BR102012006505A2

BR102012006505A2 - Micrótomo com sensor de orientação de superfície para detectar a orientação da superfície de amostra

Info

Publication number: BR102012006505A2
Application number: BRBR102012006505-3A
Authority: BR
Inventors: Hwai-Jyh Michael Yang; Xuan S Bui
Original assignee: Sakura Finetek Usa Inc
Priority date: 2011-03-24
Filing date: 2012-03-22
Publication date: 2014-06-03
Also published as: EP2503315A2; DK2503315T3; US8869666B2; AU2012200721B2; AU2012200721A1; CN102692338A; US9347857B2; JP2016186497A; AU2012200721C1; EP3239687B1; EP2503315B1; EP2503315A3; CA2766756A1; US20150013512A1; JP2012202993A; CN102692338B; AU2012200721C9; JP5960457B2; JP6362641B2; US20120240737A1

Abstract

MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA. A presente invenção refere-se a um dispositivo de seccionamento de amostra que inclui um mecanismo de corte, um prendedor de amostra, um sistema de acionamento e um sensor de orientação de superfície. O prendedor de amostra é operável para prender a amostra. O mecanismo de corte é operável para cortar seções da amostra. O sistema de acionamento está acoplado com o prendedor de amostra. O sistema de acionamento operável para acionar o movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte. O sensor de orientação de superfície é operável para detectar uma orientação de uma superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para "MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA".

ANTECEDENTES CAMPO

A presente invenção refere-se a micrótomos ou outros dispositi- vos de seccionamento de amostra de tecidos para produzir seções de amos- tras, especificamente, algumas modalidades referem-se a micrótomos ou outros dispositivos de seccionamento de amostra de tecidos que têm senso- 10 res de orientação de superfície para detectar as orientações de superfícies das amostras.

INFORMAÇÕES ANTECEDENTES

A histologia é uma ciência ou disciplina associada com o pro- cessamento de tecidos para exame ou análise. O exame ou análise pode ser a morfologia celular, a composição química, a estrutura ou composição de tecido, ou outras características de tecido.

Na histologia, uma amostra de tecido pode ser preparada para seccionamento por um micrótomo ou outro dispositivo de seccionamento de amostra. Comumente, o tecido pode ser seco ou desidratado removendo a 20 maior parte ou praticamente toda a água do tecido, por exemplo, expondo o tecido a um ou mais agentes desidratantes. Após a secagem do tecido, uma limpeza dos agentes desidratantes pode opcionalmente ser executada, e então um agente de embutimento (por exemplo, uma cera com plastificantes adicionados) pode ser introduzido ou infiltrado no tecido seco. A remoção da 25 água e a infiltração do agente de embutimento podem ajudar no secciona- mento do tecido em finas seções com o micrótomo.

Um embutimento pode então ser executado no tecido. Durante o embutimento, o tecido que foi seco e infiltrado com o agente de embutimento pode ser embutido em um bloco ou outra massa de cera, vários polímeros, 30 ou outro meio de embutimento. Representativamente, o tecido seco e infil- trado com cera pode ser colocado dentro de um molde e/ou cassete, uma cera fundida pode ser aplicada sobre o tecido até que o molde tenha sido cheio com a cera, e então a cera pode ser resfriada e endurecida. O embu- timento do tecido no bloco de cera pode ajudar a prover um suporte adicio- nal durante o corte ou seccionamento do tecido com um micrótomo.

O micrótomo pode ser utilizado para cortar finas fatias ou seções 5 da amostra de tecido. Vários tipos diferentes de micrótomos são conhecidos na técnica. Os tipos representativos incluem, por exemplo, micrótomos de carrinho, rotativo, de vibração, serra, e laser. Os micrótomos podem ser ma- nuais ou automatizados. Os micrótomos automatizados podem incluir siste- mas motorizados ou sistema de acionamento para acionar ou automatizar 10 um movimento de corte entre a amostra da qual as seções devem ser corta- das e um mecanismo de corte para cortar as seções. Deve ser apreciado que os micrótomos podem também ser utilizados para outros propósitos a- lém de apenas histologia, e que os micrótomos podem ser utilizados sobre outros tipos de amostras além de apenas tecido embutido.

BREVE DESCRIÇÃO DAS DIVERSAS VISTAS DOS DESENHOS

A invenção pode ser mais bem compreendida referindo à descri- ção seguinte e aos desenhos acompanhantes que são utilizados para ilustrar as modalidades da invenção. Nos desenhos:

figura 1 ilustra uma vista esquemática de uma modalidade de um micrótomo ou outro dispositivo de seccionamento de amostra.

Figura 2 ilustra uma modalidade de um conjunto de sensor para um micrótomo ou outro dispositivo de seccionamento.

Figura 3A ilustra uma modalidade de um conjunto de sensor em uma posição recuada.

Figura 3B ilustra uma modalidade de um conjunto de sensor em

uma posição elevada.

Figura 4A ilustra uma vista em perspectiva em corte de uma mo- dalidade de um conjunto de sensor que tem um primeiro eixo geométrico de uma placa de detecção.

Figura 4B ilustra uma vista em corte de uma modalidade do con-

junto de sensor da Figura 4A ao longo da linha corte B-B'.

Figura 4C ilustra uma vista em perspectiva em corte de uma modalidade de um conjunto de sensor que tem um quadro de detecção com um segundo eixo geométrico de rotação ao redor de um segundo membro de suporte axial.

Figura 4D ilustra uma vista em corte de uma modalidade do con- junto de sensor da Figura 4C ao longo da linha corte D-D'.

Figura 5 ilustra uma modalidade de um sistema de controle para controlar uma operação de um micrótomo que inclui um dispositivo de volan- te e controle.

Figura 6 uma ilustra uma vista em perspectiva de uma modali- dade de um sistema de alimentação de um micrótomo.

DESCRIÇÃO DETALHADA

Na descrição seguinte, numerosos detalhes específicos, tais como micrótomos específicos, sistemas de acionamento de corte específi- cos, sensores específicos, mecanismos de detecção específicos, processos 15 de medição e/ou ajuste de orientação de superfície específicos, e similares, estão apresentados. No entanto, deve ser compreendido que as modalida- des da invenção podem ser praticadas sem estes detalhes específicos. Em outros casos, componentes mecânicos, circuitos, estruturas e técnica bem conhecidos não foram mostrados em detalhes de modo a não obscurecer a 20 compreensão desta descrição.

A figura 1 ilustra uma vista esquemática de uma modalidade de um micrótomo ou outro dispositivo de seccionamento de amostra. O micró- tomo 100 pode incluir um membro de base 101 que tem um sistema de a- cionamento de alimentação ou sistema de acionamento de corte 102, um 25 membro de montagem 103 e um volante 104 preso a este. O sistema de a- cionamento de alimentação 102 pode ser suportado acima do membro de base 101 por um membro de suporte 115. O sistema de acionamento de alimentação 102 pode incluir um membro de acionamento vertical 105, um membro de acionamento horizontal 106 e um prendedor de amostra 107 o- 30 perável para prender a amostra 108. A amostra 108 pode incluir um pedaço de tecido que deve ser seccionado, por exemplo, um pedaço de tecido em- butido em parafina. O sistema de acionamento de corte ou sistema de acionamento de alimentação é operável para acionar o movimento da amostra presa pelo prendedor de amostra. Um motor 109 do sistema de acionamento de alimen- tação 102 pode estar mecanicamente acoplado no membro de acionamento 5 vertical 105 e operável para acionar o movimento vertical do membro de a- cionamento vertical 105 em uma direção da seta dupla vertical 126. O motor 110 do sistema de acionamento de alimentação 102 pode estar mecanica-

1 mente acoplado no membro de acionamento horizontal 106 para acionar o movimento horizontal do membro de acionamento horizontal 106 em uma 10 direção da seta dupla horizontal 125. Deve ser notado que os termos tais como "horizontal", "vertical", "topo", "fundo", "superior", "inferior", e similares, são aqui utilizados para facilitar a descrição do dispositivo ilustrado. É possí- vel para outros dispositivos substituir os movimentos horizontais por movi- mentos verticais, etc.

O membro de montagem 103 pode incluir uma base de monta-

gem 111a qual provê uma superfície de montagem para o membro ou me- canismo de corte 112. O membro ou mecanismo de corte 112 pode ser, por exemplo, uma lâmina ou faca de vários tipos de materiais montada no mem- bro de montagem 103, ou outros tipos de mecanismos de corte adequados 20 para os micrótomos. Um membro de recebimento de seção 113 pode estar posicionado ao longo de um lado do membro de corte 112. O membro de recebimento de seção 113 está dimensionado para receber uma seção cor- tada da amostra 108 pelo membro ou lâmina de corte 112. Neste aspecto, o membro de recebimento de seção 113 pode ter uma superfície inclinada que 25 estende de uma borda de corte da lâmina 112 até a superfície do membro de montagem 103. Conforme o membro ou lâmina de corte 112 fatia através da amostra 108, a seção cortada da amostra 108 é separada da amostra 108 e estende ao longo do membro de recebimento de seção 113.

Como mostrado, em algumas modalidades, o micrótomo 100 pode incluir um conjunto de sensor de orientação de superfície 114. O con- junto de sensor de orientação de superfície 114 é operável para detectar ou medir uma orientação ou um ângulo de uma superfície de amostra 108. A orientação ou o ângulo da superfície de amostra 108 pode ser detectado ou determinado em vários diferentes modos. Em algumas modalidades, as quais estão abaixo descritas em detalhes adicionais, a superfície da amostra 108 pode contactar o conjunto de sensor 114, e uma ou mais porções mó-

5 veis do conjunto de sensor 114 podem conformar a uma orientação da su- perfície de amostra 108. O movimento das uma ou mais porções móveis do conjunto de sensor pode permitir que o micrótomo 100 detecte ou determine

* autonomamente a orientação da superfície de amostra 108. Mecanismos

* óticos e outros de detecção são também adequados.

