JP6747774B2 - 集積回路、光子検出装置、及び放射線分析装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 54
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 53
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 description 16
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 12
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 5
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 2
- 238000002595 magnetic resonance imaging Methods 0.000 description 2
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
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- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Nuclear Medicine (AREA)
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Description
図1は、実施形態にかかる第1の集積回路が備える電流バッファ1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、電流バッファ1は、分流部2及び利得調整部3を有し、第1利得調整信号に応じて利得を変更可能にされている。なお、電流バッファの利得は、入力電流に対する出力電流の増倍率である。電流バッファ1は、例えばCMOSプロセスの集積回路などにおいて形成され、他の回路とともに集積されてもよい。
次に、放射線検出装置400として機能する光子検出装置300を有する放射線分析装置について説明する。図16は、光子検出装置300を備えた放射線検出装置400を有する放射線分析装置の構成例を示す構成図である。図17は、図16に示した放射線分析装置における放射線検出装置400の位置を模式的に示した模式図である。放射線分析装置は、フォトンカウンティングCTを実行可能なX線CT装置である。すなわち、放射線分析装置は、放射線検出装置400を備え、フォトンカウンティングによって被検体を透過したX線に由来する光子も計数することにより、SN比の高いX線CT画像データを再構成可能な装置である。
2,2a〜2e 分流部
3,3a〜3f 利得調整部
4 レギュレーションアンプ
5 トランジスタ
6 可変利得積分器
7 切替部
8 蓄積部
9 変換部
10 架台装置
12 X線発生装置(放射線源)
20 寝台装置
30 コンソール装置
70 積分ノード
90 アンプ
100 集積回路
200 電流積分器
300 光子検出装置
301 光子検出部
302 電源(電圧供給部)
303 A/D変換器
304 制御部
400 放射線検出装置
Claims (9)
- 入力された電流を複数の電流経路に分流する分流部と、
前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に分流した電流を組合せで合成すること、又は前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に電流を分流する分流比を変更することにより、前記分流部に入力された電流の利得を調整する利得調整部と、を有し、
前記利得調整部は、前記電流経路の少なくともいずれかに流れる電流を、ダイオードとして機能するトランジスタを介して破棄することにより、前記分流部に入力された電流の利得を調整する、
集積回路。 - 入力された電流を複数の電流経路に分流する分流部と、
前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に分流した電流を組合せで合成すること、又は前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に電流を分流する分流比を変更することにより、前記分流部に入力された電流の利得を調整する利得調整部と、
前記利得調整部が利得を調整した電流を、外部からの第2利得調整信号に応じて積分し、利得を調整した電圧に変換する可変利得積分器と、
を有する集積回路。 - 入力された電流を複数の電流経路に分流する分流部と、
前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に分流した電流を組合せで合成すること、又は前記複数の電流経路のそれぞれに設けられた選択スイッチを外部からの第1利得調整信号に応じて切り替えて、前記分流部が複数の電流経路に電流を分流する分流比を変更することにより、前記分流部に入力された電流の利得を調整する利得調整部と、
前記利得調整部が利得を調整した電流を、外部からの第2利得調整信号に応じて積分し、利得を調整した電圧に変換する可変利得積分器と、
を有し、
前記利得調整部は、前記電流経路の少なくともいずれかに流れる電流を、ダイオードとして機能するトランジスタを介して破棄することにより、前記分流部に入力された電流の利得を調整する、
集積回路。 - 前記電流経路は、
ゲートに所定の電圧が印加されてドレイン電流を流すトランジスタである
請求項1乃至3のうちいずれか一項に記載の集積回路。 - 前記分流部は、
前記トランジスタのゲートそれぞれに対し、外部から入力される基準電圧に応じて所定の電圧を印加するレギュレーションアンプをさらに有する
請求項4に記載の集積回路。 - 前記利得調整部は、
前記電流経路の少なくともいずれかに流れる電流量を変化させることにより、前記分流比を変更する
請求項1乃至5のうちいずれか一項に記載の集積回路。 - 前記可変利得積分器が変換した電圧の利得を変換するとともに、前記可変利得積分器のインピーダンスを変換する変換部をさらに有する
請求項2又は3に記載の集積回路。 - 光子が入射されることによって電流を請求項6に記載の集積回路に対して出力する光子検出部と、
前記光子検出部に電圧を供給する電圧供給部と、
請求項6に記載の集積回路が利得を調整して変換した電圧をA/D変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器に入力される電圧範囲が前記A/D変換器のダイナミックレンジと異なる場合に、請求項6に記載の集積回路に対して前記第1利得調整信号及び前記第2利得調整信号の少なくともいずれかを出力することにより、前記A/D変換器に入力される電圧範囲を前記A/D変換器のダイナミックレンジに近付けるように制御する制御部と、
を有する光子検出装置。 - 放射線源と、
前記放射線源が放射した放射線に起因する光子を検出する請求項8に記載の光子検出装置と、
を有する放射線分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015056285A JP6747774B2 (ja) | 2015-03-19 | 2015-03-19 | 集積回路、光子検出装置、及び放射線分析装置 |
US14/947,317 US9864068B2 (en) | 2015-03-19 | 2015-11-20 | Circuit, photon detector, and radiation analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015056285A JP6747774B2 (ja) | 2015-03-19 | 2015-03-19 | 集積回路、光子検出装置、及び放射線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016178432A JP2016178432A (ja) | 2016-10-06 |
