WO2003071571A1 - Structure de cathode pour ecran emissif - Google Patents

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WO2003071571A1
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electron
cathode
cathode structure
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Jean Dijon
Adeline Fournier
Brigitte Montmayeul
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Commissariat A L'energie Atomique
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    • H01J2201/30446—Field emission cathodes characterised by the emitter material
    • H01J2201/30453—Carbon types
    • H01J2201/30469—Carbon nanotubes (CNTs)

Definitions

  • the invention relates to a cathode structure usable in a flat screen with field emission.
  • a cathodoluminescence display device excited by field emission comprises a cathode or structure emitting electrons and a facing anode covered with a luminescent layer.
  • the anode and the cathode are separated by a space where a vacuum has been created.
  • the cathode is either a source based on microtips, or a source based on an emissive layer with a low threshold field.
  • the emissive layer can be a layer of carbon nanotubes or other carbon-based structures or based on other materials or multilayers (AIN, BN).
  • the structure of the cathode can. be diode or triode type.
  • Document FR-A-2,593,953 discloses a method of manufacturing a display device by cathodoluminescence excited by field emission.
  • the structure of the cathode is of the triode type.
  • the electron-emitting material is deposited on a visible conductive layer at the bottom of holes made in a layer insulator which supports an electron extraction grid.
  • FIG. 1 represents, in cross-section and schematically, a cathode structure of the triode type according to the known art, for a display device by cathodoluminescence excited by field emission.
  • a single transmitting device is shown in this figure.
  • a layer 1 of electrically insulating material is pierced with a circular hole 2.
  • a conductive layer 3 supporting a layer 4 of electron emitting material.
  • the upper face of the insulating layer 1 supports a metal layer 5 forming an extraction grid and surrounding the hole 2.
  • the emissive layer 4 tends to cause short circuits between the grid 5 and the conductive layer or cathode 3. This tendency is manifested in particular if the emissive layer consists of carbon nanotubes.
  • the electric field which is maximum at the edge of the hole, has a significant lateral component E L (parallel to the plane of the cathode) (comparable to the perpendicular component E x of the electric field) which causes the electron beam and induces screen resolution problems.
  • E L parallel to the plane of the cathode
  • E x perpendicular component
  • a cathode structure with an emissive layer, of the triode type, is proposed here for which the electrons emitted by the emissive layer are subjected to a weak lateral electric field, which minimizes the risks of short circuit between the grid and the cathode. which limits the divergence of the electron beam emitted by the emissive layer.
  • the subject of the invention is therefore a cathode structure of the triode type comprising, in superposition, an electrode forming a cathode and supporting means made of electron emitting material in the form of a layer, a layer of electrical insulator and a gate electrode, an opening made in the gate electrode and in the layer of electrical insulator exposing the means made of electron-emitting material, the means made of electron-emitting material being located in the central part of the opening of the grid, characterized in that the opening is in the form of a slit, the means made of electron emitting material exposed by the slit being made up of at least two elements aligned along the longitudinal axis of the slit.
  • the opening made in the gate electrode and in the layer of electrical insulator being substantially rectangular, said elements made of electron-emitting material also being substantially rectangular.
  • a resistive layer is interposed between 1 cathode electrode and the elements of electron emitting material.
  • the elements made of electron-emitting material are separated from the gate electrode by a distance greater than the size of the objects constituting the electron-emitting material.
  • the electron emitting material can be made of carbon nanotubes.
  • the elements made of electron-emitting material are separated from the gate electrode by a distance such that the parallel component of the electric field is at least ten times weaker than the perpendicular component of this field.
  • the invention also relates to a flat field emission screen comprising a plurality of cathode structures as defined above.
  • FIG. 1 is a sectional view of a cathode structure of the triode type according to known art
  • FIG. 2 is a sectional view of a cathode structure of the triode type according to the invention
  • FIG. 3 is a top view of a part of a cathode structure of the triode type according to the invention
  • FIG. 4 is a sectional view of another cathode structure of the triode type according to the invention
  • FIG. 5 is a diagram representing the spatial distribution of the electric field for a cathode structure of the triode type according to the invention
  • FIGS. 8A to 8F illustrate a second method for producing a cathode structure of the triode type according to the invention
  • FIG. 9 is a more complete top view of a triode type cathode structure according to the invention.
  • FIG. 2 is a schematic sectional view of a triode type cathode structure according to the invention.
  • This cathode structure comprises, in superposition, a conductive layer or cathode 13 supporting a layer 11 of electrically insulating material and a metal layer 15 forming an electron extraction grid.
  • the insulating layer 11 and the metal layer 15 are pierced with a slot 12 exposing the cathode 13 and of width L.
  • elements made of material electron emitter 14 in the form of a layer (only one element is visible in the figure).
  • the width d of the emissive elements 14 is small compared to the width L of the slot 12.
  • the distance separating the metal layer 15 from the emissive elements 14 is called S.
  • the slot 12 can be rectangular.
  • Figure 3 is a partial top view of the cathode structure shown in Figure 2 in the case where the slot 12 is rectangular.
  • the slot 12 is then a groove of width L and whose dimension along the axis Z is that of the pixel of the screen.
  • This slot geometry is more favorable than the circular geometry. Indeed, for reasons of symmetry, there is no lateral component of the electric field along the Z axis, therefore the emissive surface satisfying the condition E L ⁇ E X is greater in this geometry than in the cylindrical geometry .
  • the ratio between the emissive surface and the surface of the hole is (d / L) 2 .
