TWI784601B - 鉑電鍍浴及鍍鉑製品 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種極其穩定、浴壽命長、雜質蓄積少、可厚鍍覆的酸性鉑電鍍浴和使用該酸性鉑電鍍浴製造的具有緻密、硬度高、應力小、有光澤且耐腐蝕性良好的高純度的鍍鉑皮膜的鍍鉑產品。鉑電鍍浴是在包括2價鉑（II）錯合物和游離的硫酸或氨基磺酸的酸性鍍鉑浴中還包含陰離子表面活性劑的鍍浴。另外，透過使用該鉑電鍍浴進行處理，藉此製造鍍鉑產品。

Description

鉑電鍍浴及鍍鉑製品

本發明涉及一種酸性的鉑電鍍浴和從該鍍浴電鍍出的鍍鉑產品。

鉑電鍍浴多使用2價鉑（II）錯合物作為鉑化合物。2價鉑（II）錯合物較佳以4價氯鉑（IV）酸鹽為原料合成各種鉑化合物進行使用。無機的鉑（II）錯合物有鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸等的化合物。例如，有氯化鉑（PtCl ₂）、硝酸鉑（Pt（NO ₃） ₂）、二氯二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂Cl ₂、三氯胺鉑酸（HPtCl ₃（NH ₃））或其鹽（MPtCl ₃（NH ₃））、四氯鉑酸（H ₂PtCl ₄）或其鹽（M ₂PtCl ₄）、四硝基鉑酸（H ₂Pt（NO ₂） ₄）或其鹽（M ₂Pt（NO ₂） ₄）、四磺鉑酸（H ₆Pt（SO ₃） ₄）或其鹽（M ₆Pt（SO ₃） ₄）等。在此，M表示鹼金屬元素、第二主族元素或銨。另外，作為鉑化合物還有4價鉑（IV）錯合物。4價鉑（IV）錯合物有六羥基鉑酸（H ₂Pt（OH） ₆）或其鹽（M’ ₂Pt（OH） ₆）等。在此，M’表示鹼金屬元素、第二主族元素或銨。

電鍍浴較佳使用的2價鉑（II）錯合物已知有二硝基二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂（NO ₂） ₂，所謂的p鹽）、二硝基二水二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂（H ₂O） ₂（NO ₂） ₂）、硝基羥基水二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂（H ₂O）（OH）（NO ₂））、硝基羥基二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂（OH）（NO ₂））、二氨二硝酸鉑（Pt（NH ₃） ₂（NO ₃） ₂）、硫酸二硝基鉑（［Pt（NO ₂） ₂（SO ₄）］ ^2-，所謂的DNS鹽）、二氯四氨合鉑（Pt（NH ₃） ₄Cl ₂）、二氯二氨合鉑（Pt（NH ₃） ₂Cl ₂）、四氨合磷酸氫鉑（Pt（NH ₃） ₄（HPO ₄），所謂的Q鹽）等。

自古已知使用這些2價鉑（II）錯合物或4價鉑（IV）錯合物的鉑電鍍浴。例如，使用二硝基二氨合鉑、硫酸二硝基鉑等的鉑電鍍浴有如下鉑電鍍浴。

例如，日本特公昭36-19658號公報（後述的專利文獻1）中公開了一種包括如下水溶液的鍍鉑用電解液的發明，「所述水溶液含有在氨基磺酸的水溶液中加熱亞硝基二氨鉑而得到的組合物 」。其說明書中指出，發現P鹽［Pt（NH ₃） ₂（NO ₃） ₂］在氨基磺酸的水溶液中會分解，並且鉑能夠在該稀釋溶液中電鍍。但是，存在當使用該鉑電鍍浴在70～80℃的溫度下實施電鍍作業時氨基磺酸會分解從而鉑鹽沉澱的缺點。

另外，日本特公昭36-19812號公報（後述的專利文獻2）中公開了一種包括如下溶液和水的鍍鉑用電解液的發明，所述溶液是將在10～100cc的濃硫酸與10～100cc的濃磷酸的水溶混合物約200cc中以每升10~40g的比例含有亞硝基二氨鉑的組合物加熱而得到的。但是，當使用該鍍鉑用電解液持續進行電鍍作業時，液中會蓄積磷酸，從而會出現阻礙鍍鉑皮膜的耐腐蝕性的情況。另外，在蓄積了磷酸的鍍鉑用電解液中，難以以一次的鍍覆操作可靠地獲得具有穩固的緊貼性的5μm以上的鍍覆。並且，存在阻礙從該鍍鉑用電解液的廢液中回收鉑的缺點。

之後，在日本特公昭49-21018號公報（後述的專利文獻3）中公開了「在含有（特定的）銨鹽0.05～2mol/L和硫酸0.05～1mol/L的溶液中溶解二氨二亞硝酸鉑而成的電解鉑鍍浴 」的發明。在實施例中採用了70～90℃的浴溫。該說明書中記載了「具有（1）浴的穩定性較高。…（3）浴壽命較長等作為工業用鍍浴的特性。 」

另外，日本特開平08-319595號公報（後述的專利文獻4）的請求項4中公開了如下發明，「一種電鍍用鉑浴，其特徵在於：在含有5～30g/l的作為使用出自1莫耳的二硝基二氨合鉑（II）與4～6莫耳的磺醯胺酸的反應的生成物的氨基磺酸基（Ammine Sulfamato）錯合物的鉑並且pH值小於1的電鍍用鉑浴中，電解液最高含有5g/l的游離的磺醯胺酸和20～400g/l且pH值小於1的強酸，含有0.01～0.2g/l的氟表面活性劑作為潤濕劑 」。實施例中在80℃的浴溫度下進行操作。該發明的說明書中記載「目的在於提供一種即使層厚大於100μm也能夠無裂紋、光滑且有光澤地沉澱並且即使暫不使用時也很穩定的電鍍用鉑浴 」。需要說明的是，「磺醯胺酸 」是氨基磺酸的別名。

另外，美國專利第3206382號說明書（後述的專利文獻5）公開了一種電沉積鉑的方法，即，將pH值小於2且本質上由鉑的規定的亞硝基化合物錯合物的水溶液而成的電解質進行電解。該實施例1中公開了用硫酸使四硝基鉑（II）酸鉀反應並按照下式調整硫酸二硝基鉑（II）酸鉀的方法。 K ₂Pt（NO ₂） ₄＋　H ₂SO ₄→　K ₂Pt（NO ₂） ₂SO ₄該說明書公開了該發明的鍍浴穩定，帶來始終如一的結果，即使放置也不會劣化。

在將鉑電鍍浴用於製造鍍鉑產品時，設置鎳、銅、鈀等層作為被鍍覆物的中間層。形成中間層通常使用酸性的鍍浴，但在使用了酸性的電鍍浴來形成中間層的情況下，會使用酸性鍍浴進行鉑電鍍。這是因為如果使用鹼性的鉑電鍍浴，則前階段的酸性液會被帶入鉑電鍍浴，從而容易改變鹼性浴的pH。

