WO2003063149A1

WO2003063149A1 - Appareil a disque optique et procede d'identification du disque optique

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Publication number: WO2003063149A1
Application number: PCT/JP2002/013814
Authority: WO
Inventors: Nobuo Horimoto
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority date: 2002-01-21
Filing date: 2002-12-27
Publication date: 2003-07-31
Also published as: CN1615511A; US20050152252A1; US6956801B2; JPWO2003063149A1; CN100437774C

Description

明細書

光ディスク装置及び光ディスク判別方法技術分野 '

本発明は、異なっ種類の光ディスクを記録又は再生可能な光ディスク装置及び光ディスクの種類を判別する光ディスクの判別方法に関するものである。

従来から、光ディスク基材厚の違いに注目した以下のよラな光ディスクの種類の判別方法が知られている。

図了に従来の光ディスクの判別方法を示す。

まず、特開平 8— 287588号公報に開示されている光ディスクの判別方法について説明する。

この従来技術では、図了の対物レンズ 1を C Dディスク 52または DVDディスク 53に近づけていくと、まず基材表面 54にレーザ光の焦点が合う位置でデイスクからの反射光に基づく振幅の小さい和信号 55が得られる。その後、対物レンズ 1を更に CDディスク 52または DVDディスク 53に近づけていくと、信号面 56にレーザ光の焦点が合う位置でディスクからの反射光に基づく振幅の大きい和信号 57が得られる。これら和信号 55、 5了とレベル 1とを比較し、 2値化し和信号を基に、基材表面 54が検出され時点から、信号面 56が検出される時点までの時間差 T 1を計測する。そして、計測した時間差 T 1の長さによって光ディスクの基材厚を認識し、認識した基材厚から光ディスクの種類を判別している。

次に、特開平 1 1一 1 49640号公報に開示されている光ディスクの判別方法について説明する。

この従来技術では、ディスク判別の精度を増す為に以下のような方法を提案してし、る。

すなわち、光ディスクからの反射光に基づいて生成されるフォーカスエラ一信号中の S字信号部分 58をレベル 2及びレベル 3と比較することにより S字正側検出信号と S字負側検出信号を生成し、 S字正側信号と S字負側信号の検出時間差 T 2を計測する。そして、基材表面 54が、検出された時点から信号面 56が検出される時点までの時間差 T 1との比 T 1 /T 2を算出することにより、基材表面 54が検出された時点から、信号面 56が検出される時点までの時間差を正規化する。このように、この従来技術は、正規化し T 1 7T 2の値を用いることで、ァクチユエ一夕のフォーカス方向における感度ばらつきの影響を除去するものである。

しかし、光ディスクに面振れがあつだ場合、基材表面及び信号面が上下に振れる為、図 8に示すように基材表面からの反射光に基づく和信号 6 1と信号面からの反射光に基づく和信号 62が複数箇所発生し、しかも位置が前後に変動してしまう。その為、上記従来の技術では、正確に時間測定ができずディスク判別を間違えるという課題があった。ま、基材表面の和信号 6 1は信号の振幅が小さい為、ノイズを基材表面の和信号 6 1と誤検出し正確に時間測定ができずディスク判別を間違えるという課題があった。

まだ、特に特開平 1 1 _ 1 4964〇号公報に開示されている光ディスクの判別方法では、フォーカスエラ一信号と和信号の 2つの信号を必要とし、ま、 T 1の時間測定手段と、フォーカスエラ一信号の 2値化手段と、前記和信号の 2値化手段とを必要とし、構成的にも複雑である。

そこで本発明は、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラー信号の S字が複数個生じても正確なディスクの種類の判別を行うことを目的とする。ま本発明は、レーザパワーのばらつきゆ、光ディスクの反射率のばらつきに対する影響を無くし正確にディスク判別を行うことを目的とする。発明の開示

