WO2023026806A1 - 基板処理方法および基板処理装置 - Google Patents

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WO2023026806A1
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filler
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edge portion
laminated
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正行 佐竹
正行 中西
雄多 満木
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株式会社荏原製作所
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    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body

Definitions

  • the present invention relates to a substrate processing method and a substrate processing apparatus for suppressing cracks and chips in a laminated substrate manufactured by bonding a plurality of substrates, and more particularly to a substrate processing method and a substrate processing apparatus formed between edge portions of a plurality of substrates constituting the laminated substrate.
  • the present invention relates to a technique for applying a filler to gaps.
  • the device surface of a first substrate on which integrated circuits and electrical wiring are formed is bonded to the device surface of a second substrate on which integrated circuits and electrical wiring are formed. Furthermore, after bonding the first substrate to the second substrate, the second substrate is thinned by a polishing or grinding device. In this manner, integrated circuits can be stacked in a direction perpendicular to the device surfaces of the first substrate and the second substrate.
  • three or more substrates may be bonded.
  • the third substrate may be bonded to the second substrate and the third substrate integrated.
  • a form of a plurality of substrates bonded together is sometimes referred to as a "laminated substrate.”
  • edges of the substrate are usually pre-polished into a rounded or chamfered shape to prevent cracks and chipping. Grinding the second substrate having such a shape results in forming a sharp edge on the second substrate.
  • This sharp edge portion (hereinafter referred to as a knife edge portion) is formed by the ground back surface of the second substrate and the outer peripheral surface of the second substrate.
  • Such a knife edge portion is likely to be chipped due to physical contact, and the laminated substrate itself may be damaged during transportation of the laminated substrate.
  • the second substrate may crack during grinding.
  • a filler is applied to the edge portion of the laminated substrate before grinding the second substrate.
  • a filler is applied to the gap between the edge of the first substrate and the edge of the second substrate. The filler supports the knife edge portion formed after grinding the second substrate, and can prevent the knife edge portion from cracking or chipping.
  • the filler when the filler is applied to the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate, filling defects such as insufficient or excessive application of the filler may occur. If the layered substrate is processed in subsequent steps while the filling is insufficient, the layered substrate and process performance may be adversely affected, for example, the layered substrate may be scratched. Conventionally, confirmation of the filling state of the filler in the laminated substrate was performed after the application of the filler was completed, and in some cases it was necessary to destroy the laminated substrate.
  • the amount of filler applied is insufficient, voids may occur in the filler applied to the gaps between the laminated substrates. Such voids tend to cause cracking or chipping of the knife edge portion when the second substrate is ground. On the other hand, if the amount of filler applied is excessive, the filler may come off from the laminated substrate and contaminate the surrounding environment.
  • the process of thinning the laminated substrate after applying the filler also has the following issues.
  • the step of thinning the laminated substrate is performed by cutting the second substrate with a cutting tool.
  • the cutting tool may be damaged, or particles (aggregate) contained in the filler may adhere to the cutting tool, causing clogging of the cutting tool.
  • an object of the present invention is to provide a substrate processing method and a substrate processing apparatus capable of applying a filler to a gap between an edge portion of a first substrate and an edge portion of a second substrate under appropriate application conditions.
  • the present invention provides a substrate processing method and a substrate processing apparatus capable of applying an appropriate amount of filler to a laminated substrate. Furthermore, the present invention provides a substrate processing method and a substrate processing apparatus capable of improving throughput while preventing clogging of a cutting tool by optimizing the thinning conditions for a laminated substrate.
  • a substrate processing method is provided in which the filler is applied to the gap between the substrate and the substrate.
  • the step of measuring the surface shape of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate is performed after bonding the first substrate and the second substrate. In one aspect, the step of measuring the surface shape of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate is performed before the first substrate and the second substrate are bonded.
  • the surface shape of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate to be measured includes (i) the radial dimension of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate; , (ii) the dimension in the thickness direction of the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate, and (iii) the inclination angle of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate. at least one of the inclination angles of
  • the application conditions include the composition of the filler, the total amount of the filler applied, the shape of a filler outlet of a coating device for applying the filler, the laminated substrate and the filler outlet. and the amount of the filler ejected from the filler ejection port per unit time.
  • the substrate processing method further includes a step of curing the applied filler after applying the filler to the laminated substrate, and the application condition is a curing device for curing the filler. Further includes wind pressure and temperature of hot air blowing from. In one aspect, the step of applying the filler is performed while rotating the laminated substrate, and the application conditions further include a rotational speed of the laminated substrate.
  • a substrate processing apparatus for applying a filler to a laminated substrate in which a first substrate and a second substrate are joined, the filler applying device being configured to apply the filler to the laminated substrate.
  • a module a surface shape measuring device for measuring the surface shape of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate, and an operation control section for controlling operations of the filler application module and the surface shape measuring device.
  • the filler application module includes a substrate holding unit that holds the laminated substrate, and an application device for applying the filler to a gap between an edge portion of the first substrate and an edge portion of the second substrate.
  • a substrate processing apparatus configured to apply the filler at a.
  • the surface profile measuring device measures (i) the radial dimension of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate, (ii) the edge portion of the first substrate and the second substrate. and (iii) the tilt angle of the edge portion of the first substrate and the tilt angle of the edge portion of the second substrate.
  • the filler application module further comprises a curing device for curing the filler.
  • the filler application module further includes a rotation mechanism that rotates the substrate holder.
  • the data on the laminated substrate in which the first substrate and the second substrate are bonded and the data on the filler are input to a learned model constructed by machine learning, and the filler is applied from the learned model.
  • a substrate processing method comprising outputting a condition and applying the filler to a gap between an edge portion of the first substrate and an edge portion of the second substrate according to the coating condition while rotating the laminated substrate.
  • the data relating to the laminated substrate includes materials constituting the surfaces of the first substrate and the second substrate, and the shape and size of the gap
  • the data relating to the filler includes the composition of the filler. including.
  • the coating conditions include at least one of the total coating amount of the filler, the coating amount of the filler per unit time, the temperature of the filler, and the rotational speed of the laminated substrate.
  • data regarding a curing device for curing the filler is input to the trained model, and the The substrate processing method further includes outputting application conditions and curing conditions of the filler, and curing the applied filler by the curing device according to the curing conditions.
  • the data about the curing device includes the type of curing device and the distance between the curing device and the edge of the laminated substrate.
  • the curing conditions include output values of the curing device.
  • data on a thinning device for thinning the laminated substrate is input into the trained model, and Outputting conditions for applying the filler, conditions for curing the filler, and conditions for thinning the laminated substrate from the trained model, and the substrate processing method includes, after curing the filler, performing the thinning conditions according to the thinning conditions. Further comprising thinning the laminated substrate with the thinning device.
  • the data regarding the thinning device includes a type of cutting tool used in the thinning device and a target cutting amount of the laminated substrate.
  • the thinning condition includes at least one of a pressing force of the cutting tool against the laminated substrate, a rotational speed of the cutting tool, and a rotational speed of the laminated substrate.
  • the learned model is a model constructed by machine learning using training data including data on multiple laminated substrates, data on multiple fillers, and multiple application conditions as correct labels.
  • the trained model includes training data including data for multiple laminate substrates, data for multiple fillers, data for multiple curing devices, and multiple coating conditions and multiple curing conditions as correct labels. It is a model constructed by machine learning using
  • the trained model includes data for a plurality of laminated substrates, data for a plurality of fillers, data for a plurality of curing devices, data for a plurality of thinning devices, and a plurality of application conditions as correct labels. This is a model constructed by machine learning using training data including a hardening condition and multiple thinning conditions.
  • the data regarding the laminated substrate and the data regarding the filler input to the trained model, and the coating conditions output from the trained model are used for the machine learning. updating the training data by adding to the training data, and performing machine learning using the updated training data to update the learned model.
  • applying the filler to the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate according to the application conditions while rotating the laminated substrate is held vertically. The filler is applied to the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate according to the application conditions while rotating the laminated substrate.
  • data relating to a laminated substrate in which a first substrate and a second substrate are bonded data relating to a filler applied to a gap between an edge portion of the first substrate and an edge portion of the second substrate, and Input data about a thinning device for thinning a laminated substrate into a learned model constructed by machine learning, output thinning conditions for the laminated substrate from the learned model, and perform the thinning conditions according to the thinning conditions.
  • a substrate processing method is provided, in which a laminated substrate is thinned by the thinning device.
  • a computing system having a trained model constructed by machine learning, and a filler application module that applies a filler to the laminated substrate while rotating the laminated substrate in which the first substrate and the second substrate are bonded. wherein the computing system inputs data on the laminated substrate and data on the filler into the learned model, outputs application conditions of the filler from the learned model, and performs the filler application module and the filler application module applies the filler to the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate according to the application conditions.
  • An apparatus is provided.
  • the data relating to the laminated substrate includes materials constituting the surfaces of the first substrate and the second substrate, and the shape and size of the gap, and the data relating to the filler includes the composition of the filler. including.
  • the coating conditions include at least one of the total coating amount of the filler, the coating amount of the filler per unit time, the temperature of the filler, and the rotational speed of the laminated substrate.
  • the substrate processing apparatus further includes a curing device that cures the applied filler, and the computing system, in addition to the data regarding the laminated substrate and the data regarding the filler, to the learned model, outputs the application conditions of the filler and the curing conditions of the filler from the learned model, and gives a command to the curing device to remove the applied filler from the It is configured to be cured by the curing device according to curing conditions.
  • the data about the curing device includes the type of curing device and the distance between the curing device and the edge of the laminated substrate.
  • the curing conditions include output values of the curing device.
  • the substrate processing apparatus further includes a thinning device for thinning the laminated substrate
  • the computing system stores data regarding the laminated substrate, data regarding the filler, and data regarding the curing device.
  • inputting data about the thinning device into the trained model outputting conditions for applying the filler, curing conditions for the filler, and thinning conditions for the laminated substrate from the trained model, It is configured to give a command to a thinning device to thin the laminated substrate by the thinning device according to the thinning conditions after the filler is cured.
  • the data regarding the thinning device includes a type of cutting tool used in the thinning device and a target cutting amount of the laminated substrate.
  • the thinning condition includes at least one of a pressing force of the cutting tool against the laminated substrate, a rotational speed of the cutting tool, and a rotational speed of the laminated substrate.
  • the learned model is a model constructed by machine learning using training data including data on multiple laminated substrates, data on multiple fillers, and multiple application conditions as correct labels.
  • the trained model includes training data including data for multiple laminate substrates, data for multiple fillers, data for multiple curing devices, and multiple coating conditions and multiple curing conditions as correct labels. It is a model constructed by machine learning using
  • the trained model includes data for a plurality of laminated substrates, data for a plurality of fillers, data for a plurality of curing devices, data for a plurality of thinning devices, and a plurality of application conditions as correct labels. This is a model constructed by machine learning using training data including a hardening condition and multiple thinning conditions.
  • the computing system uses the data regarding the laminated substrate and the data regarding the filler input to the trained model, and the coating conditions output from the trained model for the machine learning. It is configured to update the training data by adding to the training data and perform machine learning using the updated training data to update the learned model.
  • the filler application module includes a substrate holding part or a substrate holding device that holds the laminated substrate in a vertically placed state.
  • an arithmetic system having a learned model constructed by machine learning and a thinning device for thinning a laminated substrate in which a first substrate and a second substrate are bonded, the arithmetic system comprises the laminated substrate , data about the filler applied to the gap between the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate, and data about the thinning device are combined into a learned model constructed by machine learning.
  • input, output the thinning condition of the laminated substrate from the learned model, give a command to the thinning device, and thin the laminated substrate by the thinning device according to the thinning condition.
  • a substrate processing apparatus is provided.
  • a computer-readable recording medium storing a program for causing a computer to execute the step of applying by the module is provided.
  • the surface shapes of the edge portion of the first substrate and the edge portion of the second substrate are measured in advance.
  • appropriate application conditions are determined by the learned model, and an appropriate amount of filler is applied to the laminated substrate according to these application conditions.
  • appropriate thinning conditions are determined by the trained model, and the laminated substrate is appropriately thinned according to the thinning conditions. As a result, clogging of the cutting tool can be prevented, and the throughput of the thinning process can be improved.
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing an edge portion of a substrate;
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing an edge portion of a substrate;
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing a laminated substrate;
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. It is a figure which shows one Embodiment of the measuring method by a surface shape measuring device. It is a figure which shows other embodiment of the measuring method by a surface shape measuring device.
  • FIG. 10 is a plan view of one embodiment of a filler application module;
  • FIG. 11 is a side view of one embodiment of a filler application module;
  • It is a mimetic diagram showing one embodiment of a coating device.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the surface shape of an edge portion to be measured by a surface shape measuring device before the first substrate and the second substrate are bonded;
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of a laminated substrate to be processed;
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of a laminated substrate coated with a filler.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of a laminated substrate that has been thinned after being coated with a filler.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. FIG. 10 is a top view of one embodiment of a filler application module;
  • Figure 15 is a side view of the filler application module shown in Figure 14;
  • It is a mimetic diagram showing one embodiment of a coating device.
  • 1 is a conceptual diagram describing one embodiment of operation of a computing system;
  • FIG. 4 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning. 4 is a flow chart describing one embodiment of a method of applying a filler to a laminated substrate according to application conditions determined using a trained model.
  • 1 is a conceptual diagram describing one embodiment of operation of a computing system;
  • FIG. 10 is a top view of one embodiment of a filler application module;
  • Figure 15 is a side view of the filler application module shown in Figure 14;
  • It is a mimetic diagram showing one embodiment of a coating device.
  • 1 is a conceptual diagram
  • 4 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • 4 is a flow chart describing one embodiment of a method of applying a filler to a laminated substrate and curing the filler according to application conditions and curing conditions determined using a trained model.
  • It is a schematic diagram which shows other embodiment of a substrate processing apparatus. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a thinning device; FIG. 1 is a conceptual diagram describing one embodiment of operation of a computing system; FIG. 4 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • FIG. 4 is a flow chart describing an embodiment of a method of applying a filler to a laminated substrate, curing the filler, and thinning the laminated substrate according to application, curing, and thinning conditions determined using a trained model; is.
  • 1 is a conceptual diagram describing one embodiment of operation of a computing system;
  • FIG. 4 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • 4 is a flow chart describing one embodiment of a method for thinning a laminated substrate with cured filler according to thinning conditions determined using a trained model.
  • 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a substrate processing apparatus;
  • FIG. FIG. 11 is a top view of another embodiment of a filler application module; 35 is a side view of the filler application module shown in FIG. 34;
  • FIG. FIG. 11 is a side view of yet another embodiment of a filler application module; 37 is a view seen from the direction indicated by arrow A in FIG. 36;
  • FIG. 11 is a side view of yet another embodiment of a filler application module;
  • FIG. 39 is a view seen from the direction indicated by arrow B in FIG. 38;
  • FIG. 1A and 1B are enlarged cross-sectional views showing an edge portion E of the substrate W.
  • FIG. 1A is a cross-sectional view of a so-called straight substrate W
  • FIG. 1B is a cross-sectional view of a so-called round substrate W.
  • the edge portion E is the outermost side surface that is inclined with respect to the flat surface (front side surface and back side surface) of the substrate W, and has a rounded or chamfered shape.
  • the edge portion E is the outermost periphery of the substrate W, which is composed of an upper inclined portion (upper bevel portion) B1, a lower inclined portion (lower bevel portion) B2, and a side portion (apex) B3. It is the surface.
  • the edge portion E is a portion that forms the outermost peripheral surface of the substrate W and has a curved cross section.
  • the edge portion E is sometimes called a bevel portion.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing the laminated substrate Ws.
  • the laminated substrate Ws has a structure in which a first substrate W1 and a second substrate W2 are bonded at a bonding surface P. As shown in FIG.
  • the first substrate W1 and the second substrate W2 used in this embodiment are circular.
  • the laminated substrate Ws of this embodiment has a structure in which the round-shaped first substrate W1 and the second substrate W2 shown in FIG. 1B are joined together. It may have a structure in which a straight-type first substrate W1 and a second substrate W2 are bonded together.
  • the edge portion of the laminated substrate Ws indicates the outer edge portion of the laminated substrate Ws including the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • the edge portions E1 and E2 are sometimes called bevel portions.
  • a gap G is formed between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2. This gap G is formed over the entire circumference of the laminated substrate Ws.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing one embodiment of the substrate processing apparatus 1.
  • the substrate processing apparatus 1 is an apparatus for determining application conditions of the filler F in advance and applying the filler F to the laminated substrate Ws in which the first substrate W1 and the second substrate W2 are joined.
  • the substrate processing apparatus 1 includes a filler application module 9 configured to apply a filler F to the laminated substrate Ws, a surface shape measuring device 11 for measuring the surface shapes of the first substrate W1 and the second substrate W2,
  • An operation control unit 10 for controlling the operations of the filler application module 9 and the surface shape measuring device 11 is provided.
  • the surface shape measuring apparatus 11 measures the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2 that constitute the laminated substrate Ws. The surface shape of the portion E2 is measured. Thereafter, the operation control unit 10 determines application conditions for the filler F based on the measurement result of the surface shape. The filler application module 9 applies the filler F to the laminated substrate Ws under the determined application conditions.
  • the surface shape measuring device 11 is provided in association with a transport device (not shown) for transporting the laminated substrate Ws to the filler coating module 9, and measures the first substrate W1 during, before and after transportation of the laminated substrate Ws. The surface shape of the edge portion E1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 may be measured.
  • FIG. 4 is a diagram showing an embodiment of a measuring method by the surface shape measuring device 11.
  • the surface shape measuring device 11 is a laser scanning device, and measures the surface shape (including its dimensions) of the object to be measured by irradiating the object to be measured with a laser beam and detecting the laser beam reflected from the object to be measured.
  • the surface shape measuring apparatus 11 moves in the thickness direction of the laminated substrate Ws while irradiating the object to be measured with laser light, and measures the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2.
  • the portion E2 is scanned with a laser beam to measure the surface shape.
  • FIG. 5 is a diagram showing another embodiment of the measuring method by the surface shape measuring device 11.
  • the surface profile measuring device 11 is a confocal laser microscope, and measures the surface profile (including its dimensions) of the measurement target by irradiating the measurement target with laser light and generating a focused image of the measurement target.
  • the surface shape measuring apparatus 11 moves the objective lens of the confocal laser microscope in the radial direction of the laminated substrate Ws while irradiating the object to be measured with laser light, thereby measuring the edge of the first substrate W1.
  • a focused image of the portion E1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 is generated to measure the surface shape.
  • the surface profile measuring device 11 is not limited to the embodiments described with reference to FIGS. 4 and 5 as long as it can measure the surface profile of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2. .
  • FIG. 6 is a plan view showing one embodiment of the filler application module 9
  • FIG. 7 is a side view showing one embodiment of the filler application module 9.
  • the filler application module 9 includes a substrate holder 2 that holds the laminated substrate Ws, an application device 3 for applying the filler F, and a curing device 4 for curing the applied filler F.
  • the substrate holding part 2 is a stage that holds the rear surface of the laminated substrate Ws by vacuum suction.
  • the filler application module 9 further includes a rotating shaft 7 connected to the central portion of the substrate holding portion 2 and a rotating mechanism 8 that rotates the substrate holding portion 2 and the rotating shaft 7 .
  • the laminated substrate Ws is placed on the substrate holder 2 so that the center of the laminated substrate Ws coincides with the axis of the rotating shaft 7 .
  • the rotating mechanism 8 has a motor (not shown). As shown in FIG. 6, the rotation mechanism 8 is configured to integrally rotate the substrate holder 2 and the laminated substrate Ws about the central axis Cr of the laminated substrate Ws in the direction indicated by the arrow.
  • the coating device 3 is positioned radially outward of the laminated substrate Ws on the substrate holder 2, and is positioned in the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 of the laminated substrate Ws. It is configured to apply a filler F.
  • FIG. 8 is a schematic diagram showing an embodiment of the coating device 3. As shown in FIG. The coating device 3 includes a syringe 21 for discharging the filler F, a piston 22 capable of reciprocating within the syringe 21, and a horizontal movement mechanism (not shown) for moving the syringe 21 toward or away from the laminated substrate Ws. ing.
  • the coating device 3 can adjust the distance between the laminated substrate Ws and the filler discharge port 21 a of the coating device 3 .
  • the coating device 3 may omit the horizontal movement mechanism. In this case, the distance between the laminated substrate Ws and the filler discharge port 21a is determined in advance so that the filler F is appropriately injected into the gap G of the laminated substrate Ws.
  • the syringe 21 has a hollow structure and is configured to be filled with a filler F inside.
  • the piston 22 is arranged inside the syringe 21 .
  • the syringe 21 has a filler ejection port 21a for ejecting the filler F at its tip.
  • the tip of the syringe 21 including the filler ejection port 21a may be detachable.
  • An appropriate shape is selected for the shape of the filler discharge port 21a depending on the physical properties (for example, viscosity) of the filler F to be applied.
  • the filler discharge port 21a is arranged to face the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • the coating device 3 is connected to a gas supply source via a gas supply line 25 .
  • a gas for example, dry air or nitrogen gas
  • the piston 22 advances inside the syringe 21 .
  • the filler F in the syringe 21 is discharged from the filler discharge port 21a.
  • the coating device 3 continuously coats the filler F in the gap G at the edge of the rotating laminated substrate Ws.
  • the filler F may be applied while the laminated substrate Ws rotates a plurality of times according to the total applied amount.
  • a pressure regulator 26 and an on-off valve 27 are arranged in the gas supply line 25 .
  • the on-off valve 27 is an actuator-driven valve such as an electric valve or an electromagnetic valve.
  • the on-off valve 27 is opened, the gas is supplied from the gas supply source to the coating device 3, and the coating device 3 applies the filler F to the laminated substrate Ws.
  • the on-off valve 27 is closed, the supply of the gas to the coating device 3 is stopped, and the coating of the filler F is thereby stopped.
  • the pressure adjustment device 26 can adjust the amount of the filler F ejected from the filler ejection port 21a per unit time by adjusting the pressure of the gas supplied from the gas supply source to the coating device 3 . Operations of the pressure regulator 26 and the on-off valve 27 are controlled by the operation control section 10 .
  • the coating device 3 may be provided with a screw feeder instead of the combination of the syringe 21 and the piston 22.
  • the curing device 4 is positioned radially outward of the laminated substrate Ws on the substrate holding portion 2 .
  • the curing device 4 is arranged downstream of the coating device 3 in the rotation direction of the multilayer substrate Ws, and configured to cure the filler F applied to the multilayer substrate Ws by the coating device 3 . Curing of the filler F by the curing device 4 is performed while rotating the laminated substrate Ws.
