WO2020230989A1 - 표시 장치 및 그의 제조 방법 - Google Patents

표시 장치 및 그의 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
WO2020230989A1
WO2020230989A1 PCT/KR2020/003078 KR2020003078W WO2020230989A1 WO 2020230989 A1 WO2020230989 A1 WO 2020230989A1 KR 2020003078 W KR2020003078 W KR 2020003078W WO 2020230989 A1 WO2020230989 A1 WO 2020230989A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
electrode
light emitting
light
layer
disposed
Prior art date
Application number
PCT/KR2020/003078
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
최해윤
강종혁
임현덕
정재훈
김한수
양은아
조현민
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to CN202080034815.5A priority Critical patent/CN113841246A/zh
Priority to US17/610,062 priority patent/US20220262984A1/en
Priority to EP20806026.9A priority patent/EP3968384A4/en
Publication of WO2020230989A1 publication Critical patent/WO2020230989A1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/382Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending partially in or entirely through the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1248Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or shape of the interlayer dielectric specially adapted to the circuit arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1255Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs integrated with passive devices, e.g. auxiliary capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/505Wavelength conversion elements characterised by the shape, e.g. plate or foil
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements

Definitions

  • Embodiments of the present invention relate to a display device and a method of manufacturing the same.
  • a technology for manufacturing a microscopic light emitting device using a material having a highly reliable inorganic crystal structure and manufacturing a light emitting device using the light emitting device has been developed.
  • a technology for manufacturing a plurality of micro-light emitting devices each having a size as small as nano-scale to micro-scale, and configuring light sources of various light-emitting devices including pixels of a display device using the micro-light-emitting devices has been developed. have.
  • the technical problem to be achieved by the present invention is to provide a display device including a light emitting device and a method of manufacturing the same.
  • a display device includes pixels disposed in a display area.
  • the pixels may include first and second barrier ribs spaced apart from each other on the base layer; First and second electrodes disposed on the first and second barrier ribs, respectively, and spaced apart from each other;
  • a light-emitting device disposed between the first electrode and the second electrode and including a first end connected to the first electrode and a second end connected to the second electrode;
  • the at least one insulating layer includes at least one of a first opening adjacent to a first end of the light emitting device and a second opening adjacent to a second end of the light emitting device.
  • the first opening is located in a region corresponding to between the first end of the light emitting device and the first partition wall
  • the second opening includes a second end of the light emitting device and the second partition It may be located in a region corresponding to between.
  • the first opening may be located on the first partition wall, and the second opening may be located on the second partition wall.
  • the first opening has a width less than or equal to the width of the first partition and is disposed to overlap the first partition
  • the second opening has a width less than or equal to the width of the second partition. It may be disposed to overlap the second partition wall.
  • the first opening and the second opening may be spaced apart from the light emitting device by the same horizontal distance.
  • each of the first opening and the second opening may vertically penetrate the at least one insulating layer so as to have an angle in a range of 80° to 100° with respect to a plane in which the light emitting element is disposed. .
  • the first partition wall may include an inclined surface or a curved surface facing the first end of the light emitting device
  • the second partition wall may include an inclined surface or a curved surface facing the second end of the light emitting device.
  • the display device includes: a first insulating layer disposed on the first electrode and the second electrode and exposing a region of the first electrode and the second electrode; And at least one of a second insulating layer disposed on the light emitting device and exposing the first end and the second end of the light emitting device.
  • the pixel includes: a third electrode disposed on the first end of the light emitting device and the first electrode, and electrically connecting the first end of the light emitting device to the first electrode; And a fourth electrode disposed on the second end of the light emitting device and the second electrode, and electrically connecting the second end of the light emitting device to the second electrode.
  • the at least one insulating layer is a third insulating layer disposed on the third electrode and a region including the first end of the light emitting device and covering one end of the third electrode on the light emitting device ; And at least one of a fourth insulating layer entirely disposed on the display area, including the light emitting element, the third electrode, and the upper portion of the fourth electrode.
  • the first opening may pass through the third insulating layer and the fourth insulating layer, and the second opening may pass through the fourth insulating layer.
  • the display device may further include an upper substrate disposed on the pixel and including a light conversion layer overlapping the pixel.
  • the light conversion layer includes: a color filter layer disposed on the upper substrate to face the pixel; And at least one of a color conversion layer disposed between the color filter layer and the pixel and including color conversion particles.
  • a method of manufacturing a display device includes forming first and second partition walls spaced apart from each other on a base layer; Forming first and second electrodes on the first and second barriers, respectively; Supplying and aligning a light emitting device between the first electrode and the second electrode; Forming a third electrode and a fourth electrode connecting the first end and the second end of the light-emitting device to the first electrode and the second electrode, respectively; Forming at least one insulating layer on at least one of the third electrode and the fourth electrode and the light emitting device; And forming at least one opening in the insulating layer in a region adjacent to at least one of the first end and the second end of the light emitting device.
  • the at least one insulating layer in forming the at least one opening, may be dry etched in a vertical direction.
  • the third electrode and the fourth electrode may be sequentially formed.
  • the forming of the at least one insulating layer may include, after forming the third electrode, forming an insulating layer covering the third electrode and a region including the first end of the light emitting device; And after forming the fourth electrode, forming an insulating layer covering the entire display area including the light emitting element, the third electrode, and the upper portion of the fourth electrode.
  • the first opening is formed by etching the at least one insulating layer in a region corresponding between the first end of the light emitting device and the first partition wall
  • the second opening may be formed by etching the at least one insulating layer in a region corresponding to between the second end of the light emitting device and the second partition wall.
  • the at least one insulating layer is etched in a region on the first partition to form a first opening, and in a region on the second partition, the at least A second opening may be formed by etching one insulating layer.
  • light efficiency of a pixel including a light emitting element may be improved.
  • FIGS. 1A and 1B are perspective and cross-sectional views illustrating a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 2A and 2B are perspective and cross-sectional views illustrating a light emitting device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 3A and 3B are perspective and cross-sectional views illustrating a light emitting device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIGS. 4A and 4B are perspective and cross-sectional views illustrating a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • 6A to 6E are circuit diagrams each illustrating a pixel according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIGS. 10 and 11A to 11C are cross-sectional views illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, respectively.
  • FIG. 13 and 14 are cross-sectional views each illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 15A to 15I are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 17 and 18 are cross-sectional views each illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 22A to 22G are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 26A to 26C are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 27 is a cross-sectional view illustrating a pixel according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 30A and 30B are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 1A and 1B, 2A and 2B, and 3A and 3B are perspective and cross-sectional views, respectively, illustrating a light emitting device LD according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 1A to 3B illustrate a rod-shaped light emitting device LD having a circular column shape, but the type and/or shape of the light emitting device LD according to the present invention is not limited thereto.
  • a light emitting device LD includes a first conductivity type semiconductor layer 11 and a second conductivity type semiconductor layer 13, and the first and It includes an active layer 12 interposed between the second conductivity type semiconductor layers 11 and 13.
  • the light emitting device LD may include a first conductivity type semiconductor layer 11, an active layer 12, and a second conductivity type semiconductor layer 13 sequentially stacked along the length L direction.
  • the light emitting device LD may be provided in a bar shape extending along one direction.
  • the extending direction of the light emitting element LD is the length L direction
  • the light emitting element LD may have a first end EP1 and a second end EP2 along the length L direction.
  • one of the first and second conductivity type semiconductor layers 11 and 13 may be disposed on the first end EP1 of the light emitting device LD.
  • the other one of the first and second conductivity type semiconductor layers 11 and 13 may be disposed at the second end EP2 of the light emitting device LD.
  • the light-emitting device LD may be a rod-shaped light-emitting device (also referred to as a “bar-shaped light-emitting diode”) manufactured in a rod shape through an etching method or the like.
  • the term "rod-shaped” is a rod-like shape that is long in the length (L) direction (that is, an aspect ratio is greater than 1), such as a circular column or a polygonal column, or a bar-like shape. shape), and the shape of the cross-section is not particularly limited.
  • the length L of the light emitting element LD may be larger than the diameter D (or the width of the cross section).
  • the light emitting device LD may have a size as small as nanoscale to microscale.
  • the light emitting device LD may each have a diameter (D) (or width) and/or a length (L) in the nanoscale to microscale range.
  • D diameter
  • L length
  • the size of the light emitting device LD in the present invention is not limited thereto.
  • the size of the light-emitting element LD may be variously changed according to design conditions of various devices that use the light-emitting device using the light-emitting device LD as a light source, for example, a display device.
  • the first conductivity-type semiconductor layer 11 may include at least one N-type semiconductor layer, for example.
  • the first conductivity type semiconductor layer 11 includes any one of InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, and is doped with a first conductivity type dopant such as Si, Ge, Sn, etc. It may include an N-type semiconductor layer.
  • the material constituting the first conductivity type semiconductor layer 11 is not limited thereto, and the first conductivity type semiconductor layer 11 may be formed of various other materials.
  • the light-emitting element LD When a voltage equal to or greater than the threshold voltage is applied to both ends of the light emitting element LD, the electron-hole pairs are coupled in the active layer 12 to cause the light emitting element LD to emit light.
  • the light-emitting element LD can be used as a light source for various light-emitting devices including pixels of a display device.
  • the insulating film INF may include at least one insulating material of silicon dioxide (SiO 2 ), silicon nitride (Si 3 N 4 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), and titanium dioxide (TiO 2 ).
  • SiO 2 silicon dioxide
  • Si 3 N 4 silicon nitride
  • Al 2 O 3 aluminum oxide
  • TiO 2 titanium dioxide
  • the constituent material of the insulating film INF is not particularly limited, and the insulating film INF may be made of various currently known insulating materials.
  • the light emitting device LD further includes additional components in addition to the first conductivity type semiconductor layer 11, the active layer 12, the second conductivity type semiconductor layer 13 and/or the insulating film INF. can do.
  • the light emitting device LD may include at least one phosphor layer, an active layer, or a semiconductor disposed on one end of the first conductive type semiconductor layer 11, the active layer 12 and/or the second conductive type semiconductor layer 13 A layer and/or an electrode layer may be additionally included.
  • the light emitting device LD may further include at least one electrode layer 14 disposed on one end side of the second conductivity type semiconductor layer 13 as shown in FIGS. 2A and 2B.
  • the light emitting device LD may further include an electrode layer 14 positioned at the first end EP1.
  • the light emitting device LD may further include at least one other electrode layer 15 disposed at one end side of the first conductivity type semiconductor layer 11 as shown in FIGS. 3A and 3B. have.
  • the light emitting device LD may include electrode layers 14 and 15 positioned at the first and second end portions EP1 and EP2, respectively.
  • each of the electrode layers 14 and 15 may be an ohmic contact electrode, but is not limited thereto.
  • each of the electrode layers 14 and 15 may include a metal or a metal oxide.
  • each of the electrode layers 14 and 15 is chromium (Cr), titanium (Ti), aluminum (Al), gold (Au), nickel (Ni), oxides or alloys thereof, Indium Tin Oxide (ITO) , Indium Zinc Oxide (IZO), Zinc Oxide (ZnO), and transparent electrode materials such as Indium Tin Zinc Oxide (ITZO) may be formed alone or in combination.
  • the electrode layers 14 and 15 may be substantially transparent or translucent. Accordingly, light generated by the light emitting device LD may pass through the electrode layers 14 and 15 and be emitted to the outside of the light emitting device LD.
  • connection may mean a physical and/or electrical connection (or connection) generically.
  • this may mean a direct or indirect connection (or connection), and an integral or non-integral connection (or connection) generically.
  • the insulating film INF on the surface of the light-emitting element LD, surface defects of the light-emitting element LD can be minimized, thereby improving lifespan and efficiency.
  • the insulating film INF is formed on each light-emitting element LD, an undesired short circuit between the light-emitting elements LD is prevented even when a plurality of light-emitting elements LD are disposed in close contact with each other. It can be prevented from occurring.
  • the light emitting device LD may be manufactured through a surface treatment process. For example, when a plurality of light-emitting elements LD are mixed with a fluid solution (or a solvent) and supplied to each light-emitting area (for example, a light-emitting area of each pixel), the light-emitting elements LD Each light emitting device LD may be surface-treated so that it can be uniformly dispersed without uneven aggregation in the solution.
  • the insulating film INF itself may be formed as a hydrophobic film using a hydrophobic material, or a hydrophobic film made of a hydrophobic material may be additionally formed on the insulating film INF.
  • the hydrophobic material may be a material containing fluorine to exhibit hydrophobicity.
  • the hydrophobic material may be applied to the light emitting devices LD in the form of a self-assembled monolayer (SAM).
  • SAM self-assembled monolayer
  • the hydrophobic material may include octadecyl trichlorosilane, fluoroalkyl trichlorosilane, perfluoroalkyl triethoxysilane, or the like.
  • the hydrophobic material may be a commercially available fluorine-containing material such as Teflon TM or Cytop TM , or a material corresponding thereto.
  • the above-described light-emitting element LD may be used as a light source in various types of light-emitting devices including pixels of a display device.
  • at least one micro light emitting device LD in each pixel area of a display panel for configuring a screen of a display device for example, a plurality of micro light emitting devices LD each having a size of nanoscale to microscale Is disposed, and a light source (or light source unit) of each pixel may be configured by using the micro light emitting devices LD.
  • the field of application of the light emitting element LD is not limited to the display device.
  • the light-emitting element LD may also be used in other types of devices that require a light source, such as a lighting device.
  • FIGS. 4A and 4B are perspective and cross-sectional views illustrating a light emitting device LD according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIGS. 4A and 4B illustrate a light emitting device LD having a structure different from that of the light emitting devices LD shown in FIGS. 1A to 3B, for example, a core-shell structure. That is, the type, structure, and/or shape of the light emitting device LD according to the exemplary embodiment of the present invention may be variously changed.
  • components similar or identical to those of the embodiments of FIGS. 1A to 3B are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • a light emitting device LD includes a first conductivity type semiconductor layer 11 and a second conductivity type semiconductor layer 13, and the first and second It includes an active layer 12 interposed between the two-conductivity semiconductor layers 11 and 13.
  • the first conductivity type semiconductor layer 11 is disposed in the central region of the light emitting device LD, and the active layer 12 covers at least one region of the first conductivity type semiconductor layer 11. It may be disposed on the surface of the one-conductivity semiconductor layer 11.
  • the second conductivity type semiconductor layer 13 may be disposed on the surface of the active layer 12 to surround at least one area of the active layer 12.
  • the insulating film INF may be provided on the surface of the light emitting device LD to cover a portion of the outer peripheral surface of the first conductivity type semiconductor layer 11 and the outer peripheral surface of the electrode layer 14.
  • the insulating film INF may include a transparent insulating material.
  • the insulating film INF is first formed to cover the entire outer circumferential surface of the electrode layer 14 included in the light emitting device LD, and then, the insulating film INF is formed to cover the entire outer peripheral surface of the electrode layer 14 included in the light emitting element LD. It may be partially removed to expose a region of the electrode layer 14 for electrical connection.
  • the light emitting device LD may be a light emitting device having a core-shell structure (also referred to as "core-shell light emitting diode") manufactured through a growth method or the like.
  • the light-emitting device LD includes a first conductivity type semiconductor layer 11, an active layer 12, a second conductivity type semiconductor layer 13, an electrode layer 14, which are sequentially disposed in a direction from the center to the outside. It may have a core-shell structure including an insulating film INF. Meanwhile, according to an exemplary embodiment, the light emitting device LD may not include at least one of the electrode layer 14 and the insulating film INF.
  • the light emitting device LD may have a polygonal cone shape extending along any one direction.
  • at least one region of the light emitting device LD may have a hexagonal cone shape.
  • the shape of the light-emitting element LD may be variously changed according to exemplary embodiments.
  • the light emitting element LD may have a first end EP1 and a second end EP2 along the length L direction.
  • the first and second conductivity-type semiconductor layers 11 and 13 are provided at the first end EP1 of the light-emitting device LD. 13) one of the electrode layers surrounding any one) is disposed, and at the second end EP2 of the light emitting device LD, the remaining one of the first and second conductivity type semiconductor layers 11 and 13 (or , An electrode layer surrounding the other of the first and second conductivity type semiconductor layers 11 and 13) may be disposed.
  • the light emitting device LD has a core-shell structure in which the first end EP1 protrudes in the shape of a polygonal horn (for example, a shape of a hexagonal cone), and has a microminiature size.
  • the branches may be light emitting diodes.
  • the light-emitting device LD has a shape in which a hexagonal cone and a hexagonal column are combined, and has a size as small as nanoscale to microscale, for example, width (W) and/or length in the nanoscale or microscale range, respectively You can have (L).
  • the size and shape of the light-emitting element LD may be variously changed according to design conditions of various devices using the light-emitting element LD as a light source, for example, a display device.
  • both ends of the first conductivity-type semiconductor layer 11 may have a shape protruding along the length L direction of the light emitting element LD.
  • the protruding shapes of both ends of the first conductivity type semiconductor layer 11 may be different from each other.
  • one end disposed on the upper side of both ends of the first conductive semiconductor layer 11 may have a cone shape (for example, a hexagonal cone shape) in contact with one vertex while narrowing in width toward the top.
  • the other end disposed at the lower side of both ends of the first conductivity type semiconductor layer 11 may have a polygonal column shape (for example, a hexagonal column shape) having a predetermined width, but is not limited thereto.
  • the first conductivity type semiconductor layer 11 may have a cross-section such as a polygonal shape or a step shape whose width gradually narrows toward the bottom. Shapes of both ends of the first conductivity type semiconductor layer 11 may be variously changed according to exemplary embodiments.
  • the first conductivity-type semiconductor layer 11 may be located in a core, that is, a center (or a central region) of the light emitting device LD.
  • the light emitting device LD may be provided in a shape corresponding to the shape of the first conductivity type semiconductor layer 11.
  • the first conductive semiconductor layer 11 has a hexagonal cone shape at one end of the upper side
  • the light emitting element LD has a hexagonal cone shape at one end of the upper side (for example, the first end EP1).
  • the active layer 12 may be provided and/or formed to surround the outer peripheral surface of the first conductivity type semiconductor layer 11.
  • the active layer 12 has a shape surrounding the remaining area except for one end (eg, one end of the lower side) of the first conductivity type semiconductor layer 11 in the length L direction of the light emitting device LD It may be provided and/or formed as.
  • the light emitting device LD may further include an electrode layer 14 surrounding an outer peripheral surface of the second conductivity type semiconductor layer 13.
  • the electrode layer 14 may be an ohmic contact electrode electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer 13, but is not limited thereto.
  • each pixel includes at least one rod-shaped light emitting element LD or at least one core-shell structured light emitting element LD, or the rod-shaped light emitting element LD and the core-shell structure It may include a light emitting device (LD) of the complex. In another embodiment, each pixel may include other light emitting devices of a different type and/or shape than that of the rod-shaped light emitting device LD or the core-shell structured light emitting device LD.
  • LD light emitting device
  • FIG. 5 is a plan view illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • a display device in particular, a display panel ( PNL).
  • each pixel unit PXU of the display panel PNL and each pixel constituting the same may include a plurality of light emitting devices LD.
  • the present invention is not limited thereto.
  • at least one pixel may include a single light emitting device LD.
  • the structure of the display panel PNL is briefly illustrated with the display area DA as the center.
  • at least one driving circuit unit for example, at least one of a scan driver and a data driver
  • a plurality of wires may be further disposed on the display panel PNL.
  • the display panel PNL may include a base layer BSL and a plurality of pixels disposed on the base layer BSL.
  • the pixels may include first color pixels PXL1, second color pixels PXL2, and/or third color pixels PXL3.
  • first color pixels PXL1, the second color pixels PXL2, and the third color pixels PXL3 are arbitrarily referred to, or two or more types of pixels are collectively referred to, It will be referred to as "pixel (PXL)" or "pixels (PXL)".
  • the display panel PNL and the base layer BSL for forming the same may include a display area DA for displaying an image and a non-display area NDA excluding the display area DA. have.
  • pixels PXL may be disposed in the display area DA on the base layer BSL.
  • the display area DA may be disposed in a central area of the display panel PNL, and the non-display area NDA may be disposed in an edge area of the display panel PNL so as to surround the display area DA. have.
  • the positions of the display area DA and the non-display area NDA are not limited thereto, and their positions may be changed.
  • the display area DA may constitute a screen on which an image is displayed.
  • the base layer BSL may constitute a base member of the display panel PNL.
  • the base layer (BSL) may be a rigid or flexible substrate or film, and its material or physical properties are not particularly limited.
  • the base layer (BSL) may be a rigid substrate made of glass or tempered glass, a flexible substrate made of plastic or metal (or a thin film), or an insulating film of at least one layer, and its material and/or physical properties are particularly It is not limited.
  • the base layer BSL may be transparent, but is not limited thereto.
  • the base layer BSL may be a transparent, translucent, opaque, or reflective base member.
  • the base layer BSL may be defined as the display area DA so that the pixels PXL are disposed, and the other area may be defined as the non-display area NDA.
  • the base layer BSL includes a display area DA including a plurality of pixel areas in which each pixel PXL is formed, and a non-display area NDA disposed outside the display area DA.
  • Can include.
  • Various wires and/or built-in circuit units connected to the pixels PXL of the display area DA may be disposed in the non-display area NDA.
  • a plurality of pixels PXL may be distributed and disposed in the display area DA.
  • a plurality of pixels PXL may be regularly arranged according to a stripe or pentile arrangement structure.
  • the arrangement structure of the pixels PXL is not limited thereto, and the pixels PXL may be arranged in the display area DA in various structures and/or manners.
  • two or more types of pixels PXL emitting light of different colors may be disposed in the display area DA.
  • first color pixels PXL1 emitting light of a first color second color pixels PXL2 emitting light of a second color
  • light of a third color The third color pixels PXL3 emitting light may be regularly arranged.
  • the at least one first color pixel PXL1, the second color pixel PXL2, and the third color pixel PXL3 disposed to be adjacent to each other are one pixel unit PXU capable of emitting light of various colors. ) Can be configured.
  • each first color pixel PXL1 may be a red pixel emitting red light
  • each second color pixel PXL2 may be a green pixel emitting green light
  • the third color pixel PXL3 of may be a blue pixel that emits blue light.
  • the first color pixels PXL1, the second color pixels PXL2, and the third color pixels PXL3 are each of a first color light emitting device, a second color light emitting device, and a third color pixel.
  • each pixel unit PXU the color, type, and/or number of pixels PXL constituting each pixel unit PXU are not particularly limited, and as an example, the color of light emitted by each pixel PXL may vary. can be changed.
  • micro-core for example, at least one micro-core having a size as small as nanoscale to microscale. It may include a light emitting device (LD) having a shell structure. In addition, various types of light emitting devices LD may be used as a light source of the pixel PXL.
  • LD light emitting device
  • FIGS. 6A to 6E are circuit diagrams each illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIGS. 6A to 6E illustrate different embodiments of a pixel PXL that can be applied to an active display device.
  • the types of the pixel PXL and the display device to which the exemplary embodiment of the present invention can be applied are not limited thereto.
  • the light source unit LSU includes a first electrode ELT1 (also referred to as a “first pixel electrode” or “first alignment electrode”), a second electrode ELT2 (“second pixel electrode” or “second alignment electrode”). "), and at least one light emitting device LD connected between the first and second electrodes ELT1 and ELT2, for example, a plurality of light emitting devices LD.
  • the first electrode ELT1 is connected to the first power VDD through the pixel circuit PXC and the first power line PL1
  • the second electrode ELT2 is connected to the second power line. It may be connected to the second power source VSS through PL2).
  • one end (for example, a P-type end) of the light-emitting elements LD constituting each light source unit LSU is an electrode (for example, each pixel PXL) of the light source unit LSU. It is commonly connected to the pixel circuit PXC through the first electrode ELT1 of, and may be connected to the first power VDD through the pixel circuit PXC and the first power line PL1.
  • the other end (for example, the N-type end) of the light-emitting elements LD is the other electrode of the light source unit LSU (for example, the second electrode ELT2 of each pixel PXL) and a second power supply. It may be commonly connected to the second power source VSS through the line PL2.
  • the pixel circuit PXC may be connected to the scan line Si and the data line Dj of the pixel PXL.
  • the pixel circuit PXC of the pixel PXL is the display area It may be connected to the i-th scanning line Si and the j-th data line Dj of (DA).
  • the pixel circuit PXC may include first and second transistors T1 and T2 and a storage capacitor Cst.
  • the first transistor T1 (also referred to as a “driving transistor”) is connected between the first power source VDD and the light source unit LSU.
  • the gate electrode of the first transistor T1 is connected to the first node N1.
  • the first transistor T1 controls the driving current supplied to the light source unit LSU in response to the voltage of the first node N1.
  • the second transistor T2 (also referred to as a "switching transistor") is connected between the data line Dj and the first node N1. Further, the gate electrode of the second transistor T2 is connected to the scanning line Si. The second transistor T2 is turned on when a scan signal having a gate-on voltage (for example, a low level voltage) is supplied from the scan line Si, and thus the data line Dj and the first node N1 are turned on. Connect electrically.
  • a gate-on voltage for example, a low level voltage
  • One electrode of the storage capacitor Cst is connected to the first power source VDD, and the other electrode is connected to the first node N1.
  • the storage capacitor Cst charges a voltage corresponding to the data signal supplied to the first node N1 during each frame period.
  • transistors included in the pixel circuit PXC for example, the first and second transistors T1 and T2 are all illustrated as P-type transistors, but the present invention is not limited thereto. That is, at least one of the first and second transistors T1 and T2 may be changed to an N-type transistor.
  • the interconnection positions of the pixel circuit PXC and the light source unit LSU may be changed.
  • the pixel circuit PXC is a light source unit LSU.
  • the second power supply VSS, and the storage capacitor Cst may be connected between the first node N1 and the second power supply VSS.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the pixel PXL illustrated in FIG. 6B has a configuration and a configuration of the pixel PXL, except that the voltage level of some circuit elements and control signals (for example, a scan signal and a data signal) is changed according to the type of transistors.
  • the operation is substantially similar to the pixel PXL of FIG. 6A. Accordingly, a detailed description of the pixel PXL of FIG. 6B will be omitted.
  • the pixel circuit PXC may be further connected to at least one other scan line (or control line) in addition to the scan line Si of the corresponding horizontal line.
  • the pixel circuit PXC of the pixel PXL arranged in the i-th row of the display area DA is on the i-1th scan line Si-1 and/or the i+1th scan line Si+1. More can be connected.
  • the pixel circuit PXC may be further connected to a third other power source in addition to the first and second power sources VDD and VSS.
  • the pixel circuit PXC may also be connected to the initialization power supply Vint.
  • the pixel circuit PXC may include first to seventh transistors T1 to T7 and a storage capacitor Cst.
  • the third transistor T3 is connected between the other electrode of the first transistor T1 and the first node N1.
  • the gate electrode of the third transistor T3 is connected to the corresponding scan line Si.
  • the third transistor T3 is turned on when a scan signal having a gate-on voltage is supplied from the scan line Si to connect the first transistor T1 in a diode shape.
  • the fourth transistor T4 is connected between the first node N1 and the initialization power supply Vint.
  • the gate electrode of the fourth transistor T4 is connected to the previous scan line, for example, the i-1th scan line Si-1.
  • the fourth transistor T4 is turned on when a scan signal of the gate-on voltage is supplied to the i-1th scan line Si-1 to convert the voltage of the initialization power Vint to the first node N1. Deliver.
  • a voltage of the initialization power Vint for initializing the gate voltage of the first transistor T1 may be less than or equal to the lowest voltage of the data signal.
  • the sixth transistor T6 is connected between the first transistor T1 and the light source unit LSU.
  • the gate electrode of the sixth transistor T6 is connected to the corresponding emission control line, for example, the i-th emission control line Ei.
  • the sixth transistor T6 is turned off when the light emission control signal of the gate-off voltage is supplied to the light emission control line Ei, and is turned on in other cases.
  • the seventh transistor T7 is connected between one electrode (eg, the first electrode ELT1) of the light source unit LSU and the initialization power supply Vint.
  • the gate electrode of the seventh transistor T7 is connected to one of the scan lines of the next stage (next horizontal pixel column), for example, to the i+1th scan line Si+1.
  • the seventh transistor T7 is turned on when the scan signal of the gate-on voltage is supplied to the i+1th scan line Si+1, and the voltage of the initialization power Vint is applied to the light source unit LSU. It is supplied to the electrode. Accordingly, during each initialization period in which the voltage of the initialization power Vint is transmitted to the light source unit LSU, the voltage of one electrode of the light source unit LSU is initialized.
  • the storage capacitor Cst is connected between the first power VDD and the first node N1.
  • the storage capacitor Cst stores a data signal supplied to the first node N1 and a voltage corresponding to the threshold voltage of the first transistor T1 in each frame period.
  • transistors included in the pixel circuit PXC for example, the first to seventh transistors T1 to T7 are all illustrated as P-type transistors, but the present invention is not limited thereto.
  • at least one of the first to seventh transistors T1 to T7 may be changed to an N-type transistor.
  • each light source unit LSU that is, an embodiment in which all light emitting elements LD in the forward direction are connected in parallel
  • the present invention is not limited thereto. Does not.
  • the light source unit LSU of each pixel PXL may be configured to include a series connection structure.
  • FIGS. 6D and 6E a detailed description of a configuration similar to or identical to the embodiments of FIGS. 6A to 6C (for example, the pixel circuit PXC) will be omitted.
  • the light source unit LSU may include at least two light emitting elements connected in series with each other.
  • the light source unit LSU is connected in series in a forward direction between a first power source VDD and a second power source VSS to configure each effective light source.
  • a light emitting device LDs2 and a third stage light emitting device LDs3 may be included.
  • first stage light emitting device LDs1 first stage light emitting device
  • second stage light emitting device second
  • LDs3 third-stage light-emitting device
  • At least one of the first-stage, second-stage, and third-stage light-emitting elements LDs1, LDs2, and LDs3 may be arbitrarily referred to, or the first, second, and third-stage light-emitting elements ( When referring to LDs1, LDs2, LDs3) generically, it will be referred to as “light emitting device (LD)” or “light emitting device (LD)”.
  • LD light emitting device
  • LD light emitting device
  • the P-type end of the first stage light emitting device LDs1 is connected to the first power VDD through the first electrode ELT1, the pixel circuit PXC, and/or the first power line PL1 of the light source unit LSU.
  • the N-type end of the first-stage light-emitting device LDs1 may be connected to the P-type end of the second-stage light-emitting device LDs2 through a first intermediate electrode IET1.
  • the P-type end of the second-stage light-emitting device LDs2 is connected to the N-type end of the first-stage light-emitting device LDs1, and the N-type end of the second-stage light-emitting device LDs2 is a second intermediate electrode IET2.
  • the P-type end of the third stage light emitting element LDs3 is connected to the N-type end of the second stage light emitting element LDs2, and the N-type end of the third stage light emitting element LDs3 is the first light source unit LSU. It may be connected to the second power VSS through the second electrode ELT2 and the second power line PL2.
  • the first, second, and third stage light-emitting elements LDs1, LDs2, and LDs3 are between the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2 of the light source unit LSU. It can be connected in series in sequence.
  • FIG. 6D an exemplary embodiment in which the light emitting devices LD are connected in a three-stage serial structure is illustrated, but the present invention is not limited thereto.
  • two light-emitting elements LD may be connected in a two-stage series structure, or four or more light-emitting elements LD may be connected in a series structure of four or more stages.
  • the voltage applied between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 increases compared to the light source unit LSU having a structure in which the light emitting elements LD are connected in parallel, and the light source unit LSU
  • the magnitude of the driving current flowing through the flow can be reduced. Therefore, when the light source unit LSU of each pixel PXL is configured by applying the serial connection structure of the light emitting elements LD, the panel current flowing through the display panel PNL can be reduced by driving the display device. have.
  • At least one serial end may include a plurality of light emitting devices LD connected in parallel with each other.
  • the light source unit LSU may be configured in a series/parallel mixed structure.
  • the light source unit LSU may be configured as in the embodiment of FIG. 6E.
  • the light source unit LSU may include a plurality of light emitting elements LD connected in parallel in a forward direction.
  • the light source unit LSU includes a plurality of first-stage light-emitting elements LDs1 disposed in a first series (also referred to as “first stage” or “first row”), and a first series stage A plurality of second-stage light-emitting elements LDs2 disposed in a second series end (also referred to as “second stage” or “second row”) following the second series stage, and a third series stage following the second series stage ( It may include at least one third-stage light-emitting element LDs3 (also referred to as “third stage” or “third row”).
  • a light source unit LSU composed of light-emitting elements LD disposed at three serial stages is illustrated, but the present invention is not limited thereto.
  • the light source unit LSU includes a plurality of light-emitting elements LD disposed at only two serial stages, or a plurality of light-emitting elements LD distributed over four or more series stages. It can also be included.
  • the number of the light emitting elements LD connected to each serial terminal in the forward direction may be one or more, and this may be variously changed.
  • the pixels PXL disposed in the display area (DA of FIG. 5) may include the same or similar number of light emitting devices LD.
  • the light emitting elements LD are In addition to controlling so that the included light-emitting element ink (or "light-emitting element solution") is uniformly applied to the light-emitting area of each pixel PXL, the electric field is applied in a uniform condition in each pixel PXL.
  • the light-emitting elements LD may be aligned. Accordingly, the pixels PXL may be formed such that the pixels PXL include the same or similar number of light emitting devices LD, thereby uniformizing the light emission characteristics of the pixels PXL.
  • each pixel PXL may further include at least one reverse light emitting device LDrv disposed at at least one serial terminal.
  • at least one of the plurality of serial terminals may further include at least one reverse light emitting element LDrv connected in a direction opposite to the light emitting elements LD.
  • the reverse light emitting element LDrv is connected to at least one serial terminal, at least one effective light source (for example, the first stage, the second stage and/or the third stage light-emitting elements) connected in the forward direction to the serial terminal
  • the driving current of the pixel PXL can flow sequentially through each serial terminal. Accordingly, the light source unit LSU emits light with a luminance corresponding to the driving current.
  • each light source unit LSU includes a plurality of light-emitting elements that are connected in a forward direction between the first power source VDD and the second power source VSS to form each effective light source. (LD) may be included.
  • the connection structure between the light emitting devices LD may be variously changed according to exemplary embodiments.
  • the light-emitting elements LD may be connected only in series or parallel to each other, or may be connected in a series/parallel mixed structure.
  • the pixel PXL may include the pixel circuit PXC and/or the light source unit LSU having various structures.
  • the structure of the pixel PXL applicable to the present invention is not limited to the exemplary embodiments illustrated in FIGS. 6A to 6E, and each pixel PXL may have various currently known structures.
  • the pixel circuit PXC included in each pixel PXL may be configured with pixel circuits of various structures and/or driving methods that are currently known.
  • each pixel PXL may be configured inside a passive light emitting display device or the like. In this case, the pixel circuit PXC is omitted, and the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be directly connected to the scanning line Si, the data line Dj, the power line, and/or the control line, respectively. have.
  • FIG. 7 is a plan view illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • a structure of the pixel PXL is shown centering on the light source unit LSU of the pixel PXL.
  • circuit elements eg, a plurality of circuit elements constituting each pixel circuit PXC to which each pixel PXL is connected to the light source unit LSU are selectively further selected.
  • the pixel PXL illustrated in FIG. 7 may be any one of the pixels PXL illustrated in FIGS. 5 to 6E, but is not limited thereto.
  • each pixel PXL illustrated in FIG. 7 may be a pixel PXL including a light source unit LSU having a parallel structure as in the embodiments of FIGS. 6A to 6C.
  • the present invention is not limited thereto.
  • a light source unit having a serial/parallel mixture structure ( LSU) can also be configured.
  • at least one pixel PXL disposed in the display area DA is only a single light emitting element LD connected in the forward direction between the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2. It can also be included.
  • each light source unit LSU is provided with a predetermined power line (for example, the first and/or second power lines PL1, through the first and second contact holes CH1 and CH2).
  • PL2 a predetermined power line
  • a circuit element for example, at least one circuit element constituting a pixel circuit PXC
  • a signal line for example, a scanning line (Si) and/or a data line (Dj)
  • the present invention is not limited thereto.
  • at least one of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of each pixel PXL is provided with a predetermined power line without passing through a contact hole and/or an intermediate wiring. And/or may be directly connected to the signal line.
  • a pixel PXL includes a first electrode ELT1 and a second electrode ELT2 disposed in each light emitting area EMA, and the At least one light-emitting element LD arranged between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 (for example, a plurality of light-emitting elements LD are connected in parallel between the first and second electrodes ELT1 and ELT2). Light-emitting elements LD) may be included.
  • the pixel PXL includes a first electrode wiring ELI1 connecting the first electrode ELT1 to the first power line PL1 (also referred to as “first connection electrode” or “first alignment wiring”), and A second electrode wiring ELI2 connecting the first contact hole CH1 and the second electrode ELT2 to the second power line PL2 (also referred to as “second connection electrode” or “second alignment wiring”), and The second contact hole CH2, the first and second barrier ribs PW1 and PW2 overlapping the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2, respectively, and the light emitting elements LD are formed in the first and second.
  • One may be optionally further included.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2, the first and second electrodes ELT1 and ELT2, the light emitting elements LD, and/or the first and second contact electrodes CNE1 , CNE2) and the like may constitute the light source unit LSU of the pixel PXL according to an embodiment of the present invention.
  • each pixel area includes a pixel circuit area in which circuit elements for configuring the pixel PXL are disposed, and a light emitting area EMA in which the light source unit LSU of the pixel PXL is disposed. It can mean comprehensively.
  • the light emitting area EMA is an effective light source completely connected between the light emitting elements LD (especially, the first and second electrodes ELT1 and ELT2) constituting the light source unit LSU of each pixel PXL. S) may be disposed.
  • predetermined electrodes for example, first and second electrodes ELT1 and ELT2 and/or first and second contact electrodes connected to the light emitting elements LD (CNE1, CNE2)) or a region of the electrodes may be disposed.
  • the light-emitting area EMA is a bank of light-shielding and/or reflective properties formed between the pixels PXL to define each pixel area and the light-emitting area EMA therein (also referred to as a "pixel defining layer". ) Can be surrounded by.
  • a bank surrounding the light-emitting area EMA may be disposed around the light-emitting area EMA.
  • first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be disposed to be spaced apart from each other.
  • first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be spaced apart from each other by a predetermined interval along the first direction DR1 in each light emitting area EMA and disposed side by side.
  • the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may have a bar shape extending along one direction.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may have a bar shape extending along a second direction DR2 that intersects (for example, orthogonal to) the first direction DR1. have.
  • the present invention is not limited thereto, and the shape, arrangement direction, and/or mutual arrangement relationship of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be variously changed.
  • first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be disposed in each light emitting area EMA, and the first and second electrodes ELT1 disposed in the light emitting area EMA.
  • ELT2 is not particularly limited.
  • a plurality of first electrodes ELT1 extending along the second direction DR2 and parallel to each other may be disposed in each light emitting region EMA.
  • at least one second electrode ELT2 facing each first electrode ELT1 may be disposed in each light emitting area EMA.
  • one second electrode ELT2 is disposed between two first electrodes ELT1, or corresponds to each of the plurality of first electrodes ELT1.
  • a plurality of second electrodes ELT2 may be disposed.
  • the first electrode ELT1 includes at least one circuit element constituting the pixel circuit PXC through the first electrode wiring ELI1 and/or the first contact hole CH1.
  • a transistor for example, a first power line PL1
  • a signal line eg, a scanning line Si, a data line Dj, or a predetermined control line.
  • the first electrode ELT1 is electrically connected to a predetermined circuit element disposed under the first electrode line ELI1 and the first contact hole CH1, and is formed through the circuit element. 1 Can be electrically connected to the wiring.
  • the first wiring may be a first power line PL1 for supplying the first power VDD, but is not limited thereto.
  • the first wiring may be a signal line to which a predetermined first driving signal (eg, a scan signal, a data signal, or a predetermined control signal) is supplied.
  • the first electrode ELT1 may be directly connected to a predetermined power line or signal line without passing through the first electrode wiring ELI1, the first contact hole CH1, and/or a circuit element.
  • the first electrode ELT1 may be integrally or non-integrally connected to the predetermined power line or signal line.
  • the first electrode ELT1 and the first electrode wiring ELI1 may extend along different directions in each pixel area.
  • the first electrode wiring ELI1 extends along the first direction DR1
  • the first electrode ELT1 is formed along the second direction DR2 crossing the first direction DR1. Can be extended.
  • the first electrode ELT1 and the first electrode wiring ELI1 may be integrally connected to each other.
  • the first electrode ELT1 may be formed by branching to at least one branch from the first electrode wiring ELI1.
  • the first electrode wiring ELI1 may be regarded as a region of the first electrode ELT1.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the first electrode ELT1 and the first electrode wiring ELI1 may be separately formed and may be connected to each other through at least one contact hole or via hole.
  • the second electrode ELT2 includes at least one circuit element (for example, at least one of the pixel circuits PXC) through the second electrode line ELI2 and/or the second contact hole CH2.
  • a transistor for example, a power line (for example, a second power line PL2), and/or a signal line (for example, a scan line Si, a data line Dj, or a predetermined control line).
  • the second electrode ELT2 may be electrically connected to a second wire disposed under the second electrode wire ELI2 and the second contact hole CH2.
  • the second wiring may be a second power line PL2 for supplying the second power VSS, but is not limited thereto.
  • the second wiring may be a signal line to which a predetermined second driving signal (eg, a scan signal, a data signal, or a predetermined control signal) is supplied.
  • the second electrode ELT2 may be directly connected to a predetermined power line or signal line without passing through the second electrode line ELI2 and/or the second contact hole CH2.
  • the second electrode ELT2 may be integrally or non-integrally connected to the predetermined power line or signal line.
  • the second electrode ELT2 and the second electrode wiring ELI2 may extend along different directions.
  • the second electrode wiring ELI2 extends along the first direction DR1
  • the second electrode ELT2 is formed along the second direction DR2 crossing the first direction DR1. Can be extended.
  • the second electrode ELT2 and the second electrode wiring ELI2 may be integrally connected to each other.
  • the second electrode ELT2 may be formed by branching to at least one branch from the second electrode wiring ELI2.
  • the second electrode wiring ELI2 may be regarded as a region of the second electrode ELT2.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the second electrode ELT2 and the second electrode wiring ELI2 may be separately formed and may be connected to each other through at least one contact hole or via hole.
  • first electrodes ELT1 of the pixels PXL disposed in the display area DA are connected to each other.
  • Second electrodes ELT2 of the pixels PXL may be connected to each other.
  • These first and second electrodes ELT1 and ELT2 are respectively a first alignment signal (or, a first alignment voltage) and a second alignment signal (or, a second alignment voltage) in the alignment step of the light-emitting elements LD Can be supplied.
  • one of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 is supplied with an AC alignment signal, and the other one of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 has a constant voltage level.
  • An alignment voltage (for example, a ground voltage) may be supplied.
  • a predetermined alignment signal is applied to the first and second electrodes ELT1 and ELT2, and accordingly, between the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • An electric field may be formed in By this electric field, the light emitting elements LD supplied to each pixel area, especially the light emitting area EMA of each pixel PXL, can self-align between the first and second electrodes ELT1 and ELT2. have.
  • the connection between the first electrodes ELT1 and/or the connection between the second electrodes ELT2 between the pixels PXL is disconnected.
  • the pixels PXL may be formed in a form in which individual driving is possible.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be configured as a single layer or multiple layers.
  • each of the first electrodes ELT1 may include at least one reflective electrode layer, and may optionally further include at least one transparent electrode layer and/or a conductive capping layer.
  • each second electrode ELT2 includes at least one reflective electrode layer, and may optionally further include at least one transparent electrode layer and/or a conductive capping layer.
  • the first barrier rib PW1 may be disposed under the first electrode ELT1 to overlap each of the first electrodes ELT1.
  • the first partition wall PW1 may be disposed under the first electrode ELT1 while having a narrower width than each of the first electrodes ELT1.
  • the first electrode ELT1 may protrude upward in a region where the first barrier ribs PW1 are disposed.
  • the first partition wall PW1 may form a reflective partition wall together with the first electrode ELT1. Accordingly, the light emitted from the first ends EP1 of the light emitting elements LD facing the first electrode ELT1 may be controlled to be directed toward the front of the display device.
  • the second partition wall PW2 may be disposed under the second electrode ELT2 to overlap a region of the second electrode ELT2.
  • the second partition wall PW2 may have a width narrower than that of the second electrode ELT2 and may be disposed under the second electrode ELT2.
  • the second electrode ELT2 may protrude upward in the region where the second partition wall PW2 is disposed.
  • the second partition wall PW2 may form a reflective partition wall together with the second electrode ELT2. Accordingly, the light emitted from the second ends EP2 of the light emitting elements LD facing the second electrode ELT2 may be controlled to be directed toward the front of the display device.
  • the light emitting elements LD may be connected in parallel between the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2.
  • each light emitting element LD is disposed in a first direction DR1 (for example, a horizontal direction) between the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2, and the first and second electrodes It may be electrically connected between the electrodes ELT1 and ELT2.
  • the light emitting elements LD are uniformly arranged in any one direction, for example, the first direction DR1, but the present invention is not limited thereto.
  • at least one of the light emitting elements LD may be arranged in an oblique direction between the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • at least one light-emitting element ie, not fully connected between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 in each light-emitting region EMA and/or a peripheral region thereof An ineffective light source
  • each light-emitting device LD may be a light-emitting device that uses a material having an inorganic crystal structure and has a small size, such as nanoscale to microscale.
  • each light-emitting device LD may be a microscopic light-emitting device having a size ranging from nanoscale to microscale, as shown in FIGS. 1A to 4B.
  • the type and/or size of the light-emitting element LD may be variously changed according to each light-emitting device using the light-emitting element LD as a light source, for example, a design condition of the pixel PXL.
  • each of the light emitting elements LD includes a first end EP1 disposed toward the adjacent first electrode ELT1 and a second end EP2 disposed toward the adjacent second electrode ELT2. It may include. In one embodiment, each light emitting element LD overlaps with the adjacent first electrode ELT1 and/or second electrode ELT2, or the first electrode ELT1 and/or second electrode ELT2 And may not overlap. For example, the first end EP1 of the light emitting device LD may or may not overlap the adjacent first electrode ELT1. Similarly, the second end EP2 of the light emitting device LD may or may not overlap the adjacent second electrode ELT2.
  • the first end EP1 of each of the light emitting devices LD is connected to the first electrode ELT1
  • the second end EP2 of each of the light emitting devices LD is a second electrode ( ELT2) can be connected.
  • the first end EP1 of each of the light-emitting elements LD is electrically connected to the first electrode ELT1 via the first contact electrode CNE1
  • each of the light-emitting elements LD The second end EP2 may be electrically connected to the second electrode ELT2 via the second contact electrode CNE2.
  • At least one of the first and second ends EP1 and EP2 of each of the light-emitting elements LD is in direct contact with the first and/or second electrodes ELT1 and ELT2, It may be electrically connected to the first and/or second electrodes ELT1 and ELT2.
  • the first contact electrode CNE1 and/or the second contact electrode CNE2 may be selectively omitted.
  • the light-emitting elements LD are prepared in a form dispersed in a predetermined solution, and light emission of each pixel area (especially, each pixel PXL) through various methods including an inkjet method or a slit coating method. Area (EMA)).
  • the light-emitting elements LD may be mixed with a volatile solvent and supplied to the light-emitting region EMA of each pixel PXL.
  • the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of the pixels PXL when a predetermined alignment voltage (or alignment signal) is applied to the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of the pixels PXL, the first and second electrodes ELT1 and ELT2 are As an electric field is formed therebetween, the light emitting elements LD are aligned between the first and second electrodes ELT1 and ELT2. After the light-emitting elements LD are aligned, the solvent is volatilized or removed in another way to stably arrange the light-emitting elements LD between the first and second electrodes ELT1 and ELT2. have.
  • a predetermined alignment voltage or alignment signal
  • a first contact electrode CNE1 and a second contact electrode CNE2 may be formed on both ends of the light emitting devices LD, for example, on the first and second ends EP1 and EP2, respectively. Accordingly, the light emitting devices LD may be more stably connected between the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • the first contact electrode CNE1 includes the first electrode ELT1 and the light-emitting elements so that they overlap with the first electrode ELT1 and first ends EP1 of the light-emitting elements LD adjacent thereto. It may be disposed on the first ends EP1 of LD).
  • the first contact electrode CNE1 may electrically connect the first electrode ELT1 and the first ends EP1 of the light emitting devices LD.
  • the first contact electrode CNE1 stably fixes the first ends EP1 of the light-emitting elements LD, thereby preventing the light-emitting elements LD from being separated from the aligned positions.
  • the first ends EP1 of the light emitting elements LD are disposed to overlap the first electrode ELT1 adjacent thereto, It may be directly connected to the first electrode ELT1.
  • the second contact electrode CNE2 includes the second electrode ELT2 and the light-emitting elements so that they overlap with the second electrodes ELT2 and second ends EP2 of the light-emitting elements LD adjacent thereto. It may be disposed on the second ends EP2 of LD).
  • the second contact electrode CNE2 may electrically connect the second electrode ELT2 and the second ends EP2 of the light emitting devices LD.
  • the second contact electrode CNE2 stably fixes the second ends EP2 of the light-emitting elements LD, thereby preventing the light-emitting elements LD from being separated from the aligned positions.
  • the second ends EP2 of the light emitting elements LD are disposed to overlap the second electrode ELT2 adjacent to the second contact electrode CNE2. It may be directly connected to the second electrode ELT2.
  • Each light emitting element LD connected in the forward direction between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may constitute an effective light source of the corresponding pixel PXL.
  • these effective light sources may be gathered to form the light source unit LSU of the pixel PXL.
  • first power is supplied to the first ends EP1 of the light emitting elements LD via the first power line PL1, the first electrode ELT1, and/or the first contact electrode CNE1.
  • VDD voltage
  • a predetermined first control signal including a scan signal or a data signal is applied, the second power line PL2, the second electrode ELT2, and/or the second contact electrode CNE2, etc.
  • VSS voltage
  • a second power VSS or a predetermined second control signal including a scan signal or a data signal
  • At least one light emitting element LD connected in the forward direction between the two electrodes ELT1 and ELT2 emits light. Accordingly, the pixel PXL can emit light.
  • FIGS. 8A, 8B, and 9 are cross-sectional views each illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIGS. 8A and 8B show different embodiments of a cross-section corresponding to line I to I'of FIG. 7, and
  • FIG. 9 is an example of a cross-section corresponding to line II to II of FIG. Show.
  • FIGS. 8A and 8B illustrate a transistor T among circuit elements constituting the pixel circuit PXC
  • FIG. 9 shows a first among circuit elements constituting the pixel circuit PXC.
  • a transistor connected to the first electrode ELT1 for example, the first transistor T1 and the storage capacitor Cst of FIGS. 6A and 6B will be illustrated.
  • the first transistor T1 will also be collectively referred to as “transistor T”.
  • the transistors T constituting each of the pixel circuits PXC may have substantially the same or similar structures, but are not limited thereto. Further, the structures and/or locations of the transistors T and the storage capacitor Cst are not limited to the embodiments illustrated in FIGS. 8A to 9, and may be variously changed according to the embodiments.
  • a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention is disposed on one surface of a base layer BSL and includes a plurality of light emitting elements LD. Includes.
  • the pixel PXL may selectively further include a pixel circuit layer PCL disposed between the base layer BSL and the display device layer DPL.
  • the pixel circuit layer PCL may include at least one circuit element constituting each pixel circuit PXC.
  • the pixel circuit layer PCL includes a plurality of transistors T and a storage capacitor Cst for configuring the pixel circuit PXC, and in addition, the pixel circuit PXC and/or the light source unit ( LSU) may further include at least one power line and/or a signal line connected to it.
  • the pixel circuit PXC is omitted, and the light source unit LSU of each pixel PXL is directly connected to the first and second power lines PL1 and PL2 (or predetermined signal lines), The pixel circuit layer PCL may be omitted.
  • the pixel circuit layer PCL may include a plurality of insulating layers disposed between respective electrodes and/or wires.
  • the pixel circuit layer PCL includes a buffer layer BFL, a gate insulating layer GI, an interlayer insulating layer ILD, and a passivation layer PSV sequentially stacked on one surface of the base layer BSL.
  • the pixel circuit layer PCL may selectively further include at least one light blocking pattern (not shown) disposed under at least some of the transistors T.
  • Each transistor T includes a semiconductor layer SCL, a gate electrode GE, and first and second transistor electrodes TE1 and TE2.
  • each transistor T includes first and second transistor electrodes TE1 and TE2 formed separately from the semiconductor layer SCL.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the first and/or second transistor electrodes TE1 and TE2 provided in at least one transistor T disposed in each pixel region are each semiconductor layer SCL ) And may be integrated.
  • the semiconductor layer SCL may be disposed on the buffer layer BFL.
  • the semiconductor layer SCL may be disposed between the base layer BSL on which the buffer layer BFL is formed and the gate insulating layer GI.
  • the semiconductor layer SCL includes a first region in contact with each first transistor electrode TE1, a second region in contact with each second transistor electrode TE2, and between the first and second regions. It may include a channel region located at. According to an embodiment, one of the first and second regions may be a source region and the other may be a drain region.
  • the semiconductor layer SCL may be a semiconductor pattern made of polysilicon, amorphous silicon, or oxide semiconductor.
  • the channel region of the semiconductor layer SCL may be an intrinsic semiconductor as a semiconductor pattern that is not doped with impurities, and the first and second regions of the semiconductor layer SCL may each be a semiconductor pattern doped with a predetermined impurity. have.
  • the gate electrode GE may be disposed on the semiconductor layer SCL with the gate insulating layer GI interposed therebetween.
  • the gate electrode GE may be disposed between the gate insulating layer GI and the interlayer insulating layer ILD to overlap a region of the semiconductor layer SCL.
  • the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 may be disposed on each semiconductor layer SCL and the gate electrode GE with at least one interlayer insulating layer ILD interposed therebetween. .
  • the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 may be disposed between the interlayer insulating layer ILD and the passivation layer PSV.
  • These first and second transistor electrodes TE1 and TE2 may be electrically connected to respective semiconductor layers SCL.
  • the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 are formed of the first and second semiconductor layers SCL through respective contact holes penetrating through the gate insulating layer GI and the interlayer insulating layer ILD. And may be connected to the second regions.
  • one of the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 may be a source electrode, and the other may be a drain electrode.
  • At least one transistor T provided in the pixel circuit PXC may be connected to one electrode of the light source unit LSU.
  • one of the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 of the first transistor T1 illustrated in FIGS. 6A and 6B is a first contact hole CH1 penetrating the passivation layer PSV.
  • the first electrode ELT1 and/or the first electrode wiring ELI1 of the light source unit LSU disposed on the passivation layer PSV may be electrically connected.
