WO2017077994A1 - 表示基板及び表示装置 - Google Patents

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貴翁 斉藤
庸輔 神崎
中澤 淳
一篤 伊東
誠二 金子
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シャープ株式会社
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    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
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Definitions

  • the present invention relates to a display substrate and a display device.
  • Patent Document 1 As an example of a liquid crystal panel used in a conventional liquid crystal display device, one described in Patent Document 1 below is known.
  • a convex portion is provided between adjacent mounting terminals at an end portion of the interlayer insulating film, thereby forming a thick interlayer insulating film. Even in such a case, resist residues in the subsequent process are eliminated.
  • the present invention has been completed based on the above circumstances, and an object thereof is to improve the certainty of short circuit prevention.
  • the display substrate of the present invention includes a display area capable of displaying an image, a non-display area arranged on the outer peripheral side so as to surround the display area, a plurality of terminal portions arranged in the non-display area, and the display A first insulating film disposed between the plurality of terminal portions and the display region, the first insulating film being disposed in a manner straddling the region and the non-display region; A plurality of terminal wiring portions arranged on the upper layer side of the first insulating film in the display region and connected to the plurality of terminal portions while straddling the end portion of the first insulating film; and the display region and the non-display region A second insulating film that is disposed on the upper layer side of the plurality of terminal wiring portions and that is an end portion of the second insulating film that is disposed on the terminal portion side of the first insulating film end portion.
  • a plurality of transparent electrode films disposed on the upper layer side of the second insulating film at least in the non-display region.
  • Serial and the second insulating film of the terminal wiring part comprising a plurality of protective portions for covering a portion to be a non-overlapping, respectively, the.
  • the plurality of terminal wiring portions connected to the plurality of terminal portions arranged in the non-display region are arranged on the upper layer side of the first insulating film and located between the terminal portion and the display region. It is arranged so as to straddle the end of the insulating film. Portions of the plurality of terminal wiring portions that do not overlap with the second insulating film disposed on the upper layer side are respectively covered with a plurality of protective portions disposed on the upper layer side of the second insulating film and made of a transparent electrode film. The protection is achieved.
  • the portion that overlaps the first insulating film is more likely to cause uneven exposure in the exposure performed during patterning than the portion that does not overlap the first insulating film, and the line width is relatively May be thicker. Then, the interval between the adjacent terminal wiring portions is narrower in the portion overlapping the first insulating film than in the portion not overlapping with the first insulating film.
  • the transparent electrode film serving as the protective portion is patterned.
  • the residue of the transparent electrode film is likely to occur in the vicinity of the end portion of the first insulating film, the portion overlapping the first insulating film end portion among the plurality of terminal wiring portions due to the residue, that is, the interval between the adjacent terminal wiring portions There is a concern that a relatively narrow portion is short-circuited.
  • the second insulating film end portion since the second insulating film end portion is arranged closer to the terminal portion side than the first insulating film end portion, the second insulating film overlaps with the first insulating film end portion among the plurality of terminal wiring portions.
  • the portion that is, the portion where the interval between adjacent terminal wiring portions is relatively narrow is covered with the second insulating film.
  • the portion overlapping the second insulating film end portion is not overlapped with the first insulating film, so that the interval between the adjacent terminal wiring portions is relatively wide.
  • the second insulating film is provided with a protrusion that is arranged between the adjacent terminal wiring portions and protrudes from the end portion of the second insulating film toward the terminal portion.
  • the extended surface distance between the adjacent terminal wiring portions at the end portion of the second insulating film is increased by the amount of the protrusion, so that the residue of the transparent electrode film serving as the protective portion is near the end portion of the second insulating film. Even if this occurs, the residue of the transparent electrode film is less likely to occur in a form straddling between adjacent terminal wiring portions.
  • the protrusions are provided on the second insulating film disposed on the upper layer side with respect to the plurality of terminal wiring portions, the protrusions are arranged with high positional accuracy with respect to the plurality of terminal wiring portions. It has become.
  • the reason why such a high positional accuracy can be obtained is that the insulating film is generally patterned in such a manner that it is aligned with the wiring portion made of a metal film or the like on the lower layer side. Thereby, the certainty of prevention of the short circuit between adjacent terminal wiring parts becomes higher.
  • a display element disposed in the display region, and an element connection portion disposed on the upper layer side of the first insulating film in the display region and connected to the display element and in the same layer as the terminal wiring portion A common electrode that is disposed on the upper side of the second insulating film in the display region and is provided with an opening at a position overlapping with the element connection portion and is made of the same transparent electrode film as the protection portion, and A third insulating film in which an element contact hole that is disposed on the upper layer side of the common electrode in the display area and overlaps with the element connection portion is formed to communicate with the second insulating film; And a pixel electrode formed on the upper layer side of the third insulating film and connected to the element connection portion through the element contact hole and made of a second transparent electrode film.
  • the pixel electrode is connected to the element connecting portion through the element contact hole communicating with each other in the third insulating film and the second insulating film, and is connected to the display element through the element connecting portion.
  • the pixel electrode is arranged so as to overlap the common electrode through the third insulating film, a potential difference is generated between the common electrode and the common electrode based on the potential supplied by the display element, and the pixel electrode is based on the potential difference.
  • display with a predetermined gradation can be performed.
  • the common electrode is provided with an opening at a position overlapping with the element connection portion, thereby preventing a short circuit with the pixel electrode.
  • the common electrode is formed by patterning the same transparent electrode film as that of the protective part, and the terminal wiring part can be protected by covering the terminal wiring part with the protective part at the time of patterning. Deterioration of the part is difficult to occur.
  • the common electrode made of the same transparent electrode film as the protective part needs to align the opening with the element connection part in the same layer as the terminal wiring part.
  • the three insulating films it is necessary to align the element contact holes communicating with each other with respect to the element connection part in the same layer as the terminal wiring part.
  • the protrusions and the protective portions provided in the second insulating film are arranged with high positional accuracy with respect to the plurality of terminal wiring portions, respectively, so that it is possible to prevent short circuit between adjacent terminal wiring portions. Is even higher.
  • the common electrode also serves as a position detection electrode that forms a capacitance with a position input body that performs position input. In this way, a position input function can be built in the display substrate.
  • a portion that does not overlap with the first insulating film is relatively thinner than a portion that overlaps with the first insulating film.
  • the rising angle of the end of the second insulating film which is a portion of the second insulating film that does not overlap with the first insulating film, becomes gentle, so that the vicinity of the end of the second insulating film In this case, the transparent electrode film residue is less likely to occur. Thereby, the certainty of prevention of the short circuit between adjacent terminal wiring parts becomes higher.
  • the terminal wiring portion and the element wiring portion each have a wiring overlapping portion that overlaps each other in the non-display area, whereas in the first insulating film, the terminal wiring portion and the element wiring portion are positioned at positions that overlap the wiring overlapping portion.
  • the element wiring portion disposed on the lower layer side than the first insulating film and the terminal wiring portion disposed on the upper layer side of the first insulating film are connected to the wiring overlapping portion through the wiring contact hole of the first insulating film. They are connected to each other.
  • the plurality of terminal wiring portions are connected to the plurality of terminal portions across the first insulating film end of the first insulating film, there is a concern that adjacent ones may be short-circuited by the residue of the transparent electrode film.
  • the second insulating film end portion of the second insulating film is arranged closer to the terminal portion side than the first insulating film end portion, so that adjacent terminal wiring portions are separated by the residue of the transparent electrode film. It is unlikely that a short circuit will occur.
  • the first insulating film includes a lower layer side first insulating film and an upper layer side first insulating film disposed on the upper layer side with respect to the lower layer side first insulating film.
  • the lower-layer-side first insulating film is used as the mask on the upper-layer-side first insulating film.
  • a display device of the present invention includes the above-described display substrate and a counter substrate arranged to face the display substrate. According to the display device having such a configuration, the reliability of short-circuit prevention on the display substrate is high, and thus the operation reliability is excellent.
  • FIG. 1 is a plan view of a liquid crystal panel constituting a liquid crystal display device according to Embodiment 1 of the present invention.
  • a plan view showing a planar arrangement of common electrodes on an array substrate constituting a liquid crystal panel Schematic cross-sectional view showing the cross-sectional configuration in the display area of the liquid crystal panel.
  • substrate which comprises a liquid crystal panel The top view which shows roughly the wiring structure in the display area of CF board
  • the top view which shows roughly the wiring structure in the non-display area
  • FIG. Xx sectional view of FIG. Xi-xi sectional view of FIG. The enlarged plan view which shows schematically the wiring structure in the non-display area
  • Sectional drawing for demonstrating the image development process which develops a 2nd planarizing film in the case of manufacture of the array board
  • the enlarged plan view which shows schematically the wiring structure in the non-display area
  • FIGS. 1 A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
  • a liquid crystal panel (display device, display panel) 11 provided in the liquid crystal display device 10 having a position input function is illustrated.
  • a part of each drawing shows an X axis, a Y axis, and a Z axis, and each axis direction is drawn to be a direction shown in each drawing.
  • the upper side of FIGS. 3, 6 and 7 is the front side
  • the lower side is the back side.
  • the liquid crystal display device 10 has a rectangular shape as a whole. As shown in FIG. 1, the liquid crystal display device 10 includes a liquid crystal panel 11 capable of displaying an image, and is disposed on the back side of the liquid crystal panel 11 and displayed on the liquid crystal panel 11. And a backlight device (illumination device) that is an external light source that emits light for the purpose.
  • a backlight device illumination device
  • the liquid crystal panel 11 will be described in detail with respect to the components of the liquid crystal display device 10, but other components such as the backlight device are well-known and will not be described in detail.
  • the liquid crystal panel 11 has a vertically long rectangular shape (rectangular shape) as a whole, and an image is located at a position offset toward one end side (upper side in FIG. 1) in the long side direction.
  • the flexible substrate 13 is attached, respectively.
  • An area outside the display area AA in the liquid crystal panel 11 is a non-display area (non-active area) NAA in which an image is not displayed.
  • the non-display area NAA is a substantially frame-shaped area (CF described later) surrounding the display area AA.
  • a frame-shaped one-dot chain line represents the outer shape of the display area AA, and an area outside the one-dot chain line is a non-display area NAA.
  • the driver 12 is composed of an LSI chip having a driving circuit therein, and operates based on a signal supplied from the control board 14 to generate an output signal. Are output toward the display area AA of the liquid crystal panel 11.
  • the driver 12 has a laterally long rectangular shape when viewed in a plan view (longitudinal along the short side of the liquid crystal panel 11) and a non-display area NAA of the liquid crystal panel 11 (array substrate 11b described later). It is mounted directly, that is, COG (Chip On Glass).
  • the long side direction of the driver 12 matches the X-axis direction (the short side direction of the liquid crystal panel 11), and the short side direction matches the Y-axis direction (the long side direction of the liquid crystal panel 11).
  • the flexible substrate 13 includes a base material made of a synthetic resin material having insulation and flexibility (for example, a polyimide resin), and a large number of wiring patterns (not shown) are formed on the base material. And one end in the length direction is connected to the control board 14 as described above, whereas the other end (the other end) is connected to the liquid crystal panel 11 (an array described later). Connected to the substrate 11b). For this reason, the flexible substrate 13 is bent in a folded shape so that the cross-sectional shape is substantially U-shaped in the liquid crystal display device 10. At both ends of the flexible substrate 13 in the length direction, the wiring pattern is exposed to the outside to form terminal portions (not shown), and these terminal portions are respectively connected to the control substrate 14 and the liquid crystal panel 11. Are electrically connected. As a result, a signal supplied from the control board 14 side can be transmitted to the liquid crystal panel 11 side.
  • a synthetic resin material having insulation and flexibility for example, a polyimide resin
  • the control board 14 is disposed on the back side of the backlight device as shown in FIG.
  • the control board 14 is mounted with electronic parts for supplying various signals to the driver 12 on a board made of paper phenol or glass epoxy resin, and wiring (conductive path) of a predetermined pattern (not shown) is routed. Is formed.
  • One end (one end side) of the flexible substrate 13 is electrically and mechanically connected to the control substrate 14 via an ACF (Anisotropic Conductive Film) (not shown).
  • the liquid crystal panel 11 includes a pair of substrates 11 a and 11 b and liquid crystal molecules that are disposed in an internal space between the substrates 11 a and 11 b and change in optical properties when an electric field is applied.
  • the liquid crystal layer (medium layer) 11c is included, and the liquid crystal layer 11c is surrounded by a seal portion (not shown) interposed between the substrates 11a and 11b for sealing.
  • the front side (front side) of the pair of substrates 11a and 11b is a CF substrate (counter substrate) 11a
  • the back side (back side) is an array substrate (display substrate, active matrix substrate, element substrate) 11b.
  • Each of the CF substrate 11a and the array substrate 11b is formed by laminating various films on the inner surface side of a glass substrate made of glass. Note that polarizing plates 11d and 11e are attached to the outer surface sides of both the substrates 11a and 11b, respectively.
  • the display area AA on the inner surface side of the array substrate 11b is a TFT (Thin Film Transistor: display element) as a switching element.
  • TFT Thin Film Transistor: display element
  • a plurality of pixel electrodes 11g are provided side by side in a matrix (matrix), and a gate wiring (scanning line) 11i and a source wiring (data line) that form a grid around the TFT 11f and the pixel electrode 11g.
  • Signal lines, element wiring portions) 11j are disposed so as to surround them.
  • the gate wiring 11i and the source wiring 11j are connected to the gate electrode 11f1 and the source electrode 11f2 of the TFT 11f, respectively, and the pixel electrode 11g is connected to the drain electrode 11f3 of the TFT 11f.
  • the TFT 11f is driven based on various signals respectively supplied to the gate wiring 11i and the source wiring 11j, and the supply of the potential to the pixel electrode 11g is controlled in accordance with the driving.
  • the TFT 11f has a channel portion 11f4 that connects the drain electrode 11f3 and the source electrode 11f2.
  • the extending direction of the gate wiring 11i coincides with the X-axis direction
  • the extending direction of the source wiring 11j coincides with the Y-axis direction.
  • the pixel electrode 11g is arranged in a rectangular region surrounded by the gate wiring 11i and the source wiring 11j, and a plurality of slits are formed.
  • the pixel electrode 11g is connected to the drain electrode 11f3 of the TFT 11f via a TFT connection portion (element connection portion) 11p.
  • a common electrode 11h is provided on the inner surface side of the array substrate 11b.
  • the liquid crystal layer 11c has a plate surface of the array substrate 11b.
  • a fringe electric field (an oblique electric field) including a component in a normal direction with respect to the plate surface of the array substrate 11b is applied in addition to the component along the line. That is, the operation mode of the liquid crystal panel 11 is an FFS (Fringe Field Switching) mode in which the IPS (In-Plane Switching) mode is further improved.
  • the array substrate 11b includes a first metal film (gate metal film) 15, a gate insulating film (insulating film) 16, a semiconductor film 17, a second film in order from the lower layer (glass substrate) side.
  • the second interlayer insulating film (third insulating film) 25 and the second transparent electrode film (upper layer side transparent electrode film) 26 are laminated. 6 and 7, the illustration of the alignment film 11o laminated on the upper layer side of the second transparent electrode film 26 is omitted.
  • the first metal film 15 is formed of, for example, a laminated film of three layers of titanium (Ti) layer / aluminum (Al) layer / titanium layer.
  • the first metal film 15 mainly constitutes the gate wiring 11i.
  • the gate insulating film 16 is laminated at least on the upper layer side of the first metal film 15, and is made of, for example, silicon oxide (SiO 2 ) that is an inorganic material.
  • the gate insulating film 16 is interposed between the first metal film 15 (gate wiring 11i) and the second metal film 18 (source wiring 11j) to insulate each other.
  • the semiconductor film 17 is laminated on the upper layer side of the gate insulating film 16 and is made of a thin film using an oxide semiconductor as a material.
  • the semiconductor film 17 mainly constitutes the channel portion 11f4 of the TFT 11f.
  • a specific oxide semiconductor forming the semiconductor film 17 for example, an In—Ga—Zn—O-based semiconductor (indium gallium oxide) containing indium (In), gallium (Ga), zinc (Zn), and oxygen (O) is used. Zinc) is used.
  • crystalline oxide semiconductor for example, a crystalline In—Ga—Zn—O-based semiconductor in which the c-axis is aligned substantially perpendicular to the layer surface is preferable.
  • the crystal structure of such an oxide semiconductor is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-134475.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-134475 the entire disclosure of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-134475 is incorporated herein by reference.
  • the second metal film 18 is laminated at least on the upper layer side of the semiconductor film 17.
  • the first metal film 15 for example, titanium layer / aluminum layer / titanium layer. These three layers are formed.
  • the second metal film 18 mainly constitutes the source wiring 11j, the source electrode 11f2, and the drain electrode 11f3.
