WO2010126012A1 - エレクトレット材および静電型音響変換器 - Google Patents

エレクトレット材および静電型音響変換器 Download PDF

Info

Publication number
WO2010126012A1
WO2010126012A1 PCT/JP2010/057394 JP2010057394W WO2010126012A1 WO 2010126012 A1 WO2010126012 A1 WO 2010126012A1 JP 2010057394 W JP2010057394 W JP 2010057394W WO 2010126012 A1 WO2010126012 A1 WO 2010126012A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
electret
layer
electrode plate
electret material
dispersion
Prior art date
Application number
PCT/JP2010/057394
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
誠一 ▲高▼岡
Original Assignee
日東電工株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日東電工株式会社 filed Critical 日東電工株式会社
Priority to US13/131,970 priority Critical patent/US8971553B2/en
Priority to CN2010800034262A priority patent/CN102227789A/zh
Priority to KR1020117012472A priority patent/KR101596536B1/ko
Priority to EP10769710.4A priority patent/EP2426683A4/en
Publication of WO2010126012A1 publication Critical patent/WO2010126012A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G7/00Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture
    • H01G7/02Electrets, i.e. having a permanently-polarised dielectric
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G7/00Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture
    • H01G7/02Electrets, i.e. having a permanently-polarised dielectric
    • H01G7/028Electrets, i.e. having a permanently-polarised dielectric having a heterogeneous dielectric
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R19/00Electrostatic transducers
    • H04R19/01Electrostatic transducers characterised by the use of electrets
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R19/00Electrostatic transducers
    • H04R19/02Loudspeakers

