WO2017068754A1 - 単結晶の製造方法 - Google Patents

単結晶の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2017068754A1
WO2017068754A1 PCT/JP2016/004329 JP2016004329W WO2017068754A1 WO 2017068754 A1 WO2017068754 A1 WO 2017068754A1 JP 2016004329 W JP2016004329 W JP 2016004329W WO 2017068754 A1 WO2017068754 A1 WO 2017068754A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
crucible
raw material
conical valve
single crystal
melting
Prior art date
Application number
PCT/JP2016/004329
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
勝之 北川
Original Assignee
信越半導体株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 信越半導体株式会社 filed Critical 信越半導体株式会社
Priority to KR1020187010262A priority Critical patent/KR102435758B1/ko
Priority to DE112016004193.4T priority patent/DE112016004193B4/de
Priority to CN201680060808.6A priority patent/CN108138353B/zh
Priority to US15/761,573 priority patent/US10584426B2/en
Publication of WO2017068754A1 publication Critical patent/WO2017068754A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/02Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/20Controlling or regulating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

本発明は、充填工程後に、円錐バルブの下端をパージチューブの下端より下方に配置するステップと、円錐バルブの重量の変化を測定しながら、円錐バルブとルツボが相対的に近づくように移動させるステップと、円錐バルブの重量の変化率から円錐バルブの下端と原料の上端との接触を検知するステップと、接触を検知した円錐バルブの下端の位置から、原料の上端の位置を計測するステップと、パージチューブの下端とルツボ内に充填された原料の上端との間隔が所定の距離となるようにルツボの位置を設定するステップとを含むルツボ位置設定工程と、原料の溶融の進行に合わせて、パージチューブの下端と原料の上端との間隔が所定の距離を維持するようにルツボの位置を調整するルツボ位置調整ステップを含む溶融工程を行う単結晶の製造方法である。これにより、パージチューブの下端とルツボ内に充填された原料の上端との間隔を所定の距離となるような制御が可能となる。

Description

単結晶の製造方法
 本発明は、単結晶の製造方法に関する。
 半導体集積回路の基板として用いられるシリコン単結晶の製法としては、チョクラルスキー法(Czochralski Method:CZ法)があり、特に磁場を印加する磁場印加チョクラルスキー法(Magnetic Field applied Czochralski method:MCZ法)が普及している。
 これらCZ/MCZ法では、石英ルツボ内にシリコン原料を充填して溶融し、その原料融液に種結晶を着液した後、引き上げることでシリコン単結晶を育成することができる。CZ/MCZ法の単結晶製造装置(引き上げ機)では、メインチャンバー内に原料融液を加熱するヒーターが配置され、その内側に原料融液を収容する石英ルツボが設置される。
 通常、まずこの石英ルツボに原料を充填し、ヒーター加熱によって原料が溶融される。近年のシリコン単結晶の大口径化や結晶長尺化に伴い、石英ルツボ内に初期に充填した原料分だけでは足らず、さらに原料を追加する場合がある。これを追いチャージと呼び、後に説明するリチャージと同様に円錐状のバルブ(円錐バルブ)を下端に有するリチャージ管に原料を詰め、そのリチャージ管で石英ルツボ内に原料を投入する。そして、これらの原料を全て溶融した後、シリコン単結晶の育成を開始する。
 石英ルツボ内には原料が溶解された原料融液が満たされており、ここからシリコン単結晶が育成される。育成された単結晶は、メインチャンバー上部にゲートバルブを介して連接されているプルチャンバー内に収容され、冷却される。
 このような単結晶の製造において、1つの石英ルツボから1本の単結晶を育成するのみであれば、この時点で単結晶の育成は終了となるが、石英ルツボは割れて再使用ができなくなることから製造コストが高くなってしまう。そこで1つの石英ルツボから複数の単結晶を育成するマルチ操業が行われる場合がある。その場合、単結晶育成後には石英ルツボ中の原料融液は育成された結晶分だけ減少しているため、そのままでは次の単結晶を育成できない。従って、この減少分を補うために原料を再度投入するリチャージが行われる。
 リチャージの方法としては、ロッドリチャージ法や、特許文献1に開示されたような原料タンクから供給する方法などが古くから提案されてきた。しかし、多くの特許文献に取り上げられている技術は、下端に円錐バルブを有するリチャージ管に原料を収容し、そのリチャージ管に収容された原料を石英ルツボに投入する方法である。この技術の基本が開示されているのが、特許文献2、3、4である。
 このような方法において、ゲートバルブで仕切られた引き上げチャンバーからシリコン単結晶を取り出した後、原料を収容したリチャージ管をワイヤーで吊り下げて装着し、プルチャンバー内をアルゴン雰囲気に置換し、さらに炉内圧をメインチャンバー内の炉内圧に合わせた後ゲートバルブを開き、リチャージ管を下降させた後、円錐バルブを下降させることでリチャージ管の開口部を開けて原料を投入する。
 上記のように充填される原料は、通常、多結晶もしくは稀に単結晶の場合もあり、それらの結晶を砕いたものが用いられ、リチャージ管に詰められた状態では空隙がある。従って、単結晶を育成した分に相当するような原料を追加するためには、リチャージ管による1回の投入では不足となる場合がある。このような場合には、上記リチャージ管による原料の投入を複数回繰り返して行うことになる。
 例えば、リチャージ原料を投入中のリチャージ管および円錐バルブ位置、投入原料を収容する石英ルツボ位置の制御方法が、特許文献4に開示されている。
特開昭62-260791号公報 特開平2-157180号公報 WO2002/068732 特開2014-101254号公報 特開平11-263693号公報 特開2000-169286号公報
 石英ルツボ内にリチャージ管で原料を投入し終えた時点では、ヒーターの発熱中心に対し、石英ルツボは下方に位置している。このような位置に石英ルツボを固定して原料の溶融を行った場合、溶融時間のばらつき、石英ルツボ上部加熱による石英ルツボの上壁が変形して倒れ込むといった問題が生じることがある。また、石英ルツボの中心部と周辺部の原料溶融速度の違いにより中心部に溶け残りの芯が残って棚状となり、中心部の芯が溶けたときに一気に原料が落下して湯飛びや石英ルツボの破損といった問題を引き起こす要因となる。
