WO2004110057A1 - 広ダイナミックレンジイメージセンサ - Google Patents

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WO2004110057A1
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Shoji Kawahito
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    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters

Definitions

  • the present invention relates to expansion of a dynamic range in an image sensor.
  • Fig. 1 (a) shows the signal accumulation and signal readout timing of a general CMOS image sensor
  • Fig. 1 (b) shows the signal accumulation and readout timing of a CMOS image sensor that performs burst reading (centralized reading). ). This is the case where the number of pixels in the vertical direction is 5 pixels, and the vertical blanking period is not considered.
  • the signal for one horizontal line is read by taking the time obtained by dividing the time TF of one frame by Nv, The signal readout from all pixels is read out over one frame time.
  • the signal reading time for one horizontal line is shortened, and signal reading from all pixels is performed intensively in a short time.
  • This method of reading requires signals to be read at high speed, resulting in problems such as increased power consumption.However, the timing deviation at the start of signal charge accumulation differs from that of the conventional method. Since the number is relatively small, there is an advantage that distortion when capturing an object having a large motion is relatively small.
  • the conventional technology (8) is based on the reading method shown in Fig. 1 (a). When reading out the signal of the n-th row that has been stored for a long time, only ⁇ rows are read in the direction already read from that row. By reading out the signals in the shifted rows, it also reads out short-time accumulated signals equivalent to ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ (reading time for one horizontal line) and combines them to create a wide dynamic range. It is intended to realize an image sensor.
  • the long-time accumulation signal and the short-time accumulation signal are read out simultaneously and in parallel, it is possible to determine in real time whether short-time accumulation and reading out are to be performed, for example, from the information of all the pixels that have been accumulated for a long time. Adaptive processing cannot be performed.
  • the present invention relates to a wide dynamic range image sensor based on signal burst reading (centralized reading), and also proposes an adaptive multiple sampling method.
  • a signal that has been stored for a long time is read out from the image sensor at high speed, and then a signal that has been stored for a short time is burst-read out. After that, the signal that has been stored for a shorter time is burst-read. Repeat these if necessary.
  • An image sensor with a wide dynamic range by reading and combining these signals with different accumulation times.
  • Figure 1 shows the timing of signal accumulation and readout of a general CMOS image sensor, and the timing of signal accumulation and readout in burst readout (for 5 vertical pixels, LA: signal accumulation period, LR: signal readout period).
  • Figure 2 shows the timing of signal accumulation and readout (when the number of vertical pixels is 5.
  • LA Long-time accumulation signal accumulation period
  • SA Short-time accumulation signal accumulation period
  • VSA Very short-time accumulation signal accumulation period
  • LR Long-term accumulated signal readout period
  • SR Short-term accumulated signal readout period
  • VSR Very short-term accumulated signal readout period
  • the numbers are the corresponding row numbers of the image array.
  • FIG. 3 is a block diagram of a wide dynamic range image sensor.
  • FIG. 4 is a diagram showing control signal timings when the number of vertical pixels is four.
  • Fig. 5 is a configuration diagram when there are two readout circuits.
  • FIG. 6 is a configuration diagram of a wide dynamic range image sensor when the four components of the primary color filter are output in parallel.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of a state transition diagram for adaptive dynamic range setting.
  • FIG. 9 is a block diagram of a processing circuit that adaptively changes the dynamic range.
  • Fig. 10 shows a column noise canceling circuit H that can select 1x and 4x gain. It is.
  • FIG. 11 is a state transition diagram for setting a gain.
  • FIG. 12 is a diagram showing the synthesis of nonlinear response characteristics using the long-time accumulated signal LA and the three types of short-time accumulated signals (SA1, SA2, SA3).
  • FIG. 13 is a block diagram of a process for obtaining the conversion characteristics of FIG.
  • FIG. 14 is a diagram showing operations of writing and reading to and from the memory.
  • FIG. 15 is a processing block diagram for writing a video signal and a zone number indicating an accumulation time.
  • the present invention provides a wide dynamic range image sensor with features that solve the problems of the prior art.
  • the present invention is based on burst reading shown in FIG. 1 (b).
  • a wide dynamic range image sensor is realized by reading and combining signals with multiple storage times, such as long-time storage, short-time storage, and shorter time storage.
  • FIG. 2 is a timing chart of signal accumulation and reading of the wide dynamic range image sensor according to the present invention. This example shows a case where the number of pixels in the vertical direction is 5 pixels. Let ⁇ ⁇ be the total time to read out the signal that has been stored for a long time.
  • the time required for the centralized read-out for all pixels is at most the frame period. Must be less than 1/2.
  • 1/4 or 1/6 of the frame period is considered to have high practical value.
  • it is appropriate to perform up to two types of short-time storage and in the case of 1/6 of the frame period, it is appropriate to perform up to three types of short-time storage. It is possible to capture an image with a wide dynamic range while adaptively changing whether or not the short-time accumulation is performed with the short-time accumulation time.
  • Ns the number of burst readings of the short-time accumulated signal.
  • Ns 2 because burst reading is performed twice for short-time accumulation and shorter-time accumulation signals.
  • T R the ratio of T R, i.e., T AI - and / T R a N R.
  • the maximum dynamic range expansion rate for a general image sensor that performs long-time accumulation over one frame period is TF / T ASMIN (m), and is as follows.
  • Tf (N V N tool + N R )
  • ASMN 3
  • Ns 3
  • Nv the number of vertical pixels
  • Figure 3 shows the block diagram.
  • Figure 4 shows the timing of the control signal in case 2.
  • T AS (1) T R
  • T AS (2) 2 T ".
  • VTRG 1 and VTRG 2 two trigger signals (VTRG 1 and VTRG 2) given to the vertical shift register (in FIG. 3, a chain of flip-flops marked with a D symbol) are shown in FIG.
  • VTRG 1 is a trigger Me other read burst
  • VTRG 2 the trigger signal der giving the vertical shift register provided in the dedicated to generate a reset signal for a short time accumulation than T R You.
  • Burst reading has a higher reading speed, which may increase power consumption.
  • the power consumption of the A / D converter increases.
  • the reading circuit and the A / D converter do not need to be operated except during the reading time in one frame period, so it is possible to reduce the power consumption by cutting the input power. it can.
  • the current value for normal operation is set to a current value that is reduced to about 1/10 in standby mode, so that the power in standby mode can be reduced without making the circuit unstable. It can be greatly reduced.
  • the reading speed becomes high, the operating speed may not be enough with only one reading circuit.
  • two reading circuits or As shown in Fig. 6, a method of providing four systems is also conceivable.
  • the R, B, Gl, and G 2 components of a primary color filter in a Bayer array are read out to four readout circuits, and horizontal readout is performed in parallel. It can be carried out.
  • the deviation of the characteristics of the four readout circuits can be corrected at the same time as the processing for the color signal is performed, and there is no waste.
  • the ADC in FIG. 6 is an A / D converter.
  • a wide dynamic range image sensor based on such burst readout can reduce motion distortion and obtain a wide dynamic range image. Suitable for applications requiring a range.
  • Another advantage of this method is that since long-time and short-time images can be obtained independently, short-time image capturing conditions can be set based on image information obtained by long-time storage, or short-time It is possible to determine in real time whether time accumulation imaging is necessary.