Definitions

  • the present invention relates to an electret material and an electrostatic acoustic transducer including the same.
  • electret materials in which an electret layer is formed on an electrode plate have been used in electrostatic acoustic transducers such as earphones, headphones, and microphones.
  • ECM electret condenser microphone
  • the electret material is disposed facing the front side or the back side of the diaphragm.
  • Patent Document 1 describes a method of laminating a thermoplastic resin film capable of forming an electret layer on a metal sheet and converting the film into an electret.
  • Patent Document 2 and Patent Document 3 a dispersion liquid in which FEP (specifically, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer) fine particles are dispersed in a dispersion medium is applied to the back electrode plate and heated. Describes a method for forming a thin film and electretizing the thin film.
  • FEP specifically, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 64-44010 Japanese Laid-Open Patent Publication No. 11-150795 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-115895
  • an electrostatic acoustic transducer may be mounted on a control board, for example, by soldering using a flow device or a reflow device.
  • a flow device or a reflow device for example, soldering using a flow device or a reflow device.
  • the conventional electret material when used, there is a problem that the electric charge held by the electret material is lowered when the electrostatic acoustic transducer is mounted. This is presumably because the surface potential of the electret layer is lowered by heating the electret layer to a high temperature during soldering.
  • lead-free solder is frequently used recently, the temperature at the time of soldering becomes higher, and there is a possibility that the electric charge held by the electret material may be extremely lowered.
  • an object of the present invention is to provide an electret material excellent in heat charge retention and an electrostatic acoustic transducer including the electret material.
  • the inventor of the present invention as a result of intensive research to solve the above-mentioned problems, formed a semiconductive layer between the electrode plate and the electret layer with a fluororesin containing carbon, and the reason for this Although it is not clear, it has been found that a decrease in the surface potential of the electret layer when heated to a high temperature can be suppressed.
  • the present invention has been made from such a viewpoint.
  • the present invention provides an electret material comprising an electrode plate, a semiconductive layer containing carbon and a fluororesin formed on the electrode plate, and an electret layer formed on the semiconductive layer.
  • the present invention also provides an electrostatic acoustic transducer comprising the above electret material and a diaphragm facing the electret material.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of an electret material according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a sectional view of an electrostatic acoustic transducer using the electret material shown in FIG.
  • FIG. 1 shows an electret material 10 according to an embodiment of the present invention.
  • the electret material 10 includes an electrode plate 1, a semiconductive layer 2 formed on the electrode plate 1, and an electret layer 3 formed on the semiconductive layer 2.
  • the electrode plate 1 a metal plate made of stainless steel, aluminum, steel, copper, titanium, and alloys thereof can be used.
  • the electrode plate 1 may be a metal foil supported on a substrate, for example. That is, the electrode plate of the present invention may be made of a thin metal, and the thickness is not particularly limited. However, the thickness of the electrode plate is preferably 100 to 300 ⁇ m from the demand for downsizing of the electret material 10.
  • the electrode plate 1 is preferably free of oils and fats. Further, in order to improve the adhesiveness with the semiconductive layer 2, it is preferable to perform a base treatment on the electrode plate surface.
  • the ground treatment is not particularly limited, but a treatment that does not increase the surface roughness of the surface of the electrode plate in order to obtain the uniformity of the thickness of the semiconductive layer 2 and the smoothness of the surface, for example, an anode It is preferable to form a film by oxidation or chemical treatment.
  • the semiconductive layer 2 is made of a fluororesin containing carbon.
  • the surface resistance of the semiconductive layer 2 is preferably in the range of 1.0 ⁇ 10 8 to 1.0 ⁇ 10 15 ⁇ / ⁇ . If the surface resistance of the semiconductive layer 2 is less than 1.0 ⁇ 10 8 ⁇ / ⁇ or exceeds 1.0 ⁇ 10 15 ⁇ / ⁇ , the surface potential of the electret layer 3 when heated to a high temperature is greatly reduced. Because it does.
  • a more preferable surface resistance of the semiconductive layer 2 is in the range of 1.0 ⁇ 10 8 to 1.0 ⁇ 10 12 ⁇ / ⁇ .
  • the film thickness of the semiconductive layer 2 is not particularly limited, but is preferably 1 to 25 ⁇ m, more preferably 5 to 15 ⁇ m, due to recent demands for miniaturization of electrostatic acoustic transducers (for example, microphones). preferable.
  • fluororesin constituting the semiconductive layer 2 examples include tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer (FEP), tetrafluoroethylene-perfluoroalkoxyethylene copolymer (PFA), and ethylene-tetrafluoroethylene copolymer ( ETFE) and at least one selected from the group consisting of polytetrafluoroethylene (PTFE) can be used.
  • FEP tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer
  • PFA tetrafluoroethylene-perfluoroalkoxyethylene copolymer
  • ETFE ethylene-tetrafluoroethylene copolymer
  • PTFE polytetrafluoroethylene
  • the electret layer 3 is made of PTFE, and a charge is held on the surface thereof. If the electret layer 3 is made of PTFE, a decrease in surface potential when the temperature becomes higher than when other fluororesins are employed can be suppressed.
  • the thickness of the electret layer 3 is preferably 10 to 50 ⁇ m. This is because within this range, the electret material 10 can be reduced in thickness and size while maintaining the characteristics of the electret material 10.
  • FIG. 1 An electret material 10 as shown in FIG. 1 is suitably used for an electrostatic acoustic transducer.
  • FIG. 2 shows an electrostatic acoustic transducer (ECM) 20 using the electret material 10.
  • ECM 20 shown in FIG. 2 is of the back electret type, and the electret material 10 is disposed to face the back surface of the diaphragm 4.
  • the ECM 20 is laminated in the shield case 9 from bottom to top, the circuit board 7 on which the IC element 75 is mounted, the IC element 75, the back electrode substrate 6 that supports the electret material 10, and the spacer 5, a diaphragm 4, and a support frame 8.
  • the electret material 10 is supported by the back electrode substrate 6 in the space provided by the spacer 5 so that the electret layer 3 faces the back surface of the diaphragm 4.
  • This method includes a semiconductive layer forming step, a PTFE layer forming step, and a charging step.
  • a first dispersion liquid in which fluororesin fine particles are dispersed in a dispersion medium and a second dispersion liquid in which carbon fine particles are dispersed in a solvent are mixed to prepare a mixed liquid.
  • the mixing of the first dispersion and the second dispersion is preferably performed so that the solid content in the second dispersion is, for example, 4 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solid content in the first dispersion. Is 5 to 9 parts by weight.
  • the first dispersion for example, a commercially available FEP dispersion or PFA dispersion can be used.
  • examples of the FEP dispersion include NEOFRON ND-4 manufactured by Daikin Industries, Ltd.
  • examples of the PFA dispersion include NEOFRON AD-2CRE manufactured by Daikin Industries, Ltd.
  • a commercially available carbon paste conductive carbon aqueous dispersion
  • Lion Paste W-310A manufactured by Lion Corporation may be used.
  • the specific gravity of the mixed solution is adjusted to, for example, 1.2 to 1.4 by adding distilled water to the mixed solution.
  • the mixed solution After adjusting the specific gravity, apply the mixed solution on the electrode plate.
  • a known method can be used to apply the mixed solution onto the electrode plate. For example, it may be performed using a dispenser, or may be performed by a spin coating method or a printing method. Alternatively, the mixed solution may be applied onto the electrode plate by masking one surface of the electrode plate and immersing the electrode plate in the mixed solution (dipping).
  • the mixed solution After applying the mixed solution on the electrode plate, the mixed solution is dried to remove the dispersion medium from the mixed solution. Drying is performed, for example, by placing the electrode plate coated with the mixed solution in a temperature (for example, 180 ° C.) environment lower than the melting point of the fluororesin for a predetermined time (for example, 10 minutes).
  • a temperature for example, 180 ° C.
  • the fluororesin fine particles are fired. Firing is performed, for example, by placing an electrode plate carrying the dried mixed liquid (fluororesin fine particles and carbon fine particles) in an environment at a temperature equal to or higher than the melting point of the fluororesin (eg, 360 ° C.) for a predetermined time (eg, 10 minutes). Do. As a result, a semiconductive layer made of a fluororesin containing carbon is formed on the electrode plate. After firing, the whole is cooled to room temperature.
  • a third dispersion in which PTFE fine particles are dispersed in a dispersion medium is prepared, and the specific gravity of the third dispersion is adjusted to, for example, 1.4 to 1.5 with distilled water.
  • the third dispersion various commercially available products prepared by an emulsion polymerization method are on the market, and these can be used.
  • polyflon D-1 manufactured by Daikin Industries, full-on AD911L manufactured by Asahi Glass may be used.
  • the third dispersion is applied to the surface on the semiconductive layer side of the laminate composed of the semiconductive layer and the electrode plate, that is, the semiconductive layer.
  • coating of the 3rd dispersion liquid on a semiconductive layer can be performed by the method similar to the liquid mixture mentioned above.
  • the third dispersion is dried to remove the dispersion medium from the third dispersion. Drying is performed, for example, by placing the laminate coated with the third dispersion in a temperature (for example, 180 ° C.) below the melting point of PTFE for a predetermined time (for example, 10 minutes).
  • the PTFE fine particles are fired. Firing is performed, for example, by placing the laminated body carrying the dried third dispersion (PTFE fine particles) in an environment at a temperature equal to or higher than the melting point of PTFE (eg, 360 ° C.) for a predetermined time (eg, 10 minutes). Thereby, a PTFE layer is formed on the semiconductive layer. After firing, the whole is cooled to room temperature.