 そのため、作業者が目視で炉内の原料の山の状況を確認しながら、パージチューブの下端と原料の上端との距離が常に一定の間隔になるように手元スイッチ操作によって調整を行っていた。しかしながら、近年、炉内構造(ホットゾーン)の断熱強化による省エネ化が進むにつれ、監視窓より得られる視野は段々と小さくなってきており、またパージチューブ直下の原料は見えないため、原料の上端までの距離を判断して調整するのには熟練した作業者でないと難しかった。
 また、作業者の習熟度や感覚の個人差により調整位置、調整のタイミングがばらつき、それにより溶融時間がばらつくという問題があった。
 原料供給時の位置決めに関する先行技術として、特許文献4の原料位置を検出するレーザー測長センサ、又は、カメラを使用する案、特許文献5の固化面位置検出方法、特許文献6のスクリーン部のセット方法が挙げられているが、このような方法を用いた場合であっても原料とパージチューブの間隔を所定の値に制御することは困難であった。
 原料投入直後の石英ルツボ内の原料は、チャージ量、リチャージ管内の原料の詰め具合、投入中の円錐バルブの振れ、投入速度等により毎回山形状が変化する。また、CCDカメラ等による原料位置検出手段では、パージチューブ直下の原料は見えないため、パージチューブと原料が干渉しないような適正な距離に調整しようとするのは難しい。
 本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、リチャージ管内に収容した原料をルツボ内に充填した後に、パージチューブの下端とルツボ内に充填された原料の上端との間隔が所定の距離となるようにルツボ位置を精度よく位置決めすることができる単結晶の製造方法を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本発明によれば、原料を収容する円筒部材と、該円筒部材の下端の開口部を開閉するための円錐バルブとを有するリチャージ管に前記原料を収容し、該原料を収容したリチャージ管をチャンバー内に配置されたパージチューブ内にセットし、前記円錐バルブを下降させて前記円筒部材の下端の開口部を開けることで前記リチャージ管内に収容した前記原料をルツボ内に充填する充填工程と、前記ルツボ内で前記原料を溶融して原料融液とする溶融工程と、該原料融液から単結晶を引き上げる工程とを有する単結晶の製造方法であって、
 前記充填工程後に、前記パージチューブの下端と前記ルツボ内に充填された前記原料の上端とが所定の距離となるように前記ルツボの位置を設定するルツボ位置設定工程を行い、
 該ルツボ位置設定工程は、前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より下方に配置するステップと、前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップと、前記円錐バルブの重量の変化率から前記円錐バルブの下端と前記原料の上端との接触を検知するステップと、該接触を検知した前記円錐バルブの下端の位置から、前記原料の上端の位置を計測するステップと、前記パージチューブの下端と前記ルツボ内に充填された前記原料の上端との間隔が所定の距離となるように前記ルツボの位置を設定するステップとを含み、
 前記溶融工程は、前記原料の溶融の進行に合わせて、前記パージチューブの下端と前記原料の上端との間隔が所定の距離を維持するように前記ルツボの位置を調整するルツボ位置調整ステップを含むことを特徴とする単結晶の製造方法を提供する。
 このようにすれば、ルツボ内に充填された原料の上端とパージチューブの下端との間隔が所定の距離となるように、ルツボ位置を精度良く位置決めすることができる。
 このとき、前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップは、
 前記円錐バルブを停止させた状態で前記ルツボを上昇させて、又は、前記ルツボを停止させた状態で前記円錐バルブを下降させて、あるいは、前記円錐バルブと前記ルツボの両方を動かして、前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させることができる。
 このようにすれば、円錐バルブとルツボが相対的に近づくように移動させることができる。
 またこのとき、前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より下方に配置するステップにおいて、
 前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より100mm以上下方に配置して待機させることが好ましい。
 このようにすれば、ルツボ内に充填した原料と円錐バルブを接触させる際に、原料とパージチューブが接触することをより確実に防止することができる。
 またこのとき、前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップにおいて、
 前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させる相対的な速度を50~150mm/minとすることが好ましい。
 このようにすれば、ルツボ内に充填した原料と円錐バルブとが接触した時の衝撃によって円錐バルブやリチャージ具が破損することを防止しつつ、時間がかかり過ぎることもなく生産性の面への影響を防止することができる、
 またこのとき、前記円錐バルブの重量の変化率から前記円錐バルブの下端と前記原料の上端との接触を検知するステップは、
 前記ルツボ内に前記原料を充填して前記リチャージ管内が空となった状態における前記円錐バルブの重量を基準重量として、測定された前記円錐バルブの重量が、前記基準重量に対して20%以上軽い場合に、前記円錐バルブの下端と前記原料が接触したと検知して、前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくようにさせる移動を停止させることが好ましい。
 このようにすれば、円錐バルブの振れによる誤検知を防止しつつ、円錐バルブの下端と原料の上端との接触を安定して検知することができる。
 またこのとき、前記ルツボ位置調整ステップは、
 第2の原料位置検出手段で前記原料の位置を検出し、該検出した値の変動分を補償するように前記ルツボの位置を調整することが好ましい。
 このようにすれば、溶融工程において、パージチューブの下端と原料の上端との間隔を常に一定の距離とすることができる。これによって、オペレーターの目視による判断の場合と比べて、ルツボ位置操作のばらつきがなくなるので、溶融時間を短縮することができる。
 またこのとき、前記第2の原料位置検出手段をCCDカメラとすることが好ましい。
 このように、溶融工程中において、原料の位置を検出するための第2の原料位置検出手段として、CCDカメラを用いることができる。
 またこのとき、前記ルツボ位置設定工程における前記ルツボ位置の設定及び、前記溶融工程における前記ルツボの位置の調整を自動で行うことが好ましい。
 このように原料投入から溶融中にかけての作業が自動化されることにより、オペレーターの目視による判断とルツボ位置操作のばらつきや、操作ミスがなくなり、溶融時間を均一化してかつ短縮することが可能となる。
 またこのとき、前記溶融工程において、
 前記ルツボ位置の調整に合わせて、前記ルツボ内に収容された前記原料を溶融するためのヒーターの位置を自動で制御することが好ましい。