A orientação detectada pode ser utilizada para ajustar ou alinhar

a superfície da amostra 108 de modo que esta fique paralela, substancial- mente paralela, ou pelo menos mais paralela com o membro ou mecanismo de corte 112 e/ou plano de corte 124 associado com o membro ou meca- nismo de corte 112. É vantajoso que a superfície de amostra 108 fique sufi- 15 cientemente alinhada paralela com o membro de corte 112 e/ou plana de corte 124 de modo que as seções de amostra cortadas pelo micrótomo 100 sejam suficientemente uniformemente cortadas. Em algumas modalidades, o micrótomo 100 pode opcionalmente ser capaz de ajustar ou alinhar autono- mamente a orientação da superfície de amostra 108 paralela, suficientemen- 20 te paralela, ou pelo menos mais paralela, com o membro de corte 112 e/ou plano de corte 124. O micrótomo 100 pode ter uma lógica para detectar e/ou ajustar autonomamente uma orientação da superfície da amostra em relação a um plano de corte e/ou mecanismo de corte com base na orientação de- tectada. Vantajosamente, isto pode ajudar a aperfeiçoar a precisão de ali- 25 nhamento e/ou desobrigar um operador de executar o ajuste manualmente. Alternativamente, o ajuste pode ser executado manualmente, se desejado. Uma modalidade de um método de seccionamento pode incluir o micrótomo 100 detectando autonomamente uma orientação de uma superfície de amos- tra 108 utilizando o conjunto de sensor 114, um operador manualmente ou o 30 micrótomo 100 autonomamente ajustando a orientação da superfície de a- mostra 108, e o micrótomo 100 fazendo uma seção de amostra 108 após tal ajuste. Na modalidade ilustrada, o conjunto de sensor 114 está acopla- do móvel na base de montagem 111 em uma posição entre o sistema de acionamento de alimentação 102 e o membro de montagem 103, apesar disto não ser requerido. A base de montagem 111 provê uma superfície de suporte para o conjunto de sensor 114 e está dimensionada e acoplada para acomodar o deslizamento do conjunto de sensor 114 verticalmente em uma direção da seta dupla vertical 126B. Durante a operação, o conjunto de sen- *· sor 114 é operável para deslizar ao longo da base 111 em uma direção ver- tical ascendente na direção do sistema de acionamento de alimentação 102, e o membro de acionamento vertical 105 é operável para fazer com que o sistema de acionamento de alimentação 102 mova em uma direção vertical descendente na direção do conjunto de sensor 114. Uma vez que a amostra 108 está suficientemente verticalmente alinhada com o conjunto de sensor 114, o membro de acionamento horizontal 106 é operável para fazer com que o sistema de acionamento de alimentação 102 mova em uma direção horizontal na direção do conjunto de sensor 114 na direção da seta horizon- tal 125 de modo que uma superfície de amostra 108 fique apropriadamente posicionada em relação ao conjunto de sensor 114 para permitir uma medi- ção de orientação de superfície. Uma vez que a orientação da superfície de amostra 108 é determinada, e realinhada se apropriado, o conjunto de sen- sor 114 é operável para recuar em uma direção descendente vertical como visto (por exemplo, para uma posição recuada afastada do movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte).

Referindo novamente à figura 1, a operação do sistema de acio- 25 namento de alimentação 102 pode ser controlada utilizando o volante 104 e/ou o dispositivo de controle 116. O volante 104 pode incluir uma pega ou outro dispositivo de geração de pulso 117 para travar o volante 104. A rota- ção do volante 104 pode ser operável para fazer com que o membro de a- cionamento vertical 105 mova em uma direção vertical mostrada pela seta 30 dupla 126 para facilitar o fatiamento da amostra 108. Em algumas modalida- des, o volante 104 pode ser um volante desacoplável, o qual não está me- canicamente acoplado no sistema de acionamento de alimentação 102. Ao contrário, o volante 104 desacoplado pode estar eletricamente conectado a um codificador (não mostrado) e um circuito de controle 118 através de uma linha de controle 119. A rotação do volante 104 desacoplado pode fazer com que o codificador forneça um sinal elétrico para o circuito de controle 118. O 5 circuito de controle 118 está conectado no motor 109 através da linha de controle 120 e é operável para controlar o movimento do membro de acio- namento vertical 105 de acordo com o sinal elétrico do codificador. O circuito de controle 118 está também conectado no motor 110 através da linha de controle 121 e está conectado no conjunto de sensor 114 através da linha de 10 controle 122.

Além de sinais do codificador, sinais do dispositivo de controle 116 podem ser transmitidos para o circuito de controle 118 para controlar ou facilitar a operação do conjunto de sensor 114, do volante 104, do motor 109 e/ou do motor 110. Em algumas modalidades, o dispositivo de controle 116 15 pode ser, por exemplo, um teclado, de toque de sensor capacitivo, ou outro dispositivo de entrada de usuário ou de dados. Em algumas modalidades, os sinais são transmitidos entre o dispositivo de controle 116 e o circuito de controle 118 através da linha de controle 123. Em outras modalidades, o dispositivo de controle 116 é um dispositivo de controle sem fio que é operá- 20 vel para transmitir sem fio os sinais para o circuito de controle 118 e alinha de controle 123 é omitida.

A figura 2 ilustra uma modalidade de um conjunto de sensor de orientação de superfície. Nas figuras, quando considerado apropriado, os números de referência ou as porções terminais de números de referência 25 foram repetidas entre as figuras para indicar elementos correspondentes ou análogos, os quais podem opcionalmente ter características similares. Por exemplo, o conjunto de sensor de orientação de superfície 214 na figura 2 pode opcionalmente ter características similares ao conjunto de sensor 114 na figura 1. O conjunto de sensor de orientação de superfície 214 é utilizado 30 para facilitar o alinhamento autônomo de uma superfície de uma amostra com um mecanismo de corte e/ou plano de corte. É vantajoso que a superfí- cie da amostra fique suficientemente alinhada paralela ao mecanismo de corte (por exemplo, uma lâmina) de modo que as seções sejam cortadas uniformemente. Para alinhar a amostra, o conjunto de sensor de orientação de superfície 214 e o conjunto de sensor 214 detectam uma orientação da superfície da amostra. Em alguns casos, a superfície da amostra não estará 5 alinhada paralela ou suficientemente paralela com o plano de corte. O con- junto de sensor 214 detecta o ângulo da superfície da amostra com relação ao plano de corte. Utilizando as informações detectadas, a amostra pode ser ajustada para uma posição ajustada onde a superfície da amostra fica para- lela, ou pelo menos mais paralela, com o plano de corte.

A modalidade ilustrada do conjunto de sensor 214 inclui uma

placa de detecção 230 e um quadro de detecção 231. O quadro de detecção 231 está posicionado ao redor da placa de detecção 230. A placa de detec- ção 230 pode ser plana e/ou ter uma superfície plana (por exemplo, ser uma placa plana). Uma espessura da placa de detecção pode ser da ordem de 15 diversos milímetros (por exemplo, 0,5 mm a 5 mm) dependendo do material. As dimensões através da placa de detecção podem ser da ordem de apro- ximadamente 20-60 mm. A placa de detecção e o quadro de detecção po- dem ser construídos de vários materiais, tal como, por exemplo, alumínio, aço inoxidável, outros metais, plásticos rígidos, e suas combinações opcio- 20 nalmente revestidos com revestimentos protetores. Na ilustração, a placa de detecção 230 e o quadro de detecção 231 são substancialmente quadrados com relação a uma dimensão de comprimento e de largura com a placa de detecção tendo cantos truncados e o quadro de detecção tendo porções de canto de quadro em conformidade, mas em modalidades alternativas, estes 25 podem ser mais ou menos quadrados, ou podem ser retangulares, circula- res, ovais, octogonais, hexagonais, ou de outro modo. Em uma modalidade exemplar específica, a placa de detecção é quadrada com dimensões de aproximadamente 39,5 mm x 39,5 mm, é construída de alumínio tendo um revestimento protetor (por exemplo, um revestimento de politetrafluoroetileno 30 (PTFE)), e o quadro de detecção é de aproximadamente 90 mm x 75 mm x 25 mm de espessura e feito de metal (por exemplo, alumínio) e/ou plástico. Alternativamente, a placa de detecção e o quadro de detecção podem ter outras dimensões e ser feitos de outros materiais (por exemplo, aço inoxidá- vel, outros metais, ou vários tipos de plástico). A placa de detecção 230 é um primeiro membro de detecção que é rotativo ao redor de um primeiro membro de suporte axial 232, e o quadro de detecção 231 é um segundo membro de detecção que é rotativo ao redor de um segundo membro de suporte axial 233. O primeiro membro de suporte axial 232 bissecciona dia- gonalmente a placa de detecção 230. O segundo membro de suporte axial 233 bissecciona diagonalmente o quadro de detecção 231. O primeiro mem- bro de suporte axial 232 é substancialmente perpendicular ao segundo membro de suporte axial 233 (por exemplo, 80-100 graus). Consequente- mente, a placa de detecção 230 é rotativa ao longo de um eixo geométrico ortogonal ou perpendicular ao eixo geométrico de rotação para o quadro de detecção 231. A placa de detecção 230 e o quadro de detecção 231 são também móveis em uma direção horizontal quando a amostra é pressionada contra a placa de detecção 230. O movimento na direção horizontal pode prover informações sobre a posição horizontal (isto é, para dentro e para fora da página como visto) da superfície de amostra. Neste aspecto, tanto uma orientação angular da superfície da amostra, quanto uma posição hori- zontal da superfície da amostra com relação ao plano de corte podem ser detectadas pelo conjunto de sensor 214.

O conjunto de sensor 214 ainda inclui um sensor de placa de de- tecção 234 e um membro de saída de sinal de placa de detecção 235. O sensor de placa de detecção 234 está preso no quadro de conjunto de de- tecção 238 enquanto o membro de saída de sinal de placa de detecção 235 25 está preso na placa de detecção 230. Como mostrado, em um aspecto, o membro de saída de sinal de placa de detecção 235 pode estar preso na placa de detecção 230 em ou próximo de um canto ou outra porção mais distante do eixo geométrico de rotação da placa de detecção 230. O sensor de placa de detecção 234 está suficientemente alinhado com o membro de 30 saída de sinal de placa de detecção 235 para receber um sinal do membro de saída de sinal de placa de detecção 235. O sinal recebido é indicativo de uma quantidade de rotação ou de deslocamento da placa de detecção 230. Como um exemplo, um ângulo de rotação (a) da placa de detecção 230 ao longo do primeiro membro de suporte axial 232, tipicamente na ordem de diversos graus (por exemplo, 0 a 10°) pode ser detectado pelo sensor de placa de detecção 234 com base no grau de movimento do membro de saí- da de sinal de placa de detecção 235 e a força correspondente do sinal re- cebido do membro de saída de sinal de placa de detecção 235. Em algumas modalidades, o membro de saída de sinal de placa de detecção 235 pode incluir um ímã. Nesta modalidade, o sensor de placa de detecção 234 é ope- rável para detectar um campo magnético do ímã 235 (por exemplo, através de um mecanismo de detecção magnetorresistivo) para detectar uma posi- ção da placa de detecção 230. Alternativamente, ao invés de utilizar o mag- netismo, outros mecanismos de detecção podem ser utilizados, tal como, por exemplo, sensores mecânicos (por exemplo, um calibre de tensão), senso- res elétricos (por exemplo, utilizando capacitância), sensores óticos, ou ou- tros sensores podem opcionalmente ser utilizados.

