WO2013129306A1 - 防眩フィルム - Google Patents

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WO2013129306A1
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勉 古谷
玉馨 金
貴志 藤井
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Definitions

  • the present invention relates to an antiglare film having excellent antiglare properties.
  • Image display devices such as a liquid crystal display, a plasma display panel, a cathode ray tube (CRT) display, and an organic electroluminescence (EL) display, when external light is reflected on the display surface, remarkably deteriorates the visibility.
  • TVs and personal computers that emphasize image quality, video cameras and digital cameras used outdoors with strong external light, mobile phones that display using reflected light, etc.
  • an antiglare film has been used to prevent the reflection of external light on the surface of the image display device.
  • an antiglare film for example, in Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2006-53371), the surface is finely polished by polishing the base material, applying sand blasting, and then applying electroless nickel plating.
  • An anti-glare film produced by producing a roll having unevenness and curing it while pressing the uneven surface of the roll against a photocurable resin layer formed on a TAC film is described. That is, a method for producing an antiglare film is disclosed that includes transferring the shape of the uneven surface of a mold to a transparent resin film, and then peeling the transparent resin film having the transferred shape of the uneven surface of the mold from the mold. Yes.
  • Anti-glare film has anti-glare properties, exhibits good contrast when placed on the surface of an image display device, and the entire display surface becomes whitish due to scattered light when placed on the surface of the image display device. Suppresses the occurrence of so-called “whitening” that becomes a cloudy color, and when arranged on the surface of the image display device, the pixel of the image display device and the surface uneven shape of the antiglare film interfere with each other. As described above, it is desired to suppress the occurrence of so-called “glare” that is difficult to see due to the occurrence of a luminance distribution.
  • Patent Document 1 since the anti-glare film disclosed in Patent Document 1 is produced using a mold having a concavo-convex shape formed by sandblasting, it is not sufficient in terms of the accuracy of the concavo-convex shape, and in particular has a period of 50 ⁇ m or more. Since it may have a relatively large uneven shape, “glare” was likely to occur.
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 2010-224427 discloses an antiglare film in which an antiglare layer having a fine uneven surface is formed on a transparent support, and the altitude of the fine uneven surface is It is disclosed that an antiglare film having excellent antiglare performance can be obtained by controlling the power spectrum. Moreover, manufacturing an anti-glare film using a pattern with a controlled power spectrum is disclosed.
  • the power spectrum H 1 2 in a spatial frequency 0.01 [mu] m -1 elevation of the fine uneven surface antiglare film the power spectrum H 2 2 ratio H 1 2 / H in a spatial frequency 0.04 .mu.m -1 2 antiglare film having excellent performance such as sufficient antiglare property and glare suppression by 2 in the range of 3 to 15 that is obtained is disclosed.
  • a method of manufacturing the anti-glare film using a pattern of the power spectrum has no maximum value in the following larger 0.04 .mu.m -1 than the spatial frequency 0 .mu.m -1 is disclosed.
  • the antiglare film disclosed in Patent Document 2 has a surface unevenness having a period of 50 ⁇ m or more by setting the ratio H 1 2 / H 2 2 of the altitude power spectrum of the fine uneven surface to a range of 3-15. The waviness of the shape is reduced, and glare can be effectively suppressed.
  • the haze which is one of the optical characteristics of the antiglare film, is preferably as small as possible in order to suppress the expression of good contrast and the occurrence of whitishness. For this reason, it is desired to reduce the haze for further improving the contrast and suppressing the occurrence of whitishness, but when the haze is simply reduced, the antiglare property is lowered. Therefore, it is possible to improve the contrast of the antiglare film by reducing the haze, suppress the occurrence of whitishness, maintain the antiglare property of the antiglare film, and suppress the occurrence of glare. It was difficult to do.
  • the surface unevenness undulation having a period of about 100 ⁇ m that contributes to the antiglare property when the antiglare film is reduced in haze is reduced, and the antiglare property is not good. It will be enough.
  • an antireflection layer for example, transparent support / antiglare layer / low refractive index layer or transparent support / antiglare layer / A method of making up for the lack of anti-glare property by reducing the reflectance can be considered.
  • the antireflection layer is formed on the antiglare layer, it is necessary to form the antireflection layer having a uniform film thickness, which increases the cost. Further, when the film thickness of the antireflection layer is insufficient, there is a problem that quality defects such as unevenness occur.
  • An object of the present invention is to provide an antiglare film that can achieve sufficient antiglare properties and suppression of glare even with low haze.
  • the present inventors have reduced the undulation of the period near 50 ⁇ m while the surface irregularity shape of the antiglare film has the undulation of the period near 100 ⁇ m. If it is a thing, it discovered that it became what can suppress glare, expressing sufficient anti-glare property, when low haze was attained, and reached
  • the present invention is an antiglare film comprising a transparent support and an antiglare layer formed on the transparent support, and having a total haze of 1% or less
  • the antiglare layer comprises a fine uneven surface having fine unevenness on the side opposite to the transparent support
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency f of the common logarithm of the one-dimensional power spectrum H 2 (f) of the fine uneven surface is less than 0 at a spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the antiglare film is characterized by being greater than 0 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the proportion of the minute surfaces having an inclination angle of 5 ° or more in the fine uneven surface is less than 1%.
  • the maximum cross-sectional height Rt of the fine uneven surface is 0.3 ⁇ m or more and 1 ⁇ m or less.
  • the present invention includes a step of forming a surface shape based on a predetermined pattern on the surface of the mold base, Graph in representing the one-dimensional power spectrum of the pattern as the intensity with respect to spatial frequency, has one maximum value in the following spatial frequency 0.007 -1 or 0.015 .mu.m -1, and the spatial frequency 0.05 ⁇ m
  • the present invention also relates to a method for producing a mold for producing an antiglare film, which has one maximum value at ⁇ 1 or more and 0.1 ⁇ m ⁇ 1 or less.
  • the manufacturing method of the mold for manufacturing the antiglare film is as follows.
  • the present invention is to transfer the shape of the concavo-convex surface of the mold manufactured by the above method to the transparent resin film, and then peel off the transparent resin film to which the shape of the concavo-convex surface of the mold is transferred from the mold.
  • the present invention also relates to a method for producing an antiglare film.
  • an antiglare film that can achieve sufficient antiglare properties and suppression of glare even with low haze.
  • the cost does not increase, and unevenness that occurs when the thickness of the antireflection layer or the like is insufficient. Such as quality defects are suppressed.
  • FIG. 1 It is sectional drawing which shows typically an example of the anti-glare film of this invention. It is a perspective view which shows typically an example of the anti-glare film of this invention. It is a schematic diagram which shows the state from which the function h (x, y) showing an altitude is obtained discretely. It is the figure which represented the altitude of the fine unevenness
  • Two-dimensional power spectrum H 2 (f x, f y ) is a schematic view for explaining a method of averaging the distance f from the origin in the frequency space. The elevation of the fine uneven surface of the antiglare film shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a discrete Fourier transform and one-dimensional power spectrum obtained by common logarithm logH 2 (f). It is a schematic diagram for demonstrating the measuring method of the inclination-angle of the fine uneven
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a power spectrum G 2 (f) obtained by subjecting the pattern illustrated in FIG. 9 to discrete Fourier transform.
  • FIG. 5 is a diagram showing patterns used in the production of dies in Examples 2 to 4. It is a figure which shows the pattern used in the case of metal mold
  • FIG. 5 is a diagram showing patterns used in the production of dies in Examples 2 to 4. It is a figure which shows the pattern used in the case of metal mold
  • FIG. 19 shows a one-dimensional power spectrum G 2 (f) of the patterns shown in FIGS.
  • FIG. 6 is a graph showing a common logarithm log H 2 (f) of a one-dimensional power spectrum calculated from an altitude of an antiglare film of Examples 2 to 4. It is a diagram illustrating a common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the elevation of the antiglare film of Example 5 and Comparative Example 1. It is a diagram illustrating a common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the elevation of the antiglare films of Comparative Examples 2 and 3.
  • the antiglare film of the present invention includes a transparent support and an antiglare layer formed on the transparent support, and has a total haze of 1% or less.
  • the total haze of the antiglare film is measured as follows. After the antiglare layer is formed on the transparent support, the antiglare film and the glass substrate are pasted using a transparent adhesive so that the side on which the antiglare layer of the transparent support is not formed becomes a bonding surface. Then, light is incident from the glass substrate side and haze is measured in accordance with JIS K 7136. The haze measured in this way corresponds to the total haze of the antiglare film.
  • the antiglare layer of the present invention comprises a fine uneven surface having fine unevenness on the side opposite to the transparent support,
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency f of the common logarithm of the one-dimensional power spectrum H 2 (f) of the elevation of the fine uneven surface is less than 0 at the spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 . It is characterized by being greater than 0 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the surface of the antiglare film of the present invention.
  • the antiglare film 1 of the present invention has a transparent support 101 and an antiglare layer 102 formed thereon, and the antiglare layer 102 is opposite to the transparent support 101.
  • the antiglare layer 102 is opposite to the transparent support 101.
  • the “elevation of the surface of the fine unevenness” as used in the present invention means an arbitrary point P on the surface of the film 1 and a virtual plane 103 having the height at the average height of the surface of the fine unevenness (the altitude is used as a reference).
  • 0 ⁇ m means a linear distance in the main normal direction 5 (normal direction in the virtual plane 103) of the film.
  • the antiglare film has an antiglare layer in which fine irregularities are formed on a two-dimensional plane. Therefore, as shown in FIG. 2, the elevation of the surface of the fine unevenness is expressed by a two-dimensional function of the coordinates (x, y) when the orthogonal coordinates in the film plane are represented by (x, y). It can be expressed as h (x, y).
  • the elevation of the surface of the fine irregularities can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by an apparatus such as a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM).
  • the horizontal resolution required for the measuring instrument is at least 5 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or less, and the vertical resolution is at least 0.1 ⁇ m or less, preferably 0.01 ⁇ m or less.
  • Non-contact three-dimensional surface shape / roughness measuring instruments suitable for this measurement include New View 5000 series (manufactured by Zygo Corporation, available from Zygo Corporation in Japan), three-dimensional microscope PL ⁇ 2300 (manufactured by Sensofar), etc. Can be mentioned. Since the resolution of the power spectrum of the altitude needs to be 0.005 ⁇ m ⁇ 1 or less, the measurement area is preferably at least 200 ⁇ m ⁇ 200 ⁇ m, and more preferably 500 ⁇ m ⁇ 500 ⁇ m.
  • a method for obtaining an altitude power spectrum from a two-dimensional function h (x, y) will be described.
  • a two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained from the two-dimensional function h (x, y) by a two-dimensional Fourier transform defined by equation (1).
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing a state in which the function h (x, y) representing the altitude is obtained discretely.
  • the orthogonal coordinates in the film plane are represented by (x, y), and the lines divided on the film projection plane 3 by ⁇ x in the x-axis direction and the lines divided by ⁇ y in the y-axis direction are broken lines.
  • the elevation of the surface of the fine irregularities is obtained as a discrete elevation value for each intersection of the broken lines on the film projection surface 3.
  • the coordinates of the point of interest A on the film projection plane 3 are (j ⁇ x, k ⁇ y) (where j is 0 or more and M ⁇ 1 or less, and k is 0 or more and N ⁇ 1 or less). Then, the altitude of the point P on the film surface corresponding to the point of interest A can be expressed as h (j ⁇ x, k ⁇ y).
  • the measurement intervals ⁇ x and ⁇ y depend on the horizontal resolution of the measuring device, and in order to accurately evaluate the fine uneven surface, both ⁇ x and ⁇ y are preferably 5 ⁇ m or less, as described above, and preferably 2 ⁇ m or less. Is more preferable. Further, as described above, the measurement ranges X and Y are both preferably 200 ⁇ m or more, and more preferably 500 ⁇ m or more.
  • the function representing the altitude of the fine uneven surface is obtained as a discrete function h (x, y) having M ⁇ N values. Obtained by measuring discrete function h (x, y) discrete by a discrete Fourier transform defined by equation (2) function H (f x, f y) is Motomari, discrete function H (f x, f y) a The discrete function H 2 (f x , f y ) of the two-dimensional power spectrum is obtained by squaring.
  • l is an integer of ⁇ M / 2 to M / 2
  • m is an integer of ⁇ N / 2 to N / 2.
  • ⁇ f x and ⁇ f y are frequency intervals in the x and y directions, respectively, and are defined by equations (3) and (4).
  • the antiglare film of the present invention has a characteristic that the one-dimensional power spectrum represented by the one-dimensional function H 2 (f) is constant.
  • a total value H 2 n of all points H 2 (f x , f y ) located at a distance of (n ⁇ 1 / 2) ⁇ f or more and less than (n + 1/2) ⁇ f from the origin O in FIG.
  • H 2 total value of f x , f y ) at the black circle points of ( 2 ) is calculated, and the total value H 2 n divided by the number N n of points is calculated as H 2 ( It was set as the value of f).
  • M and N mean the number of measurement points in the x-axis direction and the number of measurement points in the y-axis direction, respectively, as shown in FIG. ⁇ f was set to ( ⁇ f x + ⁇ f y ) / 2.
  • the one-dimensional power spectrum obtained by the above-described method includes noise during measurement.
  • the elevation of the surface of the fine irregularities at multiple locations on the antiglare film is measured, and the one-dimensionality obtained from the elevation of each fine irregular surface. It is preferable to use the average value of the power spectrum as the one-dimensional power spectrum H 2 (f).
  • the number of locations for measuring the elevation of the fine uneven surface on the antiglare film is preferably 3 or more, more preferably 5 or more.
  • FIG. 6 shows the common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum of the elevation of the fine uneven surface obtained in this way.
  • the common logarithm log H 2 (f) of the one-dimensional power spectrum in FIG. 6 is an average of the one-dimensional power spectra obtained from the elevations of the fine uneven surfaces at five different locations on the antiglare film.
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency f of the logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum of the elevation of the fine uneven surface is the common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum.
  • the second derivative can be calculated by the difference method of Equation (6).
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency f of the common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum of the elevation shown in FIG. 6 is ⁇ 11878 at a spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 . It was 8081 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1. Therefore, as is apparent from FIG. 6, the graph obtained by expressing the common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum at an altitude as the intensity with respect to the spatial frequency has a convex shape at the spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 . However, it has a downwardly convex shape at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the antiglare film of the present invention has a second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency f of the common logarithm log H 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the elevation of the fine uneven surface, It is characterized by being less than 0 at a spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 and greater than 0 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the common logarithm log H 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the altitude of the fine uneven surface is expressed as a function of the spatial frequency f, the graph is convex upward at the spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the uneven surface shape of the anti-glare film is about 100 ⁇ m that contributes to the anti-glare effect when the haze is lowered (zero in spatial frequency). while having the waveform cycle equivalent) in .01Myuemu -1 effectively, and which effectively reduced the period of undulation in the vicinity of 50 [mu] m (corresponding to 0.02 [mu] m -1 at a spatial frequency).
  • the present inventors have shown that, if each minute surface constituting the fine uneven surface exhibits a specific inclination angle distribution, the anti-glare performance can be effectively achieved while exhibiting excellent anti-glare performance. It was found to be more effective in preventing the above. That is, in the antiglare film of the present invention, it is preferable that the proportion of minute surfaces having an inclination angle of 5 ° or more in the fine uneven surface is less than 1%.
