WO2018211643A1 - 増幅器 - Google Patents

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terminal
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transistor
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啓 福永
三輪　真一
善伸 佐々木
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三菱電機株式会社
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Definitions

  • This invention relates to an amplifier.
  • Patent Document 1 an FET is fixed to a dielectric substrate on a metal carrier, a microstrip line is formed on the dielectric substrate, and the microstrip line is wider than the gate electrode, drain electrode, and microstrip line of the FET. It is disclosed that the input / output upper electrodes are connected by a plurality of metal wires. Patent Document 1 further discloses that the length of the metal wire is increased from the edge in the width direction of the FET toward the center.
  • Patent Document 2 discloses a microwave amplifier in which an input / output terminal and an input / output electrode of a semiconductor amplifying element are connected by a plurality of wirings.
  • the impedance value of each wiring in a wiring row composed of a plurality of wirings is minimized in the wiring in the central row, and the impedance value of each wiring is increased toward the end of the wiring row.
  • the transmission power in each wiring is made uniform, and the gain, power added efficiency, and distortion characteristics of the microwave amplifier are improved.
  • the amplifier is manufactured by die-bonding the transistor chip and the matching substrate in the package and realizing the necessary electrical connection with bonding wires.
  • a transistor chip and a matching substrate are connected by a wire, and an input / output terminal of the package and a matching substrate are connected by a wire.
  • a transistor chip having a structure in which a plurality of parallel transistor cells are coupled may be used. It is desirable that the plurality of transistor cells operate uniformly. However, due to the interaction of magnetic fields from a plurality of wires provided in parallel and the skin effect in a conductor such as a terminal, a phase difference occurs in the input / output signals in each transistor cell. For this reason, the operations of the plurality of transistor cells are not uniform. As a result, the power gain, saturation output power, and power added efficiency of the amplifier are reduced as compared with a case where uniform operation of a plurality of transistor cells is assumed.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide an amplifier capable of uniformly operating a plurality of transistor cells formed on a transistor chip.
  • the amplifier according to the present invention includes a transistor chip having a plurality of transistor cells, a gate pad, and a drain pad, a matching substrate having a metal pattern formed on a surface thereof, a width of the transistor chip, and a width of the matching substrate.
  • a terminal having a large width; a plurality of terminal wires for connecting the terminal and the metal pattern; and a plurality of chip wires for connecting the metal pattern and the transistor chip; and connected to the terminals of the plurality of terminal wires
  • the distance between the wires connected to the metal pattern of the plurality of terminal wires is larger than the distance between the wires in the formed portion.
  • Another amplifier according to the present invention includes a transistor chip having a plurality of transistor cells, a gate pad, and a drain pad, and a metal pattern formed on a surface thereof.
  • the width of the metal pattern is equal to the width of the gate pad or the drain.
  • the distance between the wires connected to the transistor chip of the plurality of chip wires is larger than the distance between the wires connected to the metal pattern.
  • the plurality of transistor cells formed in the transistor chip can be uniformly operated by making the plurality of wires non-parallel and connecting the wires to a place where the influence of the skin effect is small.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of an amplifier according to a first embodiment. It is a top view inside a package. It is a top view which shows the internal structure of the amplifier which concerns on a comparative example. It is sectional drawing of the some terminal wire which concerns on a comparative example. It is a figure which shows the current imbalance by a skin effect.
  • 6 is a plan view of the inside of an amplifier according to Embodiment 2.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of an amplifier 10 according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the amplifier 10 includes a package 12.
  • the package 12 includes a metal base portion 12a, a side wall portion 12b provided on the metal base portion 12a, and a lid portion 12c provided on the side wall portion 12b.
  • a terminal 13 and a terminal 14 are fixed to the package 12.
  • Matching substrates 20 and 24 and a transistor chip 22 are provided in the package 12.
  • the matching substrate 20, the transistor chip 22, and the matching substrate 24 are formed on different substrates.
  • the transistor chip 22 is a field effect transistor formed of, for example, GaN.
  • the terminal 13 and the matching substrate 20 are connected by a terminal wire W1.
  • the matching substrate 20 and the transistor chip 22 are connected by a chip wire W2.
  • the transistor chip 22 and the matching substrate 24 are connected by a chip wire W3.
  • the matching substrate 24 and the terminal 14 are connected by a terminal wire W4.
  • an input / output connection structure of the amplifier 10 using the transistor chip 22 is formed. Note that another structure may be employed as the package 12.
  • FIG. 2 is a plan view of the inside of the package 12.
  • the x direction in FIG. 2 is the width direction, and the y direction is the length direction.
  • the y direction is a high-frequency signal transmission direction
  • the x direction is a direction perpendicular to the transmission direction.
  • the transistor chip 22 has a plurality of transistor cells and can cope with high output.
  • the transistor chip 22 has a plurality of gate pads 22a arranged in the width direction and striped drain pads 22b extending in the width direction. When viewed as the transistor chip 22 as a whole, the length in the width direction is larger than the length in the length direction.
  • the matching substrate 20 includes a dielectric 20a and a metal pattern 20b provided on the dielectric 20a. That is, the metal pattern 20 b is formed on the surface of the matching substrate 20.
  • the matching substrate 20 functions as an input matching substrate.
  • the matching substrate 24 includes a dielectric 24a and a metal pattern 24b provided on the dielectric 24a. That is, the metal pattern 24 b is formed on the surface of the matching substrate 24.
