KR100860597B1 - 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (11)
- 전자부품을 수납하도록 형성된 수납홈과, 상기 수납홈의 적어도 일측에 상하에 걸쳐 형성된 고정홈을 구비하는 하우징;상기 고정홈을 가로지르며 설치된 가이드 축;상기 가이드 축이 삽입되는 수직 방향의 제1 가이드홀이 형성되며, 상기 고정홈 내를 승, 하강 가능하도록 배치된 승하강 부재;상기 승하강 부재에 상기 수납홈 방향으로 돌출 가능하도록 수납된 것으로, 상기 가이드 축이 삽입되며 상기 수납홈 방향으로 접근할수록 하측으로 경사진 제2 가이드홀을 구비하며, 상기 수납홈에 안착된 전자부품들을 고정 및 상기 고정을 해제하는 랫치 부재; 및상기 승하강 부재를 하측으로 탄성 바이어스하는 탄성 부재;를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 수납 장치.
- 제1항에 있어서,상기 랫치 부재는 그 상, 하측면이 상기 승하강 부재의 내측면과 접하도록 수납된 것으로, 상기 가이드 축이 상기 제2 가이드홀의 최고(最高) 위치에 위치하는 경우에 그 일부가 상기 수납홈에 돌출되어서 상기 전자부품을 고정하고, 상기 가이드 축이 상기 제2 가이드홀의 최저(最低) 위치에 위치하는 경우 상기 수납홈에 돌출되지 않도록 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 수납 장치.
- 제1항에 있어서상기 승하강 부재는 적어도 상기 수납홈 방향으로 개방된 형상으로, 그 외측 측단의 적어도 일부가 상기 고정홈의 내측부와 접하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 전자부품 수납 장치.
- 제1항에 있어서,상기 고정홈은, 상기 승하강 부재가 삽입되도록 수평 단면이 사각 형상으로 형성된 사각홈과, 상기 수납홈과 상기 사각홈을 연결하는 랫치홈이 형성되고,상기 제2가이드 홀은, 상기 랫치 부재가 최저 위치에서 상기 랫치홈으로부터 돌출된 형상을 가지고, 최고 위치에서 상기 랫치홈 또는 사각홈으로 삽입된 형상을 가지도록 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 수납 장치.
- 제1항에 있어서,상기 승하강 부재는, 그 외측 하단부가 상측으로 밀려짐으로써 상승하고,상기 탄성 부재는, 고정홈의 내측에 상기 하우징의 고정홈의 내측 상단부와 상기 승하강 부재 사이를 연결하는 압축 스프링인 것을 특징으로 하는 전자부품 수납 장치.
- 제1 고객 트레이로부터 복수의 전자부품들을 테스트 트레이의 전자부품 수납 장치로 이동하는 로딩 작업이 행해지는 로딩부상기 테스트 트레이의 전자부품 수납 장치로부터 복수의 전자부품들을 제2 고객 트레이로 이동하는 언로딩 작업이 행해지는 언로딩부상기 로딩부와 제1 고객 트레이 사이, 언로딩부와 제2 고객 트레이 사이로 전자부품들을 이송시키는 적어도 하나의 전자부품 픽커 및상기 테스트 트레이의 하측에 배치되며, 승, 하강하면서 상기 전자부품 수납장치가 상기 전자부품을 고정 및 상기 고정을 해제하도록 하는 푸시 장치를 구비하는 것으로,상기 전자부품 수납 장치는:상측으로부터 하측으로 전자부품을 수납하도록 형성된 수납홈과, 상기 수납홈의 적어도 일측에 수직방향으로 형성된 고정홈을 구비하는 하우징과;상기 고정홈을 가로지르며 설치된 가이드 축과;상기 가이드 축이 삽입되도록 수직 방향으로 제1 가이드홀이 형성되며, 상기 푸시 장치의 구동에 따라서 상기 고정홈 내를 승, 하강 가능하도록 배치된 승하강 부재와;상기 승하강 부재에 상기 수납홈 방향으로 돌출 가능하도록 수납된 것으로, 상기 수납홈 방향으로 접근할수록 하측으로 경사지며 상기 가이드 축이 삽입되는 제2 가이드홀을 구비하며, 상기 수납홈에 안착된 전자부품들을 고정 및 상기 고정을 해제하는 랫치 부재와;상기 승하강 부재를 하측으로 탄성 바이어스하는 탄성 부재;를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
- 제6항에 있어서,상기 랫치 부재는 그 상, 하측면이 상기 승하강 부재의 내측면과 접하도록 수납된 것으로, 상기 가이드 축이 상기 제2 가이드홀의 최고(最高) 위치에 위치하는 경우에 그 일부가 상기 수납홈에 돌출되어서 상기 전자부품을 고정하고, 상기 가이드 축이 상기 제2 가이드홀의 최저(最低) 지점에 위치하는 경우 상기 수납홈에 돌출되지 않도록 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
- 제6항에 있어서상기 승하강 부재는 적어도 상기 수납홈 방향으로 개방된 형상으로, 그 외측 측단의 적어도 일부가 상기 고정홈의 내측부와 접하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
- 제6항에 있어서,상기 고정홈은, 상기 승하강 부재가 삽입되도록 수평 단면이 사각 형상으로 형성된 사각홈과, 상기 수납홈과 상기 사각홈을 연결하는 랫치홈이 형성되고,상기 제2가이드 홀은, 상기 랫치 부재가 최저 위치에서 상기 랫치홈으로부터 돌출된 형상을 가지고, 최고위치에서 상기 랫치홈 또는 사각홈으로 삽입된 형상을 가지도록 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
- 제6항에 있어서,상기 승하강 부재는, 그 외측 하단부가 상측으로 밀려짐으로써 상승하고,상기 탄성 부재는, 고정홈의 내측에 상기 하우징의 고정홈의 내측 상단부와 상기 승하강 부재 사이를 연결하는 압축 스프링인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
- 제7항 내지 제10항 중 어느 하나의 항에 있어서,상기 푸시 장치는:상기 테스트 트레이 하측에 배치된 푸시 플레이트와;상기 승하강 부재를 상측으로 밀 수 있도록 상기 푸시 플레이트로부터 상측으로 돌출 형성된 복수의 푸시 핀들과;상기 푸시 플레이트를 상하로 이동시키는 푸시 플레이트 이동 장치;를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070038049A KR100860597B1 (ko) | 2007-04-18 | 2007-04-18 | 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 |
