WO2008026344A1

WO2008026344A1 - Panneau d'affichage et dispositif d'affichage comportant ledit panneau

Info

Publication number: WO2008026344A1
Application number: PCT/JP2007/057941
Authority: WO
Inventors: Kazunori Tanimoto; Junichi Morinaga
Original assignee: Sharp Kabushiki Kaisha
Priority date: 2006-08-31
Filing date: 2007-04-11
Publication date: 2008-03-06
Also published as: JP4860699B2; EP2058697A4; US8330691B2; EP2058697B1; CN101449202B; US20090231255A1; JPWO2008026344A1; EP2058697A1; CN101449202A

Description

明細書

表示パネルおよびそれを備えた表示装置

技術分野

[0001] 本発明は、表示パネルの検査回路構成に関するものである。

背景技術

[0002] アクティブマトリクス型の液晶表示装置の製造工程においては、アクティブマトリクス基板と対向基板 (CF基板）とを組み合わせて液晶を注入して表示パネルを組み立てた後、走査信号線駆動回路やデータ信号線駆動回路などの表示パネルの駆動回路や制御回路を実装する前に、表示パネルの点灯検査を行って、配線の製造不良などを検査する工程が設けられる。

[0003] 図 6に、特許文献 1に記載された液晶表示パネルの検査回路の構成を示す。

[0004] 図 6に示された液晶表示パネルは、アクティブマトリクス基板 116と対向基板 118とが組み合わされ、その間に液晶が注入された構成である。アクティブマトリクス基板 1 16と対向基板 118とが重なっている領域のうち、有効表示領域 117は実際の表示に使用可能な領域であって、図示しな、バックライトからの光が透過可能な領域である。アクティブマトリクス基板 116と対向基板 118とが重なっている領域のうちの、有効表示領域 117外の領域は、対向基板 118によって遮光されて、る領域である。

[0005] アクティブマトリクス基板 116は、当該液晶表示パネルの 1組の隣接する 2端辺付近に、対向基板 118と重ならない余白領域を有しており、該余白領域の一方の端辺領域にデータ信号線駆動回路 120aが、また、他方の端辺領域に走査信号線駆動回路 120bが実装されている。

[0006] アクティブマトリクス基板 116では、検査用表示信号線 121およびデータ線検査用スイッチング素子である検査用 TFTl 26aが、データ信号線駆動回路 120aと有効表示領域 117を挟むように設けられており、また、検査用走査信号線 122および走査線検査用スイッチング素子である検査用 TFTl 26bが、走査信号線駆動回路 120b と有効表示領域 117を挟むように設けられて、る。

[0007] 検査用 TFTl 26aのドレインはそれぞれデータ線 103に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用表示信号線 121に接続されている。そして、検査用 TFT 126aのゲートは、該検査用 TFT126aが接続されているデータ線 103の該当する色ごとに、データ線検査用制御信号線として、赤の検査用制御信号線 125R、緑の検查用制御信号線 125G、青の検査用制御信号線 125Bに接続されている。各データ線検査用制御信号線 125R' 125G' 125Bには、検査用の入力端子（以下、検査端子と略記） 130R' 130G' 130Bより信号が入力され、検査用表示信号線 121には検查端子 132から信号が入力される。検査端子 130R' 130G' 130B' 132は、ァクティブマトリクス基板 116の余白領域に設けられている。

[0008] また、検査用 TFT126bのドレインはそれぞれ走査線 102に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用走査信号線 122に接続されている。そして、検査用 TF T126bのゲートは、走査線検査用制御信号線 124に接続されている。走査線検査用制御信号線 124には、検査端子 141より信号が入力され、検査用走査信号線 122 には検査端子 139から信号が入力される。また、補助容量配線 104が設けられており、該補助容量配線 104には検査端子 143から信号が入力される。検査端子 139 · 1 41 · 143は、アクティブマトリクス基板 116の余白領域に設けられている。

[0009] また、アクティブマトリクス基板 116の余白領域の端辺に、走査信号線駆動回路 12 Obへの配線あるいは余白領域に設けられた対向基板用信号入力端子 127に接続された複数の端子 P…と、データ信号線駆動回路 120aへの配線が接続された複数の端子v · 'とが設けられて、る。さらに検査端子 127はコモン転移部 119に接続されている。

[0010] 上記の構成の液晶表示パネルの点灯検査を行うには、対向基板用信号入力端子 127および検査端子 143に所定の信号を入力して対向電極および補助容量配線 1 04の電圧を設定しておき、検査端子 141から入力した信号により全ての検査用 TFT 126b…を ON状態とすることにより、全ての走査線 102…を検査端子 139から入力した信号で選択状態とするとともに、検査端子 130R. 130G' 130B力も入力した信号により、対応する色の検査用 TFT126a…を ON状態とすることにより、検査端子 132 力も入力した信号を、 ON状態とした検査用 TFT126aに接続されているデータ線 10 3に供給する。 [0011] このようにして、 RGBのそれぞれの色表示を行いつつ点灯検査することによって、輝点のみならず、絵素電極とそれに信号を供給すべきでないデータ線 103 (—般には隣接絵素に信号を供給するデータ線 103)とのリークがあった場合の欠陥である黒点の検出、及び隣接絵素どうしのリーク欠陥、並びに隣接するデータ線 103 · 103間のリーク欠陥の検出も目視によって容易に行える。

[0012] また、特許文献 2には、表示エリアの外側に、走査線間を短絡するように接続された TFTを有する検査用アレイと、信号線間を短絡するように接続された TFTを有する検査用アレイとを備え、検査時にこれら検査用アレイの全 TFTを導通状態とすることによりパネル全体の表示を行う構成が開示されている。

[0013] また、上述した検査回路と類似の構成の検査回路として、図 7に示すものがある。

[0014] この検査回路は、検査用のデータ信号を RGBの色別に設定することができるとともに、これらのデータ信号をデータ線に供給する力否かを制御するためのスイッチング素子（後述の検査用 TFT201b…；)の全て力同時に ONとなる力 OFFとなるかに限られる点で、図 6のものとは異なっている。