  • the proportion of micro-surfaces with an inclination angle of 5 ° or more of the fine uneven surface exceeds 1%, the number of micro-surfaces with a steep inclination angle of the uneven surface increases, condensing light from the surroundings, It becomes easy to generate whitish that the display surface becomes white as a whole.
  • the proportion of the micro-surfaces whose inclination angle is 5 ° or more among the fine uneven surfaces the better, and less than 0.5% It is preferable that it is less than 0.1%.
  • the “inclination angle of the minute surface on the surface of the fine unevenness” as used in the present invention means the unevenness of the minute surface including the point P as described later at an arbitrary point P on the surface of the antiglare film 1 shown in FIG. It means an angle ⁇ between the local normal 6 added and the main normal direction 5 of the film.
  • the inclination angle of the fine uneven surface can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by an apparatus such as a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM).
  • FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a method of measuring the inclination angle of the minute surface on the surface of the fine irregularities. A specific method for determining the tilt angle will be described.
  • a point of interest A on a virtual plane FGHI indicated by a dotted line is determined, and the point of interest on the x-axis passing there passes in the vicinity.
  • the points B and D are approximately symmetrical with respect to the point A
  • the points C and E are approximately symmetrical with respect to the point A in the vicinity of the point of interest A on the y-axis passing through the point A.
  • C, D, and E, the points Q, R, S, and T on the film surface are determined.
  • the orthogonal coordinates in the film plane are represented by (x, y), and the coordinates in the film thickness direction are represented by z.
  • the plane FGHI is parallel to the x axis passing through the point C on the y axis and parallel to the x axis passing through the point E on the y axis and to the y axis passing through the point B on the x axis. It is a plane formed by the respective intersections F, G, H, and I with a straight line and a straight line passing through the point D on the x-axis and parallel to the y-axis.
  • the position of the actual film surface is drawn above the plane FGHI.
  • the position of the actual film surface is naturally above the plane FGHI depending on the position taken by the point of interest A. Sometimes it comes down, sometimes down.
  • the inclination angle of the obtained surface shape data is the actual film surface corresponding to the point P on the actual film surface corresponding to the point of interest A and the four points B, C, D, E taken in the vicinity thereof. Obtained by averaging four normal planes 6a, 6b, 6c, 6d of four polygons PQR, PRS, PST, PTQ spanned by a total of five points Q, R, S, T above.
  • the polar angle of the local normal (vector) 6 to be obtained (in FIG. 2, the angle ⁇ formed with the main normal direction 5 of the film) can be obtained. After obtaining the inclination angle for each measurement point (small surface), a histogram is calculated.
  • FIG. 8 is a graph showing an example of the histogram of the inclination angle distribution of the microfacets on the fine uneven surface of the antiglare film.
  • the horizontal axis is the inclination angle, and is divided in increments of 0.5 °.
  • the leftmost vertical bar shows the distribution of a set having an inclination angle in the range of 0 to 0.5 °, and the angle increases by 0.5 ° as going to the right.
  • the upper limit of the value is displayed for every two scales on the horizontal axis.
  • the portion with “1” on the horizontal axis is a set of minute surfaces whose inclination angle is in the range of 0.5 to 1 °.
  • the vertical axis represents the ratio of the set to the whole, and is a value that becomes 1 when summed. In this example, the ratio of the minute surfaces whose inclination angle is 5 ° or more is substantially zero.
  • regulation of JISB0601 is 0.04 micrometer or more and 0.1 micrometer or less.
  • the maximum cross-sectional height Rt based on JIS B 0601 is 0.3 ⁇ m or more and 0.6 ⁇ m or less.
  • regulation of JISB0601 is 50 micrometers or more and 130 micrometers or less.
  • the antiglare property of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape to a transparent film may be insufficient.
  • the arithmetic average roughness Ra exceeds 0.1 ⁇ m, the antiglare film obtained by transferring the uneven shape to a transparent film may be whitened.
  • the antiglare property of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape to a transparent film may be insufficient.
  • the maximum cross-sectional height Rt exceeds 0.6 ⁇ m, the antiglare film obtained by transferring the concavo-convex shape to a transparent film may be whitened, and the surface concavo-convex shape is uniform. It may decrease and cause glare.
  • the average length RSm is less than 50 ⁇ m, the antiglare property of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape to a transparent film may be insufficient.
  • average length Rsm exceeds 130 micrometers, there exists a possibility that glare may generate
  • the anti-glare film of the present invention is a method including a step of forming a surface shape based on a predetermined pattern on the surface of a mold base, producing an anti-glare film production mold, and unevenness of the produced mold After the shape of the surface is transferred to the transparent resin film, it can be produced by a production method including peeling the transparent resin film having the shape of the uneven surface of the die transferred from the die.
  • a graph when the one-dimensional power spectrum of the predetermined pattern is expressed as an intensity with respect to the spatial frequency is a spatial frequency of 0.007 ⁇ m ⁇ has one maximum value in one or more 0.015 .mu.m -1 or less, and preferably has a single maximum value at a spatial frequency 0.05 .mu.m -1 or 0.1 [mu] m -1 or less.
  • the “pattern” means image data for forming the fine uneven surface of the antiglare film of the present invention, a mask having a light transmitting part and a light shielding part, and the like.
  • the intensity of the antiglare film is used to manufacture a mold manufacturing method of the pattern spatial frequencies 0.007 -1 or more 0.015 .mu.m -1 following the first maxima of the present invention, the spatial frequency 0.05 .mu.m -1 It is preferably smaller than the strength at the second maximum value of 0.1 ⁇ m ⁇ 1 or less. If the intensity of the first maximum value is greater than the second maximum value, the glare tends to increase, which is not preferable.
  • the two-dimensional power spectrum of the pattern is obtained by converting the image data into two-level binary image data, and then converting the gradation of the image data by a two-dimensional function g (x, y).
  • a two-dimensional function g (x, y) represents, resulting two-dimensional function g (x, y) to Fourier transform two-dimensional function G (f x, f y) to calculate the resulting two-dimensional function G (f x, f y) square It is required by doing.
  • x and y represent orthogonal coordinates of the image data plane
  • f x and f y represent the frequency of the frequency and the y direction of the x-direction.
  • the two-dimensional function g (x, y) of the gradation is obtained as a discrete function when obtaining the two-dimensional power spectrum of the pattern. It is common to be done.
  • the two-dimensional power spectrum may be calculated by discrete Fourier transform, as in the case of obtaining the two-dimensional power spectrum of the elevation of the fine uneven surface.
  • the one-dimensional power spectrum of the pattern is obtained from the two-dimensional power spectrum of the pattern in the same manner as the one-dimensional power spectrum of the elevation of the fine uneven surface.
  • FIG. 9 is a view showing a part of image data which is a pattern used for producing the antiglare film of the present invention.
  • the image data which is the pattern shown in FIG. 9 has a size of 33 mm ⁇ 33 mm and was created at 12800 dpi.
  • FIG. 10 shows the two-dimensional power spectrum G 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transform of the two-dimensional discrete function g (x, y) having the gradation shown in FIG. It is the figure represented as a function of the distance f from the origin similarly to the one-dimensional power spectrum. From this pattern shown in FIG 9 has a first maximum value below the spatial frequency 0.007 -1 or 0.015 .mu.m -1, the second to the spatial frequency 0.05 .mu.m -1 or 0.1 [mu] m -1 or less It can be seen that it has a maximum value of.
  • Antiglare film-dimensional power spectrum of the pattern for producing a (antiglare layer) has a first maximum value below the spatial frequency 0.007 -1 or 0.015 .mu.m -1, spatial frequency 0.05 .mu.m -
  • the graph showing the common logarithm of the one-dimensional power spectrum of the elevation of the fine uneven surface as the intensity with respect to the spatial frequency is a spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇
  • an antiglare film having an upward convex shape at 1 and a downward convex shape at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 is obtained.
  • a one-dimensional power spectrum of the first maximum value below the spatial frequency 0.007 -1 or 0.015 .mu.m -1, a second maximum at a spatial frequency 0.05 .mu.m -1 or 0.1 [mu] m -1 or less In order to create a pattern that has a specific spatial frequency range component from a pattern that is created by randomly arranging dots or a pattern that has a random brightness distribution that is determined by random numbers or pseudo-random numbers generated by a computer What is necessary is just to pass the band pass filter which removes.
  • the antiglare film of the present invention it is preferable to appropriately form the spatial frequency distribution of the fine uneven surface of the antiglare layer as described above. Therefore, the antiglare film of the present invention produces a mold having a fine uneven surface using the pattern described above, and transfers the uneven surface of the manufactured mold to a photocurable resin layer or the like on a transparent support. Then, it is preferably produced by an embossing method in which the antiglare layer to which the uneven surface is transferred and the transparent support are peeled off from the mold.
  • examples of the embossing method include a UV embossing method using a photocurable resin and a hot embossing method using a thermoplastic resin, and among them, the UV embossing method is preferable from the viewpoint of productivity.
  • the UV embossing method forms a photocurable resin layer on the surface of a transparent support, and cures the photocurable resin layer while pressing the photocurable resin layer against the uneven surface of the mold. It is a method of transferring to a layer. Specifically, an ultraviolet curable resin is coated on a transparent support, and the ultraviolet curable resin is irradiated with ultraviolet rays from the transparent support side in a state where the coated ultraviolet curable resin is in close contact with the uneven surface of the mold. The shape of the mold is transferred to the ultraviolet curable resin by curing the resin and then peeling the transparent support on which the cured ultraviolet curable resin layer is formed from the mold.
  • the transparent support may be a substantially optically transparent film.
  • a triacetyl cellulose film, a polyethylene terephthalate film, a polymethyl methacrylate film, a polycarbonate film, and a norbornene compound are used as monomers.
  • examples thereof include a solvent cast film of thermoplastic resin such as amorphous cyclic polyolefin and a resin film such as extruded film.
  • the type of the ultraviolet curable resin in the case of using the UV embossing method is not particularly limited, but a commercially available appropriate one can be used. It is also possible to use a resin that can be cured by visible light having a wavelength longer than that of ultraviolet rays by combining an ultraviolet curable resin with an appropriately selected photoinitiator.
  • polyfunctional acrylates such as trimethylolpropane triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate are used singly or as a mixture of two or more thereof, Irgacure 907, Irgacure 184, Lucillin TPO (above , All of which are mixed with a photopolymerization initiator such as BASF).
  • the hot embossing method is a method in which a transparent support formed of a thermoplastic resin is pressed against a mold in a heated state, and the surface shape of the mold is transferred to the transparent support.
  • the transparent support used in the hot embossing method may be any material as long as it is substantially transparent.
  • polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyethylene terephthalate, triacetyl cellulose, norbornene compounds are used as monomers.
  • a solvent cast film or an extruded film of a thermoplastic resin such as amorphous cyclic polyolefin can be used.
  • These transparent resin films can also be suitably used as a transparent support for coating the ultraviolet curable resin in the UV embossing method described above.
  • the method for producing a mold used for producing the antiglare film of the present invention is not particularly limited as long as it is a method capable of obtaining a predetermined surface shape using the above-described pattern, and the fine uneven surface is accurately and
  • FIG. 11 is a diagram schematically showing a preferred example of the first half of the method for producing a mold used for producing the antiglare film of the present invention.
  • FIG. 11 schematically shows a cross section of the mold in each step.
  • die used for manufacture of the anti-glare film of this invention is demonstrated in detail, referring FIG.
  • [1] First Plating Step In the method for producing a mold used for producing the antiglare film of the present invention, first, copper plating is applied to the surface of a substrate used for the mold. Thus, by performing copper plating on the surface of the mold base, it is possible to improve the adhesion and gloss of chrome plating in the subsequent second plating step. This is because copper plating has a high covering property and a strong smoothing action, and therefore fills minute irregularities and voids of the mold base to form a flat and glossy surface.
  • the copper used in the first plating step may be a pure copper metal or may be an alloy mainly composed of copper. Therefore, “copper” in this specification refers to copper and a copper alloy. Including meaning. Copper plating may be performed by electrolytic plating or electroless plating, but electrolytic plating is usually employed.
  • the thickness is preferably 50 ⁇ m or more.
  • the upper limit of the plating layer thickness is not critical, generally about 500 ⁇ m is sufficient from the viewpoint of cost and the like.
  • aluminum, iron, etc. are mentioned from a viewpoint of cost as a metal material used suitably for formation of a base material. Furthermore, lightweight aluminum is more preferable from the convenience of handling.
  • the aluminum and iron here may be pure metals, respectively, or may be an alloy mainly composed of aluminum or iron.
  • the shape of the substrate is not particularly limited as long as it is an appropriate shape that has been conventionally employed in this field, and may be a flat plate shape or a cylindrical or cylindrical roll. If a mold is produced using a roll-shaped substrate, there is an advantage that the antiglare film can be produced in a continuous roll shape.
  • polishing Step the surface of the substrate that has been subjected to copper plating in the first plating step described above is polished.
  • the substrate surface is polished in a state close to a mirror surface through this step. This is because metal plates and metal rolls that serve as base materials are often subjected to machining such as cutting and grinding in order to achieve the desired accuracy, and as a result, machine marks remain on the base material surface. This is because even if the copper plating is applied, those processed eyes may remain, and the surface is not always completely smooth in the plated state.
  • FIG. 11 (a) a plate-shaped mold substrate 7 is subjected to copper plating on its surface in the first plating step (the copper plating layer formed in this step is not shown), and The state which was made to have the surface 8 mirror-polished by the grinding
  • the method for polishing the surface of the base material to which copper plating has been applied is not particularly limited, and any of a mechanical polishing method, an electrolytic polishing method, and a chemical polishing method can be used.
  • the mechanical polishing method include super finishing, lapping, fluid polishing, and buff polishing.
  • the surface 8 of the mold base 7 may be made into a mirror surface by mirror-cutting using a cutting tool.
  • the material and shape of the cutting tool at that time are not particularly limited, and carbide tools, CBN tools, ceramic tools, diamond tools, etc. can be used, but diamond tools should be used from the viewpoint of processing accuracy. Is preferred.
  • the center line average roughness Ra in accordance with JIS B 0601 is preferably 0.1 ⁇ m or less, and more preferably 0.05 ⁇ m or less. If the center line average roughness Ra after polishing is greater than 0.1 ⁇ m, the final unevenness of the mold surface may be affected by the surface roughness after polishing, which is not preferable.
  • the lower limit of the center line average roughness Ra is not particularly limited, and there is no limit in particular because there is a natural limit from the viewpoint of processing time and processing cost.
  • Photosensitive resin film forming step In the subsequent photosensitive resin film forming step, the photosensitive resin is applied as a solution in which the photosensitive resin is dissolved in a solvent to the surface 8 of the substrate 7 which has been mirror-polished by the above-described polishing step, and heated. -A photosensitive resin film is formed by drying.
  • FIG. 11B schematically shows a state in which the photosensitive resin film 9 is formed on the surface 8 of the base material 7.
  • a conventionally known photosensitive resin can be used as the photosensitive resin.
  • a negative photosensitive resin having a property of curing the photosensitive part includes an acrylic ester monomer or prepolymer having an acrylic group or a methacrylic group in the molecule, a mixture of bisazide and diene rubber, polyvinyl thinner. Mart compounds and the like can be used.