  • FIG. 7 shows the 10 states under different imaging conditions and the dynamic range values obtained in each state.
  • SO is a case where only signal accumulation and reading are performed for a long time, and the dynamic range in each state is based on the dynamic range at this time.
  • LS means a long-time accumulation signal
  • SA 1, SA 2, and SA 3 mean a short-time accumulation signal, but the values in Fig. 7 indicate that SA 1 corresponds to LA, SA 2 corresponds to SA 1, SA 3 indicates the ratio of the accumulation time to SA 2.
  • the short-time accumulation signal is read, the long-time accumulation time is shortened by that much, and the sensitivity is reduced by that much, so the effect is included in the calculation of the dynamic range.
  • Fig. 8 shows a state transition diagram when imaging is performed while setting the dynamic range to the optimal value in real time when short-time accumulation is performed up to twice, that is, when S0 to S6 are used. Show.
  • This is an overflow flag OF that indicates whether the long-time accumulated signal and the first and second short-time accumulated signals exceed the maximum amplitude that can be obtained.
  • OF ⁇ _F 2 the dynamic maximum value of the first and second short-time accumulation signal, indicating whether the maximum or amplitude sufficiently smaller than that can be handled, underflow flag UFI, using UF 2, the imaging condition To set.
  • FIG. 8 shows a block diagram of a process for setting a dynamic dynamic range.
  • the output Y of the A / D converter (ADC) is compared with the set threshold value Tue, and the number of pixels exceeding the threshold is counted by a counter. This is were the N (Y, T L), which, if the threshold value T 3 or more set, the overflow Rofuragu to 1.
  • N Y, T L
  • the underflow flag with respect to the output Y of the ADC is compared with the threshold value T 2 is set, counting the number of pixels that exceeds the T 2 counter. this N (Y, T 2 ). If this is less than or equal to the set threshold T 3 , set the underflow flag to 1.
  • the threshold value T 2 is set, counting the number of pixels that exceeds the T 2 counter. this N (Y, T 2 ). If this is less than or equal to the set threshold T 3 , set the underflow flag to 1.
  • burst reading for example, from a state in which the entire illuminance is low and the imaging continues with only the long-time accumulated signal, it is determined whether the long-time accumulated signal is saturated even if it suddenly becomes bright. Immediately after that, it is possible to shift to the reading state of the accumulated signal for a short time, and an image can be obtained without saturation.
  • Expressions (1) and (2) may be expressed as follows. Instead of generating an overflow or underflow flag or making the actual state transition once per frame, only when it occurs continuously over several frames, once for multiple frames Just to do.
  • Figure 1 shows an example of a column noise cancellation circuit that switches the gain between 1x and 4x Shown in o.
  • the capacitance connected to the input side becomes 4 C
  • the capacitance C connected between the input and output of the inverting amplifier Amplification is made 4 times by the ratio of
  • the input 3 C is cut off, and the capacitance ratio becomes 1, so that a 1-fold amplification is performed.
  • the reset level and the signal level from the pixel are alternately applied to the input.
  • the signal level is given first, and at that time, the switch controlled by ⁇ 1 in Fig. 10 is turned on, and the signal at the input capacitance is Sample levels.
  • the switch controlled by ⁇ ⁇ is turned off, and the reset level is applied to the input.
  • the difference between the input level and the reset level is amplified and output, and the noise cancel operation is performed.
  • a reset level is applied first, and then a signal level is applied.
  • the gain setting of 4 can be used for both reading long-time accumulated signals and reading short-time accumulated signals. It is effective to apply to it.
  • As a method of switching the gain between 1x and 4x for the long-time accumulated signal it is effective to use a histogram calculated from the signal obtained by reading out the long-time accumulated signal one frame before and all pixels. .
  • Fig. 9 shows the configuration of the processing circuit for that purpose. The method will be described.
  • the output Y of ADC the image of N gradation is divided into M areas.
  • the histogram H (i) is initialized for i2 0,..., M ⁇ 1. That is,
  • the gain of the column amplifier can be varied only for a signal that has been stored for a long time, or may be similarly applied to a signal that has been stored for a short time.
  • a histogram for determining the gain of the column amplifier when reading the long-time accumulation signal of the next frame is obtained both from the method using the long-time accumulation signal in the current frame and the method using the short-time accumulation signal. Can be considered.
  • the condition judgment for the state transition in Fig. 11 is satisfied over multiple frames.
  • the frequency of state transition may be reduced so that the state transition is performed only once for multiple frames.
  • the average value of the histogram for the short-time accumulated signal obtained as described above can be used not only for setting the gain of the column amplifier but also for setting an adaptive dynamic range.
  • equation (2) the following equation is changed.
  • Equation 9 Means the average value of the histogram obtained for the luminance signal Y. An underflow flag is generated based on whether this is less than or equal to the set threshold value TL.
  • the long-time accumulation signal and a plurality of types of short-time accumulation signals are efficiently written to the memory and read out from the memory, thereby lowering the frequency of the digitized video signal.
  • a method for outputting will be described.
  • a case where a long-time accumulated signal and three types of short-time accumulated signals are read from an image sensor will be described.
  • the FS for each accumulated signal is set to a value slightly lower than the level at which the signal is completely saturated.
  • the output Z to be written to the memory is determined as follows.
  • S is a gain constant for long-time accumulated signals. That is, first, a signal obtained by applying a certain gain to a long-time accumulated signal is set as an output candidate.
  • 7 ⁇ L is a gain constant and an offset for the first short-time accumulation signal. This means that if the value written to the memory does not exceed the F value, the long-time accumulation signal is rewritten into the memory, and if it exceeds, the short-time accumulation signal is replaced with the short-time accumulation signal. At this time, in order to connect the two regions continuously, gain is obtained by subtracting the offset from Y, and then shifted by F.
  • the output Z ⁇ to be written to the memory is determined by the following equation.
  • FIG. 13 shows the configuration of a processing circuit for performing such processing.
  • Registers 1, 2, and 3 in the figure correspond to (1), (2), (3), and (4), respectively, for the long-time accumulated signal, the first, second, and second short-time accumulated signals. Output the value written in the frame.
  • the comparator outputs the following values as outputs C to inputs A and B.
  • the digital output speed is adjusted to the pixel clock frequency of the image sensor using two frame memories.
  • the operation is shown in Fig. 14 (a).
  • LA is the long-term accumulation signal
  • SA1, S A2, and S A3 are the periods during which the short-time accumulation signal is written to the memory.
  • the corresponding pixel signal has already been written to the frame memory.
  • the read signal is read into the register 4 and the operation result is written into the same pixel signal of the frame memory again.
  • Output from frame memory to the outside takes one frame time.
  • the control signals OD and EV representing even and odd frames as shown in Fig. 14 (a)
  • writing and reading to and from the image sensor are performed.
  • Complementary operation and external output from the memory enable frame memory Force The output to the outside can be read over l frames.
  • the image sensor performs signal accumulation operation for a long time, The signal is read from the frame memory and output using the period during which no signal is output.
  • Figure 15 shows a block diagram of the process in that case.
  • the A / D converter shall have a function of outputting a saturation flag Ds that takes N bits and takes a value of 1 if it exceeds its full scale and 0 if it does not.