  • the storage capacitor Cst includes a first capacitor electrode CE1 and a second capacitor electrode CE2 overlapping each other.
  • each of the first and second capacitor electrodes CE1 and CE2 may be configured as a single layer or multiple layers. Further, at least one of the first and second capacitor electrodes CE1 and CE2 may be disposed on the same layer as at least one electrode or the semiconductor layer SCL constituting the first transistor T1.
  • the first capacitor electrode CE1 includes a lower electrode LE disposed on the same layer as the semiconductor layer SCL of the first transistor T1, and the first and first capacitors of the first transistor T1.
  • the two transistor electrodes TE1 and TE2 are disposed on the same layer and may be configured as a multi-layered electrode including an upper electrode UE electrically connected to the lower electrode LE.
  • the second capacitor electrode CE2 is disposed on the same layer as the gate electrode of the first transistor T1, and is a single layer disposed between the lower electrode LE and the upper electrode of the first capacitor electrode CE1. It can be composed of electrodes.
  • first and second capacitor electrodes CE1 and CE2 may be variously changed.
  • one of the first and second capacitor electrodes CE1 and CE2 is electrodes constituting the first transistor T1 (for example, the gate electrode GE, and the first
  • the first and second transistor electrodes TE1 and TE2 and the semiconductor layer SCL may include at least one conductive pattern disposed on a different layer.
  • At least one signal line and/or power line connected to each pixel PXL may be disposed on the same layer as one electrode of circuit elements constituting the pixel circuit PXC.
  • the scan line Si of each pixel PXL is disposed on the same layer as the gate electrodes GE of the transistors T
  • the data line Dj of each pixel PXL is the transistors T
  • the first and/or second power lines PL1 and PL2 are disposed on the same layer as the gate electrodes GE of the transistors T or the first and second transistor electrodes TE1 and TE2. Can be.
  • the second power line PL2 for supplying the second power VSS is disposed on the same layer as the gate electrodes GE of the transistors T, so that the first and second power lines of the transistors T Through the bridge pattern BRP disposed on the same layer as the second transistor electrodes TE1 and TE2, and the second contact hole CH2 penetrating the passivation layer PSV, the passivation layer PSV is It may be electrically connected to the second electrode ELT2 and/or the second electrode wiring ELI2 of the arranged light source unit LSU.
  • the structure and/or location of the second power line PL2 and the like may be variously changed.
  • the display device layer DPL may include a light source unit LSU of each of the pixels PXL.
  • the display element layer DPL includes at least one pair of first electrodes ELT1 and second electrodes ELT2 disposed in the light emitting area EMA of each pixel PXL, and the first and second electrodes. 2 It includes at least one light emitting element LD electrically connected between the electrodes ELT1 and EPT2, and may further include at least one conductive layer and/or an insulating layer.
  • each pixel PXL is a plurality of light emitting elements LD connected in a forward direction between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 as in the embodiments of FIGS. 6A to 7 It may include.
  • the number of light emitting elements LD provided in each pixel PXL is not limited thereto, and this may be variously changed according to exemplary embodiments.
  • each pixel PXL includes a plurality of light emitting elements LD, and each embodiment will be described.
  • the light-emitting elements LD provided in the pixel PXL according to each embodiment may be changed into a single light-emitting element LD.
  • the display device layer DPL includes a first partition wall PW1 sequentially disposed and/or formed on the base layer BSL and/or the pixel circuit layer PCL in each pixel region, and The second partition wall PW2, the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2, the first insulating layer INS1, the light emitting devices LD, the second insulating layer INS2, and the first contact electrode CNE1 ), a third insulating layer INS3, a second contact electrode CNE2, and a fourth insulating layer INS4.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may be disposed to be spaced apart from each other on one surface of the base layer BSL on which the pixel circuit layer PCL is selectively formed.
  • at least a pair of first and second partition walls PW1 and PW2 spaced apart from each other may be disposed in each pixel region (especially, each light emitting region EMA) on the base layer BSL.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may protrude in a height direction toward the front of the display panel PNL on the base layer BSL and/or the pixel circuit layer PCL.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2 may have substantially the same shape and/or height, but are not limited thereto.
  • the first partition wall PW1 may be disposed between the base layer BSL and/or the pixel circuit layer PCL and each of the first electrodes ELT1.
  • the first partition wall PW1 may be disposed to be adjacent to the first end portions EP1 of the light emitting devices LD.
  • one side of the first partition wall PW1 may be positioned at a distance adjacent to the first ends EP1 of the light emitting devices LD, and may be disposed to face the first ends EP1. .
  • the second partition wall PW2 may be disposed between the base layer BSL and/or the pixel circuit layer PCL and the second electrode ELT2.
  • the second partition wall PW2 may be disposed adjacent to the second end portions EP2 of the light emitting devices LD.
  • one side of the second partition wall PW2 may be positioned at a distance adjacent to the second ends EP2 of the light emitting devices LD, and may be disposed to face the second ends EP2. .
  • first and second partition walls PW1 and PW2 may have various shapes.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may have a trapezoidal cross section whose width becomes narrower toward the top, as illustrated in FIGS. 8A and 9.
  • each of the first and second partition walls PW1 and PW2 may have an inclined surface at least on one side.
  • the first partition wall PW1 includes an inclined surface facing the first end portions EP1 of the light emitting elements LD
  • the second partition wall PW2 is a second end portion of the light emitting elements LD. It may have an inclined surface facing the field EP2.
  • the inclined surface of each of the first and second barrier ribs PW1 and PW2, in particular, the inclined surface facing one end of the adjacent light-emitting elements LD is a plane on which the light-emitting elements LD are disposed. It may be formed to have an inclination angle ( ⁇ 1, ⁇ 2) of about 15° to 80° (for example, an initial inclination angle).
  • first and second barrier ribs PW1 and PW2 may have a cross section of a semicircle or a semi-ellipse whose width becomes narrower toward the top as illustrated in FIG. 8B.
  • each of the first and second partition walls PW1 and PW2 may have a curved surface at least on one side.
  • the first partition wall PW1 includes a curved surface facing the first end portions EP1 of the light emitting elements LD
  • the second partition wall PW2 is the second end portion of the light emitting elements LD. It may have a curved surface facing the field EP2.
  • each of the first and second barrier ribs PW1 and PW2, particularly, a curved surface facing one end of the adjacent light emitting devices LD is a plane on which the light emitting devices LD are disposed. It may be formed to have an initial inclination angle ( ⁇ 1', ⁇ 2') of about 15° to 80° with respect to.
  • first and second partition walls PW1 and PW2 may be variously changed according to exemplary embodiments.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2 may have a stepped structure at least on one side.
  • the shape (eg, slope), size (eg, height), and/or location of the first and second barrier ribs PW1 and PW2 determine the light efficiency of each pixel PXL. It can be designed in various ways in consideration. That is, in the present invention, the shape, size, and/or position of the first and second partition walls PW1 and PW2 are not particularly limited, and this is variously changed in consideration of design conditions or light efficiency of the pixel PXL. Can be. In addition, depending on the exemplary embodiment, at least one of the first and second partition walls PW1 and PW2 may be omitted or the position thereof may be changed.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2 may include an insulating material including at least one inorganic material and/or an organic material.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may include at least one layer of inorganic film including various currently known inorganic insulating materials, including silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx).
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 include at least one layer of an organic layer and/or a photoresist layer including various organic insulating materials known at present, or complexly include organic/inorganic materials. It may be composed of a single layer or multiple layers of insulators. That is, in the embodiment of the present invention, the constituent materials of the first and second partition walls PW1 and PW2 may be variously changed.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may function as a reflective member.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 guide the light emitted from each light emitting element LD together with the first and second electrodes ELT1 and ELT2 provided thereon in a desired direction.
  • it may function as a reflective member that improves the light efficiency of the pixel PXL.
  • the first partition wall PW1 forms a first reflective partition wall together with the first electrode ELT1 thereon
  • the second partition wall PW2 is a second partition wall PW2 together with the second electrode ELT2 thereon. Reflective bulkheads can be constructed.
  • First and second electrodes ELT1 and ELT2 may be disposed above the first and second barrier ribs PW1 and PW2, respectively. These first and second electrodes ELT1 and ELT2 are disposed to be spaced apart from each other in each light emitting area EMA.
  • the first and second electrodes ELT1 and ELT2 disposed on each of the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may be formed of the first and second barrier ribs PW1 and PW2. ) It can have a shape corresponding to each shape.
  • the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2 have an inclined surface or a curved surface corresponding to the shapes of the first and second partition walls PW1 and PW2, respectively, and the base layer BSL It can protrude in the height direction of.
  • at least one conductive layer and/or insulating layer disposed on the first and second electrodes ELT1 and ELT2 has a shape corresponding to the shape of the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • Each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may include at least one conductive material.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 is silver (Ag), magnesium (Mg), aluminum (Al), platinum (Pt), palladium (Pd), gold (Au), and nickel ( Ni), neodymium (Nd), iridium (Ir), chromium (Cr), titanium (Ti), molybdenum (Mo), copper (Cu), etc.
  • Conductive oxides such as (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide), ZnO (Zinc Oxide), AZO (Antimony Zinc Oxide), ITZO (Indium Tin Zinc Oxide), ZnO (Zinc Oxide), SnO 2 (Tin Oxide) , It may include at least one material among conductive polymers such as PEDOT, but is not limited thereto.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may include other conductive materials, such as carbon nanotubes or graphene. That is, each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may have conductivity by including at least one of various conductive materials, and the constituent material is not particularly limited. Further, each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be formed of the same conductive material, or they may include at least one different conductive material.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be configured as a single layer or multiple layers.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may include a reflective electrode layer.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 is one of a transparent electrode layer disposed above and/or below the reflective electrode layer, and a conductive capping layer covering an upper portion of the reflective electrode layer and/or the transparent electrode layer. At least one may be optionally further included.
  • the reflective electrode layer of each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be made of a conductive material having a uniform reflectance.
  • the reflective electrode layer is silver (Ag), magnesium (Mg), aluminum (Al), platinum (Pt), palladium (Pd), gold (Au), nickel (Ni), neodymium (Nd), iridium (Ir). ), chromium (Cr), titanium (Ti), molybdenum (Mo), copper (Cu), etc., but may be composed of at least one metal or an alloy including the same among various metal materials, but is not limited thereto. That is, the reflective electrode layer may be formed of various reflective conductive materials.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 includes a reflective electrode layer
  • light emitted from both ends of each of the light-emitting elements LD that is, the first and second ends EP1 and EP2
  • the first and second electrodes ELT1 and ELT2 have an inclined or curved surface corresponding to the shape of the first and second partition walls PW1 and PW2
  • the first and second electrodes of the light emitting devices LD When disposed to face the ends EP1 and EP2, the light emitted from the first and second ends EP1 and EP2 of each of the light emitting elements LD is the first and second electrodes ELT1 and ELT2. It may be reflected by and further proceed in the front direction of the display panel PNL (for example, the upper direction of the base layer BSL). Accordingly, the efficiency of light emitted from the light emitting devices LD may be improved.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be formed of various transparent electrode materials.
  • the transparent electrode layer may include ITO, IZO, or ITZO, but is not limited thereto.
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 may be formed of a triple layer having a stacked structure of ITO/Ag/ITO. In this way, when the first and second electrodes ELT1 and ELT2 are formed of at least two or more multiple layers, a voltage drop due to a signal delay (RC delay) can be minimized. Accordingly, it is possible to effectively transmit a desired voltage to the light emitting devices LD.
  • RC delay signal delay
  • each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 includes a conductive capping layer covering the reflective electrode layer and/or the transparent electrode layer
  • the first and second electrodes ELT1 and ELT2 are formed due to defects occurring in the manufacturing process of the pixel PXL. And damage to the reflective electrode layer of the second electrodes ELT1 and ELT2 may be prevented.
  • the conductive capping layer may be selectively included in the first and second electrodes ELT1 and ELT2, and may be omitted depending on embodiments.
  • the conductive capping layer is regarded as a component of each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2, or as a separate component disposed on the first and second electrodes ELT1 and ELT2. May be considered.
  • a first insulating layer INS1 may be disposed on one region of the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • the first insulating layer INS1 is formed to cover one region of the first and second electrodes ELT1 and ELT2, and the other one of the first and second electrodes ELT1 and ELT2
  • An opening exposing the region (for example, the first and second contact portions CNP1 and CNP2) may be included.
  • the first insulating layer INS1 may be formed to primarily cover the first and second electrodes ELT1 and ELT2 entirely. After the light emitting devices LD are supplied and aligned on the first insulating layer INS1, the first insulating layer INS1 is formed at the first and second contact portions CNP1 and CNP2, respectively. It may be partially opened to expose the two electrodes ELT1 and ELT2. Alternatively, in another embodiment, the first insulating layer INS1 is patterned in the form of an individual pattern that is locally disposed under the light-emitting elements LD after supply and alignment of the light-emitting elements LD are completed. Can be.
  • the first insulating layer INS1 is interposed between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 and the light emitting elements LD, and each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2 At least one area of the can be exposed.
  • the first insulating layer INS1 is formed to cover the first and second electrodes ELT1 and ELT2 after the first and second electrodes ELT1 and ELT2 are formed, and the first and second electrodes It is possible to prevent the elements ELT1 and ELT2 from being damaged in a subsequent process.
  • the first insulating layer INS1 may stably support each light emitting device LD.
  • the first insulating layer INS1 may be selectively provided according to embodiments.
  • the first insulating layer INS1 may be omitted.
  • the light-emitting elements LD are directly disposed on the passivation layer PSV so as to contact the passivation layer PSV between the first and second electrodes ELT1 and ELT2, or the light-emitting elements ( The first and second electrodes ELT1 and ELT2 so that the first and/or second ends EP1 and EP2 of LD are directly positioned on the first and/or second electrodes ELT1 and ELT2, respectively. ) May be placed between.
  • a plurality of light emitting elements LD may be supplied and aligned in each light emitting area EMA in which the first insulating layer INS1 is formed.
  • a plurality of light emitting devices LD are supplied to each light emitting area EMA through an inkjet method or a slit coating method, and the light emitting devices LD include first and second electrodes ELT1, It may be aligned between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 by a predetermined alignment voltage (or alignment signal) applied to ELT2.
  • the second insulating layer INS2 is disposed on the light-emitting elements LD, particularly, the light-emitting elements LD arranged between the first and second electrodes ELT1 and ELT2, and the light-emitting element
  • the first and second ends EP1 and EP2 of the field LD may be exposed.
  • the second insulating layer INS2 does not cover the first and second ends EP1 and EP2 of the light-emitting elements LD, and includes a central area of the light-emitting elements LD. It can be partially placed only on the top of the.
  • the second insulating layer INS2 may be formed in an independent pattern on each light emitting area EMA, but is not limited thereto.
  • the second insulating layer INS2 may stably fix the light emitting devices LD. For example, by forming the second insulating layer INS2 on the light-emitting elements LD after the alignment of the light-emitting elements LD is completed, it is possible to prevent the light-emitting elements LD from being separated from the aligned position. Can be prevented. On the other hand, if a space exists between the first insulating layer INS1 and the light emitting devices LD before the formation of the second insulating layer INS2, the space is used to form the second insulating layer INS2. It can also be filled in the process. Accordingly, the light emitting devices LD may be more stably supported.
  • the second insulating layer INS2 may be selectively provided according to embodiments.
  • the second insulating layer INS2 may be omitted.
  • one end of each of the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may be directly positioned above the light emitting elements LD.
  • a third insulating layer INS3 may be disposed on the first contact electrode CNE1.
  • the third insulating layer INS3 may be directly disposed on the first contact electrode CNE1 to cover at least the first contact electrode CNE1.
  • the third insulating layer INS3 is disposed on a region including the first ends EP1 of the light emitting devices LD and on the first contact electrode CNE1, and on the light emitting devices LD. One end of the first contact electrode CNE1 may be covered.
  • the third insulating layer INS3 is interposed between the first contact electrode CNE1 and the second contact electrode CNE2 to stably insulate the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2. have. That is, by forming the third insulating layer INS3, it is possible to effectively prevent a short defect that may occur between the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2. Meanwhile, the third insulating layer INS3 may be formed only on one region of the light-emitting elements LD so as not to cover the second end portions EP2 of the light-emitting elements LD.
  • a fourth insulating layer INS4 may be disposed on the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2.
  • the fourth insulating layer INS4 includes first and second partition walls PW1 and PW2 of each pixel PXL, first and second electrodes ELT1 and ELT2, and light emitting elements LD. ), and the upper portions of the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2, and may be entirely formed and/or disposed on the display area DA of the base layer BSL.
  • the fourth insulating layer INS4 the pixels PXL formed in the display area DA may be protected from an external environment.
  • each pixel PXL has been described in detail through the above-described embodiments, in FIGS. 10 and 11A to 11C, the structure of each pixel PXL centered on one light emitting element LD. It will be schematically illustrated.
  • the same reference numerals are assigned to components similar or identical to those of the above-described embodiments, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • a light source unit LSU which may be variously configured according to an exemplary embodiment, may be formed.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 shown in FIGS. 7 to 9, first and second electrodes ELT1 and ELT2, and light emitting elements LD), first and second contact electrodes CNE1 and CNE2, and first to fourth insulating layers INS1 to INS4 may be disposed.
  • the first, second, and third color pixels PXL1, PXL2, and PXL3 may include light-emitting elements LD that emit light of different colors.
  • each first color pixel PXL1 is a first color light emitting element LD1
  • each second color pixel PXL2 is a second color light emitting element LD2,
  • each third color pixel The (PXL3) may include the third color light emitting device LD3.
  • the first color light emitting device LD1, the second color light emitting device LD2, and the third color light emitting device LD3 may be a red light emitting device, a green light emitting device, and a blue light emitting device, respectively. It is not limited.
  • the bank BNK is a structure defining the light emitting area EMA of each pixel PXL, and may be, for example, a pixel defining layer.
  • the bank BNK includes a first color, a second color, and a third color pixel PXL1, PXL2, and PXL3, respectively, so as to surround the emission area EMA of each pixel PXL.
  • the color, second, and third color pixel areas PXA1, PXA2, and PXA3 may be disposed in a boundary area.
  • the bank BNK may be disposed on the edge of the display area DA so as to surround the display area DA in which the pixels PXL are disposed.
  • pixel region ( PXA) when referring to an arbitrary pixel region among the first, second, and third color pixel regions PXA1, PXA2, and PXA3, or collectively referring to two or more types of pixel regions, “pixel region ( PXA)” or “pixel regions PXA”.
  • the bank BNK is configured to include at least one light-shielding and/or reflective material to prevent light leakage between adjacent pixels PXL.
  • the bank (BNK) includes at least one black matrix material (for example, at least one light-shielding material currently known), and/or a color filter material of a specific color among various types of black matrix materials. can do.
  • the bank BNK may be formed in a black opaque pattern to block light transmission.
  • a reflective layer (not shown) may be formed on the surface (for example, a side surface) of the bank BNK so as to further increase the light efficiency of the pixel PXL.
  • the bank BNK is the same layer as the first and second barrier ribs PW1 and PW2 in the process of forming the first and second barrier ribs PW1 and PW2 of the pixels PXL. Can be formed at the same time.
  • the bank BNK is the same as the first and second barrier ribs PW1 and PW2 through a process separate from the process of forming the first and second barrier ribs PW1 and PW2. Or it may be formed in a different layer. That is, the location of the bank BNK (for example, the location of each layer on the cross section) or the formation step may be variously changed according to embodiments.
  • the shape, size, and/or constituent material of the bank BNK may be variously changed according to design conditions of the display panel PNL.
  • the bank (BNK) may be a single-layer or multi-layered pattern having a cross section of various shapes including trapezoid, semicircle, or semi-ellipse, and its size (for example, width and/or height) or constituent material Can be changed in various ways.
  • the upper substrate ENC may be disposed on the pixels PXL.
  • an upper substrate ENC also referred to as “encapsulation substrate” or “color filter substrate” encapsulating at least the display area DA is disposed on one surface of the base layer BSL on which the pixels PXL are disposed. Can be.
  • the upper substrate ENC may include the light conversion layer LCP overlapping the pixels PXL.
  • the light conversion layer LCP may include a color filter layer CFL disposed on one surface of the upper substrate ENC to face the pixels PXL.
  • the color filter layer CFL may include a color filter matching the color of each pixel PXL.
  • the color filter layer CFL is disposed above each of the first color pixels PXL1 to selectively transmit light generated by the first color pixels PXL1,
  • a second color filter CF2 disposed above each second color pixel PXL2 to selectively transmit light generated by the second color pixel PXL2, and each of the third color pixels PXL3.
  • a third color filter CF3 disposed above and selectively transmitting light generated by the third color pixel PXL3 may be included.
  • the first color filter CF1, the second color filter CF2, and the third color filter CF3 may be a red color filter, a green color filter, and a blue color filter, respectively, but are not limited thereto. Does not.
  • the first color filter CF1 is disposed between each first color pixel PXL1 (especially, the light source unit LSU of the first color pixel PXL1) and the upper substrate ENC, and A color filter material that selectively transmits light of the first color generated in the one-color pixel PXL1 may be included.
  • the first color filter CF1 may include a red color filter material.
  • the second color filter CF2 is disposed between each second color pixel PXL2 (especially, the light source unit LSU of the second color pixel PXL2) and the upper substrate ENC, and A color filter material that selectively transmits light of a second color generated by the two-color pixel PXL2 may be included.
  • the second color filter CF2 may include a green color filter material.
  • a black matrix BM may be disposed between the color filters CF.
  • the black matrix BM may be disposed on one surface of the upper substrate ENC to face the bank BNK.
  • the black matrix BM may be disposed in the boundary area of the pixel areas PXA so as not to cover the respective emission areas EMA.
  • the black matrix BM may be formed in a black light blocking pattern including a black black matrix material.
  • the black matrix BM may be formed as a blue light blocking pattern including a blue color filter material. In this case, the number of masks for forming the color filter layer CFL can be reduced and a process can be simplified.
  • the upper substrate ENC is disposed on the base layer BSL on which the pixels PXL are disposed is disclosed, but the present invention is not limited thereto.
  • the fourth insulating layer INS4 includes a thin film encapsulation layer sufficient to protect the pixels PXL
  • the upper substrate ENC may be omitted.
  • the color filters CF and/or the black matrix BM may be provided in a window (not shown) disposed on the display panel PNL.
  • At least one insulating layer may be disposed on the surfaces of the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and/or the light scattering layer LSL.
  • Each insulating layer for example, a capping layer, a buffer layer, and/or a barrier layer
  • the first, second, and third color pixels may include light-emitting elements LD that emit light of the same color.
  • the first, second, and third color pixels PXL1, PXL2, and PXL3 are a third color light emitting device that emits blue light belonging to a third color, for example, a wavelength band of about 400 nm to 500 nm. They may include (LD3).
  • a color conversion layer CCL including at least one kind of color conversion particles is disposed on at least some of the pixels PXL among the first, second, and third color pixels PXL1, PXL2, and PXL3. I can. Accordingly, the display device according to the embodiment of the present invention can display a full-color image.
  • the first color conversion layer CCL1 is disposed on one surface of the upper substrate ENC to face the first color pixel PXL1, and the third color light emitting element LD3 disposed on the first color pixel PXL1 It may include first color conversion particles that convert light of a third color emitted from light into light of a first color.
  • the third color light emitting device LD3 disposed in the first color pixel PXL1 is a blue light emitting device emitting blue light and the first color pixel PXL1 is a red pixel
  • the first color conversion layer (CCL1) may include a red quantum dot QDr that converts blue light emitted from the blue light emitting device into red light.
  • the first color conversion layer CCL1 may include a plurality of red quantum dots QDr dispersed in a predetermined matrix material such as a transparent resin.
  • the red quantum dot QDr absorbs blue light and shifts a wavelength according to energy transition to emit red light in a wavelength band of approximately 620 nm to 780 nm.
  • the first color conversion layer CCL1 may include a first quantum dot corresponding to the color of the first color pixel PXL1.
  • the second color conversion layer CCL2 may include a plurality of green quantum dots QDg dispersed in a predetermined matrix material such as a transparent resin.
  • the green quantum dot QDg may absorb blue light and shift a wavelength according to an energy transition to emit green light in a wavelength band of approximately 500 nm to 570 nm.
  • the second color conversion layer CCL2 may include a second quantum dot corresponding to the color of the second color pixel PXL2.
  • the group III-V compound is a binary compound selected from the group consisting of GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb, and mixtures thereof;
  • the absorption coefficients of the red and green quantum dots QDr and QDg are incident on the red and green quantum dots QDr and QDg, respectively, by injecting blue light having a relatively short wavelength in the visible light region.
  • Can increase Accordingly, the efficiency of light emitted from each of the first and second color pixels PXL1 and PXL2 may be finally increased, and excellent color reproducibility may be secured.
  • the manufacturing efficiency of the display device is improved. You can increase it.
  • the black matrix BM is at least a thickness (or height) such that it is also disposed between the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL. Can be extended in any direction.
  • the black matrix BM is a thickness corresponding to the total thickness of the light conversion layer LCP including the color filter layer CFL and the color conversion layer CCL (for example, the total thickness of the light conversion layer LCP). It may extend at least in the thickness direction to have a thickness substantially the same or similar to the thickness).
  • the black matrix BM is a form for partitioning regions in which the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL are formed, and the first color It may be disposed between the conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL.
  • the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and/or the light scattering layer LSL may be formed through an inkjet method or the like.
  • a black matrix BM is first formed prior to forming the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL on one surface of the upper substrate ENC.
  • the second black matrix BM2 may be formed before or after formation of the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and/or the light scattering layer LSL. .
  • the second black matrix BM2 is formed after the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL are formed on one surface of the upper substrate ENC.
  • the second black matrix BM2 is formed after the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL are formed on one surface of the upper substrate ENC.
  • the second black matrix BM2 is formed.
  • the second black matrix BM2 has a shape corresponding to the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL, and the first color conversion It may be interposed between the layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL.
  • the upper plate is a black matrix disposed between the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL, as in the embodiment of FIG. 11B or 11C. (BM) may be included.
  • BM black matrix
  • FIGS. 12 to 14 components similar or identical to those of the above-described embodiments (for example, the embodiments of FIGS. 8A to 11) are assigned the same reference numerals, and detailed descriptions thereof are omitted. I will do it.
  • the third insulating layer INS3 illustrated in FIGS. 9 to 11 may be omitted according to exemplary embodiments.
  • the first contact electrode CNE1 may be directly covered with the fourth insulating layer INS4.
  • the mask process for forming the third insulating layer INS3 is omitted, so that the manufacturing process may be more simplified.
  • the light efficiency of each pixel PXL may be improved.
  • the third insulating layer INS3 is not disposed on a path through which light generated by the light emitting devices LD is emitted to the outside of each pixel PXL, It is possible to reduce an amount of light that is trapped in an optical waveguide formed by transparent electrodes and/or insulating layers and is not emitted to the outside of the pixels PXL and disappears.
  • a pixel circuit layer PCL is formed in each pixel area PXA on the base layer BSL, and each pixel on the base layer BSL on which the pixel circuit layer PCL is formed.
  • a first partition wall PW1 and a second partition wall PW2 spaced apart from each other are formed in the area PXA.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2 are formed on one surface of the base layer BSL (or the base layer BSL on which the buffer layer BFL is formed). ) Can also be formed directly.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2 may be formed through a process of forming an insulating film including an inorganic material and/or an organic material and/or a patterning process (for example, a photo process). , It can be formed through a variety of processes currently known.
  • the first and second barrier ribs PW1 and PW2 may be simultaneously formed on the same layer (or the same plane) on the base layer BSL by using the same material, but is not limited thereto. .
  • a predetermined circuit element for example, the first transistor T1 of each pixel PXL
  • one electrode of the display element layer DPL for example, each pixel ( A first contact hole CH1 for connection with the first electrode ELT1) of the PXL
  • a predetermined wiring disposed in the pixel circuit layer PCL (for example, the second power line PL2)
  • a second contact hole CH2 for connection to the other electrode of the display device layer DPL (for example, the second electrode ELT2 of each pixel PXL).
  • the first and second contact holes CH1 and CH2 are formed before or after the formation of the first and second barrier ribs PW1 and PW2, or the first and second barrier ribs ( It may be formed in at least one etching process for forming PW1 and PW2).
  • a first insulating layer INS1 is formed on the base layer BSL including the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • the first insulating layer INS1 may be formed on one surface of the base layer BSL to cover at least the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • the first insulating layer INS1 may be formed through a film forming process of an insulating film including an inorganic material and/or an organic material, and may be formed through various processes known at present. Meanwhile, depending on the exemplary embodiment, the pixels PXL may not include the first insulating layer INS1, and in this case, a process of forming the first insulating layer INS1 may be omitted.
  • At least one light emitting device LD is supplied between the first electrode ELT1 and the second electrode ELT2 of each pixel PXL. Align. For example, each pixel area PXA on the base layer BSL on which the first and second electrodes ELT1 and ELT2 and the first insulating layer INS1 are formed (for example, the light emission of each pixel PXL)
  • the light-emitting elements LD are first And alignment between the second electrodes ELT1 and ELT2.
  • a solution in which a plurality of light-emitting elements LD are dispersed (also referred to as “light-emitting element ink (LED ink)”) is used for each light emission of the base layer BSL using an inkjet printing method or a slit coating method.
  • the light-emitting elements LD may be supplied to each pixel area PXA by applying it to the area EMA.
  • the supply method of the light-emitting elements LD is not limited thereto, and the light-emitting elements LD may be supplied to each pixel area PXA through various methods.
  • an electric field for self-alignment of the light-emitting elements LD may be formed.
  • an AC alignment voltage is applied to the second electrode ELT2 of each of the pixels PXL, and a reference potential (for example, a ground potential) to the first electrode ELT1 of each of the pixels PXL
  • the light emitting elements LD may be aligned between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of each pixel PXL by supplying a constant voltage of.
  • each light emitting element LD may be horizontally aligned between the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of the pixel PXL.
  • the first end EP1 of each of the light emitting devices LD is disposed toward the first electrode ELT1
  • the second end EP2 of each of the light emitting devices LD is a second electrode ELT2. Can be placed toward ).
  • a second insulating layer INS2 is formed on the light emitting devices LD.
  • the second insulating layer INS2 may be formed through a film forming process and a patterning process of an insulating film including an inorganic material and/or an organic material, and may be formed through various currently known processes. .
  • the insulating layer is patterned, thereby manufacturing the light emitting elements LD.
  • the second insulating layer INS2 may be formed only over one region excluding the first and second end portions EP1 and EP2.
  • the light-emitting elements LD can be stably fixed to the aligned positions.
  • the pixels PXL may not include the second insulating layer INS2, and in this case, a process of forming the second insulating layer INS2 may be omitted.
  • the first insulating layer INS1 is etched to expose a region of each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2. Accordingly, the first contact portion CNP1 may be formed on the first electrode ELT1 and the second contact portion CNP2 may be formed on the second electrode ELT2.
  • the first contact part CNP1 may mean a region where the first insulating layer INS1 is partially removed and the first electrode ELT1 is exposed, and a first contact electrode formed in a subsequent process It may mean a region in which the CNE1 and the first electrode ELT1 are in contact with each other and are connected.
  • the second contact part CNP2 may mean a region where the first insulating layer INS1 is partially removed and the second electrode ELT2 is exposed, and the second contact electrode CNE2 formed in a subsequent process. ) And the second electrode ELT2 may be in contact with each other and connected to each other.
  • a first contact electrode CNE1 is formed on the first end portions EP1 and the first electrode ELT1 of the light emitting elements LD
  • a second contact electrode CNE2 is formed on the second end portions EP2 and the second electrode ELT2.
  • a first contact electrode CNE1 is formed to cover at least one region of the first electrode ELT1 including the first contact portion CNP1 and the first ends EP1 of the light emitting devices LD.
  • a second contact electrode CNE2 may be formed to cover at least one region of the second electrode ELT2 including the second contact portion CNP2 and the second ends EP2 of the light emitting elements LD. have.
  • the first end EP1 of each of the light emitting elements LD is connected to the first electrode ELT1, and each of the light emitting elements LD
  • the second end EP2 of may be connected to the second electrode ELT2.
  • first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may be sequentially formed through different processes.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may be simultaneously formed.
  • the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may be formed through a process of forming a conductive film including at least one conductive material identical or different from each other and/or a patterning process. It can be formed through a variety of processes. In an embodiment, each of the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may be formed to be substantially transparent using at least one transparent electrode material. Accordingly, light emitted from the light emitting elements LD through the first and second end portions EP1 and EP2 may pass through the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view illustrating a cross-sectional view corresponding to line II to II' of FIG. 7.
  • 17 and 18 are cross-sectional views, respectively, illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • a cross-sectional view of a region of the display panel PNL including the pixel PXL according to the exemplary embodiment of FIG. 16 It shows different examples of.
  • FIGS. 17 and 18 an upper plate of the display panel PNL according to the exemplary embodiments of FIGS. 10 and 11A is shown, respectively, but the structure of the upper plate may be variously changed.
  • the manufacturing process may be further simplified.
  • the light efficiency of each pixel PXL may be additionally improved. For example, when neither the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 are disposed on a path through which light generated by the light emitting devices LD is emitted to the outside of each pixel PXL, each pixel The amount of light that is trapped in the optical waveguide formed by the transparent electrodes and/or insulating layers located inside the PXL and cannot be emitted to the outside of each pixel PXL and disappears may be further reduced.
  • an upper substrate ENC or the like may be disposed on the pixels PXL to seal the display area DA. Accordingly, even if the fourth insulating layer INS4 is not included, the pixels PXL can be protected from the external environment.
  • the pixel PXL of FIG. 16 and the display device including the same may be manufactured through the process described above in FIGS. 15A to 15H. I can. Therefore, a detailed description thereof will be omitted.
  • the upper plate is a black matrix disposed between the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL, as in the embodiment of FIG. 11B or 11C. (BM) may be included.
  • BM black matrix
  • FIGS. 19 to 21 components similar or identical to those of the above-described embodiments are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • FIGS. 22A to 22G are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and for example, illustrate an embodiment of a method of manufacturing a display device including the pixel PXL of FIG. 19.
  • FIGS. 22A to 22G components similar or identical to those of the above-described embodiment (for example, the embodiments of FIGS. 15A to 15I) are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted. .
  • the first insulating layer INS1 is etched to expose a region of the first electrode ELT1. Accordingly, the first contact portion CNP1 may be formed on the first electrode ELT1.
  • a first contact electrode CNE1 is formed on the first end portions EP1 and the first electrode ELT1 of the light emitting devices LD.
  • the first contact electrode CNE1 is formed to cover at least one region of the first electrode ELT1 including the first contact part CNP1 and the first ends EP1 of the light emitting devices LD. Can be formed.
  • the first contact electrode CNE1 may be formed through a process of forming and/or a patterning process of a conductive film including at least one conductive material, and may be formed through various processes known at present. .
  • the first contact electrode CNE1 may be formed to be substantially transparent using at least one transparent electrode material.
  • the first opening OPN1 (“ 1 light-transmitting hole")
  • opening a region of the fourth insulating layer INS4 in a region adjacent to the second ends EP2 of the light-emitting elements LD to open a second opening OPN2 (“ Also referred to as "a second light-transmitting hole”)
  • the first and second openings OPN1 and OPN2 are substantially the same horizontal distance d1 and d2 from the first and second ends EP1 and EP2 of the light emitting devices LD, respectively. They are spaced apart by and may have substantially the same horizontal widths w1 and w2, but are not limited thereto. In this case, the light emission characteristics of each pixel PXL can be made more uniform.
  • the term "substantially identical” includes the meaning of "completely identical", as well as “similar within a predetermined tolerance range" in consideration of process conditions, etc. It can mean.
  • the second opening OPN2 may have a thickness corresponding to the sum of the thicknesses of the fourth insulating layer INS4 (for example, the same thickness as the thickness of the fourth insulating layer INS4), or the second opening OPN2 ) May have a depth corresponding to the profile of the conductive layer and/or the insulating layer surrounding it.
  • the first and second openings OPN1 and OPN2 are manufactured through dry etching capable of vertical etching, so that the plane on which the light emitting elements LD are disposed (for example, the base layer BSL)
  • the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 may be penetrated in a direction substantially orthogonal to the plane parallel to the plane).
  • each of the first and second openings OPN1 and OPN2 has an angle ( ⁇ 3, ⁇ 4) in the range of approximately 80° to 100° with respect to the plane in which the light emitting elements LD are disposed (for example, ,
  • the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 may be vertically penetrated so as to have an angle of substantially 90° within a predetermined tolerance range. Accordingly, light dissipated inside each pixel PXL can be reduced and light efficiency can be improved.
  • the first and second openings OPN1 and OPN2 may completely penetrate the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4 in a corresponding region.
  • the first opening OPN1 may be formed to pass through the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 to expose a region of the first contact electrode CNE1.
  • the second opening OPN2 may be formed to pass through the fourth insulating layer INS4 to expose a region of the second contact electrode CNE2.
  • each of the first and second openings OPN1 and OPN2 partially etched the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4 in the thickness direction, that is, the first It may be formed in the form of a groove formed in the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • the first and/or second contact electrodes CNE1 and CNE2 disposed under the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4 are partially etched.
  • the second openings OPN1 and OPN2 may be formed deeper.
  • the first opening OPN1 may not be formed in the third insulating layer INS3, but may be formed only in the fourth insulating layer INS4.
  • the horizontal widths w1 and w2 of each of the first and second openings OPN1 and OPN2 may be 0.005 ⁇ m to 3 ⁇ m, and the thickness may be 0.005 ⁇ m to 6 ⁇ m.
  • first and second openings OPN1 and OPN2 have different horizontal widths w1 and w2, or the first and second ends EP1 and EP1 of the light emitting devices LD EP2) may be spaced apart from each other by different horizontal distances d1 and d2.
  • each of the first and second openings OPN1 and OPN2 is a space that can be secured at a location where the first and second openings OPN1 and OPN2 are disposed (for example, the light emitting elements LD) And the size of the space between the inclined surfaces of the first and second partition walls PW1 and PW2 adjacent thereto), the third and fourth insulating layers INS3 and INS4, and/or the first and second contact electrodes CNE1 , CNE2), etc. It may vary depending on the thickness or profile of the surrounding insulating layer and/or conductive layer.
  • transparent electrodes for example, first and/or second contact electrodes CNE1 and CNE2 and/or insulating layers (for example, located inside each pixel PXL)
  • the first and second insulating layers INS3 and INS4 are partially removed from the middle of the optical waveguide formed by the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • a difference may be provided between the openings OPN1 and OPN2 and the refractive index of the surrounding area. Accordingly, at least some of the light trapped in the optical waveguide and extinguished in the pixel PXL to which the embodiments of FIGS. 9 to 11 are applied may be converted to the first and second openings OPN1 according to the embodiments of FIGS. 23 to 25. , OPN2) can be induced to proceed through the modified optical path. Accordingly, a greater amount of light is emitted to the outside of the pixel PXL, thereby improving the light efficiency of each pixel PXL.
  • 26A to 26C are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and as an example, illustrate an embodiment of a method of manufacturing a display device including the pixel PXL of FIG. 23.
  • FIGS. 26A to 26C components similar or identical to those of the above-described embodiments are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • first and second partition walls PW1 and PW2, first and second partition walls PW1 and PW2, are formed in each pixel area PXA on the base layer BSL on which the pixel circuit layer PCL is selectively formed.
  • 2 electrodes ELT1 and ELT2, the first insulating layer INS1, the light emitting devices LD, the second insulating layer INS2, the first contact electrode CNE1, the third insulating layer INS3, and the second The contact electrodes CNE2 are sequentially formed and/or disposed.
  • the INS2, the first contact electrode CNE1, the third insulating layer INS3, and the second contact electrode CNE2 may be sequentially formed and/or disposed through the process described above in FIGS. 22A to 22G.
  • a fourth insulating layer INS4 is formed on one surface of the base layer BSL on which the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 are formed.
  • first and second barrier ribs PW1 and PW2 of each pixel PXL, first and second electrodes ELT1 and ELT2, first insulating layer INS1, light emitting elements LD On one surface of the base layer BSL on which the second insulating layer INS2, the first contact electrode CNE1, the third insulating layer INS3, and the second contact electrode CNE2 are formed, each pixel area PXA
  • a fourth insulating layer INS4 may be formed to cover the display area DA including.
  • the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 are etched in a region adjacent to the first end portions EP1 and the second end portions EP2 of the light emitting devices LD.
  • the first and second openings OPN1 and OPN2 may be formed.
  • a first opening OPN1 penetrating through the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 is formed, and second ends EP2 of the light emitting devices LD and a second partition wall PW2 adjacent thereto
  • a second opening OPN2 penetrating the fourth insulating layer INS4 may be formed by etching the fourth insulating layer INS4 in a region corresponding to the gap between.
  • the first and second openings OPN1 and OPN2 may be formed by dry etching the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 in a vertical direction. Accordingly, the first and second openings OPN1 and OPN2 have angles ⁇ 3 and ⁇ 4 in the range of approximately 80° to 100° with respect to the plane on which the light emitting elements LD are disposed (for example, approximately 90°). The first and second openings OPN1 and OPN2 may be formed to vertically penetrate the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 at an angle of.
  • the pixel PXL and the display device including the pixel PXL according to the embodiment of FIG. 23 can be manufactured.
  • the upper plate of the display panel PNL according to the embodiment of FIG. 24 or 25 is selectively selected on the pixels PXL. Can be placed.
  • FIG. 27 is a cross-sectional view illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention, for example, illustrating an exemplary embodiment of a cross-section corresponding to lines II to II' in FIG. 7.
  • 28 and 29 are cross-sectional views, respectively, illustrating a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, for example, a cross-sectional view of a region of the display panel PNL including the pixel PXL according to the exemplary embodiment of FIG. 27 It shows different examples of. Meanwhile, in FIGS. 28 and 29, an upper plate of the display panel PNL according to the embodiments of FIGS. 10 and 11A is shown, respectively, but the structure of the upper plate may be variously changed.
  • the upper plate is a black matrix disposed between the first color conversion layer CCL1, the second color conversion layer CCL2, and the light scattering layer LSL, as in the embodiment of FIG. 11B or 11C. (BM) may be included.
  • BM black matrix
  • FIGS. 27 to 29 elements similar or identical to those of the above-described embodiments are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • all third and fourth insulating layers INS3 and INS4 are formed, and are formed around the light emitting elements LD.
  • the first and second openings OPN1 are at different positions from the first and second openings OPN1 and OPN2 according to the embodiments of FIGS. 23 to 25. ', OPN2') can be formed.
  • the first opening OPN1 ′ is positioned on the first partition wall PW1 adjacent to the first end portions EP1 of the light emitting devices LD, and the second opening OPN2 ′ emits light It may be located on the second partition wall PW2 adjacent to the second end portions EP2 of the devices LD.
  • the first opening OPN1 ′ is disposed to overlap the first partition PW1 while having a horizontal width w1 ′ less than or equal to the width of the first partition PW1
  • the second opening OPN2 ′ May be disposed to overlap the second partition wall PW2 while having a horizontal width w2 ′ less than or equal to the width of the second partition wall PW2.
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ are substantially the same horizontal distance d1 ′ from the first and second ends EP1 and EP2 of the light-emitting elements LD, respectively. , d2'), and may have substantially the same horizontal widths w1' and w2'. Accordingly, the emission characteristics of each pixel PXL can be more uniform.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ have different horizontal widths w1 ′ and w2 ′, or different horizontal distances from the light-emitting elements LD. It may be separated by (d1', d2').
  • first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may have a thickness and/or a depth corresponding to the thickness of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • first opening OPN1' has a thickness corresponding to the sum of the thicknesses of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 (for example, the third and fourth insulating layers INS3 and INS4) May have a thickness equal to the sum of the thicknesses) and/or depth.
  • the second opening OPN2 ′ may have a thickness corresponding to the sum of the thicknesses of the fourth insulating layer INS4 (for example, the same thickness as the thickness of the fourth insulating layer INS4) and/or a depth. .
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ are manufactured through dry etching capable of vertical etching, and thus a plane on which the light emitting elements LD are disposed (for example, the base layer ( The third and fourth insulating layers INS3 and INS4 may be penetrated in a direction substantially orthogonal to the plane parallel to the BSL).
  • each of the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ has an angle ( ⁇ 3 ′, ⁇ 4 ′) in the range of approximately 80° to 100° with respect to the plane on which the light emitting elements LD are disposed.
  • the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 may be vertically penetrated (for example, to have an angle of substantially 90° within a predetermined tolerance range). Accordingly, light emitted from each pixel PXL may be guided toward the front of the display panel PNL.
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may completely penetrate the third and fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • the first opening OPN1 ′ is formed to penetrate through the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 so that a region of the first contact electrode CNE1 is formed above the first partition wall PW1. Can be exposed.
  • the second opening OPN2 ′ may be formed to penetrate the fourth insulating layer INS4 to expose a region of the second contact electrode CNE2 on the second partition wall PW2.
  • each of the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ is formed by partially etching the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4 in the thickness direction, That is, it may be formed in the shape of a groove formed in the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • the first and/or second contact electrodes CNE1 and CNE2 disposed under the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4 are partially etched.
  • the second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may be formed deeper.
  • the first opening OPN1 ′ may not be formed in the third insulating layer INS3, but may be formed only in the fourth insulating layer INS4.
  • the horizontal width of each of the first and second barrier ribs PW1 and PW2 (for example, the width along the first direction DR1 of FIG. 7) is 3 ⁇ m to 12 ⁇ m, and the height is 0.5 ⁇ m. 3.5 ⁇ m, the inclination angles ⁇ 1 and ⁇ 2 are 15° to 80°, the thickness of each of the first and second electrodes ELT1 and ELT2, the thickness of the first insulating layer INS1, and the second insulating layer INS2
  • the thickness of, the thickness of the first contact electrode CNE1, the thickness of the third insulating layer INS3, the thickness of the second contact electrode CNE2, and the thickness of the fourth insulating layer INS4 are 0.01 ⁇ m to 2 ⁇ m, respectively.
  • the horizontal widths w1 ′ and w2 ′ of the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may be 2 ⁇ m to 8 ⁇ m, and the thickness may be 0.005 ⁇ m to 6 ⁇ m.
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ each have a size (eg, horizontal width w1 ′, w2 ′), a thickness and/or depth) and a location (eg, the light-emitting elements LD ), the horizontal distance (d1', d2')), etc., may be variously changed according to embodiments.
  • the size and/or position of each of the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may be experimentally determined according to light emission characteristics of the pixels PXL.
  • first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ have different horizontal widths w1 ′ and w2 ′, or the first and second ends of the light-emitting elements LD They may be spaced apart from each other by different horizontal distances d1' and d2' from EP1 and EP2.
  • each of the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ is a space that can be secured at a position where the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ are disposed (for example, the first And the size of the space above the second partition walls PW1 and PW2), the surroundings including the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 and/or the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2, etc. It may vary in various ways depending on the thickness or profile of the insulating layer and/or the conductive layer.
  • transparent electrodes for example, first and/or second contact electrodes CNE1 and CNE2
  • insulating layers for example, located inside each pixel PXL
  • the first and second insulating layers INS3 and INS4 are partially removed from the middle of the optical waveguide formed by the third and/or fourth insulating layers INS3 and INS4.
  • a difference may be provided between the openings OPN1 ′ and OPN2 ′ and the refractive index of the surrounding region. Accordingly, at least some of the light trapped in the optical waveguide and extinguished in the pixel PXL to which the embodiments of FIGS. 9 to 11 are applied may be converted to the first and second openings OPN1 according to the embodiments of FIGS. 27 to 29. ', OPN2') through the changed optical path. Accordingly, a greater amount of light is emitted to the outside of the pixel PXL, thereby improving the light efficiency of each pixel PXL.
  • FIGS. 30A and 30B are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and as an example, illustrate an embodiment of a method of manufacturing a display device including the pixel PXL of FIG. 27.
  • the same reference numerals are assigned to components similar or identical to those of the above-described embodiments, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • first and second partition walls PW1 and PW2, first and second partition walls PW1 and PW2, are formed in each pixel area PXA on the base layer BSL on which the pixel circuit layer PCL is selectively formed.
  • 2 electrodes ELT1 and ELT2, the first insulating layer INS1, the light emitting devices LD, the second insulating layer INS2, the first contact electrode CNE1, the third insulating layer INS3, and the second The contact electrode CNE2 and the fourth insulating layer INS4 are sequentially formed and/or disposed.
  • the first and second partition walls PW1 and PW2, the first and second electrodes ELT1 and ELT2, the first insulating layer INS1, the light-emitting elements LD, and the second insulating layer (INS2), the first contact electrode (CNE1), the third insulating layer (INS3), the second contact electrode (CNE2), and the fourth insulating layer (INS4) are sequentially formed through the process described above in FIGS. 26A and 26B. And/or may be disposed.
  • First and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ penetrating the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 may be formed on the partition wall PW2.
  • the first opening OPN1 ′ is formed.
  • the fourth insulating layer INS4 may be etched on the second partition wall PW2 adjacent to the second end portions EP2 of the light emitting devices LD to form the second opening OPN2 ′.
  • the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may be formed by dry etching the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 in a vertical direction. Accordingly, the first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ have angles ( ⁇ 3 ′ and ⁇ 4 ′) in the range of approximately 80° to 100° with respect to the plane on which the light emitting elements LD are disposed (for example, The first and second openings OPN1 ′ and OPN2 ′ may be formed to vertically penetrate the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 at an angle of approximately 90°.
  • the pixel PXL and the display device including the pixel PXL according to the embodiment of FIG. 27 (for example, the lower panel of the display panel PNL including the pixel PXL) can be manufactured. Further, according to an exemplary embodiment, after forming the pixels PXL in the display area DA, the upper plate of the display panel PNL according to the embodiment of FIG. 28 or 29 is selectively selected on the pixels PXL. Can be placed.
  • FIGS. 31 to 34 are cross-sectional views each illustrating a pixel PXL according to an exemplary embodiment of the present invention, for example, showing different exemplary embodiments of a cross section corresponding to lines II to II' of FIG. 7.
  • components similar or identical to those of the above-described embodiments are denoted by the same reference numerals, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • each pixel PXL may not include a third insulating layer INS3 compared to the pixel PXL of FIG. 23.
  • the pixel PXL may include only the fourth insulating layer INS4 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 provided in the pixel PXL of FIG. 23.
  • the fourth insulating layer INS4 includes a first opening OPN1 located in a region corresponding between the first end portions EP1 of the light emitting devices LD and the first partition wall PW1 adjacent thereto, A second opening OPN2 located in a region corresponding to between the second end portions EP2 of the light emitting devices LD and the second partition wall PW2 adjacent thereto may be included.
  • each pixel PXL does not include a third insulating layer INS3 similar to the pixel PXL of FIG. 31, but the first and second pixels PXL are formed at different positions from the pixel PXL of FIG. 31. It may include second openings OPN1 ′ and OPN2 ′.
  • the pixel PXL may include only the fourth insulating layer INS4 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 provided in the pixel PXL of FIG. 27.
  • the fourth insulating layer INS4 may include a first opening OPN1 ′ located on the first partition wall PW1 and a second opening OPN2 ′ located on the second partition wall PW2. .
  • each pixel PXL may not include the fourth insulating layer INS4 compared to the pixel PXL of FIG. 23.
  • the pixel PXL may include only the third insulating layer INS3 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 provided in the pixel PXL of FIG. 23.
  • the third insulating layer INS3 includes a first opening OPN1 located in a region corresponding to between the first end portions EP1 of the light emitting devices LD and the first partition wall PW1 adjacent thereto. can do.
  • each pixel PXL does not include a fourth insulating layer INS4 similar to the pixel PXL of FIG. 33, but a first opening formed at a position different from that of the pixel PXL of FIG. 33. (OPN1') may be included.
  • the pixel PXL may include only the third insulating layer INS3 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 provided in the pixel PXL of FIG. 27.
  • the third insulating layer INS3 may include a first opening OPN1 ′ positioned on the first partition wall PW1.
  • the pixel PXL and the display device including the same may have various structures.
  • at least one pixel PXL disposed in the display area DA has a structure in which any one of the embodiments of FIGS. 7 to 34 is applied alone, or one of the above embodiments At least two embodiments may have a compositely applied structure.
  • each pixel PXL and a display device including the same as in the embodiments of FIGS. 7 to 11, the first ends EP1 and the first contact electrode of the light emitting elements LD.
  • Each of the pixel regions PXA including the third insulating layer INS3 covering (CNE1), the light emitting elements LD and the upper portions of the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 and/or A fourth insulating layer INS4 covering the entire display area DA including the same may be included.
  • each pixel PXL and a display device including the same, as in the embodiments of FIGS. 7 and 12 to 22G, among the third and fourth insulating layers INS3 and INS4
  • improved light emission characteristics may be exhibited compared to the embodiments of FIGS. 8A to 11.
  • each pixel PXL and a display device including the same, as in the embodiments of FIGS. 7 and 23 to 30B, the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 Includes all, but includes first and second openings OPN1, OPN1', OPN2, OPN2' formed in the third and fourth insulating layers INS3 and INS4 on both sides of the light-emitting elements LD By doing so, it can exhibit improved light emission characteristics compared to the embodiments of FIGS. 8A to 11.
  • each pixel PXL and a display device including the same may include a region corresponding to between the first end portions EP1 of the light emitting elements LD and a first partition wall PW1 adjacent thereto, or the first A region corresponding between each of the first openings OPN1 and OPN1 ′ positioned above the partition wall PW1 and the second end portions EP2 of the light emitting devices LD and the second partition wall PW2 adjacent thereto
  • each of the second openings OPN2 and OPN2 ′ positioned on the second partition wall PW2 may be included.
  • each pixel PXL and a display device including the same as in the embodiments of FIGS. 31 to 34, at least one of the embodiments of FIGS. 7 and 12 to 22G. Since the embodiment and at least one of the embodiments of FIGS. 7 and 23 to 30B are applied in combination, it may exhibit improved light emission characteristics compared to the embodiments of FIGS. 8A to 11.
  • each pixel PXL and a display device including the same include only a fourth insulating layer INS4 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4, and the fourth insulating layer INS4 ) May include first and second openings OPN1, OPN1', OPN2, and OPN2' positioned on both sides of the light emitting devices LD.
  • each pixel PXL and a display device including the same include only a third insulating layer INS3 of the third and fourth insulating layers INS3 and INS4, and the third insulating layer INS3 is
  • Each of the first openings OPN1 and OPN1 ′ located at one side of the light emitting devices LD may be included.
  • each pixel PXL a display device including the same, and a manufacturing method thereof according to various embodiments of the present invention as described above, the light efficiency of the pixel PXL including each light emitting element LD can be improved. I can.

