CN113160728B - 显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置 - Google Patents

显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置，其中，本发明提供的漏检检测电路中，包括有在显示面板进行高压画面检测时，响应第二高压检测电压形成的提示信息通路；且该提示信息通路能够响应低压检测电压而生成提示信号。进而，在对显示面板进行高压漏检检测时，能够通过判断漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来确定显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。

Description

显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，更为具体地说，涉及一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展，消费者对于显示面板的要求不断提升，各类显示器层出不群，并得到了飞速的发展，如液晶显示面板、有机发光显示面板等显示屏，在此基础上，3D显示、触控显示技术、曲面显示、超高分辨率显示以及防窥显示等显示技术不断涌现，以满足消费者的需求。有机发光显示面板因其具有质量轻薄、对比度高、可实现弯曲设计等优点，逐渐成为时下显示行业的主流产品，引起了消费者的广泛青睐。在有机发光显示面板出厂前，一般会进行Stress(高压)画面检测来改善显示面板的闪烁问题，但是现有显示面板会出现高压漏检的情况，而导致显示面板的闪烁问题较为严重，使得显示面板的显示效果较差。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置，有效地解决了现有技术存在的技术问题，通过漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来判断显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。
为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：
一种显示面板，包括：显示驱动电路、与所述显示驱动电路相连的多个电源信号线、外接高压检测端子及漏检检测电路；所述外接高压检测端子的第一接入口与所述电源信号线一一对应连接；所述外接高压检测端子的第二接入口与所述漏检检测电路连接；
任意一所述电源信号线用于在所述显示面板正常显示时传输电源电压，且在所述显示面板高压画面检测时传输自所述第一接入口接入的第一高压检测电压，所述第一高压检测电压的绝对值大于所述电源电压的绝对值；所述漏检检测电路包括：在所述显示面板高压画面检测时，响应所述第二接入口接入的第二高压检测电压形成提示信息通路；在所述显示面板漏检检测时，响应所述第二接入口接入的低压检测电压，通过所述提示信息通路，生成提示信息，其中，所述第二高压检测电压的绝对值大于所述低压检测电压的绝对值。
相应的，本发明还提供了一种检测显示面板的高压漏检方法，用于检测上述的显示面板，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述漏检检测电路没有根据所述低压检测电压而生成提示信息，则确定所述显示面板高压漏检。
相应的，本发明还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述的显示面板。
相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点：
本发明提供了一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置，其中，本发明提供的漏检检测电路中，包括有在显示面板进行高压画面检测时，响应第二高压检测电压形成的提示信息通路；且该提示信息通路能够响应低压检测电压而生成提示信号。进而，在对显示面板进行高压漏检检测时，能够通过判断漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来确定显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种漏检检测电路的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的另一种漏检检测电路的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图8为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图9为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图；
图11a为本发明实施例提供的一种发光器件的结构示意图；
图11b为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图12a为本发明实施例提供的另一种发光器件的结构示意图；
