WO2000045433A1 - Mecanisme de maintien de contacteur, et mecanisme de changement automatique dudit contacteur - Google Patents

Mecanisme de maintien de contacteur, et mecanisme de changement automatique dudit contacteur Download PDF

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WO2000045433A1
WO2000045433A1 PCT/JP2000/000442 JP0000442W WO0045433A1 WO 2000045433 A1 WO2000045433 A1 WO 2000045433A1 JP 0000442 W JP0000442 W JP 0000442W WO 0045433 A1 WO0045433 A1 WO 0045433A1
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contactor
holding
latch
frame
holding mechanism
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PCT/JP2000/000442
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Shinji Iino
Junichi Hagihara
Kiyoshi Takekoshi
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Tokyo Electron Limited
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Definitions

  • the present invention relates to a contactor holding mechanism and an automatic contactor exchange mechanism in an inspection device. More specifically, a contact holding mechanism and a contactor used for inspecting electrical characteristics of an object to be processed such as an ultra-highly integrated semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a “wafer”).
  • the automatic exchange mechanism is a contact holding mechanism and a contactor used for inspecting electrical characteristics of an object to be processed such as an ultra-highly integrated semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a “wafer”).
  • This inspection apparatus receives a wafer w from the loader chamber 1 for pre-aligning the wafer W while transferring the wafer w, and receives the wafer w from the loader chamber 1. It has a prober room 2 for electrical characteristics inspection.
  • the loader room 1 is provided with a pin set 3 and a sub chuck 4. While the wafer W is transported by the pin set 3, the wafer W is pre-aligned in the sub chuck 4 based on the orientation flat.
  • the prober room 2 is provided with a main chuck 5 and an alignment mechanism 6.
  • the main chuck 5 on which the wafer w is placed is moved in the X, Y, and 0 directions by the force S and cooperates with the alignment mechanism 6 to move the wafer w to the main chuck 5.
  • the probe 5A rises in the main force direction, and the probe 7A electrically contacts the electrodes of the integrated circuit formed on the wafer w . Integration formed on wafer W via test head T The electrical characteristics of the circuit are inspected.
  • the probe force 7 is detachably attached to a performance board mounted on a head plate 8 of the prober room 2.
  • the probe card 7 includes a plurality of probes 7 A made of, for example, tungsten,
  • a frame-shaped support portion (not shown) for supporting these probes 7A, and a printer to which this support portion is fixed and connected to each probe 7A, respectively. And a printed wiring board having printed wiring.
  • the probe card 7 is replaced and used according to the type of the wafer W.
  • the conventional probe card 7 has a probe 7
  • the probe card 7 is large because it has a board such as a large-area printed wiring board in addition to A. In the future, as the integration of devices progresses and the number of probe needles increases, the probe card 7 will become larger and heavier. Therefore, it becomes increasingly difficult to automatically change the probe card 7 for each type of wafer.
  • Inspection accuracy may be reduced due to the difference in physical characteristics between the probe 7A and the wiring of the printed wiring board and the influence of the wiring length.
  • bump-type contactors have been developed to cope with the narrower electrode pads of integrated circuits.
  • handling of such contactor replacement methods is still undeveloped and is an issue for the future.
  • the present invention has been made to solve the above problems.
  • the present invention can hold a contactor having a large number of bump-type probes formed thereon in a detachable manner, and at the same time, can increase the inspection accuracy.
  • the purpose is to provide a mechanism.
  • the present invention also provides an automatic contacting device that can automatically replace a contactor with respect to a contact holding mechanism, thereby increasing inspection throughput. It aims to provide a mechanism.
  • a contactor a frame fixed to a board, a plurality of latch mechanisms for holding the contactor inside the frame, the latch
  • a contactor holding mechanism in an inspection device comprising: a suction fixing mechanism for fixing the contactor held by the mechanism in the frame body by a vacuum suction force.
  • the board is a performance board of an inspection device.
  • the frame is preferably a ring-shaped frame.
  • the latch mechanism has a latch ball and an elastic member for elastically supporting the latch ball, and the contactor has a peripheral surface thereof. It preferably has a plurality of recesses for engaging with the latch ball.
  • the latch mechanism has a latch member that can protrude and retract, and a latch operating mechanism that protrudes and retracts the latch member.
  • the contactor is It is preferable to have a plurality of engaging portions on the peripheral surface for engaging with the latch member.
  • the contactor has a plurality of hook-shaped protrusions on its peripheral surface
  • the latch mechanism has a plurality of hook-shaped protrusions on the contactor. It is preferable that a latch member to be engaged and a latch operating member to release the engagement of the latch member be provided.
  • the latch mechanism includes a latch member that supports the contactor on a lower surface thereof, and a retractable member that retreats the latch member from the lower surface of the contactor. And a latch operating member for releasing the support of the contactor.
  • an interface provided in the frame for electrically connecting the performance board to the contactor. It is preferable to have a baseboard.
  • a holding mechanism that detachably holds the contactor
  • the delivery mechanism includes: at least one arm movably provided; and a holding portion that detachably holds at least one contactor provided on the arm.
  • An automatic exchange mechanism of the contactor in the equipped inspection equipment will be provided.
  • the contact holding mechanism is preferably a contact holding mechanism provided according to the first aspect.
  • the arm of the transfer mechanism is provided so as to be capable of turning and moving up and down.
  • the holding section of the delivery mechanism holds the contactor in a detachable manner by a vacuum suction force.
  • a plurality of holding portions in the transfer mechanism are arranged in an arc shape according to the turning direction.
  • a contactor, a device, a device, a device, or the like Means for holding a contactor having a frame fixed to a form board, a plurality of latching means for holding the contactor inside the frame, and the latching means
  • a holding mechanism for the contactor in the inspection apparatus comprising: a suction fixing means for fixing the contactor held in the frame body by the vacuum suction force.
  • a contact holding mechanism comprising:
  • An adsorption fixing mechanism for fixing the contactor held by the latch mechanism in the frame body by a vacuum adsorption force;
  • An interface board provided in the frame for electrically connecting between the performance board and the contactor;
  • a contactor automatic exchange mechanism comprising:
  • An arm rotatably and vertically movable for transferring the contact to and from the holding mechanism; and at least one contactor provided to the arm.
  • a transfer mechanism having a holding part for detachably holding the contactor by a vacuum suction force, and an automatic contactor exchange mechanism.
  • FIG. 1 is a side view showing an essential part of one embodiment of a holding mechanism of the present invention in a cutaway manner.
  • FIG. 2 is an enlarged sectional view showing the holding mechanism and the delivery mechanism shown in FIG.
  • FIG. 3A is a plan view for explaining the operation of the delivery mechanism in the automatic exchange mechanism.
  • FIG. 3B is a side view showing the automatic exchange mechanism of FIG. 3A.
  • FIG. 4 is a sectional view showing another embodiment of the automatic exchange mechanism of the present invention.
  • FIG. 5 is a sectional view showing another embodiment of the automatic exchange mechanism of the present invention.
  • FIG. 6 is a plan view showing a delivery mechanism of another embodiment of the automatic exchange mechanism according to the present invention.
  • FIG. 7A and 7B are diagrams showing another embodiment of the holding mechanism of the present invention.
  • FIG. 7A is a cross-sectional view of a main part showing a state where the contactor is held by the holding mechanism. It is a figure.
  • FIG. 7B is a plan view from below schematically showing a state in which the contactor is held by the holding mechanism shown in FIG. 7A.
  • FIG. 8A and 8B are views showing the operation of the main part of another embodiment of the holding mechanism of the present invention
  • FIG. 8A is a view showing a state immediately before the contact is held by the holding mechanism.
  • FIG. 3 is a side view showing a part of the state in a broken state.
  • FIG. 8B is a plan view in the direction of arrow B in FIG. 8A.
  • FIG. 9A, 9B, and 9C are diagrams showing the operation of the main part of another embodiment of the holding mechanism of the present invention.
  • FIG. 9A shows the state immediately before the contact is held by the holding mechanism.
  • FIG. 3 is a side view showing a part of the state in a broken state.
  • FIG. 9B is a cross-sectional view in the direction of arrow B in FIG. 9A, and
  • FIG. 9C is a view showing a state where the contactor is removed from the holding mechanism.
  • FIG. 10 is a partial cross-sectional view showing an example of a conventional inspection apparatus.
  • FIG. 11 is a plan view showing the inside of the inspection apparatus shown in FIG.
  • FIGS. 1 and 2 show examples of the contact holding mechanism (hereinafter simply referred to as “holding mechanism”) 10 of the present embodiment.
  • the frame 11 that accommodates and holds the reactors 12 is fixed to a board (eg, a performance board of a probe device) P.
  • the frame 11 is preferably formed in a ring shape according to the outer shape of the contactor.
  • a plurality of latch mechanisms 13 are mounted on the inner peripheral surface of the frame 11. This latch mechanism holds a contactor 12 housed inside the frame 11.
  • the contactor 12 held by the latch mechanism 13 is fixed in the frame body 11 by the vacuum suction force formed by the suction fixing mechanism 14.
  • the interface board 15 electrically connects a plurality of terminal electrodes (not shown) of the contactor 12 fixed by the suction fixing mechanism 14 to the performance board P. .
  • the probe 12A of the contactor 12 and the electrode pad (not shown) of the device formed on the wafer W make electrical contact.
  • the device and the test head T are electrically connected via the compliance board P and the probing R, and the electrical characteristics of the device are inspected.
  • the peripheral portion of the interface board 15 may be supported by a step 11A formed on the inner peripheral surface of the frame body 11. it can.
