JP4627676B2 - 耐熱性帯電樹脂体を用いたエレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法。 - Google Patents

耐熱性帯電樹脂体を用いたエレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法。 Download PDF

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Description

本発明は耐熱性帯電樹脂体を用いた民生用マイクとして、携帯電話、ビデオカメラ、デジタルカメラ、PC等に広く用いられるエレクトレットコンデンサマイクロホン及びその製造方法に関する。
従来より帯電樹脂体を利用した電気製品としては例えばエレクトレットコンデンサマイクロホンが知られている。
従来のエレクトレットコンデンサマイクロホン(以下ECMと略記する)は、例えば特開2002−345087号公報に開示されている如く、帯電樹脂体であるエレクトレット層の形成には金属製の背極基板上に樹脂層を形成し、この樹脂層に帯電処理を行なうことによりエレクトレット層を形成する方式(図3参照)や、樹脂製またはセラミック製の背極基板上に背極電極を膜形成し(図8参照)、この背極電極上に前記エレクトレット層を形成する方式が行われている。そして、前記背極基板を振動膜ユニット、スペーサ、外部接続電極を有する回路基板等と積層して一体化することによりECMを完成させている。
そして、上記構成を有するECMは、前記民生用機器等に実装される場合、他の電気エレメントが実装されている回路基板に半田付け等の手段によって組みつけられる事になるが、従来のECMはエレクトレット層を構成する帯電樹脂体の耐熱性が良くないため、リフロー装置による実装が出来ないという欠点がある。
すなわち、市場ニーズとしては実装コストの面からリフロー装置による半田実装が求められているが、このリフロー装置による半田実装は150℃〜200℃程度のプリヒートを90秒〜120秒行い、その後230℃〜260℃の高温で10秒間程度リフローされるため、この高温条件によって前記ECMのエレクトレット層に着電されている電荷が減衰することで、マイクロホンとしての性能が維持できなくなるという問題がある。
上記帯電樹脂体の欠点である耐熱性の問題を解決する方式として従来よりいくつかの提案が成されている。例えば特表2001−518246号公報に開示されているECMは着電手段として耐熱性に問題のある有機質の帯電樹脂体に代えて無機質のシリコンを用いた半導体マイクロホンを構成している。しかしこの半導体マイクロホンは耐熱性の問題が無くリフロー装置による実装を可能としているが、反面コストアップになるという問題がある。
また、特開2000−32596号公報には従来の有機質の帯電樹脂体を改良して、リフロー装置による半田実装を可能としたECMが開示されている。すなわち特開2000−32596号公報には、エレクトレット層を構成するための樹脂体を金属板に融着した背極基板を、着電前に約200℃で1〜6時間程度の高温アニールを施し、その後着電して耐熱性の高いECMを構成するものである。
また、ECMとは直接関係はないが、ポリテトラフルオロエチレン(以下PTFEと略記する)、フッ化エチレンプロピレン共重合体(以下FEPと略記する)、テトラフルオロエチレンパーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体(以下PFAと略記する)等のフッ素を含有する樹脂体に、ある温度条件下で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射して架橋させることにより、放射線環境下での耐熱性と機械特性を向上させた改質フッ素樹脂が開示されている。
すなわち、特許第3317452号公報にはPTFE等のフッ素を含有する樹脂体をその結晶融点以上の温度で、かつ酸素不存在下において所定量の電離性放射線を照射して架橋させた改質フッ素樹脂が開示されており、さらに特開平11−49867号公報にはFEPに結晶融点付近の温度で、かつ酸素不存在下において所定量の電離性放射線を照射して架橋させた改質フッ素樹脂が開示されている。