图12b为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图13为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图14为本发明实施例提供的一种显示面板高压画面检测方法的流程图；
图15为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图；
图16为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
正如背景技术所述，有机发光显示面板因其具有质量轻薄、对比度高、可实现弯曲设计等优点，逐渐成为时下显示行业的主流产品，引起了消费者的广泛青睐。在有机发光显示面板出厂前，一般会进行Stress(高压)画面检测来改善显示面板的闪烁问题；即高压画面检测为对显示面板的显示驱动电路所连接的电源信号线提供高压检测电压，高压检测电压的绝对值较显示面板正常显示时的电源信号线传输的电源电压的绝对值更大，如对PVDD信号线提供的阳极高压检测电压、对PVEE信号线提供的阴极高压检测电压、对VGH信号线提供的高电平高压检测电压、对VGL信号线提供的低电平高压检测电压、对Vref信号线提供的参考高压检测电压等，这些高压检测电压直接或间接的传输至显示驱动电路中像素电路，以对像素电路中驱动晶体管的栅极相连的功能晶体管进行高压修复，进而提高驱动晶体管的栅极处电位稳定性，改善显示面板显示时出现的闪烁问题。但是现有显示面板会出现高压漏检的情况，漏检无法被发现，进入后续流程会浪费材料，并且在经过后续流程后，无法返工，导致良品率下降；另一方面，导致显示面板的闪烁问题较为严重，使得显示面板的显示效果较差。
基于此，本发明实施例提供了一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置，有效地解决了现有技术存在的技术问题，通过漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来判断显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。
为实现上述目的，本发明实施例提供的技术方案如下，具体结合图1至图16对本发明实施例提供的技术方案进行详细的描述。
参考图1所示，为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，其中，显示面板包括：
显示驱动电路，显示驱动电路包括有扫描驱动电路110和与扫描驱动电路110相连的像素电路120的阵列，其中，扫描驱动电路110用于逐行为各行的像素电路120提供扫描驱动信号，而对像素电路120进行扫描控制像素电路120点亮其发光器件。
与所述显示驱动电路相连的多个电源信号线200，多个电源信号线200可以包括有与扫描驱动电路110所电连接的至少一个电源信号线200，如在显示面板正常显示时用于提供高电平电压的高电平VGH信号线、在显示面板正常显示时提供低电平电压的低电平VGL信号线等；还包括有与像素电路120电连接的至少一个电源信号线，如在显示面板正常显示时提供阳极电压的阳极PVDD信号线、在显示面板正常显示时提供阴极电压的阴极PVEE信号线、在显示面板正常显示时提供参考电压的参考Vref信号线等；亦即，任意一电源信号线传输的电源电压可以为高电平电压、低电平电压、阳极电压、阴极电压、参考电压等。
外接高压检测端子300及漏检检测电路400，所述外接高压检测端子300的第一接入口与所述电源信号线200一一对应连接，其中，外接高压检测端子300包括有多个第一接入口，每一个第一接入口与一个电源信号线200对应连接，通过不同第一接入口为不同的电源信号线200提供相应不同的第一高压检测电压；所述外接高压检测端子300的第二接入口与所述漏检检测电路400连接。
在本发明实施例中，本发明提供的任意一所述电源信号线200用于在所述显示面板正常显示时传输电源电压，且在所述显示面板高压画面检测时传输自所述外接高压检测端子300的第一接入口接入的第一高压检测电压，对于任一电源信号线200而言，其传输的所述第一高压检测电压的绝对值大于其传输的所述电源电压的绝对值；所述漏检检测电路400包括：在所述显示面板高压画面检测时，响应所述外接高压检测端子300的第二接入口接入的第二高压检测电压形成提示信息通路；在所述显示面板漏检检测时，响应所述外接高压检测端子300的第二接入口接入的所述低压检测电压，通过所述提示信息通路，生成提示信息，其中，所述第二高压检测电压的绝对值大于所述低压检测电压的绝对值。
需要说明的是，本发明实施例提供的显示面板包括有多个电源信号线，因此在显示面板正常显示时，不同电源信号线传输不同的电源电压；且在显示面板高压画面检测时，不同的电源信号线传输不同的第一高压检测电压，其中，对于单个电源信号线而言，电源信号线输出的第一高压检测电压的绝对值大于该电源信号线传输的电源电压的绝对值。