  • a positive photosensitive resin having a property that a photosensitive portion is eluted by development and only an unexposed portion remains a phenol resin type or a novolac resin type can be used.
  • the photosensitive resin solution As a method for applying the photosensitive resin solution, known methods such as meniscus coating, fountain coating, dip coating, spin coating, roll coating, wire bar coating, air knife coating, blade coating, curtain coating, ring coating, etc. are used. be able to.
  • the thickness of the coating film is preferably in the range of 1 to 10 ⁇ m after drying.
  • chromatic graph in representing the one-dimensional power spectrum above as strength against spatial frequency one maximum in the spatial frequency 0.007 -1 or 0.015 .mu.m -1 or less
  • a pattern having one maximum value at a spatial frequency of 0.05 ⁇ m ⁇ 1 or more and 0.1 ⁇ m ⁇ 1 or less is exposed on the photosensitive resin film 9 formed in the above-described photosensitive resin film forming step.
  • the light source used in the exposure process may be appropriately selected according to the photosensitive wavelength, sensitivity, etc. of the coated photosensitive resin. For example, g line (wavelength: 436 nm) of a high pressure mercury lamp, h line (wavelength: 405 nm) of a high pressure mercury lamp.
  • High pressure mercury lamp i-line (wavelength: 365 nm), semiconductor laser (wavelength: 830 nm, 532 nm, 488 nm, 405 nm, etc.), YAG laser (wavelength: 1064 nm), KrF excimer laser (wavelength: 248 nm), ArF excimer laser (wavelength: 193 nm), F 2 excimer laser (wavelength: 157 nm), or the like.
  • the mold manufacturing method of the present invention In order to accurately form the surface irregularity shape in the mold manufacturing method of the present invention, it is preferable to expose the above-mentioned pattern on the photosensitive resin film in a precisely controlled manner in the exposure step.
  • the pattern In the mold manufacturing method of the present invention, in order to accurately expose the above-described pattern on the photosensitive resin film, the pattern is created as image data on the computer, and the pattern based on the image data is controlled by the computer. It is preferable to draw with a laser beam emitted from the laser head.
  • a laser drawing apparatus for making a printing plate can be used.
  • An example of such a laser drawing apparatus is Laser Stream FX (manufactured by Sink Laboratories).
  • FIG. 11C schematically shows a state in which the pattern is exposed to the photosensitive resin film 9.
  • the photosensitive resin film is formed of a negative photosensitive resin
  • the exposed region 10 undergoes a crosslinking reaction of the resin by exposure, and the solubility in a developing solution described later decreases. Therefore, the unexposed area 11 in the development process is dissolved by the developer, and only the exposed area 10 remains on the substrate surface as a mask.
  • the photosensitive resin film is formed of a positive photosensitive resin
  • the exposed region 10 is cut by bonding of the resin by exposure, and the solubility in a developer described later increases. Therefore, the area 10 exposed in the developing process is dissolved by the developer, and only the unexposed area 11 becomes a remaining mask on the substrate surface.
  • inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, aqueous ammonia, primary amines such as ethylamine, n-propylamine, diethylamine, di-n-butylamine, etc.
  • Secondary amines such as triethylamine and methyldiethylamine, alcohol amines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, secondary amines such as tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide and trimethylhydroxyethylammonium hydroxide
  • examples include alkaline aqueous solutions such as quaternary ammonium salts, cyclic amines such as pyrrole and pihelidine, and organic solvents such as xylene and toluene.
  • the development method in the development step is not particularly limited, and methods such as immersion development, spray development, brush development, and ultrasonic development can be used.
  • FIG. 11D schematically shows a state in which a development process is performed using a negative photosensitive resin for the photosensitive resin film 9.
  • the unexposed area 11 is dissolved by the developer, and only the exposed area 10 becomes the remaining mask 12 on the substrate surface.
  • FIG. 11E schematically shows a state where development processing is performed using a positive photosensitive resin for the photosensitive resin film 9.
  • the exposed region 10 is dissolved by the developer, and only the unexposed region 11 becomes the remaining mask 12 on the substrate surface.
  • the mold base is mainly used in a portion where there is no mask, using the photosensitive resin film remaining on the mold base surface after the development step as a mask. Etch the plated surface of the material.
  • FIG. 12 is a diagram schematically showing a preferred example of the latter half of the mold manufacturing method of the present invention.
  • FIG. 12A schematically shows a state in which the mold base 7 in the region 13 without the mask is mainly etched by the first etching step.
  • the mold base 7 below the mask 12 is not etched from the mold base surface, but the etching from the region 13 without the mask proceeds with the progress of etching. Therefore, in the vicinity of the boundary between the mask 12 and the region 13 without the mask, the mold base 7 below the mask 12 is also etched. In the vicinity of the boundary between the mask 12 and the unmasked region 13, the etching of the mold base 7 below the mask 12 is hereinafter referred to as side etching.
  • the etching process in the first etching step is usually performed using a ferric chloride (FeCl 3 ) solution, a cupric chloride (CuCl 2 ) solution, an alkaline etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ), etc.
  • a strong acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid can be used, or reverse electrolytic etching by applying a potential opposite to that at the time of electrolytic plating can also be used.
  • the concave shape formed on the mold base material when the etching process is performed differs depending on the type of the base metal, the type of the photosensitive resin film, the etching technique, and the like. In the following cases, the etching is performed isotropically from the metal surface in contact with the etching solution.
  • the etching amount here is the thickness of the base material to be cut by etching.
  • the etching amount in the first etching step is preferably 1 to 50 ⁇ m, more preferably 2 to 10 ⁇ m.
  • the etching amount is less than 1 ⁇ m, the unevenness shape is hardly formed on the metal surface, and the die is almost flat, so that the antiglare property is not exhibited.
  • the etching amount exceeds 50 ⁇ m, the height difference of the uneven shape formed on the metal surface is increased, and the antiglare film produced using the obtained mold is preferably whitened. Absent.
  • the etching process in the first etching step may be performed by one etching process, or the etching process may be performed twice or more.
  • the total etching amount in the two or more etching processes is preferably 1 to 50 ⁇ m.
  • Photosensitive resin film peeling step In the subsequent photosensitive resin film peeling step, the remaining photosensitive resin film used as a mask in the first etching step is completely dissolved and removed.
  • the photosensitive resin film peeling step the photosensitive resin film is dissolved using a peeling solution.
  • the same developer as that described above can be used.
  • a negative photosensitive resin film When a negative photosensitive resin film is used by changing pH, temperature, concentration, immersion time, etc., the exposed portion is exposed.
  • the positive photosensitive resin film is used, the photosensitive resin film in the non-exposed portion is completely dissolved and removed.
  • peeling method in the photosensitive resin film peeling step There is no particular limitation on the peeling method in the photosensitive resin film peeling step, and methods such as immersion development, spray development, brush development, and ultrasonic development can be used.
  • FIG. 12B schematically shows a state where the photosensitive resin film used as a mask in the first etching process is completely dissolved and removed by the photosensitive resin film peeling process.
  • a first surface irregularity shape 15 is formed on the surface of the mold substrate by the mask 12 and etching using the photosensitive resin film.
  • the first surface uneven shape 15 formed by the first etching step using the photosensitive resin film as a mask is blunted by an etching process.
  • this second etching process there is no portion with a steep surface inclination in the first surface irregularities 15 formed by the first etching process, and the optical characteristics of the antiglare film manufactured using the obtained mold are It changes in the preferred direction.
  • FIG. 12C the first surface irregularity shape 15 of the mold base 7 is blunted by the second etching process, the portion having a steep surface inclination is blunted, and the second surface having a gentle surface inclination is shown. The state in which the surface irregularities 16 are formed is shown.
  • the etching process of the second etching process is usually ferric chloride (FeCl 3 ) liquid, cupric chloride (CuCl 2 ) liquid, alkaline etching liquid (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ) or the like, and by corroding the surface, strong acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid can be used, or reverse electrolytic etching by applying a potential opposite to that at the time of electrolytic plating can also be used.
  • strong acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid can be used
  • reverse electrolytic etching by applying a potential opposite to that at the time of electrolytic plating can also be used.
  • the bluntness of the unevenness after the etching process varies depending on the type of the underlying metal, the etching technique, and the size and depth of the unevenness obtained by the first etching process. The largest factor in controlling the amount is the etching amount.
  • the etching amount here is also the thickness of the base material to be cut by etching, as in the first etching step. If the etching amount is small, the effect of dulling the surface shape of the unevenness obtained by the first etching step is insufficient, and the optical characteristics of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape to a transparent film are not so good. . On the other hand, when the etching amount is too large, the uneven shape is almost lost and the die is almost flat, so that the antiglare property is not exhibited. Therefore, the etching amount is preferably in the range of 1 to 50 ⁇ m, and more preferably in the range of 4 to 20 ⁇ m.
  • the etching process in the second etching process may be performed by one etching process, or the etching process may be performed twice or more.
  • the total etching amount in the two or more etching processes is preferably 1 to 50 ⁇ m.
  • Second plating step Subsequently, by performing chromium plating, the second surface irregularity shape 16 is blunted and the mold surface is protected.
  • the chromium plating layer 17 is formed on the second surface uneven shape 16 formed by the etching process of the second etching step, and the surface 18 of the chromium plating layer is blunted. It is shown.
  • chrome plating which has a glossy surface, a high hardness, a low coefficient of friction, and good release properties on the surface of a flat plate or a roll.
  • the type of chrome plating is not particularly limited, but it is preferable to use a chrome plating that expresses a good gloss, so-called gloss chrome plating or decorative chrome plating.
  • Chromium plating is usually performed by electrolysis, and an aqueous solution containing chromic anhydride (CrO 3 ) and a small amount of sulfuric acid is used as the plating bath. By adjusting the current density and electrolysis time, the thickness of the chromium plating can be controlled.
  • the second plating step it is not preferable to perform plating other than chrome plating. This is because plating other than chromium has low hardness and wear resistance, so that the durability as a mold is lowered, and unevenness is worn away during use or the mold is damaged.
  • An antiglare film obtained from such a mold there is a high possibility that a sufficient antiglare function cannot be obtained, and there is a high possibility that defects will occur on the film.
  • An antiglare film obtained from a mold made by chrome plating may have a linear convex portion or concave portion in addition to the dotted irregularities. By mixing the dot-like irregularities and the linear convex portions or concave portions, fine scattering occurs, and further improvement in antiglare property is expected. Even when such linear convex portions or concave portions exist, the ratio is preferably 20% or less in terms of the area ratio to the entire surface.
  • polishing the surface after plating is also not preferable in the present invention.
  • polishing By polishing, a flat part is generated on the outermost surface, which may lead to deterioration of optical characteristics, and since shape control factors increase, shape control with good reproducibility becomes difficult. Depending on the reason.
  • the chrome-plated surface as an uneven surface of the mold as it is without polishing the surface after chrome plating.
  • chromium plating to the surface on which the fine surface irregularities are formed, a mold having an irregular surface that is dulled and whose surface hardness is increased can be obtained.
  • the bluntness of the irregularities at this time varies depending on the type of the base metal, the size and depth of the irregularities obtained from the first etching process, and the type and thickness of the plating. The greatest factor in controlling is the plating thickness.
  • the thickness of the chrome plating is preferably in the range of 1 to 10 ⁇ m, and more preferably in the range of 3 to 6 ⁇ m.
  • the chromium plating layer formed in the second plating step is preferably formed so as to have a Vickers hardness of 800 or more, and more preferably 1000 or more.
  • a Vickers hardness of the chrome plating layer is less than 800, the durability when using the mold is reduced, and the decrease in hardness due to chrome plating is due to abnormalities in the plating bath composition, electrolysis conditions, etc. during the plating process. This is because the possibility of occurrence is high, and the possibility of undesirably affecting the occurrence of defects is also high.
  • a one-dimensional function H 2 (f) was calculated. The elevation of the surface of the five positions for each sample was measured, the one-dimensional power spectrum is calculated from these data one-dimensional function H 2 dimensional function of the average value of (f) one-dimensional power spectrum of each sample H 2 (F).
  • the surface roughness parameter of the antiglare film was measured using a surface roughness measuring device Surf Test SJ-301 manufactured by Mitutoyo Corporation in accordance with JIS B 0601. In order to prevent the sample from warping, it was subjected to measurement after being bonded to a glass substrate using an optically transparent pressure-sensitive adhesive so that the uneven surface became the surface.
  • the total haze of the antiglare film is obtained by bonding the antiglare film to a glass substrate on the side opposite to the antiglare layer forming surface using an optically transparent adhesive, and the antiglare film bonded to the glass substrate.
  • the glare film was measured using a haze meter “HM-150” manufactured by Murakami Color Research Laboratory Co., Ltd. in accordance with JIS K 7136 with light incident from the glass substrate side.
  • the transmission clarity of the antiglare film was measured using an image clarity measuring device “ICM-1DP” manufactured by Suga Test Instruments Co., Ltd. based on JIS K 7105. Also in this case, in order to prevent the sample from warping, it was subjected to measurement after being bonded to a glass substrate using an optically transparent adhesive so that the fine uneven surface of the antiglare layer was the surface. . In this state, light was incident from the glass side and measurement was performed.
  • the measured value here is a total value of values measured using four types of optical combs in which the widths of the dark part and the bright part are 0.125 mm, 0.5 mm, 1.0 mm, and 2.0 mm, respectively. . In this case, the maximum value of the transmission clarity is 400%.
  • the reflection sharpness of the antiglare film was measured using an image clarity measuring device “ICM-1DP” manufactured by Suga Test Instruments Co., Ltd. based on JIS K 7105. Also in this case, in order to prevent the sample from warping, it is used for measurement after being bonded to a black acrylic substrate using an optically transparent adhesive so that the fine uneven surface of the antiglare layer becomes the surface. did. In this state, light was incident at 45 ° from the concavo-convex surface side, and measurement was performed.
  • the measured value here is a total value of values measured using three types of optical combs in which the widths of the dark part and the bright part are 0.5 mm, 1.0 mm, and 2.0 mm, respectively. In this case, the maximum value of the reflection definition is 300%.
  • Reflection 1 Reflection is not observed.
  • 2 Reflection is slightly observed.
  • a photomask having a unit cell pattern as shown in a plan view in FIG. 13 was prepared.
  • a unit cell 40 has a key-shaped chrome light shielding pattern 41 with a line width of 10 ⁇ m formed on a transparent substrate, and a portion where the chrome light shielding pattern 41 is not formed is an opening 42.
  • a unit cell having a size of 211 ⁇ m ⁇ 70 ⁇ m (vertical ⁇ horizontal in the figure) and an opening having a dimension of 201 ⁇ m ⁇ 60 ⁇ m (vertical ⁇ horizontal in the figure) was used.
  • a large number of unit cells shown in the figure are arranged vertically and horizontally to form a photomask.
  • the chrome light-shielding pattern 41 of the photomask 43 is placed on the light box 45, and the antiglare film 1 with the adhesive is applied to the glass plate 47 with the uneven surface on the surface.
  • the sample bonded so as to become is placed on the photomask 43.
  • a light source 46 is disposed in the light box 45. In this state, by visually observing at a position 49 about 30 cm away from the sample, the degree of glare was sensory evaluated in seven stages. Level 1 corresponds to a state where no glare is observed, level 7 corresponds to a state where severe glare is observed, and level 4 refers to a state where only slight glare is observed.
