WO2020195035A1 - 駆動回路、駆動システム - Google Patents

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WO2020195035A1
WO2020195035A1 PCT/JP2020/001295 JP2020001295W WO2020195035A1 WO 2020195035 A1 WO2020195035 A1 WO 2020195035A1 JP 2020001295 W JP2020001295 W JP 2020001295W WO 2020195035 A1 WO2020195035 A1 WO 2020195035A1
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gate
drive circuit
potential
nmos transistor
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眞樹 吉永
太郎 雨貝
明子 池田
健吾 荒木
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日本電産株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a drive circuit and a drive system.
  • an inverter device for driving a motor a device provided with a dedicated IC for generating a signal to a switch element that controls a voltage applied to the motor based on a command from a microcontroller is known (for example, a patent). See FIG. 1 in Document 1).
  • a dedicated IC When a dedicated IC is provided in a drive circuit that drives a load such as a motor, the degree of freedom in design is high, so that it is more advantageous in terms of characteristics such as power consumption, responsiveness, and energy loss than when a dedicated IC is not provided. However, it is disadvantageous in terms of cost.
  • an object of the present invention is to improve the performance without using a dedicated IC when the load is switched and driven.
  • An exemplary first invention of the present application is a driving NMOS transistor having a source set to a reference potential and a driving MOSFET transistor having a source set to a first potential, in which drains common to each other are connected to a load.
  • the gate of the driving NMOS transistor is connected to the first input terminal for inputting the first pulse signal fluctuating between the reference potential and the second potential lower than the first potential, and is connected to the first switch.
  • the element conducts conduction between the gate and source of the driving NMOS transistor when the first pulse signal is the reference potential, and between the gate and source of the driving NMOS transistor when the first pulse signal is the second potential.
  • the base of the first bipolar transistor is connected to a second input terminal for inputting a second pulse signal that fluctuates between the reference potential and the second potential, and the second switch element is connected to a second input terminal.
  • the gate and source of the driving MOSFET transistor are made conductive, and when the second pulse signal is the second potential, the gate and source of the driving MOSFET transistor are not connected. It is a drive circuit that makes it conductive.
  • FIG. 1 is a diagram showing a system configuration of the motor drive system 1 of the embodiment.
  • the motor drive system 1 includes an inverter device 2, a step-down power supply circuit 3, a CPU (Central Processing Unit) 5, and a three-phase AC motor M.
  • the CPU 5 is an example of a microcontroller.
  • the inverter device 2 includes a three-phase voltage generation unit 10 and a drive circuit group 20, generates three-phase AC power, and supplies the three-phase AC power to the three-phase AC motor M.
  • the three-phase AC motor M is equipped with a Hall sensor 100 for each phase that detects the position of the rotor.
  • the voltage of a node or terminal in the circuit means a potential based on the ground potential GND (in the following description, it is referred to as “GND potential”).
  • GND potential the highest potential in the inverter device 2
  • the GND potential can be regarded as 0V, it is also appropriately referred to as “power supply voltage VM”.
  • the step-down power supply circuit 3 reduces the power supply voltage VM (+ 24V) to a predetermined voltage required for the CPU 5 to operate (+ 3.3V in the example of the present embodiment) and supplies the power supply to the CPU 5.
  • the CPU 5 supplies a pulse signal having an amplitude of 3.3 V to each of the drive circuits 21 to 23 of the drive circuit group 20.
  • Each drive circuit converts the pulse signal from the CPU 5 into a signal level at which the MOS transistor in the three-phase voltage generator 10 can operate.
  • the drive circuits 21 to 23 correspond to the nodes N11 to N13, respectively, and correspond to the output terminals of the drive circuit described later.
  • the three-phase voltage generation unit 10 of the inverter device 2 includes NMOS transistors M11, M21, M31 as low-side switches, and NMOS transistors M12, M22, M32 as high-side switches. Since the three-phase AC motor M may operate with 100% duty, the three-phase voltage generator 10 uses a high-side switch as a NMOS transistor.
  • the MOSFET transistor M12 and the NMOS transistor M11 are provided for the U phase of the three-phase AC power supplied to the three-phase AC motor M.
  • the U-phase voltage Vu which is the U-phase output voltage, is generated by the switching operation between the MOSFET transistor M12 and the NMOS transistor M11.
  • the MPLS transistor M22 and the NMOS transistor M21 are provided for the V phase of the three-phase AC power supplied to the three-phase AC motor M.
  • a V-phase voltage Vv which is a V-phase output voltage, is generated by performing a switching operation between the NMOS transistor M22 and the NMOS transistor M21.
  • the MOSFET transistor M32 and the NMOS transistor M31 are provided for the W phase of the three-phase AC power supplied to the three-phase AC motor M.
  • a W-phase voltage Vw which is a W-phase output voltage, is generated by the switching operation between the MOSFET transistor M32 and the NMOS transistor M31.
  • the sources of the NMOS transistors M11, M21, and M31 are set to the ground potential GND.
  • the sources of the MOSFET transistors M12, M22, and M32 are connected to the power supply voltage VM of the inverter device 2.
  • the common drain (node N11) of the U-phase NMOS transistor M11 and the NMOS transistor M12 is connected to one end of the U-phase winding (not shown) of the three-phase AC motor M.
  • the common drain (node N12) of the V-phase NMOS transistor M21 and the NMOS transistor M22 is connected to one end of the V-phase winding (not shown) of the 3-phase AC motor M, and is a W-phase NMOS transistor.
  • a common drain (node N13) of the M31 and the MOSFET transistor M32 is connected to one end of a W-phase winding (not shown) of the 3-phase AC motor M.
  • the CPU 5 supplies the drive circuits 21 to 23 of the drive circuit group 20 based on the signals Hu, Hv, and Hw indicating the detection values of each phase of the Hall sensor 100 that detects the position of the rotor of the three-phase AC motor M. Determine the duty ratio of the pulse signal.
  • the signals Hu, Hv, and Hw are sinusoidal signals having a phase difference of 120 degrees in order.
  • the CPU 5 supplies a pulse signal having a determined duty ratio to each drive circuit.
  • the amplitude of the pulse signal supplied to each drive circuit is 3.3 V, which is the same as the operating voltage of the CPU 5.
  • Each drive circuit of the drive circuit group 20 converts the level of the pulse signal from the CPU 5 having an amplitude of 3.3 V and inputs it to the gate of the NMOS transistor and the gate of the MMOS transistor of the three-phase voltage generator 10.
  • the drive circuit 21 inputs a level-converted pulse signal to each gate of the U-phase NMOS transistor M11 and the MOSFET transistor M12.
  • the drive circuit 22 inputs a level-converted pulse signal to each gate of the V-phase NMOS transistor M21 and the MOSFET transistor M22.
  • the drive circuit 23 inputs a level-converted pulse signal to each gate of the W-phase NMOS transistor M31 and the MOSFET transistor M32.
  • the operation of the low-side switches M11, M21, and M31 and the high-side switches MOSFET transistors M12, M22, and M32 is controlled by the pulse signals level-converted by the drive circuits 21, 22, and 23.
  • FIG. 2 shows a circuit configuration of a drive circuit including a drive circuit 21 and a U-phase NMOS transistor M11 and a MOSFET transistor M12 corresponding to the drive circuit 21 in the three-phase voltage generation unit 10.
  • a drive circuit including a drive circuit 22, a corresponding V-phase NMOS transistor M21 and a MOSFET transistor M22, and a drive circuit 23, and a corresponding W-phase MOSFET transistor M31 and a MOSFET transistor M32.
  • the circuit is the same as for the U phase. Therefore, in the following, only the case of the U phase will be described, and the duplicate description of the V phase and the W phase will be omitted.
  • the reference circuit 21R which is a drive circuit for reference, will be described with reference to FIG. 2 for the purpose of comparing with the drive circuit 21. ..
  • the U-phase generation unit 11 of the three-phase voltage generation unit 10 is shown.
  • the common drain of the NMOS transistor M11 (example of the driving NMOS transistor) and the MPa transistor M12 (example of the driving MOSFET transistor) is connected to the three-phase AC motor M as a load.
  • the source of the NMOS transistor M11 is set to the ground potential GND and the source of the MOSFET transistor M12 is set to the power potential VM.
  • the reference circuit 21R is based on the potentials of the input terminal P1 and the input terminal P2 that fluctuate between the ground potential GND (example of the reference potential) and 3.3V (example of the second potential), and the NMOS transistor M11 and the MPa transistor Signal processing is performed so that the potential of the gate of M12 fluctuates between the ground potential GND and the power supply voltage VM (+ 24V; an example of the first potential).
  • the input terminals P1 and the input terminals P2 are input with the pulse signals VinL and the pulse signals VinH, which are complementary to each other and fluctuate between the ground potential GND and 3.3V, respectively, from the CPU 5.
  • the reference circuit 21R has an NPN transistor Q1, resistors R1 to R4, and a capacitor C1.
  • the NPN transistor Q1 (an example of the first bipolar transistor) is provided to control the on / off of the NMOS transistor M12.
  • a bipolar transistor (that is, an NPN transistor Q1) is provided on the high side in consideration of the gate withstand voltage of the MOS transistor.
  • One end of the resistor R4 is connected to the input terminal P1, and the other end of the resistor R4 is connected to the gate of the NMOS transistor M11.
  • One end of the resistor R2 (an example of the first resistor) is connected to the collector of the NPN transistor Q1, and the other end is set to the power supply voltage VM.
  • One end of the resistor R1 is connected to the emitter of the NPN transistor Q1 and the other end is set to the ground potential GND.
  • the resistor R3 and the capacitor C1 are connected in parallel with the resistor R1.