基于上述实施例提供的显示面板，本发明实施例还提供了一种检测显示面板的高压漏检方法，用于检测上述实施例所提供的显示面板，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述漏检检测电路没有根据所述低压检测电压而生成提示信息，则确定所述显示面板高压漏检。
可以理解的，本发明实施例提供的漏检检测电路中，包括有在显示面板进行高压画面检测时，响应第二高压检测电压形成的提示信息通路；且该提示信息通路能够响应低压检测电压而生成提示信号。进而，在对显示面板进行高压漏检检测时，能够通过判断漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来确定显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。
在本发明一实施例中，本发明所提供的所述提示信息可以包括可视化提示信息；所述可视化提示信息包括发光器件的点亮信息，进而通过观察发光器件的点亮状态，以判断显示面板是否经过了高压画面检测。可选的，在本发明其他实施例中，提示信息还可以包括声音提示信息或者声光提示信息，对此本发明不做具体限制。
参考图2所示，为本发明实施例提供的一种漏检检测电路的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括第一电容C1和所述发光器件410，所述第一电容C1的第一极板与所述外接高压检测端子300的第二接入口相连，所述第一电容C1的第二极板与所述发光器件410相连。
结合2所示的漏检检测电路400，本发明实施例提供了一种检测显示面板的高压漏检方法，所述漏检检测电路400包括所述第一电容C1和所述发光器件410时，所述漏检检测电路400接入自所述外接高压检测端子300的第二接入口输出的第二高压检测电压时，第二高压检测电压能够将所述第一电容C1击穿，进而形成击穿的第一电容C1和发光器件410形成的提示信息通路，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子300的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件410没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。其中，低压检测电压可以通过与显示面板上电源信号线无关的外接线路提供。
可以理解的，在正常电压情况、且第一电容未被击穿情况下，第一电容能够起到断路作用，而使得正常电压无法通过第一电容传输至发光器件，发光器件处于熄灭状态。而在显示面板进行高压画面检测时，通过外接高压端子的第二接入口对漏检检测电路传输第二高压检测电压，由于第二高压检测电压能够将第一电容击穿，也就是在高压画面检测时第二高压检测电压不仅能够点亮发光器件，还能够使得第一电容和发光器件之间形成永久的提示信息通路。进而，在后续检测显示面板是否有高压漏检的情况时，仅仅需要对外接高压端子的第二接入口提供低压检测电压，就能够通过击穿的第一电容传输至发光器件而使其点亮。也就是说，检测人员判断出发光器件响应低压检测电压而发光，则说明显示面板经过了高压画面检测；而如果判断出发光器件没有响应低压检测电压而发光，则说明显示面板未经过高压画面检测，对此需要对显示面板进行进一步处理，如将显示面板返回高压画面检测的节点重新进行检测。
在本发明一实施例中，本发明所提供的发光器件可以为有机发光二极管。如图3所示，为本发明实施例提供的另一种漏检检测电路的结构示意图，其中本发明实施例提供的外接高压检测端子300的第二接入口可以传输为正电压的第二高压检测电压，其中，有机发光二极管410的阳极与第一电容C1的第二极板电连接，有机发光二极管410的阴极接地或负电压。在对显示面板进行高压画面检测时，正电压的第二高压检测电压将第一电容C1击穿，形成第一电容C1至有机发光二极管410方向的电流通路；进而，在检测显示面板是否高压漏检时，第二接入口输出正电压的低压检测电压，通过判断有机发光二极管410是否发光，来判断显示面板是否出现高压漏检的情况。
或者如图4所述，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，其中本发明实施例提供的外接高压检测端子300的第二接入口可以传输为负电压的第二高压检测电压，其中，有机发光二极管410的阴极与第一电容C1的第二极板电连接，有机发光二极管410的阳极接正电压。在对显示面板进行高压画面检测时，负电压的第二高压检测电压将第一电容C1击穿，形成有机发光二极管410至第一电容C1方向的电流通路；进而，在检测显示面板是否高压漏检时，第二接入口输出负电压的低压检测电压，通过判断有机发光二极管410是否发光，来判断显示面板是否出现高压漏检的情况。
参考图5所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括第二电容C2、第一晶体管M1和所述发光器件420，所述第二电容C2的第一极板与所述外接高压检测端子300的第二接入口相连，所述第二电容C2的第二极板与所述第一晶体管M1的第一端相连，所述第一晶体管M1的第二端与所述发光器件420相连，所述第一晶体管M1的栅极接入第一控制信号K1，且所述外接高压检测端子300的任意一第一接入口与第二接入口相连。