  • the matching substrate 24 functions as an output matching substrate.
  • the width of the terminals 13 and 14 is Xa.
  • the width Xa is larger than the width of the transistor chip 22, the width of the matching substrates 20 and 24, and the width of the metal patterns 20b and 24b.
  • the terminal 13 functions as an input terminal.
  • the terminal 14 functions as an output terminal.
  • a plurality of terminal wires W1 are provided.
  • the plurality of terminal wires W1 connect the terminal 13 and the metal pattern 20b.
  • the connection point between the plurality of terminal wires W1 and the terminal 13 is a place where Xa / 4 advances from one end 13a in the width direction of the terminal 13 to the other end 13b in the width direction of the terminal 13 when the width of the terminal 13 is Xa.
  • Xa / 4 is a value obtained by dividing Xa by 4.
  • the connection points of the plurality of terminal wires W1 and the terminal 13 do not exist over the entire width direction of the terminal 13 but are concentrated in the central portion of the terminal 13.
  • connection point between the terminal wire W1 and the metal pattern 20b exists over the entire width direction of the metal pattern 20b.
  • the distance between the wires connected to the metal pattern 20b of the plurality of terminal wires W1 is larger than the distance between the wires connected to the terminals 13 of the plurality of terminal wires W1. That is, the distance between the terminals increases as the plurality of terminal wires W1 proceeds in the positive y direction. Further, the wire length of the plurality of terminal wires W1 is longer as the wire is closer to the end.
  • the plurality of terminal wires W1 are provided non-parallel.
  • a plurality of terminal wires W4 are provided.
  • the plurality of terminal wires W4 connect the terminal 14 and the metal pattern 24b.
  • the connection point between the plurality of terminal wires W4 and the terminal 14 is a place where Xa / 4 advances from one end 14a in the width direction of the terminal 14 to the other end 14b in the width direction of the terminal 14 when the width of the terminal 14 is Xa.
  • connection point between the terminal wire W4 and the metal pattern 24b exists over the entire width direction of the metal pattern 24b.
  • the distance between the wires connected to the metal pattern 24b of the plurality of terminal wires W4 is larger than the distance between the wires connected to the terminals 14 of the plurality of terminal wires W4.
  • the distance between the terminals of the plurality of terminal wires W4 increases as it advances in the negative y direction.
  • the plurality of terminal wires W4 has a longer wire length as the wire is closer to the end.
  • the plurality of terminal wires W4 are provided non-parallel.
  • a plurality of chip wires W2 are provided.
  • the chip wire W2 connects the metal pattern 20b and the transistor chip 22. Specifically, the plurality of chip wires W2 connect the metal pattern 20b and the gate pad 22a. One chip wire W2 is connected to one gate pad 22a. The plurality of chip wires W2 are provided in parallel.
  • a plurality of chip wires W3 are provided.
  • the chip wire W3 connects the metal pattern 24b and the transistor chip 22. Specifically, the plurality of chip wires W3 connect the metal pattern 24b and the drain pad 22b. All chip wires W3 are connected to one drain pad 22b. The plurality of chip wires W3 are provided in parallel.
  • the plurality of terminal wires W1 are referred to as first wires
  • the plurality of terminal wires W4 are referred to as fourth wires
  • the plurality of chip wires W2 are referred to as second wires
  • the plurality of chip wires W3 are referred to as third wires. Then, it can be said that the high-frequency signal is transmitted from the first wire, the second wire, the third wire, and the fourth wire in this order and output from the terminal 14.
  • FIG. 3 is a plan view showing the internal configuration of the amplifier package according to the comparative example.
  • the plurality of terminal wires W1 are provided in parallel
  • the plurality of chip wires W2 are provided in parallel
  • the plurality of chip wires W3 are provided in parallel
  • the plurality of terminal wires W4 are provided in parallel.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a plurality of terminal wires W1 according to a comparative example.
  • a magnetic field is generated around the plurality of terminal wires W1.
  • the magnetic fields between the terminal wires W1 cancel each other. Therefore, the magnetic field of the plurality of terminal wires W1 as a whole is shown by the alternate long and short dash line in FIG.
  • a broken line represents a line of electric force.
  • the density of the electric field lines represents the strength of the electric field.
  • the electric field is generated perpendicular to the magnetic field between the terminal wire W1 and the package 12.
  • the number of adjacent terminal wires W1 is smaller than that of the central terminal wire W1, so that the interaction of magnetic fields is also reduced.
  • FIG. 5 is a diagram showing that the current flowing through the terminal is unbalanced due to the skin effect.
  • a plurality of terminal wires W1 are parallel.
  • the plurality of terminal wires W1 are fixed to the center and the end of the terminal 13.
  • a large arrow indicates that a large current flows at the end of the terminal 13.
  • a small arrow indicates that a small current flows in the center of the terminal 13. Since a large amount of current flows through the terminal wires W1 at both ends, an effective parasitic inductance is reduced apart from the effect of the magnetic field interaction described above.
  • the transistor cells at both ends particularly operate with a phase difference as compared with the central transistor cell. As a result, the operation of the plurality of transistor cells becomes uneven, and the power gain, saturation output power, and power added efficiency of the transistor chip 22 are reduced. Note that the same phenomenon occurs when a plurality of chip wires W2, a plurality of chip wires W3, or a plurality of terminal wires W4 are provided in parallel.
