JP2012133830A

JP2012133830A - 光ディスク装置、半導体装置、及び光ディスク判別方法

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Publication number: JP2012133830A
Application number: JP2010283116A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Wake; 剛和氣
Original assignee: Renesas Electronics Corp
Current assignee: Renesas Electronics Corp
Priority date: 2010-12-20
Filing date: 2010-12-20
Publication date: 2012-07-12

Abstract

【課題】光ディスク装置において、光ディスクの記録面の判別を精度良く、且つ容易に行う。
【解決手段】光ディスク装置（１００）は、光ディスク（４）の記録面の第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズ（２１）を移動させたときの反射信号（ＦＥ、ＰＥ）の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報（ｔｄ）を格納するための記憶領域（１５）を有する。光ディスク装置が光ディスクにアクセスするとき、格納された第１の記録面の情報に応じて対物レンズを移動させる移動時間を設定し、その移動時間に応じて対物レンズを移動させ、そのときの反射信号の特性を測定する。光ディスク表面で反射信号が検出されてから移動時間を経過するまでの間に反射信号の検出があった場合にはアクセスしている記録面が第１の記録面であると判断し、反射信号の検出がなかった場合にはアクセスしている記録面が第１の記録面でないと判断する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク装置、半導体装置、及び光ディスク判別方法に係り、例えば複数の光ディスクに対応した光ディスク装置に適用して有効な技術に関する。

記録媒体としての光ディスクは、様々な規格が存在しており、ＣＤ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｃ）、ＤＶＤ（ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙＤｉｓｃ）などを主として、これらの規格から派生したディスクも存在する。例えば、１枚のディスクにＤＶＤに相当する面（以下、「ＤＶＤ面」と称する。）とＣＤに相当する面（以下、「ＣＤ面」と称する。）を張り合わせた構造のデュアルディスク（ＤｕａｌＤｉｓｃ）という規格の光ディスクが存在する。デュアルディスクは、所謂レッドブック（ＲｅｄＢｏｏｋ）やイエローブック（ＹｅｌｌｏｗＢｏｏｋ）等のＣＤの規格書に準拠していない規格外のディスクである。具体的には、デュアルディスクのＤＶＤ面はＤＶＤ規格に準拠しているが、デュアルディスクのＣＤ面はＣＤ規格に準拠しておらず、ＣＤ面の表面から情報記録層までの層（以下、「カバー層」又は「サブストレイト」とも称する。）の厚さは０．９ｍｍである。また、一般のＣＤよりもディスクに厚みがある。デュアルディスクを従来の光ディスク装置で再生しようとする場合、以下の問題がある。

第１に光ディスク装置の機構的な問題がある。例えば、スロットイン型の光ディスク装置の場合、デュアルディスクは一般のＣＤに比べてディスクに厚みがあるため、ディスクを装填することができずローディングできなかったり、装填したディスクが取り出せなくなったりすることが生ずる。これは、光ディスク装置の機構的な改良により解決することができる。

第２に光学的な問題がある。例えば、光ディスク装置がデュアルディスクを再生・記録するためには、装填されている記録面に応じて、用いるレーザ光の種類や球面収差の補正値を適切なものとしなければならない。そのためには、光ディスク装置が装填された光ディスクの記録面の種類を判別する必要がある。

従来の光ディスクの種類を判別する方法として以下のものがある。ＤＶＤとＣＤのサブストレイトの厚みの違いによる焦点位置の違いを利用したＤＶＤとＣＤの判別方法である。具体的には、一定の時間、光ディスクにＤＶＤ用レーザ光を照射して対物レンズ（フォーカスレンズ）を一定の移動速度でレーザ光の照射方向に移動させ、その時間内に反射光が得られればＤＶＤと判定し、反射光が得られなければＣＤと判定する。このとき、前記一定の時間は、レーザ光による焦点がＤＶＤの情報記録層には届くが、ＣＤの情報記録層には届かないように対物レンズを移動させる時間であり、当該時間は理論計算により算出される。

光ディスクの種類を判別する方法の別の例として特許文献１に開示がある。特許文献１の方法は、ＣＤ用のレーザ光とＤＶＤ用のレーザ光の夫々を用いたフォーカスサーチによりフォーカスエラー信号の正側振幅と負側振幅を測定し、測定結果に基づいて演算した夫々のレーザ光によるフォーカスバランス信号を加算し、所定の閾値と比較することで光ディスクの種類を判別する方法である。

特開２００９−１６０１９号公報

上記の焦点位置の違いを利用したＤＶＤとＣＤの判別方法では、デュアルディスクのＤＶＤ面とＣＤ面を判別に適用した場合、光ディスク装置の光ピックアップ部分の製品毎のばらつきにより、装填された光ディスクの記録面を判別することができなかったり、誤認識したりする可能性がある。例えば、対物レンズを駆動するアクチュエータの感度（印加電圧に対する対物レンズの移動速度）のばらつきや対物レンズの初期位置のばらつきによる光ディスクと対物レンズの間の距離のばらつき等により、前記一定の時間内にＣＤ面の情報記録層に焦点が合う位置まで対物レンズが移動してしまう場合がある。この場合、デュアルディスクのＣＤ面が装填されていたとしても前記一定の時間内に反射光が得られるため、光ディスク装置はＤＶＤ面が装填されていると誤認識してしまう。

一方、特許文献１に記載の方法は、アクチュエータ感度等のばらつきによる影響は少ないが、２種類のレーザ光を夫々照射してフォーカスサーチを行った上で演算処理を実行するため、処理が複雑になるとともに判別に要する時間が長くなるおそれがある。

本発明の目的は、光ディスク装置において、光ディスクの記録面の判別を精度良く、且つ容易に行うことにある。

本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。

すなわち、本光ディスク装置は、複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報を、格納するための記憶領域を有する。前記光ディスク装置は、光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報に応じて対物レンズを移動させる移動時間を設定し、光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら、設定した移動時間に応じて対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの前記反射信号の特性を測定する。測定の結果、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に前記反射信号の検出があった場合には、前記光ディスク装置は、アクセスしている記録面が前記第１の記録面であると判断し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面が前記第１の記録面でないと判断する。

本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。

すなわち、本光ディスク装置によれば、光ディスクの記録面の判別を精度良く、且つ容易に行うことができる。

図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を例示するブロック図である。図２は、光ディスク４の構造の一例を示す説明図である。図３は、光ディスクの記録面の種類を判別する方法の一例を示す説明図である。図４は、アクチュエータ３５の感度の特性の一例を示す説明図である。図５は、対物レンズの初期位置のばらつきの一例を示す説明図である。図６は、光ピックアップの特性がばらついた場合の判別処理の一例を示す説明図である。図７は、実施の形態１に係る光ディスクの記録面の判別方法の一例を示す説明図である。図８は、検出時間ｔｄの測定値の取得方法の一例を示すフロー図である。図９は、実施の形態１に係る光ディスクの記録面の判別方法の一例を示すフロー図である。図１０は、アクチュエータ３５の感度の特性の一例を示す説明図である。図１１は、実施の形態２に係る光ディスクの記録面の判別方法の一例を示すフロー図である。

１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。

〔１〕（測定値に基づいて光ディスクの記録面を判別する光ディスク装置）
本発明の代表的な実施の形態に係る光ディスク装置（１００）は、情報記録層を有する光ディスク（４）にアクセスするための光ディスク装置であって、前記光ディスク装置は、対物レンズ（２１）の位置を調整するレンズ調整部（３５、５）と、光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号（ＦＥ、ＰＥ）を生成する反射信号生成部（１１）と、設定された検出条件にしたがって前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する測定部（１６）と、を有する。また、前記光ディスク装置は、複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面（ＤＶＤ面）に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報（ｔｄ、ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）を格納するための記憶領域を有する。更に、前記光ディスク装置は、光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間（ｔｎ）を設定し、前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの前記反射信号の特性を測定させるフォーカススイープ処理を実行させるとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、データ処理制御部（１３）を有する。前記データ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に前記反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面（ＤＶＤ面）であると判断し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判断する。

判別の際の前記移動時間は、前述した従来のＤＶＤとＣＤの判別方法では理論計算により算出した値を設定したが、項１の光ディスク装置では、前記第１の記録面の情報を基に設定される。ここで、前記第１の記録面の情報は、予め前記光ディスク装置で測定することで得られた測定値に基づく情報であるため、光ピックアップ部分の製造ばらつき等を含んだ値である。そのため、例えば前記光ディスクをデュアルディスクとし、前記第１の記録面をデュアルディスクのＤＶＤ面とした場合において、前記移動時間を“レーザ光による焦点がＤＶＤ面の情報記録層には届くが、ＣＤ面の情報記録層には届かない時間”に設定するとき、理論計算によって設定するよりも、実際の測定結果に基づいて設定する方がより精度良く設定することができる。これにより、従来の方法に比べて、より精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができる。また、項１の光ディスク装置によれば、光ディスクの判別に際し、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報を基に前記移動時間を設定し、その時間だけ前記対物レンズを移動させて反射信号の有無を測定すればよいので、判別に長い時間を要することはない。

〔２〕（格納された値を演算して移動時間を設定）
項１の光ディスク装置において、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）を含む。更に、前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層（ＤＶＤ層）までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層（ＤＤ層）までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値（係数Ａ）に前記第１の測定値を乗算する演算をし、演算により算出した値を前記移動時間とする。

例えば前記光ディスクをデュアルディスクとし、前記第１の記録面をデュアルディスクのＤＶＤ面、前記第２の記録面をデュアルディスクのＣＤ面とした場合を考える。この場合、例えば前記第１の距離は０．６ｍｍ、前記第２の距離は０．９ｍｍ、前記第３の距離は０．７５ｍｍ、となる。また、前述したように光ピックアップにおける対物レンズを駆動させるアクチュエータの感度は印加電圧に対する対物レンズの移動速度で表され、ほぼ線形の特性となる。そして、対物レンズの移動は印加電圧を時間的に変化させることで行われる。ここで、前記第１の測定値は、ＤＶＤ面にレーザ光を照射した場合の光ディスク表面での反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値、すなわち表面から０．６ｍｍの位置にレーザ光の焦点が合うまでの対物レンズの移動時間の測定値である。したがって、前記１の距離、前記第３の距離、及び前記第１の測定値がわかれば、光ディスク表面から前記第３の距離（０．７５ｍｍ）の位置にレーザ光の焦点が合うまでの対物レンズの移動時間を比例計算により算出することができる。これにより、容易に前記移動時間を算出し、設定することが可能となる。

〔３〕（格納された値を移動時間として設定）
項１の光ディスク装置において、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層（ＤＶＤ層）までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層（ＤＤ層）までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とし、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）に、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値（係数Ａ）を乗算して得られる値を含む。更に、前記データ処理制御部は、前記記憶領域に格納された前記乗算して得られる値を前記移動時間とする。

項３の光ディスク装置では、前述した前記第３の距離（０．７５ｍｍ）の位置にレーザ光の焦点が合うまでの時間に係る値を前記記憶領域に予め格納しておくから、項２のように前記データ処理制御部が自ら前記移動時間を演算する必要はなく、判別に要する時間の短縮に資する。