[0015] 図 7に示すように、この検査回路を含む液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域 201、余剰領域 202、ダミーピクセル領域 203、および、有効表示領域 204が配置されている。検査配線領域 201、余剰領域 202、および、ダミーピクセル領域 203は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。有効表示領域 204は、図 6の有効表示領域 117に対応するものである。

[0016] 有効表示領域 204は、互いに直交するように配置された走査線 Gj (jは整数）とデータ線 Si (iは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。図 8に各ピクセルの構成例を示す。なお、図 7では図示の便宜上、有効表示領域 204のピクセルのピクセル電極を P、ダミーピクセルのピクセル電極を DPと表記してある。

[0017] 各ピクセルは、ゲートが走査線 Gjへ、ソースがデータ線 Siに接続される TFT(SW) と、この TFT(SW)のドレインに一方の電極が接続される画素容量 Cpとを備えて構成される。前記画素容量 Cpの他方の電極は、全ピクセルに共通の共通電極線に接続されている。前記画素容量 Cpは、液晶容量 CLと、必要に応じて付加される補助容量 Csとから構成されて、る。

[0018] 検査配線領域 201には、走査線 Gjに平行な方向に設けられた RGBの各色用の 3 本の検査用データ線 (第 1配線） 201R' 201G' 201Bと、これらの検査用データ線 2 01R' 201G' 201Bに平行に設けられた検査用スィッチ線 (第 2配線） 201aと、検査用 TFT (スイッチング素子） 20 lb…とが配置されている。検査用データ線 201R' 20 1G - 201Bと、検査用スィッチ線 201aと、検査用 TFT20 lb…とで構成される回路を第 1回路とする。検査用スィッチ線 201aは、検査用データ線 201R' 201G' 201Bよりも有効表示領域 204側に 1つだけ配置されており、検査用 TFT201b…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用 TFT201bはデータ線 Si ごとに 1つずつ設けられ、該データ線 Siと、該データ線 Siの色と対応する検査用データ線 201R' 201G' 201Bとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用 TFT201b…のゲートは検査用スィッチ線 201aに接続されている。

[0019] 余剰領域 202は、データ線 Siに沿ったピクセル幅単位のライン力端から何番目に位置するのかを示すパターン 202aを形成するナンバリングを施した領域である。

[0020] ダミーピクセル領域 203は、有効表示領域 204のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域 203のピクセルは複数行ある場合もあるが、有効表示領域 204に最も近いピクセルの TFT(SW)のゲートはダミー走査線 DGに接続されている。このダミー走査線 DGは、有効表示領域 204の最も額縁領域に近、ピクセル力有効表示領域 204の他のピクセルがその隣接走査線 Gj力受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域 204のピクセルと同じ構成として、有効表示領域 204の全ピクセルが極力その周囲力等 U、影響を受けるようにして、る。従つて、ダミーピクセル領域 203にも、その余剰領域 202側に、隣接走査線 Gjと同様の寄生容量効果を有するダミー線 DLが設けられてヽる。

[0021] 図 7の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線 Gjおよびダミー走査線 DGに選択電圧を印加して有効表示領域 204の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用スィッチ線 201 aにより全ての検査用 TFT201 b…を ON状態として、検査用データ線 201R' 201G' 201Bのそれぞれに入力された信号をデータ線 Siを介して各ピクセルに書き込む。

特許文献 1 :日本国公開特許公報「特開 2005— 122209号公報 (公開日： 2005年 5 月 12日）」

特許文献 2 :日本国公開特許公報「特開平 11— 149092号公報 (公開日： 1999年 6 月 2日）」

特許文献 3 :日本国公開特許公報「特開平 9— 80478号公報 (公開日：1997年 3月 2 8日）」

発明の開示

[0022] 特許文献 1の液晶表示パネルも、図 7の液晶表示パネルも、検査回路を作り込んだ後に検査回路の領域の基板を除去せずに組み立て可能なように構成されたものである。これにより、検査回路の領域の基板を除去する工程を省略することができるため、液晶表示パネルの製造工程を簡略ィ匕することができる。

[0023] 液晶表示パネルを搭載する携帯機器など小型化を要求される機器にぉ、ては、さらなる小型化を進めるために、液晶表示パネルの額縁領域をより狭くする必要がある。従って、検査回路の領域の基板を残して製造工程の簡略ィ匕を確保したまま、さらなる狭額縁ィ匕を図るためには、額縁領域における回路規模をより小さくすることが有効である。

[0024] し力しながら、図 7のようにダミーピクセル領域 203を有し、この領域が液晶表示パネルにとって必須である場合には、ダミーピクセルが有効表示領域 204のピクセルと同じ大きさであるために、ダミーピクセル領域 203以外で額縁領域を小さくしなければならず、額縁領域の縮小は特に困難であった。

[0025] 本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、額縁領域に検查回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネル、およびそれを備えた表示装置を実現することにある。

[0026] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第 1回路は、データ線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 1配線と、データ線ごとに対応して前記第 1配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域における走査線どうしの間隔だけ離れて配置されて、ることを特徴として、る。

[0027] 上記の発明によれば、第 2配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線から、有効表示領域力遠ざかる向きに、有効表示領域における走查線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第 2配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第 1回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。

[0028] 以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する

[0029] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第 1回路は、データ線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 1配線と、データ線ごとに対応して前記第 1配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線を兼ねており、前記スイッチング素子は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの前記データ線との導通および遮断を行うァクテイブ素子を兼ねて、ることを特徴として、る。

[0030] 上記の発明によれば、第 2配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線を兼ねており、スイッチング素子が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルのデータ線との導通および遮断を行うアクティブ素子を兼ねていることから、従来、第 2配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がなくなるとともに、スイッチング素子とアクティブ素子との一方の形成領域が不要となる。従って、余剰領域および形成不要素子の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第 1回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。

[0031] 以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する

[0032] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 2の第 1回路を備え、前記第 2の第 1回路は、走査線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 2の第 1配線と、走査線ごとに対応して前記第 2の第 1配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられた第 2のスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記第 2のスイツチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2の第 2配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第 2の第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有する第 2のダミーピクセルを備え、前記第 2の第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れて!/、る前記第 2のダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されて、ることを特徴として、る。