  • the amplifier 10 according to Embodiment 1 of the present invention can solve this problem.
  • the distance between the wires connected to the metal pattern 20b of the plurality of terminal wires W1 is larger than the distance between the wires connected to the terminals 13 of the plurality of terminal wires W1. It has become. That is, since the distance between wires increases in the direction in which signal transmission proceeds, the terminal wire W1 at the end becomes longer in wire length. In other words, the terminal wire W1 at the center is the shortest and the terminal wire W1 having a larger distance from the center terminal wire W1 is longer. By so doing, it is possible to compensate for the reduction in the parasitic inductance of the end portion and the terminal wire W1 close to the end portion.
  • the end wire and the terminal wire W4 close to the end portion are made larger by making the inter-wire distance of the portion connected to the metal pattern 24b larger than the inter-wire distance of the portion connected to the terminal 14. The reduction of parasitic inductance can be suppressed.
  • the plurality of terminal wires W1 are non-parallel, the current directions of the plurality of terminal wires W1 are also non-parallel. Therefore, the magnetic field interaction between the plurality of terminal wires W1 is weaker than when the plurality of terminal wires W1 are parallel. As a result, the deviation of the effective parasitic inductor of each terminal wire W1 can be reduced. Since the plurality of terminal wires W4 are also provided non-parallel, the deviation of the effective parasitic inductor of each terminal wire W4 can be reduced. Thus, in the amplifier 10 according to the first embodiment, adverse effects due to magnetic field interactions are suppressed.
  • the connection point between the plurality of terminal wires W1 and the terminal 13 is that when the width of the terminal 13 is Xa, the one end 13a in the width direction of the terminal 13 is the other end in the width direction of the terminal 13. It is only between the place advanced Xa / 4 to 13b and the place advanced Xa / 4 from the other end 13b to one end 13a.
  • connection point between the plurality of terminal wires W4 and the terminal 14 advances Xa / 4 from one end 14a in the width direction of the terminal 14 to the other end 14b in the width direction of the terminal 14 when the width of the terminal 14 is Xa. It is only between the place and the place which advanced Xa / 4 from the other end 14b to the one end 14a. That is, the connection points of the plurality of terminal wires W1 and the terminal 13 are concentrated at the central portion of the terminal 13, and the connection points of the plurality of terminal wires W4 and the terminal 14 are concentrated at the central portion of the terminal 14.
  • the amplifier 10 according to the first embodiment, the phase difference of the signal of each transistor cell due to the interaction of the magnetic fields of the plurality of terminal wires W1 and W4 and the skin effect at the terminals 13 and 14 can be reduced. Therefore, a plurality of transistor cells formed in the transistor chip 22 can be operated uniformly, and the gain, output, and efficiency of the amplifier 10 can be increased.
  • the amplifier 10 according to the first embodiment of the present invention can be variously modified without losing its characteristics. For example, even if a plurality of terminal wires W1 are provided in parallel, the plurality of terminal wires W4 have the above characteristics, so that the plurality of transistor cells can be brought closer to a uniform operation to some extent. Further, even if the plurality of terminal wires W4 are provided in parallel, the plurality of terminal wires W1 have the above characteristics, so that the plurality of transistor cells can be brought closer to a uniform operation to some extent.
  • the above numerical limitation when the plurality of terminal wires W1 and W4 are concentrated on the central portions of the terminals 13 and 14 is an example. The distance between the connection points of the terminal wires W1 and W4 and the terminals 13 and 14 from the ends of the terminals 13 and 14 may be set as necessary.
  • FIG. FIG. 6 is a plan view of the inside of the amplifier 30 according to the second embodiment.
  • Metal patterns 20b and 24b are formed on the surfaces of the matching substrates 20 and 24, respectively.
  • the widths of the metal patterns 20b and 24b are larger than the width of the gate pad 22a and the width of the drain pad 22b.
  • the width of the gate pad 22a means the entire width of the plurality of gate pads 22a.
  • the width of the gate pad 22a and the width of the drain pad 22b are substantially equal.
  • the width of the metal pattern 20b is larger than the width of the gate pad 22a, a plurality of chip wires W2 can be made parallel.
  • the distance between the wires connected to the transistor chip 22 of the plurality of chip wires W2 is larger than the distance between the wires connected to the metal pattern 20b of the plurality of chip wires W2. ing.
  • connection point between the plurality of chip wires W2 and the metal pattern 20b is from the one end 20c in the width direction of the metal pattern 20b to the other end 20d in the width direction of the metal pattern 20b when the width of the metal pattern 20b is Xb. It is preferable to be between the place where Xb / 4 has advanced and the place where Xb / 4 has advanced from the other end 20d to one end 20c.
  • the width of the metal pattern 24b is larger than the width of the drain pad 22b, a plurality of chip wires W3 can be made parallel.
  • the distance between the wires connected to the transistor chip 22 of the plurality of chip wires W3 is larger than the distance between the wires connected to the metal pattern 24b of the plurality of chip wires W3. ing.
  • connection point between the plurality of chip wires W3 and the metal pattern 24b is from the one end 24c in the width direction of the metal pattern 24b to the other end 24d in the width direction of the metal pattern 24b when the width of the metal pattern 24b is Xb. It is preferable that the distance is between the place where Xb / 4 has advanced and the place where Xb / 4 has advanced from the other end 24d to one end 24c.