O conjunto de sensor 214 também inclui o sensor de quadro de detecção 236 e o membro de saída de sinal de quadro de detecção 237. O sensor de quadro de detecção 236 está preso no quadro de conjunto de de- tecção 238 enquanto que o membro de saída de sinal de quadro de detec- 20 ção 237 está preso no quadro de detecção 231. Como mostrado, em um aspecto, o membro de saída de sinal de quadro de detecção 237 pode estar preso no quadro de detecção 231 em ou próximo de um canto ou outra por- ção mais distante do eixo geométrico de rotação do quadro de detecção 231. O sensor de quadro de detecção 236 está suficientemente alinhado com o 25 membro de saída de sinal de quadro de detecção 237 de modo que este possa receber um sinal do membro de saída de sinal de quadro de detecção 237. Em um exemplo, o membro de saída de sinal de placa de quadro 237 pode incluir um ímã e o sensor de quadro de detecção 236 pode detectar um campo magnético ou um sinal do membro de saída de sinal de quadro de 30 detecção 237 para detectar um ângulo de rotação (β) do quadro de detecção 231, o qual tipicamente está na ordem de diversos graus (por exemplo, 0 a 10°). Alternativamente, ao invés de utilizar o magnetismo, outros mecanis- mos de detecção podem ser utilizados. Como anteriormente discutido, o se- gundo membro de suporte axial 233 do quadro de detecção 231 é substan- cialmente ortogonal ao primeiro membro de suporte axial 232 da placa de detecção 230. Consequentemente, o ângulo da superfície da amostra com 5 relação ao plano de corte com relação ao segundo membro de suporte axial 233 pode adicionalmente ser detectado pelo sensor de quadro de detecção 236.

O ângulo de rotação (a) da placa de detecção 230 ao redor do primeiro membro de suporte axial 232, e o ângulo de rotação (β) do quadro de detecção 231 ao redor do segundo membro de suporte axial 233, como detectado pelos sensor de placa de detecção 234 e pelo sensor de quadro de detecção 236, respectivamente, por sua vez reflete uma primeira orienta- ção da superfície do conjunto de sensor de contato de amostra 214. Quando o sensor de placa de detecção 234 e o sensor de quadro de detecção 236 detectam que a superfície da amostra não está paralela ou suficientemente paralela ao plano de corte, um sinal pode ser provido do conjunto de sensor 214 para um componente de controle do micrótomo 100 (por exemplo, o cir- cuito de controle 118 e/ou o dispositivo de controle 116). O sinal pode repre- sentar o grau ou a extensão que a superfície de corte está deslocada do plano de corte como determinado pela rotação da placa de detecção 230 e do quadro de detecção 231. O componente de controle pode autonomamen- te ou sob a direção do usuário fazer com que o sistema de acionamento de alimentação modifique a orientação da superfície da amostra e uma orienta- ção inicial para uma orientação mudada na qual a superfície de corte da a- mostra está mais paralela com o plano de corte.

Em uma modalidade, uma calibração pode ser utilizada para ca- racterizar uma condição onde a placa de detecção 230 e o quadro de detec- ção 231 estão alinhados paralelos com o mecanismo de corte e/ou o plano de corte. Por exemplo, a placa de detecção 230 e o quadro de detecção 231 30 podem ser movidos, por exemplo, manualmente ou sendo forçados por uma peça de calibração mecânica, de modo que estes fiquem alinhados paralelos com o mecanismo de corte e/ou o plano de corte. As saídas do sensor de placa de detecção 234 e o do sensor de quadro de detecção 236 podem ser determinadas como dados de calibração nesta condição. Por exemplo, quando o membro de saída de sinal de placa de detecção 235 e o membro de saída de sinal de quadro de detecção 237 utilizam um mecanismo de de- 5 tecção magnetorresistivo, os dados de calibração podem incluir valores magnetorresistivo ou indicações de forças de campos magnéticos experi- mentados pelos respectivos sensor de placa de detecção 234 e o do sensor de quadro de detecção 236. Estes dados de calibração podem ser armaze- nados em um meio legível por máquina (por exemplo, uma memória), ou de 10 outro modo preservados pelo micrótomo.

Os dados de calibração podem ser acessados e utilizados sub- sequentemente quando ajustando a orientação de uma superfície de uma amostra. Por exemplo, o micrótomo pode ajustar autonomamente um pren- dedor de amostra para ajustar a orientação da superfície da amostra ao Ion- 15 go de um período de tempo geralmente curto, enquanto o contato com a placa de detecção e o quadro de detecção é mantido. Através de todo este processo, múltiplas medições de sensor em tempo real podem ser feitas por cada um do sensor de placa de detecção 234 e o do sensor de quadro de detecção 236. Por exemplo, no caso de um mecanismo de detecção magne- 20 torresistivo, múltiplas medições magnetorresistivas podem ser feitas em sé- rie após cada ajuste do prendedor de amostra. Estas medições em tempo real podem ser comparadas com os dados de calibração armazenados ou preservados os quais correspondem à condição onde a placa de detecção 230 e o quadro de detecção 231 estão alinhados paralelos com o mecanis- 25 mo de corte e/ou plano de corte. Conforme a orientação da superfície da amostra é ajustada para ficar mais paralela com o mecanismo de corte e/ou o plano de corte, as medições em tempo real podem tornar-se mais próxi- mas em valor aos valores de calibração. Um ajuste adicional pode ser exe- cutado até que os valores de saída de sensor correntes (por exemplo, os 30 valores magnetorresistivos) coincidam ou suficientemente coincidam com os valores de sensor de calibração. Quando os valores de saída de sensor cor- rentes coincidem ou suficientemente coincidem com os valores calibrados, então pode ser inferido que a superfície da amostra está paralela ou sufici- entemente paralela com o mecanismo de corte e/ou o plano de corte.

A placa de detecção 230 e o quadro de detecção 231 são tam- bém móveis em uma direção horizontal (isto é, para dentro e para fora da 5 página como visto nesta ilustração). Neste aspecto, um primeiro membro de tensionamento 239 e um segundo membro de tensionamento 240 podem estar posicionados ao longo de extremidades do segundo membro de supor- te axial 233 para tensionar o segundo membro de suporte axial 233 em uma direção da amostra. Em algumas modalidades, o primeiro membro de tensi- 10 onamento 239 e o segundo membro de tensionamento 240 podem ser mo- las. O pressionamento da superfície da amostra contra a placa de detecção 230 faz com que o quadro de detecção 231 e o segundo membro de suporte axial 233 recuem na direção horizontal afastando da amostra. Sensores óti- cos ou outros, os quais serão discutidos em mais detalhes em conjunto com 15 a modalidade da figura 4C, podem estar posicionados em ou próximo de cada extremidade do segundo membro de suporte axial 233, e podem ser operáveis para detectar o movimento do segundo membro de suporte axial 233. Por exemplo, quando o segundo membro de suporte axial 233 inter- rompe um feixe de Iuz entre um par de sensores óticos, um movimento adi- 20 cional do bloco de amostra pode ser terminado. Neste aspecto, uma posição horizontal da superfície mais dianteira da amostra com relação ao plano de corte pode ser detectada pelo conjunto de sensor 214. Além da posição me- dida da superfície mais dianteira da amostra (por exemplo, com base no deslocamento horizontal medido do segundo membro de suporte axial 233), 25 a localização do mecanismo de corte ou plano de corte é também precisa- mente conhecida. Juntas, estas porções de informações podem ser utiliza- das para ajudar o micrótomo fazer as seções iniciais de espessura precisa e conhecida.

Como anteriormente mencionado, em algumas modalidades, o quadro de conjunto de detecção 238 pode estar preso deslizante ou móvel no membro de montagem 241, apesar disto não ser requerido, e em outras modalidades, um conjunto de sensor 214 pode ter uma posição fixa abaixo de um membro ou mecanismo de corte. O membro de montagem 241 pode estar fixamente preso a uma base de montagem (por exemplo, a base de montagem 111 da figura 1) utilizada para suportar o conjunto de detecção 214. O quadro de conjunto de detecção 238 pode deslizar em uma direção 5 vertical ao longo do membro de montagem 241. Neste aspecto, o membro de montagem 241 pode incluir trilhos de guia 242, 243, e o quadro de con- junto de detecção 238 pode incluir trilhos de guia 244, 245. O membro desli- zante 246 está acoplado deslizante nos trilhos de guia 242, 244, entre o membro de montagem 241 e o quadro de conjunto de detecção 238 para 10 permitir que o quadro de conjunto de detecção 238 deslize com relação ao membro de montagem 241. O membro deslizante 246 inclui um primeiro membro de guia 248 e um segundo membro de guia 249 que estendem de lados opostos do membro deslizante 246 para acoplar o membro deslizante 246 no primeiro trilho de guia 242 e no segundo trilho de guia 244, respecti- 15 vãmente. Similarmente, membro deslizante 247 está acoplado deslizante nos trilhos de guia 243, 245, entre o quadro de conjunto de detecção 238 e o membro de montagem 241. O membro deslizante 247 inclui um primeiro membro de guia 250 e um segundo membro de guia 251 que estendem de lados opostos do membro deslizante 247 para acoplar o membro deslizante 20 247 no primeiro trilho de guia 245 e no segundo trilho de guia 243, respecti- vamente. Em algumas modalidades, um dos membros de guia 248, 249 po- de estar fixamente preso no trilho de guia correspondente e o outro pode estar preso deslizante no trilho de guia correspondente. Similarmente, um dos membros de guia 250, 251 pode estar fixamente preso no trilho de guia 25 correspondente e o outro pode estar preso deslizante no trilho de guia cor- respondente. Como pelo menos um membro de guia em cada lado do qua- dro de conjunto de detecção 238 pode estar acoplado deslizante com o membro de montagem 241, o quadro de conjunto de detecção 238 é capaz de deslizar com relação ao membro de montagem 241. Durante a operação, 30 o quadro de conjunto de detecção 238 pode deslizar ao longo dos trilhos de guia 242, 243 até este ser elevado para uma posição onde este pode ser contactado pelo amostra presa no prendedor de amostra. Após o contato de amostra, o quadro de conjunto de detecção 238 é recuado de volta para a posição este fica abaixo do membro de corte da base de montagem (ver ba- se de montagem 111 da figura 1).