结合图5所示的漏检检测电路400，本发明实施例提供了一种检测显示面板的高压漏检方法，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括所述第二电容C2、所述第一晶体管M1和所述发光器件420时，所述漏检检测电路400接入自所述外接高压检测端子300的第二接入口输出的第二高压检测电压时，第二高压检测电压能够将所述第二电容C2击穿，所述高压漏检方法包括：
控制所述第一晶体管M1导通，其中，第一晶体管M1可以为N型晶体管或P型晶体管；在高压画面检测及漏检检测时，第一控制信号K1根据第一晶体管M1的类型选择输出相应电平信号而控制第一晶体管M1导通；以及，在显示面板正常显示画面时，第一控制信号K1选择输出相应电平信号而控制第一晶体管M1关断。
所述外接高压检测端子300的第二接入口，自与其相连的所述第一接入口接入所述电源信号线200传输的电源电压，所述电源电压为所述低压检测电压，且判断出所述发光器件420没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。其中，低压检测电压由与第二接入口相连的电源信号线200所提供。
可以理解的，本发明实施例提供的第二接入口与任意一第一接入口相连，亦即第二接入口与相应的一电源信号线电连接；其中，第二接入口所输出的电压实质与和其相连的电源信号线传输的电压相同，也就是说第二高压检测电压实质为与其相连的电源信号线传输的第一高压检测电压，而低压检测电压实质为与其相连的电源信号线传输的电源电压。
在正常电压情况、且第二电容未被击穿情况下，第二电容能够起到断路作用，而使得正常电压无法通过第二电容和第一晶体管传输至发光器件，发光器件处于熄灭状态。而在显示面板进行高压画面检测时，通过外接高压端子的第二接入口对漏检检测电路传输第二高压检测电压，由于第二高压检测电压能够将第二电容击穿，也就是在高压画面检测时第二高压检测电压不仅能够点亮发光器件，还能够使得第二电容、导通的第一晶体管和发光器件之间形成永久的提示信息通路。进而，在后续检测显示面板是否有高压漏检的情况时，仅仅需要对外接高压端子的第二接入口提供低压检测电压，就能够通过击穿的第二电容和导通的第一晶体管传输至发光器件而使其点亮。也就是说，检测人员判断出发光器件响应低压检测电压而发光，则说明显示面板经过了高压画面检测；而如果判断出发光器件没有响应低压检测电压而发光，则说明显示面板未经过高压画面检测，对此需要对显示面板进行进一步处理，如将显示面板返回高压画面检测的节点重新进行检测。
在本发明一实施例中，本发明所提供的发光器件可以为有机发光二极管。如图6所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，其中本发明实施例提供的外接高压检测端子300的第二接入口可以与传输正电压的电源信号线对应的第一接入口相连，其中，有机发光二极管420的阳极与第一晶体管M1的第二端电连接，有机发光二极管420的阴极接地或负电压。在对显示面板进行高压画面检测时，第一晶体管M1导通，正电压的第二高压检测电压将第二电容C2击穿，形成第二电容C2至有机发光二极管420方向的电流通路；进而，在检测显示面板是否高压漏检时，与第二接入口相连的电源电压线传输正电压的电源电压，故而第二接入口输出正电压的低压检测电压，通过判断有机发光二极管420是否发光，来判断显示面板是否出现高压漏检的情况。
或者如图7所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，其中本发明实施例提供的外接高压检测端子300的第二接入口可以传输为负电压的电源信号线对应的第一接入口相连，其中，有机发光二极管420的阴极与第一晶体管M1的第二端电连接，有机发光二极管420的阳极接正电压。在对显示面板进行高压画面检测时，第一晶体管M1导通，负电压的第二高压检测电压将第二电容C2击穿，形成有机发光二极管420至第二电容C2方向的电流通路；进而，在检测显示面板是否高压漏检时，与第二接入口相连的电源电压线传输负电压的电源电压，故而第二接入口输出负电压的低压检测电压，通过判断有机发光二极管420是否发光，来判断显示面板是否出现高压漏检的情况。
参考图8所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括第二晶体管M2和所述发光器件430，所述第二晶体管M2的第一端与所述外接高压检测端子300的第二接入口相连，所述第二晶体管M2的第二端与所述发光器件430相连，所述第二晶体管M2的栅极接入非使能电压Vfen。
结合图8所示的漏检检测电路400，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括所述第二晶体管M2和所述发光器件430，所述漏检检测电路400接入自所述外接高压检测端子300的第二接入口输出的第二高压检测电压时，所述第二晶体管M2的阈值电压正偏，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子300的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件430没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
