WO2009153892A1 - ゲイン制御を行なう増幅器および光モジュール - Google Patents

ゲイン制御を行なう増幅器および光モジュール Download PDF

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WO2009153892A1
WO2009153892A1 PCT/JP2008/070594 JP2008070594W WO2009153892A1 WO 2009153892 A1 WO2009153892 A1 WO 2009153892A1 JP 2008070594 W JP2008070594 W JP 2008070594W WO 2009153892 A1 WO2009153892 A1 WO 2009153892A1
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transistor
electrode
coupled
preamplifier
channel mos
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大助 梅田
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住友電気工業株式会社
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    • H03F3/04Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
    • H03F3/08Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
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    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
    • H03G1/0005Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
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    • HELECTRICITY
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    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
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    • HELECTRICITY
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    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers
    • H03G3/20Automatic control
    • H03G3/30Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
    • H03G3/3084Automatic control in amplifiers having semiconductor devices in receivers or transmitters for electromagnetic waves other than radiowaves, e.g. lightwaves

Definitions

  • the present invention relates to an amplifier and an optical module, and more particularly to an amplifier and an optical module that perform gain control.
  • the optical signal from the home side device is detected by the light receiving element, and the output of this light receiving element
  • a TIA transimpedance amplifier
  • a preamplifier for amplifying the detected current is provided in the station side device.
  • Patent Document 1 discloses the following configuration. That is, the output current of the avalanche photodiode that changes due to optical input is output as an output voltage through a preamplifier, and the output voltage of the preamplifier is saturated in an optical receiver circuit that controls this output voltage by an AGC (Automatic Gain Control) circuit.
  • Patent Document 2 discloses the following configuration. That is, in an optical reception preamplifier that amplifies a current signal from a light receiving element, a feedback amplifier circuit that varies a gain phase characteristic by a first control signal according to the magnitude of the current signal, and an output of the feedback amplifier circuit as a reference And a large input control circuit that outputs a first control signal to the feedback amplifier circuit in comparison with the voltage.
  • a feedback amplifier circuit amplifies the current signal, a buffer circuit that buffers the output of the amplifier, a first resistor and a second resistor for feedback that switch the gain of the amplifier, and a phase that performs phase compensation of the amplifier It comprises a compensation capacitor, and a first switch element and a second switch element that perform a gain and phase compensation switching operation.
  • Patent Document 3 discloses the following configuration. That is, an inverting amplifier circuit to which a burst signal is input, a first feedback circuit disposed between an input node and an output node of the inverting amplifier circuit, and a second feedback circuit disposed in parallel with the first feedback circuit, A burst period determining unit that determines a duration of the burst signal based on the output of the inverting amplifier circuit and outputs a first signal indicating the off timing of the burst signal; and an amplitude of the burst signal based on the output of the inverting amplifier circuit. A gain switching signal generation unit that determines and outputs a second signal indicating that the amplitude exceeds a predetermined threshold.
  • the second feedback circuit includes a phase compensation capacitor and a switch whose opening / closing is controlled based on the first signal and the second signal, and the gain is controlled by opening / closing the switch.
  • JP 63-151205 A Japanese Patent Laid-Open No. 9-8563 JP 2006-101223 A
  • the preamplifier described in Patent Document 1 detects the saturation of the output voltage with a saturation voltage detection circuit, and diverts the output current of the avalanche photodiode according to the output of the saturation voltage detection circuit. In this configuration, the current to the amplifier circuit is reduced by a predetermined amount.
  • it is difficult to adjust the partial flow rate That is, if the partial flow rate is set too small, the preamplifier cannot be saturated when the level of the optical input signal is relatively high, and the dynamic range of the preamplifier becomes narrow.
  • the flow rate is set too large, there is a problem that the S / N (Signal to Noise) ratio deteriorates.
  • the output voltage of the preamplifier that performs inverting amplification is compared with the reference voltage Vref.
  • the reference voltage Vref When the level of the input current signal to the preamplifier is high, the output voltage of the preamplifier is The output current of the avalanche photodiode is shunted below the reference voltage Vref. Setting the reference voltage Vref is difficult, and if the reference voltage Vref is set too small, the flow rate becomes small and the dynamic range of the preamplifier becomes narrow.
  • FIG. 13 is a diagram schematically showing the configuration of the preamplifiers described in Patent Documents 2 and 3.
  • the preamplifiers described in Patent Documents 2 and 3 are configured to change the gain by switching the resistance value of feedback resistor RF.
  • the gain of the amplifier circuit 51 is A
  • the resistance value of the feedback resistor RF is RF
  • the input capacitance such as the parasitic capacitance of the light receiving element PD is Cin
  • the DC gain ZT and -3 dB band f-3 dB of this preamplifier is Is represented by the following equation.
  • the frequency characteristic of the amplifier circuit 51 is ignored in order to simplify the explanation, that is, the gain A is a fixed value.
  • the bandwidth of the amplifier circuit 51 becomes smaller than the bandwidth of the feedback loop formed by the feedback resistor RF, the phase margin is lowered and the feedback loop becomes unstable.
  • the amplifier circuit 51 needs a band about ⁇ 2 times the feedback loop.
  • the feedback resistance value is switched to be small when the optical input signal level is large, the DC gain ZT is reduced and the bandwidth of the feedback loop is increased. As a result, the bandwidth of the amplifier circuit 51 becomes insufficient, and the phase margin decreases.
  • an object of the present invention is to provide an amplifier and an optical module capable of expanding a dynamic range and stably amplifying a broadband signal.
  • An amplifier includes a first conduction electrode to which a current is input, a control electrode coupled to the first conduction electrode, and a second conduction electrode coupled to a fixed voltage source.
  • a second transistor having a transistor, a first conduction electrode, a second conduction electrode coupled to a fixed voltage source, and a control electrode coupled to a control electrode of the first transistor, and control of the second transistor
  • a feedback resistor coupled to the electrode for feeding back the output of the second transistor to the control electrode of the second transistor, and flowing from the first conducting electrode of the first transistor to the control electrode and the feedback resistor of the second transistor
  • a variable resistance element for controlling a ratio between a current and a current flowing from the first conduction electrode of the first transistor to the second conduction electrode;
  • variable resistance element is connected between the second conduction electrode of the first transistor and the fixed voltage source.
  • variable resistance element is a third transistor having a first conduction electrode coupled to the second conduction electrode of the first transistor and a second conduction electrode coupled to the fixed voltage source, and an amplifier. Further comprises a fourth transistor having a first conduction electrode coupled to the second conduction electrode of the second transistor and a second conduction electrode coupled to the fixed voltage source.
  • the ratio between the size of the first transistor and the size of the second transistor is substantially equal to the ratio of the size of the third transistor and the size of the fourth transistor.
  • variable resistance element is connected between the control electrode of the first transistor, the first conduction electrode of the first transistor, and the control electrode of the second transistor.
  • the first transistor and the second transistor have the same structure
  • the amplifier further includes a resistor coupled to the first conduction electrode of the second transistor and formed of the same material as the feedback resistor.
  • the amplifier further includes a current source that supplies a constant current to the first conduction electrode of the first transistor.
  • the amplifier includes a plurality of sets of first transistors and variable resistance elements, and the first conduction electrode and the control electrode of each first transistor are commonly coupled to the control electrode of the second transistor.
  • the amplifier further includes a control circuit that controls the resistance value of the variable resistance element in three or more stages based on the output of the second transistor.
  • a current from a light receiving element used in the passive optical network is input to the first conduction electrode of the first transistor.
  • An optical module is an optical module used in a passive optical network including an optical fiber, and includes a light receiving element optically coupled to the optical fiber, and a first coupled to the light receiving element.
  • a first transistor having a conduction electrode, a control electrode coupled to the first conduction electrode, and a second conduction electrode coupled to the fixed voltage source; a first conduction electrode; and a first transistor coupled to the fixed voltage source.
  • a second transistor having a two conduction electrode and a control electrode coupled to the control electrode of the first transistor; and a second transistor coupled to the control electrode of the second transistor, wherein the output of the second transistor is coupled to the second transistor.
  • a feedback resistor for returning to the control electrode, a current flowing from the first conducting electrode of the first transistor to the control electrode and the feedback resistor of the second transistor, and the first transistor Comprising a variable resistor element for controlling the ratio of the current flowing from the first conducting electrode of the capacitor to the second conductive electrode, and a terminal for receiving a control signal for controlling the resistance value of the variable resistor element.
  • the dynamic range can be expanded and a wideband signal can be stably amplified.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a preamplifier according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a circuit diagram showing a state where an N-channel MOS transistor M1 is turned on and an N-channel MOS transistor M11 is turned off in the preamplifier according to the first embodiment of the present invention. It is a figure which shows the structure of the preamplifier which concerns on the 2nd Embodiment of this invention.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a state where N-channel MOS transistors M0 and M1 are turned on and an N-channel MOS transistor M11 is turned off in a preamplifier according to the second embodiment of the present invention. It is a figure which shows the structure of the preamplifier which concerns on the 3rd Embodiment of this invention.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing a state where an N-channel MOS transistor M1 is turned on and an N-channel MOS transistor M11 is turned off in a preamplifier according to a third embodiment of the present invention. It is a figure which shows the structure of the preamplifier which concerns on the 4th Embodiment of this invention.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing a state where an N-channel MOS transistor M1 is turned on in a preamplifier according to a sixth embodiment of the present invention. It is a figure which shows schematically the structure of the preamplifier described in patent documents 2 and 3.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical network according to the first embodiment of the present invention.
  • an optical network 501 is, for example, a GE-PON, and includes home side devices 401A, 401B, 401C, and 401D, a station side device 402, and splitters SP1 and SP2.
  • the home side devices 401A, 401B, 401C, 401D and the station side device 402 are connected via the splitters SP1 and SP2 and the optical fiber OPTF, and transmit / receive optical signals to / from each other.
  • the home-side device 401D and the station-side device 402 are connected via the splitter SP2 and the optical fiber OPTF, and transmit / receive optical signals to / from each other.
  • FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the station side apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • the station side device 402 includes an optical module 301, a PON receiving unit 302, a PON transmitting unit 303, a communication control unit 304, an upper network receiving unit 305, and an upper network transmitting unit 306.
  • the optical module 301 includes an optical receiver 51, an optical transmitter 52, a multiplexing / demultiplexing unit 53, and terminals T1 to T3.
  • the optical receiver 51 includes a lens 201, a light receiving element PD, and a preamplifier 101.
  • the optical transmission unit 52 includes a lens 202 and a light emitting element 203.
  • the PON receiving unit 302 includes a post-amplifier 54 and a clock / data recovery unit 55.