本発明の第 1の実施の形態による光ディスク装置は、異なった種類の光デイスクを記録又は再生可能な光ディスク装置において、光ディスクにレーザ光を照射するピックアップと、前記レーザ光の照射を制御するレーザ制御手段と、前記ピックアップを構成する対物レンズをフォーカス方向に移動するァクチユエータ駆動手段と、前記光ディスクからの反射光によってフォーカス状態を検出するフォ —カス検出用受光手段と、前記フォーカス検出用受光手段より生成されるフォーカスエラー信号の振幅を測定する F E信号測定手段と、前記 F E信号測定手段で測定した振幅から前記光ディスクを判別する光ディスク判別手段とを備え、前記ァクチユエータ駆動手段により前記対物レンズを前記光ディスクに近づけていき、前記光ディスクの信号面にレーザ光の焦点が合う位置の前後でフォーカスエラ一信号を発生させ、前記光ディスク判別手段では、前記対物レンズの外周部を通過するレーザ光と前記対物レンズの内周部を通過するレーザ光との焦点ずれによつて生じるフォーカスエラー信号の波形の相違から前記光ディスクの厚みを判別し、前記光ディスクの厚みから前記光ディスクの種類を判別することを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、対物レンズの外周部を通過するレーザ光と対物レンズの内周部を通過するレーザ光とによって生じるフォーカスエラー信号の波形の相違から前記光ディスクの厚みを判別することにより、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラ一信号の S字が複数個生じても、光ディスクの厚みが同じであればフォーカスエラー信号の波形に変動がなく、また光ディスクの厚みが異なればフォーカスエラ一信号の波形^相違するため、正確なディスクの種類の判別が可能である。また、時間測定の必要がないため計時手段を必要とせず、基材表面の振幅の小さし、和信号を検出する必要もなしめ、ノィズを誤って検出して光ディスク判別を間違えることもなく正確に判別できる光ディスク装置を提供でさる。

本発明の第 2の実施の形態による光ディスク装置は、フォーカスエラー信号の振幅の最大値を F E m a X、最小値を F E m i nとし時に、 F E m a xの絶対値と F Em i nの絶対値との値を比較することにより前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラー信号の S字が複数個生じても振幅の最大値、最小値の大きさに変動がないめ、 F Em a xの絶対値と F Em i nの絶対値との値を比較することで正確なデイスクの種類の判別が可能である。

本発明の第 3の実施の形態は、第 1の実施の形態による光ディスク装置において、フォーカスエラ一信号の振幅の最大値を F Em a x、最小値を F Em i nとした B寺に、 (FEmax + FEm i n) / (FEmax— FEm i n)の ί直によつて前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、フォ一カスエラー信号の最大値 FEmaxと最小値 F Em i nの和と差の比率を求め正規化することによりレーザパワーのばらつき、光ディスクの反射率のばらつきに対する影響を無くし正確にディスク判別を行うことができるディスク判別装置を提供できる。

本発明の第 4の実施の形態による光ディスク装置は、フォーカスエラ一信号の振幅の最大値を F E m a X、最小値を F E m i nとした時に、 FEmaxの絶対膣と F E m ί ηの絶対値とのとの差を求め、この F E m a χの絶対値と F E m ί ηの絶対値との差を、予め定め判別値と比較することで、前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラ一信号の S字が複数個生じても振幅の最大値、最小値の大きさに変動がないため、 FEm axの絶対値と FEm i nの絶対値との差を、予め定めた判別値と比較することで、正確なディスクの種類の判別が可能である。