A figura 3A e a figura 3B ilustram modalidades do conjunto de sensor 314 em uma posição recuada e uma posição elevada, respectiva- mente. A figura 3A ilustra uma modalidade do conjunto de sensor 314 na posição recuada onde a placa de detecção (não mostrada nesta vista) e o quadro de detecção (não mostrado nesta vista) estão recuados abaixo da base de montagem 311. Como mostrado na figura 3A o membro de monta- gem 303 está posicionado abaixo da base de montagem 311. Durante uma operação de fatiamento, o conjunto de sensor 314 pode ser recuado para dentro do membro de montagem 303 de modo que este não interfira com o fatiamento. A amostra 308 está mostrada presa no prendedor de amostra 307. O prendedor de amostra 307 está preso no membro de acionamento vertical 305.

Para detectar uma orientação angular de uma superfície de a- mostra 308, o conjunto de sensor 314 pode ser elevado verticalmente de modo que a placa de detecção 330 fique alinhada com a amostra 308 como ilustrado na modalidade da figura 3B. Como mostrado na figura 3B, o mem- 20 bro de trilha 344 do conjunto de detecção 314 desliza ao longo do membro deslizante 346 para permitir que a placa de detecção 350 seja elevada aci- ma do membro de montagem 303 de modo que este fique posicionado na frente da base de montagem 311. Apesar de não mostrado, um membro de trilho posicionado sobre um lado oposto do conjunto de detecção 314 pode 25 também deslizar ao longo de um membro deslizante correspondente. A a- mostra 308 é alinhada com a placa de detecção 330 e avançada horizontal- mente em uma direção da placa de detecção 330. Uma orientação angular da superfície mais dianteira da amostra 308 pode ser detectada pressionan- do a superfície mais dianteira da amostra 308 contra a placa de detecção 30 330. A orientação angular detectada pode ser utilizada para facilitar o reali- nhamento da orientação angular da superfície mais dianteira da amostra 308 de modo que esta fique paralela, suficientemente paralela, ou pelo menos mais paralela, a um membro de corte e/ou plano de corte. Se desejado, múl- tiplas tais medições de detecção podem ser feitas em tempos diferentes ou repetidamente através de todo o processo de realinhamento, ou alternativa- mente uma única medição e um único ajuste com base naquela única medi- 5 ção podem ser feitos. Então, o conjunto de sensor 314 pode ser abaixado abaixo da base de montagem 311 como ilustrado na figura 3A para preparar o micrótomo para uma operação de seccionamento.

Referindo-se novamente à figura 1, e nota-se que nesta modali- dade ilustrada, o conjunto de sensor 114 está posicionado horizontalmente 10 entre o membro de suporte 115 e o membro de corte 112 e/ou plano de cor- te 124. O conjunto de sensor 114 é operável para mover verticalmente para cima e para baixo como visto. Um aspecto associado com o conjunto de sensor de posicionamento 114 horizontalmente entre o membro de suporte

115 e o membro de corte 112 é que a amostra 108 pode precisar atravessar uma maior distância horizontal na direção da seta horizontal 128 para alcan- çar o membro de corte 112 e/ou o plano de corte 124 devido em parte à dis- tância horizontal extra para acomodar uma dimensão de largura do conjunto de sensor 114, por exemplo, a dimensão "w" mostrada na figura 1, a qual pode ser na ordem de 3 cm. O atravessamento da maior distância horizontal pode levar um tempo adicional, o qual, dependendo da implementação, pode ser indesejado. Por exemplo, comumente o movimento na direção horizontal é relativamente mais lento do que na direção vertical. Isto pode ser um resul- tado de um desejo de prover uma precisão de movimento mais fina na dire- ção horizontal de modo a prover posições horizontais precisas para obter um controle preciso sobre a espessura de seccionamento.

Modalidades alternativas são contempladas onde o conjunto de sensor 114 não está horizontalmente disposto entre a amostra 108 e/ou o membro de suporte 115 e o mecanismo de corte 112. Por exemplo, em al- gumas modalidades, o conjunto de sensor 114 pode estar em uma posição 30 fixa aproximadamente verticalmente abaixo do membro ou mecanismo de corte 112 e/ou plano de corte 124. Uma vantagem potencial de posicionar o conjunto de sensor 114 verticalmente abaixo do membro de corte 112 é que a amostra 108 pode não precisar atravessar a distância adicional (por exem- plo, na ordem de 3 cm) na direção horizontal da seta 25 para alcançar o membro de corte 112 e/ou plano de corte 124. Isto pode ajudar a reduzir a quantidade de tempo para a amostra mover horizontalmente para o membro 5 de corte 112. Em algumas modalidades, o movimento vertical do membro de acionamento vertical 105 pode ser relativamente mais rápido do que o mo- vimento horizontal do membro de acionamento horizontal 106. O membro de acionamento vertical 105 pode mover para baixo por uma distância adicional (por exemplo, na ordem de 64 cm) na direção da seta vertical 126 para al- 10 cançar o conjunto de sensor 114. Em alguns casos, pode levar menos tempo para o membro de acionamento vertical 105 se deslocar pela distância extra na direção vertical para alcançar o conjunto de sensor 114 abaixo do meca- nismo de corte 112 do que levaria para o membro de acionamento horizontal

116 se deslocar pela distância extra na direção horizontal devido à largura do conjunto de sensor 114. Isto pode ajudar a acelerar o tempo para detec- tar as orientações de superfície e ajustar as orientações de superfície.

Como anteriormente discutido, uma posição inicial da superfície mais dianteira da amostra pode ser detectada pressionando a amostra con- tra a placa de detecção. Com base no grau de rotação da placa de detecção 20 e do quadro de detecção ao redor de seus respectivos eixo geométricos, uma orientação e posição angular da superfície da amostra podem ser de- terminadas. Os vários eixos geométricos e a rotação da placa de detecção e do quadro de detecção ao redor de seus eixos geométricos estão ilustrados nas modalidades das figuras 4A, 4B, 4C e 4D.

A figura 4A ilustra uma vista em perspectiva cortada de uma

modalidade de um conjunto de sensor 414 que tem um primeiro eixo geomé- trico de uma placa de detecção. A figura 4B ilustra uma vista em corte trans- versal de uma modalidade do conjunto de sensor 414 da figura 4A ao longo da linha B-B'. Neste aspecto, o conjunto de sensor 414 inclui uma placa de 30 detecção 430 e um quadro de detecção 431 presos no quadro de conjunto de detecção 438. Um primeiro membro de suporte axial 432 está posiciona- do diagonalmente através da placa de detecção 430 para prover um primeiro eixo geométrico de rotação para a placa de detecção 430 a um ângulo de rotação (a). Um segundo membro de suporte axial 433 (mostrado na figura 4D) está posicionado diagonalmente através do quadro de detecção 431 para prover um segundo eixo geométrico de rotação para o quadro de de- 5 tecção 431. O segundo eixo geométrico de rotação é substancialmente per- pendicular ao primeiro eixo geométrico de rotação (por exemplo, 80-100 graus).

Durante a operação, a superfície mais dianteira ou de corte do bloco de amostra 408 (por exemplo, uma amostra de tecido embutida em um bloco de parafina ou cassete) é pressionada contra a placa de detecção 430. Em alguns casos, a superfície do bloco de amostra 408 não é paralela a um membro de corte e/ou plano de corte. O pressionamento da superfície do bloco de amostra 408 contra a placa de detecção 430 causa a rotação da placa de detecção 430 ao longo de um primeiro membro de suporte axial 432 como ilustrado na figura 4B de modo que a placa de detecção 430 con- forme com uma orientação angular da superfície do bloco de amostra 408. O grau de rotação da placa de detecção ao longo do primeiro membro de su- porte axial 432 é detectado pelo sensor de placa de detecção 430 preso no quadro de conjunto de detecção 438. Estas informações são então utilizadas em parte para determinar a orientação angular da superfície do bloco de amostra 408.

Além de girar a placa de detecção 430, a superfície inclinada do bloco de amostra 408 pode causar a rotação do quadro de detecção 431 ao longo do segundo membro de suporte axial 432 ilustrado nas figuras 4C e 25 4D. A figura 4C ilustra uma vista em perspectiva em corte de uma modalida- de de um conjunto de sensor 414 que tem o quadro de detecção 431 com um segundo eixo geométrico de rotação ao redor do segundo membro de suporte axial 433. O quadro de detecção 431 pode girar ao redor do segun- do eixo geométrico de rotação a um ângulo (β). A figura 4D ilustra uma vista 30 em corte transversal de uma modalidade do conjunto de sensor 414 da figu- ra 4C ao longo da linha D-D'. Como anteriormente discutido, o segundo membro de suporte axial 433 está posicionado diagonalmente através do quadro de detecção 431 e substancialmente perpendicular ao primeiro membro de suporte axial 432 (por exemplo, 80-100 graus). Como tal, quan- do a superfície do bloco de amostra 408 está inclinada com relação ao se- gundo membro de suporte axial 433, o quadro de detecção 431 girará ao 5 redor do segundo membro de suporte axial 433 como ilustrado na modalida- de da figura 4D. O grau de rotação pode ser detectado pelo sensor de qua- dro de detecção 436 preso no quadro de conjunto de detecção 438. Estas informações podem ser combinadas com as informações relativas ao grau de rotação da placa de detecção 430 para determinar a orientação angular 10 da superfície mais dianteira ou de corte do bloco de amostra 408.

