WO2001041209A1 - Dispositif de soudage de puce - Google Patents

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WO2001041209A1
WO2001041209A1 PCT/JP2000/008448 JP0008448W WO0141209A1 WO 2001041209 A1 WO2001041209 A1 WO 2001041209A1 JP 0008448 W JP0008448 W JP 0008448W WO 0141209 A1 WO0141209 A1 WO 0141209A1
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chip bonding
reaction force
support mechanism
head
bonding apparatus
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PCT/JP2000/008448
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Inventor
Akira Yamauchi
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Toray Engineering Co., Ltd.
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
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    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
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    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors

Definitions

  • the present invention relates to a chip bonding apparatus for bonding a chip such as a semiconductor element onto a substrate, and more particularly to a support structure for a tool (hereinafter, referred to as a “head”) for holding the chip and pressing the chip onto the substrate.
  • a tool hereinafter, referred to as a “head”
  • ACF Advanced Conductive Film
  • This method uses ACF in which conductive particles are mixed in an adhesive for fixing a chip on a substrate.
  • the chip and the substrate are electrically connected at the same time as the chip and the substrate are bonded together by the conductive particles sandwiched between the upper and lower electrodes.
  • adhesive coated on a polyester film is supplied from the ACF tape feeding section, and while the separator is removed, a cut is made in the adhesive layer and heating and pressing is performed from above using a heat tool.
  • the ACF is thermally transferred to the substrate side.
  • the bonding agent binder
  • Figure 1 shows a conventional chip bonder. 1 shows a schematic configuration of a ringing device.
  • a pressure cylinder 3 for pressing a head 1 for holding a chip toward a substrate 2 is attached to a head support 15 having an inverted L-shape.
  • An intermediate portion of the rod 3 a of the pressurized cylinder 3 is supported by a head support 15 via a slide portion 16.
  • the head 1 is attached to the lower end of the rod 3 a of the pressurized cylinder 3.
  • Below Head 1 is Table 6.
  • the substrate 2 on which the ACF is transferred is held on the table 6.
  • a chip (not shown) is held on the lower surface of head 1. In this state, the chip is pressed onto the substrate 2 by expanding the rod 3 a of the pressure cylinder 3.
  • the conventional chip bonding apparatus is integrated with the pressurized cylinder 3, the slide section 16 and the head 1 and the head support 15 so that the head 1 mounts the chip on the substrate.
  • the horizontal member of the head column 15 to which the pressure cylinder 3 is attached is pushed up as a reaction, and a bending moment acts on the head column 15, and Bend and warp of the rod support 15 As a result, a slight micron-order blaze parallelism occurs between the head 1 and the table 6.
  • the bumps 23 on the chip 22 side sandwiching the conductive particles 21 in the ACF and the electrodes 24 on the substrate 2 are rubbed (that is, relatively displaced in a horizontal plane).
  • the conductive particles 21 between the bumps 23 and the electrodes 24 roll slightly but roll, and an egg-shaped spread space is formed between the bumps 23 and the electrodes 24.
  • the contact area between the conductive particles 21 and the bumps 23 or between the conductive particles 21 and the electrodes 24 is reduced, and the conductive resistance value is increased, and the noise is caused.
  • the solution is to use a rigid support It may be possible to improve the performance, but there are limitations.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to prevent the head from having a low degree of parallelism when the chips are pressed. Disclosure of the invention
  • the present invention relates to a chip bonding apparatus for pressing a chip on a substrate, a head for holding the chip, a pressurized cylinder for pressing the head toward the substrate, and a pressurized cylinder. And a first support mechanism for supporting the reaction force acting on the pressurized cylinder when the head is pressed toward the substrate. And a second independent supporting mechanism.
  • the pressurized cylinder is supported by the first support mechanism so as to be able to move up and down, if a reaction force acts on the pressurized cylinder at the time of chip bonding, the reaction force becomes the second force.
  • the second support mechanism is separate and independent from the first support mechanism that supports the pressurized cylinder, even if the second support mechanism bends or warps due to the reaction force, its shadow is affected. The sound is not transmitted to the first support mechanism. In other words, the first support mechanism for supporting the pressurized cylinder does not bend or warp, so that the head does not shake or the degree of parallelism does not occur during crimping.
  • the second support mechanism is configured to support the reaction force acting on the pressure cylinder by contacting the pressure cylinder. This With this configuration, not only the first support mechanism but also the pressurized cylinder is not affected by the deflection and warpage of the second support mechanism, so that the head has a low blade parallelism during crimping. Can be further reduced.
  • the contact structure between the second support mechanism and the pressurized cylinder may be either direct contact or indirect contact.
  • the contact structure is preferably a point contact such as a spherical contact from the viewpoint of reducing the contact resistance.
  • the present invention can be applied to either an apparatus having one set of heads and a pressure cylinder, or an apparatus having a plurality of sets of heads and one pressure cylinder.
