WO2013002113A1 - ガラスセラミック焼結体と、これを用いた反射部材および発光素子搭載用基板、ならびに発光装置 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a glass-ceramic sintered body excellent in external formability, a reflecting member using the same, a light-emitting element mounting substrate, and a light-emitting device.
- light-emitting devices equipped with light-emitting elements have been improved for high brightness and whitening, and are used as backlights for mobile phones and large-sized liquid crystal televisions.
- it has not only high reflectivity but also excellent heat resistance and durability compared to the synthetic resin that has been used for conventional light emitting element mounting substrates, and it does not deteriorate even when exposed to ultraviolet rays for a long time.
- glass ceramic sintered bodies have attracted attention.
- Patent Document 1 discloses a glass-ceramic sintered material that exhibits high reflectance in the visible light region by using borosilicate glass, alumina, a Group 2 element such as calcium, and niobium metal or niobium oxide as ceramic materials.
- the body is disclosed.
- the glass-ceramic sintered body disclosed in Patent Document 1 contains alumina particles with high hardness in the glass-ceramic sintered body, in the outer shape processing or cutting processing step using a dicing saw or the like. There has been a problem that defects caused by cracks or degranulation are likely to occur on the surface of the glass ceramic sintered body.
- this glass ceramic sintered body has a problem that the reflectance of light in the near-ultraviolet wavelength region outside the visible light region is low.
- the present invention provides a glass ceramic sintered body having a high light reflectivity in the near-ultraviolet wavelength region, in which defects due to cracks or degranulation are unlikely to occur on the surface in the outer shape processing and cutting processing steps. It is an object of the present invention to provide a reflective member, a light emitting element mounting substrate, and a light emitting device using the above.
- the glass-ceramic sintered body of the present invention includes an anorthite phase, a felsmite phase, and a quartz phase in a glass phase, and the glass phase, the anorthite phase, the quartz phase, and the felsmite.
- the total content of the phases is 98% by mass or more.
- the reflecting member of the present invention is characterized by comprising the glass ceramic sintered body described above.
- the light emitting element mounting substrate includes an insulating base having a mounting portion for mounting the light emitting element, and a reflective member provided on the mounting portion side of the insulating base so as to surround the mounting portion. And at least one of the insulating base and the reflecting member is made of the glass ceramic sintered body.
- the light emitting device of the present invention is characterized in that a light emitting element is provided in the mounting portion of the light emitting element mounting substrate.
- a glass ceramic sintered body having a high light reflectivity in the near-ultraviolet wavelength region, in which defects due to cracks or grain separation are unlikely to occur in the outer shape processing and cutting processing steps, and the same A reflecting member, a light emitting element mounting substrate, and a light emitting device can be obtained.
- (A) is a perspective view showing the glass ceramic sintered body of the present embodiment, showing a state after the mother substrate is cut, and (b) is a cross-sectional view taken along line AA of (a). is there. It is sectional drawing which shows an example of the light emitting element mounting substrate of this embodiment.
- FIG. 1A shows a glass ceramic sintered body according to the present embodiment, and is a perspective view showing a state after the mother substrate is cut
- FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. FIG.
- the glass-ceramic sintered body 1 of the present embodiment has an anorthite phase, a quartz phase, and a felsite phase in the glass phase, and these glass phase, anorthite phase, and quartz phase. And the total content of the felsmite phase is 98% by mass or more.
- the glass-ceramic sintered body 1 of the present embodiment has a structure in which crystal phases such as anorthite phase, quartz phase, and felsmite phase exist in the matrix of the glass phase.
- the surface of 1 is covered with a glass phase. For this reason, defects such as chipping due to crystal phase and filler degranulation in the vicinity of the surface of the glass ceramic sintered body 1 can be reduced.
- the sintered glass-ceramic 1 of the present embodiment has a Mohs hardness of about 7 even for quartz ( ⁇ -quartz) having the highest hardness among the crystal phases contained in the glass phase. 9)
- the glass ceramic sintered body 1 including a crystal phase having a Mohs hardness higher than 7 such as 9 in comparison with the glass ceramic sintered body 1 including a crystal phase having a Mohs hardness higher than 7 such as 9), in the outer shape processing and cutting processing steps, cracks are observed not only on the surface of the glass ceramic sintered body 1 but also on the inside. It is possible to reduce the size of the defect 3 caused by degranulation or the like.
