TWI615266B - 聚乙烯醇系聚合物薄膜及其製造方法 - Google Patents

Abstract

課題係提供一種即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，仍可製造色斑經減少的偏光膜等光學薄膜的PVA薄膜。

解決手段係一種PVA薄膜，其係在薄膜的面內於薄膜的寬度方向以20mm節距測定配向軸時，於全部的相鄰之2個測定位置中，相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度(但在0~90°的範圍內)為2.3°以下。在該PVA薄膜中，於全部的相鄰之2個測定位置的前述角度之平均值較佳為0.6°以下。

Description

聚乙烯醇系聚合物薄膜及其製造方法

本發明係關於聚乙烯醇系聚合物薄膜(以下，將「聚乙烯醇系聚合物」略記為「PVA」)及其製造方法、由該PVA薄膜製造的偏光膜等的光學薄膜、及該光學薄膜之製造方法。

具有光的穿透及遮蔽功能的偏光板與具有光的切換功能的液晶等同樣為液晶顯示裝置(LCD)的重要構成要素。該液晶顯示裝置的適用領域亦從開發初期時的計算機及手錶等的小型機器，擴展至筆記型電腦、液晶顯示器、液晶彩色投影機、液晶電視、車內用導航系統、行動電話、於室內外使用的測量機器等的廣大範圍，尤其是液晶顯示器及液晶電視等正朝大畫面化邁進。

偏光板通常係利用：將捲成輥狀之長條狀的PVA薄膜捲出且予以單軸拉伸之後使用碘或二色性染料進行染色的方法、將捲出的PVA薄膜染色且予以單軸拉伸之後以硼化合物進行固定處理的方法、在前述之任一種方法中進行染色且同時進行固定處理的方法等而製造偏光膜，並利用在藉此所得之偏光膜的單面或兩面上貼合三乙酸纖維素薄膜或乙酸．丁酸纖維素薄膜等的保護膜，而進行工業上的製造。

至今，已知有與提升偏光膜的光學性能、取得寬幅的偏光膜、提升偏光膜的生產性等有關的各式各樣的技術。例如，就可製造光軸的混亂少的偏光膜者而言，已知有相對於雙折射率橢圓體之長軸的薄膜長度方向而言傾斜角度的絶對值的最大值及傾斜角度的局部變化率分別在特定範圍的PVA薄膜(參照專利文獻1)。又，就可防止偏光膜的色斑或在PVA薄膜的拉伸時皺折的發生者而言，已知有於薄膜的寬度方向距離1cm之2點間的遲滯差在特定範圍的PVA薄膜(參照專利文獻2)。再者，就可製造即使大面積亦具有均勻的光學性能之偏光膜者而言，已知有薄膜寬度方向每1mm的厚度變動在特定範圍之特定的PVA薄膜(參照專利文獻3)。

又，就可減低在PVA薄膜的膨潤時皺折的發生或在偏光膜的長邊方向存在之條紋狀的染色斑者而言，已知有橫跨薄膜的膜寬度方向全體之光學軸的傾斜相對於薄膜的長邊方向為45~135°之特定的PVA薄膜(參照專利文獻4)；就可製造具有高偏光性能之偏光膜者而言，已知有流動方向與光軸形成的角度在70~110°的範圍，且在寬度方向中央部的厚度方向的遲滯為15~90nm之特定的PVA薄膜(參照專利文獻5)；及，就在單軸拉伸步驟可減少縮幅而製造更寬幅的偏光膜並且能得到顯示高偏光性能之偏光膜者而言，已知有在製造偏光膜時所應進行單軸拉伸的方向與光軸形成的角度在0~20°的範圍，且遲滯在50~150nm的範圍之特定的PVA薄膜(參照專利文獻6)。

再者，就賦予可進行均勻的拉伸且拉伸時可抑制微細的龜裂或孔洞的發生之拉伸薄膜者而言，已知有包含特定的表層/芯層/表層之PVA薄膜(參照專利文獻7)。專利文獻7記載，以第1乾燥輥加熱含PVA之揮發分率為50~90質量%的製膜原液，同時以規定的條件將熱風吹拂至沒有與第1乾燥輥接觸的PVA膜面，並在揮發分率成為15~30質量%的時點將PVA膜從第1乾燥輥剝離下來而與第2乾燥輥接觸並進行乾燥，此時，將第1乾燥輥的周速(S₁)與第2乾燥輥的周速(S₂)的比(S₂/S₁)設為1.000~1.100的PVA薄膜之製造方法。

先前技術文獻 專利文獻

專利文獻1 日本特開平6-138320號公報

專利文獻2 日本特開2002-28938號公報

專利文獻3 日本特開2002-31720號公報

專利文獻4 國際公開第2009/028141號

專利文獻5 日本特開2010-191293號公報

專利文獻6 日本特開2011-252937號公報

專利文獻7 日本特開2005-324355號公報

如今，以往由於係以提升LCD的畫面亮度為目的而主要在謀求背光的強度提升，故對於偏光板或偏光膜而言即使在強光下其色斑亦少之點是很重要的。 但由於近年來更強烈要求消耗電力的降低，故在LCD中，即使在背光強度低的情形仍可維持高畫面亮度之點越加變得重要。就為了達成其之手段而言，認為有將偏光膜的厚度更薄化，或減弱染色的程度等來提升偏光膜甚至於偏光板的光穿透率。然而，若使用以往的PVA薄膜製造光穿透率經提升之偏光板，則已知在光穿透率低的偏光板中將會有不同於以往即為問題而嘗試加以改善之色斑種類的色斑變得引人注目而成為問題之情形。又已知即使是光穿透率為以往程度的偏光板，該色斑在使用強度更高的背光之情形下亦同樣地引人注目。

因此本發明的目的係提供一種即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，仍可製造色斑經減少的偏光膜等光學薄膜的PVA薄膜、及一種可生產性良好且平穩地連續製造如此的PVA薄膜的PVA薄膜之製造方法。又本發明的目的係提供使用上述PVA薄膜所製造的偏光膜等光學薄膜、及該光學薄膜之製造方法。

為達成上述的目的，本案發明人等經重複專心研究的結果，發現：於薄膜的寬度方向以20mm節距測定在PVA薄膜的面內的配向軸時，在將相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度為全部的相鄰之2個測定位置的特定數值以下之前所未有的PVA薄膜作為原材使用時，即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，仍可得到色斑經減少之偏光膜。又發現， 在使用全部相鄰之2個測定位置的該角度的平均值小的PVA薄膜之情形，上述色斑更為減少。