  • the first support mechanism for supporting each pressure cylinder so as to be able to move up and down, and acts on each pressure cylinder. It is configured separately and independently from the second support mechanism that supports the reaction force.
  • Fig. 1 shows the schematic configuration of a conventional device.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a crimped state by a conventional device.
  • FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of the chip bonding apparatus according to the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a crimped state by the apparatus of the embodiment.
  • FIG. 5 is a front view of the device of the second embodiment.
  • FIG. 6 is a side view of the device of the second embodiment. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 3 is a schematic view of a first embodiment of the chip bonding apparatus according to the present invention. It is a block diagram.
  • the apparatus of this embodiment includes a head 1 for holding a chip (not shown) on a lower surface thereof, a pressure cylinder 3 for pressing the head 1 toward the substrate 2, and a pressure cylinder 3 for pressing the head 1 toward the substrate 2.
  • a first support mechanism 4 for supporting up and down movement, and a first support mechanism 4 for supporting a reaction force acting on the pressure cylinder 3 when the head 1 is pressed toward the substrate 2.
  • a second support mechanism 5 which is separate and independent from the first and second support mechanisms.
  • the substrate 2 is held on a table 6.
  • ACF Anisotropic Conductive Film
  • Head 1 holds the chip on its lower surface by an appropriate holding mechanism such as a suction mechanism or a mechanical hook.
  • the head 1 is connected to a lower end of a rod 3 a extending from the pressure cylinder 3.
  • the first support mechanism 4 has a fixed head support 7, a guide rail 8 vertically disposed on the head support 7, and is slidably fitted to the guide rail 8. And a movable member 9 connected to the pressurized cylinder 3.
  • the intermediate portion of the rod 3a is also supported by the same guide rail 8 and movable member 9 so as to be able to move up and down.
  • the second support mechanism 5 includes a fixed frame 10 and a reaction force receiving member 11 connected to the frame 10, and the reaction force receiving member 11 is connected to the top of the pressure cylinder 3.
  • the reaction force acting on the pressurized cylinder 3 is supported.
  • a spherical contact 12 is formed on the top of the pressure cylinder 3, and through this contact 12, the reaction force receiving member 11 applies a point contact to the reaction force acting on the pressure cylinder 3. I support it.
  • the head 1 when the head 1 presses the chip onto the substrate 2 of the table 6 based on the operation of the pressure cylinder 13, the head 1 acts on the caropressure cylinder 3.
  • the reaction force is a reaction force receiving member integrated with frame 10.
  • the first support mechanism 4 composed of the frame 10 and the reaction force receiving member 11 receives the moment based on the pushing-up force and bends or warps.
  • the second support mechanism 5 supporting the pressurized cylinder 3 is different from the first support mechanism 4 so as not to be affected by the pushing force applied to the first support mechanism 4. It has a separate and independent configuration.
  • the pressurized cylinder 3 was supported by the first support mechanism 4 so as to be able to move up and down so as to absorb the slight movement of the flexure and warpage of the frame 10 and the reaction force receiving member 11. Therefore, the second support mechanism 5 receives the pushing-up force from the pressurized cylinder 3, and generates a bending or warping force.
  • the first supporting mechanism 4 does not bend or warp.
  • the door 1 descends straight along the guide rail 8 and transmits the proper crimping force to the table 6.
  • the reaction force causes the frame 10 and the reaction force receiving member 11 to bend or warp.
  • the reaction force receiving member 11 and the pressure cylinder 3 are connected and fixed as in the conventional device shown in FIG. 1, the pressure cylinder 13 becomes the reaction force receiving member 11 As a result, the guide rail 8 bends and gives a moment to the guide rail 8 due to the influence of the bending and warping of the guide rail 8. Therefore, in this embodiment, as a configuration for removing the influence of the bending moment, a spherical contact point 12 is provided between the top of the pressure cylinder 3 and the reaction force receiving member 11, and the reaction force receiving member 11 is provided.
  • the member 11 supports the reaction force of the pressure cylinder 3 by point contact. Thereby, the first support mechanism 4 can slide the head 1 in the vertical direction without being affected by any bending force.
  • the apparatus according to the second embodiment is a so-called multi-head type chip bonding apparatus provided with two or more heads in order to efficiently perform crimping of chips.
  • FIG. 5 is a front view of a multi-head type chip bonding apparatus according to a second embodiment
  • FIG. 6 is a side view thereof.
  • a first support mechanism 30 that supports a plurality of pressurized cylinders 3 so as to be able to move up and down, and the first support mechanism 30 are separated and independent.
  • the second support mechanism 31 supporting the reaction force acting on each pressure cylinder 3 is formed. It has.
  • the first support mechanism 30 includes a fixed head support 32 and a vertically movable mount that is attached to the head support 32 and supports each pressurized cylinder 3 so as to be able to move up and down.