〔４〕（対物レンズの初期位置に応じて移動時間を補正）
項１の光ディスク装置において、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層（ＤＶＤ層）での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）と、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値（ｔ０＿ｆｅ、ｔｏ＿ｐｅ）とを含む。更に、前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値（係数Ａ）に前記第１の測定値を乗算して得られた値を前記第２の測定値に応じて増減する補正をし、補正後の値を前記移動時間とする。

前記アクチュエータの感度の特性は、実際には線形ではなく非線形となる部分を有している（図８参照）。そのため、前述した項２又は項３のように、前記アクチュエータの感度の特性が線形であるものとして比例計算によって前記移動時間を算出し設定すると、想定した位置からずれた位置に対物レンズが移動する可能性がある。そこで項４の光ディスク装置では、前記第２の測定値、すなわち光ディスクの表面を検出するまでの時間に基づいて対物レンズの初期位置のばらつきを把握し、それに応じて比例計算により求めた値を補正するから、より精度良い前記移動時間を設定することができる。

〔５〕（閾値との関係で補正係数を決定）
項４の光ディスク装置において、前記補正は、前記第１の測定値を乗算して得られた値に補正係数（係数Ｂ、係数Ｃ、１）を乗算する演算を行う処理であり、前記データ処理制御部は、前記第２の測定値が第１の閾値（Ｔｔｈ１（Ｖｔｈ１））よりも小さいときは前記補正係数を１よりも小さい値とし、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値（Ｔｔｈ２（Ｖｔｈ２））より小さいときは前記補正係数を１とし、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは前記補正係数を１よりも大きい値とする。

前記アクチュエータの感度の特性において、例えば線形部分と非線形部分を区別するための閾値を前記第１の閾値及び前記第２の閾値とする。これによれば、前記第１の閾値及び前記第２の閾値によって決定されるいずれの範囲に前記第２の測定値が存在するかにより、補正の増減方向を容易に決定することができる。

〔６〕（予め補正された移動時間が格納される）
項１の光ディスク装置において、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値を第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）とし、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値を第２の測定値（ｔ０＿ｆｅ、ｔ０＿ｐｅ）とし、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とする。更に、前記第１の記録面の情報は、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値に前記第１の測定値を乗算して得られた値を前記第２の測定値に応じて増減する補正をした値を含み、前記データ処理制御部は、前記記憶領域に格納された前記補正をした値を前記移動時間とする。

項６の光ディスク装置によれば、項４と同様に対物レンズの初期位置のばらつきを把握し、それに応じて補正した値を用いるから、より精度良い前記移動時間を設定することができる。また、補正した値を前記移動時間として前記記憶領域に予め格納しておくから、項４のように前記データ処理制御部が前記移動時間の演算及び補正をする必要はなく、判別に要する時間の短縮に資する。

〔７〕（閾値との関係で補正係数を決定）
項６において、前記補正した値は、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値と前記第１の測定値とを乗算して得られた値に、補正係数（係数Ｂ、係数Ｃ、１）を乗算した値であり、前記補正係数は、前記前記第２の測定値が第１の閾値（Ｔｔｈ１（Ｖｔｈ１））よりも小さいときは１よりも小さい値とされ、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく、且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値（Ｔｔｈ２（Ｖｔｈ２））より小さいときは１とされ、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは１よりも大きい値とされる。

これによれば、項５と同様に補正の増減方向を容易に決定することができる。

〔８〕（測定値に基づいて光ディスクの記録面を判別する光ディスク装置）
本発明の代表的な実施の形態に係る別の光ディスク装置（１００）は、情報記録層を有する光ディスク（４）にアクセスするための光ディスク装置であって、前記光ディスク装置は、対物レンズ（２１）の位置を調整するレンズ調整部（３５、５）と、光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号（ＦＥ、ＰＥ）を生成する反射信号生成部（１１）と、設定された検出条件にしたがって前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する測定部（１６）と、を有する。また、前記光ディスク装置は、複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面（ＤＶＤ面）に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の特性に係る測定結果に基づく第１の記録面の情報（ｔｄ、ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第２の記録面の情報（ｔｄｘ、ｔｄｘ＿ｆｅ、ｔｄｘ＿ｐｅ）を格納するための記憶領域（１５）と、を有する。更に前記光ディスク装置は、光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報及び前記第２の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間（ｔｎ）を設定し、前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの前記反射信号の特性を測定させるフォーカススイープ処理を実行するとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、データ処理制御部（１３）と、を有する。前記データ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に前記反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面であると判断し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判断する。

判別の際の前記移動時間は、前述した従来のＤＶＤとＣＤの判別方法では理論計算により算出した値を設定したが、項８の光ディスク装置では、前記第１の記録面の情報及び前記第２の記録面の情報を基に設定される。ここで、前記第１の記録面の情報及び前記第２の記録面の情報は、予め前記光ディスク装置で測定することで得られた測定値に基づく情報であるため、光ピックアップ部分の製造ばらつき等の含んだ値である。そのため、例えば前記光ディスクをデュアルディスクとし、前記第１の記録面をデュアルディスクのＤＶＤ面、前記第２の記録面をＣＤ面とした場合において、前記移動時間を“レーザ光による焦点がＤＶＤ面の情報記録層には届くが、ＣＤ面の情報記録層には届かない時間”に設定するとき、理論計算によって設定するよりも、実際の測定結果に基づいて設定する方がより精度良く設定することができる。これにより、従来の方法に比べて、より精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができる。また、項８の光ディスク装置によれば、光ディスクの判別に際し、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報及び前記第２の記録面の情報を基に前記移動時間を設定し、その時間だけ前記対物レンズを移動させて反射信号の有無を測定すればよいので、判別に長い時間を要することはなく、容易に判別することができる。更に、項１の光ディスク装置では前記第１の記録面の情報しか用いなかったが、項８の光ディスク装置では前記第２の記録面の情報も用いるので、より精度良い前記移動時間を設定することができる。

〔９〕（格納された値を演算して移動時間を設定）
項８の光ディスク装置において、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｐｅ、ｔｄ＿ｆｅ）を含む。また、前記第２の記録面の情報は、前記第２の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値（ｔｄｘ＿ｐｅ、ｔｄｘ＿ｆｅ）を含む。更に、前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）としたとき、前記第１の測定値と前記第２の測定値の中間の値を算出し、算出した値を基準とする値を前記移動時間とする。

例えば前記光ディスクをデュアルディスクとし、前記第１の記録面をデュアルディスクのＤＶＤ面、前記第２の記録面をデュアルディスクのＣＤ面とした場合を考える。この場合、例えば前記第１の距離は０．６ｍｍ、前記第２の距離は０．９ｍｍ、前記第３の距離は０．７５ｍｍ、となる。また、前述したように前記アクチュエータの感度は印加電圧に対する対物レンズの移動速度で表され、ほぼ線形の特性となる。ここで、前記第１の測定値は、表面から０．６ｍｍの位置にレーザ光の焦点が合うまでの対物レンズの移動時間であり、前記第２の測定値は、表面から０．９ｍｍの位置にレーザ光の焦点が合うまでの対物レンズの移動時間である。したがって、光ディスク表面から前記第３の距離（０．７５ｍｍ）の位置にレーザ光の焦点が合うまでの対物レンズの移動時間は、前記第１の測定値と前記第２の測定値の中間の値とすればよい。これにより、容易に前記移動時間を算出し、設定することが可能となる。

〔１０〕（ＦＥ信号（フォーカスエラー信号））
項１乃至９のいずれか光ディスク装置において、前記反射信号は、フォーカスエラー信号（ＦＥ）である。

〔１１〕（ＰＥ信号（和信号））
項１乃至９のいずれか光ディスク装置において、前記反射信号は、反射光量の総和に応じた総和信号（ＰＥ）である。

〔１２〕（２種類の記録面）
項１乃至１１のいずれか光ディスク装置において、前記複数種類の光ディスクの記録面は、ＣＤ、ＤＶＤ、ブルーレイディスク、及びデュアルディスクのうちいずれか２つの記録面である。

〔１３〕（デュアルディスクの２種類の記録面）
項１乃至１１のいずれか光ディスク装置において、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面は、デュアルディスクにおけるＤＶＤ規格に準拠した記録面（ＤＶＤ面）であり、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面は、デュアルディスクにおけるＤＶＤ規格に準拠していない記録面（ＣＤ面）である。

〔１４〕（半導体装置）
本発明の代表的な実施の形態に係る半導体装置（１）は、光ピックアップ（２）を制御し、情報記録層を有する光ディスク（４）にアクセスするための処理を行う半導体装置であって、光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号（ＦＥ、ＰＥ）を入力し、設定された検出条件にしたがって、前記反射信号の信号レベルと、前記反射信号の検出に係る時間と、前記反射信号の検出回数とを含む信号情報を測定するとともに、光ピックアップの対物レンズの位置を制御する、第１のデータ処理制御部（１２）を有する。また、前記半導体装置は、複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面（ＤＶＤ面）に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報を格納するための記憶領域（１５）を有する。更に、前記半導体装置は、光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間（ｔｎ）を設定し、前記第１のデータ処理制御部を制御することにより前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら、前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの反射信号の前記信号情報を測定させるフォーカススイープ処理を実行させるとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、第２のデータ処理制御部（１３）とを有する。前記第２のデータ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間までの間に反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面であると判別し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判別する。

これによれば、項１と同様に、従来の方法に比べてより精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができ、且つ判別に長い時間を要することはない。

〔１５〕（格納された値を演算して移動時間を設定）
項１４の半導体装置において、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）を含む。更に、前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層（ＤＶＤ層）までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層（ＤＤ層）までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値（係数Ａ）に前記第１の測定値を乗算する演算をし、演算により算出した値を前記移動時間とする。

これによれば、項２と同様に、容易に前記移動時間を算出し、設定することが可能となる。

〔１６〕（２種類の光ディスクの記録面を判別する方法）
本発明の代表的な実施の形態に係る光ディスク判別方法は、光ディスクにアクセスするための光ディスク装置において、光ディスクの２種類の記録面を判別する光ディスク判別方法であって、複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面（ＤＶＤ面）に対して照射したレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報に応じて、前記対物レンズを光軸方向に移動させる移動時間を設定する第１の処理（Ｓ２０２、Ｓ２０３）と、前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら、設定した前記移動時間に応じて前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのとき前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する第２の処理（Ｓ２０４〜Ｓ２０９）と、前記第２の処理による測定結果に基づいて、アクセスしている光ディスクの記録面を判別する第３の処理（Ｓ２１１〜Ｓ２１３）と、を含む。前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値（ｔｄ＿ｆｅ、ｔｄ＿ｐｅ）を含む。更に、前記第３の処理は、前記第２の処理において光ディスク表面での反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に反射信号の検出があった場合には、アクセスしている光ディスクの記録面は前記第１の記録面であると判別し、その間に反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている光ディスクの記録面は前記第１の記録面でないと判別する処理である。