上記改質フッ素樹脂の技術は、耐熱性と耐薬品に優れた特性を有し、産業用や民生用として広く利用されているフッ素樹脂が、その欠点としては放射線に対する崩壊型分子構造を有するため、原子力施設等の放射線環境下での使用ができないことを改善するために行われたものであり、電離性放射線の照射条件を適正化して架橋を行わせる事によって放射線環境下での耐熱性や機械特性を飛躍的に向上させたものである。
特開2002−345087号公報 特表2001−518246号公報 特開2000−32596号公報 特許第3317452号公報 特開平11−49867号公報
前記エレクトレット層として帯電樹脂体を用いて、市場ニーズであるリフロー実装が可能なECM等の開発を目的として前記背景技術を検討した結果、前記特開2000−32596号公報に開示されている技術は基本的に樹脂に対するアニーリング技術であるため、高温下に長時間放置する必要があり、製造時間が長くなる欠点に加えて、時間管理や温度管理の変化にともなう製品の安定性にも問題がある。
そこで、本出願人は特許第3317452号公報や特開平11−49867号公報に開示された電離性放射線を照射して架橋させた改質フッ素樹脂に着目した。
すなわち、架橋させた改質フッ素樹脂が放射線環境下等の悪い環境でも高い耐熱特性を示すということは、前記改質フッ素樹脂を帯電させた帯電樹脂体をエレクトレット層として用いることにより、リフロー条件下での電荷減衰の防止に効果があるものと想定した。
本発明の目的は、上記電離性放射線の照射技術を応用して、従来困難とされていたリフロー実装の高温に対応可能な耐熱性帯電樹脂体の製造方法と、その耐熱性帯電樹脂体を用いたECMを提供する事である。
半導体等の電気エレメント、背極電極、エレクトレット層、スペーサ、振動膜を有するエレクトレットコンデンサマイクロホンにおいて、前記エレクトレット層がフッ素を含有する樹脂体に、結晶融点以上の温度で酸素不存在下において電離性放射線を照射することによって架橋した改質フッ素樹脂に着電処理を行なった耐熱性帯電樹脂体であるエレクトレットコンデンサマイクロホン。
前記フッ素を含有する樹脂体がPTFE、FEP、PFAのいずれか1つであるエレクトレットコンデンサマイクロホン。
半導体等の電気エレメント、背極電極、エレクトレット層、スペーサ、振動膜を有するエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法において、前記背極電極上にフッ素を含有する樹脂体の樹脂層を形成する工程と、前記背極電極上の樹脂層に該樹脂層の結晶融点以上の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂層を形成する工程と、前記改質フッ素樹脂層に着電してエレクトレット層を形成する工程とを有することを特徴とするエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
半導体等の電気エレメントを実装した多数の電気回路基板が縦横に並んで一体化している形状の集合電気回路基板を作成する工程と、前記背極電極を有する多数の背極基板が縦横に並んで一体化している形状の集合背極基板を作成する工程と、前記集合背極基板の各背極電極上にフッ素を含有する樹脂体の樹脂層を形成する工程と、前記集合背極基板の各背極電極上に形成された樹脂層に、該樹脂層の結晶融点以上の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂層を形成する工程と、前記改質フッ素樹脂層に着電してエレクトレット層を形成する工程と、多数のスペーサが縦横に並んで一体化している形状の集合スペーサを作成する工程と、多数の振動膜支持枠が縦横に並んで一体化している形状で、片面に振動膜素材を張った集合振動膜ユニットを作成する工程と、それぞれ製作したこれら各集合体を接合して積層集合体とし、該積層集合体を切断することにより、分割された各小片がエレクトレットコンデンサマイクロホンとなるエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