  • the operation of the reference circuit 21R is as follows.
  • a pulse signal VinL that fluctuates between the ground potential GND and 3.3V from the CPU 5 is directly input to the gate of the NMOS transistor M11 via the resistor R4.
  • the NMOS transistor M11 is turned on when the pulse signal VinL is 3.3V.
  • the NMOS transistor M11 is turned off.
  • the NPN transistor Q1 is turned on when the pulse signal VinH is 3.3 V
  • the MOSFET transistor M12 is turned on by the voltage drop due to the collector current Ic flowing through the resistor R2.
  • the NPN transistor Q1 When the pulse signal VinH is at the ground potential GND, the NPN transistor Q1 is turned off, the collector current Ic does not flow through the resistor R2, and the NMOS transistor M12 is also turned off.
  • the collector current Ic is transiently increased by the capacitor C1 which is a speed-up capacitor in order to accelerate the turn-on of the MOSFET transistor M12.
  • the reference circuit 21R has the following problems.
  • (Problem 1) Large current consumption when the MOSFET transistor M12 is on Since the NPN transistor Q1 is on during the period when the MOSFET transistor M12 is constantly on, the collector current Ic always flows, which consumes the current. The current does not go to zero.
  • the voltage drop due to the resistor R2 from the PMOS transistor M12 is required to be more than the threshold voltage of the gate-source voltage V GS at the ON time, minutes of reduced resistance R2, to increase the collector current Ic There is a need. That is, there is a trade-off relationship between the time when the MOSFET transistor M12 is turned off and the current consumption. (Problem 3) High on-resistance when the NMOS transistor M11 is on In the reference circuit 21R, the on-resistance is high because the 3.3 V voltage supplied from the CPU 5 is directly input to the NMOS transistor M11.
  • the gate potential of the NMOS transistor M11 also rises at high speed via the gate-drain capacitance of the NMOS transistor M11, and when the gate-source voltage exceeds the threshold voltage, the NMOS transistor M11 self-turns on.
  • the switching loss of the NMOS transistor M11 is reduced by reducing the gate resistance R4 of the NMOS transistor M11 and speeding up the turn-on of the NMOS transistor M11.
  • the gate potential of the epitaxial transistor M12 drops at high speed via the gate-drain capacitance of the epitaxial transistor M12, and the source-gate voltage exceeds the threshold voltage, the NMOS transistor M12 moves. Self-turn on.
  • FIG. 3 is a circuit diagram of the drive circuit 21 of the present embodiment.
  • FIG. 4 is a timing chart showing the operation of the drive circuit 21 of the present embodiment.
  • the drive circuit 21 of the present embodiment has the NPN transistors Q2 and Q3, the NMOS transistors M3, and the resistor R6 (an example of the second resistor) with respect to the reference circuit 21R. The difference is that and is added.
  • the drive circuit 21 is based on the potentials of the input terminals P11, P12, P21, P22 that fluctuate between the ground potential GND (example of reference potential) and 3.3V (example of second potential), and the NMOS transistor M11 and Signal processing is performed so that the potential of the gate of the epitaxial transistor M12 fluctuates between the ground potential GND and the power supply voltage VM (+ 24V; an example of the first potential).
  • the input terminals P11 and P12 are input from the CPU 5 with mutually complementary pulse signals VinL and VinLB that fluctuate between the ground potential GND and 3.3V, respectively.
  • the pulse signal VinLB is a signal inverted with respect to the pulse signal VinL (an example of the first pulse signal).
  • the input terminal P11 is an example of the first input terminal.
  • the input terminals P21 and P22 are input from the CPU 5 with mutually complementary pulse signals VinH and VinHB that fluctuate between the ground potential GND and 3.3V, respectively.
  • the pulse signal VinHB is a signal inverted with respect to the pulse signal VinH (an example of the second pulse signal).
  • the input terminal P21 is an example of the second input terminal.
  • a pulse signal VinL is input from the input terminal P11 to the gate of the NMOS transistor M11 via the resistor R4.
  • the NPN transistor Q3 (an example of a first switch element and a second bipolar transistor) is an element that conducts or does not conduct between the gate and source of the NMOS transistor M11.
  • a pulse signal VinLB is input from the input terminal P12 to the base of the NPN transistor Q3.
  • the emitter of the NPN transistor Q3 is set to the ground potential GND, and the collector of the NPN transistor Q3 is connected to the gate of the NMOS transistor M11.
  • the NPN transistor Q3 conducts between the gate and source of the NMOS transistor M11 when the pulse signal VinL has a ground potential GND, and does not conduct between the gate and source of the NMOS transistor M11 when the pulse signal VinL is 3.3V. And.
  • the MOSFET transistor M3 (an example of the second switch element) is an element that conducts or does not conduct between the gate and the source of the MOSFET transistor M12.
  • the source and drain of the MOSFET transistor M3 are connected to both ends of the resistor R2, respectively.
  • the MOSFET transistor M3 conducts between the gate and source of the NMOS transistor M12 when the pulse signal VinH has a ground potential GND, and does not conduct between the gate and source of the MOSFET transistor M12 when the pulse signal VinH is 3.3V. And. This conduction / non-conduction control is performed by the NPN transistor Q2.
  • the pulse signal VinH is input from the input terminal P21 to the base of the NPN transistor Q1, and the pulse signal VinHB is input to the base of the NPN transistor Q2 from the input terminal P22.
  • One end of the resistor R5 is connected to the emitter of the NPN transistor Q2, and the other end is set to the ground potential GND.
  • the resistor R7 and the capacitor C3 are connected in parallel with the resistor R5.
  • the capacitor C3 functions as a speed-up capacitor that transiently increases the collector current of the NPN transistor Q2.
  • the collector of the NPN transistor Q2 is connected to the gate of the NMOS transistor M3 and is connected to the power supply voltage VM via the load resistor R6.
  • the waveforms of the pulse signals VinH, VinHB, VinL, and VinLB according to the passage of time, the operating states (ON or OFF) of the transistors Q1 to Q3, M11, M12, and M3, and the waveform of the output voltage Vout are shown. Is shown.
  • the pulse signal VinL is referred to as a ground potential GND (hereinafter referred to as “L level”)
  • the pulse signal VinLB is referred to as 3.3V (hereinafter referred to as “H level”).
  • the pulse signal VinH is the L level
  • the pulse signal VinHB is the H level.
  • the NPN transistor Q3 is turned on, and the NMOS transistor M11 is turned off.
  • the NPN transistor Q2 is turned on, and the MOSFET transistor M3 is turned on by the voltage drop in the resistor R6 of the collector current.
  • the MOSFET transistor M3 is turned on, the gate-source voltage of the MOSFET transistor M12 does not exceed the threshold value, and the MOSFET transistor M12 is turned off. That is, since both the NMOS transistor M11 and the MOSFET transistor M12 are off, the output voltage Vout is in a floating state (indefinite).
  • the pulse signal VinL becomes the H level and the pulse signal VinLB becomes the L level. Therefore, the NPN transistor Q3 is turned off and the NMOS transistor M11 is turned on. As a result, the output voltage Vout drops from the floating state to the ground potential GND. Since there is no change in the pulse signals VinH and VinHB on the high side, the MOSFET transistor M12 remains off.
  • the pulse signal VinL becomes the L level and the pulse signal VinLB becomes the H level. Therefore, the NPN transistor Q3 is turned on and the NMOS transistor M11 is turned off. On the other hand, on the high side, the MOSFET transistors M12 remain off because there is no change in the pulse signals VinH, VinHB. Therefore, the output voltage Vout remains at the ground potential GND.
  • the pulse signal VinH becomes the H level and the pulse signal VinHB becomes the L level. Therefore, the NPN transistor Q1 is turned on and the NPN transistor Q2 is turned off.
  • the collector current does not flow through the load resistor R6, so that the epitaxial transistor M3 is turned off.
  • the voltage drop in the resistor R2 causes the gate-source voltage of the MOSFET transistor M12 to exceed the threshold value, and the MOSFET transistor M12 is turned on.
  • the NMOS transistors M11 remain off because there is no change in the pulse signals VinL, VinLB. Therefore, since the MOSFET transistor M12 is turned on and the NMOS transistor M11 is turned off, the output voltage Vout rises to the power supply voltage VM.
  • the level of each pulse signal is in the same state as time t1. That is, since both the NMOS transistor M11 and the NMOS transistor M12 are off, the output voltage Vout remains the power supply voltage VM. After time t6, the same operation as after time t2 is repeated.
  • the gate-source voltage of the MOSFET transistor M12 can be rapidly reduced when the MOSFET transistor M12 turns off. That is, even when the resistors R1 and R2 are set to large values, the operation when the MOSFET transistor M12 is turned off can be speeded up. That is, even when the resistors R1 and R2 are increased in order to reduce the power consumption, the high speed of operation when the MOSFET transistor M12 is turned off can be maintained. Therefore, the drive circuit 21 of the present embodiment can solve the problems 1 and 2 of the reference circuit 21R.
  • the gate-source voltage of the NMOS transistor M11 can be quickly reduced when the NMOS transistor M11 is turned off, so that the operation when the NMOS transistor M11 is turned off is also high speed. Can be converted.
  • the drive circuit 21 of the present embodiment is provided with the NPN transistor Q3 on the low side and the epitaxial transistor M3 on the high side, so that the self-turn-on margin of the NMOS transistor M11 and the NMOS transistor M12 can be increased. That is, when the output voltage Vout rises at a high speed (for example, at time t4 in FIG. 4), the NPN transistor Q3 is turned on in the drive circuit 21 of the present embodiment, and the impedance between the gate and source of the NMOS transistor M11 is low. Therefore, it is difficult for the gate potential of the NMOS transistor M11 to rise via the gate-drain capacitance. Therefore, the self-turn-on margin of the NMOS transistor M11 is increased.