 このようにすれば、ヒーターの発熱中心がルツボ内に充填された原料よりも下方に制御することができるので、溶融中の高い電力設定による石英ルツボの倒れ込みや石英ルツボの中心部と周辺部の原料溶融速度の違いにより、中心部に溶け残りの芯が残って棚状となり、中心部の芯が溶けたときに一気に原料が落下して湯飛びや石英ルツボの破損するといったトラブルを防止することができる。
 本発明の単結晶の製造方法であれば、ルツボ内に充填された原料の上端とパージチューブの下端との間隔が所定の距離となるように、ルツボ位置を精度良く位置決めすることができる。これにより、溶融時間のばらつきの低減、溶融時間の短縮、溶融中のトラブル低減が図られる。
本発明の単結晶の製造方法の一例を示した工程図である。 本発明で用いることができる単結晶製造装置の一例を示した概略図である。 リチャージ管の一例を示した概略図である。 本発明に関わるリチャージ原料投入から投入後のルツボ位置調整までの流れを示した概略図である。 実施例1におけるワイヤー位置、ルツボ位置及びロードセル重量の変化を示したグラフである。 実施例2と比較例における、連続リチャージ中の各ルツボ位置設定工程後におけるパージチューブの下端から、充填された原料の上端までの距離と、ルツボ位置との関係を示したグラフである。 実施例2と比較例における、溶融工程中のパージチューブの下端から、充填された原料の上端までの距離と溶融時間との関係を示したグラフである。 実施例2と比較例における、溶融工程中のルツボ位置を示したグラフである。 実施例2と比較例における、ルツボ内に充填した原料を溶融する際の所要時間の分布を示したグラフである。
 以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。上述したように、リチャージ管内に収容した原料をルツボ内に充填した後に、パージチューブの下端とルツボ内に充填された原料の上端との間隔を所定の距離となるように制御することが難しいという問題があった。
 そこで、本発明者はこのような問題を解決すべく鋭意検討を重ねた。その結果、ルツボ内に原料を充填した後、円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブとルツボが相対的に近づくように移動させ、円錐バルブの重量の変化率から円錐バルブの下端と原料の上端との接触を検知し、該接触を検知した前記円錐バルブの下端の位置から、原料の上端の位置を計測して、パージチューブの下端とルツボ内に充填された原料の上端との間隔が所定の距離となるようにルツボの位置を設定する方法を見出した。これにより、ルツボ内に充填された原料の上端とパージチューブの下端との間隔が所定の距離となるように、ルツボ位置を精度良く位置決めすることができることを発見した。そして、これらを実施するための最良の形態について精査し、本発明を完成させた。
 まず、本発明の単結晶の製造方法において用いることができる単結晶製造装置について説明する。図2に示すように、単結晶製造装置24は、メインチャンバー1と、メインチャンバー1内で原料融液8を収容する石英ルツボ9及び黒鉛ルツボ10と、石英ルツボ9及び黒鉛ルツボ10の周囲に配置されたヒーター12と、ヒーター12の外側周囲の断熱部材11と、メインチャンバー1の上部に配置されたパージチューブ18と、メインチャンバー1の上部にゲートバルブ16を介して連接され、育成した単結晶(単結晶インゴット)を収容するプルチャンバー2と、リチャージ管4とを備えている。
 プルチャンバー2には炉内を流下するガスを導入するガス導入口14が設けられ、メインチャンバー1の底部には炉内を流通したガスを排出するガス流出口15が設けられている。
 石英ルツボ9及び黒鉛ルツボ10は支持軸13を介して結晶成長軸方向に昇降可能に設置され、制御部23によってその昇降が制御される。制御部23は、結晶成長中において、結晶化して減少した原料融液8の液面下降分を補うように石英ルツボ9及び黒鉛ルツボ10を上昇させ、原料融液8の液面の高さがほぼ一定に保たれるように制御する。
 ワイヤー3の先端はリチャージ管4の円錐バルブ6に固定され、ワイヤー3を下方に送ることで円錐バルブ6を下降させることができる。ワイヤー3の昇降は制御部23によって制御される。また、ワイヤー3には重量を測定することができるロードセル19が接続されている。
 図3に示すように、リチャージ管4は、原料7(多結晶又は単結晶)を収容する石英製の円筒部材5と、該円筒部材5の下端の開口部を開閉するための石英製の円錐バルブ6と、円筒部材5の上端に取付けるリチャージ管蓋17を有している。
 リチャージ管4に収容した原料7は、ヒーター12のパワーを低下させて石英ルツボ9内の原料融液8の表面を固化させてから、図2に示すように、円錐バルブ6を下降させて開口部を開けることで原料7を石英ルツボ9内に投入することができる。リチャージ管4は原料7を投入する際にプルチャンバー2内にワイヤー3で吊るしてセットされ、原料投入後に単結晶を製造する際には取り外される。
 次に、本発明の単結晶の製造方法について図1~図4を参照して詳述する。以下では、上述したような単結晶製造装置24を用いた場合について説明する。
 まず、リチャージ管4に原料7を収容し、原料7を収容したリチャージ管4をメインチャンバー1内に配置されたパージチューブ18内にセットし、円錐バルブ6を下降させて円筒部材5の下端の開口部を開けることでリチャージ管4内に収容した原料7をルツボ9、10内に充填する充填工程を行う(図1のSP1)。
 充填工程は、具体的には、例えば、以下に示すようにして行うことができる。まず、図4(a)に示すように、円錐バルブ6を下降させることにより、リチャージ管4の円筒部材5の下端の開口部を開き、石英ルツボ9への原料7の充填を開始する。このとき、例えば、特許文献4に開示されているように、円錐バルブ6の下降と合わせて、制御部23によりルツボ9、10の位置を下降させることで、ルツボ9、10内に原料7を均一に充填することができる。
 このとき、図4(b)に示すように、原料7の充填が完了した時点で、充填された原料7の上端22と円錐バルブ6が接触しない位置とするように、原料7の充填中にルツボ9、10を下降させることが好ましい。
 その後、パージチューブ18の下端とルツボ9、10内に充填された原料7の上端とが所定の距離となるようにルツボの位置を設定するルツボ位置設定工程を行う(図1のSP2)。ルツボ位置設定工程(SP2)は、以下に示すようなステップ(図1のSP21~SP25)を含む。
 まず、円錐バルブ6の下端をパージチューブ18の下端より下方に配置する(図1のSP21)。なお、このステップSP21を充填工程における円錐バルブ6の下降と同時に行ってもよい。すなわち、原料7をルツボ9、10に充填する際に、原料7の充填が完了した時点で、円錐バルブ6の下端がパージチューブ18の下端より下方になるように制御することができる。
 充填工程において、上述したように原料7の上端22の山形状が均一になるように投入された場合でも、原料7のリチャージ管4への充填具合や、円錐バルブ6の形状、ワイヤー振れ等に影響され、ルツボ9、10内に充填された原料7の山の状況は毎回同じにはならない。また、ルツボ9、10に充填した原料7の山の形状には、100mm程度の高低差が生じる場合がある。
 そのため、円錐バルブ6の下端をパージチューブ18の下端より100mm~150mm下方に配置して待機させることが好ましい。このようにすれば、後述するようにルツボ9、10内に充填した原料7と円錐バルブ6を接触させる際に、原料7とパージチューブ18が接触することをより確実に防止することができる。