O primeiro membro de tensionamento 439 e o segundo membro de tensionamento 440 para permitir um movimento do quadro de detecção 431 em uma direção horizontal (por exemplo, a direção da seta dupla hori- zontal 125 na figura 1) estão adicionalmente ilustrados na figura 4C. O pri- 15 meiro membro de tensionamento 439 e o segundo membro de tensionamen- to 440 podem estar posicionados ao longo de extremidades opostas do se- gundo membro de suporte axial 433 para tensionar o segundo membro de suporte axial 433 em uma direção horizontal na direção do bloco de amostra 408. Em algumas modalidades, o primeiro membro de tensionamento 439 e 20 o segundo membro de tensionamento 440 podem ser molas, cilindros pneumáticos, ou similares. O pressionamento do bloco de amostra 408 con- tra a placa de detecção 430 força o segundo membro de suporte axial 433 contra o primeiro membro de tensionamento 439 e o segundo membro de tensionamento 440 para permitir a retração da placa de detecção 430 e do 25 quadro de detecção 431 em uma direção horizontal (por exemplo, a direção da seta dupla horizontal 125 na figura 1) afastando do bloco de amostra 408. Em algumas modalidades, o grau de movimento nesta direção pode opcio- nalmente ser detectado utilizando um sensor opcional, por exemplo, um sensor ótico, um sensor mecânico, um sensor de campo magnético, ou simi- 30 lares, posicionado em cada extremidade do segundo membro de suporte axial 433. Os sensores óticos podem detectar um grau de movimento do se- gundo membro de suporte axial 433 na direção horizontal afastando do blo- co de amostra 408. As informações de deslocamento horizontal podem ser utilizadas além das informações relativas à quantidade de rotação da placa de detecção 430 e do quadro de detecção 431 para determinar não somente uma orientação angular da superfície mais dianteira do bloco de amostra 5 408 mas também uma posição horizontal da superfície mais dianteira do bloco de amostra 408. Vantajosamente, conhecendo a posição horizontal da superfície mais dianteira do bloco de amostra 408 pode ajudar a conseguir um corte de uma espessura pretendida.

Para Ilustrar adicionalmente certos conceitos, considerar # uma 10 modalidade não Iimitante específica pela qual tanto uma orientação angular de uma superfície mais dianteira do bloco de amostra 408 quanto uma posi- ção horizontal da superfície mais dianteira do bloco de amostra 408 podem ser determinadas. Nesta modalidade exemplar, a placa de detecção 430 e o quadro de detecção 431 podem cada um detectar um ângulo da superfície 15 do bloco de amostra 408 (com relação ao plano de corte) de até aproxima- damente cinco graus (por exemplo), ao longo de seus respectivos eixos ge- ométricos. Especificamente, a placa de detecção 430 pode girar ao redor de um primeiro membro de suporte axial 432 até aproximadamente cinco graus (5o) de uma posição inicial paralela ao plano de corte. Similarmente, o qua- 20 dro de detecção 431 pode girar ao redor do segundo membro de suporte axial 433 até aproximadamente cinco graus (5o) de uma posição inicial para- lela ao plano de corte. O pressionamento da superfície do bloco de amostra 408 contra a placa de detecção 430 pode fazer com que a placa de detecção 430 e/ou o quadro de detecção 431 girem para um grau equivalente ao grau 25 no qual a superfície do bloco de amostra 408 está deslocada do plano de corte. A placa de detecção 430 e o quadro de detecção 431 podem detectar um ângulo combinado de até aproximadamente sete graus (7o), nesta moda- lidade específica, para determinar uma orientação angular total que a super- fície do bloco de amostra 408 está deslocada do plano de corte.

Uma vez que a orientação angular é determinada, o micrótomo

pode determinar autonomamente um ajuste, e ajustar autonomamente a ori- entação angular da superfície do bloco de amostra 408 pelo ajuste determi- nado, de modo que este fique paralelo, substancialmente paralelo, ou mais paralelo em relação ao membro de corte e/ou plano de corte. Por exemplo, se for determinado que a superfície do bloco de amostra 408 está deslocada no plano de corte a um ângulo total de aproximadamente quatro graus (4o), 5 então a superfície do bloco de amostra 408 pode ser girada aproximadamen- te quatro graus (4o) na direção oposta de modo que a superfície do bloco de amostra 408 fique aproximadamente paralela ao plano de corte. Se deseja- do, múltiplas medições de detecção podem ser feitas enquanto o ângulo é gradualmente diminuído em pequenos ajustes. Deve ser compreendido que 10 outras modalidades podem utilizar ou maiores ou menores graus de rotação do que os graus de rotação específicos descritos para esta modalidade e- xemplar. Além disso, a posição horizontal da superfície mais dianteira do bloco de amostra 408 pode ser detectada utilizando um sensor para detectar o movimento horizontal do quadro de detecção 431 quando o bloco de a- 15 mostra 408 é pressionado contra a placa de detecção 430. Conhecendo a posição horizontal da superfície mais dianteira do bloco de amostra 408 po- de permitir que o micrótomo faça os cortes iniciais de uma espessura dese- jada.

Os conjuntos de sensor 214, 314, e 414 mostrados nas figuras 2, figura 3A-3B, e figuras 4A, 4B, 4C, e 4D, respectivamente, representam modalidades exemplares de sensores de orientação de superfície adequa- dos. No entanto, outros sensores de orientação de superfície são também contemplados. Alguns destes sensores de orientação de superfície alternati- vos são sensores baseados em contato ou conjuntos de sensor analoga- mente aos conjuntos de sensor 214, 314, e 414 acima descritos. No entanto, estes podem fazer uso de diferentes mecanismos de detecção baseados em contato para detectar a orientação da superfície da amostra. Por exemplo, em uma modalidade alternativa, ao invés de utilizar um quadro de detecção, uma placa de detecção pode ser montada sobre uma única articulação (por exemplo, uma junta de esferas), a qual permite que a placa de detecção gire em duas dimensões para conformar a uma orientação da superfície de corte da amostra. Ainda outros sensores de orientação de superfície contempla- dos são sensores não baseados em contato que não precisam contactar a superfície da amostra para determinar uma orientação da superfície da a- mostra. Por exemplo, em uma modalidade, um sistema de detecção ótica pode oticamente detectar a orientação da superfície da amostra, por exem- 5 pio, direcionando ou escaneando um ou mais feixes de laser por sobre a superfície. Outras propostas podem ser baseadas em acústica, interferome- tria, etc.

Os prendedores de amostra capazes de realinhar uma orienta- ção de uma superfície de uma amostra de modo que esta fique paralela ou mais paralela com um membro de corte e/ou um plano de corte são conhe- cidos na técnica. Em algumas modalidades, o sistema de acionamento de alimentação pode ter um mandril de peça a trabalhar de múltiplos eixos ge- ométricos ou um mandril motorizado que seja capaz de ajustar uma orienta- ção da superfície de corte da amostra em duas dimensões em relação a um membro de corte e/ou plano de corte. Exemplos de mandris de peça a traba- lhar de múltiplos eixos geométricos adequados estão descritos na Patente U.S. 7.168.694, intitulada "MANDRIL DE PEÇA DE TRABALHO DE MÚLTI- PLOS EIXOS GEOMÉTRICOS", por Xuan S. Bui at ai, depositada em 22 de Janeiro de 2004, e cedida para o cedente da presente invenção. Em uma modalidade, o mandril de múltiplos eixos geométricos pode ter um conjunto de montagem que retém uma peça a trabalhar, tal como uma amostra, em uma orientação substancialmente fixa com relação ao mandril. O mandril pode ser acionado por motor e pode ser rotativo ao redor de pelo menos dois eixos geométricos os quais podem ser perpendiculares. O mandril pode ser girado manualmente por um operador utilizando um controlador que está em comunicação com um mais motores, ou o micrótomo pode girar autono- mamente o mandril. Um ou mais sensores podem ser utilizados para detec- tar uma posição do mandril. De acordo com uma modalidade, cada eixo ge- ométrico pode ter três sensores que detectam uma posição nominal média e posições finais do mandril. Um usuário ou o micrótomo pode controlar o mo- vimento do mandril sinalizando o motor para girar o mandril para a posição desejada. Os sensores podem ser utilizados para determinar se a posição desejada foi alcançada. Em uma modalidade, o mandril pode incluir uma primeira e uma segunda porções que são rotativas ao redor de pelo menos dois eixos geométricos ortogonais. A primeira porção pode girar ao redor de um primeiro eixo geométrico e independentemente da segunda porção. A 5 rotação da segunda porção ao redor de um segundo eixo geométrico pode fazer com que a primeira porção gire ao redor de segundo eixo geométrico também. Isto pode permitir que o mandril seja rotativo em múltiplas dimen- sões.

Em algumas modalidades, um mecanismo de travamento pode opcionalmente ser provido. Após a rotação do mandril de múltiplos eixos ge- ométricos, um mecanismo de travamento pode ser acoplado para travar o mandril de múltiplos eixos geométricos na posição desejada. Este mecanis- mo de travamento pode ser, por exemplo, um solenoide de ímã permanente, um motor engrenado ou uma pega rotativa que faz com que a primeira, a segunda, e a terceira porções travem por atrito ou outro modo conhecido. Em uma modalidade, o motor pode ser utilizado para apertar o mandril em momentos quando o mandril não está sendo ajustado. Quando o micrótomo determina ajustar a posição da amostra ajustando o mandril, ou quando um usuário decide ajustar manualmente a posição da amostra de tecido ajus- tando o mandril, o motor pode ser sinalizado para afrouxar o mandril para permitir que o mandril seja ajustado. Em outros momentos, quando a posi- ção do mandril não está sendo ajustada, o motor pode ser sinalizado para manter o mandril em uma configuração apertada ou travada de modo que a posição do mandril e/ou a posição de uma amostra presa pelo mandril não mude involuntariamente.

Em algumas modalidades, o ciclo de seccionamento pode inclu- ir: (1) mover o bloco de amostra 408 em uma direção horizontal para frente na direção do plano de corte por uma distância predeterminada relativa à espessura de fatia desejada; (2) mover o bloco de amostra 408 em uma di- 30 reção vertical (por exemplo, para baixo) na direção do membro de corte para obter uma fatia; (3) mover o bloco de amostra 408 em uma direção horizon- tal para trás ou oposta afastando do plano de corte e/ou membro de corte por uma distância predeterminada; e (4) mover o bloco de amostra 408 em uma direção vertical oposta (por exemplo, para cima) afastando do membro de corte. Recuar ou mover o bloco de amostra 408 em uma direção horizon- tal para trás afastando do membro de corte ajuda a evitar que o bloco de 5 amostra 408 contacte o membro de corte durante (4) quando movendo o bloco de amostra 408 na direção vertical oposta (por exemplo, para cima) afastando do membro de corte. Representativamente, a distância que o blo- co de amostra 408 é recuado pode corresponder a uma espessura da amos- tra fatiada. Alternativamente, é contemplado que em algumas modalidades, 10 a etapa de recuo pode ser omitida. O ciclo de fatiamento pode ser repetido até que um número desejado de fatias seja obtido.