現有技術文獻 [專利文獻] 專利文獻1 : 日本特公昭36-19658號公報 專利文獻2 : 日本特公昭36-19812號公報 專利文獻3 : 日本特公昭49-21018號公報 專利文獻4 : 日本特開平08-319595號公報 專利文獻5 : 美國專利第3206382號說明書

[發明所要解決的問題]

以往從酸性的鉑電鍍浴（鉑電鍍液）電鍍出的鉑皮膜如日本特公昭36-19658號公報（上述的專利文獻1）所述，存在應力高、容易產生針孔、裂縫的問題。日本特開平08-319595號公報（上述專利文獻4）的鉑皮膜雖然在外觀上看不到針孔、裂縫，但若是測定孔隙率，即發現孔隙率的數值卻很差，依然在鉑皮膜上存在針孔、裂縫。

這種鉑皮膜的孔隙率差的問題是由透過電鍍而電解沉澱出的鉑顆粒引起的。即，一個因素是因從鉑電鍍浴中的穩定的鉑錯合物中提取鉑離子使得穩定的鉑錯合物在鉑電鍍浴中變為不穩定的化合物。例如，當p鹽、DNS鹽等所含的硝基配位於鉑時，極其穩定，但當透過電鍍使鉑金屬從錯合物沉澱時，剩餘的硝基就會在鉑電鍍浴中形成各種氮氧化物（NOx）離子。該複雜的氮氧化物（NOx）離子作用於鉑電鍍浴中的鉑錯合物，使得所沉澱的鉑金屬的顆粒不穩定。

具體而言，四硝基鉑酸（H ₂Pt（NO ₂） ₄）在水溶液中可能形成Pt（NO ₂） ₃（H ₂O） ^-、Pt（NO ₂） ₂（H2O） ₂、Pt（NO ₂）（H ₂O） ₃ ^＋、Pt（H ₂O） ₄ ^{2 ＋}等錯合物。另外，已知硝基在水溶液中除了上述化合物以外，還具有容易生成［Pt（NH ₃） ₂（NO ₃） ₂］等氮與氧的複雜的化合物的性質。例如，已知在將殘留在鉑電鍍浴中的硝基過度濃縮的情況下，鉑電鍍浴的色調會變化。藉此也能夠理解鉑錯合物的硝基具有容易生成複雜的化合物的性質。另外，已知在酸性的鉑電鍍浴中，從鉑錯合物游離出的硫氧化物（SOx）離子雖然不如氮氧化物（NOx）離子那樣活躍，但也具有容易生成複雜的化合物的性質。電解沉澱物會因鉑電鍍浴中的這樣的鉑錯合物的變化而受到影響。這樣在酸性的鉑電鍍浴中存在在電鍍的作業中電解沉澱物容易變動的傾向。特別是當噴流鍍覆等在高電流密度條件下持續進行連續鍍覆時，浴溫上升，容易形成新的氮氧化物（NOx）離子、硫氧化物（SOx）離子等不穩定的化合物。

微觀觀察電解沉澱出的鉑顆粒發現，結晶粒較大且不穩定。另外，酸性的鉑電鍍浴容易溶解金屬，因此鍍鉑產品呈現易受金屬雜質的影響的傾向。當金屬雜質蓄積、濃縮時，鉑電鍍浴的鍍覆條件容易變動，容易產生鍍鉑產品的不良。另外，當在這樣的鉑電鍍浴中共存鹵離子時，游離的氮氧化物（NOx）離子、硫氧化物（SOx）離子會進一步發生複雜的反應。在陰極附近電解沉澱的鉑離子因這些複雜的化合物、配位體而受到各種影響。因此在鉑離子成為新的鉑顆粒的核時的沉澱條件會不斷變化。由於即使鍍覆條件相同，陰極上的鉑顆粒的沉澱條件也不同，因此鉑電解沉澱物會變得不穩定。藉此可推測電鍍成的鉑皮膜應力較高、結晶粒大，產生針孔、裂縫。

綜上所述，以往的鉑電鍍浴中，穩定的鉑錯合物的氮氧化物（NOx）離子、硫氧化物（SOx）離子等游離，使鉑電鍍浴不穩定，而這些離子等蓄積、濃縮。當這些離子等在鉑電鍍浴中大量存在時，電鍍時鉑顆粒從水溶液沉澱的條件變得不穩定。另外，在已沉澱出的鉑顆粒上沉澱的鉑顆粒會受到這些離子等的影響。因此，電解沉澱出的鉑沉澱物的應力較高，結晶粒不規則地生長。因此所得到的鍍鉑產品存在微觀的裂縫、針孔較多的問題。並且如果使用銅這一金屬基體進行電鍍，則有時銅在酸性的鉑電鍍浴中會以ppm級別溶出。實施鎳、鈀等的中間層的鍍覆處理也是一樣。這樣的金屬雜質可能會對鍍鉑產品產生負面影響。

但是，以往的鉑電鍍浴中，沒有考慮其他金屬雜質的影響。另外，以往鍍鉑產品的微觀裂縫、針孔都沒有成為問題。這是因為鍍鉑產品應力大，具有即使將鍍鉑產品浸泡在酸、鹼的水溶液中也不易被腐蝕的化學性質。然而，在連接器等的用途中，因鍍鉑產品的微觀裂縫、針孔等導致的孔隙率即耐腐蝕性成為問題。因為當徒手觸碰鍍鉑產品時，存在汗等成分會浸透鉑皮膜從而腐蝕金屬基體的風險。在這樣的用途中，有時ppm級別的金屬雜質也會對鍍鉑產品產生影響。因此後來要求緻密的高純度的鍍鉑產品和高純度的鉑電鍍浴。特別是矽在自然界大量存在，是在鉑電鍍浴中也容易作為雜質捲入其中的一種金屬元素。例如，貴金屬也作為銅的電解精煉的副產物產出。參見日本特開昭50-116326號公報的第十二實施方式，記載有在銅的電解精煉中產出含有矽的含鉑合金。矽容易進入鉑電鍍浴，因此在高純度的鉑電鍍浴中需要特別注意。

本發明鑒於上述課題而完成，其目的在於提供一種極其穩定且浴壽命長的鉑電鍍浴。特別是提供一種即使是含有大量像硝基那樣易分解的配位體的鉑（II）錯合物的酸性鉑電鍍液也能獲得緻密且具有非晶狀態那樣的晶體結構的高純度的鉑沉澱物的鉑電鍍浴。

本發明的另一個目的在於提供一種具有應力小且緻密到在掃描電子顯微鏡下觀察不到鉑顆粒的晶界的鉑皮膜的鍍鉑產品。本發明的目的還在於提供一種具有可厚鍍覆的高純度的鉑皮膜的鍍鉑產品。特別是提供一種孔隙率小且耐腐蝕性良好的鍍鉑產品。 [解決問題的手段]

本發明人們對不易腐蝕的鍍鉑產品的孔隙率進行研究發現，鉑皮膜的孔隙率越小，鍍鉑產品的耐腐蝕性越優異。另外已知當鍍鉑產品中存在金屬雜質時，因金屬的種類、含量不同有時無法獲得緻密的鉑皮膜。例如，當以往的酸性鉑電鍍浴中含有ppm級別的特定的金屬雜質時，有時電解沉澱出的鉑沉澱物的孔隙率會顯著劣化。觀察該鍍鉑產品，在鉑皮膜上產生有裂縫、針孔等表面缺陷。

