仍可以与所述第二接触端子76进行准确接触。
实用性
根据本发明,仅通过将所述互连装置插入所述印刷电路板上的接触孔的内侧中,所述印刷电路板电连接到所述空间变换器。因此,解决常规问题如伴随接合过程的制造过程中的困难是可能的。
特别地,因为通过省略接合过程而没有接合部分,初始地防止由接合部分的损坏所产生的电噪声的发生是可能的。
另外,通过省略常规内插器并且改造通过MEMS过程生产的互连装置,减少制造探测卡组件的成本是可能的。
此外,因为所述互连装置是通过微机电系统(MEMS)过程制造的,大量制造固定品质的产品并确保高可再现性是可能的。
尽管本发明及其优点已详细描述,但应该理解本发明不限于前述实施例和附图,并且应该理解本领域技术人员可以在此进行各种变化、替代和变更,而不脱离本发明的精神和范围。

Claims (15)

1.一种用于印刷电路板的互连装置,包括:
连接部(12),具有一侧打开的O环形状;
第一接触部(10),具有棒形状,用于与空间变换器(52)中的接触端子(76)接触,第一接触部(10)的一端整体地连接到连接部(12)的一端;
支撑部(14),在预定部分具有啮合突出(14a),支撑部(14)的一个侧表面整体地连接到所述连接部(12)的另一端;及
第二接触部(16),具有O环形状,第二接触部(16)的一端整体地连接到所述支撑部(14)的与连接到所述连接部(12)的侧表面相对的侧表面,其中整个互连装置由相同的弹性材料组成。
2.根据权利要求1的用于印刷电路板的互连装置,其中所述互连装置(2)由Ni或Ni合金组成。
3.根据权利要求1的用于印刷电路板的互连装置,其中所述第一接触部(10)在所述互连装置的中心轴(18)的基础上以0°到10°向所述连接部(12)倾斜,所述互连装置的中心轴(18)沿所述第二接触部(16)的长度方向延伸。
4.根据权利要求1的用于印刷电路板的互连装置,其中所述第一接触部(10)的末端(10a)被形成为尖锐的。
5.根据权利要求1的用于印刷电路板的互连装置,其中所述连接部(12)被形成为具有多弯形状。
6.一种制造用于印刷电路板的互连装置的方法,包括以下步骤:
在牺牲基板上形成保护膜图案以形成互连装置,所述互连装置包括:连接部(12),具有一侧打开的O环形状;第一接触部(10),具有棒形状,用于与空间变换器(52)中的接触端子(76)进行接触,第一接触部(10)的一端整体地连接到所述连接部(12)的一端;支撑部(14),在预定部分具有啮合突出(14a),支撑部(14)的一个侧表面整体地连接到所述连接部(12)的另一端;以及第二接触部(16),具有O环形状,第二接触部(16)的一端整体地连接到所述支撑部(14)的与连接到所述连接部(12)的侧表面相对的侧表面;
将导电材料(26)填充到保护膜图案(24)上的凹槽中;及
去除所述保护膜图案(24)和所述牺牲基板(20)以完成所述互连装置,
其中所述导电材料(26)是弹性材料。
7.根据权利要求6的制造用于印刷电路板的互连装置的方法,其中通过在牺牲基板(20)上涂覆具有预定厚度的光致抗蚀剂并且然后执行曝光和显影,形成所述保护膜图案(24)。
8.根据权利要求6的制造用于印刷电路板的互连装置的方法,其中所述导电材料(26)由包括Ni和Ni合金的金属材料组成。
9.根据权利要求6的制造用于印刷电路板的互连装置的方法,其中种子层(22)形成于所述牺牲基板(20)上,然后将所述导电材料(26)通过镀方法填充到所述保护膜图案(24)上的凹槽中。
10.根据权利要求9的制造用于印刷电路板的互连装置的方法,其中所述种子层通过溅射形成并且由包含Cu的材料组成。
11.一种包括用于印刷电路板的互连装置的互连组件,包括:
印刷电路板(40),包括接触孔(70),其中连接到内部电路的导电膜(72)形成于所述接触孔(70)的内侧壁上;
第一导向膜(60),固定在所述印刷电路板(40)的底表面上并具有第一导向开口(66)以打开所述接触孔(70);
空间变换器,具有在顶部上的接触端子(76)和在所述接触端子(76)附近的隆起(64);
第二导向膜(62),固定在所述空间变换器(52)上,由所述隆起(64)支撑,并且具有第二导向开口(68)以与所述隆起(64)关联;及
互连装置(2),包括:第二接触部,具有O环形状以通过干涉配合插入所述接触孔(70);支撑部,在预定部分具有啮合突出,并且所述支撑部的一个侧表面整体地连接到所述第二接触部的一端以插入所述第一导向开口(66)内侧;连接部,具有一侧打开的O环形状,所述连接部的一端整体地连接到所述支撑部的与连接到所述第二接触部的侧表面相对的侧表面,使得连接部被放置于所述第一导向膜和所述第二导向膜之间;以及第一接触部,具有棒形状,第一接触部的一端整体地连接到所述连接部的另一端,第一接触部的另一端通过所述第二导向开口(68)与所述接触端子(76)进行接触,
其中整个互连装置(2)由相同的弹性材料组成。
12.根据权利要求11的包括用于印刷电路板的互连装置的互连组件,其中所述互连组件进一步包括在所述印刷电路板的底表面上的所述接触孔周围连接到导电膜的第一接触端子,并且所述第一导向开口被形成以打开所述接触孔和所述第一接触端子。
13.根据权利要求12的包括用于印刷电路板的互连装置的互连组件,其中通过将所述第二接触部(16)插入所述接触孔(70)内侧中使得所述啮合突出(14a)与所述第一接触端子(74)接触来安装所述互连装置(2)。
14.根据权利要求11或12的包括用于印刷电路板的互连装置的互连组件,其中所述连接部(12)具有多弯形状。
15.根据权利要求11或12的包括用于印刷电路板的互连装置的互连组件,其中所述第一和第二导向膜由非导电的聚酰亚胺材料组成。
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AU (1) AU2003303968A1 (zh)
WO (1) WO2004077623A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104103925A (zh) * 2013-04-08 2014-10-15 泰科电子公司 电触头和包括其的电连接器组件

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7254889B1 (en) * 2000-09-08 2007-08-14 Gabe Cherian Interconnection devices
US7543540B2 (en) * 2005-04-21 2009-06-09 Fontage Co., Ltd. Assembly structure
US7800049B2 (en) * 2005-08-22 2010-09-21 Leviton Manufacuturing Co., Inc. Adjustable low voltage occupancy sensor
US20070230142A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Engel John B Zero parts strain relief
US7855548B2 (en) * 2006-03-29 2010-12-21 Levinton Manufacturing Co., Inc. Low labor enclosure assembly