- the glass-ceramic sintered body 1 of the present embodiment has an anosite (CaAl 2 Si 2 O 8 , refractive index 1) together with a quartz phase ( ⁇ -quartz, refractive index 1.45) in the glass phase. .58) phase, and further includes a felsmite phase (CaNb 2 O 6 , refractive index 2.2 to 2.4) as a main phase.
- the reflectance of light in the visible light wavelength region (wavelength 400 to 700 nm) can be increased to 80% or more, and light in the near ultraviolet wavelength region (380 nm or less), which is shorter than the visible light wavelength region. It is possible to make the reflectivity of 69% or more.
- the surface of the glass-ceramic sintered body is covered with the glass phase, and the anorthite phase and the felsmite phase are mixed around the quartz phase in the glass phase on the surface and on the lower layer side of the glass phase. This is because the configuration is distributed.
- the anorthite phase and the felsmite phase have an average particle size of about 1 ⁇ m (particle size range is 0.1 to 1.5 ⁇ m).
- particle size range is 0.1 to 1.5 ⁇ m.
- the total content of the glass phase, the anorthite phase, the quartz phase, and the felsmite phase contained in the glass ceramic sintered body 1 is less than 98% by mass, A defect having a large size is likely to occur, and the reflectance of light in the near ultraviolet wavelength region (380 nm or less) is also lower than 69%.
- the glass phase content is 16 to 28% by mass
- the anorthite phase content is 33 to 45% by mass
- the quartz phase content is 5 to 20% by mass
- the fermite phase content is 17 to 46 mass% and the average particle size of the quartz phase is 1.8 to 9.0 ⁇ m
- the reflectance of light in the wavelength region of 380 nm or less is 85% or more. can do.
- the glass phase content is 18 to 27 mass%
- the anorthite phase content is 36 to 45 mass%
- the quartz phase content is 5 to 10 mass%
- the ratio of the smite phase is 23 to 41% by mass and the average particle size of the quartz phase is 1.8 to 3.6 ⁇ m
- the reflectance of light in the wavelength region of 380 nm or less is further increased to 87% or more. be able to.
- FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating an example of the light emitting element mounting substrate of the present embodiment.
- the light emitting element mounting substrate of this embodiment includes an insulating base 13 provided with a mounting portion 11 for mounting a light emitting element (not shown), a conductor layer 15 provided on the upper and lower surfaces of the insulating base 13, and A through conductor 17 for connecting the conductor layers 15 provided on the upper and lower surfaces of the insulating base 13, and a reflecting member 19 provided so as to surround the mounting portion 11 on the upper surface of the insulating base 13; And at least one of the insulating base 13 and the reflecting member 19 is made of the glass ceramic sintered body 1 of the present embodiment.
- the glass ceramic sintered body 1 of the present embodiment is excellent in external formability such as cutting and polishing, and the size of the defect 3 generated on the surface of the glass ceramic sintered body 1 can be reduced. Therefore, when such a glass ceramic sintered body 1 is applied to at least one of the insulating base 13 and the reflecting member 19 of the light emitting element mounting substrate, the defect 3 is small and not only in the visible light region, It is possible to obtain a light-emitting element mounting substrate that exhibits high reflectance even in the near-ultraviolet wavelength region where the wavelength is shorter than 400 nm. In this case, the maximum value of the size of the defect 3 (the width w shown in FIG. 1B) is desirably 90 ⁇ m or less in that the defect rate in the appearance inspection as the light emitting element mounting substrate can be reduced.
- At least one of the insulating base 13 and the reflecting member 19 constituting the light emitting element mounting substrate is not only in the visible light region, Since it exhibits high reflectance even in the near ultraviolet wavelength region where the wavelength is shorter than 400 nm, it exhibits high emission characteristics over a wide wavelength range.
- glass powder, quartz powder, and Nb 2 O 5 powder are prepared as raw material powders.
- borosilicate glass powder containing Si, B, Al, Ca, Mg, and Zn, respectively, is used for the glass powder because the anorthite phase (CaAl 2 Si 2 O 8 ) phase is likely to precipitate. preferable.
- Nb 2 O 5 powder is included in the raw material powder, a ferritite phase (CaNb 2 O 6 ) having a high refractive index with an oxide of an alkaline earth element such as Ca constituting the glass powder.
- the glass-ceramic sintered body 1 having a high light reflectance can be obtained.