  • Member 3 3 Specifically, a guide rail 34 is disposed vertically on the head support 32, and a movable member 35 is slidably fitted on the guide rail 34, and the movable member 35 Is connected to the lifting member 33.
  • a plurality of guide rails 36 are provided on the elevating member 33 corresponding to each pressurized cylinder 3, and the movable member 37 is slidable on each guide rail 36.
  • These movable members 37 are connected to the respective pressurized cylinders 3.
  • the rod 3 a of each pressurized cylinder 3 The intermediate member is guided by a guide member 38 erected on the elevating member 33.
  • the second support mechanism 31 moves up and down to the fixed frame 39, the first reaction force receiving member 40 connected to the frame 39, and the first reaction force receiving member 40.
  • a second reaction force receiving member that is freely supported is connected to the elevating member 33 by point contact or line contact, and contacts a plurality of pressurized cylinders 13 provided on the elevating member 33. 4 1 is provided.
  • the guide posts 42 erected at both ends of the second reaction force receiving member 41 are vertically attached to the guide members 43 arranged on the first reaction force receiving member 40. It is guided to.
  • a substantially L-shaped locking piece 44 is connected to the center of the lower surface of the second reaction force receiving member 41, and the locking piece 44 is rotatably attached to the lifting member 33.
  • the second reaction force receiving member 41 is connected to the elevating member 33 in a point contact or a line contact state by being sandwiched between the pair of rollers 45.
  • An actuator (drive means) 46 for raising and lowering the elevating member 33 integrally with each of the pressurized cylinders 3 is provided on the first reaction force receiving member 40.
  • the sixth drive shaft 46 a is connected to the second reaction force receiving member 41.
  • a hair cylinder or a servomotor is used as the actuator.
  • each pressurized cylinder 3 is lifted to the upper limit position integrally with the elevating member 33.
  • the actuators 46 are operated, and each of the pressurized cylinders 3 descends integrally with the elevating member 33.
  • the head 1 descends to the predetermined height position on the table 6, the descending movement by the actuator 46 stops.
  • the respective pressure cylinders 13 are simultaneously operated, and each head 1 is pressed toward the substrate, whereby the chips are simultaneously pressed onto the respective substrates 2.
  • the present embodiment is similar to the one-head case described in the first embodiment, in that a first support mechanism 30 for supporting the head 1 and the pressurized cylinder 3 is provided, and each of the additional mechanisms is provided.
  • the second support mechanism 31 for supporting the reaction force of the pressure cylinder 3 is configured separately and independently, and the same effect as in the first embodiment is obtained.
  • the multi-head type as in the second embodiment was sufficient. It is preferable to consider the deflection in the X direction (the direction in which the heads are arranged in parallel) in the device of this type. Therefore, in the second embodiment, a slide guide is provided in the vertical direction from the first reaction force receiving member 40.
  • the second reaction force receiving member 41 thus formed is connected to the elevating member 33 in the state of point contact or line contact at the center, and the elevating member 33 is configured to be able to move up and down.
  • Each pressurized cylinder 3 and the second reaction force receiving member 41 are brought into contact with each other through a spherical contact 12 as in the first embodiment.
  • the reaction force acting on each of the pressure cylinders 13 at the time of pressing the chip is reduced by the second reaction force receiving member 41 and the actuator.
  • the force is transmitted to the first reaction force receiving member 40 via the drive shaft 46 a of the night 46, and is supported by the first reaction force receiving member 40 (see FIG. 6 as described above.
  • the first support mechanism 30 and the second support mechanism 31 are separate and independent, and the second reaction force receiving member 41 and each of the pressure cylinders 3 have a spherical contact 12.
  • the head support 32 does not bend in the Y direction due to the above reaction force.
  • Each pressurized cylinder 3 can move up and down with respect to the elevating member 3 3, and the second reaction force receiving member 41 and each pressurized cylinder 3 come into contact with the spherical contact 12. Therefore, even if the second reaction force receiving member 41 is radiused in the X direction, the bending moment does not act on each of the pressurized cylinders 3. Therefore, the elevating member 33 is bent in the X direction. There is nothing wrong.
  • the present invention is applicable not only to the ACF method but also to various flip-chip methods.
  • the bumps (electrodes) of the chip are crimped on the electrode chips on the substrate.
  • This method is effective because it requires a degree of parallelism on the order of torr, does not add moment to the head, and does not cause any parallelism.