US7800498B2 (en) * 2006-03-29 2010-09-21 Leviton Manufacturing Co., Inc. Occupancy sensor powerbase
JP4522975B2 (ja) * 2006-06-19 2010-08-11 東京エレクトロン株式会社 プローブカード
KR100807045B1 (ko) 2006-08-28 2008-02-25 동부일렉트로닉스 주식회사 반도체 검사장치
US20080166928A1 (en) * 2007-01-10 2008-07-10 Liang Tang Compliant pin
KR100855302B1 (ko) * 2007-02-16 2008-08-29 주식회사 파이컴 프로브 카드 및 접속체 본딩 방법
KR100853624B1 (ko) 2007-02-16 2008-08-25 주식회사 파이컴 연결체 본딩 방법
KR101334211B1 (ko) * 2007-07-20 2013-11-28 (주) 미코에스앤피 프로브 카드
CN101399477B (zh) * 2007-09-28 2013-03-06 台达电子工业股份有限公司 端子结构
US20090108980A1 (en) * 2007-10-09 2009-04-30 Littelfuse, Inc. Fuse providing overcurrent and thermal protection
US20090144970A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-11 Winmems Technologies Holdings Co., Ltd. Fabricating an array of mems parts on a substrate
JP5064205B2 (ja) 2007-12-27 2012-10-31 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 コンタクトおよびインタポーザ
US20090277670A1 (en) * 2008-05-10 2009-11-12 Booth Jr Roger A High Density Printed Circuit Board Interconnect and Method of Assembly
JP2010009975A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Fujitsu Ltd プレスフィットコンタクト及びコネクタ及びプレスフィットコンタクトの接続構造
US8089294B2 (en) 2008-08-05 2012-01-03 WinMENS Technologies Co., Ltd. MEMS probe fabrication on a reusable substrate for probe card application
KR200446425Y1 (ko) * 2008-11-25 2009-10-28 (주) 미코티엔 프로브 카드
US7928751B2 (en) * 2009-02-18 2011-04-19 Winmems Technologies Holdings Co., Ltd. MEMS interconnection pins fabrication on a reusable substrate for probe card application
JP5606695B2 (ja) * 2009-07-03 2014-10-15 新光電気工業株式会社 接続端子付き基板
KR101083026B1 (ko) 2009-12-08 2011-11-16 주식회사 엔아이씨테크 인쇄회로기판 검사 장치
US8123529B2 (en) * 2009-12-18 2012-02-28 International Business Machines Corporation Apparatus for connecting two area array devices using a printed circuit board with holes with conductors electrically connected to each other
DE102010029867B4 (de) 2010-06-09 2023-03-23 Zf Friedrichshafen Ag Elektronische Baugruppe
US8480412B2 (en) 2011-06-21 2013-07-09 Lear Corporation Terminal and connector assembly
EP2566024B1 (en) * 2011-09-01 2016-11-09 Nxp B.V. Controller for an AC/DC converter having a switchable PFC, and a method of controlling an AC/DC converter
US8701476B2 (en) * 2011-09-16 2014-04-22 Tyco Electronics Brasil Ltda Sensor assembly with resilient contact portions
KR101305390B1 (ko) 2011-09-26 2013-09-06 주식회사 유니세트 프로브카드용 니들설치블록
US8613626B1 (en) * 2012-06-21 2013-12-24 International Business Machines Corporation Dual level contact design for an interconnect system in power applications
JP6374642B2 (ja) 2012-11-28 2018-08-15 株式会社日本マイクロニクス プローブカード及び検査装置
CN103035595B (zh) * 2013-01-04 2016-03-23 江苏宏微科技股份有限公司 功率模块端子及其连接结构
CN103023281B (zh) * 2013-01-04 2015-06-10 江苏宏微科技股份有限公司 装配式功率模块
CN103359104B (zh) * 2013-07-23 2015-12-02 安徽江淮汽车股份有限公司 汽车蠕动控制方法及系统
JP6256129B2 (ja) * 2014-03-14 2018-01-10 オムロン株式会社 圧接端子
US9620877B2 (en) * 2014-06-17 2017-04-11 Semiconductor Components Industries, Llc Flexible press fit pins for semiconductor packages and related methods
CN104124553A (zh) * 2014-07-24 2014-10-29 珠海格力电器股份有限公司 插片及具有其的印制电路板
US9431733B1 (en) * 2015-02-11 2016-08-30 Dell Products, Lp Double action compliant connector pin