對鉑電鍍浴中所含的矽的產生源進行調查發現，像上述銅的電解精煉的副產物那樣，有時標稱99.9%以上的鉑基體中也在數十ppm級別含有矽等金屬雜質，另外，蒸餾水中也含有矽。因此在製備鍍鉑浴、補充蒸發水時有時也會意外地蓄積有矽等金屬雜質。並且已知在作為預處理鍍覆液的鍍金浴、鍍鈀浴、鍍鎳浴或者它們的回收（Dragout）槽、水洗裝置等的清洗液中也有時含有矽等金屬雜質。

本發明人首先在去除了矽的條件下研究了鉑電鍍浴。發現在以往的以2價鉑（II）錯合物的硫酸鹽或氨基磺酸鹽和游離的硫酸或氨基磺酸為基本液的酸性鉑電鍍浴中，即使鉑沉澱物為高純度，其結晶粒也較大。即，在不含有鉑以外的金屬雜質的鉑電鍍浴中，僅鉑會電解沉澱。電解沉澱出的鉑為高純度的鉑，能夠正確瞭解其皮膜特性。

本發明人們在這樣的高純度的鉑電鍍浴中研究了各種添加劑。而且發現當添加一個分子中兼具親水基團和疏水基團的陰離子表面活性劑時，在陰極上沉澱出的鉑顆粒緻密，其形狀均勻。對其作用進行說明。即，兼具親水基團和疏水基團的陰離子表面活性劑由一個基團包圍2價鉑錯合物的周圍。當在鉑電鍍浴中通電時，陰離子表面活性劑保持包圍2價鉑錯合物的周圍的狀態不變，將鉑錯合物運輸到陰極表面。在陰極表面，2價鉑錯合物變為零價鉑金屬。當在陰極表面的溶液側，2價鉑錯合物接觸陰極表面時，鉑錯合物的配位體變為氮氧化物（NOx）離子等，游離在鉑電鍍浴中。在該過程中，陰離子表面活性劑替代氮氧化物（NOx）離子等，包圍鉑金屬。游離的氮氧化物離子因陰離子表面活性劑的妨礙而無法再接近鉑金屬。當陰極上的鉑金屬被還原為鉑顆粒時，該鉑顆粒被鉑結晶粒吸收，陰極上的鉑結晶粒生長。另一方面，在鉑電鍍浴中包圍鉑金屬的陰離子表面活性劑從陰極表面分離，再次在鉑電鍍浴中游離。

使用圖1簡單易懂地說明該陰離子表面活性劑的作用。圖1是添加有作為陰離子表面活性劑的月桂基硫酸鈉的p鹽的鉑電鍍液的示意圖。方便起見，將鉑離子的配位體標記為硫酸離子（SO ₄） ^2-。如圖1的左側所示，在鉑電鍍液中，作為陰離子表面活性劑的月桂基硫酸鈉包圍Pt（II）錯合物的周圍。該Pt（II）錯合物被外部的電能運輸到陰極上。如圖1的中央所示，被運輸到陰極表面的2價Pt（II）錯合物從陰極獲得兩個電子，被還原為零價Pt（0）金屬，其周圍由陰離子表面活性劑包圍。在陰極上的鍍覆液側，零價Pt（0）金屬的陰離子表面活性劑與Pt（II）錯合物的陰離子表面活性劑彼此推斥。此外還與因電解而產生的氫氧離子（未圖示）、硫氧化物（SOx）離子（未圖示）等也彼此推斥。因此零價Pt（0）金屬和2價Pt（II）錯合物中的鉑原子的相互作用被抑制。

接下來，如圖1的右側所示，零價Pt（0）金屬被還原為鉑顆粒（未圖示），被鉑結晶粒吸收。在陰極上，鉑結晶粒生長，形成鍍鉑皮膜。另一方面，包圍著鉑金屬的陰離子表面活性劑從陰極上分離，再次游離於鉑電鍍液中。透過這樣的陰離子表面活性劑的作用，鉑顆粒能夠抑制其他的鉑原子的相互作用，因此能夠始終在恆定條件下沉澱鉑顆粒。當在陰極表面層疊均質化的結晶顆粒時，就形成無縫隙的電解沉澱物。其結果是，在陰極上獲得緻密、具有如非晶狀態的晶體結構的鉑皮膜。

另一方面，已知這樣的陰離子表面活性劑對鉑電鍍浴中的金屬雜質無效。陰離子表面活性劑的作用對鉑錯合物的配位體起效，但對鉑電鍍液中的金屬雜質不起作用。當本發明的鉑電鍍浴中含有矽等金屬雜質時，這些金屬雜質共析於鍍鉑皮膜。反之，如果鉑電鍍浴中不含有這些金屬雜質，則能夠獲得高純度的鉑電解沉澱物。已知不含金屬雜質的高純度的鍍鉑皮膜是即使硬度高，拉伸應力也較低、緻密且孔隙率低的電解沉澱物。

本發明的鉑電解沉澱物的表面和剖面的掃描電子顯微鏡像顯示於圖2。該圖是從45度斜上方拍攝純度99%以上的鉑電解沉澱物的表面（用白色橫線劃分出的照片上部）和厚度4μm的剖面（該照片下部）所得的照片。由該圖可知，鉑電解沉澱物的結晶粒如非晶狀態般緻密。

能夠解決所述課題的本發明的鉑電鍍浴的主旨在於，在包括2價鉑（II）錯合物和游離的硫酸或氨基磺酸的酸性鍍鉑浴中，包含陰離子表面活性劑。

另外，能夠解決所述課題的本發明的鉑電鍍浴的主旨在於，在包括2價鉑（II）錯合物和游離的硫酸或氨基磺酸的酸性鍍鉑浴中，包含陰離子表面活性劑和第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽。在此，所說的第二主族元素是指鈹、鎂、鈣、鍶等元素。另外，所說的鹼金屬元素是指鋰、鈉、鉀、銣等元素。

並且，能夠解決所述課題的本發明的鉑電鍍浴的鉑電解沉澱物的主旨在於，鉑的純度為大於等於99重量%，維氏硬度為450～500Hv，應力為小於等於100MPa並且孔隙率為小於等於30%。 [發明效果]

本發明的鉑電鍍浴透過含有陰離子表面活性劑，藉此即使是酸性的鍍鉑浴，也具有像非晶狀態那樣的晶體結構，具有能夠獲得緻密的鉑電解沉澱物的效果。即，本發明的鉑電解沉澱物具有如下特徵：有光澤，即使堅硬、緻密，應力也極低。特別是不含矽等金屬雜質的高純度的鉑電鍍浴，上述效果會增大。

本發明的鉑電鍍浴透過含有鹼金屬元素、第二主族元素或這些金屬元素的金屬鹽，藉此具有能夠減少陰離子表面活性劑的使用量的效果。即，已知透過除了陰離子表面活性劑外還含有鹼金屬元素、第二主族元素或這些金屬元素的金屬鹽，藉此即使陰離子表面活性劑的含量少也能獲得同等的效果。另外，本發明的鉑電鍍浴還具有即使長時間連續進行電鍍、陰離子表面活性劑的蓄積也較少的效果。還具有即使陰離子表面活性劑有時會劣化從而表面活性劑濃度實質上降低，本發明的鉑電鍍浴也能長期連續運轉的效果。