Abstract

본 발명은 발광 소자를 포함한 표시 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치는, 표시 영역에 배치된 화소를 구비한다. 상기 화소는, 베이스 층 상에 서로 이격되어 배치된 제1 격벽 및 제2 격벽; 각각 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽 상에 배치되며, 서로 이격된 제1 전극 및 제2 전극; 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 사이에 배치되며, 상기 제1 전극에 연결된 제1 단부 및 상기 제2 전극에 연결된 제2 단부를 포함한 발광 소자; 및 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중 적어도 하나의 전극과 상기 발광 소자의 상부에 배치된 적어도 하나의 절연층을 포함한다. 상기 적어도 하나의 절연층은, 상기 발광 소자의 제1 단부에 인접한 제1 개구부 및 상기 발광 소자의 제2 단부에 인접한 제2 개구부 중 적어도 하나의 개구부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 그의 제조 방법
본 발명의 실시예는 표시 장치 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.
최근, 신뢰성이 높은 무기 결정 구조의 재료를 이용하여 초소형의 발광 소자를 제조하고, 상기 발광 소자를 이용하여 발광 장치를 제조하는 기술이 개발되고 있다. 예를 들어, 각각이 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기를 가지는 다수의 초소형 발광 소자들을 제조하고, 상기 초소형 발광 소자들을 이용하여 표시 장치의 화소를 비롯한 다양한 발광 장치의 광원을 구성하는 기술이 개발되고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 발광 소자를 포함한 표시 장치 및 그의 제조 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치는, 표시 영역에 배치된 화소를 구비한다. 상기 화소는, 베이스 층 상에 서로 이격되어 배치된 제1 격벽 및 제2 격벽; 각각 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽 상에 배치되며, 서로 이격된 제1 전극 및 제2 전극; 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 사이에 배치되며, 상기 제1 전극에 연결된 제1 단부 및 상기 제2 전극에 연결된 제2 단부를 포함한 발광 소자; 및 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중 적어도 하나의 전극과 상기 발광 소자의 상부에 배치된 적어도 하나의 절연층을 포함한다. 상기 적어도 하나의 절연층은, 상기 발광 소자의 제1 단부에 인접한 제1 개구부 및 상기 발광 소자의 제2 단부에 인접한 제2 개구부 중 적어도 하나의 개구부를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부는, 상기 발광 소자의 제1 단부와 상기 제1 격벽의 사이에 대응하는 영역에 위치하고, 상기 제2 개구부는, 상기 발광 소자의 제2 단부와 상기 제2 격벽의 사이에 대응하는 영역에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부는 상기 제1 격벽 상에 위치하고, 상기 제2 개구부는 상기 제2 격벽 상에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부는 상기 제1 격벽의 폭 이하의 폭을 가지면서 상기 제1 격벽과 중첩되도록 배치되고, 상기 제2 개구부는 상기 제2 격벽의 폭 이하의 폭을 가지면서 상기 제2 격벽과 중첩되도록 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부는, 상기 발광 소자로부터 동일한 수평 거리만큼 이격될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부 각각은, 상기 발광 소자가 배치되는 평면에 대하여 80° 내지 100° 범위의 각도를 가지도록 상기 적어도 하나의 절연층을 수직으로 관통할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 격벽은 상기 발광 소자의 제1 단부와 마주하는 경사면 또는 곡면을 포함하고, 상기 제2 격벽은 상기 발광 소자의 제2 단부와 마주하는 경사면 또는 곡면을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은, 각각 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽의 형상에 대응하는 경사면 또는 곡면을 포함하며, 각각의 반사 전극층을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 장치는, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상에 배치되며 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 일 영역을 노출하는 제1 절연층; 및 상기 발광 소자 상에 배치되며 상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부를 노출하는 제2 절연층 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 화소는, 상기 발광 소자의 제1 단부 및 상기 제1 전극 상에 배치되며 상기 발광 소자의 제1 단부를 상기 제1 전극에 전기적으로 연결하는 제3 전극; 및 상기 발광 소자의 제2 단부 및 상기 제2 전극 상에 배치되며 상기 발광 소자의 제2 단부를 상기 제2 전극에 전기적으로 연결하는 제4 전극을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 절연층은, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극 상에 직접 배치되며, 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부는, 각각 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 일 영역을 노출할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 절연층은, 상기 발광 소자의 제1 단부를 포함한 일 영역과 상기 제3 전극 상에 배치되며 상기 발광 소자 상에서 상기 제3 전극의 일단을 커버하는 제3 절연층; 및 상기 발광 소자, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 상부를 포함하여 상기 표시 영역 상에 전면적으로 배치된 제4 절연층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 개구부는 상기 제3 절연층 및 상기 제4 절연층을 관통하고, 상기 제2 개구부는 상기 제4 절연층을 관통할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 장치는, 상기 화소의 상부에 배치되며 상기 화소와 중첩되는 광 변환층을 포함한 상부 기판을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 광 변환층은, 상기 화소와 마주하도록 상기 상부 기판에 배치된 컬러 필터층; 및 상기 컬러 필터층과 상기 화소의 사이에 배치되며 컬러 변환 입자들을 포함한 컬러 변환층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법은, 베이스 층 상에 서로 이격된 제1 격벽 및 제2 격벽을 형성하는 단계; 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽 상에 각각 제1 전극 및 제2 전극을 형성하는 단계; 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 사이에 발광 소자를 공급 및 정렬하는 단계; 상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부를 각각 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에 연결하는 제3 전극 및 제4 전극을 형성하는 단계; 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극과 상기 발광 소자 상에 적어도 하나의 절연층을 형성하는 단계; 및 상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부 중 적어도 하나의 단부에 인접한 영역에서 상기 절연층에 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서, 상기 적어도 하나의 절연층을 수직 방향으로 건식 식각할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극은 순차적으로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 적어도 하나의 절연층을 형성하는 단계는, 상기 제3 전극을 형성한 이후, 상기 발광 소자의 제1 단부를 포함한 일 영역과 상기 제3 전극을 커버하는 절연층을 형성하는 단계; 및 상기 제4 전극을 형성한 이후, 상기 발광 소자, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 상부를 포함하여 표시 영역을 전면적으로 커버하는 절연층을 형성하는 단계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서, 상기 발광 소자의 제1 단부와 상기 제1 격벽의 사이에 대응하는 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제1 개구부를 형성하고, 상기 발광 소자의 제2 단부와 상기 제2 격벽의 사이에 대응하는 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제2 개구부를 형성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서, 상기 제1 격벽 상의 일 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제1 개구부를 형성하고, 상기 제2 격벽 상의 일 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제2 개구부를 형성할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시예들에 의한 표시 장치 및 그의 제조 방법에 따르면, 발광 소자를 포함한 화소의 광효율을 향상시킬 수 있다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자를 나타내는 사시도 및 단면도이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자를 나타내는 사시도 및 단면도이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자를 나타내는 사시도 및 단면도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자를 나타내는 사시도 및 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 평면도이다.
도 6a 내지 도 6e는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 회로도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 평면도이다.
도 8a 및 도 8b는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 10, 도 11a 내지 도 11c는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 13 및 도 14는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 15a 내지 도 15i는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도이다.
도 16은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 17 및 도 18은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 19는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 20 및 도 21은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 22a 내지 도 22g는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도이다.
도 23은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 24 및 도 25는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 26a 내지 도 26c는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도이다.
도 27은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
도 28 및 도 29는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 30a 및 도 30b는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도이다.
도 31 내지 도 34는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소를 나타내는 단면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예를 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 다만, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되지는 않으며, 다양한 형태로 변경되어 실시될 수 있을 것이다.
한편, 도면에서 본 발명의 특징과 직접적으로 관계되지 않은 일부 구성 요소는 본 발명을 명확하게 나타내기 위하여 생략되었을 수 있다. 또한, 도면 상의 일부 구성 요소는 그 크기나 비율 등이 다소 과장되어 도시되었을 수 있다. 도면 전반에서 동일 또는 유사한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면 상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조 번호 및 부호를 부여하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 출원에서, 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 구별하여 설명하는데 사용될 뿐, 상기 구성 요소들이 상기 용어에 의해 한정되지는 않는다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들의 조합이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들의 조합의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 어떤 요소 또는 부분이 다른 요소 또는 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 상기 다른 요소 또는 부분 "바로 위에" 있는 경우는 물론, 그 중간에 또 다른 요소 또는 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 이하의 설명에서 규정하는 특정 위치나 방향 등은 상대적인 관점에서 기술한 것으로서, 일 예로 이는 보는 관점이나 방향에 따라서는 반대로 변경될 수도 있음에 유의하여야 할 것이다. 아래의 설명에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 단수만을 포함하지 않는 한, 복수의 표현도 포함한다.
도 1a 및 도 1b, 도 2a 및 도 2b, 및 도 3a 및 도 3b는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)를 나타내는 사시도 및 단면도이다. 도 1a 내지 도 3b에서는 원 기둥 형상의 막대형 발광 소자(LD)를 도시하였으나, 본 발명에 의한 발광 소자(LD)의 종류 및/또는 형상이 이에 한정되지는 않는다.
먼저 도 1a 및 도 1b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)는, 제1 도전형 반도체층(11) 및 제2 도전형 반도체층(13)과, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13)의 사이에 개재된 활성층(12)을 포함한다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 길이(L) 방향을 따라 순차적으로 적층된 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및 제2 도전형 반도체층(13)을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 일 방향을 따라 연장된 막대 형상으로 제공될 수 있다. 발광 소자(LD)의 연장 방향을 길이(L) 방향이라고 하면, 발광 소자(LD)는 상기 길이(L) 방향을 따라 제1 단부(EP1)와 제2 단부(EP2)를 가질 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에는 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 중 하나가 배치될 수 있다. 그리고, 상기 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에는 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 중 나머지 하나가 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 식각 방식 등을 통해 막대 형상으로 제조된 막대형 발광 소자("막대형 발광 다이오드"라고도 함)일 수 있다. 본 명세서에서, "막대형"이라 함은 원 기둥 또는 다각 기둥 등과 같이 길이(L) 방향으로 긴(즉, 종횡비가 1보다 큰) 로드 형상(rod-like shape), 또는 바 형상(bar-like shape)을 포괄하며, 그 단면의 형상이 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 발광 소자(LD)의 길이(L)는 그 직경(D)(또는, 횡단면의 폭)보다 클 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기를 가질 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 각각 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 범위의 직경(D)(또는, 폭) 및/또는 길이(L)를 가질 수 있다. 다만, 본 발명에서 발광 소자(LD)의 크기가 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 발광 소자(LD)를 이용한 발광 장치를 광원으로 이용하는 각종 장치, 일 예로 표시 장치 등의 설계 조건에 따라 발광 소자(LD)의 크기는 다양하게 변경될 수 있다.
제1 도전형 반도체층(11)은 일 예로 적어도 하나의 N형 반도체층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 도전형 반도체층(11)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 어느 하나의 반도체 재료를 포함하며, Si, Ge, Sn 등과 같은 제1 도전형 도펀트가 도핑된 N형 반도체층을 포함할 수 있다. 다만, 제1 도전형 반도체층(11)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질로 제1 도전형 반도체층(11)을 구성할 수 있다.
활성층(12)은 제1 도전형 반도체층(11) 상에 배치되며, 단일 또는 다중 양자 우물(Multi-Quantum Well, MQW) 구조로 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 활성층(12)의 상부 및/또는 하부에는 도전성 도펀트가 도핑된 클래드층(미도시)이 형성될 수도 있다. 일 예로, 클래드층은 AlGaN층 또는 InAlGaN층으로 형성될 수 있다. 실시예에 따라, AlGaN, AlInGaN 등의 물질이 활성층(12)을 형성하는 데에 이용될 수 있으며, 이 외에도 다양한 물질이 활성층(12)을 구성할 수 있다.
제2 도전형 반도체층(13)은 활성층(12) 상에 배치되며, 제1 도전형 반도체층(11)과 상이한 타입의 반도체층을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2 도전형 반도체층(13)은 적어도 하나의 P형 반도체층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 도전형 반도체층(13)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 적어도 하나의 반도체 재료를 포함하며, Mg 등과 같은 제2 도전형 도펀트가 도핑된 P형 반도체층을 포함할 수 있다. 다만, 제2 도전형 반도체층(13)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질이 제2 도전형 반도체층(13)을 구성할 수 있다.
발광 소자(LD)의 양단에 문턱 전압 이상의 전압을 인가하게 되면, 활성층(12)에서 전자-정공 쌍이 결합하면서 발광 소자(LD)가 발광하게 된다. 이러한 원리를 이용하여 발광 소자(LD)의 발광을 제어함으로써, 발광 소자(LD)를 표시 장치의 화소를 비롯한 다양한 발광 장치의 광원으로 이용할 수 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 표면에 제공된 절연성 피막(INF)을 더 포함할 수 있다. 절연성 피막(INF)은 적어도 활성층(12)의 외주면을 둘러싸도록 발광 소자(LD)의 표면에 형성될 수 있으며, 이외에도 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13)의 일 영역을 더 둘러쌀 수 있다. 다만, 절연성 피막(INF)은 서로 다른 극성을 가지는 발광 소자(LD)의 양 단부들은 노출할 수 있다. 예를 들어, 절연성 피막(INF)은 길이(L) 방향 상에서 발광 소자(LD)의 양단에 위치한 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)(일 예로, 도 1a 및 도 1b에서, 원기둥의 두 밑면에 해당하는 발광 소자(LD)의 상부면 및 하부면)은 커버하지 않고 노출할 수 있다.
실시예에 따라, 절연성 피막(INF)은 이산화규소(SiO 2), 질화규소(Si 3N 4), 산화알루미늄(Al 2O 3) 및 이산화타이타늄(TiO 2) 중 적어도 하나의 절연 물질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 절연성 피막(INF)의 구성 물질이 특별히 한정되지는 않으며, 상기 절연성 피막(INF)은 현재 공지된 다양한 절연 물질로 구성될 수 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12), 제2 도전형 반도체층(13) 및/또는 절연성 피막(INF) 외에도 추가적인 구성 요소를 더 포함할 수 있다. 예를 들면, 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및/또는 제2 도전형 반도체층(13)의 일단 측에 배치된 하나 이상의 형광체층, 활성층, 반도체층 및/또는 전극층을 추가적으로 포함할 수 있다.
예를 들어, 발광 소자(LD)는 도 2a 및 도 2b에 도시된 바와 같이 제2 도전형 반도체층(13)의 일단 측에 배치되는 적어도 하나의 전극층(14)을 더 포함할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 제1 단부(EP1)에 위치한 전극층(14)을 더 포함할 수 있다.
또한, 실시예에 따라 발광 소자(LD)는 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이 제1 도전형 반도체층(11)의 일단 측에 배치되는 적어도 하나의 다른 전극층(15)을 더 포함할 수도 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 각각 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)에 위치한 전극층들(14, 15)을 포함할 수 있다.
상기 전극층들(14, 15) 각각은 오믹(Ohmic) 컨택 전극일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 상기 전극층들(14, 15) 각각은 금속 또는 금속 산화물을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 전극층들(14, 15) 각각은 크롬(Cr), 타이타늄(Ti), 알루미늄(Al), 금(Au), 니켈(Ni), 이들의 산화물 또는 합금, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZnO(Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin Zinc Oxide)와 같은 투명 전극 물질 등을 단독 또는 혼합하여 형성될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 상기 전극층들(14, 15)은 실질적으로 투명 또는 반투명할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)에서 생성되는 빛이 상기 전극층들(14, 15)을 투과하여 발광 소자(LD)의 외부로 방출될 수 있다.
실시예에 따라, 절연성 피막(INF)은, 상기 전극층들(14, 15)의 외주면을 적어도 부분적으로 감싸거나, 또는 감싸지 않을 수 있다. 즉, 절연성 피막(INF)은 전극층들(14, 15)의 표면에 선택적으로 형성될 수 있다. 또한, 절연성 피막(INF)은 서로 다른 도전형(일 예로, 각각 P형 및 N형)을 가지는 발광 소자(LD)의 양단을 노출하도록 형성될 수 있다. 일 예로, 절연성 피막(INF)은 발광 소자(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)에서 전극층들(14, 15)의 적어도 일 영역을 노출할 수 있다. 또는, 또 다른 실시예에서는, 발광 소자(LD)에 절연성 피막(INF)이 제공되지 않을 수도 있다.
발광 소자(LD)의 표면, 특히 활성층(12)의 외주면을 커버하도록 절연성 피막(INF)이 제공되면, 상기 활성층(12)이 도시되지 않은 적어도 하나의 전극(일 예로, 화소의 제1 또는 제2 전극) 등과 단락되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)의 전기적 안정성을 확보할 수 있다. 본 발명의 각 실시예를 설명함에 있어, "연결(또는, 접속)"이라 함은 물리적 및/또는 전기적인 연결(또는, 접속)을 포괄적으로 의미할 수 있다. 또한, 이는 직접적 또는 간접적인 연결(또는, 접속)과, 일체형 또는 비일체형 연결(또는, 접속)을 포괄적으로 의미할 수 있다.
또한, 발광 소자(LD)의 표면에 절연성 피막(INF)을 형성함에 의해 발광 소자(LD)의 표면 결함을 최소화하여 수명 및 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 각각의 발광 소자(LD)에 절연성 피막(INF)이 형성되면, 다수의 발광 소자들(LD)이 서로 밀접하여 배치되어 있는 경우에도 상기 발광 소자들(LD)의 사이에서 원치 않는 단락이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 표면 처리 과정을 거쳐 제조될 수 있다. 예를 들어, 다수의 발광 소자들(LD)을 유동성의 용액(또는, 용매)에 혼합하여 각각의 발광 영역(일 예로, 각 화소의 발광 영역)에 공급할 때, 상기 발광 소자들(LD)이 용액 내에 불균일하게 응집하지 않고 균일하게 분산될 수 있도록 각각의 발광 소자(LD)를 표면 처리할 수 있다.
이와 관련한 비제한적인 실시예로서, 소수성 재료를 이용하여 절연성 피막(INF) 자체를 소수성막으로 형성하거나, 절연성 피막(INF) 상에 소수성 재료로 이루어진 소수성 피막을 추가적으로 형성할 수 있다. 실시예에 따라, 소수성 재료는 소수성을 나타내도록 불소를 함유하는 재료일 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 소수성 재료는 자기조립 단분자막(self-assembled monolayer; SAM)의 형태로 발광 소자들(LD)에 적용될 수 있다. 이 경우, 소수성 재료는 옥타데실 트라이클로로실란(octadecyl trichlorosilane), 플루오로알킬 트라이클로로실란(fluoroalkyl trichlorosilane), 퍼플루오로알킬 트라이에톡시실란(perfluoroalkyl triethoxysilane) 등을 포함할 수 있다. 또한, 소수성 재료는 테플론(Teflon TM)이나 사이토프(Cytop TM)와 같은 상용화된 불소 함유 재료이거나, 이에 상응하는 재료일 수 있다.
상술한 발광 소자(LD)는, 표시 장치의 화소를 비롯한 다양한 종류의 발광 장치에서 광원으로 이용될 수 있다. 예를 들어, 표시 장치의 화면을 구성하기 위한 표시 패널의 각 화소 영역에 적어도 하나의 초소형 발광 소자(LD), 일 예로 각각 나노 스케일 내지 마이크로 스케일의 크기를 가진 다수의 초소형 발광 소자들(LD)을 배치하고, 상기 초소형 발광 소자들(LD)을 이용하여 각 화소의 광원(또는, 광원 유닛)을 구성할 수 있다. 다만, 본 발명에서 발광 소자(LD)의 적용 분야가 표시 장치에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는 조명 장치 등과 같이 광원을 필요로 하는 다른 종류의 장치에도 이용될 수 있다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)를 나타내는 사시도 및 단면도이다. 실시예에 따라, 도 4a 및 도 4b에서는 도 1a 내지 도 3b에 도시된 발광 소자들(LD)과 상이한 구조의 발광 소자(LD), 일 예로 코어-쉘 구조의 발광 소자를 도시하였다. 즉, 본 발명의 실시예에 의한 발광 소자(LD)의 종류, 구조 및/또는 형상 등은 다양하게 변경될 수 있다. 도 4a 및 도 4b의 실시예에서, 도 1a 내지 도 3b의 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소(일 예로, 서로 상응하는 구성 요소)에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)는, 제1 도전형 반도체층(11) 및 제2 도전형 반도체층(13)과, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 사이에 개재된 활성층(12)을 포함한다. 실시예에 따라, 제1 도전형 반도체층(11)은 발광 소자(LD)의 중앙 영역에 배치되고, 활성층(12)은 제1 도전형 반도체층(11)의 적어도 일 영역을 감싸도록 상기 제1 도전형 반도체층(11)의 표면에 배치될 수 있다. 그리고, 제2 도전형 반도체층(13)은, 활성층(12)의 적어도 일 영역을 감싸도록 상기 활성층(12)의 표면에 배치될 수 있다.
또한, 발광 소자(LD)는, 제2 도전형 반도체층(13)의 적어도 일 영역을 감싸는 전극층(14), 및/또는 상기 발광 소자(LD)의 최외곽 표면에 배치되는 절연성 피막(INF)을 선택적으로 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는, 제2 도전형 반도체층(13)의 적어도 일 영역을 감싸도록 상기 제2 도전형 반도체층(13)의 표면에 배치되는 전극층(14)과, 상기 전극층(14)의 적어도 일 영역을 감싸도록 상기 전극층(14)의 표면에 배치되는 절연성 피막(INF)을 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 절연성 피막(INF)은 제1 도전형 반도체층(11)의 외주면 일부와 전극층(14)의 외주면을 덮도록 발광 소자(LD)의 표면에 제공될 수 있다. 이러한 절연성 피막(INF)은 투명한 절연 물질을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 절연성 피막(INF)은, 먼저 발광 소자(LD)에 포함된 전극층(14)의 외주면 전체를 덮도록 형성된 이후, 도시되지 않은 전극(일 예로, 화소의 제1 전극)과의 전기적인 연결을 위하여 전극층(14)의 일 영역을 노출하도록 부분적으로 제거될 수 있다.
상술한 실시예에 의한 발광 소자(LD)는, 성장 방식 등을 통해 제조된 코어-쉘 구조의 발광 소자("코어-쉘 발광 다이오드"라고도 함)일 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는, 중앙으로부터 외곽 방향으로 순차적으로 배치된 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12), 제2 도전형 반도체층(13), 전극층(14) 및 절연성 피막(INF)을 포함하는 코어-쉘 구조를 가질 수 있다. 한편, 실시예에 따라서는 발광 소자(LD)가 전극층(14) 및 절연성 피막(INF) 중 적어도 하나를 포함하지 않을 수도 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 어느 일 방향을 따라 연장된 다각 뿔 형상을 포함할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)의 적어도 일 영역은 육각 뿔 형상을 가질 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)의 형상은 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
발광 소자(LD)의 연장 방향을 길이(L) 방향이라고 하면, 발광 소자(LD)는 상기 길이(L) 방향을 따라 제1 단부(EP1)와 제2 단부(EP2)를 가질 수 있다. 실시예에 따라, 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에는 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13)(또는, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 중 어느 하나를 감싸는 전극층) 중 하나가 배치되고, 상기 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에는 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 중 나머지 하나(또는, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층들(11, 13) 중 다른 하나를 감싸는 전극층)가 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 발광 소자(LD)는, 제1 단부(EP1)가 다각 뿔의 형상(일 예로, 육각 뿔의 형상)으로 돌출된 코어-쉘 구조를 가지며, 초소형의 크기를 가지는 발광 다이오드일 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는, 육각 뿔과 육각 기둥이 결합된 형상을 가지며, 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기, 일 예로 각각 나노 스케일 또는 마이크로 스케일 범위의 폭(W) 및/또는 길이(L)를 가질 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)를 광원으로 이용하는 각종 장치, 일 예로 표시 장치 등의 설계 조건에 따라, 발광 소자(LD)의 크기 및 형상 등은 다양하게 변경될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 도전형 반도체층(11)의 양측 단부는, 발광 소자(LD)의 길이(L) 방향을 따라 돌출된 형상을 가질 수 있다. 제1 도전형 반도체층(11)의 양측 단부의 돌출된 형상은 서로 상이할 수 있다. 일 예로, 제1 도전형 반도체층(11)의 양측 단부 중 상측에 배치된 일 단부는 상부로 향할수록 폭이 좁아지면서 하나의 꼭지점에 접하는 뿔 형상(일 예로, 육각 뿔 형상)을 가질 수 있다. 또한, 제1 도전형 반도체층(11)의 양측 단부 중 하측에 배치된 다른 단부는 일정한 폭의 다각 기둥 형상(일 예로, 육각 기둥 형상)을 가질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는, 제1 도전형 반도체층(11)이 하부로 향할수록 폭이 점진적으로 좁아지는 다각 형상 또는 계단 형상 등의 단면을 가질 수도 있다. 제1 도전형 반도체층(11)의 양측 단부의 형상은 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
제1 도전형 반도체층(11)은 발광 소자(LD)의 코어(core), 즉, 중심(또는, 중앙 영역)에 위치할 수 있다. 또한, 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11)의 형상에 대응되는 형상으로 제공될 수 있다. 일 예로, 제1 도전형 반도체층(11)이 상측의 일 단부에서 육각 뿔 형상을 갖는 경우, 발광 소자(LD)는 상측의 일 단부(일 예로, 제1 단부(EP1))에서 육각 뿔 형상을 가질 수 있다.
활성층(12)은 제1 도전형 반도체층(11)의 외주면을 둘러싸는 형태로 제공 및/또는 형성될 수 있다. 예를 들어, 활성층(12)은 발광 소자(LD)의 길이(L) 방향에서 제1 도전형 반도체층(11)의 일측 단부(일 예로, 하측의 일 단부)를 제외한 나머지 영역을 둘러싸는 형태로 제공 및/또는 형성될 수 있다.
제2 도전형 반도체층(13)은 활성층(12)의 외주면을 둘러싸는 형태로 제공 및/또는 형성되며, 제1 도전형 반도체층(11)과 상이한 타입의 반도체층을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 도전형 반도체층(11)이 N형 반도체층을 포함할 경우, 제2 도전형 반도체층(13)은 P형 반도체층을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 제2 도전형 반도체층(13)의 외주면을 둘러싸는 전극층(14)을 더 포함할 수 있다. 전극층(14)은 제2 도전형 반도체층(13)에 전기적으로 연결되는 오믹(Ohmic) 컨택 전극일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
상술한 바와 같이, 발광 소자(LD)는 양 단부가 돌출된 형상을 갖는 코어-쉘 구조로 형성될 수 있으며, 그 중심에 제공된 제1 도전형 반도체층(11), 상기 제1 도전형 반도체층(11)을 둘러싸는 활성층(12), 상기 활성층(12)을 둘러싸는 제2 도전형 반도체층(13)을 포함한다. 또한, 상기 발광 소자(LD)는, 제2 도전형 반도체층(13)을 둘러싸는 전극층(14)을 선택적으로 더 포함할 수 있다. 상기 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에는 전극층(14)의 일단이 배치되고, 상기 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에는 제1 도전형 반도체층(11)의 일단이 배치될 수 있다.
상술한 발광 소자(LD)는, 화소를 비롯한 다양한 종류의 발광 장치에서 광원으로 이용될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널의 각 화소 영역에 적어도 하나의 초소형 발광 소자(LD), 일 예로 각각 나노 스케일 내지 마이크로 스케일의 크기를 가진 다수의 초소형 발광 소자들(LD)을 배치하고, 상기 초소형 발광 소자들(LD)을 이용하여 각 화소의 광원(또는, 광원 유닛)을 구성할 수 있다. 일 실시예에서, 각각의 화소는, 적어도 하나의 막대형 발광 소자(LD) 또는 적어도 하나의 코어-쉘 구조의 발광 소자(LD)를 포함하거나, 막대형 발광 소자(LD)와 코어-쉘 구조의 발광 소자(LD)를 복합적으로 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 각각의 화소는, 막대형 발광 소자(LD)나 코어-쉘 구조의 발광 소자(LD)와는 상이한 종류 및/또는 형상의 다른 발광 소자를 포함할 수도 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 평면도이다. 실시예에 따라, 도 5에서는 도 1a 내지 도 4b의 실시예들에 설명한 발광 소자(LD)를 광원으로서 이용할 수 있는 전자 장치의 일 예로서, 표시 장치, 특히 상기 표시 장치에 구비되는 표시 패널(PNL)을 도시하기로 한다. 일 예로, 표시 패널(PNL)의 각 화소 유닛(PXU) 및 이를 구성하는 각각의 화소는 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 적어도 하나의 화소가 단일의 발광 소자(LD)를 포함할 수도 있다.
편의상, 도 5에서는 표시 영역(DA)을 중심으로 표시 패널(PNL)의 구조를 간략하게 도시하기로 한다. 다만, 실시예에 따라서는 도시되지 않은 적어도 하나의 구동 회로부(일 예로, 주사 구동부 및 데이터 구동부 중 적어도 하나) 및/또는 복수의 배선들이 표시 패널(PNL)에 더 배치될 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 패널(PNL)은, 베이스 층(BSL)과, 상기 베이스 층(BSL) 상에 배치된 다수의 화소들을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 화소들은, 제1색 화소들(PXL1), 제2색 화소들(PXL2) 및/또는 제3색 화소들(PXL3)을 포함할 수 있다. 이하에서, 제1색 화소들(PXL1), 제2색 화소들(PXL2) 및 제3색 화소들(PXL3) 중 하나 이상의 화소를 임의로 지칭하거나, 또는 두 종류 이상의 화소들을 포괄적으로 지칭할 때, "화소(PXL)" 또는 "화소들(PXL)"이라 하기로 한다.
구체적으로, 표시 패널(PNL) 및 이를 형성하기 위한 베이스 층(BSL)은, 영상을 표시하기 위한 표시 영역(DA)과, 상기 표시 영역(DA)을 제외한 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 그리고, 베이스 층(BSL) 상의 표시 영역(DA)에는 화소들(PXL)이 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 영역(DA)은 표시 패널(PNL)의 중앙 영역에 배치되고, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)을 둘러싸도록 표시 패널(PNL)의 가장자리 영역에 배치될 수 있다. 다만, 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)의 위치가 이에 한정되지는 않으며, 이들의 위치는 변경될 수 있다. 표시 영역(DA)은 영상이 표시되는 화면을 구성할 수 있다.
베이스 층(BSL)은 표시 패널(PNL)의 베이스 부재를 구성할 수 있다. 실시예에 따라, 베이스 층(BSL)은 경성 또는 연성의 기판이나 필름일 수 있으며, 그 재료나 물성이 특별히 한정되지는 않는다. 일 예로, 베이스 층(BSL)은 유리 또는 강화 유리로 이루어진 경성 기판, 플라스틱 또는 금속 재질의 연성 기판(또는, 박막 필름), 또는 적어도 한 층의 절연막일 수 있으며, 그 재료 및/또는 물성이 특별히 한정되지는 않는다.
또한, 베이스 층(BSL)은 투명할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 일 예로, 베이스 층(BSL)은 투명, 반투명, 불투명, 또는 반사성의 베이스 부재일 수 있다.
베이스 층(BSL) 상의 일 영역은 표시 영역(DA)으로 규정되어 화소들(PXL)이 배치되고, 나머지 영역은 비표시 영역(NDA)으로 규정될 수 있다. 일 예로, 베이스 층(BSL)은, 각각의 화소(PXL)가 형성되는 복수의 화소 영역들을 포함한 표시 영역(DA)과, 상기 표시 영역(DA)의 외곽에 배치되는 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 비표시 영역(NDA)에는 표시 영역(DA)의 화소들(PXL)에 연결되는 각종 배선들 및/또는 내장 회로부가 배치될 수 있다.
표시 영역(DA)에는 다수의 화소들(PXL)이 분산되어 배치될 수 있다. 일 예로, 표시 영역(DA)에는 스트라이프 또는 펜타일 배열 구조 등에 따라 다수의 화소들(PXL)이 규칙적으로 배열될 수 있다. 다만, 화소들(PXL)의 배열 구조가 이에 한정되지는 않으며, 화소들(PXL)은 다양한 구조 및/또는 방식으로 표시 영역(DA)에 배열될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 영역(DA)에는 서로 다른 색의 빛을 방출하는 두 종류 이상의 화소들(PXL)이 배치될 수 있다. 일 예로, 표시 영역(DA)에는, 제1색의 빛을 방출하는 제1색 화소들(PXL1), 제2색의 빛을 방출하는 제2색 화소들(PXL2), 및 제3색의 빛을 방출하는 제3색 화소들(PXL3)이 규칙적으로 배열될 수 있다. 그리고, 서로 인접하도록 배치된 적어도 하나의 제1색 화소(PXL1), 제2색 화소(PXL2) 및 제3색 화소(PXL3)는, 다양한 색상의 빛을 방출할 수 있는 하나의 화소 유닛(PXU)을 구성할 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 제1색 화소(PXL1)는 적색의 빛을 방출하는 적색 화소일 수 있고, 각각의 제2색 화소(PXL2)는 녹색의 빛을 방출하는 녹색 화소일 수 있으며, 각각의 제3색 화소(PXL3)는 청색의 빛을 방출하는 청색 화소일 수 있다. 일 실시예에서, 제1색 화소들(PXL1), 제2색 화소들(PXL2) 및 제3색 화소들(PXL3)은, 각각 제1색의 발광 소자, 제2색의 발광 소자 및 제3색의 발광 소자를 광원으로 구비함으로써, 각각 제1색, 제2색 및 제3색의 빛을 방출할 수 있다. 다른 실시예에서, 제1색 화소들(PXL1), 제2색 화소들(PXL2) 및 제3색 화소들(PXL3)은 서로 동일한 색의 발광 소자들을 구비하되, 각각의 발광 소자 상에 배치된 서로 다른 색상의 광 변환층 및/또는 컬러 필터를 포함함으로써, 각각 제1색, 제2색 및 제3색의 빛을 방출할 수도 있다.
다만, 각각의 화소 유닛(PXU)을 구성하는 화소들(PXL)의 색상, 종류 및/또는 개수 등이 특별히 한정되지는 않으며, 일 예로 각각의 화소(PXL)가 방출하는 빛의 색은 다양하게 변경될 수 있다.
각각의 화소(PXL)는 소정의 제어 신호(일 예로, 주사 신호 및 데이터 신호) 및/또는 소정의 전원(일 예로, 제1 전원 및 제2 전원)에 의해 구동되는 적어도 하나의 광원을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는 도 1a 내지 도 3b의 실시예들 중 어느 하나의 실시예에 의한 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로, 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기를 가지는 적어도 하나의 초소형 막대형 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는 도 4a 및 도 4b의 실시예에 의한 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로, 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기를 가지는 적어도 하나의 초소형 코어-쉘 구조의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 또한, 이외에도 다양한 종류의 발광 소자(LD)가 화소(PXL)의 광원으로 이용될 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는 능동형 화소로 구성될 수 있다. 다만, 본 발명의 표시 장치에 적용될 수 있는 화소들(PXL)의 종류, 구조 및/또는 구동 방식이 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 각각의 화소(PXL)는 현재 공지된 다양한 구조 및/또는 구동 방식의 수동형 또는 능동형 발광 표시 장치의 화소로 구성될 수 있다.
도 6a 내지 도 6e는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 회로도이다. 예를 들어, 도 6a 내지 도 6e는 능동형 표시 장치에 적용될 수 있는 화소(PXL)에 대한 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 다만, 본 발명의 실시예가 적용될 수 있는 화소(PXL) 및 표시 장치의 종류가 이에 한정되지는 않는다.
실시예에 따라, 도 6a 내지 도 6e에 도시된 각각의 화소(PXL)는 도 5의 표시 패널(PNL)에 구비된 제1색 화소(PXL1), 제2색 화소(PXL2) 및 제3색 화소(PXL3) 중 어느 하나일 수 있다. 또한, 상기 제1색 화소(PXL1), 제2색 화소(PXL2) 및 제3색 화소(PXL3)는 실질적으로 서로 동일 또는 유사한 구조를 가질 수 있다.
먼저 도 6a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)는 데이터 신호에 대응하는 휘도의 빛을 생성하기 위한 광원 유닛(LSU)을 포함한다. 또한, 화소(PXL)는, 광원 유닛(LSU)을 구동하기 위한 화소 회로(PXC)를 선택적으로 더 포함할 수 있다.
광원 유닛(LSU)은, 제1 전극(ELT1)("제1 화소 전극" 또는 "제1 정렬 전극"이라고도 함), 제2 전극(ELT2)("제2 화소 전극" 또는 "제2 정렬 전극"이라고도 함), 및 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 연결된 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 전극(ELT1)은, 화소 회로(PXC) 및 제1 전원선(PL1)을 통해 제1 전원(VDD)에 연결되고, 제2 전극(ELT2)은 제2 전원선(PL2)을 통해 제2 전원(VSS)에 연결될 수 있다. 그리고, 발광 소자들(LD)은, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 서로 동일한 방향으로 병렬 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 전극(ELT1)은 애노드 전극이고, 제2 전극(ELT2)은 캐소드 전극일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
발광 소자들(LD) 각각은, 제1 전극(ELT1) 및/또는 화소 회로(PXC)를 통해 제1 전원(VDD)에 연결되는 P형 단부와, 제2 전극(ELT2)을 통해 제2 전원(VSS)에 연결되는 N형 단부를 포함할 수 있다. 즉, 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 순방향으로 병렬 연결될 수 있다. 이와 같이 제1 전원(VDD)과 제2 전원(VSS)의 사이에 순방향으로 연결된 각각의 발광 소자(LD)는 각각의 유효 광원을 구성하고, 이러한 유효 광원들이 모여 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 구성할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전원들(VDD, VSS)은 발광 소자들(LD)이 발광할 수 있도록 서로 다른 전위를 가질 수 있다. 일 예로, 제1 전원(VDD)은 고전위 전원으로 설정되고, 제2 전원(VSS)은 저전위 전원으로 설정될 수 있다. 이때, 제1 및 제2 전원들(VDD, VSS)의 전위 차는 적어도 화소(PXL)의 발광 기간 동안 발광 소자들(LD)의 문턱 전압 이상으로 설정될 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 광원 유닛(LSU)을 구성하는 발광 소자들(LD)의 일 단부(일 예로, P형 단부)는 광원 유닛(LSU)의 일 전극(일 예로, 각 화소(PXL)의 제1 전극(ELT1))을 통해 화소 회로(PXC)에 공통으로 접속되며, 상기 화소 회로(PXC) 및 제1 전원선(PL1)을 통해 제1 전원(VDD)에 접속될 수 있다. 그리고, 발광 소자들(LD)의 다른 단부(일 예로, N형 단부)는 상기 광원 유닛(LSU)의 다른 전극(일 예로, 각 화소(PXL)의 제2 전극(ELT2)) 및 제2 전원선(PL2)을 통해 제2 전원(VSS)에 공통으로 접속될 수 있다.
광원 유닛(LSU)의 발광 소자들(LD)은 해당 화소 회로(PXC)를 통해 공급되는 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 예를 들어, 각각의 프레임 기간 동안 화소 회로(PXC)는 해당 프레임 데이터의 계조 값에 대응하는 구동 전류를 광원 유닛(LSU)으로 공급할 수 있다. 광원 유닛(LSU)으로 공급된 구동 전류는 순방향으로 연결된 발광 소자들(LD)에 나뉘어 흐를 수 있다. 이에 따라, 각각의 발광 소자(LD)가 그에 흐르는 전류에 상응하는 휘도로 발광하면서, 광원 유닛(LSU)이 구동 전류에 대응하는 휘도의 빛을 방출할 수 있다.
한편, 도 6a에서는, 각각의 유효 광원을 구성하는 발광 소자들(LD)을 중심으로 광원 유닛(LSU)을 도시하였으나, 실시예에 따라 광원 유닛(LSU)은 상기 발광 소자들(LD) 외에 적어도 하나의 비유효 광원을 더 포함할 수도 있다. 일 예로, 광원 유닛(LSU)은, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 역방향으로 연결되거나, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 온전히 연결되지 않은, 적어도 하나의 발광 소자(이하, "비유효 광원"이라 함)를 더 포함할 수도 있다. 다만, 각각의 비유효 광원은, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 소정의 구동 전압(일 예로, 순방향의 구동 전압)이 인가되더라도 비활성화된 상태를 유지하게 되고, 이에 따라 상기 비유효 광원에는 실질적으로 전류가 흐르지 않게 된다.
화소 회로(PXC)는 해당 화소(PXL)의 주사선(Si) 및 데이터선(Dj)에 접속될 수 있다. 일 예로, 화소(PXL)가 표시 영역(DA)의 i(i는 자연수)번째 행 및 j(j는 자연수)번째 열에 배치되었다고 할 때, 상기 화소(PXL)의 화소 회로(PXC)는 표시 영역(DA)의 i번째 주사선(Si) 및 j번째 데이터선(Dj)에 접속될 수 있다. 실시예에 따라, 화소 회로(PXC)는 제1 및 제2 트랜지스터들(T1, T2)과 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)("구동 트랜지스터"라고도 함)는 제1 전원(VDD)과 광원 유닛(LSU)의 사이에 접속된다. 그리고, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 이러한 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 광원 유닛(LSU)으로 공급되는 구동 전류를 제어한다.
제2 트랜지스터(T2)("스위칭 트랜지스터"라고도 함)는 데이터선(Dj)과 제1 노드(N1)의 사이에 접속된다. 그리고, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 주사선(Si)에 접속된다. 이러한 제2 트랜지스터(T2)는, 주사선(Si)으로부터 게이트-온 전압(일 예로, 로우 레벨 전압)의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어, 데이터선(Dj)과 제1 노드(N1)를 전기적으로 연결한다.
각각의 프레임 기간마다 데이터선(Dj)으로는 해당 프레임의 데이터 신호가 공급되고, 상기 데이터 신호는 제2 트랜지스터(T2)를 경유하여 제1 노드(N1)로 전달된다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cst)에는 데이터 신호에 대응하는 전압이 충전된다.
스토리지 커패시터(Cst)의 일 전극은 제1 전원(VDD)에 접속되고, 다른 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 각각의 프레임 기간 동안 제1 노드(N1)로 공급되는 데이터 신호에 대응하는 전압을 충전한다.
한편, 도 6a에서는 화소 회로(PXC)에 포함되는 트랜지스터들, 일 예로 제1 및 제2 트랜지스터들(T1, T2)을 모두 P형 트랜지스터들로 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 즉, 제1 및 제2 트랜지스터들(T1, T2) 중 적어도 하나는 N형 트랜지스터로 변경될 수도 있다.
예를 들면, 도 6b에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2 트랜지스터들(T1, T2)은 모두 N형 트랜지스터들일 수 있다. 이 경우, 각각의 프레임 기간마다 데이터선(Dj)으로 공급되는 데이터 신호를 화소(PXL)에 기입하기 위한 주사 신호의 게이트-온 전압은 하이 레벨 전압("게이트-하이 전압"이라고도 함)일 수 있다. 유사하게, 제1 트랜지스터(T1)를 턴-온시키기 위한 데이터 신호의 전압은 도 6a의 실시예에서와 상반된 레벨의 전압일 수 있다. 일 예로, 도 6b의 실시예에서는 표현하고자 하는 계조 값이 클수록 보다 높은 전압의 데이터 신호가 공급될 수 있다.
일 실시예에서, 화소 회로(PXC) 및 광원 유닛(LSU)의 상호 접속 위치는 변경될 수 있다. 예를 들어, 도 6b에 도시된 바와 같이, 화소 회로(PXC)를 구성하는 제1 및 제2 트랜지스터들(T1, T2)이 모두 N형 트랜지스터들일 때, 화소 회로(PXC)는 광원 유닛(LSU)과 제2 전원(VSS)의 사이에 접속되고, 스토리지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)와 제2 전원(VSS)의 사이에 접속될 수도 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 화소 회로(PXC)가 N형 트랜지스터들로 구성되더라도 상기 화소 회로(PXC)가 제1 전원(VDD)과 광원 유닛(LSU)의 사이에 접속되고, 스토리지 커패시터(Cst)가 제1 노드(N1)와 제1 전원(VDD)의 사이에 접속될 수도 있다.
도 6b에 도시된 화소(PXL)는, 트랜지스터들의 타입 변경에 따라 일부 회로 소자의 접속 위치 및 제어 신호들(일 예로, 주사 신호 및 데이터 신호)의 전압 레벨이 변경되는 것을 제외하고, 그 구성 및 동작이 도 6a의 화소(PXL)와 실질적으로 유사하다. 따라서, 도 6b의 화소(PXL)에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