本発明の第 5の実施の形態による光ディスク装置は、異なった種類の光ディスクを記録又は再生可能な光ディスク装置において、光ディスクにレーザ光を照射するピックアップと、前記レーザ光の照射を制御するレーザ制御手段と、前記ピックアップを構成する対物レンズをフォーカス方向に移動するァクチユエ一タ駆動手段と、前記光ディスクからの反射光によってフォーカス状態を検出するフォ一カス検出用受光手段と、前記フォ一カス検出用受光手段より生成されるフォ一カスエラ一信号の振幅を測定する F E信号測定手段と、前記 F E信号測定手段で測定した振幅から前記光ディスクを判別する光ディスク判別手段とを備え、前記ァクチユエータ駆動手段により前記対物レンズを前記光ディスクに近づけていき、前記光ディスクの信号面にレーザ光の焦点が合う位置の前後でフォーカスエラ一信号を発生させ、前記光ディスク判別手段では、前記対物レンズの外周部を通過するレーザ光と前記物レンズの内周部を通過するレーザ光との焦点ずれによつて生じるフォ一カスエラー信号の振幅の正側波形と負側波形との対称性から前記光ディスクの厚みを判別し、前記光ディスクの厚みから前記光ディスクの種類を判別することを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、対物レンズの外周部を通過するレーザ光と対物レンズの内周部を通過するレーザ光とによって生じるフォーカスエラ一信号の振幅の正側波形と負側波形との対称性から前記光ディスクの厚みを判別することにより、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラ一信号の S字が複数個生じても、光ディスクの厚みが同じであればフォーカスエラー信号の波形に変動がなぐま光ディスクの厚みが異なればフォーカスエラー信号の波形が相違するだめ、正確なディスクの種類の判別が可能である。また、時間測定の必要がないため計時手段を必要とせず、基材表面の振幅の小さい和信号を検出する必要もないめ、ノイズを誤って検出して光ディスク判別を間違えることもなく正確に判別できる光ディスク装置を提供できる。

本発明の第 6の実施の形態による光ディスク判別方法は、光ディスクの種類を判別する光ディスク判別方法において、光ディスクにレーザ光を照射しながら対物レンズを光ディスクに近づける駆動ステップと、前記駆動ステップ中にフォーカスエラ一信号の振幅を測定し、前記フォーカスエラ一信号の最大値 F Ema X と最小値 F Em i nを記憶する FE信号測定ステップと、前記 FE信号測定ステップで記憶しだ最大値 FEmaxの絶対値と最小値 F Em i nの絶対鐘の差を、あらかじめ記憶している判別値と比較する判別ステップとを有し、前記判別ステップによって前記光ディスクの種類を判別することを特徴とするちのである。本実施の形態によれば、面振れによって焦点位置が変動し、フォーカスエラー信号の S字が複数個生じてち振幅の最大值、最小鐘の大きさに変動がないため、正確にディスクの種類の判別が可能である。ま、時間測定の必要がないだめ計時手段を必要とせず、基材表面の振幅の/」、さし、和信号を検出する必要もなし、ため、ノイズを誤って検出し光ディスク判別を間違えることもなく正確に判別できる光ディスク判別方法を提供できる。

本発明の第 7の実施の形態は、第 6の実施の形態による光ディスク判別方法において、判別ステップでは、（FEmax + FEm i n) / (FEmax-FEm i n) を計算し、計算され前記（FEmax + FEm i n) / (FEmax— F Em i n) を、あらかじめ記憶している判別値と比較することで前記光デイスクの種類を判別することを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、フォ一カスエラー信号の最大値 F E m a Xと最小値 F Em i nの和と差の比率を求め正規化することによりレーザパワーのばらつき、光ディスクの反射率のばらつきに対する影響を無くし正確にディスク判別を行うことができるディスク判別方法を提供できる。

本発明の第 8の実施の形態は、第 6又は第 7の実施の形態による光ディスク判別方法において、判別値として、レーザ光の焦点が合う位置でのフォーカスエラ一信号を基準とした最大値 F Em a xと最小値 F Em i nから算出し値を用いたことを特徴とするものである。

本実施の形態によれば、レーザ光の焦点が合う位置でのフォーカスエラー信号を基準とすることで、より正確にディスクの種類の判別が可能になる。

本発明の第 9の実施の形態は、第 1から第 5のいずれかの実施の形態による光ディスク装置において、光ディスクの基材厚の差によって外周部を通過するレーザ光と内周部を通過するレーザ光との焦点ずれが生じるピックアップを用いことを特徴とするちのである。