  • the frame from the upper network 502 is received by the upper network receiver 305 and sent to the communication controller 304.
  • the communication control unit 304 outputs the frame to the terminal T3 of the optical module 301 via the PON transmission unit 303.
  • the light emitting element 203 converts a frame that is an electrical signal received from the PON transmission unit 303 into an optical signal, and transmits the optical signal to the home device via the lens 202 and the multiplexing / demultiplexing unit 53. To do.
  • the optical signal transmitted from the home side device to the station side device is received by the optical receiving unit 51 via the multiplexing / demultiplexing unit 53.
  • the light receiving element PD is optically coupled to the optical fiber OPTF via the multiplexing / demultiplexing unit 53 and the lens 201.
  • the light receiving element PD outputs an electrical signal corresponding to the amount of light received from the optical fiber OPTF.
  • the preamplifier 101 amplifies the electrical signal received from the light receiving element PD and outputs the amplified signal to the PON receiving unit 302 via the terminal T1.
  • the post-amplifier 54 amplifies the electrical signal received from the pre-amplifier 101 and outputs the amplified signal to the clock / data recovery unit 55.
  • Clock / data recovery unit 55 recovers the clock and data based on the electrical signal received from post-amplifier 54.
  • the communication control unit 304 decodes the data received from the clock / data reproduction unit 55 and restores the data frame and the control frame.
  • the communication control unit 304 transmits the frame to the upper network 502 via the upper network transmission unit 306 based on the restored frames.
  • the communication control unit 304 manages the start timing and end timing of the burst signal from the home side device and transmits the burst signal so that the optical signal transmitted from each home side device does not compete in time. A window indicating a good period is notified to the home device as a control frame. Since the home side apparatus transmits the burst signal in the assigned window, the communication control unit 304 sends the reset signal RST to the terminal T2 at the start or end of the burst signal based on the managed timing. Output to the preamplifier 101.
  • FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of the preamplifier according to the first embodiment of the present invention.
  • preamplifier 101 includes gain control circuit 1, inverting amplification circuit 2, differential conversion circuit 3, output buffer circuit 4, NPN transistor N1, and N-channel MOS transistors M1, M11. And a capacitor C1 and an inverter INV.
  • the inverting amplifier circuit 2 includes NPN transistors N0 and NF, a feedback resistor RF, a resistor RL, and a current source IS1.
  • the NPN transistor N1 has a collector and a base connected to the anode of the light receiving element PD, and an emitter connected to the drain of the N-channel MOS transistor M1 and the first end of the capacitor C1.
  • the N-channel MOS transistor M1 has a gate that receives the gain switching signal GSW from the gain control circuit 1, and a source connected to the ground voltage source PS2 and the second end of the capacitor C1.
  • the N-channel MOS transistor M11 has a gate connected to the output of the inverter INV, a drain connected to the fixed voltage source PS4, and a source connected to the first end of the capacitor C1.
  • the NPN transistor N0 is connected to the base of the NPN transistor N1 and the base connected to the first end of the feedback resistor RF, the collector connected to the first end of the resistor RL and the base of the NPN transistor NF, and the ground voltage source PS2.
  • NPN transistor NF has a collector connected to fixed voltage source PS3 and the second end of resistor RL, and an emitter connected to the second end of feedback resistor RF and the first end of current source IS1.
  • the second end of the current source IS1 is connected to the ground voltage source PS2.
  • the cathode of the light receiving element PD is connected to the fixed voltage source PS1.
  • the differential conversion circuit 3 converts the output voltage VAMP of the inverting amplifier circuit 2, that is, the emitter voltage of the NPN transistor NF, into a differential signal, and outputs the differential signal to the terminal T1 through the output buffer circuit 4.
  • the feedback resistor RF is provided to feed back the output voltage VAMP, that is, the output of the NPN transistor N0, to the base of the NPN transistor N0.
  • N-channel MOS transistor M1 controls the ratio between the current flowing from light receiving element PD to NPN transistor N0 and feedback resistor RF and the current flowing from light receiving element PD to ground voltage source PS2 through the collector and emitter of NPN transistor N1. It is provided for.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a state where the N-channel MOS transistor M1 is turned on and the N-channel MOS transistor M11 is turned off in the preamplifier according to the first embodiment of the present invention.
  • the gain control circuit 1 generates and outputs a gain switching signal GSW based on the output voltage VAMP. More specifically, the gain control circuit 1 outputs a logic low level gain switching signal GSW at the head of the optical input signal that is a burst signal, and starts receiving the optical input signal. Thereafter, an average value of the level of the output voltage VAMP in a period corresponding to a plurality of bits of the optical input signal is calculated. When the average value of the output voltage VAMP of the inverting amplifier circuit 2 is less than a predetermined value, that is, when the level of the optical input signal is large, the gain control circuit 1 outputs a logic high level gain switching signal GSW to The channel MOS transistor M1 is turned on.
  • the emitter potential of the NPN transistor N1 decreases and the NPN transistor N1 is turned on.
  • bypass current ibps flows from light receiving element PD to ground voltage source PS2 through NPN transistor N1 and N channel MOS transistor M1. That is, the detection current ipd from the light receiving element PD is divided into the input current iin and the bypass current ibps to the inverting amplifier circuit 2.
  • the NPN transistors N0 and N1 since the emitters of the NPN transistors N0 and N1 are respectively coupled to the ground voltage source PS2, the NPN transistors N0 and N1 operate like a current mirror circuit, and a current corresponding to the bypass current ibps is applied to the NPN transistor. It flows from the collector of N0 to the emitter.
  • “coupled” is not limited to the state in which the circuit elements are directly connected to each other, but includes cases in which other circuit elements are connected between the circuit elements.
  • the gain control circuit 1 outputs the logic low level gain switching signal GSW, thereby causing the N-channel MOS transistor M1 to Turn off. Then, the emitter potential of NPN transistor N1 rises and NPN transistor N1 is turned off. As a result, the detection current ipd from the light receiving element PD does not flow but flows to the inverting amplifier circuit 2 as the input current iin.
  • the gain control circuit 1 detects the bottom value of the output voltage VAMP in a period corresponding to a plurality of bits of the optical input signal at the head of the optical input signal that is a burst signal, instead of the average value of the level of the output voltage VAMP.
  • the logic level of the gain switching signal GSW may be determined based on the bottom value.
  • the inverter INV inverts the logic level of the gain switching signal GSW received from the gain control circuit 1 and outputs it to the gate of the N-channel MOS transistor M11.
  • the gain control circuit 1 receives the reset signal RST from the communication control unit 304 for each burst signal, and turns on the N-channel MOS transistor M11. As a result, charges are injected from the fixed voltage source PS4 into the capacitor C1, so that the emitter potential of the NPN transistor N1 can be quickly raised.
  • the output voltage of the fixed voltage source PS4 may be a voltage higher than the base-emitter voltage of the NPN transistor N1.
  • the output voltage of the fixed voltage source PS4 is close to the base-emitter voltage of the NPN transistor N1 in order to shorten the time for extracting the charge from the capacitor C1. A voltage is preferred.
  • the gain control circuit 1 receives the reset signal RST from the communication control unit 304 for each burst signal, and clears the average value of the output voltage VAMP.
  • the light intensity of the burst signal may vary greatly depending on the home device. By clearing the average value of the output voltage VAMP for each burst signal, the level of the output voltage VAMP can be accurately detected for a newly received burst signal without being affected by the previously received burst signal.
  • the gain switching signal GSW can be generated.
  • the gain control circuit 1 is not limited to the configuration that receives the reset signal RST from the communication control unit 304, and is a configuration that detects the start or end of the burst signal by itself and returns the logic level of the gain switching signal GSW to the initial value. Also good. Further, when the station side device 402 receives a continuous signal instead of a burst signal, the reset signal RST may not exist.
  • the mutual conductance of the NPN transistor N0 is gm0
  • the gain of the inverting amplifier circuit 2 is A
  • the resistance value of the feedback resistor RF is RF
  • the resistance value of the resistor RL is RL.
  • the AC impedance ZRF of the feedback resistor RF viewed from the input node of the preamplifier 101, that is, the connection node between the light receiving element PD and the NPN transistor N1 is expressed by the following equation.
  • the base current of the NPN transistor N0 is ib0
  • the base voltage is vb0
  • the current gain is hfe0.
  • the AC impedance Z0 of the NPN transistor N0 viewed from the input node of the preamplifier 101 is expressed by the following equation.
  • the base current of the NPN transistor N1 is ib1
  • the base voltage is vb1
  • the mutual conductance is gm1
  • the intrinsic emitter resistance is re1
  • the current gain is hfe1.
  • the AC impedance Z1 of the path of the bypass current ibps viewed from the input node of the preamplifier 101 is expressed by the following equation.
  • the detection current ipd from the light receiving element PD is all the input current iin.
  • the detection current ipd is based on the ratio of the impedance ZRF expressed by the formula (1) and the impedance Z1 expressed by the formula (3) as follows: Thus, the current is divided into the input current iin and the bypass current ibps.
  • NPN transistors N0 and N1 are transistors having the same structure. Thereby, gm1 / gm0 becomes a value determined by the size ratio of the NPN transistors N0 and N1, and becomes a stable value with respect to manufacturing variations and temperature fluctuations.
  • transistor size means the structural size that determines the mutual conductance of the transistor.
  • NPN transistor has emitter width ⁇ emitter length
  • N-channel MOS transistor has gate width / gate length.
  • the size is the sum of the sizes of the transistors connected in parallel.
  • RF / RL becomes a stable value against manufacturing variations and temperature fluctuations.
  • the input current iin can be effectively suppressed by the NPN transistor N1 having the same size as the NPN transistor N0.
  • the resistance value of the feedback resistor RF is 1000 ⁇
  • the resistance value of the resistor RL is 200 ⁇
  • the input current iin can be suppressed to 1/6 by turning on the N-channel MOS transistor M1 as compared with the case where the N-channel MOS transistor M1 is off, the strong input of the preamplifier 101 is reduced. Resistance can be increased 6 times.
  • the gain ZT of the preamplifier 101 when the N-channel MOS transistor M1 is off is expressed by the following equation.
  • the gain ZT of the preamplifier 101 when the N-channel MOS transistor M1 is on is expressed by the following equation.
  • the shunt ratio of the detection current ipd from the light receiving element PD that is, the ratio between the input current iin and the bypass current ibps is set. Control.
  • the bypass current ibps is determined by the ratio to the detection current ipd, and the amount of the bypass current ibps can be increased when the input is strong, and the amount of the bypass current ibps can be decreased when the input is weak.