 このとき図4(b)に示すように、ルツボ9、10内に原料7を充填してリチャージ管4内が空となった状態における円錐バルブ6の重量を測定し、この重量を基準重量W0として収得することができる。円錐バルブ6の重量の測定は、ロードセル19によって行うことができる。なお、ロードセル19により測定された基準重量W0はリチャージ管4の吊具と円錐バルブ6の合計値となる。なお、原料7を充填する際の原料落下時に、円錐バルブ6は振れやすいため振れが小さくなるまで数秒程度待った後に基準重量W0を取得することが望ましい。このときの遅延時間の設定例としては例えば、10~30秒とすることができる。
 次に、円錐バルブ6の重量の変化を測定しながら、円錐バルブ6とルツボ9、10が相対的に近づくように移動させる(図1のSP22)。
 円錐バルブ6の重量の変化の測定は、ロードセル19によって行うことができる。
 このとき、具体的には、例えば、図4(c)に示すように、円錐バルブ6を停止させた状態でルツボ9、10を上昇させて円錐バルブ6とルツボ9、10が相対的に近づくように移動させることができる。または、ルツボ9、10を停止させた状態で円錐バルブ6を下降させて、あるいは、円錐バルブ6とルツボ9、10の両方を動かして、円錐バルブ6とルツボ9、10が相対的に近づくように移動させることもできる。
 またこのとき、円錐バルブ6とルツボ9、10が相対的に近づくように移動させる相対的な速度を50~150mm/minとすることが好ましい。このようにすれば、ルツボ9、10内に充填した原料7と円錐バルブ6とが接触したときの衝撃によって円錐バルブ6やリチャージ具が破損することを防止しつつ、工程時間が長くなることを抑制することができるので、生産性の面への影響を抑制することができる。
 次に、円錐バルブ6の重量の変化率から円錐バルブ6の下端と原料7の上端22との接触を検知する(図1のSP23)。
 具体的には、例えば、測定された円錐バルブ6の重量(以下、現在重量Wという)と、基準重量W0の差分の絶対値をとったものを下記の(1)式のようして算出し、重量変化|ΔW|を求める。
 |ΔW|=|W―W0|…(1)
 そして、重量変化|ΔW|を監視し、重量変化|ΔW|が、予め設定した閾値を超えた場合に、円錐バルブ6の下端と原料7の上端22とが接触したと判断することができる。この閾値はなるべく小さい方が感度よく検出できるが、上述したように、円錐バルブ6の振れによる誤検知を防止するために、余裕を持った値に設定することが望ましい。例えば、基準重量が3kgであった場合には、ΔWが0.6kg以上となった場合に円錐バルブ6の下端と原料7の上端22との接触を検知することができる。
 そして、図4(d)に示すように、円錐バルブ6の下端と充填された原料7の上端22が接触し、円錐バルブ6が持ち上げられたことによる重量変化が検知されたら、ルツボ位置の上昇または円錐バルブ降下、あるいはルツボ位置の上昇と円錐バルブの降下の両方を停止させることが好ましい。このとき、円錐バルブ6は充填された原料7の上端22の上に乗った状態で静止している。
 このように、ルツボ内に原料を充填してリチャージ管内が空となった状態における円錐バルブの重量を基準重量として、測定された円錐バルブの重量が、基準重量に対して20%以上軽い場合に、円錐バルブの下端と原料が接触したと検知して、円錐バルブとルツボが相対的に近づくようにさせる移動を停止させることが好ましい。このようにすれば、円錐バルブの振れによる誤検知を防止しつつ、円錐バルブの下端と原料の上端との接触を安定して検知することができる。
 次に、接触を検知した円錐バルブ6の下端の位置から、原料7の上端の位置を計測する(図1のSP24)。そして、パージチューブ18の下端とルツボ9、10内に充填された原料7の上端との間隔が所定の距離(以下、第1の距離ともいう)となるようにルツボ9、10の位置を設定する(図1のSP25)。
 このようにすることで、原料投入後のルツボ位置が図4(b)のようにヒーター12の発熱中心に対して下方に離れた状態で長時間放置したり、この状態で溶融を行ってしまうことを防止することができる。従来技術では、リチャージ管4を巻上げた後に、オペレーターの目視によりパージチューブ18の下端部と投入された原料までの距離を推定し、手元スイッチ操作によりルツボ位置の調整が行われていたため、ルツボ位置操作のばらつきや、溶融時間のばらつきが生じていた。
 一方、本発明の方法ではルツボ位置設定工程を行うため、溶融時間のばらつきや、石英ルツボの中心部と周辺部の原料溶融速度の違いにより中心部に溶け残りの芯が残って棚状となり、中心部の芯が溶けたときに一気に原料が落下して湯飛びや石英ルツボ9が破損することや、石英ルツボ9上端付近加熱による石英ルツボ9の倒れ込みが生じることを防止することができる。
 なお、ステップSP21において、パージチューブ18の下端と円錐バルブ6の下端との距離を、ステップSP25で設定する第1の距離となるように予め配置しておくことが好ましい。そしてさらに、ステップSP22において、円錐バルブ6を停止させた状態でルツボ9、10を上昇させ、その後ステップSP23で、円錐バルブの下端と原料の接触を検知して、ルツボの上昇を停止させることが好ましい。このようにすれば、原料と接触して停止させたルツボの位置が、そのまま設定されるべきルツボの位置となり、ルツボ位置の設定をより効率的に行うことができる。
 後述する溶融工程の前には、リチャージ管4を取出すためのワイヤー3の上昇、ゲートバルブ16の開閉制御、プルチャンバー2内の常圧戻し、ヒーター12の位置制御といった一連の作業が行われる。これらの作業は、例えば自動で行うことができる。
 次に、ルツボ9、10内で原料7を溶融して原料融液8とする溶融工程を行う(図1のSP3)。
 溶融工程は、原料7の溶融の進行に合わせて、パージチューブ18の下端と原料7の上端22との間隔が所定の距離(以下、第2の距離ともいう)を維持するようにルツボ9、10の位置を調整するルツボ位置調整ステップ(図1のSP31)を含む。
 ルツボ位置調整ステップ(図1のSP31)において、第2の原料位置検出手段で原料7の位置を検出し、該検出した値の変動分を補償するようにルツボ9、10の位置を調整することが好ましい。このようにすれば、溶融工程において、パージチューブ18の下端と原料7の上端22との間隔を常に一定の距離とすることができる。これによって、オペレーターの目視による判断の場合と比べて、ルツボ位置操作のばらつきがなくなるので、溶融時間を短縮することができる。ここで、第1の距離と第2の距離は同じとしてもよいし、異なるものとしてもよい。第1の距離と第2の距離が異なる場合、例えば第1の距離を150mm、第2の距離を120mmと設定することができる。
 またこのとき、図2のように第2の原料位置検出手段をCCDカメラ21とすることが好ましい。このように、溶融工程中において、原料7の位置を検出するための第2の原料位置検出手段として、CCDカメラ21を用いることができる。
 CCDカメラ21には結晶育成中の直径測定用のカメラや炉内監視用のカメラを用いることができる。監視窓20越しにパージチューブ開口部から確認できる原料をCCDカメラ21によって撮像し、溶融中の位置変化を検出することができる。
 原料位置変化の検出方法としては、原料7の上面に照射したレーザー基準光の位置変化を利用する方法、同一エリアを複数のCCDカメラ21により撮像し、原料のエッジ部より得られる視差の位置変化を利用する方法等があげられる。これにより溶融中の原料位置変動分を検出できるようなる。
 具体的には例えば、第2の原料位置検出手段は、平行な2つのCCDカメラ21を用いて、監視窓20越しに同じエリアの原料を撮像することができる。この場合、原料7の輪郭やエリア内の特徴的なエッジ部から得られた視覚情報から、2つのCCDカメラのスクリーン上において、原料7の上端22における対象点の位置の差を求める。そして、三角測量の原理でCCDカメラから、充填された原料7の上端22における対象点までの距離を測定することができる。
