TWI718972B - 具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法 - Google Patents

Abstract

一種具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，包括一形成具有數個電阻本體的加工品的本體定義步驟、一於加工品頂面形成底膠膜的上膠步驟、一於每一電阻本體上形成數個與之連接的導電凸塊的凸塊形成步驟、一形成封膠層以覆蓋每一電阻本體表面的封膠步驟、一進行分割而取得數個獨立的半成品的分割步驟，及一於每一半成品兩側形成外部電極的電極形成步驟；本發明提供一種新的、且能產生具有特定阻值的微型電阻元件的製作方法，透過底膠膜提供一結構性的支撐力，使製程更為簡化而能有效降低製作成本，並提高產品的良率。

Description

具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法

本發明是有關於一種被動元件的製作方法，特別是指一種能大量生產且電阻值準確的微型電阻元件的製作方法。

微型電阻元件作為被動元件之一，目前被廣泛地設置於各種電子產品中用以提供預定的電阻值。

目前量產一微型電阻元件100的基礎製程，大致是先準備一由導電材料構成的板材，於該板材底面設置一支撐板後沖切形成數個成陣列排列的電阻塊本體11，並於每一電阻塊本體11的表面進行電阻修值，使其具有特定的電阻值，隨後，以絕緣材料遮覆該等電阻塊本體11以形成絕緣層13，再進行沖切而得到數個各自獨立的電阻塊本體11，最後，於每一電阻塊本體11的兩側形成二外部電極14，而取得數個如圖1所示，個別包括一電阻塊本體11、一支撐層12、一絕緣層13，及二外部電極14的微型電阻元件100。

由前述製程說明可知，於每一微型電阻元件的生產過程中，常會出現例如為了避免沖切變形而須多設置一支撐板，而設置支撐板後又會衍生出成品厚度增加、阻值不易精準掌握、封裝沾黏或溢膠，或支撐層剝離等各式各樣的技術問題，也因此，業界持續提出例如第I435342號、第M439246號、第I553672號等各式專利案來解決相關的技術問題，所以，不斷的提出更多樣的生產製程以改善微型電阻元件於生產時所遇到的不同技術問題，是相關業者的努力方向之一。

因此，本發明的目的，即在提供一種新的、且令所製得的微型電阻元件具有特定電阻值的製作方法。

於是，本發明具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，包含一本體定義步驟、一上膠步驟、一凸塊形成步驟、一封膠步驟、一分割步驟，及一電極形成步驟。

該本體定義步驟是先準備一由具有預定阻值的導電材料所構成的箔材，並於該箔材上形成數條貫穿該箔材的縱向穿槽，及數條橫向穿槽。該等縱向穿槽和該等橫向穿槽相配合地將該箔材界定出一包括一框圍、數個連接點，及數個成陣列排列的電阻本體的箔材加工品，其中，每一電阻本體藉由數個連接點和該框圍，及相鄰的其中至少一電阻本體連結，使該箔材加工品成箔板態樣。

該上膠步驟是用絕緣材料於該箔材加工品的底面鋪覆形成一底膠膜。

該凸塊形成步驟是於每一電阻本體遠離該底膠膜的頂面上形成數個由導電材料構成的導電凸塊。

該封膠步驟是用絕緣材料於每一電阻本體形成有該等導電凸塊的表面上形成一遮覆該電阻本體表面的封膠層。

該分割步驟是移除對應於該等縱向穿槽與該等橫向穿槽上的底膠膜結構與該等連接點，而取得數個各自獨立的電阻半成品。

該電極形成步驟於每一電阻本體不同於形成該等導電凸塊之表面的相對兩側面上各自形成二與該電阻本體連接的外部電極。

本發明的功效在於：提供一種新的、且完整生產具有精準電阻值之微型電阻元件的製造方法，藉由該上膠步驟於該箔材加工品的底面鋪覆該底膠膜，以改善該箔材半成品結構強度不足的問題，而無須再設置一支撐板，能夠使製程更加簡化，並降低生產成本。此外，該底膠膜透過熱壓的方式緊密地附著於該等電阻本體上而不易在後續製程中剝離，因此還能有效地降低製造成本，並同時提升產品的良率。

在本發明被詳細描述前，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。

參閱圖2、圖3，本發明具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法的一實施例，包含一本體定義步驟S1、一上膠步驟S2、一凸塊形成步驟S3、一移除步驟S4、一修值步驟S5、一封膠步驟S6、一分割步驟S7，及一電極形成步驟S8，用以一次製得數個如圖3所示的微型電阻元件200，其中，該微型電阻元件200包含一電阻本體21、二形成於該電阻本體21上的導電凸塊22、一形成於該電阻本體21底面的底膠膜23、一覆蓋於該電阻本體21形成有該導電凸塊22之頂面的封膠層24，及二形成於該電阻本體21兩側面的外部電極25。