  • a code obtained by adding Ds to the value of Y and the zone code (0 0) is written to the memory. Since (0 0) is given to the A input of the comparator, the multiplexer always selects the sensor output side (A side).
  • the value of register 1 is compared with the zone code of the long-time accumulation signal stored in the memory.
  • the second short-time accumulation signal and the third short-time accumulation signal are identical.
  • the value of Ds is always 0. deep. Since the stored signal is not read out for a shorter time than this, there is no need to know whether the signal is saturated. If the second short-time accumulation signal is saturated, the zone code read from the memory is (11), so the sensor output side is selected and the value in the memory is updated.
  • the high-speed readout reduces the timing of all pixels in comparison with the rolling CMOS image sensor rolling shutter. For this reason, distortion when an image of a moving object is reduced is reduced.
  • a wide dynamic range image sensor that adaptively switches the dynamic range can be realized by burst reading out signals of long-time accumulation, short-time accumulation, and extremely short-time accumulation.

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Abstract

この発明は、明るい部分と暗い部分とが同時に存在している場合に、良好な撮像を行うために、ダイナミックレンジを広くしたCMOSイメージセンサに関する。イメージセンサの画素部から長時間の蓄積による低照度信号と、短時間の蓄積による中照度信号と、超短時間の蓄積による高照度信号とを取り出すことにより、高照度における光電荷の飽和を防止してダイナミックレンジを広げることができる。また、複数の短時間蓄積信号のそれぞれ異なる蓄積時間の組み合わせからなる広ダイナミックレンジ撮像条件を動的に変更することにより、さらにダイナミックレンジの適応的制御が行える。

Description

明 細 書 広ダイナミックレンジイメージセンサ 技術分野
この発明は、 イメージセンサにおけるダイナミックレンジの拡大に関する。 背景技術
非常に明るい部分と暗い部分が同時に存在している場合でも良好に撮像を行う ことができる広いダイナミックレンジを持ったイメージセンサの従来技術は数多 く存在する。 C M O Sイメージセンサ上でダイナミックレンジを高照度側へ拡 大する処理として多くの方式が存在する。
これには (1 ) 特開平 7-274072号で提示されている、 画素回路内に比較器と係 数器を配置して、 フォトダイオードが外部から設定したしきい値に達するまでの クロック数を計測する方式、 (2 ) 特開 2000-253320号で提示されている、 画素回 路内に比較器と係数器を配置して、 一フレーム期間内にフォトダイオードが、 外 部から設定したしきい値に達した回数を計測する方式、 (3 ) 特開 2001-169184号 ならびに(4 )特開 200 186414号に提示されている、 4トランジスタ型画素回路 において、 フォトダイォ一ドのブルーミング電荷を 1垂直期間より十分短い期間、 フローティングディフュージョンに蓄積する方式、 ならびに信号レベルとリセッ トレベルの差分と、 信号検出部で一垂直期間より十分短い期間蓄積した信号分か ら求める方式、 (5 ) Yibing (Michelle) Wang他によって the 2001 IEEE Workshop on Charge-Coupled Devices and Advanced Image Sensors, ppl37-140で発表さ 7こ" A High Dynamic Range CMOS APS Image Sensor" で説明されているような、 4ト ランジスタ型画素回路のフローティングディフュージョンを、 高照度用の感度の 低い光電変換素子として利用する方式、 (6 ) 米国特許公報 6175383 号、 6369737 号、 2002/0027606号および、 IEEE Journal of Solid State Circuits, Vol.35, No.5の" 100000-Pixel, 120-dB Imager in TFA Technology" に記載されている、 蓄積時間と読 み出し信号レベルから浮動小数点表現により画素値を求める方式、 (7 ) 特開 2000-83198ならびに特開 2002-77733で提示されている、 入射光量に対して対数的 に信号電圧が変化する対数圧縮型画素回路を利用する方式、 (8 ) CMOS イメージ センサにおいて、 n行目の信号読みだしを行う際に、 Δだけずれた行の信号の読 みだしも行うことで、 長時間蓄積信号と短時間蓄積信号を獲得し、 これらを合成 して広ダイナミックレンジ化を図る方式 (US Patent 6115065)、 などがある。 発明の開示
一般的な C MO Sイメージセンサの信号蓄積と信号読みだしタイミングを図 1 ( a )に、 パースト読みだし(集中読みだし)を行う CMO Sイメージセンサの信号 蓄積及ぴ読みだしタイミングを図(b )に示す。 これは垂直方向の画素数が 5画素 の場合であり、 垂直プランキング期間は考慮していない。
一般的な CMO Sイメージセンサの場合には、 垂直方向の画素数が Nvの場合、 1フレームの時間 T Fを Nvで割った時間をかけて 1水平ライン分の信号の読みだ しを行い、 すべての画素からの信号読みだしを 1フレームの時間をかけて読み出 す。