可以理解的，在显示面板进行高压画面检测时，通过外接高压端子的第二接入口对漏检检测电路传输第二高压检测电压，第二高压检测电压能够将第二晶体管的阈值电压正偏。进而，在后续检测显示面板是否有高压漏检的情况时，仅仅需要对外接高压端子的第二接入口提供低压检测电压，就能够通过正偏的第二晶体管传输至发光器件而使其点亮。也就是说，检测人员判断出发光器件响应低压检测电压而发光，则说明显示面板经过了高压画面检测；而如果判断出发光器件没有响应低压检测电压而发光，则说明显示面板未经过高压画面检测，对此需要对显示面板进行进一步处理，如将显示面板返回高压画面检测的节点重新进行检测。
如图9所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，本发明实施例提供的所述第二晶体管M2可以为P型晶体管，所述非使能电压Vfen为高电平电压，所述低压检测电压为所述高电平电压与预设电压之和。其中，本发明实施例提供的发光器件430可以为有机发光二极管，有机发光二极管430的阳极与第二晶体管M2的第二端电连接，有机发光二极管430的阴极接地或负电压。可选的，本发明实施例提供的预设电压与第二晶体管M2的阈值电压相同，或者预设电压大于第二晶体管M2的阈值电压。
在本发明一实施例中，本发明所提供的漏检检测电路包括所述第二晶体管和所述发光器件时，低压检测电压可以由与显示面板无关的外接线路提供。或者，低压检测电压还可以由驱动芯片提供，具体如图10所示，为本发明实施例提供的又一种漏检检测电路的结构示意图，本发明实施例提供的所述漏检检测电路400包括第二晶体管M2和所述发光器件430，所述第二晶体管M2的第一端与所述外接高压检测端子300的第二接入口相连，所述第二晶体管M2的第二端与所述发光器件430相连，所述第二晶体管M2的栅极接入非使能电压Vfen。所述外接高压检测端子300的第二接入口与所述显示面板的驱动IC绑定区500的端口相连。
结合图10所示的漏检检测电路400，所述漏检检测电路400包括所述第二晶体管M2和所述发光器件430，且所述外接高压检测端子300的第二接入口与所述显示面板的驱动IC绑定区500的端口相连时，所述漏检检测电路400接入所述第二高压检测电压时所述第二晶体管M2的阈值电压正偏，所述高压漏检方法包括：
将驱动芯片与所述显示面板的驱动IC绑定区500绑定。
控制驱动芯片对所述外接高压检测端子300的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件430没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
可以理解的，本发明实施例提供的显示面板的高压漏检过程可以在驱动芯片与驱动IC绑定区进行绑定后进行，进而，电压检测电压由驱动芯片输出至第二接入口，以通过漏检检测电路进行检测。
在上述任意一实施例中，本发明提供的所述发光器件可以为有机发光二极管，有机发光二极管可以为任意发光颜色，如红色、蓝色和绿色等。其中本发明实施例提供的有机发光二极管可以为单颗芯片结构。或者，如图11a所示，为本发明实施例提供的一种发光器件的结构示意图，其中本发明实施例提供的发光器件包括的有机发光二极管为多个子有机发光二极管401的集合，所有子有机发光二极管401可以串联形成发光器件。其中串联的多个子有机发光二极管可以设置于显示面板的像素单元组成阵列的边缘处，如图11b所示，为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，其中本发明实施例提供的漏检检测电路400包括的串联的多个子有机发光二极管401位于像素单元组成阵列的边缘处，对此本发明并不做具体限制。
或者，如图12a所示，为本发明实施例提供的另一种发光器件的结构示意图，本发明实施例提供的发光器件包括多个子有机发光二极管401的集合时，所有有机发光二极管401可以并联形成发光器件。其中并联的多个子有机发光二极管可以设置于显示面板的像素单元组成阵列的边缘处，如图12b所示，为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，其中本发明实施例提供的漏检检测电路400包括的串联的多个子有机发光二极管401位于像素单元组成阵列的边缘处，对此本发明并不做具体限制。
又或者，本发明实施例提供的发光器件包括多个子有机发光二极管的集合时，所有子有机发光二极管可以部分串联，而部分并联后，将两部分串联形成发光器件，对此本发明不做具体限制。