한편, 화소 회로(PXC)의 구조가 도 6a 및 도 6b에 도시된 실시예에 한정되지는 않는다. 즉, 화소 회로(PXC)는 현재 공지된 다양한 구조 및/또는 구동 방식의 화소 회로로 구성될 수 있다. 일 예로, 화소 회로(PXC)는 도 6c에 도시된 실시예와 같이 구성될 수도 있다.
도 6c를 참조하면, 화소 회로(PXC)는 해당 수평 라인의 주사선(Si) 외에도 적어도 하나의 다른 주사선(또는, 제어선)에 더 접속될 수 있다. 일 예로, 표시 영역(DA)의 i번째 행에 배치된 화소(PXL)의 화소 회로(PXC)는 i-1번째 주사선(Si-1) 및/또는 i+1번째 주사선(Si+1)에 더 접속될 수 있다. 또한, 실시예에 따라 화소 회로(PXC)는 제1 및 제2 전원들(VDD, VSS) 외에 제3의 다른 전원에 더 연결될 수도 있다. 일 예로, 화소 회로(PXC)는 초기화 전원(Vint)에도 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 화소 회로(PXC)는 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7)과 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 제1 전원(VDD)과 광원 유닛(LSU)의 사이에 접속된다. 예를 들어, 제1 트랜지스터(T1)의 일 전극(일 예로, 소스 전극)은 제5 트랜지스터(T5) 및 제1 전원선(PL1)을 경유하여 제1 전원(VDD)에 접속되고, 제1 트랜지스터(T1)의 다른 전극(일 예로, 드레인 전극)은 제6 트랜지스터(T6)를 경유하여 광원 유닛(LSU)의 일 전극(일 예로, 해당 화소(PXL)의 제1 화소 전극)에 접속될 수 있다. 그리고, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 이러한 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 광원 유닛(LSU)으로 공급되는 구동 전류를 제어한다.
제2 트랜지스터(T2)는 데이터선(Dj)과 제1 트랜지스터(T1)의 일 전극 사이에 접속된다. 그리고, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 해당 주사선(Si)에 접속된다. 이와 같은 제2 트랜지스터(T2)는 주사선(Si)으로부터 게이트-온 전압의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 데이터선(Dj)을 제1 트랜지스터(T1)의 일 전극에 전기적으로 연결한다. 따라서, 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온되면, 데이터선(Dj)으로부터 공급되는 데이터 신호가 제1 트랜지스터(T1)로 전달된다.
제3 트랜지스터(T3)는 제1 트랜지스터(T1)의 다른 전극과 제1 노드(N1) 사이에 접속된다. 그리고, 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 해당 주사선(Si)에 접속된다. 이와 같은 제3 트랜지스터(T3)는 주사선(Si)으로부터 게이트-온 전압의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 제1 트랜지스터(T1)를 다이오드 형태로 연결한다.
제4 트랜지스터(T4)는 제1 노드(N1)와 초기화 전원(Vint) 사이에 접속된다. 그리고, 제4 트랜지스터(T4)의 게이트 전극은 이전 주사선, 일 예로 i-1번째 주사선(Si-1)에 접속된다. 이와 같은 제4 트랜지스터(T4)는 i-1번째 주사선(Si-1)으로 게이트-온 전압의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 초기화 전원(Vint)의 전압을 제1 노드(N1)로 전달한다. 실시예에 따라, 제1 트랜지스터(T1)가 P형 트랜지스터일 때, 상기 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전압을 초기화시키기 위한 초기화 전원(Vint)의 전압은 데이터 신호의 최저 전압 이하일 수 있다.
제5 트랜지스터(T5)는 제1 전원(VDD)과 제1 트랜지스터(T1) 사이에 접속된다. 그리고, 제5 트랜지스터(T5)의 게이트 전극은 해당 발광 제어선, 일 예로 i번째 발광 제어선(Ei)에 접속된다. 이와 같은 제5 트랜지스터(T5)는 발광 제어선(Ei)으로 게이트-오프 전압(일 예로, 하이 레벨 전압)의 발광 제어신호가 공급될 때 턴-오프되고, 그 외의 경우에 턴-온된다.
제6 트랜지스터(T6)는 제1 트랜지스터(T1)와 광원 유닛(LSU) 사이에 접속된다. 그리고, 제6 트랜지스터(T6)의 게이트 전극은 해당 발광 제어선, 일 예로 i번째 발광 제어선(Ei)에 접속된다. 이와 같은 제6 트랜지스터(T6)는 발광 제어선(Ei)으로 게이트-오프 전압의 발광 제어신호가 공급될 때 턴-오프되고, 그 외의 경우에 턴-온된다.
제7 트랜지스터(T7)는 광원 유닛(LSU)의 일 전극(일 예로, 제1 전극(ELT1))과 초기화 전원(Vint) 사이에 접속된다. 그리고, 제7 트랜지스터(T7)의 게이트 전극은 다음 단(다음 수평 화소열)의 주사선들 중 어느 하나, 일 예로 i+1번째 주사선(Si+1)에 접속된다. 이와 같은 제7 트랜지스터(T7)는 i+1번째 주사선(Si+1)으로 게이트-온 전압의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 초기화 전원(Vint)의 전압을 광원 유닛(LSU)의 일 전극으로 공급한다. 이에 따라, 광원 유닛(LSU)으로 초기화 전원(Vint)의 전압이 전달되는 각각의 초기화 기간 동안, 광원 유닛(LSU)의 일 전극의 전압이 초기화된다. 한편, 제7 트랜지스터(T7)의 동작을 제어하기 위한 제어 신호는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제7 트랜지스터(T7)의 게이트 전극이 해당 수평 라인의 주사선, 즉 i번째 주사선(Si)에 연결될 수도 있다. 이 경우, 제7 트랜지스터(T7)는 i번째 주사선(Si)으로 게이트-온 전압의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어 초기화 전원(Vint)의 전압을 광원 유닛(LSU)의 일 전극으로 공급할 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 전원(VDD)과 제1 노드(N1) 사이에 접속된다. 이와 같은 스토리지 커패시터(Cst)는 각 프레임 기간에 제1 노드(N1)로 공급되는 데이터 신호 및 제1 트랜지스터(T1)의 문턱전압에 대응하는 전압을 저장한다.
한편, 도 6c에서는 화소 회로(PXC)에 포함되는 트랜지스터들, 일 예로, 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7)을 모두 P형 트랜지스터들로 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7) 중 적어도 하나는 N형 트랜지스터로 변경될 수도 있다.
또한, 도 6a 내지 도 6c에서는, 각각의 광원 유닛(LSU)을 구성하는 유효 광원들, 즉 순방향의 발광 소자들(LD)이 모두 병렬로 연결된 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는, 도 6d 및 도 6e에 도시된 바와 같이 각 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)이 직렬 연결 구조를 포함하도록 구성될 수도 있다. 도 6d 및 도 6e의 실시예들을 설명함에 있어, 도 6a 내지 도 6c의 실시예들과 유사 또는 동일한 구성(일 예로, 화소 회로(PXC))에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 6d를 참조하면, 광원 유닛(LSU)은 서로 직렬로 연결된 적어도 두 개의 발광 소자들을 포함할 수 있다. 일 예로, 광원 유닛(LSU)은, 제1 전원(VDD)과 제2 전원(VSS)의 사이에 순방향으로 직렬 연결되어 각각의 유효 광원을 구성하는 제1단 발광 소자(LDs1), 제2단 발광 소자(LDs2) 및 제3단 발광 소자(LDs3)를 포함할 수 있다. 이하에서는, 제1단, 제2단 및 제3단 발광 소자들(LDs1, LDs2, LDs3) 중 특정 발광 소자를 지칭할 때에는 해당 발광 소자를 "제1단 발광 소자(LDs1)", "제2단 발광 소자(LDs2)" 또는 "제3단 발광 소자(LDs3)"로 명기하기로 한다. 그리고, 제1단, 제2단 및 제3단 발광 소자들(LDs1, LDs2, LDs3) 중 적어도 하나의 발광 소자를 임의로 지칭하거나, 상기 제1단, 제2단 및 제3단 발광 소자들(LDs1, LDs2, LDs3)을 포괄적으로 지칭할 때에는, "발광 소자(LD)"또는"발광 소자들(LD)"이라 하기로 한다.
제1단 발광 소자(LDs1)의 P형 단부는 광원 유닛(LSU)의 제1 전극(ELT1), 화소 회로(PXC) 및/또는 제1 전원선(PL1)을 통해 제1 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제1단 발광 소자(LDs1)의 N형 단부는 제1 중간 전극(IET1)을 통해 제2단 발광 소자(LDs2)의 P형 단부에 연결될 수 있다. 제2단 발광 소자(LDs2)의 P형 단부는 제1단 발광 소자(LDs1)의 N형 단부에 연결되고, 상기 제2단 발광 소자(LDs2)의 N형 단부는 제2 중간 전극(IET2)을 통해 제3단 발광 소자(LDs3)의 P형 단부에 연결될 수 있다. 제3단 발광 소자(LDs3)의 P형 단부는 제2단 발광 소자(LDs2)의 N형 단부에 연결되고, 상기 제3단 발광 소자(LDs3)의 N형 단부는 광원 유닛(LSU)의 제2 전극(ELT2) 및 제2 전원선(PL2)을 통해 제2 전원(VSS)에 연결될 수 있다. 상술한 방식으로, 제1단, 제2단 및 제3단 발광 소자들(LDs1, LDs2, LDs3)은, 광원 유닛(LSU)의 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 순차적으로 직렬 연결될 수 있다.
한편, 도 6d에서는 3단 직렬 구조로 발광 소자들(LD)을 연결하는 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 두 개의 발광 소자들(LD)을 2단 직렬 구조로 연결하거나, 네 개 이상의 발광 소자들(LD)을 4단 이상의 직렬 구조로 연결할 수도 있다.
동일 조건(일 예로, 동일한 크기 및/또는 개수)의 발광 소자들(LD)을 이용하여 동일 휘도를 표현한다고 가정할 때, 상기 발광 소자들(LD)을 직렬 연결한 구조의 광원 유닛(LSU)에서는, 상기 발광 소자들(LD)을 병렬 연결한 구조의 광원 유닛(LSU)에 비해 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 인가되는 전압은 증가하고, 상기 광원 유닛(LSU)에 흐르는 구동 전류의 크기는 감소할 수 있다. 따라서, 발광 소자들(LD)의 직렬 연결 구조를 적용하여 각 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 구성할 경우, 표시 장치를 구동함에 따라 표시 패널(PNL)에 흐르는 패널 전류를 저감할 수 있다.
일 실시예에서, 적어도 하나의 직렬 단은 서로 병렬로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수도 있다. 이 경우, 광원 유닛(LSU)은 직/병렬 혼합 구조로 구성될 수 있다. 예를 들면, 광원 유닛(LSU)은 도 6e의 실시예와 같이 구성될 수 있다.
도 6e를 참조하면, 광원 유닛(LSU)을 구성하는 적어도 하나의 직렬 단은, 순방향으로 병렬 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 광원 유닛(LSU)은, 제1 직렬단("제1단" 또는 "제1행"이라고도 함)에 배치된 복수의 제1단 발광 소자들(LDs1)과, 제1 직렬단에 후속되는 제2 직렬단("제2단" 또는 "제2행"이라고도 함)에 배치된 복수의 제2단 발광 소자들(LDs2)과, 제2 직렬단에 후속되는 제3 직렬단("제3단" 또는 "제3행"이라고도 함)에 배치된 적어도 하나의 제3단 발광 소자(LDs3)를 포함할 수 있다.
한편, 도 6e에서는 세 개의 직렬단들에 배치된 발광 소자들(LD)로 구성된 광원 유닛(LSU)을 도시하였지만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 광원 유닛(LSU)은, 오직 두 개의 직렬단들에 배치된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함하거나, 네 개 이상의 직렬단들에 분산된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수도 있다. 또한, 각각의 직렬단에 순방향으로 연결되는 발광 소자들(LD)의 개수는 각각 하나 이상일 수 있으며, 이는 다양하게 변경될 수 있다. 실시예에 따라, 표시 영역(도 5의 DA)에 배치된 화소들(PXL)은 서로 동일 또는 유사한 개수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 일 예로, 각각의 화소(PXL)를 형성하기 위한 각각의 화소 영역(특히, 각 화소(PXL)의 발광 영역)에 발광 소자들(LD)을 공급하는 단계에서, 상기 발광 소자들(LD)을 포함한 발광 소자 잉크(또는, "발광 소자 용액"이라고도 함)가 각 화소(PXL)의 발광 영역에 균일하게 도포되도록 제어함과 더불어, 각 화소(PXL) 내에 균일한 조건으로 전계가 인가되도록 제어하여 발광 소자들(LD)을 정렬할 수 있다. 이에 따라, 화소들(PXL)이 서로 동일 또는 유사한 개수의 발광 소자들(LD)을 포함하도록 상기 화소들(PXL)을 형성하여 각 화소들(PXL)의 발광 특성을 균일화할 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는, 적어도 하나의 직렬단에 배치된 적어도 하나의 역방향 발광 소자(LDrv)를 더 포함할 수도 있다. 예를 들어, 복수의 직렬단들 중 적어도 하나는, 발광 소자들(LD)과 반대 방향으로 연결된 적어도 하나의 역방향 발광 소자(LDrv)를 더 포함할 수 있다.
다만, 적어도 하나의 직렬단에 역방향 발광 소자(LDrv)가 연결되더라도, 상기 직렬단에 순방향으로 연결된 적어도 하나의 유효 광원(일 예로, 제1단, 제2단 및/또는 제3단 발광 소자들(LDs1, LDs2, LDs3))이 배치될 경우, 화소(PXL)의 구동 전류는 각각의 직렬단을 순차적으로 경유하여 흐를 수 있게 된다. 이에 따라, 광원 유닛(LSU)이 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광하게 된다.
상술한 실시예들에서와 같이, 각각의 광원 유닛(LSU)은, 제1 전원(VDD)과 제2 전원(VSS)의 사이에 순방향으로 연결되어 각각의 유효 광원을 구성하는 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 발광 소자들(LD) 사이의 연결 구조는 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 발광 소자들(LD)은, 서로 직렬 또는 병렬로만 연결되거나, 직/병렬 혼합 구조로 연결될 수 있다.
전술한 바와 같이, 화소(PXL)는 다양한 구조의 화소 회로(PXC) 및/또는 광원 유닛(LSU)을 구비할 수 있다. 또한, 본 발명에 적용될 수 있는 화소(PXL)의 구조가 도 6a 내지 도 6e에 도시된 실시예들에 한정되지는 않으며, 각각의 화소(PXL)는 현재 공지된 다양한 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 각각의 화소(PXL)에 포함된 화소 회로(PXC)는 현재 공지된 다양한 구조 및/또는 구동 방식의 화소 회로로 구성될 수 있다. 또한, 본 발명의 다른 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는 수동형 발광 표시 장치 등의 내부에 구성될 수도 있다. 이 경우, 화소 회로(PXC)는 생략되고, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은, 각각 주사선(Si), 데이터선(Dj), 전원선 및/또는 제어선 등에 직접 접속될 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 평면도이다. 실시예에 따라, 도 7에서는 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 중심으로 상기 화소(PXL)의 구조를 도시하기로 한다. 다만, 실시예에 따라서는, 각각의 화소(PXL)가 광원 유닛(LSU)에 연결되는 회로 소자들(일 예로, 각각의 화소 회로(PXC)를 구성하는 복수의 회로 소자들)을 선택적으로 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 도 7에 도시된 화소(PXL)는 도 5 내지 도 6e에 도시된 화소들(PXL) 중 어느 하나일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 도 7에 도시된 각각의 화소(PXL)는 도 6a 내지 도 6c의 실시예들에서와 같이 병렬 구조의 광원 유닛(LSU)을 포함한 화소(PXL)일 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 각각의 광원 유닛(LSU)을 구성하는 전극들 및 발광 소자들(LD)의 배치 및/또는 연결 구조 등을 변경함에 따라, 직/병렬 혼합 구조의 광원 유닛(LSU)을 구성할 수도 있다. 또한, 또 다른 실시예에서는 표시 영역(DA)에 배치된 적어도 하나의 화소(PXL)가 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 순방향으로 연결된 단일의 발광 소자(LD)만을 포함할 수도 있다.
또한, 도 7에서는 각각의 광원 유닛(LSU)이, 제1 및 제2 컨택홀들(CH1, CH2)을 통해, 소정의 전원선(일 예로, 제1 및/또는 제2 전원선들(PL1, PL2)), 회로 소자(일 예로, 화소 회로(PXC)를 구성하는 적어도 하나의 회로 소자) 및/또는 신호선(일 예로, 주사선(Si) 및/또는 데이터선(Dj))에 연결되는 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 중 적어도 하나가, 컨택홀 및/또는 중간 배선 등을 경유하지 않고 소정의 전원선 및/또는 신호선에 직접적으로 연결될 수도 있다.
도 5 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)는, 각각의 발광 영역(EMA)에 배치된 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)과, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 배열된 적어도 하나의 발광 소자(LD)(일 예로, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 서로 병렬로 연결된 복수의 발광 소자들(LD))을 포함할 수 있다. 또한, 화소(PXL)는, 제1 전극(ELT1)을 제1 전원선(PL1)에 연결하는 제1 전극 배선(ELI1)("제1 연결 전극" 또는 "제1 정렬 배선"이라고도 함) 및 제1 컨택홀(CH1), 제2 전극(ELT2)을 제2 전원선(PL2)에 연결하는 제2 전극 배선(ELI2)("제2 연결 전극" 또는 "제2 정렬 배선"이라고도 함) 및 제2 컨택홀(CH2), 각각 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)과 중첩되는 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2), 발광 소자들(LD)을 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 전기적으로 연결하는 제1 컨택 전극(CNE1)("제3 전극"이라고도 함) 및 제2 컨택 전극(CNE2)("제4 전극"이라고도 함) 중 적어도 하나를 선택적으로 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 발광 소자들(LD) 및/또는 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 등은, 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 구성할 수 있다.
제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)은 각각의 화소(PXL)가 제공 및/또는 형성되는 각각의 화소 영역, 특히 해당 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에 서로 이격되어 배치될 수 있다. 실시예에 따라, 각각의 화소 영역은, 해당 화소(PXL)를 구성하기 위한 회로 소자들이 배치되는 화소 회로 영역과, 상기 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)이 배치되는 발광 영역(EMA)을 포괄적으로 의미할 수 있다. 그리고, 발광 영역(EMA)은 각 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 구성하는 발광 소자들(LD)(특히, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 온전히 연결된 유효 광원들)이 배치되는 영역일 수 있다. 또한, 발광 영역(EMA)에는, 상기 발광 소자들(LD)에 연결되는 소정의 전극들(일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 및/또는 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)) 또는 상기 전극들의 일 영역이 배치될 수 있다. 이러한 발광 영역(EMA)은, 각각의 화소 영역 및 그 내부의 발광 영역(EMA)을 규정하도록 화소들(PXL)의 사이에 형성되는 차광성 및/또는 반사성의 뱅크("화소 정의막"이라고도 함)에 의해 둘러싸일 수 있다. 예를 들어, 발광 영역(EMA)의 주변에는 상기 발광 영역(EMA)을 둘러싸는 뱅크가 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 각각의 발광 영역(EMA)에서 제1 방향(DR1)을 따라 소정 간격만큼 이격되어 나란히 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은, 어느 일 방향을 따라 연장되는 바 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 제1 방향(DR1)과 교차하는(일 예로, 직교하는) 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 바 형상을 가질 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 형상, 배열 방향 및/또는 상호 배치 관계 등은 다양하게 변경될 수 있다.
또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은, 각각의 발광 영역(EMA)에 하나 이상 배치될 수 있는 것으로서, 상기 발광 영역(EMA)에 배치되는 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 개수가 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 각각의 발광 영역(EMA)에는 각각 제2 방향(DR2)을 따라 연장되며 서로 평행한 복수의 제1 전극들(ELT1)이 배치될 수 있다. 또한, 각각의 발광 영역(EMA)에는 각각의 제1 전극(ELT1)과 마주하는 적어도 하나의 제2 전극(ELT2)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 각각의 발광 영역(EMA)에는, 두 개의 제1 전극들(ELT1)의 사이에 하나의 제2 전극(ELT2)이 배치되거나, 상기 복수의 제1 전극들(ELT1) 각각에 대응하는 복수의 제2 전극들(ELT2)이 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 전극(ELT1)은 제1 전극 배선(ELI1) 및/또는 제1 컨택홀(CH1)을 통해 소정의 회로 소자(일 예로, 화소 회로(PXC)를 구성하는 적어도 하나의 트랜지스터), 전원선(일 예로, 제1 전원선(PL1)) 및/또는 신호선(일 예로, 주사선(Si), 데이터선(Dj) 또는 소정의 제어선)에 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 전극(ELT1)은 제1 전극 배선(ELI1) 및 제1 컨택홀(CH1)을 통해, 그 하부에 배치된 소정의 회로 소자에 전기적으로 연결되고 상기 회로 소자를 통해 제1 배선에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 배선은 제1 전원(VDD)을 공급하기 위한 제1 전원선(PL1)일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서, 상기 제1 배선은 소정의 제1 구동 신호(일 예로, 주사 신호, 데이터 신호, 또는 소정의 제어 신호 등)가 공급되는 신호선일 수도 있다.
다른 실시예에서, 제1 전극(ELT1)은 제1 전극 배선(ELI1), 제1 컨택홀(CH1) 및/또는 회로 소자를 경유하지 않고 소정의 전원선 또는 신호선에 직접 연결될 수도 있다. 이 경우, 제1 전극(ELT1)은 상기 소정의 전원선 또는 신호선에 일체 또는 비일체로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 전극(ELT1) 및 제1 전극 배선(ELI1)은 각각의 화소 영역에서 서로 다른 방향을 따라 연장될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극 배선(ELI1)이 제1 방향(DR1)을 따라 연장된다고 할 때, 제1 전극(ELT1)은 상기 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)을 따라 연장될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 전극(ELT1) 및 제1 전극 배선(ELI1)은 서로 일체로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(ELT1)은 제1 전극 배선(ELI1)으로부터 적어도 한 갈래로 분기되어 형성될 수 있다. 제1 전극(ELT1) 및 제1 전극 배선(ELI1)이 서로 일체로 연결되는 경우, 제1 전극 배선(ELI1)을 제1 전극(ELT1)의 일 영역으로 간주할 수도 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제1 전극(ELT1) 및 제1 전극 배선(ELI1)이 개별적으로 형성되어, 적어도 하나의 컨택홀 또는 비아홀 등을 통해 서로 연결될 수도 있다.
실시예에 따라, 제2 전극(ELT2)은 제2 전극 배선(ELI2) 및/또는 제2 컨택홀(CH2)을 통해 소정의 회로 소자(일 예로, 화소 회로(PXC)를 구성하는 적어도 하나의 트랜지스터), 전원선(일 예로, 제2 전원선(PL2)) 및/또는 신호선(일 예로, 주사선(Si), 데이터선(Dj) 또는 소정의 제어선)에 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 전극(ELT2)은 제2 전극 배선(ELI2) 및 제2 컨택홀(CH2)을 통해, 그 하부에 배치된 제2 배선에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 배선은 제2 전원(VSS)을 공급하기 위한 제2 전원선(PL2)일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서, 상기 제2 배선은 소정의 제2 구동 신호(일 예로, 주사 신호, 데이터 신호, 또는 소정의 제어 신호 등)가 공급되는 신호선일 수도 있다.
다른 실시예에서, 제2 전극(ELT2)은 제2 전극 배선(ELI2) 및/또는 제2 컨택홀(CH2)을 경유하지 않고 소정의 전원선 또는 신호선에 직접 연결될 수도 있다. 이 경우, 제2 전극(ELT2)은 상기 소정의 전원선 또는 신호선에 일체 또는 비일체로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 제2 전극(ELT2) 및 제2 전극 배선(ELI2)은 서로 다른 방향을 따라 연장될 수 있다. 예를 들어, 제2 전극 배선(ELI2)이 제1 방향(DR1)을 따라 연장된다고 할 때, 제2 전극(ELT2)은 상기 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)을 따라 연장될 수 있다.
일 실시예에서, 제2 전극(ELT2) 및 제2 전극 배선(ELI2)은 서로 일체로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 전극(ELT2)은 제2 전극 배선(ELI2)으로부터 적어도 한 갈래로 분기되어 형성될 수 있다. 제2 전극(ELT2) 및 제2 전극 배선(ELI2)이 서로 일체로 연결되는 경우, 제2 전극 배선(ELI2)을 제2 전극(ELT2)의 일 영역으로 간주할 수도 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제2 전극(ELT2) 및 제2 전극 배선(ELI2)이 개별적으로 형성되어, 적어도 하나의 컨택홀 또는 비아홀 등을 통해 서로 연결될 수도 있다.
한편, 화소(PXL)를 형성하는 공정, 특히 발광 소자들(LD)의 정렬이 완료되기 이전에는 표시 영역(DA)에 배치된 화소들(PXL)의 제1 전극들(ELT1)이 서로 연결되고, 상기 화소들(PXL)의 제2 전극들(ELT2)이 서로 연결되어 있을 수 있다. 이러한 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 발광 소자들(LD)의 정렬 단계에서 각각 제1 정렬 신호(또는, 제1 정렬 전압) 및 제2 정렬 신호(또는, 제2 정렬 전압)를 공급받을 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 중 어느 하나는 교류 형태의 정렬 신호를 공급받고, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 중 다른 하나는 일정한 전압 레벨을 가지는 정렬 전압(일 예로, 접지 전압)을 공급받을 수 있다.
즉, 발광 소자들(LD)의 정렬 단계에서 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 신호가 인가되고, 이에 따라 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 전계가 형성될 수 있다. 이러한 전계에 의해 각각의 화소 영역, 특히 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에 공급된 발광 소자들(LD)이 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 자가 정렬할 수 있다. 다만, 발광 소자들(LD)의 정렬이 완료된 이후에는, 화소들(PXL)의 사이에서 제1 전극들(ELT1) 사이의 연결, 및/또는 제2 전극들(ELT2) 사이의 연결을 끊음으로써, 상기 화소들(PXL)을 개별 구동이 가능한 형태로 형성할 수 있다.
제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 단일층 또는 다중층으로 구성될 수 있다. 일 예로, 각각의 제1 전극(ELT1)은 적어도 한 층의 반사 전극층을 포함하며, 이외에도 적어도 한 층의 투명 전극층 및/또는 도전성 캡핑층을 선택적으로 더 포함할 수 있다. 유사하게, 각각의 제2 전극(ELT2)은 적어도 한 층의 반사 전극층을 포함하며, 이외에도 적어도 한 층의 투명 전극층 및/또는 도전성 캡핑층을 선택적으로 더 포함할 수 있다.
제1 격벽(PW1)은 각각의 제1 전극(ELT1)과 중첩되도록 상기 제1 전극(ELT1)의 하부에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 격벽(PW1)은 각각의 제1 전극(ELT1)보다 좁은 폭을 가지면서 상기 제1 전극(ELT1)의 하부에 배치될 수 있다. 각각의 제1 전극(ELT1)의 하부에 제1 격벽(PW1)이 배치되면, 상기 제1 격벽(PW1)이 배치된 영역에서 제1 전극(ELT1)이 상부 방향으로 돌출될 수 있다. 이러한 제1 격벽(PW1)은 제1 전극(ELT1)과 함께 반사 격벽을 구성할 수 있다. 이에 따라, 제1 전극(ELT1)과 마주하는 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에서 방출되는 광이 보다 표시 장치의 정면 방향을 향하도록 제어할 수 있다.
제2 격벽(PW2)은 제2 전극(ELT2)의 일 영역과 중첩되도록 상기 제2 전극(ELT2)의 하부에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제2 격벽(PW2)은 제2 전극(ELT2)보다 좁은 폭을 가지면서 상기 제2 전극(ELT2)의 하부에 배치될 수 있다. 제2 전극(ELT2)의 하부에 제2 격벽(PW2)이 배치되면, 상기 제2 격벽(PW2)이 배치된 영역에서 제2 전극(ELT2)이 상부 방향으로 돌출될 수 있다. 이러한 제2 격벽(PW2)은 제2 전극(ELT2)과 함께 반사 격벽을 구성할 수 있다. 이에 따라, 제2 전극(ELT2)과 마주하는 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에서 방출되는 광이 보다 표시 장치의 정면 방향을 향하도록 제어할 수 있다.
발광 소자들(LD)은 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 병렬로 연결될 수 있다. 일 예로, 각각의 발광 소자(LD)는 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 제1 방향(DR1)(일 예로, 가로 방향)으로 배치되어, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 도 7에서는 발광 소자들(LD)이 어느 하나의 방향, 일 예로, 제1 방향(DR1)을 따라 균일하게 배열된 것으로 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 발광 소자들(LD) 중 적어도 하나는, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 사선 방향 등으로 배열될 수도 있다. 또한, 도 7에는 도시하지 않았으나, 각각의 발광 영역(EMA) 및/또는 그 주변 영역에는 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 온전히 연결되지 않은 적어도 하나의 발광 소자(즉, 비유효 광원)가 더 배치되어 있을 수도 있다.
실시예에 따라, 각각의 발광 소자(LD)는, 무기 결정 구조의 재료를 이용한 초소형의, 일 예로 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은 크기의, 발광 소자일 수 있다. 예를 들어, 각각의 발광 소자(LD)는 도 1a 내지 도 4b에 도시된 바와 같은, 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 범위의 크기를 가지는 초소형의 발광 소자일 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)의 종류 및/또는 크기는, 상기 발광 소자(LD)를 광원으로 이용하는 각각의 발광 장치, 일 예로 화소(PXL)의 설계 조건 등에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 발광 소자(LD)는, 인접한 제1 전극(ELT1)을 향해 배치된 제1 단부(EP1)와, 인접한 제2 전극(ELT2)을 향해 배치된 제2 단부(EP2)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 각각의 발광 소자(LD)는 인접한 제1 전극(ELT1) 및/또는 제2 전극(ELT2)과 중첩되거나, 또는 상기 제1 전극(ELT1) 및/또는 제2 전극(ELT2)과 중첩되지 않을 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)는 인접한 제1 전극(ELT1)에 중첩되거나, 중첩되지 않을 수 있다. 유사하게, 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)는 인접한 제2 전극(ELT2)에 중첩되거나, 중첩되지 않을 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 단부(EP1)는 제1 전극(ELT1)에 연결되고, 상기 발광 소자들(LD) 각각의 제2 단부(EP2)는 제2 전극(ELT2)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 단부(EP1)는 제1 컨택 전극(CNE1)을 경유하여 제1 전극(ELT1)에 전기적으로 연결되고, 상기 발광 소자들(LD) 각각의 제2 단부(EP2)는 제2 컨택 전극(CNE2)을 경유하여 제2 전극(ELT2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 다른 실시예에서, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2) 중 적어도 하나가, 제1 및/또는 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 직접적으로 접촉되어 상기 제1 및/또는 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 전기적으로 연결될 수도 있다. 이 경우, 제1 컨택 전극(CNE1) 및/또는 제2 컨택 전극(CNE2)을 선택적으로 생략될 수도 있다.
실시예에 따라, 발광 소자들(LD)은 소정의 용액 내에 분산된 형태로 준비되어, 잉크젯 방식 또는 슬릿 코팅 방식 등을 비롯한 다양한 방식을 통해 각각의 화소 영역(특히, 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA))에 공급될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)은 휘발성 용매에 섞여 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에 공급될 수 있다. 이때, 화소들(PXL)의 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압(또는, 정렬 신호)을 인가하게 되면, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 전계가 형성되면서, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)이 정렬하게 된다. 발광 소자들(LD)이 정렬된 이후에는 용매를 휘발시키거나 이 외의 다른 방식으로 제거하여 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 배치할 수 있다. 또한, 발광 소자들(LD)의 양 단부, 일 예로 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2) 상에 각각 제1 컨택 전극(CNE1) 및 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성할 수 있다. 이에 따라, 상기 발광 소자들(LD)을 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 보다 안정적으로 연결할 수 있다.
제1 컨택 전극(CNE1)은, 각각의 제1 전극(ELT1) 및 이에 인접한 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 중첩되도록 상기 제1 전극(ELT1) 및 상기 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1) 상에 배치될 수 있다. 이러한 제1 컨택 전극(CNE1)은, 상기 제1 전극(ELT1)과 상기 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 전기적으로 연결할 수 있다. 또한, 제1 컨택 전극(CNE1)은 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 안정적으로 고정함으로써, 상기 발광 소자들(LD)이 정렬된 위치에서 이탈하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 다른 실시예에서, 제1 컨택 전극(CNE1)이 형성되지 않는 경우, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)은 이에 인접한 제1 전극(ELT1)과 중첩되도록 배치되어 상기 제1 전극(ELT1)에 직접 연결될 수도 있다.
제2 컨택 전극(CNE2)은, 각각의 제2 전극(ELT2) 및 이에 인접한 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 중첩되도록 상기 제2 전극(ELT2) 및 상기 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2) 상에 배치될 수 있다. 이러한 제2 컨택 전극(CNE2)은, 상기 제2 전극(ELT2)과 상기 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 전기적으로 연결할 수 있다. 또한, 제2 컨택 전극(CNE2)은 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 안정적으로 고정함으로써, 상기 발광 소자들(LD)이 정렬된 위치에서 이탈하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 다른 실시예에서, 제2 컨택 전극(CNE2)이 형성되지 않는 경우, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)은 이에 인접한 제2 전극(ELT2)과 중첩되도록 배치되어 상기 제2 전극(ELT2)에 직접 연결될 수도 있다.
제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 순방향으로 연결된 각각의 발광 소자(LD)는 해당 화소(PXL)의 유효 광원을 구성할 수 있다. 그리고, 이러한 유효 광원들이 모여 해당 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)을 구성할 수 있다.
예를 들어, 제1 전원선(PL1), 제1 전극(ELT1) 및/또는 제1 컨택 전극(CNE1) 등을 경유하여 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 제1 전원(VDD)(또는, 주사 신호나 데이터 신호 등을 비롯한 소정의 제1 제어 신호)이 인가되고, 제2 전원선(PL2), 제2 전극(ELT2) 및/또는 제2 컨택 전극(CNE2) 등을 경유하여 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 제2 전원(VSS)(또는, 주사 신호나 데이터 신호 등을 비롯한 소정의 제2 제어 신호)이 인가되면, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 순 방향으로 연결된 적어도 하나의 발광 소자(LD)가 발광하게 된다. 이에 따라, 화소(PXL)가 빛을 방출할 수 있게 된다.
도 8a 및 도 8b, 및 도 9는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도이다. 예를 들어, 도 8a 및 도 8b는 도 7의 Ⅰ~Ⅰ'선에 대응하는 단면의 서로 다른 실시예들을 나타내고, 도 9는 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다.
실시예에 따라, 도 8a 및 도 8b에서는 화소 회로(PXC)를 구성하는 회로 소자들 중 임의의 트랜지스터(T)를 도시하고, 도 9에서는 상기 화소 회로(PXC)를 구성하는 회로 소자들 중 제1 전극(ELT1)에 연결되는 트랜지스터, 일 예로, 도 6a 및 도 6b의 제1 트랜지스터(T1)와 스토리지 커패시터(Cst)를 도시하기로 한다. 이하에서, 제1 트랜지스터(T1)를 구분하여 명기할 필요가 없을 경우에는 제1 트랜지스터(T1)에 대해서도 "트랜지스터(T)"로 포괄하여 지칭하기로 한다.
일 실시예에서, 각각의 화소 회로(PXC)를 구성하는 트랜지스터들(T)은 실질적으로 서로 동일 또는 유사한 구조를 가질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 트랜지스터들(T) 및 스토리지 커패시터(Cst)의 구조 및/또는 위치가 도 8a 내지 도 9에 도시된 실시예에 한정되지는 않으며, 이는 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
도 5 내지 도 9를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)는, 베이스 층(BSL)의 일면 상에 배치되며 복수의 발광 소자들(LD)을 포함한 표시 소자층(DPL)을 포함한다. 또한, 화소(PXL)는, 베이스 층(BSL)과 표시 소자층(DPL)의 사이에 배치된 화소 회로층(PCL)을 선택적으로 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 화소 회로층(PCL)은 각각의 화소 회로(PXC)를 구성하는 적어도 하나의 회로 소자를 포함할 수 있다. 일 예로, 화소 회로층(PCL)은 상기 화소 회로(PXC)를 구성하기 위한 복수의 트랜지스터들(T) 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함하며, 이 외에도 화소 회로(PXC) 및/또는 광원 유닛(LSU)에 연결되는 적어도 하나의 전원선 및/또는 신호선 등을 더 포함할 수 있다. 한편, 화소 회로(PXC)가 생략되고, 각 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)이 제1 및 제2 전원선들(PL1, PL2)(또는, 소정의 신호선들)에 직접적으로 연결되는 경우, 화소 회로층(PCL)은 생략될 수도 있다.
또한, 화소 회로층(PCL)은 각각의 전극들 및/또는 배선들의 사이에 배치되는 복수의 절연층들을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 화소 회로층(PCL)은 베이스 층(BSL)의 일면 상에 순차적으로 적층된 버퍼층(BFL), 게이트 절연층(GI), 층간 절연층(ILD) 및 패시베이션층(PSV)을 포함할 수 있다. 또한, 화소 회로층(PCL)은 적어도 일부의 트랜지스터(T)의 하부에 배치되는 적어도 하나의 차광 패턴(미도시) 등을 선택적으로 더 포함할 수 있다.
각각의 트랜지스터(T)는, 반도체층(SCL), 게이트 전극(GE), 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)을 포함한다. 한편, 실시예에 따라 도 8a 내지 도 9에서는 각각의 트랜지스터(T)가, 반도체층(SCL)과 별개로 형성된 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)을 구비하는 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 각각의 화소 영역에 배치되는 적어도 하나의 트랜지스터(T)에 구비되는 제1 및/또는 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)이 각각의 반도체층(SCL)과 통합되어 구성될 수도 있다.
반도체층(SCL)은 버퍼층(BFL) 상에 배치될 수 있다. 일 예로, 반도체층(SCL)은 버퍼층(BFL)이 형성된 베이스 층(BSL)과, 게이트 절연층(GI)의 사이에 배치될 수 있다. 이러한 반도체층(SCL)은 각각의 제1 트랜지스터 전극(TE1)에 접촉되는 제1 영역과, 각각의 제2 트랜지스터 전극(TE2)에 접촉되는 제2 영역과, 상기 제1 및 제2 영역들의 사이에 위치된 채널 영역을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 제1 및 제2 영역들 중 하나는 소스 영역이고, 다른 하나는 드레인 영역일 수 있다.
실시예에 따라, 반도체층(SCL)은 폴리 실리콘, 아모포스 실리콘, 산화물 반도체 등으로 이루어진 반도체 패턴일 수 있다. 또한, 반도체층(SCL)의 채널 영역은 불순물이 도핑되지 않은 반도체 패턴으로서 진성 반도체일 수 있고, 상기 반도체층(SCL)의 제1 및 제2 영역들은 각각 소정의 불순물이 도핑된 반도체 패턴일 수 있다.
게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(GI)을 사이에 개재하고 반도체층(SCL) 상에 배치될 수 있다. 일 예로, 게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(GI) 및 층간 절연층(ILD)의 사이에, 반도체층(SCL)의 일 영역과 중첩되도록 배치될 수 있다.
제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)은, 적어도 한 층의 층간 절연층(ILD)을 사이에 개재하고, 각각의 반도체층(SCL) 및 게이트 전극(GE) 상에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)은 층간 절연층(ILD)과 패시베이션층(PSV)의 사이에 배치될 수 있다. 이러한 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)은 각각의 반도체층(SCL)에 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)은 게이트 절연층(GI) 및 층간 절연층(ILD)을 관통하는 각각의 컨택홀을 통해 각각의 반도체층(SCL)의 제1 및 제2 영역들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 상기 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2) 중 어느 하나는 소스 전극이고, 다른 하나는 드레인 전극일 수 있다.
화소 회로(PXC)에 구비된 적어도 하나의 트랜지스터(T)는 광원 유닛(LSU)의 어느 일 전극에 연결될 수 있다. 일 예로, 도 6a 및 도 6b에 도시된 제1 트랜지스터(T1)의 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2) 중 어느 하나는 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제1 컨택홀(CH1)을 통해, 상기 패시베이션층(PSV)의 상부에 배치된 광원 유닛(LSU)의 제1 전극(ELT1) 및/또는 제1 전극 배선(ELI1)에 전기적으로 연결될 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는, 서로 중첩되는 제1 커패시터 전극(CE1) 및 제2 커패시터 전극(CE2)을 포함한다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 커패시터 전극들(CE1, CE2) 각각은, 단일층 또는 다중층으로 구성될 수 있다. 또한, 제1 및 제2 커패시터 전극들(CE1, CE2) 중 적어도 하나는, 제1 트랜지스터(T1)를 구성하는 적어도 하나의 전극 또는 반도체층(SCL)과 동일한 층에 배치될 수 있다.
예를 들어, 제1 커패시터 전극(CE1)은, 제1 트랜지스터(T1)의 반도체층(SCL)과 동일한 층에 배치되는 하부 전극(LE)과, 상기 제1 트랜지스터(T1)의 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)과 동일한 층에 배치되며 상기 하부 전극(LE)에 전기적으로 연결되는 상부 전극(UE)을 포함한 다중층의 전극으로 구성될 수 있다. 그리고, 제2 커패시터 전극(CE2)은, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극과 동일한 층에 배치되며, 제1 커패시터 전극(CE1)의 하부 전극(LE) 및 상부 전극의 사이에 배치된 단일층의 전극으로 구성될 수 있다.
다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며, 제1 및 제2 커패시터 전극들(CE1, CE2) 각각의 구조 및/또는 위치는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및 제2 커패시터 전극들(CE1, CE2) 중 어느 하나가, 제1 트랜지스터(T1)를 구성하는 전극들(일 예로, 게이트 전극(GE), 및 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)) 및 반도체층(SCL)과는 상이한 층에 배치된 적어도 한 층의 도전 패턴을 포함할 수도 있다.
일 실시예에서, 각각의 화소(PXL)에 연결되는 적어도 하나의 신호선 및/또는 전원선은 화소 회로(PXC)를 구성하는 회로 소자들의 일 전극과 동일한 층 상에 배치될 수 있다. 일 예로, 각 화소(PXL)의 주사선(Si)은 트랜지스터들(T)의 게이트 전극들(GE)과 동일한 층 상에 배치되고, 각 화소(PXL)의 데이터선(Dj)은 트랜지스터들(T)의 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)과 동일한 층 상에 배치될 수 있다. 또한, 제1 및/또는 제2 전원선들(PL1, PL2)은, 트랜지스터들(T)의 게이트 전극들(GE) 또는 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)과 동일한 층 상에 배치될 수 있다. 일 예로, 제2 전원(VSS)을 공급하기 위한 제2 전원선(PL2)은 트랜지스터들(T)의 게이트 전극들(GE)과 동일한 층에 배치되어, 상기 트랜지스터들(T)의 제1 및 제2 트랜지스터 전극들(TE1, TE2)과 동일한 층에 배치된 브리지 패턴(BRP), 및 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 컨택홀(CH2)을 통해, 상기 패시베이션층(PSV)의 상부에 배치된 광원 유닛(LSU)의 제2 전극(ELT2) 및/또는 제2 전극 배선(ELI2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 다만, 제2 전원선(PL2) 등의 구조 및/또는 위치는 다양하게 변경될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 소자층(DPL)은 화소들(PXL) 각각의 광원 유닛(LSU)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 소자층(DPL)은, 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에 배치된 적어도 한 쌍의 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)과, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, EPT2)의 사이에 전기적으로 연결된 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함하며, 이외에도 적어도 하나의 도전층 및/또는 절연층 등을 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 화소(PXL)는 도 6a 내지 도 7의 실시예들에서와 같이 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 순방향으로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 다만, 각 화소(PXL)에 구비되는 발광 소자(LD)의 개수가 이에 한정되지는 않으며, 이는 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 편의상, 도 8a 내지 도 9의 실시예들 및 후술할 다른 실시예들을 설명함에 있어, 각각의 화소(PXL)가 복수의 발광 소자들(LD)을 포함하는 것으로 가정하여 각각의 실시예를 설명하기로 한다. 다만, 각각의 실시예에 따른 화소(PXL)에 구비된 발광 소자들(LD)은 단일의 발광 소자(LD)로 변경 실시될 수도 있음에 유의하여야 할 것이다.
일 실시예에서, 표시 소자층(DPL)은, 각각의 화소 영역에서, 베이스 층(BSL) 및/또는 화소 회로층(PCL)의 상부에 순차적으로 배치 및/또는 형성된 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2), 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3), 제2 컨택 전극(CNE2), 및 제4 절연층(INS4)을 포함할 수 있다.
제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은, 선택적으로 화소 회로층(PCL)이 형성된 베이스 층(BSL)의 일면 상에 서로 이격되어 배치될 수 있다. 예를 들어, 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(특히, 각각의 발광 영역(EMA))에는 서로 이격된 적어도 한 쌍의 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)이 배치될 수 있다.
이러한 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 베이스 층(BSL) 및/또는 화소 회로층(PCL) 상에서, 표시 패널(PNL)의 정면을 향하여 높이 방향으로 돌출될 수 있다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 실질적으로 서로 동일한 형상 및/또는 높이를 가질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
실시예에 따라, 제1 격벽(PW1)은, 베이스 층(BSL) 및/또는 화소 회로층(PCL)과 각각의 제1 전극(ELT1) 사이에 배치될 수 있다. 이러한 제1 격벽(PW1)은, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 인접하도록 배치될 수 있다. 일 예로, 제1 격벽(PW1)의 일 측면은, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 인접한 거리에 위치되어, 상기 제1 단부들(EP1)과 마주하도록 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 제2 격벽(PW2)은, 베이스 층(BSL) 및/또는 화소 회로층(PCL)과 제2 전극(ELT2) 사이에 배치될 수 있다. 이러한 제2 격벽(PW2)은, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 인접하도록 배치될 수 있다. 일 예로, 제2 격벽(PW2)의 일 측면은, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 인접한 거리에 위치되어, 상기 제2 단부들(EP2)과 마주하도록 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 다양한 형상을 가질 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 도 8a 및 도 9에 도시된 바와 같이 상부로 갈수록 폭이 좁아지는 사다리꼴의 단면을 가질 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각은 적어도 일 측면에서 경사면을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 격벽(PW1)은 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 마주하는 경사면을 포함하고, 제2 격벽(PW2)은 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 마주하는 경사면을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 경사면, 특히, 인접한 발광 소자들(LD)의 일 단부들과 마주하는 경사면은, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 15° 내지 80°의 경사각(θ1, θ2)(일 예로, 초기 경사각)을 가지도록 형성될 수 있다.