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Description

明 細 書 チップボンディ ング装置 技術分野
この発明は, 半導体素子などのチップを基板上にボンディ ングするチ ップボンディ ング装置に係り , 特にチップを保持して基板上に圧着させ るツール (以下, 「ヘッ ド」 という) の支持構造に関する。 背景技術
チップを基板上に直接実装するフ リ ップチップ方式の代表的な工法の 一つと して、 A C F (Anisotropic Conductive Film ) 工法力 ある。 こ の工法は、 チップを基板上に固着するための接着剤中に導電粒子を混ぜ 合わせた A C Fを用いる。 基板に貼られた A C F上からチップを実装す ることによ り 、 チッ プと基板の接着と同時に、 上下電極間に挟まれた導 電粒子によ り 、 チップと基板とが電気的に接統される。 A C F工法では 、 ボリエステルフィ ルム上に接着剤をコーティ ングしたものを A C Fテ ープ送り部から供給し、 セパレーターをはがし取り ながら、 接着材層に 切れ目を入れヒー トツールによって上部から加熱加圧する事によ り 、 A C Fを基板側へ熱転写する。 次にヘッ ドで保持されたチップを A C Fの 上から圧着すると、 接着剤中の導電粒子を介してチップのバンプと基板 の電極とが導通する。 圧着時にチップが加熱加圧される ことによ り、 接 着剤 (バイ ンダー) が硬化し、 チップと基板とが導通された状態で接着 する。
以下、 チップを基板上に圧着する工程で用い られる従来のチッ プボン ディ ング装置を図面を参照して説明する。 第 1 図は従来のチッ プボンデ ィ ング装置の概略構成を示している。
従来のチッ プボンディ ング装置は、 チッ プを保持するへッ ド 1 を基板 2 に向けて加圧する加圧シリ ンダー 3力 、 逆 Lの字状のヘッ ド支柱 1 5 に取り付けられている。 加圧シリ ンダー 3 のロ ッ ド 3 a の中間部はスラ ィ ド部 1 6 を介してへッ ド支柱 1 5 に支持されている。 また、 加圧シリ ンダー 3 のロ ッ ド 3 aの下端にへッ ド 1 が取り付けられている。 へッ ド 1 の下方にテーブル 6 がある。 このテーブル 6上に、 A C Fが転写され た基板 2 が保持されている。 図示しないチッ プはへッ ド 1 の下面に保持 されている。 この状態で加圧シリ ンダー 3 のロ ッ ド 3 a が伸張すること によ り 、 チップが基板 2上に圧着される。
以上のよう に、 従来のチップボンディ ング装置は、 加圧シリ ンダー 3 、 スライ ド部 1 6 、 およびヘッ ド 1 力 ヘッ ド支柱 1 5 と一体になつて いるので、 ヘッ ド 1 がチップを基板 2上に加圧する ときに, その反作用 として、 加圧シリ ンダー 3 が取り付けられたヘッ ド支柱 1 5 の水平部材 が押し上げられて, へッ ド支柱 1 5 に曲げモーメ ン トが作用 し、 へッ ド 支柱 1 5 に撓みや反 りが生じる。 その結果、 ヘッ ド 1 とテーブル 6 との 間に数ミ ク ロ ンオーダーのブレゃ平行度のく るいが生じる。
へッ ド 1 とテーブル 6 との問のプレゃ平行度のく るいによ り 、 次のよ うな不都合を生じる。 すなわち, 第 2図に示す様に A C F中の導電粒子 2 1 を挟むチップ 2 2側のバンプ 2 3 と, 基板 2側の電極 2 4 とが擦れ 合う (すなわち、 水平面内で相対変位する) 状態となる。 これによ りバ ンプ 2 3 と電極 2 4 との間にある導電粒子 2 1 は微少ではあるが転がり 移動し、 バンプ 2 3 と電極 2 4 との間に卵型の広がり空間ができる。 そ の結果、 導電粒子 2 1 とバンプ 2 3 、 あるいは導電粒子 2 1 と電極 2 4 との接触面積が小さ く なり 、 導電抵抗値が大き く なつたり 、 また、 その ノ ラツキを生じる原因となる。 この解決策と して、 ヘッ ド支柱 1 5 の剛 性を上げる こ とも考えられるが、 限界がある。
特に最近の傾向として、 圧着工程の処理時間を短縮するなどの観点か ら、 2 へッ ド又はそれ以上のへッ ドを使って同時にチッ プを圧着する装 置が提案実施されており , このようなマルチへッ ドの装置においては上 記問題点は一層顕著に現れる。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、 チッ プの圧 着時に、 へッ ドのブレゃ平行度のく るいが生じないよう にする こ とを目 的とする。 発明の開示