  • a temperature equal to or higher than the melting point of PTFE eg, 360 ° C.
  • a predetermined time eg, 10 minutes
  • a PTFE film may be thermocompression bonded to the surface on the semiconductive layer side of the laminate using a hot press.
  • Charging process In the charging step, the surface of the PTFE layer is charged and the PTFE layer is used as an electret layer.
  • the charging process is performed by polarization-charging the surface of the PTFE layer by, for example, corona discharge.
  • a plurality of electret materials may be manufactured collectively up to the PTFE forming process and cut into individual sizes before the charging process.
  • an aging process may be performed after the charging step.
  • Example 1 A commercially available FEP dispersion (Neoflon ND-4 (solid content concentration 40 wt%) manufactured by Daikin Industries, Ltd.) and a commercially available carbon paste (Lion paste Lion paste W-310A (solid content concentration 17.5 wt%)) manufactured by FEP After mixing so that the solid content in a carbon paste might be 8 weight part with respect to 100 weight part of solid content in a dispersion, it stirred, and the liquid mixture was prepared. Next, the specific gravity of the mixed solution was adjusted to 1.30 with distilled water.
  • a commercially available aluminum foil having a thickness of 200 ⁇ m (made by Toyo Aluminum Co., Ltd., rough surface soft foil) was used as an electrode plate, and one surface of this electrode plate was masked with a masking adhesive tape.
  • This electrode plate was passed through the prepared liquid mixture at a dipping rate of 200 mm / min, and the liquid mixture was applied to one side of the electrode plate.
  • the electrode plate was placed in an environment of 180 ° C. for 10 minutes to dry the mixed solution, and then the masking adhesive tape was peeled off. Thereafter, the FEP fine particles were fired by placing the electrode plate in an environment of 360 ° C. for 10 minutes. Thereby, a semiconductive layer having a film thickness of 15 ⁇ m made of FEP containing carbon was formed on the electrode plate having a thickness of 200 ⁇ m. After firing, the whole was cooled to room temperature.
  • distilled water was added to a commercially available PTFE dispersion (Fullon AD911L (solid content concentration: 60 wt%) manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) to adjust the specific gravity to 1.50.
  • the electrode plate side surface of the laminate composed of the semiconductive layer and the electrode plate is masked with a masking adhesive tape, and this laminate is passed through the PTFE dispersion at a dipping speed of 100 mm / min. Dispersion was applied.
  • the PTFE dispersion was dried for 10 minutes in a 180 ° C. environment, and then the masking adhesive tape was peeled off. Thereafter, the PTFE fine particles were fired by placing the laminate in an environment of 360 ° C. for 10 minutes.
  • a PTFE layer having a thickness of 25 ⁇ m was formed on the semiconductive layer. After firing, the whole was cooled to room temperature.
  • the electret material was obtained using the PTFE layer as the electret layer by polarization-charging the surface of the PTFE layer by negative corona discharge at 25 ° C.
  • Example 2 An electret material was obtained in the same manner as in Example 1 except that the specific gravity of the PTFE dispersion applied on the semiconductive layer was adjusted to 1.40, and a PTFE layer having a thickness of 15 ⁇ m was formed.
  • Example 3 An electret material was obtained in the same manner as in Example 1 except that the FEP dispersion and the carbon paste were mixed so that the solid content in the carbon paste was 6 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solid content in the FEP dispersion. .
  • Example 4 A commercially available PFA dispersion (Neoflon AD-2CRE (solid content concentration 40 wt%) manufactured by Daikin Industries, Ltd.) and a commercially available carbon paste (Lion paste W-310A (solid content concentration 17.5 wt%) manufactured by Lion Corp.) After mixing so that the solid content in a carbon paste might be 8 weight part with respect to 100 weight part of solid content in a dispersion, it stirred, and the liquid mixture was prepared. Next, the specific gravity of the mixed solution was adjusted to 1.30 with distilled water.
  • a commercially available aluminum foil having a thickness of 200 ⁇ m (made by Toyo Aluminum Co., Ltd., rough surface soft foil) was used as an electrode plate, and one surface of this electrode plate was masked with a masking adhesive tape.
  • the electrode plate was passed through the prepared mixed solution at a dipping rate of 200 mm / min, and the mixed solution was applied to one side of the electrode plate.
  • the electrode plate was placed in an environment of 180 ° C. for 10 minutes to dry the mixed solution, and then the masking adhesive tape was peeled off.
  • the PFA fine particles were baked by placing the electrode plate in an environment of 360 ° C. for 10 minutes. Thereby, a semiconductive layer having a film thickness of 15 ⁇ m made of PFA containing carbon was formed on an electrode plate having a thickness of 200 ⁇ m. After firing, the whole was cooled to room temperature.
  • a commercially available PTFE film (No. 900-UL manufactured by Nitto Denko Corporation) having a thickness of 25 ⁇ m is thermocompression-bonded on the surface of the laminate composed of the semiconductive layer and the electrode plate using a hot press ( The temperature was 360 ° C. and the pressure was 490 kPa), and a PTFE layer having a thickness of 25 ⁇ m was formed on the semiconductive layer.
  • the electret material was obtained using the PTFE layer as the electret layer by polarization-charging the surface of the PTFE layer by negative corona discharge at 25 ° C.
  • Example 5 After a laminated body composed of a semiconductive layer and an electrode plate was produced in the same manner as in Example 1, a commercially available PTFE film (No. 900 manufactured by Nitto Denko Corporation) having a thickness of 50 ⁇ m was formed on the surface of the laminated body on the semiconductive layer side. -UL) was hot-pressed using a hot press (temperature 360 ° C., pressure 490 kPa) to form a PTFE layer having a thickness of 50 ⁇ m on the semiconductive layer.
  • a hot press temperature 360 ° C., pressure 490 kPa
  • the electret material was obtained using the PTFE layer as the electret layer by polarization-charging the surface of the PTFE layer by negative corona discharge at 25 ° C.
  • Example 6 An electret material was obtained in the same manner as in Example 1 except that the FEP dispersion and the carbon paste were mixed so that the solid content in the carbon paste was 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solid content in the FEP dispersion. .
  • Example 7 An electret material was obtained in the same manner as in Example 1 except that the FEP dispersion and the carbon paste were mixed so that the solid content in the carbon paste was 4 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solid content in the FEP dispersion. .
  • a PTFE layer having a film thickness of 25 ⁇ m was formed on the electrode plate having a thickness of 200 ⁇ m.
  • the electret material was obtained by polarization-charging the surface of the PTFE layer by negative corona discharge at 25 ° C.
  • Comparative Example 2 A commercially available 25 ⁇ m thick PTFE film (No. 900-UL manufactured by Nitto Denko Corporation) is hot-pressed on a commercially available 200 ⁇ m thick aluminum foil (manufactured by Toyo Aluminum Co., Ltd., rough surface soft foil) using a hot press (temperature: 360 ° C., After the pressure was 490 kPa), the electret material was obtained by polarization-charging the surface of the PTFE film by negative corona discharge at 25 ° C.
  • distilled water was added to a commercially available PTFE dispersion (Fullon AD911L (solid content concentration: 60 wt%) manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) to adjust the specific gravity to 1.50.
  • the electrode plate side surface of the laminate composed of the FEP layer and the electrode plate is masked with a masking adhesive tape, and this laminate is passed through the PTFE dispersion at a dipping speed of 100 mm / min. Was applied.
  • the PTFE dispersion was dried for 10 minutes in a 180 ° C. environment, and then the masking adhesive tape was peeled off. Thereafter, the PTFE fine particles were fired by placing the laminate in an environment of 360 ° C. for 10 minutes. Thereby, a PTFE layer having a film thickness of 25 ⁇ m was formed on the FEP layer. After firing, the whole was cooled to room temperature.
  • the electret material was obtained by polarization-charging the surface of the PTFE layer by negative corona discharge at 25 ° C.
  • the surface potential residual rate of the electret layer was measured as follows for all the electret materials of Examples and Comparative Examples.
  • the surface potential of the electret layer immediately after the charging treatment was measured with a surface potential meter (MONROE ELECTRONICS Model 244).
  • the electret material was placed in an environment of 210 ° C. for 30 minutes (load test), and the surface potential of the electret material thereafter was measured in the same manner. This operation was repeated three times. Then, the ratio of the surface potential after the first to third load tests with the surface potential of the electret material immediately after the charging treatment as a reference (100%) was calculated as the surface potential remaining rate (%).
  • the surface potential residual rate is less than 30% even after the first load test. It has dropped to.
  • the surface potential remaining rate after the first load test exceeds 30% and is heated to a high temperature. It can be seen that a decrease in the surface potential of the electret layer is suppressed.
  • the electret material of Example 6 in which the surface resistance of the semiconductive layer is less than 1.0 ⁇ 10 8 ⁇ / ⁇ and the electret material of Example 7 in which the surface resistance is more than 1.0 ⁇ 10 15 ⁇ / ⁇ the first time Example in which the surface potential remaining rate falls below 40% after the load test, but the surface resistance of the semiconductive layer is in the range of 1.0 ⁇ 10 8 ⁇ / ⁇ to 1.0 ⁇ 10 15 ⁇ / ⁇
  • the surface potential remaining rate is kept extremely high even after the third load test.
  • the electret material of the present invention is suitably used for an electrostatic acoustic transducer.
  • the electrostatic acoustic transducer includes a hearing aid, an ultrasonic sensor, an acceleration sensor, and the like in addition to a microphone, an earphone, and a headphone.
  • Electrode plate 1
  • Semiconductive layer 2
  • Electret layer 4
  • Diaphragm 10
  • Electret material 20
  • ECM electrostatic acoustic transducer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)