다른 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 도 8b에 도시된 바와 같이 상부로 갈수록 폭이 좁아지는 반원 또는 반타원의 단면을 가질 수도 있다. 이 경우, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각은 적어도 일 측면에서 곡면을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 격벽(PW1)은 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 마주하는 곡면을 포함하고, 제2 격벽(PW2)은 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 마주하는 곡면을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 곡면, 특히, 인접한 발광 소자들(LD)의 일 단부들과 마주하는 곡면은, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 15° 내지 80°의 초기 경사각(θ1', θ2')을 가지도록 형성될 수 있다.
다만, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 형상 등은 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 또 다른 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 적어도 일 측면에서 계단형의 구조를 가질 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 형상(일 예로, 경사도), 크기(일 예로, 높이), 및/또는 위치 등은, 각 화소(PXL)의 광효율 등을 고려하여 다양하게 설계될 수 있다. 즉, 본 발명에서 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 형상, 크기 및/또는 위치 등이 특별히 한정되지는 않으며, 이는 설계 조건이나 화소(PXL)의 광효율 등을 고려하여 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 실시예에 따라서는 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 중 적어도 하나가 생략되거나, 그 위치가 변경될 수도 있다.
제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 적어도 하나의 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 절연 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 실리콘 질화물(SiNx) 또는 실리콘 산화물(SiOx) 등을 비롯하여 현재 공지된 다양한 무기 절연 물질을 포함하는 적어도 한 층의 무기막을 포함할 수 있다. 또는, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 현재 공지된 다양한 유기 절연 물질을 포함하는 적어도 한 층의 유기막 및/또는 포토레지스트막 등을 포함하거나, 유/무기 물질을 복합적으로 포함하는 단일층 또는 다중층의 절연체로 구성될 수도 있다. 즉, 본 발명의 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 구성 물질은 다양하게 변경될 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 반사 부재로 기능할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 그 상부에 제공된 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)과 함께 각각의 발광 소자(LD)에서 출사되는 광을 원하는 방향으로 유도하여 화소(PXL)의 광효율을 향상시키는 반사 부재로 기능할 수 있다. 예를 들어, 제1 격벽(PW1)은 그 상부의 제1 전극(ELT1)과 함께 제1 반사 격벽을 구성하고, 제2 격벽(PW2)은 그 상부의 제2 전극(ELT2)과 함께 제2 반사 격벽을 구성할 수 있다.
제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 상부에는 각각 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)이 배치될 수 있다. 이러한 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 각각의 발광 영역(EMA)에 서로 이격되도록 배치된다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 상부에 배치되는 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 등은, 상기 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 형상에 상응하는 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)은, 각각 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2)의 형상에 대응하는 경사면 또는 곡면을 가지면서, 베이스 층(BSL)의 높이 방향으로 돌출될 수 있다. 유사하게, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 상에 배치되는 적어도 하나의 도전층 및/또는 절연층은, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 형상에 대응하는 형상을 가질 수 있다.
제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 적어도 하나의 도전성 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 은(Ag), 마그네슘(Mg), 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 타이타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu) 등을 비롯한 다양한 금속 물질 중 적어도 하나의 금속 또는 이를 포함하는 합금, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZnO(Zinc Oxide), AZO(Antimony Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin Zinc Oxide), ZnO(Zinc Oxide), SnO 2(Tin Oxide)와 같은 도전성 산화물, PEDOT와 같은 도전성 고분자 중 적어도 하나의 물질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 카본나노튜브(Carbon Nano Tube)나 그래핀(graphene) 등을 비롯한 그 외의 도전성 물질을 포함할 수도 있다. 즉, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 다양한 도전성 물질 중 적어도 하나를 포함함으로써 도전성을 가질 수 있고, 그 구성 물질이 특별히 한정되지는 않는다. 또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 동일한 도전성 물질로 구성되거나, 또는 이들은 서로 다른 적어도 하나의 도전성 물질을 포함할 수 있다.
또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 단일층 또는 다중층으로 구성될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 반사 전극층을 포함할 수 있다. 또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 상기 반사 전극층의 상부 및/또는 하부에 배치되는 투명 전극층과, 상기 반사 전극층 및/또는 투명 전극층의 상부를 커버하는 도전성 캡핑층 중 적어도 하나를 선택적으로 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 반사 전극층은, 균일한 반사율을 갖는 도전 물질로 구성될 수 있다. 일 예로, 상기 반사 전극층은 은(Ag), 마그네슘(Mg), 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 타이타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu) 등을 비롯한 다양한 금속 물질 중 적어도 하나의 금속 또는 이를 포함하는 합금으로 구성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 반사 전극층은 다양한 반사성 도전 물질로 구성될 수 있다. 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각이 반사 전극층을 포함할 경우, 발광 소자들(LD) 각각의 양단, 즉 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)에서 방출되는 광을 화상이 표시되는 방향(일 예로, 정면 방향)으로 더욱 진행되게 할 수 있다. 특히, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)이 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 형상에 대응되는 경사면 또는 곡면을 가지면서 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)에 마주하도록 배치되면, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)에서 출사된 광은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 의해 반사되어 더욱 표시 패널(PNL)의 정면 방향(일 예로, 베이스 층(BSL)의 상부 방향)으로 진행될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)에서 출사되는 광의 효율을 향상시킬 수 있다.
또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 투명 전극층은, 다양한 투명 전극 물질로 구성될 수 있다. 일 예로, 상기 투명 전극층은 ITO, IZO 또는 ITZO를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, ITO/Ag/ITO의 적층 구조를 가지는 3중층으로 구성될 수 있다. 이와 같이, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)이 적어도 2중층 이상의 다중층으로 구성되면, 신호 지연(RC delay)에 의한 전압 강하를 최소화할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)로 원하는 전압을 효과적으로 전달할 수 있게 된다.
추가적으로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각이, 반사 전극층 및/또는 투명 전극층을 커버하는 도전성 캡핑층을 포함하게 되면, 화소(PXL)의 제조 공정 등에서 발생하는 불량으로 인해 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 반사 전극층 등이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 다만, 상기 도전성 캡핑층은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 선택적으로 포함될 수 있는 것으로서, 실시예에 따라서는 생략될 수 있다. 또한, 상기 도전성 캡핑층은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 구성 요소로 간주되거나, 또는 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 상에 배치된 별개의 구성 요소로 간주될 수도 있다.
제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 일 영역 상에는 제1 절연층(INS1)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 절연층(INS1)은, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 일 영역을 커버하도록 형성되며, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 다른 일 영역(일 예로, 제1 및 제2 컨택부들(CNP1, CNP2))을 노출하는 개구부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 절연층(INS1)은, 일차적으로 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)을 전면적으로 커버하도록 형성될 수 있다. 이러한 제1 절연층(INS1) 상에 발광 소자들(LD)이 공급 및 정렬된 이후, 상기 제1 절연층(INS1)은 각각 제1 및 제2 컨택부들(CNP1, CNP2)에서 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)을 노출하도록 부분적으로 개구될 수 있다. 또는, 다른 실시예에서, 제1 절연층(INS1)은, 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬이 완료된 이후, 상기 발광 소자들(LD)의 하부에 국부적으로 배치되는 개별 패턴의 형태로 패터닝될 수 있다.
즉, 제1 절연층(INS1)은, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)과 발광 소자들(LD)의 사이에 개재되되, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 적어도 일 영역을 노출할 수 있다. 이러한 제1 절연층(INS1)은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)이 형성된 이후 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)을 커버하도록 형성되어, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)이 후속 공정에서 손상되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 제1 절연층(INS1)은, 각각의 발광 소자(LD)를 안정적으로 지지할 수 있다.
한편, 제1 절연층(INS1)은 실시예에 따라 선택적으로 구비될 수 있다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제1 절연층(INS1)이 생략될 수도 있다. 이 경우, 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에서 패시베이션층(PSV)과 접촉되도록 상기 패시베이션층(PSV) 상에 바로 배치되거나, 상기 발광 소자들(LD)의 제1 및/또는 제2 단부들(EP1, EP2)이 각각 제1 및/또는 제2 전극들(ELT1, ELT2) 상에 바로 위치되도록 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 배치될 수도 있다.
제1 절연층(INS1)이 형성된 각각의 발광 영역(EMA)에는 복수의 발광 소자들(LD)이 공급 및 정렬될 수 있다. 일 예로, 잉크젯 방식이나 슬릿 코팅 방식 등을 통해 각각의 발광 영역(EMA)에 다수의 발광 소자들(LD)이 공급되고, 상기 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 인가되는 소정의 정렬 전압(또는, 정렬 신호)에 의해 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬될 수 있다.
제2 절연층(INS2)은, 발광 소자들(LD), 특히, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬된 발광 소자들(LD)의 상부에 배치되며, 상기 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)을 노출할 수 있다. 예를 들어, 제2 절연층(INS2)은 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)은 커버하지 않고, 상기 발광 소자들(LD)의 중앙 영역을 포함한 일 영역의 상부에만 부분적으로 배치될 수 있다. 이러한 제2 절연층(INS2)은 각각의 발광 영역(EMA) 상에 독립된 패턴으로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
이러한 제2 절연층(INS2)은 발광 소자들(LD)을 안정적으로 고정할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)의 정렬이 완료된 이후 상기 발광 소자들(LD) 상에 제2 절연층(INS2)을 형성함으로써, 상기 발광 소자들(LD)이 정렬된 위치에서 이탈하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 제2 절연층(INS2)의 형성 이전에 제1 절연층(INS1)과 발광 소자들(LD)의 사이에 이격 공간이 존재하였을 경우, 상기 공간은 제2 절연층(INS2)을 형성하는 과정에서 채워질 수도 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)을 보다 안정적으로 지지할 수 있다.
한편, 제2 절연층(INS2)은 실시예에 따라 선택적으로 구비될 수 있다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제2 절연층(INS2)이 생략될 수도 있다. 이 경우, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 각각의 일단이 발광 소자들(LD)의 상부에 바로 위치될 수도 있다.
제1 전극(ELT1) 및 발광 소자들(LD)의 일 영역 상에는 제1 컨택 전극(CNE1)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 컨택 전극(CNE1)은 제1 컨택부(CNP1)를 포함한 제1 전극(ELT1)의 적어도 일 영역과, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 커버하도록, 상기 제1 전극(ELT1)과 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1) 상에 형성될 수 있다. 이러한 제1 컨택 전극(CNE1)은 제1 컨택부(CNP1)를 통해 각각의 제1 전극(ELT1)에 접촉됨과 더불어, 제2 절연층(INS2)이 노출한 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)이, 제1 컨택 전극(CNE1)을 통해 제1 전극(ELT1)에 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 컨택 전극(CNE1) 상에는 제3 절연층(INS3)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제3 절연층(INS3)은 적어도 제1 컨택 전극(CNE1)을 커버하도록 상기 제1 컨택 전극(CNE1) 상에 직접 배치될 수 있다. 일 예로, 제3 절연층(INS3)은 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 포함한 일 영역과 제1 컨택 전극(CNE1) 상에 배치되며, 상기 발광 소자들(LD) 상에서 제1 컨택 전극(CNE1)의 일단을 커버할 수 있다.
이러한 제3 절연층(INS3)은 제1 컨택 전극(CNE1)과 제2 컨택 전극(CNE2)의 사이에 개재되어, 상기 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 안정적으로 절연시킬 수 있다. 즉, 제3 절연층(INS3)을 형성함으로써, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)의 사이에서 발생할 수 있는 쇼트 결함을 효과적으로 방지할 수 있다. 한편, 제3 절연층(INS3)은 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 커버하지는 않도록, 상기 발광 소자들(LD)의 일 영역 상부에만 형성될 수 있다.
제2 전극(ELT2) 및 발광 소자들(LD)의 일 영역 상에는 제2 컨택 전극(CNE2)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제2 컨택 전극(CNE2)은 제2 컨택부(CNP2)를 포함한 제2 전극(ELT2)의 적어도 일 영역과, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 커버하도록, 상기 제2 전극(ELT2)과 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2) 상에 형성될 수 있다. 이러한 제2 컨택 전극(CNE2)은 제2 컨택부(CNP2)를 통해 각각의 제2 전극(ELT2)에 접촉됨과 더불어, 제2 및 제3 절연층들(INS2, INS3)이 노출한 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)이, 제2 컨택 전극(CNE2)을 통해 제2 전극(ELT2)에 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 상에는 제4 절연층(INS4)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 제4 절연층(INS4)은, 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 발광 소자들(LD), 및 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)의 상부를 포함하여, 베이스 층(BSL)의 표시 영역(DA) 상에 전면적으로 형성 및/또는 배치될 수 있다. 제4 절연층(INS4)을 형성함으로써, 표시 영역(DA)에 형성된 화소들(PXL)을 외부 환경으로부터 보호할 수 있다. 예를 들어, 제4 절연층(INS4)을 형성함으로써, 수분 등의 이물이 유입되거나, 외부에서 가해지는 충격에 의한 화소들(PXL)의 손상을 방지할 수 있다. 이러한 제4 절연층(INS4)은 적어도 한 층의 무기막 및/또는 유기막을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 제4 절연층(INS4)은 다층 구조의 박막 봉지층을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 실시예에 따라서는, 제4 절연층(INS4)의 상부에 도시되지 않은 적어도 한 층의 오버코트층 및/또는 상부 기판(일 예로, 봉지 기판) 등이 더 배치될 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4) 각각은, 단일층 또는 다중층으로 구성될 수 있으며, 적어도 하나의 무기 절연 재료 및/또는 유기 절연 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4) 각각은, 실리콘 질화물(SiNx) 등을 비롯하여 현재 공지된 다양한 종류의 유/무기 절연 물질을 포함할 수 있으며, 상기 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4) 각각의 구성 물질이 특별히 한정되지는 않는다. 또한, 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4)은 서로 다른 절연 물질을 포함하거나, 또는 상기 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4) 중 적어도 일부는 서로 동일한 절연 물질을 포함할 수 있다.
도 10, 도 11a 내지 도 11c는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도이다. 일 예로, 도 10, 도 11a 내지 도 11c는 도 9의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 실시예에 따라, 도 10, 도 11a 내지 도 11c에서는, 서로 인접한 제1색 화소(PXL1), 제2색 화소(PXL2) 및 제3색 화소(PXL3)로 구성된 어느 하나의 화소 유닛(PXU)이 배치되는 영역을 중심으로, 표시 패널(PNL)의 단면을 도시하기로 한다.
한편, 각 화소(PXL)의 실시예적 구조에 대해서는 앞서 설명한 실시예들을 통해 상세히 개시하였으므로, 도 10, 도 11a 내지 도 11c에서는 각각 하나의 발광 소자(LD)를 중심으로 각 화소(PXL)의 구조를 개략적으로 도시하기로 한다. 또한, 도 10, 도 11a 내지 도 11c의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
먼저 도 5 내지 도 10을 참조하면, 베이스 층(BSL) 및/또는 화소 회로층(PCL) 상의 표시 소자층(DPL)에는 각 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 표시 소자층(DPL)의 각 발광 영역(EMA)에는 해당 화소(PXL)의 광원 유닛(LSU)이 배치될 수 있다. 그리고, 인접한 발광 영역들(EMA)의 사이에는 각각의 발광 영역(EMA)을 구획하는 뱅크(BNK)가 배치될 수 있다.
각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에는, 실시예에 따라 다양하게 구성될 수 있는 광원 유닛(LSU)이 형성될 수 있다. 일 예로, 각각의 발광 영역(EMA)에는, 도 7 내지 도 9에 도시된 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 발광 소자들(LD), 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2), 및 제1 내지 제4 절연층들(INS1~INS4)이 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3)은 서로 다른 색의 빛을 방출하는 발광 소자들(LD)을 구비할 수 있다. 예를 들어, 각각의 제1색 화소(PXL1)는 제1색 발광 소자(LD1)를, 각각의 제2색 화소(PXL2)는 제2색 발광 소자(LD2)를, 각각의 제3색 화소(PXL3)는 제3색 발광 소자(LD3)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제1색 발광 소자(LD1), 제2색 발광 소자(LD2) 및 제3색 발광 소자(LD3)는, 각각 적색 발광 소자, 녹색 발광 소자 및 청색 발광 소자일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
뱅크(BNK)는 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)을 규정하는 구조물로서, 일 예로 화소 정의막일 수 있다. 예를 들어, 뱅크(BNK)는 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)을 둘러싸도록, 각각 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3)이 제공되는 제1색, 제2색 및 제3색 화소 영역들(PXA1, PXA2, PXA3)의 경계 영역에 배치될 수 있다. 또한, 뱅크(BNK)는 화소들(PXL)이 배치되는 표시 영역(DA)을 둘러싸도록 상기 표시 영역(DA)의 테두리에도 배치될 수 있다. 이하에서, 제1색, 제2색 및 제3색 화소 영역들(PXA1, PXA2, PXA3) 중 임의의 화소 영역을 지칭하거나, 또는 두 종류 이상의 화소 영역들을 포괄적으로 지칭할 때, "화소 영역(PXA)" 또는 "화소 영역들(PXA)"이라 하기로 한다.
이러한 뱅크(BNK)는 적어도 하나의 차광성 및/또는 반사성 물질을 포함하도록 구성되어 인접한 화소들(PXL)의 사이에서 빛샘을 방지할 수 있다. 예를 들어, 뱅크(BNK)는, 다양한 종류의 블랙 매트릭스 물질 중 적어도 하나의 블랙 매트릭스 물질(일 예로, 현재 공지된 적어도 하나의 차광성 재료), 및/또는 특정 색상의 컬러필터 물질 등을 포함할 수 있다. 일 예로, 뱅크(BNK)는 흑색의 불투명 패턴으로 형성되어 빛의 투과를 차단할 수 있다. 일 실시예에서, 화소(PXL)의 광효율을 보다 높일 수 있도록 뱅크(BNK)의 표면(일 예로, 측면)에 도시되지 않은 반사막이 형성될 수도 있다.
일 실시예에서, 뱅크(BNK)는, 화소들(PXL)의 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)을 형성하는 과정에서 상기 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)과 동일한 층에 동시 형성될 수 있다. 다른 실시예에서, 뱅크(BNK)는, 상기 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)을 형성하는 공정과는 별개의 공정을 통해, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)과 동일 또는 상이한 층에 형성될 수도 있다. 즉, 뱅크(BNK)의 위치(일 예로, 단면 상에서의 층별 위치)나 형성 단계 등은 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 뱅크(BNK)의 형상, 크기 및/또는 구성 물질 등은 표시 패널(PNL)의 설계 조건 등에 따라 다양하게 달라질 수 있다. 예를 들어, 뱅크(BNK)는 사다리꼴, 반원 또는 반타원 등을 비롯한 다양한 형상의 단면을 가지는 단일층 또는 다중층의 패턴일 수 있으며, 그 크기(일 예로, 폭 및/또는 높이)나 구성 물질은 다양하게 변경될 수 있다.
실시예에 따라, 화소들(PXL)의 상부에는 상부 기판(ENC)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 화소들(PXL)이 배치된 베이스 층(BSL)의 일면 상에는 적어도 표시 영역(DA)을 봉지하는 상부 기판(ENC)("봉지 기판" 또는 "컬러 필터 기판"이라고도 함)이 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 상부 기판(ENC)은, 화소들(PXL)과 중첩되는 광 변환층(LCP)을 포함할 수 있다. 일 예로, 광 변환층(LCP)은, 화소들(PXL)과 마주하도록 상부 기판(ENC)의 일면 상에 배치된 컬러 필터층(CFL)을 포함할 수 있다.
컬러 필터층(CFL)은 각 화소(PXL)의 색에 부합되는 컬러 필터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 컬러 필터층(CFL)은, 각각의 제1색 화소(PXL1)의 상부에 배치되어 상기 제1색 화소(PXL1)에서 생성된 빛을 선택적으로 투과시키는 제1 컬러 필터(CF1), 각각의 제2색 화소(PXL2)의 상부에 배치되어 상기 제2색 화소(PXL2)에서 생성된 빛을 선택적으로 투과시키는 제2 컬러 필터(CF2), 및 각각의 제3색 화소(PXL3)의 상부에 배치되어 상기 제3색 화소(PXL3)에서 생성된 빛을 선택적으로 투과시키는 제3 컬러 필터(CF3)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 컬러 필터(CF1), 제2 컬러 필터(CF2) 및 제3 컬러 필터(CF3)는, 각각 적색 컬러 필터, 녹색 컬러 필터 및 청색 컬러 필터일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 이하에서, 제1 컬러 필터(CF1), 제2 컬러 필터(CF2) 및 제3 컬러 필터(CF3) 중 임의의 컬러 필터를 지칭하거나, 또는 두 종류 이상의 컬러 필터들을 포괄적으로 지칭할 때, "컬러 필터(CF)" 또는 "컬러 필터들(CF)"이라 하기로 한다.
제1 컬러 필터(CF1)는, 각각의 제1색 화소(PXL1)(특히, 상기 제1색 화소(PXL1)의 광원 유닛(LSU))과 상부 기판(ENC)의 사이에 배치되며, 상기 제1색 화소(PXL1)에서 생성된 제1색의 빛을 선택적으로 투과시키는 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1색 화소(PXL1)가 적색 화소일 때, 제1 컬러 필터(CF1)는 적색 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다.
제2 컬러 필터(CF2)는, 각각의 제2색 화소(PXL2)(특히, 상기 제2색 화소(PXL2)의 광원 유닛(LSU))과 상부 기판(ENC)의 사이에 배치되며, 상기 제2색 화소(PXL2)에서 생성된 제2색의 빛을 선택적으로 투과시키는 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2색 화소(PXL2)가 녹색 화소일 때, 제2 컬러 필터(CF2)는, 녹색 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다.
제3 컬러 필터(CF3)는, 각각의 제3색 화소(PXL3)(특히, 상기 제3색 화소(PXL3)의 광원 유닛(LSU))과 상부 기판(ENC)의 사이에 배치되며, 상기 제3색 화소(PXL3)에서 생성된 제3색의 빛을 선택적으로 투과시키는 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제3색 화소(PXL3)가 청색 화소일 때, 제3 컬러 필터(CF3)는, 청색 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 컬러 필터들(CF)의 사이에는 블랙 매트릭스(BM)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 블랙 매트릭스(BM)는 뱅크(BNK)와 마주하도록 상부 기판(ENC)의 일면 상에 배치될 수 있다. 실시예에 따라, 블랙 매트릭스(BM)는, 각각의 발광 영역(EMA)을 가리지 않도록 화소 영역들(PXA)의 경계 영역에 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 블랙 매트릭스(BM)는, 다양한 종류의 블랙 매트릭스 물질 중 적어도 하나의 블랙 매트릭스 물질(일 예로, 현재 공지된 적어도 하나의 차광성 재료), 및/또는 특정 색상의 컬러필터 물질 등을 포함할 수 있다. 또한, 블랙 매트릭스(BM)는 뱅크(BNK)와 동일한 물질로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 블랙 매트릭스(BM)와 뱅크(BNK)는 서로 동일 또는 상이한 물질을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 블랙 매트릭스(BM)는 흑색의 블랙 매트릭스 물질을 포함한 흑색의 차광 패턴으로 형성될 수 있다. 다른 실시예에서, 블랙 매트릭스(BM)는 청색의 컬러필터 물질을 포함한 청색의 차광 패턴으로 형성될 수 있다. 이 경우, 컬러 필터층(CFL)을 형성하기 위한 마스크 수를 줄이고, 공정을 간소화할 수 있다.
또 다른 실시예에서는, 블랙 매트릭스(BM)가 다층 구조를 가질 수도 있다. 예를 들어, 블랙 매트릭스(BM)는, 흑색의 블랙 매트릭스 물질을 포함한 흑색의 차광 패턴, 및 청색의 컬러필터 물질을 포함한 청색의 차광 패턴을 포함한 다층 구조를 가질 수도 있다.
또한, 블랙 매트릭스(BM)는, 사다리꼴, 반원 또는 반타원 등을 비롯한 다양한 형상의 단면을 가지는 단일층 또는 다중층의 패턴일 수 있으며, 그 크기(일 예로, 폭 및/또는 높이)나 구성 물질 등은 다양하게 변경될 수 있다.
일 실시예에서, 베이스 층(BSL) 및 표시 소자층(DPL) 등을 포함한 표시 패널(PNL)의 하판과, 상부 기판(ENC) 및 광 변환층(LCP) 등을 포함한 표시 패널(PNL)의 상판 사이의 공간은, 공기층으로 구성될 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 표시 패널(PNL)의 하판과 상판 사이의 공간은, 대략 1 내지 1.5 범위의 비교적 낮은 굴절률을 가지는 소정의 충진재로 채워질 수도 있다.
한편, 도 10에서는 화소들(PXL)이 배치된 베이스 층(BSL) 상의 상부에 상부 기판(ENC)이 배치되는 실시예를 개시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 제4 절연층(INS4)이 화소들(PXL)을 보호하기에 충분한 박막 봉지층을 포함하는 경우, 상부 기판(ENC)은 생략될 수도 있다. 이 경우, 컬러 필터들(CF) 및/또는 블랙 매트릭스(BM)는, 표시 패널(PNL)의 상부에 배치되는 윈도우(미도시)에 구비될 수도 있다.
도 11a를 참조하면, 상부 기판(ENC)은, 화소들(PXL)과 중첩되는 광 변환층(LCP)을 포함할 수 있다. 상기 광 변환층(LCP)은, 화소들(PXL)과 마주하도록 상부 기판(ENC) 상에 배치된 컬러 필터층(CFL)과, 상기 컬러 필터층(CFL)과 화소들(PXL)의 사이에 배치되며 컬러 변환 입자들을 포함한 컬러 변환층(CCL)을 포함할 수 있다.
한편, 도 11a에서는 컬러 변환층(CCL)과 제4 절연막(INS4)의 사이에 갭(일 예로, 공기층)이 존재하는 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 컬러 변환층(CCL)이 컬러 필터층(CFL)과 제4 절연층(INS4) 사이의 공간을 완전히 채우도록 형성될 수도 있다.
광 변환층(LCP)은, 제1색 화소(PXL1)의 상부에 배치된 제1 광 변환층(LCP1), 제2색 화소(PXL2)의 상부에 배치된 제2 광 변환층(LCP2), 및 제3색 화소(PXL3)의 상부에 배치된 제3 광 변환층(LCP3)을 포함할 수 있다. 이하에서, 제1 광 변환층(LCP1), 제2 광 변환층(LCP2) 및 제3 광 변환층(LCP3) 중 임의의 광 변환층을 지칭하거나, 또는 두 종류 이상의 광 변환층들을 포괄적으로 지칭할 때, "광 변환층(LCP)" 또는 "광 변환층들(LCP)"이라 하기로 한다.
실시예에 따라, 제1, 제2 및 제3 광 변환층들(LCP1, LCP2, LCP3) 중 적어도 일부는, 소정의 색에 대응하는 컬러 변환층(CCL) 및/또는 컬러 필터층(CFL)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 광 변환층(LCP1)은, 제1색에 대응하는 제1색 변환 입자들을 포함하는 제1 컬러 변환층(CCL1)과, 제1색의 빛을 선택적으로 투과시키는 제1 컬러 필터(CF1)를 포함할 수 있다. 유사하게, 제2 광 변환층(LCP2)은, 제2색에 대응하는 제2색 변환 입자들을 포함하는 제2 컬러 변환층(CCL2)과, 제2색의 빛을 선택적으로 투과시키는 제2 컬러 필터(CF2)를 포함할 수 있다. 한편, 제3 광 변환층(LCP3)은, 광 산란 입자들(SCT)을 포함하는 광 산란층(LSL)과, 제3색의 빛을 선택적으로 투과시키는 제3 컬러 필터(CF3) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL) 각각의 표면에는 도시되지 않은 적어도 한 층의 절연층이 배치될 수도 있다. 예를 들어, 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL)과 각각의 컬러 필터(CF)의 사이, 및/또는 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL) 각각의 표면에는, 상기 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL)을 보호하기 위한 각각의 절연층(일 예로, 캡핑층, 버퍼층, 및/또는 배리어층)이 배치될 수 있다.실시예에 따라, 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3)은 서로 동일한 색의 빛을 방출하는 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3)은 제3색, 일 예로 대략 400nm 내지 500nm 파장 대역에 속하는 청색의 빛을 방출하는 제3색 발광 소자들(LD3)을 포함할 수 있다. 그리고, 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3) 중 적어도 일부의 화소들(PXL) 상에는 적어도 한 종류의 색 변환 입자들을 포함한 컬러 변환층(CCL)이 배치될 수 있다. 이에 의해, 본 발명의 실시예에 의한 표시 장치는 풀-컬러의 영상을 표시할 수 있다.
제1 컬러 변환층(CCL1)은, 제1색 화소(PXL1)와 마주하도록 상부 기판(ENC)의 일면 상에 배치되며, 제1색 화소(PXL1)에 배치된 제3색 발광 소자(LD3)에서 방출되는 제3색의 빛을 제1색의 빛으로 변환하는 제1색 변환 입자들을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1색 화소(PXL1)에 배치된 제3색 발광 소자(LD3)가 청색의 빛을 방출하는 청색 발광 소자이고 제1색 화소(PXL1)가 적색 화소인 경우, 제1 컬러 변환층(CCL1)은, 상기 청색 발광 소자에서 방출되는 청색의 빛을 적색의 빛으로 변환하는 적색 퀀텀 닷(QDr)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 제1 컬러 변환층(CCL1)은 투명한 수지 등과 같은 소정의 매트릭스 재료 내에 분산된 다수의 적색 퀀텀 닷(QDr)을 포함할 수 있다. 적색 퀀텀 닷(QDr)은, 청색 빛을 흡수하여 에너지 천이에 따라 파장을 쉬프트시켜 대략 620nm 내지 780nm 파장 대역의 적색 빛을 방출할 수 있다. 한편, 제1색 화소(PXL1)가 다른 색의 화소인 경우, 제1 컬러 변환층(CCL1)은 상기 제1색 화소(PXL1)의 색에 대응하는 제1 퀀텀 닷을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제2 컬러 변환층(CCL2)은, 제2색 화소(PXL2)와 마주하도록 상부 기판(ENC)의 일면 상에 배치되며, 제2색 화소(PXL2)에 배치된 제3색 발광 소자(LD3)에서 방출되는 제3색의 빛을 제2색의 빛으로 변환하는 제2색 변환 입자들을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2색 화소(PXL2)에 배치된 제3색 발광 소자(LD3)가 청색의 빛을 방출하는 청색 발광 소자이고 제2색 화소(PXL2)가 녹색 화소인 경우, 제2 컬러 변환층(CCL2)은, 상기 청색 발광 소자에서 방출되는 청색의 빛을 녹색의 빛으로 변환하는 녹색 퀀텀 닷(QDg)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 제2 컬러 변환층(CCL2)은 투명한 수지 등과 같은 소정의 매트릭스 재료 내에 분산된 다수의 녹색 퀀텀 닷(QDg)을 포함할 수 있다. 녹색 퀀텀 닷(QDg)은, 청색 빛을 흡수하여 에너지 천이에 따라 파장을 쉬프트시켜 대략 500nm 내지 570nm 파장 대역의 녹색 빛을 방출할 수 있다. 한편, 제2색 화소(PXL2)가 다른 색의 화소인 경우, 제2 컬러 변환층(CCL2)은 상기 제2색 화소(PXL2)의 색에 대응하는 제2 퀀텀 닷을 포함할 수 있다.
제1 및 제2 퀀텀 닷(일 예로, 적색 및 녹색 퀀텀 닷(QDg, QDr)) 각각은 Ⅱ?-Ⅳ족 화합물, IV-VI족 화합물, IV족 원소, IV족 화합물 및 이들의 조합에서 선택될 수 있다.
상기 Ⅱ-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe, HgZnTe, MgZnSe, MgZnS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다.
상기 III-V족 화합물은 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다.
상기 IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 원소로는 Si, Ge 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 화합물로는 SiC, SiGe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물일 수 있다.
이러한 제1 및 제2 퀀텀 닷은 대략 45nm 이하의 발광 파장 스펙트럼의 반치폭(full width of half maximum, FWHM)을 가질 수 있으며, 제1 및 제2 퀀텀 닷을 통해 발광되는 광은 전 방향으로 방출될 수 있다. 이에 따라, 표시 장치의 시야각이 향상될 수 있다.
한편, 제1 및 제2 퀀텀 닷은 구형, 피라미드형, 다중 가지형(multi-arm), 또는 입방체(cubic)의 나노 입자, 나노 튜브, 나노 와이어, 나노 섬유, 나노 판상 입자 등의 형태를 가질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 제1 및 제2 퀀텀 닷의 형태는 다양하게 변경될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 가시광선 영역 중 비교적 짧은 파장을 갖는 청색의 빛을 각각 적색 및 녹색 퀀텀 닷(QDr, QDg)에 입사시킴으로써, 상기 적색 및 녹색 퀀텀 닷(QDr, QDg)의 흡수 계수를 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 최종적으로 각각의 제1색 화소(PXL1) 및 제2색 화소(PXL2)에서 방출되는 광의 효율을 증가시킴과 아울러, 우수한 색 재현성을 확보할 수 있다. 또한, 동일한 색의 발광 소자들(LD)을 이용하여 제1색, 제2색 및 제3색 화소들(PXL1, PXL2, PXL3)의 광원 유닛(LSU)을 구성함으로써, 표시 장치의 제조 효율을 높일 수 있다.
실시예에 따라, 광 산란층(LSL)은, 제3색 화소(PXL3)와 마주하도록 상부 기판(ENC)의 일면 상에 배치될 수 있다. 일 예로, 광 산란층(LSL)은, 제3색 화소(PXL3)와 제3 컬러 필터(CF3)의 사이에 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 제3색 화소(PXL3)에 배치된 제3색 발광 소자(LD3)가 청색의 빛을 방출하는 청색 발광 소자이고 제3색 화소(PXL3)가 청색 화소인 경우, 광 산란층((LSL)은 상기 제3색 발광 소자(LD3)로부터 방출되는 빛을 효율적으로 이용하기 위하여 선택적으로 구비될 수 있다. 이러한 광 산란층(LSL)은 적어도 한 종류의 광 산란 입자들(SCT)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 광 산란층(LSL)은 투명한 수지 등과 같은 소정의 매트릭스 재료 내에 분산된 다수의 광 산란 입자들(SCT)을 포함할 수 있다. 일 예로, 광 산란층(LSL)은 이산화타이타늄(TiO 2)나 실리카(Silica) 등의 광 산란 입자들(SCT)을 포함할 수 있다. 본 발명에서, 광 산란 입자들(SCT)의 구성 물질이 특별히 한정되지는 않으며, 광 산란층(LSL)은 현재 공지된 다양한 물질로 구성될 수 있다. 한편, 광 산란 입자들(SCT)이 제3색 화소(PXL3)가 형성되는 제3 화소 영역(PXA3)에만 배치되어야 하는 것은 아니다. 일 예로, 광 산란 입자들(SCT)은 제1 및/또는 제2 컬러 변환층(CCL1, CCL2)의 내부에도 선택적으로 포함될 수 있다.
도 11b를 참조하면, 블랙 매트릭스(BM)는, 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에도 배치되도록, 적어도 두께(또는, 높이) 방향으로 확장될 수 있다. 예를 들어, 블랙 매트릭스(BM)는, 컬러 필터층(CFL) 및 컬러 변환층(CCL)을 포함한 광 변환층(LCP)의 전체 두께에 대응하는 두께(일 예로, 광 변환층(LCP)의 전체 두께와 실질적으로 동일 또는 유사한 두께)를 가지도록 적어도 두께 방향으로 확장될 수 있다.
실시예에 따라, 블랙 매트릭스(BM)는, 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)이 형성되는 영역을 구획하는 형태로, 상기 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치될 수 있다. 이 경우, 잉크젯 방식 등을 통해 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL)을 형성할 수도 있다. 예를 들어, 상부 기판(ENC)의 일면 상에 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)을 형성하기에 앞서 블랙 매트릭스(BM)를 먼저 형성하고, 상기 블랙 매트릭스(BM)가 형성된 상부 기판(ENC)의 일면 상에 잉크젯 방식 등을 통해 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL)을 도포함에 의해 컬러 변환층(CCL)을 형성할 수도 있다.
도 11c를 참조하면, 블랙 매트릭스(BM)는, 컬러 필터층(CF)에 배치된 제1 블랙 매트릭스(BM1)와, 컬러 변환층(CCL)에 배치된 제2 블랙 매트릭스(BM2)를 포함한 다층 구조를 가질 수도 있다. 즉, 실시예에 따라, 블랙 매트릭스(BM)는, 광 변환층(LCP) 내에서 통합형 또는 분리형 구조를 가질 수 있다.
실시예에 따라, 제2 블랙 매트릭스(BM2)는, 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및/또는 광 산란층(LSL)의 형성 이전 또는 이후에 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 상부 기판(ENC)의 일면 상에 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)가 먼저 형성된 이후 제2 블랙 매트릭스(BM2)가 형성되는 경우, 상기 제2 블랙 매트릭스(BM2)는 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)에 대응하는 형상을 가지면서, 상기 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 개재될 수 있다.
도 11a 내지 도 11c의 실시예들에 의하면, 단일 색의 발광 소자들(LD)(일 예로, 제3색의 발광 소자들(LD3))을 이용하여 화소들(PXL) 및 이를 구비한 표시 장치를 용이하게 제조할 수 있다. 또한, 적어도 일부의 화소들(PXL) 상에 컬러 변환층(CCL)을 배치함으로써 풀-컬러의 화소 유닛(PXU) 및 이를 구비한 표시 장치를 제조할 수 있다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로, 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 13 및 도 14는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 12의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 한편, 도 13 및 도 14에서는 각각 도 10 및 도 11a의 실시예에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 도시하였으나, 상기 상판의 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 상판은, 도 11b 또는 도 11c의 실시예에서와 같이 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치된 블랙 매트릭스(BM)를 포함할 수도 있다. 도 12 내지 도 14의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들(일 예로, 도 8a 내지 도 11의 실시예들)과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 12 내지 도 14를 참조하면, 도 9 내지 도 11에 도시된 제3 절연층(INS3)은 실시예에 따라 생략될 수 있다. 예를 들어, 제1 컨택 전극(CNE1) 상에 제3 절연층(INS3)을 형성하지 않고, 상기 제1 컨택 전극(CNE1)을 제4 절연층(INS4)으로 바로 커버할 수 있다. 이 경우, 도 8a 내지 도 11의 실시예들과 비교할 때, 제3 절연층(INS3)을 형성하기 위한 마스크 공정이 생략되어 제조 공정이 보다 단순화될 수 있다. 또한, 제3 절연층(INS3)을 형성하지 않음으로써, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)에서 생성된 빛이 각 화소(PXL)의 외부로 방출되는 경로 상에 제3 절연층(INS3)이 배치되지 않을 경우, 화소들(PXL)의 내부에 위치한 투명 전극들 및/또는 절연층들에 의해 형성된 광도파로(optical waveguide)에 갇혀 화소들(PXL)의 외부로 방출되지 못하고 소멸하는 빛의 양을 줄일 수 있다. 이에 따라, 각각의 화소(PXL)로부터, 표시 패널(PNL)의 정면 방향(일 예로, 표시 패널(PNL)에 수직인 법선 방향을 기준으로 대략 0°내지 ±2°의 시야각 범위에 속한 방향)을 비롯하여 소정 각도의 시야각(일 예로, 0°내지 ±180°의 시야각) 범위 내로 방출되는 빛의 양이 증가되면서, 제3 절연층(INS3)을 형성한 구조에 비해 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다.
도 15a 내지 도 15i는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 12의 화소(PXL)를 포함한 표시 장치의 제조 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다.
도 12 내지 도 15a를 참조하면, 먼저 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)에 화소 회로층(PCL)을 형성하고, 상기 화소 회로층(PCL)이 형성된 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)에 서로 이격되는 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2)을 형성한다. 한편, 화소 회로층(PCL)이 생략될 경우에는, 베이스 층(BSL)(또는, 버퍼층(BFL)이 형성된 베이스 층(BSL))의 일면 상에 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2)을 바로 형성할 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 절연막의 형성 공정 및/또는 패터닝 공정(일 예로, 포토 공정)을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)은 동일한 물질을 이용하여 베이스 층(BSL) 상의 동일한 층(또는, 동일한 평면) 상에 동시에 형성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
또한, 화소 회로층(PCL)에 배치된 소정의 회로 소자(일 예로, 각 화소(PXL)의 제1 트랜지스터(T1))와 표시 소자층(DPL)의 어느 일 전극(일 예로, 각 화소(PXL)의 제1 전극(ELT1))과의 연결을 위한 제1 컨택홀(CH1), 및/또는 화소 회로층(PCL)에 배치된 소정의 배선(일 예로, 제2 전원선(PL2))과 표시 소자층(DPL)의 다른 일 전극(일 예로, 각 화소(PXL)의 제2 전극(ELT2))과의 연결을 위한 제2 컨택홀(CH2)을 형성한다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 컨택홀들(CH1, CH2)은, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 형성 이전 또는 이후에 형성되거나, 상기 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)을 형성하기 위한 적어도 하나의 식각 공정에서 형성될 수 있다.
도 15b를 참조하면, 제1 격벽(PW1) 및 제2 격벽(PW2) 상에 각각 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)을 형성한다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 적어도 하나의 도전 재료를 포함하는 도전막의 형성 공정 및/또는 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 또한, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각은, 단일층의 도전 패턴으로 형성되거나, 또는 각각의 반사 전극 및 도전성 캡핑층을 포함한 다중층의 도전 패턴으로 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)은 서로 동일한 물질을 이용하여 베이스 층(BSL) 상의 동일한 층(또는, 동일한 평면) 상에 동시에 형성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
도 15c를 참조하면, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)을 포함한 베이스 층(BSL) 상에 제1 절연층(INS1)을 형성한다. 실시예에 따라, 제1 절연층(INS1)은 적어도 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)을 커버하도록 베이스 층(BSL)의 일면 상에 형성될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 절연층(INS1)은 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 절연막의 성막 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 한편, 실시예에 따라서는 화소들(PXL)이 제1 절연층(INS1)을 포함하지 않을 수도 있으며, 이 경우 제1 절연층(INS1)의 형성 공정은 생략될 수 있다.
도 15d를 참조하면, 각 화소(PXL)의 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)의 사이에 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로 복수의 발광 소자들(LD)을 공급 및 정렬한다. 예를 들어, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 및 제1 절연층(INS1) 등이 형성된 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)(일 예로, 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA))에 복수의 발광 소자들(LD)을 공급하고, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압을 인가함으로써, 상기 발광 소자들(LD)을 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬할 수 있다.