配合參閱圖4及圖5，該本體定義步驟S1是先準備一由具有預定阻值的導電材料所構成的箔材31，並於該箔材31的相反二面佈設二光阻層32，隨後，透過微影蝕刻的方式分別於該二光阻層32上相對應的預定位置自頂面向內蝕刻，以移除預定位置上的光阻層結構和箔材結構，形成數道貫穿該箔材31的縱向穿槽311，及數道橫向穿槽312，以取得一箔材加工品300。該箔材加工品300包括由該等縱向穿槽311，及該等橫向穿槽312共同界定出的一框圍313、數個連接點314，及數個電阻本體21。其中，該等電阻本體21成陣列排列，且每一電阻本體21藉由數個連接點314與該框圍313，及相鄰至少一電阻本體21連接，而使該箔材加工品300成箔板態樣。在一些實施例中，也可以透過雷射或沖壓等方式於該等箔材31上形成該等縱向穿槽311及該等橫向穿槽312，並不以此為限。

參閱圖2、圖6，該上膠步驟S2是於該箔材加工品300的底面鋪覆一由絕緣材料構成的底膠膜23，並使該等電阻本體21遠離該底膠膜23的頂面露出。在本實施例中，該底膠膜23是透過熱壓的方式形成，且令部分底膠膜結構填充於該等縱向穿槽311與該等橫向穿槽312中。

參閱圖2、圖7，該凸塊形成步驟S3是於每一電阻本體21的表面上形成二個別獨立的導電凸塊22，且該等導電凸塊22是由具有預定阻值的導電材料所構成。在本實施例中，該凸塊形成步驟S3是先在該箔材加工品300反向該底膠膜23的一面上貼合一光阻膜41，透過微影蝕刻的方式移除預定的光阻膜結構而於該光阻膜41上形成數個使該等電阻本體21表面露出的通孔411，且令每一電阻本體21剛好對應二相間隔的通孔411。接著，自每一通孔411中鍍設形成一與該電阻本體21連接的導電凸塊22，使每一電阻本體21上形成二個相間隔且各自獨立的導電凸塊22。在一些實施例中，該等導電凸塊22也可以透過鍍膜、印刷等方式形成，在此不多加贅述。

參閱圖2、圖8，在該上膠步驟S2的製程中，該底膠膜23形成於該箔材加工品300的底面後容易發生溢膠或沾黏的情形，而影響到後續的封膠製程S6，因此，在該封膠步驟S6之前還可以視情況或需求進行該移除步驟S4。該移除步驟S4用於移除部分對應於該等縱向穿槽311與該等橫向穿槽312上的部份該底膠膜結構，以改善溢膠的問題。在一些實施例中，該移除步驟S4還可以移除相鄰於該等穿槽的部分電阻本體結構，令每一電阻本體21和形成於該電阻本體21上的該等導電凸塊22所露出的側面為平整態樣。

再參閱圖8，在本實施例中還可以依需求進行該修值步驟S5，使每一電阻本體21具有預定的電阻值。在本實施例中，該修值步驟S5是以雷射的方式於每一電阻本體21形成有該二導電凸塊22的表面上進行修整，以移除該電阻本體21的部分結構，而使該電阻本體21具有特定的電阻值為例，但並不以此為限。

參閱圖2、圖9，該封膠步驟S6是透過印刷的方式於每一電阻本體21形成有該等導電凸塊22的表面上形成一封膠層24，用以覆蓋並保護該電阻本體21，並使該等導電凸塊22的表面露出。

該分割步驟S7是移除位於該等縱向穿槽311及該等橫向穿槽312上的底膠膜結構及該等連接點314，而得到數個各自獨立電阻半成品500，並使每一電阻半成品500的電阻本體21側面和形成於該電阻本體21上的二導電凸塊22的側面裸露。

該電極形成步驟S8是於每一電阻半成品500露出該二導電凸塊22與該電阻本體21的相對二側面，藉由電鍍的方式分別形成二與該電阻本體21及該二導電凸塊22連接的外部電極25，而製得數個如圖3所示的該微型電阻元件200。在本實施例中，該二外部電極25是分別自該電阻本體21的兩側面上各自依序電鍍形成一鎳金屬層251，及一錫金屬層252以構成該二外部電極25。此外，也可以先在每一電阻半成品500預定欲形成該二外部電極25的表面，藉由沾附或鍍設等方式形成一薄薄的導電層以作為電鍍的媒介，以供後續電鍍形成該等外部電極25。在其他的實施例中，該等外部電極25也可以透過濺鍍、表面沉積等方式形成，並不以此為限。