  • the MOSFET transistor M3 is turned on in the drive circuit 21 of the present embodiment, and the impedance between the gate and the source of the MOSFET transistor M12 is increased. Since it is low, it is difficult for the gate potential of the NMOS transistor M12 to drop through the capacitance between the gate and drain. Therefore, the self-turn-on margin of the NMOS transistor M12 is increased. Therefore, the problem 4 of the reference circuit 21R can be solved.
  • the drive circuits 21 to 23 perform level conversion of the pulse signal directly supplied from the CPU 5, and the NMOS transistors M11, M21 of the three-phase voltage generation unit 10 Drives M31 and MOSFET transistors M12, M22, and M32. Therefore, when the three-phase AC motor M is switched and driven, performance improvement can be realized without using a dedicated IC. Further, by using the drive circuit of the present embodiment, there is an advantage that problems 1, 2 and 4 of the reference circuit 21R can be solved.
  • FIG. 5 is a circuit diagram of the drive circuit 21A of the second embodiment.
  • FIG. 6 is a timing chart showing the operation of the drive circuit 21A of the second embodiment.
  • a MOSFET transistor M4 an example of a second polyclonal transistor
  • the source of the MOSFET transistor M4 is set to the power supply voltage VM in common with the source of the MOSFET transistor M3.
  • the drain of the MOSFET transistor M4 is connected to the gate of the MOSFET transistor M3.
  • the gate of the MOSFET transistor M4 is connected to the gate of the MOSFET transistor M12.
  • the operating state (ON or OFF) of the MOSFET transistor M4 is added to the timing chart of FIG. As shown in FIG. 6, the MOSFET transistor M4 operates so as to be turned off when the MOSFET transistor M3 is on and turned on when the MOSFET transistor M3 is off. The MOSFET transistor M4 is provided to turn off the MOSFET transistor M3 at a higher speed.
  • the NPN transistor Q2 is turned on and the NMOS transistor M3 is turned on, so that the MOSFET transistor M12 is turned off. Since the MOSFET transistor M3 is on, the gate-source voltage of the MOSFET transistor M4 does not exceed the threshold value, and the MOSFET transistor M4 is off. Since there is no change in the pulse signals VinH and VinHB at times t1 to t4, the MOSFET transistor M4 remains off.
  • the pulse signal VinH becomes the H level and the pulse signal VinHB becomes the L level.
  • the NPN transistor Q1 is turned on and the NPN transistor Q2 is turned off.
  • the collector current flows through the resistor R2, and the voltage drop of the resistor R2 causes the MOSFET transistor M4 to be turned on, thereby promptly turning off the MOSFET transistor M3. That is, the MOSFET transistor M4 operates so as to turn off the MOSFET transistor M3 at high speed.
  • the MOSFET transistor M3 is turned off at high speed
  • the MOSFET transistor M12 is turned on at high speed.
  • the pulse signal VinH becomes the L level and the pulse signal VinHB becomes the H level.
  • the NPN transistor Q1 is turned off and the NPN transistor Q2 is turned on.
  • the collector current of the NPN transistor Q2 flows through the resistor R6, which turns on the MOSFET transistor M3 and turns off the MOSFET transistor M4.
  • the MOSFET transistor M12 can be turned on and off more quickly than the drive circuit of the first embodiment.
  • FIG. 7 is a circuit diagram of the drive circuit 21B of the third embodiment.
  • FIG. 8 is a timing chart showing the operation of the drive circuit 21B of the third embodiment.
  • the drive circuit 21B of the present embodiment has the drive circuit 21 of the first embodiment between the collector of the NPN transistor Q1 and the gate of the epitaxial transistor M12. The difference is that a push-pull circuit composed of an NPN transistor Q5 and a PNP transistor Q6 is provided. Further, in the drive circuit 21B, the resistors R3 and R7 and the capacitors C1 and C7 are deleted from the drive circuit 21.
  • the bases of the NPN transistor Q5 and the PNP transistor Q6 are connected to the collector of the NPN transistor Q1.
  • the emitters of the NPN transistor Q5 and the PNP transistor Q6 are connected to the gate of the NMOS transistor M12 via the resistor R41.
  • the collector of the NPN transistor Q5 is set to the power supply voltage VM, and the collector of the PNP transistor Q6 is set to the ground potential GND.
  • the NPN transistor Q1 is off and the NPN transistor Q2 is on. Since the MOSFET transistor M3 is on, the MOSFET transistor M12 is off. At this time, the NPN transistor Q5 is turned on by the current flowing from the resistor R2 to the base of the NPN transistor Q5, and the PNP transistor Q6 is turned off. At time t4, the NPN transistor Q1 is turned on and the NPN transistor Q2 is turned off. At this time, a base current flows from the base of the PNP transistor Q6 toward the collector of the NPN transistor Q1, the gate potential of the MOSFET transistor M12 drops, and the MOSFET transistor M12 turns on.
  • the NPN transistor Q1 is off and the NPN transistor Q2 is on.
  • the NPN transistor Q5 is on and the PNP transistor Q6 is off, as in the period t1 to t2. Since both the NMOS transistor M11 and the NMOS transistor M12 are turned off during the period from time t5 to t6, the output voltage Vout maintains the power supply voltage VM as in the first embodiment.
  • the resistors R2 and R6 are increased to realize low power consumption, and the operation when the MOSFET transistor M12 is turned off is performed. Can be fast.
  • FIG. 9 is a circuit diagram of the drive circuit 21C of the fourth embodiment.
  • the drive circuit 21C of the present embodiment is different from the drive circuit 21A of the second embodiment in that the E portion and the F portion are provided on the low side.
  • the E part has a NMOS transistor M7 (an example of a third switch element) and resistors R18 and R19.
  • the F section has the same circuit configuration as the high side with respect to the MOSFET transistor M7 of the E section.
  • the resistors R12, R13, R14, R15, R16, R17, the capacitors C11, C4, the NPN transistors Q4 and Q5, and the MIMO transistors M5 and M6 of the F section are the high-side resistors R1, R2, R3, respectively.
  • the source of the MOSFET transistor M7 is set to the power supply voltage VM, and the gate of the MOSFET transistor M7 is connected to the collector of the NPN transistor Q4.
  • Resistors R18 and R19 are connected in series between the drain of the MOSFET transistor M7 and the ground potential GND, and a node between the resistors R18 and R19 is connected to the gate of the NMOS transistor M11.
  • the MPLS transistor M7 is an example of a third switch element provided between the gate of the NMOS transistor M11 and the node of the power supply voltage VM.
  • the E portion and the F portion on the low side are provided to reduce the on-resistance when the NMOS transistor M11 is on.
  • the NMOS transistor M11 when the pulse signal VinL is at H level and the pulse signal VinLB is at L level, the NMOS transistor M11 is turned on. That is, when the pulse signal VinL is at H level and the pulse signal VinLB is at L level, the NPN transistors Q3 and Q5 are off and the NPN transistor Q4 is on.
  • the MOSFET transistor M7 is turned on by the voltage drop in the resistor R13 of the collector current of the NPN transistor Q4, and the gate potential of the NMOS transistor M11 becomes an intermediate potential between the ground potential GND and the power supply voltage VM. That is, when the pulse signal VinL is at H level, the NMOS transistor M7 as a switch element conducts, and the gate of the NMOS transistor M11 is set to the intermediate potential between the ground potential GND and the power supply voltage VM.
  • the intermediate potential is a value obtained by dividing the ground potential GND and the power supply voltage VM by the resistor R18 and the resistor R19.
  • the NPN transistors Q3 and Q5 are on and the NPN transistor Q4 is off.
  • the MOSFET transistor M5 since the MOSFET transistor M5 is turned on, the MOSFET transistor M7 is turned off. That is, when the pulse signal VinL has a ground potential GND, the MOSFET transistor M7 as a switch element becomes non-conducting. The gate potential of the NMOS transistor M11 drops and the NMOS transistor M11 turns off.
  • the gate-source voltage when the NMOS transistor M11 is on can be increased, so that the on-resistance of the NMOS transistor M11 can be reduced. it can. That is, the problem 3 of the reference circuit 21R can be solved.
  • the circuit configuration of FIG. 9 is merely an example, and is not intended to require all the elements.
  • the NMOS transistor M4 is provided on the high side, but the MOSFET transistor M4 may not be provided as in the drive circuit 21 (see FIG. 3) of the first embodiment.
  • the resistor R13, the resistor R12, and the NPN transistor Q4 are required at a minimum, and other elements are not necessarily required.
  • FIG. 10 is a circuit diagram of the drive circuit 21D of the fifth embodiment.
  • the drive circuit 21D of the present embodiment has a different low-side circuit configuration as compared with the drive circuit 21B of the third embodiment.
  • the present embodiment is characterized by the low side, and the high side can adopt the circuit configuration presented in any of the other embodiments. Therefore, the high-side circuit configuration shown in FIG. 10 is merely an example.
  • the drive circuit 21D of the present embodiment shows a circuit configuration example when, for example, a 5V power supply can be used.
  • the 5V power supply may be generated, for example, by the step-down power supply circuit 3 (see FIG. 1).
  • the low-side circuit of the drive circuit 21D includes a CMOS inverter composed of an NMOS transistor M10, a MPa transistor M8 and an NMOS transistor M9, and resistors R7, R4, R42.
  • a pulse signal VinL is input to the gate of the NMOS transistor M10.
  • the pulse signal VinL is level-shifted by the NMOS transistor M10 and the resistor R7 and input to the CMOS inverter.