- the content of the quartz powder contained in the raw material powder is desirably 2 to 20% by mass, particularly 5 to 10% by mass, but the average particle diameter of the quartz powder is 1 to 30 ⁇ m, particularly 4 to 4%. It is preferable to use one having a thickness of 10 ⁇ m.
- the content of the Nb 2 O 5 powder contained in the raw material powder is preferably 5 to 40% by mass, particularly 20 to 35% by mass, but the Nb 2 O 5 powder has an average particle size larger than that of the quartz powder. It is desirable to use a powder having a small average particle diameter of 0.3 to 1.0 ⁇ m, particularly 0.3 to 0.8 ⁇ m.
- Nb 2 O 5 powder having an average particle size of 1 ⁇ m or less is used as the raw material powder, it is possible to form a fine felsmite phase around the quartz phase and also to atomize the anorthite phase, Thereby, it becomes possible to obtain the glass ceramic sintered body 1 having a higher reflectance of light in the ultraviolet and near ultraviolet wavelength regions.
- a glass powder, quartz powder, and Nb 2 O 5 powder are mixed with an organic vehicle to prepare a mixture for molding using a stirring mixer such as a ball mill.
- the formed mixture for molding is formed into a predetermined shape, and then fired at a temperature of 800 to 1000 ° C., whereby the glass ceramic sintered body of the present embodiment or the reflecting member made of this glass ceramic sintered body Can be obtained.
- a sheet-like molded body is formed by a molding method such as a doctor blade method, After forming a through-hole by punching the sheet-shaped molded body, a conductor mainly composed of Ag or Cu is formed on the sheet-shaped molded body that is a portion having the conductor layer 15 and the through conductor 17 in the manufactured sheet-shaped molded body. A conductor pattern is formed using a paste. Next, a sheet-like molded body on which a conductor pattern is formed and a sheet-like molded body on which a conductor pattern is not formed as necessary are combined and laminated so as to have a desired number of layers. Then, a mother substrate to be a light emitting element mounting substrate is manufactured by firing under predetermined conditions.
- the insulating substrate 13 of the light emitting element mounting substrate of the present embodiment is obtained by cutting the mother substrate with a predetermined dimension.
- the mother substrate is formed of the glass ceramic sintered body of the present embodiment, it is possible to suppress the occurrence of defects due to cracks and degranulation on the surface in the processing step of cutting or outline processing, and the appearance is good
- a light-emitting element mounting substrate having excellent light reflection characteristics can be obtained.
- an organic vehicle containing 14 parts by mass of an acrylic binder, 5 parts by mass of DOP as a plasticizer, and 30 parts by mass of toluene as a solvent is added to 100 parts by mass of the raw material powder, and a ball mill is used.
- the mother substrate was cut with a dicing saw (DAD3350 manufactured by DISCO) to produce 10 sample pieces having lengths, widths, and thicknesses of about 50 mm, about 5 mm, and about 0.4 mm, respectively.
- 10 cut sample pieces were observed using a stereomicroscope, and defects such as chips generated in the sample pieces were observed.
- Table 1 shows the maximum width in the direction perpendicular to the ridgeline. In each of the cut sample pieces, minute chipping (chipping) occurred only in the vicinity of the ridgeline.
- a substrate for rate measurement was prepared.
- the size of the substrate for reflectance measurement was 30 mm, 30 mm, and 0.25 mm in length, width, and thickness, respectively.
- the reflectance of the manufactured reflectance measurement substrate was measured in the wavelength range of 360 to 720 nm using a spectrocolorimeter (CM-3700d manufactured by Konica Minolta), and the reflectances at 360 nm, 430 nm, 540 nm, and 700 nm were all measured. Obtained from reflectance.
- CM-3700d manufactured by Konica Minolta
- the ratio of each crystal phase and glass phase present in the glass ceramic sintered body is determined by crushing the glass ceramic sintered body and identifying the main peak position obtained by X-ray diffraction in light of JCPDS. It was determined by performing an analysis.
- the average particle size of the quartz phase contained in the glass ceramic sintered body is determined by scanning a portion of the glass ceramic sintered body cut out from the mother substrate in a resin, polishing the cross section, and then polishing the sample. Take a picture of the internal structure using an electron microscope, draw about 50 circles on the picture, select the crystal particles that fall within and around the circle, and then image-process the outline of each crystal particle Then, the area of each crystal particle was determined, the diameter when replaced with a circle having the same area was calculated, and the average value was determined. At this time, the element of the main component contained in the crystal phase was identified by an X-ray microanalyzer provided in the scanning electron microscope, and the crystal phase in which only oxygen other than Si was detected was identified as the quartz phase.