실시예에 따라, 복수의 발광 소자들(LD)이 분산된 용액("발광 소자 잉크(LED 잉크)"라고도 함)을 잉크젯 프린팅 방식 또는 슬릿 코팅 방식 등을 이용하여 베이스 층(BSL)의 각 발광 영역(EMA)에 도포하는 방식으로, 각각의 화소 영역(PXA)에 발광 소자들(LD)을 공급할 수 있다. 다만, 발광 소자들(LD)의 공급 방식이 이에 한정되지는 않으며, 이외에도 다양한 방식을 통해 각각의 화소 영역(PXA)에 발광 소자들(LD)을 공급할 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각에 교류 형태의 정렬 전압 또는 기준 전위의 정전압을 공급함으로써, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에, 발광 소자들(LD)의 자가 정렬을 위한 전계를 형성할 수 있다. 일 예로, 화소들(PXL) 각각의 제2 전극(ELT2)에 교류 형태의 정렬 전압을 인가하고, 상기 화소들(PXL) 각각의 제1 전극(ELT1)에 기준 전위(일 예로, 접지 전위)의 정전압을 공급함에 의해, 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)을 정렬할 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 발광 소자(LD)는, 해당 화소(PXL)의 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 가로로 정렬될 수 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 단부(EP1)는 제1 전극(ELT1)을 향해 배치되고, 상기 발광 소자들(LD) 각각의 제2 단부(EP2)는 제2 전극(ELT2)을 향해 배치될 수 있다.
도 15e를 참조하면, 발광 소자들(LD) 상에 제2 절연층(INS2)을 형성한다. 실시예에 따라, 제2 절연층(INS2)은 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 절연막의 성막 공정 및 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)이 정렬된 베이스 층(BSL) 상에 제2 절연층(INS2)의 형성을 위한 절연막을 성막한 이후 상기 절연막을 패터닝함으로써, 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)를 제외한 일 영역 상부에만 제2 절연층(INS2)을 형성할 수 있다. 이러한 제2 절연층(INS2)을 형성함으로써, 발광 소자들(LD)을 정렬된 위치에 안정적으로 고정할 수 있다. 한편, 실시예에 따라서는 화소들(PXL)이 제2 절연층(INS2)을 포함하지 않을 수도 있으며, 이 경우 제2 절연층(INS2)의 형성 공정은 생략될 수 있다.
도 15f를 참조하면, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 일 영역을 노출하도록 제1 절연층(INS1)을 식각한다. 이에 의해, 제1 전극(ELT1) 상에 제1 컨택부(CNP1)를 형성하고, 제2 전극(ELT2) 상에 제2 컨택부(CNP2)를 형성할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 컨택부(CNP1)는 제1 절연층(INS1)이 부분적으로 제거되어 제1 전극(ELT1)이 노출된 영역을 의미할 수 있고, 후속 공정에서 형성되는 제1 컨택 전극(CNE1)과 제1 전극(ELT1)이 서로 접촉되어 연결되는 영역을 의미할 수 있다. 유사하게, 제2 컨택부(CNP2)는 제1 절연층(INS1)이 부분적으로 제거되어 제2 전극(ELT2)이 노출된 영역을 의미할 수 있고, 후속 공정에서 형성되는 제2 컨택 전극(CNE2)과 제2 전극(ELT2)이 서로 접촉되어 연결되는 영역을 의미할 수 있다.
도 15g 및 도 15h를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1) 및 제1 전극(ELT1) 상에 제1 컨택 전극(CNE1)을 형성하고, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2) 및 제2 전극(ELT2) 상에 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성한다. 예를 들어, 제1 컨택부(CNP1)를 포함한 제1 전극(ELT1)의 적어도 일 영역과 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 커버하도록 제1 컨택 전극(CNE1)을 형성하고, 제2 컨택부(CNP2)를 포함한 제2 전극(ELT2)의 적어도 일 영역과 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 커버하도록 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성할 수 있다. 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 형성함으로써, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 단부(EP1)를 제1 전극(ELT1)에 연결하고, 상기 발광 소자들(LD) 각각의 제2 단부(EP2)를 제2 전극(ELT2)에 연결할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)은 서로 다른 공정을 통해 순차적으로 형성될 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 동시에 형성할 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)은 서로 동일 또는 상이한 적어도 하나의 도전 재료를 포함하는 도전막의 형성 공정 및/또는 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 각각은 적어도 하나의 투명 전극 재료를 이용하여 실질적으로 투명하게 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)을 통해 발광 소자들(LD)로부터 방출되는 빛이 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 투과할 수 있게 된다.
도 15i를 참조하면, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)이 형성된 베이스 층(BSL)의 일면 상에, 제4 절연층(INS4)을 형성한다. 이에 따라, 도 12의 실시예에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치(일 예로, 상기 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 하판)를 제조할 수 있게 된다. 실시예에 따라, 제4 절연층(INS4)은 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 적어도 한 층의 절연막의 성막 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다.
상술한 과정을 통해 표시 영역(DA)에 화소들(PXL)을 형성한 이후, 상기 화소들(PXL) 상에 도 13 또는 도 14의 실시예 등에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 선택적으로 배치할 수 있다.
도 16은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로, 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 17 및 도 18은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 16의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 한편, 도 17 및 도 18에서는 각각 도 10 및 도 11a의 실시예에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 도시하였으나, 상기 상판의 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 상판은, 도 11b 또는 도 11c의 실시예에서와 같이 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치된 블랙 매트릭스(BM)를 포함할 수도 있다. 도 16 내지 도 18의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 16 내지 도 18을 참조하면, 도 12 내지 도 14에 도시된 제4 절연층(INS4)도 실시예에 따라서는 생략될 수 있다. 예를 들어, 도 16 내지 도 18의 실시예들에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치는, 도 12 내지 도 14의 실시예들에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치와 비교할 때 제4 절연층(INS4)을 포함하지 않으며, 도 8a 내지 도 11의 실시예들에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치와 비교할 때 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 모두를 포함하지 않을 수 있다.
이 경우, 제4 절연층(INS4)을 형성하기 위한 마스크 공정이 추가적으로 생략되어, 제조 공정이 보다 단순화될 수 있다. 또한, 제4 절연층(INS4)을 형성하지 않음으로써, 각 화소(PXL)의 광효율을 추가적으로 향상시킬 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)에서 생성된 빛이 각 화소(PXL)의 외부로 방출되는 경로 상에 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)이 모두 배치되지 않을 경우, 각 화소(PXL)의 내부에 위치한 투명 전극들 및/또는 절연층들에 의해 형성된 광도파로에 갇혀 각 화소(PXL)의 외부로 방출되지 못하고 소멸하는 빛의 양을 보다 더 줄일 수 있다. 이에 따라, 각각의 화소(PXL)로부터, 표시 패널(PNL)의 정면 방향을 비롯하여 소정 각도의 시야각(일 예로, 0°내지 ±180°의 시야각) 범위 내로 방출되는 빛의 양이 증가되면서, 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)을 형성한 구조에 비해 각 화소(PXL)의 광효율을 보다 향상시킬 수 있다.
한편, 제4 절연층(INS4)이 제공되지 않을 경우, 화소들(PXL)의 상부에 상부 기판(ENC) 등이 배치되어 표시 영역(DA)을 밀봉할 수 있다. 이에 따라, 제4 절연층(INS4)을 포함하지 않더라도 외부 환경으로부터 화소들(PXL)을 보호할 수 있다.
일 실시예에서, 도 16의 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치(일 예로, 상기 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 하판)는 도 15a 내지 도 15h에서 상술한 과정을 통해 제조될 수 있다. 따라서, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 19는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로, 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 20 및 도 21은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 19의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 한편, 도 20 및 도 21에서는 각각 도 10 및 도 11a의 실시예에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 도시하였으나, 상기 상판의 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 상판은, 도 11b 또는 도 11c의 실시예에서와 같이 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치된 블랙 매트릭스(BM)를 포함할 수도 있다. 도 19 내지 도 21의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 19 내지 도 21을 참조하면, 도 9 내지 도 11에 도시된 제4 절연층(INS4)은 실시예에 따라 생략될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 상에 제4 절연층(INS4)을 형성하지 않고, 화소들(PXL)의 상부에 상부 기판(ENC) 등을 배치하여 표시 영역(DA)을 밀봉할 수 있다. 이에 따라, 제4 절연층(INS4)을 포함하지 않더라도 외부 환경으로부터 화소들(PXL)을 보호할 수 있다.
이 경우, 도 8a 내지 도 11의 실시예들과 비교할 때, 제4 절연층(INS4)을 형성하기 위한 마스크 공정이 생략되어 제조 공정이 보다 단순화될 수 있다. 또한, 제4 절연층(INS4)을 형성하지 않음으로써, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)에서 생성된 빛이 각 화소(PXL)의 외부로 방출되는 경로 상에 제4 절연층(INS4)이 배치되지 않을 경우, 각 화소(PXL)의 내부에 위치한 투명 전극들 및/또는 절연층들에 의해 형성된 광도파로에 갇혀 화소들(PXL)의 외부로 방출되지 못하고 소멸하는 빛의 양을 줄일 수 있다. 이에 따라, 각각의 화소(PXL)로부터, 표시 패널(PNL)의 정면 방향을 비롯하여 소정 각도의 시야각(일 예로, 0°내지 ±180°의 시야각) 범위 내로 방출되는 빛의 양이 증가되면서, 제4 절연층(INS4)을 형성한 구조에 비해 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다.
도 22a 내지 도 22g는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 19의 화소(PXL)를 포함한 표시 장치의 제조 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 도 22a 내지 도 22g의 실시예에서, 앞서 설명한 실시예(일 예로, 도 15a 내지 도 15i의 실시예)와 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 19 내지 도 22a를 참조하면, 화소 회로층(PCL)이 선택적으로 형성된 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)에, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 및 제1 절연층(INS1)을 형성한다. 그리고, 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)의 사이에 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로 복수의 발광 소자들(LD)을 공급 및 정렬한다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 및 제1 절연층(INS1)은 도 15a 내지 도 15c에서 상술한 과정을 통해 제조될 수 있다. 그리고, 발광 소자들(LD)은, 도 15d에서 상술한 과정을 통해 각각의 발광 영역(EMA)에 공급 및 정렬될 수 있다. 따라서, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 22b를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 제외한 나머지 영역 및 제2 전극(ELT2) 상의 제1 절연막(INS1) 상에 제2 절연층(INS2)을 형성한다. 실시예에 따라, 제2 절연층(INS2)은 무기 재료 및/또는 유기 재료를 포함하는 절연막의 성막 공정 및 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 이러한 제2 절연층(INS2)은 제1 전극(ELT1) 및 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)의 상부는 커버하지 않도록 패터닝될 수 있다.
도 22c를 참조하면, 제1 전극(ELT1)의 일 영역을 노출하도록 제1 절연층(INS1)을 식각한다. 이에 의해, 제1 전극(ELT1) 상에 제1 컨택부(CNP1)를 형성할 수 있다.
도 22d를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1) 및 제1 전극(ELT1) 상에 제1 컨택 전극(CNE1)을 형성한다. 예를 들어, 제1 컨택부(CNP1)를 포함하여 제1 전극(ELT1)의 적어도 일 영역과 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 커버하도록 제1 컨택 전극(CNE1)을 형성할 수 있다. 제1 컨택 전극(CNE1)을 형성함으로써, 발광 소자들(LD) 각각의 제1 단부(EP1)를 제1 전극(ELT1)에 연결할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 컨택 전극(CNE1)은 적어도 하나의 도전 재료를 포함하는 도전막의 형성 공정 및/또는 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 실시예에 따라, 제1 컨택 전극(CNE1)은 적어도 하나의 투명 전극 재료를 이용하여 실질적으로 투명하게 형성될 수 있다.
도 22e를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)을 포함한 일 영역과 제1 컨택 전극(CNE1)을 커버하도록 상기 발광 소자들(LD) 및 제1 컨택 전극(CNE1) 상에 제3 절연층(INS3)을 형성한다. 또한, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2) 및 제2 전극(ELT2) 상에서 제2 절연층(INS2)을 식각하여 제거한다. 이에 따라, 제2 절연층(INS2)은 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)을 제외한 일 영역 상에만 배치될 수 있다.
도 22f를 참조하면, 제2 전극(ELT2)의 일 영역을 노출하도록 제1 절연층(INS1)을 식각한다. 이에 의해, 제2 전극(ELT2) 상에 제2 컨택부(CNP2)를 형성할 수 있다.
도 22g를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2) 및 제2 전극(ELT2) 상에 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성한다. 예를 들어, 제2 컨택부(CNP2)를 포함한 제2 전극(ELT2)의 적어도 일 영역과 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)을 커버하도록 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성할 수 있다. 제2 컨택 전극(CNE2)을 형성함으로써, 발광 소자들(LD) 각각의 제2 단부(EP2)를 제2 전극(ELT2)에 연결할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 컨택 전극(CNE2)은 적어도 하나의 도전 재료를 포함하는 도전막의 형성 공정 및/또는 패터닝 공정을 통해 형성될 수 있으며, 현재 공지된 다양한 방식의 공정을 통해 형성될 수 있다. 실시예에 따라, 제2 컨택 전극(CNE2)은 적어도 하나의 투명 전극 재료를 이용하여 실질적으로 투명하게 형성될 수 있다.
상술한 과정을 통해 표시 영역(DA)에 화소들(PXL)을 형성한 이후, 상기 화소들(PXL) 상에 도 20 또는 도 21의 실시예 등에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 배치하여 상기 화소들(PXL)을 밀봉할 수 있다.
도 23은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로, 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 24 및 도 25는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 23의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 한편, 도 24 및 도 25에서는 각각 도 10 및 도 11a의 실시예에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 도시하였으나, 상기 상판의 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 상판은, 도 11b 또는 도 11c의 실시예에서와 같이 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치된 블랙 매트릭스(BM)를 포함할 수도 있다. 도 23 내지 도 25의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 23 내지 도 25를 참조하면, 도 9 내지 도 11에 도시된 실시예들에서와 같이 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 모두 형성하되, 발광 소자들(LD)의 주변에서 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 일 영역을 개구함으로써, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 인접한 영역에서 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 일 영역을 개구하여 제1 개구부(OPN1)("제1 투광홀"이라고도 함)를 형성하고, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 인접한 영역에서 제4 절연층(INS4)의 일 영역을 개구하여 제2 개구부(OPN2)("제2 투광홀"이라고도 함)를 형성할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 개구부(OPN1)는, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 이에 인접한 제1 격벽(PW1)의 사이에 대응하는 영역에 위치될 수 있다. 유사하게, 제2 개구부(OPN2)는, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 이에 인접한 제2 격벽(PW2)의 사이에 대응하는 영역에 위치될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)은 각각 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)과 중첩되지 않도록 배치될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및/또는 제2 개구부들(OPN1, OPN2)이, 제1 및/또는 제2 격벽들(PW1, PW2)의 일 영역(일 예로, 발광 소자들(LD)과 인접한 경사면)과 적어도 부분적으로 중첩될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)은, 각각 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)로부터 실질적으로 동일한 수평 거리(d1, d2)만큼 이격되며, 실질적으로 서로 동일한 수평 폭(w1, w2)을 가질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 이 경우, 각 화소(PXL)의 출광 특성을 보다 균일화할 수 있다. 본 발명의 실시예들을 설명함에 있어, "실질적으로 동일"이라 함은, "완전히 동일"의 의미를 포함함은 물론, 공정 조건 등을 고려한 "소정의 허용 오차 범위 내에서 유사함"을 포괄적으로 의미할 수 있다.
또한, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)은, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께에 상응하는 두께 및/또는 깊이를 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 개구부(OPN1)는, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께 합에 대응하는 두께(일 예로, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께 합과 동일한 두께)를 가지거나, 제1 개구부(OPN1)를 둘러싸는 주변의 도전층 및/또는 절연층의 프로파일에 상응하는 깊이를 가질 수 있다. 그리고, 제2 개구부(OPN2)는, 제4 절연층(INS4)의 두께 합에 대응하는 두께(일 예로, 제4 절연층(INS4)의 두께와 동일한 두께)를 가지거나, 제2 개구부(OPN2)를 둘러싸는 도전층 및/또는 절연층의 프로파일에 상응하는 깊이를 가질 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)은, 수직 식각이 가능한 건식 식각 등을 통해 제조됨으로써, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면(일 예로, 베이스 층(BSL)과 평행한 평면)에 대하여 실질적으로 직교하는 방향으로 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각은, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 80° 내지 100° 범위의 각도(θ3, θ4)를 가지도록(일 예로, 소정의 허용오차 범위 내에서 실질적으로 90°의 각도를 가지도록) 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직으로 관통할 수 있다. 이에 따라, 각 화소(PXL)의 내부에서 소멸되는 빛을 줄이고, 광효율을 향상시킬 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)은 해당 영역에서 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)을 완전히 관통할 수 있다. 예를 들어, 제1 개구부(OPN1)는 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통하도록 형성되어 제1 컨택 전극(CNE1)의 일 영역을 노출할 수 있다. 유사하게, 제2 개구부(OPN2)는 제4 절연층(INS4)을 관통하도록 형성되어 제2 컨택 전극(CNE2)의 일 영역을 노출할 수 있다.
다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각이, 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)을 두께 방향으로 일부만 식각한 형태, 즉 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)에 형성된 홈의 형태로 형성될 수도 있을 것이다. 또는, 또 다른 실시예에서는 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)의 하부에 배치된 제1 및/또는 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 부분적으로 식각함에 의해 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)을 보다 깊게 형성할 수도 있을 것이다. 또는, 또 다른 실시예에서는 제1 개구부(OPN1)를 제3 절연층(INS3)에는 형성하지 않고, 제4 절연층(INS4)에만 형성할 수도 있을 것이다.
일 실시예로서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 수평 폭(일 예로, 도 7의 제1 방향(DR1)에 따른 폭)이 3㎛ 내지 12㎛, 높이가 0.5㎛ 내지 3.5㎛, 경사각(θ1, θ2)이 15° 내지 80°이고, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 두께, 제1 절연층(INS1)의 두께, 제2 절연층(INS2)의 두께, 제1 컨택 전극(CNE1)의 두께, 제3 절연층(INS3)의 두께, 제2 컨택 전극(CNE2)의 두께, 및 제4 절연층(INS4)의 두께는 각각 0.01㎛ 내지 2㎛, 0.01㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 1㎛, 0.005㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 3㎛, 0.005㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 3㎛일 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각의 수평 폭(w1, w2)은 0.005㎛ 내지 3㎛이고, 두께는 0.005㎛ 내지 6㎛일 수 있다.
다만, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각의 크기(일 예로, 수평 폭(w1, w2), 두께 및/또는 깊이) 및 위치(일 예로, 발광 소자들(LD)로부터의 수평 거리(d1, d2)) 등은, 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각의 크기 및/또는 위치는, 화소들(PXL)의 출광 특성에 따라 실험적으로 결정될 수 있을 것이다.
또한, 실시예에 따라서는 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)이 서로 다른 수평 폭(w1, w2)을 가지거나, 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)로부터 서로 상이한 수평 거리(d1, d2)만큼 이격될 수도 있을 것이다. 또한, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2) 각각의 크기는, 상기 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)을 배치할 위치에 확보 가능한 공간(일 예로, 발광 소자들(LD)과 이에 인접한 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2)의 경사면 사이의 공간)의 크기, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 및/또는 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 등을 포함한 주변의 절연층 및/또는 도전층의 두께나 프로파일 등에 따라 다양하게 달라질 수 있다.
상술한 실시예들에 의하면, 각 화소(PXL)의 내부에 위치한 투명 전극들(일 예로, 제1 및/또는 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)) 및/또는 절연층들(일 예로, 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4))에 의해 형성되는 광도파로의 중간에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 부분적으로 제거함으로써, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)과 그 주변 영역의 굴절률에 차이를 부여할 수 있다. 이에 따라, 도 9 내지 도 11의 실시예들을 적용한 화소(PXL)에서 광도파로에 갇혀 소멸하는 빛 중 적어도 일부가, 도 23 내지 도 25의 실시예들에 의한 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)에 의해 변경된 광 경로를 통해 진행하도록 유도할 수 있다. 이에 따라, 보다 많은 양의 빛을 화소(PXL)의 외부로 방출시켜, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다.
도 26a 내지 도 26c는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 23의 화소(PXL)를 포함한 표시 장치의 제조 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 도 26a 내지 도 26c의 실시예에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 23 내지 도 26a를 참조하면, 화소 회로층(PCL)이 선택적으로 형성된 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)에, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3) 및 제2 컨택 전극(CNE2)을 순차적으로 형성 및/또는 배치한다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3) 및 제2 컨택 전극(CNE2)은 도 22a 내지 도 22g에서 상술한 과정을 통해 순차적으로 형성 및/또는 배치될 수 있다.
도 26b를 참조하면, 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)이 형성된 베이스 층(BSL)의 일면 상에, 제4 절연층(INS4)을 형성한다. 일 예로, 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3) 및 제2 컨택 전극(CNE2)이 형성된 베이스 층(BSL)의 일면 상에, 각각의 화소 영역(PXA)을 포함한 표시 영역(DA)을 전면적으로 커버하도록 제4 절연층(INS4)을 형성할 수 있다.
도 26c를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1) 및 제2 단부들(EP2)에 인접한 영역에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 식각하여 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)을 형성할 수 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 이에 인접한 제1 격벽(PW1)의 사이에 대응하는 영역에서 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 식각함에 의해 상기 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통하는 제1 개구부(OPN1)를 형성하고, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 이에 인접한 제2 격벽(PW2)의 사이에 대응하는 영역에서 제4 절연층(INS4)을 식각함에 의해 상기 제4 절연층(INS4)을 관통하는 제2 개구부(OPN2)를 형성할 수 있다.
일 실시예에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직 방향으로 건식 식각함으로써, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)을 형성할 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)이, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 80° 내지 100° 범위의 각도(θ3, θ4)(일 예로, 대략 90°의 각도)로 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직으로 관통하도록 상기 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)을 형성할 수 있다.
상술한 과정을 통해, 도 23의 실시예에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치(일 예로, 상기 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 하판)를 제조할 수 있게 된다. 또한, 실시예에 따라, 표시 영역(DA)에 화소들(PXL)을 형성한 이후, 상기 화소들(PXL) 상에 도 24 또는 도 25의 실시예 등에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 선택적으로 배치할 수 있다.
도 27은 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로, 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 28 및 도 29는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 27의 실시예에 의한 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 일 영역에 대한 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 한편, 도 28 및 도 29에서는 각각 도 10 및 도 11a의 실시예에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 도시하였으나, 상기 상판의 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 상판은, 도 11b 또는 도 11c의 실시예에서와 같이 제1 컬러 변환층(CCL1), 제2 컬러 변환층(CCL2) 및 광 산란층(LSL)의 사이에 배치된 블랙 매트릭스(BM)를 포함할 수도 있다. 도 27 내지 도 29의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 27 내지 도 29를 참조하면, 도 23 내지 도 25에 도시된 실시예들과 같이 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 모두 형성하고, 발광 소자들(LD)의 주변에서 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 일 영역을 개구함으로써, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다. 다만, 도 27 내지 도 29의 실시예들에서는, 도 23 내지 도 25의 실시예들에 의한 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN2)과 상이한 위치에, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 형성할 수 있다.
예를 들어, 제1 개구부(OPN1')는, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 인접한 제1 격벽(PW1) 상에 위치되고, 제2 개구부(OPN2')는, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 인접한 제2 격벽(PW2) 상에 위치될 수 있다. 일 예로, 제1 개구부(OPN1')는, 제1 격벽(PW1)의 폭 이하의 수평 폭(w1')을 가지면서 상기 제1 격벽(PW1)과 중첩되도록 배치되고, 제2 개구부(OPN2')는, 제2 격벽(PW2)의 폭 이하의 수평 폭(w2')을 가지면서 상기 제2 격벽(PW2)과 중첩되도록 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')은, 각각 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)로부터 실질적으로 동일한 수평 거리(d1', d2')만큼 이격되며, 실질적으로 서로 동일한 수평 폭(w1', w2')을 가질 수 있다. 이에 따라, 각 화소(PXL)의 출광 특성을 보다 균일화할 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')이 서로 다른 수평 폭(w1', w2')을 가지거나, 발광 소자들(LD)로부터 서로 다른 수평 거리(d1', d2')만큼 이격될 수도 있다.
또한, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')은, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께에 상응하는 두께 및/또는 깊이를 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 개구부(OPN1')는, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께 합에 대응하는 두께(일 예로, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)의 두께 합과 동일한 두께) 및/또는 깊이를 가질 수 있다. 그리고, 제2 개구부(OPN2')는, 제4 절연층(INS4)의 두께 합에 대응하는 두께(일 예로, 제4 절연층(INS4)의 두께와 동일한 두께) 및/또는 깊이를 가질 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')은, 수직 식각이 가능한 건식 식각 등을 통해 제조됨으로써, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면(일 예로, 베이스 층(BSL)과 평행한 평면)에 대하여 실질적으로 직교하는 방향으로 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각은, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 80° 내지 100° 범위의 각도(θ3', θ4')를 가지도록(일 예로, 소정의 허용오차 범위 내에서 실질적으로 90°의 각도를 가지도록) 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직으로 관통할 수 있다. 이에 따라, 각각의 화소(PXL)에서 방출되는 빛이 보다 표시 패널(PNL)의 정면 방향으로 향하도록 유도할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')은 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 완전히 관통할 수 있다. 예를 들어, 제1 개구부(OPN1')는 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통하도록 형성되어 제1 격벽(PW1)의 상부에서 제1 컨택 전극(CNE1)의 일 영역을 노출할 수 있다. 유사하게, 제2 개구부(OPN2')는 제4 절연층(INS4)을 관통하도록 형성되어 제2 격벽(PW2)의 상부에서 제2 컨택 전극(CNE2)의 일 영역을 노출할 수 있다.
다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각이, 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)을 두께 방향으로 일부만 식각한 형태, 즉 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)에 형성된 홈의 형태로 형성될 수도 있을 것이다. 또는, 또 다른 실시예에서는 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4)의 하부에 배치된 제1 및/또는 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)을 부분적으로 식각함에 의해 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 보다 깊게 형성할 수도 있을 것이다. 또는, 또 다른 실시예에서는 제1 개구부(OPN1')를 제3 절연층(INS3)에는 형성하지 않고, 제4 절연층(INS4)에만 형성할 수도 있을 것이다.
일 실시예로서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 각각의 수평 폭(일 예로, 도 7의 제1 방향(DR1)에 따른 폭)이 3㎛ 내지 12㎛, 높이가 0.5㎛ 내지 3.5㎛, 경사각(θ1, θ2)이 15° 내지 80°이고, 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 각각의 두께, 제1 절연층(INS1)의 두께, 제2 절연층(INS2)의 두께, 제1 컨택 전극(CNE1)의 두께, 제3 절연층(INS3)의 두께, 제2 컨택 전극(CNE2)의 두께, 및 제4 절연층(INS4)의 두께는 각각 0.01㎛ 내지 2㎛, 0.01㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 1㎛, 0.005㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 1㎛, 0.005㎛ 내지 2㎛, 0.05㎛ 내지 1㎛일 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각의 수평 폭(w1', w2')은 2㎛ 내지 8㎛, 두께는 0.005㎛ 내지 6㎛일 수 있다.
다만, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각의 크기(일 예로, 수평 폭(w1', w2'), 두께 및/또는 깊이) 및 위치(일 예로, 발광 소자들(LD)로부터의 수평 거리(d1', d2')) 등은, 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각의 크기 및/또는 위치는, 화소들(PXL)의 출광 특성에 따라 실험적으로 결정될 수 있을 것이다.
또한, 실시예에 따라서는 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')이 서로 다른 수평 폭(w1', w2')을 가지거나, 발광 소자들(LD)의 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2)로부터 서로 상이한 수평 거리(d1', d2')만큼 이격될 수도 있을 것이다. 또한, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2') 각각의 크기는, 상기 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 배치할 위치에 확보 가능한 공간(일 예로, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2) 상부의 공간)의 크기, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 및/또는 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2) 등을 포함한 주변의 절연층 및/또는 도전층의 두께나 프로파일 등에 따라 다양하게 달라질 수 있다.
상술한 실시예들에 의하면, 각 화소(PXL)의 내부에 위치한 투명 전극들(일 예로, 제1 및/또는 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)) 및/또는 절연층들(일 예로, 제3 및/또는 제4 절연층들(INS3, INS4))에 의해 형성되는 광도파로의 중간에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 부분적으로 제거함으로써, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')과 그 주변 영역의 굴절률에 차이를 부여할 수 있다. 이에 따라, 도 9 내지 도 11의 실시예들을 적용한 화소(PXL)에서 광도파로에 갇혀 소멸하는 빛 중 적어도 일부가, 도 27 내지 도 29의 실시예들에 의한 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')에 의해 변경된 광 경로를 통해 진행할 수 있다. 이에 따라, 보다 많은 양의 빛을 화소(PXL)의 외부로 방출시켜, 각 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다.
도 30a 및 도 30b는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법을 순차적으로 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 27의 화소(PXL)를 포함한 표시 장치의 제조 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 도 30a 및 도 30b의 실시예에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 27 내지 도 30a를 참조하면, 화소 회로층(PCL)이 선택적으로 형성된 베이스 층(BSL) 상의 각 화소 영역(PXA)에, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3), 제2 컨택 전극(CNE2) 및 제4 절연층(INS4)을 순차적으로 형성 및/또는 배치한다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 격벽들(PW1, PW2), 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2), 제1 절연층(INS1), 발광 소자들(LD), 제2 절연층(INS2), 제1 컨택 전극(CNE1), 제3 절연층(INS3), 제2 컨택 전극(CNE2) 및 제4 절연층(INS4)은 도 26a 및 도 26b에서 상술한 과정을 통해 순차적으로 형성 및/또는 배치될 수 있다.
도 30b를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 인접한 제1 격벽(PW1)의 상부와, 상기 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 인접한 제2 격벽(PW2)의 상부에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 관통하는 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 형성할 수 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)에 인접한 제1 격벽(PW1) 상에서 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 식각하여 제1 개구부(OPN1')를 형성하고, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)에 인접한 제2 격벽(PW2) 상에서 제4 절연층(INS4)을 식각하여 제2 개구부(OPN2')를 형성할 수 있다.
일 실시예에서, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직 방향으로 건식 식각함으로써, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 형성할 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')이, 발광 소자들(LD)이 배치되는 평면에 대하여 대략 80° 내지 100° 범위의 각도(θ3', θ4')(일 예로, 대략 90°의 각도)로 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 수직으로 관통하도록 상기 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 형성할 수 있다.
상술한 과정을 통해, 도 27의 실시예에 의한 화소(PXL) 및 이를 포함한 표시 장치(일 예로, 상기 화소(PXL)를 포함한 표시 패널(PNL)의 하판)를 제조할 수 있게 된다. 또한, 실시예에 따라, 표시 영역(DA)에 화소들(PXL)을 형성한 이후, 상기 화소들(PXL) 상에 도 28 또는 도 29의 실시예 등에 의한 표시 패널(PNL)의 상판을 선택적으로 배치할 수 있다.
도 31 내지 도 34는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)를 나타내는 단면도로서, 일 예로 도 7의 Ⅱ~Ⅱ'선에 대응하는 단면의 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 도 31 내지 도 34의 실시예들에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성 요소에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 31을 참조하면, 각각의 화소(PXL)는 도 23의 화소(PXL)와 비교하여 제3 절연층(INS3)을 포함하지 않을 수 있다. 예를 들어, 상기 화소(PXL)는 도 23의 화소(PXL)에 구비된 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제4 절연층(INS4)만을 포함할 수 있다. 또한, 제4 절연층(INS4)은, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 이에 인접한 제1 격벽(PW1)의 사이에 대응하는 영역에 위치한 제1 개구부(OPN1)와, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 이에 인접한 제2 격벽(PW2)의 사이에 대응하는 영역에 위치한 제2 개구부(OPN2)를 포함할 수 있다.
도 32를 참조하면, 각각의 화소(PXL)는 도 31의 화소(PXL)와 유사하게 제3 절연층(INS3)을 포함하지 않되, 도 31의 화소(PXL)와는 상이한 위치에 형성된 제1 및 제2 개구부들(OPN1', OPN2')을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 화소(PXL)는 도 27의 화소(PXL)에 구비된 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제4 절연층(INS4)만을 포함할 수 있다. 또한, 제4 절연층(INS4)은, 제1 격벽(PW1) 상에 위치한 제1 개구부(OPN1')와, 제2 격벽(PW2) 상에 위치한 제2 개구부(OPN2')를 포함할 수 있다.
도 33을 참조하면, 각각의 화소(PXL)는 도 23의 화소(PXL)와 비교하여 제4 절연층(INS4)을 포함하지 않을 수 있다. 예를 들어, 상기 화소(PXL)는 도 23의 화소(PXL)에 구비된 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제3 절연층(INS3)만을 포함할 수 있다. 또한, 제3 절연층(INS3)은, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 이에 인접한 제1 격벽(PW1)의 사이에 대응하는 영역에 위치한 제1 개구부(OPN1)를 포함할 수 있다.
도 34를 참조하면, 각각의 화소(PXL)는 도 33의 화소(PXL)와 유사하게 제4 절연층(INS4)을 포함하지 않되, 도 33의 화소(PXL)와는 상이한 위치에 형성된 제1 개구부(OPN1')를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 화소(PXL)는 도 27의 화소(PXL)에 구비된 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제3 절연층(INS3)만을 포함할 수 있다. 또한, 제3 절연층(INS3)은, 제1 격벽(PW1) 상에 위치한 제1 개구부(OPN1')를 포함할 수 있다.
상술한 실시예들에서와 같이, 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL) 및 이를 구비한 표시 장치는 다양한 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 표시 영역(DA)에 배치된 적어도 하나의 화소(PXL)는, 도 7 내지 도 34의 실시예들 중 어느 하나의 실시예가 단독으로 적용된 구조를 가지거나, 또는 상기 실시예들 중 적어도 두 개의 실시예들이 복합적으로 적용된 구조를 가질 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 도 7 내지 도 11의 실시예들에서와 같이 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 제1 컨택 전극(CNE1)을 커버하는 제3 절연층(INS3)과, 발광 소자들(LD)과 제1 및 제2 컨택 전극들(CNE1, CNE2)의 상부를 포함하여 각각의 화소 영역(PXA) 및/또는 이를 포함한 표시 영역(DA)을 전면적으로 커버하는 제4 절연층(INS4)을 포함할 수 있다.
다른 실시예에서, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 도 7, 및 도 12 내지 도 22g의 실시예들에서와 같이, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 적어도 하나의 절연층을 포함하지 않음으로써 도 8a 내지 도 11의 실시예들에 비해 향상된 출광 특성을 나타낼 수 있다.
또 다른 실시예에서, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 도 7, 및 도 23 내지 도 30b의 실시예들에서와 같이, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)을 모두 포함하되, 발광 소자들(LD)의 양측에서 상기 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4)에 형성된 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN1', OPN2, OPN2')을 포함함으로써, 도 8a 내지 도 11의 실시예들에 비해 향상된 출광 특성을 나타낼 수 있다. 일 예로, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 발광 소자들(LD)의 제1 단부들(EP1)과 이에 인접한 제1 격벽(PW1)의 사이에 대응하는 영역 또는 상기 제1 격벽(PW1)의 상부에 위치한 각각의 제1 개구부(OPN1, OPN1')와, 발광 소자들(LD)의 제2 단부들(EP2)과 이에 인접한 제2 격벽(PW2)의 사이에 대응하는 영역 또는 상기 제2 격벽(PW2)의 상부에 위치한 각각의 제2 개구부(OPN2, OPN2')를 포함할 수 있다.
또 다른 실시예에서, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 도 31 내지 도 34의 실시예들에서와 같이, 도 7, 및 도 12 내지 도 22g의 실시예들 중 적어도 하나의 실시예와, 도 7, 및 도 23 내지 도 30b의 실시예들 중 적어도 하나의 실시예가 복합적으로 적용된 구조를 가짐으로써, 도 8a 내지 도 11의 실시예들에 비해 향상된 출광 특성을 나타낼 수 있다. 예를 들어, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제4 절연층(INS4)만을 포함하고, 상기 제4 절연층(INS4)은 발광 소자들(LD)의 양측에 위치한 제1 및 제2 개구부들(OPN1, OPN1', OPN2, OPN2')을 포함할 수 있다. 또는, 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비하는 표시 장치는, 제3 및 제4 절연층들(INS3, INS4) 중 제3 절연층(INS3)만을 포함하고, 상기 제3 절연층(INS3)은 발광 소자들(LD)의 일측(일 예로, 제1 단부들(EP)의 주변)에 위치한 각각의 제1 개구부(OPN1, OPN1')를 포함할 수 있다.
상술한 바와 같은 본 발명의 다양한 실시예들에 의한 각각의 화소(PXL) 및 이를 구비한 표시 장치와 그의 제조 방법에 따르면, 각각의 발광 소자(LD)를 포함한 화소(PXL)의 광효율을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 기술 사상은 전술한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
본 발명의 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라, 특허 청구범위에 의해 정해져야만 할 것이다. 또한, 특허 청구범위의 의미 및 범위, 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (20)