これに対して、 バースト読みだしでは、 1水平ラインの信号の読みだし時間を短 くし、 すべての画素からの信号読みだしを集中的に短時間に行う。 このような読 みだし方をすると、 信号を高速に読み出さなければならないため、 消費電力が大 きくなるなどの問題があるが、 信号電荷の蓄積開始時点のタィミングのずれが、 比較的従来の方法に比べて少ないため、 動きの大きい対象物を撮像したときのひ ずみが比較的小さいという利点がある。 従来の技術の(8 )は、 図 1 ( a )の読みだし方法に基づき、 長時間蓄積を行った n行目の信号読みだしを行う際に、 その行から既に読み出した方向に Δ行だけず れた行の信号の読み出しも行うことによって、 Δ Χ Τ Η ( 1水平ラインの読みだし 時間) に相当する短時間蓄積の信号をも読みだし、 それらを合成することで、 広 ダイナミックレンジのイメージセンサを実現しようとするものである。
しかしながら、 このような読みだし方向では、 動きの大きい対象物を撮像した ときに、 動きひずみが大きいという問題がある。 また、 最も短時間の蓄積時間は、 Δ = 1の場合であり、 これ以下にはできないため、 拡大できるダイナミックレン ジの最大値がこれによつて制限されてしまう。 また、 長時間蓄積の信号と短時間 蓄積の信号の読みだしを同時並行で行うので、 例えば長時間蓄積を行った全画素 の情報から、 短時間蓄積と読みだしを行うかどうかをリアルタイムに判断したり する適応的な処理はできない。
本発明は、 信号のバースト読みだし(集中読みだし)に基づく広ダイナミックレ ンジイメージセンサに関するものであり、 かつ、 ァダプティブマルチプルサンプ リング方式についても提案する。
本発明は、 イメージセンサから長時間蓄積を行った信号を高速にパースト読み 出しし、 その後、 短時間蓄積を行った信号をバース ト読み出しする。 さらにその 後、 より短時間の蓄積を行った信号をバース ト読み出しする。 必要であれば、 こ れらをさらに繰り返す。 これらの蓄積時間の異なる信号を読み出して合成するこ とで広ダイナミックレンジ化をはかったイメージセンサである。
さらに、 バース ト読み出しにより、 長時間蓄積、 短時間蓄積の画像情報がフレ ーム単位で得られることを利用し、 信号の最大値、 飽和しているかどうカ ヒス トグラムの情報を元に、 読み出し回路の利得と、 短時間蓄積、 極短時間蓄積とバ ースト読み出しを行うかどう力 \ またそれらの蓄積時間をリアルタイムに判断し ながら設定し、 最適のダイナミックレンジに設定しながら撮像を行うことができ る適応ダイナミックレンジイメージセンサである。 図面の簡単な説明
第 1図は、 一般的な C MO Sイメージセンサの信号蓄積と読みだしのタイミン グと、 バース ト読みだしにおける信号蓄積と読みだしのタイミング (垂直画素数 5の場合、 LA :信号蓄積期間、 LR :信号読み出し期間) を示す図である。 第 2図は、 信号の蓄積と、 読み出しのタイミング (垂直画素数 5の場合を示す。 LA :長時間蓄積信号蓄積期間、 SA :短時間蓄積信号蓄積期間、 VSA :極短 時間蓄積信号蓄積期間、 LR :長時間蓄積信号読み出し期間、 SR :短時間蓄積 信号読み出し期間、 VSR:極短時間蓄積信号読み出し期間、 数字は、 イメージ ァレイの対応する行番号)を示す図である。
第 3図は、 広ダイナミックレンジイメージセンサのプロック図である。
第 4図は、 垂直画素数が 4画素の場合の制御信号タイミングを示す図である。 第 5図は、 読みだし回路を 2系統もつ場合の構成図である。
第 6図は、 原色フィルタの 4成分を並列に出力する場合の広ダイナミックレン ジィメ一ジセンサの構成図である。
第 7図は、 各状態における撮像条件とダイナミックレンジの例(NS = 3, NR =3, Nv=480の場合、 LA, S A 1 , SA2, S A 3はそれぞれ長時間蓄積 時間, 1回目, 2回目, 3回目の蓄積時間である。 1>はフレーム周期)を示す図 である。
第 8図は、 適応的ダイナミックレンジ設定のための状態遷移図の例を示す図で ある。
第 9図は、 ダイナミックレンジを適応的に変化させる処理回路のプロック図で ある。
第 10図は、 1倍と 4倍のゲインを選択できるカラムノイズキャンセル回路 H である。
第 1 1図は、 ゲイン設定のための状態遷移図である。
第 1 2図は、 長時間蓄積信号 L A及び 3種類の短時間蓄積信号 (SA1, SA2, SA3) を用レ、た非線形応答特性の合成を示す図である。
第 1 3図は、 図 1 2の変換特性を得るための処理のブロック図である。
第 1 4図は、 メモリへの書き込み及び読み出しの動作を示す図である。
第 1 5図は、 映像信号と蓄積時間を表すゾーン番号を書き込む場合の処理プロ ック図である。 発明を実施するための最良の形態
本発明は、 従来技術の問題を解決する特徴を備えた広ダイナミックレンジィメ ージセンサを提供するものである。 まず、 本発明は、 図 1の(b )に示すバース ト 読みだしに基づいている。 これに基づき、 長時間蓄積、 短時間蓄積、 より短時間 の蓄積といった複数の蓄積時間による信号を読みだし、 合成することで広ダイナ ミックレンジイメージセンサを実現する。 本発明による広ダイナミックレンジィ メージセンサの信号の蓄積と読みだしのタイミング図を図 2に示す。 この例では、 垂直方向の画素数が 5画素の場合を示している。 長時間蓄積を行った信号を読み 出すトータルの時間を Τ Κとする。 各画素毎に関しフレーム周期から長時間蓄積を 行った時間を差し引いた時間の全部、 あるいは、 その一部の時間、 信号蓄積を行 つた信号を短時間蓄積信号とし、 同じ T Rの時間をかけて読み出す。 また、 残され た時間の一部を用いて、 さらに、 より短時間の蓄積を行い、 同じ の時間をかけ て読み出す。 さらに短時間の蓄積を行った信号読み出しを行う場合も同様であり、 このようにして複数の蓄積時間の信号を読み出すことができる。
長時間蓄積の信号を短時間で集中読み出し後に、 短時間蓄積信号の読み出しを 行うためには、 全画素に対する集中読み出しの時間は、 長くともフレーム周期の 1/2以下でなければならない。 実際の構成としては、 フレーム周期の 1/4ま たは 1/6が実用的価値が高いと考えられる。 例えば、 フレーム周期の 1/4の 場合には、 2種類までの短時間蓄積、 フレーム周期の 1/6の場合には、 3種類 までの短時間蓄積を行うのが適しており、 この範囲内で短時間蓄積を行うかどう かと、 短時間蓄積の時間を適応的に変化させながら、 広ダイナミックレンジの画 像の撮像を行うことができる。
いま、 短時間蓄積信号のバースト読みだし数を、 Nsとする。 図 2の例では、 短 時間蓄積とより短時間蓄積の信号の 2回バースト読みだしするので、 Ns= 2であ る。 また、 長時間信号蓄積時間 と、 TRの比、 つまり、 TAI-/TRを NRとする。 フレーム周期を TFとして
次式の関係がある。
【数 1】
ァ — ^ r
1 R 一
m回 (m種類) の短時間信号蓄積を行う場合を考え、 m回目の信号蓄積時間を TAS(m)とする。 その最長の値を、 ΤΛ3ΜΛΧ(ηι)とする。 図 2 より、 ΤΑ3ΜΛΧ(ηι) =Τκである。 その蓄積時間はこれを最大値として任意に選ぶことができる。 ただ し、 その制御を容易にするため、 以下のように蓄積時間を設定する。
垂直方向の画素数を Ννとすると、 1水平ラインを読み出す時間 ΤΗは、 垂直プ ランキング期間を ΤΒとして、
【数 2】
η ― R ― Β
TV, である。 TBを、 THの整数倍にえらび、 TB-NBX THとする。 これを用いて短時 間蓄積時間を以下のように選ぶ。
Figure imgf000009_0001