  • the above-mentioned contactor 12 has a plurality of probes 12A and ceramics such as an anodized aluminum nitride in a size of several 10 mm square.
  • the formed main body 12B and a terminal electrode (not shown) connected to each probe 12A are provided on the upper surface of the main body 12B.
  • Probe 12A can be arranged in a matrix on body 12B.
  • the bumps can be formed corresponding to the electrode pads of the device by a CVD method or the like. This probe 12A can cope with a case where the electrode pad is narrowed in the future.
  • a plurality of recesses 12 C corresponding to the latch mechanism 13 are formed on the peripheral surface of the main body 12 B.
  • the above-mentioned latch mechanism 13 can be attached to the inner peripheral surface of the frame 11 at equal intervals in the circumferential direction.
  • the latch mechanism includes a latch ball 13A that elastically fits into a plurality of recesses 12C formed on the peripheral surface of the contactor 12, and a latch ball 13A that elastically fits the latch ball 13A.
  • the spring 13B can be provided with a specially supported spring.
  • the latch ball 13A does not necessarily have to be a pole, and may be any protrusion that fits into the recess 12C.
  • the suction fixing mechanism 14 includes a through-hole 11 B penetrating the peripheral surface of the frame 11, and a vacuum pump 11 C connected to the through-hole 11 B via a connector 14 A. Can be provided.
  • the vacuum suction force formed by exhausting the air in the frame 11 on which the contactor 12 is mounted by the vacuum pump is cooperated with the latch mechanism 13. Hold contactor 12 securely in frame 11.
  • Vacuum exhaust line 11D is switched from vacuum pump to atmosphere
  • the contactor 12 is removed from the frame 11 force, the space between the frame 11 and the contactor 12 is returned to normal pressure. Even when the pressure inside the holding body 11 is returned to normal pressure, the contactor 12 is held by the latch mechanism 13 so that the contactor 12 does not drop. .
  • the automatic switching mechanism of the contactor of the present embodiment (hereinafter, simply referred to as “automatic switching mechanism”) 20 is the holding mechanism as shown in FIGS. 2 and 3A and 3B. 10 and a transfer mechanism 16 can be provided. According to the transfer mechanism 16, the contactor 12 is transported to the holding mechanism 10, and the contactor 12 is automatically exchanged with the holding mechanism 10. Can be done. Since the holding mechanism 10 has been described above, only the transfer mechanism 16 will be described.
  • the delivery mechanism 16 includes a movable arm 18 and a holding unit 17 that holds a contactor 12 provided in the arm. The arm can be turned and moved up and down, and the arm is turned and moved up and down by an arm drive unit 19 (see FIG. 13B).
  • the suction holding portion 17 is formed by a frame-like projection 17A that supports the peripheral green portion of the contactor 12 and a seal member 17B on the upper surface of the frame-like projection 17A. be able to.
  • the probe 12A of the contactor 12 fits into the space inside the frame-shaped projection 17A so as not to be damaged.
  • the arm 18 has an exhaust passage 18A that opens at the center of the inside of the frame-shaped projection 17A, and the exhaust passage 18A is connected to a vacuum pump 18C.
  • the exhaust passage 18A is switched to the atmosphere.
  • the space between the frame-shaped projection 17A and the contactor 12 is returned to normal pressure, so that the vacuum suction force is eliminated.
  • the contactor 12 By driving the vacuum pump with the contactor 12 placed on the suction holding part 17, the contactor 12 is fixed on the frame-shaped projection 17 A, and the vacuum By opening the exhaust line to the atmosphere, the contactor 12 can be freely removed from the frame-shaped projection 17A.
  • the arm driving section 19 includes a driving rod 19A connected to the base end of the arm 18 and the driving rod 19A. And a drive source 19B for turning and raising / lowering the device.
  • the arm drive unit 19 can be provided at a corner in the inspection apparatus main body.
  • the contactor 12 When the contactor 12 is mounted on the inspection device, the contactor ⁇ 2 is placed on the suction holding portion 17 of the automatic exchange mechanism 20. Under the control of the control device, the vacuum pump of the transfer mechanism 16 is driven, and the air in the space formed by the contactors 12 and the frame-shaped projections 17A is exhausted, and the vacuum is adsorbed. A force is formed. Due to this vacuum suction force, the contactor 12 is held in the frame-shaped projection 17A. At this time, the contactor 12 is pressed onto the sealing member 17B, the space in the frame-shaped projection 17A is maintained in a reduced pressure state, and the contactor 12 is held by suction. Secured on part 17
  • the drive rod 19A and the arm 18 are rotated counterclockwise by the arm drive unit 19.
  • the holding section 17 is turned from the position indicated by the solid line on the front side of the inspection device to the position indicated by the broken line just below the holding mechanism 10 and stopped at this position.
  • the arm 18 is raised, the contactor 12 is inserted into the holder 11 of the holding mechanism 10, and the contactor 12 is held by the latch mechanism 13.
  • Drive rod 19 A is stopped.
  • the vacuum pump 18C of the transfer mechanism 16 is stopped, and the space formed by the contactor 12 and the frame-shaped projection 17A is opened to the atmosphere. As a result, the contactor 12 can be freely removed from the holding portion 17.
  • the vacuum pump of the holding mechanism 10 is driven, the air in the frame 11 is exhausted and reduced in pressure. As a result, the contactor 12 is adsorbed and fixed in the frame 11.
  • the arm 18 of the transfer mechanism 16 is lowered, and the arm 18 is separated from the holding mechanism 10 and returns to the initial position.
  • the inspection device 100 the electrical characteristics of the wafer W are inspected. It is desirable that the vacuum pump of the holding mechanism 10 keeps driving during the inspection, so that the contactor 12 is securely fixed.
  • the used contactor 12 is replaced with the next contactor 12.
  • the transfer mechanism 16 operates as described above, and the holding unit 17 moves from the front of the detection device to just below the holding mechanism 10. Arm 18 rises Then, the vacuum pump is driven in a state where the contactor 12 is in contact with the holding portion 17, and the contactor 12 is vacuum-sucked to the holding portion 17.
  • the contactor 12 is held only by the latch mechanism 13.
  • the contactor 12 is held by the suction holder 17 by the transfer mechanism 16.
  • Arm 18 descends and disengages from holding mechanism 10.
  • the arm 18 is turned clockwise by the arm drive unit 19 and returned to the initial position.
  • the next contactor 12 is attached to the suction holding section 17 of the transfer mechanism 16.
  • the transfer mechanism 16 passes the contactor 12 to the holding mechanism 10 to complete the automatic exchange, and the arm 18 is returned to the initial position.
  • the holding mechanism 10 of the present embodiment is provided on the frame 11 attached to the performance board P and on the inner peripheral surface of the frame 11. And a suction fixing mechanism 14 for holding the contactor 12 held by the latch mechanism 13 by a vacuum suction force.
  • the bump type contactor 12 which will become the mainstream in the future, can be detachably held, and automatic replacement of the contactor 12 can be realized. Since the wiring length from the contactor 12 to the test head T is much shorter than before, it depends on the wiring length between the contactor 12 and the test head T. Impacts can be reduced and inspection accuracy can be increased.
  • the latch mechanism 13 of the present embodiment can be mounted at equal circumferential intervals on the inner peripheral surface of the holder 11.
  • the latch mechanism 13 has a plurality of recesses 12 C formed on the peripheral surface of the contactor 12.
  • the contactor has a simple structure having a latch ball 13A that fits elastically and a spring 13B that elastically supports each of the latch balls 13A. 12 can be detachably held by the frame 11. Even in the event of an accident, the contactor 12 can be reliably prevented from dropping.
  • the interface board 15 for connecting the performance board P and the contactor 12 is provided in the holder 11 so that The contactor 12 can be reliably connected to the ⁇ -form board P, and the test head T and the wafer W can be reliably connected.
  • the automatic exchange mechanism 20 of the present embodiment is provided with a suction holding section 17 for sucking and holding the contactor 12 and a delivery mechanism 16, so that the holding mechanism 10 has the same structure as the holding mechanism 10.
  • the contactor 12 can be easily and automatically exchanged, and the throughput of the inspection can be increased.
  • FIGS. 4 and 5 show another embodiment of the present invention. In the holding mechanism and the automatic exchange mechanism shown in FIG. 4, the interface board 15 shown in FIGS. 1 and 2 is omitted.
  • the holding mechanism and the automatic exchange mechanism shown in FIG. 5 are configured according to the embodiments shown in FIGS. 1 to 3 except that the structure of the delivery mechanism 16 is different.
  • a step 17B is formed on the inner peripheral surface of the frame-like projection 17A of the suction holding section 17 shown in FIG.
  • the opening of the frame-shaped projection 17A is formed in a size to receive the contactor 12, and the contactor 12 is supported on the step 17D.
  • the step 17D is preferably provided with a seal member 17C. This seal member The airtightness of the contactor 12 when vacuum-sucking the contactor 12 is maintained by 17C.
  • FIG. 6 shows a transfer mechanism 16 that holds a plurality of (eg, three) contactors 12 at the same time.
  • this transfer mechanism 16 as shown in the figure, for example, three suction holding portions 17 are arranged along an arc on an arc-shaped plate.
  • a line (center line) C passing through the center in the width direction of the arc-shaped plate is coincident with the trajectory around which the center of the contactor 12 turns.
  • Three suction holding portions 17 are arranged on the center line C. This arrangement is preferably arranged equidistant from each other.
  • each contactor 12 is positioned directly below the holding mechanism and is always oriented in a certain direction as shown by the broken line in FIG. 3A. Become.