半導体等の電気エレメントを実装した多数の電気回路基板が縦横に並んで一体化している形状の集合電気回路基板を作成する工程と、前記背極電極を有する多数の背極基板が縦横に並んで一体化している形状の集合背極基板を作成する工程と、フッ素を含有する樹脂体の樹脂シートを、該樹脂シートの結晶融点以上の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂シートを形成する工程と、前記改質フッ素樹脂シートを型抜きしてエレクトレット層を形成する工程と、前記エレクトレット層を前記集合背極基板の各背極電極上に積層一体化する工程と、前記改質フッ素樹脂よりなるエレクトレット層に着電処理を行なう工程と、多数のスペーサが縦横に並んで一体化している形状の集合スペーサを作成する工程と、多数の振動膜支持枠が縦横に並んで一体化している形状で、片面に振動膜素材を張った集合振動膜ユニットを作成する工程と、それぞれ製作したこれら各集合体を接合して積層集合体とし、該積層集合体を切断することにより、分割された各小片がエレクトレットコンデンサマイクロホンとなるエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
前記フッ素を含有する樹脂体がPTFE、FEP、PFAのいずれか1つであるエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
前記改質フッ素樹脂の処理条件が温度280℃〜330℃、酸素濃度100ppm以下において10kGy〜100kGyの電離性放射線を照射するエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
すなわち本発明によれば、高温処理に耐える耐熱性帯電樹脂体を提供できるため、例えば有機質のエレクトレット材を用いて市場ニーズであるリフロー実装が可能なECMを実現することが出来る。また従来の製造工程に電離性放射線照射工程を追加するだけでよいため、従来の製造工程を殆んど変更することなく生産性に優れた製造が可能となる効果を有する。
以下、図面に基づいて本発明の実施形態を説明する。図1は本発明の第1の実施の形態である耐熱性帯電樹脂体の製造方法を示す工程図である。図1において工程J1はフッ素含有樹脂体の製造工程であり、樹脂体材料としてはPTFE、FEP、PFA、またその形状としてはシート状や繊維を不織布に編んだもの、さらに金属や樹脂等の基板上に前記シート状の樹脂体を被着して後述する背極基板を作成する。
工程J2は改質フッ素樹脂の製造工程であり、前記工程J1のフッ素含有樹脂体に電離性放射線照射処理(以後EB照射処理と略記)を行なうことによって架橋した改質フッ素樹脂に変化させるものであるが、本実施の形態において後述するごとく良好な結果が得られた処理条件を示す。
さらに工程J3は耐熱性帯電樹脂体の製造工程であり、前記工程J2の改質フッ素樹脂に着電処理を行なって耐熱性帯電樹脂体が完成する。
次に本発明の第2の実施形態として、前記耐熱性帯電樹脂体を使用する主たる製品であるECMについて記載する。図2は本発明の耐熱性帯電樹脂体をエレクトレット層とするECMの断面図、図3は図2に示すECMを構成する各エレメントの分解斜視図である。
図3において2は回路基板であり、該回路基板2は絶縁基板2aにより構成され、接続や出力のための電極2bが膜形成されるとともに電子部品である集積回路11が実装されている。3は背極基板であり、該背極基板3は絶縁基板3aの上面側に電極膜による背極電極4が形成され、該背極電極4の上面にエレクトレット層5が膜形成されるとともに前記絶縁基板3aを貫通する貫通孔15が設けられている。6はスペーサであり開孔6aを有する。7は振動膜ユニットであり、該振動膜ユニット7は絶縁基板よりなる振動膜支持枠8の下面側に膜形成された振動膜取り付け電極9に導電性の振動膜10が固着されることにより一体化されている。
前記背極基板3は前記絶縁基板3aの上面側に背極電極4を形成し、その背極電極4の上面にフッ素を含有する樹脂体であるFEPの12.5μmもしくは25μm厚さのシート材を150℃前後の温度で熱圧着して膜形成し、この状態で電離性放射線照射装置内に投入する。
前記電離性放射線照射装置内において、前記背極基板3には前記FEPの結晶融点以上の温度である300℃前後の雰囲気で、かつ酸素濃度100ppm以下の酸素不存在下において、100keV〜600keVの電子線強度で10kGy〜100kGy程度の放射線量で電離性放射線を照射することによって前記FEPを架橋した改質フッ素樹脂に変化させる。