  • the two-dimensional function G (f x , f y ) is squared to calculate a two-dimensional power spectrum two-dimensional function G 2 (f x , f y ), and the one-dimensional power spectrum is a function of the distance f from the origin.
  • a one-dimensional function G 2 (f) was calculated.
  • Example 1> (Production of molds for the production of anti-glare films) An aluminum roll having a diameter of 200 mm (A5056 according to JIS) was prepared by applying copper ballad plating to the surface. Copper ballad plating consists of a copper plating layer / thin silver plating layer / surface copper plating layer, and the thickness of the entire plating layer was set to be about 200 ⁇ m. The copper plating surface was mirror-polished, and a photosensitive resin was applied to the polished copper plating surface and dried to form a photosensitive resin film. Next, a pattern in which the pattern shown in FIG.
  • a first etching process was performed with cupric chloride solution.
  • the etching amount at that time was set to 4 ⁇ m.
  • the photosensitive resin film was removed from the roll after the first etching treatment, and the second etching treatment was performed again with cupric chloride solution.
  • the etching amount at that time was set to 11 ⁇ m.
  • the chromium plating process was performed and the metal mold
  • Pentaerythritol triacrylate 60 parts Multifunctional urethanated acrylate 40 parts (Reaction product of hexamethylene diisocyanate and pentaerythritol triacrylate) 5 parts of diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) phosphine oxide.
  • This ultraviolet curable resin composition A was applied onto a 60 ⁇ m-thick triacetyl cellulose (TAC) film so that the coating thickness after drying was 7 ⁇ m, and dried in a dryer set at 60 ° C. for 3 minutes. .
  • the film after drying was brought into close contact with the concavo-convex surface of the mold A obtained previously with a rubber roll so that the photocurable resin composition layer was on the mold side.
  • light from a high-pressure mercury lamp having an intensity of 20 mW / cm 2 was irradiated from the TAC film side so that the amount of light in terms of h-line was 200 mJ / cm 2 to cure the photocurable resin composition layer.
  • the TAC film was peeled from the mold together with the cured resin, and a transparent anti-glare film A composed of a laminate of the cured resin having irregularities on the surface and the TAC film was produced.
  • Example 2 A pattern in which the pattern shown in FIG. 15 (created by passing a bandpass filter that removes a component in a specific spatial frequency range from a pattern having a random brightness distribution) is repeatedly arranged on the photosensitive resin film by laser light.
  • a mold B was produced in the same manner as in Example 1 except that the exposure was performed, and an antiglare film B was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold B was used.
  • Example 3 A mold C was produced in the same manner as in Example 2 except that the etching amount of the second etching process was set to 10 ⁇ m, and the same as in Example 2 except that the mold C was used. A dazzling film C was prepared.
  • Example 4 A mold D was prepared in the same manner as in Example 2 except that the etching amount of the second etching process was set to 12 ⁇ m, and the same as in Example 2 except that the mold D was used. A dazzling film D was prepared.
  • Example 5 A pattern in which the pattern shown in FIG. 16 (created by passing a bandpass filter that removes a component in a specific spatial frequency range from a pattern having a random brightness distribution) is repeatedly arranged on the photosensitive resin film by laser light.
  • the mold E was exposed in the same manner as in Example 1 except that the etching amount of the first etching process was set to 3 ⁇ m and the etching amount of the second etching process was set to 10 ⁇ m.
  • An antiglare film E was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold E was used.
  • ⁇ Comparative Example 1> A pattern in which the pattern shown in FIG. 17 (created by passing a bandpass filter that removes a component in a specific spatial frequency range from a pattern having a random brightness distribution) is repeatedly arranged on the photosensitive resin film by laser light.
  • a mold F was produced in the same manner as in Example 1 except that it was exposed, and an antiglare film F was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold F was used.
  • ⁇ Comparative example 2> A pattern in which the pattern shown in FIG. 18 (created by passing a bandpass filter that removes a component in a specific spatial frequency range from a pattern having a random brightness distribution) is repeatedly arranged on the photosensitive resin film by laser light.
  • a mold G was produced in the same manner as in Example 5 except that the exposure was performed, and an antiglare film G was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold G was used.
  • ⁇ Comparative Example 3> The surface of a 300 mm diameter aluminum roll (A5056 by JIS) is mirror-polished, and the polished aluminum surface is coated with zirconia beads TZ-SX-17 (Tosoh Corporation) using a blasting device (manufactured by Fuji Seisakusho). ), Average particle size: 20 ⁇ m), and blasted at a blast pressure of 0.1 MPa (gauge pressure, the same applies below) and a bead usage of 8 g / cm 2 (a used amount per 1 cm 2 of surface area of the roll, the same applies hereinafter).
  • the surface was uneven.
  • the obtained uneven aluminum roll was subjected to electroless nickel plating to produce a mold H. At this time, the electroless nickel plating thickness was set to 15 ⁇ m.
  • An antiglare film H was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold H was used.
  • FIG. 10 corresponds to a diagram showing a power spectrum G 2 (f) obtained by performing a discrete Fourier transform on the pattern shown in FIG. 9 used for producing the antiglare film A (Example 1).
  • FIG. 19 is a diagram showing a one-dimensional power spectrum G 2 (f) of a pattern used for production of the antiglare films B to G (Examples 2 to 4, 5 and Comparative Examples 1 and 2).
  • the graph when the one-dimensional power spectrum of the pattern used for the production of the antiglare films A to E (Examples 1 to 5) is expressed as the intensity with respect to the spatial frequency is a spatial frequency of 0.007 ⁇ m ⁇ 1 or 0.015 .mu.m -1 has a first maximum value in less found to have a second maximum value below the spatial frequency 0.05 .mu.m -1 or 0.1 [mu] m -1.
  • the graph when the one-dimensional power spectrum of the pattern used for the production of the antiglare films F and G (Comparative Examples 1 and 2) is expressed as the intensity with respect to the spatial frequency is a spatial frequency of 0.007 ⁇ m ⁇ 1 or more and 0.015 ⁇ m It can be seen that there is no maximum value below -1 .
  • Table 1 shows the results of evaluating the above antiglare films for the above Examples and Comparative Examples.
  • FIG. 20 shows a graph of the common logarithm log H 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the altitude for the antiglare films B to D (Examples 2 to 4), and FIG. A graph of log H 2 (f) for glare film E (Example 5) and antiglare film F (Comparative Example 1) is shown, and FIG. 22 shows antiglare film G (Comparative Example 2) and antiglare film H ( A graph of log H 2 (f) for Comparative Example 3) is shown.
  • FIG. 6, the anti-glare film A which corresponds to a diagram showing a common logarithm logH 2 (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the elevation.
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 with respect to the spatial frequency of the common logarithm of the power spectrum of the altitude is It was less than 0 at a spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 and greater than 0 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the second derivative d 2 logH 2 (f) / df 2 related to the spatial frequency of the common logarithm of the power spectrum of the altitude shown in Table 1 is the spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 and greater than 0 at a spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the antiglare film F (Comparative Example 1) a graph showing the logarithm of the power spectrum of the altitude as the intensity with respect to the spatial frequency (FIG. 21) is the spatial frequency 0.01 [mu] m -1 and spatial frequency 0 .02 ⁇ m ⁇ 1 had a downwardly convex shape.
  • the antiglare films A to E (Examples 1 to 5) satisfying the requirements of the present invention had low haze, they exhibited necessary and sufficient antiglare properties and excellent glare suppression effects.