以及，本发明实施例提供的显示面板，其包括有位于非显示区处的虚拟像素单元，其中本发明实施例提供的有机发光二极管可以复用显示面板中虚拟像素单元中的有机发光二极管。如图13所示，为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，其中，所述显示面板多个虚拟像素单元600，多个虚拟像素单元600可以位于像素单元120组成阵列的任意一侧边缘处(亦即，本发明实施例提供的像素单元组成的阵列中，在行排列方向和/或列排列方向的任一一侧端部行和/或端部列的像素单元可以为虚拟像素单元，对此本发明实施例提供的漏检检测电路可以复用同行或同列的虚拟像素单元的有机发光二极管，或者复用不同行或不同列的有机发光二极管等，对此本发明不做具体限制)，所述发光器件复用所述虚拟像素单元600的有机发光二极管。可选的，本发明实施例提供的有机发光二极管可以复用位于显示区任意侧的虚拟像素单元的有机发光二极管，对此需要根据实际应用进行具体设计，本发明不做具体限制。
或者，本发明实施例提供的有机发光二极管可以为单独制作的器件，对此本发明同样不做具体限制。
在本发明一实施例中，本发明检测出显示面板高压漏检后，可以对显示面板重新进行高压画面检测，如图14所示，为本发明实施例提供的一种显示面板高压画面检测方法的流程图，其中，确定所述显示面板高压漏检后，对所述显示面板进行高压画面检测，其中，所述显示驱动电路包括像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管(驱动晶体管即为像素电路中发光元件提供驱动电流的晶体管)及与所述驱动晶体管的栅极电连接的至少一个功能晶体管；对所述显示面板进行高压画面检测包括：
S1、通过所述电源信号线为所述像素电路提供第一高压检测电压。
S2、对所有所述功能晶体管的漏源电压进行调节，其中，所述功能晶体管在所述电源信号线传输所述第一高压检测电压时的漏源电压的绝对值，大于在所述电源信号线传输所述电源电压时的漏源电压的绝对值。其中漏源电压即为功能晶体管的漏极电压减去其源极电压的差值。
S3、对所有所述功能晶体管的栅源电压进行调节，其中，所述功能晶体管在所述电源信号线传输所述第一高压检测电压时的栅源电压的绝对值，大于在所述电源信号线传输所述电源电压时的栅源电压的绝对值。其中栅源电压即为功能晶体管的栅极电压减去其源极电压的差值。
可以理解的，本发明实施例提供的高压画面检测方法可以在显示面板可靠性测试后进行，对此本发明不做具体限制。其中，高压画面检测方法中，按照预定策略控制相关电源信号线为像素电路提供各自相应的第一高压检测电压，亦即通过预定策略通过外接高压检测端子的第一接入口为电源信号线提供相应第一高压检测电压；其中，与像素电路直接相连的电源信号线可以直接为像素电路提供第一高压检测电压；而与扫描驱动电路相连的电源信号线，则通过扫描驱动电路间接为像素电路提供第一高压检测电压。进而通过预定策略控制电源信号线，达到对功能晶体管的漏源电压调节的目的，即相较于显示面板正常显示时功能晶体管的漏源电压，高压画面检测时为将功能晶体管的漏源电压进行调大处理，具体可以使得在高压画面检测时功能晶体管的漏源电压，大于正常显示时功能晶体管的漏源电压的2-7倍(包括端点值)，以对功能晶体管进行修复；及对所有功能晶体管的栅源电压进行调节的目的，即相较于显示面板正常显示时功能晶体管的栅源电压，高压画面检测时为将功能晶体管的栅源电压进行调大处理，以对功能晶体管进行修复，最终通过修复后的功能晶体管保证驱动晶体管的栅极处电位稳定性高。
在本发明一实施例中，在对显示面板进行高压画面检测时，可以采用单独对功能晶体管的源极处电压进行调整、单独对功能晶体管的漏极处电压进行调整或者对功能晶体管的源极和漏极处电压均进行调整的方式，达到调整功能晶体管的漏源电压的目的。以及，在对显示面板进行高压画面检测时，可以采用单独对功能晶体管的源极处电压进行调整、单独对功能晶体管的栅极处电压进行调整或者对功能晶体管的源极和栅极处电压均进行调整的方式，达到调整功能晶体管的栅源电压的目的，对此本发明不做具体限制。
下面结合一具体像素电路对本发明实施例提供的高压画面检测方法进行说明。具体结合图15所示，为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图，其中像素电路包括：驱动晶体管T0；复位晶体管T1，复位晶体管T1的第一端与提供参考电压的Vref信号线电连接，复位晶体管T1的栅极接入扫描控制电压SCAN1，复位晶体管T1的第二端电连接驱动晶体管T0的栅极。第一数据写入晶体管T2和第二数据写入晶体管T3，第一数据写入晶体管T2和第二数据写入晶体管T3的栅极均接入扫描控制电压SCAN2，第一数据写入晶体管T2的第一端接入数据电压Vdata，第一数据写入晶体管T2的第二端电连接驱动晶体管T0的第一端；第二数据写入晶体管T3的第一端电连接驱动晶体管T0的栅极，第二数据写入晶体管T3的第二端电连接驱动晶体管T0的第二端；第一控制发光晶体管T4和第二控制发光晶体管T5，第一控制发光晶体管T4和第二控制发光晶体管T5的栅极均接入发光控制电压EMIT1，第一控制发光晶体管T4的第一端与提供阳极电压的PVDD信号线电连接，第一控制发光晶体管T4的第二端电连接驱动晶体管T0的第一端，第二控制发光晶体管T5的第一端电连接驱动晶体管T0的第二端，第二控制发光晶体管T5的第二端电连接发光元件D(发光元件D可以为有机发光二极管)的第一端，发光元件50的第二端与提供阴极电压的PVEE信号线电连接；及存储电容C，存储电容C的第一极板与PVDD信号线电连接，存储电容C的第二极板电连接驱动晶体管T0的栅极。