TW097110765A TWI350267B (en) | 2007-04-18 | 2008-03-26 | Carrier for carrying a packaged chip and handler equipped with the carrier |
US12/102,301 US20080260505A1 (en) | 2007-04-18 | 2008-04-14 | Carrier for carrying a packaged chip and handler equipped with the carrier |
CN2008100891744A CN101290327B (zh) | 2007-04-18 | 2008-04-17 | 用于承载封装芯片的承载器及装备有该承载器的处理机 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070038049A KR100860597B1 (ko) | 2007-04-18 | 2007-04-18 | 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100860597B1 true KR100860597B1 (ko) | 2008-09-26 |
Family
ID=39872359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070038049A KR100860597B1 (ko) | 2007-04-18 | 2007-04-18 | 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080260505A1 (ko) |
KR (1) | KR100860597B1 (ko) |
CN (1) | CN101290327B (ko) |
TW (1) | TWI350267B (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100894734B1 (ko) * | 2007-04-18 | 2009-04-24 | 미래산업 주식회사 | 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 |
KR101544510B1 (ko) * | 2009-03-26 | 2015-08-13 | 삼성전자주식회사 | 무빙 어댑터를 이용하여 프리 사이즈 인서팅이 가능한 패키지 인서트 가이드 및 얼라인 장치 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100380963B1 (ko) | 2000-11-10 | 2003-04-26 | 미래산업 주식회사 | 모듈램 테스트 핸들러 |
KR20040086849A (ko) * | 2002-03-06 | 2004-10-12 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 인서트 및 이를 구비한 전자부품 핸들링 장치 |
KR20060125136A (ko) * | 2005-06-02 | 2006-12-06 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
KR20070032323A (ko) * | 2007-01-11 | 2007-03-21 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 누름 부재 및 전자 부품 핸들링 장치 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100495819B1 (ko) * | 2003-06-14 | 2005-06-16 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 안착장치 |
CN100418275C (zh) * | 2004-03-15 | 2008-09-10 | 未来产业株式会社 | 用于半导体器件测试处理器的传送器组件 |
US7253653B2 (en) * | 2005-02-25 | 2007-08-07 | Mirae Corporation | Test tray for handler for testing semiconductor devices |
KR100610779B1 (ko) * | 2005-02-25 | 2006-08-09 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트용 핸들러의 테스트 트레이 |
-
2007
- 2007-04-18 KR KR1020070038049A patent/KR100860597B1/ko active IP Right Grant
-
2008
- 2008-03-26 TW TW097110765A patent/TWI350267B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-04-14 US US12/102,301 patent/US20080260505A1/en not_active Abandoned
- 2008-04-17 CN CN2008100891744A patent/CN101290327B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100380963B1 (ko) | 2000-11-10 | 2003-04-26 | 미래산업 주식회사 | 모듈램 테스트 핸들러 |
KR20040086849A (ko) * | 2002-03-06 | 2004-10-12 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 인서트 및 이를 구비한 전자부품 핸들링 장치 |
KR20060125136A (ko) * | 2005-06-02 | 2006-12-06 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
KR20070032323A (ko) * | 2007-01-11 | 2007-03-21 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 누름 부재 및 전자 부품 핸들링 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101290327A (zh) | 2008-10-22 |
TW200844025A (en) | 2008-11-16 |
CN101290327B (zh) | 2012-04-11 |
US20080260505A1 (en) | 2008-10-23 |
TWI350267B (en) | 2011-10-11 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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