さらに、前記背極基板3を着電装置に投入することにより、改質フッ素樹脂に着電処理を行って耐熱性帯電樹脂体を完成させる。この耐熱性帯電樹脂体がエレクトレット層5となって耐熱性に優れた背極基板3を完成させる。
上記各エレメントは図2に示す如く、前記回路基板2、背極基板3、スペーサ6、振動膜ユニット7を、各々接着材を介して積層することにより、ECM1が完成する。
そして、この完成されたECM1は携帯電話等の装置に実装されることになるが、前記装置内のマザーボードに形成された配線電極に対して、前記ECM1の出力電極2bを半田接続する場合、リフロー装置による150℃〜200℃程度のプリヒートを90秒〜120秒行い、その後10秒間程度の230℃以上の高温処理を行っても、後述する如く前記耐熱性帯電樹脂体であるエレクトレット層5の着電状態の劣化が小さく問題とはならない。
上記構成を有するECM1の動作は、表面に導電膜を有する振動膜10と、表面にエレクトレット層5が形成された背極電極4とがスペーサ6を挟んでコンデンサを形成する。そして空気の振動により前記振動膜10が変位すると、前記コンデンサがこの変位を電気信号に変換し、この電気信号が振動膜取り付け電極9から各接続電極(図示は省略)を介して回路基板2に導かれ、集積回路11で処理された後に回路基板2の裏面に設けられた出力電極2bより出力される。そして前記貫通孔15の存在によって振動膜10の動作がスムーズになり、音響特性が確保される。
次に、本発明の第3の実施の形態として、図4〜図6により前記ECM1の最も生産性の良い、集合体方式の製造方法を説明する。
図4(A)〜(D)は製造工程で用いる各集合部品の斜視図である。図(A)の集合振動膜ユニット7Lは、図3の振動膜ユニット7に相当する領域を格子状に多数含む大型の集合体で、下面に振動膜10を接合してある。同様に図(B)の集合スペーサ6Lは、図3のスペーサ6の領域を格子状に多数含む集合体である。
図(C)の集合背極基板3Lは、図3の背極基板3の領域を格子状に多数含む大型の基板であり、多数の背極電極4とエレクトレット層5を配置してある。図(D)の集合回路基板2Lは、図3の回路基板2の領域を格子状に多数含む大型の基板で、集積回路11を多数搭載したものである。なお、図4は概略図であるから描いてないが、各部品の集合体には電極パターンや、部品間の導通のためのスルーホールや放音用の貫通孔等が設けてある。
ECMの製造に当たっては、このような部品の集合体、すなわち集合回路基板2L、集合背極基板3L、集合スペーサ6Lそして集合振動膜ユニット7Lをそれぞれ製作して準備する。そしてこれらを図4の順序に重ねて接合する。接合は各集合体の表面に接着剤を塗布して行ってもよいし、あるいは接着剤をシート状にしたものを層間に配置して重ね、加熱して接合することもできる。接着剤シートは図示を省くが、図4(B)の集合スペーサ6Lに似た形状のものを用いればよい。
前記の工程によって、図5に示すように各集合体を積層したものである集合ECM1Lが得られ、これは多数のECM1が縦横につながって一体化しているものである。この集合ECM1Lを粘着シートに貼って、各ECM領域間の境界線に沿ってカッターでダイシングすれば、分割された各片がそれぞれ図6に示すECM1として完成する。
図4、図5は説明のための模式図であるから、部品の素材である各集合体上には3行4列の12個の製品領域しか描いてないが、実際には1枚の集合体に数百個の製品領域を配置して量産することができる。
次に図8により本発明におけるECM1の、集合体方式の製造方法の工程を説明する。
図8において工程E1は集合振動膜ユニット7Lの製造工程であり、絶縁材料の集合振動膜支持枠に導電性の振動膜を接着して一体化する。工程E2は集合スペーサ6Lの製造工程であり、スペーサ素材に複数の開孔を形成する。
工程E3は集合背極基板3Lの製造工程であり、集合絶縁基板に複数の背極電極と前記シート材のFEPより成るエレクトレット層を積層して集合背極基板3Lを形成する。この集合背極基板3Lを電離性放射線照射装置内において、前記エレクトレット層を構成するFEPの結晶融点以上の温度である300℃の雰囲気で、かつ酸素濃度100ppm以下の酸素不存在下において、10kGy〜100kGy程度の電離性放射線を照射するEB照射処理を行なうことによって前記エレクトレット層を架橋した改質フッ素樹脂に変化させる。