  • the filler F is a thermosetting filler. Examples of such fillers include thermosetting resins.
  • the curing device 4 is an air heater, and is configured to blow hot air toward the filler F applied to the laminated substrate Ws.
  • the curing device 4 is configured to be able to adjust the air pressure and temperature of the hot air blown.
  • the filler F heated by the hot air is cured by a cross-linking reaction.
  • the curing device 4 continuously cures the filler F applied to the edge portion of the rotating laminated substrate Ws. When the filler F contains a solvent, the solvent is volatilized by heating.
  • the curing device 4 is not limited to an air heater as long as it can heat and cure the filler F, and may be a lamp heater or other configuration.
  • the filler F is a thermosetting filler, but in one embodiment, the filler F may be a UV-curable filler.
  • the curing device 4 may be a UV irradiation device that cures the filler F by irradiating it with ultraviolet rays. If the filler F contains a solvent, it may be heated using an air heater or the like to volatilize the solvent.
  • the filler application module 9 may further include an infrared imaging device 5 that generates an image of the edge portion of the laminated substrate Ws.
  • the infrared imaging device 5 is arranged downstream of the curing device 4 in the rotation direction of the laminated substrate Ws.
  • the infrared imaging device 5 is configured to generate an image including the filler F applied to the laminated substrate Ws by the coating device 3 and cured by the curing device 4 .
  • the distance between the infrared imaging device 5 and the curing device 4 is shorter than the distance between the infrared imaging device 5 and the coating device 3 .
  • the infrared imaging device 5 is positioned above the edge portion of the laminated substrate Ws and is configured to generate an image of the edge portion of the laminated substrate Ws.
  • the infrared imaging device 5 irradiates the edge portion of the laminated substrate Ws with infrared rays, receives the infrared rays reflected from the edge portion of the laminated substrate Ws, and generates an image of the edge portion of the laminated substrate Ws.
  • An example of the infrared imaging device 5 is an infrared microscope.
  • the first substrate W1 and the second substrate W2 are basically composed of silicon wafers, and the infrared rays emitted from the infrared imaging device 5 pass through the first substrate W1 and the second substrate W2. . Since infrared rays do not pass through the filler F, the infrared imaging device 5 can generate an image of the filler F applied to the laminated substrate Ws from the infrared rays reflected from the edge portion of the laminated substrate Ws.
  • the operation control unit 10 is configured to control the operation of the substrate processing apparatus 1 including the filler application module 9 and the surface shape measuring device 11 configured as described above.
  • the coating device 3 , the curing device 4 , the infrared imaging device 5 , the rotating mechanism 8 , the pressure adjusting device 26 and the filler coating module 9 including the on-off valve 27 , and the surface shape measuring device 11 are electrically connected to the operation control unit 10 . It is connected to the.
  • the operation control unit 10 is composed of at least one computer.
  • the operation control unit 10 executes operations according to the storage device 10a storing a program for controlling the operation of the substrate processing apparatus 1 including the filler application module 9 and the surface shape measuring device 11, and the instructions included in the program.
  • a processing device 10b is provided.
  • the storage device 10a includes a main storage device such as a random access memory (RAM) and an auxiliary storage device such as a hard disk drive (HDD) and solid state drive (SSD). Examples of the processing device 10b include a CPU (central processing unit) and a GPU (graphic processing unit). However, the specific configuration of the operation control unit 10 is not limited to these examples.
  • the operation control unit 10 gives a command to the surface shape measuring device 11 to cause the surface shape measuring device 11 to measure the surface shapes of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • the operation control unit 10 determines application conditions for the filler F to be applied to the laminated substrate Ws based on the measurement result of the surface shape.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the surface shape of the edge portion to be measured by the surface shape measuring device 11.
  • the surface shapes of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 to be measured are: (i) the radial dimension x1 of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2; (ii) the dimension x3 in the thickness direction of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2; and (iii) the edge portion of the first substrate W1. It is specified by at least one of the tilt angle ⁇ 1 of E1 and the tilt angle ⁇ 2 of the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • a reference line Lr shown in FIG. 9 is a line perpendicular to the bonding surface P of the first substrate W1 and the second substrate W2 and passing through the outermost edge of the bonding surface P in the radial direction.
  • the radially outermost end of the bonding surface P coincides with the radially innermost end of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • the radial dimension x1 of the edge portion E1 of the first substrate W1 is the distance from the reference line Lr to the radially outermost end of the first substrate W1.
  • the radial dimension x2 of the edge portion E2 of the second substrate W2 is the distance from the reference line Lr to the radially outermost end of the second substrate W2. In one embodiment, if the first substrate W1 and the second substrate W2 have the same substrate geometry, either dimension x1 or dimension x2 may be measured.
  • the dimension x3 in the thickness direction of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 is the distance from the outermost radial end of the first substrate W1 to the outermost radial end of the second substrate W2. It is the distance in the thickness direction of the laminated substrate Ws (the first substrate W1 and the second substrate W2) to the outer edge.
  • the inclination angle ⁇ 1 of the edge portion E1 of the first substrate W1 is the angle of the edge portion E1 of the first substrate W1 with respect to the reference line Lr.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the edge portion E2 of the second substrate W2 is the angle of the edge portion E2 of the second substrate W2 with respect to the reference line Lr.
  • the tilt angle ⁇ 1 or the tilt angle ⁇ 2 may be measured.
  • the tilt angle ⁇ 1 and the tilt angle ⁇ 2 are angles of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 with respect to the bonding surface P of the first substrate W1 and the second substrate W2. good too.
  • the operation control unit 10 controls the amount of the filler F to be applied by the filler application module 9 based on the measurement results of the surface shape (dimensions x1, x2, x3 and inclination angles ⁇ 1, ⁇ 2) described with reference to FIG. Determine coating conditions.
  • the coating conditions are the composition of the filler F, the total amount of the filler F applied, the shape of the filler discharge port 21a of the coating device 3, the distance between the laminated substrate Ws and the filler discharge port 21a, and the filler discharge per unit time. It includes at least one of the amount of the filler F discharged from the outlet 21a, the wind pressure and temperature of the hot air blown from the curing device 4, and the rotational speed of the laminated substrate Ws.
  • the filler F is mainly composed of a binder, a solvent, and particles, and the particles are dispersed in the binder dissolved in the solvent. Particles are used to increase the volume of the filler and to control the viscosity of the filler. If the viscosity of the filler F is high and the diameter of the particles is large, the filler F will not enter the fine gaps G, resulting in insufficient filling. Therefore, the operation control unit 10 determines an appropriate composition of the filler F based on the measurement result of the surface shape described with reference to FIG. More specifically, the composition of filler F includes the type of binder, the amount of solvent, the amount of particles, and the size of particles.
  • the operation control unit 10 determines the total application amount of the filler F (the volume of the filler F) based on the measurement result of the surface shape described with reference to FIG.
  • the wind pressure, temperature, and rotation speed of the laminated substrate Ws may be determined based on the determined composition of the filler F.
  • the operation control unit 10 gives a command to the filler application module 9 to cause the application device 3 to apply the filler F under the determined application conditions, and the curing device 4 to cure the applied filler F.
  • the filler F when the filler F is applied to the gap G between the laminated substrates Ws, the surface shapes of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 are measured in advance, and the filler is applied. By determining the application conditions of F, an appropriate filling state of the filler F can be realized.
  • FIG. 10 is a schematic diagram showing another embodiment of the substrate processing apparatus 1.
  • the operation control unit 10 gives a command to the surface shape measuring device 11 before the first substrate W1 and the second substrate W2 are joined together, so that the edge portion E1 of the first substrate W1 and the second substrate W2 are measured. The surface shape of the edge portion E2 of W2 is measured. Thereafter, the operation control unit 10 determines application conditions for the filler F based on the measurement result of the surface shape. After the first substrate W1 and the second substrate W2 are joined, the operation control unit 10 gives a command to the filler application module 9 to cause the application device 3 to apply the filler F under the determined application conditions, and the curing device to apply the filler F. The filler F applied by 4 is cured.
  • the surface shapes of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 to be measured are: (i) the radial dimension x1 of the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2; (ii) the dimension x3 in the thickness direction of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2; and (iii) the edge portion of the first substrate W1. It is specified by at least one of the tilt angle ⁇ 1 of E1 and the tilt angle ⁇ 2 of the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the surface shape of the edge portion to be measured by the surface shape measuring device 11 before the first substrate W1 and the second substrate W2 are bonded.
  • the bonding surface P1 of the first substrate W1 and the bonding surface P2 of the second substrate W2 are bonded.
  • the first substrate W1 bonding surface P1 has dimensions x1 and x2 and inclination angles ⁇ 1 and ⁇ 2 that are the same as the dimensions x1 and x2 and inclination angles ⁇ 1 and ⁇ 2 described with reference to FIG. Description is omitted.
  • the dimension x3 in the thickness direction of the gap G between the edge E1 of the first substrate W1 and the edge E2 of the second substrate W2 is the sum of the dimensions x3-1 and x3-2 shown in FIG. .
  • the dimension x3-1 is the distance in the thickness direction from the radially outermost end of the first substrate W1 to the bonding surface P1.
  • the dimension x3-2 is the distance in the thickness direction from the radially outermost end of the second substrate W2 to the bonding surface P2.
  • either dimension x3-1 or dimension x3-2 is measured and double the measured value. may be used as the dimension x3 in the thickness direction of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • FIG. 12A is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of a laminated substrate to be processed.
  • the laminated substrate Ws has a structure in which a first substrate W1 and a second substrate W2 are bonded together.
  • the first substrate W1 and the second substrate W2 used in this embodiment are circular.
  • the edge portion E1 of the first substrate W1 is the outermost side surface inclined with respect to the bonding surface (eg device surface) S1 of the first substrate W1. More specifically, the edge E1 of the first substrate W1 has a rounded shape or a chamfered shape.
  • the edge portion E2 of the second substrate W2 is the outermost side inclined with respect to the bonding surface (for example, the device surface) S2 of the second substrate W2. More specifically, the edge E2 of the second substrate W2 has a rounded shape or a chamfered shape.
  • the edge portions E1 and E2 are sometimes called bevel portions.
  • a gap G is formed between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • FIG. 12B is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of the laminated substrate Ws to which the filler F is applied.
  • the filler F is applied to the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • This gap G is formed over the entire circumference of the laminated substrate Ws and has a substantially triangular cross section.
  • the filler F is applied so as to fill this gap G. As shown in FIG.
  • FIG. 12C is a cross-sectional view showing an example of an edge portion of the laminated substrate Ws that has been thinned after the filler F has been applied.
  • thinning of the laminated substrate Ws is performed by cutting the outer surface of the second substrate W2 with a thinning device (not shown).
  • a thinning device not shown.
  • a knife edge portion 102 is formed at the edge portion E2 of the second substrate W2. Since the knife edge portion 102 is held (supported) by the filler F, cracking and chipping of the knife edge portion 102 are prevented.
  • FIG. 13 is a schematic diagram showing one embodiment of the substrate processing apparatus 105.
  • the substrate processing apparatus 105 of this embodiment includes an arithmetic system 110 having a learned model constructed by machine learning, and a filler application module 112 that applies a filler to a laminated substrate in which a first substrate and a second substrate are joined. It has although the laminated substrate is not depicted in FIG. 13, it has the configuration described with reference to FIGS. 12A to 12C.
  • Computing system 110 is configured to control the operation of filler application module 112 as well as calculate filler application conditions according to an algorithm defined by a trained model, as will be described below.
  • the computing system 110 includes a storage device 110a that stores programs and trained models, and a computing device 110b that executes computations according to instructions included in the programs.
  • the storage device 110a includes a main storage device such as a random access memory (RAM) and an auxiliary storage device such as a hard disk drive (HDD) and solid state drive (SSD).
  • Examples of the arithmetic unit 110b include a CPU (central processing unit) and a GPU (graphic processing unit).
  • the specific configuration of the computing system 110 is not limited to these examples.
  • the computing system 110 is composed of at least one computer.
  • the at least one computer may be a server or multiple servers.
  • the computing system 110 may be an edge server connected to the filler application module 112 by communication lines, or a cloud server or fog server connected to the filler application module 112 by a communication network such as the Internet or a local area network. may be
  • the computing system 110 may be multiple computers connected by a communication network such as the Internet or a local area network.
  • computing system 110 may be a combination of edge servers and cloud servers.
  • the storage device 110a and the arithmetic device 110b may each be arranged in a plurality of computers installed at different locations.
  • the computing system 110 may include a first computer for constructing a learned model by machine learning and a second computer for calculating application conditions using the learned model.
  • the first computer and the second computer may be located remotely.
  • FIG. 14 is a top view showing one embodiment of the filler application module 112
  • FIG. 15 is a side view of the filler application module 112 shown in FIG.
  • the filler application module 112 is configured to apply a filler to the edge portion of the laminated substrate Ws while rotating the laminated substrate Ws.
  • the filler application module 112 includes a substrate holder 115 that holds the laminated substrate Ws, an application device 116 that applies the filler F to the edge portion of the laminated substrate Ws, and a curing agent that cures the applied filler F.
  • a device 120 is provided.
  • the substrate holding part 115 is a stage that holds the rear surface of the laminated substrate Ws by vacuum suction.
  • the filler application module 112 further includes a rotating shaft 122 connected to the central portion of the substrate holding portion 115 and a rotating mechanism 123 that rotates the substrate holding portion 115 and the rotating shaft 122 .
  • the laminated substrate Ws is placed on the substrate holder 115 so that the center of the laminated substrate Ws coincides with the axis of the rotating shaft 122 .
  • the rotating mechanism 123 has a motor (not shown). As shown in FIG. 14, the rotation mechanism 123 is configured to integrally rotate the substrate holder 115 and the laminated substrate Ws about the central axis Cr of the laminated substrate Ws in the direction indicated by the arrow.
  • the coating device 116 is positioned radially outward of the laminated substrate Ws on the substrate holding portion 115, and is provided in the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 of the laminated substrate Ws. It is configured to apply a filler F.
  • FIG. 16 is a schematic diagram showing an embodiment of the coating device 116. As shown in FIG. The coating device 116 includes a syringe 126 for discharging the filler F, a piston 127 reciprocating within the syringe 126, and a horizontal movement mechanism (not shown) for moving the syringe 126 closer to or away from the laminated substrate Ws. ing.
  • This horizontal movement mechanism allows the coating device 116 to adjust the distance between the layered substrate Ws and the filler discharge port 126a of the coating device 116 .
  • the coating device 116 may omit the horizontal movement mechanism. In this case, the distance between the laminated substrate Ws and the filler discharge port 126a is determined in advance so that the filler F is appropriately injected into the gap G of the laminated substrate Ws.
  • the syringe 126 has a hollow structure and is configured to be filled with a filler F inside. Piston 127 is positioned within syringe 126 .
  • the syringe 126 has a filler ejection port 126a for ejecting the filler F at its tip.
  • the tip of the syringe 126 including the filler ejection port 126a may be detachable.
  • An appropriate shape is selected for the shape of the filler discharge port 126a depending on the physical properties (eg, viscosity) of the filler F to be applied.
  • the filler discharge port 126a is arranged to face the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2.
  • the applicator 116 is connected to a gas supply source via a gas supply line 128 .
  • a gas eg, dry air or nitrogen gas
  • syringe 126 is supplied to syringe 126 from a gas supply, causing piston 127 to advance within syringe 126 .
  • the filler F in the syringe 126 is discharged from the filler discharge port 126a.
  • a pressure regulator 129 is arranged in the gas supply line 128 .
  • the pressure of the gas supplied from the gas supply source to the coating device 116 By adjusting the pressure of the gas supplied from the gas supply source to the coating device 116, the amount of the filler F ejected from the filler ejection port 126a per unit time can be adjusted.
  • the applicator 116 may include a screw feeder instead of the syringe 126 and piston 127 combination.
  • the curing device 120 is located radially outside the laminated substrate Ws.
  • the curing device 120 is arranged downstream of the coating device 116 in the rotation direction of the multilayer substrate Ws, and is configured to cure the filler F applied to the multilayer substrate Ws by the coating device 116 . Curing of the filler F by the curing device 120 is performed while rotating the laminated substrate Ws.
  • the filler F is a thermosetting filler. Examples of such fillers include thermosetting resins.
  • the curing device 120 is an air heater, and is configured to blow hot air toward the filler F applied to the laminated substrate Ws.
  • the filler F heated by the hot air is cured by a cross-linking reaction.
  • the solvent is volatilized by heating.
  • the curing device 120 is not limited to an air heater as long as it can heat and cure the filler F, and may be a lamp heater or other configuration.
  • the filler F is a thermosetting filler, but in one embodiment, the filler F may be a UV-curable filler.
  • the curing device 120 may be a UV irradiation device that cures the filler F by irradiating ultraviolet rays. If the filler F contains a solvent, it may be heated using an air heater or the like to volatilize the solvent.
  • the filler application module 112 is configured to apply the filler F to the laminated substrate Ws according to application conditions determined by the computing system 110 .
  • the computing system 110 uses the learned model stored in the storage device 110a to determine the coating conditions as follows. That is, as shown in FIG. 17, the computing system 110 inputs the data regarding the laminated substrate Ws and the data regarding the filler F to the learned model, and outputs the application condition of the filler F from the learned model.
  • a trained model is created in advance by machine learning using training data.
  • the data on the laminated substrate Ws include the materials forming the surfaces of the first substrate W1 and the second substrate W2, the shape of the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2, and the like. including size.
  • the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 will be referred to as the gap G formed at the edge portion of the laminated substrate Ws or simply the gap of the laminated substrate Ws.
  • G The shape and size of the gap G between the laminated substrates Ws affect the amount of the filler F to be applied.
  • Examples of materials forming the surfaces of the first substrate W1 and the second substrate W2 include silicon, an insulating film, a metal film, or a combination thereof.
  • the materials forming the surfaces of the first substrate W1 and the second substrate W2 affect how easily the filler F enters the gap G.
  • the data on the laminated substrate Ws can be obtained from the manufacturing information of the laminated substrate Ws, the information on the previous process, and the like.
  • the shape and size of the gap G in the laminated substrate Ws are specified by the image of the gap G or the size of the gap G.
  • the dimensions of the gap G are, for example, the width of the gap G in the radial direction, the height of the gap G, and the angle of the inner end of the gap G (for example, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2). contact angle).
  • the shape and size of the gap G can be measured using a known surface shape measuring device such as a laser scanning device and a confocal microscope.
  • the substrate processing apparatus 105 may include a surface shape measuring device for measuring the shape and size (dimensions) of the gap G formed at the edge of the laminated substrate Ws.
  • the shape and size of the gap G are measured before applying the filler F to the laminated substrate Ws. Instead of the dimensions of the gap G, an image showing the shape and size of the gap G may be used.
  • the substrate processing apparatus 105 may include an imaging device that produces an image showing the shape and size of the gap G.
  • the data on filler F includes the composition of filler F.
  • Fillers F include binders, solvents, particles, and the like.
  • the particles are dispersed in a binder dissolved in a solvent.
  • the composition of filler F is the type of binder, the amount of solvent, the amount of particles, and the size of particles.
  • binders include inorganic binders containing alkali metal silicates, organic binders composed of silicone resins or epoxy resins, and inorganic-organic hybrid binders.
  • the particles are, for example, particles such as silica or alumina. Particles are incorporated into the binder to increase the volume of filler F and to adjust the viscosity of filler F. In order to reduce the viscosity of filler F, particles may not be included in filler F.
  • the filler F usually has a certain degree of viscosity.
  • the viscosity of filler F is largely dependent on the amount of solvent, the amount of particles and the material of the binder.
  • the viscosity of the filler F is largely dependent on the amount of solvent, the amount of particles and the material of the binder.
  • the viscosity of the filler F that is, the composition of the filler F (for example, the material of the binder , amount of solvent, amount of particles) are required.
  • the amount of particles includes the case where the amount of particles is 0, ie no particles are included.
  • the data regarding the laminated substrate Ws and the data regarding the filler F are input to the computing system 110 and stored in its storage device 110a.
  • the coating conditions output from the learned model include at least one of the total coating amount of the filler F, the coating amount of the filler F per unit time, the temperature of the filler F, and the rotation speed of the laminated substrate Ws. .
  • the total application amount of the filler F is an appropriate amount of the filler F to fill the gap G between the laminated substrates Ws.
  • the application amount of the filler F per unit time is, in other words, the application speed, and is the amount of the filler F discharged from the application device 116 shown in FIGS. 14 to 16 per unit time.
  • the application amount of the filler F per unit time can be controlled by the pushing force of the filler F of the coating device 116 .
  • the rotation speed of the laminated substrate Ws corresponds to the rotation speed of the substrate holder 115 shown in FIGS. 14 and 15 and can be controlled by the rotation mechanism 123.
  • the computing system 110 gives a command to the filler application module 112 to apply the filler F to the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 according to the above application conditions. 112 is applied.
  • the storage device 110a stores a program for building a trained model according to a machine learning algorithm.
  • Arithmetic device 110b executes machine learning using training data according to instructions included in the program, and builds a learned model.
  • machine learning algorithms include the SVR method (support vector regression method), the PLS method (Partial Least Squares method), the deep learning method (deep learning method), the random forest method, and the decision tree method. be done.
  • the trained model consists of a neural network constructed by deep learning methods. Building a trained model by machine learning involves optimizing parameters such as neural network weights.
  • the training data used for machine learning includes data on multiple laminated substrates, data on multiple fillers, and multiple application conditions as correct labels.
  • the plurality of laminated substrates are the plurality of laminated substrates actually used for applying the filler. In the following description, these laminated substrates are referred to as learning laminated substrates.
  • the plurality of learning laminated substrates includes a plurality of laminated substrates having different configurations.
  • a different configuration means a configuration in which at least one of the size of the gap in the edge portion, the shape of the gap in the edge portion, and the surface constituent material is different.
  • the learning multilayer substrates include a plurality of learning multilayer substrates having gaps formed at the edges with different shapes and sizes (dimensions), and a plurality of learning multilayer substrates having different materials forming the surfaces of the first substrate and the second substrate. Includes study laminate.
  • the plurality of fillers are the plurality of fillers actually applied to the plurality of learning laminated substrates. In the following description, these fillers are referred to as learning fillers.
  • the multiple learning fillers include multiple fillers with different compositions.
  • a different composition refers to a composition in which at least one material and/or amount of components constituting the filler is different. For example, there are multiple learning fillers with different binder materials, multiple learning fillers with different amounts of solvent, and multiple learning fillers with different amounts of particles (including no particles). containing agents.
  • Multiple application conditions for correct labels are multiple application conditions when good application results of multiple fillers are obtained. More specifically, the plurality of application conditions for the correct label are the application conditions when a plurality of learning fillers are actually applied to a plurality of learning laminated substrates and good application results are obtained.