  • this ratio is d / L. Since d / L is less than 1, the d / L ratio is therefore always greater than (d / L) 2 , which corresponds to a much brighter screen.
  • Another advantageous embodiment is that where a resistive layer is added between the emissive layer and the cathode.
  • the resistive layer protects the grid and the cathode from a possible short circuit.
  • this resistive layer is very favorable to the operation of the screen like this. is announced in document EP-A-0 316 214 (corresponding to American patent No. 4,940,916).
  • FIG. 4 is a schematic sectional view of a triode type cathode structure according to the invention with a resistive protective layer.
  • This cathode structure comprises, in superposition, a cathode 23 supporting a resistive layer 26, an insulating layer 21 and a metal layer 25 forming an electron extraction grid.
  • a slit 22 exposes the resistive layer 26.
  • elements made of emissive material 24 rest on the resistive layer 26.
  • a single element is visible in the figure.
  • the fact that the emissive zone is located in the center of the slit or of the groove, over a small width, allows a directive emission of the electrons and provides a solution to the problems of resolution. This comes from the very low value of the parallel component of the electric field (E L / E X ⁇ 0.1) in the area where the emissive elements are located.
  • the diagram in FIG. 5 shows the spatial distribution of the electric field for a cathode structure according to the invention.
  • the diagram is drawn along the Y axis, the emissive element 24 and the resistive layer 26 being represented on the diagram.
  • the spatial distribution of the electric field E is calculated for a hole width L equal to 14 ⁇ m.
  • the lateral component E y referenced 31 is less than 10 times the minimum value of the normal component referenced 32.
  • the lateral field referenced 33 and 34 becomes of comparable intensity to the normal field.
  • the calculation is made for a voltage of 60 V on the grid.
  • Shorted gate-cathode of the problems are eliminated by the central location and size of the reduced 'emissive elements with respect to the dimension of the groove or slot and by the optional presence of a resistive layer.
  • the electric field induced by the grid is uniform and has only very small lateral components compared to the vertical component of the field.
  • the emissive layer 44 is for example made up of carbon nanotubes 48.
  • the distance S is greater than the average length h of the carbon nanotubes. Given the large dispersions of the lengths of the nanotubes, it is preferable to multiply this distance by a factor of one order of 2 or 3.
  • the distance S can be of the order of 3 to 4 ⁇ m. These values are merely indicative and not limiting. It can be checked that for these dimensions the lateral component of the electric field is very weak compared to the normal component.
  • FIGS. 7A to 7F illustrate a first method for producing a cathode structure of the triode type according to the invention, this method implementing vacuum deposition and photolithography techniques.
  • the cathode conductor is obtained by depositing a conductive material, for example molybdenum, niobium, copper or ITO, on a support 50 (see FIG. 7A).
  • a conductive material for example molybdenum, niobium, copper or ITO.
  • the deposit of conductive material is etched in strips, typically 10 ⁇ m in width and not equal to 25 ⁇ m.
  • FIG. 7A shows two bands which will be associated to form a cathode electrode 53.
  • a resistive layer 56 1.5 ⁇ m thick in amorphous silicon then an insulating layer 51 1 ⁇ m thick in silica or in silicon nitride, finally a layer metallic 55 made of niobium or molybdenum intended to form the electron extraction grid.
  • the metal layer 55 and the insulating layer 51 are then simultaneously etched with a slot or trench 52 15 ⁇ m wide until the resistive layer 56 is exposed. This is shown in FIG. 7C.
  • FIG. 7D shows the structure obtained after the deposition of a sacrificial layer 57 of resin and the formation in the layer 57 of openings 58, of 6 ⁇ m in width and 10 to 15 ⁇ m in length, exposing the resistive layer 56.
  • the openings 58 have a width corresponding to the width of the emissive layer to be produced.
  • a catalytic deposition of iron, cobalt or nickel is then carried out on the structure.
  • the catalytic deposition can advantageously be replaced by the deposition of a growth multilayer which can for example be a stack comprising TiN or TaN and a catalyst material such as Fe, Co, Ni or Pt. As shown in FIG.
  • this catalytic deposit causes the formation of a discontinuous growth layer 59 on the sacrificial layer 57 and on the exposed part of the resistive layer 56.
  • the sacrificial layer is then eliminated by a "lift-” technique. off ", which causes the parts of the growth layer located on this sacrificial layer to be eliminated. Parts of the growth layer remain in the central part of the resistive layer 56. This allows the growth of emissive layers 54.
  • FIG. 7F shows only one element.
  • FIGS. 8A to 8F illustrate a second method of producing a cathode structure of the triode type according to the invention, this method implementing vacuum deposition and photolithography techniques. It is a self-aligned process.
  • the cathode conductor is obtained by depositing a conductive material, for example molybdenum, niobium, copper or ITO, on a support 150 (see FIG. 8A).
  • Material deposition conductor is etched in strips, typically 10 ⁇ m in width and not equal to 25 ⁇ m.
  • FIG. 8A shows two strips which will be associated to form a cathode electrode 153.
  • FIG. 8B shows two deposits which will be associated to form a cathode electrode 153.
  • Several deposits are then made as shown in FIG. 8B: a resistive layer 156 of 1.5 ⁇ m thick in amorphous silicon, then an insulating layer 151 1 ⁇ m thick in silica or silicon nitride, finally a metallic layer 155 made of niobium or molybdenum intended to form the electron extraction grid.
  • each opening 158 can be 6 ⁇ m and its length 15 ⁇ m. This is shown in Figure 8C. A lateral engraving of the insulating layer
  • FIG. 8E represents the structure obtained after the deposition of a layer of catalyst material 159.
  • the deposition takes place on the sacrificial layer 157 and on the exposed part of the resistive layer 156.
  • the catalyst can be iron, cobalt or nickel.
  • the catalytic deposition can advantageously be replaced by the deposition of a growth multilayer which can for example be a stack comprising TiN or TaN and a catalyst material such as Fe, Co, Ni or Pt.
  • FIG. 8F shows only one element.
  • FIG. 9 is a more complete top view of a cathode structure of the triode type according to the invention. This structure was obtained by the second production method. We recognize the gate electrode 155, the emissive elements 154 and the resistive layer 156. The slots thus produced are not perfectly rectangular. They are slightly scalloped, which in no way affects the functioning of the device.