  • the antiglare film F (Comparative Example 1), a graph representing the common logarithm of the power spectrum of the altitude as the intensity with respect to the spatial frequency is convex downward at the spatial frequency of 0.01 ⁇ m ⁇ 1 and the spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 . Since it had a shape, an excellent glare-suppressing effect was shown, but the antiglare property was insufficient.
  • the graph showing the common logarithm of the power spectrum of the altitude as the intensity with respect to the spatial frequency shows anti-glare films G and H having comparatively convex shapes at the spatial frequency of 0.02 ⁇ m ⁇ 1 (Comparative Examples 2 and 3). ) Strongly observed glare.
  • the antiglare films obtained in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2 were observed in addition to the dotted irregularities when the irregular surface made of a cured product of the photocurable resin composition was observed with an optical microscope. A linear convex portion was observed. On the other hand, with respect to the antiglare film obtained in Comparative Example 3, only the point-like unevenness was observed, and no linear protrusions or depressions were observed.

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Abstract

 本発明は、透明支持体と、該透明支持体上に形成された防眩層とを含み、全ヘイズが1%以下である防眩フィルムであって、前記防眩層は、前記透明支持体と反対側に微細な凹凸を有する微細凹凸表面を備え、前記微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルH(f)の常用対数の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfが、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きいことを特徴とする、防眩フィルムである。

Description

防眩フィルム
 本発明は、防眩性に優れた防眩(アンチグレア)フィルムに関する。
 液晶ディスプレイやプラズマディスプレイパネル、ブラウン管(陰極線管:CRT)ディスプレイ、有機エレクトロルミネッセンス(EL)ディスプレイなどの画像表示装置は、その表示面に外光が映り込むと視認性が著しく損なわれてしまう。このような外光の映り込みを防止するために、画質を重視するテレビやパーソナルコンピュータ、外光の強い屋外で使用されるビデオカメラやデジタルカメラ、反射光を利用して表示を行う携帯電話などにおいては、従来から画像表示装置の表面に外光の映り込みを防止するために防眩フィルムが使用されている。
 このような防眩フィルムとして、例えば、特許文献1(特開2006-53371号公報)には、基材を研磨し、サンドブラスト加工を施した後、無電解ニッケルめっきを施すことによって、表面に微細な凹凸を有するロールを製造し、かかるロールの凹凸面をTACフィルム上に形成された光硬化性樹脂層に押し付けながら硬化して作製された防眩フィルムが記載されている。すなわち、金型の凹凸面の形状を透明樹脂フィルムに転写した後、金型の凹凸面の形状が転写された透明樹脂フィルムを金型から剥がすことを含む防眩フィルムの製造方法が開示されている。
 防眩フィルムには、防眩性、画像表示装置の表面に配置した際に良好なコントラストを発現すること、画像表示装置の表面に配置した際に散乱光によって表示面全体が白っぽくなり、表示が濁った色になる、いわゆる「白ちゃけ」の発生を抑制すること、及び、画像表示装置の表面に配置した際に画像表示装置の画素と防眩フィルムの表面凹凸形状とが干渉し、結果として輝度分布が発生して見えにくくなる、いわゆる「ギラツキ」の発生を抑制することが要望されている。
 しかし、特許文献1に開示された防眩フィルムは、サンドブラスト加工によって凹凸形状を形成した金型を使用して作製されるため、凹凸形状の精度の点で充分でなく、特に50μm以上の周期を持つ比較的大きな凹凸形状を有する場合があるため、「ギラツキ」が発生しやすかった。
 一方、特許文献2(特開2010-224427号公報)には、透明支持体上に、微細な凹凸表面を有する防眩層が形成されてなる防眩フィルムであって、微細凹凸表面の標高のパワースペクトルを制御することによって、防眩性能に優れた防眩フィルムが得られることが開示されている。また、パワースペクトルが制御されたパターンを用いて防眩フィルムを製造することが開示されている。
 具体的には、防眩フィルムの微細凹凸表面の標高の空間周波数0.01μm-1におけるパワースペクトルH と、空間周波数0.04μm-1におけるパワースペクトルH の比H /H を3~15の範囲内とすることによって十分な防眩性とギラツキの抑制などの優れた性能を有する防眩フィルムが得られることが開示されている。また、パワースペクトルが空間周波数0μm-1より大きく0.04μm-1以下に極大値を持たないパターンを用いて防眩フィルムを製造する方法が開示されている。
 特許文献2に開示された防眩フィルムは、その微細凹凸表面の標高のパワースペクトルの比H /H を3~15の範囲内とすることで、50μm以上の周期を有する表面凹凸形状のうねりが減少し、効果的にギラツキを抑制することができている。
 しかしながら、防眩フィルムの光学特性の一つであるヘイズは、良好なコントラストの発現と白ちゃけの発生を抑制するためには、なるべく小さくすることが好ましい。このため、さらなるコントラストの向上と白ちゃけの発生の抑制のためにヘイズを低下させることが望まれるが、単にヘイズを低下させた場合には防眩性が低下してしまう。したがって、ヘイズを低下させることで防眩フィルムのコントラストを向上させ、白ちゃけの発生を抑制することと、防眩フィルムの防眩性を維持し、ギラツキの発生を抑制することとを、両立させることは困難であった。
 特許文献2に記載の防眩フィルムでは、防眩フィルムを低ヘイズ化した際の防眩性発現に寄与する100μm付近の周期を有する表面凹凸形状のうねりまで減少してしまい、防眩性が不十分となると考えられる。
 なお、この防眩性の不足という問題を解決するためには、防眩層の上に反射防止層(例えば、透明支持体/防眩層/低屈折率層や透明支持体/防眩層/高屈折率層/低屈折率層などの構成が挙げられる)を形成し、反射率の低減によって防眩性の不足を補う方法が考えられる。しかし、防眩層の上に反射防止層を形成する場合には、均一な膜厚を有する反射防止層を形成する必要があるため、コスト高になる。また、反射防止層の膜厚の均一性が不十分な場合にはムラなどの品質上の不具合が発生するといった問題がある。
特開2006-53371号公報 特開2010-224427号公報
 本発明は、低ヘイズであっても十分な防眩性とギラツキの抑制を達成することができる防眩フィルムを提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために鋭意検討を行った結果、本発明者らは、防眩フィルムの表面凹凸形状が、100μm付近の周期のうねりを有しつつ、50μm付近の周期のうねりを減少させたものであれば、低ヘイズ化した際に十分な防眩性を発現しつつ、ギラツキを抑制するものとなることを見出し、本発明に到達した。
 すなわち、本発明は、透明支持体と、該透明支持体上に形成された防眩層とを含み、全ヘイズが1%以下である防眩フィルムであって、
 前記防眩層は、前記透明支持体と反対側に微細な凹凸を有する微細凹凸表面を備え、
 前記微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルH(f)の常用対数の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfが、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きいことを特徴とする、防眩フィルムである。
 前記微細凹凸表面のうち、傾斜角度が5°以上である微小面の割合が1%未満であることが好ましい。
 前記微細凹凸表面の最大断面高さRtが0.3μm以上1μm以下であることが好ましい。
 また、本発明は、金型用基材の表面に所定のパターンに基づいた表面形状を形成する工程を含み、
 前記パターンの一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフが、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下において1つの極大値を有し、かつ、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下において1つの極大値を有することを特徴とする、防眩フィルム製造用金型の製造方法にも関する。
 上記の防眩フィルム製造用金型の製造方法は、
 金型用基材の表面に銅めっきを施す第1めっき工程と、
 第1めっき工程によってめっきが施された前記金型用基材の表面を研磨する研磨工程と、
 研磨された前記金型用基材の表面に感光性樹脂を塗布して感光性樹脂膜を形成する感光性樹脂膜形成工程と、
 前記パターンを前記感光性樹脂膜上に露光する露光工程と、
 前記パターンが露光された前記感光性樹脂膜を現像する現像工程と、
 現像された前記感光性樹脂膜をマスクとしてエッチング処理を行い、前記金型用基材のめっきが施された表面に凹凸を形成する第1エッチング工程と、
 エッチング処理後に感光性樹脂膜を剥離する感光性樹脂膜剥離工程と、
 第1エッチング工程によって形成された凹凸面をエッチング処理によって鈍らせる第2エッチング工程と、
 第2エッチング工程によって鈍らされた凹凸面にクロムめっきを施す第2めっき工程とを含むことが好ましい。
 また、本発明は、上記の方法により製造された金型の凹凸面の形状を透明樹脂フィルムに転写した後、金型の凹凸面の形状が転写された透明樹脂フィルムを金型から剥がすことを含む防眩フィルムの製造方法にも関する。
 本発明によれば、低ヘイズであっても十分な防眩性とギラツキの抑制を達成することが可能な防眩フィルムを提供することができる。
 また、本発明においては、防眩層の上に反射防止層等を別途形成する必要がないため、コスト高にならず、反射防止層等の膜厚の均一性が不十分な場合に生じるムラなどの品質上の不具合が抑制される。
本発明の防眩フィルムの一例を模式的に示す断面図である。 本発明の防眩フィルムの一例を模式的に示す斜視図である。 標高を表す関数h(x,y)が離散的に得られる状態を示す模式図である。 本発明の防眩フィルムの微細凹凸表面の標高を二次元の離散関数h(x,y)で表した図である。 二次元パワースペクトルH(f,f)を周波数空間における原点からの距離fで平均化する方法を説明する模式図である。 図4に示した防眩フィルムの微細凹凸表面の標高を離散フーリエ変換して得られた一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す図である。 微細凹凸表面の傾斜角度の測定方法を説明するための模式図である。 防眩フィルムの微細凹凸表面の微小面の傾斜角度分布のヒストグラムの一例を示すグラフである。 本発明の防眩フィルムを作製するために用いたパターンである画像データを模式的に示す図である。 図9に示したパターンを離散フーリエ変換して得られたパワースペクトルG(f)を示す図である。 本発明の防眩フィルムの製造に好ましく用いられる金型の製造方法の前半部分の好ましい一例を模式的に示す図である。 本発明の防眩フィルムの製造に好ましく用いられる金型の製造方法の後半部分の好ましい一例を模式的に示す図である。 ギラツキ評価用パターンのユニットセルを示す平面図である。 ギラツキ評価の状態を示す断面模式図である。 実施例2~4の金型作製の際に使用したパターンを示す図である。 実施例5の金型作製の際に使用したパターンを示す図である。 比較例1の金型作製の際に使用したパターンを示す図である。 比較例2の金型作製の際に使用したパターンを示す図である。 図15~18に示したパターンの一次元パワースペクトルG(f)を示す図である。 実施例2~4の防眩フィルムの標高より計算された一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す図である。 実施例5および比較例1の防眩フィルムの標高より計算された一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す図である。 比較例2および比較例3の防眩フィルムの標高より計算された一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す図である。
 本発明の防眩フィルムは、透明支持体と、該透明支持体上に形成された防眩層とを含み、全ヘイズが1%以下である。ここで、防眩フィルムの全ヘイズは、次のようにして測定される。防眩層を透明支持体上に形成した後、透明支持体の防眩層が形成されていない側が接合面となるように、該防眩フィルムとガラス基板とを、透明粘着剤を用いて貼合し、ガラス基板側から光を入射してJIS K 7136に準拠してヘイズを測定する。このようにして測定されるヘイズは、防眩フィルムの全ヘイズに相当する。
 本発明の防眩層は、透明支持体と反対側に微細な凹凸を有する微細凹凸表面を備え、
 微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルH(f)の常用対数の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfが、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きいことを特徴とする。
 (微細凹凸表面の標高のパワースペクトル)
 以下、防眩フィルムの微細凹凸表面の標高のパワースペクトルについて説明する。図1は、本発明の防眩フィルムの表面を模式的に示す断面図である。図1に示されるように、本発明の防眩フィルム1は、透明支持体101とその上に形成された防眩層102とを有し、防眩層102は、透明支持体101と反対側に微細な凹凸2を有する微細凹凸表面を備える。
 ここで、本発明でいう「微細凹凸表面の標高」とは、フィルム1表面の任意の点Pと、微細凹凸表面の平均高さにおいて当該高さを有する仮想的な平面103(標高は基準として0μm)とのフィルムの主法線方向5(上記仮想的な平面103における法線方向)における直線距離を意味する。
 実際には防眩フィルムは図2に模式的に示したように、二次元平面上に微細な凹凸が形成された防眩層を有する。よって、微細凹凸表面の標高は図2に示すように、フィルム面内の直交座標を(x,y)で表示した際には、微細凹凸表面の標高は座標(x,y)の二次元関数h(x,y)と表すことができる。
 微細凹凸表面の標高は、共焦点顕微鏡、干渉顕微鏡、原子間力顕微鏡(AFM)などの装置により測定される表面形状の三次元情報から求めることができる。測定機に要求される水平分解能は、少なくとも5μm以下、好ましくは2μm以下であり、また垂直分解能は、少なくとも0.1μm以下、好ましくは0.01μm以下である。この測定に好適な非接触三次元表面形状・粗さ測定機としては、New View 5000シリーズ(Zygo Corporation社製、日本ではザイゴ(株)から入手可能)、三次元顕微鏡PLμ2300(Sensofar社製)などを挙げることができる。測定面積は、標高のパワースペクトルの分解能が0.005μm-1以下である必要があるため、少なくとも200μm×200μm以上とするのが好ましく、より好ましくは、500μm×500μm以上である。
 次に、二次元関数h(x,y)より標高のパワースペクトルを求める方法について説明する。まず、二次元関数h(x,y)より、式(1)で定義される二次元フーリエ変換によって二次元関数H(f,f)を求める。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 ここでfおよびfはそれぞれx方向およびy方向の周波数であり、長さの逆数の次元を持つ。また、式(1)中のπは円周率、iは虚数単位である。得られた二次元関数H(f,f)を二乗することによって、二次元パワースペクトルH(f,f)を求めることができる。この二次元パワースペクトルH(f,f)は防眩フィルムの微細凹凸表面の空間周波数分布を表している。
 以下、防眩フィルムの微細凹凸表面の標高の二次元パワースペクトルを求める方法をさらに具体的に説明する。上記の共焦点顕微鏡、干渉顕微鏡、原子間力顕微鏡などによって実際に測定される表面形状の三次元情報は一般的に離散的な値、すなわち、多数の測定点に対応する標高として得られる。図3は、標高を表す関数h(x,y)が離散的に得られる状態を示す模式図である。図3のとおり、フィルム面内の直交座標を(x,y)で表示し、フィルム投影面3上にx軸方向にΔx毎に分割した線およびy軸方向にΔy毎に分割した線を破線で示すと、実際の測定では微細凹凸表面の標高はフィルム投影面3上の各破線の交点毎の離散的な標高値として得られる。
 得られる標高値の数は測定範囲とΔxおよびΔyによって決まり、図3に示すようにx軸方向の測定範囲をX=(M-1)Δxとし、y軸方向の測定範囲をY=(N-1)Δyとすると、得られる標高値の数はM×N個である。
 図3に示すようにフィルム投影面3上の着目点Aの座標を(jΔx,kΔy)(ここでjは0以上M-1以下であり、kは0以上N-1以下である。)とすると、着目点Aに対応するフィルム面上の点Pの標高はh(jΔx,kΔy)と表すことができる。
 ここで、測定間隔ΔxおよびΔyは測定機器の水平分解能に依存し、精度良く微細凹凸表面を評価するためには、上述したとおりΔxおよびΔyともに5μm以下であることが好ましく、2μm以下であることがより好ましい。また、測定範囲XおよびYは上述したとおり、ともに200μm以上が好ましく、ともに500μm以上がより好ましい。
 このように実際の測定では、微細凹凸表面の標高を表す関数は、M×N個の値を持つ離散関数h(x,y)として得られる。測定によって得られた離散関数h(x,y)と式(2)で定義される離散フーリエ変換によって離散関数H(f,f)が求まり、離散関数H(f,f)を二乗することによって二次元パワースペクトルの離散関数H(f,f)が求められる。式(2)中のlは-M/2以上M/2以下の整数であり、mは-N/2以上N/2以下の整数である。また、ΔfおよびΔfはそれぞれx方向およびy方向の周波数間隔であり、式(3)および式(4)で定義される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 ここで、図4に示したように、本発明の防眩フィルムの微細凹凸表面は凹凸がランダムに形成されているため、周波数空間(空間周波数領域)における二次元パワースペクトルH(f,f)は原点(f=0,f=0)を中心に対称となる。よって、二次元関数H(f,f)は、周波数空間における原点からの距離f(単位:μm-1)を変数とする一次元関数H(f)に変換することができる。本発明の防眩フィルムは、この一次元関数H(f)で表される一次元パワースペクトルが一定の特徴を有するものである。