Em algumas modalidades, um micrótomo pode ser capaz de uti- lizar diferentes velocidades de movimento de um sistema de acionamento de alimentação e/ou amostra (por exemplo, o bloco de amostra 410 na figura 15 4A ou o bloco 108 na figura 1) para diferentes porções de ciclo de seccio- namento. Por exemplo, em algumas modalidades, uma velocidade de movi- mento relativamente mais rápida do sistema de acionamento de alimentação e/ou de uma amostra pode ser utilizada durante uma ou mais porções de não seccionamento de um ciclo de seccionamento (por exemplo, onde o cor- 20 te ou o seccionamento de uma amostra não é executado), enquanto que uma velocidade de movimento relativamente mais lenta do sistema de acio- namento de alimentação e/ou uma amostra pode ser utilizada durante uma porção de seccionamento do ciclo de seccionamento (por exemplo, onde o corte ou seccionamento da amostra é executado). A utilização de uma velo- 25 cidade de movimento relativamente mais lenta do sistema de acionamento de alimentação e/ou amostra durante o corte ou seccionamento da amostra tende a prover seções de qualidade mais alta e/ou seções mais consisten- tes, enquanto que executando uma ou mais outras porções de não seccio- namento do ciclo de seccionamento mais rapidamente pode ajudar a aper- 30 feiçoar a velocidade total do ciclo de seccionamento e/ou pode permitir que mais seções sejam produzidas em uma dada quantidade de tempo. Como tal, a velocidade de movimento de um sistema de acionamento de alimenta- ção e/ou amostra pode variar através de todo o ciclo de seccionamento. Por exemplo, um usuário pode controlar ou programar um ciclo de seccionamen- to de modo que o movimento do bloco de amostra 410 ou amostra 108 em uma direção vertical (por exemplo, para baixo) na direção do membro de 5 corte para obter uma fatia (por exemplo, a operação (2) no parágrafo acima) é executado mais lentamente do que uma ou mais outras porções do ciclo de seccionamento (por exemplo, as operações (1), (3), (4), ou uma sua combinação, no parágrafo acima).

Em algumas modalidades, um micrótomo pode incluir uma lógica para permitir que uma porção de seccionamento configurável, ou programá- vel, de um ciclo de seccionamento seja especificada sobre a qual uma velo- cidade de movimento relativamente mais lente do sistema de acionamento de alimentação e/ou uma amostra deve ser utilizada. Por exemplo, em al- gumas modalidades, o micrótomo pode incluir uma lógica para permitir que um comprimento de seccionamento configurável, ou programável seja confi- gurado ou programado. Como exemplo, o comprimento pode ser seleciona- do entre uma pluralidade de comprimentos predeterminados que correspon- dem a diferentes tipos de cassetes que têm diferentes dimensões. Os dife- rentes tipos de cassetes têm diferentes comprimentos de seccionamento sobre os quais o seccionamento é executado. Como um exemplo, Cassetes 7019 Paraform® brand Biopsy 13mm x 13mm, e Cassetes 7020 Paraform® brand Biopsy 26mm x 19mm, os quais estão comercialmente disponíveis da Sakura Finetek USA, Inc., de Torrance, Califórnia, têm diferentes compri- mentos de seccionamento. Em uma modalidade exemplar, o micrótomo po- de ser operável para permitir que um operador especifique ou indique um comprimento de seccionamento. A especificação ou indicação do compri- mento de seccionamento pode ser feita em diferentes modos, tal como, por exemplo, especificando um comprimento, selecionando um comprimento entre uma pluralidade de comprimentos predeterminados, especificando um tipo de cassete, selecionando um tipo de cassete entre uma pluralidade de diferentes tipos de cassetes, etc. Por exemplo, quando um usuário está pronto para produzir seções de um tipo de cassete específico, o usuário po- de fazer uma seleção do tipo de cassete específico utilizando um dispositivo de controle (por exemplo, o dispositivo de controle 116 na figura 1), o micró- tomo já pode ser pré-programado com um comprimento de seccionamento predeterminado que corresponde àquele tipo específico de cassete. Durante 5 o seccionamento, o micrótomo pode utilizar uma velocidade de movimento relativamente mais lenta do sistema de acionamento de alimentação e/ou da amostra ao longo do comprimento de seccionamento especificado e pode utilizar velocidades de movimento relativamente mais rápidas ao longo de uma ou mais ou substancialmente todas as outras porções do ciclo de sec- 10 cionamento. Por exemplo, imediatamente ou logo antes e imediatamente ou logo após o corte da amostra ao longo do comprimento de seccionamento especificado as velocidades relativamente mais rápidas podem ser utiliza- das.

Em algumas modalidades, um micrótomo pode incluir uma lógica para inicialmente remover autonomamente uma dada ou predeterminada porção de uma amostra (por exemplo, a amostra 108 na figura 1 ou o bloco de amostra 408 na figura 4A). Por exemplo, a porção pode incluir uma dada ou predeterminada espessura de parafina, material de embutimento, material de cassete, ou outro material não de tecido sobreposto ou ocultando o mate- rial de tecido real do qual uma seção é desejada ser tomada (por exemplo, disposto entre uma superfície de corte do material de tecido e a superfície mais dianteira externa da amostra a qual contactaria uma placa de detec- ção). Como exemplo, uma amostra pode incluir um pedaço de tecido colo- cado sobre o fundo de um cassete e o cassete e a amostra de tecido embu- tidos em um bloco de material de embutimento. No caso de vários cassetes fabricado pela Sakura Finetek USA, Inc., de Torrance, Califórnia, os casse- tes podem incluir um material de cassete de marca Paraform® que tem ca- racterísticas de seccionamento similares àquelas da parafina e o secciona- mento pode ser executado através do material de cassete de marca Para- form® do fundo de cassete.

Em algumas modalidades, um micrótomo pode incluir uma lógica para inicialmente remover autonomamente uma dada ou predeterminada porção de uma amostra, por exemplo, uma porção de parafina, material de embutimento, material de cassete, ou outro material não de tecido sobrepos- to ou ocultando o material de tecido real desejado ser seccionado. Por e- xemplo, o micrótomo pode remover autonomamente um fundo de um casse- 5 te de modo a expor ou prover acesso ao material de tecido real da amostra. Representativamente, no caso de certos cassetes dependendo da espessu- ra do material que compõe o fundo do cassete e da espessura das seções. O micrótomo pode autonomamente fazer uma pluralidade (por exemplo, de aproximadamente duas a aproximadamente vinte, frequentemente de apro- 10 ximadamente cinco a aproximadamente quinze) de seções para remover uma espessura predeterminada do fundo do cassete. A espessura do fundo do cassete que pode ser conhecida pelo micrótomo ou predeterminada. Por exemplo, um usuário pode especificar a espessura diretamente, ou selecio- nar um tipo de cassete entre diversos diferentes tipos que cada um tem uma 15 espessura de fundo de cassete pré-programada ou de outro modo conheci- da. Em alguns casos, o operador pode controlar o micrótomo para executar o processo automatizado, por exemplo, com um dispositivo de entrada de usuário (por exemplo, um botão de aparar) sobre um dispositivo de controle ou de outro modo selecionar uma operação de aparar. Vantajosamente, 20 permitir que o micrótomo remova autonomamente a porção da amostra (por exemplo, o fundo do cassete) pode aliviar o operador de precisar fazê-lo e/ou pode tender a acelerar a remoção da porção da amostra (por exemplo, o fundo do cassete). Então, uma vez que o tecido real da amostra está ex- posto, um ciclo de seccionamento para obter fatias ou seções do tecido pode 25 ser iniciado (por exemplo, o operador pode pressionar um botão de seção ou de outro modo fazer com que o micrótomo faça uma seção da superfície de corte agora exposta da amostra de tecido.

Como anteriormente discutido, a operação de fatiamento pode prosseguir automaticamente ou manualmente através de interação de usuá- rio com o sistema. A figura 5 ilustra uma modalidade de um sistema de con- trole para controlar uma operação do micrótomo que inclui um volante e um dispositivo de controle. O sistema de controle 560 pode incluir um volante 504 e um dispositivo de controle 516. O volante 504 pode incluir uma pega ou outro dispositivo de geração de pulso 517 para travar o volante 504. Em algumas modalidades, o volante 504 está acoplado no motor 510 utilizando um acoplamento não mecânico ou um mecanismo não mecânico (por exem- 5 pio, um acoplamento elétrico). Tipicamente, os micrótomos incluem um vo- lante que está mecanicamente acoplado no motor. Tal acoplamento mecâni- co, no entanto, adiciona resistência ao volante quando o usuário tenta girá-

lo. Um giro repetido de tal volante pode ser exigente sobre o usuário e pode às vezes resultar em doenças médicas tais como a síndrome de túnel carpal. O acoplamento ou mecanismo não mecânico aqui descrito pode oferecer a vantagem de reduzida resistência de volante resultando em um volante que é mais fácil de girar.

Em algumas modalidades, o acoplamento ou mecanismo não mecânico inclui um primeiro codificador 561. O primeiro codificador 561 pode ser um codificador rotativo acoplado no eixo 562 do volante 504. A rotação do volante 504 e por sua vez do eixo 562 provê o primeiro codificador 561 com uma posição angular do volante 504. O primeiro codificador 561 então converte a posição angular para uma representação elétrica (por exemplo, um código ou valor analógico ou digital). Este código analógico ou digital é transmitido para o circuito de controle 518 através da linha de controle 519 onde este é processado e utilizado para direcionar o movimento do motor 510 e por sua vez do acionamento de alimentação 502. Em algumas modali- dades, o motor 510 que tem o acionamento de alimentação 502 acoplado a este pode estar conectado no circuito de controle 518 por um segundo codi- ficador 564. Neste aspecto, o eixo 563 do motor 506 pode estar conectado no segundo codificador 564 de modo que o segundo codificador 564 possa detectar uma posição do motor 510 durante a operação de corte. O codifica- dor 564 então converte estas informações de posição para uma representa- ção elétrica (por exemplo, um código ou valor analógico ou digital) e transmi- te a representação elétrica para o circuito de controle 518 através da linha de controle 520. Em algumas modalidades, o circuito de controle 518 pode controlar o motor com base pelo menos em parte na representação elétrica 4

da posição angular do volante. Por exemplo, como as posições tanto do vo- lante 504 quanto do motor 510 são conhecidas, o circuito de controle 518 pode assegurar que a posição do volante 504 corresponde a, e está em ali- nhamento com, a posição do motor 510 durante a operação de corte. Por 5 exemplo, a rotação do volante 504 pode não causar o movimento do motor 510 até que uma comparação de sinais dos respectivos primeiro e segundo codificadores indique que uma posição do volante 504 está alinhada com uma posição do eixo de acionamento do motor 510. Isto pode tender a au- mentar a segurança de operação do micrótomo, especialmente quando 10 transferindo de um modo automatizado de seccionamento para um modo manual de seccionamento.