ここで、 ηは整数であり、 0≤η^Νν + ΝΒである。 この方法により可能な最短 の蓄積時間を、 TASMIN(m)とすると、 これは n= 1の場合であり、
TASMIN (m) = Γπと る。
これより、 長時間蓄積を 1フレーム周期にわたり行う一般的なイメージセンサに 対する最大のダイナミックレンジ拡大率は、 TF/TASMIN(m)であり、 以下のよう になる。
【数 3】
Tf =(NV N具 +NR)
ASMN 例えば、 Ns=3,
Figure imgf000009_0002
484の場合、 3388倍、 すなわち 約 71 dB までの拡大が可能である。 同じ計算を、 従来技術の(8)に対して行う と、 従来技術では、 ダイナミックレンジの拡大率は、 垂直画素数倍つまり、 Nvで あるので、 480倍、 すなわち約 54 dB である。 本発明の方が、 ダイナミック レンジ拡大に対して有利であることがわかる。
次に、 このような原理に基づく広ダイナミックレンジイメージセンサの回路構 成について説明する。 図 3に、 そのブロック図を示す。
また、 図 3において、
Figure imgf000009_0003
2の場合の制御信号のタイミン グを図 4に示す。 TAS(1) = TRとし、 TAS(2) = 2 T"としている。
長時間蓄積を行った信号に対して、 最初の TRの期間にパースト読みだしを行う。 この期間を用いて、 短時間(TAS(1)の時間)蓄積を行い、 次の の期間にバース ト読みだしを行う。 この期間の一部を用いてより短時間( T A s ( 2 )の時間)蓄積を 行い、 次の TRの期間にパースト読みだしを行う。
このような動作を行わせるために、 垂直シフトレジスタ (図 3では、 Dの記号で かいたフリップフ口ップのチェーン) に与える 2つのトリガ信号(VTRG 1 , VTRG 2)を図 4に示したように与える。 VTRG 1は、 バースト読みだしのた めのトリガであり、 VTRG 2は、 TRよりも短い時間蓄積を行うためのリセット 信号を発生するために専用に設けた垂直シフ トレジスタに与えるトリガ信号であ る。 図 4に示したようなタイミングで VTRG2を与えることで、 ΤΛ5(2)=ΤΗ + 2 THとなる。
バースト読みだしでは、 読みだし速度が高速になるため、 消費電力が増大する 可能性がある。 特に A/D変換器の消費電力が増大する。 しかし、 1フレーム周期 の中で読みだしを行っている時間以外は、 読みだし回路及び A/D変換器は動作さ せる必要がないので、 投入電力をカツトして低消費電力化を図ることができる。 具体的には、 例えば通常動作のための電流値から、 スタンバイ時には、 電流を 1/ 10程度にしぼった電流値を設定することで、 回路を不安定にすることなく、 ス タンバイ時の電力を大きく低減することができる。
また、 読みだし速度が高速になるために、 1つの読みだし回路だけでは動作速 度がおいつかなくなる場合があり、 その場合は、 図 5に示すように、 読みだし回 路を 2系統、 あるいは図 6のように 4系統設ける方法も考えられる。 カラーフィ ルタを用いた単板式力ラ一^ fメージセンサの場合、 例えばべィヤー配列の原色フ ィルタの R, B, Gl, G 2成分を 4系統の読み出し回路にそれぞれ読み出して、 並列に水平読み出しを行うことができる。 この場合、 4つの読み出し回路の特性 のずれの補正を、 色信号に対する処理を行う際に同時に行うことができ、 無駄が ない。 図 6中の ADCは A/D変換器である。
なお、 以上は、 3 トランジスタ画素回路の場合を示しているが、 画素内電荷転 送を用いた 4 トランジスタ画素回路など、 他の画像回路を用いることも可能であ る。 例えば、 4トランジスタの画素回路の場合には、 図 4 , 図 5において V T R G 2によって、 リセット信号だけでなく、 電荷転送の制御信号についても発生す るようにすればよい。
このようなバースト読みだしによる広ダイナミックレンジイメージセンサでは、 動きひずみを少なくすることと、 広ダイナミックレンジ画像が得られるという 2 点を両立できるため、 車載用など、 撮像対象の動きが大きく、 広ダイナミックレ ンジが必要な応用に適する。
この方式のもう 1つの利点は、 長時間蓄積、 短時間蓄積の画像を独立して得る ことができるので、 長時間蓄積により得た画像情報を元にして短時間蓄積撮像の 条件設定、 あるいは短時間蓄積撮像が必要かどうかの判断をリアルタイムに行う ことができることである。
バースト読みだしでは、 全画素の信号を完全に読み終わつてから、 次の短時間 蓄積の読みだしを行うかどう力 \ またそのための画素部の電荷の初期化動作を行 うかどうかを決定することができる。 このことを利用すると、 撮像している対象 にあわせて最適なダイナミックレンジにリアルタイムに設定しながら撮像するこ とができる。 つまり、 適応的ダイナミックレンジ撮像が可能である。
図 7に、 撮像条件の異なる 1 0の状態と、 それぞれにおいて得られるダイナミ ックレンジの値をしめす。 S Oは、 長時間信号蓄積と読みだしのみを行う場合で あり、 各状態におけるダイナミックレンジは、 このときのダイナミックレンジを 基準として取ってある。 L Sは長時間蓄積信号、 S A 1 , S A 2 , S A 3は短時 間蓄積信号を意味しているが、 図 7の中の値は、 S A 1については L Aに対する、 S A 2は S A 1に対する、 また S A 3は S A 2に対する蓄積時間の比を表してい る。 なお、 短時間蓄積信号を読み出すと、 その分長時間蓄積の時間がその分短く なり、 その分感度が低下するので、 その効果をダイナミックレンジの計算に入れ ている。 また、 長時間信号に対してのみ、 イメージセンサのカラムで G = 4のゲ インで増幅する場合についても示している。 G== 1の場合のダイナミックレンジ Do= 66 dB、 G = 4の場合のダイナミックレンジ D。, = 60 dB とすると、 最 大 (状態 S 9の場合)でそれぞれ 123 dB, 29 dBまで拡大可能である。
図 7において、 短時間蓄積を 2回まで行う場合、 すなわち S 0から S 6までを 用いる場合について、 ダイナミックレンジをリアルタイムに最適値に設定しなが ら撮像する場合の状態遷移図を図 8に示す。 これは、 長時間蓄積信号及び 1回目、 2回目の短時間蓄積信号が、 极える最大振幅を超えているかどうかを表すオーバ 一フローフラグ OF。, OF 〇F2また、 1回目及び 2回目の短時間蓄積信号の 最大値が、 扱える最大振幅と比べて十分小さいかどうかを表す、 アンダーフロー フラグ UFi, UF2を用いて、 撮像条件を動的に設定する。
図 8に、 動的ダイナミックレンジ設定のための処理のブロック図を示す。 まず オーバーフローフラグについては、 A/D変換器(ADC)の出力 Yに対して、 設定 したしきい値 Tュと比較し、 を越えている画素の数をカウンタで計数する。 こ れを N(Y, TL)とし、 これが、 設定したしきい値 T 3以上であれば、 オーバーフ ローフラグを 1にする。 式で表せば、
【数 4】
0 (Ν(Υ^)<Τ2)
OF;二 (1)
1 (Ν(Υ,Τ{)≥Τ3)
となる。 ここで、 〇?丄の 1は、 i = 0, 1, 2をとり、 OF,, OF2, OF 3は、 それぞれ長時間蓄積信号, 1回目の短時間蓄積信号, 2回目の短時間蓄積信号に 対するオーバーフローフラグである。