  • a plurality of application conditions for the correct labels are at least the total applied amount of the filler for learning, the amount of the filler for learning applied per unit time, the temperature of the filler for learning, and the rotation speed of the multilayer substrate for learning. including one.
  • a plurality of application conditions as correct labels include a plurality of application conditions different from each other. For example, different application conditions may include different total application amounts of the learning filler, different application amounts of the learning filler per unit time, different temperatures of the learning filler, and different rotation speeds of the learning laminate substrate. at least one of
  • the correct label is the application condition when a good application result is obtained. Whether the applied state is good or not is judged by observing the edge portion of the learning laminated substrate on which the learning filler is actually applied. Specifically, after applying the filler for learning, the multilayer substrate for learning is thinned, and cracks and chipping occurring in the knife edge portion (see reference numeral 102 in FIG. 12C) of the multilayer substrate for learning are removed. Based on the number or size, the state of application can be determined. For example, if the number of chips below the threshold or the number of chips smaller than the threshold occurs on the knife edge (including cases where there is no chip on the knife edge), the filler for learning It is judged that the coating state is good.
  • an infrared microscope is used to generate an image of the edge portion of the learning filler-applied learning layered substrate, and based on the size of the learning filler in the target region on the image, the application state can be determined. can be determined. More specifically, if the area or width of the learning filler in the target region is greater than the threshold value, it is determined that the learning filler is applied in a good condition.
  • a target area is an observation area preset on an image.
  • the infrared microscope is configured to direct infrared radiation onto an edge of the training laminate and to generate an image from the infrared radiation transmitted through or reflected from the edge of the training laminate. be. Infrared rays pass through the first and second substrates made of silicon and are reflected by the filler. As a result, the image generated by the infrared microscope shows the filler applied to the interstices of the laminated learning substrate. Therefore, based on the image generated by the infrared microscope, the application state of the learning filler can be determined.
  • the application state of the learning filler can be determined by cutting the learning layered substrate coated with the learning filler and visually observing the edge portion of the learning layered substrate.
  • the coating conditions that gave a good coating state are the coating conditions for learning, and are associated with the data on the corresponding laminated substrate for learning and the data on the corresponding filler for learning as correct labels. be tied (linked).
  • the correct label is included in the training data along with the data for the corresponding training laminate and the data for the corresponding training filler. Training data is also called learning data or teacher data.
  • the model parameters e.g. weights
  • the data regarding the learning laminated substrate and the data regarding the learning filler are explanatory variables, and the coating conditions are objective variables.
  • the computing system 110 stores a learned model constructed by machine learning in the storage device 110a.
  • FIG. 18 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • the computing system 110 acquires data on a plurality of laminated substrates for learning, data on a plurality of fillers for learning, and a plurality of application conditions as correct labels via an input device (not shown) or signal communication. do.
  • the computing system 110 stores these acquired data and correct labels in the storage device 110a.
  • the computing system 110 associates the data regarding the plurality of training laminates and the data regarding the plurality of training fillers with the corresponding correct label, the plurality of application conditions, to create training data.
  • the computing system 110 executes machine learning using the training data to build (create) a learned model.
  • Computing system 110 stores the trained model in storage device 110a.
  • the computing system 110 uses the learned model to determine the optimum application conditions for the laminated substrate Ws to which the filler F should be applied. More specifically, as shown in FIG. 17, the computing system 110 stores data on the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied (for example, the shape and size of the gap G at the edge portion) and data on the laminated substrate Ws. Data of the filler F to be applied (for example, the composition of the filler F) is input to the learned model, and the application conditions are output from the learned model by performing calculations according to the algorithm defined by the learned model. do.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112, and in accordance with the application conditions output from the learned model, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2 constituting the laminated substrate Ws.
  • the filler F is applied by the filler application module 112 to the gap G (see FIG. 12A) from E2.
  • FIG. 19 is a flow chart illustrating an embodiment of a method of applying the filler F to the laminated substrate Ws according to the application conditions determined using the learned model.
  • the computing system 110 inputs data on the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied and data on the filler F to be applied to the laminated substrate Ws into the learned model.
  • the computing system 110 outputs application conditions from the learned model by performing computations according to an algorithm defined by the learned model.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler coating module 112 to apply a filler to the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2, which constitute the laminated substrate Ws. Apply F.
  • the filler application module 112 applies the filler F to the gap G at the edge of the laminated substrate Ws according to the application conditions determined in step 1202 above. Thereafter, the filler F is cured by a curing device 120 shown in FIGS. 14 and 15, and the laminated substrate Ws with the cured filler F is thinned by a thinning device (not shown).
  • appropriate application conditions are determined by the learned model, and an appropriate amount of filler F is applied to the laminated substrate Ws according to these application conditions.
  • an appropriate amount of filler F is applied to the laminated substrate Ws according to these application conditions.
  • the application conditions obtained in step 1202 above can be used as correct labels because good application results are expected. Therefore, in one embodiment, the computing system 110 uses the data regarding the laminated substrate Ws and the data regarding the filler F input to the learned model in step 1201 above, and the correct labels output from the learned model in step 1202 above as may be added to the training data to update the training data, machine learning may be performed again using the updated training data, and the learned model may be updated. By updating the learned model in this way, it is possible to improve the accuracy of the learned model.
  • the computing system 110 stores the data regarding the layered substrate Ws and the data regarding the filler F, as well as the curing device 120 for curing the filler F (see FIGS. 14 and 15). ) is input to the learned model, and the application condition of the filler F and the curing condition of the filler F are output from the learned model.
  • the data on the curing device 120 includes the type of curing device 120 and the distance between the curing device 120 and the edge of the laminated substrate Ws.
  • types of curing device 120 include lamp heaters, air heaters, and UV irradiation devices.
  • the type of curing device 120 is predetermined based on the filler F material.
  • the curing conditions include the output value of the curing device 120.
  • the output value of the curing device 120 varies depending on the type of curing device 120 . For example, if the curing device 120 is a lamp heater, the output value of the curing device 120 is the electric power [W] of the lamp, and if the curing device 120 is an air heater, the output value of the curing device 120 is the hot air. It is the temperature or the output [W] of the heat source, and if the curing device 120 is a UV irradiation device, it is the illuminance of the UV source.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112, and according to the application conditions output from the learned model, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2, which constitute the laminated substrate Ws.
  • the filler application module 112 applies the filler F to the gap G (see FIG. 12A) between the .
  • the training data used for machine learning to build the trained model includes data on multiple training laminates, data on multiple training fillers, data on multiple curing devices, and multiple Includes coating conditions and multiple curing conditions.
  • Data about multiple curing devices in the training data includes data about multiple different curing devices.
  • the data regarding the different plurality of curing devices includes at least one of different types of curing devices and different distances between the curing device and the edge of the laminated substrate.
  • a plurality of application conditions and a plurality of curing conditions as a correct label are a plurality of application conditions and a plurality of curing conditions when good application results of a plurality of fillers are obtained. More specifically, a plurality of application conditions and a plurality of curing conditions as correct labels are obtained by actually applying a plurality of learning fillers to a plurality of learning laminated substrates, and applying the applied learning fillers to a curing device. These are the coating and curing conditions under which good coating results were obtained. As described in the above embodiments, whether or not the applied state is good is determined by observing the edge portion of the learning multilayer substrate on which the learning filler is actually applied.
  • the multiple curing conditions as correct labels include the output value of the curing device.
  • Curing device output values vary depending on the type of curing device. For example, if the curing device is a lamp heater, the output value of the curing device is the lamp power [W], and if the curing device is an air heater, the output value of the curing device is the temperature of the hot air or the heat source. It is the output [W], and if the curing device is a UV irradiation device, it is the illuminance of the UV source.
  • FIG. 21 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • the computing system 110 collects data on a plurality of learning laminated substrates, data on a plurality of learning fillers, data on a plurality of curing devices, and a plurality of application conditions and curing conditions as correct labels, Obtained via an input device (not shown) or signal communication.
  • the computing system 110 stores these acquired data and correct labels in the storage device 110a.
  • the computing system 110 converts the data regarding the plurality of learning laminate substrates, the data regarding the plurality of learning fillers, and the data regarding the plurality of curing devices to the corresponding correct labels, which are the plurality of coating conditions and the plurality of curing conditions. to create training data.
  • the computing system 110 executes machine learning using the training data and builds (creates) a learned model.
  • Computing system 110 stores the trained model in storage device 110a.
  • the computing system 110 uses the learned model to determine the optimum application conditions for the laminated substrate Ws to which the filler F should be applied and the optimum curing conditions for curing the filler F applied to the laminated substrate Ws. Determine conditions. More specifically, as shown in FIG. 20, the computing system 110 stores data on the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied (for example, the shape and size of the gap G at the edge portion) and data on the laminated substrate Ws.
  • Data about the filler F to be applied e.g., composition of the filler F
  • data about the curing device 120 e.g., type of curing device 120
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112, and in accordance with the application conditions output from the learned model, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2 constituting the laminated substrate Ws.
  • Filler application module 112 applies filler F to gap G (see FIG. 12A) between E2 and filler F, and hardening device 120 hardens filler F according to hardening conditions output from the learned model.
  • FIG. 22 is a flowchart illustrating an embodiment of a method of applying the filler F to the laminated substrate Ws and curing the filler F according to the application conditions and curing conditions determined using the learned model.
  • the computing system 110 receives data regarding the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied, data regarding the filler F to be applied to the laminated substrate Ws, and data regarding the curing device 120 that cures the applied filler F. Input the data into the trained model.
  • the computing system 110 outputs application and curing conditions from the learned model by performing computations according to algorithms defined by the learned model.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112 to apply the filler to the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 constituting the laminated substrate Ws. Apply F.
  • the filler application module 112 applies the filler F to the gap G at the edge of the laminated substrate Ws according to the application conditions determined in step 1402 above.
  • the computing system 110 instructs the filler coating module 112 to cause the curing device 120 to cure the filler F filled in the gap G of the laminated substrate Ws.
  • the curing device 120 of the filler application module 112 cures the filler F according to the curing conditions determined in step 1402 above.
  • the steps 1403 and 1404 may overlap in time. After that, the laminated substrate Ws with the cured filler F is thinned by a thinning device (not shown).
  • an appropriate amount of filler F is applied to the laminated substrate Ws according to application conditions, and the filler F is appropriately cured according to curing conditions.
  • the filler F is appropriately cured according to curing conditions.
  • the computing system 110 combines the data about the laminated substrate Ws, the data about the filler F, and the data about the curing device 120 input to the learned model in step 1401 above, and the learned model in step 1402 above. Update the training data by adding the coating conditions and curing conditions as correct labels output from to the training data, and execute machine learning again using the updated training data to update the learned model. good too. By updating the learned model in this way, it is possible to improve the accuracy of the learned model.
  • FIG. 23 is a schematic diagram showing another embodiment of the substrate processing apparatus 105.
  • the substrate processing apparatus 105 of the present embodiment further includes a thinning device 140 for thinning the laminated substrate Ws to which the filler F has been applied by the filler applying module 112 and cured.
  • Computing system 110 is configured to control the operation of filler application module 112 and thinning device 140 .
  • the laminated substrate Ws is transferred from the filler application module 112 to the thinning device 140 by a transfer device (not shown).
  • Filler application module 112 and/or thinning device 140 may be located remotely from computing system 110 .
  • FIG. 24 is a schematic diagram showing one embodiment of the thinning device 140.
  • the thinning device 140 includes a holding stage 141 that holds the laminated substrate Ws, a stage rotating device 144 that rotates the holding stage 141, and a cutting tool 147 that cuts the second substrate W2 forming the laminated substrate Ws on the holding stage 141. , a cutting tool rotating device 148 that rotates the cutting tool 147 , and a cutting tool pressing device 151 that presses the cutting tool 147 against the laminated substrate Ws on the holding stage 141 .
  • the cutting tool 147 has a cutting surface 147a to which cutting particles such as diamond particles are fixed.
  • the holding stage 141 is configured to be able to hold the laminated substrate Ws on its stage surface 141a by vacuum adsorption or the like.
  • the laminated substrate Ws is placed on the stage surface 141 a of the holding stage 141 with the second substrate W 2 facing the cutting surface 147 a of the cutting tool 147 .
  • the first substrate W1 of the laminated substrate Ws is held on the stage surface 141a of the holding stage 141 by vacuum adsorption or the like.
  • the stage rotating device 144 rotates the holding stage 141
  • the laminated substrate Ws on the holding stage 141 rotates.
  • the cutting tool rotating device 148 rotates the cutting tool 147
  • the cutting tool pressing device 151 presses the cutting surface 147a of the cutting tool 147 against the second substrate W2 of the laminated substrate Ws.
  • the second substrate W2 is cut by a cutting tool 147, thereby thinning the laminated substrate Ws (see FIG.
  • the rotational speed of the cutting tool 147 is adjusted by a cutting tool rotating device 148, the pressing force of the cutting tool 147 against the laminated substrate Ws is adjusted by a cutting tool pressing device 151, and the rotational speed of the laminated substrate Ws is adjusted by a stage rotating device 144. adjusted.
  • FIG. 25 is a conceptual diagram explaining the operation of the computing system 110 of this embodiment.
  • the computing system 110 inputs data on the thinning device 140 in addition to the data on the laminated substrate Ws, the data on the filler F, and the data on the curing device 120 into the trained model, and
  • the model is configured to output the application condition of the filler F, the curing condition of the filler F, and the thinning condition of the laminated substrate Ws.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112, and according to the application conditions output from the learned model, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2 that constitute the laminated substrate Ws.
  • the filler application module 112 applies the filler F to the gap G (see FIG. 12A) between E2 and the hardening device 120 to harden the filler F according to the hardening conditions output from the learned model. ing. Further, the computing system 110 is configured to give commands to the thinning device 140 to thin the laminated substrate Ws having the hardened filler F according to thinning conditions output from the learned model.
  • the data on the thinning device 140 includes the type of cutting tool 147 used in the thinning device 140 and the target cutting amount of the laminated substrate Ws.
  • the type of cutting tool 147 is, for example, the roughness of the cutting particles forming the cutting surface 147a.
  • the thinning conditions are, in other words, the operating conditions of the thinning device 140. For example, the rotational speed of the cutting tool 147, the pressing force of the cutting tool 147 against the laminated substrate Ws, and the rotational speed of the laminated substrate Ws (the holding stage 141 rotation speed).
  • the training data used for machine learning to build the trained model includes data for multiple training laminates, data for multiple training fillers, data for multiple curing devices, and data for multiple thinning devices. , and multiple coating conditions, multiple curing conditions, and multiple thinning conditions as correct labels.
  • the data regarding multiple thinning devices in the training data includes data regarding multiple different thinning devices.
  • the data for the different thinning devices includes at least one of different types of cutting tools and different target cutting amounts of the laminated substrate.
  • Multiple coating conditions, multiple curing conditions, and multiple thinning conditions as correct labels are multiple coating conditions, multiple curing conditions, and multiple thinning conditions when good coating results and good thinning results are obtained. is the thinning condition. More specifically, multiple application conditions, multiple curing conditions, and multiple thinning conditions as correct labels are obtained by actually applying multiple learning fillers to multiple learning laminate substrates, The learning filler is cured by the curing device, and then the laminated substrate is thinned by the thinning device. be.
  • the coating state is good is determined by observing the edge portion of the learning laminated substrate on which the learning filler is actually coated. A good thinning result is judged based on the fact that the laminated substrate was thinned without causing clogging of the cutting tool, and that the time from the start of cutting to reaching the target amount of cutting was less than the allowable time. be. Clogging of cutting tools is usually caused by particles contained in fillers. The time from the start of cutting to reaching the target cutting amount varies depending on the hardness of the hardened filler, and the hardness of the hardened filler depends on the material of the filler. Therefore, the thinning condition for the correct label is the thinning condition when thinning is completed in a short time without causing clogging of the cutting tool.
  • FIG. 26 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • the computing system 110 collects data for a plurality of training laminates, data for a plurality of training fillers, data for a plurality of curing devices, data for a plurality of thinning devices, and a plurality of applications as correct labels.
  • Conditions, a plurality of curing conditions, and a plurality of thinning conditions are acquired via an input device (not shown) or signal communication.
  • the computing system 110 stores these acquired data and correct labels in the storage device 110a.
  • the computing system 110 converts data for a plurality of training laminates, data for a plurality of training fillers, data for a plurality of curing devices, and data for a plurality of thinning devices to a plurality of corresponding correct labels. application conditions, multiple curing conditions, and multiple thinning conditions to create training data.
  • the computing system 110 executes machine learning using the training data to build (create) a learned model. Computing system 110 stores the trained model in storage device 110a.
  • the computing system 110 uses the learned model to determine the optimum application conditions for the laminated substrate Ws to which the filler F should be applied and the optimum curing conditions for curing the filler F applied to the laminated substrate Ws. Conditions and optimum thinning conditions for thinning the laminated substrate Ws in which the filler F is cured are determined. More specifically, as shown in FIG. 25, the computing system 110 stores data on the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied (for example, the shape and size of the gap G at the edge portion) and data on the laminated substrate Ws.
  • Data on the filler F to be applied e.g., composition of the filler F
  • data on the curing device 120 e.g., type of curing device 120
  • data on the thinning device 140 e.g., type of cutting tool
  • the arithmetic system 110 gives a command to the filler application module 112, and in accordance with the application conditions output from the learned model, the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion of the second substrate W2 constituting the laminated substrate Ws.
  • Filler application module 112 applies filler F to gap G (see FIG. 12A) between E2 and filler F, and hardening device 120 hardens filler F according to hardening conditions output from the learned model.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the thinning device 140, and causes the thinning device 140 to thin the laminated substrate Ws in which the filler F is cured according to the thinning conditions output from the learned model.
  • FIG. 27 shows a method of applying the filler F to the laminated substrate Ws, curing the filler F, and thinning the laminated substrate Ws according to the application conditions, the curing conditions, and the thinning conditions determined using the learned model.
  • 3 is a flow chart describing one embodiment of .
  • the computing system 110 obtains data on the laminated substrate Ws to which the filler F is to be applied, data on the filler F to be applied to the laminated substrate Ws, and data on the curing device 120 for curing the applied filler F. Data and data about the thinning device 140 that thins the laminated substrate Ws with the filler F cured are input to the learned model.
  • the computing system 110 outputs application, curing, and thinning conditions from the learned model by performing computations according to algorithms defined by the learned model.
  • step 1603 the computing system 110 gives a command to the filler application module 112 to apply the filler to the gap G between the edge portion E1 of the first substrate W1 and the edge portion E2 of the second substrate W2 that constitute the laminated substrate Ws. Apply F.
  • the filler application module 112 applies the filler F to the gap G at the edge of the laminated substrate Ws according to the application conditions determined in step 1602 above.
  • the computing system 110 instructs the filler coating module 112 to cause the curing device 120 to cure the filler F filled in the gap G of the laminated substrate Ws.
  • the curing device 120 of the filler application module 112 cures the filler F according to the curing conditions determined in step 1602 above.
  • step 1603 and the above step 1604 may overlap in time.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the thinning device 140 to operate the thinning device 140 according to the thinning conditions output from the learned model to thin the laminated substrate Ws.
  • the thinning device 140 thins the laminated substrate Ws having the hardened filler F according to the thinning conditions determined in step 1602 above.
  • an appropriate amount of the filler F is applied to the laminated substrate Ws according to the application conditions, the filler F is appropriately cured according to the curing conditions, and the laminated substrate Ws is appropriately thinned according to the thinning conditions. be done.
  • the thinning conditions are optimized, clogging of the cutting tool can be prevented and the throughput of the thinning process can be improved.
  • the computing system 110 stores the data on the laminated substrate Ws, the data on the filler F, the data on the curing device 120, and the data on the thinning device 140 that have been input to the learned model in step 1601 above, and
  • the training data is updated by adding the application condition, the curing condition, and the thinning condition as correct labels output from the learned model in step 1602 to the training data, and machine learning is performed using the updated training data. may be executed again to update the trained model. By updating the learned model in this way, it is possible to improve the accuracy of the learned model.
  • the learned model is configured to calculate thinning conditions for thinning the laminated substrate Ws on which the filler F has already been applied and the filler F has been cured.
  • FIG. 28 is a conceptual diagram explaining the operation of the arithmetic system 110 of this embodiment.
  • the computing system 110 inputs the data on the laminated substrate Ws, the data on the filler F, and the data on the thinning device 140 into the learned model, and calculates the thinning conditions for the laminated substrate Ws from the learned model. is configured to output Further, the computing system 110 is configured to give commands to the thinning device 140 to thin the laminated substrate Ws having the hardened filler F according to thinning conditions output from the learned model.
  • the training data used for machine learning to build the trained model includes data on multiple learning laminates, data on multiple learning fillers, data on multiple thinning devices, and multiple including thinning conditions.
  • the data for multiple thinning devices in the training data includes data for different thinning devices.
  • the data for the different thinning devices includes at least one of different types of cutting tools and different target cutting amounts of the laminated substrate.
  • a plurality of thinning conditions as correct labels are thinning conditions when good thinning results are obtained. More specifically, a plurality of thinning conditions for the correct labels are obtained by thinning the laminated substrate having the cured filler in the gaps of the edge portions with a thinning device and obtaining a good thinning result. This is the thinning condition.
  • the thinning conditions under which a good thinning result is obtained are the thinning conditions under which the thinning is completed in a short time without causing clogging of the cutting tool.
  • FIG. 29 is a flow chart describing one embodiment of a method for building a trained model by machine learning.
  • the computing system 110 inputs data (not shown) regarding multiple laminated substrates for learning, data regarding multiple fillers for learning, data regarding multiple thinning devices, and multiple thinning conditions as correct labels. Obtained through equipment or signal communication.
  • the computing system 110 stores these acquired data and correct labels in the storage device 110a.
  • the computing system 110 associates data about a plurality of training laminates, data about a plurality of training fillers, and data about a plurality of thinning devices with a plurality of thinning conditions that are corresponding correct labels, Create training data.
  • the computing system 110 executes machine learning using the training data to build (create) a learned model.
  • Computing system 110 stores the trained model in storage device 110a.
  • the computing system 110 uses the learned model to determine optimum thinning conditions for thinning the laminated substrate Ws with the filler F cured. More specifically, as shown in FIG. 28, the computing system 110 stores data on the laminated substrate Ws to which the filler F is applied (for example, the shape and size of the gap G at the edge portion) and data on the laminated substrate Ws. Data on the applied filler F (e.g., composition of the filler F) and data on the thinning device 140 (e.g., type of cutting tool 147) are input into the trained model, and the By executing calculations according to the algorithm, the thinning condition is output from the learned model. Then, the computing system 110 gives a command to the thinning device 140, and causes the thinning device 140 to thin the laminated substrate Ws in which the filler F is cured according to the thinning conditions output from the learned model.