〔１７〕（最初の情報記録層での反射信号検出までの時間の測定値に基づいて移動時間を算出）
項１６の光ディスク判別方法において、前記第１の処理は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層（ＤＶＤ層）までの第１の距離（０．６ｍｍ）と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面（ＣＤ面）における表面から最初の情報記録層（ＤＤ層）までの第２の距離（０．９ｍｍ）との中間の距離を第３の距離（０．７５ｍｍ）とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値（係数Ａ）と前記第１の測定値とを乗算する演算を行う第４の処理（Ｓ２０２、Ｓ３０８、Ｓ３０９）と、前記第４の処理により得られた値を前記移動時間として設定する第５の処理（Ｓ２０３）と、を含む。

〔１８〕（対物レンズの初期位置に応じて移動時間を補正）
項１７の光ディスク判別方法において、前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値（ｔ０＿ｆｅ、ｔ０＿ｐｅ）を更に含む。更に、前記第４の処理は、前記第２の測定値に応じて前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を表す値（１．２５）を増減する補正をする第６の処理（Ｓ３０３〜Ｓ３０８）と、前記第６の処理による補正後の値（係数Ａ）と前記第１の測定値とを乗算する演算を行う第７の処理（Ｓ３０９）と、を含む。

これによれば、項４と同様に、光ディスクの表面を検出するまでの時間に基づいて対物レンズの初期位置のばらつきを把握し、それに応じて比例計算により求めた値を補正するから、より精度良い前記移動時間を設定することができる。

〔１９〕（閾値との関係で補正係数を決定）
項１８の光ディスク判別方法であって、前記第６の処理は、前記第２の測定値に応じて補正係数（係数Ｂ、係数Ｃ、１）を決定する第８の処理（Ｓ３０３〜Ｓ３０７）と、決定した補正係数と前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を表す値とを乗算する第９の処理（Ｓ３０８）と、を含む。更に、前記第８の処理は、前記第２の測定値が第１の閾値よりも小さいときは前記補正係数を１よりも小さい値とし（Ｓ３０５）、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値より小さいときは前記補正係数を１とし（Ｓ３０６）、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは前記補正係数を１よりも大きい値とする（Ｓ３０７）処理である。

これによれば、項５と同様に、前記第１の閾値及び前記第２の閾値によって決定されるいずれの範囲に前記第２の測定値が存在するかにより、補正の増減方向を容易に決定することができる。

２．実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。

≪実施の形態１≫
図１は、実施の形態１に係る、情報記録層を有する光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置の構成を例示するブロック図である。同図に示される光ディスク装置１００は、例えば、デュアルディスクの再生のためのシステム、ＢＤシステム、ＤＶＤシステム、又はそれらのマルチディスクドライブシステムに適用される。

情報記録層を有する光ディスク４はターンテーブルに搭載され、スピンドルモータ３によって回転される。この状態で光ピックアップ（ＯＰＵ）２はレーザ光を照射し目標とされる情報記録層に対して情報の記録又は再生を実行する。

図２に光ディスク４の構造の一例を示す。同図には、光ディスク４の一例としてデュアルディスクが示される。以降の説明では、光ディスク４はデュアルディスクとし、デュアルディスクの記録又は再生を行う場合を一例として説明する。

デュアルディスク４は、１枚のディスクにＤＶＤ面とＣＤ面を張り合わせた構造とされ、ＤＶＤ面のサブストレイトの厚さは０．６ｍｍ、ＣＤ面のサブストレイトの厚さは０．９ｍｍとされる。ＣＤ面の記録又は再生を行う場合には図２に示される方向４０からレーザ光が照射され、ＤＶＤ面の記録又は再生を行う場合には方向４１からレーザ光が照射される。

光ピックアップ２は、半導体レーザであるレーザダイオード３０からのレーザ光を対物レンズ２１を介して光ディスク４の情報記録層に照射し、反射した反射光を検出レンズ３３により集光して光検出器（ｐｈｏｔｏｄｅｔｅｃｔｏｒ）３４に導く光学系を形成している。具体的には、光ピックアップ２は、レーザダイオード３０、コリメータレンズ２９、ＡＰＣ（ＡｕｔｏＰｏｗｅｒＣｏｎｔｏｒｏｌ）用ＰＢＳ２６、グレーティング２５、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ（ＰｏｌａｒｉｚｉｎｇＢｅａｍＳｐｌｉｔｔｅｒ））２４、１／４λ板２３、球面収差補正用のビームエクスパンダ２２、対物レンズ２１、検出レンズ３３、光検出器３４、集光レンズ２７、ＦＰＤ（ＦｒｏｎｔＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）２８、ＡＰＣ回路３１、及びレーザドライバ３２を含む光学系の構成と、ビームエクスパンダ駆動ユニット３６及びアクチュエータ３５や図示されないフォトインタラプタ及びモータ等を含む駆動系の構成を備える。

光源であるレーザダイオード３０から放射されたレーザ光は、コリメータレンズ２９により平行光となる。平行光となったレーザ光はグレーティング（回折格子）２５により、光ディスク４に対する情報の記録又は再生のために使用する特定の周波数のレーザ光のみが抽出され出力される。抽出された特定の周波数のレーザ光は、偏光ビームスプリッタ２４を透過し、１／４λ板２３を介してビームエクスパンダ２２に入力される。ここで偏光ビームスプリッタ２４は、レーザダイオード３０から照射されたレーザ光のみを透過させ、光ディスク４から反射したレーザ光を反射するフィルタ機能を有するビームスプリッタである。また、レーザダイオード３０から照射されたレーザ光は複屈折により楕円偏光となるが、１／４λ板２３はその楕円偏光のレーザ光を円偏光に補正する素子である。

１／４λ板２３を介して出力されたレーザ光は、ビームエクスパンダ２２と対物レンズ２１を介して光ディスク４に照射される。ビームエクスパンダ２２と対物レンズ２１は機械的な構成要素であるビームエクスパンダ駆動ユニット３６とアクチュエータ３５により駆動され、レーザ光のビームスポットが目標とされる情報記録層に対して合焦するように焦点距離の位置合わせが行われる。

ビームエクスパンダ２２は、凸レンズ及び凹レンズの２つのレンズから構成される光学系であり、ビームエクスパンダ駆動ユニット３６により凹レンズを光軸に沿って前後に移動させることでレーザ光の径を拡げ、光ディスク４の表面に設けられた保護層（カバー層）の厚み等による球面収差を吸収して補正する。前記ビームエクスパンダ駆動ユニット３６はステッピングモータによりビームエクスパンダ２２を動作させる駆動モジュールである。記録面毎に最適な球面収差補正を行うため、後述するフォーカス制御部１７によりドライバ部５を介して制御されることにより、装填されている記録面に応じて凹レンズの位置が調整される。

アクチュエータ３５は対物レンズ２１を駆動するための駆動装置である。ビームエクスパンダ２２により球面収差が補正されたレーザ光は、アクチュエータ３５による対物レンズ２１の位置調整により情報の記録又は再生の目標とされる情報記録層に合焦される。アクチュエータ３５は、光ディスク４の情報記録層に焦点を合わせるためのフォーカスアクチュエータ、及び光ディスク４に設けられた溝に追従するためのトラッキングアクチュエータ等から構成され、前記フォーカスアクチュエータ及び前記トラッキングアクチュエータ等は、例えばコイル等で構成される。アクチュエータ３５は、ドライバ５から与えられる印加電圧に応じて対物レンズ２１を駆動させる。更にアクチュエータ３５は光検出器３４と後述するサーボプロセッサ部１２及びドライバ５との間でフィードバックループを形成し、フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御を行う。

上記のように光ディスク４に照射されたレーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２４で反射し、検出レンズ３３を介して光検出器３４に入射される。検出レンズ３３は、当該反射光を光検出器３４上で焦点を合わせるためのレンズであり、例えばシリンドリカルレンズ等である。光検出器３４は、例えば複数の受光素子Ａ〜Ｈを有する。各受光素子は入射された反射光の光量に応じた光起電力を発生させ、当該光起電力に応じた検出信号７を出力する。

光ディスク４に照射されるレーザ光は、ＡＰＣ回路３１及びレーザドライバ３２により一定のパワーとなるように制御される。具体的には、照射されたレーザ光の一部がＡＰＣ用ＰＢＳ２６により反射され、反射されたレーザ光は集光レンズ２７により収束されてＦＰＤ２８に入力される。ＡＰＣ用ＰＢＳ２６は、レーザ光をモニタするための偏光板であり、また、ＦＰＤ２８は入力されたレーザ光をモニタするためのフォトダイオードである。ＦＰＤ２８は、入力された反射光の光量に応じた電流を出力する。出力電流は、ＡＰＣ回路３１に入力されて電圧に変換され、その電圧に基づいてレーザドライバ３２がレーザダイオード３０を駆動することによりレーザ光の出力が一定になるように制御される。

光ピックアップ２を制御する周辺回路は、データ処理制御部１、ドライバ５、及び記憶装置６により構成される。

ドライバ５は、データ処理制御部１からの収差補正制御信号８に応じてビームエクスパンダ駆動ユニット３６を制御すると共に、データ処理制御部１からのフォーカス駆動信号９に応じてアクチュエータ３５を制御する駆動回路である。記憶装置６は、後述するシステムコントローラ１３を制御するためのプログラム等が格納される不揮発性の記憶領域を有する。記憶装置６は、例えばＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）やフラッシュメモリ等から構成される。

データ処理制御部１は、ドライバ５及びレーザドライバ３２を制御することにより光ディスク４に対する情報の記録又は再生を行うための統括的な制御を行うと共に、記録のための記録信号の生成処理や光ディスク４から読み出した信号のデコード処理等を行う。同図に示されるデータ処理制御部１は、特に制限されないが、公知のＣＭＯＳ集積回路の製造技術によって１個の単結晶シリコンのような半導体基板に形成されている。なお、データ処理制御部１は上記のように必ずしも１つの集積回路で構成されたものである必要はなく、マルチチップで形成されたものであってもよい。

データ処理制御部１は、受光信号処理部１１、サーボプロセッサ部１２、システムコントローラ１３、第１メモリ部１４、及び第２メモリ部１５を備える。

第１メモリ部１４は、揮発性の記憶領域を有し、例えばＳＤＲＡＭ（ＳｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓＤｙｎａｍｉｃＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）から構成される。また、第２メモリ部１５は、不揮発性の記憶領域を有し、例えば、フラッシュメモリから構成される。

受光信号処理部１１は、光検出器３４からの検出信号７に基づいて演算処理を行い、必要な信号を生成する。例えば、受光信号処理部１１は、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥと総和信号ＰＥを生成するとともに、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号、再生のための再生ＲＦ信号等を生成する。なお、以降の説明では、フォーカスエラー信号ＦＥと総和信号ＰＥを総称して反射信号とも称する。