  • one delivery mechanism 16 can hold a plurality of contactors 12 at a time, and a plurality of The contactors 12 can be changed continuously and automatically without manual intervention, and a further improvement in the inspection throughput can be achieved.
  • the suction holding section 17 itself is configured in accordance with those shown in FIGS.
  • FIG. 7 shows another embodiment of the contact holding mechanism of the present invention.
  • the holding mechanism 30 of this embodiment bear comprises a holder 31 fixed to the performance board P of the probe device, and a holder 31.
  • a latch mechanism 33 attached to the latch mechanism 33 for holding the contactor 32 from the periphery thereof;
  • the suction and fixing mechanism 34 that fixes the contactor 32 held by the latch mechanism 33 of the above by vacuum suction force, and the contactor 3 that is fixed by the suction and fixing mechanism 34 2 and an interface board 35 for relaying the connection with the form board P.
  • the contactor 32 is electrically connected to the "formerance board P" through the interface board 35.
  • Both the control board P and the interface board 35 can be configured in the same manner as in the above embodiment.
  • the holder 31 can be a ring-shaped plate having a large opening at the center thereof.
  • An interface board 35 can be placed in this opening.
  • a latch mechanism 33 described below is attached to the holder 31.
  • the contactor 32 has a plurality of probes 32A, and these probes 32A are formed in a matrix. It has a contact body 32B and a terminal electrode 32 formed on the upper surface of the contact body 32B.
  • the probe 32A can be made to have a bump structure arranged in accordance with the arrangement of the electrode pads of the device, for example, by a method such as a CVD method.
  • the contact body 32B which can cope with the electrode pad of a device to be narrowed in the future, is formed integrally with the frame 32D. .
  • a plurality of positioning projections to be fitted into the positioning holes 31B of the holder 31 for mounting the contactor 32 to the holder 31 are provided on the outer peripheral green portion of the upper surface of the frame 3D. 3 2 E is formed. This These positioning projections 32E are arranged at equal intervals in the circumferential direction.
  • the latch mechanism 33 is used for temporarily holding the contactor 32 in the holder 31. As shown in FIGS. 7A and 7B, the latch mechanism 33 has a plurality of projections 3 2F formed on the peripheral surface of the contactor 32. 3A and a latch operating member 33B for retracting these latch members 33A from the projections 32F. The contactor is held by the plurality of projections 32F engaging the latch member 33A, and the latch member 33A is retracted from the force of the projection 32F. Thus, the holding is released.
  • the latch member 33A is mounted on a cylinder 33C having a built-in spring cone as shown in FIG. The latch member 33A is always urged outward from the cylinder 33C by a spring.
  • the latch member 33A and the latch operating member 33B can be connected via, for example, a wire 33D.
  • the latch member 33 A is made to protrude from the cylinder 33 C by the latch operating member 33 B.
  • the latch member 33 A is drawn into the cylinder 33 C by the latch operating member 33 B.
  • the latch operation member 33 B shown in the figure is of a manual type.
  • the latch operation member 33B can be automated.
  • 33 E is a guide roller that guides the tire.
  • the suction fixing mechanism 34 is connected to a through hole 34 A penetrating the holder 31 and the performance board P via a connector 34 B.
  • Vacuum pump 34 E connected and frame 3 of contactor 32 above
  • the evacuation line 34 D of the suction fixing mechanism 34 can be configured to be switched from a vacuum pump to the atmosphere. When the contactor 32 is removed, the evacuation line is switched to the atmosphere side.
  • an automatic exchange mechanism configured according to the automatic exchange mechanism shown in FIGS. 3 to 6 can be used.
  • the contactor 32 is transported to a position directly below the holding mechanism 30 by the automatic exchange mechanism.
  • the contactor 32 is lifted up to the holder 31, and when the seal member 34 C comes into contact with the holder 31, the latch mechanism 33 operates.
  • the latch member 33A is protruded from the cylinder 33C by the wire 33D, and engages with the projection 32F to prevent the contactor 32 from dropping. .
  • the adsorption and fixing mechanism 34 is activated, and the contactor 32 is strongly attracted to the holder 31 side, so that the terminal electrode of the contactor and the interface board 35 are securely connected electrically. And it is ready for inspection.
  • the contact 32 is replaced after the inspection is completed, the contact 32 is replaced by the reverse operation. In this embodiment, the same operation and effect as those of the above embodiments are achieved.
  • FIG. 8 shows another embodiment of the present invention.
  • the holding mechanism is different from the mechanism shown in FIG. 7 in the latch mechanism.
  • the latch mechanism 43 in the holding mechanism 40 of the present embodiment is different from the mechanism shown in FIG. 8A.
  • the latch member 43A attached to the frame (holding member) 41 and the latch operation member 43B are provided.
  • the latch member 43A engages with a plurality of hook-shaped projections 42F formed on the peripheral surface of the contactor 42.
  • the latch operation member 43B retreats the latch member 43A from the hook-shaped projection 42F to release the contactor 42.
  • the latch member 43A can be a wide plate-like member having a hook at the tip as shown in FIG.
  • the base end of the plate-like member is connected to a four part 41 C formed on the holder 41 by a pin.
  • the two sides near the lower part of the latch member 43 shown in FIGS. A and ⁇ are connected to the holder 41 by springs 43 C, and these springs 43 are provided. 3 C elastically urges the hook of the latch member 43 ⁇ toward the holder 41 side.
  • the tip of the latch member 43A and the latch operating member are connected via wires 43D.
  • the tip of the latch member 43A is piled by the spring force of the spring 43C via the latch operating member, and is separated from the holder 41C.
  • the tip of the hook of the latch member 43A has a tapered surface, and has a structure in which the hook-shaped projection 42F of the contactor 42 can easily enter.
  • contactor 42 is lifted up to the holder by the automatic exchange mechanism.
  • the hook-shaped projection 42F of the contactor 42 ascends in the recess formed by the tapered surface at the tip of the latch member 43A and the holder 41.
  • the latch member 43A is piled on the spring force of the spring 43C and Pushed in the direction of arrow Y.
  • the spring 43C acts to connect the two members 43F and 43A. if then, dropped co printer Selector Selector 4 2 is prevented.
  • the adsorption and fixing mechanism see Fig.
  • FIG. 9 shows still another latch mechanism.
  • the latch mechanism of the holding mechanism 50 of the present embodiment has an L-shaped side surface for supporting the contactor 52 from below. It has a latch member 53A and a latch operation member 53B.
  • the latch operation member 53B releases the contactor 52 by retracting the latch members 53A from the lower surface force of the contactor 52.
  • the latch member 53A can be a wide plate-like member having an L-shaped side surface.
  • the frame (holding body) 51 has a supporting portion 51A protruding toward the contactor 52 side.
  • the latch member 53A is pin-connected to the support portion 51A at an L-shaped corner. A panel member (not shown) is attached to this pin joint.
  • the latch member 53A With this panel member, the latch member 53A is constantly urged in the direction of arrow X in FIG. At one end of the latch member 53A, a wire 53D is used. The latch operation member is connected. With this latch operating member, the wire 53D is pulled in the direction of arrow Y in FIG. The latch member 53A is raised in the direction of the arrow X 'in the drawing against the panel force of the spring, and the counter is held in a state where the other end of the latch member 53A is horizontal.
  • 51 B is a hole formed in the holder 51 for passing the wire 53D.
  • the contactor 52 is lifted to the holder 51 by the automatic exchange mechanism, the latch member 53A is raised by the latch operating member, and the contactor is raised.
  • the outer peripheral edge of the contact 52 is supported by the latch member 53 A, and the contact 52 is prevented from dropping.
  • the contactor 52 is fixed to the holder 51 by the suction and fixing mechanism, and is ready for inspection.
  • the wire 53D is loosened by the latch operating member.
  • the latch member 53A rotates in the direction of the arrow X in FIG. 9A, comes off the contactor 52, and is finally brought into the state shown in FIG. 9C.
  • the present invention is not limited to the above embodiments.
  • the components of the present invention can be appropriately designed and changed as needed.
  • a contactor having a large number of probes such as bump-type probes, can be detachably held, and the inspection accuracy can be improved.
  • a contact holding mechanism is provided that can be elevated.
  • the contactor is automatically mounted on the contactor holding mechanism.
  • An automatic contact replacement mechanism is provided that can be removed and increases inspection throughput.