Abstract

 熱に対する電荷保持性に優れたエレクトレット材を提供する。エレクトレット材10は、電極板1と、電極板1上に形成された半導電層2と、半導電層3上に形成されたエレクトレット層3とを備えている。半導電層2は、カーボンとフッ素樹脂を含んでいる。このエレクトレット材10によれば、高温に加熱されたときのエレクトレット層3の表面電位の低下を抑制することができる。

Description

エレクトレット材および静電型音響変換器
 本発明は、エレクトレット材およびこれを備えた静電型音響変換器に関する。
 従来から、イヤホン、ヘッドホン、マイクロホンなどの静電型音響変換器には、電極板上にエレクトレット層が形成されたエレクトレット材が用いられている。例えば、IC(Integrated Circuit)素子を内蔵するエレクトレットコンデンサマイクロホン(ECM)では、エレクトレット材が振動板の表側あるいは裏側に対向して配置される。
 このようなエレクトレット材を製造する方法としては、種々の方法が提案されている。例えば、特許文献1には、金属シートにエレクトレット層を構成し得る熱可塑性樹脂フィルムをラミネートし、このフィルムをエレクトレット化する方法が記載されている。また、特許文献2および特許文献3には、FEP(具体的にはテトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロプロピレン共重合体)微粒子を分散媒に分散させた分散液を背極板に塗布して加熱することにより薄膜を形成し、この薄膜をエレクトレット化する方法が記載されている。
日本国特開昭64-44010号公報 日本国特開平11-150795号公報 日本国特開2000-115895号公報
 ところで、静電型音響変換器は、例えば制御基板等に、フロー装置やリフロー装置を使用した半田付けによって実装されることがある。しかしながら、従来のエレクトレット材を用いた場合には、静電型音響変換器を実装する際に、エレクトレット材の保持する電荷が低下するという問題があった。これは、半田付け時にエレクトレット層が高温に加熱されることで、エレクトレット層の表面電位が低下することに起因すると考えられる。特に最近では鉛フリー半田が多用されるに伴い、半田付け時の温度がさらに高温となり、エレクトレット材の保持する電荷が極端に低下するおそれがある。
 本発明は、このような事情に鑑み、熱に対する電荷保持性に優れたエレクトレット材およびこのエレクトレット材を備えた静電型音響変換器を提供することを目的とする。
 本発明の発明者は、上記の課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、カーボンを含有するフッ素樹脂により電極板とエレクトレット層との間に半導電層を形成することで、その理由は明らかでないが、高温に加熱されたときのエレクトレット層の表面電位の低下を抑制できることを見出した。本発明は、このような観点からなされたものである。
 すなわち、本発明は、電極板と、前記電極板上に形成されたカーボンとフッ素樹脂を含む半導電層と、前記半導電層上に形成されたエレクトレット層と、を備える、エレクトレット材を提供する。
 また、本発明は、上記のエレクトレット材と、このエレクトレット材と対向する振動板と、を備える、静電型音響変換器を提供する。
 本発明によれば、熱に対する電荷保持性に優れたエレクトレット材を得ることができる。
図1は、本発明の一実施形態に係るエレクトレット材の断面図である。 図2は、図1に示すエレクトレット材を用いた静電型音響変換器の断面図である。
 以下、添付の図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明する。
 図1に、本発明の一実施形態に係るエレクトレット材10を示す。このエレクトレット材10は、電極板1と、電極板1上に形成された半導電層2と、半導電層2上に形成されたエレクトレット層3とを備えている。
 電極板1としては、ステンレス、アルミニウム、鋼、銅、チタン、およびこれらの合金などからなる金属板を用いることができる。あるいは、電極板1は、例えば基板に支持された金属箔であってもよい。すなわち、本発明の電極板とは、厚さの薄い金属製のものであればよく、その厚さは特に制限されない。ただし、エレクトレット材10の小型化の要請からは、電極板の厚さは100~300μmであることが好ましい。
 電極板1は油脂等の付着のないものが好ましい。さらに半導電層2との接着性を良くするためには、電極板表面に下地処理を行なうことが好ましい。下地処理は、特に限定されるものではないが、半導電層2の膜厚の均一性および表面の平滑性を出すために、電極板表面の面粗度を大きくすることのない処理、例えば陽極酸化、化学的処理による皮膜の形成等を施すことが好ましい。
 半導電層2は、カーボンを含有するフッ素樹脂で構成されている。半導電層2の表面抵抗は、1.0×10~1.0×1015Ω/□の範囲内にあることが好ましい。半導電層2の表面抵抗が1.0×10Ω/□未満であるまたは1.0×1015Ω/□を超えると、高温に加熱されたときのエレクトレット層3の表面電位が大きく低下するからである。より好ましい半導電層2の表面抵抗は、1.0×10~1.0×1012Ω/□の範囲内である。
 半導電層2の膜厚は、特に限定されないが、最近の静電型音響変換器(例えば、マイク)の小型化の要請から1~25μmであることが好ましく、5~15μmであることがより好ましい。
 半導電層2を構成するフッ素樹脂としては、テトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、テトラフルオロエチレン-パーフルオロアルコキシエチレン共重合体(PFA)、エチレン-テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)、およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)からなる群より選ばれる少なくとも1種を用いることができる。
 エレクトレット層3は、PTFEで構成されており、その表面には電荷が保持されている。エレクトレット層3をPTFEで構成すれば、他のフッ素樹脂を採用した場合よりも高温となったときの表面電位の低下が抑えられる。エレクトレット層3の膜厚は、10~50μmであることが好ましい。この範囲内であれば、エレクトレット材10の特性を維持しつつ、エレクトレット材10の薄型化および小型化が図れるからである。
 図1に示すようなエレクトレット材10は、静電型音響変換器に好適に用いられる。その一例として、図2に、エレクトレット材10を用いた静電型音響変換器(ECM)20を示す。図2に示すECM20は、バックエレクトレット方式のものであり、エレクトレット材10が振動板4の裏面に対向して配置されている。具体的に、ECM20は、シールドケース9内に、下から上に積層された、IC素子75が実装された回路基板7、IC素子75を覆い、エレクトレット材10を支持する背面電極基板6、スペーサ5、振動板4、および支持枠8を有している。そして、エレクトレット材10は、スペーサ5によって設けられた空間部分に、エレクトレット層3が振動板4の裏面に対向するようにして背面電極基板6に支持されている。
 次に、本発明のエレクトレット材を製造する方法の一例を説明する。この方法は、半導電層形成工程と、PTFE層形成工程と、帯電工程とを含む。
 (半導電層形成工程)
 半導電層形成工程では、まず、フッ素樹脂微粒子を分散媒に分散させた第1分散液とカーボン微粒子を溶媒に分散させた第2分散液とを混合して混合液を調製する。第1分散液と第2分散液との混合は、第1分散液中の固形分100重量部に対して第2分散液中の固形分が例えば4~10重量部となるように行い、好ましくは5~9重量部となるようにする。