而且本案發明人等發現，將含PVA之製膜原液吐出至具有3個以上的乾燥輥之製膜裝置的第1乾燥輥上後，用該3個以上的乾燥輥依序乾燥而製膜，此時，將從第1乾燥輥進行剝離時的PVA膜的揮發分率設為20~40質量%，將第2乾燥輥的周速對第1乾燥輥的周速的比設為特定的數值範圍，並將第2乾燥輥或較其下游側的乾燥輥中之從PVA膜的揮發分率成為20質量%時的乾燥輥(第x乾燥輥)至PVA膜的揮發分率成為10質量%時的乾燥輥(第y乾燥輥)之間相鄰之2個乾燥輥間的各周速比設為特定的數值範圍，藉此能賦予色斑經減少之偏光膜，可生產性良好且平穩地連續製造偏光膜前述PVA薄膜。

本案發明人等係根據上述知見，經進一步重複研究而完成了本發明。亦即，本發明係關於：[1]一種PVA薄膜，其係在薄膜的面內於薄膜的寬度方向以20mm節距測定配向軸時，於全部的相鄰之2個測定位置中，相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度(但在0~90°的範圍內)為2.3°以下；[2]如上述[1]之PVA薄膜，其中全部的相鄰之2個測定位置的前述角度之平均值為0.6°以下；[3]如上述[1]或[2]之PVA薄膜，其中於全部的測定位置中，前述配向軸的測定位置的遲滯值為5~100nm； [4]如上述[1]至[3]項中任一項之PVA薄膜，其中前述配向軸的測定位置中的至少1個的配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度(但在0~90°的範圍內)為45~90°；[5]如上述[1]至[4]中任一項之PVA薄膜，其中寬度為2m以上；[6]一種製造方法，其係PVA薄膜之製造方法，其包括：(a)使用具備旋轉軸互相平行之3個以上的乾燥輥的製膜裝置，在該乾燥輥中位於最上游側之第1乾燥輥上，將含有PVA的製膜原液吐出成膜狀且部分乾燥後，將其以之後接續之乾燥輥進一步乾燥而製膜；此時，(b)將從第1乾燥輥進行剝離時的PVA膜的揮發分率設為20~40質量%；(c)將第2乾燥輥的周速(S₂)對第1乾燥輥的周速(S₁)的比(S₂/S₁)設為1.015~1.050；(d)將第2乾燥輥或較其下游側的乾燥輥中，從PVA膜的揮發分率成為20質量%時的乾燥輥(第x乾燥輥)至PVA膜的揮發分率成為10質量%時的乾燥輥(第y乾燥輥)之間相鄰之2根乾燥輥中的下游側之乾燥輥的周速(S_n+1)對上游側的乾燥輥的周速(S_n)的比(S_n+1/S_n)均設為0.992~0.999；[7]如上述[6]之製造方法，其中將存在於第x乾燥輥至第y乾燥輥之間的全部乾燥輥的表面溫度設為60~85℃； [8]如上述[6]或[7]之製造方法，其中第1乾燥輥的周速(S₁)為8~25m/分鐘；[9]如上述[6]至[8]中任一項之製造方法，其中將第y乾燥輥的周速(S_y)對第x乾燥輥的周速(S_x)的比(S_y/S_x)設為0.940~0.990；[10]一種光學薄膜，其係由如上述[1]至[5]中任一項之PVA薄膜製造而成；[11]如上述[10]之光學薄膜，其係偏光膜；[12]一種光學薄膜之製造方法，其係具有使用如上述[1]至[5]中任一項之PVA薄膜進行單軸拉伸的步驟。

使用本發明的PVA薄膜作為原材，即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，亦可製造色斑經減少之偏光膜等的光學薄膜。又，依照本發明的PVA薄膜之製造方法，可生產性良好且平穩地連續製造具有上述優異特性之本發明的PVA薄膜。再者，本發明的光學薄膜還可減少不同於以往即為問題之色斑種類的色斑。

以下就本發明加以詳細說明。

本發明的PVA薄膜，其係在薄膜的面內於薄膜的寬度方向以20mm節距測定配向軸時，於全部的相鄰之2個測定位置中，相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成 的角度(但在0~90°的範圍內)為2.3°以下。亦即，若將於全部的相鄰之2個測定位置的前述角度的最大值設為△Z_max，本發明的PVA薄膜的該△Z_max則為2.3°以下。以往的PVA薄膜的△Z_max高，而使用它所製造的偏光膜甚至於偏光板，尤其是在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，其會有不同於以往即為問題而嘗試加以改善之色斑種類的色斑變得受人注目的問題。相對於此，本發明的PVA薄膜的△Z_max為2.3°以下，與以往的PVA薄膜不同。若將此種本發明的PVA薄膜作為原材使用，則即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，亦可製造色斑經減少的偏光膜等光學薄膜。此外，專利文獻1雖然記載了相對於雙折射率橢圓體的長軸之薄膜的長度方向之傾斜角度的絶對值的最大值為5度以下，且傾斜角度的局部的變化率(在任意的5cm寬的範圍內的光軸的傾斜角度)為1度以下之PVA薄膜，但即使如專利文獻1般使傾斜角度的局部變化率為1度以下，藉由專利文獻1，亦無法得到在薄膜的面內於薄膜的寬度方向以20mm節距測定配向軸時，在全部的相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度的最大值(△Z_max)在上述範圍的PVA薄膜，且至少在此點上，本發明的PVA薄膜不同於專利文獻1記載的PVA薄膜。

若△Z_max超過2.3°，在所得之光學薄膜中會有色斑的問題。從光學薄膜中色斑之觀點而言，△Z_max為2.2°以下為佳，2.0°以下為較佳，1.9°以下為進一步較佳，1.8°以下為特佳。此外，由於△ Z_max過小會有PVA 薄膜在其製造中生產性降低的情形，△ Z_max為例如0.3°以上。

薄膜的面內的配向軸係意指薄膜的面內的遲相軸，係由配向軸的測定位置中PVA分子的配向狀態等而決定。該配向軸係可使用雙折射測定裝置或晶胞間隙測定裝置等而根據朝垂直於薄膜面的方向(薄膜的厚度方向)行進的光(例如，波長590nm的光)來進行測定，具體而言，可利用實施例中後述的方法進行測定。