  • the first interlayer insulating film 19 is laminated at least on the upper layer side of the second metal film 18 and is made of, for example, silicon oxide (SiO 2 ) that is an inorganic material.
  • the first planarization film 20 is laminated on the upper layer side of the first interlayer insulating film 19 and is made of, for example, an acrylic resin material (for example, polymethyl methacrylate resin (PMMA)) that is an organic resin material.
  • the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 are interposed between the second metal film 18 and the semiconductor film 17 and the third metal film 21 to insulate each other.
  • the third metal film 21 is stacked at least on the upper layer side of the first planarization film 20, and similarly to the first metal film 15 and the second metal film 18, for example, titanium layer / aluminum layer / titanium layer. It is formed by a laminated film of three layers.
  • the third metal film 21 mainly constitutes the TFT connection portion 11p in the display area AA, but constitutes an input terminal portion 28 and a terminal wiring portion 29 described later in the non-display area NAA.
  • the second planarizing film 22 is laminated on the upper side of the third metal film 21 and the first planarizing film 20, and is similar to the first planarizing film 20.
  • an acrylic resin material for example, polymethyl methacrylate resin (PMMA)
  • PMMA polymethyl methacrylate resin
  • the second planarizing film 22 is interposed between the third metal film 21, the fourth metal film 23, and the first transparent electrode film 24 to insulate each other.
  • the fourth metal film 23 is stacked at least on the upper layer side of the second planarization film 22, and similarly to the first metal film 15, the second metal film 18, and the third metal film 21, for example, a titanium layer / It is formed by a laminated film of three layers of an aluminum layer / titanium layer.
  • the fourth metal film 23 mainly constitutes a position detection wiring 11q described later.
  • the first transparent electrode film 24 is laminated on the upper side of the fourth metal film 23 and the first planarizing film 20, and is made of a transparent electrode material such as ITO (Indium Tin Oxide) or ZnO (Zinc Oxide).
  • the first transparent electrode film 24 mainly constitutes the common electrode 11h in the display area AA, but constitutes a protection unit 30 described later in the non-display area NAA.
  • the second interlayer insulating film 25 is laminated at least on the upper layer side of the first transparent electrode film 24 and is made of silicon nitride (SiN x ) which is an inorganic material.
  • the second interlayer insulating film 25 is interposed between the first transparent electrode film 24 and the second transparent electrode film 26 to insulate each other.
  • the second transparent electrode film 26 is laminated on the upper layer side of the second interlayer insulating film 25 and, like the first transparent electrode film 24, a transparent electrode such as ITO (Indium Tin Oxide) or ZnO (Zinc Oxide). Made of material.
  • the second transparent electrode film 26 mainly constitutes the pixel electrode 11g.
  • the first planarizing film 20 and the second planarizing film 22 are both organic insulating films, and the thickness thereof is another insulating film (inorganic
  • the insulating film is thicker than 16, 19, 25, and has a function of flattening the surface.
  • the gate insulating film 16, the first interlayer insulating film 19, and the second interlayer insulating film excluding the first planarizing film 20 and the second planarizing film 22 are used.
  • Reference numeral 25 denotes an inorganic insulating film, which is thinner than the first planarizing film 20 and the second planarizing film 22 which are organic insulating films.
  • the TFT connection portion (element connection portion) 11p has a vertically long rectangular shape and a planar arrangement that overlaps both the drain electrode 11f3 and the pixel electrode 11g of the TFT 11f in a plan view.
  • the first TFT contact hole (first element) is formed at a position overlapping with both the TFT connection portion 11p and the drain electrode 11f3 as shown in FIG.
  • a contact hole CH1 is formed in an opening, and the upper TFT connecting portion 11p is connected to the lower drain electrode 11f3 through the first TFT contact hole CH1.
  • the position overlapping with both the TFT connection portion 11p and the drain electrode 11f3 and not overlapping with the first TFT contact hole CH1 is shown in FIG.
  • a second TFT contact hole (second element contact hole, element contact hole) CH2 is formed.
  • the upper pixel electrode 11g is connected to the lower TFT connection part 11p.
  • the four insulating films 19, 20, 22, 25 are interposed between the pixel electrode 11g and the drain electrode 11f3, the pixel electrode 11g and the drain electrode 11f3 are connected to each other via the TFT connection portion 11p disposed between them. It has been.
  • an opening OP for preventing a short circuit with the pixel electrode 11g is formed at a position overlapping the second TFT contact hole CH2 (a part of the TFT connection portion 11p) in the common electrode 11h.
  • the insulating films 16, 19, 20, 22, 25 are formed in a solid shape over almost the entire display area AA of the array substrate 11b except for the contact holes CH1, CH2.
  • a color filter 11k is provided at a position facing each pixel electrode 11g on the array substrate 11b side.
  • the color filter 11k is formed by repeatedly arranging three colored portions of R (red), G (green), and B (blue) in a matrix.
  • the colored portions (each pixel PX) of the color filter 11k arranged in a matrix are partitioned by a light shielding portion (black matrix) 11l.
  • the light shielding portion 11l prevents color mixing in which light of each color transmitted through each colored portion is mixed.
  • the light-shielding portion 11l has a lattice shape when viewed from the plane and partitions the colored portions, and a frame that forms a frame shape (frame shape) when viewed from the plane and surrounds the lattice portion from the outer peripheral side. And a shape portion.
  • the grid-like portion in the light shielding portion 11l is arranged so as to overlap with the above-described gate wiring 11i and source wiring 11j in a plan view.
  • the frame-shaped portion in the light shielding portion 11l extends following the seal portion, and has a vertically long rectangular frame shape when seen in a plan view.
  • An overcoat film (planarizing film) 11m is provided on the inner surface of the color filter 11k and the light shielding part 11l.
  • one pixel PX is configured by a set of a colored portion in the color filter 11k and a pixel electrode 11g opposed to the colored portion.
  • the pixel PX includes a red pixel having an R colored portion of the color filter 11k, a green pixel having a G colored portion of the color filter 11k, and a blue pixel having a B colored portion of the color filter 11k, and It is included.
  • These three-color pixels PX are arranged repeatedly along the row direction (X-axis direction) on the plate surface of the liquid crystal panel 11 to form a pixel group, and this pixel group is arranged in the column direction (Y-axis). Many are arranged along the direction.
  • a large number of pixels PX are arranged in a matrix within the display area AA of the liquid crystal panel 11.
  • alignment layers 11n and 11o for aligning liquid crystal molecules contained in the liquid crystal layer 11c are formed as the innermost layers of both the substrates 11a and 11b and in contact with the liquid crystal layer 11c.
  • the liquid crystal panel 11 has a display function for displaying an image and a position input function (position) for detecting a position (input position) input by the user based on the displayed image.
  • Detection function a position input function for detecting a position (input position) input by the user based on the displayed image.
  • Detection function a touch panel pattern for implementing the position input function is built in (in-cell).
  • This touch panel pattern is a so-called projected capacitance method, and its detection method is a self-capacitance method.
  • the touch panel pattern is provided on the array substrate 11b of the pair of substrates 11a and 11b, and a plurality of position detection electrodes arranged in a matrix on the surface of the array substrate 11b. 27.
  • the position detection electrode 27 is arranged in the display area AA of the array substrate 11b. Therefore, the display area AA in the liquid crystal panel 11 substantially coincides with the touch area where the input position can be detected, and the non-display area NAA substantially coincides with the non-touch area where the input position cannot be detected.
  • a finger position detecting body
  • An electrostatic capacitance is formed between the detection electrode 27 and the detection electrode 27.
  • the capacitance detected by the position detection electrode 27 near the finger changes from the state before the finger approaches, and is different from the position detection electrode 27 far from the finger. Based on this, the input position can be detected.
  • the position detection electrode 27 may form a parasitic capacitance for a conductor other than the finger.
  • the position detection electrode 27 is composed of a common electrode 11h provided on the array substrate 11b.
  • the common electrode 11h includes a plurality of divided common electrodes 11hS divided in a grid pattern in the plane of the array substrate 11b.
  • Each of the plurality of divided common electrodes 11hS serves as the position detection electrode 27. It is composed.
  • a plurality of position detection electrodes 27 are arranged in a matrix (matrix) along the X-axis direction (row direction) and the Y-axis direction (column direction).
  • the position detection electrode 27 has a square shape when seen in a plane, and the dimension of each side is about several mm. Therefore, the position detection electrode 27 is larger in size in plan view than the pixel PX (pixel electrode 11g), and is arranged in a range that spans a plurality of pixels PX in the X-axis direction and the Y-axis direction. .
  • FIG. 2 schematically shows the arrangement of the position detection electrodes 27, and the specific number and arrangement of the position detection electrodes 27 can be changed as appropriate other than the illustration.
  • a plurality of position detection wires 11q are connected to the plurality of position detection electrodes (divided common electrode 11hS) 27 as shown in FIG.
  • the position detection wiring 11q extends linearly along the Y-axis direction, that is, the extending direction (column direction) of the source wiring 11j in the display area AA, and has a length corresponding to the position detection electrode 27 to be connected. It has a size. That is, the position detection wiring 11q is arranged so that one end portion arranged in the display area AA overlaps with the position detection electrode 27 to be connected and is connected to the position detection electrode 27, whereas The other end arranged in the display area NAA is connected to the driver 12.
  • the driver 12 drives the TFT 11f when displaying an image, but drives the position detection electrode 27 when detecting the position, and has both a display function and a position detection function.
  • the position detection wiring 11q is composed of the fourth metal film 23, whereas the position detection electrode 27 is also the common electrode 11h and is composed of the first transparent electrode film 24.
  • the position detection electrode 27 is directly connected without a contact hole. Therefore, in addition to the position detection electrode 27 to be connected, the position detection wiring 11q is also connected to another position detection electrode 27 existing between the position detection electrode 27 and the driver 12.
  • the plurality of position detection wirings 11q are connected to the plurality of position detection electrodes 27 belonging to the same column (the plurality of position detection electrodes 27 arranged along the extending direction of the position detection wiring 11q).
  • the position detection wiring 11q is arranged at a position where it overlaps with a predetermined source wiring 11j (light shielding portion 11l) in a plan view and does not overlap with the pixel PX.
  • the configuration of the non-display area NAA in the array substrate 11b will be described.
  • the end portion of the flexible substrate 13 and the driver 12 are respectively attached to the non-overlapping portion of the non-display area NAA in the array substrate 11 b that does not overlap with the CF substrate 11 a.
  • the driver 12 is disposed on the display substrate AA side of the flexible substrate 13 in the array substrate 11b. Has been.
  • an output terminal portion for outputting a signal to the driver 12
  • a flexible substrate terminal portion (not shown) connected to the flexible substrate 13 is provided in the mounting area of the flexible substrate 13 on the array substrate 11b.
  • the input terminal portion 28 is disposed closer to the display area AA in the Y-axis direction than the other terminal portions (output terminal portion and flexible substrate terminal portion).
  • a plurality of input terminal portions 28 are arranged in a zigzag pattern in the mounting region of the driver 12 and are connected to a terminal wiring portion 29 described below.
  • a plurality of terminal wiring portions 29 are arranged in the non-display area NAA of the array substrate 11b along the X-axis direction at a predetermined interval and extend along the Y-axis direction, and one end portion of each terminal wiring portion 29 is input to each non-display area NAA.
  • the other end (display area AA side) end portion is connected to the terminal portion 28 to the end portion of each source line 11j.
  • the input terminal portion 28 and the terminal wiring portion 29 are both made of the same third metal film 21 as the TFT connection portion 11p. Accordingly, the terminal wiring portion 29 is located on the upper layer side with respect to the source wiring 11j to be connected through the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20. An end portion of the terminal wiring portion 29 opposite to the input terminal portion 28 side and an end portion of the source wiring 11j opposite to the TFT 11f side are mutually viewed in plan in the non-display area NAA of the array substrate 11b.
  • wiring overlapping portions 11j1 and 29a are arranged so as to overlap with each other, and are designated as wiring overlapping portions 11j1 and 29a, respectively.
  • the wiring overlapping portions 11j1 and 29a are provided at the overlapping position.
  • the insulating films 16, 19, 20, 22, 25 are selectively formed in the vicinity of the mounting area of the driver 12 and the flexible board 13 in the non-display area NAA of the array substrate 11b.
  • the remaining portion is provided on the upper layer side of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20. That is, the terminal wiring portion 29 runs on the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 on the way from the input terminal portion 28 side to the source wiring 11j side, and at least the first interlayer insulating film 19 and the first interlayer insulating film 19
  • the planarizing film 20 is disposed so as to straddle the first interlayer insulating film end 19a and the first planarizing film end 20a.
  • a portion of the terminal wiring portion 29 on the input terminal portion 28 side (a portion that does not run over the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20) and is not different from the insulating films 22 and 25 on the upper layer side of itself.
  • the overlapping portion is provided so as to cover the protection unit 30.
  • the protection part 30 is made of the same first transparent electrode film 24 as the common electrode 11 h and covers the input terminal part 28 in addition to the above part of the terminal wiring part 29.
  • a part of the terminal wiring portion 29 made of the third metal film 21 having the three-layer structure and the input terminal portion 28 are used.
  • the aluminum layer is more easily etched by the etchant than the titanium layer, there is a concern that a part of the terminal wiring portion 29 and the aluminum layer in the input terminal portion 28 become thinner, that is, a side shift occurs.
  • the protective portion 30 as described above, the terminal is formed when the first transparent electrode film 24 formed and exposed is wet-etched. Since a part of the wiring part 29 and the input terminal part 28 are protected from the etching solution by the protection part 30, it is possible to avoid a side shift from occurring in the terminal wiring part 29 and the input terminal part 28.
  • the third metal film 21 that becomes the terminal wiring portion 29 in manufacturing the array substrate 11b.
  • the exposure is performed after the film is formed, exposure unevenness may occur.
  • a portion of the terminal wiring portion 29 that does not overlap with the first interlayer insulating film 19 and the first planarization film 20 (a portion that is directly placed on the glass substrate). )
  • the exposure is performed with a focus on the portion of the terminal wiring portion 29 overlapping the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 (the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20).
  • the first interlayer insulating film 19 and the first planarization film 20 tend to be relatively thicker than the non-overlapping portions.
  • the distance between the adjacent terminal wiring portions 29 is greater than that between the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 than the portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the overlapping part is narrower.
  • the residue of the first transparent electrode film 24 is in the vicinity of the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a. It tends to occur. This residue overlaps with the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a in the photoresist laminated on the first transparent electrode film 24 in order to pattern the first transparent electrode film 24.
  • the second planarization film end portion 22 a has the first interlayer insulation film end portion 19 a and the first planarization film end portion 20 a of the first planarization film 19 and the first planarization film 20. Further, it is configured to be arranged on the input terminal portion 28 side in the Y-axis direction (extending direction of the terminal wiring portion 29).
  • a portion of the plurality of terminal wiring portions 29 that overlaps with the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a, that is, an interval between the adjacent terminal wiring portions 29 is formed.
  • a relatively narrow portion is covered with the second planarization film 22.
  • the portion overlapping the second planarization film end 22 a is non-overlapping with the first interlayer insulating film 19 and the first planarization film 20.
  • the interval between 29 is relatively wide. Therefore, even if a residue of the first transparent electrode film 24 is generated in the vicinity of the second planarization film end 22a when patterning the first transparent electrode film 24, the second planarization of the plurality of terminal wiring portions 29 is caused by the residue. It is difficult for a situation in which a portion overlapping the film end 22a is short-circuited.
  • the second planarizing film 22 is arranged between the adjacent terminal wiring parts 29 and is directed from the second planarizing film end part 22 a toward the input terminal part 28 side.
  • the protrusion 31 which protrudes is provided.
  • the protrusion 31 is arranged at the center position between the terminal wiring portions 29 adjacent in the X-axis direction, and the distance to the terminal wiring portion 29 adjacent to the left side shown in FIG. The distance to the portion 29 is substantially equal.
  • the plurality of protrusions 31 and terminal wiring portions 29 are arranged in an alternating manner at intervals along the X-axis direction.
  • the protrusion 31 has a tapered planar shape so that the width dimension becomes narrower toward the protrusion tip side in the Y-axis direction (as the distance from the second planarization film end 22a), specifically, As seen in the figure, it has a triangular shape. According to such a configuration, the extended surface distance between the adjacent terminal wiring portions 29 in the second planarizing film end 22a is increased by the amount of the protrusion 31, so that protection is provided in the vicinity of the second planarizing film end 22a. Even if a residue of the first transparent electrode film 24 that becomes the portion 30 is generated, the residue of the first transparent electrode film 24 is less likely to be generated in a form straddling between the adjacent terminal wiring portions 29.