  • the plurality of transistor cells formed in the transistor chip 22 can be uniformly operated. Even if the plurality of chip wires W3 are provided in parallel, the plurality of chip wires W2 have the above characteristics, so that the plurality of transistor cells can be brought to a uniform operation to some extent. Even if the plurality of chip wires W2 are provided in parallel, the plurality of chip wires W3 have the above-described characteristics, so that the plurality of transistor cells can be brought to a uniform operation to some extent. Note that the terminal wires W1 and W4 shown in FIG. 2 may be replaced with the terminal wires W1 and W4 shown in FIG. 6 to further increase the uniformity of the operation of the plurality of transistor cells.

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Abstract

複数のトランジスタセルと、ゲートパッドと、ドレインパッドを有するトランジスタチップと、表面にメタルパターンが形成された整合基板と、該トランジスタチップの幅及び該整合基板の幅より幅が大きい端子と、該端子と該メタルパターンを接続する複数の端子ワイヤと、該メタルパターンと該トランジスタチップを接続する複数のチップワイヤと、を備え、複数の該端子ワイヤの該端子に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の該端子ワイヤの該メタルパターンに接続された部分のワイヤ間距離が大きい。

Description

増幅器
　この発明は増幅器に関する。
　特許文献１には、金属キャリア上の誘電体基板にＦＥＴが固定され、この誘電体基板上にマイクロストリップ線路が形成され、ＦＥＴのゲート電極、ドレイン電極とマイクロストリップ線路よりも幅広なマイクロストリップ線路の入出力上部電極が複数の金属ワイヤで接続されたことが開示されている。特許文献１には、さらに、ＦＥＴの幅方向のエッジ部から中央部になるに従い金属ワイヤの長さを長くすることが開示されている。
　特許文献２には、入出力端子と半導体増幅素子の入出力電極を複数の配線で接続するマイクロ波増幅器が開示されている。このマイクロ波増幅器は、複数の配線による配線列における各配線のインピーダンス値を中央列の配線で最も小さくし、配線列の端に向かう程各配線のインピーダンス値を大きくするものである。これにより、各配線における伝送電力の均一化を図り、マイクロ波増幅器の利得、電力付加効率および歪み特性の向上が図られる。
日本特開平１０－２２３６７４号公報 日本特開平１１－２３８８５１号公報
　パッケージの中にトランジスタチップと整合基板をダイボンドし、ボンディングワイヤで必要な電気的接続を実現することで、増幅器が製造される。内部整合型ではないディスクリート型の増幅器では、トランジスタチップと整合基板をワイヤで接続し、パッケージの入出力端子と整合基板をワイヤで接続する。
　増幅器の高出力化の要求に応えるために、並列な複数のトランジスタセルを結合する構造を有するトランジスタチップを用いることがある。複数のトランジスタセルは均一動作することが望ましい。しかしながら、平行に設けられた複数のワイヤからの磁界の相互作用、および端子などの導体における表皮効果により、各トランジスタセルでの入出力信号には位相差が発生する。そのため、複数のトランジスタセルの動作は不均一になる。その結果、複数のトランジスタセルの均一動作を仮定した場合と比較して、増幅器の電力利得、飽和出力電力および電力付加効率が低下してしまう。
　本発明は上述の問題を解決するためになされたものであり、トランジスタチップに形成された複数のトランジスタセルを均一動作させることができる増幅器を提供することを目的とする。
　本願の発明にかかる増幅器は、複数のトランジスタセルと、ゲートパッドと、ドレインパッドを有するトランジスタチップと、表面にメタルパターンが形成された整合基板と、該トランジスタチップの幅及び該整合基板の幅より幅が大きい端子と、該端子と該メタルパターンを接続する複数の端子ワイヤと、該メタルパターンと該トランジスタチップを接続する複数のチップワイヤと、を備え、複数の該端子ワイヤの該端子に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の該端子ワイヤの該メタルパターンに接続された部分のワイヤ間距離が大きいことを特徴とする。