另外，採用本發明的鉑電鍍浴，即使為小於等於1μm的薄鍍覆皮膜，也是緻密的且具有非晶狀態那樣的晶體結構，因此具有能夠獲得孔隙率低且耐腐蝕性優異的鍍覆皮膜的效果。並且如果使用高純度的鉑電鍍浴，則具有其鉑電解沉澱物的純度高且鉑皮膜的品質穩定的效果。

另外，採用本發明的鉑電鍍浴，鍍覆品質穩定，因此具有能夠將浴溫度設定為較低溫的效果。當降低本發明的鉑電鍍浴的浴溫度時，具有鍍覆液的管理變得容易的效果。另外，本發明的鉑電鍍浴的雜質的蓄積較少，因此還具有無需設置對鍍覆液過濾分離等的昂貴裝置的效果。

包括本發明的鉑電鍍浴的鉑電解沉澱物的鍍鉑產品的鉑皮膜的結晶粒緻密，是如非晶狀態的晶體結構。這樣的鉑皮膜的孔隙率低，因此耐腐蝕性優異。特別是具有能夠獲得即使是小於等於1μm的薄鍍覆、耐腐蝕性也較高的鍍鉑產品的效果。本發明的鍍鉑產品的耐腐蝕性不僅包括對抗腐蝕液那樣的靜態耐腐蝕性，還包括流通微弱電流等情況下的動態耐腐蝕性。另外，本發明的鍍鉑產品堅硬且緻密，因此作為連接器等的情況下，具有插拔耐久性、耐磨性優異的效果。本發明的鉑皮膜的應力極低，因此還具有緊貼性強、皮膜不會剝落、皮膜上不會出現針孔、裂縫等的效果。

另外，本發明的高純度的鍍鉑產品具有電阻溫度係數穩定、能夠獲得均等的電阻值的效果。另外，本發明的鍍鉑產品是即使高純度也有光澤且具有耐腐蝕性的鉑電解沉澱物，因此具有適合作為裝飾品的效果。特別是孔隙率表現出比耐汗性更加嚴格的耐腐蝕性標準，具有也適合作為手鐲、耳環等首飾使用的效果。

為了對本發明的技術特徵、目的和有益效果有更加清楚的理解，現對本發明的技術方案進行以下詳細說明，但不能理解為對本發明的可實施範圍的限定。 以下，對本發明的鉑電鍍浴和包括使用該鉑電鍍浴製造的鉑電解沉澱物的鍍鉑產品的實施方式進行說明。 ＜鉑電鍍浴＞ （2價鉑（II）錯合物）

在本發明的鉑電鍍浴中，2價鉑（II）錯合物能夠使用以往的電鍍浴較佳使用的2價鉑（II）錯合物。2價鉑（II）錯合物較佳為具有硝基（NO ₂）、硝酸基（NO ₃）、硫酸基（SO ₄）或磺基（SO ₃）以及氨基（NH ₃）、氧鎓（H ₂O）或羥基（OH）中的至少1種以上配位體的無機鉑錯合物。電鍍浴更佳使用的2價鉑（II）錯合物有p鹽、DNS鹽等。這些鉑（II）錯合物既可以單獨使用，也可以2種以上混合使用。

在本發明的鉑電鍍浴中，使用將2價鉑（II）錯合物溶解於游離的硫酸或氨基磺酸中的水溶液。例如，如果將p鹽、DNS鹽等的2價鉑錯合物粉末溶解於硫酸液、氨基磺酸液，則成為褐色或淡黃色的液體。本發明的鉑電鍍浴可以直接使用該2價鉑的溶解液，也能夠將該2價鉑的溶解液稀釋使用。在本發明的鉑電鍍浴中，所謂的「硫酸或氨基磺酸 」是指既可以單獨使用硫酸或氨基磺酸也可以將它們混合使用。

鉑的濃度（併用2種以上鉑鹽的情況下為合計含量）作為鉑（Pt）含量，較佳為1～20g/L，更佳為2.5～15g/L。鉑的濃度小於1g/L，則存在沉澱速度變慢的情況，但當有金屬鹽時，則沉澱速度的延遲被緩解。另外，在目視觀察時，如果鉑的濃度小於1g/L，則有時在鍍覆皮膜會發現過燒鍍層、不均勻這樣的沉澱異常。另一方面，即使鉑的濃度大於20g/L，鉑電鍍的效果也幾乎不會改變。因此，當鉑（II）離子的濃度大於20g/L時，基體成本提高。如果鉑的濃度在2.5～15g/L的範圍內，則能夠穩定地實施連續鍍覆。需要說明的是，Q鹽等鉑錯合物所含的磷酸量能夠透過與不含磷的其他鉑錯合物併用來適當地調整。

本發明的鉑電鍍浴中的游離的硫酸或氨基磺酸的含量無論是單獨使用還是2種以上併用的情況下，都較佳含有30～600g/L，更佳含有50～400g/L。如果游離的硫酸或氨基磺酸的合計含量小於30g/L，則雖然也取決於其他輔助導電鹽的含量等，但有時在鍍覆皮膜上會發現過燒鍍層、不均勻這樣的沉澱異常。另一方面，當游離的硫酸或氨基磺酸的合計含量大於600g/L時，因鍍覆作業中的水分的蒸發損耗，存在游離的硫酸鹽的濃度變得過高、喪失鉑電鍍液的平衡的風險。 （陰離子表面活性劑）

本發明的鉑電鍍浴含有陰離子表面活性劑。作為本發明的鉑電鍍浴中的陰離子介面活性劑，能夠使用磺酸型、硫酸酯型、脂肪酸型等的一般已知的陰離子表面活性劑。但是，磷酸酯型表面活性劑由於作為成分的磷酸酯鹽有時會阻礙鉑電解沉澱物的耐腐蝕性，因此不適於作為本發明的陰離子表面活性劑。具體而言，能夠舉出如下陰離子表面活性劑，但並不局限於此等，只要是作為陰離子表面活性劑出售的產品，除了磷酸酯型的陰離子表面活性劑外，都沒有問題而能夠使用。 磺酸型的陰離子表面活性劑有十一烷基磺酸鈉、十八烷基磺酸鈉等烷基化磺酸鹽、十二烷基苯磺酸鈉等烷基苯磺酸鹽、二烷基磺基琥珀酸鈉等磺基琥珀酸鹽等。 硫酸酯型的陰離子表面活性劑有月桂基硫酸鈉、月桂基硫酸銨等。 脂肪酸型的陰離子表面活性劑有月桂酸鈉、硬脂酸鈉等，還有N-癸醯基肌氨酸鈉、N-月桂醯-N-甲基-β-丙氨酸等氨基酸癸醯基肌氨酸鈉等氨基酸系物質等。