[0033] 上記の発明によれば、第 2の第 2配線が、有効表示領域から最も遠く離れて!/ヽる第 2のダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域から遠ざかる向きに、有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第 2の第 2配線と第 2のダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第 2の第 1回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができる力その他の回路でもよ、。

[0034] 以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する

[0035] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第 1回路は、走査線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 1配線と、走査線ごとに対応して前記第 1配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにぉ、て、前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れて！/ヽる前記ダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されて、ることを特徴として、る。

[0036] 上記の発明によれば、第 2配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域力遠ざかる向きに、有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第 2配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第 1回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。

[0037] 以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する

[0038] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記ダミーピクセルの領域に、前記表示パネル上での位置を示すパターンが形成されて、ることを特徴として!/ヽる。

[0039] 上記の発明によれば、従来のように余剰領域が存在しなくても、表示パネル上での位置を知ることができるという効果を奏する。

[0040] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記第 2配線に印加される

、前記スイッチング素子を導通状態とする電圧は、前記有効表示領域における走査線に印加される選択電圧と同じであることを特徴としている。

[0041] 上記の発明によれば、第 2配線がダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域において隣接走査線力 Sピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができるという効果を奏する。

[0042] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記スイッチング素子が導通状態となるときに、前記第 1配線を介して前記データ線に前記所定の信号が供給されて点灯検査が行われることを特徴として、る。

[0043] 上記の発明によれば、第 1回路を点灯検査回路として備えながら、額縁領域を縮小することができると!/、う効果を奏する。

[0044] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴としている。

[0045] 上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第 1配線とデータ線とが遮断状態となったスイッチング素子によって分離されるので、データ線の電位が第 1配線から影響を受けずに済むと、う効果を奏する。

[0046] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されるとともに、前記第 2の第 2配線に前記第 2のスイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴として、る。

[0047] 上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第 1配線とデータ線とが遮断状態となったスイッチング素子によって分離されるとともに、第 2の第 1配線と走査線とが遮断状態となった第 2のスイッチング素子によって分離されるので、データ線の電位が第 1配線カゝら影響を受けずに済むとともに、走査線の電位が第 2の第 1配線から影響を受けずに済むと、う効果を奏する。

[0048] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧として、前記有効表示領域における走査線に印加される非選択電圧と同じ電圧が印加されることを特徴としている。

[0049] 上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第 2配線がダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域にぉ、て隣接走査線力ピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができると、う効果を奏する。

[0050] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第 1回路が設けられていない額縁領域に設けられて、ることを特徴として、る。

[0051] 上記の発明によれば、第 1回路が設けられる額縁領域と、表示ドライバが設けられる表示領域とを異ならせるので、各額縁領域を小さくすることができるという効果を奏する。

[0052] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第 1回路および前記第 2の第 1回路の、ずれも設けられて、な、額縁領域に設けられて、ることを特徴として、る。

[0053] 上記の発明によれば、第 1回路が設けられる額縁領域および第 2の第 1回路が設けられる額縁領域と、表示ドライバが設けられる表示領域とを異ならせるので、各額縁領域を小さくすることができると、う効果を奏する。

[0054] 本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、液晶表示パネルであることを特徴としている。

[0055] 上記の発明によれば、液晶表示パネルにぉ、て、額縁領域を小さくすることができるという効果を奏する。

[0056] 本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、前記表示パネルを備えてヽることを特徴としている。

[0057] 上記の発明によれば、額縁領域の縮小された表示装置を実現することができると!/、う効果を奏する。

[0058] 本発明の他の目的、特徴、および優れた点は、以下に示す記載によって十分分かるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明によって明白になるであろう。

図面の簡単な説明

[0059] [図 1]本発明の第 1の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すプロック図である。

[図 2]図 1の表示パネルを応用した表示パネルの構成を示す平面図である。

[図 3]本発明の第 2の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すプロック図である。

[図 4]図 3の表示パネルを応用した表示パネルの構成を示す平面図である。

[図 5]本発明の第 3の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すプロック図である。

[図 6]第 1の従来技術を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。

[図 7]第 2の従来技術を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。

[図 8]ピクセルの構成を示す等価回路図である。

符号の説明

[0060] la、 21a, 31a, 36a

検査用スィッチ線 (第 2配線）

lb、 21b、 31b、 36b

検査用 TFT (スイッチング素子）

1R、 1G、 1B、 21R、 21G、 21B、 31R、 31G、 31B

検査用データ線 (第 1配線）

2a, 22a, 32a

パターン

3 有効表示領域

36c 検査用走査線 (第 1配線）

Gj 走査線

Si データ線 SW TFT (アクティブ素子）

発明を実施するための最良の形態

[0061] 〔実施の形態 1〕

本発明の一実施形態について図 1、図 2、および図 8に基づいて説明すると以下の通りである。

[0062] 図 1に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル (表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。

[0063] この液晶表示パネルにぉ、ては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域 1 、ダミーピクセル領域 2、および、有効表示領域 3が配置されている。検査配線領域 1 およびダミーピクセル領域 2は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。

[0064] 有効表示領域 3は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線 Gj (jは整数）とデータ線 Si (iは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図 8に示した通りである。なお、図 1では図示の便宜上、有効表示領域 3のピクセルのピクセル電極を P、ダミーピクセルのピクセル電極を DPと表記してある。

[0065] 検査配線領域 1には、走査線 Gjに平行な方向に設けられた RGBの各色用の 3本の検査用データ線 (第 1配線） 1R- 1G' 1Bと、これらの検査用データ線 1R' 1G- 1B に平行に設けられた検査用スィッチ線 (第 2配線） laと、検査用 TFT (スイッチング素子） lb…とが配置されている。検査用データ線 lR' IG' lBと、検査用スィッチ線 laと、検査用 TFTlb…とで構成される回路を第 1回路とする。検査用スィッチ線 laは、検查用データ線 1R' 1G' 1Bよりも有効表示領域 3側に 1つだけ配置されており、検査用 TFTlb…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用 TF Tibはデータ線 Siごとに 1つずつ設けられ、該データ線 Siと、該データ線 Siの色と対応する検査用データ線 1R' 1G' 1Bとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用 TFTlb…のゲートは検査用スィッチ線 laに接続されている。