　本願の発明に係る他の増幅器は、複数のトランジスタセルと、ゲートパッドと、ドレインパッドを有するトランジスタチップと、表面にメタルパターンが形成され、該メタルパターンの幅は該ゲートパッドの幅又は該ドレインパッドの幅より大きい整合基板と、端子と、該端子と該メタルパターンを接続する複数の端子ワイヤと、該メタルパターンと該トランジスタチップを接続する複数のチップワイヤと、を備え、複数の該チップワイヤの該メタルパターンに接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の該チップワイヤの該トランジスタチップに接続された部分のワイヤ間距離が大きいことを特徴とする。
　本発明のその他の特徴は以下に明らかにする。
　この発明によれば、複数のワイヤを非平行とし、表皮効果の影響が小さい場所にワイヤを接続することで、トランジスタチップに形成された複数のトランジスタセルを均一動作させることができる。
実施の形態１に係る増幅器の断面図である。 パッケージの内部の平面図である。 比較例に係る増幅器の内部構成を示す平面図である。 比較例に係る複数の端子ワイヤの断面図である。 表皮効果による電流不均衡を示す図である。 実施の形態２に係る増幅器の内部の平面図である。
　本発明の実施の形態に係る増幅器について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。
実施の形態１．
　図１は、本発明の実施の形態１に係る増幅器１０の断面図である。増幅器１０は、パッケージ１２を備えている。パッケージ１２は、金属ベース部分１２ａ、金属ベース部分１２ａの上に設けられた側壁部分１２ｂ、および側壁部分１２ｂの上に設けられたふた部分１２ｃを備えている。パッケージ１２に端子１３と端子１４が固定されている。
　端子１３と端子１４だけがパッケージ１２から露出している。パッケージ１２の中には整合基板２０、２４とトランジスタチップ２２が設けられている。整合基板２０、トランジスタチップ２２、および整合基板２４は別々の基板に形成されている。トランジスタチップ２２は例えばＧａＮなどで形成された電界効果トランジスタである。
　端子１３と整合基板２０は端子ワイヤＷ１で接続されている。整合基板２０とトランジスタチップ２２はチップワイヤＷ２で接続されている。トランジスタチップ２２と整合基板２４はチップワイヤＷ３で接続されている。整合基板２４と端子１４は端子ワイヤＷ４で接続されている。このように、トランジスタチップ２２を用いた増幅器１０の入出力接続構造が形成されている。なお、パッケージ１２として別の構造を採用してもよい。
　図２は、パッケージ１２の内部の平面図である。図２におけるｘ方向は幅方向であり、ｙ方向は長さ方向である。言いかえればｙ方向は高周波信号の伝送方向であり、ｘ方向は当該伝送方向と垂直の方向である。トランジスタチップ２２は複数のトランジスタセルを有することで高出力に対応できるものである。トランジスタチップ２２は、幅方向に沿って並んだ複数のゲートパッド２２ａと、幅方向に伸びるストライプ状のドレインパッド２２ｂを有している。トランジスタチップ２２全体として見れば、幅方向の長さの方が長さ方向の長さより大きい。
　整合基板２０は、誘電体２０ａと、誘電体２０ａの上に設けられたメタルパターン２０ｂを備えている。つまり、整合基板２０の表面にはメタルパターン２０ｂが形成されている。整合基板２０は入力整合基板として機能する。
　整合基板２４は、誘電体２４ａと、誘電体２４ａの上に設けられたメタルパターン２４ｂを備えている。つまり、整合基板２４の表面にはメタルパターン２４ｂが形成されている。整合基板２４は出力整合基板として機能する。
　端子１３、１４の幅はＸａである。この幅Ｘａは、トランジスタチップ２２の幅、整合基板２０、２４の幅、およびメタルパターン２０ｂ、２４ｂの幅より大きい。端子１３は入力端子として機能する。端子１４は出力端子として機能する。
　端子ワイヤＷ１は複数設けられている。複数の端子ワイヤＷ１は端子１３とメタルパターン２０ｂを接続している。複数の端子ワイヤＷ１と端子１３との接続点は、端子１３の幅をＸａとしたとき、端子１３の幅方向の一端１３ａから端子１３の幅方向の他端１３ｂへＸａ／４進んだ場所と、他端１３ｂから一端１３ａへＸａ／４進んだ場所との間だけにある。Ｘａ／４とは、Ｘａを４で除算した値のことである。複数の端子ワイヤＷ１と端子１３の接続点は、端子１３の幅方向全体にわたって存在するのではなく、端子１３の中央部分に集中している。
　端子ワイヤＷ１とメタルパターン２０ｂとの接続点はメタルパターン２０ｂの幅方向全体にわたって存在する。その結果、複数の端子ワイヤＷ１の端子１３に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の端子ワイヤＷ１のメタルパターン２０ｂに接続された部分のワイヤ間距離が大きくなっている。つまり、複数の端子ワイヤＷ１はｙ正方向に進むほど端子間距離が大きくなる。また、複数の端子ワイヤＷ１は端に近いワイヤほどワイヤ長が長くなっている。複数の端子ワイヤＷ１は非平行に設けられている。
　端子ワイヤＷ４は複数設けられている。複数の端子ワイヤＷ４は端子１４とメタルパターン２４ｂを接続している。複数の端子ワイヤＷ４と端子１４との接続点は、端子１４の幅をＸａとしたとき、端子１４の幅方向の一端１４ａから端子１４の幅方向の他端１４ｂへＸａ／４進んだ場所と、他端１４ｂから一端１４ａへＸａ／４進んだ場所との間だけにある。つまり、複数の端子ワイヤＷ４と端子１４の接続点は、端子１４の幅方向全体にわたって存在するのではなく、端子１４の中央部分に集中している。