上述陰離子表面活性劑較佳為烷基化硫酸或其鹽和烷基苯磺酸或其鹽、硬脂酸或其鹽、磺酸或其鹽或者月桂基硫酸的鹼金屬元素鹽、第二主族元素鹽、銨鹽等。因為這些陰離子表面活性劑會融入2價鉑（II）錯合物的硫酸鹽或氨基磺酸鹽，使電解沉澱物緻密。陰離子表面活性劑少量就會作用於鉑電解沉澱物，具有使結晶粒轉為非晶狀態的性質。另外，陰離子表面活性劑不易從鉑電鍍浴蒸發，因此在鉑電鍍浴中長期間穩定地作用於鉑電解沉澱物。陰離子表面活性劑不局限於使用1種，也能夠併用2種以上。因為有時會用泵使鉑電鍍浴迴圈，因此較佳採用不起泡的陰離子表面活性劑。

本發明的鉑電鍍浴中的陰離子表面活性劑的少量範圍較佳為5～500mg/L。如果陰離子表面活性劑的含量小於5mg/L，則鉑電解沉澱物的應力增大，多數無法發揮提高耐腐蝕性的效果。陰離子表面活性劑的總量的下限值較佳為20mg/L，更佳為50mg/L。當含有鹼金屬元素或第二主族元素的鹽時，陰離子表面活性劑的含量50mg/L能夠相對減少至小於15mg/L。當含有鹼金屬元素或第二主族元素的鹽時，陰離子表面活性劑的含量5mg/L能夠相對減少至小於3mg/L。另一方面，當陰離子表面活性劑的含量多於500mg/L時，在目視觀察時，常常會在鍍覆皮膜上發現過燒鍍層、不均勻這樣的沉澱異常。另外，上限值較佳為300mg/L，更佳為200mg/L。當含有鹼金屬元素或第二主族元素的鹽時，陰離子表面活性劑的含量能夠同樣相對減少。 （金屬鹽）

已知在本發明的鉑電鍍浴中，當存在第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽時，能夠減少陰離子表面活性劑的含量。在本發明的鉑電鍍浴中，第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽的離子化傾向較大，因此即使進行電鍍作業，這些金屬也不會共析到鉑電解沉澱物中。另外，這些金屬鹽沒有像陰離子表面活性劑那樣阻礙鉑顆粒的生長的效果。第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽中，更佳為鎂鹽。作為鎂鹽有例如硫酸鎂、亞硫酸鎂、硝酸鎂以及它們的水和物等。還能使用乙酸鎂、檸檬酸鎂、乳酸鎂、硬脂酸鎂等。另外，像氧化鎂、氫氧化鎂那樣在本發明的鉑電鍍浴中形成鹽的物質也能作為原料使用。本發明的鉑電鍍浴中含有游離的硫酸或氨基磺酸，因此使用廉價的金屬硫酸鹽作為第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽為好。

如果鉑電鍍浴中存在第二主族元素的金屬鹽和鹼金屬元素的金屬鹽以外的矽等金屬雜質，則這些雜質金屬容易共析到鉑電解沉澱物中。如果這些金屬雜質共析到鉑電解沉澱物中，則雖然也取決於這些金屬雜質的種類、含量，但有時會對鉑皮膜的孔隙率即鍍鉑產品的耐腐蝕性產生負面影響。因此在獲取高純度的鉑電解沉澱物的情況下，需要儘量去除這些雜質金屬。尤其矽是容易進入本發明的鉑電鍍浴的雜質元素。在獲取高純度的鉑電解沉澱物的情況下，能夠以矽作為雜質的指標。矽較佳小於等於1ppm。另外，第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽不含鹵元素。因為鹵元素會對鉑電解沉澱物產生負面影響。這些金屬鹽還不含磷酸鹽。因為含有大量磷酸鹽的鉑電鍍浴會使鉑電解沉澱物的耐腐蝕性變差。磷雖然具有使鉑沉澱物緻密的效果，但磷酸鹽具有不易蒸發的性質。如果使用磷酸鹽作為第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽，則其會濃縮，從而在鉑電解沉澱物中含有磷，存在對鍍鉑產品產生負面影響的風險。 （其他添加物）

本發明的鉑電鍍浴能夠使用pH緩衝劑等已知的添加劑。作為pH緩衝劑，只要是已知的pH緩衝劑，就不特別限定。作為較佳的緩衝劑，可以舉出氫氧化鉀、氫氧化鈉、氫氧化鎂、氫氧化鈣等無機鹽或者乙酸、硼酸、四硼酸、檸檬酸、蘋果酸、琥珀酸、丙二酸、馬來酸、富馬酸、甘氨酸或其化合物（鉀鹽、鈉鹽、銨鹽等）等。這些pH緩衝劑能夠在0.1～100g/L的濃度範圍添加。並且本發明的鉑電鍍浴還可以根據需要來含有配位元劑、浴穩定劑、速度調整劑、平整劑、結晶調整劑、應力鬆弛劑、物性提高劑等功能性添加劑。但是，無法使鉑電解沉澱物維持純度大於等於99%的高純度的功能性添加劑、使孔隙率變差的功能性添加劑除外。 （鍍覆條件等）

本發明的鉑電鍍浴中，pH較佳為小於等於2，更佳為小於等於1.5。這是因為含有陰離子表面活性劑。還因為在電鍍作業中，2價鉑（II）錯合物的硫酸鹽或氨基磺酸鹽穩定。pH通常在0.2～1.0的範圍。為了將pH控制在規定範圍，能夠使用pH緩衝劑。pH緩衝劑既可以單獨使用一種，也可以混合兩種以上使用。另外，浴溫度能夠根據鍍覆作業的周圍環境適當地決定。較佳為30～90℃的範圍，更佳為35～70℃的範圍，進一步更佳為40～60℃的範圍。浴溫度越高，鉑電解沉澱物的沉澱速度越快，但鍍覆液的蒸發量越多。能夠根據所使用的金屬基體、鉑產品的用途來適當地決定浴溫。另外，陰極電流密度的應用範圍大，能夠結合金屬基體的鍍覆面積、浸漬和噴射鍍覆裝置的選擇、鍍覆液的流量等條件，選擇最佳的電流密度。 ＜鉑電解沉澱物＞

本發明的鉑電鍍浴的被鍍覆物用作金屬基體。金屬基體只要是能在其表面上進行電鍍的物質即可，即使基底為塑膠、陶瓷等絕緣物質，也不限制。金屬基體的表面根據用途，適當地選擇金屬或合金。在連接器等電氣、電子部件用途方面，通常除了銅金屬、銅合金外，還使用鐵、鎳、鉻等金屬、其合金。並且金屬基體的表面也能夠使用實施鎳、鈀、金等的無電鍍、電鍍的表面。此外，在電極用途方面，使用鈦、鉭等耐火性金屬。首飾、裝飾品用途方面，使用不銹鋼、鎳、銀合金、金合金等金屬。另外，進行厚鍍覆的鉑電解沉澱物也能夠用於裝飾品、擺飾。

本發明的鉑電解沉澱物緻密，看不到裂縫、針孔。對本發明的鉑電解沉澱物實施如實施例所示的耐腐蝕性試驗的一種即孔隙率試驗。這是因為即使實施人工汗試驗（JIS B 7285）、加速腐蝕試驗（JIS H 8502），也難以評價腐蝕的差異。另外，本發明的鉑電解沉澱物的內部應力低，能夠進行厚度大於等於10μm的厚鍍覆。另外，即使從金屬基體剝離鉑皮膜，本發明的鉑皮膜也看不到彎曲、捲曲。