本実施の形態によれば、光ディスクの基材厚の差によって外周部を通過するレ一ザ光と内周部を通過するレーザ光との焦点ずれが生じるピックアップを用いることで、最大値 F Em a xと最小値 F Em i nの振幅に差を生じることができ、より正確にディスクの種類の判別が可能になる。図面の簡単な説明

図 1は、本発明の一実施例による光ディスク装置のブロック図

図 2は、本実施例による F E信号の生成方法を説明するための図図 3は、光ディスク基材厚の差が F E信号に与える影響を説明するめの図図 4は、本実施例による光ディスクの判別方法における正規化処理を説明するめの図

図 5は、本実施例における光ディスク判別方法のフ口一チヤ一卜図図 6は、本発明の他の実施例による光ディスク判別方法のフローチャート図図了は、従来の光ディスクの判別方法を説明するめの図図 8は、光ディスクに面^れがあった場合の信号状態を説明するめの図発明を実施するための最良の形態 ·

以下に、本発明の一実施例による光ディスク装置について、図 1、図 2、図 3 を用いて説明する。

図 1は本実施例による光ディスク装置のブロック図である。ピックアップ 1 0 は、例えば C Dや DVDなどの異なる種類の光ディスクに対して記録ゆ再生信号を得ることができ、半導体レーザ 5、集光レンズ 2、対物レンズ 1、偏光ホログラム 3、卜ラッキング検出用受光手段 4、フォーカス検出用受光手段 6を有する。半導体レーザ 5は、レーザ制御手段了による制御の下で適正なパワーのレーザを発光する。対物レンズ" 1は、フォーカスエラー及びトラッキングエラ一を解消する為にァクチユエータ駆動手段 1 1からの駆動信号に麻答してそれぞれフォー力ス方向とディスク径方向に移動させることができる。

集光レンズ 2は、半導体レーザ 5から照射するレーザ光を平行な光に変換する。なお、 DVDレーザ光を平行な光に変換する場合には、 CDレーザ光を若干発散光とする。集光レンズ 2を通過した光は、対物レンズ 1で光ディスク 8に光スポッ卜を形成する。一方、光ディスク 8からの反射光は、対物レンズ 1、集光レンズ 2を通り偏光ホログラム 3によりフォーカス検出用の反射光と卜ラッキング検出用の反射光に回折され、フォーカス検出用の反射光は、フォーカス検出用受光手段 6に当る。 F E信号測定手段 1 2は、フォーカス検出用受光手段 6から出力されフォーカスエラ一信号の最大値 F Em a x l 5と最小値 F Em i n 1 6を電圧値や電流値など.として測定する。光ディスク判別手段 1 3では、レーザ光の焦点が合う位置でのフォ一カスエラー信号を基準として、 S字信号の波形の相違から光ディスクの種類を判別することができる。ここでは、 F E信号測定手段 1 2で測定した、フォーカスエラ一信号の振幅の最大膣 F Em a Xと最小値 F Em i nを基に光ディスクの種類を判別する。ここで、レーザ光の焦点が合う位置でのフォーカスエラー信号を 0 (基準）にして最大値 F E m a xと最小値 F Em i nの値を算出している。制御手段 1 4は、ァクチユエータ駆動手段 1 1、光ディスク判別手段 1 3、及びレーザ制御手段了を制御する構成となっている。

次に図 2を参照しながら、 F E信号の生成の一方法を説明する。

集光レンズ 2によって回折されたフォーカス検出用の反射光は、更に 4分割され、フォ一カス検出用受光手段 6の面を挟んで前側に合焦する光と後側に合焦する光に分割されフォ一カス検出用受光手段 6に当る。フォ一カス検出用受光手段 6の面は、分割線にて Aと Bの領域が形成されており、光電効果により領域 Bに当っ光量に対する電圧が F E 1として、領域 Aに当った光量に対する電圧が F E 2として出力される。そしてフォーカスエラー信号は、 2つの電圧差 F E 1— F E 2で生成される。