[0066] ダミーピクセル領域 2は、有効表示領域 3のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域 2のピクセルは複数行ある場合もある力有効表示領域 3に最も近いピクセルの TFT(SW)のゲートはダミー走査線 DGに接続されている。このダミー走査線 DGは、有効表示領域 3の最もダミーピクセル領域 2に近いピクセル力有効表示領域 3の他のピクセルがその隣接走査線 Gjから受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。すなわち、ダミー走査線 DG は、走査線 G1から、有効表示領域 3における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域 3のピクセルと同じ構成として、有効表示領域 3の全ピクセルが極力その周囲から等しい影響を受けるようにしている。

[0067] 従って、ダミーピクセル領域 2にも、その検査配線領域 1側に、隣接走査線 Gjと同様の寄生容量効果を有するダミー線が設けられるのが好ましいが、本実施形態ではこのダミー線を検査用スィッチ線 laで兼用する。検査用スィッチ線 laは、ダミー走査線 DGから、有効表示領域 3における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。ダミーピクセルが複数行ある場合も含めると、検査用スィッチ線 laは、有効表示領域 3から最も遠く離れて、るダミーピクセルの走査線から、有効表示領域 3から遠ざかる向きに、有効表示領域 3における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。これにより、本実施形態では、図 7に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域 202に相当する領域が存在しない。

[0068] また、ダミーピクセル領域 2には、データ線 Siに沿ったピクセル幅単位のラインが、端から何番目に位置するのかを示すパターン 2aを形成するナンバリングが施されている。このパターン 2aには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン 2aは例えばゲートメタルで形成可能である。

[0069] 図 1の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線 Gjおよびダミー走査線 DGに選択電圧を印加して有効表示領域 3の全てのピクセルおよびダミ一ピクセルを選択状態とし、検査用スィッチ線 laにより全ての検査用 TFTlb…を O N状態として、検査用データ線 1R' 1G' 1Bのそれぞれに入力された信号をデータ線 Siを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スィッチ線 laに印加する選択電圧を、走査線 Gjに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スィッチ線 laがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 3にお、て隣接走査線 Gjがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0070] また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スィッチ線 laに、検査用 TFTlb …が OFF状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線 Gjに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スィッチ線 laがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 3にお、て隣接走査線 Gjがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0071] 通常使用時のダミーピクセルについては、ダミー走査線 DGに走査線 Gjとは独立した信号を別途供給して駆動してもよいし、ダミー走査線 DGを走査線 Gjとともに順次走査の対象に組み込んで駆動してもよい。また、ダミー走査線 DGをフローティングとすることも可會である。

[0072] このように、本実施形態では、検査用スィッチ線 laが、ダミーピクセルに寄生容量効果を及ぼす隣接走査線相当のダミー線を兼ねることにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすため、額縁領域をデータ線 Si方向に縮小することができる。例えば、 QVGAのような携帯機器用液晶表示パネルにおいて、ほぼ 1ドット分あるいは 1ライン分のデータ線 Si方向の幅 150 μ m〜200 μ mといった大きな縮小幅を達成することができる。

[0073] なお、ダミーピクセルが複数行設けられる場合には、検査用スィッチ線 laは、最も検査配線領域 1に近、行のダミーピクセルの、隣接走査線相当のダミー線を兼ねるようにする。また、上記例では検査用データ線を RGBの各色用に設けて 3本としたが、これに限らず、何本でもよい。

[0074] 次に、図 2に、図 1の構成を応用した液晶表示パネル 50の構成を示す。

[0075] 液晶表示パネル 50は、アクティブマトリクス基板 51と対向基板 52とが組み合わされて、それらの間に液晶が注入された構成である。

[0076] アクティブマトリクス基板 51と対向基板 52とが互いに重なっている領域 (対向基板 5 2の全面領域に等しい）のうち、図中破線で囲んだ中央部分の領域は有効表示領域 3であり、残りの領域は対向基板 52によって遮光された領域である。 [0077] アクティブマトリクス基板 51には対向基板 52と重ならない余白領域 51aが、余白領域 51aの 1端辺の外側に設けられている。余白領域 51aは、走査線ドライバとデータ線ドライバとを一体的に含むドライバ DRが設けられる領域と、点灯検査のときに各種検査用信号が入力される端子 55〜60が設けられる領域とを有している。ドライバ DR が設けられる領域は、余白領域 51aのうち対向基板 52側の約半分を占める領域であり、端子 55〜60が設けられる領域は、余白領域 51aのうち残りの約半分を占める領域である。ドライバ DRが設けられる領域と端子 55〜60が設けられる領域との境界は分断線 5 lbとなっている。

[0078] 余白領域 51aは、アクティブマトリクス基板 51と対向基板 52とを組み合わせてから点灯検査を行うまでは、ドライバ DRが設けられる領域と端子 55〜60が設けられる領域との両方が存在するが、点灯検査が終了した後は分断線 51bで分断してドライバ DRが設けられる領域のみを残し、そこにドライバ DRを実装する。余白領域 51aを分断線 51bで分断した後の、有効表示領域 3以外の領域は、当該液晶表示パネル 50 を有する液晶表示装置 (表示装置）における額縁領域となる。

[0079] 液晶表示パネル 50にお、て、偶数番目の走査線 Gjは、アクティブマトリクス基板 5 1上で端子 55から図 2の有効表示領域 3の左外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域 3に配置され、奇数番目の走査線 Gjは、アクティブマトリクス基板 51上で端子 57から図 2の右外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域 3に配置される（図 2において、仮に、上端の走査線 Gjを 0番目としている）。この場合に、端子 5 5からの走査線 Gjの引き回し配線と、端子 57からの走査線 Gjの引き回し配線とは、それぞれ、後にドライバ DRの接続端子が実装に伴って接続される箇所を通過するように配置されている。これにより、点灯検査時と通常使用時とで、走査線 Gjの引き回し配線を共通に使用することができ、それだけ液晶表示パネル 50における回路領域を/ J、さくすることができる。