  • the computing system 110 gives a command to the thinning device 140, and causes the thinning device 140 to thin the laminated substrate Ws in
  • FIG. 30 is a flowchart describing an embodiment of a method for thinning the laminated substrate Ws with the filler F cured according to the thinning conditions determined using the trained model.
  • the arithmetic system 110 thins the data on the laminated substrate Ws to which the filler F is applied, the data on the filler F applied to the laminated substrate Ws, and the laminated substrate Ws on which the filler F is cured. Data about the thinning device 140 are input into the trained model.
  • the computing system 110 outputs thinning conditions from the learned model by performing computations according to an algorithm defined by the learned model.
  • the arithmetic system 110 gives a command to the thinning device 140 to operate the thinning device 140 according to the thinning conditions output from the learned model to thin the laminated substrate Ws.
  • the computing system 110 combines the data about the laminated substrate Ws, the data about the filler F, and the data about the thinning device 140 input to the trained model in step 1801 above, and the data learned in step 1802 above. Even if you update the training data by adding the thinning condition as the correct label output from the model to the training data, and execute machine learning again using the updated training data to update the trained model. good. By updating the learned model in this way, it is possible to improve the accuracy of the learned model.
  • the arrangement of elements constituting the substrate processing apparatus 105 according to each of the embodiments described with reference to FIGS. 14 to 30 is not particularly limited.
  • the computing system 110, filler application module 112, and thinning device 140 may be located within one factory, or as shown in FIG. and thinning equipment 140 may be located within one factory, while computing system 110 may be located outside the factory.
  • Computing system 110 is connected to filler application module 112 and thinning device 140 by a communication network such as the Internet.
  • the computing system 110 may be remotely connected to multiple filler application modules 112 and multiple thinning devices 140 by a communication network such as the Internet.
  • Computing system 110 comprises at least one computer.
  • the arithmetic system 110 operates according to instructions included in programs electrically stored in the storage device 110a. That is, the computing system 110 commands the filler application module 112 and/or the thinning device 140 to perform the substrate processing method of any of the embodiments described above.
  • a program for causing computing system 110 to perform such an operation is recorded in a computer-readable recording medium, which is a non-temporary tangible object, and provided to computing system 110 via the recording medium.
  • programs may be input to computing system 110 from a communication device via a communication network such as the Internet or a local area network.
  • FIG. 34 is a top view showing another embodiment of the filler application module 112.
  • FIG. 35 is a side view of the filler application module 112 shown in FIG. 34.
  • FIG. The configuration of this embodiment, which is not particularly described, is the same as the configuration of the embodiment described with reference to FIGS. 14 and 15, so redundant description thereof will be omitted.
  • the filler application module 112 includes a substrate holding device 160 instead of the substrate holding section 115 , rotating shaft 122 and rotating mechanism 123 .
  • the substrate holding device 160 includes three or more (four in this embodiment) rollers 161 capable of contacting the periphery of the laminated substrate Ws, and a roller rotating mechanism that rotates each roller 161 about its axis. (not shown) and a roller moving mechanism (not shown) for moving each roller 161 .
  • the substrate holding device 160 has four rollers 161, but the substrate holding device 160 may have three, five or more rollers.
  • the four rollers 161 are arranged around the central axis Cr of the laminated substrate Ws.
  • the roller 161 is configured to contact the periphery of the laminated substrate Ws and hold the laminated substrate Ws horizontally.
  • the configuration of the roller rotation mechanism is arbitrary as long as three or more rollers 161 can be rotated in the same direction at the same speed, and a known rotation mechanism can be used as the roller rotation mechanism. Examples of roller rotation mechanisms include combinations of motors, pulleys (and/or gears), and rotating belts.
  • the roller rotation mechanism is connected to the four rollers 161 and configured to rotate the four rollers 161 in the same direction at the same speed.
  • a roller moving mechanism moves the four rollers 161 to a holding position (see solid line in FIG. 34) where the peripheral edge of the laminated substrate Ws is held by the rollers 161 and a released position (FIG. 34) where the laminated substrate Ws is released from the rollers 161. (see dotted line).
  • roller movement mechanism is arbitrary as long as the four rollers 161 can be moved between the holding position and the release position, and a known movement mechanism can be used as the roller movement mechanism.
  • roller movement mechanisms include a piston-cylinder mechanism and a combination of a ball screw and a motor (stepping motor).
  • the laminated substrate Ws is conveyed by a conveying device (not shown) to a position where the axis of the laminated substrate Ws coincides with the central axis Cr of the laminated substrate Ws.
  • roller 161 is in the release position.
  • the four rollers 161 are moved to the holding position by the roller moving mechanism, so that the peripheral edge portion of the laminated substrate Ws is held by the four rollers 161 .
  • the laminated substrate Ws is held horizontally by the four rollers 161 .
  • the laminated substrate Ws is rotated about its axis.
  • the four rollers 161 at the holding position are moved to the release position by the roller movement mechanism, the four rollers 161 are separated from the peripheral edge of the laminated substrate Ws, and the laminated substrate Ws can be released from the four rollers 161.
  • the released laminated substrate Ws is transported by a transport device (not shown) for the next process.
  • the application of the filler F by the coating device 116 and the curing of the filler F by the curing device 120 are performed while rotating the laminated substrate Ws horizontally held by the substrate holding device 160 .
  • the rotation speed of the laminated substrate Ws depends on the rotation speed of the rollers 161 of the substrate holding device 160, and can be controlled by the roller rotation mechanism.
  • the roller rotation mechanism may be configured to rotate only some of the rollers 161.
  • the roller rotation mechanism may be coupled to two rollers 161 of the four rollers 161 and configured to rotate the two rollers 161 in the same direction at the same speed.
  • the other two rollers 161 are configured to rotate freely.
  • the two rollers 161 connected to the roller rotation mechanism rotate when the four rollers 161 are arranged at the holding position, the other two rollers 161 are connected to the roller rotation mechanism via the laminated substrate Ws. It rotates following the roller 161 that is turned.
  • the roller moving mechanism may be configured to move only some of the rollers 161.
  • the roller movement mechanism may be coupled to two rollers 161 of the four rollers 161 and move the two rollers 161 between the hold position and the release position. In this case the other two rollers 161 are pre-fixed in the holding position.
  • the laminated substrate Ws is conveyed by the conveying device to a position where the peripheral edge portion of the laminated substrate Ws contacts the two fixed rollers 161 .
  • the laminated substrate Ws can be horizontally held.
  • the laminated substrate Ws can be released by moving the two rollers 161 connected to the roller moving mechanism to the release position by the roller moving mechanism.
  • the substrate holding part 115 and the rollers 161 of the substrate holding device 160 are configured to horizontally hold the laminated substrate Ws. That is, the laminated substrate Ws is held horizontally by the substrate holding part 115 or the rollers 161 of the substrate holding device 160 .
  • the application of the filler F by the coating device 116 is performed while rotating the laminated substrate Ws placed horizontally by the rollers 161 of the substrate holding unit 115 or the substrate holding device 160 .
  • the holding method of the laminated substrate Ws is not limited to the above-described embodiment.
  • the filler application module 112 may have a substrate holder or substrate holder configured to hold the laminate substrate Ws vertically. When the laminated substrate Ws is held vertically, the top surface and the bottom surface of the laminated substrate Ws are each in a virtual plane extending in the vertical direction perpendicular to the horizontal direction.
  • FIG. 36 is a side view showing still another embodiment of the filler application module 112.
  • FIG. 37 is a view seen from the direction indicated by arrow A in FIG. 36.
  • FIG. The configuration of this embodiment, which is not particularly described, is the same as the configuration of the embodiment described with reference to FIGS. 14 and 15, so redundant description thereof will be omitted.
  • FIG. 36 is a view of the laminated substrate Ws viewed from the back side.
  • the filler application module 112 includes a substrate holder 165 , a rotary shaft 166 and a rotary mechanism 168 instead of the substrate holder 115 , rotary shaft 122 and rotary mechanism 123 .
  • the substrate holding part 165 is configured to hold the rear surface of the laminated substrate Ws by vacuum suction. As shown in FIG. 37, the holding surface 165a of the substrate holding portion 165 that holds the rear surface of the laminated substrate Ws is a surface perpendicular to the horizontal plane. The laminated substrate Ws is held so as to be perpendicular to the horizontal plane. That is, the laminated substrate Ws is held vertically by the substrate holding portion 165 .
  • the rotating shaft 166 is connected to the central portion of the substrate holding portion 165 .
  • the laminated substrate Ws is held by the substrate holder 165 so that the center of the laminated substrate Ws coincides with the axis of the rotating shaft 166 .
  • the rotation mechanism 168 includes a motor (not shown), and as shown in FIG. 36, the rotation mechanism 168 rotates the substrate holder 165 and the laminated substrate Ws about the central axis Cr of the laminated substrate Ws as indicated by the arrow. It is configured to rotate integrally in the indicated direction.
  • the coating device 116 is arranged above the laminated substrate Ws held by the substrate holding portion 165 so as to face the gap G between the laminated substrates Ws.
  • the coating device 116 discharges the filler F, the filler F falls toward the gap G of the laminated substrate Ws, and as a result, the filler F can be applied to the gap G of the laminated substrate Ws.
  • the curing device 120 is positioned radially outside the laminated substrate Ws held by the substrate holding portion 165 .
  • the curing device 120 is arranged downstream of the coating device 116 in the rotation direction of the multilayer substrate Ws, and is configured to cure the filler F applied to the multilayer substrate Ws by the coating device 116 .
  • the application of the filler F by the application device 116 and the curing of the filler F by the curing device 120 are performed while rotating the laminated substrate Ws vertically held by the substrate holder 165 .
  • the rotation speed of the laminated substrate Ws corresponds to the rotation speed of the substrate holder 165 and can be controlled by the rotation mechanism 168 .
  • FIG. 38 is a side view showing still another embodiment of the filler application module 112.
  • FIG. 39 is a view seen from the direction indicated by arrow B in FIG. 38.
  • the filler application module 112 includes a substrate holding device 170 instead of the substrate holding section 165 , rotating shaft 166 and rotating mechanism 168 .
  • the substrate holding device 170 includes three or more (in this embodiment, four) rollers 171 capable of contacting the periphery of the laminated substrate Ws, and a roller rotation mechanism that rotates each roller 171 about its axis. (not shown) and a roller moving mechanism (not shown) for moving each roller 171 .
  • the substrate holding device 170 has four rollers 171, but the substrate holding device 170 may have three, five or more rollers.
  • the four rollers 171 are arranged around the central axis Cr of the laminated substrate Ws.
  • the roller 171 is configured to contact the periphery of the laminated substrate Ws and hold the laminated substrate Ws vertically. That is, the laminated substrate Ws is held vertically by the rollers 171 of the substrate holding device 170 .
  • the upper and lower surfaces of the laminated substrate Ws lie within an imaginary plane extending in the vertical direction.
  • the roller rotation mechanism is connected to the four rollers 171 and configured to rotate the four rollers 171 in the same direction at the same speed.
  • the configuration of the roller rotation mechanism is arbitrary as long as three or more rollers 171 can be rotated in the same direction at the same speed, and a known rotation mechanism can be used as the roller rotation mechanism.
  • roller rotation mechanisms include combinations of motors, pulleys (and/or gears), and rotating belts.
  • the roller moving mechanism is connected to four rollers 171, and is configured to move each roller 171 in a direction toward the central axis Cr of the laminated substrate Ws and in a direction away from the central axis Cr.
  • the four rollers 171 are moved by the roller moving mechanism to a holding position (see the solid line in FIG. 38) where the peripheral edge of the laminated substrate Ws is held by the rollers 171 and a release position (see FIG. 38) where the laminated substrate Ws is released from the rollers 171. (see dotted line).