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Description

明 細 書
コ ンタ ク タ の保持機構及びコ ンタ ク タ の 自動交換機構
技術分野
本発明は、 検査装置における コ ンタ ク タ の保持機構及びコ ンタ ク タ の 自動交換機構に関する。 更に詳 し く は、 超高集積 化 した半導体ウェハ (以下 「 ウェハ」 と称す。 ) 等の被処理 体の電気的特性を検査する際に用い られる コ ンタ ク タ の保持 機構及びコ ンタ ク タの 自動交換機構に関する。
背景技術
従来の検査装置 (例 . プロ ーブ装置) は、 例えば図 1 0 及 び図 1 1 に示される。 こ の検査装置 ( 1 0 0 ) は、 ウェハ w を搬送する 間に ウェハ Wをプ リ ァ ライ メ ン トする ロ ーダ室 1 と 、 こ の ロ ーダ室 1 か ら ウェハ w を受け取って電気的特性検 査行 う プロ ーバ室 2 と を備えている。 ロ ーダ室 1 には ピ ンセ ッ ト 3 及びサブチャ ッ ク 4 が設け られる。 ピ ンセ ッ ト 3 に よ り ウェハ Wが搬送される間に、 サブチャ ッ ク 4 において、 ォ リ エンテーシ ョ ンフ ラ ッ ト を基準に して ウェハ Wはプ リ ァ ラ ィ メ ン ト さ れる。 ま た、 プロ ーバ室 2 にはメ イ ンチャ ッ ク 5 及びァ ラ イ メ ン ト機構 6 が設け られる。 ウェハ w を載置 した メ イ ンチャ ッ ク 5 は、 X、 Y及び 0 方向に移動 しな力 S ら、 ァ ライ メ ン ト機構 6 と 協働 して、 ウェハ w をメ イ ンチャ ッ ク 5 の上方のプロ ーブカー ド 7 のプロ ーブ 7 Aに対 してァ ラ イ メ ン トする。 メ イ ンチャ ッ ク 5 力 方向に上昇 し、 プロ ーブ 7 Aはウェハ w上に形成された集積回路の電極に電気的に接触 する。 テ ス トヘ ッ ド T を介 して ウェハ W上に形成 された集積 回路の電気的特性が検査される。
プロ ーブ力一 ド 7 は、 プロ ーバ室 2 のへ ッ ドプレー ト 8 に 装着 されたパフォーマ ンス ボー ドに対 して着脱可能に取 り 付 け られている。 プロ ーブカー ド 7 は、 例えばタ ングステ ンヮ ィヤーからなる複数のプローブ 7 A と、
これ ら のプ ロ ーブ 7 A を支持す る枠状の支持部 (図示せ ず) と 、 こ の支持部が固定され且つ各プロ ーブ 7 Aにそれぞ れ接続さ れたプ リ ン ト配線を有するプ リ ン ト配線基板 と を備 えている。 プロ ーブカー ド 7 は、 ウェハ Wの種類に応 じて交 換され、 使用 される。
発明の開示
従来のプロ ーブカー ド 7 は、 コ ンタ ク タ である プローブ 7
Aの他に、 大面積のプリ ン ト配線基板等のボー ドを有する た め、 プロ ーブカ ー ド 7 は大きい。 今後、 デバイ ス の高集積化 が進み、 プロ ーブ針の数が増加する に伴っ て、 プロ ーブカー ド 7 は益々 大型化 し、 大重量化する。 こ のた め、 ウェハの種 類毎にプロ ーブカー ド 7 を 自動交換する こ と が益々難 し く な る。
プロ ーブ 7 A と プ リ ン ト配線基板の配線と の間の物理的特 性の違いや配線長の影響に よ り 、 検査精度が低下する虞があ る。 最近では、 集積回路の電極パ ッ ドが狭ピ ッチ化する に対 応する ために、 バンプ型の コ ンタ ク タ が開発 されつつあ る。 しか し、 該コ ンタ ク タ の交換方法等の取 り 扱いについてはい まだ未開発であ り 、 今後の課題である。
本発明は、 上記課題を解決するためにな された。 本発明は、 バンプ型等のプローブが多数形成された コ ンタ ク タ 自 体を着脱可能に保持する こ と ができ る と 共に、 検査精 度を高める こ と ができ る コ ンタ ク タ の保持機構を提供する こ と を 目的と してレ、る。
また、 本発明は、 コ ンタ ク タ の保持機構に対 してコ ンタ ク タ を 自動的に交換 し、 検査のス ループッ ト を高め る こ と がで き る コ ンタ ク タ の 自 動交換機構を提供する こ と を 目 的 と して いる。
本発明の第一の観点に従って、 コ ンタ ク タ 、 ボー ドに固定 された枠体、 該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持する ための 複数のラ ッ チ機構、 該ラ ッチ機構で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸着力に よ り 該枠体内に固定する ための吸着固定 機構、 を備えた、 検査装置におけ る コ ンタ ク タ の保持機構が 提供される。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 該ボー ドは、 検査装 置のパフ ォーマ ンスボー ドである こ と が好ま しい。
こ の コ ン タ ク タ の保持機構において、 該枠体は リ ン グ状の 枠体である こ と が好ま しい。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 該ラ ッチ機構は、 ラ ツチボール と 、 該ラ ツチボールを弾力的に支持する弾性部材 と を有 し、 該コ ンタ ク タ は、 その周面に、 該ラ ッチボールと 係合するための複数の凹部を有する、 こ と が好ま しい。
こ のコ ンタ ク タ の保持機構において、 該ラ ッチ機構は、 突 出及び待避 され得る ラ ッチ部材 と 、 該ラ ッチ部材を突出及び 待避 させる ラ ッチ操作機構 と を有 し、 該コ ンタ ク タ は、 その 周面に、 該ラ ツチ部材と係合する ための複数の係合部を有す る、 こ と が好ま しい。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 該コ ンタ ク タ は、 そ の周面に複数の鈎状突起を有 し、 該ラ ッチ機構は、 該コ ンク ク タ の該鈎状突起に係合する ラ ッ チ部材と 、 該ラ ッチ部材の 該係合を解放する ラ ッチ操作部材 と を具備する、 こ と が好ま しい。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 上記ラ ツチ機構は、 上記コ ン タ ク タ をその下面で支持する ラ ツチ部材 と 、 該ラ ッ チ部材を該コ ンタ ク タ の下面か ら退避させて、 上記コ ンタ ク 夕の支持を解放する ラ ッチ操作部材と を有する、 こ と が好ま しい。
こ の コ ン タ ク タ の保持機構において、 該パフ ォ ーマ ンス ボ ー ドと 上記コ ンタ ク タ と の間を電気的接続するための、 該枠 体内に設け られたイ ン タ ー フ ェースボー ドを有する 、 こ と が 好ま しい。
本発明の第二の観点に従って、
コ ンタ ク タ を着脱可能に保持する保持機構、
該保持機構と の間で該コ ンタ ク タ を受け渡 しする受け渡 し 機構、
該受け渡 し機構は、 移動可能に設け られたすく な く と も一つのアーム、 該アームに設け られた少な く と も一つの 該コ ンタ ク タ を着脱可能に保持する保持部を有する、 を具備する検査装置におけ る コ ンタ ク タ の 自 動交換機構が提 供される。 こ の コ ンタ ク タ の保持機構は、 上記第一の観点に従って提 供される コ ンタ ク タの保持機構である、 こ と が好ま しい。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 該受け渡 し機構にお け る アームは、 旋回及び昇降可能に設け られている、 こ と が 好ま しい。
こ のコ ンタ ク タ の保持機構において、 該受け渡 し機構にお ける保持部は、 コ ンタ ク タ を真空吸着力に よ り 着脱可能に保 持する、 こ と が好ま しい。
こ の コ ンタ ク タ の保持機構において、 該受け渡 し機構にお ける保持部は、 その旋回方向に従って円弧状に複数配置 され ている、 こ と が好ま しい。
本願発明の第三の観点に従って、 コ ンタ ク タ 、 ノ、。フ ォーマ ンス ボー ドに固定された枠体を有する コ ンタ ク タ を保持する ための手段、 該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持する ための 複数のラ ツチ手段、 該ラ ツチ手段で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸着力に よ り 該枠体内に固定する ための吸着固定 手段、 を備えた、 検査装置における コ ンタ ク タ の保持機構が 提供される。
本願発明の第四の観点に従って、
下記を具備する コ ンタ ク タ の保持機構、
パフォーマ ンスボー ドに固定された リ ング状の枠体、 該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持する ための ラ ッチ 機構、
該ラ ッチ機構で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸 着力によ り 該枠体内に固定するための吸着固定機構、 前記パフ ォ ーマ ンスボー ド と 上記コ ンタ ク タ と の間を 電気的接続する ための、 前記枠体内に設け られたイ ンタ ーフ エースボー ド、
及び、 下記を具備する コ ンタ ク タ の 自動交換機構、