フォーカスエラー信号ＦＥは光学系の構成に応じて様々な生成方法があるが、ここでは例えば以下の方法により生成される。例えば、受光信号処理部１１内のマトリックスアンプ回路１１０が、光検出器３４内におけるメインスポットの中心を挟んで対角に配置された４つの受光素子Ａ〜Ｄの検出信号を入力し、前記対角に配置された一対の受光素子の検出信号を加算し、夫々の加算された信号を減算することでＦＥ信号を生成する。すなわち、受光素子Ａ〜Ｄの夫々の検出信号をＡ〜Ｄとしたとき、ＦＥ信号は“（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）”の演算により生成される。生成されたＦＥ信号は、ＦＥバランス／振幅調整部１１１によってＦＥ信号の上下の対称性や信号レベルの調整が行われ、フォーカスエラー信号ＦＥとして出力される。ＦＥ信号の上下の対称性や信号レベルの調整の度合いは、システムコントローラ１３によってレジスタ１１２に設定される値に応じて調整可能とされる。

フォーカスエラー信号ＦＥは、対物レンズ２１の光ディスク４に対する位置に応じて大きさが変化する。例えば所定の情報記録層や光ディスク４の表面に焦点が合う位置に対物レンズ２１がある場合には、メインスポットは各受光素子Ａ〜Ｄに均一に集光する円形とされるようになっている。一方、対物レンズ２１の位置が近すぎる場合には、メインスポットは一方の受光素子のペアに偏って集光する楕円形とされ、対物レンズ２１の位置が遠すぎる場合には、メインスポットは他方の受光素子のペアに偏って集光する楕円形とされるようになっている。したがって、フォーカスエラー信号ＦＥは、対物レンズ２１が合焦点の中心位置にあるとき零となり、対物レンズ２１を合焦点の前後に移動させると零から負の値となって、また零となり、その後零から正の値となって再度零となる、所謂Ｓ字波形となる。

総和信号ＰＥは、受光素子Ａ〜Ｄの夫々の検出信号を加算した信号である。マトリックスアンプ回路１１０は、例えば光検出器３４の前記受光素子Ａ〜Ｄの夫々の検出信号７をＡ〜Ｄとしたとき、“Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ”の演算を行うことにより総和信号ＰＥを生成する。総和信号ＰＥの振幅もフォーカスエラー信号ＦＥと同様に、対物レンズ２１の光ディスク４に対する位置に応じて大きさが変化する。例えば所定の情報記録層や光ディスク４の表面に焦点が合う位置に対物レンズ２１がある場合に、総和信号ＰＥは一つの振幅のピークを持った信号となる。

サーボプロセッサ部１２は、システムコントローラ１３から与えられたコマンドに応じて、ドライバ５を介してアクチュエータ３５等を制御するとともに、受光信号処理部１１から出力された反射信号の検出と測定を行う。サーボプロセッサ部１２は、例えば、ＤＳＰ（ＤｉｇｉｔａｌＳｉｇｎａｌＰｒｏｃｅｓｓｏｒ）及び所定の信号処理プログラムで実現される。サーボプロセッサ部１２は、信号検出処理部１６、フォーカス制御部１７、及び収差補正制御部１８を有する。

収差補正制御部１８は、システムコントローラ１３により光ディスク４の記録面や情報記録層に応じた球面収差補正のための補正値が設定されるレジスタ１８１と、制御部１８２を有する。制御部１８２は、レジスタ１８１の設定値に応じて収差補正制御信号８を出力し、ドライバ部５を介してビームエクスパンダ駆動ユニット３６を制御する。

フォーカス制御部１７は、フォーカスドライブ（ＦＯＤ）制御部１７２、フォーカスサーボ制御部１７４、制御信号生成部１７３、位相補償回路１７５、レジスタ１７１、及びレジスタ１７６を備える。フォーカス制御部１７は、システムコントローラ１３からの指示に応じて、フォーカス駆動信号９を出力することによりアクチュエータ３５に駆動電圧を印加して対物レンズ２１を制御する。例えば、レジスタ１７６にフォーカスサーボのためのＦＥ信号の検出閾値と検出回数等の値が設定され、フォーカスサーボ制御部１７４がレジスタ１７６の値と後述するＰＥ／ＦＥ検出部１６２からの検出結果に応じて、フォーカスエラー信号ＦＥが零になるような制御信号を生成し、制御信号生成部１７３が当該制御信号に応じたフォーカス駆動信号９を生成する。これにより、ビームスポットが合焦状態に保持されるように制御されるフォーカスサーボ動作が実現される。またフォーカス制御部１７は、後述するフォーカススイープ処理において、一定時間内だけ対物レンズ２１をレーザ光の照射方向に移動させる制御を行う。例えば、システムコントローラ１３によってレジスタ１７１に対物レンズ２１を移動させるための制御情報が設定されると、ＦＯＤ制御部１７４がレジスタ１７１に設定された前記制御情報に応じて、アクチュエータ３５に印加する駆動電圧（以下、「フォーカスドライブ（ＦＯＤ）電圧」とも称する。）に応じた信号を生成し、制御信号生成部１７３が当該信号に基づいてフォーカス駆動信号９を生成する。これにより、フォーカススイープ処理時に対物レンズ２１が移動する。このとき、レジスタ１７１に設定される前記制御情報は、例えば、前記フォーカススイープ時に対物レンズ２１をレーザ光の照射方向に移動させるときの速度を示すＦＯＤスイープ係数（ｄｏｗｍ）、前記フォーカススイープ時に対物レンズ２１をレーザ光の照射方向と反対方向に移動させるときの速度を示すＦＯＤスイープ係数（ｕｐ）、印加するＦＯＤ電圧の最大値を示すＦＯＤ＿ＭＡＸ値、及び印加するＦＯＤ電圧の最小値を示すＦＯＤ＿ＭＩＮ値等である。

信号検出処理部１６は、設定された条件にしたがって反射信号を検出し、検出した反射信号の測定を行う。信号検出処理部１６は、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２、演算部１６３、及びレジスタ１６１を備える。

レジスタ１６１には、フォーカスエラー信号ＦＥ及び総和信号ＰＥの検出条件とＰＥ／ＦＥ検出部１６２による測定時間等がシステムコントローラ１３により設定される。前記検出条件は、例えば、フォーカスエラー信号ＦＥの負側の検出電圧（閾値電圧）を示すＦＥ信号の負側検出閾値、フォーカスエラー信号ＦＥの正側の検出電圧（閾値電圧）を示すＦＥ信号の正側検出閾値、総和信号ＰＥの検出電圧（閾値電圧）を示すＰＥ信号の検出閾値、及び総和信号ＰＥのパルス幅を示すＰＥパルス幅検出時間等である。また前記測定時間は、例えば、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２がフォーカスエラー信号ＦＥ及び総和信号ＰＥの検出と測定を行う制限時間であるスイープ制限時間や、後述するフォーカススイープ処理における判別時間ｔｎ等である。

ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、レジスタ１６１の設定された前記検出条件と前記測定時間に従って、フォーカスエラー信号ＦＥ及び総和信号ＰＥを検出し、検出した信号の信号レベル（振幅）と検出回数を測定する。測定結果は演算部１６３に与えられる。また、フォーカスサーボ制御のためフォーカスエラー信号ＦＥの検出結果はフォーカスサーボ制御部１７４にも与えられる。ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、内部にタイマ部１６２１を備え、タイマ部１６２１により反射信号の検出に要した時間の測定も行う。前記反射信号の検出に要した時間は、例えば、光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの検出時間ｔ０＿ｆｅ及びｔ０＿ｐｅ等である。

演算部１６３は、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２から受け取った測定結果を第１メモリ部１４に格納するとともに、測定結果に基づいて所定の演算をし、演算結果を第１メモリ部１４に格納する。例えば、演算部１６３は、対物レンズ２１が移動を開始してから光ディスクの最初の情報記録層での総和信号ＰＥを検出するまでの時間ｔ１から、対物レンズ２１が移動を開始してから光ディスク表面での総和信号ＰＥを検出するまでの時間ｔ０＿ｐｅを減算する演算を行い、その演算結果を、光ディスク表面で総和信号ＰＥが検出されてから最初の情報記録層での総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔｄ＿ｐｅとして第１メモリ部１４に格納する。光ディスク表面でＦＥ信号ＦＥが検出されてから最初の情報記録層でのＦＥ信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔｄ＿ｆｅも同様の方法により算出される。

システムコントローラ１３は、光ディスク４に対するデータの記録と再生に係る全体的な制御を行う。システムコントローラ１３はプログラム処理装置であり、記憶装置６に格納されたプログラムに基づいてサーボプロセッサ部１２や光ピックアップ２等の各機能部を制御することにより、光ディスク４に対する情報の記録と再生を実現する。システムコントローラ１３は、例えばＣＰＵを中心としたプロセッサコアである。

システムコントローラ１３は、光ディスク４に対する情報の記録又は再生を行うとき、初めに、装填された光ディスク４の記録面の種類を判別するための判別処理を実行する。具体的には、システムコントローラ１３は先ず、サーボプロセッサ部１２にコマンドを与えることにより、所定の時間だけ光ディスク４にレーザ光を照射させながら対物レンズ２１をレーザ光の照射方向に移動させ、その時間内に反射信号の特性を測定させるフォーカススイープ処理を実行させる。その後システムコントローラ１３は、前記フォーカススイープ処理の測定結果に基づいて装填された光ディスクの記録面の判別を行う。

図３に光ディスクの記録面の種類を判別する方法の一例を示す。なお以後の説明では、デュアルディスクにおけるＤＶＤ面の情報記録層及びＤＶＤの最初の情報記録層をＤＶＤ層と称し、デュアルディスクにおけるＣＤ面の情報記録層をＤＤ層と称し、ＣＤの情報記録層をＣＤ層と称する。

同図の（ａ）は、デュアルディスク４のＤＶＤ面が光ディスク装置に装填された場合が示されている。また同図の（ｂ）は、デュアルディスク４のＣＤ面が光ディスク装置に装填された場合が示されている。

システムコントローラ１３は、例えば、フォーカス駆動部１７を制御することにより、フォーカススイープ処理を開始する位置（以下、「初期位置」と称する。）まで対物レンズ２１を一旦移動させ、その後レンズ位置が高くなる方向（光ディスク４に近づく方向）に移動させる。対物レンズ２１の移動は、システムコントローラ１３がレジスタ１７１に前記ＦＯＤスイープ係数（ｄｏｗｍ）、前記ＦＯＤスイープ係数（ｕｐ）、前記ＦＯＤ＿ＭＡＸ値、及び前記ＦＯＤ＿ＭＩＮ値等を設定し、その設定に応じてＦＯＤ制御部１７２がＦＯＤ電圧を一定速度で変化させることにより行う。そして、光ディスク４の表面において反射信号が検出されてから所定時間を経過するまで対物レンズ２１を同一方向に移動させ続け、その後レンズ位置をもとに戻す。その間、システムコントローラ１３は信号検出部１６に反射信号の特性等を測定させておく。前記所定時間は、光ディスク表面での反射信号が得られた時点からの一定時間であり、以下、判別時間と称する。そして、システムコントローラ１３は、前記判別時間内に反射信号の検出があった場合にはＤＶＤ面が装填されていると判断し、前記判別時間内に反射信号の検出がなかった場合にはＣＤ面が装填されていると判断する。同図の（ａ）の場合、判別時間ｔ１内に反射信号が検出されているためＤＶＤ面が装填されていると判断される。同図の（ｂ）の場合、判別時間ｔ１内に反射信号が検出されていないため、システムコントローラ１３は、ＣＤ面が装填されていると判断する。