  • the protrusion 31 is provided on the second planarization film 22 disposed on the upper layer side with respect to the plurality of terminal wiring portions 29, whereas the protection portion 30 Since the first transparent electrode film 24 is arranged on the upper layer side with respect to the second planarization film 22, the protrusion 31 and the protection part 30 have high positional accuracy with respect to the plurality of terminal wiring parts 29.
  • the detailed reason is as follows. That is, as shown in FIG. 7, the common electrode 11h made of the same first transparent electrode film 24 as the protective part 30 has an opening OP in the same layer as the terminal wiring part 29 and a TFT connection part made of the third metal film 21.
  • the second planarization film 22 and the second interlayer insulating film 25 provided with the protrusions 31 are in communication with each other while being aligned (positioned) in the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to 11p.
  • the 2TFT contact hole CH2 is aligned in the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the TFT connection part 11p made of the third metal film 21 in the same layer as the terminal wiring part 29. Accordingly, the protective portions 30 covering the protrusions 31 and the terminal wiring portions 29 provided on the second planarization film 22 are arranged with high positional accuracy in the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the plurality of terminal wiring portions 29, respectively. As a result, the certainty of preventing a short circuit between the adjacent terminal wiring portions 29 is further increased.
  • the first planarizing film 20 is formed after the first interlayer insulating film 19 is formed, and the first planarizing film 20 is patterned (exposure / development).
  • the first interlayer insulating film 19 is patterned (etched) using the patterned first planarization film 20 as a mask (see FIG. 10).
  • the rising angle of the first interlayer insulating film end 19a of the first interlayer insulating film 19 is such that the first planarizing film 20 has a rising angle.
  • the first interlayer insulation film end 19a is not covered by the second planarization film 22
  • the first transparent There is a concern that the residue of the electrode film 24 is likely to be generated by the end portion 19a of the first interlayer insulating film.
  • the second planarization film end 22a of the second planarization film 22 is arranged closer to the input terminal section 28 than the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a.
  • the first interlayer insulating film end 19a and the first planarizing film end 20a are covered with the second planarizing film 22, and the residue of the first transparent electrode film 24 is left as the first interlayer insulating film end 19a. Therefore, it is difficult for the adjacent terminal wiring portions 29 to be short-circuited by the residue of the first transparent electrode film 24.
  • This embodiment has the structure as described above, and its operation will be described next. Since the liquid crystal display device 10 according to the present embodiment has a position input function, the user can perform position input with a finger based on an image displayed in the display area AA of the liquid crystal panel 11. Since the common electrode 11h provided on the array substrate 11b of the liquid crystal panel 11 is also the position detection electrode 27, a common potential (reference potential) serving as a reference for the potential of the pixel electrode 11g is applied by the driver 12 during display. At the time of position detection, a potential for forming a capacitance between the finger and the finger is applied by the driver 12. That is, the driver 12 controls driving of the liquid crystal panel 11 by dividing one unit period into a display period and a position detection period.
  • a scanning signal is supplied from the driver 12 to each gate line 11i, a data signal (image signal) is supplied to each source line 11j, and a common potential signal is supplied to each position detection line 11q. .
  • the data signal output from the driver 12 is transmitted to each source wiring 11j via each input terminal section 28 and each terminal wiring section 29, as shown in FIGS. .
  • a voltage corresponding to the data signal supplied to each source line 11j is supplied to the pixel electrode via the channel portion 11f4 of the TFT 11f. 11 g.
  • each pixel PX performs display with a predetermined gradation, and thus a predetermined image is displayed on the display area AA of the liquid crystal panel 11.
  • a position detection drive signal is supplied from the driver 12 to each position detection wiring 11q.
  • the driver 12 detects the capacitance of each position detection electrode 27 via each position detection wire 11q, the driver 12 extracts the detected capacitance from the detected capacitance, and the change is detected.
  • Position information relating to the input position is acquired based on the position detection wiring 11q that has transmitted the generated capacitance. Thereby, the input position by a user's finger
  • the array substrate (display substrate) 11b of this embodiment includes the display area AA that can display an image, the non-display area NAA that is arranged on the outer peripheral side so as to surround the display area AA, and the non-display area.
  • a plurality of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 are disposed on the upper side of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 at least in the non-display area NAA and straddle the first interlayer insulating film end 19a and the first planarizing film end 20a.
  • a second planarization film end (second insulating film end) 22a which is an end portion disposed on the upper layer side of the plurality of terminal wiring portions 29 so as to straddle the non-display area NAA.
  • the plurality of terminal wiring portions 29 connected to the plurality of input terminal portions 28 disposed in the non-display area NAA are disposed on the upper layer side of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a located between the input terminal portion 28 and the display area AA are disposed so as to straddle.
  • a portion of the plurality of terminal wiring portions 29 that does not overlap with the second planarizing film 22 disposed on the upper layer side is disposed on the upper layer side of the second planarizing film 22 and is formed of the first transparent electrode film 24.
  • the protection is achieved by being covered by the plurality of protection units 30.
  • a portion of the plurality of terminal wiring portions 29 that overlaps with the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 is compared with a portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the line width may be relatively large.
  • the distance between the adjacent terminal wiring portions 29 is greater than that between the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 than the portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the overlapping part is narrower.
  • the second planarization film 22 has the second planarization film end 22a disposed closer to the input terminal section 28 than the first interlayer insulation film end 19a and the first planarization film end 20a.
  • the portion overlapping the second planarization film end 22 a is non-overlapping with the first interlayer insulating film 19 and the first planarization film 20. The interval between 29 is relatively wide.
  • the second planarization film 22 is provided with a protrusion 31 that is disposed between the adjacent terminal wiring portions 29 and protrudes from the second planarization film end 22a toward the input terminal portion 28 side. .
  • the extended surface distance between the adjacent terminal wiring portions 29 at the second planarizing film end 22a is increased by the amount of the protrusion 31, so that the protective portion 30 is located near the second planarizing film end 22a.
  • the protrusions 31 are provided on the second planarization film 22 disposed on the upper layer side with respect to the plurality of terminal wiring portions 29, the protrusions 31 have high positional accuracy with respect to the plurality of terminal wiring portions 29. It is arranged with it.
  • the reason why such a high positional accuracy can be obtained is that the insulating film is generally patterned in such a manner that it is aligned with the wiring portion made of a metal film or the like on the lower layer side. Thereby, the certainty of prevention of the short circuit between the adjacent terminal wiring parts 29 becomes still higher.
  • a TFT (display element) 11f arranged in the display area AA and an upper layer side of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 in the display area AA are connected to the TFT 11f and are connected to the terminal wiring.
  • the TFT connection part (element connection part) 11p in the same layer as the part 29, and the opening OP is provided at a position overlapping the TFT connection part 11p while being arranged on the upper side of the second planarization film 22 in the display area AA.
  • the common electrode 11h made of the same first transparent electrode film 24 as the protection part 30 and the second flattening film at a position which is arranged on the upper layer side of the common electrode 11h at least in the display area AA and overlaps with the TFT connection part 11p. 22 and a second interlayer insulating film (third insulating film) 25 in which a second TFT contact hole (element contact hole) CH2 that communicates with the second interlayer insulating film 25 is formed on the upper side of the second interlayer insulating film 25 in the display area AA. It is provided with a pixel electrode 11g made of a 2TFT contact hole CH2 is connected to the TFT connected portion 11p through a second transparent electrode film (the second transparent electrode film) 26.
  • the pixel electrode 11g is connected to the TFT connection portion 11p through the second TFT contact hole CH2 communicating with each other in the second interlayer insulating film 25 and the second planarization film 22, and the TFT connection portion 11p is connected to the pixel electrode 11g.
  • connection to the TFT 11f is achieved. Since the pixel electrode 11g is arranged so as to overlap the common electrode 11h via the second interlayer insulating film 25, a potential difference is generated between the pixel electrode 11g and the common electrode 11h based on the potential supplied by the TFT 11f. Based on the potential difference, display with a predetermined gradation can be performed.
  • the common electrode 11h is provided with an opening OP at a position overlapping the TFT connection portion 11p, thereby preventing a short circuit with the pixel electrode 11g. Further, the common electrode 11h is formed by patterning the same first transparent electrode film 24 as that of the protective part 30, and the terminal wiring part 29 is covered with the protective part 30 during the patterning to protect the common electrode 11h. As a result, the terminal wiring part 29 is less likely to be deteriorated.
  • the common electrode 11h made of the same first transparent electrode film 24 as the protection part 30 needs to align the opening OP with the TFT connection part 11p in the same layer as the terminal wiring part 29.
  • the second planarization film 22 and the second interlayer insulating film 25 need to align the second TFT contact hole CH2 communicating with each other with respect to the TFT connection part 11p in the same layer as the terminal wiring part 29. Accordingly, the protrusions 31 and the protection parts 30 provided on the second planarization film 22 are arranged with high positional accuracy with respect to the plurality of terminal wiring parts 29, respectively. The certainty of preventing short circuit becomes even higher.
  • the common electrode 11h also serves as a position detection electrode 27 that forms a capacitance with a position input body that performs position input. In this way, the position input function can be built in the array substrate 11b.
  • the TFT 11f disposed in the display area AA and the source wiring (element wiring portion) disposed on the lower layer side than the first interlayer insulating film 19 and the first planarization film 20 in at least the display area AA and connected to the TFT 11f. ) 11j, and the terminal wiring portion 29 and the source wiring 11j have wiring overlapping portions 11j1 and 29a that overlap each other in the non-display area NAA, respectively, whereas the first interlayer insulating film 19 And in the 1st planarization film
  • the source wiring 11j disposed on the lower layer side than the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 and the upper layer side of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 are disposed.
  • the wiring overlapping portions 11j1 and 29a are connected to the terminal wiring portion 29 through the wiring contact hole CH3 of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the plurality of terminal wiring portions 29 are connected to the plurality of input terminal portions 28 across the first interlayer insulating film end 19a and the first planarizing film end 20a of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20.
  • the second planarization film end 22a of the second planarization film 22 is the first as described above.
  • the terminal wiring portions 29 adjacent to each other are short-circuited by the residue of the first transparent electrode film 24 by being disposed closer to the input terminal portion 28 than the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a. Things are unlikely to happen.
  • the first insulating film disposed on the lower layer side of the second planarizing film 22 is disposed on the upper layer side with respect to the first interlayer insulating film (lower layer side first insulating film) 19 and the first interlayer insulating film 19.
  • the first planarizing film (upper layer side first insulating film) 20 is formed.
  • the first interlayer insulating film 19 is composed of the first interlayer insulating film 19 and the first planarizing film 20 as a mask
  • the rising angle of the first interlayer insulating film 19 is steeper than the rising angle of the first planarizing film 20 at the end of the first insulating film. Therefore, although there is a concern that the residue of the first transparent electrode film 24 is generated in the first interlayer insulating film end 19a, the end of the second planarizing film 22 of the second planarizing film 22 as described above.
  • the portion 22a is disposed closer to the input terminal portion 28 than the first interlayer insulating film end 19a and the first planarization film end 20a, so that the adjacent terminal wiring portions 29 are residues of the first transparent electrode film 24. It is difficult for a short circuit to occur.
  • the liquid crystal panel (display device) 11 of the present embodiment includes the above-described array substrate 11b and a CF substrate (counter substrate) 11a arranged in a form facing the array substrate 11b. According to the liquid crystal panel 11 having such a configuration, the reliability of the short-circuit prevention in the array substrate 11b is high, and thus the operation reliability is excellent.
  • the second planarizing film 122 has a portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarizing film 120.
  • the film thickness is relatively thinner than the portion overlapping 119 and the first planarization film 120.
  • a portion of the second planarizing film 122 that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarizing film 120 includes the second planarizing film end 122a.
  • the rising angle ⁇ 2 of the flattening film end 122a is gentler than the rising angle ⁇ 1 (see FIG. 10) of the second flattening film end 22a described in the first embodiment.
  • the residue of the first transparent electrode film 124 is less likely to occur in the vicinity of the second planarization film end 122a. Therefore, the reliability of preventing a short circuit between the adjacent terminal wiring portions 129 is further increased.
  • the protrusion 31 (see FIG. 9) described in the first embodiment is omitted with the above configuration.
  • the second planarization film 122 whose film thickness changes in two stages is formed as follows when the array substrate 111b is manufactured. That is, the method for manufacturing the array substrate 111b includes a second planarization film forming step for forming the second planarization film 122, and the second planarization film formation step includes a positive photosensitive material.
  • the gray tone mask GM used in the exposure step includes a transparent glass substrate GMGS, a light shielding film GMBM that is formed on the plate surface of the glass substrate GMGS, and shields exposure light from the light source, Consists of.
  • the light shielding film GMBM an opening GMBMMa having a resolution higher than that of the exposure apparatus and a slit GMBMb having a resolution lower than that of the exposure apparatus are formed.
  • the light shielding film GMBM is formed at a position that overlaps the planned formation position of the portion overlapping the first interlayer insulating film 119 and the first planarization film 120 in the solid second planarization film 122.
  • the opening GMBMa is a position in the solid second planarizing film 122 that is not overlapped with the patterned second planarizing film 122 (a portion closer to the input terminal than the second planarizing film end 122a). ). A similar opening is also formed at a position overlapping a position where a second TFT contact hole (not shown) is formed (see FIGS. 6 and 7).
  • the opening GMBMa is a transmission area TA in which the transmittance of exposure light is approximately 100%.
  • the slit GMBMb is a portion of the solid second planarizing film 122 that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarizing film 120 (including the second planarizing film end 122a).
  • the slits GMBMb are arranged at positions adjacent to the display area AA in the Y-axis direction with respect to the opening GMBMa, and a plurality of the slits GMBMb are arranged side by side at intervals.
  • These slits GMBMb group are semi-transmissive areas HTA in which the exposure light transmittance is, for example, about 10% to 70%.
  • the ultraviolet light that is the exposure light from the light source is irradiated to the solid second planarizing film 122 through the gray tone mask GM, 2
  • the amount of irradiation light is relatively large, whereas in the portion that overlaps the slit GMBMb group (semi-transmission region HTA), the amount of irradiation light is relatively Less.
  • the second planarizing film 122 has a relative thickness of a portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarizing film 120, as shown in FIG.
  • the thickness of the portion overlapping the first interlayer insulating film 119 and the first planarization film 120 is relatively large.
  • the second planarization film 122 having portions having different film thicknesses can be formed by performing the exposure process once, so that an effect of shortening the time required for manufacturing can be obtained.
  • the portion of the second planarizing film 122 that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarizing film 120 is the first interlayer insulating film 119 and The film thickness is relatively thinner than the portion overlapping the first planarization film 120.
  • the rising angle of the second planarization film end 122a which is a portion of the second planarization film 122 that does not overlap with the first interlayer insulating film 119 and the first planarization film 120, is moderate. Therefore, the residue of the first transparent electrode film 124 is less likely to occur in the vicinity of the second planarization film end 122a. Thereby, the certainty of the short circuit prevention between the adjacent terminal wiring parts 129 becomes still higher.
  • the second planarizing film 222 is disposed between adjacent terminal wiring portions 229 and is directed from the second planarizing film end portion 222 a toward the input terminal portion side.
  • a portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 219 and the first planarizing film 220 overlaps with the first interlayer insulating film 219 and the first planarizing film 220.
  • the film thickness is relatively thinner than that of the portion.
  • the portion of the second planarizing film 222 that does not overlap with the first interlayer insulating film 219 and the first planarizing film 220 includes a portion including the second planarizing film end 222 a and the protrusion 231.
  • the rising angles of the second planarization film end 222a and the protrusion 231 are each gentler. Therefore, when patterning the first transparent electrode film 224 that constitutes the protection unit 230 and the like in the manufacture of the array substrate 211b, the residue of the first transparent electrode film 224 is generated in the vicinity of the second planarization film end 222a and the protrusions 231. Therefore, the reliability of short circuit prevention between the adjacent terminal wiring portions 229 is further increased.
  • the second planarization film 322 is formed from a positive photosensitive material in the film formation process included in the second planarization film formation process, and then in the exposure process.
  • a halftone mask HM is used as a photomask. As shown in FIG. 19, the halftone mask HM includes a transparent glass substrate HMGS, a light shielding film HMBM that is formed on the plate surface of the glass substrate HMGS and shields exposure light from a light source, and a glass substrate HMGS.
  • a semi-transmissive film HMHT formed on a plate surface and transmitting exposure light from a light source with a predetermined transmittance.
  • the light-shielding film HMBM has an exposure light transmittance of approximately 0%, of which a portion overlapping the first interlayer insulating film 319 and the first planarizing film 320 in the solid second planarizing film 322 is formed.
  • An opening HMBMa is formed at a position overlapping the planned position.
  • the semi-transmissive film HMHT is formed so as to be laminated on the side opposite to the glass substrate HMGS side with respect to the light shielding film HMBM, and the transmittance of exposure light is, for example, about 10% to 70%.