  • the configuration of the roller movement mechanism is arbitrary as long as it can move the four rollers 171 between the holding position and the release position, and a known movement mechanism can be used as the roller movement mechanism. Examples of roller movement mechanisms include a piston-cylinder mechanism and a combination of a ball screw and a motor (stepping motor).
  • the laminated substrate Ws is conveyed by a conveying device (not shown) to a position where the axis of the laminated substrate Ws coincides with the central axis Cr of the laminated substrate Ws.
  • roller 171 is in the release position.
  • the four rollers 171 are moved to the holding position by the roller moving mechanism, so that the peripheral edge portion of the laminated substrate Ws is held by the four rollers 171 .
  • the laminated substrate Ws is held vertically by the four rollers 171 .
  • the laminated substrate Ws is rotated around its axis.
  • the four rollers 171 in the holding position are moved to the release position by the roller movement mechanism, the four rollers 171 are separated from the peripheral edge of the laminated substrate Ws, and the laminated substrate Ws can be released from the four rollers 171.
  • the released laminated substrate Ws is transported by a transport device (not shown) for the next process.
  • the application of the filler F by the coating device 116 and the curing of the filler F by the curing device 120 are performed while rotating the laminated substrate Ws vertically held by the substrate holding device 170 .
  • the rotation speed of the laminated substrate Ws depends on the rotation speed of the rollers 171 of the substrate holding device 170, and can be controlled by the roller rotation mechanism.
  • the roller rotation mechanism may be configured to rotate only some of the rollers 171.
  • the roller rotation mechanism may be coupled to two rollers 171 of the four rollers 171 to rotate the two rollers in the same direction and at the same speed.
  • the other two rollers 171 are configured to rotate freely.
  • the two rollers 171 connected to the roller rotation mechanism rotate when the four rollers 171 are arranged at the holding position, the other two rollers 171 are connected to the roller rotation mechanism via the laminated substrate Ws. It rotates following the two rollers 171 formed.
  • the roller moving mechanism may be configured to move only some of the rollers 171.
  • the roller movement mechanism may be coupled to two of the four rollers 171 and move the two rollers 171 between the hold position and the release position. In this case the other two rollers 171 are pre-fixed in the holding position.
  • the laminated substrate Ws is conveyed by the conveying device to a position where the peripheral edge portion of the laminated substrate Ws contacts the two fixed rollers 171 .
  • the laminated substrate Ws can be held vertically.
  • the laminated substrate Ws can be released by moving the two rollers 171 connected to the roller moving mechanism to the release position by the roller moving mechanism.
  • FIGS. 34 to 39 may be applied to the embodiments described with reference to FIGS. 20 to 22, 23 to 27, and 28 to 30.
  • the present invention can be applied to a substrate processing method and a substrate processing apparatus for suppressing cracking and chipping of a laminated substrate manufactured by joining a plurality of substrates, and in particular, the edge portions of the plurality of substrates constituting the laminated substrate. It can be used for the technique of applying a filler to the gap formed in the gap.

Abstract

本発明は、複数の基板を接合して製造される積層基板の割れおよび欠けを抑制する基板処理方法、および基板処理装置に関し、特に積層基板を構成する複数の基板のエッジ部間に形成された隙間に充填剤を塗布する技術に関するものである。本方法は、第1基板(W1)のエッジ部(E1)および第2基板(W2)のエッジ部(E2)の表面形状を測定し、測定結果に基づいて、積層基板(Ws)に塗布する充填剤(F)の塗布条件を決定し、決定した塗布条件で、積層基板(Ws)の第1基板(W1)のエッジ部(E1)と第2基板(W2)のエッジ部(E2)との隙間(G)に充填剤(F)を塗布する。

Description

基板処理方法および基板処理装置
 本発明は、複数の基板を接合して製造される積層基板の割れおよび欠けを抑制する基板処理方法、および基板処理装置に関し、特に積層基板を構成する複数の基板のエッジ部間に形成された隙間に充填剤を塗布する技術に関する。
 近年、半導体デバイスのさらなる高密度化および高機能化を達成するために、複数の基板を積層して3次元的に集積化する3次元実装技術の開発が進んでいる。3次元実装技術では、例えば、集積回路および電気配線が形成された第1基板のデバイス面を、集積回路および電気配線が形成された第2基板のデバイス面と接合する。さらに、第1基板を第2基板に接合した後で、第2基板が研磨装置または研削装置によって薄化される。このようにして、第1基板および第2基板のデバイス面に垂直な方向に集積回路を積層することができる。
 3次元実装技術では、3枚以上の基板が接合されてもよい。例えば、第1基板に接合された第2基板を簿化した後で、第3基板を第2基板に接合し、第3基板を簿化してもよい。本明細書では、互いに接合された複数の基板の形態を「積層基板」と称することがある。
 通常、基板のエッジ部は、割れ(クラック)や欠け(チッピング)を防止するために、丸みを帯びた形状または面取りされた形状に予め研磨されている。このような形状を有する第2基板を研削すると、その結果として第2基板には鋭利な端部が形成される。この鋭利な端部(以下、ナイフエッジ部という)は、研削された第2基板の裏面と第2基板の外周面とにより形成される。このようなナイフエッジ部は、物理的な接触により欠けやすく、積層基板の搬送時に積層基板自体が破損することがある。また、第1基板と第2基板の接合が十分でないと、第2基板が研削中に割れることもある。
 そこで、ナイフエッジ部の割れ(クラック)や欠け(チッピング)を防止するために、第2基板を研削する前に、積層基板のエッジ部に充填剤が塗布される。充填剤は、第1基板のエッジ部と第2基板のエッジ部との間の隙間に塗布される。充填剤は、第2基板を研削した後に形成されるナイフエッジ部を支持し、ナイフエッジ部の割れや欠けを防止することができる。
特開平05-304062号公報
 しかしながら、第1基板のエッジ部と第2基板のエッジ部との隙間に充填剤を塗布する際には、充填剤の不足や、過剰塗布などの充填不良が発生することがある。充填不良が生じたまま後続の工程で積層基板を処理すると、積層基板に傷が付くなど積層基板やプロセス性能に悪影響を及ぼすおそれがある。従来、積層基板への充填剤の充填状態の確認は、充填剤の塗布が完了した後に行われ、場合によっては積層基板を破壊する必要があった。
 また、充填剤の塗布量が不足していると、積層基板の隙間に塗布した充填剤内にボイド(空隙)が生じてしまうことがある。このようなボイドは、第2基板を研削したときにナイフエッジ部の割れや欠けを生じさせやすい。一方、充填剤の塗布量が過剰であると、充填剤が積層基板から脱落し、周囲環境を汚染してしまうことがある。
 充填剤を塗布した後に行われる積層基板の薄化工程にも、次のような課題がある。積層基板の薄化工程は、第2基板を切削具で切削することで行われる。しかしながら、塗布された充填剤の硬度や種類によっては、切削具がダメージを受けたり、充填剤に含まれる粒子(骨材)が切削具に固着して切削具の目詰まりを引き起こす。
 そこで、本発明は、第1基板のエッジ部と第2基板のエッジ部との隙間に、適切な塗布条件で充填剤を塗布することができる基板処理方法および基板処理装置を提供することを目的とする。
 さらに、本発明は、適切な量の充填剤を積層基板に塗布することができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。さらに、本発明は、積層基板の薄化条件を最適化することで、切削具の目詰まりを防止ししつつ、スループットを向上させることができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
 一態様では、第1基板と第2基板が接合された積層基板に充填剤を塗布する基板処理方法であって、前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定し、前記測定結果に基づいて、前記積層基板に塗布する前記充填剤の塗布条件を決定し、前記決定した塗布条件で、前記積層基板の前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布する、基板処理方法が提供される。
 一態様では、前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する工程は、前記第1基板と前記第2基板を接合した後に行う。
 一態様では、前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する工程は、前記第1基板と前記第2基板が接合される前に行う。
 一態様では、測定すべき前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状は、(i)前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の半径方向の寸法、(ii)前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間の厚み方向の寸法、および(iii)前記第1基板のエッジ部の傾斜角度および前記第2基板のエッジ部の傾斜角度、のうちの少なくとも1つによって特定される。
 一態様では、前記塗布条件は、前記充填剤の組成、前記充填剤の総塗布量、前記充填剤を塗布するための塗布装置の充填剤吐出口の形状、前記積層基板と前記充填剤吐出口との距離、単位時間あたりの前記充填剤吐出口から吐出する前記充填剤の量のうちの少なくとも1つを含む。
 一態様では、前記基板処理方法は、前記積層基板に前記充填剤を塗布した後に、塗布した前記充填剤を硬化する工程をさらに含み、前記塗布条件は、前記充填剤を硬化するための硬化装置から吹き付ける熱風の風圧および温度をさらに含む。
 一態様では、前記充填剤を塗布する工程は、前記積層基板を回転させながら行い、前記塗布条件は、前記積層基板の回転速度をさらに含む。
 一態様では、第1基板と第2基板が接合された積層基板に充填剤を塗布するための基板処理装置であって、前記積層基板に前記充填剤を塗布するように構成された充填剤塗布モジュールと、前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する表面形状測定装置と、前記充填剤塗布モジュールおよび前記表面形状測定装置の動作を制御する動作制御部を備え、前記充填剤塗布モジュールは、前記積層基板を保持する基板保持部と、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に、前記充填剤を塗布するための塗布装置を備え、前記動作制御部は、前記形状の測定結果に基づいて、前記積層基板に塗布する前記充填剤の塗布条件を決定し、前記充填剤塗布モジュールに指令を与えて、前記決定した塗布条件で前記充填剤を塗布させるように構成されている、基板処理装置が提供される。
 一態様では、前記表面形状測定装置は、(i)前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の半径方向の寸法、(ii)前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間の厚み方向の寸法、および(iii)前記第1基板のエッジ部の傾斜角度および前記第2基板のエッジ部の傾斜角度、のうちの少なくとも1つを測定するように構成されている。
 一態様では、前記充填剤塗布モジュールは、前記充填剤を硬化するための硬化装置をさらに備える。
 一態様では、前記充填剤塗布モジュールは、前記基板保持部を回転させる回転機構をさらに備える。
 一態様では、第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、充填剤に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力し、前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布する、基板処理方法が提供される。
 一態様では、前記積層基板に関するデータは、前記第1基板および前記第2基板の表面を構成する材料と、前記隙間の形状と大きさを含み、前記充填剤に関するデータは、前記充填剤の組成を含む。
 一態様では、前記塗布条件は、前記充填剤の総塗布量、単位時間あたりの前記充填剤の塗布量、前記充填剤の温度、前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 一態様では、前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータに加えて、前記充填剤を硬化するための硬化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の前記塗布条件および前記充填剤の硬化条件を出力し、前記基板処理方法は、塗布された前記充填剤を前記硬化条件に従って前記硬化装置により硬化することをさらに含む。
 一態様では、前記硬化装置に関するデータは、前記硬化装置のタイプ、および前記硬化装置と前記積層基板のエッジ部との距離を含む。
 一態様では、前記硬化条件は、前記硬化装置の出力値を含む。
 一態様では、前記積層基板に関するデータ、前記充填剤に関するデータ、および前記硬化装置に関するデータに加えて、前記積層基板を薄化するための薄化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件、前記充填剤の硬化条件、および前記積層基板の薄化条件を出力し、前記基板処理方法は、前記充填剤の硬化の後に、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化することをさらに含む。
 一態様では、前記薄化装置に関するデータは、前記薄化装置に使用される切削具の種類、および前記積層基板の目標切削量を含む。
 一態様では、前記薄化条件は、前記切削具の前記積層基板に対する押付力、前記切削具の回転速度、および前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記基板処理方法は、前記学習済みモデルに入力された前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータと、前記学習済みモデルから出力された前記塗布条件を、前記機械学習に使用される訓練データに追加することで前記訓練データを更新し、更新された前記訓練データを用いて機械学習を実行して前記学習済みモデルを更新することをさらに含む。
 一態様では、前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布することは、縦置きに保持された前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布することである。
 一態様では、第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に塗布された充填剤に関するデータと、前記積層基板を薄化するための薄化装置に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記積層基板の薄化条件を出力し、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化する、基板処理方法が提供される。
 一態様では、機械学習により構築された学習済みモデルを有する演算システムと、第1基板と第2基板が接合された積層基板を回転させながら、前記積層基板に充填剤を塗布する充填剤塗布モジュールを備え、前記演算システムは、前記積層基板に関するデータと、前記充填剤に関するデータを、前記学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力し、前記充填剤塗布モジュールに指令を与え、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を前記充填剤塗布モジュールにより塗布させるように構成されている、基板処理装置が提供される。
 一態様では、前記積層基板に関するデータは、前記第1基板および前記第2基板の表面を構成する材料と、前記隙間の形状と大きさを含み、前記充填剤に関するデータは、前記充填剤の組成を含む。
 一態様では、前記塗布条件は、前記充填剤の総塗布量、単位時間あたりの前記充填剤の塗布量、前記充填剤の温度、前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 一態様では、前記基板処理装置は、塗布された前記充填剤を硬化させる硬化装置をさらに備えており、前記演算システムは、前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータに加えて、前記硬化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件および前記充填剤の硬化条件を出力し、前記硬化装置に指令を与えて、塗布された前記充填剤を前記硬化条件に従って前記硬化装置により硬化させるように構成されている。
 一態様では、前記硬化装置に関するデータは、前記硬化装置のタイプ、および前記硬化装置と前記積層基板のエッジ部との距離を含む。
 一態様では、前記硬化条件は、前記硬化装置の出力値を含む。
 一態様では、前記基板処理装置は、前記積層基板を薄化させる薄化装置をさらに備えており、前記演算システムは、前記積層基板に関するデータ、前記充填剤に関するデータ、および前記硬化装置に関するデータに加えて、前記薄化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件、前記充填剤の硬化条件、および前記積層基板の薄化条件を出力し、前記薄化装置に指令を与えて、前記充填剤の硬化の後に、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化させるように構成されている。
 一態様では、前記薄化装置に関するデータは、前記薄化装置に使用される切削具の種類、および前記積層基板の目標切削量を含む。
 一態様では、前記薄化条件は、前記切削具の前記積層基板に対する押付力、前記切削具の回転速度、および前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである。
 一態様では、前記演算システムは、前記学習済みモデルに入力された前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータと、前記学習済みモデルから出力された前記塗布条件を、前記機械学習に使用される訓練データに追加することで前記訓練データを更新し、更新された前記訓練データを用いて機械学習を実行して前記学習済みモデルを更新するように構成されている。
 一態様では、前記充填剤塗布モジュールは、前記積層基板を縦置きの状態で保持する基板保持部または基板保持装置を備えている。
 一態様では、機械学習により構築された学習済みモデルを有する演算システムと、第1基板と第2基板が接合された積層基板を薄化する薄化装置を備え、前記演算システムは、前記積層基板に関するデータと、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に塗布された充填剤に関するデータと、前記薄化装置に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、前記学習済みモデルから前記積層基板の薄化条件を出力し、前記薄化装置に指令を与えて、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化させるように構成されている、基板処理装置が提供される。
 一態様では、第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、充填剤に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力するステップと、前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力するステップと、充填剤塗布モジュールに指令を与え、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を前記充填剤塗布モジュールにより塗布させるステップをコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体が提供される。
 本発明によれば、第1基板のエッジ部と第2基板のエッジ部との隙間に充填剤を塗布する際、予め第1基板のエッジ部および第2基板のエッジ部の表面形状を測定して、充填剤の塗布条件を決定することにより、充填剤の適切な充填状態を実現することができる。
 さらに、本発明によれば、学習済みモデルにより適切な塗布条件が決定され、この塗布条件に従って適切な量の充填剤が積層基板に塗布される。結果として、積層基板のナイフエッジ部の割れ(クラック)や欠け(チッピング)が防止でき、また周囲環境の汚染が防止できる。また、本発明によれば、学習済みモデルにより適切な薄化条件が決定され、この薄化条件に従って積層基板は適切に薄化される。結果として、切削具の目詰まりが防止でき、かつ薄化工程のスループットが向上できる。
基板のエッジ部を示す拡大断面図である。 基板のエッジ部を示す拡大断面図である。 積層基板を示す拡大断面図である。 基板処理装置の一実施形態を示す模式図である。 表面形状測定装置による測定方法の一実施形態を示す図である。 表面形状測定装置による測定方法の他の実施形態を示す図である。 充填剤塗布モジュールの一実施形態を示す平面図である。 充填剤塗布モジュールの一実施形態を示す側面図である。 塗布装置の一実施形態を示す模式図である。 表面形状測定装置によって測定すべきエッジ部の表面形状を説明する図である。 基板処理装置の他の実施形態を示す模式図である。 第1基板と第2基板が接合される前に、表面形状測定装置によって測定すべきエッジ部の表面形状を説明する図である。 処理対象となる積層基板のエッジ部の一例を示す断面図である。 充填剤が塗布された積層基板のエッジ部の一例を示す断面図である。 充填剤が塗布され後に薄化された積層基板のエッジ部の一例を示す断面図である。 基板処理装置の一実施形態を示す模式図である。 充填剤塗布モジュールの一実施形態を示す上面図である。 図14に示す充填剤塗布モジュールの側面図である。 塗布装置の一実施形態を示す模式図である。 演算システムの動作の一実施形態を説明する概念図である。 機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 学習済みモデルを用いて決定された塗布条件に従って充填剤を積層基板に塗布する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 演算システムの動作の一実施形態を説明する概念図である。 機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 学習済みモデルを用いて決定された塗布条件および硬化条件に従って充填剤を積層基板に塗布し、充填剤を硬化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 基板処理装置の他の実施形態を示す模式図である。 薄化装置の一実施形態を示す模式図である。 演算システムの動作の一実施形態を説明する概念図である。 機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 学習済みモデルを用いて決定された塗布条件、硬化条件、および薄化条件に従って充填剤を積層基板に塗布し、充填剤を硬化し、積層基板を薄化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 演算システムの動作の一実施形態を説明する概念図である。 機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 学習済みモデルを用いて決定された薄化条件に従って、充填剤が硬化した積層基板を薄化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 基板処理装置の一実施形態を示す模式図である。 基板処理装置の一実施形態を示す模式図である。 基板処理装置の一実施形態を示す模式図である。 充填剤塗布モジュールの他の実施形態を示す上面図である。 図34に示す充填剤塗布モジュールの側面図である。 充填剤塗布モジュールのさらに他の実施形態を示す側面図である。 図36の矢印Aで示す方向から見た図である。 充填剤塗布モジュールのさらに他の実施形態を示す側面図である。 図38の矢印Bで示す方向から見た図である。
 以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
 図1Aおよび図1Bは、基板Wのエッジ部Eを示す拡大断面図である。より詳しくは、図1Aはいわゆるストレート型の基板Wの断面図であり、図1Bはいわゆるラウンド型の基板Wの断面図である。エッジ部Eは、基板Wの平坦面(表側面および裏側面)に対して傾いた最外側面であり、丸みを帯びた形状または面取りされた形状を有している。図1Aの基板Wにおいて、エッジ部Eは、上側傾斜部(上側ベベル部)B1、下側傾斜部(下側ベベル部)B2、および側部(アペックス)B3から構成される基板Wの最外周面である。図1Bの基板Wにおいて、エッジ部Eは、基板Wの最外周面を構成する、湾曲した断面を有する部分である。エッジ部Eは、ベベル部と呼ばれることもある。
 図2は、積層基板Wsを示す拡大断面図である。積層基板Wsは、第1基板W1と第2基板W2が接合面Pにおいて接合された構造を有している。本実施形態で使用される第1基板W1および第2基板W2は、円形である。本実施形態の積層基板Wsは、図1Bに示すラウンド型の第1基板W1と第2基板W2が接合された構造を有しているが、一実施形態では、積層基板Wsは、図1Aに示すストレート型の第1基板W1と第2基板W2が接合された構造を有してもよい。本明細書において、積層基板Wsのエッジ部は、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2を含む積層基板Wsの外縁部のことを示す。エッジ部E1,E2は、ベベル部と呼ばれることもある。第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との間には、隙間Gが形成されている。この隙間Gは積層基板Wsの全周に亘って形成されている。
 図3は、基板処理装置1の一実施形態を示す模式図である。基板処理装置1は、予め充填剤Fの塗布条件を決定し、第1基板W1と第2基板W2が接合された積層基板Wsに充填剤Fを塗布するための装置である。基板処理装置1は、積層基板Wsに充填剤Fを塗布するように構成された充填剤塗布モジュール9と、第1基板W1および第2基板W2の表面形状を測定する表面形状測定装置11と、充填剤塗布モジュール9および表面形状測定装置11の動作を制御する動作制御部10を備えている。
 図3に示すように、第1基板W1と第2基板W2が接合された後、表面形状測定装置11は、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を測定する。その後、動作制御部10は、表面形状の測定結果に基づいて充填剤Fの塗布条件を決定する。充填剤塗布モジュール9は、決定した塗布条件で積層基板Wsに充填剤Fを塗布する。表面形状測定装置11は、積層基板Wsを充填剤塗布モジュール9に搬送する際の搬送装置(図示せず)に付随して設けられ、積層基板Wsの搬送中または搬送前後に第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を測定してもよい。
 図4は、表面形状測定装置11による測定方法の一実施形態を示す図である。表面形状測定装置11はレーザースキャン装置であり、レーザー光を測定対象に照射し、測定対象から反射したレーザー光を検出することで、測定対象の表面形状(その寸法を含む)を測定する。図4に示すように、表面形状測定装置11は、レーザー光を測定対象に照射しながら、積層基板Wsの厚み方向に移動して、第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2をレーザー光でスキャンし、表面形状を測定する。