  • the shunt ratio of the detection current ipd is a stable value with respect to manufacturing variations and temperature fluctuations determined by the resistance ratio and the transconductance ratio of the transistor, and parameter adjustment is easy.
  • the output signal VOUT is monitored, and when the level of the optical input signal is high, the N-channel MOS transistor M1 is turned on. Accordingly, a part of the detection current ipd from the light receiving element PD is bypassed to the ground as a bypass current ibps, and the input current iin to the inverting amplifier circuit 2 is reduced, so that the gain of the preamplifier 101 is apparently reduced. .
  • there is no need to switch the resistance value of the feedback resistor so that the characteristics of the feedback loop are not changed before and after gain switching, and phase margin control can be made unnecessary.
  • the input impedance that is, the resistance value of the feedback resistor is set smaller than that of the low frequency TIA. Therefore, in the case of the preamplifier 101 shown in FIG. 3, it is necessary to reduce the resistance component of the path of the bypass current ibps, that is, to reduce the on-resistance of the N-channel MOS transistor M1.
  • the on-resistance of the N-channel MOS transistor M1 is a parameter that is difficult to control due to large manufacturing variations and temperature fluctuations. To reduce this on-resistance to a negligible level, the size of the N-channel MOS transistor M1 is increased. There is a need to. At this time, if the parasitic capacitance at the input node of the preamplifier increases, high-frequency operation becomes difficult.
  • the N-channel MOS transistor M1 is connected between the emitter of the NPN transistor N1 and the ground voltage source PS2.
  • the parasitic capacitance of the N-channel MOS transistor M1 cannot be seen from the input node of the preamplifier.
  • the larger the parasitic capacitance of the N channel MOS transistor M1 the stronger the emitter of the NPN transistor N1 is grounded in the high frequency region. That is, the on-resistance of the N channel MOS transistor M1 can be reduced and the operation of the NPN transistor N1 in the high frequency region can be stabilized.
  • the base-emitter capacitance of the NPN transistor N0 is Cbe0 and the base-collector capacitance is Cbc0
  • a capacitance of Cbe0 + (1 + A) ⁇ Cbc0 can be seen from the input node.
  • (1 + A) is due to the mirror effect.
  • the capacitance of the NPN transistor N1 viewed from the input node only needs to consider the base-emitter capacitance Cbe1. Therefore, the influence of the NPN transistor N1 on the input capacitance of the preamplifier 101 can be suppressed.
  • the preamplifier described in Patent Document 1 is configured to switch whether or not to shunt the output current of the avalanche photodiode for each bit of the optical input signal. For this reason, since a high-speed control loop is required, it is difficult to increase the bandwidth.
  • the gain control circuit 1 calculates the average value of the level of the output voltage VAMP in the period of a plurality of bits of the optical input signal at the head of the burst signal. calculate. Then, the gain control circuit 1 generates the gain switching signal GSW based on the average value of the output voltage VAMP. In the subsequent burst signal section, the gain switching signal GSW may be fixed, and the control loop does not operate. Such a configuration eliminates the need for a high-speed control loop, and can easily achieve a wide band.
  • NPN transistors N0 and N1 may be transistors other than bipolar transistors, and can be replaced with, for example, N-channel MOS transistors.
  • the capacitor C1 may not be provided if the parasitic capacitance of the N-channel MOS transistor M1 is sufficient.
  • the present embodiment relates to a preamplifier having improved circuit matching as compared with the preamplifier according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a preamplifier according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a state in which N-channel MOS transistors M0 and M1 are on and N-channel MOS transistor M11 is off in the preamplifier according to the second embodiment of the present invention.
  • the preamplifier 102 further includes an N-channel MOS transistor M0 and a capacitor C0 as compared with the preamplifier according to the first embodiment of the present invention.
  • N-channel MOS transistor M0 has a drain connected to the emitter of NPN transistor N0 and the first end of capacitor C0, a source connected to the second end of ground voltage source PS2 and capacitor C0, and a gate.
  • a voltage for turning on the N-channel MOS transistor M0 is always supplied to the gate of the N-channel MOS transistor M0.
  • the on-resistance can be reduced to some extent by increasing the size of the N-channel MOS transistor M1, but the on-resistance of the N-channel MOS transistor M1 is small. Thus, a potential difference is generated between the emitter of the NPN transistor N0 and the emitter of the NPN transistor N1.
  • circuit matching is improved by inserting the N-channel MOS transistor M0 between the emitter of the NPN transistor N0 and the ground.
  • the potential difference between the emitter of NPN transistor N0 and the emitter of NPN transistor N1 can be reduced, and fluctuations in characteristics due to variations in on-resistance of N-channel MOS transistor M0 can be suppressed.
  • the present embodiment relates to a preamplifier in which the arrangement of gain switching transistors is changed as compared with the preamplifier according to the first embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a preamplifier according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing a state where the N-channel MOS transistor M1 is on and the N-channel MOS transistor M11 is off in the preamplifier according to the third embodiment of the present invention.
  • N channel MOS transistor M1 for gain switching is arranged at the base node of NPN transistor N1. That is, the N-channel MOS transistor M1 includes a source connected to the base of the NPN transistor N1, a collector of the NPN transistor N1, a base connected to the base of the NPN transistor N0, and a first terminal of the feedback resistor RF, and a gain control circuit. 1 and a gate for receiving the gain switching signal GSW from 1.
  • N-channel MOS transistor M11 has a drain connected to the source of N-channel MOS transistor M1 and the base of NPN transistor N1, and a source connected to ground voltage source PS2.
  • the gain control circuit 1 calculates the average value of the level of the output voltage VAMP of the inverting amplifier circuit 2 over a period corresponding to a plurality of bits of the optical input signal.
  • the gain control circuit 1 outputs the logic high level gain switching signal GSW to turn on the N-channel MOS transistor M1.
  • the base potential of the NPN transistor N1 rises and the NPN transistor N1 is turned on.
  • the bypass current ibps flows from the light receiving element PD to the ground voltage source PS2 through the NPN transistor N1.
  • the detection current ipd from the light receiving element PD is divided into the input current iin to the inverting amplifier circuit 2 and the bypass current ibps.
  • the NPN transistors N0 and N1 operate close to a current mirror circuit, and a current corresponding to the bypass current ibps flows from the collector of the NPN transistor N0 to the emitter.
  • the gain control circuit 1 outputs a logic low level gain switching signal GSW to turn off the N-channel MOS transistor M1 and The MOS transistor M11 is turned on. Then, the base potential of NPN transistor N1 becomes the ground potential, and NPN transistor N1 is turned off. As a result, the detection current ipd from the light receiving element PD does not flow but flows to the inverting amplifier circuit 2 as the input current iin.
  • the gain control circuit 1 detects the bottom value of the output voltage VAMP in a period corresponding to a plurality of bits of the optical input signal at the head of the optical input signal that is a burst signal, instead of the average value of the level of the output voltage VAMP.
  • the logic level of the gain switching signal GSW may be determined based on the bottom value.
  • the impedance Z1 of the bypass path viewed from the input node of the preamplifier 103 is expressed by the following equation.
  • the base node of the NPN transistor N1 is a high-frequency line and is sensitive to parasitic capacitance. For this reason, it is difficult to increase the size of the N-channel MOS transistor M1.
  • the on-resistance RON1 is 1 / (hfe1 + 1), and generally hfe1> 100.
  • 1 / gm1 >> RON1 / (1 + hfe1) is satisfied, which can be approximated as Z1 to 1 / gm1. That is, since Equation (8) can be approximated to Equation (3), an effect close to that of the preamplifier according to the first embodiment of the present invention can be achieved.
  • the N channel MOS transistor M1 when the N channel MOS transistor M1 is off, the N channel MOS transistor M11 is separated from the signal line of the preamplifier 103, that is, the path of the detection current ipd. The characteristics of the preamplifier 103 are not affected.
  • the parasitic capacitance of the N-channel MOS transistor M11 affects the signal line of the preamplifier 103.
  • the N-channel MOS transistor M11 can be a small size, this influence can be minimized.
  • the N-channel MOS transistor M1 is turned on, the level of the optical input signal is large. Therefore, even if the band of the pre-amplifier 103 is reduced by the parasitic capacitance of the N-channel MOS transistor M11, the pre-amplifier 103 The effect on the characteristics of is small.
  • the present embodiment relates to a preamplifier having an increased DC bias current as compared with the preamplifier according to the first embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a preamplifier according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the preamplifier 104 further includes a current source IS2 as compared with the preamplifier according to the first embodiment of the present invention.
  • the current source IS2 is connected between the fixed voltage source PS5 and the collector of the NPN transistor N1.
  • the current source IS2 receives the logic high level gain switching signal GSW and supplies a constant current Idc to the collector of the NPN transistor N1.
  • the NPN transistor N1 in the preamplifiers 101 to 103 requires a DC bias current Ibias in the on state.
  • the DC bias current Ibias is provided by the detection current ipd and the inverting amplifier circuit 2.
  • the DC bias current of the NPN transistor N1 can be covered by the detection current ipd when the N-channel MOS transistor M1 is turned on and the gain of the preamplifier is switched to the lower one.
  • the current source IS2 to the collector of the NPN transistor N1 Is supplied with a constant current Idc.
  • the present embodiment relates to a preamplifier that enables multistage gain switching as compared with the preamplifier according to the first embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a preamplifier according to the fifth embodiment of the present invention.
  • preamplifier 105 includes gain control circuit 11 instead of gain control circuit 1, and N channel MOS transistor M1 similar to the preamplifier according to the first embodiment of the present invention. And a plurality of sets of capacitors C1. That is, preamplifier 105 includes gain control circuit 11, inverting amplifier circuit 2, NPN transistors N1 to Nn, N channel MOS transistors M1 to Mn, and capacitors C1 to Cn.
  • the collectors of NPN transistors N1 to Nn are commonly connected to the anode of light receiving element PD, the base is commonly connected to the base of NPN transistor N0 and the first end of feedback resistor RF, and the emitters are N-channel MOS transistors M1 to Mn and Among capacitors C1 to Cn, the drain of the corresponding N-channel MOS transistor and the first end of the corresponding capacitor are connected.
  • preamplifier 105 a plurality of bypass paths are provided, and multi-stage gain switching is possible.
  • the gain control circuit 11 generates gain switching signals GSW1 to GSWn based on the output voltage VAMP, and outputs them to the gates of the N-channel MOS transistors M1 to Mn, respectively.
  • N channel MOS transistors M1 to Mn flow bypass currents ibps1 to ibpsn, respectively, when on.
  • multistage gain switching can be performed.
  • the gain can be easily adjusted by adjusting the sizes of the NPN transistors N1 to Nn as compared with the configuration in which the multistage gain switching is performed by providing a plurality of feedback resistors connected in parallel.