JP6747774B2 true JP6747774B2 (ja) | 2020-08-26 |
Family
ID=56924607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015056285A Active JP6747774B2 (ja) | 2015-03-19 | 2015-03-19 | 集積回路、光子検出装置、及び放射線分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9864068B2 (ja) |
JP (1) | JP6747774B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3002651B1 (fr) * | 2013-02-22 | 2015-04-10 | Areva Nc | Procede d'asservissement du gain et du zero d'un dispositif de comptage de photons a pixels multiples, et systeme de mesure de lumiere mettant en œuvre ce procede |
JP6992410B2 (ja) | 2017-10-30 | 2022-01-13 | 株式会社デンソー | レーダレーザ装置 |
JP6939419B2 (ja) | 2017-10-30 | 2021-09-22 | 株式会社デンソー | 信号処理装置 |
KR20200086997A (ko) * | 2019-01-10 | 2020-07-20 | 삼성전자주식회사 | 신호 이득을 조절하기 위한 전자 회로를 포함하는 장치 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5912603A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-23 | Toshiba Corp | カスコ−ド回路 |
JPH01288101A (ja) * | 1988-05-16 | 1989-11-20 | Iwatsu Electric Co Ltd | ゲイン切替回路 |
JPH04292145A (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-16 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
JPH0746068A (ja) | 1993-07-30 | 1995-02-14 | Fujitsu Ltd | 自動利得制御回路 |
US7120411B2 (en) * | 2002-03-25 | 2006-10-10 | Broadcom Corporation | Low noise amplifier (LNA) gain switch circuitry |
JP2005217887A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 可変利得回路 |
JP2005266072A (ja) | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像読取方法および装置 |
JP4664017B2 (ja) * | 2004-07-12 | 2011-04-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光半導体集積回路装置 |
JP4719044B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | 増幅回路 |
FR2927196B1 (fr) | 2008-02-01 | 2010-02-12 | Commissariat Energie Atomique | Pixel pour imagerie active 3d. |
JP5320841B2 (ja) | 2008-06-17 | 2013-10-23 | 住友電気工業株式会社 | 増幅器および光モジュール |
JP5258536B2 (ja) * | 2008-12-12 | 2013-08-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
DE102009015586A1 (de) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Perkinelmer Optoelectronics Gmbh & Co.Kg | Sensorausleseschaltung, Sensor und Verfahren zum Auslesen eines Sensorelements |
JP5426300B2 (ja) | 2009-09-28 | 2014-02-26 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
JP5633327B2 (ja) * | 2010-11-17 | 2014-12-03 | 住友電気工業株式会社 | 信号増幅回路、電流電圧変換回路、および光受信器 |
US8630072B2 (en) * | 2011-07-29 | 2014-01-14 | Silicon Laboratories Inc. | Circuits including a diode string comprised of bipolar stages having an adjustable pseudo beta for ESD protection |
JP6058945B2 (ja) * | 2012-08-20 | 2017-01-11 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 放射線分析装置及び方法 |
US8860508B1 (en) * | 2012-12-05 | 2014-10-14 | Lockheed Martin Corporation | Digitally controlled wideband variable gain amplifier |
US9405023B2 (en) * | 2013-02-12 | 2016-08-02 | General Electric Company | Method and apparatus for interfacing with an array of photodetectors |
US9407843B2 (en) * | 2013-10-23 | 2016-08-02 | General Electric Company | Detector system and module for compensating dark current |
-
2015
- 2015-03-19 JP JP2015056285A patent/JP6747774B2/ja active Active
- 2015-11-20 US US14/947,317 patent/US9864068B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9864068B2 (en) | 2018-01-09 |
JP2016178432A (ja) | 2016-10-06 |
US20160274246A1 (en) | 2016-09-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20151102 |
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|
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|
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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