判別時間ｔ１は、判別対象の光ディスクの記録面のうち一方の記録面での反射信号が検出できる十分な時間であり、かつ他方の記録面での反射信号が検出できない時間とされる。例えば、デュアルディスクのＣＤ面とＤＶＤ面を判別する場合、ＣＤの表面から最初の情報記録層までの距離０．６ｍｍとＤＶＤの表面から最初の情報記録層までの距離０．９ｍｍの間の距離まで焦点位置が移動する時間を判別時間ｔ１とする。しかしながら、判別時間ｔ１をすべての光ディスク装置において一律の値とした場合、光ディスク装置における対物レンズを駆動するアクチュエータ感度のばらつきや対物レンズの初期位置のばらつき等により、正確に判別できない虞がある。

図４は、アクチュエータ３５の感度の特性の一例を示す説明図である。

同図において、縦軸はアクチュエータ３５の感度を示すＡＣＴ感度〔μｍ／Ｖ〕、すなわち対物レンズの移動量を示し、横軸は駆動電圧（ＦＯＤ電圧）〔Ｖ〕を示す。また、同図には、ＡＣＴ感度が通常の場合（ＴＹＰ）と、ＡＣＴ感度が高くばらついた場合（Ｈｉｇｈ）と、ＡＣＴ感度が低くばらついた場合（Ｌｏｗ）の特性が示される。なお、詳細は後述するが、ＡＣＴ感度の特性は駆動電圧に対して完全な線形特性とならず非線形特性となるが、ここでは線形特性として扱う。

同図に示されるように、ＦＯＤ電圧を大きくすると対物レンズの移動量が大きくなるので、対物レンズが光ディスクに近づく方向に移動する。しかしながら、同図に示されるように、光ピックアップ２におけるアクチュエータ３５毎に特性のばらつきが生じるので、製品によって同一のＦＯＤ電圧を印加したときの対物レンズの移動量は異なるものになる場合がある。

図５は、対物レンズの初期位置のばらつきの一例を示した説明図である。

同図の（ａ）は、対物レンズの初期位置が通常の位置よりも光ディスクに近い位置にある場合を示し、同図の（ｂ）は、対物レンズの初期位置が通常の位置にある場合を示し、同図の（ｃ）は、対物レンズの初期位置が通常の位置よりも光ディスクから離れている場合を示す。同図に示されるように、製品によって光ピックアップ２内の対物レンズ２１が設置される位置がばらつくため、フォーカススイープ処理を開始する対物レンズ２１の初期位置もばらつく。そのため、例えば光ディスクの表面での反射信号を検出するために必要な、初期位置からの対物レンズ２１の移動量は、同図の（ａ）の場合は小さい移動量でよいが、同図の（ｃ）の場合は大きな移動量が必要となる。

図６に光ピックアップ２の特性がばらついた場合の判別処理の一例を示す。

同図の（ａ）はＡＣＴ感度の特性が通常であり、且つ対物レンズの初期位置が通常の場合が示され、同図の（ｂ）はＡＣＴ感度の特性が高くばらつき、且つ対物レンズの初期位置が通常の場合が示され、同図の（ｃ）はＡＣＴ感度の特性が通常であり、且つ対物レンズの初期位置が通常よりも光ディスクに近い場合が示される。同図（ａ）〜（ｃ）はいずれも、デュアルディスクのＣＤ面が装填されたときの検出結果である。

図６の（ａ）では、判別時間ｔ１の間に反射信号が検出されていないため、システムコントローラ１３はＣＤ面が装填されていると判断する。図６の（ｂ）では、同図の（ａ）と同一の変化率でＦＯＤ電圧を変化させているが、ＡＣＴ感度が高い方にばらついているため対物レンズ２１の移動量が大きくなり、判別時間ｔ１内にＤＤ層での反射信号が検出される。このためシステムコントローラ１３は、ＣＤ面が装填されているにも関わらず、ＤＶＤ面が装填されていると判断する。図６の（ｃ）では、同図の（ａ）と同一の変化率でＦＯＤ電圧を変化させているが、対物レンズ２１の初期位置が光ディスク４に近い位置にばらついているため、同図の（ａ）よりも短い時間で光ディスク４に近づく。その結果、判別時間ｔ１内にＤＤ層での反射信号が検出されることになるため、システムコントローラ１３は、ＣＤ面が装填されているにも関わらず、ＤＶＤ面が装填されていると判断する。

上記のように、判別時間ｔ１を光ディスク装置によらず一律に設定すると、光ピックアップ２の製造ばらつき等があった場合に光ディスクの記録面の種類を正確に判別できない虞がある。そこで本実施の形態に係る光ディスク装置１００では、製品毎に判別時間ｔｎを設定する。

図７は、本実施の形態に係る光ディスク装置１００における判別方法の一例を示す説明図である。

同図の（ａ）〜（ｃ）は、図６の（ａ）〜（ｃ）の場合に対応される。同図に示されるように、本実施の形態では、製品毎に判別時間ｔｎを「ＤＶＤ層での反射信号が検出でき、かつＤＤ層での反射信号が検出されない時間」に設定し、判別処理を行う。具体的には、製品出荷時等において、予め光ディスクの特定の記録面における表面での反射信号を検出してから最初の情報記録層での反射信号を検出するまでの検出時間ｔｄを測定しておき、その測定値を第２メモリ部１５や記憶装置６等に格納しておく。そして、製品使用時に判別処理を行う際に、システムコントローラ１３が第２メモリ部１５等から読み出した前記測定値に基づいて判別時間ｔｎを算出し、算出した判別時間ｔｎを用いて判別処理を行う。以下、前記検出時間ｔｄの測定段階と光ディスクの判別処理の実行段階の２つの段階に分けて説明する。

先ず、検出時間ｔｄの測定段階として、検出時間ｔｄの測定値の取得方法について説明する。

図８は、検出時間ｔｄの測定値の取得方法の一例を示すフロー図である。同図は、光ディスク装置１００の組み立てが完了した後の製品出荷時の検査、例えばＤＶＤの再生が可能であるか否かを確認する検査の段階において、検出時間ｔｄの測定が行われる場合を一例として示している。

先ず、デュアルディスクのＤＶＤ面が光ディスク装置１００にマウントされ、再生確認の処理が開始されると、システムコントローラ１３が光ピックアップ２を制御し、ＤＶＤ用のレーザ光を照射させる（Ｓ１０１）。システムコントローラ１３は、フォーカススイープ処理を行うため、装填された光ディスクに応じたパラメータをレジスタ１６１やレジスタ１７１等に設定する（Ｓ１０２）。レジスタ１６１に設定されるパラメータは、例えば、前記ＦＥ信号の負側検出閾値、前記ＦＥ信号の正側検出閾値、前記ＰＥ信号の検出閾値、前記ＰＥパルス幅検出時間、及びフォーカススイープ制限時間である。またレジスタ１７１に設定されるパラメータは、前記ＦＯＤスイープ係数（ｄｏｗｍ）、前記ＦＯＤスイープ係数（ｕｐ）、前記ＦＯＤ＿ＭＡＸ値、及び前記ＦＯＤ＿ＭＩＮ値である。なお、当該処理は工場での出荷検査段階での処理であるため、光ディスクの記録面を判別する処理は実行されない。

ステップ１０２の後、システムコントローラ１３は、サーボプロセッサ部１２にフォーカススイープ処理を実行させる（Ｓ１０３）。フォーカススイープ処理において、対物レンズ２１が一旦初期位置に移動し、その後光ディスク４の方向への移動を開始すると、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、前記初期位置から光ディスク表面での反射信号が得られるまでの時間ｔ０とその反射信号の測定を行う（Ｓ１０４）。そして、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、前記フォーカススイープ制限時間が経過するまでに、光ディスク表面での反射信号が検出されたか否か判別する（Ｓ１０５）。前記フォーカススイープ制限時間が経過するまでに反射信号が検出されなかった場合にはエラーと判断され（Ｓ１０６）、再生確認の処理が終了する（Ｓ１１１）。一方、前記フォーカススイープ制限時間が経過する前に反射信号が検出された場合には、表面での反射信号を検出してからＤＶＤ層での反射信号が検出されるまでの検出時間ｔｄとＤＶＤ層での反射信号の測定を行う（Ｓ１０７）。ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は前記フォーカススイープ制限時間の経過後、測定したデータを第１メモリ部１４に格納する（Ｓ１０８）。ここで、前記第１メモリ部１４に格納される測定データは、例えば、検出されたフォーカスエラー信号ＦＥ及び総和信号ＰＥについての測定結果である。具体的には、前記フォーカスエラー信号ＦＥについての測定結果は、例えば、フォーカスエラー信号ＦＥの検出回数、光ディスク表面でのフォーカスエラー信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔ０＿ｆｅ、光ディスク表面でのフォーカスエラー信号ＦＥが検出されてから最初の情報記録層（ＤＶＤ層）でのフォーカスエラー信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔｄ＿ｆｅ、光ディスク表面でのフォーカスエラー信号ＦＥの信号レベル、及び最初の情報記録層（ＤＶＤ層）でのフォーカスエラー信号ＦＥの信号レベル等である。また、前記総和信号ＰＥについての測定結果は、例えば、総和信号ＰＥの検出回数、光ディスク表面での総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔ０＿ｐｅ、光ディスク表面での総和信号ＰＥが検出されてから最初の情報記録層（ＤＶＤ層）での総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔｄ＿ｐｅ、光ディスク表面での総和信号ＰＥの信号レベル、及び最初の情報記録層（ＤＶＤ層）での総和信号ＰＥの信号レベル等である。

前記測定データが第１メモリ部１４に格納されると、フォーカススイープ処理が終了する（Ｓ１０９）。その後、システムコントローラ１３は、第１メモリ部１４に格納された前記測定データを前記第２メモリ部１５に格納する（Ｓ１１０）。ここで、システムコントローラ１３が前記第２メモリ部１５に格納する前記測定データは、例えば検出時間ｔｄ（前記検出時間ｔｄ＿ｐｅ、前記検出時間ｔｄ＿ｆｅ）であるが、前記測定データの全てを格納してもよい。これにより再生確認の処理が終了する（Ｓ１１１）。