 図5は、表面形状測定装置11による測定方法の他の実施形態を示す図である。表面形状測定装置11は共焦点レーザー顕微鏡であり、レーザー光を測定対象に照射し、測定対象の焦点像を生成することで、測定対象の表面形状(その寸法を含む)を測定する。図5に示すように、表面形状測定装置11は、レーザー光を測定対象に照射しながら、共焦点レーザー顕微鏡の対物レンズを積層基板Wsの半径方向に移動させることで、第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の焦点像を生成し、表面形状を測定する。
 表面形状測定装置11は、第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を測定可能であれば、図4および図5を参照して説明した実施形態に限定されない。
 図6は、充填剤塗布モジュール9の一実施形態を示す平面図であり、図7は、充填剤塗布モジュール9の一実施形態を示す側面図である。充填剤塗布モジュール9は、積層基板Wsを保持する基板保持部2と、充填剤Fを塗布するための塗布装置3と、塗布した充填剤Fを硬化させるための硬化装置4を備えている。
 基板保持部2は、積層基板Wsの裏面を真空吸着により保持するステージである。充填剤塗布モジュール9は、基板保持部2の中央部に連結された回転軸7と、基板保持部2および回転軸7を回転させる回転機構8をさらに備えている。積層基板Wsは、積層基板Wsの中心が回転軸7の軸心と一致するように基板保持部2の上に載置される。回転機構8は、モータ(図示せず)を備えている。図6に示すように、回転機構8は、基板保持部2および積層基板Wsを積層基板Wsの中心軸Crを中心として、矢印で示す方向に一体に回転させるように構成されている。
 塗布装置3は、基板保持部2上の積層基板Wsの半径方向外側に位置しており、積層基板Wsの第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを塗布するように構成されている。図8は、塗布装置3の一実施形態を示す模式図である。塗布装置3は、充填剤Fを吐出するためのシリンジ21と、シリンジ21内を往復動可能なピストン22と、シリンジ21を積層基板Wsに近接または離間させる水平移動機構(図示せず)を備えている。この水平移動機構により、塗布装置3は、積層基板Wsと塗布装置3の充填剤吐出口21aとの距離を調整することができる。一実施形態では、塗布装置3は、水平移動機構を省略してもよい。この場合、充填剤Fが積層基板Wsの隙間Gに適切に注入されるように、積層基板Wsと充填剤吐出口21aとの距離が予め決定されている。
 シリンジ21は中空構造を有しており、その内部に充填剤Fを充填されるように構成されている。ピストン22は、シリンジ21内に配置されている。シリンジ21は、その先端に充填剤Fを吐出するための充填剤吐出口21aを有している。充填剤吐出口21aを含むシリンジ21の先端は、着脱可能に構成されていてもよい。充填剤吐出口21aの形状は、塗布する充填剤Fの物性(例えば、粘度など)によって適当な形状が選択される。充填剤吐出口21aは、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに対向するように配置されている。
 塗布装置3は、気体供給ライン25を介して気体供給源に接続されている。気体供給源から気体(例えば、ドライエアーまたは窒素ガス)をシリンジ21に供給すると、ピストン22がシリンジ21内を前進する。ピストン22の前進によって、シリンジ21内の充填剤Fは、充填剤吐出口21aから吐出される。塗布装置3は、回転する積層基板Wsのエッジ部の隙間Gに連続的に充填剤Fを塗布する。充填剤Fは、その総塗布量に応じて、積層基板Wsが複数回転する間に塗布されてもよい。
 気体供給ライン25には、圧力調整装置26と、開閉弁27が配置されている。開閉弁27は、電動弁または電磁弁などのアクチュエータ駆動型弁である。開閉弁27を開くと、気体は気体供給源から塗布装置3に供給され、塗布装置3は充填剤Fを積層基板Wsに塗布する。開閉弁27を閉じると、気体の塗布装置3への供給が停止され、これにより、充填剤Fの塗布が停止される。圧力調整装置26は、気体供給源から塗布装置3に供給される気体の圧力を調整することで、単位時間あたりの充填剤吐出口21aから吐出する充填剤Fの量を調整することができる。圧力調整装置26と開閉弁27の動作は、動作制御部10によって制御される。
 一実施形態では、塗布装置3は、シリンジ21とピストン22の組み合わせに代えて、スクリューフィーダーを備えてもよい。
 図6および図7に示すように、硬化装置4は、基板保持部2上の積層基板Wsの半径方向外側に位置している。硬化装置4は、積層基板Wsの回転方向において塗布装置3の下流側に配置されており、塗布装置3によって積層基板Wsに塗布された充填剤Fを硬化させるように構成されている。硬化装置4による充填剤Fの硬化は、積層基板Wsを回転させながら行われる。本実施形態において、充填剤Fは熱硬化性を有する充填剤である。このような充填剤の例としては、熱硬化性の樹脂が挙げられる。
 硬化装置4はエアヒーターであり、積層基板Wsに塗布された充填剤Fに向けて熱風を吹き付けるように構成されている。硬化装置4は、吹き付ける熱風の風圧および温度を調整可能に構成されている。熱風によって加熱された充填剤Fは、架橋反応により硬化する。硬化装置4は、回転する積層基板Wsのエッジ部に塗布された充填剤Fを連続的に硬化する。充填剤Fに溶剤が含まれる場合は、溶剤は加熱によって揮発される。硬化装置4は、充填剤Fを加熱して硬化させることができればエアヒーターに限らず、ランプヒーターやその他の構成であってもよい。
 本実施形態では、充填剤Fは熱硬化性を有する充填剤であるが、一実施形態では、充填剤Fは紫外線硬化性を有する充填剤であってもよい。この場合、硬化装置4は紫外線を照射させて充填剤Fを硬化させるUV照射装置であってもよい。充填剤Fに溶剤が含まれる場合は、エアヒーターなどを併用して加熱し、溶剤を揮発させてもよい。
 充填剤塗布モジュール9は、積層基板Wsのエッジ部の画像を生成する赤外撮像装置5をさらに備えていてもよい。赤外撮像装置5は、積層基板Wsの回転方向において硬化装置4の下流側に配置されている。赤外撮像装置5は、塗布装置3によって積層基板Wsに塗布され、硬化装置4によって硬化された充填剤Fを含む画像を生成するように構成されている。赤外撮像装置5と硬化装置4との距離は、赤外撮像装置5と塗布装置3との距離よりも短い。赤外撮像装置5は、積層基板Wsのエッジ部の上方に位置しており、積層基板Wsのエッジ部の画像を生成するように構成されている。より具体的には、赤外撮像装置5は、積層基板Wsのエッジ部に赤外線を照射し、積層基板Wsのエッジ部から反射した赤外線を受け、積層基板Wsのエッジ部の画像を生成するように構成されている。赤外撮像装置5の例としては、赤外顕微鏡が挙げられる。
 本実施形態では、第1基板W1および第2基板W2は基本的にシリコンウェーハから構成されており、赤外撮像装置5から照射された赤外線は、第1基板W1および第2基板W2を透過する。赤外線は充填剤Fを透過しないため、赤外撮像装置5は積層基板Wsのエッジ部から反射した赤外線から、積層基板Wsに塗布された充填剤Fの画像を生成することができる。
 動作制御部10は、上述のように構成された充填剤塗布モジュール9および表面形状測定装置11を含む基板処理装置1の動作を制御するように構成されている。塗布装置3、硬化装置4、赤外撮像装置5、回転機構8、圧力調整装置26、および開閉弁27を含む充填剤塗布モジュール9、並びに表面形状測定装置11は、動作制御部10に電気的に接続されている。
 動作制御部10は少なくとも1台のコンピュータから構成される。動作制御部10は、充填剤塗布モジュール9および表面形状測定装置11を含む基板処理装置1の動作を制御するためのプログラムが格納された記憶装置10aと、プログラムに含まれる命令に従って演算を実行する処理装置10bを備えている。記憶装置10aは、ランダムアクセスメモリ(RAM)などの主記憶装置と、ハードディスクドライブ(HDD)、ソリッドステートドライブ(SSD)などの補助記憶装置を備えている。処理装置10bの例としては、CPU(中央処理装置)、GPU(グラフィックプロセッシングユニット)が挙げられる。ただし、動作制御部10の具体的構成はこれらの例に限定されない。
 動作制御部10は、表面形状測定装置11に指令を与えて、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を表面形状測定装置11に測定させる。動作制御部10は、表面形状の測定結果に基づいて、積層基板Wsに塗布すべき充填剤Fの塗布条件を決定する。図9は、表面形状測定装置11によって測定すべきエッジ部の表面形状を説明する図である。測定すべき第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状は、(i)第1基板W1のエッジ部E1の半径方向の寸法x1および第2基板W2のエッジ部E2の半径方向の寸法x2、(ii)第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの厚み方向の寸法x3、および(iii)第1基板W1のエッジ部E1の傾斜角度θ1および第2基板W2のエッジ部E2の傾斜角度θ2、のうちの少なくとも1つによって特定される。
 図9に示す基準線Lrは、第1基板W1と第2基板W2の接合面Pに垂直な線であり、かつ接合面Pの半径方向の最外端を通る線である。接合面Pの半径方向の最外端は、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの半径方向の最内端に一致する。第1基板W1のエッジ部E1の半径方向の寸法x1は、基準線Lrから第1基板W1の半径方向の最外端までの距離である。第2基板W2のエッジ部E2の半径方向の寸法x2は、基準線Lrから第2基板W2の半径方向の最外端までの距離である。一実施形態では、第1基板W1と第2基板W2が同じ基板の形状を有している場合、寸法x1または寸法x2のいずれか一方が測定されてもよい。
 第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの厚み方向の寸法x3は、第1基板W1の半径方向の最外端から第2基板W2の半径方向の最外端までの積層基板Ws(第1基板W1および第2基板W2)の厚み方向の距離である。第1基板W1のエッジ部E1の傾斜角度θ1は、基準線Lrに対する第1基板W1のエッジ部E1の角度である。第2基板W2のエッジ部E2の傾斜角度θ2は、基準線Lrに対する第2基板W2のエッジ部E2の角度である。一実施形態では、第1基板W1と第2基板W2が同じ基板の形状を有している場合、傾斜角度θ1または傾斜角度θ2のいずれか一方が測定されてもよい。一実施形態では、傾斜角度θ1および傾斜角度θ2は、第1基板W1と第2基板W2の接合面Pに対する第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の角度であってもよい。
 動作制御部10は、図9を参照して説明した表面形状(寸法x1,x2,x3、および傾斜角度θ1,θ2)の測定結果に基づいて、充填剤塗布モジュール9により塗布する充填剤Fの塗布条件を決定する。塗布条件は、充填剤Fの組成、充填剤Fの総塗布量、塗布装置3の充填剤吐出口21aの形状、積層基板Wsと充填剤吐出口21aとの距離、単位時間あたりの充填剤吐出口21aから吐出する充填剤Fの量、硬化装置4から吹き付ける熱風の風圧および温度、積層基板Wsの回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 充填剤Fは、主にバインダー、溶剤、および粒子から構成されており、溶剤に溶解したバインダーに粒子が分散されている。粒子は、充填剤の体積を増やすため、および充填剤の粘度を調節するために用いられる。充填剤Fの粘度が高く、粒子の径が大きいと、微細な隙間Gに充填剤Fが入り込まず充填不良が発生してしまう。そこで、動作制御部10は、図9を参照して説明した表面形状の測定結果に基づいて、適切な充填剤Fの組成を決定する。より具体的には、充填剤Fの組成は、バインダーの種類、溶剤の量、粒子の量、粒子の大きさが挙げられる。
 動作制御部10は、図9を参照して説明した表面形状の測定結果に基づいて、充填剤Fの総塗布量(充填剤Fの体積)を決定する。塗布装置3の充填剤吐出口21aの形状、積層基板Wsと充填剤吐出口21aとの距離、単位時間あたりの充填剤吐出口21aから吐出する充填剤Fの量、硬化装置4から吹き付ける熱風の風圧および温度、積層基板Wsの回転速度は、決定された充填剤Fの組成に基づいて決定されてもよい。動作制御部10は、充填剤塗布モジュール9に指令を与えて、決定した塗布条件で塗布装置3により充填剤Fを塗布させ、硬化装置4により塗布された充填剤Fを硬化させる。
 本実施形態によれば、積層基板Wsの隙間Gに充填剤Fを塗布する際、予め第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を測定して、充填剤Fの塗布条件を決定することにより、充填剤Fの適切な充填状態を実現することができる。
 図10は、基板処理装置1の他の実施形態を示す模式図である。本実施形態では、動作制御部10は、第1基板W1と第2基板W2が接合される前に、表面形状測定装置11に指令を与えて、第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状を測定させる。その後、動作制御部10は、表面形状の測定結果に基づいて充填剤Fの塗布条件を決定する。動作制御部10は、第1基板W1と第2基板W2が接合された後、充填剤塗布モジュール9に指令を与えて、決定した塗布条件で塗布装置3により充填剤Fを塗布させ、硬化装置4により塗布された充填剤Fを硬化させる。
 測定すべき第1基板W1のエッジ部E1および第2基板W2のエッジ部E2の表面形状は、(i)第1基板W1のエッジ部E1の半径方向の寸法x1および第2基板W2のエッジ部E2の半径方向の寸法x2、(ii)第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの厚み方向の寸法x3、および(iii)第1基板W1のエッジ部E1の傾斜角度θ1および第2基板W2のエッジ部E2の傾斜角度θ2、のうちの少なくとも1つによって特定される。
 図11は、第1基板W1と第2基板W2が接合される前に、表面形状測定装置11によって測定すべきエッジ部の表面形状を説明する図である。第1基板W1と第2基板W2が接合される際には、第1基板W1の接合面P1と第2基板W2の接合面P2が接合される。第1基板W1接合面P1は、寸法x1,x2、および傾斜角度θ1,θ2は、図9を参照して説明した寸法x1,x2、および傾斜角度θ1,θ2と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの厚み方向の寸法x3は、すなわち、図11に示す寸法x3-1と寸法x3-2の合計の寸法である。寸法x3-1は、第1基板W1の半径方向の最外端から接合面P1までの厚み方向の距離である。寸法x3-2は、第2基板W2の半径方向の最外端から接合面P2までの厚み方向の距離である。一実施形態では、第1基板W1と第2基板W2が同じ基板の形状を有している場合、寸法x3-1または寸法x3-2のいずれか一方が測定され、測定された値の2倍の値を、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gの厚み方向の寸法x3としてもよい。
 以下、本発明の他の実施形態について図面を参照して説明する。
 図12Aは、処理対象となる積層基板のエッジ部の一例を示す断面図である。図12Aに示すように、積層基板Wsは、第1基板W1と第2基板W2が接合された構造を有している。本実施形態で使用される第1基板W1および第2基板W2は、円形である。
 第1基板W1のエッジ部E1は、第1基板W1の接合面(例えばデバイス面)S1に対して傾いた最外側面である。より具体的には、第1基板W1のエッジ部E1は、丸みを帯びた形状または面取りされた形状を有している。第2基板W2のエッジ部E2も同様に、第2基板W2の接合面(例えばデバイス面)S2に対して傾いた最外側面である。より具体的には、第2基板W2のエッジ部E2は、丸みを帯びた形状または面取りされた形状を有している。エッジ部E1,E2は、ベベル部と呼ばれることもある。第1基板W1のエッジ部E1と、第2基板W2のエッジ部E2との間には、隙間Gが形成されている。
 図12Bは、充填剤Fが塗布された積層基板Wsのエッジ部の一例を示す断面図である。充填剤Fは、第1基板W1のエッジ部E1と、第2基板W2のエッジ部E2との間の隙間Gに塗布される。この隙間Gは積層基板Wsの全周に亘って形成されており、概略三角形状の断面を有している。充填剤Fは、この隙間Gを満たすように塗布される。
 図12Cは、充填剤Fが塗布され後に薄化された積層基板Wsのエッジ部の一例を示す断面図である。図12Cに示す例では、積層基板Wsの薄化は、第2基板W2の外側面を薄化装置(図示せず)により切削することにより行われる。この薄化工程の結果、第2の基板W2のエッジ部E2にはナイフエッジ部102が形成される。ナイフエッジ部102は充填剤Fにより保持(支持)されているので、ナイフエッジ部102の割れ(クラック)や欠け(チッピング)が防止される。
 図13は、基板処理装置105の一実施形態を示す模式図である。本実施形態の基板処理装置105は、機械学習により構築された学習済みモデルを有する演算システム110と、第1基板と第2基板が接合された積層基板に充填剤を塗布する充填剤塗布モジュール112を備えている。積層基板は図13には描かれていないが、図12A乃至図12Cを参照して説明した構成を有している。演算システム110は、後述するように、学習済みモデルにより定義されたアルゴリズムに従って充填剤の塗布条件を算定するのみならず、充填剤塗布モジュール112の動作を制御するように構成される。
 演算システム110は、プログラムおよび学習済みモデルが格納された記憶装置110aと、プログラムに含まれる命令に従って演算を実行する演算装置110bを備えている。記憶装置110aは、ランダムアクセスメモリ(RAM)などの主記憶装置と、ハードディスクドライブ(HDD)、ソリッドステートドライブ(SSD)などの補助記憶装置を備えている。演算装置110bの例としては、CPU(中央演算装置)、GPU(グラフィックプロセッシングユニット)が挙げられる。ただし、演算システム110の具体的構成はこれらの例に限定されない。
 演算システム110は、少なくとも1台のコンピュータから構成されている。前記少なくとも1台のコンピュータは、1台のサーバまたは複数台のサーバであってもよい。演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に通信線で接続されたエッジサーバであってもよいし、インターネットまたはローカルエリアネットワークなどの通信ネットワークによって充填剤塗布モジュール112に接続されたクラウドサーバまたはフォグサーバであってもよい。
 演算システム110は、インターネットまたはローカルエリアネットワークなどの通信ネットワークにより接続された複数のコンピュータであってもよい。例えば、演算システム110は、エッジサーバとクラウドサーバとの組み合わせであってもよい。記憶装置110aと演算装置110bは、別々の場所に設置された複数のコンピュータ内にそれぞれ配置されてもよい。さらに、演算システム110は、機械学習により学習済みモデルを構築するための第1コンピュータと、学習済みモデルを用いて塗布条件を算定するための第2コンピュータを含んでもよい。第1コンピュータと第2コンピュータは、離れた場所に配置されてもよい。
 図14は、充填剤塗布モジュール112の一実施形態を示す上面図であり、図15は、図14に示す充填剤塗布モジュール112の側面図である。充填剤塗布モジュール112は、積層基板Wsを回転させながら、積層基板Wsのエッジ部に充填剤を塗布するように構成される。充填剤塗布モジュール112は、積層基板Wsを保持する基板保持部115と、充填剤Fを積層基板Wsのエッジ部に塗布するための塗布装置116と、塗布した充填剤Fを硬化させるための硬化装置120を備えている。
 基板保持部115は、積層基板Wsの裏面を真空吸着により保持するステージである。充填剤塗布モジュール112は、基板保持部115の中央部に連結された回転軸122と、基板保持部115および回転軸122を回転させる回転機構123をさらに備えている。積層基板Wsは、積層基板Wsの中心が回転軸122の軸心と一致するように基板保持部115の上に載置される。回転機構123は、モータ(図示せず)を備えている。図14に示すように、回転機構123は、基板保持部115および積層基板Wsを積層基板Wsの中心軸Crを中心として、矢印で示す方向に一体に回転させるように構成されている。
 塗布装置116は、基板保持部115上の積層基板Wsの半径方向外側に位置しており、積層基板Wsの第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを塗布するように構成されている。図16は、塗布装置116の一実施形態を示す模式図である。塗布装置116は、充填剤Fを吐出するためのシリンジ126と、シリンジ126内を往復動可能なピストン127と、シリンジ126を積層基板Wsに近接または離間させる水平移動機構(図示せず)を備えている。この水平移動機構により、塗布装置116は、積層基板Wsと塗布装置116の充填剤吐出口126aとの距離を調整することができる。一実施形態では、塗布装置116は、水平移動機構を省略してもよい。この場合、充填剤Fが積層基板Wsの隙間Gに適切に注入されるように、積層基板Wsと充填剤吐出口126aとの距離が予め決定されている。
 シリンジ126は中空構造を有しており、その内部に充填剤Fを充填されるように構成されている。ピストン127は、シリンジ126内に配置されている。シリンジ126は、その先端に充填剤Fを吐出するための充填剤吐出口126aを有している。充填剤吐出口126aを含むシリンジ126の先端は、着脱可能に構成されていてもよい。充填剤吐出口126aの形状は、塗布する充填剤Fの物性(例えば、粘度など)によって適当な形状が選択される。充填剤吐出口126aは、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに対向するように配置されている。
 塗布装置116は、気体供給ライン128を介して気体供給源に接続されている。気体供給源から気体(例えば、ドライエアーまたは窒素ガス)をシリンジ126に供給すると、ピストン127がシリンジ126内を前進する。ピストン127の前進によって、シリンジ126内の充填剤Fは、充填剤吐出口126aから吐出される。
 気体供給ライン128には、圧力調整装置129が配置されている。気体供給源から塗布装置116に供給される気体の圧力を調整することで、単位時間あたりに充填剤吐出口126aから吐出する充填剤Fの量を調整することができる。
 一実施形態では、塗布装置116は、シリンジ126とピストン127の組み合わせに代えて、スクリューフィーダーを備えてもよい。
 図14および図15に示すように、硬化装置120は、積層基板Wsの半径方向外側に位置している。硬化装置120は、積層基板Wsの回転方向において塗布装置116の下流側に配置されており、塗布装置116によって積層基板Wsに塗布された充填剤Fを硬化させるように構成されている。硬化装置120による充填剤Fの硬化は、積層基板Wsを回転させながら行われる。本実施形態において、充填剤Fは熱硬化性を有する充填剤である。このような充填剤の例としては、熱硬化性の樹脂が挙げられる。
 硬化装置120はエアヒーターであり、積層基板Wsに塗布された充填剤Fに向けて熱風を吹き付けるように構成されている。熱風によって加熱された充填剤Fは、架橋反応により硬化する。充填剤Fに溶剤が含まれる場合は、溶剤は加熱によって揮発される。硬化装置120は、充填剤Fを加熱して硬化させることができればエアヒーターに限らず、ランプヒーターやその他の構成であってもよい。
 本実施形態では、充填剤Fは熱硬化性を有する充填剤であるが、一実施形態では、充填剤Fは紫外線硬化性を有する充填剤であってもよい。この場合、硬化装置120は紫外線を照射させて充填剤Fを硬化させるUV照射装置であってもよい。充填剤Fに溶剤が含まれる場合は、エアヒーターなどを併用して加熱し、溶剤を揮発させてもよい。
 充填剤塗布モジュール112は、演算システム110によって決定された塗布条件に従って、充填剤Fを積層基板Wsに塗布するように構成されている。演算システム110は、その記憶装置110aに格納されている学習済みモデルを用いて、次のようにして、塗布条件を決定する。すなわち、図17に示すように、演算システム110は、積層基板Wsに関するデータと、充填剤Fに関するデータを、学習済みモデルに入力し、学習済みモデルから充填剤Fの塗布条件を出力する。学習済みモデルは、訓練データを用いた機械学習によって予め作成される。
 積層基板Wsに関するデータは、第1基板W1および第2基板W2の表面を構成する材料と、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との間の隙間Gの形状と大きさを含む。以下の説明では、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との間の隙間Gを、積層基板Wsのエッジ部に形成された隙間G、または単に積層基板Wsの隙間Gということがある。積層基板Wsの隙間Gの形状および大きさは、充填剤Fの塗布量に影響する。
 第1基板W1および第2基板W2の表面を構成する材料の例としては、シリコン、絶縁膜、金属膜、またはこれらの組み合わせが挙げられる。第1基板W1および第2基板W2の表面を構成する材料は、充填剤Fの隙間Gへの侵入しやすさに影響する。積層基板Wsに関するデータは、積層基板Wsの製作情報、前工程の情報などから得ることができる。
 積層基板Wsの上記隙間Gの形状と大きさは、隙間Gの画像または隙間Gの寸法によって特定される。隙間Gの寸法は、例えば、隙間Gの半径方向の幅、隙間Gの高さ、および隙間Gの内端の角度(例えば、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2の接触部の角度)である。隙間Gの形状と大きさは、レーザースキャン装置、共焦点顕微鏡などの公知の表面形状測定装置を用いて測定することができる。一実施形態では、基板処理装置105は、積層基板Wsのエッジ部に形成された隙間Gの形状と大きさ(寸法)を測定するための表面形状測定装置を備えてもよい。隙間Gの形状と大きさは、充填剤Fを積層基板Wsに塗布する前に測定される。隙間Gの寸法に代えて、隙間Gの形状と大きさを示す画像を用いてもよい。一実施形態では、基板処理装置105は、隙間Gの形状と大きさを示す画像を生成する撮像装置を備えてもよい。
 充填剤Fに関するデータは、充填剤Fの組成を含む。充填剤Fは、バインダー、溶剤、粒子などを含む。溶剤に溶解したバインダーに粒子が分散されている。例えば、充填剤Fの組成は、バインダーの種類、溶剤の量、粒子の量、粒子の大きさである。バインダーの例としては、アルカリ金属ケイ酸塩を含有する無機バインダー、シリコン樹脂もしくはエポキシ樹脂から構成された有機バインダー、および無機・有機ハイブリッドバインダーが挙げられる。粒子は、例えば、シリカまたはアルミナなどの粒子である。粒子は、充填剤Fの体積を増すため、および充填剤Fの粘度を調節するためにバインダーに混入される。充填剤Fの粘度を下げるために、粒子が充填剤Fに含まれないこともある。
 通常、充填剤Fは、ある程度の粘度を有している。充填剤Fの粘度は、溶剤の量と、粒子の量と、バインダーの材料に概ね依存する。充填剤Fに溶剤が含まれる場合は、溶剤は加熱によって揮発される。したがって、充填剤Fを塗布した後に行われる充填剤Fの硬化の際に、溶剤の揮発に起因して充填剤Fの体積が減少しやすい。したがって、積層基板Wsのエッジ部に形成された隙間Gを満たすのに適切な量の充填剤Fを決定するためには、充填剤Fの粘度、すなわち充填剤Fの組成(例えば、バインダーの材料、溶剤の量、粒子の量)が必要である。粒子の量は、粒子の量が0の場合、すなわち粒子が含まれない場合も含む。
 積層基板Wsに関するデータおよび充填剤Fに関するデータは、演算システム110に入力され、その記憶装置110a内に保存される。
 学習済みモデルから出力される塗布条件は、充填剤Fの総塗布量、単位時間あたりの充填剤Fの塗布量、充填剤Fの温度、積層基板Wsの回転速度のうちの少なくとも1つを含む。充填剤Fの総塗布量は、積層基板Wsの隙間Gを満たすのに適切な充填剤Fの量である。単位時間あたりの充填剤Fの塗布量は、言い換えれば、塗布速度であり、図14乃至図16に示す塗布装置116から吐出される充填剤Fの単位時間あたりの量である。単位時間あたりの充填剤Fの塗布量は、塗布装置116の充填剤Fの押し出し力によって制御できる。積層基板Wsの回転速度は、図14および図15に示す基板保持部115の回転速度に相当し、回転機構123によって制御できる。
 演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、上記塗布条件に従って、第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させる。
 記憶装置110aには、学習済みモデルを機械学習アルゴリズムに従って構築するためのプログラムが格納されている。演算装置110bは、プログラムに含まれる命令に従って、訓練データを用いた機械学習を実行し、学習済みモデルを構築する。機械学習アルゴリズムの例としては、SVR法(サポートベクター回帰法)、PLS法(部分最小二乗法:Partial Least Squares)、ディープラーニング法(深層学習法)、ランダムフォレスト法、および決定木法などが挙げられる。一例では、学習済みモデルは、ディープラーニング法によって構築されたニューラルネットワークから構成されている。機械学習によって学習済みモデルを構築することは、ニューラルネットワークの重みなどのパラメータを最適化する工程を含む。
 機械学習に使用される訓練データは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を含む。複数の積層基板は、充填剤の塗布に実際に使用された複数の積層基板である。以下の説明では、これらの積層基板を学習用積層基板と称する。複数の学習用積層基板は、異なる構成を持つ複数の積層基板を含む。異なる構成とは、エッジ部の隙間の大きさ、エッジ部の隙間の形状、および表面構成材料のうちの少なくとも1つが異なる構成をいう。例えば、学習用積層基板は、エッジ部に形成された隙間の形状と大きさ(寸法)が異なる複数の学習用積層基板と、第1基板および第2基板の表面を構成する材料が異なる複数の学習用積層基板を含む。
 複数の充填剤は、上記複数の学習用積層基板に実際に塗布された複数の充填剤である。以下の説明では、これらの充填剤を学習用充填剤と称する。複数の学習用充填剤は、異なる組成を持つ複数の充填剤を含む。異なる組成とは、充填剤を構成する成分のうちの少なくとも1つの材料および/または量が異なる組成をいう。例えば、学習用充填剤は、バインダーの材料が異なる複数の学習用充填剤と、溶剤の量が異なる複数の学習用充填剤と、粒子の量が異なる(粒子なしを含む)複数の学習用充填剤を含む。
 正解ラベルとしての複数の塗布条件は、複数の充填剤の良好な塗布結果が得られたときの複数の塗布条件である。より具体的には、正解ラベルとしての複数の塗布条件は、複数の学習用充填剤を複数の学習用積層基板に実際に塗布し、良好な塗布結果が得られたときの塗布条件である。正解ラベルとしての複数の塗布条件は、学習用充填剤の総塗布量、単位時間あたりの学習用充填剤の塗布量、学習用充填剤の温度、および学習用積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む。正解ラベルとしての複数の塗布条件は、互いに異なる複数の塗布条件を含む。例えば、互いに異なる複数の塗布条件は、学習用充填剤の異なる総塗布量、単位時間あたりの学習用充填剤の異なる塗布量、学習用充填剤の異なる温度、および学習用積層基板の異なる回転速度のうちの少なくとも1つを含む。
 上述したように、正解ラベルは、良好な塗布結果が得られたときの塗布条件である。塗布状態が良好であるか否かは、学習用充填剤が実際に塗布された学習用積層基板のエッジ部を観察することによって判断される。具体的には、学習用充填剤を塗布した後に学習用積層基板を薄化し、学習用積層基板のナイフエッジ部(図12Cの符号102参照)に発生した割れ(クラック)や欠け(チッピング)の数または大きさに基づいて、塗布状態が判断できる。例えば、ナイフエッジ部にしきい値未満の数の欠け、またはしきい値よりも小さい欠けが発生していた場合(ナイフエッジ部に欠けが発生していない場合も含む)は、学習用充填剤の塗布状態が良好であると判断される。