- the glass phase content contained in the sintered glass ceramic is 16 to 28% by mass
- the anorthite phase content is 33 to 45% by mass
- the quartz phase content is 5 to 20% by mass
- the reflectance at 360 nm was 85% or more.
- the glass phase content contained in the glass ceramic sintered body is 18 to 27% by mass
- the anorthite phase content is 36 to 45% by mass
- the quartz phase content is 5 to 10% by mass
- Sample No. having a phase content of 23 to 41% by mass and an average particle size of the quartz phase of 1.8 to 3.6 ⁇ m.
- the reflectance at 360 nm was 87% or more.
- the chipping width in cutting using a dicing saw was 100 ⁇ m. It was.
- the chipping width during dicing is 60 ⁇ m or less.
- the reflectance of light at a wavelength of 360 nm was as low as 68% or less.
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Abstract
【課題】 外形加工や切断の処理工程において、表面にクラックあるいは脱粒に起因する欠陥が発生し難く、かつ近紫外線の波長の領域における光の反射率の高いガラスセラミック焼結体とそれを用いた反射部材および発光素子搭載用基板ならびに発光装置を提供する。 【解決手段】 ガラスセラミック焼結体１は、ガラス相中に、アノーサイト相と、フェルスマイト相と、石英相とを含み、これらガラス相と、アノーサイト相と、石英相と、フェルスマイト相とを合わせた含有量が９８質量％以上である。また、発光素子搭載用基板は、発光素子を搭載するための搭載部１１を備えた絶縁基体１３と、該絶縁基体１３の上面において、前記搭載部１１を囲うように設けられた反射部材１９とを有し、絶縁基体１３および反射部材１９のうち少なくとも一方が上記のガラスセラミック焼結体によって構成される。
Description
本発明は、外形加工性に優れたガラスセラミック焼結体と、これを用いた反射部材および発光素子搭載用基板、ならびに発光装置に関する。
近年、発光素子を搭載した発光装置は、高輝度化および白色化に対する改良が図られ、携帯電話や大型の液晶テレビ等のバックライトとして利用されている。その中で、高反射性を有するだけでなく、従来の発光素子搭載用基板に用いられてきた合成樹脂に比べて、耐熱性や耐久性に優れ、長期間紫外線に曝されても劣化しないという理由から、ガラスセラミック焼結体が注目されている。
例えば、特許文献１には、セラミック原料として、ホウ珪酸ガラスと、アルミナと、カルシウムなど２族元素と、金属ニオビウムまたは酸化ニオビウムとを用いることにより可視光領域において高い反射率を示すガラスセラミック焼結体が開示されている。
しかしながら、特許文献１に開示されたガラスセラミック焼結体は、当該ガラスセラミック焼結体中に硬度の高いアルミナ粒子を含有していることから、ダイシングソー等を用いた外形加工や切断処理工程において、ガラスセラミック焼結体の表面にクラックあるいは脱粒に起因する欠陥が発生しやすいという問題があった。
また、このガラスセラミック焼結体は可視光領域から外れた近紫外線の波長の領域における光の反射率が低いという問題を有していた。