 具体的には、まず、図5に示すように周波数空間において、原点O(f=0,f=0)から(n-1/2)Δf以上(n+1/2)Δf未満の距離に位置する全ての点(図5中の黒丸の点)の個数Nnを計算する。図5に示した例ではNn=16個である。次に、原点Oから(n-1/2)Δf以上(n+1/2)Δf未満の距離に位置する全ての点のH(f,f)の合計値Hn(図5中の黒丸の点におけるH(f,f)の合計値)を計算し、式(5)に示すように、その合計値Hnを点の個数Nnで割ったものをH(f)の値とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 ここで、M≧Nの場合、nは0以上N/2以下の整数であり、M<Nの場合、nは0以上M/2以下の整数である。なお、MおよびNは、図3に示されるように、それぞれx軸方向の測定点の数およびy軸方向の測定点の数を意味する。また、Δfは(Δf+Δf)/2とした。
 一般的に前記した方法によって求められる一次元パワースペクトルは測定の際の雑音を含んでいる。ここで一次元パワースペクトルを求めるのに際して、この雑音の影響を除くためには、防眩フィルム上の複数箇所の微細凹凸表面の標高を測定し、それぞれの微細凹凸表面の標高から求められる一次元パワースペクトルの平均値を一次元パワースペクトルH(f)として用いることが好ましい。防眩フィルム上の微細凹凸表面の標高を測定する箇所の数は3箇所以上が好ましく、より好ましくは5箇所以上である。
 図6に、このようにして得られた微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す。図6の一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)は防眩フィルム上の5箇所の異なる箇所の微細凹凸表面の標高から求められた一次元パワースペクトルを平均したものである。
 微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルの対数logH(f)の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfは、一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)から計算することができる。具体的には、式(6)の差分法によって二次導関数を計算することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 図6に示した標高の一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfは空間周波数0.01μm-1において-11878であり、空間周波数0.02μm-1において8081であった。よって、図6から明らかなように標高の一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を空間周波数に対する強度として表したときのグラフは空間周波数0.01μm-1において上に凸の形状を有し、空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有している。
 本発明の防眩フィルムは、微細凹凸表面の標高から計算される一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfが、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きいことを特徴とする。この結果、微細凹凸表面の標高から計算される一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を空間周波数fの関数として表したときのグラフが空間周波数0.01μm-1において上に凸の形状を有し、空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有することとなり、防眩フィルムの表面凹凸形状は、低ヘイズ化した際に防眩効果に寄与する100μm程度(空間周波数で0.01μm-1に相当)の周期のうねりを効果的に有しつつ、50μm付近(空間周波数で0.02μm-1に相当)の周期のうねりを効果的に減少させたものとなる。
 (微細凹凸表面の傾斜角度)
 また、本発明者らは、防眩フィルムにおいて、微細凹凸表面を構成する各微小面が特定の傾斜角度分布を示すようにすれば、優れた防眩性能を示しつつ、白ちゃけを効果的に防止するうえで一層有効であることを見出した。すなわち、本発明の防眩フィルムは、微細凹凸表面のうち、傾斜角度が5°以上である微小面の割合が1%未満であることが好ましい。微細凹凸表面のうち、傾斜角度が5°以上である微小面の割合が1%を上回ったりすると、凹凸表面の傾斜角度が急峻な微小面が多くなって、周囲からの光を集光し、表示面が全体的に白くなる白ちゃけが発生しやすくなる。このような集光効果を抑制し、白ちゃけを防止するためには、微細凹凸表面のうち、傾斜角度が5°以上である微小面の割合が小さければ小さいほどよく、0.5%未満であることが好ましく、0.1%未満であることがより好ましい。
 ここで、本発明でいう「微細凹凸表面の微小面の傾斜角度」とは、図2に示す防眩フィルム1表面の任意の点Pにおいて、後述するような点Pを含む微小面の凹凸を加味した局所的な法線6とフィルムの主法線方向5とのなす角度θを意味する。微細凹凸表面の傾斜角度についても標高と同様に、共焦点顕微鏡、干渉顕微鏡、原子間力顕微鏡(AFM)などの装置により測定される表面形状の三次元情報から求めることができる。
 図7は、微細凹凸表面の微小面の傾斜角度の測定方法を説明するための模式図である。具体的な傾斜角度の決定方法を説明すると、図7に示すように、点線で示される仮想的な平面FGHI上の着目点Aを決定し、そこを通るx軸上の着目点Aの近傍に、点Aに対してほぼ対称に点BおよびDを、また点Aを通るy軸上の着目点Aの近傍に、点Aに対してほぼ対称に点CおよびEをとり、これらの点B,C,D,Eに対応するフィルム面上の点Q,R,S,Tを決定する。なお図7では、フィルム面内の直交座標を(x,y)で表示し、フィルム厚み方向の座標をzで表示している。平面FGHIは、y軸上の点Cを通るx軸に平行な直線、および同じくy軸上の点Eを通るx軸に平行な直線と、x軸上の点Bを通るy軸に平行な直線、および同じくx軸上の点Dを通るy軸に平行な直線とのそれぞれの交点F,G,H,Iによって形成される面である。また図7では、平面FGHIに対して、実際のフィルム面の位置が上方にくるように描かれているが、着目点Aのとる位置によって当然ながら、実際のフィルム面の位置が平面FGHIの上方にくることもあるし、下方にくることもある。
 そして、得られる表面形状データの傾斜角度は、着目点Aに対応する実際のフィルム面上の点Pと、その近傍にとられた4点B,C,D,Eに対応する実際のフィルム面上の点Q,R,S,Tの合計5点により張られるポリゴン4平面、すなわち、四つの三角形PQR,PRS,PST,PTQの各法線ベクトル6a,6b,6c,6dを平均して得られる局所的な法線(ベクトル)6の極角(図2において、フィルムの主法線方向5とのなす角度θ)を求めることにより、得ることができる。各測定点(微小面)について傾斜角度を求めた後、ヒストグラムが計算される。
 図8は、防眩フィルムの微細凹凸表面の微小面の傾斜角度分布のヒストグラムの一例を示すグラフである。図8に示すグラフにおいて、横軸は傾斜角度であって、0.5°刻みで分割してある。例えば、一番左の縦棒は、傾斜角度が0~0.5°の範囲にある集合の分布を示し、以下、右へ行くにつれて角度が0.5°ずつ大きくなっている。図では、横軸の2目盛毎に値の上限値を表示しており、例えば、横軸で「1」とある部分は、傾斜角度が0.5~1°の範囲にある微小面の集合の分布を示す。また、縦軸はその集合の全体に対する割合を表し、合計すれば1になる値である。この例では、傾斜角度が5°以上である微小面の割合は略0である。
 (微細凹凸表面の表面粗さパラメータ)
 本発明の防眩フィルムの微細表面凹凸形状はJIS B 0601の規定に準拠した算術平均粗さRaが0.04μm以上0.1μm以下であることが好ましい。また、JIS B 0601の規定に準拠した最大断面高さRtが0.3μm以上0.6μm以下であることが好ましい。また、JIS B 0601の規定に準拠した平均長さRSmが50μm以上130μm以下であることが好ましい。
 算術平均粗さRaが0.04μmを下回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムの防眩性が不十分となる可能性がある。一方、算術平均粗さRaが0.1μmを上回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムに白ちゃけが発生する虞がある。
 最大断面高さRtが0.3μmを下回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムの防眩性が不十分となる可能性がある。一方、最大断面高さRtが0.6μmを上回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムに白ちゃけが発生する虞があるし、表面凹凸形状の均一性が低下してギラツキが発生する可能性がある。
 また、平均長さRSmが50μmを下回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムの防眩性が不十分となる可能性がある。一方、平均長さRsmが130μmを上回る場合には、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムにギラツキが発生する虞がある。
 <防眩フィルムの製造方法>
 本発明の防眩フィルムは、所定のパターンに基づいた表面形状を金型基材の表面に形成する工程を含む方法で、防眩フィルム製造用金型を製造し、製造された金型の凹凸面の形状を透明樹脂フィルムに転写した後、金型の凹凸面の形状が転写された透明樹脂フィルムを金型から剥がすことを含む製造方法により、作製することができる。
 上述のような特徴を有する防眩フィルムの微細凹凸表面を精度よく形成するために、上記所定のパターンの一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフが、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下において1つの極大値を有し、かつ、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下において1つの極大値を有することが好ましい。ここで、「パターン」とは、本発明の防眩フィルムの微細凹凸表面を形成するための画像データや透光部と遮光部を有するマスクなどを意味する。
 また、本発明の防眩フィルム製造用金型の製造方法に用いるパターンの空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下の第一の極大値の強度は、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下の第二の極大値における強度より小さいことが好ましい。第一の極大値の強度が第二の極大値より大きい場合にはギラツキが強くなる傾向があるため好ましくない。
 パターンの二次元パワースペクトルは、たとえばパターンが画像データである場合、画像データを2階調の二値化画像データに変換した後、画像データの階調を二次元関数g(x,y)で表し、得られた二次元関数g(x,y)をフーリエ変換して二次元関数G(f,f)を計算し、得られた二次元関数G(f,f)を二乗することによって求められる。ここで、xおよびyは画像データ面内の直交座標を表し、fおよびfはx方向の周波数およびy方向の周波数を表している。
 防眩層の微細凹凸表面の標高の二次元パワースペクトルを求める場合と同様に、パターンの二次元パワースペクトルを求める場合についても、階調の二次元関数g(x,y)は離散関数として得られる場合が一般的である。その場合は、微細凹凸表面の標高の二次元パワースペクトルを求める場合と同様に、離散フーリエ変換によって、二次元パワースペクトルを計算すれば良い。パターンの一次元パワースペクトルは、パターンの二次元パワースペクトルから、微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルと同様にして求められる。
 図9は、本発明の防眩フィルムを作製するために用いたパターンである画像データの一部を表わした図である。図9に示したパターンである画像データは33mm×33mmの大きさで、12800dpiで作成した。
 図10は、図9に示した階調の二次元離散関数g(x,y)を離散フーリエ変換して得られた二次元パワースペクトルG(f,f)を微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルと同様に原点からの距離fの関数として表した図である。これより図9に示したパターンは空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下に第一の極大値を有し、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下に第二の極大値を有することが分かる。
 防眩フィルム(防眩層)を作製するためのパターンの一次元パワースペクトルが空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下に第一の極大値を有し、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下に第二の極大値を有することによって、微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表した時のグラフが空間周波数0.01μm-1において上に凸の形状を有し、空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有する防眩フィルムが得られる。
 一次元パワースペクトルが空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下に第一の極大値を有し、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下に第二の極大値を有するパターンを作成するためには、ドットをランダムに配置して作成したパターンや乱数もしくは計算機によって生成された疑似乱数により濃淡を決定したランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させればよい。
 本発明の防眩フィルムにおいては、上述したように防眩層の微細凹凸表面の空間周波数分布を適切に形成することが好ましい。そこで、本発明の防眩フィルムは、上述したパターンを用いて微細凹凸表面を有する金型を製造し、製造された金型の凹凸面を透明支持体上の光硬化性樹脂層等に転写し、次いで凹凸面が転写された防眩層と透明支持体とを金型から剥がすエンボス法によって製造されることが好ましい。
 ここで、エンボス法としては、光硬化性樹脂を用いるUVエンボス法、熱可塑性樹脂を用いるホットエンボス法が例示され、中でも、生産性の観点から、UVエンボス法が好ましい。
 UVエンボス法は、透明支持体の表面に光硬化性樹脂層を形成し、その光硬化性樹脂層を金型の凹凸面に押し付けながら硬化させることで、金型の凹凸面が光硬化性樹脂層に転写される方法である。具体的には、透明支持体上に紫外線硬化型樹脂を塗工し、塗工した紫外線硬化型樹脂を金型の凹凸面に密着させた状態で透明支持体側から紫外線を照射して紫外線硬化型樹脂を硬化させ、その後金型から、硬化後の紫外線硬化型樹脂層が形成された透明支持体を剥離することにより、金型の形状を紫外線硬化型樹脂に転写する。
 UVエンボス法を用いる場合、透明支持体は、実質的に光学的に透明なフィルムであればよく、たとえばトリアセチルセルロースフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリメチルメタクリレートフィルム、ポリカーボネートフィルム、ノルボルネン系化合物をモノマーとする非晶性環状ポリオレフィンなどの熱可塑性樹脂の溶剤キャストフィルムや押出フィルムなどの樹脂フィルムが挙げられる。
 また、UVエンボス法を用いる場合における紫外線硬化型樹脂の種類は特に限定されないが、市販の適宜のものを用いることができる。また、紫外線硬化型樹脂に適宜選択された光開始剤を組み合わせて、紫外線より波長の長い可視光でも硬化が可能な樹脂を用いることも可能である。具体的には、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートなどの多官能アクリレートをそれぞれ単独で、あるいはそれら2種以上を混合して用い、それと、イルガキュアー907、イルガキュアー184、ルシリンTPO(以上、いずれもBASF社製)などの光重合開始剤とを混合したものを好適に用いることができる。
 一方、ホットエンボス法は、熱可塑性樹脂で形成された透明支持体を加熱状態で金型に押し付け、金型の表面形状を透明支持体に転写する方法である。ホットエンボス法に用いる透明支持体としては、実質的に透明なものであればいかなるものであってもよく、たとえば、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、トリアセチルセルロース、ノルボルネン系化合物をモノマーとする非晶性環状ポリオレフィンなどの熱可塑性樹脂の溶剤キャストフィルムや押出フィルムなどを用いることができる。これらの透明樹脂フィルムはまた、上で説明したUVエンボス法における紫外線硬化型樹脂を塗工するための透明支持体としても好適に用いることができる。
 <防眩フィルム製造用の金型の製造方法>
 以下では、本発明の防眩フィルムの製造に用いる金型を製造する方法について説明する。本発明の防眩フィルムの製造に用いる金型の製造方法については、上述したパターンを用いた所定の表面形状が得られる方法であれば、特に制限されないが、微細凹凸表面を精度よく、かつ、再現性よく製造するために、〔1〕第1めっき工程と、〔2〕研磨工程と、〔3〕感光性樹脂膜形成工程と、〔4〕露光工程と、〔5〕現像工程と、〔6〕第1エッチング工程と、〔7〕感光性樹脂膜剥離工程と、〔8〕第2エッチング工程と、〔9〕第2めっき工程とを基本的に含むことが好ましい。
 図11は、本発明の防眩フィルムの製造に用いる金型の製造方法の前半部分の好ましい一例を模式的に示す図である。図11には各工程での金型の断面を模式的に示している。以下、図11を参照しながら、本発明の防眩フィルムの製造に用いる金型の製造方法の各工程について詳細に説明する。
 〔1〕第1めっき工程
 本発明の防眩フィルムの製造に用いる金型の製造方法では、まず、金型に用いる基材の表面に、銅めっきを施す。このように、金型用基材の表面に銅めっきを施すことにより、後の第2めっき工程におけるクロムめっきの密着性や光沢性を向上させることができる。これは、銅めっきは、被覆性が高く、また平滑化作用が強いことから、金型用基材の微小な凹凸や鬆などを埋めて平坦で光沢のある表面を形成するためである。これらの銅めっきの特性によって、後述する第2めっき工程においてクロムめっきを施したとしても、基材に存在していた微小な凹凸や鬆に起因すると思われるクロムめっき表面の荒れが解消され、また、銅めっきの被覆性の高さから、細かいクラックの発生が低減される。