在本發明中，在薄膜的寬度方向將以使其為20mm節距的方式所定的複數個位置作為上述配向軸的測定位置。這裡的薄膜的寬度方向，係與薄膜的長度方向垂直的薄膜的面內的方向(TD)。在使用長條狀的PVA薄膜作為原材製造偏光膜等光學薄膜的情形，通常係朝長條狀的PVA薄膜的長度方向(機械流動方向；MD)進行單軸拉伸。因此，通常在製造偏光膜等的光學薄膜時，薄膜的長度方向係與偏光膜PVA薄膜應單軸拉伸的方向一致，與該長度方向垂直的薄膜的面內的方向將為寬度方向。此外，在非長條狀的PVA薄膜的情形，只要在製造偏光膜等的光學薄膜時將應單軸拉伸的方向設為薄膜的長度方向，將與其垂直的薄膜的面內的方向設為寬度方向即可。

在本發明中，配向軸的測定節距為在薄膜的寬度方向的20mm節距是很重要的。若增大為比測定節距還大，即使將在相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度的最大值縮小，亦無濟於本發明中作為問題 之種類的色斑的減少。相反地，即使縮小成比測定節距還小而將在相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度的最大值縮小，其不僅在將測定節距設為20mm節距時的△Z_max在與本發明的規定對應的範圍內的情形，在將測定節距設為20mm節距時的△ Z_max在與本發明的規定對應的範圍外的情形，亦仍無法減少上述的色斑。

配向軸的測定位置的決定方法並未特別限制，例如可在薄膜的寬度方向中央部決定1個測定位置，從該測定位置朝著寬度方向兩端部分別以20mm節距依序決定測定位置。此外，測定位置可排除從寬度方向兩端部朝著寬度方向中央部分別小於20mm的領域。例如，在針對寬2020mm的PVA薄膜並依照上述的決定方法決定測定位置的情形進行說明時，首先在寬度方向中央部決定1個測定位置。接著，從該測定位置首先朝向寬度方向的一方的端部，以20mm節距依序決定測定位置，第50點則距寬度方向的一方的端部的距離為10mm，由於其位於從上述的寬度方向兩端部朝向寬度方向中央部小於20mm的領域故將其排除在測定位置外，最後決定49點的測定位置。同樣地，從寬度方向中央部的測定位置朝向寬度方向的另一方的端部，決定49點的測定位置。如此可將所決定的合計99點(1點+49點+49點)作為配向軸的測定位置。

然後，為求得△Z_max，在各測定位置從測定的配向軸，分別針對全部的相鄰之2個測定位置求得在相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度，並將其 中的最大值設為△ Z_max。例如，在決定99點的測定位置之上述例中，可求得98個在相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度，而將該98個之中的最大值作為△ Z_max。此外本說明書中，相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度在0~90°的範圍內。亦即，在2個配向軸的方向為平行之情形，該角度為0°，在垂直之情形，該角度為90°，此等以外的情形，銳角側的角度則為配向軸彼此形成的角度。

在本發明的PVA薄膜中，關於如上述所得的相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度，其在全部的相鄰之2個測定位置的該角度的平均值(△Z_ave)為0.6°以下為佳，0.58°以下為較佳，0.56°以下為進一步較佳。另一方面，△Z_ave的下限並未特別限制，從△Z_ave過小的PVA薄膜會有在其製造中生產性下降的情形來看，△Z_ave為0.01°以上為佳，0.05°以上為較佳，0.1°以上為進一步較佳。

在本發明的PVA薄膜中，在前述配向軸的測定位置的遲滯值，其於全部的測定位置中為5~100nm的範圍內為佳。滿足此種條件的PVA薄膜，其拉伸性提升，並且當製造偏光膜時其偏光性能提升。從PVA薄膜的拉伸性及偏光膜的偏光性能之觀點而言，前述配向軸的測定位置的遲滯值，其於全部的測定位置中，係10nm以上為較佳，15nm以上為進一步較佳，20nm以上為特佳。又，從PVA薄膜的拉伸性之觀點而言，前述配向軸的測定位置的遲滯值，其於全部的測定位置中，係70nm以下為較佳，50nm以下為進一步較佳。

在本發明的PVA薄膜中，前述配向軸的測定位置中的至少1個的配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度(但在0~90°的範圍內)為45~90°為佳。滿足此種條件的PVA薄膜，其拉伸性提升，並且當製造偏光膜時其偏光性能提升。從PVA薄膜的拉伸性及偏光膜的偏光性能之觀點而言，前述配向軸的測定位置中的至少1個的配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度為70~90°為較佳，80~90°為進一步較佳。

本發明的PVA薄膜中，上述△Z_max、△Z_ave、遲滯值、及配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度的各說明，只要有符合在任意設定之薄膜寬度方向的一直線上即可，惟從可連續平穩地製造均勻的光學薄膜等來看，薄膜的長度方向的物性係無偏差為佳，為此，上述各說明以符合在薄膜的長度方向的50%以上為佳，符合在80%以上為較佳，符合在95%以上為進一步較佳。此外，在連續製造長條狀的PVA薄膜的情形等中，由於其長度方向的物性通常不怎麼變動，故若在任意設定之薄膜的寬度方向的一直線上上述各說明皆符合，則通常在該薄膜的哪個寬度方向的一直線上上述各說明也會符合。

本發明的PVA薄膜的厚度沒有特別限制，過厚時在製造偏光膜等光學薄膜之際的乾燥變得不易快速進行，另一方面，從過薄時由於在製造光學薄膜之際於單軸拉伸時薄膜容易產生破裂來看，在5~150μm的範圍內為佳，20~120μm的範圍內為較佳，50~80μm的範圍內為進一步較佳。

本發明的PVA薄膜的寬並未特別限制，由於近年來液晶電視或螢幕正大畫面化，為了能夠有效使用彼等，以2m以上為佳，4m以上為更佳。又，在以現實的生產機製造偏光膜等的光學薄膜的情形，由於薄膜的寬度過廣時，均勻的單軸拉伸變得困難，所以PVA薄膜的寬為8m以下為佳。

本發明的PVA薄膜的長度並未特別限制，但從可連續平穩地製造更均勻的PVA薄膜，並且即使在使用它製造光學薄膜的情形等也可連續使用來看，在5~50,000m的範圍內為佳，100~20,000m的範圍內為更佳。

就形成本發明的PVA薄膜之PVA而言，可使用藉由將乙烯酯聚合所得之聚乙烯酯系聚合物予以皂化而製造者。乙烯酯，可列舉例如：甲酸乙烯酯、乙酸乙烯酯、丙酸乙烯酯、戊酸乙烯酯、月桂酸乙烯酯、硬脂酸乙烯酯、苯甲酸乙烯酯、三甲基乙酸乙烯酯、新癸酸乙烯酯等。上述的乙烯酯之中，從得手容易性、成本、PVA製造的容易性等之觀點而言，乙酸乙烯酯為佳。