 第1分散液としては、例えば市販のFEPディスパージョンやPFAディスパージョンを利用することができる。例えば、FEPディスパージョンとしてはダイキン工業社製のネオフロンND-4等が挙げられ、PFAディスパージョンとしてはダイキン工業社製のネオフロンAD-2CRE等が挙げられる。
 第2分散液としては、例えば市販のカーボンペースト(導電性カーボン水分散液)を利用することができる。例えば、ライオン社製のライオンペーストW-310Aを用いればよい。
 その後、混合液に蒸留水を加えることにより混合液の比重を例えば1.2~1.4に調整する。
 比重を調整した後は、混合液を電極板上に塗布する。電極板上への混合液の塗布は、公知の方法を使用可能である。例えば、ディスペンサーを用いて行ってもよいし、スピンコート法や印刷法によって行ってもよい。あるいは、電極板の片面をマスキングし、その電極板を混合液中に浸す(ディッピング)ことにより、電極板上へ混合液を塗布してもよい。
 混合液を電極板上に塗布した後は、混合液から分散媒を除去するために混合液を乾燥させる。乾燥は、例えば、混合液が塗布された電極板をフッ素樹脂の融点未満の温度(例えば、180℃)環境下に所定時間(例えば、10分間)おくことによって行う。
 その後、フッ素樹脂微粒子を焼成する。焼成は、例えば、乾燥した混合液(フッ素樹脂微粒子およびカーボン微粒子)を担持する電極板をフッ素樹脂の融点以上の温度(例えば、360℃)環境下に所定時間(例えば、10分間)おくことによって行う。これにより、電極板上にカーボンを含有するフッ素樹脂からなる半導電層が形成される。焼成後は、全体を常温まで冷却する。
 (PTFE層形成工程)
 PTFE層形成工程では、まず、PTFE微粒子を分散媒に分散させた第3分散液を用意し、この第3分散液の比重を蒸留水により例えば1.4~1.5に調整する。第3分散液としては、乳化重合法により作製された種々の市販品が出回っており、これらを利用することができる。例えば、ダイキン工業社製のポリフロンD-1、旭硝子社製のフルオンAD911L等を使用すればよい。
 比重を調整した後は、第3分散液を、半導電層および電極板からなる積層体の半導電層側の面、すなわち半導電層上に塗布する。半導電層上への第3分散液の塗布は、上述した混合液と同様の方法で行うことができる。
 第3分散液を半導電層上に塗布した後は、第3分散液から分散媒を除去するために第3分散液を乾燥させる。乾燥は、例えば、第3分散液が塗布された積層体をPTFEの融点未満の温度(例えば、180℃)環境下に所定時間(例えば、10分間)おくことによって行う。
 その後、PTFE微粒子を焼成する。焼成は、例えば、乾燥した第3分散液(PTFE微粒子)を担持する積層体をPTFEの融点以上の温度(例えば、360℃)環境下に所定時間(例えば、10分間)おくことによって行う。これにより、半導電層上にPTFE層が形成される。焼成後は、全体を常温まで冷却する。
 なお、半導電層上にPTFE層を形成するには、積層体の半導電層側の面に、PTFEフィルムを熱プレスを用いて熱圧着してもよい。
 (帯電工程)
 帯電工程では、PTFE層の表面に帯電処理を施して、PTFE層をエレクトレット層とする。帯電処理は、PTFE層の表面を例えばコロナ放電等により分極帯電させることによって行う。
 なお、大量生産する場合には、複数のエレクトレット材の製造を、上記のPTFE形成工程までまとめて行い、帯電工程の前に、個々の大きさに切断してもよい。また、帯電工程後には、エージング処理が行われてもよい。
 以上の工程により、熱に対する電荷保持性に優れたエレクトレット材を得ることができる。
 以下、実施例を挙げて本発明を詳細に説明するが、本発明は、これら実施例に何ら制限されるものではない。
 (実施例1)
 市販のFEPディスパージョン(ダイキン工業社製ネオフロンND-4(固形分濃度40wt%))と市販のカーボンペースト(ライオン社製ライオンペーストW-310A(固形分濃度17.5wt%))とを、FEPディスパージョン中の固形分100重量部に対しカーボンペースト中の固形分が8重量部となるように混合した後に攪拌して、混合液を調製した。ついで、混合液の比重を蒸留水により1.30に調整した。
 電極板として市販の厚さ200μmアルミニウム箔(東洋アルミニウム社製、粗面軟質箔)を用い、この電極板の片面をマスキング粘着テープでマスキングした。この電極板を上記調製した混合液中にディッピング速度200mm/分で通過させ、電極板の片面に混合液を塗布した。ついで、電極板を180℃の環境下に10分間おいて混合液を乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、電極板を360℃の環境下に10分間おいてFEP微粒子を焼成した。これにより、厚さ200μmの電極板上に、カーボンを含有するFEPからなる膜厚15μmの半導電層を形成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。
 次に、市販のPTFEディスパージョン(旭硝子社製フルオンAD911L(固形分濃度60wt%))に蒸留水を加えて比重を1.50に調整した。ついで、半導電層および電極板からなる積層体の電極板側の面をマスキング粘着テープでマスキングし、この積層体をPTFEディスパージョン中にディッピング速度100mm/分で通過させ、半導電層上にPTFEディスパージョンを塗布した。ついで、積層体を180℃の環境下に10分間おいてPTFEディスパージョンを乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、積層体を360℃の環境下に10分間おいてPTFE微粒子を焼成した。これにより、半導電層上に膜厚25μmのPTFE層を形成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。
 最後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFE層の表面を分極帯電させることによりPTFE層をエレクトレット層として、エレクトレット材を得た。
 (実施例2)
 半導電層上に塗布するPTFEディスパージョンの比重を1.40に調整し、厚さ15μmのPTFE層を形成した以外は実施例1と同様にしてエレクトレット材を得た。
 (実施例3)
 FEPディスパージョン中の固形分100重量部に対しカーボンペースト中の固形分が6重量部となるようにFEPディスパージョンとカーボンペーストとを混合した以外は実施例1と同様にしてエレクトレット材を得た。
 (実施例4)
 市販のPFAディスパージョン(ダイキン工業社製ネオフロンAD-2CRE(固形分濃度40wt%))と市販のカーボンペースト(ライオン社製ライオンペーストW-310A(固形分濃度17.5wt%))とを、PFAディスパージョン中の固形分100重量部に対しカーボンペースト中の固形分が8重量部となるように混合した後に攪拌して、混合液を調製した。ついで、混合液の比重を蒸留水により1.30に調整した。
 電極板として市販の厚さ200μmアルミニウム箔(東洋アルミニウム社製、粗面軟質箔)を用い、この電極板の片面をマスキング粘着テープでマスキングした。この電極板を調製した混合液中にディッピング速度200mm/分で通過させ、電極板の片面に混合液を塗布した。ついで、電極板を180℃の環境下に10分間おいて混合液を乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、電極板を360℃の環境下に10分間おいてPFA微粒子を焼成した。これにより、厚さ200μmの電極板上に、カーボンを含有するPFAからなる膜厚15μmの半導電層を形成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。