其中，Vref信号线、PVDD信号线和PVEE信号线即为与像素电路直接电连接的电源信号线，扫描控制电压SCAN1和扫描控制电压SCAN2为显示驱动电路中与扫描驱动电路相连的电源信号线间接提供的电源电压。复位晶体管T1和第二数据写入晶体管T3即为与驱动晶体管T0的栅极电连接的功能晶体管。对所述显示面板的像素电流进行高压画面检测时，通过各个电源信号线按照预设策略为像素电路提供第一高压检测电压，进而达到对复位晶体管T1的源极和/或漏极的电压进行绝对值的调高(调高即相较于正常显示时复位晶体管T1源极和漏极处的电压)处理的目的，使得复位晶体管T1的在显示面板进行高压画面检测时的漏源电压的绝对值，大于其在显示面面板正常显示时的漏源电压的绝对值，具体大于倍数可以为2-7倍，包括端点值。及达到对第二数据写入晶体管T3的源极和/或漏极的电压进行绝对值的调高(调高即相较于正常显示时第二数据写入晶体管T3源极和漏极处的电压)处理的目的，使得第二数据写入晶体管T3的在显示面板进行高压画面检测时的漏源电压的绝对值，大于其在显示面面板正常显示时的漏源电压的绝对值，具体大于倍数可以为2-7倍，包括端点值。
以及，通过各个电源信号线按照预设策略为像素电路提供第一高压检测电压，达到对复位晶体管T1的源极和/或栅极的电压进行绝对值的调高(调高即相较于正常显示时复位晶体管T1源极和栅极处的电压)处理的目的，使得复位晶体管T1的在显示面板进行高压画面检测时的栅源电压的绝对值，大于其在显示面面板正常显示时的栅源电压的绝对值，具体大于倍数可以为2-7倍，包括端点值。及达到对第二数据写入晶体管T3的源极和/或栅极的电压进行绝对值的调高(调高即相较于正常显示时第二数据写入晶体管T3源极和栅极处的电压)处理的目的，使得第二数据写入晶体管T3的在显示面板进行高压画面检测时的栅源电压的绝对值，大于其在显示面面板正常显示时的栅源电压的绝对值，具体大于倍数可以为2-7倍，包括端点值。最终完成整个高压画面检测的过程。
需要说明的是，本发明实施例提供的高压画面检测过程中，对各个电源信号线提供的第一高压检测电压具体值不做限制，对此需要根据实际应用进行具体分析设计，仅需要满足高压画面检测时对功能晶体管的漏源电压的绝对值和栅源电压的绝对值进行调高(调高即相较于显示面板正常显示情况)即可。
相应的，本发明还提供了一种显示装置，本发明实施例提供的所述显示装置包括上述任意一实施例所述的显示面板。
参考图16所示，为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，本发明实施例提供的显示装置可以为移动终端1000，移动终端包括上述任意一实施例提供的显示面板。
需要说明的是，本发明实施例提供的显示装置还可以为笔记本、平板电脑、电脑、可穿戴设备等，对此本发明不做具体限制。
本发明实施例提供了一种显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置，其中，本发明实施例提供的漏检检测电路中，包括有在显示面板进行高压画面检测时，响应第二高压检测电压形成的提示信息通路；且该提示信息通路能够响应低压检测电压而生成提示信号。进而，在对显示面板进行高压漏检检测时，能够通过判断漏检检测电路是否根据低压检测电压生成提示信息，来确定显示面板是否经过了高压画面检测，避免出现显示面板高压漏检的情况，保证显示面板的显示效果高。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (16)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示驱动电路、与所述显示驱动电路相连的多个电源信号线、外接高压检测端子及漏检检测电路；所述外接高压检测端子的第一接入口与所述电源信号线一一对应连接；所述外接高压检测端子的第二接入口与所述漏检检测电路连接；
任意一所述电源信号线用于在所述显示面板正常显示时传输电源电压，且在所述显示面板高压画面检测时传输自所述第一接入口接入的第一高压检测电压，所述第一高压检测电压的绝对值大于所述电源电压的绝对值；所述漏检检测电路包括：在所述显示面板高压画面检测时，响应所述第二接入口接入的第二高压检测电压形成提示信息通路；在所述显示面板漏检检测时，响应所述第二接入口接入的低压检测电压，通过所述提示信息通路，生成提示信息，其中，所述第二高压检测电压的绝对值大于所述低压检测电压的绝对值。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述提示信息包括可视化提示信息；所述可视化提示信息包括发光器件的点亮信息。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述漏检检测电路包括第一电容和所述发光器件，所述第一电容的第一极板与所述外接高压检测端子的第二接入口相连，所述第一电容的第二极板与所述发光器件相连。