上述的聚乙烯酯系聚合物係使用僅1種或2種以上的乙烯酯作為單體所得者為佳，使用僅1種的乙烯酯作為單體所得者為更佳，惟亦可為1種或2種以上的乙烯酯和可與其進行共聚合之其他單體的共聚物。

可與此種乙烯酯進行共聚合的其他單體，可列舉例如：乙烯；丙烯、1-丁烯、異丁烯等的碳數3~30的烯烴(α-烯烴等)；丙烯酸或其鹽；丙烯酸甲酯、丙烯酸 乙酯、丙烯酸正丙酯、丙烯酸異丙酯、丙烯酸正丁酯、丙烯酸異丁酯、丙烯酸第三丁酯、丙烯酸2-乙基己酯、丙烯酸十二烷酯、丙烯酸十八烷酯等的丙烯酸酯；甲基丙烯酸或其鹽；甲基丙烯酸甲酯、甲基丙烯酸乙酯、甲基丙烯酸正丙酯、甲基丙烯酸異丙酯、甲基丙烯酸正丁酯、甲基丙烯酸異丁酯、甲基丙烯酸第三丁酯、甲基丙烯酸2-乙基己酯、甲基丙烯酸十二烷酯、甲基丙烯酸十八烷酯等的甲基丙烯酸酯；丙烯醯胺、N-甲基丙烯醯胺、N-乙基丙烯醯胺、N,N-二甲基丙烯醯胺、二丙酮丙烯醯胺、丙烯醯胺丙烷磺酸或其鹽、丙烯醯胺丙基二甲基胺或其鹽、N-羥甲基丙烯醯胺或其衍生物等的丙烯醯胺衍生物；甲基丙烯醯胺、N-甲基甲基丙烯醯胺、N-乙基甲基丙烯醯胺、甲基丙烯醯胺丙烷磺酸或其鹽、甲基丙烯醯胺丙基二甲基胺或其鹽、N-羥甲基甲基丙烯醯胺或其衍生物等的甲基丙烯醯胺衍生物；N-乙烯基甲醯胺、N-乙烯基乙醯胺基、N-乙烯基吡咯啶酮等的N-乙烯醯胺；甲基乙烯基醚、乙基乙烯基醚、正丙基乙烯基醚、異丙基乙烯基醚、正丁基乙烯基醚、異丁基乙烯基醚、第三丁基乙烯基醚、十二烷基乙烯基醚、硬酯醯烯丙基乙烯基醚等的乙烯基醚；丙烯腈、甲基丙烯腈等的氰化乙烯；氯乙烯、偏二氯乙烯、氟化乙烯基、偏二氟乙烯等的鹵素化乙烯基；乙酸烯丙基、氯化烯丙基等的烯丙基化合物；馬來酸或其鹽、酯或酸酐；伊康酸或其鹽、酯或酸酐；乙烯基三甲氧基矽烷等的乙烯基矽烷基化合物；乙酸異丙烯基等。上述的聚乙烯酯系聚合物可具有來自此等其他單體之1種或2種以上的結構單元。

來自上述其他單體的結構單元占上述的聚乙烯酯系聚合物的比例，根據構成聚乙烯酯系聚合物之全結構單元的莫耳數，係15莫耳%以下為佳，5莫耳%以下為更佳。

上述的PVA可為藉由1種或2種以上的可接枝共聚合的單體而予以改性者。該可接枝共聚合的單體，可列舉例如：不飽和羧酸或其衍生物；不飽和磺酸或其衍生物；碳數2~30的α-烯烴等。PVA中來自可接枝共聚合的單體之結構單元的比例，根據構成PVA之全結構單元的莫耳數，5莫耳%以下為佳。

上述的PVA係其一部分的氫氧基可經交聯，亦可不經交聯。又上述的PVA係其一部分的氫氧基可與乙醛、丁醛等的醛類化合物等反應而形成縮醛結構，亦可不與此等化合物反應而不形成縮醛結構。

PVA的聚合度並未特別限制，從薄膜強度或所得之光學薄膜的耐久性等之觀點而言，以500以上為佳，1,000以上為較佳，1,500以上為進一步較佳，2,000以上為特佳。另一方面，從若聚合度過高，由於會有導致製造成本上升或在製膜時步驟通過性不良的傾向，PVA的聚合度為10,000以下為佳，9,000以下為較佳，8,000以下為進一步較佳，7,000以下為特佳。此外，本說明書中所謂的PVA的聚合度意指依照JIS K6726-1994的記載測定的平均聚合度。

PVA的皂化度並未特別限制，從由所得之PVA薄膜所製造的光學薄膜的光學性能或耐久性等的觀 點而言，PVA的皂化度係95莫耳%以上為佳，98莫耳%以上為較佳，99莫耳%以上為進一步較佳，99.2莫耳%以上為特佳。此外，本說明書中的PVA的皂化度係指相對於PVA所具有的經由皂化而能轉換成乙烯醇單元的結構單元(典型者為乙烯酯單元)與乙烯醇單元之合計莫耳數，該乙烯醇單元所占有的莫耳數之比例(莫耳%)。PVA的皂化度可依照JIS K6726-1994的記載進行測定。

形成本發明的PVA薄膜之PVA係可單獨使用1種的PVA，亦可使用改性的種類或改性率、聚合度、皂化度等彼此不同之2種以上的PVA。但是，在如製造光學薄膜之際作為原材使用的情形般要求本發明的PVA薄膜具優異的二次加工性之情形等中，當PVA薄膜包含：具有羧基、磺酸基等的酸性官能基的PVA；具有酸酐基的PVA；胺基等的具有鹼性官能基的PVA；此等中和物等、具有能促進交聯反應之官能基的PVA時，有時會因PVA分子間的交聯反應而使得PVA薄膜的二次加工性下降。因此，在如上述般的情形中，PVA薄膜係不含有具有酸性官能基的PVA、具有酸酐基的PVA、具有鹼性官能基的PVA及此等中和物中的任一者為佳，PVA較佳係僅包含：藉由將單體中僅使用乙烯酯所得之聚乙烯酯系聚合物皂化而製造的PVA、及/或將單體中僅使用乙烯酯與乙烯及/或碳數3~30的烯烴所得之聚乙烯酯系聚合物皂化而製造的PVA，PVA進一步較佳係僅包含：將單體中僅使用乙烯酯所得之聚乙烯酯系聚合物皂化而製造的PVA、及/或將單體中僅使用乙烯酯與乙烯所得之聚乙烯酯系聚合物皂化而製造的PVA。