[0080] また、有効表示領域 3を挟んで余白領域 51aと反対側の領域が、検査配線領域 1とダミーピクセル領域 2とを有する領域となっている。ここでは、検査配線領域 1の検査用データ線として、奇数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 loと偶数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 leとの 2つが設けられている（図 2において、仮に、左端のデータ線 Siを 1番目としている)。そして、検査用データ線 loと奇数番目の各データ線 Siとの間と、検査用データ線 leと偶数番目の各データ線との間に、それぞれ検査用 TFTlbが設けられている。検査用 TFTlb…のゲートは検査用スィッチ線 la に接続されている。

[0081] また、検査用スィッチ線 la、検査用データ線 le、および、検査用データ線 loは、ァクティブマトリクス基板 51上で有効表示領域 3の右外側の領域を引き回されて、順に、端子 58、端子 59、端子 60に接続されている。点灯検査時には、端子 58に検査用スィッチ信号 (検査用 TFTlb…を ONZOFFする信号）、端子 59に第 1データ線検查信号 (奇数番目のデータ線 Si用の検査用信号)、端子 60に第 2データ線検査信号 (偶数番目のデータ線 Si用の検査用信号)が、それぞれ検査機のプローブを介して入力される。検査配線領域 1の検査用データ線として、奇数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 loと偶数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 leとが設けられていることにより、隣接するデータ線 Si間のリークを検出することが可能となる。

[0082] また、ダミーピクセル領域 2のダミー走査線 DGは、アクティブマトリクス基板 51上で有効表示領域 3の右外側の領域を引き回されて端子 57に接続されている。このダミ一走査線 DGの引き回し配線も、奇数番目の走査線 Gjの引き回し配線と同様にドラィバ DRの実装箇所を通過するようになってヽる。

[0083] また、アクティブマトリクス基板 51上において、端子 56からは、有効表示領域 3を取り囲むとともに、その取り囲み部分から有効表示領域 3を走査線 Gjと平行に横断する配線が設けられている。この配線には、端子 56から共通電位が供給される。有効表示領域 3を走査線 Gjと平行に横断する配線部分は補助容量配線 CsLである。また、取り囲み配線上の、検査回路が設けられている付近に、黒丸で示したコモン転移部 65力設けられており、このコモン転移部 65を介して対向基板 52の対向電極に共通電位が供給されるようになっている。この端子 56からの引き回し配線も、端子 55 · 57 力もの引き回し配線と同様に、ドライバ DRの実装箇所を通過するように配置されている。点灯検査時には、端子 56に共通電位が検査機のプローブを介して入力される。

[0084] なお、図 2の例ではドライバが液晶表示パネルの 1辺にのみ設けられるものであつたが、これに限らず、ドライバが 2辺以上に設けられるものも可能である。 [0085] 〔実施の形態 2〕

本発明の他の実施形態について図 3、図 4、および図 8に基づいて説明すると以下の通りである。

[0086] 図 3に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル (表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。

[0087] この液晶表示パネルにぉ、ては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域 2 1、および、有効表示領域 23が配置されている。また、検査配線領域 21の有効表示領域 23側の部分はダミーピクセル領域 22となって、る。検査配線領域 21は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。

[0088] 有効表示領域 23は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線 Gj (jは整数）とデータ線 Si (iは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図 8に示した通りである。なお、図 3では図示の便宜上、有効表示領域 23のピクセルのピクセル電極を Pと表記してある。ダミーピクセルのピクセル電極の表記は省略してある。

[0089] 検査配線領域 21には、走査線 Gjに平行な方向に設けられた RGBの各色用の 3本の検査用データ線 (第 1配線） 21R' 21G' 21Bと、これらの検査用データ線 21R' 21 G- 21Bに平行に設けられた検査用スィッチ線 (第 2配線） 21aと、検査用 TFT (スイツチング素子） 21b…とが配置されている。検査用データ線 21R' 21G' 21Bと、検査用スィッチ線 21aと、検査用 TFT21b…とで構成される回路を第 1回路とする。検査用スィッチ線 21 aは、検査用データ線 21R · 21 G · 21 Bよりも有効表示領域 23側に 1つだけ配置されており、検査用 TFT21b…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。

[0090] 検査用 TFT2 lbはデータ線 Siごとに 1つずつ設けられ、該データ線 Siと、該データ線 Siの色と対応する検査用データ線 21R' 21G' 21Bとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用 TFT21b…のゲートは検査用スィッチ線 21aに接続されている。また、検査用 TFT21b…のそれぞれは、ダミーピクセルの、データ線 Siとの導通および遮断を行うアクティブ素子である TFT(SW) を兼ねており、図示しないダミーピクセル電極にも接続されている。検査用スィッチ線 21aは、ダミーピクセルの TFT (SW)用の走査線であるダミー走査線 DGを兼ねており、走査線 G1から、有効表示領域 23における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。このようにして、検査配線領域 21の検査用データ線 21R' 21G' 21B よりも有効表示領域 23側の部分は、各検査用 TFT21bが各ダミーピクセルに対応したダミーピクセル領域 22となって!/、る。

[0091] ダミーピクセル領域 22においてダミーピクセルが複数行ある場合には、有効表示領域 23から最も遠く離れている行のダミーピクセルを上記の構成のダミーピクセルとし、その他の行のダミーピクセルを、実施の形態 1と同様の構成のダミーピクセルとする。従って、ダミーピクセルが複数行ある場合を含めると、検査用スィッチ線 21aは、有効表示領域 23から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線を兼ねており、検査用 T FT21bは、有効表示領域 23から最も遠く離れて、るダミーピクセルのアクティブ素子を兼ねている。これにより、検査用スィッチ線 21aが、その内側に隣接するピクセルの走査線から、有効表示領域 23における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されていることは明らかである。

[0092] 従って、本実施形態では、図 7に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域 202に相当する領域が存在せず、また、図 7に示した検査配線領域 201の検査用 TFT201bとダミーピクセル領域 203の TFT(SW)とのうちの一方の形成領域が不要となる。