  • an opening HMHTa is formed at a position where it does not overlap with the patterned second flattening film 322 (a portion closer to the input terminal portion than the second flattening film end 322a). ing. That is, in the glass substrate HMGS of the halftone mask HM, the portion of the second planarization film 322 that does not overlap with the first interlayer insulating film 319 and the first planarization film 320 (second planarization film end).
  • the light shielding film HMBM does not exist, and only the semi-transmissive film HMHT exists at a position overlapping the planned formation position of the portion including the portion 322a), and the transmittance of the exposure light is, for example, 10% to 70%.
  • the semi-transmission area HTA is set to a certain extent.
  • the semi-transmissive area HTA is a range that does not overlap with the opening HMHTa of the semi-transmissive film HMHT among the openings HMBMa of the light shielding film HMBM.
  • the opening HMHTa of the semi-transmissive film HMHT is a transmissive area TA in which the exposure light transmittance is almost 100%.
  • the ultraviolet light which is the exposure light from the light source
  • the amount of irradiation light is relatively large
  • the semi-transmissive film The amount of irradiation light is relatively small in a portion that overlaps a non-overlapping range (semi-transmissive region HTA) with the opening HMHTa of HMHT.
  • the second planarization film 322 has a relatively thin film thickness in a portion that does not overlap with the first interlayer insulating film 319 and the first planarization film 320.
  • the thickness of the portion overlapping with the interlayer insulating film 319 and the first planarization film 320 becomes relatively thick.
  • the second planarization film 322 having portions having different film thicknesses can be formed by performing the exposure process once, so that an effect of shortening the time required for manufacturing can be obtained.
  • the terminal wiring portion is connected to the source wiring.
  • the terminal wiring portion is connected to a wiring other than the source wiring such as the gate wiring and the position detection wiring. It doesn't matter.
  • planar shape of the protrusion provided on the second planarization film is a triangle
  • planar shape of the protrusion is other than a triangle.
  • a trapezoidal shape, a circular shape (semi-circular shape), an elliptical shape (semi-elliptical shape), a rectangular shape, a pentagonal polygon or more may be used.
  • the photosensitive material constituting the second planarization film can be a negative type.
  • the transmission region in the halftone mask or the graytone mask is arranged at a position overlapping at least a portion of the second planarizing film that overlaps with a planned formation position of a portion overlapping with the first interlayer insulating film and the first planarizing film. What should I do?
  • the in-cell type in which the touch panel pattern (position detection electrode and position detection wiring) is built in the liquid crystal panel is shown. It doesn't matter. In particular, in an out-cell type liquid crystal panel, the liquid crystal panel does not have a position detection function (touch panel pattern).
  • liquid crystal panel whose planar shape is rectangular has been described.
  • present invention can also be applied to a liquid crystal panel whose planar shape is square, circular, elliptical, or the like.
  • the semiconductor film constituting the channel portion of the TFT is made of an oxide semiconductor material
  • polysilicon polycrystallized silicon (polycrystal It is also possible to use CG silicon (ContinuousconGrain Silicon), which is a kind of silicon), or amorphous silicon as a material for the semiconductor film.
  • CG silicon ContinuousconGrain Silicon
  • the liquid crystal panel in which the operation mode is the FFS mode is illustrated, but other than that, there are other modes such as an IPS (In-Plane Switching) mode and a VA (Vertical Alignment) mode.
  • IPS In-Plane Switching
  • VA Very Alignment
  • the present invention can also be applied to a liquid crystal panel in the operation mode.
  • the color filter of the liquid crystal panel is exemplified as a three-color configuration of red, green, and blue.
  • a yellow colored portion is added to each colored portion of red, green, and blue.
  • the present invention can also be applied to a color filter having a four-color configuration.
  • the TFT is used as the switching element of the liquid crystal panel.
  • the present invention can be applied to a liquid crystal panel using a switching element other than the TFT (for example, a thin film diode (TFD)), and performs color display.
  • a switching element other than the TFT for example, a thin film diode (TFD)
  • the present invention can also be applied to a liquid crystal panel that displays black and white.
  • the liquid crystal panel is exemplified.
  • PDP plasma display panel
  • organic EL panel organic EL panel
  • EPD electrotrophoretic display panel
  • MEMS Micro Electro Electro Mechanical Systems
  • first planarization film edge first insulation film edge
  • Second planarizing film second insulating film
  • 22a second insulating film end
  • 24, 12 , 224 ... first transparent electrode film (transparent electrode film), 25 ... second interlayer insulating film (third insulating film), 26 ... second transparent electrode film (second transparent electrode film), 27 ... Position detection electrode, 28 ... Input terminal part (terminal part), 29, 129, 229 ... Terminal wiring part, 29a ... Wiring superposition part, 30, 130, 230 ... Protection part 31, 231... Projection, AA... Display area, CH 2... Second TFT contact hole (element contact hole), CH 3... Wiring contact hole, NAA. .Aperture

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Abstract

アレイ基板11bは、複数の入力端子部28と、第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aが複数の入力端子部28と表示領域AAとの間に配される第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に配されて第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aを跨ぎつつ複数の入力端子部28に接続される複数の端子配線部29と、複数の端子配線部29の上層側に配されて第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配される第2平坦化膜22と、第2平坦化膜22の上層側に配されて複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜22とは非重畳となる部分をそれぞれ覆う複数の保護部30と、を備える。

Description

表示基板及び表示装置
 本発明は、表示基板及び表示装置に関する。
 従来の液晶表示装置に用いられる液晶パネルの一例として下記特許文献1に記載されたものが知られている。この特許文献1に記載された液晶パネルを構成するアクティブ素子アレイ基板は、層間絶縁膜端部に、隣り合う実装端子の間に凸部を設けるようにしており、それにより層間絶縁膜が厚く形成されている場合であっても後工程でのレジスト残渣を無くすようにしている。
特開平11-24101号公報
(発明が解決しようとする課題)
 上記した特許文献1に記載されたアクティブ素子アレイ基板においては、製造時の露光ムラなどに起因して実装端子及びその上層側に重なる画素電極材料のうち、層間絶縁膜と重畳する部分付近が想定よりも太くなる場合があり、さらにはアライメントずれに起因して凸部が実装端子に対して位置ずれする場合がある。このような場合には、凸部がその機能を十分に発揮できず、隣り合う実装端子同士が画素電極材料の残渣によって短絡されるおそれがあった。
 本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、短絡防止の確実性を向上させることを目的とする。
(課題を解決するための手段)
 本発明の表示基板は、画像を表示可能な表示領域と、前記表示領域を取り囲む形で外周側に配される非表示領域と、前記非表示領域に配される複数の端子部と、前記表示領域と前記非表示領域とに跨る形で配されて端部である第1絶縁膜端部が複数の前記端子部と前記表示領域との間に配される第1絶縁膜と、少なくとも前記非表示領域にて前記第1絶縁膜の上層側に配されて前記第1絶縁膜端部を跨ぎつつ複数の前記端子部に接続される複数の端子配線部と、前記表示領域と前記非表示領域とに跨る形で複数の前記端子配線部の上層側に配されて端部である第2絶縁膜端部が前記第1絶縁膜端部よりも前記端子部側に配される第2絶縁膜と、少なくとも前記非表示領域において前記第2絶縁膜の上層側に配されて透明電極膜からなり複数の前記端子配線部のうち前記第2絶縁膜とは非重畳となる部分をそれぞれ覆う複数の保護部と、を備える。
 このように、非表示領域に配される複数の端子部に接続される複数の端子配線部は、第1絶縁膜の上層側に配されて端子部と表示領域との間に位置する第1絶縁膜端部を跨ぐ形で配されている。複数の端子配線部のうち上層側に配される第2絶縁膜とは非重畳となる部分は、第2絶縁膜の上層側に配されて透明電極膜からなる複数の保護部によってそれぞれ覆われることで保護が図られている。複数の端子配線部のうち第1絶縁膜と重畳する部分は、第1絶縁膜とは非重畳となる部分に比べると、パターニングに際して行われる露光において露光ムラが生じ易く、線幅が相対的に太くなる場合がある。そうなると、隣り合う端子配線部の間の間隔は、第1絶縁膜とは非重畳となる部分よりも第1絶縁膜と重畳する部分の方が狭いものとなる。ここで、仮に複数の端子配線部のうち第1絶縁膜端部と重畳する部分が第2絶縁膜により覆われない構成とされた場合には、保護部となる透明電極膜をパターニングする際に透明電極膜の残渣が第1絶縁膜端部付近に生じ易くなるため、その残渣によって複数の端子配線部のうち第1絶縁膜端部と重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部の間の間隔が相対的に狭くなる部分が短絡されることが懸念される。
 その点、第2絶縁膜は、第2絶縁膜端部が第1絶縁膜端部よりも端子部側に配されているので、複数の端子配線部のうち第1絶縁膜端部と重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部の間の間隔が相対的に狭くなる部分が第2絶縁膜によって覆われることになる。複数の端子配線部のうち第2絶縁膜端部と重畳する部分は、第1絶縁膜とは非重畳となっているので、隣り合う端子配線部間の間隔が相対的に広くなっている。従って、透明電極膜のパターニングに際して透明電極膜の残渣が第2絶縁膜端部付近に生じたとしても、その残渣によって複数の端子配線部のうち第2絶縁膜端部と重畳する部分が短絡される事態が生じ難いものとされる。
 本発明の実施態様として、次の構成が好ましい。
(1)前記第2絶縁膜には、隣り合う前記端子配線部の間に配されて前記第2絶縁膜端部から前記端子部側に向けて突出する突部が設けられている。このようにすれば、第2絶縁膜端部における隣り合う端子配線部間の延面距離が突部の分だけ長くなるので、第2絶縁膜端部付近に保護部となる透明電極膜の残渣が生じることになっても、透明電極膜の残渣が隣り合う端子配線部間に跨る形でより生じ難いものとなる。しかも、突部が複数の端子配線部に対して上層側に配される第2絶縁膜に設けられているので、突部が複数の端子配線部に対して高い位置精度でもって配置されるようになっている。このような高い位置精度が得られる理由は、一般的に絶縁膜は下層側の金属膜などからなる配線部に対してアライメントをとる形でパターニングされるためである。これにより、隣り合う端子配線部間の短絡防止の確実性が一層高いものとなる。
(2)前記表示領域に配される表示素子と、前記表示領域にて前記第1絶縁膜の上層側に配されて前記表示素子に接続されるとともに前記端子配線部と同層の素子接続部と、前記表示領域にて前記第2絶縁膜の上層側に配されるとともに前記素子接続部と重畳する位置に開口部が設けられて前記保護部と同じ透明電極膜からなる共通電極と、少なくとも前記表示領域にて前記共通電極の上層側に配されて前記素子接続部と重畳する位置に前記第2絶縁膜にも連通する素子コンタクトホールが形成されてなる第3絶縁膜と、前記表示領域にて前記第3絶縁膜の上層側に配され前記素子コンタクトホールを通して前記素子接続部に接続されて第2の透明電極膜からなる画素電極と、を備える。このようにすれば、画素電極は、第3絶縁膜及び第2絶縁膜において相互に連通する素子コンタクトホールを通して素子接続部に接続され、この素子接続部を介して表示素子に対する接続が図られている。画素電極は、共通電極に対して第3絶縁膜を介して重畳する形で配されているので、表示素子によって供給される電位に基づいて共通電極との間に電位差が生じるとともにその電位差に基づいて所定の階調の表示を行うことができる。共通電極には、素子接続部と重畳する位置に開口部が設けられることで、画素電極との短絡防止が図られている。また、共通電極は、保護部と同じ透明電極膜をパターニングして形成されており、そのパターニングに際して端子配線部が保護部によって覆われて保護が図られることで、パターニングに伴って生じ得る端子配線部の劣化が生じ難いものとなる。
 このように、保護部と同じ透明電極膜からなる共通電極は、その開口部を端子配線部と同層の素子接続部に対してアライメントをとる必要があるのに対し、第2絶縁膜及び第3絶縁膜は、相互に連通する素子コンタクトホールを端子配線部と同層の素子接続部に対してアライメントをとる必要がある。従って、第2絶縁膜に設けられる突部及び保護部は、それぞれ複数の端子配線部に対して高い位置精度でもって配置されることになるので、隣り合う端子配線部間の短絡防止の確実性がより一層高いものとなる。
(3)前記共通電極は、位置入力を行う位置入力体との間で静電容量を形成する位置検出電極を兼用している。このようにすれば、当該表示基板に位置入力機能を内蔵させることができる。
(4)前記第2絶縁膜のうち、前記第1絶縁膜とは非重畳となる部分が、前記第1絶縁膜と重畳する部分よりも膜厚が相対的に薄い。このようにすれば、第2絶縁膜のうち、第1絶縁膜とは非重畳となる部分である第2絶縁膜端部の立ち上がり角度が緩やかなものとなるので、第2絶縁膜端部付近において透明電極膜の残渣がより生じ難いものとなる。これにより、隣り合う端子配線部間の短絡防止の確実性が一層高いものとなる。