本発明は、 基板上にチップを圧着するチッ プボンディ ング装置であつ て、 チッ プを保持するヘッ ドと、 前記ヘッ ドを基板に向けて加圧する加 圧シリ ンダ一と、 前記加圧シリ ンダーを昇降変移可能に支持する第 1 の 支持機構と、 前記ヘッ ドを基板に向けて加圧したときに、 前記加圧シリ ンダ一に作用する反力を支持する、 前記第 1 の支持機構とは分離独立し た第 2 の支持機構とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば, 加圧シリ ンダ一が第 1 の支持機構に昇降変移可能に 支持されているので、 チップ圧着時に加圧シリ ンダ一に反力が作用する と、 その反力は第 2の支持機構に受け持たれる。 この第 2 の支持機構は 、 加圧シリ ンダーを支持する第 1 の支持機構とは分離独立しているので 、 第 2 の支持機構が前記反力によって撓んだり反ったり しても、 その影 響は第 1 の支持機構に伝わらない。 つま り、 加圧シリ ンダーを支持する 第 1 の支持機構が撓んだり反った り しないので、 圧着時にへッ ドにブレ や平行度のく るいが生じない。
第 2 の支持機構は、 加圧シリ ンダーに接触する ことによ り 、 加圧シリ ンダ一に作用する反力を支持するよう に構成するのが好ましい。 このよ う に構成すれば, 第 1 の支持機構だけでなく、 加圧シリ ンダーも第 2 の 支持機構の撓みや反り の影響を受けないので、 圧着時のへッ ドのブレゃ 平行度のく るいを一層低減する こ とができる。
第 2 の支持機構と加圧シリ ンダーとの接触構造は、 直接的な接触、 あ るいは間接的な接触のいずれであってもよい。 接触構造は、 接触抵抗を 小さ くする観点から、 例えば、 球面状接点のような点接触が好ま しい。 本発明は、 一組のヘッ ドと加圧シリ ンダーとを備えた装置、 あるいは 複数組のへッ ド と加圧シリ ンダ一とを備えた装置のいずれにも適用可能 である。 複数組のへッ ド と加圧シ リ ンダーとを備えた装置の場合にも、 各加圧シリ ンダーを昇降変移可能に支持する第 1 の支持機構と、 各加圧 シリ ンダ一に作用する反力を支持する第 2 の支持機構とは、 分離独立し て構成される。 図面の簡単な説明
第 1 図は, 従来装置の概略構成を示した図である。
第 2 図は、 従来装置による圧着状態を示した断面図である。
第 3 図は、 本発明に係るチッ プボンディ ング装置の第 1 実施例の概略 構成を示した図である。
第 4図は, 実施例装置による圧着状態を示した断面図である。
第 5 図は、 第 2実施例装置の正面図である。
第 6 図は、 第 2実施例装置の側面図である . 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の好適な実施例を図面を参照して説明する。
(第 1実施例)
第 3 図は、 本発明に係るチップボンディ ング装置の第 1実施例の概略 構成図である。
本実施例装置は, その下面にチップ (図示せず) を保持するヘッ ド 1 と、 このヘッ ド 1 を基板 2 に向けて加圧する加圧シリ ンダー 3 と、 この 加圧シ リ ンダー 3 を昇降変移可能に支持する第 1 の支持機構 4 と、 へッ ド 1 を基板 2 に向けて加圧したときに、 加圧シリ ンダー 3 に作用する反 力を支持する、 第 1 の支持機構 4 とは分離独立した第 2 の支持機構 5 と を備えている。
基板 2 はテーブル 6上に保持されている。 基板 2 のボンディ ング個所 には予め A C F (Anisotropic Conductive Film ) が転写されている。 ヘッ ド 1 は、 吸引機構あるいは機械式ッメなどの適宜な保持機構によ つて, その下面にチップを保持する。 ヘッ ド 1 は加圧シリ ンダー 3から 延び出たロ ッ ド 3 aの下端に連結されている。
第 1 の支持機構 4 は、 固定されたヘッ ド支柱 7 と、 このヘッ ド支柱 7 に鉛直方向に配設されたガイ ド レール 8 と、 このガイ ド レール 8 に摺動 自在に嵌合される とともに、 加圧シリ ンダー 3 に連結された可動部材 9 とを備えている。 ロ ッ ド 3 aの中間部位も同様のガイ ド レール 8 および 可動部材 9 によって昇降変移可能に支持されている。
第 2 の支持機構 5 は、 固定されたフ レーム 1 0 と, このフレーム 1 0 に連結された反力受け部材 1 1 とを備え、 この反力受け部材 1 1 が加圧 シリ ンダー 3 の頂部に接触する こ とによ り, 加圧シリ ンダー 3 に作用す る反力を支持するようになっている。 加圧シリ ンダー 3 の頂部には球面 状の接点 1 2 が形成されており、 この接点 1 2 を介して、 反力受け部材 1 1 が加圧シリ ンダー 3 に作用する反力を点接触で支持している。