次に、光ディスクの判別処理の実行段階として、デュアルディスクの記録面の判別方法について説明する。

図９は、実施の形態１に係る光ディスクの記録面の判別方法の一例を示すフロー図である。

同図は、光ディスク装置１００に装填されたデュアルディスクの再生処理の前段階において、デュアルディスクの記録面の判別が行われる場合を一例として示している。

先ず、デュアルディスク４が光ディスク装置１００にマウントされ、光ディスクの記録面の判別処理が開始されると、システムコントローラ１３が光ピックアップ２を制御し、ＤＶＤ用のレーザ光を照射させる（Ｓ２０１）。また、システムコントローラ１３は、第２メモリ部１５から検出時間ｔｄ＿ｐｅを読み出し、検出時間ｔｄ＿ｐｅに基づいて判別時間ｔｎを算出する（Ｓ２０２）。具体的には、システムコントローラ１３は、デュアルディスクにおける表面からＤＶＤ層までの距離及び表面からＤＤ層までの距離に基づく係数Ａと前記検出時間ｔｐ＿ｐｅを乗算して得た値を判別時間ｔｎとする。前記係数Ａは、例えば前記表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）と前記表面からＤＤ層までの距離（０．９ｍｍ）との中間の距離（０．７５ｍｍ）の前記表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）に対する比率（１．２５）を示す値である。すなわち、判別時間ｔｎは、対物レンズ２１が光ディスク表面から前記中間の距離（０．７５ｍｍ）の位置まで焦点位置を移動させる時間であり、対物レンズ２１の移動量と移動時間の関係に基づく比例計算により算出される値である。

次に、システムコントローラ１３は、フォーカススイープ処理を行うため、デュアルディスクのＤＶＤ面に応じたパラメータとステップ２０２で算出した判別時間ｔｎをレジスタ１６１やレジスタ１７１等に設定する（Ｓ２０３）。例えばレジスタ１６１に設定されるパラメータは、前記ＦＥ信号の負側検出閾値、前記ＦＥ信号の正側検出閾値、前記ＰＥ信号の検出閾値、前記ＰＥパルス幅検出時間、前記フォーカススイープ制限時間、及び前記判別時間ｔｎである。またレジスタ１７１に設定されるパラメータは、前記ＦＯＤスイープ係数（ｄｏｗｍ）、前記ＦＯＤスイープ係数（ｕｐ）、前記ＦＯＤ＿ＭＡＸ値、及び前記ＦＯＤ＿ＭＩＮ値である。

ステップ２０３の後、システムコントローラ１３は、サーボプロセッサ部１２にフォーカススイープ処理を実行させる（Ｓ２０４）。フォーカススイープ処理において、対物レンズ２１の初期位置から光ディスク４の方向への移動が開始されると、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、初期位置から光ディスク表面での反射信号が得られるまでの時間ｔ０と光ディスク表面での反射信号の特性について、測定を行う（Ｓ２０５）。そして、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は、前記フォーカススイープ制限時間内に光ディスク表面での反射信号が検出されたか否か判別する（Ｓ２０６）。前記フォーカススイープ制限時間内に反射信号が検出されなかった場合にはエラーと判断され（Ｓ２０７）、再生確認の処理を終了させる（Ｓ２１４）。前記フォーカススイープ制限時間内に反射信号が検出された場合には、システムコントローラ１３は、ＰＥ／ＦＥ検出部１６２に対し、表面での反射信号の検出後、判別時間ｔｎが経過するまで反射信号の検出と測定を行う（Ｓ２０８）。ＰＥ／ＦＥ検出部１６２は判別時間ｔｎの経過後、測定したデータを第１メモリ部１４に格納する（Ｓ２０９）。ここで、前記第１メモリ部１４に格納される測定データは、例えば、検出されたフォーカスエラー信号ＦＥ及び総和信号ＰＥについての測定結果である。具体的には、前記フォーカスエラー信号ＦＥについての測定結果は、例えば、フォーカスエラー信号ＦＥの検出回数Ｃｆｅ、１回目のフォーカスエラー信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔ１＿ｆｅ、１回目のフォーカスエラー信号ＦＥが検出されてから２回目のフォーカスエラー信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔ２＿ｆｅ、１回目に検出されたフォーカスエラー信号ＦＥの信号レベルＶｆｅ１、及び２回目に検出されたフォーカスエラー信号ＦＥの信号レベルＶｆｅ２等である。また、前記総和信号ＰＥについての測定結果は、例えば、総和信号ＰＥの検出回数Ｃｐｅ、１回目の総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔ１＿ｐｅ、１回目の総和信号ＰＥが検出されてから２回目の総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔ２＿ｐｅ、１回目に検出された総和信号ＰＥの信号レベルＶｐｅ１、及び２回目に検出された総和信号ＰＥの信号レベルＶｐｅ２等である。

上記測定データが第１メモリ部１４に格納されると、フォーカススイープ処理が完了する（Ｓ２１０）。

その後システムコントローラ１３は、第１メモリ部１４に格納された測定データを参照し、反射信号の検出回数が２以上であるか否かを判別する（Ｓ２１１）。例えば、システムコントローラ１３は総和信号ＰＥの検出回数Ｃｐｅに基づいて判別する。ステップ２１１において、前記総和信号ＰＥの検出回数Ｃｐｅが２回以上である場合には、システムコントローラ１３はデュアルディスクのＤＶＤ面が装填されていると判断する（Ｓ２１２）。前記総和信号ＰＥの検出回数Ｃｐｅが２回以上でない場合には、システムコントローラ１３はデュアルディスクのＣＤ面が装填されていると判断する（Ｓ２１３）。以上により、光ディスクの記録面の判別処理が終了する（Ｓ２１４）。

以上実施の形態１に係る光ディスク装置１００によれば、予め光ディスク装置毎に測定した検出時間ｔｄを基に判別時間ｔｎを算出するから、光ディスク装置１００毎の製造ばらつき等を考慮した判別時間ｔｎを設定することができる。これにより、前述した図７に示したように、製品毎に「ＤＶＤ層での反射信号が検出でき、かつＤＤ層での反射信号が検出されない時間」を精度よく設定することができるから、従来の方法に比べて、より精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができる。また、光ディスク装置１００によれば、第２メモリ部１５に予め格納された検出時間ｔｄのデータを用いて判別時間ｔｎを設定し、その時間だけ対物レンズ２１を移動させて反射信号の有無を測定すればよいので、判別処理が容易であり、且つ判別処理に長い時間を要することはない。

≪実施の形態２≫
実施の形態１では、アクチュエータ３５のＡＣＴ感度の特性が線形であるとして対物レンズ２１の移動量と移動時間の関係に基づく比例計算により判別時間ｔｎを算出したが、実施の形態２では、ＡＣＴ感度の非線形特性を考慮し、当該比例計算により求めた値を補正して判別時間ｔｎを設定する。

図１０は、アクチュエータ３５の感度の特性の一例を示す説明図である。

同図において、縦軸はアクチュエータ３５の感度を示すＡＣＴ感度〔μｍ／Ｖ〕、すなわち対物レンズの移動量を示し、横軸は駆動電圧（ＦＯＤ電圧）〔Ｖ〕を示す。同図には、アクチュエータ３５に印加可能な電圧の範囲内におけるＡＣＴ感度の特性２００を示している。

前述した図４では、ＡＣＴ感度の特性が線形であるとしたが、実際には図１０に示されるようにＦＯＤ電圧０Ｖを中心として、その中心から離れるほど非線形な特性となる。すなわち、ＦＯＤ電圧の低い領域とＦＯＤ電圧の高い領域では、ＦＯＤ電圧の変化に対する対物レンズ２１の移動量の変化率は小さい。また、フォーカススイープ処理では一定速度でＦＯＤ電圧を変化させることで対物レンズ２１を移動させることから、図１０の横軸は対物レンズ２１の移動時間とみなすことができる。そうすると、例えば図１０に示されるＰ０点をフォーカススイープ処理における対物レンズ２１の初期位置としたとき、横軸は対物レンズ２１が移動を開始してからの移動時間を表すから、同図の特性は対物レンズ２１の初期位置と光ディスク４との位置関係を表すことが理解される。したがって、光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０を測定することで、その光ディスク装置における対物レンズ２１の初期位置と光ディスク４との位置関係を把握することができる。これにより、ＡＣＴ感度の特性の線形領域又は非線形領域のいずれの領域で対物レンズ２１を駆動させているかを知ることができる。例えば、図１０に示すように、フォーカススイープ処理において光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０が範囲２０１内であった場合、対物レンズ２１の初期位置と光ディスクとの距離が通常よりも近く、ＡＣＴ感度の特性２００は非線形な特性と判断される。また、光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０が範囲２０２内であった場合、対物レンズ２１の初期位置と光ディスクとの距離が通常の範囲内にあり、ＡＣＴ感度の特性２００は線形な特性と判断される。更に、光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０が範囲２０３内であった場合、対物レンズ２１の初期位置と光ディスクとの距離が通常よりも遠く、ＡＣＴ感度の特性２００は非線形な特性と判断される。ここで、同図に示されるＶｔｈ１（Ｔｔｈ１）とＶｔｈ２（Ｔｔｈ２）は、ＡＣＴ感度の特性の非線形な領域と線形な領域に分ける目安とするための閾値であり、Ｖｔｈ１（Ｔｔｈ１）＜Ｖｔｈ２（Ｔｔｈ２）である。Ｖｔｈ１（Ｔｔｈ１）とＶｔｈ２（Ｔｔｈ２）は、光ピックアップ２のＡＣＴ感度の特性の実測結果に基づいて定めてもよいし、光ピックアップ２の設計段階におけるＡＣＴ感度の特性のシミュレーション結果に基づいて定めてもよい。Ｖｔｈ１（Ｔｔｈ１）とＶｔｈ２（Ｔｔｈ２）のデータは、例えば、第２メモリ部１５に予め格納しておく。

ここで、図１０において、ＡＣＴ感度の特性２００の夫々の範囲２０１〜２０３における判別時間ｔｎの算出方法について説明する。

先ず、フォーカススイープ処理において光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０＿ｎが範囲２０１内にあるとき、表面からＤＶＤ層とＤＤ層の中間の距離０．７５ｍｍまでの移動時間ｔｎ＿ｎを、ＡＣＴ感度の特性が参照符号２０４のように線形な特性として算出する場合を考える。この場合、特性２０４に基づいて、表面での反射信号を検出してからＤＶＤ層での反射信号を検出するまでの検出時間ｔｄ＿ｎの測定結果及び、表面からＤＶＤ層までの距離０．６ｍｍと前記中間の距離０．７５ｍｍとの関係から、比例計算により前記移動時間ｔｎ＿ｎを算出することができる。しかしながら、範囲２０１におけるＡＣＴ感度の特性は、実際は特性２０４ではなく非線形な特性２００であるため、算出した時間ｔｎ＿ｎまで対物レンズ２１を移動させると、前記中間の距離０．７５ｍｍよりも遠い位置Ｐ＿ｎまで焦点位置が移動してしまう。そこで、時間ｔ０＿ｎが範囲２０１内にある場合には、算出したｔｎ＿ｎに対して補正係数Ｂ（Ｂ＜１）を乗算することにより時間ｔｎ＿ｎを補正し、補正後の値を判別時間ｔｎとして設定する。