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Overhead Projectors And Projection Screens (AREA)

Abstract

La présente invention concerne une structure de cathode de type triode comprenant, en superposition, une électrode formant cathode (13) et supportant des moyens en matériau émetteur d'électrons sous forme de couche (14), une couche d'isolant électrique (11) et une électrode de grille (15), une ouverture (12) pratiquée dans l'électrode de grille et dans la couche d'isolant électrique exposant les moyens en matériau émetteur d'électrons. Les moyens en matériau émetteur d'électrons (14) sont situés dans la partie centrale de l'ouverture de l'électrode de grille (15), cette ouverture étant en forme de fente et les moyens en matériau émetteur d'électrons exposés par la fente étant constitués d'éléments alignés selon l'axe longitudinal de la fente.

Description

STRUCTURE DE CATHODE POUR ECRAN EMISSIF
DESCRIPTION
DOMAINE TECHNIQUE L'invention concerne une structure de cathode utilisable dans un écran plat à émission de champ .
ETAT DE LA TECHNIQUE ANTERIEURE
Un dispositif de visualisation par cathodo- luminescence excité par émission de champ comprend une cathode ou structure émettrice d'électrons et une anode en regard recouverte d'une couche luminescente. L'anode et la cathode sont séparées par un espace où le vide a été fait. La cathode est soit une source à base de micro-pointes, soit une source à base d'une couche émissive à faible champ seuil. La couche ëmissive peut être une couche de nanotubes de carbone ou d'autres structures à base de carbone ou encore à base d'autres matériaux ou de multicouches (AIN, BN) .
La structure de la cathode peut . être de type diode ou de type triode . Le document FR-A- 2 593 953 (correspondant au brevet américain N° 4 857 161) divulgue un procédé de fabrication d'un dispositif de visualisation par cathodoluminescence excité par émission de champ. La structure de la cathode est du type triode . Le matériau émetteur d'électrons est déposé sur une couche conductrice apparente au fond de trous réalisés dans une couche isolante qui supporte une grille d'extraction des électrons.
La figure 1 représente, vue en coupe et de façon schématique, une structure de cathode de type triode selon l'art connu, pour un dispositif de visualisation par cathodoluminescence excité par émission de champ. Un seul dispositif d'émission est représenté sur cette figure. Une couche 1 en matériau électriquement isolant est percée d'un trou circulaire 2. Au fond du trou 2 est disposée une couche conductrice 3 supportant une couche 4 de matériau émetteur d'électrons. La face supérieure de la couche d'isolant 1 supporte une couche métallique 5 formant grille d'extraction et entourant le trou 2. Dans cette structure, la couche émissive 4 a tendance à provoquer des courts-circuits entre la grille 5 et la couche conductrice ou cathode 3. Cette tendance se mani este en particulier si la couche émissive est constituée de nanotubes de carbone. Au niveau de la couche émissive, le champ électrique, qui est maximum en bordure du trou, comporte une composante latérale EL (parallèle au plan de la cathode) importante (comparable à la composante perpendiculaire Ex du champ électrique) qui fait diverger le faisceau d'électrons et induit des problèmes de résolution au niveau de l'écran. Ceci constitue un inconvénient important lorsque la distance anode-cathode augmente et peut amener à rendre l'écran plus complexe par l'ajout d'autres grilles destinées à focaliser le faisceau d'électrons. EXPOSE DE L'INVENTION
Il est ici proposé une structure de cathode à couche émissive, de type triode pour laquelle les électrons émis par la couche émissive sont soumis à un champ électrique latéral faible, ce qui minimise les risques de court-circuit entre la grille et la cathode et ce qui limite la divergence du faisceau d'électrons émis par la couche émissive.
L'invention a donc pour objet une structure de cathode de type triode comprenant, en superposition, une électrode formant cathode et supportant des moyens en matériau émetteur d'électrons sous forme de couche, une couche d'isolant électrique et une électrode de grille, une ouverture pratiquée dans l'électrode de grille et dans la couche d'isolant électrique exposant les moyens en matériau émetteur d'électrons, les moyens en matériau émetteur d'électrons étant situés dans la partie centrale de l'ouverture de l'électrode de grille, caractérisée en ce que l'ouverture est en forme de fente, les moyens en matériau émetteur d'électrons exposés par la fente étant constitués d'au moins deux éléments alignés selon l'axe longitudinal de la fente.
Selon un mode de réalisation avantageux, l'ouverture pratiquée dans l'électrode de grille et dans la couche d'isolant électrique étant sensiblement rectangulaire, lesdits éléments en matériau émetteur d'électrons étant également sensiblement rectangulaires .
Selon un autre mode de réalisation avantageux, une couche résistive est interposée entre 1 ' électrode formant cathode et les éléments en matériau émetteur d'électrons.
De préférence, les éléments en matériau émetteur d'électrons sont séparés de l'électrode de grille d'une distance supérieure à la taille des objets constituant le matériau émetteur d'électrons.
Le matériau émetteur d'électrons peut être constitué de nanotubes de carbone.
Avantageusement, les éléments en matériau émetteur d'électrons sont séparés de l'électrode de grille d'une distance telle que la composante parallèle du champ électrique soit au moins dix fois plus faible que la composante perpendiculaire de ce champ.
L'invention a aussi pour objet un écran plat à émission de champ comportant une pluralité de structures de cathode telles que définies ci-dessus.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages et particularités apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre, donnée à titre d'exemple non limitatif, accompagnée des dessins annexés parmi lesquels :