 また、上述したルツボ位置設定工程におけるルツボ位置の設定及び、溶融工程におけるルツボの位置の調整を自動で行うことが好ましい。このように原料投入から溶融中にかけての作業が自動化されることにより、オペレーターの目視による判断とルツボ位置操作のばらつきや、操作ミスがなくなり、溶融時間を均一化するとともに短縮することが可能となる。
 また、溶融工程において、ルツボ位置の調整に合わせて、ルツボ内に収容された原料を溶融するためのヒーターの位置を自動で制御することが好ましい。このようにすれば、ヒーターの発熱中心がルツボ内に充填された原料よりも下方になるように制御することができるので、溶融中の高い電力設定による石英ルツボの上部の倒れ込みや石英ルツボの中心部と周辺部の原料溶融速度の違いにより、中心部に溶け残りの芯が残って棚状となり、中心部の芯が溶けたときに一気に原料が落下して湯飛びや石英ルツボの破損するといったトラブルを防止することができる。更にヒーターも適正な位置に制御することよって、溶融時間のばらつき低減、時間の短縮、溶融中のトラブル低減が図られる。
 上述のようにしてルツボ9、10内の原料7を溶融させた後、原料融液8から単結晶を引き上げる工程を行う(図1のSP4)。
 単結晶を引き上げ工程は、従来の方法と同様とすることができる。例えば、原料を溶融させた原料融液に、ワイヤーの下端に接続している種ホルダーで固定された種結晶を着液させ、その後、種結晶を回転させながら引上げることにより、種結晶の下方に所望の直径と品質を有する単結晶を育成することができる。
 このような本発明の単結晶の製造方法であれば、ルツボ内に充填された原料の上端とパージチューブの下端との間隔が所定の距離となるように、ルツボ位置を精度良く位置決めすることができる。これにより、溶融時間のばらつきの低減、溶融時間の短縮、溶融中のトラブル低減が図られる。
 以下、本発明の実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
(実施例1)
 図2に示すような単結晶製造装置を用い、本発明における原料充填工程及びルツボ位置設定工程を行った。
 実施例1における原料充填工程、ルツボ位置設定工程は、以下のような条件で行った。
・リチャージ管4の原料7のチャージ量:60kg
・円錐バルブ6重量:2.5kg
・原料位置検出の閾値:基準重量W0×0.2
・円錐バルブ6の待機位置:パージチューブ下端から150mm
・原料位置検出時のルツボ上昇速度:100mm/min
 実施例1におけるワイヤー位置、ルツボ位置及びロードセル重量の変化を図5に示した。なお、図5において、第1縦軸(左側の縦軸)はワイヤー位置(SP)とルツボ位置(CP)を表し、第2縦軸(右側の縦軸)はロードセル重量を表す。第1縦軸のSPは値が大きいほどワイヤー位置が高いことを意味している。一方、第1縦軸のCPは値が大きいほどルツボ位置が低いことを意味している。
 まず、プルチャンバー2にリチャージ管4をセットし、プルチャンバー2内をアルゴン雰囲気に置換後、メインチャンバー1と同じ炉内圧となるようにプルチャンバー2の圧力調整を行った。その後、原料投入のためにゲートバルブ16を開き、ワイヤー3を下降させてリチャージ管4の円筒部材5を原料投入前待機位置まで調整した(図5のI)。
 次に、ワイヤー3を下降させて円筒部材5と円錐バルブ6の開口部を開き、原料のルツボ内への充填を開始した。ルツボ内に原料を均一に投入するためワイヤー3の下降と同時にルツボ位置も下降させた。原料7を出し切った後のルツボ位置は円錐バルブ6と原料7の上端22が接触しないような十分に低い位置で待機させた(図5のII)。このときの円錐バルブ6の待機位置は、バージチューブの下端から150mmの位置とした。
 原料7を出しきった直後の重量はワイヤー3の振れにより安定しないため、次のルツボ位置設定工程IVに移行するまでの時間を少し遅らせた(図5のIII)。実施例1では10秒とした。
 そして、ルツボ位置設定工程では、基準重量W0を取得し、重量監視を行うと同時にルツボ位置を上昇させた(図5のIV)。実施例1では、基準重量W0は3.05kgであり、閾値は基準重量W0に対し20%軽い重量に設定した。すなわち、0.6kg以上の重量変化があった場合に円錐バルブ6と原料7の上端22が接触したと判断した。このときの結果では、接触前後で2.15kgの重量変化が見られた。具体的には、接触前の基準重量W0は3.05kgであり、接触後の重量0.87kgであった。このときの重量変化率は約70%であった。重量変化が検知された時点でルツボ上昇を停止させ、ルツボ位置の調整を完了した。このようにして、パージチューブの下端と、ルツボ内に充填された原料の上端との間隔が150mmとなるように設定した。
 調整後のルツボ位置に合わせてヒーター位置を調整した後、ワイヤー3上昇により円錐バルブ6を円筒部材5に収納後、リチャージ管4をプルチャンバー2まで送った後、ゲートバルブ16を閉め、プルチャンバー2内を常圧に戻し、リチャージ管4の取出しを行った(図5のV)。
(実施例2)
 図2に示すような単結晶製造装置を用い、チャージ量以外は実施例1と同様にして原料充填工程、ルツボ位置設定工程を行った。その後、溶融工程を行い、充填した原料を溶融した。そして、これらの工程を繰り返し行い、連続リチャージ(合計5回)を行った。
 実施例2における原料充填工程、ルツボ位置設定工程及び溶融工程は、以下のような条件で行った。
・リチャージ投入回数5回、合計310kgチャージ
(チャージ量の内訳:1~3投目75kg、4投目65kg、5投目20kg)
・円錐バルブ6重量:2.5kg
・原料位置検出の閾値:W0×0.2
・円錐バルブ6の待機位置:パージチューブ下端から150mm
・原料位置検出時のルツボ上昇速度:100mm/min
・原料溶融中のパージチューブの下端から充填された原料7の上端22までの目標距離:120mm
 実施例1と同様にしてパージチューブの下端と、ルツボ内に充填された原料の上端との間隔が150mmとなるように設定した後、溶融工程を実施した。溶融工程は、第2の原料位置検出手段によって得られたパージチューブ18の下端から充填された原料7までの距離変化分を補償するようにルツボ位置の調整を行った。このとき、原料溶融中のパージチューブ18の下端から充填された原料7の上端22までの目標距離を120mmとした。また、石英ルツボ9上部の倒れ軽減のために、溶融中のルツボ位置制御と合わせてヒーター位置の発熱中心が常に投入された原料7の上端22よりも下方となるように制御を行った。
 第2の原料位置検出手段は、平行な2つのCCDカメラ21を用いて同じエリアの原料7を撮像し、得られた視覚情報から三角測量の原理でカメラから充填された原料7の上端22までの距離を測定する方法を採用した。
 連続リチャージ中の各ルツボ位置設定工程後におけるパージチューブの下端から、充填された原料の上端までの距離と、ルツボ位置との関係を図6に示した。ルツボ位置設定工程後におけるパージチューブの下端から、充填された原料の上端までの距離は第2の原料位置検出手段によって測定された値とした。
 図7に、溶融工程中のパージチューブ下端から充填された原料上端までの距離と溶融時間との関係を示した。横軸に溶融時間(h)を示し、縦軸にパージチューブ下端から充填された原料までの距離(mm)を示した。パージチューブ下端から充填された原料7の上端22は、第2の原料位置検出手段による測定値である。図7中の大きく下に落ち込んでいる部分が、原料が投入されたポイントである。