  1. 표시 영역에 배치된 화소를 구비하며,
    상기 화소는,
    베이스 층 상에 서로 이격되어 배치된 제1 격벽 및 제2 격벽;
    각각 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽 상에 배치되며, 서로 이격된 제1 전극 및 제2 전극;
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 사이에 배치되며, 상기 제1 전극에 연결된 제1 단부 및 상기 제2 전극에 연결된 제2 단부를 포함한 발광 소자; 및
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중 적어도 하나의 전극과 상기 발광 소자의 상부에 배치되며, 상기 발광 소자의 제1 단부에 인접한 제1 개구부 및 상기 발광 소자의 제2 단부에 인접한 제2 개구부 중 적어도 하나의 개구부를 포함한 적어도 하나의 절연층을 포함하는, 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 개구부는, 상기 발광 소자의 제1 단부와 상기 제1 격벽의 사이에 대응하는 영역에 위치하고,
    상기 제2 개구부는, 상기 발광 소자의 제2 단부와 상기 제2 격벽의 사이에 대응하는 영역에 위치하는, 표시 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 개구부는 상기 제1 격벽 상에 위치하고,
    상기 제2 개구부는 상기 제2 격벽 상에 위치하는, 표시 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 개구부는, 상기 제1 격벽의 폭 이하의 폭을 가지면서 상기 제1 격벽과 중첩되도록 배치되고,
    상기 제2 개구부는, 상기 제2 격벽의 폭 이하의 폭을 가지면서 상기 제2 격벽과 중첩되도록 배치되는, 표시 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부는, 상기 발광 소자로부터 동일한 수평 거리만큼 이격된, 표시 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부 각각은, 상기 발광 소자가 배치되는 평면에 대하여 80° 내지 100° 범위의 각도를 가지도록 상기 적어도 하나의 절연층을 수직으로 관통하는, 표시 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 격벽은, 상기 발광 소자의 제1 단부와 마주하는 경사면 또는 곡면을 포함하고,
    상기 제2 격벽은, 상기 발광 소자의 제2 단부와 마주하는 경사면 또는 곡면을 포함하는, 표시 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은, 각각 상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽의 형상에 대응하는 경사면 또는 곡면을 포함하며, 각각의 반사 전극층을 포함하는, 표시 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상에 배치되며, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 일 영역을 노출하는 제1 절연층; 및
    상기 발광 소자 상에 배치되며, 상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부를 노출하는 제2 절연층 중 적어도 하나를 더 포함하는, 표시 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 화소는,
    상기 발광 소자의 제1 단부 및 상기 제1 전극 상에 배치되며, 상기 발광 소자의 제1 단부를 상기 제1 전극에 전기적으로 연결하는 제3 전극; 및
    상기 발광 소자의 제2 단부 및 상기 제2 전극 상에 배치되며, 상기 발광 소자의 제2 단부를 상기 제2 전극에 전기적으로 연결하는 제4 전극을 더 포함하는, 표시 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 절연층은, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극 상에 직접 배치되며,
    상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부는, 각각 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 일 영역을 노출하는, 표시 장치.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 절연층은,
    상기 발광 소자의 제1 단부를 포함한 일 영역과 상기 제3 전극 상에 배치되며, 상기 발광 소자 상에서 상기 제3 전극의 일단을 커버하는 제3 절연층; 및
    상기 발광 소자, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 상부를 포함하여 상기 표시 영역 상에 전면적으로 배치된 제4 절연층 중 적어도 하나를 포함하는, 표시 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제1 개구부는 상기 제3 절연층 및 상기 제4 절연층을 관통하고,
    상기 제2 개구부는 상기 제4 절연층을 관통하는, 표시 장치.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 화소의 상부에 배치되며, 상기 화소와 중첩되는 광 변환층을 포함한 상부 기판을 더 포함하는, 표시 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 광 변환층은,
    상기 화소와 마주하도록 상기 상부 기판에 배치된 컬러 필터층; 및
    상기 컬러 필터층과 상기 화소의 사이에 배치되며, 컬러 변환 입자들을 포함한 컬러 변환층 중 적어도 하나를 포함하는, 표시 장치.
  16. 베이스 층 상에 서로 이격된 제1 격벽 및 제2 격벽을 형성하는 단계;
    상기 제1 격벽 및 상기 제2 격벽 상에 각각 제1 전극 및 제2 전극을 형성하는 단계;
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 사이에 발광 소자를 공급 및 정렬하는 단계;
    상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부를 각각 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에 연결하는 제3 전극 및 제4 전극을 형성하는 단계;
    상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극과 상기 발광 소자 상에 적어도 하나의 절연층을 형성하는 단계; 및
    상기 발광 소자의 제1 단부 및 제2 단부 중 적어도 하나의 단부에 인접한 영역에서 상기 절연층에 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서, 상기 적어도 하나의 절연층을 수직 방향으로 건식 식각함을 특징으로 하는, 표시 장치의 제조 방법.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 제3 전극 및 상기 제4 전극을 순차적으로 형성하며,
    상기 적어도 하나의 절연층을 형성하는 단계는,
    상기 제3 전극을 형성한 이후, 상기 발광 소자의 제1 단부를 포함한 일 영역과 상기 제3 전극을 커버하는 절연층을 형성하는 단계; 및
    상기 제4 전극을 형성한 이후, 상기 발광 소자, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극의 상부를 포함하여 표시 영역을 전면적으로 커버하는 절연층을 형성하는 단계 중 적어도 하나를 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.
  19. 제16항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서,
    상기 발광 소자의 제1 단부와 상기 제1 격벽의 사이에 대응하는 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제1 개구부를 형성하고,
    상기 발광 소자의 제2 단부와 상기 제2 격벽의 사이에 대응하는 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제2 개구부를 형성함을 특징으로 하는, 표시 장치의 제조 방법.
  20. 제16항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 개구부를 형성하는 단계에서,
    상기 제1 격벽 상의 일 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제1 개구부를 형성하고,
    상기 제2 격벽 상의 일 영역에서 상기 적어도 하나의 절연층을 식각하여 제2 개구부를 형성함을 특징으로 하는, 표시 장치의 제조 방법.
PCT/KR2020/003078 2019-05-10 2020-03-04 표시 장치 및 그의 제조 방법 WO2020230989A1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202080034815.5A CN113841246A (zh) 2019-05-10 2020-03-04 显示设备及其制造方法
US17/610,062 US20220262984A1 (en) 2019-05-10 2020-03-04 Display device and manufacturing method thereof
EP20806026.9A EP3968384A4 (en) 2019-05-10 2020-03-04 DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190055055A KR20200130606A (ko) 2019-05-10 2019-05-10 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR10-2019-0055055 2019-05-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020230989A1 true WO2020230989A1 (ko) 2020-11-19