また、 アンダーフローフラグについては、 ADCの出力 Yに対して、 設定した しきい値 T2と比較し、 Τ2を越えている画素の数をカウンタで計数する。 これを N (Y, T 2)とし、 これが、 設定したしきい値 T 3以下であれば、 アンダーフロー フラグを 1にする。 式で表せば、
【数 5】
(Ν(Υ, Τ2) > Τ3)
1 (N{Y, T2)≤T3) (2)
となる。 ここで、 11 1の 1は、 i = l, 2をとり、 U F i , U F 2は、 それぞれ 1回目の短時間蓄積信号、 2回目の短時間蓄積信号に対する Yから判断した、 ァ ンダーフローフラグである。
これらのフラグを用いて、 図 8の状態遷移図のように、 ダイナミックレンジを 適応的に変化させながら、 信号がほぼ飽和しない最適の条件での撮像を行うこと ができる。
特にバース ト読みだしでは、 例えば、 全体に照度の低い状態で長時間蓄積信号 だけで撮像を続けている状態から、 急に明るくなつたとしても、 長時間蓄積信号 が飽和しているかどうかを判断し、 直後に短時間蓄積信号の読みだし状態に移行 することができ、 飽和をさせないで画像を取得することができる。
なお、 このような広ダイナミックレンジの撮像条件がフレーム毎に頻繁に変化 することにより、 ちらつきを感じる等問題が生じる場合には、 式(1 )や式(2 )の 中に示した条件が、 何フレームかにわたって継続して起こった場合にのみ、 ォー バーフロー、 アンダーフローのフラグを発生させたり、 実際の状態遷移を、 フレ ーム毎に行うのではなく、 複数フレームに対して 1回だけ行うようにする。
また、 イメージセンサのカラムにおいてノイズキャンセルを行いながら、 小さ いゲインと大きなゲインを切り替えることで、 低照度において低雑音で信号の読 みだしノイズを低くすることで、 低照度側へのダイナミックレンジ拡大が可能で ある。 ゲインを 1倍と 4倍で切り替えるカラムノイズキャンセル回路の例を図 1 oに示す。 反転増幅器を用いたスィツチトキャパシタ型のノイズキャンセル回路 であり、 Gain入力に 1が与えられると入力側に接続される容量が 4 Cになり、 反 転増幅器の入出力間に接続される容量 Cとの比により 4倍の増幅がなされる。 Gain入力に 0が与えられると入力の 3 Cが切り離され、 容量比は 1になるため、 1倍の増幅がなされる。 また、 この回路は入力に画素からのリセットレベルと信 号レベルが交互に与えられる。 図 3に示すような 3 トランジスタの画素回路の場 合は、 先に信号レベルが与えられ、 そのとき、 図 1 0の φ 1で制御されるスイツ チをオンにしておき、 入力の容量に信号レベルをサンプルする。 その後、 φ ΐで 制御されるスィッチをオフにし、 入力にリセットレベルを与えることで、 入カレ ベルとリセットレベルの差が増幅されて出力され、 ノイズキャンセル動作がなさ れる。 なお、 埋め込みフォトダイオードを用いて画素内部で電荷転送を行う 4 ト ランジスタの場合は、 先にリセットレベルが与えられ、 その後信号レベルが与え られる点が異なるだけで、 同様に適用可能である。
4倍のゲインの設定は、 長時間蓄積信号の読みだし、 短時間蓄積信号の読みだし どちらに対しても用いることができるが、 特に低照度領域の感度を向上する意味 では長時間蓄積信号に対して適用するのが有効である。 長時間蓄積信号に対して、 ゲインを 1倍と 4倍で切り替える方法としては、 1フレーム前の長時間蓄積信号 を全画素読みだして得た信号から計算したヒス トグラムを用いるのが有効である。 そのための処理回路の構成を図 9に示す。 その方法について説明する。 A D Cの 出力 Yに対し、 N階調の画像を M個の領域に分割する。 まず、 i二 0 , ■· · , M— 1に対して、 ヒス トグラム H ( i )を初期化する。 すなわち、
H ( i ) = 0 ( i = 0 , · ' ·, M— 1 )
全ての画素出力に対して、 以下を実行する。
( i = 0 , · ··, M— 1 )に対し、 【数 6】
H(i) + l (if =0
N
M
H(j) (if Y ≠
N ここで [ X ]は、 Xの小数点以下を切り捨てた整数を意味する のようにして 得たヒストグラムの平均値を計算する。
【数 7】
Figure imgf000015_0001
これを用いて、 カラム増幅器のゲインを図 1 1に示すような状態遷移図に従い、 ゲインをフレーム単位で設定する。
これは、 以下の様な動作をする。 現在のカラム増幅器のゲイン Gを 1として、 ヒストグラムの平均値があるしきい値 T よりも小さければ、 カラム増幅器のゲイ ン Gを 4にし、 TL以上であれば、 G=lのままとする。 これは、 新しいフレーム の画像の読みだしを行う以前に設定を完了しておく。 そのフレームに対して同様 にヒストグラムの平均値を計算し、 それが、 べつのしきい値 THよりも小さければ、 G= 4のままとする。 もし THを超えていたら、 G= lに戻す。 なお、 図 9におい ては、 G= lの場合は、 G 1を 1に設定し、 G= 4の場合には G 4を 1に設定す る。 この 2つの制御信号が、 図 1 0のカラムノイズキャンセルアンプのゲインを 設定するための R Sフリップフ口ップに与えられ、 G 1と G 4がともに 0の場合 には設定状態を保持する。
このようにすることで、 1つ前のフレームの輝度分布を見ながら、 次のフレー ムの画像信号の読みだしのゲインを最適にコントロールすることができる。 この 場合、 あるフレームから急激に明るくなつた場合には、 G = 4に設定することで、 長時間蓄積信号が飽和するかもしれない。 しかし、 その場合には短時間蓄積信号 を読み出すことで飽和した画素信号を短時間蓄積信号で置き換えることができる。 このようにカラム増幅器のゲインを可変にするのは、 長時間蓄積を行つた信号 だけに対して行うこともできるが、 短時間蓄積の信号に対しても同様に行っても よい。 また、 次のフレームの長時間蓄積信号の読みだしの際のカラム増幅器のゲ インを決めるためのヒストグラムとして、 現フレームの長時間蓄積信号から求め る方法と、 短時間蓄積信号から求める方法の両方が考えられる。
また、 このようなゲインの設定の変更をフレーム毎に行うとちらつきを感じる などの問題がある場合には、 図 1 1の状態遷移のための条件判定を、 複数フレー ムにわたつて満たされた場合にのみ行うようにしたり、 複数フレームに対して 1 回だけ行うように状態遷移の頻度を低くすることも考えられる。
上記のようにして求めた短時間蓄積信号に対するヒストグラムの平均値は、 カラ ムの増幅器のゲインの設定だけでなく、 適応的ダイナミックレンジ設定のために も用いることができる。 この場合、 式(2 )において、 次式のように変更する。
【数 8】
0 (H(Y) > TL )
1 (H(Y)≤TL)
【数 9】
Figure imgf000016_0001
は、 輝度信号 Yに対して求めたヒストグラムの平均値を意味する。 これが、 設定 したしきい値 TL以下であるかどうかでアンダーフローフラグを発生する。
次に、 フレームメモリを節約しながら、 長時間蓄積信号と複数種類の短時間蓄 積信号をメモリに効率よく書き込み、 またメモリから読み出すことで、 ディジタ ル化された映像信号の周波数を低くして出力するための方法について説明する。 ここでは、 長時間蓄積信号と 3種類の短時間蓄積信号をイメージセンサから読み 出す場合について説明する。