- la figure 1, déjà décrite, est une vue en coupe d'une structure de cathode de type triode selon 1 ' art connu,
- la figure 2 est une vue en coupe d'une structure de cathode de type triode selon l'invention,
- la figure 3 est une vue de dessus d'une partie de structure de cathode de type triode selon l'invention, - la figure 4 est une vue en coupe d'une autre structure de cathode de type triode selon 1 ' invention,
- la figure 5 est un diagramme représentant la répartition spatiale du champ électrique pour une structure de cathode de type triode selon 1 ' invention,
- la figure 6 est une figure explicative de dimensions à respecter pour une structure de cathode de type triode selon l'invention, - les figures 7A à 7F illustrent un premier procédé de réalisation d'une structure de cathode de type triode selon l'invention, les figures 8A à 8F illustrent un deuxième procédé de réalisation d'une structure de cathode de type triode selon l'invention,
- la figure 9 est une vue de dessus plus complète d'une structure de cathode de type triode selon l'invention.
DESCRIPTION DETAILLEE DE MODES DE RÉALISATION DE L'INVENTION
La figure 2 est une vue schématique et en coupe d'une structure de cathode de type triode selon l'invention. Cette structure de cathode comprend, en superposition, une couche conductrice ou cathode 13 supportant une couche 11 en matériau électriquement isolant et une couche métallique 15 formant grille d'extraction des électrons. La couche isolante 11 et la couche métallique 15 sont percées d'une fente 12 exposant la cathode 13 et de largeur L. En partie centrale de la fente 12, et selon l'axe longitudinal de la fente, sont disposés des éléments en matériau émetteur d'électrons 14 sous forme de couche (un seul élément est visible sur la figure) . La largeur d des éléments émissifs 14 est faible par rapport à la largeur L de la fente 12. La distance séparant la couche métallique 15 des éléments émissifs 14 est appelée S. La fente 12 peut être de forme rectangulaire .
La figure 3 est une vue de dessus partielle de la structure de cathode représentée à la figure 2 dans le cas où la fente 12 est de forme rectangulaire. La fente 12 est alors une .gorge de largeur L et dont la dimension suivant l'axe Z est celle du pixel de 1 'écran.
Cette géométrie de fente est plus favorable que la géométrie circulaire. En effet, par raison de symétrie, il n'y a pas de composante latérale du champ électrique suivant l'axe Z, donc la surface émissive satisfaisant la condition EL<<EX est plus importante dans cette géométrie que dans la géométrie cylindrique. Dans une géométrie cylindrique, le rapport entre la surface émissive et la surface du trou vaut (d/L)2. Dans une géométrie rectangulaire, ce rapport vaut d/L. Comme d/L est inférieur à 1, le rapport d/L est donc toujours supérieur à (d/L)2, ce qui correspond à un écran beaucoup plus brillant.
Un autre mode de réalisation avantageux est celui où une couche résistive est ajoutée entre la couche émissive et la cathode. Dans ce cas, la couche résistive protège la grille et la cathode d'un éventuel court-circuit . Par ailleurs, cette couche résistive est très favorable au fonctionnement de l'écran comme cela est annoncé dans le document EP-A-0 316 214 (correspondant au brevet américain N° 4 940 916) .
La figure 4 est une vue schématique et en coupe d'une structure de cathode de type triode selon l'invention avec une couche résistive de protection. Cette structure de cathode comprend, en superposition, une cathode 23 supportant une couche résistive 26, une couche isolante 21 et une couche métallique 25 formant grille d'extraction des électrons. Une fente 22 expose la couche résistive 26. En partie centrale de la fente 22, et selon l'axe longitudinal de la fente, des éléments en matériau émissif 24 reposent sur la couche résistive 26. Un seul élément est visible sur la figure. Le fait que la zone émissive soit localisée au centre de la fente ou de la gorge, sur une faible largeur, permet une émission directive des électrons et apporte une solution aux problèmes de résolution. Ceci provient de la valeur très faible de la composante parallèle du champ électrique (EL/EX<0,1) dans la zone où les éléments émissifs sont localisés.
Le diagramme de la figure 5 montre la répartition spatiale du champ électrique pour une structure de cathode selon l'invention. Le diagramme est tracé selon l'axe Y, l'élément émissif 24 et la couche résistive 26 étant représentés sur le diagramme. La répartition spatiale du champ électrique E est calculée pour une largeur de trou L égale à 14 μm. Dans la zone centrale, de largeur d = 6 μm, la composante latérale Ey référencée 31 est inférieure à 10 fois la valeur minimale de la composante normale référencée 32. En dehors de la zone émissive, le champ latéral référencé 33 et 34 devient d'intensité comparable au champ normal. Le calcul est fait pour une tension de 60 V sur la grille. Ainsi, les problèmes inhérents aux structures de l'art antérieur sont surmontés. Les problèmes de court-circuit grille-cathode sont supprimés par la localisation centrale et la dimension réduite des' éléments émissifs par rapport à la dimension de la gorge ou de la fente et par la présence éventuelle d'une couche résistive. Le champ électrique induit par la grille est uniforme et ne comporte que des composantes latérales très faibles par rapport à la composante verticale du champ. On peut trouver empiriquement une valeur minimale pour la distance S séparant la couche métallique de grille des éléments émissifs (voir la figure 2) . Cette distance est supérieure à la taille h des objets constituant la couche émissive. Ceci est représenté schématiquement sur la figure 6 ou la référence 43 désigne une cathode et la référence 44 une couche émissive. La couche émissive 44 est par exemple constituée de nanotubes de carbone 48. Dans ce cas, la distance S est supérieure à la longueur moyenne h des nanotubes de carbone. Compte tenu des dispersions importantes des longueurs des nanotubes, il est préférable de multiplier cette distance par un facteur de 1 ' ordre de 2 ou 3.