次に、フォーカススイープ処理において光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０＿ｆが範囲２０３内にあるとき、表面からＤＶＤ層とＤＤ層の中間の距離０．７５ｍｍまでの移動時間ｔｎ＿ｆを、ＡＣＴ感度の特性が参照符号２０５のように線形な特性として算出する場合を考える。この場合、特性２０５に基づいて、表面での反射信号を検出してからＤＶＤ層での反射信号を検出するまでの検出時間ｔｄ＿ｎの測定結果及び、表面からＤＶＤ層までの距離０．６ｍｍと前記中間の距離０．７５ｍｍとの関係から、比例計算により前記移動時間ｔｎ＿ｆを算出することができる。しかしながら、範囲２０３におけるＡＣＴ感度の特性は、実際は特性２０５ではなく非線形な特性２００であるため、算出した時間ｔｎ＿ｆまで対物レンズ２１を移動させても、前記中間の距離０．７５ｍｍよりも手前の位置Ｐ＿ｆまでしか焦点位置が移動しない。そこで、時間ｔ０＿ｆが範囲２０３内にある場合には、算出したｔｎ＿ｆに対して補正係数Ｃ（Ｃ＞１）を乗算することにより時間ｔｎ＿ｆを補正し、補正後の値を判別時間ｔｎとして設定する。

一方、フォーカススイープ処理において光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０＿ｔが範囲２０２内にある場合は、ＡＣＴ感度の特性が線形とみなせるので、前述のように比例計算により算出した時間ｔｎ＿ｔを判別時間ｔｎとし、補正は行わない。

以下、上記方法による光ディスクの判別処理の流れについて説明する。

図１１は、実施の形態２に係るデュアルディスクの記録面の判別方法の一例を示すフロー図である。

同図は、光ディスク装置１００に装填されたデュアルディスクの再生を行う準備の段階において、デュアルディスクの記録面の判別が行われる場合を一例として示している。また、実施の形態１と同様に、図８に示した方法により、予めデュアルディスクのＤＶＤ面における検出時間ｔｄを第２メモリ部１５に格納しておく。このとき、光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間ｔ０も併せて第２メモリ部１５に格納しておく。

先ず、デュアルディスクが光ディスク装置１００にマウントされ、光ディスクの記録面の判別処理が開始されると、システムコントローラ１３が光ピックアップ２を制御し、ＤＶＤ用のレーザ光を照射させる（Ｓ２０１）。システムコントローラ１３は、第２メモリ部１５から前記検出時間ｔｄ＿ｐｅ、及び前記時間ｔ０を読み出す（Ｓ３０２）。そして、システムコントローラ１３は、前記時間ｔ０が閾値Ｔｔｈ１よりも小さい（ＦＯＤ電圧がＶｔｈ１よりも小さい）か否かを判別する（Ｓ３０３）。前記時間ｔ０が閾値Ｔｔｈ１よりも小さい場合には、システムコントローラ１３は、対物レンズ２１の初期位置と光ディスクとの距離が通常よりも近いと判断し、補正係数を係数Ｂと決定する（Ｓ３０５）。一方、前記時間ｔ０が閾値Ｔｔｈ１以上である場合には、システムコントローラ１３は、前記時間ｔ０がＴｔｈ１以上、Ｔｔｈ２以下（ＦＯＶ電圧がＶｔｈ１以上、Ｖｔｈ２以下）であるか否かを判別する（Ｓ３０４）。前記時間ｔ０がＴｔｈ１以上、Ｔｔｈ２以下である場合には、システムコントローラ１３は対物レンズ２１の初期位置と光ディスクとの距離が通常の範囲内と判断し、補正は不要と判断する（Ｓ３０６）。一方、前記時間ｔ０がＴｔｈ１以上、Ｔｔｈ２以下でない場合、すなわち前記時間ｔ０がＴｔｈ２より大きい場合には、システムコントローラ１３は対物レンズ２１の初期位置と光ディスク４との距離が通常よりも遠いと判断し、補正係数を係数Ｃと決定する（Ｓ３０７）。ステップ３０５〜３０７の後、システムコントローラ１３は前記係数Ａを算出する。具体的には、光ディスク表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）と光ディスク表面からＤＤ層までの距離（０．９ｍｍ）との中間の距離（０．７５ｍｍ）の光ディスク表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）に対する比率（１．２５）を示す値に補正係数Ｂ又はＣを乗算することにより前記係数Ａを算出する。例えば、補正係数Ｂを０．８、補正係数Ｃを１．２とし、ステップ３０５で補正係数Ｂが選択された場合には、前記係数Ａは１（＝１．２５ｘ０．８）とされる。また、ステップ３０７で補正係数Ｃが選択された場合には、前記係数Ａは１．５（＝１．２５ｘ１．２）とされる。一方、ステップ３０６で補正が不要と判断された場合には、前記係数Ａは１．２５（＝１．２５ｘ１）とされる。

次にシステムコントローラ１３は、前記検出時間ｔｄ＿ｐｅと前記係数Ａに基づいて、判別時間ｔｎを算出する（Ｓ３０８）。具体的には、システムコントローラ１３は、前記係数Ａと前記検出時間ｔｐ＿ｐｅを乗算して得た値を前記判別時間ｔｎとする。その後の処理（Ｓ２０３〜Ｓ２１４）は、図９と同様とすることで、装填された光ディスクの記録面を判別することができる。

以上実施の形態２によれば、実施の形態１と同様に、従来方法に比べてより精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができ、且つ判別処理に長い時間を要することはない。更に、実施の形態２では、光ディスクの表面を検出するまでの時間ｔ０に基づいて対物レンズ２１の初期位置のばらつきを把握し、アクチュエータ３５のＡＣＴ感度特性の線形領域と非線形領域のいずれの領域で対物レンズ２１が駆動されるかを判別し、それに応じて前記係数Ａを算出する。これにより、より精度の高い判別時間ｔｎを設定することができるから、より精度のよい判別処理が実現される。

≪実施の形態３≫
実施の形態１では、光ディスクの判別処理においてシステムコントローラ１３が、デュアルディスクのＤＶＤ面における検出時間ｔｄに基づいて判別時間ｔｎを算出し、フォーカススイープ処理を実行する方法を示した。実施の形態３では、デュアルディスクのＣＤ面における、表面での反射信号を検出してからＤＤ層（ＣＤ面の情報記録層）での反射信号を検出するまでの検出時間ｔｄｘも測定しておき、検出時間ｔｄと検出時間ｔｄｘに基づいて判別時間ｔｎを算出する。

具体的には、デュアルディスクのＣＤ面の再生が可能であるか否かを確認する検査の段階等において、前記検出時間ｔｄｘの測定を行う。測定の方法は、図８と同様であり、光ディスク表面でのフォーカスエラー信号ＦＥが検出されてからＤＤ層でのフォーカスエラー信号ＦＥが検出されるまでの検出時間ｔｄｘ＿ｆｅと、光ディスク表面での総和信号ＰＥが検出されてからＤＤ層での総和信号ＰＥが検出されるまでの検出時間ｔｄｘ＿ｐｅを測定し、第２メモリ部１５に前記検出時間ｔｄととともに格納する。そして、光ディスクの判別処理を実行する際に、システムコントローラ１３が第２メモリ部１５から読み出した前記検出時間ｔｄと前記検出時間ｔｄｘ（ｔｄｘ＿ｐｅ、ｔｄｘ＿ｆｅ）に基づいて前記判別時間ｔｎを算出し、フォーカススイープ処理を実行する。具体的には、図９のステップ２０２において、システムコントローラ１３が前記検出時間ｔｄと前記検出時間ｔｄｘの中間の値を算出し、その値を判別時間ｔｎとする。すなわち、光ディスク表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）に対応する時間が前記検出時間ｔｄであり、光ディスク表面からＤＤ層（ＣＤ面の情報記録層）までの距離（０．９ｍｍ）に対応する時間が前記検出時間ｔｄｘであることから、前記中間の値は、表面からＤＶＤ層までの距離（０．６ｍｍ）と表面からＤＤ層までの距離（０．９ｍｍ）の中間の距離（０．７５ｍｍ）に対応する時間である。その後の処理を図９と同様とすることにより、実施の形態１と同様に光ディスクの判別を行うことができる。

以上実施の形態３によれば、製品毎に「ＤＶＤ層での反射信号が検出でき、かつＤＤ層での反射信号が検出されない時間」を精度よく設定することができるから、従来の方法に比べて、より精度良く光ディスクの記録面の種類を判別することができる。

以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。

例えば、実施の形態１では、光ディスクの判別処理においてシステムコントローラ１３が検出時間ｔｄに基づいて判別時間ｔｎを算出し、フォーカススイープ処理を実行する方法を示したが、これに限られない。例えば、検出時間ｔｄを取得する段階（図８）で、システムコントローラ１３が検出時間ｔｄに基づいて判別時間ｔｎを算出しておき、その値を第２メモリ部１５に格納しておく。そして、光ディスクの判別処理を実行する際に、システムコントローラ１３が第２メモリ部１５から読み出した判別時間ｔｎを設定し、フォーカススイープ処理を実行する。これによれば、判別処理においてシステムコントローラ１３が前記判別時間ｔｎを算出する演算処理を省略することができるから、判別処理に要する時間をより短縮することができる。この方法は実施の形態３にも適用可能である。例えば、検出時間ｔｄ又は検出時間ｔｄｘを取得する段階で、システムコントローラ１３が検出時間ｔｄと検出時間ｔｄｘに基づいて判別時間ｔｎを算出しておき、その値を第２メモリ部１５に格納しておけばよい。

実施の形態２では、光ディスクの判別処理においてシステムコントローラ１３が検出時間ｔｄと前記補正係数Ｂ、Ｃに基づいて判別時間ｔｎを算出し、フォーカススイープ処理を実行する方法を示したが、これに限られない。例えば、検出時間ｔｄを取得する段階（図８）で、システムコントローラ１３が、上記と同様の方法により、前記時間ｔ０に基づいて補正した前記係数Ａと検出時間ｔｄを用いて判別時間ｔｎを算出しておき、その値を第２メモリ部１５に格納しておく。そして、光ディスクの判別処理を実行する際に、システムコントローラ１３が第２メモリ部１５から読み出した判別時間ｔｎを設定し、フォーカススイープ処理を実行する。これによれば、判別処理においてシステムコントローラ１３が判別時間ｔｎを算出する演算処理を省略することができるから、判別処理に要する時間をより短縮することができる。また、実施の形態２では、比例計算により求めた値を前記時間ｔ０に基づいて補正し、補正後の前記係数Ａに基づいて判別時間ｔｎを算出する方法を示したが、これに限られない。例えば、製品毎に光ピックアップ２のＡＣＴ感度の特性を測定しておき、その測定結果に基づいて作成したＡＣＴ感度の特性の近似テーブルを予め第２メモリ部１５等に格納しておく。そして、判別処理においてフォーカススイープ処理における判別時間ｔｎを設定する際、システムコントローラ１３が前記時間ｔ０＿ｐｅに基づいて、前記中間の距離（０．７５ｍｍ）に対応する時間を示す値を前記近似テーブルから選択し、選択した値を判別時間ｔｎとして設定する。これによれば、補正係数を乗算する補正を行う場合に比べて、より高精度な判別時間ｔｎを設定することができる。