  • the output of the CMOS inverter is input to the gate of the NMOS transistor M11 via the resistors R4 and R42.
  • the NMOS transistor M10 when the pulse signal VinL is at H level, the NMOS transistor M10 is turned on, the NMOS transistor M8 is turned on, and 5V is input to the gate of the NMOS transistor M11 via the resistor R4.
  • the NMOS transistor M10 when the pulse signal VinL is at the L level, the NMOS transistor M10 is turned off and the NMOS transistor M9 is turned on. At this time, an electric charge is drawn from the gate of the NMOS transistor M11 via the resistor R42, the potential of the gate is lowered, and the NMOS transistor M11 is turned off.
  • the drive circuit 21D of the present embodiment 5V is input to the gate when the NMOS transistor M11 is on, so that the gate source of the NMOS transistor M11 is higher than when 3.3V from the CPU 5 is input.
  • the inter-voltage can be increased. Therefore, the on-resistance of the NMOS transistor M11 can be reduced.
  • the resistors R4 and R42 there is an advantage that the on characteristic and the off characteristic of the NMOS transistor M11 can be set to desired characteristics. For example, by reducing the resistor R42, the impedance of the gate when the NMOS transistor M11 is off can be lowered, and the self-turn-on margin can be increased.
  • FIG. 11 is a circuit diagram of the drive circuit 21E of the sixth embodiment.
  • the drive circuit 21E of the present embodiment of FIG. 11 is provided with a diode D1 in parallel with the resistor R4 instead of the resistor R42. Is different.
  • the drive circuit 21E of the present embodiment when the NMOS transistor M11 is turned off, the electric charge in the gate capacitance of the NMOS transistor M11 is drawn out through the diode D1 to lower the gate potential of the NMOS transistor M11.
  • the output voltage Vout rises at a high speed, so that the gate potential of the NMOS transistor M11 also becomes faster via the gate-drain capacitance of the NMOS transistor M11.
  • the NMOS transistor M11 self-turns on.
  • the drive circuit 21E of the present embodiment since the gate-source voltage of the NMOS transistor M11 is clamped to about 0.7V by the diode D1, the threshold voltage is not exceeded and self-turn-on does not occur.
  • FIG. 12 is a circuit diagram of the drive circuit 21F of the seventh embodiment.
  • FIG. 13 is a timing chart showing the operation of the drive circuit 21F of the seventh embodiment.
  • the drive circuit 21F of the present embodiment is a modification of the drive circuit 21B (see FIG. 7) of the third embodiment. As shown in FIG. 12, the drive circuit 21F differs from the drive circuit 21B in the following points.
  • a common resistor R1 is provided between the emitters of the NPN transistors Q1 and Q2 and the ground potential GND.
  • Input terminals P11 and P22 are shared to input the pulse signal VinL.
  • Input terminals P12 and P21 are shared, and the pulse signal VinH is input.
  • the low-side NMOS transistor M9 and the high-side MOSFET transistor M3 are elements for preventing self-turn-on.
  • the NMOS transistor M11 is turned on at time t2 and the output voltage Vout drops to the ground potential GND, the NMOS transistor M3 is turned on. Therefore, the impedance between the gate and the source of the MOSFET transistor M12 is lowered, so that the self-turn-on of the MOSFET transistor M12 can be prevented.
  • the NMOS transistor M9 is turned on. Therefore, the impedance between the gate and the source of the NMOS transistor M11 is lowered, so that the self-turn-on of the NMOS transistor M11 can be prevented.
  • each drive MOS transistor of the three-phase voltage generation unit 10 is performed by 120-degree energization based on the position information of the Hall sensor has been described, but this is not the case. ..
  • another energization control method such as 180 degree energization may be applied.

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Abstract

互いに共通のドレインが負荷に接続され、基準電位に設定されるソースを有する駆動用NMOSトランジスタ、および、第1電位に設定されるソースを有する駆動用PMOSトランジスタと、駆動用PMOSトランジスタのオン/オフを制御するための第1のバイポーラトランジスタと、駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第1のスイッチ素子と、駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第2のスイッチ素子と、を備える駆動回路が提案される。

Description

駆動回路、駆動システム
 本発明は、駆動回路および駆動システムに関する。
 従来、モータを駆動するためのインバータ装置として、マイクロコントローラからの指令に基づき、モータに与える電圧を制御するスイッチ素子に対する信号を生成する専用ICが設けられたものが知られている(例えば、特許文献1の図1を参照)。
特許第5652240号
 モータ等の負荷を駆動する駆動回路において専用ICを設ける場合には、設計の自由度が高いため、専用ICを設けない場合よりも、例えば消費電力、応答性、エネルギー損失等の特性上で有利であるが、コスト面では不利である。
 そこで、本発明は、負荷をスイッチング駆動する場合に専用ICを用いずに性能向上を実現することを目的とする。
 本願の例示的な第1発明は、互いに共通のドレインが負荷に接続され、基準電位に設定されるソースを有する駆動用NMOSトランジスタ、および、第1電位に設定されるソースを有する駆動用PMOSトランジスタと、駆動用PMOSトランジスタのオン/オフを制御するための第1のバイポーラトランジスタと、一端が第1のバイポーラトランジスタのコレクタに接続され、他端が前記第1電位に設定される第1の抵抗と、駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第1のスイッチ素子と、駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第2のスイッチ素子と、を備え、駆動用NMOSトランジスタのゲートは、前記基準電位と、前記第1電位よりも低い第2電位と、の間で変動する第1パルス信号を入力する第1入力端子に接続され、第1のスイッチ素子は、第1パルス信号が前記基準電位である場合に駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通とし、第1パルス信号が前記第2電位である場合に駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を非導通とし、第1のバイポーラトランジスタのベースは、前記基準電位と前記第2電位との間で変動する第2パルス信号を入力する第2入力端子に接続され、第2のスイッチ素子は、第2パルス信号が前記基準電位である場合に前記駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通とし、第2パルス信号が前記第2電位である場合に駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を非導通とする、駆動回路である。