次に図 3を参照しながら光ディスク基材厚の差が F E信号に与える影響について説明する。

対物レンズ 1で集光されるレーザ光は、光軸から遠い対物レンズ 1の外周部を通過して集光される合焦位置と、光軸近辺にある対物レンズ 1の内周部を通過して集光される合焦位置にはずれが生じる。これを球面収差とい。

基材厚 0. 6mmの DVDディスク 23を通して球面収差なく光を収束する時の空気中の波面 24に対し、基材厚 1 . 2mmの C Dディスク 2〇を通して球面収差なく光を収束する時の空気中の波面 25は、光軸から遠い外周部にいくほど遅れることになる。

本実施例による光ディスク装置のピックアップ 1 0は、 2つ以上の種類の異なつ光ディスクの再生及び記録を可能にするために、 2種類以上の波長の異なるレーザ光を照射可能な構成である。このようなピックアップ 1 0は、光学系又は信号出力系の切り替えによって複数種類の光ディスクに対麻可能な単一のピックアップによって構成してもよいが、複数のピックアップによって構成してもよい。ここでは、ピックアップ 1〇から照射される第 1のレーザ光をたとえば DVD再生用レーザ光とし、第 2のレーザ光を C D再生用レーザ光として説明する。

DVD再生用の第 1のレーザ光は、 DVDディスク 23に対して球面収差が最小となるように設計され、 C D再生用の第 2のレーザ光は、 C Dディスク 20に対して球面収差が最小となるように設計されてし）る。

第 1のレーザ光が DVDディスク 23の合焦位置において球面収差が最小になるように設計された対物レンズ 1を用いる場合には、 CDディスク 20を再生する第 2のレ—ザ光に対しては、外周部を通るレ一ザ光の合焦位置が遅れるように集光レンズ 2で若干の発散光にする。ここで、 DVDディスク 23に対して第 2 のレーザ光を入射すると外周部の波面が遅れる為、外周部を通った光は内周部を通つた光の合焦位置よりも手前で合焦することになる。

ここで、第 2のレーザ光を照射しながら対物レンズ 1を CDディスク 2〇に近づけていった時、内周部を通過しレーザ光と外周部を通過しレーザ光では、遅れを生じない為、 ¾[物レンズ 1の全面を通った光で作られる FE信号 28の F Emax29と FEm i n30はほぽ同じ大きさの振幅信号になる。一方、対物レンズ 1を DVDディスク 23に近づけていっ時、外周部を通過しレーザ光は内周部を通過したレーザ光よりも遅れる為、物レンズ 1の全面を通つだ光で作られる FE信号 33は FEmax34が小さく、 FEm i n35が大きい信号になる。そのめ、絶対値 i FEmax lと i FEm i n lの値を比較することによりディスクの厚みを判別することができる。

次に、本発明の一実施例による光ディスクの判別方法における正規化処理について、図 4を用し、て説明する。

レーザパワーのばらつきや光ディスクの反射率のばらつきによって F Em a X や FEm i nの値は大きく変動する。これらのばらつきの影響をなくすめ、光ディスク判別手段 13において、以下のような正規化処理を行う。フォーカスェラー信号の中間レベル（FEmax + FEm i n) /2をフォーカスエラー信号の振幅値（FEmax— FEm i n)で割ることによって得られる、フォーカスエラ一信号の上下バランス値（FEmax + FEm i n) / (FEmax-FE m i n)は、フォーカスエラー信号の振幅レベルを打ち消し合うのでレーザパヮ —のばらつきや光ディスクの反射率のばらつきによる影響を小さくすることができる。そして、このフォーカスエラー信号の上下バランス値（FEmax + FE m i n) / (FEmax— FEm i n) を、あらかじめ設定した判別値と比較することにより光ディスクの判別を行う。

次に、本実施例による光ディスク判別方法について、図 5を用いて説明する。なお、本実施例による光ディスク判別方法は、図 1に示す光ディスク装置において行うことができる。