前記保持機構 と の間で該コ ンタ ク タ を受け渡 しするた めの、 旋回及び昇降可能に設け られたアーム と 、 前記アーム に設け られた少な く と も一つの、 該コ ンタ ク タ を真空吸着力 によ り 着脱可能に保持する保持部と を有する受け渡 し機構、 を具備する、 コ ンタ ク タの 自動交換機構が提供される。
図面の簡単な説明
添付 した図面は、明細書の一部 と 連携 しかつ一部を構成 し 本発明の好適な実施例を図示する。 そ して、 該図面は上記で 記述 した一般的な記述 と 以下に記述する好適な実施例に関す る詳細な説明 と によ り 、 本発明の説明に資する ものである。
図 1 は、 本発明の保持機構の一実施形態の要部を破断 して 示す側面図である。
図 2 は、 図 1 に示 される保持機構と 受け渡 し機構を拡大 し て示す断面図である。
図 3 A は、 自 動交換機構におけ る受け渡 し機構の動作を説 明するための平面図である。
図 3 B は、 図 3 Aの 自動交換機構を示す側面図である。
図 4 は、 本発明の 自 動交換機構の他の実施形態を示す断面 図である。
図 5 は、 本発明の 自 動交換機構の他の実施形態を示す断面 図である。 図 6 は、 本発明の 自 動交換機構の他の実施形熊の受け渡 し 機構を示す平面図である。
図 7 A , B は、 本発明の保持機構の他の実施形熊を示す図 であ り 、 図 7 A は、 保持機構に よ り コ ンタ ク タ が保持さ れた 状態を示す要部断面図であ る。 図 7 B は、 図 7 A に示される 保持機構に よ り コ ンタ ク タ が保持 された状態を模式的に示す 下方からの平面図である。
図 8 A, B は、 本発明の保持機構の他の実施形熊の要部の 動作を示す図であ り 、 図 8 Aは保持機構に よ り コ ン タ ク タ が 保持される直前の状態の一部を破断 して示す側面図であ る。 図 8 B は、 図 8 Aの矢印 B方向の平面図である。
図 9 A, B, Cは、 本発明の保持機構の他の実施形態の要 部の動作を示す図であ り 、 図 9 Aは保持機構に よ り コ ンタ ク タ が保持 される 直前の状態の一部を破断 して示す側面図であ る。 図 9 B は、 図 9 Aの矢印 B方向の断面図、 図 9 C は、 保 持機構から コ ンタ ク タが外された状態を示す図である。
図 1 0 は、 従来の検査装置の一例を示す部分断面図であ る 図 1 1 は、 図 1 0 に示された検査装置の内部を示す平面図 である。
発明を実施するための最良の形態
以下、 図 1 〜図 9 に示さ れる実施形態に基づいて本発明が 説明 される。 各図において、 説明の便宜上、 検査装置の本体 の説明は省略され、 本発明の要部のみが図示される。
本実施形態の コ ンタ ク タ の保持機構 (以下、 単に 「保持機 構」 と称す。 ) 1 0 の例が、 図 1 及び図 2 に示される。 コ ン タ ク タ 1 2 を収容 し、 保持する枠体 1 1 は、 ボー ド (例 . プ ロ ーブ装置のノ フォーマ ンスボー ド) P に固定される。 こ の 枠体 1 1 は、 コ ンタ ク タ の外形に合わせて、 リ ング状 と され る こ と が好ま しい。 こ の枠体 1 1 の内周面には、 複数の ラ ッ チ機構 1 3 が取 り 付け られる。 こ のラ ッチ機構は、 枠体 1 1 の内側に収容さ れる コ ンタ ク タ 1 2 を保持する。 ラ ッチ機構 1 3 に よ り 保持された コ ンタ ク タ 1 2 は、 吸着固定機構 1 4 に よ り 形成される真空吸着力に よ り 、 枠体 1 1 内に固定され る。 イ ンタ ーフェースボー ド 1 5 は、 吸着固定機構 1 4 に よ り 固定された コ ンタ ク タ 1 2 の複数の端子電極 (図示せず) と パフ ォ ーマ ンスボー ド P と を電気的に接続する。 コ ンタ ク タ 1 2 のプローブ 1 2 A と ウェハ W上に形成 されたデバイ ス の電極パ ッ ド (図示せず) と は電気的に接触する。 イ ンタ 一 フェース ボー ド 1 5 、 ノヽ。フ ォ ーマ ンスボー ド P及びプロ ーブ リ ング R と を介 して、 該デバイ ス と テス トへ ッ ド T と は電気 的に導通 し、 デバイ ス の電気的特性が検査 される。 イ ン タ ー フ ェースボー ド 1 5 の周縁部は、 図 2 に示 される よ う に、 枠 体 1 1 の内周面に形成 された段部 1 1 Aに よ り 支持さ れる こ と ができ る。
上記コ ンタ ク タ 1 2 は、 図 2 に示さ れる よ う に、 複数のプ ロ ーブ 1 2 A と 、 窒化ァノレ ミ ニ ゥ ム等のセ ラ ミ ッ ク スで数 1 O m m角 に形成 された本体 1 2 B と 、 本体 1 2 B の上面に各 プロ ーブ 1 2 Aにそれぞれ接続された端子電極 (図示せず) と を有 してレ、る。 プロ ーブ 1 2 Aは本体 1 2 B にマ ト リ ッ ク ス状に配列 される こ と ができ る。 プロ ーブ 1 2 Aは、 例えば C V D法等に よ り デバイ ス の電極パ ッ ドに対応 してバンプ状 に形成される こ と ができ る。 こ のプロ ーブ 1 2 A は、 電極パ ッ ドが今後狭ピ ッチ化 される場合にも、 対応でき る。 本体 1 2 B の周面にはラ ッ チ機構 1 3 に対応する複数の凹部 1 2 C が形成されている。
上記ラ ッチ機構 1 3 は、 図 2 に示される よ う に、 枠体 1 1 の内周面に周方向等間隔に取 り 付け られる こ と ができ る。 ラ ツチ機構は、 コ ンタ ク タ 1 2 の周面に形成 された複数の凹部 1 2 C に弾力的に嵌合する ラ ッチボール 1 3 A と 、 こ れ ら の ラ ッチボール 1 3 Aをそれぞれ弾力的に支持する スプ リ ング 1 3 B と を有する こ と ができ る。 こ の ラ ッチボール 1 3 Aは 必ず しもポールでな く と も 良 く 、 凹部 1 2 C に嵌合する突起 であればよい。 枠体 1 1 内へコ ンタ ク タ 1 2 が揷入され、 コ ンタ ク タ 1 2 の凹部 1 2 C 力 Sラ ッチボーノレ 1 3 A の位置に到 達 した時点で、 ラ ッチボール 1 3 A は凹部 1 2 C に弾力的に 嵌合する と 共に、 コ ン タ ク タ 1 2 の端子電極はイ ンタ ー フエ ースボー ド 1 5 に圧接され、 テ ス トへ ッ ド T と 導通 された状 態になる。
上記吸着固定機構 1 4 は、 枠体 1 1 の周面を貫通する貫通 孔 1 1 B と 、 該貫通孔 1 1 B に連結具 1 4 A を介 して接続さ れた真空ポンプ 1 1 C を有する こ と ができ る。 真空ポンプに よ って コ ンタ ク タ 1 2 が装着された枠体 1 1 内の空気を排気 する こ と に よ り 形成 される真空吸着力は、 ラ ッチ機構 1 3 と 協働 して コ ンタ ク タ 1 2 を枠体 1 1 内に確実に保持する。 真 空排気ラ イ ン 1 1 D は、 真空ポンプか ら大気へ切 り 換え ら る こ と に よ り 、 枠体 1 1 力 ら コ ンタ ク タ 1 2 を取 り 外す時に、 枠体 1 1 と コ ンタ ク タ 1 2 間の空間は常圧に戻される。 保持 体 1 1 内が常圧に戻 さ れた状態において も、 コ ンタ ク タ 1 2 はラ ッチ機構 1 3 に よ り 保持されてレ、る ため、 コ ンタ ク タ 1 2 は落下 しない。
本実施形熊の コ ンタ ク タ の 自 動交換機構 (以下、 単に 「 自 動交換機構」 と 称す。 ) 2 0 は、 図 2 及び図 3 A, B に示さ れる よ う に、 上記保持機構 1 0 と 、 受け渡 し機構 1 6 と を備 える こ と ができ る。 受け渡 し機構 1 6 に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 は保持機構 1 0 ま で搬送され、 保持機構 1 0 と の間でコ ン タ ク タ 1 2 は自動的に交換される こ と ができ る。 保持機構 1 0 は上述 されている こ と か ら、 受け渡 し機構 1 6 のみ説明 さ れる。 受け渡 し機構 1 6 は、 移動可能なアー ム 1 8 と 、 該ァ ームに設け られた コ ンタ ク タ 1 2 を保持する保持部 1 7 と を 具備する。 該アームは旋回及び昇降可能と される こ と ができ 該アームはアーム駆動部 1 9 (図 1 3 B参照) に よ り 旋回及 び昇降される。
吸着保持部 1 7 は、 コ ン タ ク タ 1 2 の周緑部を支持する枠 状突起 1 7 A と 、 枠状突起 1 7 A の上面の シール部材 1 7 B と に よ り 形成される こ と ができ る。 コ ンタ ク タ 1 2 のプロ一 ブ 1 2 Aは枠状突起 1 7 A内の空間に収ま り 、 傷つかないよ う に されている。 アー ム 1 8 は枠状突起 1 7 Aの内側中央で 開 口する排気通路 1 8 Aを有 し、 こ の排気通路 1 8 Aは真空 ポンプ 1 8 C に接続されている。 コ ンタ ク タ 1 2 が保持機構 1 0 へ引 き渡される時には、 排気通路 1 8 Aは大気へ切 り 換 え られ、 枠状突起 1 7 A と コ ンタ ク タ 1 2 間の空間は常圧に 戻される こ と に よ り 、 真空吸着力は解消 される。 吸着保持部 1 7 上に コ ンタ ク タ 1 2 が載せ られた状態で、 真空ポンプを 駆動する こ と に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 は枠状突起 1 7 A上に 固定され、 真空排気ラ イ ンを大気に開放する こ と によ り コ ン タ ク タ 1 2 は枠状突起 1 7 Aから取 り 外し 自在に される。