 図8に、溶融工程中のルツボ位置(CP)を示した。図8中の大きく上にとがっている部分が、原料が投入されたポイントである。
 上述の連続リチャージと同様にして、連続リチャージを合計50回行った。このとき、それぞれの連続リチャージにおいてルツボ内に充填した原料を溶融する際の所要時間を測定し、その分布を図9に示した。なお、図6~図9には後述する比較例の結果も併せて記した。
 溶融工程終了後の原料融液から単結晶を引き上げる工程を実施したところ、問題なく単結晶の製造を行うことができた。また、後述するように比較例に比べて原料の溶融時間が短縮されているので、全体的な製造効率も高かった。
(比較例)
 実施例2のルツボ位置設定工程において、作業者が目視により原料までの距離を推定しながら、手元スイッチ操作によりルツボ位置の調整を行ったこと以外は実施例2と同様にして連続リチャージを行った。
 比較例における連続リチャージ中の、各ルツボ位置設定工程後におけるパージチューブの下端から、充填された原料の上端までの距離と、ルツボ位置との関係を図6に示した。その結果、図6に示したように、比較例では、人が目視により原料までの距離を推定しながらルツボ位置の調整を行っているために、調整後のルツボ位置に約75mmのばらつきがあり、特にルツボ内の原料融液の量が多い後半(CP値>380)でのばらつきが大きくなる結果となった。一方、実施例2の場合は、ルツボ位置のばらつきは約15mmであり、パージチューブ下端から充填された原料7の上端22までの距離が毎回一定となるようにルツボ位置が調整された。これにより、原料投入後の位置合せに要するオペレータの労力軽減と溶融条件のばらつきが低減された。
 また、図7に、比較例における溶融工程中のパージチューブ下端から充填された原料上端までの距離と溶融時間との関係を示した。図7に示したように、実施例2では、比較例に比べて目標値付近で安定して制御されていることが分かる。また、ルツボ位置だけではなくヒーター位置も合わせて制御されるので、連続リチャージによる長い溶融工程中の作業者の負担が大きく軽減された。
 また、図8に、比較例における溶融工程中のルツボ位置(CP)を示した。図8に示したように、比較例では、実施例2に比べて、溶融時間が長くかかっていることが分かる。
 比較例において、連続リチャージを合計50回行ったときの、それぞれの連続リチャージにおいてルツボ内に充填した原料を溶融する際の所要時間の分布を図9に示した。その結果、図9に示したように、実施例2では、リチャージ溶融中のルツボ位置の制御、およびヒーター位置の制御が自動で行えるようになったため、溶融時間のばらつきが減るとともに、比較例に比べて溶融時間が平均で1.41時間短縮した。また、本発明の方法によって、各工程を自動化することが可能となるため、作業ミスの低減や、労働生産性の向上に貢献することができる。
 なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。

Claims (9)

  1.  原料を収容する円筒部材と、該円筒部材の下端の開口部を開閉するための円錐バルブとを有するリチャージ管に前記原料を収容し、該原料を収容したリチャージ管をチャンバー内に配置されたパージチューブ内にセットし、前記円錐バルブを下降させて前記円筒部材の下端の開口部を開けることで前記リチャージ管内に収容した前記原料をルツボ内に充填する充填工程と、前記ルツボ内で前記原料を溶融して原料融液とする溶融工程と、該原料融液から単結晶を引き上げる工程とを有する単結晶の製造方法であって、
     前記充填工程後に、前記パージチューブの下端と前記ルツボ内に充填された前記原料の上端とが所定の距離となるように前記ルツボの位置を設定するルツボ位置設定工程を行い、
     該ルツボ位置設定工程は、前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より下方に配置するステップと、前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップと、前記円錐バルブの重量の変化率から前記円錐バルブの下端と前記原料の上端との接触を検知するステップと、該接触を検知した前記円錐バルブの下端の位置から、前記原料の上端の位置を計測するステップと、前記パージチューブの下端と前記ルツボ内に充填された前記原料の上端との間隔が所定の距離となるように前記ルツボの位置を設定するステップとを含み、
     前記溶融工程は、前記原料の溶融の進行に合わせて、前記パージチューブの下端と前記原料の上端との間隔が所定の距離を維持するように前記ルツボの位置を調整するルツボ位置調整ステップを含むことを特徴とする単結晶の製造方法。
  2.  前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップは、
     前記円錐バルブを停止させた状態で前記ルツボを上昇させて、又は、前記ルツボを停止させた状態で前記円錐バルブを下降させて、あるいは、前記円錐バルブと前記ルツボの両方を動かして、前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させることを特徴とする請求項1に記載の単結晶の製造方法。
  3.  前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より下方に配置するステップにおいて、
     前記円錐バルブの下端を前記パージチューブの下端より100mm以上下方に配置して待機させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の単結晶の製造方法。
  4.  前記円錐バルブの重量の変化を測定しながら、該円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させるステップにおいて、
     前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくように移動させる相対的な速度を50~150mm/minとすることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の単結晶の製造方法。
  5.  前記円錐バルブの重量の変化率から前記円錐バルブの下端と前記原料の上端との接触を検知するステップは、
     前記ルツボ内に前記原料を充填して前記リチャージ管内が空となった状態における前記円錐バルブの重量を基準重量として、測定された前記円錐バルブの重量が、前記基準重量に対して20%以上軽い場合に、前記円錐バルブの下端と前記原料が接触したと検知して、前記円錐バルブと前記ルツボが相対的に近づくようにさせる移動を停止させることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の単結晶の製造方法。
  6.  前記ルツボ位置調整ステップは、
     第2の原料位置検出手段で前記原料の位置を検出し、該検出した値の変動分を補償するように前記ルツボの位置を調整することを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の単結晶の製造方法。
  7.  前記第2の原料位置検出手段をCCDカメラとすることを特徴とする請求項6に記載の単結晶の製造方法。
  8.  前記ルツボ位置設定工程における前記ルツボ位置の設定及び、前記溶融工程における前記ルツボの位置の調整を自動で行うことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の単結晶の製造方法。
  9.  前記溶融工程において、