4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述漏检检测电路包括第二电容、第一晶体管和所述发光器件，所述第二电容的第一极板与所述外接高压检测端子的第二接入口相连，所述第二电容的第二极板与所述第一晶体管的第一端相连，所述第一晶体管的第二端与所述发光器件相连，所述第一晶体管的栅极接入第一控制信号，且所述外接高压检测端子的任意一第一接入口与第二接入口相连。
5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述漏检检测电路包括第二晶体管和所述发光器件，所述第二晶体管的第一端与所述外接高压检测端子的第二接入口相连，所述第二晶体管的第二端与所述发光器件相连，所述第二晶体管的栅极接入非使能电压。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二晶体管为P型晶体管，所述非使能电压为高电平电压，所述低压检测电压为所述高电平电压与预设电压之和。
7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述外接高压检测端子的第二接入口与所述显示面板的驱动IC绑定区的端口相连。
8.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述发光器件为有机发光二极管。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述非显示区包括多个虚拟像素单元，所述发光器件复用所述虚拟像素单元的有机发光二极管。
10.一种检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，用于检测权利要求1-9任意一项所述的显示面板，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述漏检检测电路没有根据所述低压检测电压而生成提示信息，则确定所述显示面板高压漏检。
11.根据权利要求10所述的检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，确定所述显示面板高压漏检后，对所述显示面板进行高压画面检测，其中，所述显示驱动电路包括像素电路，所述像素电路包括驱动晶体管及与所述驱动晶体管的栅极电连接的至少一个功能晶体管；
对所述显示面板进行高压画面检测包括：
通过所述电源信号线为所述像素电路提供第一高压检测电压；
对所有所述功能晶体管的漏源电压进行调节，其中，所述功能晶体管在所述电源信号线传输所述第一高压检测电压时的漏源电压的绝对值，大于在所述电源信号线传输所述电源电压时的漏源电压的绝对值；
对所有所述功能晶体管的栅源电压进行调节，其中，所述功能晶体管在所述电源信号线传输所述第一高压检测电压时的栅源电压的绝对值，大于在所述电源信号线传输所述电源电压时的栅源电压的绝对值。
12.根据权利要求10所述的检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，所述漏检检测电路包括第一电容和发光器件时，所述漏检检测电路接入所述第二高压检测电压时所述第一电容击穿，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
13.根据权利要求10所述的检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，所述漏检检测电路包括第二电容、第一晶体管和发光器件时，所述漏检检测电路接入所述第二高压检测电压时所述第二电容击穿，所述高压漏检方法包括：
控制所述第一晶体管导通；
所述外接高压检测端子的第二接入口，自与其相连的所述第一接入口接入所述电源信号线传输的电源电压，所述电源电压为所述低压检测电压，且判断出所述发光器件没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
14.根据权利要求10所述的检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，所述漏检检测电路包括第二晶体管和发光器件，所述漏检检测电路接入所述第二高压检测电压时所述第二晶体管的阈值电压正偏，所述高压漏检方法包括：
对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
15.根据权利要求10所述的检测显示面板的高压漏检方法，其特征在于，所述漏检检测电路包括第二晶体管和发光器件，且所述外接高压检测端子的第二接入口与所述显示面板的驱动IC绑定区的端口相连时，所述漏检检测电路接入所述第二高压检测电压时所述第二晶体管的阈值电压正偏，所述高压漏检方法包括：
将驱动芯片与所述显示面板的驱动IC绑定区绑定；
控制驱动芯片对所述外接高压检测端子的第二接入口输入所述低压检测电压，判断出所述发光器件没有响应所述低压检测电压而发光，则确定所述显示面板高压漏检。
16.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求1-9任意一项所述的显示面板。
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