在本發明的鍍鉑產品中，較佳為金屬基體和鉑電解沉澱物的雙層構造。如此一來能夠節約昂貴的鉑基體所需要的成本。如上所述，金屬基體根據用途適當地選擇。金屬基體既可以是單一金屬，也可以是疊層金屬。單一金屬和疊層金屬也包括包覆於塑膠、陶瓷等的金屬。另外，本發明的薄鍍覆皮膜的鍍鉑產品更佳為連接器。本發明的鉑電解沉澱物是如非晶狀態的晶體結構，孔隙率低，硬度高，有耐腐蝕性。因此即使徒手觸摸較薄的鉑電解沉澱物的表面，也不會腐蝕。需要說明的是，孔隙率雖然也取決於鍍覆皮膜的膜厚，但較佳為小於等於25%，更佳為小於等於20%。 實施例

以下，利用實施例和比較例具體說明本發明，本發明只要不超出其主旨，就不局限於這些實施例。 （實施例） （實施例1）

實施例1的鉑原液是含有DNS的硫酸液，該DNS以鉑計含有11g/L。在該鉑原液中分別等量地添加硫酸和氨基磺酸，合計添加160g/L，製成基本浴。該在基本浴中添加60mg/L的月桂基硫酸鈉（花王株式會社製「Emal（該公司的注冊商標）0 」） 作為陰離子表面活性劑，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例2）

實施例2的鉑原液是含有以鉑計為15g/L的p鹽的氨基磺酸液。在該鉑原液中添加70g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加70mg/L的十二烷基苯磺酸鈉（花王株式會社製「Neopelex（該公司的注冊商標）G-15 」），將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例3）

實施例3的鉑原液是含有以鉑計為17g/L的DNS的氨基磺酸液。在該鉑原液中分別等量地添加硫酸和氨基磺酸，合計添加150g/L，製成基本浴。在該基本浴中添加180mg/L的N-月桂醯肌氨酸鈉鹽（純度大於等於95.5%），將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例4）

實施例4的鉑原液是含有以鉑計為 16g/L 的DNS的硫酸和氨基磺酸的混合液。在該鉑原液中添加60g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加400mg/L的烷基烯丙基磺酸鹽・烷基銨鹽（花王株式會社製「VISCO TOP（該公司的注冊商標） 200LS-2 」），將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例5）

實施例5的鉑原液是含有以鉑計為5g/L 的DNS的硫酸和氨基磺酸的混合液。在該鉑原液中添加80g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加500mg/L的月桂基硫酸銨（花王株式會社製「Emal（該公司的注冊商標） AD-25R 」），將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例6）

實施例6的鉑原液是含有以鉑計為3g/L的DNS的氨基磺酸液。在該鉑原液添加180g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加90mg/L的硬脂酸鈉，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例7）

實施例7的鉑原液是含有以鉑計為13g/L 的p鹽的硫酸液。在該鉑原液中添加110g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加160mg/L的直鏈型烷基苯磺酸鈉（日油株式會社製「Newrex（該公司的注冊商標）柔軟型30 」），將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例8）

實施例8的鉑原液是含有以鉑計為1g/L 的DNS的硫酸和氨基磺酸的混合液。在該鉑原液中分別等量地添加硫酸和氨基磺酸，合計添加80g/L，製成基本浴。在該基本浴中添加10mg/L的月桂基硫酸銨（花王株式會社製「Emal（該公司的注冊商標） AD-25R 」）和15g/L的硫酸鎂，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例9）

實施例9的鉑原液是含有以鉑計為18g/L 的p鹽的氨基磺酸液。在該鉑原液中添加190g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加140mg/L的東京化成工業株式會社製的月桂基硫酸鉀和6g/L的硫酸鎂，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例10）

實施例10的鉑原液是含有以鉑計為8g/L 的DNS的硫酸液。在該鉑原液中添加130g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加200mg/L的直鏈烷基苯磺酸鈉（第一工業製藥株式會社製「Neogen（該公司的注冊商標）AS-20 」）和2g/L的硫酸鎂，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例11）

實施例11的鉑原液是含有以鉑計為14g/L 的p鹽的硫酸和氨基磺酸的混合液。在該鉑原液中添加200g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加300mg/L的硬脂酸鈉和4g/L的硫酸鈣，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例12）

實施例12的鉑原液是含有以鉑計為6g/L 的DNS的硫酸和氨基磺酸的混合液。在該鉑原液分別等量地添加硫酸和氨基磺酸，合計添加140g/L，製成基本浴。在該基本浴添加80mg/L的東京化成工業株式會社製的「1-十八烷基磺酸鈉 」和20g/L的硫酸鎂，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。 （實施例13）

實施例13的鉑原液是含有以鉑計為7g/L 的DNS的氨基磺酸液。在該鉑原液中添加120g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加5mg/L的東京化成工業株式會社製的「間苯二甲酸二甲酯-5-磺酸鈉 」和1g/L的硫酸鈉，將pH調整為0.4，製成鉑電鍍浴。

上述實施例1～13的鉑電鍍浴是將p鹽或DNS溶解於硫酸液或氨基磺酸液，製成含有2價鉑錯合物的鉑濃縮液。之後，在該鉑濃縮液中添加硫酸液、氨基磺酸液或其混合液，製成鉑的基本浴。然後在該基本浴中添加規定的表面活性劑，將其作為實施例1～13的鉑電鍍浴。另外，在實施例8～13的鉑電鍍浴追加硫酸鹽作為金屬鹽。 摘選這些實施例1～13的鉑電鍍浴的成分，顯示於表1。需要說明的是，用於稀釋的純水是透過離子交換樹脂裝置處理的脫離子水。在實施例1～13中任一鉑電鍍浴中，作為雜質的矽都在小於等於0.1ppm。

[表1]

	基本浴（作為Pt）（g/L）	陰離子表面活性劑（mg/L）	金屬硫酸鹽（g/L）
實施品01	DNS・硫酸　　　　    11	月桂基硫酸鈉　　            60	無           —
實施品02	p鹽・氨基磺酸          15	十二烷基苯磺酸鈉　         70	無           —
實施品03	DNS・氨基磺酸         17	N-月桂醯肌氨酸鈉鹽           180	無           —
實施品04	DNS・硫酸・氨基磺酸  16	烷基烯丙基磺酸鹽 ＋烷基銨鹽　　　           400	無           —
實施品05	p鹽・硫酸・氨基磺酸    5	月桂基硫酸铵　　           500	無           —
實施品06	DNS・氨基磺酸          3	硬脂酸鈉　　　　         　90	無           —
實施品07	p鹽・硫酸               13	烷基苯磺酸鈉   　          160	無           —
實施品08	DNS・硫酸・氨基磺酸  1	月桂基硫酸銨　　  　       10	Na 2（SO 4） 15
實施品09	p鹽・氨基磺酸          18	月桂基硫酸鉀　　          140	MgSO 4       6
實施品10	DNS・硫酸               8	烷基苯磺酸鈉　             200	MgSO 4       2
實施品11	p鹽・硫酸・氨基磺酸    14	硬脂酸鈉　　　             300	CaSO 4        4
實施品12	DNS・硫酸・氨基磺酸   6	1-十八烷基磺酸鈉　         80	MgSO 4       20
實施品13	DNS・氨基磺酸          7	5-磺基鄰苯二甲酸二甲酯　　5	Na 2（SO 4）   1