Pour des nanotubes de 1 à 2 μm de longueur, la distance S peut être de l'ordre de 3 à 4 μm. Ces valeurs sont simplement indicatives et non limitatives. On peut vérifier que pour ces dimensions la composante latérale du champ électrique est très faible par rapport à la composante normale .
Les figures 7A à 7F illustrent un premier procédé de réalisation d'une structure de cathode de type triode selon l'invention, ce procédé mettant en œuvre des techniques de dépôt sous vide et de photolithographie .
Le conducteur cathodique est obtenu par dépôt d'un matériau conducteur, par exemple le molybdène, le niobium, le cuivre ou l'ITO, sur un support 50 (voir la figure 7A) . Le dépôt de matériau conducteur est gravé en bandes, typiquement de 10 μm de largeur et de pas égal à 25 μm. La figure 7A montre deux bandes qui seront associées pour former une électrode de cathode 53.
Plusieurs dépôts sont ensuite réalisés comme le montre la figure 7B : une couche résistive 56 de 1,5 μm d'épaisseur en silicium amorphe, puis une couche isolante 51 de 1 μm d'épaisseur en silice ou en nitrure de silicium, enfin une couche métallique 55 en niobium ou en molybdène destinée à former la grille d'extraction des électrons.
La couche métallique 55 et la couche isolante 51 sont ensuite gravées simultanément d'une fente ou tranchée 52 de 15 μm de largeur jusqu'à exposer la couche résistive 56. C'est ce que montre la figure 7C.
La figure 7D montre la structure obtenue après le dépôt d'une couche sacrificielle 57 en résine et la formation dans la couche 57 d'ouvertures 58, de 6 μm de largeur et de 10 à 15 μm de longueur, exposant la couche résistive 56. Les ouvertures 58 ont une largeur correspondant à la largeur de la couche émissive à réaliser. Un dépôt catalytique de fer, de cobalt ou de nickel est ensuite réalisé sur la structure. Le dépôt catalytique peut être avantageusement remplacé par le dépôt d'une multicouche de croissance qui peut être par exemple un empilement comprenant du TiN ou du TaN et un matériau catalyseur tel que Fe, Co, Ni ou Pt . Comme le montre la figure 7E, ce dépôt catalytique provoque la formation d'une couche discontinue de croissance 59 sur la couche sacrificielle 57 et sur la partie exposée de la couche résistive 56. La couche sacrificielle est ensuite éliminée par une technique de "lift-off", ce qui provoque l'élimination des parties de la couche de croissance situées sur cette couche sacrificielle. Il subsiste des parties de couche de croissance dans la partie centrale de la couche résistive 56. Ceci permet la croissance de couches émissives 54. La figure 7F ne montre qu'un seul élément.
Les figures 8A à 8F illustrent un deuxième procédé de réalisation d'une structure de cathode de type triode selon l'invention, ce procédé mettant en œuvre des techniques de dépôt sous vide et de photolithographie. Il s'agit d'un procédé autoaligné.
Le conducteur cathodique est obtenu par dépôt d'un matériau conducteur, par exemple le molybdène, le niobium, le cuivre ou l'ITO, sur un support 150 (voir la figure 8A) . Le dépôt de matériau conducteur est gravé en bandes, typiquement de 10 μm de largeur et de pas égal à 25 μm. La figure 8A montre deux bandes qui seront associées pour former une électrode de cathode 153. Plusieurs dépôts sont ensuite réalisés comme le montre la figure 8B : une couche résistive 156 de 1,5 μm d'épaisseur en silicium amorphe, puis une couche isolante 151 de 1 μm d'épaisseur en silice ou en nitrure de silicium, enfin une couche métallique 155 en niobium ou en molybdène destinée à former la grille d'extraction des électrons.
Après dépôt d'une couche sacrificielle 157, la couche métallique 155 et la couche isolante 151 sont ensuite gravées simultanément d'une ouverture 158 par élément émissif à réaliser, de dimensions correspondant aux dimensions des éléments émissifs à réaliser et jusqu'à exposer la couche résistive 156. La largeur de chaque ouverture 158 peut être de 6μm et sa longueur de 15μm. C'est ce que montre la figure 8C. Une gravure latérale de la couche isolante
151 est ensuite effectuée à partir de la tranchée 158 afin d'obtenir la fente 152 désirée. C'est ce que montre la figure 8D. Une partie de la couche sacrificielle 157 se trouve alors en porte-à-faux au- dessus de la fente 152. La fente et la grille sont alors auto-alignées par rapport aux zones émissives.
La figure 8E représente la structure obtenue après le dépôt d'une couche de matériau catalyseur 159. Le dépôt s'effectue sur la couche sacrificielle 157 et sur la partie exposée de la couche résistive 156. Le catalyseur peut être du fer, du cobalt ou du nickel. Le dépôt catalytique peut être avantageusement remplacé par le dépôt d'une multicouche de croissance qui peut être par exemple un empilement comprenant du TiN ou du TaN et un matériau catalyseur tel que Fe, Co, Ni ou Pt .
La couche sacrificielle est ensuite soumise à une opération de « lift-off », ce qui a pour conséquence d'éliminer la partie de la couche de matériau catalyseur supportée par la couche sacrificielle. Il subsiste des parties de couche de croissance sur la partie centrale de la couche résistive 156. Ceci permet la croissance de couches émissives 154. La figure 8F ne montre qu'un seul élément . La figure 9 est une vue de dessus plus complète d'une structure de cathode de type triode selon l'invention. Cette structure a été obtenue par le deuxième procédé de réalisation. On reconnaît l'électrode de grille 155, les éléments émissifs 154 et la couche résistive 156. Les fentes ainsi réalisées ne sont pas parfaitement rectangulaires. Elles sont légèrement festonnées, ce qui ne nuit en rien au fonctionnement du dispositif.