本發明的PVA薄膜的製法並未特別限制，本發明的PVA薄膜係藉由包括下列步驟之本發明的製造方法，可生產性更平穩地進行連續製造：(a)使用具備旋轉軸互相平行之3個以上的乾燥輥的製膜裝置，在該乾燥輥中的位於最上游側之第1乾燥輥上，將含有PVA的製膜原液吐出成膜狀且部分乾燥後，將其以之後接續之乾燥輥進行進一步乾燥而製膜；此時，(b)將從第1乾燥輥進行剝離時的PVA膜的揮發分率設為20~40質量%；(c)將第2乾燥輥的周速(S₂)對第1乾燥輥的周速(S₁)的比(S₂/S₁)設為1.015~1.050；(d)將第2乾燥輥或較其下游側的乾燥輥中，從PVA膜的揮發分率成為20質量%時的乾燥輥(第x乾燥輥)至PVA膜的揮發分率成為10質量%時的乾燥輥(第y乾燥輥)之間相鄰之2根乾燥輥中的下游側之乾燥輥的周速(S_n+1)對上游側的乾燥輥的周速(S_n)的比(S_n+1/S_n)均設為0.992~0.999。

本發明完全沒有限制，但認為若依照本發明的PVA薄膜之製造方法，由於係以涵蓋PVA膜的揮發分率在20質量%~10質量%之狀態的全體地將相鄰之2個乾燥輥間的周速比設定在小於1.000之特定範圍內，因此，所得之PVA薄膜中寬度方向的均勻性提升，可生產性良好且平穩連續地製造本發明的PVA薄膜。

藉由下述來更具體地說明上述本發明的PVA薄膜之製造方法。

含有PVA的製膜原液可藉由將PVA與液體介質混合成溶液，或將含有液體介質等之PVA切屑熔融形成熔融液而調製。PVA於液體介質的溶解或將含有液體介質等之PVA切屑的熔融，可使用攪拌式混合裝置、熔融擠壓機等而進行。此時所使用的液體介質，可列舉例如：水、二甲基亞碸、二甲基甲醯胺、二甲基乙醯胺基、N-甲基吡咯啶酮、乙二胺、二乙三胺等，此等液體介質可單獨1種使用，亦可併用2種以上。此等之中，又以使用水、二甲基亞碸、或兩者之混合物為佳，特別是使用水為更佳。

從促進PVA於液體介質的溶解或熔融、提升薄膜製造時的步驟通過性、提升所得之PVA薄膜的拉伸性等之點來看，製膜原液含有塑化劑為佳。藉由使用含有塑化劑之製膜原液，可得到含有塑化劑的PVA薄膜。塑化劑係使用多元醇為佳，可列舉例如：乙二醇、丙三醇、二丙三醇、丙二醇、二乙二醇、三乙二醇、四乙二醇、三羥甲基丙烷等。塑化劑係可單獨1種使用，亦可併用2種以上。此等之中，從拉伸性的提升效果優異之點來看，較佳係使用丙三醇、二丙三醇及乙二醇中的1種或2種以上。

相對於100質量份的PVA，塑化劑的含量係0~30質量份為佳，3~25質量份為較佳，5~20質量份為特佳。藉由使塑化劑的含量相對於100質量份的PVA為30質量份以下，所得之PVA薄膜的操作性會提升。

從製造PVA薄膜時自乾燥輥的剝離性的提升、所得之PVA薄膜的操作性等之點來看，製膜原液含有界面活性劑為佳。藉由使用含有界面活性劑的製膜原液，可得到含有界面活性劑的PVA薄膜。界面活性劑的種類並未特別限制，較佳係使用陰離子性界面活性劑或非離子性界面活性劑。

陰離子性界面活性劑，例如以月桂酸鉀等的羧酸型、辛基硫酸酯等的硫酸酯型、十二烷基苯磺酸酯等磺酸型的陰離子性界面活性劑為適宜。

又，非離子性界面活性劑，例如以聚氧乙烯油烯基醚等的烷基醚型、聚氧乙烯辛基苯基醚等的烷基苯基醚型、聚氧乙烯月桂酸酯等的烷基酯型、聚氧乙烯月桂基胺基醚等的烷基胺型、聚氧乙烯月桂酸醯胺等的烷基醯胺型、聚氧乙烯聚氧丙烯醚等的聚丙二醇醚型、油酸二乙醇醯胺等的烷醇醯胺型、聚氧伸烷基烯丙基苯基醚等的烯丙基苯基醚型的非離子性界面活性劑為適宜。

此等界面活性劑可單獨1種使用，亦可併用2種以上。

相對於100質量份的PVA，界面活性劑的含量係0.01~1質量份為佳，0.02~0.5質量份為較佳，0.05~0.3質量份為進一步較佳。藉由使界面活性劑的含量相對於100質量份的PVA為0.01質量份以上，拉伸性或染色性提升。又，藉由使界面活性劑的含量相對於100質量份的PVA為1質量份以下，PVA薄膜的操作性會提升。

製膜原液可含有穩定化劑(抗氧化劑、紫外線吸收劑、熱穩定劑等)、相溶劑、抗結塊劑、難燃劑、抗靜電劑、滑劑、分散劑、流動化劑、抗菌劑等的各種添加劑。此等添加劑係可單獨1種使用，亦可併用2種以上。

PVA薄膜的製造中使用的製膜原液的揮發分率在50~90質量%的範圍內為佳，55~80質量%的範圍內為更佳。藉由使揮發分率為50質量%以上，可抑制黏度過度提高且製膜性提升。另一方面，藉由使揮發分率為90質量%以下，所得之PVA薄膜的厚度均勻性會提升。此外，本說明書中所謂的製膜原液的揮發分率係指利用下述式[i]求得之揮發分率。

A={(Wa-Wb)/Wa}×100 [i]

[式中，A表示製膜原液的揮發分率(質量%)，Wa表示製膜原液的質量(g)，Wb表示Wa(g)的製膜原液在105℃的電熱乾燥機中經16小時乾燥後的質量(g)。]