 次に、半導電層および電極板からなる積層体の半導電層側の面に、市販の厚さ25μmのPTFEフィルム(日東電工社製No.900-UL)を熱プレスを用いて熱圧着(温度360℃、圧力490kPa)し、半導電層上に膜厚25μmのPTFE層を形成した。
 最後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFE層の表面を分極帯電させることによりPTFE層をエレクトレット層として、エレクトレット材を得た。
 (実施例5)
 実施例1と同様にして半導電層および電極板からなる積層体を作製した後、この積層体の半導電層側の面に、市販の厚さ50μmのPTFEフィルム(日東電工社製No.900-UL)を熱プレスを用いて熱圧着(温度360℃、圧力490kPa)し、半導電層上に膜厚50μmのPTFE層を形成した。
 最後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFE層の表面を分極帯電させることによりPTFE層をエレクトレット層として、エレクトレット材を得た。
 (実施例6)
 FEPディスパージョン中の固形分100重量部に対しカーボンペースト中の固形分が10重量部となるようにFEPディスパージョンとカーボンペーストとを混合した以外は実施例1と同様にしてエレクトレット材を得た。
 (実施例7)
 FEPディスパージョン中の固形分100重量部に対しカーボンペースト中の固形分が4重量部となるようにFEPディスパージョンとカーボンペーストとを混合した以外は実施例1と同様にしてエレクトレット材を得た。
 (比較例1)
 市販のPTFEディスパージョン(旭硝子社製フルオンAD911L(固形分濃度60wt%))に蒸留水を加えて比重を1.50に調整した。電極板として市販の厚さ200μmアルミニウム箔(東洋アルミニウム社製、粗面軟質箔)を用い、この電極板の片面をマスキング粘着テープでマスキングした。この電極板をPTFEディスパージョン中にディッピング速度100mm/分で通過させ、電極板の片面にPTFEディスパージョンを塗布した。ついで、電極板を180℃の環境下に10分間おいてPTFEディスパージョンを乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、電極板を360℃の環境下に10分間おいてPTFE微粒子を焼成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。これにより、厚さ200μmの電極板上に膜厚25μmのPTFE層を形成した。
 最後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFE層の表面を分極帯電させることにより、エレクトレット材を得た。
 (比較例2)
 市販の厚さ200μmアルミニウム箔(東洋アルミニウム社製、粗面軟質箔)に、市販の厚さ25μmPTFEフィルム(日東電工社製No.900-UL)を熱プレスを用いて熱圧着(温度360℃、圧力490kPa)した後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFEフィルムの表面を分極帯電させることにより、エレクトレット材を得た。
 (比較例3)
 市販のFEPディスパージョン(ダイキン工業社製ネオフロンND-4(固形分濃度40wt%))に蒸留水を加えて比重を1.30に調整した。電極板として市販の厚さ200μmアルミニウム箔(東洋アルミニウム社製、粗面軟質箔)を用い、この電極板の片面をマスキング粘着テープでマスキングした。この電極板をFEPディスパージョン中にディッピング速度200mm/分で通過させ、電極板の片面にFEPディスパージョンを塗布した。ついで、電極板を180℃の環境下に10分間おいてFEPディスパージョンを乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、電極板を360℃の環境下に10分間おいてFEP微粒子を焼成した。これにより、厚さ200μmの電極板上に膜厚15μmのFEP層を形成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。
 次に、市販のPTFEディスパージョン(旭硝子社製フルオンAD911L(固形分濃度60wt%))に蒸留水を加えて比重を1.50に調整した。ついで、FEP層および電極板からなる積層体の電極板側の面をマスキング粘着テープでマスキングし、この積層体をPTFEディスパージョン中にディッピング速度100mm/分で通過させ、FEP層上にPTFEディスパージョンを塗布した。ついで、積層体を180℃の環境下に10分間おいてPTFEディスパージョンを乾燥させた後、マスキング粘着テープを剥がした。その後、積層体を360℃の環境下に10分間おいてPTFE微粒子を焼成した。これにより、FEP層上に膜厚25μmのPTFE層を形成した。焼成後は、全体を常温まで冷却した。
 最後に、25℃でマイナスのコロナ放電によりPTFE層の表面を分極帯電させることにより、エレクトレット材を得た。
 (試験)
 実施例1~7のエレクトレット材を製造する途中で、半導電層を形成した後に、半導電層の表面抵抗を、三菱化学社製ハイレスタ(MCP-HT450型)を用いて測定した。
 さらに、実施例および比較例の全てのエレクトレット材について、エレクトレット層の表面電位残存率を次のようにして測定した。
 まず、帯電処理直後のエレクトレット層の表面電位を表面電位計(MONROE ELECTRONICS社製Model244)で測定した。ついで、エレクトレット材を210℃の環境下に30分間おき(負荷試験)、その後のエレクトレット材の表面電位を同様にして測定した。この操作を3回繰り返した。そして、帯電処理直後のエレクトレット材の表面電位を基準(100%)としたときの1~3回目の負荷試験後の表面電位の割合を表面電位残存率(%)として算出した。
 上記の試験の結果を表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1からも明らかなように、エレクトレット層と電極板との間に半導電層を有しない比較例1~3のエレクトレット材では、1回目の負荷試験後でも表面電位残存率が30%を下回るまで低下している。これに対し、エレクトレット層と電極板との間に半導電層を有する実施例1~7のエレクトレット材では、1回目の負荷試験後の表面電位残存率が30%を超えており、高温に加熱されたときのエレクトレット層の表面電位の低下が抑制されていることがわかる。
 なお、半導電層の表面抵抗が1.0×10Ω/□を下回る実施例6のエレクトレット材、および1.0×1015Ω/□を上回る実施例7のエレクトレット材では、1回目の負荷試験後で表面電位残存率が40%を下回ってしまうが、半導電層の表面抵抗が1.0×10Ω/□~1.0×1015Ω/□の範囲内である実施例1~5のエレクトレット材では、3回目の負荷試験後でも表面電位残存率が極めて高く保たれている。
 本出願は、2009年4月27日出願の日本特許出願(特願2009-107762)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
 本発明のエレクトレット材は、静電型音響変換器に好適に用いられる。なお、静電型音響変換器には、マイクロホン、イヤホン、ヘッドホンの他にも、補聴器、超音波センサ、加速度センサなどが含まれる。
 1  電極板
 2  半導電層
 3  エレクトレット層
 4  振動板
 10 エレクトレット材
 20 ECM(静電型音響変換器)