(5)前記表示領域に配される表示素子と、少なくとも前記表示領域にて前記第1絶縁膜よりも下層側に配されて前記表示素子に接続される素子配線部と、を備えており、前記端子配線部及び前記素子配線部は、前記非表示領域にて互いに重畳する配線重畳部をそれぞれ有しているのに対し、前記第1絶縁膜のうち、前記配線重畳部と重畳する位置には、前記配線重畳部同士を接続する配線コンタクトホールが設けられている。このように、第1絶縁膜よりも下層側に配される素子配線部と、第1絶縁膜の上層側に配される端子配線部とは、第1絶縁膜の配線コンタクトホールを通して配線重畳部同士が接続されている。複数の端子配線部は、第1絶縁膜の第1絶縁膜端部を跨いで複数の端子部に接続されているため、透明電極膜の残渣によって隣り合うもの同士が短絡されることが懸念されるものの、上記のように第2絶縁膜の第2絶縁膜端部が第1絶縁膜端部よりも端子部側に配されることで、隣り合う端子配線部同士が透明電極膜の残渣によって短絡される事態が生じ難いものとされる。
(6)前記第1絶縁膜は、下層側第1絶縁膜と、前記下層側第1絶縁膜に対して上層側に配される上層側第1絶縁膜と、から構成されている。このように、第1絶縁膜が下層側第1絶縁膜と上層側第1絶縁膜とから構成される二層構造においては、例えば下層側第1絶縁膜が上層側第1絶縁膜をマスクとして利用してパターニングされると、第1絶縁膜端部において下層側第1絶縁膜の立ち上がり角度が上層側第1絶縁膜の立ち上がり角度よりも急になりがちであるため、透明電極膜の残渣が第1絶縁膜端部における下層側第1絶縁膜に生じることが懸念されるものの、上記のように第2絶縁膜の第2絶縁膜端部が第1絶縁膜端部よりも端子部側に配されることで、隣り合う端子配線部同士が透明電極膜の残渣によって短絡される事態が生じ難いものとされる。
 次に、上記課題を解決するために、本発明の表示装置は、上記記載の表示基板と、前記表示基板と対向する形で配される対向基板と、を備える。このような構成の表示装置によれば、表示基板における短絡防止の確実性が高いものとされているから、動作信頼性などに優れる。
(発明の効果)
 本発明によれば、短絡防止の確実性を向上させることができる。
本発明の実施形態1に係る液晶表示装置を構成する液晶パネルの平面図 液晶パネルを構成するアレイ基板における共通電極の平面配置を表す平面図 液晶パネルの表示領域における断面構成を示す概略断面図 液晶パネルを構成するアレイ基板の表示領域における配線構成を概略的に示す平面図 液晶パネルを構成するCF基板の表示領域における配線構成を概略的に示す平面図 図4のvi-vi線断面図 図4のvii-vii線断面図 液晶パネルを構成するアレイ基板の非表示領域における配線構成を概略的に示す平面図 図8の拡大平面図 図9のx-x線断面図 図9のxi-xi線断面図 本発明の実施形態2に係る液晶パネルを構成するアレイ基板の非表示領域における配線構成を概略的に示す拡大平面図 図12のxiii-xiii線断面図 液晶パネルを構成するアレイ基板の製造に際してグレートーンマスクを介して第2平坦化膜を露光する露光工程を説明するための断面図 液晶パネルを構成するアレイ基板の製造に際して第2平坦化膜を現像する現像工程を説明するための断面図 本発明の実施形態3に係る液晶パネルを構成するアレイ基板の非表示領域における配線構成を概略的に示す拡大平面図 図16のxvii-xvii線断面図 図16のxviii-xviii線断面図 本発明の実施形態4に係る液晶パネルを構成するアレイ基板の製造に際してハーフトーンマスクを介して第2平坦化膜を露光する露光工程を説明するための断面図
 <実施形態1>
 本発明の実施形態1を図1から図11によって説明する。本実施形態では、位置入力機能を備えた液晶表示装置10に備えられる液晶パネル(表示装置、表示パネル)11について例示する。なお、各図面の一部にはX軸、Y軸及びZ軸を示しており、各軸方向が各図面で示した方向となるように描かれている。また、図3,図6及び図7などの上側を表側とし、同図下側を裏側とする。
 液晶表示装置10は、全体として長方形状をなしており、図1に示すように、画像を表示可能な液晶パネル11を備えるとともに、液晶パネル11に対して裏側に配されて液晶パネル11に表示のための光を照射する外部光源であるバックライト装置(照明装置)などを備える。以下では、液晶表示装置10の構成部品に関して、液晶パネル11に関して詳しく説明するものの、バックライト装置などの他の構成部品に関しては周知の通りであるから、詳しい説明は割愛する。
 液晶パネル11は、図1に示すように、全体として縦長な方形状(矩形状)をなしており、その長辺方向における一方の端部側(図1に示す上側)に片寄った位置に画像が表示される表示領域(アクティブエリア)AAが配されるとともに、長辺方向における他方の端部側(図1に示す下側)に片寄った位置に、各種信号などを供給するためのドライバ12及びフレキシブル基板13がそれぞれ取り付けられている。この液晶パネル11において表示領域AA外の領域が、画像が表示されない非表示領域(ノンアクティブエリア)NAAとされ、この非表示領域NAAは、表示領域AAを取り囲む略枠状の領域(後述するCF基板11aにおける額縁部分)と、長辺方向の他方の端部側に確保された領域(後述するアレイ基板11bのうちCF基板11aとは重畳せずに露出する部分)と、からなり、このうちの長辺方向の他方の端部側に確保された領域にドライバ12及びフレキシブル基板13の実装領域(取付領域)が含まれている。液晶パネル11は、その短辺方向がX軸方向と一致し、長辺方向がY軸方向と一致し、さらには板面(表示面)の法線方向がZ軸方向と一致している。また、フレキシブル基板13における液晶パネル11側とは反対側の端部には、信号供給源であるコントロール基板(制御回路基板)14が接続されている。なお、図1では、枠状の一点鎖線が表示領域AAの外形を表しており、当該一点鎖線よりも外側の領域が非表示領域NAAとなっている。
 続いて、液晶パネル11に実装または接続される部材(ドライバ12、フレキシブル基板13及びコントロール基板14)について順次に説明する。ドライバ12は、図1に示すように、内部に駆動回路を有するLSIチップからなるものとされ、コントロール基板14から供給される信号に基づいて作動することで、出力信号を生成し、その出力信号を液晶パネル11の表示領域AAへ向けて出力するものとされる。このドライバ12は、平面に視て横長の方形状をなす(液晶パネル11の短辺に沿って長手状をなす)とともに、液晶パネル11(後述するアレイ基板11b)の非表示領域NAAに対して直接実装され、つまりCOG(Chip On Glass)実装されている。なお、ドライバ12の長辺方向がX軸方向(液晶パネル11の短辺方向)と一致し、同短辺方向がY軸方向(液晶パネル11の長辺方向)と一致している。
 フレキシブル基板13は、図1に示すように、絶縁性及び可撓性を有する合成樹脂材料(例えばポリイミド系樹脂等)からなる基材を備え、その基材上に多数本の配線パターン(図示せず)を有しており、長さ方向についての一方の端部が既述した通りコントロール基板14に接続されるのに対し、他方の端部(他端側)が液晶パネル11(後述するアレイ基板11b)に接続されている。このため、フレキシブル基板13は、液晶表示装置10内では断面形状が略U型となるよう折り返し状に屈曲されている。フレキシブル基板13における長さ方向についての両端部においては、配線パターンが外部に露出して端子部(図示せず)を構成しており、これらの端子部がそれぞれコントロール基板14及び液晶パネル11に対して電気的に接続されている。これにより、コントロール基板14側から供給される信号を液晶パネル11側に伝送することが可能とされている。
 コントロール基板14は、図1に示すように、バックライト装置における裏側に配置される。このコントロール基板14は、紙フェノールないしはガラスエポキシ樹脂製の基板上に、ドライバ12に各種信号を供給するための電子部品が実装されるとともに、図示しない所定のパターンの配線(導電路)が配索形成されている。このコントロール基板14には、フレキシブル基板13の一方の端部(一端側)が図示しないACF(Anisotropic Conductive Film)を介して電気的に且つ機械的に接続されている。
 改めて、液晶パネル11について説明する。液晶パネル11は、図3に示すように、一対の基板11a,11bと、両基板11a,11b間の内部空間に配されて電界印加に伴って光学特性が変化する物質である液晶分子を含む液晶層(媒質層)11cと、を有しており、液晶層11cが両基板11a,11b間に介在する図示しないシール部によって取り囲まれて封止が図られている。一対の基板11a,11bのうち表側(正面側)がCF基板(対向基板)11aとされ、裏側(背面側)がアレイ基板(表示基板、アクティブマトリクス基板、素子基板)11bとされる。CF基板11a及びアレイ基板11bは、いずれもガラス製のガラス基板の内面側に各種の膜が積層形成されてなるものとされる。なお、両基板11a,11bの外面側には、それぞれ偏光板11d,11eが貼り付けられている。
 アレイ基板11bの内面側(液晶層11c側、CF基板11aとの対向面側)における表示領域AAには、図4及び図6に示すように、スイッチング素子であるTFT(Thin Film Transistor:表示素子)11f及び画素電極11gが多数個マトリクス状(行列状)に並んで設けられるとともに、これらTFT11f及び画素電極11gの周りには、格子状をなすゲート配線(走査線)11i及びソース配線(データ線、信号線、素子配線部)11jが取り囲むようにして配設されている。ゲート配線11iとソース配線11jとがそれぞれTFT11fのゲート電極11f1とソース電極11f2とに接続され、画素電極11gがTFT11fのドレイン電極11f3に接続されている。そして、TFT11fは、ゲート配線11i及びソース配線11jにそれぞれ供給される各種信号に基づいて駆動され、その駆動に伴って画素電極11gへの電位の供給が制御されるようになっている。このTFT11fは、ドレイン電極11f3とソース電極11f2とを繋ぐチャネル部11f4を有している。なお、本実施形態では、各図面においてゲート配線11iの延在方向がX軸方向と、ソース配線11jの延在方向がY軸方向と、それぞれ一致するものとされている。画素電極11gは、ゲート配線11i及びソース配線11jにより囲まれた方形の領域に配されており、複数本のスリットが形成されている。この画素電極11gは、TFT11fのドレイン電極11f3に対してTFT接続部(素子接続部)11pを介して接続されている。また、アレイ基板11bの内面側には、画素電極11gに加えて共通電極11hが設けられており、両電極11g,11h間に電位差が生じると、液晶層11cには、アレイ基板11bの板面に沿う成分に加えて、アレイ基板11bの板面に対する法線方向の成分を含むフリンジ電界(斜め電界)が印加されるようになっている。つまり、この液晶パネル11は、動作モードがIPS(In-Plane Switching)モードをさらに改良したFFS(Fringe Field Switching)モードとされている。
 アレイ基板11bの内面側には、既知のフォトリソグラフィ法によって各種の膜が積層形成されており、これらの膜について説明する。アレイ基板11bには、図6及び図7に示すように、下層(ガラス基板)側から順に第1金属膜(ゲート金属膜)15、ゲート絶縁膜(絶縁膜)16、半導体膜17、第2金属膜(ソース金属膜)18、第1層間絶縁膜(下層側第1絶縁膜、第1絶縁膜)19、第1平坦化膜(上層側第1絶縁膜、第1絶縁膜)20、第3金属膜(素子接続金属膜)21、第2平坦化膜(第2絶縁膜)22、第4金属膜23(位置検出配線金属膜)、第1透明電極膜(下層側透明電極膜)24、第2層間絶縁膜(第3絶縁膜)25、第2透明電極膜(上層側透明電極膜)26が積層形成されている。なお、図6及び図7では、第2透明電極膜26のさらに上層側に積層される配向膜11oの図示を省略している。
 第1金属膜15は、例えばチタン(Ti)層/アルミニウム(Al)層/チタン層の3層の積層膜により形成されている。第1金属膜15は、主にゲート配線11iを構成している。ゲート絶縁膜16は、図6及び図7に示すように、少なくとも第1金属膜15の上層側に積層されるものであり、例えば無機材料である酸化珪素(SiO)からなる。ゲート絶縁膜16は、第1金属膜15(ゲート配線11i)と第2金属膜18(ソース配線11j)との間に介在して相互を絶縁している。半導体膜17は、ゲート絶縁膜16の上層側に積層されるものであり、材料として酸化物半導体を用いた薄膜からなるものとされる。半導体膜17は、主にTFT11fのチャネル部11f4を構成している。半導体膜17をなす具体的な酸化物半導体としては、例えば、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、亜鉛(Zn)、酸素(O)を含むIn-Ga-Zn-O系半導体(酸化インジウムガリウム亜鉛)が用いられている。ここで、In-Ga-Zn-O系半導体は、In(インジウム)、Ga(ガリウム)、Zn(亜鉛)の三元系酸化物であって、In、Ga及びZnの割合(組成比)は特に限定されず、例えばIn:Ga:Zn=2:2:1、In:Ga:Zn=1:1:1、In:Ga:Zn=1:1:2等を含む。本実施形態では、In、GaおよびZnを1:1:1の割合で含むIn-Ga-Zn-O系半導体を用いる。このような酸化物半導体(In-Ga-Zn-O系半導体)は、アモルファスでもよいが、好ましくは結晶質部分を含む結晶性を有するものとされる。結晶性を有する酸化物半導体としては、例えば、c軸が層面に概ね垂直に配向した結晶質In-Ga-Zn-O系半導体が好ましい。このような酸化物半導体(In-Ga-Zn-O系半導体)の結晶構造は、例えば、特開2012-134475号公報に開示されている。参考のために、特開2012-134475号公報の開示内容の全てを本明細書に援用する。
 第2金属膜18は、図6及び図7に示すように、少なくとも半導体膜17の上層側に積層されるものであり、第1金属膜15と同様に、例えばチタン層/アルミニウム層/チタン層の3層の積層膜により形成されている。第2金属膜18は、主にソース配線11j、ソース電極11f2及びドレイン電極11f3を構成している。第1層間絶縁膜19は、少なくとも第2金属膜18の上層側に積層されるものであり、例えば無機材料である酸化シリコン(SiO)からなる。第1平坦化膜20は、第1層間絶縁膜19の上層側に積層されるものであり、例えば有機樹脂材料であるアクリル系樹脂材料(例えばポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA))からなる。第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20は、第2金属膜18及び半導体膜17と第3金属膜21との間に介在して相互を絶縁している。第3金属膜21は、少なくとも第1平坦化膜20の上層側に積層されるものであり、第1金属膜15及び第2金属膜18と同様に、例えばチタン層/アルミニウム層/チタン層の3層の積層膜により形成されている。第3金属膜21は、表示領域AAでは主にTFT接続部11pを構成しているが、非表示領域NAAでは後述する入力端子部28及び端子配線部29を構成している。
 第2平坦化膜22は、図6及び図7に示すように、第3金属膜21及び第1平坦化膜20の上層側に積層されるものであり、第1平坦化膜20と同様に、例えば有機樹脂材料であるアクリル系樹脂材料(例えばポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA))からなる。第2平坦化膜22は、第3金属膜21と第4金属膜23及び第1透明電極膜24との間に介在して相互を絶縁している。第4金属膜23は、少なくとも第2平坦化膜22の上層側に積層されるものであり、第1金属膜15、第2金属膜18及び第3金属膜21と同様に、例えばチタン層/アルミニウム層/チタン層の3層の積層膜により形成されている。第4金属膜23は、主に後述する位置検出配線11qを構成している。第1透明電極膜24は、第4金属膜23及び第1平坦化膜20の上層側に積層されるものであり、ITO(Indium Tin Oxide)或いはZnO(Zinc Oxide)といった透明電極材料からなる。第1透明電極膜24は、表示領域AAでは主に共通電極11hを構成しているが、非表示領域NAAでは後述する保護部30を構成している。第2層間絶縁膜25は、少なくとも第1透明電極膜24の上層側に積層されるものであり、無機材料である窒化シリコン(SiN)からなる。第2層間絶縁膜25は、第1透明電極膜24と第2透明電極膜26との間に介在して相互を絶縁している。第2透明電極膜26は、第2層間絶縁膜25の上層側に積層されるものであり、第1透明電極膜24と同様に、ITO(Indium Tin Oxide)或いはZnO(Zinc Oxide)といった透明電極材料からなる。第2透明電極膜26は、主に画素電極11gを構成している。上記した各絶縁膜16,19,20,22,25のうち、第1平坦化膜20及び第2平坦化膜22は、共に有機絶縁膜とされていてその膜厚が他の絶縁膜(無機絶縁膜)16,19,25に比べて厚いものとされ、表面を平坦化する機能を有する。上記した各絶縁膜16,19,20,22,25のうち、第1平坦化膜20及び第2平坦化膜22を除いたゲート絶縁膜16、第1層間絶縁膜19及び第2層間絶縁膜25は、それぞれ無機絶縁膜であり、その膜厚が有機絶縁膜である第1平坦化膜20及び第2平坦化膜22よりも薄いものとされる。
 TFT接続部(素子接続部)11pは、図4に示すように、縦長の方形状をなすとともに、TFT11fのドレイン電極11f3と画素電極11gとの双方に対して平面に視て重畳する平面配置とされている。そして、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20のうち、TFT接続部11p及びドレイン電極11f3の双方と重畳する位置には、図7に示すように、第1TFTコンタクトホール(第1素子コンタクトホール)CH1が開口形成されており、この第1TFTコンタクトホールCH1を通して上層側のTFT接続部11pが下層側のドレイン電極11f3に対して接続されている。一方、第2平坦化膜22及び第2層間絶縁膜25のうち、TFT接続部11p及びドレイン電極11f3の双方と重畳し且つ第1TFTコンタクトホールCH1とは非重畳となる位置には、図6に示すように、第2TFTコンタクトホール(第2素子コンタクトホール、素子コンタクトホール)CH2が開口形成されており、この第2TFTコンタクトホールCH2を通して上層側の画素電極11gが下層側のTFT接続部11pに対して接続されている。このように、画素電極11g及びドレイン電極11f3は、その間に4枚の絶縁膜19,20,22,25が介在するものの、その中間に配されるTFT接続部11pを介して相互の接続が図られている。また、共通電極11hのうち、第2TFTコンタクトホールCH2(TFT接続部11pの一部)と重畳する位置には、画素電極11gとの短絡を防止するための開口部OPが形成されている。なお、各絶縁膜16,19,20,22,25は、上記した各コンタクトホールCH1,CH2を除いては、アレイ基板11bの表示領域AAにおけるほぼ全域にわたってベタ状に形成されている。
 一方、CF基板11aのうちの表示領域AAの内面側には、図3及び図5に示すように、アレイ基板11b側の各画素電極11gと対向状をなす位置にカラーフィルタ11kが設けられている。カラーフィルタ11kは、R(赤色),G(緑色),B(青色)の三色の着色部がマトリクス状に繰り返し並んで配列されてなる。マトリクス状に配列されるカラーフィルタ11kの各着色部(各画素PX)の間は、遮光部(ブラックマトリクス)11lによって仕切られている。この遮光部11lによって各着色部を透過する各色の光同士が混ざり合う混色が防がれるようになっている。遮光部11lは、平面に視て格子状をなしていて各着色部の間を仕切る格子状部と、平面に視て枠状(額縁状)をなしていて格子状部を外周側から取り囲む枠状部と、から構成されている。遮光部11lにおける格子状部は、上記したゲート配線11i及びソース配線11jと平面に視て重畳する配置とされる。遮光部11lにおける枠状部は、シール部に倣って延在しており、平面に視て縦長の方形の枠状をなしている。カラーフィルタ11k及び遮光部11lの表面には、オーバーコート膜(平坦化膜)11mが内側に重なって設けられている。なお、当該液晶パネル11においては、カラーフィルタ11kにおける着色部と、それと対向する画素電極11gと、の組によって1つの画素PXが構成されている。画素PXには、カラーフィルタ11kのうちRの着色部を有する赤色画素と、カラーフィルタ11kのうちGの着色部を有する緑色画素と、カラーフィルタ11kのうちBの着色部を有する青色画素と、が含まれている。これら3色の画素PXは、液晶パネル11の板面において行方向(X軸方向)に沿って繰り返し並べて配されることで、画素群を構成しており、この画素群が列方向(Y軸方向)に沿って多数並んで配されている。このように画素PXは、液晶パネル11の表示領域AA内においてマトリクス状に多数が配列されている。また、両基板11a,11bのうち最も内側にあって液晶層11cに接する層としては、液晶層11cに含まれる液晶分子を配向させるための配向膜11n,11oがそれぞれ形成されている。
 ところで、本実施形態に係る液晶パネル11は、既述した通り、画像を表示する表示機能と、表示される画像に基づいて使用者が入力する位置(入力位置)を検出する位置入力機能(位置検出機能)と、を併有しており、このうちの位置入力機能を発揮するためのタッチパネルパターンを内蔵(インセル化)している。このタッチパネルパターンは、いわゆる投影型静電容量方式とされており、その検出方式が自己容量方式とされるものである。タッチパネルパターンは、図2に示すように、一対の基板11a,11bのうちのアレイ基板11bに設けられており、アレイ基板11bにおいてその面内にマトリクス状に並んで配される複数の位置検出電極27から構成されている。位置検出電極27は、アレイ基板11bの表示領域AAに配されている。従って、液晶パネル11における表示領域AAは、入力位置を検出可能なタッチ領域とほぼ一致しており、非表示領域NAAが入力位置を検出不能な非タッチ領域とほぼ一致していることになる。ここで、液晶パネル11の表示領域AAに表示される画像に基づいて使用者が位置入力をしようと液晶パネル11の表面に導電体である指(位置検出体)を近づけると、その指と位置検出電極27との間で静電容量が形成されることになる。これにより、指の近くにある位置検出電極27にて検出される静電容量には指が近づく前の状態から変化が生じ、指から遠くにある位置検出電極27とは異なるものとなるので、それに基づいて入力位置を検出することが可能となる。なお、位置検出電極27は、指以外の導電体に対しても寄生容量を形成する場合もあり得る。