所電鍍的金屬基體全部使用相同的銅製試件（在20mm×40mm×0.1mm厚的薄片上熔敷有導線的試件）。對該試件實施了脫脂和酸洗的預處理。之後，使用實施例1～13的鉑電鍍浴，對實施了預處理的試件在55℃的浴溫度下，通上陰極電流密度2A/dm2的電流（0.32A），從各鉑電鍍浴直接在該試件上電鍍鉑。

這樣從實施例1～13的鉑電鍍浴使鉑電解沉澱物沉澱0.8μm，製成實施品01～13的鉑皮膜。實施品01～13的鉑皮膜的鉑純度都為99%，這些鉑皮膜都有光澤。然後測定實施品01～13的鉑皮膜的孔隙率，並測定硬度和內部應力。其結果示於表2。

[表2]

	孔隙率 （%）	硬度 （Hv）	應力 （MPa）	光澤	膜厚 （μm）
實施品01	9.5	470	40	有	0.8
實施品02	10.5	480	70	有	0.8
實施品03	10.8	480	50	有	0.8
實施品04	10.9	480	40	有	0.8
實施品05	11.4	470	60	有	0.8
實施品06	12.2	480	20	有	0.8
實施品07	12.5	450	50	有	0.8
實施品08	8.5	480	80	有	0.8
實施品09	9.5	460	20	有	0.8
實施品10	11	480	20	有	0.8
實施品11	12.5	470	80	有	0.8
實施品12	13.2	480	50	有	0.8
實施品13	13.5	480	80	有	0.8

在此，孔隙率試驗是因為在通常的腐蝕試驗中鉑電解沉澱物不會腐蝕而採用的試驗。該孔隙率試驗是對50℃的5%的硫酸電解液施加0.74V的低電壓，以實施品的鉑皮膜為陽極，電解20分鐘。在電解後的鉑皮膜上，銅面露出。用整流器的電流值測定該露出的銅，根據電流值的數值變化，推斷在鉑皮膜表面露出的銅的比例，定義為「孔隙率 」。即，孔隙率100%是銅在鉑皮膜的表面上整面露出的狀態下的電流值，孔隙率0%是銅完全沒有露出的狀態下的電流值。實施品01～13的鉑皮膜的孔隙率是根據孔隙率100%和孔隙率0%的電流值比例配分的百分率。孔隙率的數值越小，越具有耐腐蝕性。

如上述試驗結果所示，本發明的實施品01～13的鉑皮膜即使膜厚為0.8μm較薄，也有光澤。還可知這些鉑皮膜的維氏硬度為450～480Hv，較硬，孔隙率也在8.5～13.5%的範圍，耐腐蝕性優異。並且，這些鉑皮膜中的鉑的純度都為99%。還可知這些鉑皮膜的內部應力在20～80MPa的範圍，極低。

另一方面，沒有發現與本發明的實施品01～13的鉑皮膜的孔隙率和應力相關的相關關係。因此，嘗試個別地對實施品09、實施品10與實施品05、實施品07進行比較。實施品09的鉑電鍍浴含有140mg/L的月桂基硫酸鉀和6g/L的硫酸鎂。另一方面，實施品05的鉑電鍍浴含有500mg/L的月桂基硫酸銨，不含有硫酸鎂。實施品10的鉑電鍍浴含有200mg/L的烷基苯磺酸鈉和2g/L的硫酸鎂。另一方面，實施品07的鉑電鍍浴含有160mg/L的烷基苯磺酸鈉，不含有硫酸鎂。

對鉑皮膜的孔隙率進行比較，實施品09為9.5%，而實施品05為11.4%。另外，實施品10為11%，而實施品07為12.5%。即，可見含有金屬硫酸鹽的實施品09、實施品10的鉑皮膜無論鉑化合物的種類為何，都比不含金屬硫酸鹽的實施品05、實施品07的鉑皮膜孔隙率低，耐腐蝕性高。另外，對鉑皮膜的應力進行比較，實施品09的應力為20MPa，而實施品05的應力為60MPa。另外，實施品10的應力為20MPa，而實施品07為50MPa。即，可見含有金屬硫酸鹽的實施品09、實施品10的鉑皮膜的應力無論鉑化合物的種類為何，都比不含金屬硫酸鹽的實施品05、實施品07的鉑皮膜的內部應力低。需要說明的是，實施品05、實施品07、實施品09和實施品10的鉑皮膜的硬度都為450Hv以上。

圖2顯示從實施例1的鉑電鍍浴使鉑電解沉澱物沉澱4μm的掃描電子顯微鏡照片。如圖2的照片所示，鉑電解沉澱物的顆粒在表面和剖面這兩者的結晶粒的大小上未見差異，鉑皮膜緻密到使用掃描電子顯微鏡也觀察不到鉑顆粒的晶界的程度。當對該鉑皮膜進行X射線衍射時，觀察到鉑的結晶方位。在本說明書中，將這樣的鉑電解沉澱物的沉澱形態稱為「如非晶狀態的晶體結構 」。可見實施例1的鉑電解沉澱物的顆粒具有如非晶狀態的晶體結構，非常細小緻密。因此本發明的鍍覆產品的耐汗性等耐腐蝕性優異。需要說明的是，即使在從實施例1的鉑電鍍浴使鉑電解沉澱物沉澱了大於等於10μm的情況下，鉑皮膜也保持了非晶狀態那樣的晶體結構。 （實施例14）

實施例14的鉑原液是含有以鉑計為4g/L的Q鹽的氨基磺酸液。在該鉑原液添加70g/L的硫酸，製成基本浴。在該基本浴中添加250mg/L的作為陰離子表面活性劑的N-月桂醯-N-甲基-β-丙氨酸（川研精細化工株式會社製「ALANON ALA 」），添加5g/L的硫酸鎂，將pH調整為0.5，製成鉑電鍍浴。 （實施例15）

實施例15的鉑原液是含有以鉑計為8g/L 的Q鹽的氨基磺酸液。在該鉑原液中添加70g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加250mg/L的作為陰離子表面活性劑的多元羧酸鹽（三洋化成工業株式會社製「CARRYBON L-400 」），將pH調整為1.5，製成鉑電鍍浴。 （實施例16）

實施例16的鉑原液是含有以鉑計為10g/L 的Q鹽的氨基磺酸液。在該鉑原液中添加50g/L的氨基磺酸，製成基本浴。在該基本浴中添加100mg/L的作為陰離子表面活性劑的二烷基磺基琥珀酸鈉鹽（花王株式會社製，PELEX OT-P），將pH調整為1.5，製成鉑電鍍浴。

摘選這些實施例14～16的鉑電鍍浴的成分，顯示於表3。需要說明的是，無論哪個鉑電鍍浴，作為雜質的矽都在小於等於0.1ppm。

[表3]