さらに、このEB照射処理を行なった集合背極基板3Lを着電装置に投入することにより、EB照射処理によって改質フッ素樹脂に変化したエレクトレット層に着電を施して耐熱性の集合背極基板3Lを完成させる。
工程E4は集合回路基板2Lの製造工程であり、配線や接続電極等を有する集合配線基板に集積回路等の電気エレメントを実装して前記集合回路基板2Lを構成する。工程5は集合ECM製造工程であり、前記工程E1〜E4で製造された各集合エレメントを積層し、接着剤により接合一体化して図5に示す集合ECM1Lを構成する。工程6は完成ECM製造工程であり、工程5で製造された集合ECM1Lを切断・分離して図6に示すECM1を完成させる。
次に前記背極基板3及び集合背極基板3Lに形成されたFEPに対するEB照射処理の条件と、その効果について説明する。表1は本発明に用いるエレクトレット材であるFEPにEB処理条件を異ならせて作成したサンプルを、実装時に行なわれるリフロー温度を考慮した耐熱試験を行った結果である。
表1のEB処理条件に示す如く、温度を260℃,280℃,300℃の3温度とし、各温度に対してEB照射の線量を10kGy、50kGy、100kGyの3レベルで照射し、資料記号に示すA1〜C3の9種類のサンプルを作成した。尚前記の温度条件は300℃以上の高温にするとFEPが軟化して変形が大きくなり、製造上の不都合が生ずるので300℃迄とした。また資料番号Dは比較のために示した未処理の現状品である。
表1に示す電荷残存率(%)は、前記各サンプルを200℃のホットプレートに乗せ、経過時間毎に表面電位を測定し、その電位の減少値から電荷残存率を算出したものであり、この電荷残存率によってEB照射の効果を判定したものである。尚経過時間としてはリフロー時に高温にさらされる2〜3分を顧慮して、1〜5分までは1分間隔とし、さらに厳しい条件として10分経過時の電荷残存率を測定した。
Figure 0004627676
図7はFEPの耐熱特性を示す特性図であり、表1の結果を示すものである。 図7に示す如く資料記号Dに示す未処理現状品の電荷残存率が1分後に4分の1、2分後に10分の1、3分後に零になるのに対し、EB処理を行なった資料記号A,B,Cは何れも10分経過後でも電荷残存率を有しており、EB処理による電荷残存効果は明らかである。
さらに、EB処理条件毎の効果を比較してみると、温度条件に付いては資料記号Cの300℃が1番良く、資料記号Bの280℃が2番目で、資料記号Aの260℃が3番目であることがわかる。さらにEB照射の線量条件としては、資料記号Bは少し異なる結果となっているが、資料記号A,Cについては10kGyが1番良く、50kGyが2番目ではあるがかなり良く、100kGyは3番目でやや劣っていることがわかる。
上記各サンプルの中からリフロー温度を考慮した判定を行なうと、リフロー時に高温にさらされる2〜3分を経過した条件下で電荷残存率が80%以上であるサンプルは資料記号C1,C2であり、それに準ずるのが資料記号C3,B3であるが、資料記号B3が傾向的に若干異常値であることを考慮すると、EB処理条件としては、温度条件は300℃、EB照射の線量条件は10kGy〜50kGyが特に適していることがわかる。ただし、ECMに期待される性能やエレクトレット層の変形許容度を考慮すると前記エレクトレット層に対する電離性放射線の照射を、温度280℃〜330℃で、照射線量10kGy〜100kGyにて行なうことが可能である。
また各サンプルについては、60℃、湿度95%の環境下での耐湿試験を行なったが、いずれのサンプルについても、60時間放置後の残存率は95%〜97%、さらに300時間放置後での残存率は93%〜95%であり、まったく問題は無かった。
また本実施形態においては、フッ素含有樹脂体としてFEPに付いて示したが、PTFE及びPFAに付いても同様の結果がえられた。
第9図は本発明の第3の実施の形態を示すもので、ECM集合体方式の製造方法を示す工程図である。