以上のよう に構成された実施例装置において、 へッ ド 1 が加圧シリ ン ダ一 3 の作動に基きテーブル 6 の基板 2上へチッ プを圧着する とき、 カロ 圧シリ ンダー 3 に作用する反力が、 フ レーム 1 0 と一体の反力受け部材 1 1 へ伝え られ、 フ レーム 1 0 と反力受け部材 1 1 とからなる第 1 の支 持機構 4 はその押し上げ力に基きモーメ ン トを受けて撓んだり 、 反った りする。
しかし、 本実施例では, 第 1 の支持機構 4への押し上げ力の影響を受 けない様に、 加圧シリ ンダー 3 を支持する第 2 の支持機構 5 を第 1 の支 持機構 4 とは分離独立した構成としている。 また、 フ レーム 1 0及び反 力受け部材 1 1 の撓みや反り の微動を吸収する様に, 加圧シリ ンダー 3 を第 1 の支持機構 4 によって昇降変移可能に支持した。 したがって、 第 2 の支持機構 5 は, 加圧シリ ンダー 3 からの押上げ力を受けて、 撓みや 反り を生じている力 第 1 の支持機構 4 に撓みや反 りが生じないので、 へッ ド 1 はガイ ド レール 8 に沿って鉑直に降下し、 的確な圧着力をテー ブル 6 に伝える。
さ らに、 加圧シリ ンダー 3 が作動してへッ ド 1 を基板 2 に向けて加圧 したとき、 その反力によって、 フ レーム 1 0 と反力受け部材 1 1 に撓み や反りが生じるが、 反力受け部材 1 1 と加圧シリ ンダー 3 との間が第 1 図に示した従来装置のよう に連結固定されている と、 加圧シリ ンダ一 3 が、 反力受け部材 1 1 の撓みや反りの影響を受け, ガイ ド レール 8 に曲 げモーメ ン ト を与えてしまうので, へッ ド 1 とテーブル 6 との間にブレ や平行度のく るいが生じる。 そこで、 本実施例では、 その曲げモーメ ン トの影響を取り除く構成として、 加圧シリ ンダー 3 の頂部と反力受け部 材 1 1 との間に球面状の接点 1 2 を設け、 反力受け部材 1 1 が加圧シリ ンダー 3 の反力を点接触で支持するよう に した。 これによつて、 第 1 の 支持機構 4が何ら曲げ力の影響を受けずにへッ ド 1 を鉛直方向にス ライ ドさせる こ とができる。
したがって、 ヘッ ド 1 とテーブル 6 との間の数ミ ク ロンオーダ一のブ レゃ平行度のく るいを受けずに安定した圧着が可能となる。 その結果、 第 4図に示すよう に, A C F中の導電粒子 2 1 をはさむチップ 2 2側の バンプ 2 3 と基板 2側の電極 2 4 とが擦り合う こ ともなく 、 バンプ 2 3 及び電極 2 4 に, 導電粒子 2 1 が均一に変形して十分に抱え込まれる。 その結果、 バンプ 2 3及び電極 2 4 と, 導電粒子 2 1 との間の接触面積 が大き く なつて, 導電抵抗値が小さ く なり 、 またそのバラツキも小さ く なる。
(第 2実施例)
第 2実施例装置は、 チップの圧着を効率良く行うために、 2 へッ ド又 はそれ以上のヘッ ドを備えた、 いわゆるマルチヘッ ドタイ プのチッ プボ ンディ ング装置である。 第 5 図は第 2実施例に係るマルチへッ ドタイ プ のチッ プボンディ ング装置の正面図、 第 6 図はその側面図である。
このチップボンディ ング装置は、 複数個の加圧シリ ンダー 3 を昇降変 移可能に支持する第 1 の支持機構 3 0 と、 この第 1 の支持機構 3 0 とは 分離独立しており, 各加圧シリ ンダー 3 の作動によ り各へッ ド 1 が基板 2 に向けて同時に加圧されたときに、 各加圧シリ ンダー 3 に作用する反 力を支持する第 2 の支持機構 3 1 とを備えている。
第 1 の支持機構 3 0 は、 固定されたヘッ ド支柱 3 2 と、 このヘッ ド支 柱 3 2 に昇降自在に取り付けられると ともに、 各加圧シリ ンダー 3 を昇 降変移可能に支持する昇降部材 3 3 とを備える。 具体的には、 ヘッ ド支 柱 3 2 に鉛直方向にガイ ド レール 3 4が配設され、 このガイ ド レール 3 4 に可動部材 3 5 が摺動自在に嵌合し、 この可動部材 3 5が昇降部材 3 3 に連結している。 また, 昇降部材 3 3 にも同様に、 各加圧シリ ンダー 3 に対応して複数個のガイ ド レール 3 6 が配設され、 各ガイ ド レール 3 6 に可動部材 3 7 が摺動自在に嵌合し、 これらの可動部材 3 7 が各加圧 シリ ンダー 3 に連結している。 なお、 各加圧シリ ンダー 3 のロッ ド 3 a の中間部材は, 昇降部材 3 3 に立設されたガイ ド部材 3 8 に案内されて いる。