図 5は本実施例における光ディスク判別方法のフローチャート図である。光ディスク 8にレーザ光を照射しながら（S1)、ピックアップ 1〇内にある対物レンズ 1をフォーカス方向に駆動する（S2)。対物レンズ 1を駆動している間、 FE信号を測定し（S3)、 FE信号最大値を F Ema Xに記憶し（S4)、 FE 信号最小値を FEm i nに記憶する（S5)。そして F Ema xの絶対値と F Em i nの絶対値との差を予め定めた判別値と比較し（S 6)、その差が予め定めた判別値より大きい場合 CDと判別し（S了)、判別値より小さし、場合 DVDと判別する（S8)₀

次に、本発明の他の実施例による光ディスク判別方法について、図 6を用いて説明する。

図 6は本実施例における光ディスク判別方法のフローチャート図である。光ディスク 8にレーザ光を照射しながら（S1)、ピックアップ 1〇内にある対物レンズ 1をフォーカス方向に駆動する（S 2)。対物レンズ 1を駆動してし、る間、 FE信号を測定し（S3)、 FE信号最大值を FEmaxに記憶し（S4)、 FE 信号最小値を FEm i nに記憶する（S5)。そして（FEmax + FEmi n) / (FEmax— FEm i n)の計算を行い（S9)、計算結果を予め設定した判別値と比較する（S 1〇）。計算値が判別値より大きい場合 CDと判別し（S7)、判別値より小さい場合 DVDと判別する（S8)。

なお、ピックアップとして、光ディスクの基材厚の差によって外周部を通過するレーザ光と内周部を通過するレーザ光との焦点ずれが生じるピックアップを用いることで、最大値 FEmaxと最小値 FEm i nの振幅に差を生じることができ、より正確にディスクの種類の判別が可能になる。

また、上記実施例の説明においては、基材厚 0. 6mmと基材厚 1. 2mmの 2種類のディスクの種類を判別することを説明しが、他の基材厚であってもよく、ま基材厚が異なる 3つ以上のディスクの種類を判別することも可能であり、たとえば基材厚 A、基材厚 B、基材厚 C (A>B>Cの関係）にも実施可能である。

ま、上記実施例では、フォーカスエラ一信号の振幅の最大値 FEmaxと最小値 F Em i nを基に光ディスクの種類を判別する場合を説明したが、 S字信号の波形の相違として、フォーカスエラ一信号の振幅の正側波形と負側波形との ¾ί 称性を求め、正側波形と負側波形との対称性がどの程度あるかを、予め設定した基準値と比較してもよい。また、 S字信号の波形の相違を判別する他の手段として、フォーカスエラー信号の振幅比を求め、この振幅比を予め設定し 7£基準値と比較してちょい。また、 S字信号の波形の相違を判別する他の手段として、フォ一カスエラー信号の最大と最小の中間值と前記フォーカスエラ一信号の振幅との比を求め、この比を予め設定した基準値と比較してもよい。産業上の利用可能性

以上のように本発明によれば、面振れ、ノイズ、レーザパワー出力のばらつき等に影響されず、また、計時手段を必要とせずに正確なディスクの種類の判別を行うことができる。

Claims

1 異なっ種類の光ディスクを記録又は再生可能な光ディスク装置において、光ディスクにレーザ光を照射するピックアップと、前記レーザ光の照射を制御するレーザ制御手段と、前記ピックアツプを構成する対物レンズをフオーカス方向に移動するァクチユエータ駆動手段と、前記光ディスクからの反射光によつてフォ一カス状態を検出するフォ一カス検出用受光手段と、前記フォ一カス検出用受光手段より生成されるフォ一カスエラ一信号の振幅を測定する F E信号測定手段と、前記 F E信号測定手段で測定し振幅から前記光ディスクを判別する光ディスク判別手段とを備え、前記ァクチユエータ駆動手段により前記対物レンズを前記光ディスクに近づけていき、前記光ディスクの信号面にレーザ光の焦点が合位置の前後でフォーカスエラ一信号を発生させ、前記光ディスク判別手段では、前記対物レンズの外周部を通過するレ一ザ光と前記対物レンズの内周部を通過するレーザ光との焦点ずれによって生じるフォーカスエラ一信号の波形の相違から前記光ディスクの厚みを判別し、前記光ディスクの厚みから前記光ディスクの種類を判別することを特徴とする光ディスク装置。