[0093] また、ダミーピクセル領域 22には、データ線 Siに沿ったピクセル幅単位のラインが、端から何番目に位置するのかを示すパターン 22aを形成するナンバリングが施されている。このパターン 22aには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン 22aは例えばゲートメタルで形成可能である。

[0094] 図 3の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線 Gjおよび検査用スィッチ線 21aに選択電圧を印加して有効表示領域 23の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用データ線 21R · 21 G · 21 Bのそれぞれに入力された信号をデータ線 Siを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スィッチ線 21aに印加する選択電圧を、走査線 Gjに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スィッチ線 21aが走査線 Glに接続されたピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 3において隣接走査線 Gjがその他のピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0095] また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スィッチ線 21aに、検査用 TFT2 lb…が OFF状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線 Gjに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スィッチ線 21aが走査線 G1に接続されたピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 3にお、て隣接走査線 G jがその他のピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0096] このように、本実施形態では、ダミーピクセルの TFT(SW)を検査用 TFT21bで兼用し、ダミーピクセルの TFT(SW)用のダミー走査線 DGを検査用スィッチ線 21aで兼用することにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすとともに、 1行分の TFTの形成領域を削減することができるので、額縁領域をデータ線 Si方向に縮 /J、することができる。

[0097] なお、上記例では検査用データ線を RGBの各色用に設けて 3本とした力これに限らず、何本でもよい。

[0098] 次に、図 4に、図 3の構成を応用した液晶表示パネル 70の構成を示す。

[0099] 液晶表示パネル 70は、アクティブマトリクス基板 71と対向基板 72とが組み合わされて、それらの間に液晶が注入された構成である。

[0100] アクティブマトリクス基板 71と対向基板 72とが互いに重なっている領域 (対向基板 7 2の全面領域に等しい）のうち、図中破線で囲んだ中央部分の領域は有効表示領域 23であり、残りの領域は対向基板 72によって遮光された領域である。

[0101] アクティブマトリクス基板 71には対向基板 72と重ならない余白領域 71aが、余白領域 71aの 1端辺の外側に設けられている。余白領域 71aは、走査線ドライバとデータ線ドライバとを一体的に含むドライバ DRが設けられる領域と、点灯検査のときに各種検査用信号が入力される端子 75〜80が設けられる領域とを有している。ドライバ DR が設けられる領域は、余白領域 71aのうち対向基板 72側の約半分を占める領域であり、端子 75〜80が設けられる領域は、余白領域 71aのうち残りの約半分を占める領域である。ドライバ DRが設けられる領域と端子 75〜80が設けられる領域との境界は分断線 71bとなっている。

[0102] 余白領域 71aは、アクティブマトリクス基板 71と対向基板 72とを組み合わせてから点灯検査を行うまでは、ドライバ DRが設けられる領域と端子 75〜80が設けられる領域との両方が存在するが、点灯検査が終了した後は分断線 71bで分断してドライバ DRが設けられる領域のみを残し、そこにドライバ DRを実装する。余白領域 71aを分断線 71bで分断した後の、有効表示領域 23以外の領域は、当該液晶表示パネル 7 0を有する液晶表示装置 (表示装置）における額縁領域となる。

[0103] 液晶表示パネル 70において、偶数番目の走査線 Gjは、アクティブマトリクス基板 7 1上で端子 75から図 4の有効表示領域 23の左外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域 23に配置され、奇数番目の走査線 Gjは、アクティブマトリクス基板 71 上で端子 77から図 4の右外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域 23に配置される（図 4において、仮に、上端の走査線 Gjを 0番目としている）。この場合に、端子 75からの走査線 Gjの引き回し配線と、端子 77からの走査線 Gjの引き回し配線とは、それぞれ、後にドライバ DRの接続端子が実装に伴って接続される箇所を通過するように配置されている。これにより、点灯検査時と通常使用時とで、走査線 Gjの引き回し配線を共通に使用することができ、それだけ液晶表示パネル 70における回路領域を/ J、さくすることができる。

[0104] また、有効表示領域 23を挟んで余白領域 71aと反対側の領域が、ダミーピクセル領域 22を含んだ検査配線領域 21を有する領域となっている。ここでは、検査配線領域 21の検査用データ線として、奇数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 21οと偶数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 21eとの 2つが設けられている（図 4において、仮に、左端のデータ線 Siを 1番目としている）。そして、検査用データ線 21οと奇数番目の各データ線 Siとの間と、検査用データ線 21 eと偶数番目の各データ線との間に、それぞれ検査用 TFT21bが設けられている。検査用 TFT21b…のゲートは検査用スィッチ線 21aに接続されて、る。

[0105] また、検査用スィッチ線 21a、検査用データ線 21e、および、検査用データ線 21ο は、アクティブマトリクス基板 71上で有効表示領域 23の右外側の領域を引き回されて、順に、端子 78、端子 79、端子 80に接続されている。点灯検査時には、端子 78 に検査用スィッチ信号 (検査用 TFTlb…を ONZOFFする信号）、端子 79に第 1データ線検査信号 (奇数番目のデータ線 Si用の検査用信号)、端子 80に第 2データ線検査信号 (偶数番目のデータ線 Si用の検査用信号)が、それぞれ検査機のプローブを介して入力される。検査配線領域 21の検査用データ線として、奇数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 21οと偶数番目のデータ線 Si用の検査用データ線 21eとが設けられていることにより、隣接するデータ線 Si間のリークを検出することが可能となる。

[0106] また、アクティブマトリクス基板 71上において、端子 76からは、有効表示領域 23を取り囲むとともに、その取り囲み部分から有効表示領域 23を走査線 Gjと平行に横断する配線が設けられている。この配線には、端子 76から共通電位が供給される。有効表示領域 23を走査線 Gjと平行に横断する配線部分は補助容量配線 CsLである。また、取り囲み配線上の、検査回路が設けられている付近に、黒丸で示したコモン転移部 85が設けられており、このコモン転移部 85を介して対向基板 72の対向電極に共通電位が供給されるようになっている。この端子 76からの引き回し配線も、端子 75 •77からの引き回し配線と同様に、ドライバ DRの実装箇所を通過するように配置されている。点灯検査時には、端子 76に共通電位が検査機のプローブを介して入力される。