     前記ルツボ位置の調整に合わせて、前記ルツボ内に収容された前記原料を溶融するためのヒーターの位置を自動で制御することを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の単結晶の製造方法。
PCT/JP2016/004329 2015-10-19 2016-09-26 単結晶の製造方法 WO2017068754A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020187010262A KR102435758B1 (ko) 2015-10-19 2016-09-26 단결정의 제조방법
DE112016004193.4T DE112016004193B4 (de) 2015-10-19 2016-09-26 Verfahren zum Herstellen eines Einkristalls
CN201680060808.6A CN108138353B (zh) 2015-10-19 2016-09-26 单晶的制造方法
US15/761,573 US10584426B2 (en) 2015-10-19 2016-09-26 Method for producing single crystal

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015-205700 2015-10-19
JP2015205700A JP6390579B2 (ja) 2015-10-19 2015-10-19 単結晶の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017068754A1 true WO2017068754A1 (ja) 2017-04-27

Family

ID=58556858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/004329 WO2017068754A1 (ja) 2015-10-19 2016-09-26 単結晶の製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10584426B2 (ja)
JP (1) JP6390579B2 (ja)
KR (1) KR102435758B1 (ja)
CN (1) CN108138353B (ja)
DE (1) DE112016004193B4 (ja)
WO (1) WO2017068754A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019009010A1 (ja) * 2017-07-07 2019-01-10 信越半導体株式会社 リチャージ管及び単結晶の製造方法
WO2022185789A1 (ja) * 2021-03-01 2022-09-09 信越半導体株式会社 原料融液の表面の状態の検出方法、単結晶の製造方法、及びcz単結晶製造装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7006573B2 (ja) * 2018-11-30 2022-01-24 株式会社Sumco 単結晶引き上げ装置、および、シリコン単結晶の製造方法
CN115537911A (zh) * 2022-10-21 2022-12-30 成都东骏激光股份有限公司 提拉法制备大尺寸晶体的方法和设备
CN116145239B (zh) * 2023-04-24 2023-07-07 苏州晨晖智能设备有限公司 单晶硅加料监测方法和单晶硅连续加料装置及其生长装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6424089A (en) * 1987-07-21 1989-01-26 Shinetsu Handotai Kk Device for adjusting initial position of melt surface
JPH02157180A (ja) * 1988-12-12 1990-06-15 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶棒の引上げ装置
JPH10158091A (ja) * 1996-11-22 1998-06-16 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶の製造装置および製造方法
JPH11180794A (ja) * 1997-12-22 1999-07-06 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶引上げ装置の湯洩れ検知システム
JP2001010892A (ja) * 1999-06-22 2001-01-16 Mitsubishi Materials Silicon Corp シリコン単結晶引上げ装置の多結晶シリコンの融解方法
WO2002068732A1 (fr) * 2001-02-28 2002-09-06 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Tube de recharge pour matériau polycristallin solide, et procédé de production de monocristal au moyen de ce tube
JP2004083322A (ja) * 2002-08-26 2004-03-18 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp Cz原料供給方法及び供給治具
JP2008019125A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Sumco Techxiv株式会社 半導体ウェーハ素材の溶解方法及び半導体ウェーハの結晶育成方法
JP2014101254A (ja) * 2012-11-20 2014-06-05 Shin Etsu Handotai Co Ltd 原料充填方法、単結晶の製造方法及び単結晶製造装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62260791A (ja) 1986-05-08 1987-11-13 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上装置
JPH07330480A (ja) * 1994-06-13 1995-12-19 Hitachi Ltd 単結晶引上げ装置
JP3606037B2 (ja) 1998-03-13 2005-01-05 信越半導体株式会社 単結晶引上げ装置の原料追加供給装置
JP2000169286A (ja) 1998-12-04 2000-06-20 Komatsu Electronic Metals Co Ltd 結晶製造方法及び装置
JP4698892B2 (ja) * 2001-07-06 2011-06-08 株式会社Sumco Cz原料供給方法及び供給用治具
JP4345624B2 (ja) * 2004-09-21 2009-10-14 株式会社Sumco チョクラルスキー法による原料供給装置および原料供給方法
JP2007112663A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Sumco Techxiv株式会社 半導体単結晶製造装置および製造方法
JP2009263178A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Sumco Corp 単結晶育成装置および原料供給方法