  • the preamplifier 105 includes a plurality of matching N-channel MOS transistors M0 corresponding to the N-channel MOS transistors M1 to Mn similar to the preamplifier according to the second embodiment of the present invention. Also good. Further, similarly to the preamplifier according to the third embodiment of the present invention, it may be configured to include a current source IS2 for supplying a DC bias current.
  • the present embodiment relates to a preamplifier capable of continuously changing the resistance value of the bypass path as compared with the preamplifier according to the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a preamplifier according to the sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a circuit diagram showing a state where the N-channel MOS transistor M1 is on in the preamplifier according to the sixth embodiment of the present invention.
  • the preamplifier 106 includes a gain control circuit 12 instead of the gain control circuit 1 as compared with the preamplifier according to the first embodiment of the present invention. Unlike the gain control circuit 1, the gain control circuit 12 does not receive the reset signal RST. Further, the preamplifier 106 does not include the N-channel MOS transistor M11 and the inverter INV as compared with the preamplifier according to the first embodiment of the present invention.
  • the gain control circuit 12 generates a gain control signal GCNT based on the average value of the output voltage VAMP and outputs it to the gate of the N channel MOS transistor M1 and the gate of the N channel MOS transistor M11. More specifically, the gain control circuit 12 continuously controls the on-resistance of the N-channel MOS transistor M1 by controlling the voltage value of the gain control signal GCNT continuously, that is, in three stages or more, based on the output voltage VAMP. To control. That is, as shown in FIG. 12, the N-channel MOS transistor M1 functions as a variable resistor.
  • the emitter potential of the NPN transistor N1 that is, the base-emitter voltage can be controlled continuously, the mutual conductance gm1 can be controlled continuously.
  • the preamplifiers 101 to 105 when the gain is switched, the DC potential of the output node changes. Due to this, if a reception error occurs during gain switching during communication signal reception, the preamplifiers 101 to 105 are not suitable for a communication system in which continuous signals are transmitted and received. On the other hand, it is suitable when the optical input signal is a burst signal and the power of the optical input signal can be different for each home-side device, such as a station-side device in a passive network. Since the gain can be determined and fixed at the start of burst signal reception for each burst signal, the gain is not switched during reception of the communication signal, and no reception error occurs.
  • the preamplifier according to the sixth embodiment of the present invention in the state where the N-channel MOS transistor M1 is completely turned on, the same as the preamplifier according to the first embodiment of the present invention. Amplification characteristics.
  • the gain of the preamplifier 106 can be continuously changed by continuously controlling the gate voltage value of the N-channel MOS transistor M1, that is, the level of the gain control signal GCNT. Thereby, a continuous signal can be received satisfactorily. Further, by monitoring the level of the output node and forming a feedback loop for controlling the gain control signal GCNT, that is, the gate voltage of the N-channel MOS transistor M1 according to the level of the optical input signal, the characteristics of the N-channel MOS transistor M1 are formed.

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Abstract

 増幅器(101)は、電流が供給される第1導通電極と、第1導通電極に結合された制御電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第1のトランジスタ(N1)と、第1導通電極と、第2導通電極と、第1のトランジスタ(N1)の制御電極に結合された制御電極とを有する第2のトランジスタ(N0)と、第2のトランジスタ(N0)の制御電極に結合され、第2のトランジスタ(N0)の出力を第2のトランジスタ(N0)の制御電極に帰還するための帰還抵抗(RF)と、第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から第2のトランジスタ(N0)の制御電極および帰還抵抗(RF)へ流れる電流と、第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から第2導通電極へ流れる電流との比率を制御するための可変抵抗素子(M1)とを備える。

Description

ゲイン制御を行なう増幅器および光モジュール
 本発明は、増幅器および光モジュールに関し、特に、ゲイン制御を行なう増幅器および光モジュールに関する。
 光ファイバを用いた公衆回線網において1ギガビット/秒の通信速度を実現するGE-PON(Giga Bit Passive Optical Network)では、宅側装置からの光信号を受光素子で検出し、この受光素子の出力する検出電流を増幅するためのTIA(トランスインピーダンスアンプ)すなわち前置増幅器が局側装置に設けられる。
 従来の前置増幅器として、たとえば、特開昭63-151205号公報(特許文献1)には、以下のような構成が開示されている。すなわち、光入力により変化するアバランシェフォトダイオードの出力電流をプリアンプを介して出力電圧として出力し、AGC(Automatic Gain Control)回路によりこの出力電圧を制御する光受信回路において、プリアンプの出力電圧の飽和を検出する飽和電圧検出回路と、飽和電圧検出回路の出力に応答してアバランシェフォトダイオードの出力電流を分流する分流回路とを備える。
 また、特開平9-8563号公報(特許文献2)には、以下のような構成が開示されている。すなわち、受光素子からの電流信号を増幅する光受信前置増幅器において、電流信号の大きさに応じて第1の制御信号により利得位相特性を可変する帰還増幅回路と、帰還増幅回路の出力を基準電圧と比較し第1の制御信号を帰還増幅回路に出力する大入力制御回路とを備える。帰還増幅回路が、電流信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力をバッファリングするバッファ回路と、増幅器の利得を切り替える帰還用の第1の抵抗および第2の抵抗と、増幅器の位相補償を行なう位相補償コンデンサと、利得および位相補償の切り替え動作を行なう第1のスイッチ素子および第2のスイッチ素子とから構成されている。
 また、特開2006-101223号公報(特許文献3)には、以下のような構成が開示されている。すなわち、バースト信号が入力される反転増幅回路と、反転増幅回路の入力ノードと出力ノードとの間に配置される第1帰還回路と、第1帰還回路と並列に配置される第2帰還回路と、反転増幅回路の出力に基づいてバースト信号の継続期間を判定し、バースト信号のオフ時期を示す第1信号を出力するバースト区間判定部と、反転増幅回路の出力に基づいてバースト信号の振幅を判定し、振幅が所定の閾値を超えたことを示す第2信号を出力する利得切替信号生成部とを備える。第2帰還回路は、位相補償用コンデンサと、第1信号と第2信号とに基づいて開閉が制御されるスイッチとを含み、スイッチの開閉によって利得が制御される。
特開昭63-151205号公報 特開平9-8563号公報 特開2006-101223号公報
 特許文献1に記載の前置増幅器は、出力電圧の飽和を飽和電圧検出回路で検出し、飽和電圧検出回路の出力に応じてアバランシェフォトダイオードの出力電流を分流することにより、アバランシェフォトダイオードからプリアンプ(増幅回路)への電流を所定量減らす構成である。しかしながら、このような構成では分流量の調整が困難である。すなわち、分流量を小さく設定しすぎると光入力信号のレベルが比較的大きい場合にプリアンプの飽和が防げず、前置増幅器のダイナミックレンジが狭くなるという問題点がある。その一方で、分流量を大きく設定しすぎると、S/N(Signal to Noise)比が劣化するという問題点がある。
 特許文献1の実施例では、反転増幅を行なう前置増幅器の出力電圧と基準電圧Vrefとを比較し、前置増幅器への入力電流信号のレベルが大きい場合には、前置増幅器の出力電圧が基準電圧Vrefを下回り、アバランシェフォトダイオードの出力電流が分流される。基準電圧Vrefの設定は難しく、基準電圧Vrefを小さく設定しすぎると分流量が小さくなり、前置増幅器のダイナミックレンジが狭くなる。その一方で、前置増幅器への入力電流信号が論理ハイレベルである区間のみアバランシェフォトダイオードの出力電流が分流されるため、基準電圧Vrefを大きく設定しすぎると分流量が大きくなり、S/N比が劣化する。
 図13は、特許文献2および3に記載の前置増幅器の構成を概略的に示す図である。
 図13を参照して、特許文献2および3に記載の前置増幅器は、帰還抵抗RFの抵抗値を切り替えることにより利得を変更する構成である。