Claims (7)

  1.  電極板と、
     前記電極板上に形成された、カーボンとフッ素樹脂を含む半導電層と、
     前記半導電層上に形成されたエレクトレット層と、
    を備える、エレクトレット材。
  2.  前記半導電層の表面抵抗が1.0×10~1.0×1015Ω/□の範囲内である、請求項1に記載のエレクトレット材。
  3.  前記半導電層の膜厚は1~25μmである、請求項1または2に記載のエレクトレット材。
  4.  前記フッ素樹脂は、テトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロプロピレン共重合体、テトラフルオロエチレン-パーフルオロアルコキシエチレン共重合体、エチレン-テトラフルオロエチレン共重合体、およびポリテトラフルオロエチレンからなる群より選ばれる少なくとも1種である、請求項1~3のいずれか一項に記載のエレクトレット材。
  5.  前記エレクトレット層は、ポリテトラフルオロエチレンで構成されている、請求項1~4のいずれか一項に記載のエレクトレット材。
  6.  前記エレクトレット層の膜厚は10~50μmである、請求項1~5のいずれか一項に記載のエレクトレット材。
  7.  請求項1~6のいずれか一項に記載のエレクトレット材と、このエレクトレット材と対向する振動板と、を備える、静電型音響変換器。
PCT/JP2010/057394 2009-04-27 2010-04-26 エレクトレット材および静電型音響変換器 WO2010126012A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/131,970 US8971553B2 (en) 2009-04-27 2010-04-26 Electret material and electrostatic-type acoustic transducer
CN2010800034262A CN102227789A (zh) 2009-04-27 2010-04-26 驻极体材料和静电型声音变换器
KR1020117012472A KR101596536B1 (ko) 2009-04-27 2010-04-26 일렉트릿재 및 정전형 음향 변환기
EP10769710.4A EP2426683A4 (en) 2009-04-27 2010-04-26 ELECTRET MATERIAL AND ACOUSTIC TRANSDUCER OF ELECTROSTATIC TYPE

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009107762 2009-04-27
JP2009-107762 2009-04-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2010126012A1 true WO2010126012A1 (ja) 2010-11-04