O dispositivo de controle 516 pode ainda ser operável para inici- ar uma operação de corte automatizada. O dispositivo de controle 516 pode ser qualquer tipo de dispositivo de entrada adequado para iniciar uma ope- 15 ração de corte. Representativamente, o dispositivo de controle 516 pode in- cluir, por exemplo, um teclado, um teclado numérico, um teclado de toque de sensor capacitivo, ou outro dispositivo de entrada de dados de usuário. Em algumas modalidades, os sinais são transmitidos entre o dispositivo de con- trole 516 e o circuito de controle 518 através da linha de controle 523. Em 20 outras modalidades, o dispositivo de controle 516 pode ser um dispositivo de controle sem fio que é operável para transmitir os sinais de controle sem fio para um circuito de controle 518 e opcionalmente receber sinais sem fio do circuito de controle 518. A linha de controle 523 pode ser omitida. O disposi- tivo de controle 516 sem fio pode ter um transmissor sem fio, um receptor 25 sem fio, e/ou um transceptor sem fio, uma pilha de protocolos sem fio, e ou- tros componentes convencionais encontrados em dispositivos sem fio. Em um aspecto, o dispositivo de controle 516 sem fio pode ser um dispositivo capaz de Bluetooth, apesar disto não ser requerido.

O dispositivo de controle 516 pode incluir teclas ou teclas simu- Iadas que podem ser utilizadas para controlar as ações do micrótomo. Re- presentativamente, as teclas podem apresentar símbolos gráficos ou texto que correspondem às várias operações do micrótomo, tais como setas que correspondem a um movimento vertical ou horizontal do micrótomo e/ou ou- tras palavras, símbolos, imagens, ou similares, que correspondem a, por exemplo, fatiar, parar, iniciar, aparar um fundo de um cassete, seccionar, travar, ou outras operações de micrótomo. O usuário seleciona a operação a 5 ser executada utilizando o dispositivo de controle 516 e pressiona a(s) te- clais) apropriada(s) para iniciar a operação desejada. O sinal de controle é transmitido do dispositivo de controle 516 para o circuito de controle 518. O circuito de controle 518 então provê um sinal para, por exemplo, o motor 510 iniciar uma operação de corte. A operação de corte pode então continuar 10 automaticamente ou autonomamente substancialmente sem intervenção de usuário adicional até que o usuário ou pressione uma tecla de parar ou uma operação de corte pré-programada seja completada.

A figura 6 ilustra uma vista em perspectiva de uma modalidade de um sistema de acionamento de alimentação de um micrótomo. Em uma modalidade, o sistema de acionamento de alimentação 602 pode ser utiliza- do para o sistema de acionamento de alimentação 102 descrito com referên- cia à figura 1. Alternativamente, o sistema de acionamento de alimentação 102 pode utilizar um sistema de acionamento de alimentação inteiramente diferente do que o sistema de acionamento de alimentação 602. O sistema de acionamento de alimentação 602 inclui um membro de acionamento ver- tical 605, um membro de acionamento horizontal 606 e um prendedor de amostra 607. O membro de montagem 603 para prender um membro de cor- te pode ainda ser posicionado na frente do prendedor de amostra 607. Em uma modalidade, o membro de montagem 603 pode ser substancialmente similar ao membro de montagem 103 descrito com referência à figura 1.

Durante a operação, o movimento vertical do sistema de acio- namento de alimentação 602 é conseguido movendo uma corrediça (não mostrada) do membro de acionamento vertical 605 verticalmente ao longo de uma pista. O movimento da corrediça é causado pelo pino rotativo (não 30 mostrado) preso a uma placa rotativa (não mostrada) a qual é girada pela correia de acionamento 671 e um motor (não mostrado). Para reduzir a car- ga sobre o motor, o peso do sistema de acionamento de alimentação 602 pode ser contrabalançado. Por exemplo, em uma modalidade, o peso pode ser contrabalançado utilizando um conjunto de mola 672 ao invés de um contrapeso. Os contrapesos tendem a ser pesados e tendem a aumentar o peso e o custo do micrótomo. Alternativamente, um contrapeso pode ser utilizado se desejado. O conjunto de mola 672 pode incluir as polias 673-1, 673-2, 673-3. A polia 673-1 pode esta presa no pino 670. Um cabo 674 pode estar preso em uma extremidade da polia 673-1, estender ao redor das poli- as 673-2 e 673-3 e ser preso na extremidade opostas das molas 675. Neste aspecto, conforme o sistema de acionamento de alimentação 602 é movido verticalmente, as molas 675 exercem uma força de contrabalanço sobre o cabo 674, o qual por sua vez puxa sobre o pino 670 e contrabalança o peso do sistema de acionamento de alimentação 602. O conjunto de mola 672 pode ajudar a reduzir o peso do sistema eliminando o contrapeso e pode ajudar a reduzir a carga de inércia sobre o motor. Apesar do conjunto de mo- Ia 672 ser descrito em uma modalidade, é adicionalmente contemplado que em outras modalidades, uma massa pesada de semicírculo presa no pino 670 pode ser utilizada para contrabalançar o sistema de acionamento de alimentação 602. Apesar da massa pesada de semicírculo ser também efeti- va em contrabalançar o sistema de acionamento de alimentação 602 esta tende a aumentar a carga de inércia para o motor.

Em algumas modalidades, um micrótomo pode opcionalmente incluir uma trava que é operável para travar um sistema de acionamento de alimentação (por exemplo, o sistema de acionamento de alimentação 104 na figura 1 ou o sistema de acionamento de alimentação 602 na figura 6) em 25 uma posição vertical. Como um exemplo, a trava pode incluir um freio a dis- co tensionado por mola. O freio a disco tensionado por mola pode incluir um freio a disco, um pino ou outro membro de travamento, e uma ou mais molas ou outros elementos de tensionamento mecânico para tensionar o pino ou outro membro de travamento para um acoplamento de travamento com o 30 freio a disco quando um sinal de destravamento deliberado não é aplicado. Outros tipos de trava conhecidos na técnica são também adequados, tal co- mo, por exemplo, um pino ou outro membro de travamento tensionado para dentro de um furo. A trava pode manter o sistema de acionamento de ali- mentação em uma posição vertical fixa, travada quando a trava não é delibe- radamente desabilitada. Em momentos apropriados, quando o movimento do sistema de acionamento de alimentação é desejado, um sinal de destrava- 5 mento (por exemplo, um sinal elétrico) pode ser deliberadamente aplicado na trava, para abrir a trava (por exemplo, comprimir a mola, a qual pode des- travar o freio a disco). Vantajosamente, tal trava pode ajudar a impedir ou pelo menos reduzir a probabilidade que um operador seja ferido devido a um sistema de acionamento de alimentação em movimento ou caindo, por e- 10 xemplo, no caso de uma falha de energia ou outro modo. Sem tal trava, o operador pode ser ferido pela lâmina ou outro membro de corte se o sistema de acionamento de alimentação fosse cair ou mover inesperadamente.

Deve ser apreciado que referência através de toda esta especifi- cação a "uma modalidade", "a modalidade", ou "uma ou mais modalidades", por exemplo, significa que uma característica específica pode ser incluída na prática da invenção. Similarmente, deve ser apreciado que na descrição vá- rias características estão algumas vezes agrupadas juntas em uma única modalidade, figura, ou sua descrição para o propósito de simplificar a descri- ção e ajudar na compreensão de vários aspectos inventivos. Este método de descrição, no entanto, não deve ser interpretado como refletindo uma inten- ção que a invenção requer mais características do que são expressamente recitadas em cada reivindicação. Ao contrário, como as reivindicações se- guintes refletem, os aspectos inventivos podem se encontrar em menos do que todas as características de uma única modalidade descrita. Assim, as reivindicações que seguem à Descrição Detalhada estão por meio disto ex- pressamente incorporadas nesta Descrição Detalhada, com cada reivindica- ção sendo independente como uma modalidade separada.

Na especificação acima, a invenção foi descrita com referência às suas modalidades específicas. Será, no entanto, evidente que várias mo- dificações e mudanças podem ser feitas a esta sem afastar do espírito e es- copo mais amplos da invenção como apresentados nas reivindicações ane- xas. A especificação e os desenhos, consequentemente, devem ser conside- rados em um sentido ilustrativo ao invés de restritivo.

Na especificação acima, para os propósitos de explicação, nu- merosos detalhes específicos foram apresentados de modo a prover uma compreensão completa das modalidades da invenção. Será aparente, no 5 entanto, para alguém versado na técnica, que uma ou mais outras modali- dades podem ser praticadas sem alguns destes detalhes específicos. As modalidades descritas não estão providas para limitar a invenção, mas para ilustrá-la. O escopo da invenção não deve ser determinado pelos exemplos específicos acima providos, mas somente pelas reivindicações abaixo. Em 10 outros casos, circuitos, dispositivos, e operações bem conhecidos foram mostrados em forma de diagrama de blocos ou sem detalhes de modo a evi- tar obscurecer a compreensão da descrição.

Será apreciado, por alguém versado na técnica, que modifica- ções podem ser feitas nas modalidades aqui descritas, tais como, por exem- 15 pio, nos tamanhos, formas, configurações, acoplamentos, formas, funções, materiais, e modo de operação, e montagem e utilização, dos componentes das modalidades. Todas as relações equivalentes àquelas ilustradas nos desenhos e descritas na especificação estão abrangidas dentro das modali- dades da invenção. Ainda, onde considerado apropriado, os números de 20 referência ou porções terminais de números de referência foram repetidos entre as figuras para indicar os elementos correspondentes ou análogos, os quais podem opcionalmente ter características similares.

Várias operações e métodos foram descritos. Alguns dos méto- dos foram descritos em uma forma básica, mas operações podem ser opcio- 25 nalmente adicionadas aos e/ou removidas dos métodos. Além disso, apesar de uma ordem específica das operações de acordo com as modalidades exemplares foi descrita, deve ser compreendido que esta ordem específica é exemplar. Modalidades alternativas podem opcionalmente executar as ope- rações em uma diferente ordem, combinar certas operações, sobrepor cer- 30 tas operações, etc. Muitas modificações e adaptações podem ser feitas nos métodos e estão contempladas.