用於PVA薄膜的製造之具備旋轉軸互相平行的3個以上的乾燥輥之製膜裝置，乾燥輥的數量為4個以上為佳，5~30個為更佳。此外，上述乾燥輥之中位於最上游側者稱為第1乾燥輥，關於剩餘的乾燥輥，則從第1乾燥輥開始朝下游側依序稱為第2乾燥輥、第3乾燥輥、第4乾燥輥、．．．。乾燥輥係由例如鎳、鉻、銅、鐵、不鏽鋼等的金屬而形成為佳，尤其是由輥表面不易腐蝕，而且具有鏡面光澤之金屬材料所形成為較佳。又，為了提高乾燥輥的耐久性，使用經鎳層、鉻層、鎳/ 鉻合金層等單層或組合2層以上鍍敷而成之乾燥輥為較佳。

本發明使用的製膜裝置可按照需要繼乾燥輥之後含有熱風爐式的熱風乾燥裝置、熱處理裝置、調濕裝置等。

當在製膜裝置的第1乾燥輥上將上述製膜原液吐出成膜狀時，可使用例如T型縫模、料斗板(hopper plate)、I-模、唇型塗布模等已知的膜狀吐出裝置(膜狀流延裝置)，將製膜原液於第1乾燥輥上吐出(流延)成膜狀。

藉由將於第1乾燥輥上吐出成膜狀之含PVA液在第1乾燥輥上進行乾燥，而除去其所含有的一部分揮發性成分(部分乾燥)，並在PVA膜的揮發分率達20~40質量%之時點從第1乾燥輥上剝離下來。

若從第1乾燥輥上剝離下來時PVA膜的揮發分率小於20質量%，則所得之PVA薄膜的△Z_max容易偏離與本發明的規定對應的範圍。從第1乾燥輥上剝離下來時PVA膜的揮發分率為21質量%以上為佳，22質量%以上為較佳，23質量%以上為進一步較佳。另一方面，若從第1乾燥輥上剝離下來時PVA膜的揮發分率超過40質量%，則自第1乾燥輥的剝離性會惡化，薄膜的寬度方向的均勻性會降低，所得之PVA薄膜的△Z_max容易偏離與本發明的規定對應的範圍。從第1乾燥輥上剝離下來時PVA膜的揮發分率為30質量%以下為佳，28質量%以下為較佳，27質量%以下為進一步較佳。

此處，本說明書中所謂的PVA膜或PVA薄膜的揮發分率係指利用下述式[ii]而求得的揮發分率。

B={(Wc-Wd)/Wc}×100 [ii]

[式中，B表示PVA膜或PVA薄膜的揮發分率(質量%)，Wc表示PVA膜或從PVA薄膜採取之試樣的質量(g)，Wd表示前述試樣Wc(g)放入溫度50℃、壓力0.1kPa以下的真空乾燥機中經4小時乾燥時的質量(g)。]

由使用PVA、丙三醇等的多元醇(塑化劑)、界面活性劑及水所調製之製膜原液而形成的PVA膜或PVA薄膜，由於在前述「在溫度50℃、壓力0.1kPa以下4小時」的條件下乾燥時主要只有水揮發，水以外的其他成分幾乎沒有揮發而殘留在PVA膜或PVA薄膜中，所以PVA膜或PVA薄膜的揮發分率可藉由測定PVA膜或PVA薄膜中所含有的水分量(水分率)而求得。

當在第1乾燥輥上乾燥時，從乾燥的均勻性、乾燥速度等之點來看，第1乾燥輥的表面溫度為80~120℃為佳，85~105℃為較佳，93~99℃為進一步較佳。藉由使第1乾燥輥的表面溫度為120℃以下，可更有效地抑制薄膜的發泡，另一方面，藉由使其為80℃以上，在第1乾燥輥上的乾燥效率會提升。

第1乾燥輥的周速(S₁)從乾燥的均勻性、乾燥速度及PVA薄膜的生產性等之點來看，以8~25m/分鐘為佳，10~23m/分鐘為較佳，12~22m/分鐘為進一步較佳。

吐出成膜狀之含有PVA的製膜原液在第1乾燥輥上的部分乾燥，可僅藉由來自第1乾燥輥的熱而進行，但在以第1乾燥輥進行加熱之同時對不與第1乾燥輥接觸的膜面(以下稱為「第1乾燥輥非接觸面」；與其相反的第1乾燥輥接觸側的膜面則稱為「第1乾燥輥接觸面」)吹拂熱風，以從PVA膜的兩面賦予熱而進行的乾燥，從乾燥的均勻性、乾燥速度等之點來看為佳。

當對在第1乾燥輥上的PVA膜的第1乾燥輥非接觸面吹拂熱風時，相對於第1乾燥輥非接觸面的全領域吹拂風速為1~10m/秒的熱風為佳，吹拂風速為2~8m/秒的熱風為較佳，吹拂風速為3~8m/秒的熱風為進一步較佳。

吹拂至第1乾燥輥非接觸面之熱風的風速過小時，在第1乾燥輥上乾燥時水蒸氣等的結露產生，該水滴滴下至PVA膜，在最終所得之PVA薄膜中容易產生缺陷。另一方面，吹拂至第1乾燥輥非接觸面之熱風的風速過大時，在最終所得之PVA薄膜產生厚度斑，伴隨於此染色斑等的損傷變得容易產生。

吹拂至PVA的第1乾燥輥非接觸面之熱風的溫度，從乾燥效率、乾燥的均勻性等之點來看，以50~150℃為佳，70~120℃為較佳，80~95℃為進一步較佳。又吹拂至PVA膜的第1乾燥輥非接觸面之熱風的露點溫度為10~15℃為佳。吹拂至PVA膜的第1乾燥輥非接觸面之熱風的溫度過低時，乾燥效率、乾燥的均勻性等容易下降，另一方面，過高時容易產生發泡。

用以將熱風吹拂至PVA膜的第1乾燥輥非接觸面的方式並未特別限制，可採用將風速均勻且溫度均勻的熱風對著PVA膜的第1乾燥輥非接觸面，較佳係能對其全體均勻吹拂之方式中的任一種，其中又較佳係採用噴嘴方式、整流板方式或彼等之組合等。朝PVA膜的第1乾燥輥非接觸面之熱風的吹拂方向，可為與第1乾燥輥非接觸面相對的方向，亦可為大致上沿著PVA膜的第1乾燥輥非接觸面的圓周形狀的方向(大致上沿著第1乾燥輥的輥表面的圓周的方向)，亦可為其以外的方向。

又，在第1乾燥輥上乾燥PVA膜時，將經由乾燥從PVA膜所產生的揮發分與經吹拂後的熱風與以排氣為佳。排氣的方法並未特別限制，但以採用吹拂至PVA膜的第1乾燥輥非接觸面之熱風的風速不均及溫度不均不會產生的排氣方法為佳。