図9において工程E1の集合振動膜ユニット7Lの製造工程、工程E2の集合スペーサ6Lの製造工程、工程E4の集合回路基板2Lの製造工程、工程5の集合ECM製造工程、工程6の完成ECM製造工程はいずれも図8と同じ工程であり、工程E3の集合背極基板3Lの製造工程のみが図8と異なるものである。すなわち第3の実施の形態における集合背極基板3Lの製造工程は、前記EB照射処理時の高温によるエレクトレット層の変形を考慮したものである。
図9における工程E3の集合背極基板3Lの製造工程では、集合絶縁基板に複数の背極電極のみを形成しておく。そしてエレクトレット材であるシート状のFEPをロール状態のまま電離性放射線照射装置内において、前記FEPの結晶融点以上の温度である280℃〜330℃の雰囲気で、かつ酸素濃度100ppm以下の酸素不存在下において、10kGy〜100kGy程度の電離性放射線を照射するEB照射処理を行なうことによって前記シート状のFEPを架橋した改質フッ素樹脂に変化させる。この時にシート状のFEPはEB照射処理時の高温によって軟化し少し変形するので、形状が安定するまで冷却期間をとる。
次に形状が安定したシート状のFEPを型抜きして個々のエレクトレット層を作成する。次にこの個々のエレクトレット層を前記集合絶縁基板に形成した複数の背極電極に積層する。さらに、この集合背極基板3Lを着電装置に投入することにより、改質フッ素樹脂に変化したエレクトレット層に着電を施して耐熱性の集合背極基板3Lを完成させる。
尚、このエレクトレット材に予めEB照射処理を行なう方式の場合は、EB照射処理時の熱変形があっても冷却後に型抜きを行なってエレクトレット層の形状を整えることが出来るため、EB照射処理時の温度条件を300℃〜330℃と少し高くすることが可能となる。
上記のごとく本発明の耐熱性帯電樹脂体は、高温条件下において電荷の減少が少ないため、リフロー等の高温実装が行なわれるECMのエレクトレット層に適することは勿論、これ以外にも繊維状の耐熱性帯電樹脂体を織って不織布とし、高温条件化で使用されるエアコンや空調用のフイルターとして使用可能である。されに不織布に織った耐熱性帯電樹脂体は表面積が大きく成るため、空気中や排気ガス中の微粒子の吸着力が強くなり、防塵マスクや花粉症用のマスク等にも使用可能である。
また、本発明の実施の形態であるECMの製造方法について2種類の製造工程を示したが、それぞれにメリットを有するものであり、図8に示す集合背極基板を完成させた状態でEB照射処を行なう方式では、前記電離性放射線照射装置の規模は、前記集合背極基板が収納できるサイズでよいため、小型設備で行なうことが出来るというメリットがあり、また図9に示すシート状のエレクトレット材をEB照射処理した後、エレクトレット層を型抜きする方式では、ロール状のFEPシート材を収納できるような大型な電離性放射線照射装置を必要とするが、高速加工が可能で量産化に適しており、さらにEB照射処理時の温度を高くする事が出来るというメリットを有するものである。
本発明の第1の実施の形態における耐熱性帯電樹脂体の製造方法を示す工程図である。 本発明のECMの断面図である。 図2に示すECMの分解斜視図である。 本発明のECM製造方法の説明図で、(A)、(B)、(C)、(D)は、それぞれ製造工程で用いる部品の集合体の斜視図である。 図4に続く本発明のECM製造方法の説明図で、各集合体を積層した積層集合体の斜視図である。 図5の積層集合体を切断して製品化したECMの斜視図である。 エレクトレット層であるFEPの耐熱特性を示す特性図である。 本発明の第2の実施の形態におけるECMの製造方法を示す工程図である。 本発明の第3の実施の形態におけるECMの製造方法を示す工程図である。
符号の説明
1 エレクトレットコンデンサマイクロフホン(ECM)
2 回路基板
3 背極基板
4 背極電極
5 エレクトレット層
6 スペーサ
7 振動膜ユニット
8 振動膜支持枠
2L 集合回路基板
3L 集合背極基板
6L 集合スペーサ
7L 集合振動膜ユニット

Claims (7)

  1. 半導体等の電気エレメント、背極電極、エレクトレット層、スペーサ、振動膜を有するエレクトレットコンデンサマイクロホンにおいて、前記エレクトレット層がフッ素を含有する樹脂体に、結晶融点以上の温度で酸素不存在下において電離性放射線を照射することによって架橋した改質フッ素樹脂に着電処理を行なった耐熱性帯電樹脂体であるエレクトレットコンデンサマイクロホン。
