KR100682543B1 - 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (5)
- 테스트 트레이에 고정되는 캐리어 본체와;상기 캐리어 본체의 일면에 고정되고 반도체 소자가 놓여져 지지되는 안착부를 포함하며;상기 캐리어 본체의 안착부에는 반도체 소자의 외부단자가 외부로 노출되도록 개구부가 개방되게 형성되고,반도체 소자의 최외곽 가장자리의 외부단자들에 대응하여 상기 개구부의 내주부를 따라 원호형태로 연속적으로 가이드홈이 형성되어, 반도체 소자가 상기 안착부에 안착되는 경우에 상기 가이드홈 사이의 영역에 의해 반도체 소자가 지지되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항에 있어서, 상기 안착부는 캐리어 본체에 일체형으로 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항에 있어서, 상기 가이드홈의 하부에 외측에서 내측으로 상향 경사지게 형성된 가이드면을 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항에 있어서, 상기 안착부의 개구부의 두께는 상기 반도체 소자의 외부단자의 높이보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모 듈.
- 테스트 트레이에 고정되는 캐리어 본체와;상기 캐리어 본체의 일면에 설치되며 반도체 소자가 놓여져 지지되는 안착부와;일단부가 상기 캐리어 본체의 안착부에 안착된 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와, 반도체 소자의 고정 상태를 해제하는 제 2위치로 이동가능하도록 상기 테스트 트레이에 대향되게 설치되는 복수개의 랫치와;상기 캐리어 본체와는 개별체로 되어, 외력에 의해 상기 랫치를 제 1위치와 제 2위치로 이동시키도록 상기 테스트 트레이에 설치되는 랫치 작동부재를 포함하며;상기 캐리어 본체의 안착부에는 반도체 소자의 외부단자가 외부로 노출되도록 개구부가 개방되게 형성되고, 상기 개구부의 내주부를 따라 반도체 소자의 외부단자 중 최외곽 가장자리의 외부단자들이 대응하여 삽입되는 원호형태의 가이드홈이 연속적으로 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050046988A KR100682543B1 (ko) | 2005-06-02 | 2005-06-02 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
US11/235,248 US7253653B2 (en) | 2005-02-25 | 2005-09-27 | Test tray for handler for testing semiconductor devices |
TW094133800A TWI294157B (en) | 2005-02-25 | 2005-09-28 | Test tray for handler for testing semiconductor devices |
DE102005046987A DE102005046987A1 (de) | 2005-02-25 | 2005-09-30 | Testmagazin für Handler zum Testen von Halbleitervorrichtungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050046988A KR100682543B1 (ko) | 2005-06-02 | 2005-06-02 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060125136A KR20060125136A (ko) | 2006-12-06 |
KR100682543B1 true KR100682543B1 (ko) | 2007-02-15 |
Family
ID=37729575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050046988A KR100682543B1 (ko) | 2005-02-25 | 2005-06-02 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100682543B1 (ko) |
Cited By (1)
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