JP5708171B2 (ja) * 2010-04-26 2015-04-30 株式会社Sumco シリコン単結晶引き上げ装置及びシリコン単結晶の製造方法
CN202297852U (zh) * 2011-11-10 2012-07-04 常州华盛恒能光电有限公司 用于直拉法单晶炉的二次投料装置
CN102995111B (zh) * 2012-11-07 2015-05-27 北京七星华创电子股份有限公司 单晶炉非接触式硅料液面位置测量方法及装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6424089A (en) * 1987-07-21 1989-01-26 Shinetsu Handotai Kk Device for adjusting initial position of melt surface
JPH02157180A (ja) * 1988-12-12 1990-06-15 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶棒の引上げ装置
JPH10158091A (ja) * 1996-11-22 1998-06-16 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶の製造装置および製造方法
JPH11180794A (ja) * 1997-12-22 1999-07-06 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶引上げ装置の湯洩れ検知システム
JP2001010892A (ja) * 1999-06-22 2001-01-16 Mitsubishi Materials Silicon Corp シリコン単結晶引上げ装置の多結晶シリコンの融解方法
WO2002068732A1 (fr) * 2001-02-28 2002-09-06 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Tube de recharge pour matériau polycristallin solide, et procédé de production de monocristal au moyen de ce tube
JP2004083322A (ja) * 2002-08-26 2004-03-18 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp Cz原料供給方法及び供給治具
JP2008019125A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Sumco Techxiv株式会社 半導体ウェーハ素材の溶解方法及び半導体ウェーハの結晶育成方法
JP2014101254A (ja) * 2012-11-20 2014-06-05 Shin Etsu Handotai Co Ltd 原料充填方法、単結晶の製造方法及び単結晶製造装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019009010A1 (ja) * 2017-07-07 2019-01-10 信越半導体株式会社 リチャージ管及び単結晶の製造方法
JP2019014625A (ja) * 2017-07-07 2019-01-31 信越半導体株式会社 リチャージ管及び単結晶の製造方法
CN110869541A (zh) * 2017-07-07 2020-03-06 信越半导体株式会社 再装填管及单晶的制造方法
WO2022185789A1 (ja) * 2021-03-01 2022-09-09 信越半導体株式会社 原料融液の表面の状態の検出方法、単結晶の製造方法、及びcz単結晶製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN108138353A (zh) 2018-06-08
US20180340269A1 (en) 2018-11-29
JP6390579B2 (ja) 2018-09-19
DE112016004193T5 (de) 2018-05-24
CN108138353B (zh) 2020-07-17
DE112016004193B4 (de) 2023-08-03
KR102435758B1 (ko) 2022-08-25
JP2017077981A (ja) 2017-04-27
KR20180066095A (ko) 2018-06-18
US10584426B2 (en) 2020-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2017068754A1 (ja) 単結晶の製造方法
JP5857945B2 (ja) 原料充填方法および単結晶の製造方法
JP6067146B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法及び製造システム
JP6503933B2 (ja) シリコン融液供給装置及び方法並びにシリコン単結晶製造装置
JP2003512282A (ja) 半導体結晶の成長を制御する方法
JP2013256406A (ja) 原料充填方法及び単結晶の製造方法
KR20150107241A (ko) 잉곳 제조 방법 및 잉곳 제조 장치
JP4677882B2 (ja) 半導体結晶の製造方法及び半導体結晶の製造装置
JP6899176B2 (ja) Fz法によって単結晶を引き上げるための方法
CN116732604A (zh) 一种单晶拉晶方法以及单晶拉晶设备
KR101554411B1 (ko) 잉곳성장장치 및 잉곳성장방법
JP3693704B2 (ja) 棒状多結晶シリコンの溶解方法及びその装置
WO2022185789A1 (ja) 原料融液の表面の状態の検出方法、単結晶の製造方法、及びcz単結晶製造装置
JP7412276B2 (ja) 原料シリコンの充填方法
JP2009137781A (ja) 結晶成長方法およびその装置
JP2020507548A (ja) Fz法によって単結晶を引き上げるための方法およびプラント
JP6425332B2 (ja) 単結晶シリコン引上装置、および単結晶シリコン引上方法
CN115434010A (zh) 自动化熔接方法及单晶硅
KR20210068694A (ko) 태양전지 잉곳 성장 장치용 자동 충진장치 및 방법
JP2000026197A (ja) シリコン単結晶の製造方法および装置
JP2012036042A (ja) シリコン単結晶製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16857077

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15761573

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 112016004193

Country of ref document: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20187010262

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16857077

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1