 本発明によれば、負荷をスイッチング駆動する場合に専用ICを用いずに性能向上を実現することができる。
第1の実施形態のモータ駆動システムのシステム構成を示す図である。 参照回路の回路図である。 第1の実施形態の駆動回路の回路図である。 第1の実施形態の駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。 第2の実施形態の駆動回路の回路図である。 第2の実施形態の駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。 第3の実施形態の駆動回路の回路図である。 第3の実施形態の駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。 第4の実施形態の駆動回路の回路図である。 第5の実施形態の駆動回路の回路図である。 第6の実施形態の駆動回路の回路図である。 第7の実施形態の駆動回路の回路図である。 第7の実施形態の駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。
 以下、本発明の駆動システムの実施形態であるモータ駆動システムについて説明する。
 (1)第1の実施形態
 (1-1)システム構成
 以下、本発明のモータ駆動システムの一実施形態について図面を参照して説明する。
  図1は、実施形態のモータ駆動システム1のシステム構成を示す図である。モータ駆動システム1は、インバータ装置2、降圧電源回路3、CPU(Central Processing Unit)5、および、3相交流モータMを備える。CPU5は、マイクロコントローラの例である。
 インバータ装置2は、3相電圧生成部10および駆動回路群20を備え、3相交流電力を発生させて3相交流モータMに供給する。3相交流モータMには、回転子の位置を検出する相ごとのホールセンサ100が取り付けられている。
 以下の説明において、回路内のノードまたは端子の電圧は、グランド電位GND(以下の説明では、「GND電位」とする。)を基準とした電位を意味している。例えば、インバータ装置2において最も高い電位は電源電位VM(+24V)であるが、GND電位は0Vとみなしてよいため、適宜、「電源電圧VM」ともいう。
 降圧電源回路3は、電源電圧VM(+24V)をCPU5が動作するのに必要となる所定の電圧(本実施形態の例では、+3.3V)まで低下させてCPU5に供給する。
 CPU5は、駆動回路群20の駆動回路21~23の各々に対して、振幅が3.3Vのパルス信号を供給する。各駆動回路は、CPU5からのパルス信号を、3相電圧生成部10内のMOSトランジスタを動作可能となる信号レベルに変換する。
 図1では、駆動回路21~23がそれぞれ、ノードN11~N13に対応しており、それぞれ後述する駆動回路の出力端子に相当する。
 (1-2)インバータ装置2の構成
 以下、インバータ装置2の構成を詳細に説明する。
 図1に示すように、インバータ装置2の3相電圧生成部10は、ローサイドスイッチとしてのNMOSトランジスタM11,M21,M31、および、ハイサイドスイッチとしてのPMOSトランジスタM12,M22,M32を備える。3相交流モータMは100%デューティで動作する場合もあるため、3相電圧生成部10は、ハイサイドスイッチをPMOSトランジスタとしている。
 本実施形態では、PMOSトランジスタM12とNMOSトランジスタM11は、3相交流モータMに供給される3相交流電力のU相に対して設けられる。PMOSトランジスタM12とNMOSトランジスタM11とがスイッチング動作を行うことによりU相の出力電圧であるU相電圧Vuが生成される。
 同様に、PMOSトランジスタM22とNMOSトランジスタM21は、3相交流モータMに供給される3相交流電力のV相に対して設けられる。PMOSトランジスタM22とNMOSトランジスタM21とがスイッチング動作を行うことによりV相の出力電圧であるV相電圧Vvが生成される。PMOSトランジスタM32とNMOSトランジスタM31は、3相交流モータMに供給される3相交流電力のW相に対して設けられる。PMOSトランジスタM32とNMOSトランジスタM31とがスイッチング動作を行うことによりW相の出力電圧であるW相電圧Vwが生成される。
 NMOSトランジスタM11,M21,M31のソースは、グランド電位GNDに設定されている。PMOSトランジスタM12,M22,M32のソースは、インバータ装置2の電源電圧VMに接続されている。
 U相のNMOSトランジスタM11とPMOSトランジスタM12の共通のドレイン(ノードN11)は、3相交流モータMのU相の巻線(図示せず)の一端に接続される。同様に、V相のNMOSトランジスタM21とPMOSトランジスタM22の共通のドレイン(ノードN12)は、3相交流モータMのV相の巻線(図示せず)の一端に接続され、W相のNMOSトランジスタM31とPMOSトランジスタM32の共通のドレイン(ノードN13)は、3相交流モータMのW相の巻線(図示せず)の一端に接続される。
 CPU5は、3相交流モータMの回転子の位置を検出するホールセンサ100の各相の検出値を示す信号Hu,Hv,Hwに基づいて、駆動回路群20の駆動回路21~23に供給するパルス信号のデューティ比を決定する。なお、信号Hu,Hv,Hwは、順に120度ずつ位相差がある正弦波信号である。CPU5は、決定したデューティ比のパルス信号を各駆動回路に供給する。各駆動回路に供給されるパルス信号の振幅は、CPU5の動作電圧と同一の3.3Vである。
 駆動回路群20の各駆動回路は、振幅3.3VのCPU5からのパルス信号をレベル変換し、3相電圧生成部10のPMOSトランジスタのゲートとMMOSトランジスタのゲートに入力する。駆動回路21は、U相のNMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12の各ゲートに対してレベル変換したパルス信号を入力する。駆動回路22は、V相のNMOSトランジスタM21およびPMOSトランジスタM22の各ゲートに対してレベル変換したパルス信号を入力する。駆動回路23は、W相のNMOSトランジスタM31およびPMOSトランジスタM32の各ゲートに対してレベル変換したパルス信号を入力する。
 駆動回路21,22,23によってレベル変換されたパルス信号によって、ローサイドスイッチであるNMOSトランジスタM11,M21,M31およびハイサイドスイッチであるPMOSトランジスタM12,M22,M32の動作が制御される。
 (1-3)駆動回路群20の構成
 以下、駆動回路群20の構成について、図2を参照してさらに詳しく説明する。図2は、駆動回路21と、3相電圧生成部10において駆動回路21に対応するU相のNMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12と、を備えた駆動回路の回路構成を示している。
 駆動回路22と、対応するV相のNMOSトランジスタM21およびPMOSトランジスタM22と、を備えた駆動回路、および、駆動回路23と、対応するW相のNMOSトランジスタM31およびPMOSトランジスタM32と、を備えた駆動回路は、U相の場合と同じである。そのため、以下ではU相の場合についてのみ説明し、V相およびW相についての重複説明は省略する。
 (1-3-1)参照回路
 本実施形態の駆動回路21について説明する前に駆動回路21と対比する目的で、参照用の駆動回路である参照回路21Rについて、図2を参照して説明する。なお、図2において、3相電圧生成部10のU相生成部11を記載してある。
 U相生成部11では、NMOSトランジスタM11(駆動用NMOSトランジスタの例)およびPMOSトランジスタM12(駆動用PMOSトランジスタの例)の共通のドレインが、負荷としての3相交流モータMに接続される。NMOSトランジスタM11のソースがグランド電位GNDに設定され、PMOSトランジスタM12のソースが電源電位VMに設定される。
 参照回路21Rは、グランド電位GND(基準電位の例)と3.3V(第2電位の例)との間で変動する入力端子P1および入力端子P2の電位に基づいて、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12のゲートの電位が、グランド電位GNDと電源電圧VM(+24V;第1電位の例)との間で変動するように信号処理する。
 入力端子P1と入力端子P2にはそれぞれCPU5から、グランド電位GNDと3.3Vの間で変動する互いに相補的なパルス信号VinL,パルス信号VinHが入力される。
 図2に示すように、参照回路21Rは、NPNトランジスタQ1と、抵抗R1~R4と、キャパシタC1とを有する。
 NPNトランジスタQ1(第1のバイポーラトランジスタの一例)は、PMOSトランジスタM12のオン/オフを制御するために設けられる。参照回路21Rでは、MOSトランジスタのゲート耐圧を考慮して、ハイサイド側でバイポーラトランジスタ(つまり、NPNトランジスタQ1)を設けている。
 抵抗R4の一端が入力端子P1に接続され、抵抗R4の他端がNMOSトランジスタM11のゲートに接続される。抵抗R2(第1の抵抗の一例)の一端がNPNトランジスタQ1のコレクタに接続され、他端が電源電圧VMに設定される。
 抵抗R1の一端がNPNトランジスタQ1のエミッタに接続され、他端がグランド電位GNDに設定される。抵抗R1に並列に、抵抗R3とキャパシタC1が接続される。
 参照回路21Rの動作は以下のとおりである。
 ローサイドでは、抵抗R4を介してCPU5からのグランド電位GNDと3.3Vの間で変動するパルス信号VinLがNMOSトランジスタM11のゲートに直接入力される。パルス信号VinLが3.3VのときにNMOSトランジスタM11がオンする。パルス信号VinLがグランド電位GNDのときはNMOSトランジスタM11がオフする。
 ハイサイドでは、パルス信号VinHが3.3VのときにNPNトランジスタQ1がオンし、抵抗R2に流れるコレクタ電流Icによる電圧降下によってPMOSトランジスタM12がオンする。パルス信号VinHがグランド電位GNDのときにはNPNトランジスタQ1がオフして抵抗R2にコレクタ電流Icが流れず、PMOSトランジスタM12もオフする。なお、PMOSトランジスタM12のターンオンを速めるため、スピードアップコンデンサであるキャパシタC1によってコレクタ電流Icを過渡的に増大させている。
 参照回路21Rは、以下の課題がある。
 (課題1)PMOSトランジスタM12がオンしているときの消費電流が大きい
 PMOSトランジスタM12が定常的にオンしている期間ではNPNトランジスタQ1がオンしているため、コレクタ電流Icが常に流れることから消費電流がゼロにはならない。
 (課題2)PMOSトランジスタM12がオフするときの動作が遅い