　端子ワイヤＷ４とメタルパターン２４ｂとの接続点はメタルパターン２４ｂの幅方向全体にわたって存在する。その結果、複数の端子ワイヤＷ４の端子１４に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の端子ワイヤＷ４のメタルパターン２４ｂに接続された部分のワイヤ間距離が大きくなっている。つまり、複数の端子ワイヤＷ４はｙ負方向に進むほど端子間距離が大きくなる。また、複数の端子ワイヤＷ４は端に近いワイヤほどワイヤ長が長くなっている。複数の端子ワイヤＷ４は非平行に設けられている。
　チップワイヤＷ２は複数設けられている。チップワイヤＷ２はメタルパターン２０ｂとトランジスタチップ２２を接続している。具体的には、複数のチップワイヤＷ２はメタルパターン２０ｂとゲートパッド２２ａを接続している。１つのゲートパッド２２ａに１つのチップワイヤＷ２が接続されている。複数のチップワイヤＷ２は平行に設けられている。
　チップワイヤＷ３は複数設けられている。チップワイヤＷ３はメタルパターン２４ｂとトランジスタチップ２２を接続している。具体的には、複数のチップワイヤＷ３はメタルパターン２４ｂとドレインパッド２２ｂを接続している。１つのドレインパッド２２ｂにすべてのチップワイヤＷ３が接続されている。複数のチップワイヤＷ３は平行に設けられている。
　複数の端子ワイヤＷ１を第１ワイヤと称し、複数の端子ワイヤＷ４を第４ワイヤと称し、複数のチップワイヤＷ２を第２ワイヤと称し、複数のチップワイヤＷ３を第３ワイヤと称する。そうすると、高周波信号は、第１ワイヤから、第２ワイヤ、第３ワイヤ、第４ワイヤをこの順に伝送し、端子１４から出力されると言うことができる。
　図３は、比較例に係る増幅器のパッケージ内部構成を示す平面図である。複数の端子ワイヤＷ１は平行に設けられ、複数のチップワイヤＷ２は平行に設けられ、複数のチップワイヤＷ３は平行に設けられ、複数の端子ワイヤＷ４は平行に設けられている。
　図４は、比較例に係る複数の端子ワイヤＷ１の断面図である。複数の端子ワイヤＷ１に電流が流れると複数の端子ワイヤＷ１の周囲に磁界が発生する。複数の端子ワイヤＷ１に同じ向きの電流が流れると、端子ワイヤＷ１間の磁界が打ち消しあう。そのため、複数の端子ワイヤＷ１全体の磁界は図４の一点鎖線のようになる。破線は電気力線を表す。電気力線の密度が電界の強さを表す。電界は、端子ワイヤＷ１とパッケージ１２の間では、磁界に対して垂直に生じる。しかしながら、両端の端子ワイヤＷ１については、隣接する端子ワイヤＷ１の数が中央の端子ワイヤＷ１と比較して少ないため、磁界の相互作用も小さくなる。このことにより、両端の端子ワイヤＷ１には中央の端子ワイヤＷ１よりも電流が多く流れる。したがって両端の端子ワイヤＷ１の実効的な寄生インダクタンスは、中央の端子ワイヤＷ１の実効的な寄生インダクタンスより小さくなる。
　また、幅が大きい端子１３と端子１４では、表皮効果によって端子中心から離れるほど電流が多く流れる。図５は、表皮効果によって端子を流れる電流が不均衡となったことを示す図である。図５においては複数の端子ワイヤＷ１が平行になっている。また、複数の端子ワイヤＷ１は端子１３の中央にも端部にも固定されている。大きな矢印は端子１３の端部で大きな電流が流れることを示す。小さな矢印は端子１３の中央で小さな電流が流れることを示す。両端の端子ワイヤＷ１には多くの電流が流れるので、上記の磁界の相互作用による効果とは別に、実効的な寄生インダクタンスが小さくなる。
　両端の端子ワイヤＷ１の実効的な寄生インダクタが小さくなることにより、特に両端のトランジスタセルは、中央のトランジスタセルと比較して位相差を伴って動作する。結果として複数のトランジスタセルの動作は不均一となり、トランジスタチップ２２の電力利得、飽和出力電力、および電力付加効率が低下してしまう。なお、複数のチップワイヤＷ２、複数のチップワイヤＷ３又は複数の端子ワイヤＷ４を平行に設けた場合にも同じ現象が生じてしまう。
　ところが、本発明の実施の形態１に係る増幅器１０によればこの問題を解消できる。実施の形態１に係る増幅器１０では、複数の端子ワイヤＷ１の端子１３に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の端子ワイヤＷ１のメタルパターン２０ｂに接続された部分のワイヤ間距離が大きくなっている。つまり、信号の伝送が進行する方向に向かってワイヤ間距離が大きくなるので、端にある端子ワイヤＷ１ほどワイヤ長が長くなる。言いかえれば、中央の端子ワイヤＷ１が最も短く、中央の端子ワイヤＷ１からの距離が大きい端子ワイヤＷ１ほど長い。こうすることで、端部および端部に近い端子ワイヤＷ１の寄生インダクタンスの低減を補償することができる。
　複数の端子ワイヤＷ４についても、端子１４に接続された部分のワイヤ間距離よりも、メタルパターン２４ｂに接続された部分のワイヤ間距離を大きくすることで、端部および端部に近い端子ワイヤＷ４の寄生インダクタンスの低減を抑制することができる。