従って、本発明は、外形加工や切断の処理工程において、表面にクラックあるいは脱粒に起因する欠陥が発生し難く、かつ近紫外線の波長の領域における光の反射率の高いガラスセラミック焼結体とそれを用いた反射部材および発光素子搭載用基板ならびに発光装置を提供することを目的とする。
本発明のガラスセラミック焼結体は、ガラス相中に、アノーサイト相と、フェルスマイト相と、石英相とを含み、前記ガラス相と、前記アノーサイト相と、前記石英相と、前記フェルスマイト相とを合わせた含有量が９８質量％以上であることを特徴とする。
本発明の反射部材は、上記のガラスセラミック焼結体からなることを特徴とする。
本発明の発光素子搭載用基板は、発光素子を搭載するための搭載部を備えた絶縁基体と、該絶縁基体の前記搭載部側に、前記搭載部を囲うように設けられた反射部材とを有し、前記絶縁基体および前記反射部材のうち少なくとも一方が上記のガラスセラミック焼結体からなることを特徴とする。
本発明の発光装置は、前記の発光素子搭載用基板の前記搭載部に発光素子を備えていることを特徴とする。
本発明によれば、外形加工や切断の処理工程において、表面にクラックあるいは脱粒に起因する欠陥が発生し難く、かつ近紫外線の波長の領域における光の反射率の高いガラスセラミック焼結体ならびにそれを用いた反射部材、発光素子搭載用基板および発光装置を得ることができる。
本実施形態のガラスセラミック焼結体の一例について図１を基に説明する。図１（ａ）は、本実施形態のガラスセラミック焼結体を示すもので、マザー基板を切断した後の状態を示す斜視図であり、（ｂ）は、（ａ）のＡ－Ａ線断面図である。
本実施形態のガラスセラミック焼結体１は、ガラス相中に、アノーサイト相と、石英相と、フェルスマイト相とを有するものであり、また、これらガラス相と、アノーサイト相と、石英相と、フェルスマイト相とを合わせた含有量が９８質量％以上である。
本実施形態のガラスセラミック焼結体１の場合、ガラス相のマトリックス中に、アノーサイト相、石英相およびフェルスマイト相などの結晶相が存在する構成となっているために、ガラスセラミック焼結体１の表面はガラス相に覆われている。このためガラスセラミック焼結体１の表面付近における結晶相やフィラーの脱粒による欠けなどの欠陥を小さくすることができる。
また、本実施形態のガラスセラミック焼結体１は、ガラス相中に含まれる結晶相のうち硬度が最も高い石英（α－石英）でも、モース硬度が７程度であることから、アルミナ（モース硬度９）などモース硬度が７よりも高い結晶相を含むガラスセラミック焼結体１に比較して、外形加工や切断の処理工程において、ガラスセラミック焼結体１の表面のみならず内部においてもクラックや脱粒等に起因する欠陥３のサイズを小さくすることができる。
本実施形態のガラスセラミック焼結体１は、上述のように、ガラス相中に、石英相（α－石英、屈折率１．４５）とともに、アノーサイト（ＣａＡｌ２Ｓｉ２Ｏ８、屈折率１．５８）相を有し、さらには、フェルスマイト相（ＣａＮｂ２Ｏ６、屈折率２．２～２．４）を主相として含んでいる。これにより可視光線の波長の領域（波長４００～７００ｎｍ）における光の反射率を８０％以上にできるとともに、可視光線の波長の領域よりも波長の短い近紫外線の波長の領域（３８０ｎｍ以下）における光の反射率を６９％以上にすることが可能になる。
これは、ガラスセラミック焼結体の表面がガラス相に覆われており、表面のガラス相中およびこのガラス相の下層側において、石英相の周囲にアノーサイト相とフェルスマイト相とが混在して分散している構成となっているためである。この場合、アノーサイト相およびフェルスマイト相は、平均粒径が１μｍ程度（粒径の範囲は０．１～１．５μｍ）であることが望ましく、このようにアノーサイト相およびフェルスマイト相の平均粒径が小さい場合には、粒径の小さい結晶相が波長の短い光に対応して反射することが可能となる。また、ガラスセラミック焼結体の表面付近において光の乱反射が起きやすくなる。
これに対し、ガラスセラミック焼結体１中に含まれるガラス相と、アノーサイト相と、石英相と、フェルスマイト相とを合わせた含有量が９８質量％よりも少ない場合には、外形加工時にサイズの大きな欠陥が発生しやく、また、近紫外線の波長の領域（３８０ｎｍ以下）における光の反射率も６９％より低くなってしまう。