Family

ID=73289623

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2020/003078 WO2020230989A1 (ko) 2019-05-10 2020-03-04 표시 장치 및 그의 제조 방법

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20220262984A1 (ko)
EP (1) EP3968384A4 (ko)
KR (1) KR20200130606A (ko)
CN (1) CN113841246A (ko)
WO (1) WO2020230989A1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113284999A (zh) * 2021-03-29 2021-08-20 华灿光电(苏州)有限公司 发光二极管芯片及其制备方法
US20220139319A1 (en) * 2019-02-28 2022-05-05 Samsung Display Co., Ltd. Display device
EP4207298A4 (en) * 2021-05-26 2023-12-20 BOE Technology Group Co., Ltd. DISPLAY PANEL AND PREPARATION METHOD THEREFOR, AND DISPLAY APPARATUS

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200079378A (ko) 2018-12-24 2020-07-03 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치, 잉크 분사 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20210132782A (ko) * 2020-04-27 2021-11-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20220051900A (ko) * 2020-10-19 2022-04-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20220077167A (ko) * 2020-11-30 2022-06-09 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20220103233A (ko) * 2021-01-14 2022-07-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20220125862A (ko) * 2021-03-04 2022-09-15 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20220134843A (ko) * 2021-03-26 2022-10-06 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US20220399398A1 (en) * 2021-06-09 2022-12-15 Samsung Display Co., Ltd. Display device and method of fabricating the same

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008112644A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Hitachi Displays Ltd 自発光平面表示装置
KR20130033450A (ko) * 2010-07-14 2013-04-03 샤프 가부시키가이샤 미세한 물체의 배치 방법, 배열 장치, 조명 장치 및 표시 장치
KR20180072909A (ko) * 2016-12-21 2018-07-02 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 이를 구비한 표시 장치
KR101874993B1 (ko) * 2016-12-28 2018-07-05 피에스아이 주식회사 전기적 컨택이 향상된 초소형 led 전극 어셈블리 및 이의 제조방법
KR20190034379A (ko) * 2017-09-22 2019-04-02 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 발광 장치의 제조 방법

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102651097B1 (ko) * 2016-10-28 2024-03-22 엘지디스플레이 주식회사 발광 다이오드 디스플레이 장치
KR102503172B1 (ko) * 2018-02-13 2023-02-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102591056B1 (ko) * 2018-07-20 2023-10-20 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치, 그의 제조 방법, 및 이를 포함한 표시 장치
CN110970466B (zh) * 2018-09-28 2023-12-26 乐金显示有限公司 包括光接收装置的显示设备
US11367767B2 (en) * 2018-11-01 2022-06-21 Boe Technology Group Co., Ltd. Light emitting diode and fabrication method thereof, array substrate and display panel

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008112644A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Hitachi Displays Ltd 自発光平面表示装置
KR20130033450A (ko) * 2010-07-14 2013-04-03 샤프 가부시키가이샤 미세한 물체의 배치 방법, 배열 장치, 조명 장치 및 표시 장치
KR20180072909A (ko) * 2016-12-21 2018-07-02 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 이를 구비한 표시 장치
KR101874993B1 (ko) * 2016-12-28 2018-07-05 피에스아이 주식회사 전기적 컨택이 향상된 초소형 led 전극 어셈블리 및 이의 제조방법
KR20190034379A (ko) * 2017-09-22 2019-04-02 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 발광 장치의 제조 방법

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3968384A4 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220139319A1 (en) * 2019-02-28 2022-05-05 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US11869425B2 (en) * 2019-02-28 2024-01-09 Samsung Display Co., Ltd. Display device
CN113284999A (zh) * 2021-03-29 2021-08-20 华灿光电(苏州)有限公司 发光二极管芯片及其制备方法
CN113284999B (zh) * 2021-03-29 2022-06-14 华灿光电(苏州)有限公司 发光二极管芯片及其制备方法
EP4207298A4 (en) * 2021-05-26 2023-12-20 BOE Technology Group Co., Ltd. DISPLAY PANEL AND PREPARATION METHOD THEREFOR, AND DISPLAY APPARATUS

Also Published As

Publication number Publication date
EP3968384A4 (en) 2023-01-25
CN113841246A (zh) 2021-12-24
US20220262984A1 (en) 2022-08-18
KR20200130606A (ko) 2020-11-19
EP3968384A1 (en) 2022-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2020230989A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2020050467A1 (ko) 발광 장치 및 이를 구비하는 표시 장치
WO2020027401A1 (ko) 발광 장치 및 이를 구비한 표시 장치
WO2020105809A1 (ko) 화소, 이를 구비하는 표시 장치, 및 그의 제조 방법
WO2020149475A1 (ko) 발광 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
WO2020059989A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2020145462A1 (ko) 표시 장치 및 이의 제조 방법
WO2021045605A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2020080624A1 (ko) 표시 장치
WO2022065873A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2020111417A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2020256265A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2022050771A1 (ko) 표시 장치
WO2021118181A1 (ko) 발광 소자 및 이를 포함하는 표시 장치
WO2022097785A1 (ko) 발광 소자 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
WO2020149477A1 (ko) 발광 장치, 이를 포함하는 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
WO2020213832A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2022231170A1 (ko) 표시 장치
WO2023277504A1 (ko) 화소 및 이를 구비한 표시 장치
WO2021091098A1 (ko) 표시 장치
WO2020218713A1 (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
WO2023003049A1 (ko) 디스플레이 장치
WO2022086021A1 (ko) 표시 장치
WO2022004958A1 (ko) 표시 장치
WO2021256771A1 (ko) 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20806026

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2020806026

Country of ref document: EP

Effective date: 20211210