 他の例では、学習用充填剤が塗布された学習用積層基板のエッジ部の画像を赤外顕微鏡で生成し、画像上のターゲット領域内の学習用充填剤の大きさに基づいて、塗布状態が判断できる。より具体的には、ターゲット領域内の学習用充填剤の面積または幅が、しきい値よりも大きい場合は、学習用充填剤の塗布状態が良好であると判断される。ターゲット領域は、画像上に予め設定された観察領域である。
 赤外顕微鏡は、赤外線を学習用積層基板のエッジ部に照射し、学習用積層基板のエッジ部を透過した、または学習用積層基板のエッジ部から反射した赤外線から画像を生成するように構成される。赤外線は、シリコンから構成された第1基板および第2基板を透過する一方で、充填剤で反射する。その結果、赤外顕微鏡により生成された画像には、学習用積層基板の隙間に塗布された充填剤が現れる。したがって、赤外顕微鏡により生成された画像に基づいて、学習用充填剤の塗布状態が判断できる。
 さらに他の例では、学習用充填剤が塗布された学習用積層基板を切断し、学習用積層基板のエッジ部を目視により観察することで、学習用充填剤の塗布状態が判断できる。
 良好な塗布状態(すなわち良好な塗布結果)が得られた塗布条件は、学習用塗布条件であり、正解ラベルとして、対応する学習用積層基板に関するデータと、対応する学習用充填剤に関するデータに関連付けられる(紐付けられる)。正解ラベルは、対応する学習用積層基板に関するデータと、対応する学習用充填剤に関するデータとともに訓練データに含まれる。訓練データは、学習データまたは教師データとも呼ばれる。
 機械学習では、学習用積層基板に関するデータと学習用充填剤に関するデータがモデルに入力されたときに、正解ラベルとしての塗布条件がモデルから出力されるように、モデルのパラメータ(例えば重み)が調整される。学習用積層基板に関するデータと学習用充填剤に関するデータは説明変数であり、塗布条件は目的変数である。演算システム110は、機械学習により構築された学習済みモデルを記憶装置110a内に格納する。
 図18は、機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1101では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を、図示しない入力装置または信号通信などを介して取得する。演算システム110は、取得したこれらのデータおよび正解ラベルを記憶装置110a内に格納する。
 ステップ1102では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータおよび複数の学習用充填剤に関するデータを、対応する正解ラベルである複数の塗布条件に関連付け、訓練データを作成する。
 ステップ1103では、演算システム110は、訓練データを用いた機械学習を実行し、学習済みモデルを構築(作成)する。演算システム110は、学習済みモデルを記憶装置110a内に格納する。
 次に、演算システム110は、学習済みモデルを用いて、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsの最適な塗布条件を決定する。より具体的には、図17に示すように、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータ(例えばエッジ部の隙間Gの形状と大きさなど)と、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータ(例えば、充填剤Fの組成)を、学習済みモデルに入力し、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件を学習済みモデルから出力する。そして、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、学習済みモデルから出力された塗布条件に従って、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間G(図12A参照)に充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させる。
 図19は、学習済みモデルを用いて決定された塗布条件に従って充填剤Fを積層基板Wsに塗布する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1201では、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータと、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータを、学習済みモデルに入力する。
 ステップ1202では、演算システム110は、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件を学習済みモデルから出力する。
 ステップ1203では、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与えて、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを塗布させる。充填剤塗布モジュール112は、上記ステップ1202で決定された塗布条件に従って、充填剤Fを積層基板Wsのエッジ部の隙間Gに塗布する。その後、充填剤Fは、図14および図15に示す硬化装置120により硬化され、充填剤Fが硬化された積層基板Wsは図示しない薄化装置により薄化される。
 本実施形態によれば、学習済みモデルにより適切な塗布条件が決定され、この塗布条件に従って適切な量の充填剤Fが積層基板Wsに塗布される。結果として、積層基板Wsのナイフエッジ部の割れ(クラック)や欠け(チッピング)が防止でき、また周囲環境の汚染が防止できる。
 上記ステップ1202で得られた塗布条件は、良好な塗布結果が期待されるので、正解ラベルとして使用することができる。そこで、一実施形態では、演算システム110は、上記ステップ1201で学習済みモデルに入力された積層基板Wsに関するデータおよび充填剤Fに関するデータと、上記ステップ1202で学習済みモデルから出力された正解ラベルとしての塗布条件を、訓練データに追加することで訓練データを更新し、更新された訓練データを用いて機械学習を再度実行して学習済みモデルを更新してもよい。このように学習済みモデルを更新することで、学習済みモデルの精度を向上させることができる。
 次に、基板処理方法および基板処理装置105の他の実施形態について説明する。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図12A乃至図19を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 本実施形態では、図20に示すように、演算システム110は、積層基板Wsに関するデータおよび充填剤Fに関するデータに加えて、充填剤Fを硬化するための硬化装置120(図14および図15参照)に関するデータを学習済みモデルに入力し、学習済みモデルから充填剤Fの塗布条件および充填剤Fの硬化条件を出力するように構成されている。
 硬化装置120に関するデータは、硬化装置120のタイプ、および硬化装置120と積層基板Wsのエッジ部との距離を含む。硬化装置120のタイプの例としては、ランプヒーター、エアヒーター、UV照射装置が挙げられる。硬化装置120のタイプは、充填剤Fの材料に基づいて予め定められる。
 硬化条件は、硬化装置120の出力値を含む。硬化装置120の出力値は、硬化装置120のタイプによって異なる。例えば、硬化装置120がランプヒーターである場合は、硬化装置120の出力値はランプの電力[W]であり、硬化装置120がエアヒーターである場合には、硬化装置120の出力値は熱風の温度または熱源の出力[W]であり、硬化装置120がUV照射装置である場合には、UV源の照度である。
 演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、学習済みモデルから出力された塗布条件に従って、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間G(図12A参照)に充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させ、さらに学習済みモデルから出力された硬化条件に従って、硬化装置120により充填剤Fを硬化させるように構成されている。
 学習済みモデルを構築するための機械学習に使用される訓練データは、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を含む。
 訓練データ内の複数の硬化装置に関するデータは、異なる複数の硬化装置に関するデータを含む。異なる複数の硬化装置に関するデータは、硬化装置の異なるタイプ、および硬化装置と積層基板のエッジ部との異なる距離のうちの少なくとも1つを含む。
 正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件は、複数の充填剤の良好な塗布結果が得られたときの複数の塗布条件および複数の硬化条件である。より具体的には、正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件は、複数の学習用充填剤を複数の学習用積層基板に実際に塗布し、塗布された学習用充填剤を硬化装置により硬化させ、良好な塗布結果が得られたときの塗布条件および硬化条件である。上述した実施形態で説明したように、塗布状態が良好であるか否かは、学習用充填剤が実際に塗布された学習用積層基板のエッジ部を観察することによって判断される。
 正解ラベルとしての複数の硬化条件は、硬化装置の出力値を含む。硬化装置の出力値は、硬化装置のタイプによって異なる。例えば、硬化装置がランプヒーターである場合は、硬化装置の出力値はランプの電力[W]であり、硬化装置がエアヒーターである場合には、硬化装置の出力値は熱風の温度または熱源の出力[W]であり、硬化装置がUV照射装置である場合には、UV源の照度である。
 図21は、機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1301では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を、図示しない入力装置または信号通信などを介して取得する。演算システム110は、取得したこれらのデータおよび正解ラベルを記憶装置110a内に格納する。
 ステップ1302では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータを、対応する正解ラベルである複数の塗布条件および複数の硬化条件に関連付け、訓練データを作成する。
 ステップ1303では、演算システム110は、訓練データを用いた機械学習を実行し、学習済みモデルを構築(作成)する。演算システム110は、学習済みモデルを記憶装置110a内に格納する。
 次に、演算システム110は、学習済みモデルを用いて、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsの最適な塗布条件と、積層基板Wsに塗布された充填剤Fを硬化させるための最適な硬化条件を決定する。より具体的には、図20に示すように、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータ(例えばエッジ部の隙間Gの形状と大きさなど)と、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータ(例えば、充填剤Fの組成)と、硬化装置120に関するデータ(例えば、硬化装置120のタイプ)を、学習済みモデルに入力し、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件および硬化条件を学習済みモデルから出力する。そして、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、学習済みモデルから出力された塗布条件に従って、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間G(図12A参照)に充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させ、さらに学習済みモデルから出力された硬化条件に従って、硬化装置120により充填剤Fを硬化させる。
 図22は、学習済みモデルを用いて決定された塗布条件および硬化条件に従って充填剤Fを積層基板Wsに塗布し、充填剤Fを硬化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1401では、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータと、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータと、塗布された充填剤Fを硬化させる硬化装置120に関するデータを、学習済みモデルに入力する。
 ステップ1402では、演算システム110は、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件および硬化条件を学習済みモデルから出力する。
 ステップ1403では、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与えて、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを塗布させる。充填剤塗布モジュール112は、上記ステップ1402で決定された塗布条件に従って、充填剤Fを積層基板Wsのエッジ部の隙間Gに塗布する。
 ステップ1404では、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与えて、積層基板Wsの隙間Gに充填された充填剤Fを硬化装置120により硬化させる。充填剤塗布モジュール112の硬化装置120は、上記ステップ1402で決定された硬化条件に従って、充填剤Fを硬化させる。上記ステップ1403と上記ステップ1404は、時間的に重なり合ってもよい。その後、充填剤Fが硬化された積層基板Wsは図示しない薄化装置により薄化される。
 本実施形態によれば、塗布条件に従って適切な量の充填剤Fが積層基板Wsに塗布され、硬化条件に従って充填剤Fが適切に硬化される。結果として、積層基板Wsのナイフエッジ部の割れ(クラック)や欠け(チッピング)が防止でき、また周囲環境の汚染が防止できる。
 上記ステップ1402で得られた塗布条件および硬化条件は、良好な塗布結果が期待されるので、正解ラベルとして使用することができる。そこで、一実施形態では、演算システム110は、上記ステップ1401で学習済みモデルに入力された積層基板Wsに関するデータ、充填剤Fに関するデータ、および硬化装置120に関するデータと、上記ステップ1402で学習済みモデルから出力された正解ラベルとしての塗布条件および硬化条件を、訓練データに追加することで訓練データを更新し、更新された訓練データを用いて機械学習を再度実行して学習済みモデルを更新してもよい。このように学習済みモデルを更新することで、学習済みモデルの精度を向上させることができる。
 次に、基板処理方法および基板処理装置105の他の実施形態について説明する。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図20乃至図22を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 図23は、基板処理装置105の他の実施形態を示す模式図である。図23に示すように、本実施形態の基板処理装置105は、充填剤塗布モジュール112によって充填剤Fが塗布され、かつ硬化された積層基板Wsを薄化する薄化装置140をさらに備えている。演算システム110は、充填剤塗布モジュール112および薄化装置140の動作を制御するように構成される。積層基板Wsは、図示しない搬送装置によって充填剤塗布モジュール112から薄化装置140に搬送される。充填剤塗布モジュール112および/または薄化装置140は、演算システム110から離れた場所に配置されてもよい。
 図24は、薄化装置140の一実施形態を示す模式図である。薄化装置140は、積層基板Wsを保持する保持ステージ141と、保持ステージ141を回転させるステージ回転装置144と、保持ステージ141上の積層基板Wsを構成する第2基板W2を切削する切削具147と、切削具147を回転させる切削具回転装置148と、切削具147を保持ステージ141上の積層基板Wsに押し付ける切削具押圧装置151を備えている。切削具147は、ダイヤモンド粒子などの切削粒子が固定された切削面147aを有している。保持ステージ141は、そのステージ面141aに積層基板Wsを真空吸着などにより保持可能に構成されている。
 積層基板Wsは、第2基板W2が切削具147の切削面147aを向いた状態で、保持ステージ141のステージ面141a上に置かれる。積層基板Wsの第1基板W1は、保持ステージ141のステージ面141aに真空吸着などにより保持される。ステージ回転装置144が保持ステージ141を回転させると、保持ステージ141上の積層基板Wsが回転する。切削具回転装置148により切削具147を回転させながら、切削具押圧装置151は切削具147の切削面147aを積層基板Wsの第2基板W2に押し付ける。第2基板W2は切削具147により切削され、これにより積層基板Wsは薄化される(図12C参照)。切削具147の回転速度は、切削具回転装置148により調節され、切削具147の積層基板Wsへの押付力は切削具押圧装置151により調節され、積層基板Wsの回転速度はステージ回転装置144により調節される。
 図25は、本実施形態の演算システム110の動作を説明する概念図である。図25に示すように、演算システム110は、積層基板Wsに関するデータ、充填剤Fに関するデータ、および硬化装置120に関するデータに加えて、薄化装置140に関するデータを学習済みモデルに入力し、学習済みモデルから充填剤Fの塗布条件、充填剤Fの硬化条件、および積層基板Wsの薄化条件を出力するように構成されている。さらに、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、学習済みモデルから出力された塗布条件に従って、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間G(図12A参照)に充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させ、さらに学習済みモデルから出力された硬化条件に従って、硬化装置120により充填剤Fを硬化させるように構成されている。さらに、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って、硬化した充填剤Fを有する積層基板Wsを薄化させるように構成されている。
 薄化装置140に関するデータは、薄化装置140に使用される切削具147の種類、および積層基板Wsの目標切削量を含む。切削具147の種類は、例えば、切削面147aを構成する切削粒子の粗さである。薄化条件は、言い換えれば、薄化装置140の運転条件であり、例えば、切削具147の回転速度、切削具147の積層基板Wsに対する押付力、および積層基板Wsの回転速度(保持ステージ141の回転速度)が挙げられる。
 学習済みモデルを構築するための機械学習に使用される訓練データは、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を含む。
 訓練データ内の複数の薄化装置に関するデータは、異なる複数の薄化装置に関するデータを含む。異なる複数の薄化装置に関するデータは、切削具の異なる種類、および積層基板の異なる目標切削量のうちの少なくとも1つを含む。
 正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件は、良好な塗布結果および良好な薄化結果が得られたときの複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件である。より具体的には、正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件は、複数の学習用充填剤を複数の学習用積層基板に実際に塗布し、塗布された学習用充填剤を硬化装置により硬化させ、その後、薄化装置により積層基板を薄化し、良好な塗布結果および良好な薄化結果が得られたときの塗布条件、硬化条件、および薄化条件である。
 上述した実施形態で説明したように、塗布状態が良好であるか否かは、学習用充填剤が実際に塗布された学習用積層基板のエッジ部を観察することによって判断される。良好な薄化結果は、その切削具が目詰まりを起こさずに積層基板が薄化されたこと、および切削開始から目標切削量に達するまでの時間が許容時間以下であることに基づいて判断される。通常、切削具の目詰まりは、充填剤に含まれる粒子によって起こる。切削開始から目標切削量に達するまでの時間は、硬化した充填剤の硬さによって変わり、硬化した充填剤の硬さは充填剤の材料に依存する。したがって、正解ラベルとしての薄化条件は、切削具が目詰まりを起こさずに、短い時間で薄化が完了したときの薄化条件である。
 図26は、機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1501では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を、図示しない入力装置または信号通信などを介して取得する。演算システム110は、取得したこれらのデータおよび正解ラベルを記憶装置110a内に格納する。
 ステップ1502では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータを、対応する正解ラベルである複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件に関連付け、訓練データを作成する。
 ステップ1503では、演算システム110は、訓練データを用いた機械学習を実行し、学習済みモデルを構築(作成)する。演算システム110は、学習済みモデルを記憶装置110a内に格納する。
 次に、演算システム110は、学習済みモデルを用いて、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsの最適な塗布条件と、積層基板Wsに塗布された充填剤Fを硬化させるための最適な硬化条件と、充填剤Fが硬化された積層基板Wsを薄化するための最適な薄化条件を決定する。より具体的には、図25に示すように、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータ(例えばエッジ部の隙間Gの形状と大きさなど)と、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータ(例えば、充填剤Fの組成)と、硬化装置120に関するデータ(例えば、硬化装置120のタイプ)と、薄化装置140に関するデータ(例えば、切削具の種類)を、学習済みモデルに入力し、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件、硬化条件、および薄化条件を学習済みモデルから出力する。
 そして、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与え、学習済みモデルから出力された塗布条件に従って、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間G(図12A参照)に充填剤Fを充填剤塗布モジュール112により塗布させ、さらに学習済みモデルから出力された硬化条件に従って、硬化装置120により充填剤Fを硬化させる。さらに、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って、充填剤Fが硬化した積層基板Wsを薄化装置140により薄化させる。
 図27は、学習済みモデルを用いて決定された塗布条件、硬化条件、および薄化条件に従って充填剤Fを積層基板Wsに塗布し、充填剤Fを硬化し、積層基板Wsを薄化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1601では、演算システム110は、充填剤Fを塗布すべき積層基板Wsに関するデータと、積層基板Wsに塗布される充填剤Fのデータと、塗布された充填剤Fを硬化させる硬化装置120に関するデータと、充填剤Fが硬化した積層基板Wsを薄化させる薄化装置140に関するデータを、学習済みモデルに入力する。
 ステップ1602では、演算システム110は、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、塗布条件、硬化条件、および薄化条件を学習済みモデルから出力する。
 ステップ1603では、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与えて、積層基板Wsを構成する第1基板W1のエッジ部E1と第2基板W2のエッジ部E2との隙間Gに充填剤Fを塗布させる。充填剤塗布モジュール112は、上記ステップ1602で決定された塗布条件に従って、充填剤Fを積層基板Wsのエッジ部の隙間Gに塗布する。
 ステップ1604では、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112に指令を与えて、積層基板Wsの隙間Gに充填された充填剤Fを硬化装置120により硬化させる。充填剤塗布モジュール112の硬化装置120は、上記ステップ1602で決定された硬化条件に従って、充填剤Fを硬化させる。上記ステップ1603と上記ステップ1604は、時間的に重なり合ってもよい。
 ステップ1605では、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って薄化装置140を動作させ、積層基板Wsを薄化させる。薄化装置140は、上記ステップ1602で決定された薄化条件に従って、硬化した充填剤Fを有する積層基板Wsを薄化する。
 本実施形態によれば、塗布条件に従って適切な量の充填剤Fが積層基板Wsに塗布され、硬化条件に従って充填剤Fが適切に硬化され、さらに薄化条件に従って積層基板Wsが適切に薄化される。結果として、積層基板Wsのナイフエッジ部の割れ(クラック)や欠け(チッピング)が防止でき、また周囲環境の汚染が防止できる。加えて、薄化条件が最適化されるので、切削具の目詰まりが防止でき、かつ薄化工程のスループットが向上できる。
 上記ステップ1602で得られた塗布条件、硬化条件、および薄化条件は、良好な塗布結果および良好な薄化結果が期待されるので、正解ラベルとして使用することができる。そこで、一実施形態では、演算システム110は、上記ステップ1601で学習済みモデルに入力された積層基板Wsに関するデータ、充填剤Fに関するデータ、硬化装置120に関するデータ、および薄化装置140に関するデータと、上記ステップ1602で学習済みモデルから出力された正解ラベルとしての塗布条件、硬化条件、および薄化条件を、訓練データに追加することで訓練データを更新し、更新された訓練データを用いて機械学習を再度実行して学習済みモデルを更新してもよい。このように学習済みモデルを更新することで、学習済みモデルの精度を向上させることができる。
 次に、基板処理方法の他の実施形態について説明する。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図23乃至図27を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 本実施形態では、学習済みモデルは、既に充填剤Fが塗布され、充填剤Fが硬化された積層基板Wsを薄化するための薄化条件を算出するように構成されている。図28は、本実施形態の演算システム110の動作を説明する概念図である。図28に示すように、演算システム110は、積層基板Wsに関するデータ、充填剤Fに関するデータ、および薄化装置140に関するデータを学習済みモデルに入力し、学習済みモデルから積層基板Wsの薄化条件を出力するように構成されている。さらに、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って、硬化した充填剤Fを有する積層基板Wsを薄化させるように構成されている。
 学習済みモデルを構築するための機械学習に使用される訓練データは、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の薄化条件を含む。訓練データ内の複数の薄化装置に関するデータは、異なる複数の薄化装置に関するデータを含む。異なる複数の薄化装置に関するデータは、切削具の異なる種類、および積層基板の異なる目標切削量のうちの少なくとも1つを含む。
 正解ラベルとしての複数の薄化条件は、良好な薄化結果が得られたときの薄化条件である。より具体的には、正解ラベルとしての複数の薄化条件は、硬化された充填剤をエッジ部の隙間に有する積層基板を薄化装置により薄化し、良好な薄化結果が得られたときの薄化条件である。良好な薄化結果が得られたときの薄化条件は、切削具が目詰まりを起こさずに、短い時間で薄化が完了したときの薄化条件である。
 図29は、機械学習により学習済みモデルを構築する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1701では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の薄化条件を、図示しない入力装置または信号通信などを介して取得する。演算システム110は、取得したこれらのデータおよび正解ラベルを記憶装置110a内に格納する。
 ステップ1702では、演算システム110は、複数の学習用積層基板に関するデータ、複数の学習用充填剤に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータを、対応する正解ラベルである複数の薄化条件に関連付け、訓練データを作成する。
 ステップ1703では、演算システム110は、訓練データを用いた機械学習を実行し、学習済みモデルを構築(作成)する。演算システム110は、学習済みモデルを記憶装置110a内に格納する。
 次に、演算システム110は、学習済みモデルを用いて、充填剤Fが硬化された積層基板Wsを薄化するための最適な薄化条件を決定する。より具体的には、図28に示すように、演算システム110は、充填剤Fが塗布された積層基板Wsに関するデータ(例えばエッジ部の隙間Gの形状と大きさなど)と、積層基板Wsに塗布された充填剤Fのデータ(例えば、充填剤Fの組成)と、薄化装置140に関するデータ(例えば、切削具147の種類)を、学習済みモデルに入力し、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、薄化条件を学習済みモデルから出力する。そして、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って、充填剤Fが硬化した積層基板Wsを薄化装置140により薄化させる。
 図30は、学習済みモデルを用いて決定された薄化条件に従って、充填剤Fが硬化した積層基板Wsを薄化する方法の一実施形態を説明するフローチャートである。
 ステップ1801では、演算システム110は、充填剤Fが塗布された積層基板Wsに関するデータと、積層基板Wsに塗布された充填剤Fのデータと、充填剤Fが硬化した積層基板Wsを薄化させる薄化装置140に関するデータを、学習済みモデルに入力する。
 ステップ1802では、演算システム110は、学習済みモデルによって定義されるアルゴリズムに従って演算を実行することで、薄化条件を学習済みモデルから出力する。
 ステップ1803では、演算システム110は、薄化装置140に指令を与え、学習済みモデルから出力された薄化条件に従って薄化装置140を動作させ、積層基板Wsを薄化させる。
 本実施形態によれば、薄化条件が最適化されるので、切削具の目詰まりが防止でき、かつ薄化工程のスループットが向上できる。
 上記ステップ1802で得られた薄化条件は、良好な薄化結果が期待されるので、正解ラベルとして使用することができる。そこで、一実施形態では、演算システム110は、上記ステップ1801で学習済みモデルに入力された積層基板Wsに関するデータ、充填剤Fに関するデータ、および薄化装置140に関するデータと、上記ステップ1802で学習済みモデルから出力された正解ラベルとしての薄化条件を、訓練データに追加することで訓練データを更新し、更新された訓練データを用いて機械学習を再度実行して学習済みモデルを更新してもよい。このように学習済みモデルを更新することで、学習済みモデルの精度を向上させることができる。