Uma ou mais modalidades incluem um artigo de manufatura (por exemplo, um produto de programa de computador) que inclui um meio aces- sível por máquina e/ou legível por máquina. O meio pode incluir um meca- nismo que provê (por exemplo, armazena) as informações em uma forma que seja acessível e/ou legível pela máquina. O meio acessível por máquina 5 e/ou legível por máquina pode prover, ou ter armazenado no mesmo, uma seqüência de instruções e/ou estruturas de dados que se executadas por uma máquina faz com que ou resulta na máquina executando, e/ou faz com que a máquina execute, uma ou mais ou uma porção das operações ou mé- todos aqui descritos. Em uma modalidade, o meio legível por máquina pode 10 incluir um meio de armazenamento legível por máquina não transitório tangí- vel. Por exemplo, o meio de armazenamento legível por máquina não transi- tório tangível pode incluir um disquete flexível, um meio de armazenamento ótico, um disco ótico, um CD-ROM, um disco magnético, um disco magneto- ótico, uma memória somente de leitura (ROM), uma ROM programável 15 (PROM), uma ROM apagável e programável (EPROM), uma ROM eletrica- mente apagável e programável (EEPROM), uma memória de acesso randô- mico (RAM), uma RAM estática (SRAM), uma RAM dinâmica (DRAM), uma Memória Instantânea, uma memória de mudança de fase, ou uma sua com- binação. O meio tangível pode compreender um ou ais materiais físicos sóli- 20 dos ou tangíveis, tal como, por exemplo, um material de semicondutor, um material de mudança de fase, um material magnético, etc.

Deve ser apreciado que referência através de toda esta especifi- cação a "uma modalidade", "a modalidade", ou "uma ou mais modalidades", por exemplo, significa que uma característica específica pode ser incluída na 25 prática da invenção. Similarmente, deve ser apreciado que na descrição vá- rias características estão algumas vezes agrupadas juntas em uma única modalidade, figura, ou sua descrição para o propósito de simplificar a descri- ção e ajudar na compreensão de vários aspectos inventivos. Este método de descrição, no entanto, não deve ser interpretado como refletindo uma inten- 30 ção que a invenção requer mais características do que são expressamente recitadas em cada reivindicação. Ao contrário, como as reivindicações se- guintes refletem, os aspectos inventivos podem se encontrar em menos do que todas as características de uma única modalidade descrita. Assim, as reivindicações que seguem à Descrição Detalhada estão por meio disto ex- pressamente incorporadas nesta Descrição Detalhada, com cada reivindica- ção sendo independente como uma modalidade separada.

5

Claims

1. Dispositivo de seccionamento de amostra, que compreende: um mecanismo de corte que é operável para cortar seções de uma amostra; um prendedor de amostra que é operável para prender a amos- tra; um sistema de acionamento acoplado com o prendedor de a- mostra, o sistema de acionamento operável para acionar o movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte; e um sensor de orientação de superfície que é operável para de- tectar uma orientação de uma superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra.

2. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, em que o sensor de orientação de superfície é capaz de gi- rar em duas dimensões.

3. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 2, em que o sensor de orientação de superfície compreende um primeiro membro que é capar de girar ao redor de um primeiro eixo ge- ométrico e um segundo membro que é capar de girar ao redor de um segun- do eixo geométrico, e em que o primeiro eixo geométrico é substancialmente perpendicular ao segundo eixo geométrico.

4. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 3, em que o primeiro membro compreende uma placa e o se- gundo membro compreende um quadro acoplado com a placa.

5. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 3, ainda compreendendo: um primeiro mecanismo de detecção configurado para detectar a rotação do primeiro membro ao redor do primeiro eixo geométrico; e um segundo mecanismo de detecção configurado para detectar a rotação do segundo membro ao redor do segundo eixo geométrico.

6. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 3, em que o primeiro membro e o segundo membro estão aco- piados móveis com o sensor de orientação de superfície e capazes de mo- ver em uma direção afastando da amostra quando a amostra exerce uma força sobre um ou mais do primeiro e do segundo membros.

7. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 6, ainda compreendendo um mecanismo de detecção configu- rado para detectar uma quantidade de movimento do primeiro e do segundo membros na direção afastando da amostra.

8. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, ainda compreendendo: um mandril motorizado acoplado com o prendedor de amostra, o mandril motorizado capaz de ajustar a orientação da superfície da amostra; e uma lógica para fazer com que o dispositivo de seccionamento de amostra ajuste autonomamente a orientação da superfície da amostra com base na orientação detectada.

9. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 8, em que a lógica compreende uma lógica para fazer com que o dispositivo de seccionamento de amostra ajuste autonomamente a orien- tação da superfície da amostra em uma relação a um plano de corte associ- ado com o mecanismo de corte uma pluralidade de vezes enquanto as orien- tações ajustadas da superfície da amostra são detectadas pelo sensor de orientação de superfície de modo a tornar a orientação da superfície da a- mostra mais paralela com o plano de corte.

10. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 8, ainda compreendendo um motor do mandril motorizado que é operável para travar uma posição do mandril motorizado para manter uma orientação da superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra em uma orientação fixa.

11. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, em que o sensor de orientação de superfície está fixamente acoplado com o dispositivo de seccionamento de amostra em uma posição, e em que a posição está substancialmente verticalmente alinhada com o mecanismo de corte.

12. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, em que o sensor de orientação de superfície está acoplado móvel com o dispositivo de seccionamento de amostra, o sensor de orienta- ção de superfície operável para mover entre uma primeira posição onde o sensor de orientação de superfície está posicionado para detectar a orienta- ção da superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra e uma se- gunda posição recuada mais distante do movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte.

13. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, ainda compreendendo: um volante; um primeiro codificador acoplado com o volante por um primeiro eixo, o primeiro codificador operável para gerar uma representação elétrica de uma posição angular do volante; um motor do sistema de acionamento; um segundo codificador acoplado com o motor do sistema de a- cionamento por um segundo eixo, o segundo codificador operável para gerar uma representação elétrica de uma posição angular do motor do sistema de acionamento; e um circuito de controle eletricamente acoplado com o primeiro e o segundo codificadores e operável para receber as representações elétricas das posições angulares do volante e do motor, o circuito de controle operá- vel para controlar o motor com base pelo menos em parte na representação elétrica da posição angular do volante.

14. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 13, em que o circuito de controle é operável para controlar o motor para não mover até que uma comparação das representações elétri- cas das posições angulares do volante e do motor indique que uma posição do volante está alinhada com uma posição do motor.

15. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, ainda compreendendo uma lógica para permitir que um comprimento de seccionamento configurável seja especificado, em que o dispositivo de seccionamento de amostra é para mover a amostra a uma velocidade de movimento relativamente mais lenta durante o comprimento de seccionamento especificado e a uma velocidade movimento relativamen- te mais rápida durante pelo menos um de logo antes e logo após o movi- mento durante o comprimento de seccionamento especificado.

16. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 15, em que a lógica compreende uma lógica para permitir um operador selecionar o comprimento de seccionamento entre uma pluralidade de comprimentos de seccionamento predeterminados cada um correspon- dendo a um tipo diferente de cassete utilizado para conter a amostra.

17. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 15, em que a lógica compreende uma lógica para permitir que um operador especifique o comprimento de seccionamento selecionando um de uma pluralidade de diferentes tipos de cassete.

18. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, ainda compreendendo uma lógica para fazer com que o dis- positivo de seccionamento de amostra remova autonomamente uma dada espessura da amostra que oculta um tecido dentro da amostra, a dada es- pessura associada com uma espessura de um fundo de um cassete que contém o tecido.

19. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 18, ainda compreendendo um dispositivo de controle que é operável para enviar sinais de controle para o dispositivo de seccionamento de amostra, em que o dispositivo de controle tem um dispositivo de entrada de usuário para permitir um usuário invocar a lógica para fazer com que o dispositivo de seccionamento de amostra remova autonomamente a dada espessura da amostra.

20. Dispositivo de seccionamento de amostra de acordo com a reivindicação 1, ainda compreendendo um dispositivo de controle sem fio que é operável para enviar sinais de controle sem fio para o dispositivo de seccionamento de amostra.

21. Método, que compreende: posicionar uma amostra que está presa por um dispositivo de seccionamento de amostra em relação a um sensor de orientação de super- fície; detectar uma orientação de uma superfície da amostra presa pe- lo dispositivo de seccionamento de amostra com o sensor de orientação de superfície; ajustar a orientação da superfície da amostra presa pelo disposi- tivo de seccionamento de amostra de modo que a superfície da amostra seja mais paralela em relação a um plano de corte associado com um mecanis- mo de corte do dispositivo de seccionamento de amostra; e produzir uma seção da amostra com o dispositivo de secciona- mento de amostra após ajustar a orientação da superfície da amostra.

22. Método de acordo com a reivindicação 21, em que detectar a orientação da superfície da amostra com o sensor de orientação de superfí- cie compreende girar o sensor de orientação de superfície em duas dimen- sões.

23. Método de acordo com a reivindicação 22, em que girar o sensor de orientação de superfície nas duas dimensões compreende girar um primeiro membro ao redor de um primeiro eixo geométrico e girar um segundo membro ao redor de um segundo eixo geométrico, o primeiro eixo geométrico substancialmente perpendicular ao segundo eixo geométrico.

24. Método de acordo com a reivindicação 22, ainda compreen- dendo: mover uma porção do sensor de orientação de superfície afas- tando da amostra conforme a amostra exerce uma força sobre a porção do sensor de orientação de superfície; e detectar uma quantidade pela qual uma porção do sensor de o- rientação de superfície move afastando da amostra.

25. Método de acordo com a reivindicação 21, em que ajustar compreende o dispositivo de seccionamento de amostra ajustar autonoma- mente a orientação da superfície da amostra.

26. Método de acordo com a reivindicação 21, ainda compreen- dendo especificar um comprimento de seccionamento configurável, e em que produzir a seção da amostra compreende mover a amostra a uma velo- cidade de movimento relativamente mais lenta quando cortando a seção da amostra sobre o comprimento de seccionamento especificado e mover a amostra a uma velocidade de movimento relativamente mais rápida em pelo menos um de imediatamente antes ou imediatamente após o movimento sobre o comprimento de seccionamento especificado.

27. Método de acordo com a reivindicação 21, ainda compreen- dendo o dispositivo de seccionamento de amostra produzindo autonoma- mente uma pluralidade de seções para remover um fundo de um cassete que contém um tecido para expor o tecido.