　さらに、複数の端子ワイヤＷ１は非平行となっているので、複数の端子ワイヤＷ１の電流の向きも非平行である。そのため、複数の端子ワイヤＷ１を平行にした場合と比べて複数の端子ワイヤＷ１間での磁界の相互作用は弱くなる。その結果、各端子ワイヤＷ１の実効的な寄生インダクタの偏差を低減できる。複数の端子ワイヤＷ４についても、非平行に設けられているので、各端子ワイヤＷ４の実効的な寄生インダクタの偏差を低減できる。こうして、実施の形態１に係る増幅器１０では、磁界の相互作用による弊害を抑制する。
　表皮効果による弊害は、端子１３、１４の中央にワイヤを集中させることで抑制する。具体的には、上述のとおり、複数の端子ワイヤＷ１と端子１３との接続点は、端子１３の幅をＸａとしたとき、端子１３の幅方向の一端１３ａから端子１３の幅方向の他端１３ｂへＸａ／４進んだ場所と、他端１３ｂから一端１３ａへＸａ／４進んだ場所との間だけにある。また、複数の端子ワイヤＷ４と端子１４との接続点は、端子１４の幅をＸａとしたとき、端子１４の幅方向の一端１４ａから端子１４の幅方向の他端１４ｂへＸａ／４進んだ場所と、他端１４ｂから一端１４ａへＸａ／４進んだ場所との間だけにある。つまり、複数の端子ワイヤＷ１と端子１３の接続点は端子１３の中央部分に集中し、複数の端子ワイヤＷ４と端子１４の接続点は端子１４の中央部分に集中している。こうすることで、整合基板２０、２４及びメタルパターン２０ｂ、２４ｂより幅の広い端子１３、１４を採用しつつ、表皮効果で外側の端子ワイヤＷ１、Ｗ４に大きな電流が流れることを緩和できる。よって、複数の端子ワイヤＷ１、Ｗ４の両端に位置するワイヤの実効的な寄生インダクタの減少を抑制できる。
　したがって、実施の形態１に係る増幅器１０によれば、複数の端子ワイヤＷ１、Ｗ４の磁界の相互作用、および端子１３、１４での表皮効果による各トランジスタセルの信号の位相差を低減できる。よって、トランジスタチップ２２に形成された複数のトランジスタセルを均一動作させ、増幅器１０の高利得化、高出力化および高効率化を実現することができる。
　本発明の実施の形態１に係る増幅器１０はその特徴を失わない範囲で様々な変形が可能である。例えば、複数の端子ワイヤＷ１を平行に設けても、複数の端子ワイヤＷ４が上記特徴を有することで、複数のトランジスタセルをある程度均一動作に近づけることができる。また、複数の端子ワイヤＷ４を平行に設けても、複数の端子ワイヤＷ１が上記特徴を有することで、複数のトランジスタセルをある程度均一動作に近づけることができる。また、複数の端子ワイヤＷ１、Ｗ４を端子１３、１４の中央部分に集中させる際の上記の数値限定は例示である。端子ワイヤＷ１、Ｗ４と端子１３、１４との接続点を端子１３、１４の端部からどの程度離すかは必要に応じて設定すればよい。
　実施の形態１で言及した変形は以下の実施の形態に係る増幅器に応用することができる。なお、以下の実施の形態に係る増幅器は実施の形態１との共通点が多いので、実施の形態１との相違点を中心に説明する。
実施の形態２．
　図６は、実施の形態２に係る増幅器３０の内部の平面図である。整合基板２０、２４の表面にはメタルパターン２０ｂ、２４ｂが形成されている。メタルパターン２０ｂ、２４ｂの幅はゲートパッド２２ａの幅およびドレインパッド２２ｂの幅より大きい。ゲートパッド２２ａの幅というのは複数のゲートパッド２２ａ全体の幅という意味である。ゲートパッド２２ａの幅とドレインパッド２２ｂの幅はほぼ等しい。
　メタルパターン２０ｂの幅はゲートパッド２２ａの幅より大きいので、複数のチップワイヤＷ２を平行にすることが可能である。しかし、実施の形態２では、複数のチップワイヤＷ２のメタルパターン２０ｂに接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数のチップワイヤＷ２のトランジスタチップ２２に接続された部分のワイヤ間距離が大きくなっている。これにより、複数のチップワイヤＷ２は非平行になるので、磁界の相互作用によって両端のチップワイヤＷ２の実効的な寄生インダクタンスが小さくなることを抑制できる。また、複数のチップワイヤＷ２は端に近いワイヤほどワイヤ長が長いので、端部および端部に近いチップワイヤＷ２の寄生インダクタンスの低減を補償することができる。
　また、複数のチップワイヤＷ２とメタルパターン２０ｂの接続点をメタルパターン２０ｂの端部を避けてメタルパターン２０ｂの中央部に集中させることで、メタルパターン２０ｂの表皮効果によって両端のチップワイヤＷ２の実効的な寄生インダクタンスが小さくなることを抑制できる。このとき、複数のチップワイヤＷ２とメタルパターン２０ｂとの接続点は、メタルパターン２０ｂの幅をＸｂとしたとき、メタルパターン２０ｂの幅方向の一端２０ｃからメタルパターン２０ｂの幅方向の他端２０ｄへＸｂ／４進んだ場所と、他端２０ｄから一端２０ｃへＸｂ／４進んだ場所との間だけにあるようにすることが好ましい。
　メタルパターン２４ｂの幅はドレインパッド２２ｂの幅より大きいので、複数のチップワイヤＷ３を平行にすることが可能である。しかし、実施の形態２では、複数のチップワイヤＷ３のメタルパターン２４ｂに接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数のチップワイヤＷ３のトランジスタチップ２２に接続された部分のワイヤ間距離が大きくなっている。これにより、複数のチップワイヤＷ３は非平行になるので、磁界の相互作用によって両端のチップワイヤＷ３の実効的な寄生インダクタンスが小さくなることを抑制できる。また、複数のチップワイヤＷ３は端に近いワイヤほどワイヤ長が長いので、端部および端部に近いチップワイヤＷ３の寄生インダクタンスの低減を補償することができる。