 そして、この位置検出電極27は、アレイ基板11bに設けられた共通電極11hにより構成されている。共通電極11hは、図2に示すように、アレイ基板11bの面内において碁盤目状に分割された複数の分割共通電極11hSからなり、これら複数の分割共通電極11hSの個々が位置検出電極27を構成している。これにより、仮に共通電極11hとは別途に位置検出電極を設けた場合に比べると、構造の簡素化及び低コスト化などを図る上で好適となる。位置検出電極27(分割共通電極11hS)は、X軸方向(行方向)及びY軸方向(列方向)に沿って複数ずつがマトリクス状(行列状)に並んで配されている。位置検出電極27は、平面に視て方形状をなしており、各辺の寸法が数mm程度とされている。従って、位置検出電極27は、平面に視た大きさが画素PX(画素電極11g)よりも大きくなっており、X軸方向及びY軸方向について複数ずつの画素PXに跨る範囲に配置されている。なお、図2は、位置検出電極27の配列を模式的に表したものであり、位置検出電極27の具体的な設置数や配置については図示以外にも適宜に変更可能である。
 複数の位置検出電極(分割共通電極11hS)27には、図2に示すように、複数の位置検出配線11qが接続されている。位置検出配線11qは、表示領域AAにおいてY軸方向、つまりソース配線11jの延在方向(列方向)に沿って直線的に延在しており、接続対象となる位置検出電極27に応じた長さ寸法を有している。つまり、位置検出配線11qは、表示領域AA内に配された一方の端部が接続対象となる位置検出電極27と重畳する配置とされて当該位置検出電極27に接続されるのに対し、非表示領域NAAに配された他方の端部がドライバ12に接続されている。従って、ドライバ12は、画像表示に際してはTFT11fを駆動するのに対し、位置検出に際しては位置検出電極27を駆動するものとされており、表示機能と位置検出機能とを併有している。位置検出配線11qは、既述した通り、第4金属膜23からなるのに対し、位置検出電極27は、共通電極11hでもあり、第1透明電極膜24からなることから、位置検出電極11qは位置検出電極27に対してコンタクトホールを介することなく直接的に接続されている。従って、位置検出配線11qは、接続対象となる位置検出電極27に加えて、その位置検出電極27とドライバ12との間に存在する他の位置検出電極27に対しても接続されている。このように同じ列に属する複数の位置検出電極27(位置検出配線11qの延在方向に沿って並ぶ複数の位置検出電極27)に対して複数の位置検出配線11qが接続される接続態様であっても、同じ列に属する複数の位置検出配線11qの中から位置検出した位置検出配線11qの組み合わせを抽出することで、実際に位置入力された位置検出電極27を特定することができる。また、位置検出配線11qは、図4に示すように、平面に視て所定のソース配線11j(遮光部11l)と重畳し、画素PXとは非重畳となる位置に配されている。これにより、位置検出配線11qによって画素PXの開口率が低下する事態が避けられている。
 続いて、アレイ基板11bにおける非表示領域NAAの構成について説明する。アレイ基板11bにおける非表示領域NAAのうちCF基板11aとは重畳しない非重畳部分には、図1に示すように、フレキシブル基板13の端部及びドライバ12がそれぞれ取り付けられており、フレキシブル基板13の端部がアレイ基板11bにおける短辺方向(X軸方向)に沿った端部に配されるのに対して、ドライバ12がアレイ基板11bにおいてフレキシブル基板13よりも表示領域AA側に位置して配されている。アレイ基板11bにおけるドライバ12の実装領域には、ドライバ12に信号を出力するための出力端子部(図示せず)と、ドライバ12からの信号が入力される入力端子部(端子部)28と、が設けられている。アレイ基板11bにおけるフレキシブル基板13の実装領域には、フレキシブル基板13に接続されるフレキシブル基板用端子部(図示せず)が設けられている。入力端子部28は、他の端子部(出力端子部及びフレキシブル基板用端子部)に比べてY軸方向について表示領域AAに近い配置とされる。
 入力端子部28は、図8に示すように、ドライバ12の実装領域において複数が千鳥状に平面配置されており、次述する端子配線部29に接続されている。端子配線部29は、アレイ基板11bの非表示領域NAAにおいてX軸方向に沿って複数が所定の間隔を空けて並ぶとともにY軸方向に沿って延在しており、一方の端部が各入力端子部28に、他方(表示領域AA側)の端部が各ソース配線11jの端部に、それぞれ接続されている。なお、ソース配線11jは、その大部分が表示領域AAに配されているが、一部(配線重畳部11j1を含む)が非表示領域NAAに至るまで延長されている。入力端子部28及び端子配線部29は、図10に示すように、共にTFT接続部11pと同じ第3金属膜21からなる。従って、端子配線部29は、接続対象であるソース配線11jに対して第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20を介して上層側に位置している。端子配線部29における入力端子部28側とは反対側の端部と、ソース配線11jにおけるTFT11f側とは反対側の端部と、は、アレイ基板11bの非表示領域NAAにおいて互いに平面に視て重畳する配置とされており、そこがそれぞれ配線重畳部11j1,29aとされる。端子配線部29とソース配線11jとの間に介在する第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20のうち、端子配線部29及びソース配線11jの配線重畳部11j1,29aと平面に視て重畳する位置には、配線重畳部11j1,29a同士を接続する配線コンタクトホールCH3が設けられている。これにより、ドライバ12から出力された信号が、入力端子部28、端子配線部29及びソース配線11jを介してTFT11fのソース電極11f2に供給されるようになっている。
 これに対し、各絶縁膜16,19,20,22,25は、図8及び図10に示すように、アレイ基板11bの非表示領域NAAにおけるドライバ12及びフレキシブル基板13の実装領域近傍では選択的に除去されており、それらの各端部16a,19a,20a,22a,25aが、Y軸方向について、表示領域AAと、端子部群のうち最も表示領域AAに近い入力端子部28と、の間に位置するものとされる。従って、入力端子部28は、その全域がアレイ基板11bを構成するガラス基板上に直接的に設けられるのに対し、端子配線部29は、入力端子部28側の部分がアレイ基板11bを構成するガラス基板上に直接的に設けられるものの、残りの部分(ソース配線11j側の部分)が第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に設けられる。つまり、端子配線部29は、入力端子部28側からソース配線11j側に向かう途中で第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20に乗り上げており、少なくとも第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20における第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aを跨ぐ形で配されている。
 端子配線部29における入力端子部28側の部分(第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20に乗り上げない部分)であって、自身よりも上層側の各絶縁膜22,25とは非重畳となる部分には、図8及び図10に示すように、保護部30が覆う形で設けられている。保護部30は、共通電極11hと同じ第1透明電極膜24からなるものとされ、端子配線部29の上記部分に加えて入力端子部28についても覆っている。ここで、アレイ基板11bの製造に際して第1透明電極膜24を成膜・露光後にウェットエッチングするとき、三層構造の第3金属膜21からなる端子配線部29の一部及び入力端子部28におけるアルミニウム層がチタン層よりもエッチング液によってエッチングされ易いため、端子配線部29の一部及び入力端子部28におけるアルミニウム層がチタン層よりも細くなる欠陥、つまりサイドシフトが生じることが懸念される。その点、上記のように保護部30によって端子配線部29の一部及び入力端子部28が覆われていれば、成膜・露光された第1透明電極膜24をウェットエッチングするときに、端子配線部29の一部及び入力端子部28が保護部30によってエッチング液から保護されるので、端子配線部29及び入力端子部28にサイドシフトが生じることが避けられる。
 ところで、上記のように端子配線部29が部分的に第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20に乗り上げる構成においては、アレイ基板11bの製造に際して端子配線部29となる第3金属膜21を成膜した後に露光を行うとき、露光ムラが生じるおそれがある。具体的には、第3金属膜21の露光工程では、端子配線部29のうちの第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となる部分(ガラス基板上に直接載る部分)に焦点を合わせて露光が行われるため、端子配線部29のうちの第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と重畳する部分(第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20に乗り上げる部分)に焦点が合わずに露光ムラが発生し、それに起因して端子配線部29のうちの第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と重畳する部分が、図9に示すように、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となる部分よりも相対的に太くなる傾向にある。そうなると、隣り合う端子配線部29の間の間隔は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となる部分よりも第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と重畳する部分の方が狭いものとなる。ここで、仮に複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分が第2平坦化膜22により覆われない構成とされた場合には、共通電極11h及び保護部30となる第1透明電極膜24をパターニングする際に第1透明電極膜24の残渣が第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20a付近に生じ易くなっている。この残渣は、第1透明電極膜24をパターニングするために第1透明電極膜24上に積層されるフォトレジストのうち、第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分が他の部分よりも膜厚が厚くなるために生じるフォトレジストの膜残りに起因して生じるため、その発生位置が第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20a付近となっている。このような第1透明電極膜24の残渣によって複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部29の間の間隔が相対的に狭くなる部分が短絡されることが懸念される。
 そこで、本実施形態では、端子配線部29に対して上層側に配され且つ第1透明電極膜24(後述する保護部30)に対して下層側に配される第2平坦化膜22は、図9及び図10に示すように、第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりもY軸方向(端子配線部29の延在方向)について入力端子部28側に配されるよう構成されている。このような構成によれば、複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部29の間の間隔が相対的に狭くなる部分が第2平坦化膜22によって覆われることになる。複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜端部22aと重畳する部分は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となっているので、隣り合う端子配線部29間の間隔が相対的に広くなっている。従って、第1透明電極膜24のパターニングに際して第1透明電極膜24の残渣が第2平坦化膜端部22a付近に生じたとしても、その残渣によって複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜端部22aと重畳する部分が短絡される事態が生じ難いものとされる。
 その上、第2平坦化膜22には、図9から図11に示すように、隣り合う端子配線部29の間に配されて第2平坦化膜端部22aから入力端子部28側に向けて突出する突部31が設けられている。突部31は、X軸方向について隣り合う端子配線部29間の中央位置に配されており、図9に示す左側に隣り合う端子配線部29までの距離と、同図右側に隣り合う端子配線部29までの距離と、がほぼ等しいものとされる。複数ずつの突部31及び端子配線部29は、X軸方向に沿って間隔を空けて交互に並ぶ形で配されている。突部31は、Y軸方向について突出先端側に向けて(第2平坦化膜端部22aから離れるほど)幅寸法が狭くなるよう先細り状の平面形状を有しており、具体的には平面に視て三角形状をなしている。このような構成によれば、第2平坦化膜端部22aにおける隣り合う端子配線部29間の延面距離が突部31の分だけ長くなるので、第2平坦化膜端部22a付近に保護部30となる第1透明電極膜24の残渣が生じることになっても、第1透明電極膜24の残渣が隣り合う端子配線部29間に跨る形でより生じ難いものとなる。
 しかも、突部31は、図9から図11に示すように、複数の端子配線部29に対して上層側に配される第2平坦化膜22に設けられるのに対し、保護部30は、第2平坦化膜22に対して上層側に配される第1透明電極膜24からなるものとされているので、突部31及び保護部30が複数の端子配線部29に対して高い位置精度でもって配置されるようになっており、その詳しい理由は以下の通りである。すなわち、保護部30と同じ第1透明電極膜24からなる共通電極11hは、図7に示すように、その開口部OPが端子配線部29と同層で第3金属膜21からなるTFT接続部11pに対してX軸方向及びY軸方向についてアライメント(位置合わせ)されているのに対し、突部31が設けられる第2平坦化膜22及び第2層間絶縁膜25は、相互に連通する第2TFTコンタクトホールCH2が端子配線部29と同層で第3金属膜21からなるTFT接続部11pに対してX軸方向及びY軸方向についてアライメントされている。従って、第2平坦化膜22に設けられる突部31及び端子配線部29を覆う保護部30は、それぞれ複数の端子配線部29に対してX軸方向及びY軸方向について高い位置精度でもって配置されることになるので、隣り合う端子配線部29間の短絡防止の確実性がより一層高いものとなる。
 また、アレイ基板11bの製造に際しては、第1層間絶縁膜19が成膜された後に第1平坦化膜20が成膜され、その第1平坦化膜20がパターニング(露光・現像)された後に、パターニングされた第1平坦化膜20をマスクとして利用して第1層間絶縁膜19がパターニング(エッチング)されている(図10を参照)。このような製造工程を経て製造されたアレイ基板11bにおいては、図10に示すように、第1層間絶縁膜19の第1層間絶縁膜端部19aの立ち上がり角度が、第1平坦化膜20の第1平坦化膜端部20aの立ち上がり角度よりも急になりがちであるため、仮に第1層間絶縁膜端部19aが第2平坦化膜22により覆われない構成とされると、第1透明電極膜24の残渣が第1層間絶縁膜端部19aにより生じ易くなることが懸念される。ところが、上記したように第2平坦化膜22の第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配されることで、第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aが第2平坦化膜22により覆われていて、第1透明電極膜24の残渣が第1層間絶縁膜端部19aに生じることが避けられているので、隣り合う端子配線部29同士が第1透明電極膜24の残渣によって短絡される事態が生じ難いものとされる。
 本実施形態は以上のような構造であり、続いてその作用を説明する。本実施形態に係る液晶表示装置10は、位置入力機能を備えているので、その使用者は、液晶パネル11の表示領域AAに表示される画像に基づいて指により位置入力を行うことができる。液晶パネル11のアレイ基板11bに備えられる共通電極11hは、位置検出電極27でもあるため、表示時にはドライバ12によって画素電極11gの電位に対する基準となる共通電位(基準電位)が印加されるのに対し、位置検出時にはドライバ12によって指との間で静電容量を形成するための電位が印加されるようになっている。つまり、ドライバ12は、一単位期間を表示期間と位置検出期間とに分けて液晶パネル11の駆動を制御している。
 表示期間においては、ドライバ12から各ゲート配線11iに走査信号が、各ソース配線11jにデータ信号(画像信号)が、各位置検出配線11qに共通電位信号が、それぞれ供給されるようになっている。このうち、ドライバ12から出力されるデータ信号は、図4及び図8に示すように、各入力端子部28及び各端子配線部29を介して各ソース配線11jに伝送されるようになっている。各ゲート配線11iに供給される走査信号によって選択された行に属する各TFT11fがONされると、各ソース配線11jに供給されるデータ信号に応じた電圧がTFT11fのチャネル部11f4を介して画素電極11gに印加される。各位置検出配線11qに供給される共通電位信号によって共通電極11hの各分割共通電極11hSには、同一の共通電位が同じタイミングでもって一括して印加される。各画素電極11gと共通電極11hとの電位差に基づいて各画素PXでは所定の階調でもって表示が行われ、もって液晶パネル11の表示領域AAには所定の画像が表示される。
 位置検出期間においては、ドライバ12から各位置検出配線11qに位置検出駆動信号が供給されるようになっている。このとき、液晶表示装置10の使用者が液晶パネル11の表示領域AA内に指でもって位置入力を行った場合には、その指に近い位置検出電極27と指との間に静電容量が形成される。つまり、指に近い位置検出電極27は、指との間で静電容量を形成するので、指から遠い位置検出電極27よりも静電容量が大きなものとなる。ドライバ12において各位置検出配線11qを介して各位置検出電極27の静電容量が検出されると、ドライバ12は、その検出した静電容量の中から変化が生じたものを抽出し、変化が生じた静電容量を伝送した位置検出配線11qに基づいて入力位置に係る位置情報を取得する。これにより、使用者の指による入力位置を検出することができる。
 以上説明したように本実施形態のアレイ基板(表示基板)11bは、画像を表示可能な表示領域AAと、表示領域AAを取り囲む形で外周側に配される非表示領域NAAと、非表示領域NAAに配される複数の入力端子部(端子部)28と、表示領域AAと非表示領域NAAとに跨る形で配されて端部である第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20a(第1絶縁膜端部)が複数の入力端子部28と表示領域AAとの間に配される第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20(第1絶縁膜)と、少なくとも非表示領域NAAにて第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に配されて第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aを跨ぎつつ複数の入力端子部28に接続される複数の端子配線部29と、表示領域AAと非表示領域NAAとに跨る形で複数の端子配線部29の上層側に配されて端部である第2平坦化膜端部(第2絶縁膜端部)22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配される第2平坦化膜(第2絶縁膜)22と、少なくとも非表示領域NAAにおいて第2平坦化膜22の上層側に配されて第1透明電極膜(透明電極膜)24からなり複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜22とは非重畳となる部分をそれぞれ覆う複数の保護部30と、を備える。