また、本実施形態のガラスセラミック焼結体において、ガラス相の含有量を１６～２８質量％、アノーサイト相の含有量を３３～４５質量％、石英相の含有量を５～２０質量％およびフェルスマイト相の含有量を１７～４６質量％とするとともに、石英相の平均粒径を１．８～９．０μｍとしたときには、３８０ｎｍ以下の波長の領域における光の反射率を８５％以上にすることができる。
さらに、本実施形態のガラスセラミック焼結体におけるガラス相の含有量を１８～２７質量％、アノーサイト相の含有量を３６～４５質量％、石英相の含有量を５～１０質量％およびフェルスマイト相の割合を２３～４１質量％とするとともに、石英相の平均粒径を１．８～３．６μｍとしたときには、３８０ｎｍ以下の波長の領域における光の反射率を８７％以上にさらに高めることができる。
次に、本実施形態のガラスセラミック焼結体１を発光素子搭載用基板に適用した例について説明する。図２は、本実施形態の発光素子搭載用基板の一例を示す断面図である。
本実施形態の発光素子搭載用基板は、発光素子（図示せず）を搭載するための搭載部１１を備えた絶縁基体１３と、絶縁基体１３の上面および下面に設けられた導体層１５と、絶縁基体１３の上面および下面に設けられた導体層１５同士を接続するための貫通導体１７とを有し、さらに絶縁基体１３の上面において、搭載部１１を囲うように設けられた反射部材１９とを有するものであり、絶縁基体１３および反射部材１９のうち少なくとも一方が本実施形態のガラスセラミック焼結体１からなるものである。
上述したように、本実施形態のガラスセラミック焼結体１は、切断や研磨などの外形加工性に優れており、ガラスセラミック焼結体１の表面に発生する欠陥３のサイズを小さくすることができることから、このようなガラスセラミック焼結体１を発光素子搭載用基板の絶縁基体１３および反射部材１９のうち少なくとも一方に適用した場合には、欠陥３が小さく、かつ可視光領域のみならず、波長が４００ｎｍよりも短い近紫外線の波長の領域においても高い反射率を示す発光素子搭載用基板を得ることができる。この場合、発光素子搭載用基板として外観検査での不良率を低減できるという点で欠陥３のサイズ（図１（ｂ）に示す幅ｗ）は、最大値が９０μｍ以下であることが望ましい。
また、上記した発光素子搭載用基板の搭載部１１に発光素子を取り付けた発光装置は、発光素子搭載用基板を構成する絶縁基体１３および反射部材１９のうち少なくとも一方が可視光領域のみならず、波長が４００ｎｍよりも短い近紫外線の波長の領域においても高い反射率を示すものであることから、広い波長の範囲にわたって高い発光特性を示すものとなる。
次に、本実施形態のガラスセラミック焼結体１の製造方法について説明する。まず、原料粉末として、ガラス粉末と、石英粉末と、Ｎｂ２Ｏ５粉末とを準備する。この場合、ガラス粉末は、アノーサイト相（ＣａＡｌ２Ｓｉ２Ｏ８）相が析出しやすいという理由から、Ｓｉ、Ｂ、Ａｌ、Ｃａ、Ｍｇ、Ｚｎをそれぞれ含有するホウ珪酸ガラス粉末を用いることが好ましい。また、原料粉末中にＮｂ２Ｏ５粉末を含ませると、ガラス粉末を構成しているＣａ等のアルカリ土類元素の酸化物との間で高屈折率のフェルスマイト相（ＣａＮｂ２Ｏ６）が形成されやすくなり、これにより高い光の反射率を有するガラスセラミック焼結体１を得ることが可能となる。この場合、原料粉末中に含まれる石英粉末の含有量は２～２０質量％、特に５～１０質量％であることが望ましいが、石英粉末の平均粒径としては１～３０μｍ、特に、４～１０μｍであるものを用いることが好ましい。
また、原料粉末中に含まれるＮｂ２Ｏ５粉末の含有量は５～４０質量％、特に、２０～３５質量％とすることが望ましいが、Ｎｂ２Ｏ５粉末は石英粉末よりも平均粒径の小さい粉末を用いることが望ましく、平均粒径は０．３～１．０μｍ、特に、０．３～０．８μｍであものを用いることが好ましい。原料粉末として、平均粒径が１μｍ以下のＮｂ２Ｏ５粉末を用いると、石英相の周囲に微粒のフェルスマイト相を形成することができるとともに、アノーサイト相も微粒化することが可能となり、これにより紫外線および近紫外線の波長の領域における光の反射率がさらに高いガラスセラミック焼結体１を得ることが可能となる。