將在第1乾燥輥上乾燥至揮發分率20~40質量%之PVA膜從第1乾燥輥上剝離下來，下次以第2乾燥輥之後的乾燥輥進一步進行乾燥。當在第2乾燥輥上乾燥PVA膜時，係使PVA膜的第1乾燥輥非接觸面對向於第2乾燥輥而進行乾燥為佳。

第2乾燥輥的周速(S₂)對第1乾燥輥的周速(S₁)的比(S₂/S₁)在1.015~1.050的範圍內，1.020~1.048的範圍內為佳，在1.023~1.046的範圍內為較佳，1.025~1.045的範圍內為進一步較佳。比(S₂/S₁)小於1.020時，自第1乾燥輥的PVA膜的剝離性惡化且薄膜的寬度 方向的均勻性變差，所得之PVA薄膜的△Z_max容易偏離與本發明的規定對應的範圍。又，比(S₂/S₁)超過1.050的情形，在第1乾燥輥與第2乾燥輥之間對PVA膜施加之張力的斑會擴大，而使所得之PVA薄膜的△Z_max容易偏離與本發明的規定對應的範圍。

在第2乾燥輥比後述的第x乾燥輥還更位於上游側之情形中，從第2乾燥輥至第x乾燥輥之前的乾燥輥(第(x-1)乾燥輥)之間存在的全部乾燥輥(包含第2乾燥輥及第(x-1)乾燥輥)的表面溫度係80℃以上為佳，83℃以上為較佳，85℃以上為進一步較佳。又，此等乾燥輥的表面溫度係95℃以下為佳，92℃以下為較佳，90℃以下為進一步較佳。藉由是此等乾燥輥的表面溫度在上述範圍，可維持適度的乾燥速度且可提升乾燥的均勻性。

將第2乾燥輥或由其下游側的乾燥輥中的PVA膜的揮發分率成為20質量%時的乾燥輥稱為第x乾燥輥，在將PVA膜的揮發分率成為10質量%時的乾燥輥稱為第y乾燥輥時，在第x乾燥輥至第y乾燥輥之間，下游側的乾燥輥的周速(S_n+1)對相鄰之2根乾燥輥中的上游側的乾燥輥的周速(S_n)的比(S_n+1/S_n)，必須均在0.992~0.999的範圍內。亦即，例如在第x乾燥輥為第5乾燥輥且第y乾燥輥為第8乾燥輥之情形中，第6乾燥輥的周速(S₆)對第5乾燥輥的周速(S₅)的比(S₆/S₅)、第7乾燥輥的周速(S₇)對第6乾燥輥的周速(S₆)的比(S₇/S₆)、第8乾燥輥的周速(S₈)對第7乾燥輥的周速(S₇)的比 (S₈/S₇)必須全部都在0.992~0.999的範圍內。該比(S_n+1/S_n)中的一部分或全部若偏離上述本發明的規定，則會失去寬度方向的均勻性且難以得到目的之PVA薄膜。從寬度方向的均勻性之觀點而言，該比(S_n+1/S_n)全部都在0.993以上為佳，0.994以上為較佳，0.995以上為進一步較佳。又同樣地從寬度方向的均勻性之觀點而言，該比(S_n+1/S_n)全部都在0.998以下為佳。此外，通常在乾燥輥上PVA膜的揮發分率會下降，當在相鄰之2個乾燥輥間揮發分率成為20質量%或10質量%之情形中，將其中的下游側的乾燥輥分別稱為第x乾燥輥或第y乾燥輥。又，再從第1乾燥輥上剝離下來時PVA膜的揮發分率為20質量%之情形，將第2乾燥輥稱為第x乾燥輥。

第y乾燥輥的周速(S_y)對第x乾燥輥的周速(S_x)的比(S_y/S_x)，從可使寬度方向的均勻性進一步的提升來看，在0.940~0.990的範圍內為佳，0.955~0.985的範圍內為較佳，0.960~0.980的範圍內為進一步較佳。

第x乾燥輥至第y乾燥輥之間存在的乾燥輥的數量，從可使寬度方向的均勻性更進一步的提升來看，包含第x乾燥輥及第y乾燥輥，以4個以上為佳，6個以上為較佳，8個以上為進一步較佳，又，20個以下為佳。

第x乾燥輥至第y乾燥輥之間存在的全部乾燥輥(包含第x乾燥輥及第y乾燥輥)的表面溫度係60℃以上為佳，62℃以上為較佳，65℃以上為進一步較佳。又，此等乾燥輥的表面溫度係85℃以下為佳，82℃以 下為較佳，80℃以下為進一步較佳。藉由使此等乾燥輥的表面溫度在上述範圍，可使寬度方向的均勻性更進一步的提升。

若以後續的乾燥輥進一步乾燥在第y乾燥輥乾燥之PVA膜，可得到揮發分率更低的PVA薄膜。由第y乾燥輥起下游側的乾燥輥的表面溫度為60~85℃的範圍內為佳，62~82℃的範圍內為較佳，65~80℃的範圍內為進一步較佳，最終乾燥輥、或接近最終的乾燥輥與最終乾燥輥可提高其表面溫度作為熱處理輥使用。使用乾燥輥作為熱處理輥的情形，該表面溫度在90~140℃的範圍內為佳，95~130℃的範圍內為更佳。

從第1乾燥輥至最終乾燥輥的過程中，PVA膜對各乾燥輥的方向並未特別限制，從可更進一步乾燥PVA膜來看，在PVA膜的任意部分的表面與裏面，係以使得第1乾燥輥至最終乾燥輥為止的各乾燥輥呈交互對向的方式進行乾燥為佳。

最終乾燥輥的周速(S_L)對第1乾燥輥的周速(S₁)的比(S_L/S₁)並未特別限制，在0.900~1.100的範圍內為佳，0.950~1.050的範圍內為較佳，0.980~1.020的範圍內為進一步較佳，0.990~1.010的範圍內為特佳。又，相鄰之2個乾燥輥間的周速比之中，關於上述說明以外者，下游側的乾燥輥的周速對上游側的乾燥輥的周速的比，例如可在0.980~1.020的範圍內、進而可在0.990~1.010的範圍內。

利用上述的乾燥處理所得之PVA薄膜可按照需要進行調濕處理等，藉由以規定的長度捲繞成輥狀，可得到本發明的PVA薄膜。又，可在捲繞成輥狀之前、在輥狀的階段及在從輥捲出後之中的任1或複數的階段，切斷、去除該PVA薄膜的寬度方向兩端部(耳)。