 このように、非表示領域NAAに配される複数の入力端子部28に接続される複数の端子配線部29は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に配されて入力端子部28と表示領域AAとの間に位置する第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aを跨ぐ形で配されている。複数の端子配線部29のうち上層側に配される第2平坦化膜22とは非重畳となる部分は、第2平坦化膜22の上層側に配されて第1透明電極膜24からなる複数の保護部30によってそれぞれ覆われることで保護が図られている。複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と重畳する部分は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となる部分に比べると、パターニングに際して行われる露光において露光ムラが生じ易く、線幅が相対的に太くなる場合がある。そうなると、隣り合う端子配線部29の間の間隔は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となる部分よりも第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20と重畳する部分の方が狭いものとなる。ここで、仮に複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分が第2平坦化膜22により覆われない構成とされた場合には、保護部30となる第1透明電極膜24をパターニングする際に第1透明電極膜24の残渣が第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20a付近に生じ易くなるため、その残渣によって複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部29の間の間隔が相対的に狭くなる部分が短絡されることが懸念される。
 その点、第2平坦化膜22は、第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配されているので、複数の端子配線部29のうち第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aと重畳する部分、つまり隣り合う端子配線部29の間の間隔が相対的に狭くなる部分が第2平坦化膜22によって覆われることになる。複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜端部22aと重畳する部分は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20とは非重畳となっているので、隣り合う端子配線部29間の間隔が相対的に広くなっている。従って、第1透明電極膜24のパターニングに際して第1透明電極膜24の残渣が第2平坦化膜端部22a付近に生じたとしても、その残渣によって複数の端子配線部29のうち第2平坦化膜端部22aと重畳する部分が短絡される事態が生じ難いものとされる。
 また、第2平坦化膜22には、隣り合う端子配線部29の間に配されて第2平坦化膜端部22aから入力端子部28側に向けて突出する突部31が設けられている。このようにすれば、第2平坦化膜端部22aにおける隣り合う端子配線部29間の延面距離が突部31の分だけ長くなるので、第2平坦化膜端部22a付近に保護部30となる第1透明電極膜24の残渣が生じることになっても、第1透明電極膜24の残渣が隣り合う端子配線部29間に跨る形でより生じ難いものとなる。しかも、突部31が複数の端子配線部29に対して上層側に配される第2平坦化膜22に設けられているので、突部31が複数の端子配線部29に対して高い位置精度でもって配置されるようになっている。このような高い位置精度が得られる理由は、一般的に絶縁膜は下層側の金属膜などからなる配線部に対してアライメントをとる形でパターニングされるためである。これにより、隣り合う端子配線部29間の短絡防止の確実性が一層高いものとなる。
 また、表示領域AAに配されるTFT(表示素子)11fと、表示領域AAにて第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に配されてTFT11fに接続されるとともに端子配線部29と同層のTFT接続部(素子接続部)11pと、表示領域AAにて第2平坦化膜22の上層側に配されるとともにTFT接続部11pと重畳する位置に開口部OPが設けられて保護部30と同じ第1透明電極膜24からなる共通電極11hと、少なくとも表示領域AAにて共通電極11hの上層側に配されてTFT接続部11pと重畳する位置に第2平坦化膜22にも連通する第2TFTコンタクトホール(素子コンタクトホール)CH2が形成されてなる第2層間絶縁膜(第3絶縁膜)25と、表示領域AAにて第2層間絶縁膜25の上層側に配され第2TFTコンタクトホールCH2を通してTFT接続部11pに接続されて第2透明電極膜(第2の透明電極膜)26からなる画素電極11gと、を備える。このようにすれば、画素電極11gは、第2層間絶縁膜25及び第2平坦化膜22において相互に連通する第2TFTコンタクトホールCH2を通してTFT接続部11pに接続され、このTFT接続部11pを介してTFT11fに対する接続が図られている。画素電極11gは、共通電極11hに対して第2層間絶縁膜25を介して重畳する形で配されているので、TFT11fによって供給される電位に基づいて共通電極11hとの間に電位差が生じるとともにその電位差に基づいて所定の階調の表示を行うことができる。共通電極11hには、TFT接続部11pと重畳する位置に開口部OPが設けられることで、画素電極11gとの短絡防止が図られている。また、共通電極11hは、保護部30と同じ第1透明電極膜24をパターニングして形成されており、そのパターニングに際して端子配線部29が保護部30によって覆われて保護が図られることで、パターニングに伴って生じ得る端子配線部29の劣化が生じ難いものとなる。
 このように、保護部30と同じ第1透明電極膜24からなる共通電極11hは、その開口部OPを端子配線部29と同層のTFT接続部11pに対してアライメントをとる必要があるのに対し、第2平坦化膜22及び第2層間絶縁膜25は、相互に連通する第2TFTコンタクトホールCH2を端子配線部29と同層のTFT接続部11pに対してアライメントをとる必要がある。従って、第2平坦化膜22に設けられる突部31及び保護部30は、それぞれ複数の端子配線部29に対して高い位置精度でもって配置されることになるので、隣り合う端子配線部29間の短絡防止の確実性がより一層高いものとなる。
 また、共通電極11hは、位置入力を行う位置入力体との間で静電容量を形成する位置検出電極27を兼用している。このようにすれば、当該アレイ基板11bに位置入力機能を内蔵させることができる。
 また、表示領域AAに配されるTFT11fと、少なくとも表示領域AAにて第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20よりも下層側に配されてTFT11fに接続されるソース配線(素子配線部)11jと、を備えており、端子配線部29及びソース配線11jは、非表示領域NAAにて互いに重畳する配線重畳部11j1,29aをそれぞれ有しているのに対し、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20のうち、配線重畳部11j1,29aと重畳する位置には、配線重畳部11j1,29a同士を接続する配線コンタクトホールCH3が設けられている。このように、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20よりも下層側に配されるソース配線11jと、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の上層側に配される端子配線部29とは、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の配線コンタクトホールCH3を通して配線重畳部11j1,29a同士が接続されている。複数の端子配線部29は、第1層間絶縁膜19及び第1平坦化膜20の第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aを跨いで複数の入力端子部28に接続されているため、第1透明電極膜24の残渣によって隣り合うもの同士が短絡されることが懸念されるものの、上記のように第2平坦化膜22の第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配されることで、隣り合う端子配線部29同士が第1透明電極膜24の残渣によって短絡される事態が生じ難いものとされる。
 また、第2平坦化膜22の下層側に配される第1絶縁膜は、第1層間絶縁膜(下層側第1絶縁膜)19と、第1層間絶縁膜19に対して上層側に配される第1平坦化膜(上層側第1絶縁膜)20と、から構成されている。このように、第2平坦化膜22の下層側に配される第1絶縁膜が第1層間絶縁膜19と第1平坦化膜20とから構成される二層構造においては、例えば第1層間絶縁膜19が第1平坦化膜20をマスクとして利用してパターニングされると、第1絶縁膜端部において第1層間絶縁膜19の立ち上がり角度が第1平坦化膜20の立ち上がり角度よりも急になりがちであるため、第1透明電極膜24の残渣が第1層間絶縁膜端部19aに生じることが懸念されるものの、上記のように第2平坦化膜22の第2平坦化膜端部22aが第1層間絶縁膜端部19a及び第1平坦化膜端部20aよりも入力端子部28側に配されることで、隣り合う端子配線部29同士が第1透明電極膜24の残渣によって短絡される事態が生じ難いものとされる。
 また、本実施形態の液晶パネル(表示装置)11は、上記したアレイ基板11bと、アレイ基板11bと対向する形で配されるCF基板(対向基板)11aと、を備える。このような構成の液晶パネル11によれば、アレイ基板11bにおける短絡防止の確実性が高いものとされているから、動作信頼性などに優れる。
 <実施形態2>
 本発明の実施形態2を図12から図15によって説明する。この実施形態2では、第2平坦化膜122の構成を変更したものを示す。なお、上記した実施形態1と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。
 本実施形態に係る第2平坦化膜122は、図12及び図13に示すように、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分が、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120と重畳する部分よりも膜厚が相対的に薄くされている。第2平坦化膜122のうちの第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分には、第2平坦化膜端部122aが含まれていることから、第2平坦化膜端部122aの立ち上がり角度θ2が、上記した実施形態1に記載した第2平坦化膜端部22aの立ち上がり角度θ1(図10を参照)より緩やかなものとなる。従って、アレイ基板111bの製造に際して保護部130などを構成する第1透明電極膜124をパターニングする際に、第1透明電極膜124の残渣が第2平坦化膜端部122a付近においてより生じ難いものとなり、もって隣り合う端子配線部129間の短絡防止の確実性が一層高いものとなる。本実施形態では、上記のような構成を採るのに伴って、上記した実施形態1に記載した突部31(図9を参照)が省略されている。
 上記のように膜厚が2段階で変化する第2平坦化膜122は、アレイ基板111bの製造に際して以下のようにして形成されている。すなわち、アレイ基板111bの製造方法には、第2平坦化膜122を形成する第2平坦化膜形成工程が含まれており、その第2平坦化膜形成工程には、ポジ型の感光性材料からなる第2平坦化膜122をベタ状に成膜工程と、成膜されたベタ状の第2平坦化膜122を、フォトマスクであるグレートーンマスクGMを介して露光する露光工程と、露光された第2平坦化膜122を現像する現像工程と、が含まれている。露光工程で用いられるグレートーンマスクGMは、図14に示すように、透明なガラス基材GMGSと、ガラス基材GMGSの板面に形成されて光源からの露光光を遮光する遮光膜GMBMと、からなる。この遮光膜GMBMには、露光装置の解像度以上となる開口部GMBMaと、露光装置の解像度以下となるスリットGMBMbとが形成されている。遮光膜GMBMは、ベタ状の第2平坦化膜122のうち第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120と重畳する部分の形成予定位置と重畳する位置に形成されているのに対し、開口部GMBMaは、ベタ状の第2平坦化膜122のうち、パターニング後の第2平坦化膜122とは非重畳となる位置(第2平坦化膜端部122aよりも入力端子部側の部分)に形成されている。なお、同様の開口部が図示しない第2TFTコンタクトホール(図6及び図7を参照)の形成予定位置と重畳する位置にも形成されている。この開口部GMBMaは、露光光の透過率がほぼ100%とされる透過領域TAとされる。一方、スリットGMBMbは、ベタ状の第2平坦化膜122のうち第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分(第2平坦化膜端部122aを含む部分)の形成予定位置と重畳する位置に形成されている。つまり、スリットGMBMbは、上記開口部GMBMaに対してY軸方向について表示領域AA側に隣り合う位置に配されており、複数本が間隔を空けて並んで配されている。これらのスリットGMBMb群は、露光光の透過率が例えば10%~70%程度とされる半透過領域HTAとされる。
 このような構成のグレートーンマスクGMを用いて行われる露光工程では、グレートーンマスクGMを介して光源からの露光光である紫外線がベタ状の第2平坦化膜122に照射されると、第2平坦化膜122のうち開口部GMBMa(透過領域TA)と重畳する部分では照射光量が相対的に多くなるのに対し、スリットGMBMb群(半透過領域HTA)と重畳する部分では照射光量が相対的に少なくなる。従って、引き続いて現像工程を行うと、第2平坦化膜122は、図15に示すように、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分の膜厚が相対的に薄く、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120と重畳する部分の膜厚が相対的に厚くなる。このように、1回の露光工程を行うことで、膜厚が異なる部分を有する第2平坦化膜122を形成することができるので、製造に要する時間が短く済む効果が得られる。
 以上説明したように本実施形態によれば、第2平坦化膜122のうち、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分が、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120と重畳する部分よりも膜厚が相対的に薄い。このようにすれば、第2平坦化膜122のうち、第1層間絶縁膜119及び第1平坦化膜120とは非重畳となる部分である第2平坦化膜端部122aの立ち上がり角度が緩やかなものとなるので、第2平坦化膜端部122a付近において第1透明電極膜124の残渣がより生じ難いものとなる。これにより、隣り合う端子配線部129間の短絡防止の確実性が一層高いものとなる。
 <実施形態3>
 本発明の実施形態3を図16から図18によって説明する。この実施形態3では、上記した実施形態1,2を組み合わせるようにしたものを示す。なお、上記した実施形態1,2と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。
 本実施形態に係る第2平坦化膜222は、図16から図18に示すように、隣り合う端子配線部229の間に配されて第2平坦化膜端部222aから入力端子部側に向けて突出する突部231を有するのに加えて、第1層間絶縁膜219及び第1平坦化膜220とは非重畳となる部分が、第1層間絶縁膜219及び第1平坦化膜220と重畳する部分よりも膜厚が相対的に薄くされている。第2平坦化膜222のうちの第1層間絶縁膜219及び第1平坦化膜220とは非重畳となる部分には、第2平坦化膜端部222a及び突部231を含む部分が含まれていることから、第2平坦化膜端部222a及び突部231の立ち上がり角度がそれぞれより緩やかなものとなる。従って、アレイ基板211bの製造に際して保護部230などを構成する第1透明電極膜224をパターニングする際に、第1透明電極膜224の残渣が第2平坦化膜端部222a及び突部231付近においてより生じ難いものとなり、もって隣り合う端子配線部229間の短絡防止の確実性がより一層高いものとなる。
 <実施形態4>
 本発明の実施形態4を図19によって説明する。この実施形態4では、上記した実施形態2から露光工程にて用いるフォトマスクをハーフトーンマスクHMに変更したものを示す。なお、上記した実施形態2と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。
 本実施形態に係るアレイ基板311bの製造方法では、第2平坦化膜形成工程に含まれる成膜工程にて第2平坦化膜322をポジ型の感光性材料により成膜し、露光工程にてフォトマスクとしてハーフトーンマスクHMを用いるようにしている。ハーフトーンマスクHMは、図19に示すように、透明なガラス基材HMGSと、ガラス基材HMGSの板面に形成されて光源からの露光光を遮光する遮光膜HMBMと、ガラス基材HMGSの板面に形成されて光源からの露光光を所定の透過率でもって透過する半透過膜HMHTと、からなる。遮光膜HMBMは、露光光の透過率がほぼ0%とされており、そのうち、ベタ状の第2平坦化膜322における第1層間絶縁膜319及び第1平坦化膜320と重畳する部分の形成予定位置と重畳する位置に開口部HMBMaが形成されている。半透過膜HMHTは、遮光膜HMBMに対してガラス基材HMGS側とは反対側に積層される形で形成されており、露光光の透過率が例えば10%~70%程度とされている。半透過膜HMHTのうち、パターニング後の第2平坦化膜322とは非重畳となる位置(第2平坦化膜端部322aよりも入力端子部側の部分)には、開口部HMHTaが形成されている。つまり、ハーフトーンマスクHMのガラス基材HMGSのうち、第2平坦化膜322のうちの第1層間絶縁膜319及び第1平坦化膜320とは非重畳となる部分(第2平坦化膜端部322aを含む部分)の形成予定位置と重畳する位置には、遮光膜HMBMが存在せず、半透過膜HMHTのみが存在しており、ここが露光光の透過率が例えば10%~70%程度とされる半透過領域HTAとされる。半透過領域HTAは、遮光膜HMBMの開口部HMBMaのうち、半透過膜HMHTの開口部HMHTaとは非重畳となる範囲とされる。これに対し、半透過膜HMHTの開口部HMHTaは、露光光の透過率がほぼ100%とされる透過領域TAとされる。
 このような構成のハーフトーンマスクHMを用いて行われる露光工程では、ハーフトーンマスクHMを介して光源からの露光光である紫外線がベタ状の第2平坦化膜322に照射されると、第2平坦化膜322のうち半透過膜HMHTの開口部HMHTa(透過領域TA)と重畳する部分では照射光量が相対的に多くなるのに対し、遮光膜HMBMの開口部HMBMaのうち、半透過膜HMHTの開口部HMHTaとは非重畳となる範囲(半透過領域HTA)と重畳する部分では照射光量が相対的に少なくなる。従って、引き続いて現像工程を行うと、第2平坦化膜322には、第1層間絶縁膜319及び第1平坦化膜320とは非重畳となる部分の膜厚が相対的に薄く、第1層間絶縁膜319及び第1平坦化膜320と重畳する部分の膜厚が相対的に厚くなる。このように、1回の露光工程を行うことで、膜厚が異なる部分を有する第2平坦化膜322を形成することができるので、製造に要する時間が短く済む効果が得られる。
 <他の実施形態>
 本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
 (1)上記した各実施形態では、端子配線部がTFT接続部と同じ第3金属膜からなる場合を示したが、端子配線部が位置検出配線と同じ第4金属膜からなる構成、端子配線部がソース配線などと同じ第2金属膜からなる構成、端子配線部がゲート配線などと同じ第1金属膜からなる構成、などとすることも可能である。
 (2)上記した各実施形態では、端子配線部がソース配線に接続される場合を示したが、端子配線部がゲート配線や位置検出配線などのソース配線以外の配線に接続される構成であっても構わない。
 (3)上記した各実施形態では、第1平坦化膜の下層側に第1層間絶縁膜が積層される構成を示したが、第1層間絶縁膜を省略することも可能である。
 (4)上記した各実施形態(実施形態2を除く)では、第2平坦化膜に設けられた突部の平面形状が三角形とされた場合を示したが、突部の平面形状は三角形以外にも台形状、円形状(半円形状)、楕円形状(半楕円形状)、方形状、五角形以上の多角形などであってもよい。
 (5)上記した実施形態2~4の変形例として、第2平坦化膜を構成する感光性材料をネガ型とすることも可能である。その場合は、ハーフトーンマスクまたはグレートーンマスクにおける透過領域が少なくとも第2平坦化膜のうち第1層間絶縁膜及び第1平坦化膜と重畳する部分の形成予定位置と重畳する位置に配されるようにすればよい。
 (6)上記した各実施形態では、使用者が自身の指によって位置入力を行う場合を示したが、タッチペンなど指以外の位置入力体でもって位置入力することも可能である。
 (7)上記した各実施形態では、位置検出電極が共通電極と共用化された場合を示したが、共通電極とは別途に位置検出電極を設けることも可能である。
 (8)上記した各実施形態では、タッチパネルパターン(位置検出電極及び位置検出配線など)が液晶パネルに内蔵されたインセルタイプを示したが、いわゆるオンセルタイプやアウトセルタイプの液晶パネルであっても構わない。特に、アウトセルタイプの液晶パネルにおいては、液晶パネルが位置検出機能(タッチパネルパターン)を持つことがないものとされる。
 (9)上記した各実施形態では、位置検出機能(タッチパネルパターン)を備えた液晶表示装置を示したが、位置検出機能を持たない液晶表示装置にも本発明は適用可能である。
 (10)上記した各実施形態では、平面形状が長方形とされる液晶パネルについて示したが、平面形状が正方形、円形、楕円形などとされる液晶パネルにも本発明は適用可能である。