 増幅回路51の利得をAとし、帰還抵抗RFの抵抗値をRFとし、受光素子PDの寄生容量等の入力容量をCinとすると、この前置増幅器のDC利得ZTおよび-3dB帯域f-3dBは、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 これらの式では、説明を簡単にするために増幅回路51の周波数特性を無視している、すなわち利得Aを固定値としている。しかしながら、帰還抵抗RFによって形成される帰還ループの帯域よりも増幅回路51の帯域が小さくなると、位相余裕が低下して帰還ループが不安定になる。ここで、増幅回路51が1次の特性を持つ場合(A(s)=A/(1+s))、増幅回路51には帰還ループの√2倍程度の帯域が必要になる。高利得かつ広帯域の前置増幅器を設計するためには、位相余裕を満足する範囲で増幅回路51の利得Aを大きくする必要がある。
 図13に示す前置増幅器において、光入力信号レベルが大きい場合に帰還抵抗値が小さくなるように切り替えると、DC利得ZTが小さくなるとともに帰還ループの帯域が大きくなる。そうすると、増幅回路51の帯域が不足し、位相余裕が低下してしまう。
 このような問題点を解決するためには、予め位相余裕を大きめに確保する、すなわち増幅回路51の帯域を広めに設計する必要がある。しかしながら、トランジスタの(利得×帯域)は一定であり、帯域を広くすると利得は小さくなることから、高周波用の前置増幅器ではこのような方法は適していない。
 また、特許文献2に記載の前置増幅器のように、位相補償コンデンサで帯域を制御することにより、帰還ループの帯域が大きくならないようにする方法では、パラメータ調整が難しく、製造ばらつきおよび温度変動の影響を受けやすい。
 それゆえに、本発明の目的は、ダイナミックレンジを広げ、かつ広帯域の信号を安定して増幅することが可能な増幅器および光モジュールを提供することである。
 この発明のある局面に係わる増幅器は、電流が入力される第1導通電極と、第1導通電極に結合された制御電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第1のトランジスタと、第1導通電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極と、第1のトランジスタの制御電極に結合された制御電極とを有する第2のトランジスタと、第2のトランジスタの制御電極に結合され、第2のトランジスタの出力を第2のトランジスタの制御電極に帰還するための帰還抵抗と、第1のトランジスタの第1導通電極から第2のトランジスタの制御電極および帰還抵抗へ流れる電流と、第1のトランジスタの第1導通電極から第2導通電極へ流れる電流との比率を制御するための可変抵抗素子とを備える。
 好ましくは、可変抵抗素子は、第1のトランジスタの第2導通電極と固定電圧源との間に接続されている。
 より好ましくは、可変抵抗素子は、第1のトランジスタの第2導通電極に結合された第1導通電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第3のトランジスタであり、増幅器は、さらに、第2のトランジスタの第2導通電極に結合された第1導通電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第4のトランジスタを備える。
 より好ましくは、第1のトランジスタのサイズおよび第2のトランジスタのサイズの比と、第3のトランジスタのサイズおよび第4のトランジスタのサイズの比とが略等しい。
 好ましくは、可変抵抗素子は、第1のトランジスタの制御電極と第1のトランジスタの第1導通電極および第2のトランジスタの制御電極との間に接続されている。
 好ましくは、第1のトランジスタおよび第2のトランジスタは同じ構造であり、増幅器は、さらに、第2のトランジスタの第1導通電極に結合され、帰還抵抗と同じ材料で形成された抵抗を備える。
 好ましくは、増幅器は、さらに、第1のトランジスタの第1導通電極に定電流を供給する電流源を備える。
 好ましくは、増幅器は、第1のトランジスタおよび可変抵抗素子の組を複数備え、各第1のトランジスタの第1導通電極および制御電極が第2のトランジスタの制御電極に共通に結合されている。
 好ましくは、増幅器は、さらに、第2のトランジスタの出力に基づいて、可変抵抗素子の抵抗値を3段階以上に制御する制御回路を備える。
 好ましくは、第1のトランジスタの第1導通電極には、受動的光ネットワークにおいて用いられる受光素子からの電流が入力される。
 この発明のある局面に係わる光モジュールは、光ファイバを備えた受動的光ネットワークにおいて用いられる光モジュールであって、光ファイバと光学的に結合された受光素子と、受光素子に結合された第1導通電極と、第1導通電極に結合された制御電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第1のトランジスタと、第1導通電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極と、第1のトランジスタの制御電極に結合された制御電極とを有する第2のトランジスタと、第2のトランジスタの制御電極に結合され、第2のトランジスタの出力を第2のトランジスタの制御電極に帰還するための帰還抵抗と、第1のトランジスタの第1導通電極から第2のトランジスタの制御電極および帰還抵抗へ流れる電流と、第1のトランジスタの第1導通電極から第2導通電極へ流れる電流との比率を制御するための可変抵抗素子と、可変抵抗素子の抵抗値を制御するための制御信号を受ける端子とを備える。
 本発明によれば、ダイナミックレンジを広げ、広帯域の信号を安定して増幅することができる。
本発明の第1の実施の形態に係る光ネットワークの構成を示す図である。 本発明の第1の実施の形態に係る局側装置の構成を示す図である。 本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。 本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。 本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM0およびM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。 本発明の第3の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。 本発明の第3の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。 本発明の第5の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。 本発明の第6の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。 本発明の第6の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンしている状態を示す回路図である。 特許文献2および3に記載の前置増幅器の構成を概略的に示す図である。
符号の説明
 1,11,12 利得制御回路、2 反転増幅回路、51 増幅回路、3 差動変換回路、4 出力バッファ回路、51 光受信部、52 光送信部、53 合分波部、54 後置増幅器、55 クロック/データ再生部、101~106 前置増幅器、201 レンズ、202 レンズ、203 発光素子、301 光モジュール、302 PON受信部、303 PON送信部、304 通信制御部、305 上位ネットワーク受信部、306 上位ネットワーク送信部、401A,401B,401C,401D 宅側装置、402 局側装置、501 光ネットワーク、502 上位ネットワーク、SP1,SP2 スプリッタ、T1~T3 端子、PD 受光素子、N0,N1~Nn,NF NPNトランジスタ、M0,M1~Mn,M11 NチャネルMOSトランジスタ、C0,C1~Cn コンデンサ、INV インバータ、RF 帰還抵抗、RL 抵抗、IS1,IS2 電流源。
 以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第1の実施の形態>
 図1は、本発明の第1の実施の形態に係る光ネットワークの構成を示す図である。
 図1を参照して、光ネットワーク501は、たとえばGE-PONであり、宅側装置401A,401B,401C,401Dと、局側装置402と、スプリッタSP1,SP2とを備える。宅側装置401A,401B,401C,401Dと局側装置402とは、スプリッタSP1およびSP2ならびに光ファイバOPTFを介して接続され、互いに光信号を送受信する。宅側装置401Dと局側装置402とは、スプリッタSP2および光ファイバOPTFを介して接続され、互いに光信号を送受信する。
 図2は、本発明の第1の実施の形態に係る局側装置の構成を示す図である。
 図2を参照して、局側装置402は、光モジュール301と、PON受信部302と、PON送信部303と、通信制御部304と、上位ネットワーク受信部305と、上位ネットワーク送信部306とを備える。光モジュール301は、光受信部51と、光送信部52と、合分波部53と、端子T1~T3とを含む。光受信部51は、レンズ201と、受光素子PDと、前置増幅器101とを含む。光送信部52は、レンズ202と、発光素子203とを含む。PON受信部302は、後置増幅器54と、クロック/データ再生部55とを含む。
 上位ネットワーク502からのフレームは上位ネットワーク受信部305により受信され、通信制御部304へ送られる。通信制御部304は、PON送信部303を介して光モジュール301の端子T3へフレームを出力する。光モジュール301の光送信部52において、発光素子203は、PON送信部303から受けた電気信号であるフレームを光信号に変換し、レンズ202および合分波部53を介して宅側装置へ送信する。
 一方、宅側装置から局側装置へ送信された光信号は、合分波部53を介して光受信部51により受信される。光受信部51において、受光素子PDは、合分波部53およびレンズ201を介して光ファイバOPTFと光学的に結合されている。受光素子PDは、光ファイバOPTFから受けた光量に応じた電気信号を出力する。前置増幅器101は、受光素子PDから受けた電気信号を増幅し、端子T1を介してPON受信部302へ出力する。
 PON受信部302において、後置増幅器54は、前置増幅器101から受けた電気信号を増幅してクロック/データ再生部55へ出力する。クロック/データ再生部55は、後置増幅器54から受けた電気信号に基づいて、クロックおよびデータを再生する。
 通信制御部304は、クロック/データ再生部55から受けたデータを復号化し、データフレームおよび制御フレームを復元する。通信制御部304は、復元したこれらのフレームに基づいて、上位ネットワーク送信部306を介して上位ネットワーク502へフレームを送信する。また、通信制御部304は、各宅側装置が送信した光信号が時間的に競合しないように、宅側装置からのバースト信号の開始タイミングおよび終了タイミング等を管理し、バースト信号を送信してもよい期間を示すウインドウを制御フレームとして宅側装置に通知する。宅側装置は、割り当てられたウインドウにおいてバースト信号を送信してくるため、通信制御部304は、管理しているタイミングに基づいてバースト信号の開始時または終了時にリセット信号RSTを端子T2を介して前置増幅器101へ出力する。
 図3は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す回路図である。
 図3を参照して、前置増幅器101は、利得制御回路1と、反転増幅回路2と、差動変換回路3と、出力バッファ回路4と、NPNトランジスタN1と、NチャネルMOSトランジスタM1,M11と、コンデンサC1と、インバータINVとを備える。反転増幅回路2は、NPNトランジスタN0,NFと、帰還抵抗RFと、抵抗RLと、電流源IS1とを含む。
 NPNトランジスタN1は、受光素子PDのアノードに接続されたコレクタおよびベースと、NチャネルMOSトランジスタM1のドレインおよびコンデンサC1の第1端に接続されたエミッタとを有する。
 NチャネルMOSトランジスタM1は、利得制御回路1からのゲイン切り替え信号GSWを受けるゲートと、接地電圧源PS2およびコンデンサC1の第2端に接続されたソースとを有する。
 NチャネルMOSトランジスタM11は、インバータINVの出力に接続されたゲートと、固定電圧源PS4に接続されたドレインと、コンデンサC1の第1端に接続されたソースとを有する。
 NPNトランジスタN0は、NPNトランジスタN1のベースおよび帰還抵抗RFの第1端に接続されたベースと、抵抗RLの第1端およびNPNトランジスタNFのベースに接続されたコレクタと、接地電圧源PS2に接続されたエミッタとを有する。NPNトランジスタNFは、固定電圧源PS3および抵抗RLの第2端に接続されたコレクタと、帰還抵抗RFの第2端および電流源IS1の第1端に接続されたエミッタとを有する。
 電流源IS1の第2端が接地電圧源PS2に接続されている。受光素子PDのカソードが固定電圧源PS1に接続されている。
 差動変換回路3は、反転増幅回路2の出力電圧VAMPすなわちNPNトランジスタNFのエミッタ電圧を差動信号に変換し、出力バッファ回路4を介して出力信号VOUTとして端子T1へ出力する。
 帰還抵抗RFは、出力電圧VAMPすなわちNPNトランジスタN0の出力を、NPNトランジスタN0のベースに帰還するために設けられている。
 NチャネルMOSトランジスタM1は、受光素子PDからNPNトランジスタN0および帰還抵抗RFへ流れる電流と、受光素子PDからNPNトランジスタN1のコレクタおよびエミッタを介して接地電圧源PS2へ流れる電流との比率を制御するために設けられている。
 図4は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。