2 前記フォーカスエラ一信号の振幅の最大値を F Em a x、最小値を F E m i nとし時に、 F E m a xの絶対値と F E m i nの絶対値との値を比較することにより前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするクレーム 1記載の光ディスク装置。

3 前記フォーカスエラー信号の振幅の最大値を F Em a x、最小値を F E m i n tしに Bきに、（F Em a x + F E m i n) / ( F Em a x— F Em i nリの値によって前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするクレーム 1記載の光ディスク装置。

4 前記フォーカスエラー信号の振幅の最大値を F Em a x、最小値を F E m i nとした時に、 F E m a xの絶效値と F E m i nの絶対値との差を求め、この F Em a xの絶値と F Em i nの絶対値との差を、予め定めた判別値と比較することで、前記光ディスクの厚みの判別を行うことを特徴とするクレーム 1記載の光ディスク装置。

5 異なった種類の光ディスクを記録又は再生可能な光ディスク装置において、光ディスクにレーザ光を照射するピックアップと、前記レーザ光の照射を制御するレ一ザ制御手段と、前記ピックアツプを構成する対物レンズをフォーカス方向に移動するァクチユエータ駆動手段と、前記光ディスクからの反射光によつてフォ一カス状態を検出するフォ一カス検出用受光手段と、前記フォ一カス検出用受光手段より生成されるフォ一カスエラー信号の振幅を測定する F E信号測定手段と、前記 F E信号測定手段で測定しだ振幅から前記光ディスクを判別する光ディスク判別手段とを備え、前記ァクチユエータ駆動手段により前記対物レンズを前記光ディスクに近づけていき、前記光ディスクの信号面にレーザ光の焦点が合う位置の前後でフォーカスエラー信号を発生させ、前記光ディスク判別手段では、前記 ¾Τ物レンズの外周部を通過するレーザ光と前記対物レンズの内周部を通過するレーザ光との焦点ずれによって生じるフォーカスエラ一信号の振幅の正側波形と負側波形との対称性から前記光ディスクの厚みを判別し、前記光ディスクの厚みから前記光ディスクの種類を判別することを特徴とする光ディスク装置。

6 光ディスクの種類を判別する光ディスク判別方法において、光ディスクにレーザ光を照射しながら対物レンズを光ディスクに近づける駆動ステップと、前記駆動ステップ中にフォ一カスエラー信号の振幅を測定し、前記フォ一カスェラ一信号の最大値 F E m a Xと最/」、値 F E m i nを記憶する F E信号測定ステップと、前記 F E信号測定ステップで記憶した最大値 F Em a Xの絶対値と最小値 F Em i nの絶対値の差を、あらかじめ記憶している判別値と比較する判別ステップとを有し、前記判別ステップによって前記光ディスクの種類を判別することを特徴とする光ディスク判別方法。

7 前記判別ステップでは、（F Em a x + F Em i n) Z (F Em a x— F Em i n) を計算し、計算され前記（F Em a x + F Em i n) / (F Em a x— F Em i n) を、あらかじめ記憶している判別値と比較することで前記光デイスクの種類を判別すること特徴とするクレーム 6記載の光ディスク判別方法。

8 前記判別值として、前記レーザ光の焦点が合う位置でのフォーカスエラ —信号を基準とした最大値 F Em a xと最小値 F Em i nから算出し値を用いことを特徴とするクレーム 6又はクレーム 7に記載の光ディスク判別方法。

9 光ディスクの基材厚の差によって外周部を通過するレーザ光と内周部を通過するレーザ光との焦点ずれが生じるピックアップを用いことを特徴とするクレーム 1からクレーム 5のいずれかに記載の光ディスク装置。