次に、ガラス粉末と、石英粉末と、Ｎｂ２Ｏ５粉末とを有機ビヒクルとともにボールミルなどの攪拌混合機を用いて成形用の混合体を調製する。
次に、調製した成形用の混合体を所定の形状に成形した後、８００～１０００℃の温度で焼成することによって本実施形態のガラスセラミック焼結体またはこのガラスセラミック焼結体からなる反射部材を得ることができる。
また、発光素子搭載用基板の絶縁基体１３を製造する場合には、成形用の混合体をスラリー状にした上で、ドクターブレード法等の成形法によりシート状成形体を形成し、次に、このシート状成形体を打ち抜き加工により貫通孔を形成した後、作製したシート状成形体のうち導体層１５および貫通導体１７を有する部分となるシート状成形体にＡｇまたはＣｕを主成分とする導体ペーストを用いて導体パターンを形成する。次に、導体パターンが形成されたシート状成形体と、必要に応じて導体パターンを形成していないシート状成形体とを組み合わせて所望の層数になるように積層して生の積層体を作製し、この後、所定の条件にて焼成することにより発光素子搭載用基板となるマザー基板を作製する。
次に、マザー基板を所定の寸法で切断することにより本実施形態の発光素子搭載用基板の絶縁基体１３が得られる。マザー基板を本実施形態のガラスセラミック焼結体により形成した場合には、切断あるいは外形加工の処理工程において、表面にクラックや脱粒に起因する欠陥の発生を抑制することが可能となり、外観が良好であり、かつ光の反射特性に優れた発光素子搭載用基板を得ることができる。
まず、原料粉末として、重量比率でＳｉＯ２：Ｂ２Ｏ３：Ａｌ２Ｏ３：ＣａＯ：ＭｇＯ：ＺｎＯ＝４９：８：１８：２１：１：３の割合の組成を有するホウケイ酸ガラス粉末（平均粒径：２．５μｍ）と、石英（α－石英）粉末と、Ｎｂ２Ｏ５粉末（平均粒径：０．５μｍ）と、アルミナ粉末（平均粒径：３μｍ）とを表１の割合で秤量し、次に、この原料粉末１００質量部に対して、アクリルバインダーを１４質量部、可塑剤としてＤＯＰを５質量部、溶剤としてトルエンを３０質量部含む有機ビヒクルを添加し、ボールミルを用いて４０時間ほど混合し、スラリーを作製した。次に、このスラリーをドクターブレード法を用いて成形して平均厚みが０．２ｍｍのシート状成形体を作製した。なお、表１のＮｏ．２３の試料は、ガラス粉末として、重量比率でＳｉＯ２：Ｂ２Ｏ３：Ａｌ２Ｏ３：ＣａＯ：ＢａＯ＝４３：８：６：５：３８の割合の組成を有するホウケイ酸ガラス粉末（平均粒径：２．５μｍ）を用いた。
次に、このシート状成形体を３枚貼り合わせ、加圧積層することにより、生の積層体を作製した後、表１に示す最高温度で１時間焼成して、縦、横、厚みが、それぞれ６０ｍｍ、５０ｍｍ、０．４ｍｍのマザー基板を作製した。
次に、マザー基板を、ダイシングソー（ＤＩＳＣＯ社製ＤＡＤ３３５０）により切断して、長さ、幅、厚みがそれぞれ約５０ｍｍ、約５ｍｍ、約０．４ｍｍの試料片を１０個作製した。次に、切断した１０個の試料片を実体顕微鏡を用いて観察し、試料片に発生した欠けなどの欠陥を観察し、稜線に垂直な方向の幅の最大値を表１に記した。切断後の試料片はいずれにも稜線付近のみに微小な欠け（チッピング）が発生していた。
次に、シート状成形体を２枚貼り合わせ、加圧積層することにより、生の積層体を作製した後、切断して、欠けの評価に用いた基板と同じ条件にて焼成して、反射率測定用の基板を作製した。反射率測定用の基板のサイズは縦、横、厚みが、それぞれ３０ｍｍ、３０ｍｍ、０．２５ｍｍとした。作製した反射率測定用基板の反射率を分光測色計（コニカミノルタ製ＣＭ－３７００ｄ）を用いて波長３６０～７２０ｎｍの範囲にて測定し、３６０ｎｍ、４３０ｎｍ、５４０ｎｍ、７００ｎｍでの反射率を全反射率から求めた。
また、ガラスセラミック焼結体中に存在する各結晶相およびガラス相の割合は、ガラスセラミック焼結体を粉砕し、Ｘ線回折により得られるメインピーク位置をＪＣＰＤＳに照らして同定するとともに、リートベルト解析を行うことにより求めた。