[0107] なお、図 4の例ではドライバが液晶表示パネルの 1辺にのみ設けられるものであつたが、これに限らず、ドライバが 2辺以上に設けられるものも可能である。

[0108] 〔実施の形態 3〕

本発明のさらに他の実施形態について図 5および図 8に基づいて説明すると以下の通りである。

[0109] 図 5に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル (表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。

[0110] この液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域 3 1、ダミーピクセル領域 32、および、有効表示領域 33が配置されている。また、有効表示領域 33の走査線の延びる方向の左隣にダミーピクセル領域 34、右隣にダミーピクセル領域 35が配置されており、ダミーピクセル領域 35のさらに走査線方向外側に検査配線領域 36が配置されている。検査配線領域 31、ダミーピクセル領域 2、ダミ一ピクセル領域 34、ダミーピクセル領域 35、および、検査配線領域 36は、額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。

[0111] 有効表示領域 33は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線 Gj (jは整数）とデータ線 Si (iは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図 8に示した通りである。なお、図 5では図示の便宜上、有効表示領域 33のピクセルのピクセル電極を P、ダミーピクセルのピクセル電極を DPと表記してある。

[0112] 検査配線領域 31には、走査線 Gjに平行な方向に設けられた RGBの各色用の 3本の検査用データ線 (第 1配線） 31R' 31G' 31Bと、これらの検査用データ線 31R' 31 G- 31Bに平行に設けられた検査用スィッチ線 (第 2配線） 3 laと、検査用 TFT (スイツチング素子） 31b…とが配置されている。検査用データ線 31R' 31G' 31Bと、検査用スィッチ線 31aと、検査用 TFT31b…とで構成される回路を第 1回路とする。検査用スィッチ線 31 aは、検査用データ線 31R · 31 G · 31 Bよりも有効表示領域 33側に 1つだけ配置されており、検査用 TFT31b…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用 TFT3 lbはデータ線 Siごとに 1つずつ設けられ、該データ線 Siと、該データ線 Siの色と対応する検査用データ線 31R' 31G' 31Bとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用 TFT31b • "のゲートは検査用スィッチ線 31aに接続されて、る。

[0113] ダミーピクセル領域 32は、有効表示領域 33のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域 32のピクセルは複数行ある場合もある 1S 有効表示領域 33に最も近いピクセルの TFT(SW)のゲートはダミー走査線 DG に接続されている。このダミー走査線 DGは、有効表示領域 33の最もダミーピクセル領域 32に近いピクセル力有効表示領域 33の他のピクセルがその隣接走査線 Gjから受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。すなわち、ダミ一走査線 DGは、走査線 G1から、有効表示領域 3における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域 33のピクセルと同じ構成として、有効表示領域 33の全ピクセルが極力その周囲力も等し、影響を受けるようにして、る。

[0114] 従って、ダミーピクセル領域 32にも、その検査配線領域 31側に、隣接走査線 Gjと同様の寄生容量効果を有するダミー線が設けられるのが好ましいが、本実施形態ではこのダミー線を検査用スィッチ線 31aで兼用する。検査用スィッチ線 31aは、ダミー走査線 DGから、有効表示領域 33における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。ダミーピクセルが複数行ある場合も含めると、検査用スィッチ線 31aは、有効表示領域 33から最も遠く離れて、るダミーピクセルの走査線から、有効表示領域 3 3から遠ざかる向きに、有効表示領域 33における走査線 Gjどうしの間隔だけ離れて配置されている。これにより、本実施形態では、図 7に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域 202に相当する領域が存在しない。

[0115] また、ダミーピクセル領域 32には、有効表示領域 33を通過するデータ線 Siに沿つたピクセル幅単位のライン力有効表示領域 33の端から何番目に位置するのかを示すパターン 32aを形成するナンバリングが施されている。このパターン 32aには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン 2aは例えばゲートメタルで形成可能である

[0116] ダミーピクセル領域 34· 35は、上記ダミーピクセル領域 32と同様の目的で、有効表示領域 33のピクセルの構成を走査線 Si方向に繰り返し配置したものである。ダミーピクセル領域 35のダミーデータ線 DSは、有効表示領域 33の右端の列のピクセルに対して寄生容量効果を及ぼす隣接データ線である。そのダミーピクセル領域 35のピクセルに対して寄生容量効果を及ぼす隣接データ線として、検査用スィッチ線 (第 2配線） 36aが、検査配線領域 36に設けられている。検査配線領域 36にはこの他に、検查用 TFT (スイッチング素子） 36b…と検査用走査線 (第 1配線） 36cとが設けられている。検査用走査線 36cと、検査用スィッチ線 36aと、検査用 TFT36b…とで構成される回路も第 1回路に相当する。

[0117] 検査用 TFT36bは、検査用走査線 36cと各走査線 Gjおよびダミー走査線 DGとの間のそれぞれに、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。検查用 TFT36b…のゲートは検査用スィッチ線 36aに接続されており、検査用 TFT36 b…は検査用スィッチ線 36aに入力される信号によって ONZOFF制御される。

[0118] 検査用スィッチ線 36aは 1つだけ配置されており、検査用 TFT36b…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。ダミーピクセル領域 35にダミーピクセルが複数列ある場合も含めると、検査用スィッチ線 36aは、有効表示領域 33から最も遠く離れて、るダミーピクセル領域 35のダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域 33から遠ざかる向きに、有効表示領域 33におけるデータ線 Siどうしの間隔だけ離れて配置されている。

[0119] 図 5の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、検査用スィッチ線 36aにより全ての検査用 TFT36b…を ON状態として、検査用走査線 36cから検査用 TFT 36b…を介して全ての走査線 Gjおよびダミー走査線 DGに選択電圧を印加して有効表示領域 33の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用スィッチ線 31 aにより全ての検査用 TFT3 lb · · ·を ON状態として、検査用データ線 31R- 31G • 31Bのそれぞれに入力された信号をデータ線 Siを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スィッチ線 3 laに印加する選択電圧を、走査線 Gjに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スィッチ線 3 laがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 33において隣接走査線 Gjがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0120] また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スィッチ線 3 laに、検査用 TFT3 lb…が OFF状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線 Gjに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スィッチ線 3 laがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域 3にお、て隣接走査線 Gjがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。