Claims

REVENDICATIONS
1. Structure de cathode de type triode comprenant, en superposition, une électrode formant cathode (13, 23, 53) et supportant des moyens en matériau émetteur d'électrons sous forme de couche (14, 24, 54), une couche d'isolant électrique (11, 21, 51) et une électrode de grille (15, 25, 55), une ouverture (12, 22, 52) pratiquée dans l'électrode de grille et dans la couche d'isolant électrique exposant les moyens en matériau émetteur d'électrons, les moyens en matériau émetteur d'électrons (14, 24, 54) étant situés dans la partie centrale de l'ouverture de l'électrode de grille, caractérisée en ce que l'ouverture est en forme de fente, les moyens en matériau émetteur d'électrons exposés par la fente étant constitué d'au moins deux éléments alignés selon l'axe longitudinal de la fente.
2. Structure de cathode selon la revendication 1, caractérisée en ce que l'ouverture pratiquée dans l'électrode de grille (15, 25, 55) et dans la couche d'isolant électrique (11, 21, 51) étant sensiblement rectangulaire, lesdits éléments en matériau émetteur d'électrons (14, 24, 54) sont également sensiblement rectangulaires.
3. Structure de cathode selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisée en ce qu'une couche résistive (26, 56) est interposée entre l'électrode formant cathode (23, 53) et les éléments en matériau émetteur d'électrons (24, 54).
4. Structure de cathode selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisée en ce que les éléments en matériau émetteur d'électrons sont séparés de l'électrode de grille d'une distance supérieure à la taille des objets (48) constituant le matériau émetteur d'électrons (44).
5. Structure de cathode selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisée en ce que le matériau émetteur d'électrons est constitué de nanotubes de carbone .
6. Structure de cathode selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisée en ce que les éléments en matériau émetteur d'électrons sont séparés de l'électrode de grille d'une distance telle que la composante parallèle du champ électrique soit au moins dix fois plus faible que la composante perpendiculaire de ce champ.
7. Ecran plat à émission de champ, caractérisé en ce qu'il comporte une pluralité de structures de cathode selon l'une quelconque des revendications 1 à 6.
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AT03717409T ATE472820T1 (de) 2002-02-19 2003-02-18 Kathodenstruktur für einen bildschirm
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006010387A1 (fr) * 2004-07-28 2006-02-02 Commissariat A L'energie Atomique Structure de cathode a haute resolution
EP1821329A2 (fr) 2006-02-20 2007-08-22 Samsung SDI Co., Ltd. Dispositif d'émission d'électron et écran à émission de champ correspondant