綜上所述，本發明提供一種新的、且能一次製得多數具有特定阻值之微型電阻元件200的製程，透過直接於該箔材加工品300的底面佈設該底膠膜23，以改善該箔材31因形成數道穿槽而使結構強度下降的問題，並省去現有的微型電阻元件製程中設置一支撐板的過程，而使製程更加簡化，以有效降低生產成本。此外，該底膠膜23透過熱壓的方式形成而能緊密地附著於該等電阻本體21上，不易於後續製程中自該等電阻本體21脫落，因此能大大提升產品的良率，故確實能達成本發明的目的。

惟以上所述者，僅為本發明的實施例而已，當不能以此限定本發明實施的範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋的範圍內。

100:微型電阻元件

11:電阻塊本體

12:支撐層

13:絕緣層

14:外部電極

200:微型電阻元件

21:電阻本體

22:導電凸塊

23:底膠膜

24:封膠層

25:外部電極

251:鎳金屬層

252:錫金屬層

300:箔材加工品

31:箔材

32:光阻層

311:縱向穿槽

312:橫向穿槽

313:框圍

314:連接點

41:光阻膜

411:通孔

500:電阻半成品

S1:本體定義步驟

S2:上膠步驟

S3:凸塊形成步驟

S4:移除步驟

S5:修值步驟

S6:封膠步驟

S7:分割步驟

S8:電極形成步驟

本發明的其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中： 圖1是一剖視圖，說明現有微型電阻元件的結構； 圖2是一流程圖，說明本發明具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法的一實施例； 圖3是一剖視圖，說明以本實施例之製法所製得的一微型電阻元件； 圖4是一示意圖，說明該實施例之一箔材加工品； 圖5是一流程示意圖，說明該實施例的一本體定義步驟； 圖6是一流程示意圖，延續圖5說明該實施例的一上膠步驟； 圖7是一流程示意圖，延續圖6說明該實施例的一凸塊形成步驟步驟； 圖8是一流程示意圖，延續圖7說明該實施例的一移除步驟及一修值步驟；及 圖9是一流程示意圖，延續圖8說明該實施例的一封膠步驟、一分割步驟，及一電極形成步驟。

S1:本體定義步驟

S2:上膠步驟

S3:凸塊形成步驟

S4:移除步驟

S5:修值步驟

S6:封膠步驟

S7:分割步驟

S8:電極形成步驟

Claims (6)

1. 一種具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，包含：一本體定義步驟，於一具有預定阻值的導電材料構成的箔材上形成數條貫穿該箔材的縱向穿槽，及數條橫向穿槽，該等縱向穿槽和該等橫向穿槽相配合地將該箔材界定出一包括一框圍、數個連接點，及數個陣列排列的電阻本體的箔材加工品，其中，每一電阻本體藉由數個連接點和該框圍，及相鄰的其中至少一電阻本體連結而使該箔材加工品成箔板態樣；一上膠步驟，用絕緣材料於該箔材加工品的底面鋪覆形成一底膠膜；一凸塊形成步驟，用導電材料於每一電阻本體遠離該底膠膜的頂面上形成數個導電凸塊；一封膠步驟，用絕緣材料於每一電阻本體形成有該等導電凸塊的頂面上形成一覆蓋該電阻本體表面的封膠層；一分割步驟，移除對應於該等縱向穿槽與該等橫向穿槽上的底膠膜結構，及該等連接點，取得數個各自獨立的電阻半成品；及一電極形成步驟，於每一電阻本體不同於形成該等導電凸塊之表面的相對兩側面上各自形成二與該電阻本體連接的外部電極。
2. 如請求項1所述的具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，還包含一實施於該封膠製步驟之前的修值步驟，該修值步驟在每一電阻本體形成有該等導電凸塊的表面 以雷射的方式移除該電阻本體的部分結構。
3. 如請求項1所述的具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，還包含一實施於該封膠製步驟之前的移除步驟，該移除步驟移除部分對應於該等縱向穿槽與該等橫向穿槽上的該底膠膜的部分結構。
4. 如請求項3所述的具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，其中，該移除步驟使每一電阻本體的側面和形成於該電阻本體上的該等導電凸塊的側面共平面。
5. 如請求項1所述的具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，其中，該凸塊形成步驟是於每一電阻本體上形成二個相間隔且各自獨立的導電凸塊。
6. 如請求項1所述的具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法，其中，該電極形成步驟是以電鍍方式自該電阻本體相反兩側的表面分別形成該二具有二金屬層的外部電極。

Images