実施の形態１乃至３では、光ディスクの記録面の判別対象をデュアルディスクのＤＶＤ面とＣＤ面として説明したが、これに限られず、例えばＣＤ、ＤＶＤ、ブルーレイディスク、及びデュアルディスクのうち、いずれか２つの記録面を判別対象とすることも可能である。

また、実施の形態１乃至３では、総和信号ＰＥの検出結果（ｔｄ＿ｐｅ、Ｃｐｅ等）に基づいて判別処理を行ったが、これに限られず、フォーカスエラー信号ＦＥの検出結果（ｔｄ＿ｆｅ、Ｃｆｅ等）に基づいて判別処理を行っても同様の作用効果を奏する。更に、図９の判別処理において、ステップ２１１で総和信号ＰＥの検出回数Ｃｐｅに基づいて記録面を判別する方法を示したが、これに限られず、２回目に検出された反射信号の信号レベルＶｆｅ２、Ｖｐｅ２によって判別する方法でもよい。例えば、ステップ２１１において、信号レベルＶｆｅ２、Ｖｐｅ２の測定データが存在する（取得されている）場合、又は信号レベルＶｆｅ２、Ｖｐｅ２が所定のレベル以上の値である場合にはＤＶＤ面と判断し、信号レベルＶｆｅ２、Ｖｐｅ２の測定データが存在しない（取得されていない）場合、又は信号レベルＶｆｅ２、Ｖｐｅ２が所定のレベルよりも低い値である場合にはＣＤ面と判断する。これによれば、検出回数に基づいて判別する場合と同様の作用効果を奏する。

１００光ディスク装置
１データ処理制御部
１１受光信号処理部
１１０マトリックスアンプ回路
１１１ＦＥバランス／振幅調整部
１１２レジスタ
１２サーボプロセッサ部
１３システムコントローラ
１４第１メモリ部
１５第２メモリ部
１６信号検出処理部
１６１レジスタ
１６２ＰＥ／ＦＥ検出部
１６２１タイマ部
１６３演算部
１７フォーカス制御部
１７１レジスタ
１７２フォーカスドライブ（ＦＯＤ）制御部
１７３制御信号生成部
１７４フォーカスサーボ制御部
１７５位相補償回路
１７６レジスタ
１８収差補正制御部
１８１レジスタ
１８２制御部
２光ピックアップ
２１対物レンズ
２２球面収差補正用のビームエクスパンダ
２３１／４λ板
２４偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）
２５グレーティング
２６ＡＰＣ用ＰＢＳ
２７集光レンズ
２８ＦＰＤ
２９コリメータレンズ
３０レーザダイオード
３１ＡＰＣ回路
３２レーザドライバ
３３検出レンズ
３４光検出器
３５アクチュエータ
３６ビームエクスパンダ駆動ユニット３６
３スピンドルモータ
４光ディスク
５ドライバ部
６記憶装置６
７検出信号
８収差補正制御信号
９フォーカス駆動信号
ＰＥ総和信号
ＦＥフォーカスエラー信号
４０、４１レーザ光照射方向
２００ＡＣＴ感度の特性
２０１、２０３非線形範囲
２０２線形範囲
２０４、２０５線形特性

Claims

情報記録層を有する光ディスクにアクセスするための光ディスク装置であって、
前記光ディスク装置は、対物レンズの位置を調整するレンズ調整部と、
光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号を生成する反射信号生成部と、
設定された検出条件にしたがって前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する測定部と、
複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報を格納するための記憶領域と、
光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間を設定し、前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの前記反射信号の特性を測定させるフォーカススイープ処理を実行させるとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、データ処理制御部と、を有し、
前記データ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に前記反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面であると判断し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判断する、光ディスク装置。
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値を含み、
前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値に前記第１の測定値を乗算する演算をし、演算により算出した値を前記移動時間とする、請求項１記載の光ディスク装置。
前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値に、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値を乗算して得られる値を含み、
前記データ処理制御部は、前記記憶領域に格納された前記乗算して得られる値を前記移動時間とする、請求項１記載の光ディスク装置。
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値と、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値とを含み、
前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値に前記第１の測定値を乗算して得られた値を前記第２の測定値に応じて増減する補正をし、補正後の値を前記移動時間とする、請求項１記載の光ディスク装置。
前記補正は、前記第１の測定値を乗算して得られた値に補正係数を乗算する演算を行う処理であり、
前記データ処理制御部は、前記第２の測定値が第１の閾値よりも小さいときは前記補正係数を１よりも小さい値とし、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値より小さいときは前記補正係数を１とし、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは前記補正係数を１よりも大きい値とする、請求項４記載の光ディスク装置。
前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値を第１の測定値とし、
前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での前記反射信号が検出されるまでの時間の測定値を第２の測定値とし、
前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、
前記第１の記録面の情報は、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値に前記第１の測定値を乗算して得られた値を前記第２の測定値に応じて増減する補正をした値を含み、
前記データ処理制御部は、前記記憶領域に格納された前記補正をした値を前記移動時間とする、請求項１記載の光ディスク装置。
前記補正した値は、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値と前記第１の測定値とを乗算して得られた値に、補正係数を乗算した値であり、
前記補正係数は、前記第２の測定値が第１の閾値よりも小さいときは１よりも小さい値とされ、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく、且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値より小さいときは１とされ、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは１よりも大きい値とされる、請求項６記載の光ディスク装置。
情報記録層を有する光ディスクにアクセスするための光ディスク装置であって、
前記光ディスク装置は、対物レンズの位置を調整するレンズ調整部と、
光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号を生成する反射信号生成部と、
設定された検出条件にしたがって前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する測定部と、
複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の特性に係る測定結果に基づく第１の記録面の情報と、
前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第２の記録面の情報を格納するための記憶領域と、
光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報及び前記第２の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間を設定し、前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの前記反射信号の特性を測定させるフォーカススイープ処理を実行するとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、データ処理制御部と、を有し、
前記データ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に前記反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面であると判断し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判断する、光ディスク装置。
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値を含み、
前記第２の記録面の情報は、前記第２の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値を含み、
前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離としたとき、前記第１の測定値と前記第２の測定値の中間の値を算出し、算出した値を基準とする値を前記移動時間とする、請求項８記載の光ディスク装置。
前記反射信号は、フォーカスエラー信号である、請求項２記載の光ディスク装置。
前記反射信号は、反射光量の総和に応じた総和信号である、請求項２記載の光ディスク装置。
前記複数種類の光ディスクの記録面は、ＣＤ、ＤＶＤ、ブルーレイディスク、及びデュアルディスクのうちいずれか２つの記録面である、請求項２記載の光ディスク装置。
前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面は、デュアルディスクにおけるＤＶＤ規格に準拠した記録面であり、
前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面は、デュアルディスクにおけるＤＶＤ規格に準拠していない記録面である、請求項２記載の光ディスク装置。
光ピックアップを制御し、情報記録層を有する光ディスクにアクセスするための処理を行う半導体装置であって、
光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号を入力し、設定された検出条件にしたがって、前記反射信号の信号レベルと、前記反射信号の検出に係る時間と、前記反射信号の検出回数とを含む信号情報を測定するとともに、光ピックアップの対物レンズの位置を制御する、第１のデータ処理制御部と、
複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの前記反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報を格納するための記憶領域と、
光ディスクにアクセスするとき、前記記憶領域に格納された前記第１の記録面の情報に応じて前記対物レンズを移動させる移動時間を設定し、前記第１のデータ処理制御部を制御することにより前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら、前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのときの反射信号の前記信号情報を測定させるフォーカススイープ処理を実行させるとともに、アクセス対象の光ディスクの記録面を判別する、第２のデータ処理制御部と、を有し
前記第２のデータ処理制御部は、前記フォーカススイープ処理において、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから前記移動時間までの間に反射信号の検出があった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面であると判別し、その間に前記反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている記録面は前記第１の記録面でないと判別する、半導体装置。
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値を含み、
前記データ処理制御部は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値に前記第１の測定値を乗算する演算をし、演算により算出した値を前記移動時間とする、請求項１４記載の半導体装置。
光ディスクにアクセスするための光ディスク装置において、光ディスクの２種類の記録面を判別する光ディスク判別方法であって、
複数種類の光ディスクの記録面のうち第１の記録面に対して照射したレーザ光の反射光の光量に応じた反射信号の測定に基づいて得られる第１の記録面の情報に応じて、前記対物レンズを光軸方向に移動させる移動時間を設定する第１の処理と、
前記光ディスクの記録面にレーザ光を照射させながら、設定した前記移動時間に応じて前記対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させ、そのとき前記反射信号を検出し、検出した前記反射信号の特性を測定する第２の処理と、
前記第２の処理による測定結果に基づいて、アクセスしている光ディスクの記録面を判別する第３の処理と、を含み、
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、光ディスク表面での前記反射信号が検出されてから最初の情報記録層での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第１の測定値を含み、
前記第３の処理は、前記第２の処理において光ディスク表面での反射信号が検出されてから前記移動時間を経過するまでの間に反射信号の検出があった場合には、アクセスしている光ディスクの記録面は前記第１の記録面であると判別し、その間に反射信号の検出がなかった場合には、アクセスしている光ディスクの記録面は前記第１の記録面でないと判別する処理である、光ディスク判別方法。
前記第１の処理は、前記第１の記録面における表面から最初の情報記録層までの第１の距離と、前記複数種類の光ディスクの記録面のうち第２の記録面における表面から最初の情報記録層までの第２の距離との中間の距離を第３の距離とし、前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を基準とする値と前記第１の測定値とを乗算する演算を行う第４の処理と、前記第４の処理により得られた値を前記移動時間として設定する第５の処理と、を含む請求項１６記載の光ディスク判別方法。
前記第１の記録面の情報は、前記第１の記録面に対してレーザ光を照射させながら対物レンズをレーザ光の照射方向に移動させたときの、前記対物レンズの移動が開始されてから光ディスク表面での反射信号が検出されるまでの時間の測定値である第２の測定値を更に含み、
前記第４の処理は、前記第２の測定値に応じて前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を表す値を増減する補正をする第６の処理と、前記第６の処理による補正後の値と前記第１の測定値とを乗算する演算を行う第７の処理と、を含む、請求項１７記載の光ディスク判別方法。
前記第６の処理は、前記第２の測定値に応じて補正係数を決定する第８の処理と、決定した補正係数と前記第３の距離の前記第１の距離に対する比率を表す値とを乗算する第９の処理と、を含み、
前記第８の処理は、前記第２の測定値が第１の閾値よりも小さいときは前記補正係数を１よりも小さい値とし、前記第２の測定値が前記第１の閾値より大きく且つ前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値より小さいときは前記補正係数を１とし、前記第２の測定値が前記第２の閾値よりも大きいときは前記補正係数を１よりも大きい値とする処理である、請求項１８記載の光ディスク判別方法。