 図14乃至図30を参照して説明したそれぞれの実施形態に係る基板処理装置105を構成する要素の配置は、特に限定されない。例えば、図31に示すように、演算システム110、充填剤塗布モジュール112、および薄化装置140は、1つの工場内に配置されてもよく、あるいは図32に示すように、充填剤塗布モジュール112および薄化装置140は1つの工場内に配置される一方で、演算システム110は工場外に配置されてもよい。演算システム110は、インターネットなどの通信ネットワークにより充填剤塗布モジュール112および薄化装置140に接続される。他の例では、図33に示すように、演算システム110は、遠隔にある複数の充填剤塗布モジュール112および複数の薄化装置140に、インターネットなどの通信ネットワークにより接続されてもよい。
 上述したそれぞれの実施形態の基板処理装置105の動作は演算システム110によって制御される。演算システム110は、少なくとも1つのコンピュータから構成される。演算システム110は、記憶装置110aに電気的に格納されたプログラムに含まれる命令に従って動作する。すなわち、演算システム110は、充填剤塗布モジュール112および/または薄化装置140に指令を与えて、上述した実施形態のいずれかの基板処理方法を実行させる。このような動作を演算システム110に実行させるためのプログラムは、非一時的な有形物であるコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録され、記録媒体を介して演算システム110に提供される。または、プログラムは、インターネットまたはローカルエリアネットワークなどの通信ネットワークを介して通信装置から演算システム110に入力されてもよい。
 図34は、充填剤塗布モジュール112の他の実施形態を示す上面図である。図35は、図34に示す充填剤塗布モジュール112の側面図である。特に説明しない本実施形態の構成は、図14および図15を参照して説明した実施形態の構成と同様であるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、充填剤塗布モジュール112は、基板保持部115、回転軸122、および回転機構123に代えて、基板保持装置160を備えている。
 基板保持装置160は、積層基板Wsの周縁部に接触可能な3つ以上の(本実施形態では、4つの)ローラー161と、それぞれのローラー161をその軸心を中心にして回転させるローラー回転機構(図示しない)と、それぞれのローラー161を移動させるローラー移動機構(図示しない)を備えている。本実施形態では、基板保持装置160は4つのローラー161を備えているが、基板保持装置160は3つ、あるいは5つ以上のローラーを備えていてもよい。
 4つのローラー161は、積層基板Wsの中心軸Crの周囲に配列されている。ローラー161は、積層基板Wsの周縁部に接触して、積層基板Wsを水平に保持するように構成されている。ローラー回転機構の構成は、3つ以上のローラー161を同じ方向に同じ速度で回転させることができる限り任意であり、公知の回転機構をローラー回転機構として利用できる。ローラー回転機構の例としては、モータ、プーリー(および/またはギア)、および回転ベルトの組み合わせが挙げられる。
 ローラー回転機構は、4つのローラー161に連結されており、4つのローラー161を同じ方向に同じ速度で回転させるように構成されている。ローラー移動機構によって、4つのローラー161を、積層基板Wsの周縁部がローラー161によって保持される保持位置(図34の実線参照)と、ローラー161から積層基板Wsが解放される解放位置(図34の点線参照)との間で移動させることができる。
 ローラー移動機構の構成は、4つのローラー161を保持位置と解放位置との間で移動させることができる限り任意であり、公知の移動機構をローラー移動機構として利用できる。ローラー移動機構の例としては、ピストンシリンダ機構、およびボールねじとモータ(ステッピングモータ)の組み合わせが挙げられる。
 積層基板Wsは、図示しない搬送装置によって、積層基板Wsの軸心が積層基板Wsの中心軸Crと一致する位置に搬送される。このとき、ローラー161は、解放位置にある。次いで、ローラー移動機構によって、4つのローラー161を保持位置に移動させることで、積層基板Wsの周縁部を4つのローラー161に保持させる。この動作により、積層基板Wsが4つのローラー161に横置きの状態で保持される。保持位置に移動された4つのローラー161をローラー回転機構によって回転させることにより、積層基板Wsは、その軸心を中心に回転される。
 ローラー移動機構によって、保持位置にある4つのローラー161を解放位置に移動させると、4つのローラー161が、積層基板Wsの周縁部から離間し、積層基板Wsを4つのローラー161から解放できる。解放された積層基板Wsは、図示しない搬送装置によって次の処理を行うために搬送される。塗布装置116による充填剤Fの塗布、および硬化装置120による充填剤Fの硬化は、基板保持装置160により横置きに保持された積層基板Wsを回転させながら行われる。積層基板Wsの回転速度は、基板保持装置160のローラー161の回転速度に依存し、ローラー回転機構によって制御できる。
 一実施形態では、ローラー回転機構は、一部のローラー161のみを回転させるように構成されていてもよい。例えば、ローラー回転機構は、4つのローラー161のうちの2つのローラー161に連結され、2つのローラー161を同じ方向に同じ速度で回転させるように構成されてもよい。この場合、他の2つのローラー161は、自由回転するように構成されている。4つのローラー161が保持位置に配置されているときに、ローラー回転機構に連結された2つのローラー161が回転すると、他の2つのローラー161は、積層基板Wsを介して、ローラー回転機構に連結されたローラー161に従動して回転する。
 一実施形態では、ローラー移動機構は、一部のローラー161のみを移動させるように構成されていてもよい。例えば、ローラー移動機構は、4つのローラー161のうちの2つのローラー161に連結され、この2つのローラー161を保持位置と解放位置との間で移動させてもよい。この場合、他の2つのローラー161は、保持位置に予め固定されている。積層基板Wsは、搬送装置により、固定された2つのローラー161に積層基板Wsの周縁部が接触する位置に搬送される。ローラー移動機構によって、ローラー移動機構に連結された2つのローラー161を保持位置に移動させることで、積層基板Wsを横置きに保持することができる。ローラー移動機構によって、ローラー移動機構に連結された2つのローラー161を解放位置に移動させることで、積層基板Wsを解放することができる。
 上述した実施形態では、基板保持部115および基板保持装置160のローラー161は、積層基板Wsを水平に保持するように構成されている。すなわち、積層基板Wsは、基板保持部115または基板保持装置160のローラー161により横置きの状態で保持される。塗布装置116による充填剤Fの塗布は、基板保持部115または基板保持装置160のローラー161により横置きされた積層基板Wsを回転させながら行われる。しかしながら、隙間Gに充填剤Fを塗布できる限り、積層基板Wsの保持方法は上述した実施形態に限定されない。例えば、充填剤塗布モジュール112は、積層基板Wsを垂直に保持するように構成された基板保持部または基板保持装置を有していてもよい。積層基板Wsが縦置きの状態で保持されると、積層基板Wsの上面および下面は、それぞれ水平方向に垂直な鉛直方向に延びる仮想面内にある。
 図36は、充填剤塗布モジュール112のさらに他の実施形態を示す側面図である。図37は、図36の矢印Aで示す方向から見た図である。特に説明しない本実施形態の構成は、図14および図15を参照して説明した実施形態の構成と同様であるので、その重複する説明を省略する。図36は、積層基板Wsの裏面側から見た図である。本実施形態では、充填剤塗布モジュール112は、基板保持部115、回転軸122、および回転機構123に代えて、基板保持部165、回転軸166、および回転機構168を備えている。
 基板保持部165は、積層基板Wsの裏面を真空吸着により保持するように構成されている。図37に示すように、積層基板Wsの裏面を保持する基板保持部165の保持面165aは、水平面に対して垂直な面である。積層基板Wsは、水平面に対して垂直となるように保持される。すなわち、積層基板Wsは、基板保持部165により縦置きの状態で保持される。
 回転軸166は、基板保持部165の中央部に連結されている。積層基板Wsは、積層基板Wsの中心が回転軸166の軸心と一致するように基板保持部165に保持される。回転機構168は、モータ(図示せず)を備えており、図36に示すように、回転機構168は、基板保持部165および積層基板Wsを積層基板Wsの中心軸Crを中心として、矢印で示す方向に一体に回転させるように構成されている。
 塗布装置116は、基板保持部165に保持された積層基板Wsの上方で積層基板Wsの隙間Gに対向して配置されている。塗布装置116が充填剤Fを吐出すると、充填剤Fが積層基板Wsの隙間Gに向けて落下し、その結果、充填剤Fを積層基板Wsの隙間Gに塗布することができる。硬化装置120は、基板保持部165に保持された積層基板Wsの半径方向外側に位置している。硬化装置120は、積層基板Wsの回転方向において塗布装置116の下流側に配置されており、塗布装置116によって積層基板Wsに塗布された充填剤Fを硬化させるように構成されている。塗布装置116による充填剤Fの塗布、および硬化装置120による充填剤Fの硬化は、基板保持部165により縦置きに保持された積層基板Wsを回転させながら行われる。積層基板Wsの回転速度は、基板保持部165の回転速度に相当し、回転機構168によって制御できる。
 図38は、充填剤塗布モジュール112のさらに他の実施形態を示す側面図である。図39は、図38の矢印Bで示す方向から見た図である。特に説明しない本実施形態の構成は、図36および図37を参照して説明した実施形態の構成と同様であるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、充填剤塗布モジュール112は、基板保持部165、回転軸166、および回転機構168に代えて、基板保持装置170を備えている。
 基板保持装置170は、積層基板Wsの周縁部に接触可能な3つ以上の(本実施形態では、4つの)ローラー171と、それぞれのローラー171をその軸心を中心にして回転させるローラー回転機構(図示しない)と、それぞれのローラー171を移動させるローラー移動機構(図示しない)を備えている。本実施形態では、基板保持装置170は4つのローラー171を備えているが、基板保持装置170は3つ、あるいは5つ以上のローラーを備えていてもよい。
 4つのローラー171は、積層基板Wsの中心軸Crの周囲に配列されている。ローラー171は、積層基板Wsの周縁部に接触して、積層基板Wsを垂直に保持するように構成されている。すなわち、積層基板Wsは、基板保持装置170のローラー171により縦置きの状態で保持される。図38に示すように、基板保持装置170のローラー171によって積層基板Wsが縦置きの状態で保持されると、積層基板Wsの上面および下面は、それぞれ鉛直方向に延びる仮想面内にある。
 ローラー回転機構は、4つのローラー171に連結されており、4つのローラー171を同じ方向に同じ速度で回転させるように構成されている。ローラー回転機構の構成は、3つ以上のローラー171を同じ方向に同じ速度で回転させることができる限り任意であり、公知の回転機構をローラー回転機構として利用できる。ローラー回転機構の例としては、モータ、プーリー(および/またはギア)、および回転ベルトの組み合わせが挙げられる。
 ローラー移動機構は、4つのローラー171に連結されており、それぞれのローラー171を積層基板Wsの中心軸Crに向かって近づく方向、および中心軸Crから離れる方向に移動させるように構成されている。ローラー移動機構によって、4つのローラー171を、積層基板Wsの周縁部がローラー171によって保持される保持位置(図38の実線参照)と、ローラー171から積層基板Wsが解放される解放位置(図38の点線参照)との間で移動させることができる。ローラー移動機構の構成は、4つのローラー171を保持位置と解放位置との間で移動させることができる限り任意であり、公知の移動機構をローラー移動機構として利用できる。ローラー移動機構の例としては、ピストンシリンダ機構、およびボールねじとモータ(ステッピングモータ)の組み合わせが挙げられる。
 積層基板Wsは、図示しない搬送装置によって、積層基板Wsの軸心が積層基板Wsの中心軸Crと一致する位置に搬送される。このとき、ローラー171は、解放位置にある。次いで、ローラー移動機構によって、4つのローラー171を保持位置に移動させることで、積層基板Wsの周縁部を4つのローラー171に保持させる。この動作により、積層基板Wsが4つのローラー171に縦置きの状態で保持される。保持位置に移動された4つのローラー171をローラー回転機構によって回転させることにより、積層基板Wsは、その軸心を中心に回転される。
 ローラー移動機構によって、保持位置にある4つのローラー171を解放位置に移動させると、4つのローラー171が、積層基板Wsの周縁部から離間し、積層基板Wsを4つのローラー171から解放できる。解放された積層基板Wsは、図示しない搬送装置によって次の処理を行うために搬送される。塗布装置116による充填剤Fの塗布、および硬化装置120による充填剤Fの硬化は、基板保持装置170により縦置きに保持された積層基板Wsを回転させながら行われる。積層基板Wsの回転速度は、基板保持装置170のローラー171の回転速度に依存し、ローラー回転機構によって制御できる。
 一実施形態では、ローラー回転機構は、一部のローラー171のみを回転させるように構成されていてもよい。例えば、ローラー回転機構は、4つのローラー171のうちの2つのローラー171に連結され、2つのローラーを同じ方向に同じ速度で回転させてもよい。この場合、他の2つのローラー171は、自由回転するように構成されている。4つのローラー171が保持位置に配置されているときに、ローラー回転機構に連結された2つのローラー171が回転すると、他の2つのローラー171は、積層基板Wsを介して、ローラー回転機構に連結された2つのローラー171に従動して回転する。
 一実施形態では、ローラー移動機構は、一部のローラー171のみを移動させるように構成されてもよい。例えば、ローラー移動機構は、4つのローラー171のうちの2つのローラー171に連結され、この2つのローラー171を保持位置と解放位置との間で移動させてもよい。この場合、他の2つのローラー171は、保持位置に予め固定されている。積層基板Wsは、搬送装置により、固定された2つのローラー171に積層基板Wsの周縁部が接触する位置に搬送される。ローラー移動機構によって、ローラー移動機構に連結された2つのローラー171を保持位置に移動させることで、積層基板Wsを縦置きに保持することができる。ローラー移動機構によって、ローラー移動機構に連結された2つのローラー171を解放位置に移動させることで、積層基板Wsを解放することができる。
 図34乃至図39を参照して説明した各実施形態は、図20乃至図22、図23乃至図27、図28乃至図30を参照して説明した各実施形態に適用してもよい。
 上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうる。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲に解釈されるものである。
 本発明は、複数の基板を接合して製造される積層基板の割れおよび欠けを抑制する基板処理方法、および基板処理装置に利用可能であり、特に積層基板を構成する複数の基板のエッジ部間に形成された隙間に充填剤を塗布する技術に利用可能である。
 1   基板処理装置
 2   基板保持部
 3   塗布装置
 4   硬化装置
 5   赤外撮像装置
 7   回転軸
 8   回転機構
 9   充填剤塗布モジュール
10   動作制御部
10a  記憶装置
10b  処理装置
11   表面形状測定装置
21   シリンジ
21a  充填剤吐出口
22   ピストン
25   気体供給ライン
26   圧力調整装置
27   開閉弁
102  ナイフエッジ部
105  基板処理装置
110  演算システム
112  充填剤塗布モジュール
115  基板保持部
116  塗布装置
120  硬化装置
122  回転軸
123  回転機構
126  シリンジ
126a 充填剤吐出口
127  ピストン
128  気体供給ライン
129  圧力調整装置
140  薄化装置
141  保持ステージ
144  ステージ回転装置
147  切削具
148  切削具回転装置
151  切削具押圧装置
160  基板保持装置
161  ローラー
165  基板保持部
166  回転軸
168  回転機構
170  基板保持装置
171  ローラー
Ws   積層基板
F    充填剤
G    隙間

Claims (42)

  1.  第1基板と第2基板が接合された積層基板に充填剤を塗布する基板処理方法であって、
     前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定し、
     前記測定結果に基づいて、前記積層基板に塗布する前記充填剤の塗布条件を決定し、
     前記決定した塗布条件で、前記積層基板の前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布する、基板処理方法。
  2.  前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する工程は、前記第1基板と前記第2基板を接合した後に行う、請求項1に記載の基板処理方法。
  3.  前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する工程は、前記第1基板と前記第2基板が接合される前に行う、請求項1に記載の基板処理方法。
  4.  測定すべき前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状は、
     (i)前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の半径方向の寸法、
     (ii)前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間の厚み方向の寸法、および
     (iii)前記第1基板のエッジ部の傾斜角度および前記第2基板のエッジ部の傾斜角度、
     のうちの少なくとも1つによって特定される、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の基板処理方法。
  5.  前記塗布条件は、前記充填剤の組成、前記充填剤の総塗布量、前記充填剤を塗布するための塗布装置の充填剤吐出口の形状、前記積層基板と前記充填剤吐出口との距離、単位時間あたりの前記充填剤吐出口から吐出する前記充填剤の量のうちの少なくとも1つを含む、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の基板処理方法。
  6.  前記基板処理方法は、前記積層基板に前記充填剤を塗布した後に、塗布した前記充填剤を硬化する工程をさらに含み、
     前記塗布条件は、前記充填剤を硬化するための硬化装置から吹き付ける熱風の風圧および温度をさらに含む、請求項5に記載の基板処理方法。
  7.  前記充填剤を塗布する工程は、前記積層基板を回転させながら行い、
     前記塗布条件は、前記積層基板の回転速度をさらに含む、請求項5または6に記載の基板処理方法。
  8.  第1基板と第2基板が接合された積層基板に充填剤を塗布するための基板処理装置であって、
     前記積層基板に前記充填剤を塗布するように構成された充填剤塗布モジュールと、
     前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の表面形状を測定する表面形状測定装置と、
     前記充填剤塗布モジュールおよび前記表面形状測定装置の動作を制御する動作制御部を備え、
     前記充填剤塗布モジュールは、
      前記積層基板を保持する基板保持部と、
      前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に、前記充填剤を塗布するための塗布装置を備え、
     前記動作制御部は、前記形状の測定結果に基づいて、前記積層基板に塗布する前記充填剤の塗布条件を決定し、前記充填剤塗布モジュールに指令を与えて、前記決定した塗布条件で前記充填剤を塗布させるように構成されている、基板処理装置。
  9.  前記表面形状測定装置は、
     (i)前記第1基板のエッジ部および前記第2基板のエッジ部の半径方向の寸法、
     (ii)前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間の厚み方向の寸法、および
     (iii)前記第1基板のエッジ部の傾斜角度および前記第2基板のエッジ部の傾斜角度、
     のうちの少なくとも1つを測定するように構成されている、請求項8に記載の基板処理装置。
  10.  前記充填剤塗布モジュールは、前記充填剤を硬化するための硬化装置をさらに備える、請求項8または9に記載の基板処理装置。
  11.  前記充填剤塗布モジュールは、前記基板保持部を回転させる回転機構をさらに備える、請求項8乃至10のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  12.  第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、充填剤に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、
     前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力し、
     前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布する、基板処理方法。
  13.  前記積層基板に関するデータは、前記第1基板および前記第2基板の表面を構成する材料と、前記隙間の形状と大きさを含み、
     前記充填剤に関するデータは、前記充填剤の組成を含む、請求項12に記載の基板処理方法。
  14.  前記塗布条件は、前記充填剤の総塗布量、単位時間あたりの前記充填剤の塗布量、前記充填剤の温度、前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む、請求項12または13に記載の基板処理方法。
  15.  前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータに加えて、前記充填剤を硬化するための硬化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、
     前記学習済みモデルから前記充填剤の前記塗布条件および前記充填剤の硬化条件を出力し、
     前記基板処理方法は、塗布された前記充填剤を前記硬化条件に従って前記硬化装置により硬化することをさらに含む、請求項12または13に記載の基板処理方法。
  16.  前記硬化装置に関するデータは、前記硬化装置のタイプ、および前記硬化装置と前記積層基板のエッジ部との距離を含む、請求項15に記載の基板処理方法。
  17.  前記硬化条件は、前記硬化装置の出力値を含む、請求項15に記載の基板処理方法。
  18.  前記積層基板に関するデータ、前記充填剤に関するデータ、および前記硬化装置に関するデータに加えて、前記積層基板を薄化するための薄化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、
     前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件、前記充填剤の硬化条件、および前記積層基板の薄化条件を出力し、
     前記基板処理方法は、前記充填剤の硬化の後に、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化することをさらに含む、請求項15に記載の基板処理方法。
  19.  前記薄化装置に関するデータは、前記薄化装置に使用される切削具の種類、および前記積層基板の目標切削量を含む、請求項18に記載の基板処理方法。
  20.  前記薄化条件は、前記切削具の前記積層基板に対する押付力、前記切削具の回転速度、および前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む、請求項19に記載の基板処理方法。
  21.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項12に記載の基板処理方法。
  22.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項15に記載の基板処理方法。
  23.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項18に記載の基板処理方法。
  24.  前記学習済みモデルに入力された前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータと、前記学習済みモデルから出力された前記塗布条件を、前記機械学習に使用される訓練データに追加することで前記訓練データを更新し、
     更新された前記訓練データを用いて機械学習を実行して前記学習済みモデルを更新することをさらに含む、請求項12に記載の基板処理方法。
  25.  前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布することは、縦置きに保持された前記積層基板を回転させながら、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を塗布することである、請求項12に記載の基板処理方法。
  26.  第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に塗布された充填剤に関するデータと、前記積層基板を薄化するための薄化装置に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、
     前記学習済みモデルから前記積層基板の薄化条件を出力し、
     前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化する、基板処理方法。
  27.  機械学習により構築された学習済みモデルを有する演算システムと、
     第1基板と第2基板が接合された積層基板を回転させながら、前記積層基板に充填剤を塗布する充填剤塗布モジュールを備え、
     前記演算システムは、
      前記積層基板に関するデータと、前記充填剤に関するデータを、前記学習済みモデルに入力し、
      前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力し、
      前記充填剤塗布モジュールに指令を与え、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を前記充填剤塗布モジュールにより塗布させるように構成されている、基板処理装置。
  28.  前記積層基板に関するデータは、前記第1基板および前記第2基板の表面を構成する材料と、前記隙間の形状と大きさを含み、
     前記充填剤に関するデータは、前記充填剤の組成を含む、請求項27に記載の基板処理装置。
  29.  前記塗布条件は、前記充填剤の総塗布量、単位時間あたりの前記充填剤の塗布量、前記充填剤の温度、前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む、請求項27または28に記載の基板処理装置。
  30.  前記基板処理装置は、塗布された前記充填剤を硬化させる硬化装置をさらに備えており、
     前記演算システムは、
      前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータに加えて、前記硬化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、
      前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件および前記充填剤の硬化条件を出力し、
      前記硬化装置に指令を与えて、塗布された前記充填剤を前記硬化条件に従って前記硬化装置により硬化させるように構成されている、請求項27または28に記載の基板処理装置。
  31.  前記硬化装置に関するデータは、前記硬化装置のタイプ、および前記硬化装置と前記積層基板のエッジ部との距離を含む、請求項30に記載の基板処理装置。
  32.  前記硬化条件は、前記硬化装置の出力値を含む、請求項30に記載の基板処理装置。
  33.  前記基板処理装置は、前記積層基板を薄化させる薄化装置をさらに備えており、
     前記演算システムは、
      前記積層基板に関するデータ、前記充填剤に関するデータ、および前記硬化装置に関するデータに加えて、前記薄化装置に関するデータを前記学習済みモデルに入力し、
      前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件、前記充填剤の硬化条件、および前記積層基板の薄化条件を出力し、
     前記薄化装置に指令を与えて、前記充填剤の硬化の後に、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化させるように構成されている、請求項30に記載の基板処理装置。
  34.  前記薄化装置に関するデータは、前記薄化装置に使用される切削具の種類、および前記積層基板の目標切削量を含む、請求項33に記載の基板処理装置。
  35.  前記薄化条件は、前記切削具の前記積層基板に対する押付力、前記切削具の回転速度、および前記積層基板の回転速度のうちの少なくとも1つを含む、請求項34に記載の基板処理装置。
  36.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項27に記載の基板処理装置。
  37.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件および複数の硬化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項30に記載の基板処理装置。
  38.  前記学習済みモデルは、複数の積層基板に関するデータ、複数の充填剤に関するデータ、複数の硬化装置に関するデータ、複数の薄化装置に関するデータ、および正解ラベルとしての複数の塗布条件、複数の硬化条件、および複数の薄化条件を含む訓練データを用いて機械学習により構築されたモデルである、請求項33に記載の基板処理装置。
  39.  前記演算システムは、
      前記学習済みモデルに入力された前記積層基板に関するデータおよび前記充填剤に関するデータと、前記学習済みモデルから出力された前記塗布条件を、前記機械学習に使用される訓練データに追加することで前記訓練データを更新し、
      更新された前記訓練データを用いて機械学習を実行して前記学習済みモデルを更新するように構成されている、請求項27に記載の基板処理装置。
  40.  前記充填剤塗布モジュールは、前記積層基板を縦置きの状態で保持する基板保持部または基板保持装置を備えている、請求項27に記載の基板処理方法。
  41.  機械学習により構築された学習済みモデルを有する演算システムと、
     第1基板と第2基板が接合された積層基板を薄化する薄化装置を備え、
     前記演算システムは、
      前記積層基板に関するデータと、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に塗布された充填剤に関するデータと、前記薄化装置に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力し、
      前記学習済みモデルから前記積層基板の薄化条件を出力し、
      前記薄化装置に指令を与えて、前記薄化条件に従って前記積層基板を前記薄化装置により薄化させるように構成されている、基板処理装置。
  42.  第1基板と第2基板が接合された積層基板に関するデータと、充填剤に関するデータを、機械学習により構築された学習済みモデルに入力するステップと、
     前記学習済みモデルから前記充填剤の塗布条件を出力するステップと、
     充填剤塗布モジュールに指令を与え、前記塗布条件に従って、前記第1基板のエッジ部と前記第2基板のエッジ部との隙間に前記充填剤を前記充填剤塗布モジュールにより塗布させるステップをコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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