 第1めっき工程において用いられる銅は、銅の純金属であることができるほか、銅を主体とする合金であってもよく、したがって、本明細書でいう「銅」は、銅および銅合金を含む意味である。銅めっきは、電解めっきで行っても無電解めっきで行ってもよいが、通常は電解めっきが採用される。
 銅めっきを施す際には、めっき層が余り薄いと、下地表面の影響が排除しきれないことから、その厚みは50μm以上であるのが好ましい。めっき層厚みの上限は臨界的でないが、コストなどとのからみから、一般的には500μm程度までで十分である。
 なお、本発明の金型の製造方法において、基材の形成に好適に用いられる金属材料としては、コストの観点からアルミニウム、鉄などが挙げられる。さらに取扱いの利便性から、軽量なアルミニウムがより好ましい。ここでいうアルミニウムや鉄も、それぞれ純金属であることができるほか、アルミニウムまたは鉄を主体とする合金であってもよい。
 また、基材の形状は、当分野において従来より採用されている適宜の形状であれば特に制限されず、平板状であってもよいし、円柱状または円筒状のロールであってもよい。ロール状の基材を用いて金型を作製すれば、防眩フィルムを連続的なロール状で製造することができるという利点がある。
 〔2〕研磨工程
 続く研磨工程では、上述した第1めっき工程にて銅めっきが施された基材表面を研磨する。本発明の金型の製造方法では、当該工程を経て、基材表面を、鏡面に近い状態に研磨することが好ましい。これは、基材となる金属板や金属ロールは、所望の精度にするために、切削や研削などの機械加工が施されていることが多く、それにより基材表面に加工目が残っており、銅めっきが施された状態でも、それらの加工目が残ることがあるし、また、めっきした状態で、表面が完全に平滑になるとは限らないためである。すなわち、このような深い加工目などが残った表面に後述する工程を施したとしても、各工程を施した後に形成される凹凸よりも加工目などの凹凸の方が深いことがあり、加工目などの影響が残る可能性があり、そのような金型を用いて防眩フィルムを製造した場合には、光学特性に予期できない影響を及ぼすことがある。図11(a)には、平板状の金型用基材7が、第1めっき工程において銅めっきをその表面に施され(当該工程で形成した銅めっきの層については図示せず)、さらに研磨工程によって鏡面研磨された表面8を有するようにされた状態を模式的に示している。
 銅めっきが施された基材表面を研磨する方法については特に制限されるものではなく、機械研磨法、電解研磨法、化学研磨法のいずれも使用できる。機械研磨法としては、超仕上げ法、ラッピング、流体研磨法、バフ研磨法などが例示される。また、研磨工程においては、切削工具を用いて鏡面切削することにより、金型用基材7の表面8を鏡面としてもよい。その際の切削工具の材質や形状などは特に制限されるものではなく、超硬バイト、CBNバイト、セラミックバイト、ダイヤモンドバイトなどを使用することができるが、加工精度の観点からダイヤモンドバイトを用いることが好ましい。研磨後の表面粗度は、JIS B 0601の規定に準拠した中心線平均粗さRaが0.1μm以下であることが好ましく、0.05μm以下であることがより好ましい。研磨後の中心線平均粗さRaが0.1μmより大きいと、最終的な金型表面の凹凸形状に研磨後の表面粗度の影響が残る可能性があるので好ましくない。また、中心線平均粗さRaの下限については特に制限されず、加工時間や加工コストの観点から、おのずと限界があるので、特に指定する必要性はない。
 〔3〕感光性樹脂膜形成工程
 続く感光性樹脂膜形成工程では、上述した研磨工程によって鏡面研磨を施した基材7の表面8に、感光性樹脂を溶媒に溶解した溶液として塗布し、加熱・乾燥することにより、感光性樹脂膜を形成する。図11(b)には、基材7の表面8に感光性樹脂膜9が形成された状態を模式的に示している。
 感光性樹脂としては従来公知の感光性樹脂を用いることができる。たとえば、感光部分が硬化する性質をもったネガ型の感光性樹脂としては分子中にアクリル基またはメタアクリル基を有するアクリル酸エステルの単量体やプレポリマー、ビスアジドとジエンゴムとの混合物、ポリビニルシンナマート系化合物などを用いることができる。また、現像により感光部分が溶出し、未感光部分だけが残る性質をもったポジ型の感光性樹脂としてはフェノール樹脂系やノボラック樹脂系などを用いることができる。また、感光性樹脂には、必要に応じて、増感剤、現像促進剤、密着性改質剤、塗布性改良剤などの各種添加剤を配合してもよい。
 これらの感光性樹脂を基材7の表面8に塗布する際には、良好な塗膜を形成するために、適当な溶媒に希釈して塗布することが好ましく、セロソルブ系溶媒、プロピレングリコール系溶媒、エステル系溶媒、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、高極性溶媒などを使用することができる。
 感光性樹脂溶液を塗布する方法としては、メニスカスコート、ファウンティンコート、ディップコート、回転塗布、ロール塗布、ワイヤーバー塗布、エアーナイフ塗布、ブレード塗布、カーテン塗布、リングコートなどの公知の方法を用いることができる。塗布膜の厚さは乾燥後で1~10μmの範囲とすることが好ましい。
 〔4〕露光工程
 続く露光工程では、上記した一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフが、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下において1つの極大値を有し、かつ、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下において1つの極大値を有するパターンを、上述した感光性樹脂膜形成工程で形成された感光性樹脂膜9上に露光する。露光工程に用いる光源は塗布された感光性樹脂の感光波長や感度等に合わせて適宜選択すればよく、たとえば、高圧水銀灯のg線(波長:436nm)、高圧水銀灯のh線(波長:405nm)、高圧水銀灯のi線(波長:365nm)、半導体レーザ(波長:830nm、532nm、488nm、405nmなど)、YAGレーザ(波長:1064nm)、KrFエキシマーレーザ(波長:248nm)、ArFエキシマーレーザ(波長:193nm)、Fエキシマーレーザ(波長:157nm)等を用いることができる。
 本発明の金型の製造方法において表面凹凸形状を精度良く形成するためには、露光工程において、上述したパターンを感光性樹脂膜上に精密に制御された状態で露光することが好ましい。本発明の金型の製造方法においては、上述したパターンを感光性樹脂膜上に精度良く露光するために、コンピュータ上でパターンを画像データとして作成し、その画像データに基づいたパターンを、コンピュータ制御されたレーザヘッドから発するレーザ光によって描画することが好ましい。レーザ描画を行うに際しては印刷版作成用のレーザ描画装置を使用することができる。このようなレーザ描画装置としては、たとえばLaser Stream FX((株)シンク・ラボラトリー製)などが挙げられる。
 図11(c)には、感光性樹脂膜9にパターンが露光された状態を模式的に示している。感光性樹脂膜をネガ型の感光性樹脂で形成した場合には、露光された領域10は露光によって樹脂の架橋反応が進行し、後述する現像液に対する溶解性が低下する。そのため、現像工程において露光されていない領域11が現像液によって溶解され、露光された領域10のみ基材表面上に残りマスクとなる。一方、感光性樹脂膜をポジ型の感光性樹脂で形成した場合には、露光された領域10は露光によって樹脂の結合が切断され、後述する現像液に対する溶解性が増加する。そのため、現像工程において露光された領域10が現像液によって溶解され、露光されていない領域11のみ基材表面上に残りマスクとなる。
 〔5〕現像工程
 続く現像工程においては、感光性樹脂膜9にネガ型の感光性樹脂を用いた場合には、露光されていない領域11は現像液によって溶解され、露光された領域10のみ金型用基材上に残存し、続く第1エッチング工程においてマスクとして作用する。一方、感光性樹脂膜9にポジ型の感光性樹脂を用いた場合には、露光された領域10のみ現像液によって溶解され、露光されていない領域11が金型用基材上に残存して、続く第1エッチング工程におけるマスクとして作用する。
 現像工程に用いる現像液については従来公知のものを使用することができる。たとえば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水などの無機アルカリ類、エチルアミン、n-プロピルアミンなどの第一アミン類、ジエチルアミン、ジ-n-ブチルアミンなどの第二アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミンなどの第三アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミンなどのアルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、トリメチルヒドロキシエチルアンモニウムヒドロキシドなどの第四級アンモニウム塩、ピロール、ピヘリジンなどの環状アミン類などのアルカリ性水溶液、キシレン、トルエンなどの有機溶剤などを挙げることができる。
 現像工程における現像方法については特に制限されず、浸漬現像、スプレー現像、ブラシ現像、超音波現像などの方法を用いることができる。
 図11(d)には、感光性樹脂膜9にネガ型の感光性樹脂を用いて、現像処理を行った状態を模式的に示している。図11(c)において、露光されていない領域11が現像液によって溶解され、露光された領域10のみ基材表面上に残りマスク12となる。図11(e)には、感光性樹脂膜9にポジ型の感光性樹脂を用いて、現像処理を行った状態を模式的に示している。図11(c)において、露光された領域10が現像液によって溶解され、露光されていない領域11のみ基材表面上に残りマスク12となる。
 〔6〕第1エッチング工程
 続く第1エッチング工程では、上述した現像工程後に金型用基材表面上に残存した感光性樹脂膜をマスクとして用いて、主にマスクの無い箇所の金型用基材のめっきが施された表面をエッチングする。
 図12は、本発明の金型の製造方法の後半部分の好ましい一例を模式的に示す図である。図12(a)には第1エッチング工程によって、主にマスクの無い領域13の金型用基材7がエッチングされる状態を模式的に示している。マスク12の下部の金型用基材7は金型用基材表面からはエッチングされないが、エッチングの進行とともにマスクの無い領域13からのエッチングが進行する。よって、マスク12とマスクの無い領域13の境界付近では、マスク12の下部の金型用基材7もエッチングされる。このようなマスク12とマスクの無い領域13の境界付近において、マスク12の下部の金型用基材7もエッチングされることを、以下ではサイドエッチングと呼ぶ。
 第1エッチング工程におけるエッチング処理は、通常、塩化第二鉄(FeCl)液、塩化第二銅(CuCl)液、アルカリエッチング液(Cu(NHCl)などを用いて、金属表面を腐食させることによって行われるが、塩酸や硫酸などの強酸を用いることもできるし、電解めっき時と逆の電位をかけることによる逆電解エッチングを用いることもできる。エッチング処理を施した際の金型用基材に形成される凹形状は、下地金属の種類、感光性樹脂膜の種類およびエッチング手法などによって異なるため、一概にはいえないが、エッチング量が10μm以下である場合には、エッチング液に触れている金属表面から略等方的にエッチングされる。ここでいうエッチング量とは、エッチングにより削られる基材の厚みである。
 第1エッチング工程におけるエッチング量は好ましくは1~50μmであり、より好ましくは2~10μmである。エッチング量が1μm未満である場合には、金属表面に凹凸形状がほとんど形成されずに、ほぼ平坦な金型となってしまうので、防眩性を示さなくなってしまう。また、エッチング量が50μmを超える場合には、金属表面に形成される凹凸形状の高低差が大きくなり、得られた金型を使用して作製した防眩フィルムが白ちゃけることとなるため好ましくない。第1エッチング工程におけるエッチング処理は1回のエッチング処理によって行ってもよいし、エッチング処理を2回以上に分けて行ってもよい。ここでエッチング処理を2回以上に分けて行う場合には、2回以上のエッチング処理におけるエッチング量の合計が1~50μmであることが好ましい。
 〔7〕感光性樹脂膜剥離工程
 続く感光性樹脂膜剥離工程では、第1エッチング工程でマスクとして使用した残存する感光性樹脂膜を完全に溶解し除去する。感光性樹脂膜剥離工程では剥離液を用いて感光性樹脂膜を溶解する。剥離液としては、上述した現像液と同様のものを用いることができて、pH、温度、濃度および浸漬時間などを変化させることによって、ネガ型の感光性樹脂膜を用いた場合には露光部の、ポジ型の感光性樹脂膜を用いた場合には非露光部の感光性樹脂膜を完全に溶解して除去する。感光性樹脂膜剥離工程における剥離方法についても特に制限されず、浸漬現像、スプレー現像、ブラシ現像、超音波現像などの方法を用いることができる。
 図12(b)は、感光性樹脂膜剥離工程によって、第1エッチング工程でマスクとして使用した感光性樹脂膜を完全に溶解し除去した状態を模式的に示している。感光性樹脂膜によるマスク12とエッチングによって、第1の表面凹凸形状15が金型用基材表面に形成される。
 〔8〕第2エッチング工程
 第2エッチング工程では、感光性樹脂膜をマスクとして用いた第1エッチング工程によって形成された第1の表面凹凸形状15を、エッチング処理によって鈍らせる。この第2エッチング処理によって、第1エッチング処理で形成された第1の表面凹凸形状15における表面傾斜が急峻な部分がなくなり、得られた金型を用いて製造される防眩フィルムの光学特性が好ましい方向へと変化する。図12(c)には、第2エッチング処理によって金型用基材7の第1の表面凹凸形状15が鈍化し、表面傾斜が急峻な部分が鈍らされ、緩やかな表面傾斜を有する第2の表面凹凸形状16が形成された状態が示されている。
 第2エッチング工程のエッチング処理も、第1エッチング工程と同様に、通常、塩化第二鉄(FeCl)液、塩化第二銅(CuCl)液、アルカリエッチング液(Cu(NHCl)などを用い、表面を腐食させることによって行われるが、塩酸や硫酸などの強酸を用いることもできるし、電解めっき時と逆の電位をかけることによる逆電解エッチングを用いることもできる。エッチング処理を施した後の凹凸の鈍り具合は、下地金属の種類、エッチング手法、および第1エッチング工程により得られた凹凸のサイズと深さなどによって異なるため、一概にはいえないが、鈍り具合を制御する上で最も大きな因子は、エッチング量である。ここでいうエッチング量も、第1エッチング工程と同様に、エッチングにより削られる基材の厚みである。エッチング量が小さいと、第1エッチング工程により得られた凹凸の表面形状を鈍らせる効果が不十分であり、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムの光学特性があまり良くならない。一方で、エッチング量が大きすぎると、凹凸形状がほとんどなくなってしまい、ほぼ平坦な金型となってしまうので、防眩性を示さなくなってしまう。そこで、エッチング量は1~50μmの範囲内であることが好ましく、4~20μmの範囲内であることがより好ましい。第2エッチング工程におけるエッチング処理についても、第1エッチング工程と同様に、1回のエッチング処理によって行ってもよいし、エッチング処理を2回以上に分けて行ってもよい。ここでエッチング処理を2回以上に分けて行う場合には、2回以上のエッチング処理におけるエッチング量の合計が1~50μmであることが好ましい。
 〔9〕第2めっき工程
 続いて、クロムめっきを施すことによって、第2の表面凹凸形状16を鈍らせるとともに、金型表面を保護する。図12(d)には、上述したように第2エッチング工程のエッチング処理によって形成された第2の表面凹凸形状16にクロムめっき層17を形成し、クロムめっき層の表面18を鈍らせた状態が示されている。
 本発明では、平板やロールなどの表面に、光沢があって、硬度が高く、摩擦係数が小さく、良好な離型性を与え得るクロムめっきを採用する。クロムめっきの種類は特に制限されないが、いわゆる光沢クロムめっきや装飾用クロムめっきなどと呼ばれる、良好な光沢を発現するクロムめっきを用いることが好ましい。クロムめっきは通常、電解によって行われ、そのめっき浴としては、無水クロム酸(CrO)と少量の硫酸を含む水溶液が用いられる。電流密度と電解時間を調節することにより、クロムめっきの厚みを制御することができる。
 なお、第2めっき工程において、クロムめっき以外のめっきを施すことは好ましくない。何故なら、クロム以外のめっきでは、硬度や耐摩耗性が低くなるため、金型としての耐久性が低下し、使用中に凹凸が磨り減ったり、金型が損傷したりする。そのような金型から得られた防眩フィルムでは、十分な防眩機能が得られにくい可能性が高く、また、フィルム上に欠陥が発生する可能性も高くなる。クロムめっきで作製された金型から得られる防眩フィルムには、点状の凹凸に加え、線状の凸部または凹部が形成されることがある。点状の凹凸と線状の凸部または凹部が混在することで、微細な散乱が発生し、一層の防眩性の向上が期待される。このような線状の凸部または凹部が存在する場合でも、その割合は、全表面に対する面積比で20%以下となるようにすることが好ましい。
 また、めっき後の表面を研磨することも、やはり本発明では好ましくない。研磨することにより、最表面に平坦な部分が生じるため、光学特性の悪化を招く可能性があること、また、形状の制御因子が増えるため、再現性のよい形状制御が困難になることなどの理由による。
 このように本発明では、クロムめっきを施した後、表面を研磨せず、そのままクロムめっき面を金型の凹凸面として用いることが好ましい。微細表面凹凸形状が形成された表面にクロムめっきを施すことにより、凹凸形状が鈍らせられるとともに、その表面硬度が高められた金型が得られるためである。この際の凹凸の鈍り具合は、下地金属の種類、第1エッチング工程より得られた凹凸のサイズと深さ、まためっきの種類や厚みなどによって異なるため、一概にはいえないが、鈍り具合を制御するうえで最も大きな因子は、やはりめっき厚みである。クロムめっきの厚みが薄いと、クロムめっき加工前に得られた凹凸の表面形状を鈍らせる効果が不十分であり、その凹凸形状を透明フィルムに転写して得られる防眩フィルムの光学特性があまり良くならない。一方で、めっき厚みが厚すぎると、生産性が悪くなるうえに、ノジュールと呼ばれる突起状のめっき欠陥が発生してしまうため好ましくない。そこで、クロムめっきの厚みは1~10μmの範囲内であるのが好ましく、3~6μmの範囲内であるのがより好ましい。
 当該第2めっき工程で形成されるクロムめっき層は、ビッカース硬度が800以上となるように形成されていることが好ましく、1000以上となるように形成されていることがより好ましい。クロムめっき層のビッカース硬度が800未満である場合には、金型使用時の耐久性が低下するうえに、クロムめっきで硬度が低下することはめっき処理時にめっき浴組成、電解条件などに異常が発生している可能性が高く、欠陥の発生状況についても好ましくない影響を与える可能性が高いためである。
 以下に実施例を挙げて、本発明をさらに詳しく説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。例中、含有量ないし使用量を表す%および部は、特記ない限り重量基準である。また、以下の例における金型または防眩フィルムの評価方法は、次のとおりである。
 〔1〕防眩フィルムの表面形状の測定
 (表面の標高の測定)
 三次元顕微鏡PLμ2300(Sensofar社製)を用いて、防眩フィルムの表面の標高を測定した。サンプルの反りを防止するため、光学的に透明な粘着剤を用いて凹凸面が表面となるようにガラス基板に貼合してから、測定に供した。測定の際、対物レンズの倍率は10倍として測定を行った。水平分解能ΔxおよびΔyはともに1.66μmであり、測定面積は1270μm×950μmであった。