 利得制御回路1は、出力電圧VAMPに基づいてゲイン切り替え信号GSWを生成して出力する。より詳細には、利得制御回路1は、バースト信号である光入力信号の先頭において、論理ローレベルのゲイン切替信号GSWを出力して光入力信号の受信を開始する。その後、光入力信号の複数ビット分の期間における、出力電圧VAMPのレベルの平均値を算出する。そして、利得制御回路1は、反転増幅回路2の出力電圧VAMPの平均値が所定値未満すなわち光入力信号のレベルが大きい場合には、論理ハイレベルのゲイン切り替え信号GSWを出力することにより、NチャネルMOSトランジスタM1をオンする。そうすると、NPNトランジスタN1のエミッタ電位が下がり、NPNトランジスタN1がオンする。これにより、NPNトランジスタN1およびNチャネルMOSトランジスタM1を通してバイパス電流ibpsが受光素子PDから接地電圧源PS2へ流れる。すなわち、受光素子PDからの検出電流ipdが反転増幅回路2への入力電流iinとバイパス電流ibpsとに分流される。このとき、NPNトランジスタN0およびN1のエミッタがそれぞれ接地電圧源PS2に結合されていることから、NPNトランジスタN0およびN1はカレントミラー回路のような動作を行ない、バイパス電流ibpsに対応する電流がNPNトランジスタN0のコレクタからエミッタへ流れる。なお、本発明において、「結合している」とは、各回路要素同士が直接接続されている状態に限らず、各回路要素間に他の回路要素が接続されている場合も含む。
 一方、利得制御回路1は、出力電圧VAMPの平均値が所定値以上すなわち光入力信号のレベルが小さい場合には、論理ローレベルのゲイン切り替え信号GSWを出力することにより、NチャネルMOSトランジスタM1をオフする。そうすると、NPNトランジスタN1のエミッタ電位が上がり、NPNトランジスタN1がオフする。これにより、受光素子PDからの検出電流ipdは分流されず、入力電流iinとして反転増幅回路2へ流れる。
 なお、利得制御回路1は、出力電圧VAMPのレベルの平均値の代わりに、バースト信号である光入力信号の先頭において、光入力信号の複数ビット分の期間における出力電圧VAMPのボトム値を検出し、このボトム値に基づいてゲイン切り替え信号GSWの論理レベルを決定する構成であってもよい。
 インバータINVは、利得制御回路1から受けたゲイン切り替え信号GSWの論理レベルを反転してNチャネルMOSトランジスタM11のゲートへ出力する。
 利得制御回路1は、バースト信号ごとに通信制御部304からリセット信号RSTを受けて、NチャネルMOSトランジスタM11をオンする。これにより、固定電圧源PS4からコンデンサC1に電荷が注入されるため、NPNトランジスタN1のエミッタ電位を迅速に上昇させることができる。ここで、固定電圧源PS4の出力電圧は、NPNトランジスタN1のベース・エミッタ間電圧より大きい電圧であればよい。ただし、NチャネルMOSトランジスタM1をオフからオンにした場合において、コンデンサC1から電荷を引き抜く時間を短縮するためには、固定電圧源PS4の出力電圧は、NPNトランジスタN1のベース・エミッタ間電圧に近い電圧であることが好ましい。
 また、利得制御回路1は、バースト信号ごとに通信制御部304からリセット信号RSTを受けて、出力電圧VAMPの平均値をクリアする。バースト信号の光強度は、宅側装置ごとに大きく異なる場合がある。バースト信号ごとに出力電圧VAMPの平均値をクリアすることにより、過去に受信したバースト信号の影響を受けることなく、新たに受信するバースト信号に対して、出力電圧VAMPのレベルを精度良く検出して、ゲイン切り替え信号GSWを生成することができる。
 なお、利得制御回路1は、通信制御部304からリセット信号RSTを受ける構成に限らず、バースト信号の開始または終了を自ら検出し、ゲイン切り替え信号GSWの論理レベルを初期値に戻す構成であってもよい。また、局側装置402がバースト信号ではなく連続信号を受信する場合には、リセット信号RSTは存在しなくてもよい。
 ここで、NPNトランジスタN0の相互コンダクタンスをgm0とし、反転増幅回路2の利得をAとし、帰還抵抗RFの抵抗値をRFとし、抵抗RLの抵抗値をRLとする。前置増幅器101の入力ノードすなわち受光素子PDとNPNトランジスタN1との接続ノードから見た帰還抵抗RFのAC的なインピーダンスZRFは、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 また、NPNトランジスタN0のベース電流をib0とし、ベース電圧をvb0とし、電流利得をhfe0とする。前置増幅器101の入力ノードから見たNPNトランジスタN0のAC的なインピーダンスZ0は、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 ここで、一般的にhfe0>>(RF/RL)であることから、式(1)および式(2)を比較した場合、帰還形TIAである前置増幅器101の入力インピーダンスは式(1)で近似できる。
 次に、NPNトランジスタN1のベース電流をib1とし、ベース電圧をvb1とし、相互コンダクタンスをgm1とし、真性エミッタ抵抗をre1とし、電流利得をhfe1とする。前置増幅器101の入力ノードから見たバイパス電流ibpsの経路のAC的なインピーダンスZ1は、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 NチャネルMOSトランジスタM1がオフしている場合、受光素子PDからの検出電流ipdはすべて入力電流iinとなる。一方、NチャネルMOSトランジスタM1がオンしている場合、検出電流ipdは式(1)で表わされるインピーダンスZRFと式(3)で表わされるインピーダンスZ1との比率に基づいて、以下の式(4)のように入力電流iinとバイパス電流ibpsとに分流される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 ここで、NPNトランジスタN0およびN1のベース・エミッタ間電圧は等しく、NPNトランジスタN1およびNPNトランジスタN0の動作点は等しい。また、NPNトランジスタN0およびN1は同じ構造のトランジスタである。これにより、gm1/gm0はNPNトランジスタN0およびN1のサイズ比で決まる値となり、製造ばらつきおよび温度変動に対して安定した値となる。
 なお、本発明において、「トランジスタのサイズ」とはトランジスタの相互コンダクタンスを決める構造上のサイズを意味する。たとえば、NPNトランジスタではエミッタ幅×エミッタ長であり、NチャネルMOSトランジスタではゲート幅/ゲート長である。また、複数のトランジスタを並列に接続する場合には、サイズは並列接続された各トランジスタのサイズの和となる。
 同様に、帰還抵抗RFおよび抵抗RLをたとえばポリ抵抗および金属抵抗等の同種のデバイスで製造する、すなわち同じ材料で形成することにより、RF/RLは製造ばらつきおよび温度変動に対して安定した値となる。
 また、一般的にRF/RL>1であるため、NPNトランジスタN0と同程度のサイズのNPNトランジスタN1によって入力電流iinを効果的に抑制することができる。
 たとえば、帰還抵抗RFの抵抗値を1000Ωとし、抵抗RLの抵抗値を200Ωとし、NPNトランジスタN0およびN1のサイズを等しくする、すなわちgm1/gm0=1とした場合、入力電流iinとバイパス電流ibpsとの比は以下のようになる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 このように、NチャネルMOSトランジスタM1をオンすることにより、NチャネルMOSトランジスタM1がオフしている場合と比べて入力電流iinを1/6に抑えることができるため、前置増幅器101の強入力耐性を6倍に高めることができる。
 NチャネルMOSトランジスタM1がオフしている場合の前置増幅器101の利得ZTは、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 また、NチャネルMOSトランジスタM1がオンしている場合の前置増幅器101の利得ZTは、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 このように、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器では、出力電圧VAMPに基づいて、受光素子PDからの検出電流ipdの分流比率すなわち入力電流iinとバイパス電流ibpsとの比を制御する。このような構成により、バイパス電流ibpsが検出電流ipdに対する比率で決まり、強入力のときはバイパス電流ibpsの量を多くし、弱入力のときはバイパス電流ibpsの量を少なくすることができる。これにより、反転増幅回路2が飽和して前置増幅器101のダイナミックレンジが狭くなることを防ぐことができ、かつS/N比の劣化を防ぐことができる。また、検出電流ipdの分流比率は、抵抗の比率とトランジスタの相互コンダクタンスの比率とで決まる製造ばらつきおよび温度変動に対して安定した値であり、パラメータ調整が容易である。
 また、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器では、出力信号VOUTを監視し、光入力信号のレベルが大きい場合には、NチャネルMOSトランジスタM1をオンする。これにより、受光素子PDからの検出電流ipdの一部をバイパス電流ibpsとしてグランドにバイパスし、反転増幅回路2への入力電流iinを小さくすることで、前置増幅器101の利得を見かけ上小さくする。このような構成により、帰還抵抗の抵抗値を切り替える必要がなくなるため、利得切り替え前後で帰還ループの特性に変更を生じさせず、位相余裕の制御を不要にすることができる。
 また、高周波用のTIAでは、高速動作を実現するために、低周波用のTIAと比べて入力インピーダンスすなわち帰還抵抗の抵抗値が小さく設定される。このため、図3に示す前置増幅器101で考えた場合、バイパス電流ibpsの経路の抵抗成分を低減する、すなわちNチャネルMOSトランジスタM1のオン抵抗を小さくする必要がある。しかしながら、NチャネルMOSトランジスタM1のオン抵抗は製造ばらつきおよび温度変動が大きいために制御しにくいパラメータであり、このオン抵抗を無視できる程度に小さくするためには、NチャネルMOSトランジスタM1のサイズを大きくする必要がある。このとき、前置増幅器の入力ノードにおける寄生容量が大きくなると、高周波動作が困難になってしまう。
 しかしながら、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器では、NチャネルMOSトランジスタM1は、NPNトランジスタN1のエミッタと接地電圧源PS2との間に接続されている。これにより、NPNトランジスタN1はエミッタ接地状態で動作するため、NチャネルMOSトランジスタM1の寄生容量は前置増幅器の入力ノードからは見えない。また、NチャネルMOSトランジスタM1の寄生容量が大きくなるほど、NPNトランジスタN1のエミッタは高周波領域において強く接地される。すなわち、NチャネルMOSトランジスタM1のオン抵抗を小さくするとともに、高周波領域におけるNPNトランジスタN1の動作を安定化することができる。
 また、NPNトランジスタN0のベース・エミッタ間容量をCbe0とし、ベース・コレクタ間容量をCbc0とすると、入力ノードからはCbe0+(1+A)×Cbc0の容量が見える。ただし、(1+A)はミラー効果によるものである。これに対して、入力ノードから見たNPNトランジスタN1の容量はベース・エミッタ間容量Cbe1のみを考慮すればよい。したがって、前置増幅器101の入力容量に対するNPNトランジスタN1の影響を抑えることができる。
 また、特許文献1に記載の前置増幅器では、光入力信号の1ビットごとにアバランシェフォトダイオードの出力電流を分流するか否かを切り替える構成である。このため、高速な制御ループが必要となることから、広帯域化を図ることが困難である。
 しかしながら、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器では、利得制御回路1は、バースト信号の先頭において、光入力信号の複数ビット分の期間における、出力電圧VAMPのレベルの平均値を算出する。そして、利得制御回路1は、出力電圧VAMPの平均値に基づいて、ゲイン切り替え信号GSWを生成する。その後のバースト信号区間においては、ゲイン切り替え信号GSWを固定しておけばよく、制御ループは動作しない。このような構成により、高速な制御ループが不要となることから、容易に広帯域化を図ることができる。
 なお、NPNトランジスタN0およびN1は、バイポーラトランジスタ以外のトランジスタであってもよく、たとえばNチャネルMOSトランジスタに置き換えることが可能である。また、コンデンサC1は、NチャネルMOSトランジスタM1の寄生容量が十分にある場合は、設けなくてもよい。
 次に、本発明の他の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第2の実施の形態>
 本実施の形態は、第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて回路のマッチングを改善した前置増幅器に関する。
 図5は、本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。図6は、本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM0およびM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。
 図5を参照して、前置増幅器102は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて、さらに、NチャネルMOSトランジスタM0と、コンデンサC0とを備える。
 NチャネルMOSトランジスタM0は、NPNトランジスタN0のエミッタおよびコンデンサC0の第1端に接続されたドレインと、接地電圧源PS2およびコンデンサC0の第2端に接続されたソースと、ゲートとを有する。
 NチャネルMOSトランジスタM0のゲートには、NチャネルMOSトランジスタM0をオンするための電圧が常に供給される。
 また、NチャネルMOSトランジスタM0のサイズ:NチャネルMOSトランジスタM1のサイズ=NPNトランジスタN0のサイズ:NPNトランジスタN1のサイズとなるようにこれらのトランジスタのサイズが設定される。
 本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器では、NチャネルMOSトランジスタM1のサイズを大きくすることで、そのオン抵抗をある程度小さくすることができるが、NチャネルMOSトランジスタM1の小さいオン抵抗により、NPNトランジスタN0のエミッタとNPNトランジスタN1のエミッタとの間に電位差が生ずる。