まず、 全体のフルスケール F Sに対し、 各領域の配分の比率を決める。 長時間 蓄積信号、 及び 3つの短時間蓄積信号を、 図 7に示した記号 LA, SA 1, S A 2, S A 3で表し、 それらの蓄積時間それぞれを、 TL, TS,, TS2, T s 3とする。 また T L >T S. >T S2 >T S3とする。
それらに対する配分割合を FL, FSI, FS2, FS3とする。 ここで、
Figure imgf000017_0001
である。
なお、 各蓄積信号に対する F Sとしては、 図 1 2に示したように、 完全に飽和 するレベルではなく、 それよりもやや低い値に設定する。
まず長時間蓄積信号 LAの出力 Yに対して、 メモリに書き込む出力 Z を、 次 式のように定める。
Figure imgf000017_0002
Sであり、 長時間蓄積信号に対するゲイン定数である。 つ まり、 まず長時間蓄積信号に一定のゲインをかけたものを出力の候補とする。
次に、 最初の短時間蓄積信号 SA 1の出力 Yと、 メモリに記憶された値 Z M に 対して、 メモリに書き込む出力 Z。υτを、 次式のように定める。 【数 1 0】
Figure imgf000018_0001
二で、
【数 1 ι】
SI
\9Ί
FS - 0 SI 及び
【数 1 2】
S I
os= FS
7\ L は、 1番目の短時間蓄積信号に対するゲイン定数及びオフセットである。 これは、 もし、 メモリに書き込まれた値が Fしを越えていなければ、 長時間蓄積信号をメモ リに再び書き込み、 越えていれば短時間蓄積信号で置き換えることを意味する。 このとき、 2つの領域を連続的につなぐため、 Yからオフセットを引いたものに ゲインをかけ、 Fしだけシフトする。
同様に、 2番目の短時間蓄積信号 S A 2の出力 Yと、 メモリに記憶された値 Z Mに対して、 メモリに書き込む出力 Z ουτを、 次式のように定める。
【数 1 3】 ¾ ( <FL+FS〗)
Figure imgf000018_0002
ここで、
【数 14】
A - 1 S2
ΛΞ2 ―
FS-O S2
及ぴ
【数 1 5】
S2
S2 = FS
は、 2番目の短時間蓄積信号に対するゲイン定数及びオフセットである c さらに、 3番目の短時間蓄積信号 S A 3の出力 Yに対しても同様に、 【数 1 6】
Figure imgf000019_0001
,+FS2) 二こで、
【数 1 ]
K S3
S3 =
及ぴ
【数 1 8】
' S2 は、 3番目の短時間蓄積信号に対するゲイン定数及びオフセットである。
以上の処理により、 入射光量 P 0に対する出力の応答特性は、 図 12のように なる。 このような処理を行うための処理回路の構成を図 1 3に示す。
このようにすることで、 ダイナミックレンジを圧縮した信号をリアルタイムに 計算しながら、 メモリに格納することができる。 図中のレジスタ 1, 2, 3は、 (1), (2), (3), (4)の順に、 長時間蓄積信号、 1番目、 2番目、 2番目の短 時間蓄積信号に対して枠内に書かれた値を出力する。 比較器は、 入力 A, Bに対 して、 出力 Cとして次式のような値を出力する。
【数 19】 (3)
Figure imgf000020_0001
また、 マルチプレクサは、 制御入力、 つまり比較器の出力 Cが 1ならば、 A側 を、 C=0ならば、 B側を選択する。
図 13では、 フレームメモリを 2枚用いて、 ディジタル出力の速度を、 ィメー ジセンサの画素クロック周波数にあわせている。 その動作を図 14 (a)に示す。 図中、 LAは、 長時間蓄積信号、 SA1, S A2, S A3は短時間蓄積信号のメ モリへの書き込みの期間を意味し、 このとき、 対応する画素信号に対してフレー ムメモリに既に書き込まれた信号をレジスタ 4にまず読み出し、 その演算結果を 再びフレームメモリの同じ画素信号に対して書き込む動作を行う。 フレームメモ リから外部への出力は、 1フレームの時間をかけて行う。 2枚のフレームメモリ に対して、 偶数フレームと奇数フレームを表す制御信号 ODと EVを用いて、 図 14 (a)のように切り替えを行うことで、 イメージセンサとの間の書き込み ·読 み出し動作とメモリからの外部への出力を相補的に行うことで、 フレームメモリ 力 外部への出力を lフレームかけて読み出すことを可能にしている。
なお、 フレームメモリを 1枚だけ用いて、 出力を高速に出力することも可能で あり、 この場合、 図 1 4 ( b )のように、 イメージセンサが長時間信号の蓄積動作 を行っており、 信号が出力されない期間を用いて、 フレームメモリから読み出し て出力する。
また、 このような広ダイナミックレンジ画像に合成を行わないで、 原信号とそ の蓄積時間を表すゾーン番号を画像メモリに格納することも可能である。 その場 合の処理のブロック図を図 1 5に示す。
まず A/D変換器として、 N ビットとし、 そのフルスケールを越えている場合 1、 越えていない場合 0の値をとる飽和フラグ D sを出力する機能を有するものとす る。 ゾーンを表す 2ビットのコードに D sの値を加算したコードを、 イメージセ ンサの出力 Yと併せてメモリに書き込む。 最初の長時間蓄積信号については、 Y の値とゾーンコード(0 0 )に D sを加算したコードをメモリに書き込む。 比較器 の A入力には(0 0 )が与えられるのでマルチプレクサは常に、 センサ出力側(A 側)を選択する。 次に、 最初の短時間蓄積信号については、 レジスタ 1の値と、 メ モリに記憶された長時間蓄積信号のゾーンコードを比較する。
このとき、 長時間蓄積信号が飽和していれば、 (0 1 )が読み出されるので、 比 較器が、 式(3 )で与えられる動作をするとすれば、 比較出力 Cは 1になり、 マル チプレクサによりセンサ出力側が選択されて、 メモリの値が更新される。 もし、 長時間蓄積信号が飽和していなければ、 (0 0 )が読み出され、 (0 1 )と比較され る結果、 c = oとなり、 マルチプレクサにより、 メモリ出力側が選択されるので、 同じ値が再び書き込まれて、 メモリ記憶値の更新がなされず、 長時間蓄積信号が 記憶されたままとなる。
2番目の短時間蓄積信号、 3番目の短時間蓄積信号についても同様である。 た だし、 3番目の短時間蓄積信号の読み出しに対しては、 D sの値は常に 0として おく。 これよりもより短時間の蓄積信号を読み出さないので、 飽和しているどう かの情報は必要ない。 もし、 2番目の短時間蓄積信号が飽和していれば、 メモリ から読み出されたゾーンコードは(1 1 )であるので、 センサ出力側が選択され、 メモリの値が更新される。
図 1 5の場合、 A/D変換された原信号をそのまま記憶できる利点がある。 た : し、 広ダイナミックレンジ画像として表示するためには、 後に図 1 2に示したよ うな変換処理が必要である。
なお、 メモリに記憶された蓄積信号が飽和していない場合には、 マルチプレク サによりメモリ出力側を選択して同じ値を書き込むと説明したが、 この場合には 書き込み動作自体を行わないようにしてもよいことは明らかである。 産業上の利用可能性
以上述べた構成により、 以下の効果が得られる。