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2886284B1 (fr) 2005-05-30 2007-06-29 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation de nanostructures
KR20070041983A (ko) * 2005-10-17 2007-04-20 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 표시 디바이스
JP2007149594A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Kokusai Kiban Zairyo Kenkyusho:Kk 冷陰極電界電子放出素子及び冷陰極電界電子放出素子の製造方法
KR20070083112A (ko) 2006-02-20 2007-08-23 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 디바이스와 이를 이용한 전자 방출 표시디바이스
FR2897718B1 (fr) 2006-02-22 2008-10-17 Commissariat Energie Atomique Structure de cathode a nanotubes pour ecran emissif
FR2912254B1 (fr) 2007-02-06 2009-10-16 Commissariat Energie Atomique Structure emettrice d'electrons par effet de champ, a focalisation de l'emission
JP2009245672A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Univ Of Tokyo フィールドエミッション装置、ならびに、その製造方法
CN104299988B (zh) * 2014-09-26 2017-08-25 中国科学院半导体研究所 一种具有平面型发射阴极的纳米真空三极管及其制作方法

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0503638A2 (fr) * 1991-03-13 1992-09-16 Sony Corporation Réseau de cathodes à émission de champ
WO1994015352A1 (fr) * 1992-12-23 1994-07-07 Microelectronics And Computer Technology Corporation Affichage a ecran plat a structures triode utilisant des cathodes plates a emission de champ
EP0616356A1 (fr) * 1993-03-17 1994-09-21 Commissariat A L'energie Atomique Dispositif d'affichage à micropointes et procédé de fabrication de ce dispositif
EP0789382A1 (fr) * 1996-02-09 1997-08-13 International Business Machines Corporation Structure et procédé de fabrication d'un dispositif d'émission de champ
US5679043A (en) * 1992-03-16 1997-10-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making a field emitter
JPH1092294A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Sony Corp 電子放出源およびその製造方法ならびにこの電子放出源を用いたディスプレイ装置
US5739628A (en) * 1995-05-31 1998-04-14 Nec Corporation Field emission type cold cathode device with conical emitter electrode and method for fabricating the same
US5757138A (en) * 1996-05-01 1998-05-26 Industrial Technology Research Institute Linear response field emission device
US5821679A (en) * 1995-04-20 1998-10-13 Nec Corporation Electron device employing field-emission cathode
FR2780808A1 (fr) * 1998-07-03 2000-01-07 Thomson Csf Dispositif a emission de champ et procedes de fabrication
US6097139A (en) * 1995-08-04 2000-08-01 Printable Field Emitters Limited Field electron emission materials and devices
JP2000243218A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Nec Corp 電子放出装置及びその駆動方法
EP1037250A1 (fr) * 1999-03-18 2000-09-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Elément émetteur d'électrons et dispositif de sortie d'images
EP1115134A1 (fr) * 2000-01-05 2001-07-11 Samsung SDI Co. Ltd. Dispositif à émission de champ et procédé de fabrication
US6323587B1 (en) * 1998-08-06 2001-11-27 Micron Technology, Inc. Titanium silicide nitride emitters and method
EP1164618A1 (fr) * 1999-03-17 2001-12-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif d'emission d'electrons et dispositif d'affichage d'images utilisant un dispositif d'emission d'electrons
EP1174899A2 (fr) * 2000-07-17 2002-01-23 Hewlett-Packard Company Dispositif pour source d'électrons

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5150648A (fr) * 1974-10-30 1976-05-04 Hitachi Ltd
JP3526462B2 (ja) * 1991-03-20 2004-05-17 ソニー株式会社 電界放出型陰極装置
US5763997A (en) * 1992-03-16 1998-06-09 Si Diamond Technology, Inc. Field emission display device
JP2669749B2 (ja) * 1992-03-27 1997-10-29 工業技術院長 電界放出素子
US5717285A (en) * 1993-03-17 1998-02-10 Commissariat A L 'energie Atomique Microtip display device having a current limiting layer and a charge avoiding layer
JP2892587B2 (ja) 1994-03-09 1999-05-17 双葉電子工業株式会社 電界放出素子及びその製造方法
US5837331A (en) * 1996-03-13 1998-11-17 Motorola, Inc. Amorphous multi-layered structure and method of making the same
JP3836539B2 (ja) * 1996-07-12 2006-10-25 双葉電子工業株式会社 電界放出素子およびその製造方法
TW353758B (en) * 1996-09-30 1999-03-01 Motorola Inc Electron emissive film and method
JPH10289650A (ja) * 1997-04-11 1998-10-27 Sony Corp 電界電子放出素子及びその製造方法並びに電界電子放出型ディスプレイ装置
FR2779271B1 (fr) * 1998-05-26 2000-07-07 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une source d'electrons a micropointes, a grille de focalisation auto-alignee
JP2000251614A (ja) 1999-02-24 2000-09-14 Futaba Corp 電界放出素子及びその製造方法
JP2000268705A (ja) 1999-03-18 2000-09-29 Futaba Corp 電子放出素子
JP2000285795A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Sony Corp 電子放出源およびその製造方法ならびにディスプレイ装置
JP3792436B2 (ja) * 1999-05-26 2006-07-05 日本電気株式会社 電界放出型冷陰極とその製造方法および平面ディスプレイの製造方法
JP2001023506A (ja) * 1999-07-07 2001-01-26 Sony Corp 電子放出源およびその製造方法ならびにディスプレイ装置
KR20010011136A (ko) * 1999-07-26 2001-02-15 정선종 나노구조를 에미터로 사용한 삼극형 전계 방출 에미터의 구조및 그 제조방법
JP3600126B2 (ja) * 1999-07-29 2004-12-08 シャープ株式会社 電子源アレイ及び電子源アレイの駆動方法
JP4043153B2 (ja) * 1999-07-30 2008-02-06 双葉電子工業株式会社 電子放出源の製造方法、エミッタ基板の製造方法、電子放出源及び蛍光発光型表示器
US6062931A (en) * 1999-09-01 2000-05-16 Industrial Technology Research Institute Carbon nanotube emitter with triode structure
JP2001101977A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Toshiba Corp 真空マイクロ素子
JP2001126609A (ja) * 1999-10-26 2001-05-11 Futaba Corp 電子放出素子及び蛍光発光型表示器
KR100477739B1 (ko) * 1999-12-30 2005-03-18 삼성에스디아이 주식회사 전계 방출 소자 및 그 구동 방법
KR100661142B1 (ko) * 2001-02-01 2006-12-26 샤프 가부시키가이샤 전자 방출 장치 및 필드 에미션 디스플레이
JP2002334673A (ja) * 2001-05-09 2002-11-22 Hitachi Ltd 表示装置
TW511108B (en) * 2001-08-13 2002-11-21 Delta Optoelectronics Inc Carbon nanotube field emission display technology