 (微細表面凹凸の標高のパワースペクトル)
 上で得られた測定データの中央部から512個×512個(測定面積で850μm×850μm)のデータをサンプリングし、防眩フィルムの微細凹凸表面の標高を二次元関数h(x,y)として求めた。二次元関数h(x,y)を離散フーリエ変換して二次元関数H(f,f)を求めた。二次元関数H(f,f)を二乗して二次元パワースペクトルの二次元関数H(f,f)を計算し、原点からの距離fの関数である一次元パワースペクトルの一次元関数H(f)を計算した。各サンプルにつき5箇所の表面の標高を測定し、それらのデータから計算される一次元パワースペクトルの一次元関数H(f)の平均値を各サンプルの一次元パワースペクトルの一次元関数H(f)とした。
 (微細凹凸表面の傾斜角度)
 上で得られた測定データをもとに、前述のアルゴリズムに基づいて計算し、凹凸面の傾斜角度のヒストグラムを作成し、そこから傾斜角度毎の分布を求め、傾斜角度が5°以上である面の割合を計算した。
 (微細凹凸表面の表面粗さパラメータ)
 JIS B 0601に準拠した(株)ミツトヨ製の表面粗さ測定機サーフテストSJ-301を用いて、防眩フィルムの表面粗さパラメータを測定した。サンプルの反りを防止するため、光学的に透明な粘着剤を用いて凹凸面が表面となるようにガラス基板に貼合してから、測定に供した。
 〔2〕防眩フィルムの光学特性の測定
 (ヘイズ)
 防眩フィルムの全ヘイズは、防眩フィルムを光学的に透明な粘着剤を用いて防眩層形成面とは反対側の面でガラス基板に貼合し、該ガラス基板に貼合された防眩フィルムについて、ガラス基板側から光を入射させ、JIS K 7136に準拠した(株)村上色彩技術研究所製のヘイズメーター「HM-150」型を用いて測定した。
 (透過鮮明度)
 JIS K 7105に準拠したスガ試験機(株)製の写像性測定器「ICM-1DP」を用いて、防眩フィルムの透過鮮明度を測定した。この場合も、サンプルの反りを防止するため、光学的に透明な粘着剤を用いて防眩層の微細な凹凸形状面が表面となるようにガラス基板に貼合してから、測定に供した。この状態でガラス側から光を入射させ、測定を行なった。ここでの測定値は、暗部と明部との幅がそれぞれ0.125mm、0.5mm、1.0mmおよび2.0mmである4種類の光学くしを用いて測定された値の合計値である。この場合の透過鮮明度の最大値は400%となる。
 (反射鮮明度)
 JIS K 7105に準拠したスガ試験機(株)製の写像性測定器「ICM-1DP」を用いて、防眩フィルムの反射鮮明度を測定した。この場合も、サンプルの反りを防止するため、光学的に透明な粘着剤を用いて防眩層の微細な凹凸形状面が表面となるように黒色アクリル基板に貼合してから、測定に供した。この状態で凹凸形状面側から光を45°で入射させ、測定を行なった。ここでの測定値は、暗部と明部との幅がそれぞれ0.5mm、1.0mmおよび2.0mmである3種類の光学くしを用いて測定された値の合計値である。この場合の反射鮮明度の最大値は300%となる。
 〔3〕防眩フィルムの機械特性の測定
 (鉛筆硬度)
 防眩フィルムの鉛筆硬度は、JIS K5600-5-4に規定される方法で測定した。具体的には、この規格に準拠した電動鉛筆引っかき硬度試験機((株)安田精機製作所製)を用いて荷重500gで測定した。
 〔4〕防眩フィルムの防眩性能の評価
 (映り込み、白ちゃけの目視評価)
 防眩フィルムの裏面からの反射を防止するために、凹凸面が表面となるように黒色アクリル樹脂板に防眩フィルムを貼合し、蛍光灯のついた明るい室内で凹凸面側から目視で観察し、蛍光灯の映り込みの有無、白ちゃけの程度を目視で評価した。映り込みおよび白ちゃけは、それぞれ1から3の3段階で次の基準により評価した。
 映り込み 1:映り込みが観察されない。
      2:映り込みが少し観察される。
      3:映り込みが明瞭に観察される。
 白ちゃけ 1:白ちゃけが観察されない。
      2:白ちゃけが少し観察される。
      3:白ちゃけが明瞭に観察される。
 (ギラツキの評価)
 ギラツキは、次の手順で評価した。すなわち、まず図13に平面図で示すようなユニットセルのパターンを有するフォトマスクを用意した。この図において、ユニットセル40は、透明な基板上に、線幅10μmでカギ形のクロム遮光パターン41が形成され、そのクロム遮光パターン41の形成されていない部分が開口部42となっている。ここでは、ユニットセルの寸法が211μm×70μm(図の縦×横)、したがって開口部の寸法が201μm×60μm(図の縦×横)のものを用いた。図示するユニットセルが縦横に多数並んで、フォトマスクを形成する。
 そして、図14に模式的な断面図で示すように、フォトマスク43のクロム遮光パターン41を上にしてライトボックス45に置き、ガラス板47に粘着剤で防眩フィルム1をその凹凸面が表面となるように貼合したサンプルをフォトマスク43上に置く。ライトボックス45の中には、光源46が配置されている。この状態で、サンプルから約30cm離れた位置49で目視観察することにより、ギラツキの程度を7段階で官能評価した。レベル1はギラツキが全く認められない状態、レベル7はひどくギラツキが観察される状態に該当し、レベル4はごくわずかにギラツキが観察される状態である。
 〔5〕防眩フィルム製造用のパターンの評価
 作成したパターンデータを2階調の二値化画像データとし、階調を二次元の離散関数g(x,y)で表した。離散関数g(x,y)の水平分解能ΔxおよびΔyはともに2μmとした。得られた二次元関数g(x,y)を離散フーリエ変換して、二次元関数G(f,f)を求めた。二次元関数G(f,f)を二乗して二次元パワースペクトルの二次元関数G(f,f)を計算し、原点からの距離fの関数である一次元パワースペクトルの一次元関数G(f)を計算した。
 <実施例1>
 (防眩フィルム製造用の金型の作製)
 直径200mmのアルミロール(JISによるA5056)の表面に銅バラードめっきが施されたものを用意した。銅バラードめっきは、銅めっき層/薄い銀めっき層/表面銅めっき層からなるものであり、めっき層全体の厚みは、約200μmとなるように設定した。その銅めっき表面を鏡面研磨し、研磨された銅めっき表面に感光性樹脂を塗布、乾燥して感光性樹脂膜を形成した。ついで、図9に示すパターン(ランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させて作成した)を繰り返し並べたパターンを感光性樹脂膜上にレーザ光によって露光し、現像した。レーザ光による露光、および現像はLaser Stream FX((株)シンク・ラボラトリー製)を用いて行った。感光性樹脂膜にはポジ型の感光性樹脂を使用した。
 その後、塩化第二銅液で第1のエッチング処理を行った。その際のエッチング量は4μmとなるように設定した。第1のエッチング処理後のロールから感光性樹脂膜を除去し、再度、塩化第二銅液で第2のエッチング処理を行った。その際のエッチング量は11μmとなるように設定した。その後、クロムめっき加工を行い、金型Aを作製した。このとき、クロムめっき厚みが4μmとなるように設定した。
 (防眩フィルムの形成)
 以下の各成分が酢酸エチルに固形分濃度60%で溶解されており、硬化後に1.53の屈折率を示す紫外線硬化性樹脂組成物Aを入手した。
 ペンタエリスリトールトリアクリレート 60部
 多官能ウレタン化アクリレート 40部
 (ヘキサメチレンジイソシアネートとペンタエリスリトールトリアクリレートの反応生成物)
 ジフェニル(2,4,6-トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド 5部。
 この紫外線硬化性樹脂組成物Aを厚み60μmのトリアセチルセルロース(TAC)フィルム上に、乾燥後の塗布厚みが7μmとなるように塗布し、60℃に設定した乾燥機中で3分間乾燥させた。乾燥後のフィルムを、先に得られた金型Aの凹凸面に、光硬化性樹脂組成物層が金型側となるようにゴムロールで押し付けて密着させた。この状態でTACフィルム側より、強度20mW/cmの高圧水銀灯からの光をh線換算光量で200mJ/cmとなるように照射して、光硬化性樹脂組成物層を硬化させた。この後、TACフィルムを硬化樹脂ごと金型から剥離して、表面に凹凸を有する硬化樹脂とTACフィルムとの積層体からなる、透明な防眩フィルムAを作製した。
 <実施例2>
 図15に示すパターン(ランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させて作成した)を繰り返し並べたパターンを感光性樹脂膜上にレーザ光によって露光したこと以外は実施例1と同様にして金型Bを作製し、金型Bを使用したこと以外は実施例1と同様にして防眩フィルムBを作製した。
 <実施例3>
 第2のエッチング処理のエッチング量を10μmとなるように設定したこと以外は実施例2と同様にして金型Cを作製し、金型Cを使用したこと以外は実施例2と同様にして防眩フィルムCを作製した。
 <実施例4>
 第2のエッチング処理のエッチング量を12μmとなるように設定したこと以外は実施例2と同様にして金型Dを作製し、金型Dを使用したこと以外は実施例2と同様にして防眩フィルムDを作製した。
 <実施例5>
 図16に示すパターン(ランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させて作成した)を繰り返し並べたパターンを感光性樹脂膜上にレーザ光によって露光し、第1のエッチング処理のエッチング量を3μmとなるように設定し、第2のエッチング処理のエッチング量を10μmとなるように設定したこと以外は実施例1と同様にして金型Eを作製し、金型Eを使用したこと以外は実施例1と同様にして防眩フィルムEを作製した。
 <比較例1>
 図17に示すパターン(ランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させて作成した)を繰り返し並べたパターンを感光性樹脂膜上にレーザ光によって露光したこと以外は実施例1と同様にして金型Fを作製し、金型Fを使用したこと以外は実施例1と同様にして防眩フィルムFを作製した。
 <比較例2>
 図18に示すパターン(ランダムな明度分布を有するパターンから、特定の空間周波数範囲の成分を除去するバンドパスフィルターを通過させて作成した)を繰り返し並べたパターンを感光性樹脂膜上にレーザ光によって露光したこと以外は実施例5と同様にして金型Gを作製し、金型Gを使用したこと以外は実施例1と同様にして防眩フィルムGを作製した。
 <比較例3>
 直径300mmのアルミロール(JISによるA5056)の表面を鏡面研磨し、研磨されたアルミ面に、ブラスト装置((株)不二製作所製)を用いて、ジルコニアビーズTZ-SX-17(東ソー(株)製、平均粒径:20μm)を、ブラスト圧力0.1MPa(ゲージ圧、以下同じ)、ビーズ使用量8g/cm(ロールの表面積1cmあたりの使用量、以下同じ)でブラストし、表面に凹凸をつけた。得られた凹凸つきアルミロールに対し、無電解ニッケルめっき加工を行い、金型Hを作製した。このとき、無電解ニッケルめっき厚みが15μmとなるように設定した。得られた金型Hを用いたこと以外は、実施例1と同様にして防眩フィルムHを作製した。
 [各金型の製造に用いたパターンの一次元パワースペクトル]
 上記図10は、防眩フィルムA(実施例1)の作製に使用した図9に示すパターンを離散フーリエ変換して得られたパワースペクトルG(f)を示す図に相当する。また、図19は、防眩フィルムB~G(実施例2~4、5および比較例1、2)の作製に使用したパターンの一次元パワースペクトルG(f)を示す図である。
 図10および図19より、防眩フィルムA~E(実施例1~5)の作製に使用したパターンの一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフは、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下に第一の極大値を有し、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下に第二の極大値を有することが分かる。一方、防眩フィルムFおよびG(比較例1および2)の作製に使用したパターンの一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフは、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下に極大値を有さないことが分かる。
 [評価結果]
 上記実施例および比較例について、上述の防眩フィルムの評価を行った結果を表1に示す。
 また、図20には、防眩フィルムB~D(実施例2~4)について、標高より計算された一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)のグラフを示し、図21には、防眩フィルムE(実施例5)および防眩フィルムF(比較例1)についてのlogH(f)のグラフを示し、図22には、防眩フィルムG(比較例2)および防眩フィルムH(比較例3)についてのlogH(f)のグラフを示した。なお、上記図6は、防眩フィルムAについて、標高より計算された一次元パワースペクトルの常用対数logH(f)を示す図に相当する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
 表1に示したように、防眩フィルムA~E(実施例1~5)について、標高のパワースペクトルの常用対数の空間周波数に関する二次導関数dlogH(f)/dfは、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きかった。
 表1に示す二次導関数dlogH(f)/dfの値に対応して、図6、図20および図21に示す、防眩フィルムA~Eについて標高のパワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表したグラフは、空間周波数0.01μm-1において上に凸の形状を有し、空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有していた。
 一方、防眩フィルムF(比較例1)について、表1に示す標高のパワースペクトルの常用対数の空間周波数に関する二次導関数dlogH(f)/dfは、空間周波数0.01μm-1および空間周波数0.02μm-1において0より大きかった。これに対応して、防眩フィルムF(比較例1)について、標高のパワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表したグラフ(図21)は、空間周波数0.01μm-1および空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有していた。
 また、防眩フィルムGおよびH(比較例2および3)について、標高のパワースペクトルの常用対数の空間周波数に関する二次導関数dlogH(f)/dfは、空間周波数0.01μm-1において0より大きく、空間周波数0.02μm-1において0未満であった。これに対応して、防眩フィルムGおよびH(比較例2および3)について、標高のパワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表したグラフ(図22)は、空間周波数0.01μm-1において下に凸の形状を有し、空間周波数0.02μm-1において上に凸の形状を有していた。
 本発明の要件を満たす防眩フィルムA~E(実施例1~5)は低ヘイズであるにも関わらず、必要十分な防眩性と優れたギラツキ抑制効果を発現した。一方、防眩フィルムF(比較例1)は標高のパワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表したグラフが、空間周波数0.01μm-1および空間周波数0.02μm-1において下に凸の形状を有していたため、優れたギラツキ抑制効果は示したが、防眩性が不十分であった。また、標高のパワースペクトルの常用対数を空間周波数に対する強度として表したグラフが、空間周波数0.02μm-1において上に凸の形状を有していた防眩フィルムGおよびH(比較例2および3)はギラツキが強く観察された。
 なお、実施例1~5および比較例1~2で得られた防眩フィルムは、その光硬化性樹脂組成物の硬化物からなる凹凸面を光学顕微鏡で観察したところ、点状の凹凸に加え、線状の凸部が観察された。一方、比較例3で得られた防眩フィルムについては、点状凹凸のみで、線状の凸または凹は観察されなかった。
 1 防眩フィルム、101 透明支持体、102 防眩層、103 仮想的な平面、2 微細な凹凸、3 フィルムの投影面、5 フィルムの主法線方向、6 局所的な法線、6a~6d ポリゴン面の法線ベクトル、7 金型用基材、8 研磨工程によって研磨された基材の表面、9 感光性樹脂膜、10 露光された領域、11 露光されていない領域、12 マスク、13 マスクの無い領域、15 第1の表面凹凸形状(第1エッチング工程後の金型用基材表面の凹凸形状)、16 第2の表面凹凸形状(第2エッチング工程後の金型用基材表面の凹凸形状)、17 クロムめっき層、18 クロムめっき層の表面、40 フォトマスクのユニットセル、41 フォトマスクのクロム遮光パターン、42 フォトマスクの開口部、43 フォトマスク、45 ライトボックス、46 光源、47 ガラス板、49 ギラツキの観察位置、50 拡散板。

Claims (6)

  1.  透明支持体と、該透明支持体上に形成された防眩層とを含み、全ヘイズが1%以下である防眩フィルムであって、
     前記防眩層は、前記透明支持体と反対側に微細な凹凸を有する微細凹凸表面を備え、
     前記微細凹凸表面の標高の一次元パワースペクトルH(f)の常用対数の空間周波数fに関する二次導関数dlogH(f)/dfが、空間周波数0.01μm-1において0未満であり、空間周波数0.02μm-1において0より大きいことを特徴とする、防眩フィルム。
  2.  前記微細凹凸表面のうち、傾斜角度が5°以上である微小面の割合が1%未満である、請求項1に記載の防眩フィルム。
  3.  前記微細凹凸表面の最大断面高さRtが0.3μm以上1μm以下である、請求項1または2に記載の防眩フィルム。
  4.  金型用基材の表面に所定のパターンに基づいた表面形状を形成する工程を含み、
     前記パターンの一次元パワースペクトルを空間周波数に対する強度として表したときのグラフが、空間周波数0.007μm-1以上0.015μm-1以下において1つの極大値を有し、かつ、空間周波数0.05μm-1以上0.1μm-1以下において1つの極大値を有することを特徴とする、防眩フィルム製造用金型の製造方法。
  5.  金型用基材の表面に銅めっきを施す第1めっき工程と、
     第1めっき工程によってめっきが施された前記金型用基材の表面を研磨する研磨工程と、
     研磨された前記金型用基材の表面に感光性樹脂を塗布して感光性樹脂膜を形成する感光性樹脂膜形成工程と、
     前記パターンを前記感光性樹脂膜上に露光する露光工程と、
     前記パターンが露光された前記感光性樹脂膜を現像する現像工程と、
     現像された前記感光性樹脂膜をマスクとしてエッチング処理を行い、前記金型用基材のめっきが施された表面に凹凸を形成する第1エッチング工程と、
     エッチング処理後に感光性樹脂膜を剥離する感光性樹脂膜剥離工程と、
     第1エッチング工程によって形成された凹凸面をエッチング処理によって鈍らせる第2エッチング工程と、
     第2エッチング工程によって鈍らされた凹凸面にクロムめっきを施す第2めっき工程とを含む、請求項4に記載の防眩フィルム製造用金型の製造方法。
  6.  請求項4または5に記載の方法により製造された金型の凹凸面の形状を透明樹脂フィルムに転写した後、金型の凹凸面の形状が転写された透明樹脂フィルムを金型から剥がすことを含む防眩フィルムの製造方法。
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