 PMOSトランジスタM12がオフするときの時間は、PMOSトランジスタM12のゲート寄生容量と抵抗R2による時定数によって定まる。そのため、PMOSトランジスタM12がオフするときの時間を速めるためには抵抗R2を小さくする必要がある。その一方で、抵抗R2による電圧降下分はPMOSトランジスタM12がオン時のゲート・ソース間電圧VGSの閾値電圧以上とする必要があることから、抵抗R2を小さくした分、コレクタ電流Icを増大させる必要がある。すなわち、PMOSトランジスタM12がオフするときの時間と、消費電流とはトレードオフの関係にある。
 (課題3)NMOSトランジスタM11がオンしているときのオン抵抗が高い
 参照回路21Rでは、CPU5から供給される3.3Vの電圧を直接NMOSトランジスタM11に入力しているため、オン抵抗が高い。オン抵抗を下げるためには、NMOSトランジスタM11がオンしているときのパルス信号VinLの電圧を3.3Vよりも増加させる必要がある。
 (課題4)NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12のセルフターンオンのマージンが小さい
 キャパシタC1によってコレクタ電流Icを過渡的に増大させてPMOSトランジスタM12のターンオンを高速化することで、PMOSトランジスタM12のスイッチング損失は低減する。しかし、出力電圧Voutが高速に上昇することで、NMOSトランジスタM11のゲート・ドレイン間容量を介してNMOSトランジスタM11のゲート電位も高速に上昇し、ゲート・ソース間電圧が閾値電圧を超えるとNMOSトランジスタM11がセルフターンオンする。
 逆に、NMOSトランジスタM11のゲート抵抗R4を小さくし、NMOSトランジスタM11のターンオンを高速化することで、NMOSトランジスタM11のスイッチング損失は低減する。しかし、出力電圧Voutが高速に下降し、PMOSトランジスタM12のゲート・ドレイン間容量を介してPMOSトランジスタM12のゲート電位が高速に下降し、ソース・ゲート間電圧が閾値電圧を超えるとPMOSトランジスタM12がセルフターンオンする。
 (1-3-2)本実施形態の駆動回路
 参照回路21Rの上述した課題に鑑み、本実施形態の駆動回路21は、上述した課題のうち、課題1,2および4に対処した回路である。
 以下、本実施形態の駆動回路21について、図3および図4を参照して説明する。図3は、本実施形態の駆動回路21の回路図である。図4は、本実施形態の駆動回路21の動作を示すタイミングチャートである。
 図3を図2と比較してわかるように、本実施形態の駆動回路21は参照回路21Rに対して、NPNトランジスタQ2,Q3と、PMOSトランジスタM3と、抵抗R6(第2の抵抗の一例)とが追加された点が異なる。
 駆動回路21は、グランド電位GND(基準電位の例)と3.3V(第2電位の例)との間で変動する入力端子P11,P12,P21,P22の電位に基づいて、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12のゲートの電位が、グランド電位GNDと電源電圧VM(+24V;第1電位の例)との間で変動するように信号処理する。
 入力端子P11,P12にはそれぞれCPU5から、グランド電位GNDと3.3Vの間で変動する互いに相補的なパルス信号VinL,VinLBが入力される。パルス信号VinLBは、パルス信号VinL(第1パルス信号の一例)に対して反転した信号である。入力端子P11は、第1入力端子の一例である。
 入力端子P21,P22にはそれぞれCPU5から、グランド電位GNDと3.3Vの間で変動する互いに相補的なパルス信号VinH,VinHBが入力される。パルス信号VinHBは、パルス信号VinH(第2パルス信号の一例)に対して反転した信号である。入力端子P21は、第2入力端子の一例である。
 NMOSトランジスタM11のゲートには、抵抗R4を介して入力端子P11からパルス信号VinLが入力される。
 NPNトランジスタQ3(第1のスイッチ素子および第2のバイポーラトランジスタの一例)は、NMOSトランジスタM11のゲート・ソース間を導通又は非導通とする素子である。NPNトランジスタQ3のベースには、入力端子P12からパルス信号VinLBが入力される。NPNトランジスタQ3のエミッタはグランド電位GNDに設定され、NPNトランジスタQ3のコレクタはNMOSトランジスタM11のゲートに接続される。NPNトランジスタQ3は、パルス信号VinLがグランド電位GNDである場合にNMOSトランジスタM11のゲート・ソース間を導通とし、パルス信号VinLが3.3Vである場合にNMOSトランジスタM11のゲート・ソース間を非導通とする。
 PMOSトランジスタM3(第2のスイッチ素子の一例)は、PMOSトランジスタM12のゲート・ソース間を導通又は非導通とする素子である。
 PMOSトランジスタM3のソースおよびドレインは、それぞれ抵抗R2の両端に接続される。PMOSトランジスタM3は、パルス信号VinHがグランド電位GNDである場合にPMOSトランジスタM12のゲート・ソース間を導通とし、パルス信号VinHが3.3Vである場合にPMOSトランジスタM12のゲート・ソース間を非導通とする。この導通/非導通の制御は、NPNトランジスタQ2によって行われる。
 NPNトランジスタQ1のベースには入力端子P21からパルス信号VinHが入力され、NPNトランジスタQ2のベースには入力端子P22からパルス信号VinHBが入力される。
 抵抗R5の一端がNPNトランジスタQ2のエミッタに接続され、他端がグランド電位GNDに設定される。抵抗R5に並列に、抵抗R7とキャパシタC3が接続される。キャパシタC3は、過渡的にNPNトランジスタQ2のコレクタ電流を増大させるスピードアップコンデンサとして機能する。
 NPNトランジスタQ2のコレクタは、PMOSトランジスタM3のゲートに接続されるとともに、負荷抵抗R6を介して電源電圧VMに接続される。
 次に、図4を参照して駆動回路21の動作を説明する。
 図4では、時間の経過に応じた、パルス信号VinH,VinHB,VinL,VinLBの波形と、トランジスタQ1~Q3,M11,M12,M3の動作状態(ON又はOFF)と、出力電圧Voutの波形とが示される。
 図4のタイミングチャートにおいて初期の時刻t1~t2の期間では、パルス信号VinLがグランド電位GND(以下、「Lレベル」という。)、パルス信号VinLBが3.3V(以下、「Hレベル」という。)、パルス信号VinHがLレベル、パルス信号VinHBがHレベルである。そのため、ローサイドでは、NPNトランジスタQ3がオンするため、NMOSトランジスタM11がオフする。ハイサイドでは、NPNトランジスタQ2がオンし、コレクタ電流の抵抗R6における電圧降下分によってPMOSトランジスタM3がオンする。PMOSトランジスタM3がオンすることで、PMOSトランジスタM12のゲート・ソース間電圧が閾値を超えず、PMOSトランジスタM12はオフである。
 すなわち、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12はともにオフであるため、出力電圧Voutはフローティング状態(不定)となる。
 時刻t2になると、パルス信号VinLがHレベルとなり、パルス信号VinLBがLレベルとなる。そのため、NPNトランジスタQ3がオフし、NMOSトランジスタM11がオンする。それによって、出力電圧Voutがフローティング状態からグランド電位GNDに下降する。
 なお、ハイサイドでは、パルス信号VinH,VinHBの変化がないため、PMOSトランジスタM12はオフのままである。
 時刻t3になると、パルス信号VinLがLレベルとなり、パルス信号VinLBがHレベルとなる。そのため、NPNトランジスタQ3がオンし、NMOSトランジスタM11がオフする。他方、ハイサイドでは、パルス信号VinH,VinHBの変化がないため、PMOSトランジスタM12はオフのままである。よって、出力電圧Voutはグランド電位GNDのままである。
 時刻t4になると、パルス信号VinHがHレベルとなり、パルス信号VinHBがLレベルとなる。そのため、NPNトランジスタQ1がオンし、NPNトランジスタQ2がオフする。NPNトランジスタQ2がオフすることで負荷抵抗R6にコレクタ電流が流れなくなるため、PMOSトランジスタM3がオフする。NPNトランジスタQ1のコレクタ電流が負荷抵抗R2を流れることで、抵抗R2における電圧降下によってPMOSトランジスタM12のゲート・ソース間電圧が閾値を超え、PMOSトランジスタM12がオンする。
 他方、ローサイドでは、パルス信号VinL,VinLBの変化がないため、NMOSトランジスタM11はオフのままである。
 よって、PMOSトランジスタM12がオンし、NMOSトランジスタM11がオフであるため、出力電圧Voutは電源電圧VMまで上昇する。
 時刻t5になると、各パルス信号のレベルは時刻t1と同じ状態となる。すなわち、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12はともにオフであるため、出力電圧Voutは電源電圧VMのままである。
 時刻t6以降は、時刻t2以降と同じ動作が繰り返される。
 本実施形態の駆動回路21は、ハイサイドにおいてPMOSトランジスタM3を設けることで、PMOSトランジスタM12がターンオフするときにPMOSトランジスタM12のゲート・ソース間電圧を速やかに低下させることができる。すなわち、抵抗R1および抵抗R2を大きな値とした場合でもPMOSトランジスタM12がオフするときの動作を高速化できる。すなわち、低消費電力化のために抵抗R1および抵抗R2を大きくする場合でも、PMOSトランジスタM12がオフするときの動作の高速化が維持できる。よって、本実施形態の駆動回路21によって、参照回路21Rの課題1と課題2を解決することができる。
 また、ローサイドにおいてNPNトランジスタQ3を設けることで、NMOSトランジスタM11がターンオフするときにNMOSトランジスタM11のゲート・ソース間電圧を速やかに低下させることができるため、NMOSトランジスタM11がオフするときの動作も高速化できる。
 本実施形態の駆動回路21は、ローサイドにおいてNPNトランジスタQ3を設け、ハイサイドにおいてPMOSトランジスタM3を設けることで、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12のセルフターンオンのマージンを増加させることができる。
 すなわち、出力電圧Voutが高速に上昇する場合(例えば、図4の時刻t4)、本実施形態の駆動回路21ではNPNトランジスタQ3がオンしており、NMOSトランジスタM11のゲート・ソース間のインピーダンスが低いことから、ゲート・ドレイン間容量を介してNMOSトランジスタM11のゲート電位が上昇し難い。そのため、NMOSトランジスタM11のセルフターンオンのマージンが増加している。
 逆に、出力電圧Voutが高速に下降する場合(例えば、図4の時刻t6)、本実施形態の駆動回路21ではPMOSトランジスタM3がオンしており、PMOSトランジスタM12のゲート・ソース間のインピーダンスが低いことから、ゲート・ドレイン間容量を介してPMOSトランジスタM12のゲート電位が下降し難い。そのため、PMOSトランジスタM12のセルフターンオンのマージンが増加している。
 よって、参照回路21Rの課題4を解決することができる。
 以上説明したように、本実施形態のモータ駆動システム1において、駆動回路21~23は、CPU5から直接供給されるパルス信号をレベル変換して、3相電圧生成部10のNMOSトランジスタM11,M21,M31、PMOSトランジスタM12,M22,M32を駆動する。そのため、3相交流モータMをスイッチング駆動する場合に専用ICを用いずに性能向上を実現することができる。さらに、本実施形態の駆動回路を用いることで、参照回路21Rの課題1,2および4を解決することができるという利点がある。