 しかしながら、本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器では、NチャネルMOSトランジスタM0をNPNトランジスタN0のエミッタとグランドとの間に挿入することにより、回路のマッチングが改善される。これにより、NPNトランジスタN0のエミッタとNPNトランジスタN1のエミッタとの電位差を小さくすることができ、NチャネルMOSトランジスタM0のオン抵抗のばらつきに起因する特性変動を抑えることができる。
 その他の構成および動作は第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
 次に、本発明の他の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第3の実施の形態>
 本実施の形態は、第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて利得切り替え用のトランジスタの配置を変更した前置増幅器に関する。
 図7は、本発明の第3の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。図8は、本発明の第3の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンし、かつNチャネルMOSトランジスタM11がオフしている状態を示す回路図である。
 図7を参照して、利得切り替え用のNチャネルMOSトランジスタM1が、NPNトランジスタN1のベースノードに配置されている。すなわち、NチャネルMOSトランジスタM1は、NPNトランジスタN1のベースに接続されたソースと、NPNトランジスタN1のコレクタ、NPNトランジスタN0のベースおよび帰還抵抗RFの第1端に接続されたドレインと、利得制御回路1からのゲイン切り替え信号GSWを受けるゲートとを有する。
 また、NチャネルMOSトランジスタM11は、NチャネルMOSトランジスタM1のソースおよびNPNトランジスタN1のベースに接続されたドレインと、接地電圧源PS2に接続されたソースとを有する。
 利得制御回路1は、光入力信号の複数ビット分の期間における、反転増幅回路2の出力電圧VAMPのレベルの平均値を算出する。そして、利得制御回路1は、出力電圧VAMPの平均値が所定値未満である場合には、論理ハイレベルのゲイン切り替え信号GSWを出力することにより、NチャネルMOSトランジスタM1をオンする。そうすると、NPNトランジスタN1のベース電位が上がり、NPNトランジスタN1がオンする。これにより、NPNトランジスタN1を通してバイパス電流ibpsが受光素子PDから接地電圧源PS2へ流れる。すなわち、受光素子PDからの検出電流ipdが反転増幅回路2への入力電流iinとバイパス電流ibpsとに分流される。このとき、NPNトランジスタN0およびN1はカレントミラー回路に近い動作を行ない、バイパス電流ibpsに対応する電流がNPNトランジスタN0のコレクタからエミッタへ流れる。
 一方、利得制御回路1は、出力電圧VAMPの平均値が所定値以上である場合には、論理ローレベルのゲイン切り替え信号GSWを出力することにより、NチャネルMOSトランジスタM1をオフし、かつNチャネルMOSトランジスタM11をオンする。そうすると、NPNトランジスタN1のベース電位が接地電位となり、NPNトランジスタN1がオフする。これにより、受光素子PDからの検出電流ipdは分流されず、入力電流iinとして反転増幅回路2へ流れる。
 なお、利得制御回路1は、出力電圧VAMPのレベルの平均値の代わりに、バースト信号である光入力信号の先頭において、光入力信号の複数ビット分の期間における出力電圧VAMPのボトム値を検出し、このボトム値に基づいてゲイン切り替え信号GSWの論理レベルを決定する構成であってもよい。
 NチャネルMOSトランジスタM1のオン抵抗をRON1とすると、前置増幅器103の入力ノードから見たバイパス経路のインピーダンスZ1は、以下の式で表わされる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 NPNトランジスタN1のベースノードは高周波ラインであり、寄生容量に敏感である。このため、NチャネルMOSトランジスタM1のサイズを大きくすることは困難である。
 しかしながら、式(8)から、オン抵抗RON1は1/(hfe1+1)となり、一般にhfe1>100である。このため、NチャネルMOSトランジスタM1のサイズが比較的小さく、オン抵抗RON1が大きい場合でも、1/gm1>>RON1/(1+hfe1)となることから、Z1~1/gm1と近似することができる。すなわち、式(8)を式(3)に近似できるため、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器に近い効果を奏することができる。
 ここで、NチャネルMOSトランジスタM1がオフしている場合、NチャネルMOSトランジスタM11は前置増幅器103の信号ラインすなわち検出電流ipdの経路から分離されるため、NチャネルMOSトランジスタM11の寄生容量は前置増幅器103の特性に影響しない。
 また、NチャネルMOSトランジスタM1がオンしている場合、NチャネルMOSトランジスタM11の寄生容量は前置増幅器103の信号ラインに影響する。しかしながら、NチャネルMOSトランジスタM11は小さいサイズのものを使用することができるため、この影響を最小限に抑えることができる。さらに、NチャネルMOSトランジスタM1がオンする場合には、光入力信号のレベルが大きいことから、前置増幅器103の帯域がNチャネルMOSトランジスタM11の寄生容量によって小さくなったとしても、前置増幅器103の特性に与える影響は小さい。
 その他の構成および動作は第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
 次に、本発明の他の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第4の実施の形態>
 本実施の形態は、第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べてDCバイアス電流を増強した前置増幅器に関する。
 図9は、本発明の第4の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。
 図9を参照して、前置増幅器104は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて、さらに、電流源IS2を備える。
 電流源IS2は、固定電圧源PS5と、NPNトランジスタN1のコレクタとの間に接続されている。
 電流源IS2は、論理ハイレベルのゲイン切り替え信号GSWを受けて、NPNトランジスタN1のコレクタに定電流Idcを供給する。
 前置増幅器101~103におけるNPNトランジスタN1は、オン状態においてDCバイアス電流Ibiasを必要とする。このDCバイアス電流Ibiasは、検出電流ipdおよび反転増幅回路2によってまかなわれる。
 ここで、検出電流ipdが大きい場合には、NチャネルMOSトランジスタM1をオン状態として前置増幅器の利得を低い方に切り替えると、検出電流ipdによってNPNトランジスタN1のDCバイアス電流をまかなうことができる。
 一方、検出電流ipdが小さい場合において、NチャネルMOSトランジスタM1をオン状態として前置増幅器の利得を低い方に切り替えると、検出電流ipdから十分なDCバイアス電流を確保することができず、反転増幅回路2が不足分を供給しようとする。このとき、反転増幅回路2に十分な電流供給能力がないと、前置増幅器の入力ノードの電位が下がり、前置増幅器の出力ノードすなわちNPNトランジスタNFのエミッタ電位が上がる。これにより、NPNトランジスタN0のベース・エミッタ間電圧およびNPNトランジスタNFのベース・エミッタ間電圧が低下するため、前置増幅器の動作速度が低下してしまう場合がある。
 しかしながら、本発明の第4の実施の形態に係る前置増幅器では、NチャネルMOSトランジスタM1をオン状態として前置増幅器の利得を低い方に切り替える場合には、電流源IS2からNPNトランジスタN1のコレクタに定電流Idcを供給する。このような構成により、検出電流ipdを分流する場合でも、十分なDCバイアス電流を確保することができる。
 その他の構成および動作は第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
 次に、本発明の他の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第5の実施の形態>
 本実施の形態は、第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて多段階の利得切り替えを可能とした前置増幅器に関する。
 図10は、本発明の第5の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。
 図10を参照して、前置増幅器105は、利得制御回路1の代わりに利得制御回路11を備え、かつ本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様のNチャネルMOSトランジスタM1およびコンデンサC1の組を複数備える。すなわち、前置増幅器105は、利得制御回路11と、反転増幅回路2と、NPNトランジスタN1~Nnと、NチャネルMOSトランジスタM1~Mnと、コンデンサC1~Cnとを備える。
 NPNトランジスタN1~Nnのコレクタが受光素子PDのアノードに共通に接続され、ベースがNPNトランジスタN0のベースおよび帰還抵抗RFの第1端に共通に接続され、エミッタがNチャネルMOSトランジスタM1~MnおよびコンデンサC1~Cnのうち、対応のNチャネルMOSトランジスタのドレインおよび対応のコンデンサの第1端に接続されている。
 前置増幅器105では、複数のバイパス経路が設けられ、多段階の利得切替が可能である。
 すなわち、利得制御回路11は、出力電圧VAMPに基づいてゲイン切り替え信号GSW1~GSWnを生成し、NチャネルMOSトランジスタM1~Mnのゲートへそれぞれ出力する。NチャネルMOSトランジスタM1~Mnは、オン状態のとき、それぞれバイパス電流ibps1~ibpsnを流す。NチャネルMOSトランジスタM1~Mnの中からオン状態とする1または複数のNチャネルMOSトランジスタを選択することにより、多段階の利得切替が可能となる。また、並列接続された複数の帰還抵抗を設けることで多段階の利得切替を行なう構成と比べて、NPNトランジスタN1~Nnのサイズを調整することにより、容易に利得を調整することができる。
 なお、前置増幅器105は、本発明の第2の実施の形態に係る前置増幅器と同様のマッチング用NチャネルMOSトランジスタM0をNチャネルMOSトランジスタM1~Mnに対応して複数備える構成であってもよい。また、本発明の第3の実施の形態に係る前置増幅器と同様に、DCバイアス電流を供給する電流源IS2を備える構成であってもよい。
 その他の構成および動作は第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
 次に、本発明の他の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 <第6の実施の形態>
 本実施の形態は、第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べてバイパス経路の抵抗値を連続的に変化させることを可能とした前置増幅器に関する。
 図11は、本発明の第6の実施の形態に係る前置増幅器の構成を示す図である。図12は、本発明の第6の実施の形態に係る前置増幅器において、NチャネルMOSトランジスタM1がオンしている状態を示す回路図である。
 図11を参照して、前置増幅器106は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて、利得制御回路1の代わりに利得制御回路12を備える。利得制御回路12は、利得制御回路1と異なり、リセット信号RSTを受けない。また、前置増幅器106は、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と比べて、NチャネルMOSトランジスタM11およびインバータINVを備えない。
 利得制御回路12は、出力電圧VAMPの平均値に基づいてゲイン制御信号GCNTを生成し、NチャネルMOSトランジスタM1のゲートおよびNチャネルMOSトランジスタM11のゲートへ出力する。より詳細には、利得制御回路12は、出力電圧VAMPに基づいて、ゲイン制御信号GCNTの電圧値を連続的にすなわち3段階以上に制御することにより、NチャネルMOSトランジスタM1のオン抵抗を連続的に制御する。すなわち、図12に示すように、NチャネルMOSトランジスタM1は、可変抵抗として機能する。
 これにより、NPNトランジスタN1のエミッタ電位すなわちベース・エミッタ間電圧を連続的に制御できるため、相互コンダクタンスgm1を連続的に制御することができる。
 ここで、前置増幅器101~105では、利得を切り替えると、出力ノードのDC電位が変化する。これに起因して、通信信号受信中の利得切替時に受信エラーが生じる場合は、前置増幅器101~105は連続信号が送受信される通信システムには好適ではない。一方、受動的ネットワークの局側装置のように、光入力信号がバースト信号であり、かつ、宅側装置ごとに光入力信号のパワーが異なりうる場合には好適である。バースト信号ごとにバースト信号の受信開始時に利得を決定して固定できるため、通信信号受信中に利得が切り替わることがなく、受信エラーが発生しない。したがって、前置増幅器101~105を、リセット信号RSTを受けるための端子T2を備えた光モジュール301に搭載することで、ダイナミックレンジを広げ、かつ広帯域の信号を安定して増幅することが可能なPONに適した光モジュールを得ることができる。