ガラスセラミック焼結体中に含まれる石英相の平均粒径は、マザー基板から切り出したガラスセラミック焼結体の一部を樹脂中に埋め、断面の研磨を行った後、研磨した試料について走査型電子顕微鏡を用いて内部組織の写真を撮り、その写真上に約５０個入る円を描き、円内および円周にかかった結晶粒子を選択し、次いで、各結晶粒子の輪郭を画像処理して、各結晶粒子の面積を求め、同じ面積をもつ円に置き換えたときの直径を算出し、その平均値より求めた。このとき走査型電子顕微鏡に備えられているＸ線マイクロアナライザにより結晶相に含まれる主成分の元素を同定して、Ｓｉ以外には酸素しか検出されなかった結晶相を石英相として同定した。
表１の結果から明らかなように、試料Ｎｏ．１～１９、２１、２５および２６では、ダイシングソーを用いた切断加工におけるチッピングの幅が９０μｍ以下であった。また、これらの試料は、波長３６０～７００ｎｍにおける反射率がいずれも６９％以上であった。
また、ガラスセラミック焼結体中に含まれるガラス相の含有量が１６～２８質量％、アノーサイト相の含有量が３３～４５質量％、石英相の含有量が５～２０質量％およびフェルスマイト相の含有量が１７～４６質量％であるとともに、石英相の平均粒径が１．８～９．０μｍである試料Ｎｏ．２～８、１３、１５～１９および２１では、３６０ｎｍにおける反射率が８５％以上であった。
さらに、ガラスセラミック焼結体中に含まれるガラス相の含有量が１８～２７質量％、アノーサイト相の含有量が３６～４５質量％、石英相の含有量が５～１０質量％およびフェルスマイト相の含有量が２３～４１質量％であり、石英相の平均粒径が１．８～３．６μｍである試料Ｎｏ．３～７および２１では、３６０ｎｍにおける反射率が８７％以上であった。
これに対し、石英（α－石英）粉末の代わりにアルミナ粉末を５質量％以上含有させた試料（試料Ｎｏ．２０、２７）では、ダイシングソーを用いた切断加工におけるチッピングの幅が１００μｍであった。
また、ガラス相中において、アノーサイト相、石英相およびフェルスマイト相のいずれかの結晶相が欠けた場合には（試料Ｎｏ．２２～２４）、ダイシング加工時のチッピングの幅は６０μｍ以下であったものの、波長３６０ｎｍにおける光の反射率がいずれも６８％以下と低かった。
１・・・・・ガラスセラミック焼結体
３・・・・・欠陥
１１・・・・搭載部
１３・・・・絶縁基体
１５・・・・導体層
１７・・・・貫通導体
１９・・・・反射部材
３・・・・・欠陥
１１・・・・搭載部
１３・・・・絶縁基体
１５・・・・導体層
１７・・・・貫通導体
１９・・・・反射部材
Claims (6)
- ガラス相中に、アノーサイト相と、フェルスマイト相と、石英相とを含み、前記ガラス相と、前記アノーサイト相と、前記石英相と、前記フェルスマイト相とを合わせた含有量が９８質量％以上であることを特徴とするガラスセラミック焼結体。
- 前記ガラス相の含有量が１６～２８質量％、前記アノーサイト相の含有量が３３～４５質量％、前記石英相の含有量が５～２０質量％および前記フェルスマイト相の含有量が１７～４６質量％であるとともに、前記石英相の平均粒径が１．８～９．０μｍであることを特徴とする請求項１に記載のガラスセラミック焼結体。
- 前記ガラス相の含有量が１８～２７質量％、前記アノーサイト相の含有量が３６～４５質量％、前記石英相の含有量が５～１０質量％および前記フェルスマイト相の含有量が２３～４１質量％であるとともに、前記石英相の平均粒径が１．８～３．６μｍであることを特徴とする請求項１または２に記載のガラスセラミック焼結体。
- 請求項１乃至３のうちいずれかに記載のガラスセラミック焼結体からなることを特徴とする反射部材。
- 発光素子を搭載するための搭載部を備えた絶縁基体と、該絶縁基体の前記搭載部側に、前記搭載部を囲うように設けられた反射部材とを有し、前記絶縁基体および前記反射部材のうち少なくとも一方が請求項１乃至３のうちいずれかに記載のガラスセラミック焼結体からなることを特徴とする発光素子搭載用基板。
- 請求項５に記載の発光素子搭載用基板の前記搭載部に発光素子を備えていることを特徴とする発光装置
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