第 2 の支持機構 3 1 は、 固定されたフ レーム 3 9 と、 このフ レーム 3 9 に連結された第 1 の反力受け部材 4 0 と、 この第 1 の反力受け部材 4 0 に昇降自在に支持される とともに、 昇降部材 3 3 に点接触ないしは線 接触で連結され、 かつ昇降部材 3 3 に配設された複数個の加圧シリ ンダ 一 3 に接触する第 2 の反力受け部材 4 1 とを備えている。 具体的には、 第 2 の反力受け部材 4 1 の両端部に立設されたガイ ドポス ト 4 2 が第 1 の反力受け部材 4 0 に配設されたガイ ド部材 4 3 に鉛直方向に案内され ている。 第 2 の反力受け部材 4 1 の下面中央部に略 Lの字状の係止片 4 4が連結されてお り、 この係止片 4 4が昇降部材 3 3 に回動自在に取り 付けられた一対のローラ 4 5 に挟持されるこ とによ り, 第 2 の反力受け 部材 4 1 が昇降部材 3 3 に点接触ないしは線接触状態で連結されている 。 また, 昇降部材 3 3 を各加圧シリ ンダー 3 と一体に昇降させるァクチ ユエ一夕 (駆動手段) 4 6 が第 1 の反力受け部材 4 0 に配設されており 、 このァクチユエ一夕 4 6 の駆動軸 4 6 aが第 2 の反力受け部材 4 1 に 連結している。 ァクチユエ一夕 4 6 としては、 例えばェアーシリ ンダや サ一ボモータが用いられる。
次に第 2実施例装置の動作を説明する。
初期状態において、 各加圧シリ ンダー 3 は昇降部材 3 3 と一体に、 上 限位置にまで引き上げられている。 チッ プの実装開始に伴い、 ァクチュ エー夕 4 6が作動して、 各加圧シリ ンダー 3 は昇降部材 3 3 と一体に下 降する。 へッ ド 1 がテーブル 6上の所定高さ位置にまで下降したときに 、 ァクチユエ一タ 4 6 による下降移動が停止する。 続いて、 各加圧シリ ンダ一 3が同時に作動して、 各へッ ド 1 を基板に向けて加圧する ことに よ り、 チップを各基板 2上に同時に圧着する 本実施例は、 原理的には、 第 1 実施例で説明した 1 ヘッ ドの場合と同 様に, へッ ド 1 及び加圧シリ ンダー 3 を支える第 1 の支持機構 3 0 と、 各加圧シリ ンダー 3 の反力を支持する第 2 の支持機構 3 1 とを分離独立 して構成し、 第 1 実施例と同様の効果を得ている。
第 1 実施例の 1 ヘッ ドタイプの装置においては、 第 3 図に示したよう に、 反力受け部材 1 1 の Y方向のたわみだけ考慮すれば良かったが、 第 2実施例のよ うなマルチヘッ ドタイ プの装置においては、 X方向 (へッ ド並列方向) のたわみも考慮するのが好ま しい„ そこで, 第 2実施例で は, 第 1 の反力受け部材 4 0から上下方向にスライ ドガイ ドされた第 2 の反力受け部材 4 1 を昇降部材 3 3 に対して中央で点接触ないしは線接 触状態で結合させる と ともに、 昇降部材 3 3 を昇降変移可能に構成して いる。 また、 各加圧シリ ンダー 3 と第 2 の反力受け部材 4 1 とを、 第 1 実施例と同様に, 球面状の接点 1 2 を介して接触させている。
したがって, 第 2実施例によれば、 チップの圧着時に各加圧シリ ンダ 一 3 に作用する反力、 特に Y方向の撓みを生じさせる反力は、 第 2 の反 力受け部材 4 1 およびァクチユエ一夕 4 6 の駆動軸 4 6 a を介して、 第 1 の反力受け部材 4 0 に伝達され、 この第 1 の反力受け部材 4 0 で支持 される (第 6 図参照 上述したよう に第 1 の支持機構 3 0 と第 2 の支 持機構 3 1 とは分離独立しており, また、 第 2 の反力受け部材 4 1 と各 加圧シリ ンダー 3 とは球面状接点 1 2 を介して接触しているので、 上記 反力によってへッ ド支柱 3 2が Y方向に撓むことはない。
—方、 チップ圧着時における各へッ ド 1 の加圧力にばらつきがあると , 各加圧シリ ンダー 3 に作用する反力もばらつく ので、 結果と して、 各 加圧シリ ンダー 3間に X方向の撓みを生じさせる反力が作用する。 各加 圧シリ ンダー 3 は昇降変移可能であるので、 前記反力は第 2 の反力受け 部材 4 1 に作用する。 この反力を受けた第 2 の反力受け部材 4 1 は、 第 5 図に示すよ う に, X方向に撓むが, 第 2 の反力受け部材 4 1 と昇降部 材 3 3 は点接触で連結されているので、 この連結部分に曲げモーメ ン ト は作用しない" また、 各加圧シリ ンダー 3 は昇降部材 3 3 に対して昇降 変移可能で, かつ第 2 の反力受け部材 4 1 と各加圧シリ ンダー 3 とは球 面状接点 1 2 で接触しているので、 第 2 の反力受け部材 4 1 が X方向に 橈んでも、 各加圧シリ ンダー 3 に曲げモーメ ン トが作用 しない。 したが つて、 昇降部材 3 3 が X方向に撓むこ とはない。