 (2)第2の実施形態
 第2の実施形態以降の各実施形態に係るモータ駆動システムは、第1の実施形態と比較して駆動回路の構成が異なるのみであるため、駆動回路の相違点について説明する。
 以下、第2の実施形態の駆動回路21Aについて、図5および図6を参照して説明する。図5は、第2の実施形態の駆動回路21Aの回路図である。図6は、第2の実施形態の駆動回路21Aの動作を示すタイミングチャートである。
 図5を図3と比較してわかるように、本実施形態の駆動回路21Aは第1の実施形態の駆動回路21に対して、PMOSトランジスタM4(第2のPMOSトランジスタの一例)が追加された点が異なる。PMOSトランジスタM4のソースは、PMOSトランジスタM3のソースと共通に電源電圧VMに設定される。PMOSトランジスタM4のドレインは、PMOSトランジスタM3のゲートに接続される。PMOSトランジスタM4のゲートは、PMOSトランジスタM12のゲートに接続される。
 図6のタイミングチャートでは、図4のタイミングチャートに対してPMOSトランジスタM4の動作状態(ON又はOFF)が追加されている。図6に示すように、PMOSトランジスタM4は、PMOSトランジスタM3がオンの場合にオフとなり、PMOSトランジスタM3がオフの場合にオンとなるように動作する。PMOSトランジスタM4は、PMOSトランジスタM3をより高速にオフさせるために設けられている。
 図6において時刻t1では、前述したように、NPNトランジスタQ2がオンし、PMOSトランジスタM3がオンするため、PMOSトランジスタM12はオフである。PMOSトランジスタM3がオンであるため、PMOSトランジスタM4のゲート・ソース間電圧が閾値を超えることはなく、PMOSトランジスタM4はオフである。
 時刻t1~t4では、パルス信号VinH,VinHBに変化がないため、PMOSトランジスタM4はオフのままである。
 時刻t4になると、パルス信号VinHがHレベルとなり、パルス信号VinHBがLレベルとなる。すると、NPNトランジスタQ1がオンし、NPNトランジスタQ2がオフする。NPNトランジスタQ1がオンすることでコレクタ電流が抵抗R2を流れ、抵抗R2の電圧降下によってPMOSトランジスタM4がオンし、それによってPMOSトランジスタM3が速やかにオフすることになる。つまり、PMOSトランジスタM4は、PMOSトランジスタM3を高速にオフさせるように動作する。PMOSトランジスタM3が高速にオフすることで、PMOSトランジスタM12が高速にターンオンする。
 時刻t5になると、パルス信号VinHがLレベルとなり、パルス信号VinHBがHレベルとなる。すると、NPNトランジスタQ1がオフし、NPNトランジスタQ2がオンする。抵抗R2に電流が流れずにPMOSトランジスタM12がオフする。NPNトランジスタQ2のコレクタ電流が抵抗R6を流れ、それによってPMOSトランジスタM3がオンし、PMOSトランジスタM4はオフする。
 以上説明したように、PMOSトランジスタM4を設けることで、第1の実施形態の駆動回路よりも速やかにPMOSトランジスタM12をオン・オフさせることができるようになる。
 (3)第3の実施形態
 以下、第3の実施形態の駆動回路21Bについて、図7および図8を参照して説明する。図7は、第3の実施形態の駆動回路21Bの回路図である。図8は、第3の実施形態の駆動回路21Bの動作を示すタイミングチャートである。
 図7を図3と比較してわかるように、本実施形態の駆動回路21Bは第1の実施形態の駆動回路21に対して、NPNトランジスタQ1のコレクタとPMOSトランジスタM12のゲートとの間に、NPNトランジスタQ5とPNPトランジスタQ6からなるプッシュプル回路を設けた点が異なる。また、駆動回路21Bでは駆動回路21に対して、抵抗R3,R7およびキャパシタC1,C7が削除されている。
 より具体的には、NPNトランジスタQ5とPNPトランジスタQ6のベース同士がNPNトランジスタQ1のコレクタに接続される。NPNトランジスタQ5とPNPトランジスタQ6のエミッタ同士が抵抗R41を介してPMOSトランジスタM12のゲートに接続される。NPNトランジスタQ5のコレクタが電源電圧VMに設定され、PNPトランジスタQ6のコレクタがグランド電位GNDに設定される。
 図8において時刻t1では、NPNトランジスタQ1がオフであり、NPNトランジスタQ2がオンする。PMOSトランジスタM3がオンするため、PMOSトランジスタM12はオフである。このとき、抵抗R2からNPNトランジスタQ5のベースに流れる電流によってNPNトランジスタQ5がオンし、PNPトランジスタQ6はオフである。
 時刻t4になると、NPNトランジスタQ1がオンし、NPNトランジスタQ2がオフする。このとき、PNPトランジスタQ6のベースからNPNトランジスタQ1のコレクタに向かう方向にベース電流が流れ、PMOSトランジスタM12のゲート電位が低下してPMOSトランジスタM12がオンする。
 時刻t5になると、NPNトランジスタQ1がオフであり、NPNトランジスタQ2がオンする。この場合、時刻t1~t2の期間と同様に、NPNトランジスタQ5がオンし、PNPトランジスタQ6はオフである。時刻t5~t6の期間は、NMOSトランジスタM11およびPMOSトランジスタM12がともにオフになるため、出力電圧Voutが電源電圧VMを維持するのは、第1の実施形態と同様である。
 本実施形態の駆動回路21Bによれば、第1の実施形態の駆動回路21と同様に、抵抗R2,R6を大きくして低消費電力を実現しつつ、PMOSトランジスタM12がオフするときの動作を高速にすることができる。
 (4)第4の実施形態
 以下、第4の実施形態の駆動回路21Cについて、図9を参照して説明する。図9は、第4の実施形態の駆動回路21Cの回路図である。
 図9を図5と比較してわかるように、本実施形態の駆動回路21Cは、第2の実施形態の駆動回路21Aと比較して、ローサイドにおいてE部およびF部を設けた点が異なる。
 E部は、PMOSトランジスタM7(第3のスイッチ素子の一例)および抵抗R18,R19を有する。
 F部は、E部のPMOSトランジスタM7に対して、ハイサイドと同じ回路構成となっている。すなわち、F部の抵抗R12,R13,R14,R15,R16,R17、キャパシタC11,C4、NPNトランジスタQ4,Q5、および、PMOSトランジスタM5,M6は、それぞれ、ハイサイドの抵抗R1,R2,R3,R5,R6,R7、キャパシタC1,C3、NPNトランジスタQ1,Q2、および、PMOSトランジスタM3,M4に相当する。
 E部において、PMOSトランジスタM7のソースは電源電圧VMに設定され、PMOSトランジスタM7のゲートはNPNトランジスタQ4のコレクタに接続される。PMOSトランジスタM7のドレインとグランド電位GNDの間には抵抗R18,R19が直列に接続され、抵抗R18と抵抗R19の中間のノードがNMOSトランジスタM11のゲートに接続される。PMOSトランジスタM7は、NMOSトランジスタM11のゲートと電源電圧VMのノードとの間に設けられる第3のスイッチ素子の一例である。
 本実施形態の駆動回路21CにおいてローサイドにおけるE部およびF部は、NMOSトランジスタM11がオンしているときのオン抵抗を低下させるために設けられる。
 他の実施形態と同様に、パルス信号VinLがHレベルであり、パルス信号VinLBがLレベルのときに、NMOSトランジスタM11がオンする。すなわち、パルス信号VinLがHレベルであり、パルス信号VinLBがLレベルのときには、NPNトランジスタQ3,Q5がオフであり、NPNトランジスタQ4がオンである。このとき、NPNトランジスタQ4のコレクタ電流の抵抗R13における電圧降下によってPMOSトランジスタM7がオンし、NMOSトランジスタM11のゲート電位は、グランド電位GNDと電源電圧VMの中間電位となる。つまり、パルス信号VinLがHレベルである場合にスイッチ素子としてのPMOSトランジスタM7が導通して、NMOSトランジスタM11のゲートを、グランド電位GNDと電源電圧VMの中間電位に設定する。
 NMOSトランジスタM11のゲートは、抵抗R18と抵抗R19の中間のノードに接続されているため、上記中間電位は、グランド電位GNDと電源電圧VMを抵抗R18と抵抗R19で分圧した値となる。例えば抵抗R18,R19の値が等しい場合、NMOSトランジスタM11がオンしているときのゲート・ソース間電圧はVM/2(=12V)となり、CPU5からのパルス信号のHレベル(3.3V)と比較して高い値となることから、NMOSトランジスタM11のオン抵抗を低下させることができる。
 他方、パルス信号VinLがLレベルであり、パルス信号VinLBがHレベルのときに、NPNトランジスタQ3,Q5がオンであり、NPNトランジスタQ4がオフである。このとき、PMOSトランジスタM5がオンするためPMOSトランジスタM7がオフとなる。つまり、パルス信号VinLがグランド電位GNDである場合にスイッチ素子としてのPMOSトランジスタM7が非導通となる。NMOSトランジスタM11のゲート電位が低下してNMOSトランジスタM11がオフする。
 上述したように、本実施形態の駆動回路21Cによれば、NMOSトランジスタM11がオンしているときのゲート・ソース間電圧を高くすることができるため、NMOSトランジスタM11のオン抵抗を低下させることができる。すなわち、参照回路21Rの課題3を解決することができる。
 なお、図9の回路構成は例示に過ぎず、すべての素子を必要とすることを意図していない。
 例えば、図9の回路構成では、ハイサイドにおいてPMOSトランジスタM4を設けているが、第1の実施形態の駆動回路21(図3参照)と同様に、PMOSトランジスタM4は無くてもよい。
 また、ローサイドのF部では、抵抗R13と抵抗R12とNPNトランジスタQ4が最低限必要であり、その他の素子は必ずしも必要としない。
 (5)第5の実施形態
 以下、第5の実施形態の駆動回路21Dについて、図10を参照して説明する。図10は、第5の実施形態の駆動回路21Dの回路図である。
 図10を図7と比較してわかるように、本実施形態の駆動回路21Dは、第3の実施形態の駆動回路21Bと比較して、ローサイドの回路構成が異なる。本実施形態ではローサイドに特徴があり、ハイサイドでは他の実施形態のいずれかで提示された回路構成を採ることができる。したがって、図10に示すハイサイドの回路構成は例示に過ぎない。
 本実施形態の駆動回路21Dは、例えば5V電源を利用できる場合の回路構成例を示している。5V電源は、例えば、降圧電源回路3(図1参照)によって生成されてもよい。
 図10に示すように、駆動回路21Dのローサイドの回路は、NMOSトランジスタM10、PMOSトランジスタM8およびNMOSトランジスタM9からなるCMOSインバータ、および、抵抗R7,R4,R42を含む。
 NMOSトランジスタM10のゲートにはパルス信号VinLが入力される。NMOSトランジスタM10と抵抗R7によってパルス信号VinLがレベルシフトされてCMOSインバータに入力される。CMOSインバータの出力は、抵抗R4,R42を介してNMOSトランジスタM11のゲートに入力される。
 例えばパルス信号VinLがHレベルのときには、NMOSトランジスタM10がオンし、PMOSトランジスタM8がオンし、抵抗R4を介してNMOSトランジスタM11のゲートに5Vが入力される。
 他方、パルス信号VinLがLレベルのときには、NMOSトランジスタM10がオフし、NMOSトランジスタM9がオンする。このとき、NMOSトランジスタM11のゲートから抵抗R42を介して電荷が引き抜かれ、当該ゲートの電位が低下し、NMOSトランジスタM11がオフする。