 一方、本発明の第6の実施の形態に係る前置増幅器では、NチャネルMOSトランジスタM1が完全にオンしている状態では、本発明の第1の実施の形態に係る前置増幅器と同様の増幅特性となる。しかしながら、NチャネルMOSトランジスタM1のゲート電圧値すなわちゲイン制御信号GCNTのレベルを連続的に制御することにより、前置増幅器106の利得を連続的に変化させることができる。これにより、連続信号を良好に受信することができる。また、出力ノードのレベルをモニタして、光入力信号のレベルに応じてゲイン制御信号GCNTすなわちNチャネルMOSトランジスタM1のゲート電圧を制御するフィードバックループを構成することで、NチャネルMOSトランジスタM1の特性のばらつきに対応することができる。フィードバックループは、特許文献1に記載の構成のように光入力信号の1ビットごとに応答する必要はなく、たとえば、光入力信号の複数ビット分の期間における、出力電圧VAMPのレベルの平均値に応答すればよい。このため、広帯域化を図ることが容易である。
 今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

Claims (11)

  1.  電流が入力される第1導通電極と、前記第1導通電極に結合された制御電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第1のトランジスタ(N1)と、
     第1導通電極と、前記固定電圧源に結合された第2導通電極と、前記第1のトランジスタ(N1)の制御電極に結合された制御電極とを有する第2のトランジスタ(N0)と、
     前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極に結合され、前記第2のトランジスタ(N0)の出力を前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極に帰還するための帰還抵抗(RF)と、
     前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極および前記帰還抵抗(RF)へ流れる電流と、前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から第2導通電極へ流れる電流との比率を制御するための可変抵抗素子(M1)とを備える増幅器。
  2.  前記可変抵抗素子(M1)は、前記第1のトランジスタ(N1)の第2導通電極と前記固定電圧源との間に接続されている請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  3.  前記可変抵抗素子(M1)は、前記第1のトランジスタ(N1)の第2導通電極に結合された第1導通電極と、前記固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第3のトランジスタ(M1)であり、
     前記増幅器は、さらに、
     前記第2のトランジスタ(N0)の第2導通電極に結合された第1導通電極と、前記固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第4のトランジスタ(M0)を備える請求の範囲第2項に記載の増幅器。
  4.  前記第1のトランジスタ(N1)のサイズおよび前記第2のトランジスタ(N0)のサイズの比と、前記第3のトランジスタ(M1)のサイズおよび前記第4のトランジスタ(M0)のサイズの比とが略等しい請求の範囲第3項に記載の増幅器。
  5.  前記可変抵抗素子(M1)は、前記第1のトランジスタ(N1)の制御電極と前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極および前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極との間に接続されている請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  6.  前記第1のトランジスタ(N1)および前記第2のトランジスタ(N0)は同じ構造であり、
     前記増幅器は、さらに、
     前記第2のトランジスタ(N0)の第1導通電極に結合され、前記帰還抵抗(RF)と同じ材料で形成された抵抗(RL)を備える請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  7.  前記増幅器は、さらに、
     前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極に定電流を供給する電流源を備える請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  8.  前記増幅器は、前記第1のトランジスタ(N1)および前記可変抵抗素子(M1)の組を複数備え、各前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極および制御電極が前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極に共通に結合されている請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  9.  前記増幅器は、さらに、
     前記第2のトランジスタ(N0)の出力に基づいて、前記可変抵抗素子(M1)の抵抗値を3段階以上に制御する制御回路(12)を備える請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  10.  前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極には、受動的光ネットワーク(501)において用いられる受光素子(PD)からの電流が入力される請求の範囲第1項に記載の増幅器。
  11.  光ファイバを備えた受動的光ネットワーク(501)において用いられる光モジュールであって、
     前記光ファイバと光学的に結合された受光素子(PD)と、
     前記受光素子(PD)に結合された第1導通電極と、前記第1導通電極に結合された制御電極と、固定電圧源に結合された第2導通電極とを有する第1のトランジスタ(N1)と、
     第1導通電極と、前記固定電圧源に結合された第2導通電極と、前記第1のトランジスタ(N1)の制御電極に結合された制御電極とを有する第2のトランジスタ(N0)と、
     前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極に結合され、前記第2のトランジスタ(N0)の出力を前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極に帰還するための帰還抵抗(RF)と、
     前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から前記第2のトランジスタ(N0)の制御電極および前記帰還抵抗(RF)へ流れる電流と、前記第1のトランジスタ(N1)の第1導通電極から第2導通電極へ流れる電流との比率を制御するための可変抵抗素子(M1)と、
     前記可変抵抗素子(M1)の抵抗値を制御するための制御信号を受ける端子(T2)とを備える光モジュール。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011176552A (ja) * 2010-02-24 2011-09-08 Renesas Electronics Corp 光増幅回路及びフォトカプラ
JP5185354B2 (ja) * 2010-11-26 2013-04-17 リズム時計工業株式会社 光学モーションセンサー
JP5423994B2 (ja) * 2011-01-13 2014-02-19 住友電気工業株式会社 半導体集積回路、増幅器および光モジュール
CN102244499A (zh) * 2011-06-08 2011-11-16 佛山敏石芯片有限公司 一种高灵敏度跨阻放大器前端电路
CN102323529B (zh) * 2011-08-08 2016-04-20 上海华虹宏力半导体制造有限公司 Mos晶体管的寄生双极型晶体管的特性表征方法
CN102638734B (zh) * 2012-03-12 2014-10-29 东南大学 高速突发光接收机前端电路
JP5811955B2 (ja) 2012-06-05 2015-11-11 住友電気工業株式会社 バースト信号の受信装置及び方法、ponの局側装置、ponシステム
WO2014128986A1 (ja) * 2013-02-19 2014-08-28 三菱電機株式会社 バースト光受信器、バースト光受信器のapdのバイアス電圧制御方法
JP6747774B2 (ja) 2015-03-19 2020-08-26 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 集積回路、光子検出装置、及び放射線分析装置
EP3776859A1 (en) * 2018-03-30 2021-02-17 Intel IP Corporation Transceiver baseband processing
US10608589B2 (en) * 2018-08-23 2020-03-31 Semtech Corporation Multiplexed integrating amplifier for loss of signal detection

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63151205A (ja) 1986-12-16 1988-06-23 Fujitsu Ltd 光受信回路
JPH098563A (ja) 1995-06-20 1997-01-10 Nec Miyagi Ltd 光受信前置増幅器
JPH09186659A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Fujitsu Ltd 増幅回路
JP2000305644A (ja) * 1992-03-09 2000-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電流発生装置
JP2006101223A (ja) 2004-09-29 2006-04-13 Nec Commun Syst Ltd 前置増幅装置及び前置増幅装置の利得制御方法
JP2007005901A (ja) * 2005-06-21 2007-01-11 Nec Electronics Corp 受光回路および受光回路を備える半導体集積回路装置
JP2008118497A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Nippon Signal Co Ltd:The カレントミラー回路及びカレントミラー回路の利得制御装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4972230A (ja) * 1972-11-20 1974-07-12
JPS6372230A (ja) * 1986-09-16 1988-04-01 Hitachi Cable Ltd 光受信回路
JPH06164356A (ja) * 1992-11-26 1994-06-10 Sanyo Electric Co Ltd 光検出器
JP3091801B2 (ja) * 1993-02-09 2000-09-25 松下電器産業株式会社 電流発生装置
GB2343943B (en) * 1998-11-18 2003-11-26 Ericsson Telefon Ab L M Detection circuit
JP3475877B2 (ja) * 1999-10-25 2003-12-10 日本電気株式会社 前置増幅回路
CN1890876B (zh) * 2003-12-04 2010-11-10 日本电气株式会社 具有电流补偿电路的可变增益电压/电流转换器电路
US7042295B2 (en) * 2004-03-31 2006-05-09 Cornell Research Foundation, Inc. Low-voltage, low-power transimpedance amplifier architecture
JP4470744B2 (ja) * 2005-01-20 2010-06-02 パナソニック株式会社 高周波信号受信装置とこれを用いた電子機器
DE102005044679A1 (de) * 2005-09-19 2007-03-22 Vishay Semiconductor Gmbh Schaltungsanordnung zur Versorgung einer Photodiode mit einer Vorspannung
US20080007343A1 (en) * 2006-07-10 2008-01-10 Jds Uniphase Corporation Tuning A Trans-Impedance Amplifier

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63151205A (ja) 1986-12-16 1988-06-23 Fujitsu Ltd 光受信回路
JP2000305644A (ja) * 1992-03-09 2000-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電流発生装置
JPH098563A (ja) 1995-06-20 1997-01-10 Nec Miyagi Ltd 光受信前置増幅器
JPH09186659A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Fujitsu Ltd 増幅回路
JP2006101223A (ja) 2004-09-29 2006-04-13 Nec Commun Syst Ltd 前置増幅装置及び前置増幅装置の利得制御方法
JP2007005901A (ja) * 2005-06-21 2007-01-11 Nec Electronics Corp 受光回路および受光回路を備える半導体集積回路装置
JP2008118497A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Nippon Signal Co Ltd:The カレントミラー回路及びカレントミラー回路の利得制御装置

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