上記アーム駆動部 1 9 は、 例えば図 3 A, B に示される よ う に、 アー ム 1 8 の基端部に連結された駆動ロ ッ ド 1 9 A と こ の駆動 ロ ッ ド 1 9 Aを旋回及び昇降 させる駆動源 1 9 B と を有する こ と ができ る。 アーム駆動部 1 9 は、 検査装置本体 内の隅角部に配設される こ と ができ る。 コ ンタ ク タ 1 2 を交 換する際には、 図示 しない制御装置の制御下で、 アー ム 1 8 の先端部分に形成された吸着保持部 1 7 は保持機構 1 0 の真 下ま で旋回 される。 こ の位置でアーム 1 8 は昇降される こ と によ り 、 保持機構 1 0 と の間でコ ンタ ク タ 1 2 は受け渡され る。
以上の装置の動作が説明 される。 コ ンタ ク タ 1 2 が検査装 置に装着 される場合、 自動交換機構 2 0 の吸着保持部 1 7 上 に コ ンタ ク タ 丄 2 は載置される。 制御装置の制御下で、 受け 渡 し機構 1 6 の真空ポンプが駆動 され、 コ ンタ ク タ 1 2 と 枠 状突起 1 7 A と に よ り 形成 された空間の空気は排気され、 真 空吸着力が形成 される。 こ の真空吸着力に よ り 、 枠状突起 1 7 A内に コ ンタ ク タ 1 2 は保持される。 こ の際、 コ ンタ ク タ 1 2 はシール部材 1 7 B 上に押 し付け られ、 枠状突起 1 7 A 内の空間は減圧状態に維持され、 コ ンタ ク タ 1 2 は吸着保持 部 1 7 上に確実に固定される。
図 3 Aに示される よ う に、 制御装置の制御下で、 アーム駆 動部 1 9 に よ り 駆動ロ ッ ド 1 9 A及びアー ム 1 8 は反時計方 向へ回転される。 保持部 1 7 は、 検査装置の正面側の実線位 置か ら保持機構 1 0 の真下の破線位置まで旋回 され、 こ の位 置で停止 される。 アーム 1 8 は上昇さ れて、 コ ンタ ク タ 1 2 は保持機構 1 0 の保持体 1 1 内に挿入 され、 ラ ッチ機構 1 3 によ り コ ン タ ク タ 1 2 は保持され、 駆動ロ ッ ド 1 9 Aは停止 される。
制御装置の制御下で、 受け渡 し機構 1 6 の真空ポンプ 1 8 Cが停止 され、 コ ンタ ク 夕 1 2 と 枠状突起 1 7 Aによ り 形成 された空間が大気に開放さ れる こ と に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 は保持部 1 7 か ら取 り 外 し 自在に される。 一方、 保持機構 1 0 の真空ポンプが駆動 される こ と に よ り 、 枠体 1 1 内の空気 は排気 され減圧 される。 これに よ り コ ンタ ク 夕 1 2 は枠体 1 1 内に吸着固定される。 受け渡 し機構 1 6 のアー ム 1 8 が下 降され、 該アーム 1 8 は保持機構 1 0 から離れ、 初期位置に 復帰する。 検查装置 1 0 0 において、 ウェハ Wの電気的特性 が検査さ れる。 検査中は保持機構 1 0 の真空ポンプは駆動 し 続け る こ と によ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 を確実に固定する こ と が 望ま しい。
種類の異なる ウェハを検査する場合には、 使用済みの コ ン タ ク タ 1 2 は次の コ ンタ ク タ 1 2 と 交換される。 受け渡 し機 構 1 6 が上述 したよ う に稼動 し、 保持部 1 7 が検查装置正面 側か ら保持機構 1 0 の真下まで移動する。 アーム 1 8 が上昇 し、 保持部 1 7 に コ ンタ ク タ 1 2 が接触 した状態で、 真空ポ ンプが駆動 され、 コ ンタ ク タ 1 2 は保持部 1 7 に真空吸着 さ れる。 枠体 1 1 内が大気に開放される と 、 コ ンタ ク タ 1 2 は ラ ッチ機構 1 3 のみに よ り 保持された状態になる。 受け渡 し 機構 1 6 に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 は吸着保持部 1 7 に保持さ れる。 アー ム 1 8 が下降 し、 保持機構 1 0 か ら外れる。 ァー ム駆動部 1 9 に よ り アーム 1 8 は時計方向へ旋回 され初期位 置に戻される。 受け渡 し機構 1 6 の吸着保持部 1 7 に次の コ ンタ ク タ 1 2 が装着 される。 受け渡 し機構 1 6 は、 保持機構 1 0 に コ ンタ ク タ 1 2 を渡 し、 自 動交換を終了 して、 アーム 1 8 は初期位置に戻される。
以上説明 された よ う に、 本実施形態の保持機構 1 0 は、 パ フ ォ ーマ ンスボー ド P に取 り 付け られた枠体 1 1 と 、 こ の枠 体 1 1 の内周面に設け られたラ ッ チ機構 1 3 と 、 こ の ラ ッチ 機構 1 3 で保持 された コ ンタ ク タ 1 2 を真空吸着力に よ り 保 持する吸着固定機構 1 4 と を備えている。 こ の結果、 今後主 流と なるバンプ型コ ンタ ク タ 1 2 は着脱可能に保持さ れる こ と ができ 、 コ ンタ ク 夕 1 2 の 自 動交換が実現される こ と がで き る。 コ ンタ ク タ 1 2 力 らテス トへッ ド T までの配線長が従 来と 比較 して格段に短いため、 コ ンタ ク タ 1 2 と テス トへ ッ ド T間の配線長に よ る影響は低減される こ と ができ 、 検査精 度は高め られる こ と ができ る。
本実施形態のラ ッ チ機構 1 3 は、 保持体 1 1 内周面の周方 向等間隔に取 り 付け られる こ と ができ る。 ラ ッチ機構 1 3 は コ ンタ ク タ 1 2 の周面に形成さ れた複数の凹部 1 2 C に対 し て弾力的に嵌合する ラ ッチボール 1 3 A と 、 これ らのラ ッチ ボール 1 3 Aをそれぞれ弾力的に支持する ス プリ ング 1 3 B と を有する簡単な構造で、 コ ン タ ク タ 1 2 は枠体 1 1 に着脱 自在に保持される こ と ができ る。 万一の場合でも、 コ ンタ ク タ 1 2 の落下は確実に防止される こ と ができ る。
本実施形態において、 パ フ ォ ーマ ンスボー ド P と コ ンタ ク タ 1 2 と を接続する イ ンタ ー フ ェ ース ボー ド 1 5 を保持体 1 1 内に設け る こ と に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 はノ、°フ ォーマ ンス ボー ド P に確実に接続される こ と ができ 、 テス トへッ ド T と ウェハ Wと を確実に接続する こ と ができ る。
本実施形態の 自動交換機構 2 0 は、 コ ン タ ク タ 1 2 を吸着 保持する吸着保持部 1 7 と 、 受け渡 し機構 1 6 を具備する こ と に よ り 、 保持機構 1 0 の コ ンタ ク タ 1 2 を簡単に 自 動交換 する こ と ができ 、 検査のス ループッ ト を高め る こ と ができ る 図 4 及び図 5 には、 本発明の他の実施形態が示 される。 図 4 に示さ れる保持機構及び自動交換機構は、 図 1 及び図 2 に 示さ れる イ ン タ ー フ ェ ースボー ド 1 5 が省略されている。 図 5 に示される保持機構及び自動交換機構は、 受け渡 し機構 1 6 の構造を異にする以外は、 図 1 〜図 3 に示 される実施形態 に準 じて構成されている。
図 5 に示 される吸着保持部 1 7 の枠状突起 1 7 Aの内周面 には段部 1 7 B が形成されている。 枠状突起 1 7 Aの開 口 は コ ン タ ク タ 1 2 を受け入れる大き さ に形成 され、 段部 1 7 D 上に コ ンタ ク タ 1 2 は支持される。 こ の段部 1 7 D にはシー ル部材 1 7 C が設け られる こ と が好ま しい。 こ のシール部材 1 7 C に よ り 、 コ ンタ ク タ 1 2 を真空吸着する時の気密が保 持される。 これ ら両実施形態において も、 図 1 〜 3 の実施形 態と 同様の作用効果が奏される こ と ができ る。
図 6 には、 同時に複数 (例えば、 3 枚) の コ ンタ ク タ 1 2 を保持する受け渡 し機構 1 6 が示 される。 こ の受け渡 し機構 1 6 においては、 同図に示 される よ う に、 例えば 3 個所の吸 着保持部 1 7 が円弧状のプ レー ト 上に円弧に沿って配置 され る。 円弧状プ レー ト の幅方向の中心を通る線 (中心線) C は コ ン タ ク タ 1 2 の中心が旋回する軌跡 と 一致される。 こ の中 心線 C上に 3 箇所の吸着保持部 1 7 が配置される。 こ の配置 は、 互いに等間隔を空けた配置 と される こ と が好ま しい。 こ の結果、 アーム 1 8 が旋回する こ と に よ り 、 各コ ンタ ク タ 1 2 は、 保持機構の真下に位置 され、 常に図 3 Aの破線で示さ れた よ う に一定の向き にな る。 こ のよ う に複数の吸着保持部 1 7 を設け る こ と に よ り 、 一台の受け渡 し機構 1 6 は複数の コ ンタ ク タ 1 2 を一括保持する こ と ができ 、 複数の コ ンタ ク タ 1 2 は人手を介する こ と な く 連続的且つ 自 動的に交換さ れ る こ と ができ、 検査のスループッ ト の更な る 向上を達成する こ と ができ る。 尚、 吸着保持部 1 7 自 体は図 1 〜図 5 に示す ものに準じて構成されている。
図 7 には、 本発明の コ ンタ ク タ の保持機構の他の実施形態 が示 される。 本実施形熊の保持機構 3 0 は、 図 7 A, B に示 される よ う に、 プロ ーブ装置のパフォーマ ンスボー ド P に固 定された保持体 3 1 と 、 こ の保持体 3 1 に取 り 付け られて コ ンタ ク タ 3 2 をその周囲か ら保持する ラ ッ チ機構 3 3 と 、 こ のラ ッチ機構 3 3 で保持された コ ンタ ク タ 3 2 を真空吸着力 に よ り 固定する吸着固定機構 3 4 と 、 こ の吸着固定機構 3 4 で固定さ れたコ ンタ ク タ 3 2 と ノ《フ ォ ーマ ンスボー ド P と の 接続を中継する イ ンタ ーフ ェースボー ド 3 5 と を備える。 コ ンタ ク タ 3 2 はイ ンタ ーフ ェースボー ド 3 5 を介 してノ、 "フォ 一マ ンスボー ド P と 電気的に接続される。 本実施形態及び以 下の実施形態におけ るパフ ォ ーマ ンスボー ド P及びィ ンター フ ェ ースボー ド 3 5 はいずれも上記実施形態の も の と 同様に 構成される こ と ができ る。
上記保持体 3 1 は、 図 7 Aに示される よ う に、 その中央に 大き な開 口 部を有する リ ング状のプ レー ト である こ と ができ る。 こ の開 口部にはイ ン タ ー フ ェ ースボー ド 3 5 が配置 され る こ と ができ る。 こ の保持体 3 1 には後述する ラ ッチ機構 3 3 が取 り 付け られる。 上記コ ンタ ク タ 3 2 は、 図 7 A に示さ れる よ う に、 複数のプロ ーブ 3 2 A と 、 これ らのプロ ーブ 3 2 Aがマ ト リ ッ ク ス状に形成された コ ンタ ク タ本体 3 2 B と コ ンタ ク タ本体 3 2 B の上面に形成された端子電極 3 2 じ と を有 している。 プロ ーブ 3 2 Aは、 例えば C V D法等の手法 によ り 、 デバイ ス の電極パ ッ ドの配置に対応 して配置 さ れた ノくンプ構造と される こ と ができ る。 こ の構造に よれば、 今後 狭ピ ッチ化されるデバイ ス の電極パ ッ ドに も対応可能である コ ンタ ク タ本体 3 2 B は枠体 3 2 D と 一体化されて形成 され る。 こ の枠体 3 2 D上面の外周緑部には、 コ ンタ ク タ 3 2 を 保持体 3 1 に装着する ため の、 保持体 3 1 の位置決め孔 3 1 B に嵌入する複数の位置決め用突起 3 2 E が形成され。 これ らの位置決め用突起 3 2 E は互いに周方向に等間隔を空けて 配置されている。
ラ ッチ機構 3 3 は、 上記保持体 3 1 内に コ ンタ ク タ 3 2 を 一時的に保持する ために用い られる。 こ の ラ ッチ機構 3 3 は 図 7 A , B に示 される よ う に、 コ ンタ ク タ 3 2 の周面に形成 された複数の突起 3 2 F と係合する ラ ッチ部材 3 3 A と 、 こ れら のラ ッチ部材 3 3 Aを突起 3 2 F カゝ ら退避させる ラ ッチ 操作部材 3 3 B と を有 している。 コ ンタ ク タ は、 複数の突起 3 2 F が ラ ッチ部材 3 3 A に係合する こ と に よ り 保持 され、 ラ ッチ部材 3 3 Aを突起 3 2 F 力 ら退避させる こ と に よ り 、 該保持は解放さ れる。 ラ ッチ部材 3 3 Aは、 同図 B に示 され る よ う に、 スプ リ ングコィ ノレを内蔵 したシ リ ンダ 3 3 C に装 着される。 ラ ッチ部材 3 3 Aは、 スプ リ ングによ って常にシ リ ンダ 3 3 C の外方へ付勢されている。 こ のラ ッ チ部材 3 3 A と ラ ッチ操作部材 3 3 B は例えばワイ ヤー 3 3 D を介 して 連結される こ と ができ る。 コ ンタ ク タ 3 2 を保持体 3 1 に装 着する時には、 ラ ッチ操作部材 3 3 B に よ り シ リ ンダ 3 3 C から ラ ッチ部材 3 3 Aは突出 させ ら る。 コ ンタ ク タ 3 2 を保 持体 3 1 カゝ ら外す時には、 ラ ッチ操作部材 3 3 B に よ り シ リ ンダ 3 3 C 内へラ ッチ部材 3 3 Aは引 き込まれる。 同図に示 される ラ ッチ操作部材 3 3 B は、 手動式であ る。 このラ ッチ 操作部材 3 3 B は、 自 動化 される こ と もでき る。 3 3 E はヮ ィ ヤーを導く ガイ ドローラである。
上記吸着固定機構 3 4 は、 保持体 3 1 及びパフ ォーマ ンス ボー ド P を貫通する貫通孔 3 4 Aに連結具 3 4 B を介 して接 続された真空ポンプ 3 4 E と 、 上記コ ンタ ク タ 3 2 の枠体 3
2 Dの上面に取 り 付け られた断面舌状のシール部材 3 4 C と を有 している。 こ の吸着固定機構 3 4 は、 コ ンタ ク タ 3 2 が ラ ッチ機構 3 3 に よ り 保持体 3 1 に保持さ れ、 シール部材 3 4 C が保持体 3 1 に接触 した時点で、 作動を開始する こ と が でき る。 吸着固定機構 3 4 の真空排気ラ イ ン 3 4 D は、 真空 ポンプか ら大気へ切 り 換え られる よ う に構成 され得る。 コ ン タ ク タ 3 2 が取 り 外される と き 、 真空排気ラ イ ンは大気側に 切 り 換え られる。
従って、 本実施形態の保持機構 3 0 において、 コ ンタ ク タ
3 2 が交換される と き には、 図 3 〜図 6 に示される 自動交換 機構に準 じて構成さ れた 自 動交換機構が使用 される こ と がで き る。 自 動交換機構に よ り 、 コ ンタ ク タ 3 2 は保持機構 3 0 の真下まで搬送される。 コ ンタ ク タ 3 2 は保持体 3 1 まで持 ち上げられ、 シール部材 3 4 C が保持体 3 1 と接触 した時点 で、 ラ ッチ機構 3 3 は稼動する。 ラ ッチ部材 3 3 Aはワイ ヤ 一 3 3 D に よ り シ リ ンダ 3 3 C 力 ら突出 させ られ、 突起 3 2 F と係合 し、 コ ンタ ク タ 3 2 の落下が防止 される。 吸着固定 機構 3 4 が作動 し、 コ ンタ ク タ 3 2 は保持体 3 1 側に強 く 吸 引 され、 コ ンタ ク タ の端子電極と イ ンターフ ェースボー ド 3 5 と が電気的に確実に接続され、 検査でき る状態にな る。 検 査終了後に、 コ ンタ ク タ 3 2 が交換さ れる 時には、 逆の操作 でコ ンタ ク タ 3 2 は交換さ れる。 本実施形態において も、 上 記各実施形態と 同様の作用効果が奏される。
図 8 は、 本発明の他の実施形態が示 される。 本実施形態の 保持機構は、 図 7 に示 される機構 と 比較 して、 ラ ッテ機構が 相違する 、 本実施形態の保持機構 4 0 におけ る ラ ッチ機構 4 3 は、 図 8 Aに示される よ う に、 枠体 (保持体) 4 1 に取 り 付け られたラ ッチ部材 4 3 A と 、 ラ ッチ操作部材 4 3 B と を 有 してレ、る。 ラ ッチ部材 4 3 Aは、 コ ンタ ク 夕 4 2 の周面に 形成された複数の鈎状突起 4 2 F と係合する。 ラ ツチ操作部 材 4 3 B は、 ラ ッチ部材 4 3 Aを鈎状突起 4 2 F カゝら退避さ せてコ ンタ ク タ 4 2 を解放する。
ラ ツチ部材 4 3 Aは同図 B に示 される よ う に先端に鈎部を 有する幅広のプ レー ト状部材であ り 得る。 プ レー ト状部材の 基端は保持体 4 1 に形成された四部 4 1 C に ピンによ り 結合 されている。 同図 A , Β に示される ラ ッチ部材 4 3 Α の下部 近傍の両側は、 ス プ リ ング 4 3 C に よ り 保持体 4 1 に連結さ れ、 こ れ ら のス プ リ ング 4 3 C は、 ラ ッチ部材 4 3 Α の鈎部 を保持体 4 1 側へ弾力的に付勢する。 こ の ラ ッチ部材 4 3 A の先端部 と ラ ツチ操作部材が ワ イ ヤー 4 3 D を介 して連結さ れる。 ラ ッ チ操作部材を介 して ラ ッチ部材 4 3 A の先端はス プリ ング 4 3 C のバネ力に杭 して保持体 4 1 カゝ ら 引 き離され る。 ラ ッチ部材 4 3 A の鈎部先端は、 テー パ面 と され、 コ ン タ ク タ 4 2 の鈎状突起 4 2 Fが進入 し易い構造である。
本実施形態の場合には、 図 8 Aの矢印 X で示される よ う に 自動交換機構に よ り コ ンタ ク タ 4 2 は保持体まで持ち上げら れる。 コ ンタ ク タ 4 2 の鈎状突起 4 2 F はラ ッチ部材 4 3 A の先端のテーパ面 と保持体 4 1 で作る 凹部中を上昇する。 ラ ツチ部材 4 3 Aはスプ リ ング 4 3 C のバネ力に杭 して同図の 矢印 Y方向へ押 し広げられる。 ラ ッチ部材 4 3 Aが鈎状突起 4 2 F と ラ ッチ部材 4 3 A の鈎部を越える と 、 ス プ リ ン グ 4 3 C の働き で両者 4 2 F と 4 3 Aは係合 し、 コ ンタ ク タ 4 2 の落下は防止 さ れる。 吸着固定機構 (図 7 A参照) が作動 し、 コ ンタ ク タ 4 2 は保持体 4 1 に対 して固定され、 検査でき る 状態になる。 保持体 4 1 カゝ ら コ ンタ ク タ 4 2 を取 り 外す時に、 ラ ッ チ操作部材を手動操作する こ と に よ り 、 ワイ ヤ— 4 3 D を介 して ラ ッチ部材 4 3 A の先端部は保持体 4 1 から 引 き離 される。 鈎状突起 4 2 F 力 Sラ ッチ部材 4 3 A の鈎部か ら解放 された後、 自 動交換機構に よ り コ ンタ ク タ 4 2 は保持体 4 1 力、ら取 り 外される。
図 9 には更に他のラ ツチ機構が示さ れる。 本実施形態の保 持機構 5 0 における ラ ッチ機構は、 図 9 A, B に示される よ う に、 コ ン タ ク タ 5 2 を下面か ら支持する ための側面形状が L字状の ラ ッチ部材 5 3 A と 、 ラ ッチ操作部材 5 3 B と を有 している。 ラ ッチ操作部材 5 3 B は、 これ ら のラ ッチ部材 5 3 Aを コ ンタ ク タ 5 2 の下面力 ら退避 させる こ と に よ り 、 コ ンタ ク タ 5 2 を解放する。 ラ ッチ部材 5 3 Aは同図 A, B に 示される よ う に側面形状が L字状の幅広のプ レー ト状部材で 有 り 得る。 枠体 (保持体) 5 1 はコ ンタ ク タ 5 2 側に向けて 突出する支持部 5 1 Aを有する。 こ の支持部 5 1 Aに ラ ッチ 部材 5 3 Aは L字状の角でピ ン結合される。 こ の ピ ン結合部 にはパネ部材 (図示せず) が装着 される。 こ のパネ部材に よ り 、 ラ ッ チ部材 5 3 Aは同図 A の矢印 X方向へ常に付勢され る。 ラ ッチ部材 5 3 Aの一端には、 ワイ ヤ一 5 3 D に よ り 、 ラ ッチ操作部材が連結される。 こ のラ ッチ操作部材に よ り 、 ワイ ヤ一 5 3 D は同図 C の矢印 Y方向へ引 っ張られる。 スプ リ ングのパネ力 に抗 して、 同図の矢印 X ' 方向へラ ッチ部材 5 3 Aは起こ され、 ラ ッチ部材 5 3 Aの他端が水平になった 状態で、 コ ンタ ク タ 5 2 を支持する。 図 9 A, B, C におい て、 5 1 B は、 ワイ ヤー 5 3 D を通すために保持体 5 1 に形 成された孔である。
本実施形熊において、 自 動交換機構によ り コ ンタ ク タ 5 2 は保持体 5 1 まで持ち上げ られ、 ラ ッチ操作部材に よ り ラ ッ チ部材 5 3 Aは起こ され、 コ ンタ ク タ 5 2 の外周縁部はラ ッ チ部材 5 3 Aに よ り 支持され、 コ ンタ ク タ 5 2 の落下は防止 される。 吸着固定機構に よ り 、 コ ンタ ク タ 5 2 は保持体 5 1 に固定さ れ、 検査でき る状態にな る。 コ ンタ ク タ 5 2 を交換 する場合には、 ラ ッチ操作部材に よ り ワイ ヤ一 5 3 D は緩め られる。 ラ ッチ部材 5 3 Aは図 9 Aの矢印 X 方向へ回転 して コ ンタ ク タ 5 2 から外れ、 最終的に同図 Cの状態に される。 本発明は、 上記各実施形態に何等制限さ れる も のではない 本発明の構成要素は必要に応 じて適宜設計変更 される こ と が でき る。
請求項 1 乃至 8 に記載さ れた発明に よれば、 例えばバンプ 型等のプロ ーブが多数形成 された コ ンタ ク タ は着脱可能に保 持される こ と ができ る と共に、 検査精度が高め られる こ と が でき る コ ンタ ク タの保持機構が提供される。
また、 請求項 9 乃至 1 4 に記載された発明に よれば、 コ ン タ ク タの保持機構に対 して、 コ ンタ ク タ を 自 動的に装着及び 取 り 外 しする こ と ができ、 検査のス ループッ ト を高める こ と ができ る コ ンタ ク タの 自動交換機構が提供される。
さ らなる特徴及び変更は、 当該技術分野の当業者には着想 される と こ ろである。 それ故に、 本発明はよ り 広い観点に立 つ も のであ り 、 特定の詳細な及びこ こ に開示 された体表的な 実施例に限定される ものではない。 従って、 添付 された タ レ ームに定義された広い発明概念及びその均等物の解釈 と 範囲 において、 そこ か ら離れる こ と 無 く 、 種々 の変更をおこ な う こ と ができ る。

Claims

請 求 の 範 囲 .
1 . コ ンタ ク タ 、
ボー ドに固定された枠体、
該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持する ための複数の ラ ッ チ機構、
該ラ ッチ機構で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸着力 によ り 該枠体内に固定するための吸着固定機構、
を備えた こ と を特徴 とする、 検査装置における コ ンタ ク タ の保持機構。
2 . 該ボー ドは、 検査装置のパ フ ォ ーマ ン ス ボー ドであ る 、 請求項 1 の コ ンタ ク タ の保持機構。
3 . 該枠体は リ ング状の枠体である 、 請求項 1 の コ ンタ ク タの保持機構。
4 . 前記ラ ッチ機構は、 ラ ッチボールと 、 該ラ ッチボール を弾力的に支持する弾性部材と を有 し、
該コ ンタ ク タ は、 その周面に、 該ラ ッチボールと係合する ための複数の凹部を有する、
請求項 1 のコ ンタ ク タの保持機構。
5 . 前記ラ ッチ機構は、 突出及び待避され得る ラ ッチ部材 と 、 該ラ ツ チ部材を突出及び待避 させる ラ ツチ操作機構 と を 有 し、
該コ ンタ ク タ は、 その周面に、 該ラ ッ チ部材と係合する ための複数の係合部を有する、
請求項 1 のコ ンタ ク タ の保持機構。
6 . 前記コ ンタ ク タ は、 その周面に複数の鈎状突起を有 し 前記ラ ッ チ機構は、 前記コ ンタ ク タ の該鈎状突起に係合す る ラ ツチ部材と 、 該ラ ツチ部材の前記係合を解放する ラ ツチ 操作部材と を具備する、
請求項 1 の コ ンタ ク タ の保持機構。
7 . 上記ラ ッチ機構は、 上記コ ンタ ク タ をその下面で支持 する ラ ッチ部材 と 、 前記ラ ツチ部材を該コ ン タ ク タ の下面か ら退避させて、 上記コ ンタ ク 夕 の支持を解放する ラ ツチ操作 部材と を有する、 請求項 1 のコ ン夕 ク タの保持機構。
8 . 前記パフ ォ ーマ ンス ボー ド と 上記コ ンタ ク タ と の間を 電気的接続する ため の、 前記枠体内に設け られたィ ンタ ーフ エースボー ドを有する 、 請求項 2 〜請求項 7 のいずれか 1 の コ ンタ ク タ の保持機構。
9 . コ ンタ ク タ を着脱可能に保持する保持機構、
前記保持機構 と の間で該コ ン タ ク タ を受け渡 しする受け渡 し機構、 該受け渡し機構は、 下記を有する :
移動可能に設け られたすく な く と も一つのアーム ; 前記ア ー ム に設け られた少な く と も 一つの、 該コ ンタ ク タ を着脱可能に保持する保持部、
を具備する、 検査装置における コ ンタ ク タ の 自動交換機構。
1 0 . 前記保持機構は請求項 1 の コ ンタ ク タ の保持機構であ る 、 請求項 9 の コ ンタ ク タ の 自動交換機構。
1 1 . 前記受け渡 し機構におけ る アー ムは、 旋回及び昇降可 能に設け られてい る 、 請求項 9 の コ ン タ ク タ の 自 動交換機構
1 2 . 前記受け渡 し機構におけ る保持部は、 コ ンタ ク タ を真 空吸着力に よ り 着脱可能に保持する 、 請求項 9 の コ ン タ ク タ の 自動交換機構。
1 3 . 前記受け渡 し機構におけ る保持部は、 その旋回方向に 従っ て円弧状に複数配置さ れている、 請求項 9 の コ ンタ ク タ の 自動交換機構。
1 4 . コ ンタ ク タ、
ノ、。フォーマ ン スボー ドに固定された枠体を有する コ ンタ ク タ を保持するための手段、
該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持する ための複数の ラ ッ チ手段、
該ラ ツチ手段で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸着力 によ り 該枠体内に固定するための吸着固定手段、
を備えた こ と を特徴とする 、 検査装置における コ ンタ ク タ の 保持機構。
1 5 . 下記を具備する コ ンタ ク タ の保持機構 :
ノ、。フ ォーマ ン スボー ドボ一 ドに固定された リ ング状の 枠体、
該枠体の内側に該コ ンタ ク タ を保持するためのラ ッチ 機構、
該ラ ッチ機構で保持された上記コ ンタ ク タ を、 真空吸 着力によ り 該枠体内に固定するための吸着固定機構、
前記パフ ォーマ ンス ボー ド と 上記コ ンタ ク タ と の間を 電気的接続する ための、 前記枠体内に設け られたィ ンタ ーフ エースボー ド、
下記を具備する コ ンタ ク タ の 自動交換機構
前記保持機構 と の間で該コ ンタ ク タ を受け渡 しする た めの、 旋回及び昇降可能に設け られたアーム と 、 前記アーム に設け られた少な く と も一つの、 該コ ン タ ク タ を真空吸着力 によ り 着脱可能に保持する保持部と を有する受け渡 し機構、 を具備する こ と を特徴とする コ ンタ ク タ の 自動交換機構。
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