以上のよう に, 本実施例装置によれば、 マルチヘッ ドタイ プのチッ プ ボンディ ング装置において、 各へッ ド 1 とテーブル 6 との間にブレゃ平 行度のく るいが生じる こ とがなく , 複数個のチッ プを同時に的確に基板 上に圧着する こ とができる。
なお, 本発明は A C F工法に限らず、 種々 のフ リ ッ プチッ プ工法に適 用可能である。 すなわち、 チップを基板上に直接に実装するフ リ ツ プチ ップ工法おいては, 基板上の電極チップ上にチップのバンプ (電極) を 圧着するため、 チップの全範囲で、 数マイ ク ロメー トルオーダーの平行 度が必要となり 、 ヘッ ドにモーメ ン トが加わわらなく 、 且つ、 平行度に く るいが生じない本方式が有効である。 産業上の利用可能性
以上のよう に, 本発明は. チッ プを保持するヘッ ド と、 基板を保持す るテーブルとの間に、 ブレゃ平行度のく るいが生じないので、 チッ プを 基板上に圧着するフ リ ップチップ工法に有用である。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 基板上にチップを圧着するチッ プボンディ ング装置であって、 チッ プを保持するへッ ド と、 前記へッ ドを基板に向けて加圧する加圧 シリ ンダ一と、 前記加圧シリ ンダーを昇降変位可能に支持する第 1 の支 持機構と、 前記ヘッ ドを基板に向けて加圧したときに、 前記加圧シリ ン ダ一に作用する反力を支持する、 前記第 1 の支持機構とは分離独立した 第 2 の支持機構とを備えたこ とを特徵とするチップボンディ ング装置。
2 . 請求項 1 に記載のチップボンディ ング装置において,
前記第 2 の支持機構は, 前記加圧シリ ンダーに接触する こ とによ り 、 前記加圧シリ ンダ一に作用する反力を支持するチップボンディ ング装置
3 . 請求項 2 に記載のチップボンディ ング装置において、
前記第 2 の支持機構は、 前記加圧シリ ンダ一に点接触で接触するチッ プボンディ ング装置。
4 . 請求項 3 に記載のチップボンディ ング装置において、
前記第 2 の支持機構は、 前記加圧シリ ンダ一に球面状の接点で接触す るチッ プボンディ ング装置。
5 . 請求項 1 に記載のチップボンディ ング装置において、
前記第 1 の支持機構は、 固定されたヘッ ド支柱と、 このヘッ ド支柱に 鉛直方向に配設されたガイ ド レールと、 このガイ ド レールに摺動自在に 嵌合されるとともに、 前記加圧シリ ンダに連結された可動部材とを備え ているチッ プボンディ ング装置。
6 . 請求項 1 に記載のチッ プボンディ ング装置において、
前記第 2 の支持機構は, 固定されたフ レーム と、 この フ レームに連結 された反力受け部材とを備え、 この反力受け部材が前記加圧シリ ンダー に接触する こ とによ り、 前記加圧シリ ンダ一に作用する反力を支持する チップボンディ ング装置。
7 . 請求項 1 に記載のチップボンディ ング装置において,
前記へッ ド と前記加圧シリ ンダ一との組を複数組備えているチッ プボ ンディ ング装置。
8 . 請求項 7 に記載のチップボンディ ング装置において,
前記第 1 の支持機構は, 前記各加圧シリ ンダーを昇降変移可能に支持 し,
前記第 2 の支持機構は, 前記第 1 のま持機構とは分離独立してお り , 前記各へッ ドを基板に向けて同時に加圧したときに、 前記各加圧シリ ン ダ一に作用する反力を支持するチッ プボンディ ング装置。
9 . 請求項 8 に記載のチップボンディ ング装置において、
前記第 1 の支持機構は、 固定されたヘッ ド支柱と、 このヘッ ド支柱に 昇降自在に取り付けられるとともに、 各加圧シリ ンダ一を昇降変移可能 に支持する昇降部材とを備え、
前記昇降部材を各加圧シリ ンダと一体に昇降させる駆動手段を備えて いるチップボンディ ング装置。
1 0 . 請求項 9 に記載のチップボンディ ング装置において、 前記第 2 の支持機構は、 固定されたフ レーム と, このフ レームに連結 された第 1 の反力受け部材と, この第 1 の反力受け部材に昇降自在に支 持されるとともに、 前記昇降部材に点接触ないしは線接触で連結され, かつ前記昇降部材に配設された各加圧シリ ンダーに接触する第 2 の反力 受け部材とを備え、 さ らに、 前記昇降部材の駆動手段は, 前記第 1 の反 力受け部材に取り付けられており、 この駆動手段の駆動軸が前記第 2 の 反力受け部材に速結しているチップボンディ ング装置。
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