	基本浴（作為Pt）（g/L）	陰離子表面活性劑（mg/L）	金属硫酸鹽（g/L）
實施品14	Q鹽・氨基磺酸                  4	N-月桂醯-N-甲基-β-丙氨酸　　　　　　250	MgSO 4  5
實施品15	Q鹽・氨基磺酸                  8	多元羧酸　                   250	無     —
實施品16	Q鹽・氨基磺酸                  10	二烷基磺基琥珀酸鈉　      100	無     —
比較品01	DNS・硫酸・氨基磺酸           11	無                             —	無     —
比較品02	四氨合磷酸氫鉑・二水合磷酸氫二鈉                                5	無                             —	無     —
比較品03	DNS・硫酸　　            　　11	月桂基硫酸鈉　　　　　　 600	無     —

與實施例1相同，使用相同的銅製試件（在20mm×40mm×0.1mm厚的薄片上熔敷有導線的試件），以相同的陰極電流密度使鉑電解沉澱物沉澱0.8μm。實施例14～16的鉑電解沉澱物的鉑的純度都為99%，這些鉑電解沉澱物都有光澤。並且測定了實施品14～16的鉑電解沉澱物的孔隙率，並測定了硬度和內部應力。

實施品14的孔隙率、硬度和內部應力為11.5%、470Hv和40MPa。另外，實施品15的孔隙率、硬度和內部應力為13.8%、465Hv和80MPa。另外，實施品16的孔隙率、硬度和內部應力為10.2%、480Hv和20MPa。其結果顯示於表4。

[表4]

	孔隙率 （%）	硬度 （Hv）	應力 （MPa）	光澤	膜厚 （μm）
實施品14	11.5	470	40	有	0.8
實施品15	13.8	465	80	有	0.8
實施品16	10.2	480	20	有	0.8
比較品01	30.6	400	450	有	0.8
比較品02	35.1	420	550	有	0.8
比較品03	33.5	410	510	有	0.8

（比較例） （比較例1）

比較例1除了不含有陰離子表面活性劑外，都與實施例1相同，含有以鉑計為11g/L 的DNS，是分別等量地添加硫酸和氨基磺酸合計添加160g/L的鉑電鍍浴。 （比較例2）

比較例2是添加5g/L的四氨合磷酸氫鉑（II）（以鉑計為5g/L）、二水合磷酸氫二鈉並使用氫氧化鈉溶液調整為pH10.5的鉑電鍍浴。 （比較例3）

比較例3是除了添加600mg/L的月桂基硫酸鈉（花王株式會社製「Emal（該公司的注冊商標）0 」）以外都與實施例1相同的鉑電鍍浴。

與實施例1相同，使用相同的銅製試件（在20mm×40mm×0.1mm厚的薄片上熔敷有導線的試件），使鉑電解沉澱物沉澱0.8μm。比較品01～03的鉑電解沉澱物的鉑的純度都為99%，這些鉑電解沉澱物都有光澤。並且，測定了比較品01～03的鉑電解沉澱物的孔隙率，並測定了硬度和內部應力。

比較品01的孔隙率、硬度和內部應力為30.6%、400Hv和450MPa。另外，比較品02的孔隙率、硬度和內部應力為35.1%、420Hv和550MPa。另外，比較品03的孔隙率、硬度和內部應力為33.5%、410Hv和510MPa。其結果顯示於表3。

如上述試驗結果所示，本發明的實施品14～16的鉑電解沉澱物儘管膜厚為0.8μm，較薄，但有光澤。另外，可見本發明的實施品14～16的鉑電解沉澱物的維氏硬度為465～480Hv，較硬，孔隙率也在10.2～13.8%的範圍，耐腐蝕性優異。並且，鉑的純度都為99%。另外，可知本發明的實施品14～16的內部應力在20～80MPa的範圍，極低。相對於此，可知比較品01的鉑電鍍浴的孔隙率為30.6%，比較品02的鉑電鍍浴為35.1%，比較品03的鉑電鍍浴也為33.5%，分別都極高。還可知比較品01～03的鉑電解沉澱物的內部應力也為450～550MPa，極高。比較品01～03即使孔隙率都較差，也未發現外觀上的裂縫、針孔。

另一方面，對比較例3的鉑電鍍浴和實施例1的鉑電鍍浴實施霍爾槽試驗。實施例1的鉑電鍍浴含有60mg/L的月桂基硫酸鈉，比較例3的鉑電鍍浴含有600mg/L的月桂基硫酸鈉。對霍爾槽試樣的實施非晶鍍覆的區域進行目視觀察發現，與實施例1的鉑電鍍浴相比，比較例3的鉑電鍍浴在高電流密度側遜色約50%。

如上所述，可見本發明的鉑電鍍浴儘管能夠得到高純度的鉑皮膜，但孔隙率較低，耐腐蝕性優異。另外，本發明的鍍鉑產品緻密、應力低，還有光澤，因此不僅能夠應用於連接器等電氣部件、印刷電路基板，還能用於海水電解電極、電鍍用不溶性陽極、首飾等多方面的用途。

無

圖1是說明本發明的鍍鉑浴的原理的說明圖。 圖2是本發明的鉑電解沉澱物的掃描電子顯微鏡照片。

無

Claims (10)

1. 一種鉑電鍍浴，其在包括2價鉑(II)錯合物和游離的硫酸或氨基磺酸的酸性鍍鉑浴中包含陰離子表面活性劑；其中該2價鉑(II)錯合物中鉑(Pt)含量為1~20g/L；游離的硫酸或氨基磺酸的含量為30~600g/L；陰離子表面活性劑的含量為5~500mg/L。
2. 根據請求項1所述的鉑電鍍浴，進一步包含1~20g/L的第二主族元素的金屬鹽或鹼金屬元素的金屬鹽。
3. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其中所述2價鉑(II)錯合物具有硝基(NO₂)、硝酸基(NO₃)、硫酸基(SO₄)或磺基(SO₃)以及氨基(NH₃)、氧鎓(H₂O)或羥基(OH)中的至少1種以上配位體。
4. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其中所述陰離子表面活性劑是硬脂酸或其鹽、磺酸或其鹽以及硫酸酯或其鹽中的至少1種以上的化合物。
5. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其中所述陰離子表面活性劑是烷基化硫酸或其鹽以及烷基苯磺酸或其鹽中的至少1種以上的化合物。
6. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其特徵在於含有5~500mg/L的所述陰離子表面活性劑。
7. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其中作為雜質的矽為小於等於1ppm。
8. 根據請求項1或2所述的鉑電鍍浴，其中所述鉑電鍍浴的pH為小於等於2。
9. 一種鍍鉑產品，其包含使用請求項1或2所述的鉑電鍍浴而 得到的鉑電解沉澱物的鍍鉑產品，鉑的純度為大於等於99重量%，維氏硬度為450~500Hv，應力為小於等於100MPa，並且孔隙率為小於等於30%。
10. 根據請求項9所述的鍍鉑產品，其中所述鍍鉑產品的矽為小於等於1ppm，且剩餘部分為鉑電解沉澱物。

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