KR101651587B1 (ko) * 2015-03-20 2016-09-01 주식회사 애이시에스 엘이디 패키징 번인 테스트 검사 장치
KR102133484B1 (ko) * 2015-03-31 2020-07-14 테크노프로브 에스.피.에이. 특히 고주파 응용을 위한, 수직형 접촉 프로브 및 수직형 접촉 프로브를 구비한 대응하는 테스트 헤드
JP6365768B2 (ja) * 2015-04-10 2018-08-01 富士電機株式会社 半導体装置
JP6566889B2 (ja) * 2016-02-17 2019-08-28 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 コンタクト
JP6654061B2 (ja) * 2016-02-23 2020-02-26 日本電子材料株式会社 プローブガイド、プローブカード及びプローブガイドの製造方法
JP7043751B2 (ja) * 2016-10-12 2022-03-30 株式会社オートネットワーク技術研究所 プレスフィット端子
DE102017120357A1 (de) * 2017-09-05 2019-03-07 HELLA GmbH & Co. KGaA Kontakteinrichtung zur elektrischen Verbindung von zwei Leiterplatten
DE102017218182A1 (de) * 2017-09-26 2019-03-28 Continental Teves Ag & Co. Ohg Elektrisch leitfähiges Kontaktelement
CN108306138A (zh) * 2018-01-09 2018-07-20 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
TWI639006B (zh) * 2018-01-10 2018-10-21 中華精測科技股份有限公司 探針卡裝置
CN108767622B (zh) * 2018-06-04 2019-12-10 朋友电力科技有限公司 一种便于安装和更换导线与设备转换的连接器的制备工艺
DE102020002076A1 (de) 2020-04-01 2021-10-07 Kostal Automobil Elektrik Gmbh & Co. Kg Axial federnder Einpresskontaktstift
CN111509440B (zh) 2020-04-24 2021-09-10 东莞立讯技术有限公司 一种连接器
KR20220022668A (ko) * 2020-08-19 2022-02-28 (주)포인트엔지니어링 양극산화막 몰드 및 이를 포함하는 몰드구조체, 이를 이용한 성형물의 제조방법 및 그 성형물
US20220287179A1 (en) * 2021-03-04 2022-09-08 Raytheon Company Interconnect and Method for Manufacturing the Same
WO2024137854A1 (en) * 2022-12-20 2024-06-27 Formfactor, Inc. Mems probes having decoupled electrical and mechanical design

Family Cites Families (72)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR680284A (fr) 1929-08-13 1930-04-28 Wagner Maschf Gustav Lame de scie à segments dentés rapportés
US4186982A (en) * 1973-08-01 1980-02-05 Amp Incorporated Contact with split portion for engagement with substrate
JPS6042887B2 (ja) 1979-03-31 1985-09-25 株式会社東芝 位置合せ装置
US4357062A (en) 1979-12-10 1982-11-02 John Fluke Mfg. Co., Inc. Universal circuit board test fixture
JPS5757476A (en) * 1980-09-24 1982-04-06 Eruko International Kk Flexible contact pice for electric connector
US4508405A (en) 1982-04-29 1985-04-02 Augat Inc. Electronic socket having spring probe contacts
GB2129393A (en) * 1982-10-29 1984-05-16 Nat Res Dev Poultry-harvesting assembly
US4724383A (en) 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
US5829128A (en) * 1993-11-16 1998-11-03 Formfactor, Inc. Method of mounting resilient contact structures to semiconductor devices
US6631247B1 (en) 1999-09-29 2003-10-07 Ricoh Co., Ltd. Method and system for remote diagnostic, control and information collection based on various communication modes for sending messages to a resource manager
US4813129A (en) 1987-06-19 1989-03-21 Hewlett-Packard Company Interconnect structure for PC boards and integrated circuits
JPH0429561Y2 (zh) * 1987-08-18 1992-07-17
US4871317A (en) * 1987-12-02 1989-10-03 A. O. Smith Corporation Surface mounted component adaptor for interconnecting of surface mounted circuit components
US4806104A (en) * 1988-02-09 1989-02-21 Itt Corporation High density connector
US4887544A (en) * 1988-03-14 1989-12-19 General Dynamics Corp., Pomona Div. Vacuum well process