 (11)上記した各実施形態では、ドライバが液晶パネルのアレイ基板に対してCOG実装される場合を示したが、ドライバがフレキシブル基板に対してCOF(Chip On Film)実装される構成であってもよい。
 (12)上記した各実施形態では、TFTのチャネル部を構成する半導体膜が酸化物半導体材料からなる場合を例示したが、それ以外にも、例えばポリシリコン(多結晶化されたシリコン(多結晶シリコン)の一種であるCGシリコン(Continuous Grain Silicon))やアモルファスシリコンを半導体膜の材料として用いることも可能である。
 (13)上記した各実施形態では、動作モードがFFSモードとされた液晶パネルについて例示したが、それ以外にもIPS(In-Plane Switching)モードやVA(Vertical Alignment:垂直配向)モードなどの他の動作モードとされた液晶パネルについても本発明は適用可能である。
 (14)上記した各実施形態では、液晶パネルのカラーフィルタが赤色、緑色及び青色の3色構成とされたものを例示したが、赤色、緑色及び青色の各着色部に、黄色の着色部を加えて4色構成としたカラーフィルタを備えたものにも本発明は適用可能である。
 (15)上記した各実施形態では、一対の基板間に液晶層が挟持された構成とされる液晶パネルについて例示したが、一対の基板間に液晶材料以外の機能性有機分子を挟持した表示パネルについても本発明は適用可能である。
 (16)上記した各実施形態では、液晶パネルのスイッチング素子としてTFTを用いたが、TFT以外のスイッチング素子(例えば薄膜ダイオード(TFD))を用いた液晶パネルにも適用可能であり、カラー表示する液晶パネル以外にも、白黒表示する液晶パネルにも適用可能である。
 (17)上記した各実施形態では、液晶パネルを例示したが、他の種類の表示パネル(PDP(プラズマディスプレイパネル)、有機ELパネル、EPD(電気泳動ディスプレイパネル)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)表示パネルなど)にも本発明は適用可能である。
 11...液晶パネル(表示装置)、11a...CF基板(対向基板)、11b,111b,211b,311b...アレイ基板(表示基板)、11f...TFT(表示素子)、11g...画素電極、11h...共通電極、11j...ソース配線(素子配線部)、11j1...配線重畳部、11p...TFT接続部(素子接続部)、19,119,219,319...第1層間絶縁膜(下層側第1絶縁膜、第1絶縁膜)、19a...第1層間絶縁膜端部(第1絶縁膜端部)、20,120,220,320...第1平坦化膜(上層側第1絶縁膜、第1絶縁膜)、20a...第1平坦化膜端部(第1絶縁膜端部)、22,122,222,322...第2平坦化膜(第2絶縁膜)、22a,122a,222a,322a...第2平坦化膜端部(第2絶縁膜端部)、24,124,224...第1透明電極膜(透明電極膜)、25...第2層間絶縁膜(第3絶縁膜)、26...第2透明電極膜(第2の透明電極膜)、27...位置検出電極、28...入力端子部(端子部)、29,129,229...端子配線部、29a...配線重畳部、30,130,230...保護部、31,231...突部、AA...表示領域、CH2...第2TFTコンタクトホール(素子コンタクトホール)、CH3...配線コンタクトホール、NAA...非表示領域、OP...開口部

Claims (8)

  1.  画像を表示可能な表示領域と、
     前記表示領域を取り囲む形で外周側に配される非表示領域と、
     前記非表示領域に配される複数の端子部と、
     前記表示領域と前記非表示領域とに跨る形で配されて端部である第1絶縁膜端部が複数の前記端子部と前記表示領域との間に配される第1絶縁膜と、
     少なくとも前記非表示領域にて前記第1絶縁膜の上層側に配されて前記第1絶縁膜端部を跨ぎつつ複数の前記端子部に接続される複数の端子配線部と、
     前記表示領域と前記非表示領域とに跨る形で複数の前記端子配線部の上層側に配されて端部である第2絶縁膜端部が前記第1絶縁膜端部よりも前記端子部側に配される第2絶縁膜と、
     少なくとも前記非表示領域において前記第2絶縁膜の上層側に配されて透明電極膜からなり複数の前記端子配線部のうち前記第2絶縁膜とは非重畳となる部分をそれぞれ覆う複数の保護部と、を備える表示基板。
  2.  前記第2絶縁膜には、隣り合う前記端子配線部の間に配されて前記第2絶縁膜端部から前記端子部側に向けて突出する突部が設けられている請求項1記載の表示基板。
  3.  前記表示領域に配される表示素子と、
     前記表示領域にて前記第1絶縁膜の上層側に配されて前記表示素子に接続されるとともに前記端子配線部と同層の素子接続部と、
     前記表示領域にて前記第2絶縁膜の上層側に配されるとともに前記素子接続部と重畳する位置に開口部が設けられて前記保護部と同じ透明電極膜からなる共通電極と、
     少なくとも前記表示領域にて前記共通電極の上層側に配されて前記素子接続部と重畳する位置に前記第2絶縁膜にも連通する素子コンタクトホールが形成されてなる第3絶縁膜と、
     前記表示領域にて前記第3絶縁膜の上層側に配され前記素子コンタクトホールを通して前記素子接続部に接続されて第2の透明電極膜からなる画素電極と、を備える請求項2記載の表示基板。
  4.  前記共通電極は、位置入力を行う位置入力体との間で静電容量を形成する位置検出電極を兼用している請求項3記載の表示基板。
  5.  前記第2絶縁膜のうち、前記第1絶縁膜とは非重畳となる部分が、前記第1絶縁膜と重畳する部分よりも膜厚が相対的に薄い請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の表示基板。
  6.  前記表示領域に配される表示素子と、
     少なくとも前記表示領域にて前記第1絶縁膜よりも下層側に配されて前記表示素子に接続される素子配線部と、を備えており、
     前記端子配線部及び前記素子配線部は、前記非表示領域にて互いに重畳する配線重畳部をそれぞれ有しているのに対し、前記第1絶縁膜のうち、前記配線重畳部と重畳する位置には、前記配線重畳部同士を接続する配線コンタクトホールが設けられている請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の表示基板。
  7.  前記第1絶縁膜は、下層側第1絶縁膜と、前記下層側第1絶縁膜に対して上層側に配される上層側第1絶縁膜と、から構成されている請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示基板。
  8.  請求項1から請求項7のいずれか1項に記載された表示基板と、前記表示基板と対向する形で配される対向基板と、を備える表示装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018225645A1 (ja) * 2017-06-09 2018-12-13 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2019031298A1 (ja) * 2017-08-07 2019-02-14 シャープ株式会社 表示パネル
CN109597249A (zh) * 2017-10-03 2019-04-09 夏普株式会社 显示面板
CN110098209A (zh) * 2018-01-30 2019-08-06 夏普株式会社 有源矩阵基板及包括该基板的x射线摄像面板
JP2020038305A (ja) * 2018-09-04 2020-03-12 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2021060494A (ja) * 2019-10-07 2021-04-15 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
US10991750B2 (en) 2018-09-14 2021-04-27 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and imaging panel with same
US11133347B2 (en) 2018-09-14 2021-09-28 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and imaging panel with same

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11943955B2 (en) * 2018-09-27 2024-03-26 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and method for manufacturing display device
CN109698160B (zh) * 2018-12-27 2020-09-25 厦门天马微电子有限公司 阵列基板及其制作方法、显示面板、显示装置
CN109884830B (zh) * 2019-02-28 2021-09-21 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制作方法、显示装置、掩模板
KR20200121414A (ko) * 2019-04-15 2020-10-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN110993649A (zh) * 2019-11-18 2020-04-10 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及其制备方法、显示装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1124101A (ja) * 1997-07-01 1999-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd アクティブ素子アレイ基板およびその製造方法
JPH1124094A (ja) * 1997-06-30 1999-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JPH11153809A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd フォトマスク及びアクティブ素子アレイ基板の製造方法
JP2002351354A (ja) * 2001-05-18 2002-12-06 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 薄膜トランジスタ・アレイ基板、薄膜トランジスタ・アレイ基板の製造方法および表示装置
JP2004191972A (ja) * 2002-12-09 2004-07-08 Lg Philips Lcd Co Ltd 液晶表示装置用アレイ基板とその製造方法
JP2009169394A (ja) * 2007-12-19 2009-07-30 Sony Corp 表示装置
US20120268396A1 (en) * 2011-04-21 2012-10-25 Lg Display Co., Ltd. Substrate for in-cell type touch sensor liquid crystal display device and method of fabricating the same
WO2014061531A1 (ja) * 2012-10-16 2014-04-24 シャープ株式会社 基板装置及びその製造方法
JP2014095895A (ja) * 2012-10-12 2014-05-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置、タッチパネル
JP2015148699A (ja) * 2014-02-06 2015-08-20 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びその製造方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01124094A (ja) * 1987-11-10 1989-05-16 Nittan Co Ltd 環境異常監視装置
TW413844B (en) * 1998-11-26 2000-12-01 Samsung Electronics Co Ltd Manufacturing methods of thin film transistor array panels for liquid crystal displays and photolithography method of thin films
JP4357689B2 (ja) * 2000-03-28 2009-11-04 シャープ株式会社 液晶表示パネル及びその製造方法
KR101304412B1 (ko) * 2007-01-24 2013-09-05 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판
US20080204618A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Min-Kyung Jung Display substrate, method for manufacturing the same, and display apparatus having the same
US7738050B2 (en) * 2007-07-06 2010-06-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Liquid crystal display device
JP4487318B2 (ja) * 2007-07-26 2010-06-23 エプソンイメージングデバイス株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
TWI341033B (en) * 2007-10-31 2011-04-21 Au Optronics Corp Pixel structure and method for manufacturing the same
US7999259B2 (en) 2007-12-19 2011-08-16 Sony Corporation Display device having a photodiode whose p region has an edge width different than that of the n region
JP5352333B2 (ja) * 2009-04-23 2013-11-27 株式会社ジャパンディスプレイ アクティブマトリクス型表示装置
WO2011024577A1 (ja) * 2009-08-25 2011-03-03 シャープ株式会社 光センサ、半導体装置、及び液晶パネル
KR101250319B1 (ko) * 2009-10-06 2013-04-03 엘지디스플레이 주식회사 프린지 필드 스위칭 모드 액정표시장치용 어레이 기판과 그 제조방법
US9329443B2 (en) * 2010-03-29 2016-05-03 Seiko Epson Corporation Liquid crystal display device having first and second dielectric films with different thicknesses
JP5347096B1 (ja) * 2012-09-13 2013-11-20 株式会社ワンダーフューチャーコーポレーション タッチパネルの製造方法及びタッチパネル、並びにタッチパネルと表示装置を具備する入出力一体型装置
KR20150104676A (ko) * 2014-03-05 2015-09-16 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법
KR102261760B1 (ko) * 2014-07-29 2021-06-07 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1124094A (ja) * 1997-06-30 1999-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JPH1124101A (ja) * 1997-07-01 1999-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd アクティブ素子アレイ基板およびその製造方法
JPH11153809A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd フォトマスク及びアクティブ素子アレイ基板の製造方法
JP2002351354A (ja) * 2001-05-18 2002-12-06 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 薄膜トランジスタ・アレイ基板、薄膜トランジスタ・アレイ基板の製造方法および表示装置
JP2004191972A (ja) * 2002-12-09 2004-07-08 Lg Philips Lcd Co Ltd 液晶表示装置用アレイ基板とその製造方法
JP2009169394A (ja) * 2007-12-19 2009-07-30 Sony Corp 表示装置
US20120268396A1 (en) * 2011-04-21 2012-10-25 Lg Display Co., Ltd. Substrate for in-cell type touch sensor liquid crystal display device and method of fabricating the same
JP2014095895A (ja) * 2012-10-12 2014-05-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置、タッチパネル
WO2014061531A1 (ja) * 2012-10-16 2014-04-24 シャープ株式会社 基板装置及びその製造方法
JP2015148699A (ja) * 2014-02-06 2015-08-20 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びその製造方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018225645A1 (ja) * 2017-06-09 2018-12-13 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2019031298A1 (ja) * 2017-08-07 2019-02-14 シャープ株式会社 表示パネル
CN109597249A (zh) * 2017-10-03 2019-04-09 夏普株式会社 显示面板
CN110098209A (zh) * 2018-01-30 2019-08-06 夏普株式会社 有源矩阵基板及包括该基板的x射线摄像面板
CN110098209B (zh) * 2018-01-30 2023-04-25 夏普株式会社 有源矩阵基板及包括该基板的x射线摄像面板
JP2020038305A (ja) * 2018-09-04 2020-03-12 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
WO2020049962A1 (ja) * 2018-09-04 2020-03-12 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
US11809031B2 (en) 2018-09-04 2023-11-07 Japan Display Inc. Display device
JP7208746B2 (ja) 2018-09-04 2023-01-19 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
US11133347B2 (en) 2018-09-14 2021-09-28 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and imaging panel with same
US10991750B2 (en) 2018-09-14 2021-04-27 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and imaging panel with same
WO2021070492A1 (ja) * 2019-10-07 2021-04-15 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
JP2021060494A (ja) * 2019-10-07 2021-04-15 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
JP7433012B2 (ja) 2019-10-07 2024-02-19 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置

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US10663821B2 (en) 2020-05-26
CN108352138A (zh) 2018-07-31
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US20180314122A1 (en) 2018-11-01

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