Family

ID=43032157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2010/057394 WO2010126012A1 (ja) 2009-04-27 2010-04-26 エレクトレット材および静電型音響変換器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8971553B2 (ja)
EP (1) EP2426683A4 (ja)
JP (1) JP5705454B2 (ja)
KR (1) KR101596536B1 (ja)
CN (2) CN103474241A (ja)
WO (1) WO2010126012A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8304274B2 (en) * 2009-02-13 2012-11-06 Texas Instruments Incorporated Micro-electro-mechanical system having movable element integrated into substrate-based package
JP2013042484A (ja) * 2011-07-15 2013-02-28 Mitsubishi Plastics Inc 耐熱エレクトレット材及びコンデンサー型マイクロホン
KR101291745B1 (ko) * 2012-05-11 2013-07-31 포항공과대학교 산학협력단 전계 효과 트랜지스터형 센서
DE102014208645A1 (de) * 2014-05-08 2015-11-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines mehrschichtigen Elektret-Bauteils
WO2016144039A1 (en) 2015-03-06 2016-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit element package, manufacturing method thereof, and manufacturing apparatus thereof
US10477737B2 (en) 2016-05-04 2019-11-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Manufacturing method of a hollow shielding structure for circuit elements
US10477687B2 (en) 2016-08-04 2019-11-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Manufacturing method for EMI shielding structure
KR102551657B1 (ko) * 2016-12-12 2023-07-06 삼성전자주식회사 전자파 차폐구조 및 그 제조방법
US10594020B2 (en) 2017-07-19 2020-03-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic device having antenna element and method for manufacturing the same
CN107478320B (zh) * 2017-08-23 2019-11-05 京东方科技集团股份有限公司 晶体管声传感元件及其制备方法、声传感器和便携设备
KR102373931B1 (ko) 2017-09-08 2022-03-14 삼성전자주식회사 전자파 차폐구조
RU181900U1 (ru) * 2018-04-16 2018-07-26 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный технический университет" (ВолгГТУ) Устройство для изготовления электретов
JP2023545712A (ja) * 2020-10-09 2023-10-31 ザ ジョンズ ホプキンス ユニバーシティ インピーダンス整合音響トランスデューサ
CN115589761B (zh) * 2022-12-12 2023-03-10 杭州兆华电子股份有限公司 一种多孔压电驻极体的制备方法
CN115602451B (zh) * 2022-12-16 2023-03-21 杭州兆华电子股份有限公司 一种多孔复合驻极体制备方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05142961A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd 弾性ローラ
JPH11150795A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Hosiden Corp 薄膜エレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法
JPH11219851A (ja) * 1998-01-29 1999-08-10 Matsushita Electric Works Ltd エレクトレット素子
JP2009088100A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Yoshida Skt:Kk エレクトレット用材料及びこれを用いたエレクトレット部品

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT282017B (de) * 1965-10-23 1970-06-10 Philip Morris Inc Dielektrischer Körper
JPS4861126A (ja) * 1971-12-02 1973-08-27
US4163742A (en) 1978-02-09 1979-08-07 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process and product prepared from tetrafluoroethylene resin and graphite fibers
JPH0748451B2 (ja) 1987-08-12 1995-05-24 住友化学工業株式会社 エレクトレット用積層板の製造方法
US4902444A (en) 1988-03-18 1990-02-20 E. I. Dupont De Nemours And Company Conductive fluoropolymers
DE3887435T2 (de) 1987-10-16 1994-06-30 Du Pont Leitfähige Fluorpolymere.
JPH11219852A (ja) * 1998-01-30 1999-08-10 Matsushita Electric Works Ltd エレクトレット素子
JP3387012B2 (ja) 1998-03-23 2003-03-17 ホシデン株式会社 エレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法
WO2000029210A1 (fr) 1998-11-18 2000-05-25 Daikin Industries, Ltd. Structure polymere contenant du fluor a adhesivite haute temperature, et materiau de glissement utilisant ladite structure
KR100408815B1 (ko) * 2001-12-13 2003-12-06 주식회사 비에스이 초고전하보존 특성을 갖는 다층 일렉트릿 및 그 제조방법
JP2003192914A (ja) 2001-12-28 2003-07-09 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 導電性に優れた熱可塑性樹脂成形体
JP2004128361A (ja) * 2002-10-04 2004-04-22 Daikin Ind Ltd 帯電性部材、帯電性部材製造方法及びエレクトレットマイクロホン・アセンブリーの製造方法
JP2005262497A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Nippon Valqua Ind Ltd エレクトレット固定電極用積層板
JP4627676B2 (ja) * 2005-03-31 2011-02-09 シチズン電子株式会社 耐熱性帯電樹脂体を用いたエレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法。
EP2266795B1 (en) * 2008-04-17 2015-07-01 Asahi Glass Company, Limited Electret and electrostatic induction conversion device
JP2009267649A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Nitto Denko Corp 静電型音響変換器用耐熱性エレクトレット材の製造方法
CN102318021B (zh) * 2009-02-20 2013-09-25 旭硝子株式会社 驻极体的制造方法及静电感应型转换元件

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05142961A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd 弾性ローラ
JPH11150795A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Hosiden Corp 薄膜エレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法
JPH11219851A (ja) * 1998-01-29 1999-08-10 Matsushita Electric Works Ltd エレクトレット素子
JP2009088100A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Yoshida Skt:Kk エレクトレット用材料及びこれを用いたエレクトレット部品

Also Published As

Publication number Publication date
KR101596536B1 (ko) 2016-02-22
EP2426683A1 (en) 2012-03-07
US8971553B2 (en) 2015-03-03
JP2010279024A (ja) 2010-12-09
CN102227789A (zh) 2011-10-26
JP5705454B2 (ja) 2015-04-22
CN103474241A (zh) 2013-12-25
US20110249834A1 (en) 2011-10-13
KR20120011837A (ko) 2012-02-08
EP2426683A4 (en) 2015-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2010126012A1 (ja) エレクトレット材および静電型音響変換器
US8600083B2 (en) Electrostatic speaker and manufacturing method thereof and conductive backplate of the speaker
US7698793B2 (en) Electret condenser microphone and method of producing the same
JP5700949B2 (ja) エレクトレット材の製造方法
JP3621700B1 (ja) 耐熱性エレクトレット用材料、それを用いた耐熱性エレクトレットおよびその製造方法、並びに静電型音響センサー
US20220116714A1 (en) Polymer-based piezoelectric composite material and piezoelectric film
JP2009267649A (ja) 静電型音響変換器用耐熱性エレクトレット材の製造方法
EP1648194A1 (en) Material for heat-resistant electret and heat-resistant electret
JP2005191467A (ja) エレクトレット固定電極用積層板の製造方法
CN101668240B (zh) 扬声器单体的电极连接结构
JP2010258562A (ja) エレクトレット材およびその製造方法ならびに静電型音響変換器
WO2017030045A1 (ja) 電気音響変換フィルム、電気音響変換フィルムの製造方法および電気音響変換器
JP3644952B1 (ja) 耐熱性エレクトレットおよびその製造方法、並びに静電型音響センサー
JP2005262497A (ja) エレクトレット固定電極用積層板
JP2006142611A (ja) 加熱圧着用複合シート及びその製造方法
WO2013011949A1 (ja) 耐熱エレクトレット材及びコンデンサー型マイクロホン
JP2002125297A (ja) エレクトレット用積層板
WO2004006622A1 (ja) 耐熱性エレクトレット材料の製法と、該材料による静電型音響センサー

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201080003426.2

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 10769710

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20117012472

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13131970

Country of ref document: US

Ref document number: 2010769710

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE