KR20080004869A

KR20080004869A - 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈

Info

Publication number: KR20080004869A
Application number: KR1020060063731A
Authority: KR
Inventors: 오경원; 이재필
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2006-07-07
Filing date: 2006-07-07
Publication date: 2008-01-10
Also published as: KR100795490B1

Abstract

본 발명은 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈에 관한 것으로, 본 발명의 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은, 반도체 소자가 안착되는 포켓부가 형성된 캐리어 몸체와; 상기 포켓부에 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와 반도체 소자를 해제하는 제 2위치로 이동 가능하게 설치되며, 상기 제 1위치에서 상기 반도체 소자의 면과 반도체 소자의 리드들을 동시에 지지하는 랫치와; 상기 랫치를 탄성적으로 지지하는 탄성부재를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

이와 같은 본 발명에 의하면, 상기 랫치가 반도체 소자의 면과 리드를 동시에 지지하므로, 반도체 소자가 테스트 소켓에 접속될 때 반도체 소자의 리드가 안정적으로 지지되고, 반도체 소자와 테스트 소켓 간의 오정렬이 발생하더라도 반도체 소자의 리드가 휘어져 손상되는 현상이 일어나지 않게 된다.

캐리어, 캐리어 모듈, 반도체 소자, 리드

Description

반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈{Carrier Module for Semiconductor Test Handler}

도 1은 종래의 캐리어 모듈의 요부 단면도

도 2는 도 1의 캐리어 모듈의 작동을 나타낸 요부 단면도

도 3은 본 발명에 따른 캐리어 모듈의 일 실시예의 사시도

도 4는 도 3의 캐리어 모듈의 평면도로, 랫치가 반도체 소자를 고정한 상태의 도면

도 5는 도 3의 캐리어 모듈의 평면도로, 랫치가 반도체 소자를 고정 해제한 상태의 도면

도 6은 도 4의 I-I선 단면도

도 7은 도 5의 II-II선 단면도

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

11 : 캐리어 몸체 13 : 포켓부

15 : 랫치 16 : 회전축

18 : 토션스프링 20 : 테스트 소켓

21 : 접속단자 151 : 랫치몸체부

152 : 소자 지지부 153 : 리드 지지부

P : 푸쉬핀 S : 반도체 소자

L : 리드

본 발명은 반도체 소자를 테스트하는 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 소자를 핸들러 상의 소정의 공정 위치로 반송하는 테스트 트레이에 설치되어 반도체 소자를 해제 가능하게 고정하는 캐리어 모듈에 관한 것이다.

일반적으로, 메모리 혹은 비메모리 반도체 소자 및 이들을 적절히 하나의 기판상에 회로적으로 구성한 모듈 아이씨(Module IC)들은 생산 후 여러 가지 테스트과정을 거친 후 출하된다.

핸들러는 상기와 같은 반도체 소자 및 모듈램 등을 자동으로 테스트하는데 사용되고 있는 장치이다. 이러한 핸들러에서는 작업자가 테스트할 반도체 소자를 수납한 트레이들을 핸들러의 로딩스택커에 적재하고, 로딩스택커의 반도체 소자들을 별도의 테스트 트레이로 옮겨 재장착한 후, 이 반도체 소자들이 장착된 테스트 트레이를 테스트 사이트(test site)로 보내고, 반도체 소자들의 리드 또는 볼 부분을 테스트 소켓의 컨넥터에 전기적으로 접속시켜 소정의 전기적 테스트를 한다. 그런 다음, 테스트가 완료된 테스트 트레이의 반도체 소자들을 분리하여 언로딩스택커의 고객 트레이에 테스트 결과에 따라 분류 장착하는 과정으로 테스트를 수행한다.

상기와 같은 핸들러에서 반도체 소자를 반송하는 테스트 트레이는 반도체 소자를 테스트 소켓의 피치와 동일한 피치로 정렬하여 고정하기 위한 복수개의 캐리어 모듈을 구비한다.

미국 특허공보 US 5,742,487호(1998년 4월 21일 등록)에 모든 종류의 반도체 소자를 용이하게 취급할 수 있는 IC 캐리어 모듈(IC Carrier Module)이 개시되어 있다. 이 IC 캐리어 모듈의 구성 및 작동에 대해 도 1과 도 2를 참조하여 간략하게 설명하면 다음과 같다.

도 1과 도 2에 도시된 것과 같이, 캐리어 몸체(1)의 중앙에 반도체 소자(D)가 수용되면서 안착되는 포켓부(2)가 형성되고, 이 포켓부(2)의 양측에 반도체 소자(D)를 고정 및 해제하는 한 쌍의 랫치(3)가 피봇핀(4)을 중심으로 회전가능하게 설치된다.

상기 각 랫치(3)의 외측에 작동블록(5)이 상하로 이동가능하게 설치된다. 상기 작동블록(5)의 중간부분에 결합공(6)이 경사지게 형성되고, 이 결합공(6)에는 상기 랫치(3)의 일단부가 삽입된다. 또한, 상기 작동블록(5)의 하측에는 스프링(7)이 설치되어 캐리어 몸체(1)에 대해 작동블록을 탄성적으로 지지한다.

상기 캐리어 몸체(1)의 상측에 사각 프레임 형태의 작동판(8)이 상하로 이동가능하게 설치되며, 이 작동판(8)은 캐리어 몸체(1)의 상면에 설치되는 스프링(9)에 의해 탄성적으로 지지된다.

상기와 같이 구성된 종래의 캐리어 모듈은 다음과 같이 작동한다.

먼저, 도 1에 도시된 것과 같이, 상기 작동판(8)에 외력이 가해지지 않은 상 태에서는 작동판(8)과 작동블록(5)이 모두 스프링(7, 9)의 탄성력에 의해 상측으로 이동된 상태를 유지하고 있다. 따라서, 랫치(3)는 내측으로 회동된 상태가 되어 그 내측 단부가 포켓부(2)에 안착된 반도체 소자(D)의 상면을 가압하여 고정하게 된다.

반대로, 도 2에 도시된 것과 같이, 상기 작동판(8)에 외력, 즉 누르는 힘이 가해지게 되면, 작동판(8)이 하강하면서 작동블록(5)을 누르게 되고, 이에 따라 작동블록(5)이 하강하게 된다.

작동블록(5)이 하강하게 되면, 랫치(3)의 일단부가 작동블록(5)의 결합공(6)을 따라 이동하게 된다. 따라서, 랫치(3)는 외측으로 회동하게 되고, 반도체 소자(D)의 고정이 해제되면서 반도체 소자(D)는 포켓부(2)를 통해 출입이 자유로운 상태로 된다.

다시 작동판(8)에 가해지는 힘이 제거되면, 작동판(8)과 작동블록(5)이 각각의 스프링(7, 9)의 탄성력에 의해 상승하게 되고, 랫치(3)는 도 1에 도시된 것처럼 포켓부(2) 내측으로 회동하게 된다.

그러나, 상기와 같은 종래의 캐리어 모듈은 다음과 같은 문제가 있다.

통상적으로, 캐리어 모듈의 반도체 소자를 테스트 사이트의 테스트 소켓에 접속시켜 테스트를 수행할 때, 캐리어 모듈은 테스트 소켓의 외측에 설치된 컨택트 푸쉬유닛(미도시)이 반도체 소자의 면을 가압함으로써 반도체 소자의 리드들을 테스트 소켓의 단자에 소정의 압력으로 가압시킨다.

그런데, 종래의 캐리어 모듈은 랫치가 반도체 소자의 면만을 가압하여 고정 하므로, 반도체 소자와 테스트 소켓 간의 정렬이 정확하게 이루어지지 않을 경우 반도체 소자를 테스트 소켓에 가압하여 접속시킬 때 반도체 소자의 리드가 가압력에 의해 휘어져 손상되는 문제가 있다.

또한, 상기 컨택트 푸쉬유닛(미도시)이 캐리어 모듈에 삽입된 반도체 소자를 하기 위해 반도체 소자 상부로 진입할 때 반도체 소자와 오정렬을 일으키면 반도체 소자의 리드를 직접 가압하여 리드를 손상시킬 수 있는 문제도 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 반도체 소자를 테스트 소켓에 가압하여 접속시킬 때 반도체 소자의 리드가 휘어져 손상되는 것을 방지할 수 있는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 반도체 소자가 안착되는 포켓부가 형성된 캐리어 몸체와; 상기 포켓부에 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와 반도체 소자를 해제하는 제 2위치로 이동 가능하게 설치되며, 상기 제 1위치에서 상기 반도체 소자의 면과 반도체 소자의 리드들을 동시에 지지하는 랫치와; 상기 랫치를 탄성적으로 지지하는 탄성부재를 포함하여 구성된 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈을 제공한다.

이와 같은 본 발명에 의하면, 상기 랫치가 반도체 소자의 면과 리드를 동시에 지지하므로, 반도체 소자가 테스트 소켓에 접속될 때 반도체 소자의 리드가 안 정적으로 지지되고, 반도체 소자와 테스트 소켓 간 또는 반도체 소자와 컨택트 푸쉬유닛 간의 오정렬이 발생하더라도 반도체 소자의 리드가 휘어져 손상되는 현상이 일어나지 않게 된다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.

도 3 내지 도 7을 참조하면, 본 발명에 따른 캐리어 모듈은 테스트 트레이에 고정되게 장착되는 대략 직방체 형태의 캐리어 몸체(11)를 구비한다. 상기 캐리어 몸체(11)의 중앙에는 반도체 소자(S)가 삽입되면서 안착되는 포켓부(13)가 캐비티(cavity) 형태로 오목하게 형성된다.

그리고, 상기 포켓부(13)의 양측부, 엄밀히 말하면 반도체 소자(S)의 리드(L)가 놓여지는 부분의 외측에 반도체 소자(S)를 홀딩하는 한 쌍의 랫치(15)가 회전축(16)을 중심으로 상하로 회전가능하게 설치된다. 상기 랫치(15)의 내측 단부는 포켓부(13) 상에 안착된 반도체 소자(S)의 상면과 리드(L)를 동시에 가압하여 고정시키는 구조를 갖는다.

즉, 도 4와 도 6에 도시된 것과 같이, 상기 랫치(15)는 상기 회전축(16)에 연결되어 회동하는 랫치몸체부(151)와, 상기 랫치몸체부(151)의 선단부에 반도체 소자(S)의 일측 변부의 상면과 접촉하도록 형성된 소자 지지부(152)와, 반도체 소자(S)의 리드(L)와 대응하는 형상을 가지며 상기 소자 지지부(152)와 일체로 형성되어 반도체 소자(S)의 리드(L)를 지지하는 리드 지지부(153)를 포함하여 구성된다.

따라서, 상기 랫치(15)가 반도체 소자(S)를 고정시킬 때, 랫치(15)의 소자 지지부(152)는 반도체 소자(S)의 일측 변부의 상면에 닿으면서 반도체 소자를 지지함과 동시에, 상기 리드 지지부(153)가 반도체 소자(S)의 리드(L)를 지지하게 된다.

한편, 상기 랫치(15)의 회전축(16)에는 랫치(15)의 내측 단부가 아래쪽으로 편향되는 편향력을 제공받도록 탄성력을 가하는 토션스프링(18)이 결합된다. 상기 토션스프링(18)은 일단부가 상기 랫치(15)에 접촉되어 지지되며, 타단부가 캐리어 몸체(11)에 접촉되어 지지된다.

상기 랫치(15)는 캐리어 모듈과는 별도로 핸들러의 소정 위치에 구성된 외부 장치의 푸쉬핀(P)(도 7 참조)과 같은 부재에 의해 회동하게 된다.

도 6과 도 7을 참조하여, 본 발명의 캐리어 모듈의 작동에 대해 더욱 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

먼저, 도 6에 도시된 것과 같이, 캐리어 모듈의 랫치(15)에 아무런 외력이 가해지지 않은 상태에서는 토션스프링(18)의 탄성력에 의해 랫치(15)는 아래쪽으로 편향력을 받아 랫치(15)의 내측단부가 포켓부(13)의 상면에 연접하는 상태로 된다.

이 때, 만약 포켓부(13)에 반도체 소자(S)가 이미 안착된 상태라면, 랫치(15)의 선단부에 형성된 소자 지지부(152)는 반도체 소자(S)의 변부의 상면에 접촉하면서 반도체 소자(S)를 지지하게 되고, 리드 지지부(153)는 반도체 소자(S)의 리드(L)의 외측면에 연접하면서 리드(L)를 지지하게 된다. 즉, 랫치(15)는 반도체 소자(S)의 상면과 리드(L)를 동시에 지지하게 된다.

이와 같이 랫치(15)가 반도체 소자(S)의 면과 리드(L)를 동시에 지지하게 되면, 핸들러의 테스트 사이트에서 컨택트 푸쉬유닛(미도시)이 캐리어 몸체(11) 또는 반도체 소자(S)의 상면을 소정의 힘으로 가압하여 반도체 소자(S)의 리드(L)를 테스트 소켓(20)의 접속단자(21)에 접속시킬 때, 반도체 소자(S)의 리드(L)가 안정적으로 지지된다. 따라서, 반도체 소자(S)와 테스트 소켓(20) 또는 반도체 소자와 컨택트 푸쉬유닛(미도시) 간의 정렬 오차가 발생하더라도 반도체 소자(S)의 리드(L)가 휘어져 손상되는 현상은 일어나지 않게 된다.

이와 같은 상태에서, 도 7에 도시된 것과 같이, 캐리어 모듈과는 별도로 구성된 외부 장치의 푸쉬핀(P)이 상승하여 상기 랫치(15)의 하부면을 상측으로 가압하면, 상기 랫치(15)가 상향 회전하여 포켓부(13)가 개방 상태로 되면서 반도체 소자(S)의 출입이 가능한 상태로 된다.

이와 같이, 랫치(15)가 상측으로 회동하여 포켓부(13)가 개방 상태로 되면, 핸들러의 픽커(미도시)가 포켓부(13) 상의 반도체 소자(S)를 흡착하여 분리시키거나, 반대로 픽커(미도시)가 포켓부(13) 상에 반도체 소자(S)를 놓는 작업을 수행하게 된다.

다시 상기 푸쉬핀(P)이 아래쪽으로 하강하여 캐리어 몸체(11)에서 분리되면, 랫치(15)는 토션스프링(18)의 탄성력에 의해 하향 회전하여 도 6에 도시된 것과 같은 상태로 복원된다.

이와 같이, 본 발명의 캐리어 모듈은 캐리어 몸체(11)의 하측에서부터 제공되는 가압력에 의해 랫치(15)가 상향 회전하면서 포켓부(13)를 개방된 상태, 즉 반 도체 소자(S)의 출입이 자유로운 상태로 만들고, 반대로 랫치(15)에 가해지던 외력이 제거되면 토션스프링(18)의 탄성력에 의해 랫치(15)가 하향 회전하면서 포켓부(13) 상의 반도체 소자(S)의 면과 리드(L)를 동시에 지지할 수 있는 상태로 만든다.

이와 같은 본 발명에 의하면, 상기 랫치가 반도체 소자의 면과 리드를 동시에 지지하므로, 반도체 소자가 테스트 소켓에 접속될 때 반도체 소자의 리드가 안정적으로 지지되고, 반도체 소자와 테스트 소켓 또는 반도체 소자와 컨택트 푸쉬유닛 간의 오정렬이 발생하더라도 반도체 소자의 리드가 휘어져 손상되는 현상이 일어나지 않게 된다.

Claims

반도체 소자가 안착되는 포켓부가 형성된 캐리어 몸체와;

상기 포켓부에 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와 반도체 소자를 해제하는 제 2위치로 이동 가능하게 설치되며, 상기 제 1위치에서 상기 반도체 소자의 면과 반도체 소자의 리드들을 동시에 지지하는 랫치와;

상기 랫치를 탄성적으로 지지하는 탄성부재를 포함하여 구성된 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
제 1항에 있어서, 상기 랫치는 상기 포켓부에 제 1위치와 제 2위치로 회동 가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
제 2항에 있어서, 상기 랫치는 상기 포켓부에 회전가능하게 연결되는 랫치몸체부와, 상기 랫치몸체부의 선단부에 반도체 소자의 일측 변부의 면과 접촉하도록 형성된 소자 지지부와, 반도체 소자의 리드와 대응하는 형상을 가지며 상기 소자 지지부와 일체로 형성되어 반도체 소자의 리드를 지지하는 리드 지지부로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.