　また、複数のチップワイヤＷ３とメタルパターン２４ｂの接続点をメタルパターン２４ｂの端部を避けてメタルパターン２４ｂの中央部に集中させることで、メタルパターン２４ｂの表皮効果によって両端のチップワイヤＷ３の実効的な寄生インダクタンスが小さくなることを抑制できる。このとき、複数のチップワイヤＷ３とメタルパターン２４ｂとの接続点は、メタルパターン２４ｂの幅をＸｂとしたとき、メタルパターン２４ｂの幅方向の一端２４ｃからメタルパターン２４ｂの幅方向の他端２４ｄへＸｂ／４進んだ場所と、他端２４ｄから一端２４ｃへＸｂ／４進んだ場所との間だけにあるようにすることが好ましい。
　上記のように複数のチップワイヤＷ２、Ｗ３を設けることで、トランジスタチップ２２に形成された複数のトランジスタセルを均一動作させることができる。複数のチップワイヤＷ３を平行に設けても、複数のチップワイヤＷ２が上記特徴を有することで、複数のトランジスタセルをある程度均一動作に近づけることができる。複数のチップワイヤＷ２を平行に設けても、複数のチップワイヤＷ３が上記特徴を有することで、複数のトランジスタセルをある程度均一動作に近づけることができる。なお、図２に示される端子ワイヤＷ１、Ｗ４を図６の端子ワイヤＷ１、Ｗ４と置き換えて、複数のトランジスタセルの動作の均一性をさらに高めてもよい。
　１３，１４　端子、　２０，２４　整合基板、　２２　トランジスタチップ、　Ｗ１，Ｗ４　端子ワイヤ、　Ｗ２，Ｗ３　チップワイヤ

Claims (10)

  1. 　複数のトランジスタセルと、ゲートパッドと、ドレインパッドを有するトランジスタチップと、
    　表面にメタルパターンが形成された整合基板と、
    　前記トランジスタチップの幅及び前記整合基板の幅より幅が大きい端子と、
    　前記端子と前記メタルパターンを接続する複数の端子ワイヤと、
    　前記メタルパターンと前記トランジスタチップを接続する複数のチップワイヤと、を備え、
    　複数の前記端子ワイヤの前記端子に接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の前記端子ワイヤの前記メタルパターンに接続された部分のワイヤ間距離が大きいことを特徴とする増幅器。
  2. 　前記整合基板は、入力整合基板と、出力整合基板とを有し、
    　前記端子は、入力端子と、出力端子とを有し、
    　複数の前記端子ワイヤは、前記入力端子と前記入力整合基板を接続する複数の第１ワイヤと、前記出力整合基板と前記出力端子を接続する複数の第４ワイヤとを有し、
    　複数の前記チップワイヤは、前記入力整合基板と前記トランジスタチップを接続する複数の第２ワイヤと、前記トランジスタチップと前記出力整合基板を接続する複数の第３ワイヤと、を有することを特徴とする請求項１に記載の増幅器。
  3. 　複数の前記端子ワイヤは端に近いワイヤほどワイヤ長が長いことを特徴とする請求項１に記載の増幅器。
  4. 　複数の前記端子ワイヤは非平行に設けられたことを特徴とする請求項３に記載の増幅器。
  5. 　複数の前記端子ワイヤと前記端子との接続点は、前記端子の幅をＸａとしたとき、前記端子の幅方向の一端から前記端子の幅方向の他端へＸａ／４進んだ場所と、前記他端から前記一端へＸａ／４進んだ場所との間だけにあることを特徴とする請求項１～４のいずれか１項に記載の増幅器。
  6. 　複数のトランジスタセルと、ゲートパッドと、ドレインパッドを有するトランジスタチップと、
    　表面にメタルパターンが形成され、前記メタルパターンの幅は前記ゲートパッドの幅又は前記ドレインパッドの幅より大きい整合基板と、
    　端子と、
    　前記端子と前記メタルパターンを接続する複数の端子ワイヤと、
    　前記メタルパターンと前記トランジスタチップを接続する複数のチップワイヤと、を備え、
    　複数の前記チップワイヤの前記メタルパターンに接続された部分のワイヤ間距離よりも、複数の前記チップワイヤの前記トランジスタチップに接続された部分のワイヤ間距離が大きいことを特徴とする増幅器。
  7. 　前記整合基板は、入力整合基板と、出力整合基板とを有し、
    　前記端子は、入力端子と、出力端子とを有し、
    　複数の前記端子ワイヤは、前記入力端子と前記入力整合基板を接続する複数の第１ワイヤと、前記出力整合基板と前記出力端子を接続する複数の第４ワイヤとを有し、
    　複数の前記チップワイヤは、前記入力整合基板と前記トランジスタチップを接続する複数の第２ワイヤと、前記トランジスタチップと前記出力整合基板を接続する複数の第３ワイヤと、を有することを特徴とする請求項６に記載の増幅器。
  8. 　複数の前記チップワイヤは端に近いワイヤほどワイヤ長が長いことを特徴とする請求項６に記載の増幅器。
  9. 　複数の前記チップワイヤは非平行に設けられたことを特徴とする請求項８に記載の増幅器。
  10. 　複数の前記チップワイヤと前記メタルパターンとの接続点は、前記メタルパターンの幅をＸｂとしたとき、前記メタルパターンの幅方向の一端から前記メタルパターンの幅方向の他端へＸｂ／４進んだ場所と、前記他端から前記一端へＸｂ／４進んだ場所との間だけにあることを特徴とする請求項６～９のいずれか１項に記載の増幅器。
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