( 1 ) 高速に読み出すことで、 全画素のシャツタタイミングを従来の C MO Sィ メージセンサのローリングシャツタに比べて軽減される。 このため、 動物体を撮 像した際の歪が軽減されるため、 車載用にも適する。
( 2 ) 画素部の構成にはなんら制約がない。 このため、 高感度の C MO Sィメー ジセンサデバイスが利用可能。 これによつて、 低照度領域にもダイナミックレン ジ拡大が可能。
( 3 ) 高速に読み出すことで、 その後の信号処理を即座に開始することができる。 そのため、 リアルタイム処理が要求される車載用に適する。
( 4 ) カラムにゲインを一斉に、 多段階で変更するアンプを用いる。 これによつ て、 機械的なアイリス制御を一切用いずに感度範囲を可変にすることができる。 夜間の使用のために、 ゲインを大きくして感度アップしても、 もともと広いダイ ナミックレンジを持っているので、 十分な広いダイナミックレンジを確保できる。 昼間から夜間までの広い照度条件で使用される車载用として適する。
( 5 ) 長時間蓄積、 短時間蓄積、 極短時間蓄積の信号をバース ト読み出しするこ とで、 ダイナミックレンジを適応的に切り替える広ダイナミックレンジイメージ センサが実現できる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . イメージアレイセンサと、 前記イメージアレイセンサに長時間蓄積された光 電荷による信号を全画素に対してフレーム周期の 1 / 2よりも短時間に集中読み 出しを行う手段と、 各画素毎の信号に関し、 フレーム周期から長時間蓄積期間を 差し引いた残余期間の全部またはその一部を利用して n回 (nは 1以上の整数) の短時間蓄積を行う手段と、 前記長時間蓄積された光電荷による信号の全画素短 時間集中読み出し完了後に第 1番目の短時間蓄積の光電荷による信号を全画素に 対してフレーム周期の 1 / 2よりも短時間に集中読み出しを行う手段と、 nが 2 以上の場合に、 同様に i番目 (i = l, · ·', p— 1 ; ρは整数であり、 かつ p≤ n ) の短時間蓄積の光電荷による信号の全画素短時間集中読み出し完了後に、 i + 1番目の短時間蓄積の光電荷による信号を全画素に対してフレーム周期の 1 / 2よりも短時間に集中読み出しを行う手段と、 前記長時間蓄積の光電荷による信 号および前記 i番目(i = l , · · ·, p )の短時間蓄積の光電荷による信号を合成す る手段とからなる広ダイナミックレンジイメージセンサ。
2 . さらに、 垂直走査開始信号との時間差が外部から制御可能なリセット信号に より前記短時間蓄積の光電荷の初期化を行い、 任意時間の短時間蓄積を可能とす るリセット手段を備えてなる請求の範囲第 1項記載の広ダイナミック
3 . さらに、 長時間蓄積信号がその線形範囲を超えて飽和しているかどうかを判 定し、 飽和している場合には短時間蓄積信号の読み出しを行い、 飽和していない 場合には読み出しを行わないという適応的制御手段を備えてなる請求の範囲第 1 項記載の広ダイナミックレンジイメージセンサ。
4 . 前記適応的制御手段は、 さらに、 i番目の短時間蓄積信号がその線形範囲を 超えて飽和しているかどうかを判定し、 飽和している場合には i + 1番目の短時 間蓄積信号の読み出しを行い、 飽和していない場合には読み出しを行わないもの である請求の範囲第 3項記載の広ダイナミックレンジイメージセンサ。
5 . さらに、 それ以前に取得した長時間蓄積信号及び短時間蓄積信号が飽和して いるかどうかを表すオーバーフロ一信号作成手段と、 短時間蓄積信号の振幅の最 大値が設定したしきい値よりも小さいかどうかを表すアンダーフ口一信号作成手 段と、 前記オーバーフロ一信号および前記アンダーフ口一信号を用いて短時間蓄 積信号の数及びそれぞれの蓄積時間の組み合わせを動的に変更する手段とを備え てなる請求の範囲第 1項記載の広ダイナミックレンジィメージセンサ。
6 . 前記オーバーフロー信号作成手段は、 各蓄積信号が飽和しているかどうかを、 複数画素におけるしきい値を越えている画素の数により判定して信号作成するも のであり、 前記アンダーフロー信号作成手段は、 その振幅の最大値が設定したし きい値よりも小さいかどうかを、 複数画素におけるしきい値を越えている画素の 数により判定して信号作成するものである請求の範囲第 5項記載の広ダイナミツ クレンジィメ一ジセンサ。
7 . 前記アンダーフロー信号作成手段は、 それ以前に取得した短時間蓄積信号に 対して得たヒストグラムの平均値が、 設定したしきい値よりも小さいかどうかを 判定して信号作成するものである請求の範囲第 5項記載の広ダイナミック
8 . さらに、 既に読み出した長時間蓄積による映像信号または短時間蓄積による 映像ごとのヒストグラムを求める手段と、 そのヒストグラムの平均値が、 あるし きレ、値以下の場合には高レ、ゲインに設定し、 また高ゲインに設定して読み出した 信号に対しては、 ヒストグラムの平均値が別に設けたしきい値を越えている場合 には、 低いゲインの設定に戻すゲイン可変の増幅器をカラムに備えてなる請求の 範囲第 1項記載の広ダイナミックレンジイメージセンサ。
9 . さらに、 信号を短時間に高速に読み出すために、 並列に信号の水平転送を行 う複数の読み出し回路を力ラムに設けてなる請求の範囲第 1項乃至第 5項記載の 広ダイナミックレンジイメージセンサ。
1 0 . さらに、 並列に信号の水平転送を行うために、 カラーフィルタの画素成分 毎に分けた画素成分毎の読み出し回路をカラムに設けてなる請求の範囲第 1項乃 至第 5項記載の広ダイナミックレンジイメージセンサ。
1 1 . イメージアレイセンサと、 前記イメージアレイセンサから長時間蓄積信号 を得る手段と、 前記イメージアレイセンサから複数種類の短時間蓄積信号を得る 手段と、 既に画像メモリに書き込まれた信号を読み出して、 それが設定したしき い値を越える場合には、 演算を施したイメージセンサからの読み出し信号を画像 メモリの対応する画素位置において上書きをするという動作を、 前記長時間蓄積 信号と複数種類の短時間蓄積信号とを蓄積時間の長い順に読み出した映像信号に 対して繰り返し行うことにより合成する手段とを備えてなる広ダイナミックレン
1 2 . イメージアレイセンサと、 前記イメージアレイセンサから長時間蓄積信号 を得る手段と、 前記イメージアレイセンサから複数種類の短時間蓄積信号を得る 手段と、 蓄積時間の種類を表すために蓄積時間の長い信号から短い信号に向かつ て順次増加するようにゾーン番号を割り当てる手段と、 前記長時間蓄積信号と複 数種類の短時間蓄積信号のうちいずれか 1つを、 前記ゾーン番号とともに記憶す る画像メモリと、 前記イメージアレイセンサから読み出した長時間蓄積信号が飽 和していない場合にはゾーン番号をそのまま書き込むとともに長時間蓄積信号を 画像メモリに書き込み、 飽和している場合にはゾーン番号を 1つ大きな値にして 書き込む第 1の書き込み制御手段と、 次に書き込むべき短時間蓄積信号のゾーン 番号と、 既に前記画像メモリに記憶されたゾーン番号とを比較し、 既に記憶され ている画像信号が飽和していると判断した場合には、 次に書き込むべき短時間蓄 積信号を新画像信号として前記画像メモリに書き込み、 飽和していないと判断し た場合には、 画像信号及びゾーン番号の更新を行わない第 2の書き込み制御手段 とを備えてなる広ダイナミックレンジイメージセンサ。
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