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0503638A2 (fr) * 1991-03-13 1992-09-16 Sony Corporation Réseau de cathodes à émission de champ
US5679043A (en) * 1992-03-16 1997-10-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making a field emitter
WO1994015352A1 (fr) * 1992-12-23 1994-07-07 Microelectronics And Computer Technology Corporation Affichage a ecran plat a structures triode utilisant des cathodes plates a emission de champ
EP0616356A1 (fr) * 1993-03-17 1994-09-21 Commissariat A L'energie Atomique Dispositif d'affichage à micropointes et procédé de fabrication de ce dispositif
US5821679A (en) * 1995-04-20 1998-10-13 Nec Corporation Electron device employing field-emission cathode
US5739628A (en) * 1995-05-31 1998-04-14 Nec Corporation Field emission type cold cathode device with conical emitter electrode and method for fabricating the same
US6097139A (en) * 1995-08-04 2000-08-01 Printable Field Emitters Limited Field electron emission materials and devices
EP0789382A1 (fr) * 1996-02-09 1997-08-13 International Business Machines Corporation Structure et procédé de fabrication d'un dispositif d'émission de champ
US5757138A (en) * 1996-05-01 1998-05-26 Industrial Technology Research Institute Linear response field emission device
JPH1092294A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Sony Corp 電子放出源およびその製造方法ならびにこの電子放出源を用いたディスプレイ装置
FR2780808A1 (fr) * 1998-07-03 2000-01-07 Thomson Csf Dispositif a emission de champ et procedes de fabrication
US6323587B1 (en) * 1998-08-06 2001-11-27 Micron Technology, Inc. Titanium silicide nitride emitters and method
JP2000243218A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Nec Corp 電子放出装置及びその駆動方法
US6437503B1 (en) * 1999-02-17 2002-08-20 Nec Corporation Electron emission device with picture element array
EP1164618A1 (fr) * 1999-03-17 2001-12-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif d'emission d'electrons et dispositif d'affichage d'images utilisant un dispositif d'emission d'electrons
EP1037250A1 (fr) * 1999-03-18 2000-09-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Elément émetteur d'électrons et dispositif de sortie d'images
EP1115134A1 (fr) * 2000-01-05 2001-07-11 Samsung SDI Co. Ltd. Dispositif à émission de champ et procédé de fabrication
EP1174899A2 (fr) * 2000-07-17 2002-01-23 Hewlett-Packard Company Dispositif pour source d'électrons

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1998, no. 09 31 July 1998 (1998-07-31) *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 2000, no. 12 3 January 2001 (2001-01-03) *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006010387A1 (fr) * 2004-07-28 2006-02-02 Commissariat A L'energie Atomique Structure de cathode a haute resolution
US7880375B2 (en) 2004-07-28 2011-02-01 Commissariat A L'energie Atomique Triode cathode apparatus and method of making a triode cathode apparatus
EP1821329A2 (fr) 2006-02-20 2007-08-22 Samsung SDI Co., Ltd. Dispositif d'émission d'électron et écran à émission de champ correspondant
EP1821329A3 (fr) * 2006-02-20 2010-04-07 Samsung SDI Co., Ltd. Dispositif d'émission d'électron et écran à émission de champ correspondant

Also Published As

Publication number Publication date
DE60333168D1 (de) 2010-08-12
EP1476888B1 (fr) 2010-06-30
WO2003071571A8 (fr) 2004-04-29
ATE472820T1 (de) 2010-07-15
JP2011103303A (ja) 2011-05-26
US20040256969A1 (en) 2004-12-23
EP1476888A1 (fr) 2004-11-17
FR2836279A1 (fr) 2003-08-22
CN1552084A (zh) 2004-12-01
JP2005518636A (ja) 2005-06-23
US7759851B2 (en) 2010-07-20
KR100944731B1 (ko) 2010-03-03
JP5425753B2 (ja) 2014-02-26
CN1316533C (zh) 2007-05-16
KR20040079404A (ko) 2004-09-14
FR2836279B1 (fr) 2004-09-24

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