US4904212A (en) * 1988-08-31 1990-02-27 Amp Incorporated Electrical connector assembly
US4857018A (en) * 1988-09-01 1989-08-15 Amp Incorporated Compliant pin having improved adaptability
US5006922A (en) * 1990-02-14 1991-04-09 Motorola, Inc. Packaged semiconductor device having a low cost ceramic PGA package
US5132879A (en) * 1990-10-01 1992-07-21 Hewlett-Packard Company Secondary board for mounting of components having differing bonding requirements
FR2680284B1 (fr) * 1991-08-09 1993-12-03 Thomson Csf Dispositif de connexion a tres faible pas et procede de fabrication.
US5139446A (en) * 1991-10-30 1992-08-18 Amp Incorporated Electrical connector assembly
US5199889A (en) * 1991-11-12 1993-04-06 Jem Tech Leadless grid array socket
US5398863A (en) * 1993-07-23 1995-03-21 Tessera, Inc. Shaped lead structure and method
US6741085B1 (en) * 1993-11-16 2004-05-25 Formfactor, Inc. Contact carriers (tiles) for populating larger substrates with spring contacts
US5772451A (en) * 1993-11-16 1998-06-30 Form Factor, Inc. Sockets for electronic components and methods of connecting to electronic components
US6023103A (en) * 1994-11-15 2000-02-08 Formfactor, Inc. Chip-scale carrier for semiconductor devices including mounted spring contacts
US6184053B1 (en) * 1993-11-16 2001-02-06 Formfactor, Inc. Method of making microelectronic spring contact elements
US6117694A (en) * 1994-07-07 2000-09-12 Tessera, Inc. Flexible lead structures and methods of making same
US5518964A (en) * 1994-07-07 1996-05-21 Tessera, Inc. Microelectronic mounting with multiple lead deformation and bonding
US6150186A (en) * 1995-05-26 2000-11-21 Formfactor, Inc. Method of making a product with improved material properties by moderate heat-treatment of a metal incorporating a dilute additive
US5597470A (en) * 1995-06-18 1997-01-28 Tessera, Inc. Method for making a flexible lead for a microelectronic device
US5994152A (en) * 1996-02-21 1999-11-30 Formfactor, Inc. Fabricating interconnects and tips using sacrificial substrates
US6024584A (en) * 1996-10-10 2000-02-15 Berg Technology, Inc. High density connector
SG71046A1 (en) * 1996-10-10 2000-03-21 Connector Systems Tech Nv High density connector and method of manufacture
US6139336A (en) * 1996-11-14 2000-10-31 Berg Technology, Inc. High density connector having a ball type of contact surface
US6520778B1 (en) * 1997-02-18 2003-02-18 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structures, and methods of making same
AU8280398A (en) * 1997-06-30 1999-01-19 Formfactor, Inc. Sockets for semiconductor devices with spring contact elements
JP3276893B2 (ja) 1997-08-08 2002-04-22 東洋ガラス株式会社 アンバーガラスを用いる色ガラスの製造方法
US6557253B1 (en) * 1998-02-09 2003-05-06 Tessera, Inc. Method of making components with releasable leads
US6807734B2 (en) * 1998-02-13 2004-10-26 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structures, and methods of making same
KR200215511Y1 (ko) * 1998-03-03 2001-03-15 윤종용 집적회로소자용소켓과회로기판및보조회로기판
US5952843A (en) * 1998-03-24 1999-09-14 Vinh; Nguyen T. Variable contact pressure probe
US6206735B1 (en) * 1998-08-28 2001-03-27 Teka Interconnection Systems, Inc. Press fit print circuit board connector