 本実施形態の駆動回路21Dによれば、NMOSトランジスタM11がオンしているときにゲートに5Vが入力されるため、CPU5からの3.3Vが入力される場合よりもNMOSトランジスタM11のゲート・ソース間電圧を高くすることができる。そのため、NMOSトランジスタM11のオン抵抗を低下させることができる。
 また、抵抗R4,R42を設けたことで、NMOSトランジスタM11のオン特性とオフ特性を所望の特性に設定できるという利点がある。例えば、抵抗R42を小さくすることで、NMOSトランジスタM11がオフ時のゲートのインピーダンスを低下させることができ、セルフターンオンのマージンを増加させることができる。
 (6)第6の実施形態
 以下、第6の実施形態の駆動回路21Eについて、図11を参照して説明する。図11は、第6の実施形態の駆動回路21Eの回路図である。
 図11の本実施形態の駆動回路21Eは、第5の実施形態の駆動回路21D(図10)と比較してわかるように、抵抗R42の代わりに、抵抗R4と並列にダイオードD1を設けた点が異なる。
 本実施形態の駆動回路21Eでは、NMOSトランジスタM11がオフとなるときに、NMOSトランジスタM11のゲート容量にある電荷を、ダイオードD1を介して引き抜き、NMOSトランジスタM11のゲート電位を低下させる。
 上述した参照回路21Rでは、PMOSトランジスタM12のターンオンを高速化させた場合、出力電圧Voutが高速に上昇することで、NMOSトランジスタM11のゲート・ドレイン間容量を介してNMOSトランジスタM11のゲート電位も高速に上昇し、ゲート・ソース間電圧が閾値電圧を超えるとNMOSトランジスタM11がセルフターンオンする。
 それに対して、本実施形態の駆動回路21Eでは、ダイオードD1によってNMOSトランジスタM11のゲート・ソース間電圧が0.7V程度にクランプされるために閾値電圧を超えず、セルフターンオンには至らない。
 (7)第7の実施形態
 以下、第7の実施形態の駆動回路21Fについて、図12および図13を参照して説明する。図12は、第7の実施形態の駆動回路21Fの回路図である。図13は、第7の実施形態の駆動回路21Fの動作を示すタイミングチャートである。
 本実施形態の駆動回路21Fは、第3の実施形態の駆動回路21B(図7参照)の変形例である。図12に示すように、駆動回路21Fは、駆動回路21Bに対して以下の点が異なる。
 (i) ローサイドにおいて、NPNトランジスタQ3に代えてNMOSトランジスタM9を設ける。
 (ii) NPNトランジスタQ1,Q2のエミッタとグランド電位GNDの間に共通の抵抗R1を設ける。
 (iii) 入力端子P11,P22を共通化して、パルス信号VinLを入力する。
 (iv) 入力端子P12,P21を共通化して、パルス信号VinHを入力する。
 本実施形態の駆動回路21Fでは、ローサイドのNMOSトランジスタM9およびハイサイドのPMOSトランジスタM3はセルフターンオンを防止するための素子である。
 例えば、時刻t2においてNMOSトランジスタM11がオンして出力電圧Voutがグランド電位GNDに低下する場合に、PMOSトランジスタM3がオンする。そのため、PMOSトランジスタM12のゲート・ソース間のインピーダンスが低下するため、PMOSトランジスタM12のセルフターンオンを防止できる。
 例えば時刻t4においてPMOSトランジスタM12がオンして出力電圧Voutがグランド電位GNDから電源電圧VMまで上昇する場合に、NMOSトランジスタM9がオンする。そのため、NMOSトランジスタM11のゲート・ソース間のインピーダンスが低下するため、NMOSトランジスタM11のセルフターンオンを防止できる。
 以上、本発明の駆動回路および駆動システムの実施形態について詳細に説明したが、本発明の範囲は上記の実施形態に限定されない。また、上記の実施形態は、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更が可能である。複数の実施形態の各々で述べた技術的事項は、適宜組み合わせることが可能である。例えば、特定の実施形態の駆動回路のハイサイドの回路構成と、他の実施形態の駆動回路のローサイドの回路構成とを組み合わせることが可能である。
 例えば、上述した実施形態では、3相電圧生成部10の各駆動用MOSトランジスタのオン・オフ制御が、ホールセンサの位置情報に基づく120度通電によって行われる場合について説明したが、その限りではない。各駆動用MOSトランジスタのオン・オフ制御方法は、180度通電等の他の通電制御方法を適用してもよい。
 1…モータ駆動システム、2…インバータ装置、3…降圧電源回路、5…CPU、10…3相電圧生成部、20…駆動回路群、21R…参照回路、21~23,21A,21B,21C,21D,21E,21F…駆動回路、N11~N13…ノード、Vu…U相電圧、Vv…V相電圧、Vw…W相電圧、M…3相交流モータ、100…ホールセンサ

Claims (6)

  1.  互いに共通のドレインが負荷に接続され、基準電位に設定されるソースを有する駆動用NMOSトランジスタ、および、第1電位に設定されるソースを有する駆動用PMOSトランジスタと、
     駆動用PMOSトランジスタのオン/オフを制御するための第1のバイポーラトランジスタと、
     一端が第1のバイポーラトランジスタのコレクタに接続され、他端が前記第1電位に設定される第1の抵抗と、
     駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第1のスイッチ素子と、
     駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通又は非導通とする第2のスイッチ素子と、
     を備え、
     駆動用NMOSトランジスタのゲートは、前記基準電位と、前記第1電位よりも低い第2電位と、の間で変動する第1パルス信号を入力する第1入力端子に接続され、
     第1のスイッチ素子は、第1パルス信号が前記基準電位である場合に駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通とし、第1パルス信号が前記第2電位である場合に駆動用NMOSトランジスタのゲート・ソース間を非導通とし、
     第1のバイポーラトランジスタのベースは、前記基準電位と前記第2電位との間で変動する第2パルス信号を入力する第2入力端子に接続され、
     第2のスイッチ素子は、第2パルス信号が前記基準電位である場合に前記駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を導通とし、第2パルス信号が前記第2電位である場合に駆動用PMOSトランジスタのゲート・ソース間を非導通とする、
     駆動回路。
  2.  第2のスイッチ素子は、前記第1電位に設定されるソースと、駆動用PMOSトランジスタのゲートに接続されるドレインと、を有するPMOSトランジスタであって、
     前記駆動回路は、
     第2パルス信号の反転信号が入力されるベースと、前記PMOSトランジスタのゲートに接続されるコレクタと、前記基準電位に接続されるエミッタと、を有する第2のバイポーラトランジスタと、
     一端が第2のバイポーラトランジスタのコレクタに接続され、他端が前記第1電位に設定される第2の抵抗と、をさらに備えた、
     請求項1に記載された駆動回路。
  3.  前記PMOSトランジスタのソースと共通に前記第1電位に設定されるソースと、前記PMOSトランジスタのゲートに接続されるドレインと、駆動用PMOSトランジスタのゲートに接続されるゲートと、を有する第2のPMOSトランジスタをさらに備えた、
     請求項2に記載された駆動回路。
  4.  NPNトランジスタとPNPトランジスタからなるプッシュプル回路をさらに備え、
     前記NPNトランジスタと前記PNPトランジスタのベース同士が前記第1のバイポーラトランジスタのコレクタに接続され、
     前記NPNトランジスタと前記PNPトランジスタのエミッタ同士が駆動用PMOSトランジスタのゲートに接続され、
     前記NPNトランジスタのコレクタが前記第1電位に設定され、前記PNPトランジスタのコレクタが前記基準電位に設定される、
     請求項1から3のいずれか一項に記載された駆動回路。
  5.  駆動用NMOSトランジスタのゲートと前記第1電位のノードとの間に設けられる第3のスイッチ素子を備え、
     第1パルス信号が前記第2電位である場合に第3のスイッチ素子が導通して、駆動用NMOSトランジスタのゲートを、前記基準電位と前記第1電位の中間電位に設定し、
     第1パルス信号が前記基準電位である場合に第3のスイッチ素子が非導通となる、
     請求項1から4のいずれか一項に記載された駆動回路。
  6.  請求項1から5のいずれか一項に記載された駆動回路と、
     マイクロコントローラと、を備え、
     前記マイクロコントローラによって前記第1入力端子および前記第2入力端子の電位が設定される、駆動システム。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09200020A (ja) * 1996-01-17 1997-07-31 Fuji Electric Co Ltd レベルシフト回路
JP2006041571A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Daiwa Industries Ltd Pwmモータ駆動回路
JP2007235859A (ja) * 2006-03-03 2007-09-13 Kawasaki Heavy Ind Ltd 自己消弧型半導体素子の駆動装置
WO2010023805A1 (ja) * 2008-08-26 2010-03-04 三菱電機株式会社 放電灯点灯装置
JP2011055470A (ja) * 2009-07-13 2011-03-17 Rohm Co Ltd 出力回路
JP2014187829A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Seiko Epson Corp 回路装置及び電子機器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09200020A (ja) * 1996-01-17 1997-07-31 Fuji Electric Co Ltd レベルシフト回路
JP2006041571A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Daiwa Industries Ltd Pwmモータ駆動回路
JP2007235859A (ja) * 2006-03-03 2007-09-13 Kawasaki Heavy Ind Ltd 自己消弧型半導体素子の駆動装置
WO2010023805A1 (ja) * 2008-08-26 2010-03-04 三菱電機株式会社 放電灯点灯装置
JP2011055470A (ja) * 2009-07-13 2011-03-17 Rohm Co Ltd 出力回路
JP2014187829A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Seiko Epson Corp 回路装置及び電子機器

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