  2. 前記フッ素を含有する樹脂体がポリテトラフルオロエチレン、フッ化エチレンプロピレン共重合体、テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体のいずれか1つである請求項記載のエレクトレットコンデンサマイクロホン。
  3. 半導体等の電気エレメント、背極電極、エレクトレット層、スペーサ、振動膜を有するエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法において、前記背極電極上にフッ素を含有する樹脂体の樹脂層を形成する工程と、前記背極電極上の樹脂層に該樹脂層の結晶融点付近の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂層を形成する工程と、前記改質フッ素樹脂層に着電してエレクトレット層を形成する工程とを有することを特徴とするエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
  4. 半導体等の電気エレメントを実装した多数の電気回路基板が縦横に並んで一体化している形状の集合電気回路基板を作成する工程と、前記背極電極を有する多数の背極基板が縦横に並んで一体化している形状の集合背極基板を作成する工程と、前記集合背極基板の各背極電極上にフッ素を含有する樹脂体の樹脂層を形成する工程と、前記集合背極基板の各背極電極上に形成された樹脂層に、該樹脂層の結晶融点付近の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂層を形成する工程と、前記改質フッ素樹脂層に着電してエレクトレット層を形成する工程と、多数のスペーサが縦横に並んで一体化している形状の集合スペーサを作成する工程と、多数の振動膜支持枠が縦横に並んで一体化している形状で、片面に振動膜素材を張った集合振動膜ユニットを作成する工程と、それぞれ製作したこれら各集合体を接合して積層集合体とし、該積層集合体を切断することにより、分割された各小片がエレクトレットコンデンサマイクロホンとなる請求項記載のエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
  5. 半導体等の電気エレメントを実装した多数の電気回路基板が縦横に並んで一体化している形状の集合電気回路基板を作成する工程と、前記背極電極を有する多数の背極基板が縦横に並んで一体化している形状の集合背極基板を作成する工程と、フッ素を含有する樹脂体の樹脂シートを、該樹脂シートの結晶融点付近の温度で、かつ酸素不存在下において電離性放射線を照射することにより架橋した改質フッ素樹脂シートを形成する工程と、前記改質フッ素樹脂シートを型抜きしてエレクトレット層を形成する工程と、前記エレクトレット層を前記集合背極基板の各背極電極上に積層一体化する工程と、前記改質フッ素樹脂よりなるエレクトレット層に着電処理を行なう工程と、多数のスペーサが縦横に並んで一体化している形状の集合スペーサを作成する工程と、多数の振動膜支持枠が縦横に並んで一体化している形状で、片面に振動膜素材を張った集合振動膜ユニットを作成する工程と、それぞれ製作したこれら各集合体を接合して積層集合体とし、該積層集合体を切断することにより、分割された各小片がエレクトレットコンデンサマイクロホンとなる請求項記載のエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
  6. 前記フッ素を含有する樹脂体がポリテトラフルオロエチレン、フッ化エチレンプロピレン共重合体、テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体のいずれか1つである請求項乃至のいずれか1項記載のエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
  7. 前記改質フッ素樹脂の処理条件が温度280℃〜330℃、酸素濃度100ppm以下において10kGy〜100kGyの電離性放射線を照射する請求項乃至のいずれか1項記載のエレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
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