JP2000133353A (ja) * 1998-10-27 2000-05-12 Hirose Electric Co Ltd 中間電気コネクタ
US6268015B1 (en) * 1998-12-02 2001-07-31 Formfactor Method of making and using lithographic contact springs
JP4295384B2 (ja) * 1999-03-08 2009-07-15 富士通コンポーネント株式会社 コネクタ
US6155887A (en) * 1999-05-27 2000-12-05 Airborn, Inc. Stackable connector system and contact for use therein
US6578264B1 (en) * 1999-06-04 2003-06-17 Cascade Microtech, Inc. Method for constructing a membrane probe using a depression
JP2001023715A (ja) * 1999-07-12 2001-01-26 Sumitomo Wiring Syst Ltd 端子金具
US6957963B2 (en) * 2000-01-20 2005-10-25 Gryphics, Inc. Compliant interconnect assembly
JP4311859B2 (ja) * 2000-04-17 2009-08-12 富士通株式会社 バックボード
US6367763B1 (en) * 2000-06-02 2002-04-09 Wayne K. Pfaff Test mounting for grid array packages
US6343940B1 (en) * 2000-06-19 2002-02-05 Advantest Corp Contact structure and assembly mechanism thereof
US6312296B1 (en) * 2000-06-20 2001-11-06 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Electrical connector having enhanced retention of contacts in a housing
US6352436B1 (en) * 2000-06-29 2002-03-05 Teradyne, Inc. Self retained pressure connection
TW454982U (en) * 2000-08-24 2001-09-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Socket connector
JP2002296296A (ja) * 2001-01-29 2002-10-09 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブおよびその製造方法
EP1387174B1 (en) * 2001-04-13 2010-05-19 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Contact probe
JP2002343478A (ja) * 2001-05-16 2002-11-29 Tyco Electronics Amp Kk 電気コンタクトおよびそれを用いた電気接続部材
JP3776331B2 (ja) * 2001-05-31 2006-05-17 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
US6764869B2 (en) * 2001-09-12 2004-07-20 Formfactor, Inc. Method of assembling and testing an electronics module
US6592382B2 (en) * 2001-12-17 2003-07-15 Woody Wurster Simplified board connector
JP2004031006A (ja) * 2002-06-24 2004-01-29 Sumitomo Wiring Syst Ltd 端子の取付け構造及び回路基板用コネクタ
US7047638B2 (en) * 2002-07-24 2006-05-23 Formfactor, Inc Method of making microelectronic spring contact array
US6928727B2 (en) * 2002-07-30 2005-08-16 Avx Corporation Apparatus and method for making electrical connectors
US6917102B2 (en) * 2002-10-10 2005-07-12 Advantest Corp. Contact structure and production method thereof and probe contact assembly using same
US6724205B1 (en) * 2002-11-13 2004-04-20 Cascade Microtech, Inc. Probe for combined signals
US6920689B2 (en) * 2002-12-06 2005-07-26 Formfactor, Inc. Method for making a socket to perform testing on integrated circuits
JP2004259530A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Shinko Electric Ind Co Ltd 外部接触端子を有する半導体装置及びその使用方法
US7005751B2 (en) * 2003-04-10 2006-02-28 Formfactor, Inc. Layered microelectronic contact and method for fabricating same
JP4299184B2 (ja) * 2004-04-23 2009-07-22 矢崎総業株式会社 基板接続用板端子
US7083434B1 (en) * 2005-03-10 2006-08-01 Trw Automotive Us Llc Electrical apparatus with compliant pins

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104103925A (zh) * 2013-04-08 2014-10-15 泰科电子公司 电触头和包括其的电连接器组件
CN104103925B (zh) * 2013-04-08 2018-01-02 泰科电子公司 电触头和包括其的电连接器组件

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