[0121] 通常使用時のダミーピクセルについては、ダミー走査線 DGに走査線 Gjとは独立した信号を別途供給して駆動してもよいし、ダミー走査線 DGを走査線 Gjとともに順次走査の対象に組み込んで駆動してもよい。また、ダミー走査線 DGをフローティングとすることも可會である。

[0122] このように、本実施形態では、検査用スィッチ線 3 laが、ダミーピクセルに寄生容量効果を及ぼす隣接走査線相当のダミー線を兼ねることにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすため、額縁領域をデータ線 Si方向に縮小することができる。例えば、 QVGAのような携帯機器用液晶表示パネルにおいて、ほぼ 1ドット分あるいは 1ライン分のデータ線 Si方向の幅 150 μ m〜200 μ mといった大きな縮小幅を達成することができる。

[0123] また、本実施形態では、走査線方向に繰り返し配置されるダミーピクセルが設けられるとともに、有効表示領域の走査線 Gj方向に隣接する領域に、走査線 Gjに接続される検査回路が設けられる場合に、データ線方向と同様に余剰領域に相当する領域を設ける必要がないので、データ線方向と同様の額縁領域の縮小を達成することができる。必要ならば、ダミーピクセル領域 35にパターン 32aと同様のナンバリングを施せばよい。

[0124] なお、ダミーピクセル領域 32にダミーピクセルが複数行設けられる場合には、検査用スィッチ線 31aは、最も検査配線領域 31に近い行のダミーピクセルの、隣接走査線相当のダミー線を兼ねるようにする。ダミーピクセル領域 35にダミーピクセルが複数列設けられる場合には、検査用スィッチ線 36aは、最も検査配線領域 36に近い行のダミーピクセルの、隣接データ線相当のダミー線を兼ねるようにする。また、上記例では検査用データ線を RGBの各色用に設けて 3本とした力これに限らず、何本でもよい。

[0125] 以上、各実施形態につ!、て述べた。各実施形態の表示パネルは、通常の組み立て工程に従い、べゼルなどの取り付けによって各種表示装置として完成させることができることは言うまでもな、。

[0126] 本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなぐ請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

[0127] 発明の詳細な説明の項においてなされた具体的な実施形態または実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなぐ本発明の精神と次に記載する請求の範囲内にお!、て、、ろ、ろと変更して実施することができるものである。

産業上の利用可能性本発明は、特に液晶表示パネルを搭載する携帯機器に好適に使用することができる他、液晶表示パネルを有する TVなどにも使用可能である。

Claims

請求の範囲

[1] 実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるァクテイブマトリクス型の表示パネルであって、

前記第 1回路は、データ線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 1配線と、データ線ごとに対応して前記第 1配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2 配線とを有し、

前記有効表示領域よりも前記第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにぉヽて、

前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れて!/、る前記ダミーピクセルの走査線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域における走查線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする表示パネル。

[2] 実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるァクテイブマトリクス型の表示パネルであって、

前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れて!/、る前記ダミーピクセルの走査線を兼ねており、

前記スイッチング素子は、前記有効表示領域から最も遠く離れて!/ヽる前記ダミーピクセルの前記データ線との導通および遮断を行うアクティブ素子を兼ねていることを特徴とする表示パネル。

[3] 実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 2の第 1回路を備え、前記第 2の第 1回路は、走査線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 2の第 1配線と、走査線ごとに対応して前記第 2の第 1配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられた第 2のスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記第 2のスイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2の第 2配線とを有し、

前記有効表示領域よりも前記第 2の第 2配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有する第 2のダミーピクセルを備え、

前記第 2の第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記第 2のダミ一ピクセルのデータ線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする請求項 1または 2に記載の表示パネル。

[4] 実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第 1回路を備えるァクテイブマトリクス型の表示パネルであって、

前記第 1回路は、走査線に所定の信号を供給する 1つ以上の第 1配線と、走査線ごとに対応して前記第 1配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記スィッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する 1つの第 2配線とを有し、

前記第 2配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れて!/、る前記ダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域力遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする表示パネル。

[5] 前記ダミーピクセルの領域に、前記表示パネル上での位置を示すパターンが形成されて、ることを特徴とする請求項 1な、し 4の、ずれか 1項に記載の表示パネル。

[6] 前記第 2配線に印加される、前記スイッチング素子を導通状態とする電圧は、前記有効表示領域における走査線に印加される選択電圧と同じであることを特徴とする請求項 1な!、し 3の!、ずれか 1項に記載の表示パネル。

[7] 前記スイッチング素子が導通状態となるときに、前記第 1配線を介して前記データ線に前記所定の信号が供給されて点灯検査が行われることを特徴とする請求項 1な

V、し 3の!、ずれか 1項に記載の表示パネル。

[8] 前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴とする請求項 1、 2、 4のいずれカゝ 1項に記載の表示パネノレ。

[9] 前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されるとともに、前記第 2の第 2配線に前記第 2のスイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴とする請求項 3に記載の表示パネル。

[10] 前記表示パネルの通常使用時は、前記第 2配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧として、前記有効表示領域における走査線に印加される非選択電圧と同じ電圧が印加されることを特徴とする請求項 1ないし 3のいずれか 1項に記載の表示ノネノレ。

[11] 表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第 1回路が設けられていない額縁領域に設けられていることを特徴とする請求項 1、 2、 4のいずれか 1項に記載の表示パネル。

[12] 表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第 1回路および前記第 2の第 1回路の、ずれも設けられて!/、な、額縁領域に設けられて、ることを特徴とする請求項 3に記載の表示パネル。

[13] 液晶表示パネルであることを特徴とする請求項 1ないし 12のいずれか 1項に記載の表示ノネノレ。

[14] 請求項 1な!、し 13の、ずれか 1項に記載の表示パネルを備えて、ることを特徴とする表示装置。