經上述一連串的處理，最終所得之PVA薄膜的揮發分率在1~5質量%的範圍內為佳，在2~4質量%的範圍內為更佳。

本發明的PVA薄膜的用途並未特別限制，但從即使在光穿透率高的情形或使用強度更高的背光的情形，亦可製造色斑經減少之偏光膜等的光學薄膜來看，用作製造光學薄膜之際的原材為佳。光學薄膜除了偏光膜以外，還可列舉相位差薄膜等。此等光學薄膜可藉由具有使用本發明的PVA薄膜進行單軸拉伸的步驟之製造方法而進行製造。

更具體而言，使用本發明的PVA薄膜作為原材製造偏光膜時，只要例如使用本發明的PVA薄膜進行染色、單軸拉伸、固定處理、乾燥處理，進而可按照需要進行熱處理即可。染色與單軸拉伸的順序並未特別限制，可在單軸拉伸之前進行染色、可在單軸拉伸的同時進行染色、或亦可在單軸拉伸之後進行染色。又，單軸拉伸、染色等的步驟可重複複數次。

用於PVA薄膜染色之染料，可使用碘或二色性有機染料(例如，Direct Black 17、19、154；Direct Brown 44、106、195、210、223；Direct Red 2、23、28 、31、37、39、79、81、240、242、247；Direct Blue 1、15、22、78、90、98、151、168、202、236、249、270；Direct Violet 9、12、51、98；Direct Green 1、85；Direct Yellow 8、12、44、86、87；Direct Orange 26、39、106、107等的二色性染料)等。此等染料係可單獨1種使用，亦可併用2種以上。染色雖然通常是藉由使PVA薄膜浸漬於含有上述染料之溶液中而進行，但其處理條件或處理方法沒有特別限制。

PVA薄膜的單軸拉伸可用濕式拉伸法或乾熱拉伸法中的任一者來進行。利用濕式拉伸法進行單軸拉伸的情形，可在含有硼酸的溫水中進行單軸拉伸、可在含有前述之染料的溶液中或後記固定處理浴中進行單軸拉伸、可使用吸水後的PVA薄膜在空氣中進行單軸拉伸，亦可用其他的方法進行單軸拉伸。單軸拉伸處理之際的拉伸溫度並未特別限制，將PVA薄膜在溫水中進行拉伸(濕式拉伸)的情形，較佳為採用30~90℃，更佳為40~70℃，進一步較佳為45~65℃的溫度，進行乾熱拉伸的情形較佳為採用50~180℃的溫度。又，單軸拉伸的拉伸倍率(以多段方式進行單軸拉伸的情形為合計的拉伸倍率)，從偏光性能之點而言，在薄膜切斷之前儘量儘可能拉伸為佳，具體而言4倍以上為佳，5倍以上為較佳，5.5倍以上為進一步較佳。拉伸倍率的上限只要薄膜沒有破裂即可沒有特別限制，為了進行均勻的拉伸，以8.0倍以下為佳。此外，本說明書中的拉伸倍率係根據拉伸前的薄膜的長度者，沒有拉伸的狀態係相當於拉伸倍率1倍。

拉伸後的薄膜(偏光膜)的厚度為5~35μm、尤其是20~30μm為佳。

在將長條狀的PVA薄膜單軸拉伸的情形中單軸拉伸的方向沒有特別限制，可採用朝長度方向的單軸拉伸或橫向單軸拉伸，從能得到偏光性能方面更優異的偏光膜來看，朝長度方向的單軸拉伸為佳。朝長度方向的單軸拉伸係使用具備互相平行的複數根輥之拉伸裝置，利用改變各輥間的周速而進行。另一方面，橫向單軸拉伸可使用拉幅機型拉伸機而進行。

當製造偏光膜時，為了使染料牢固地吸附於經單軸拉伸之薄膜，進行固定處理為佳。固定處理可列舉將薄膜浸漬在添加硼酸、硼砂等的硼化合物之固定處理浴中的方法。此時，可按照需要於固定處理浴中添加碘化合物。

進行單軸拉伸、或單軸拉伸與固定處理之薄膜，接著進行乾燥處理(熱處理)為佳。乾燥處理(熱處理)的溫度在30~150℃的範圍內、尤其是50~140℃的範圍內為佳。乾燥處理(熱處理)的溫度過低時，所得之偏光膜的尺寸穩定性變得容易下降，另一方面，過高時伴隨染料的分解等而容易發生偏光性能下降。

在以上所得之偏光膜的兩面或單面，貼合光學上透明、且具有機械強度之保護膜，可形成偏光板。該情形的保護膜可使用三乙酸纖維素(TAC)薄膜、乙酸．丁酸纖維素(CAB)薄膜、丙烯酸系薄膜、聚酯系薄膜等。又，用於貼合保護膜之接著劑，可列舉PVA系接著劑 或胺基甲酸酯系接著劑等，此等之中尤以PVA系接著劑為佳。

以上所得之偏光板經丙烯酸系等的黏着劑被覆之後，貼合至玻璃基板可作成液晶顯示裝置的零件使用。在將偏光板貼合至玻璃基板之際，可貼合相位差薄膜、視野角提升薄膜、亮度提升薄膜等。

[實施例]

以下利用實施例更具體地說明本發明，但本發明不因以下的實施例而受到任何限定。

以下的實施例及比較例中，PVA薄膜的△Z_max、△ Z_ave、遲滯值及配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度以及偏光膜的色斑及偏光性能的各測定乃至評價結果，係利用以下的方法而求得。

(1)PVA薄膜的△Z_max、△ Z_ave、遲滯值及配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度

從以下的各實施例或比較例所得之長條狀的PVA薄膜的長度方向(MD)的任意位置，採取於PVA薄膜的長度方向(MD)具有40mm長度之全幅長(3m)的帶狀的試樣。針對該帶狀的試樣，於薄膜的寬度方向中央部決定1個測定位置，從該測定位置分別朝寬度方向兩端部以20mm節距依序決定測定位置(分別為74點)。此外，從薄膜的寬度方向兩端部分別朝寬度方向中央部位於小於20mm的領域之各第75點係自測定位置排除。又，各測定位置係決定在帶狀試樣的機械流動方向的中央部(分別從機械流動方向兩端部起20mm的位置)。

而且，在各測定位置(合計149點)，使用王子測量機器股份有限公司製「KOBRA-WFD」，根據在相對於薄膜面垂直的方向行進的波長590nm的光，測定薄膜的面內的配向軸及遲滯值，從各測定位置的配向軸的數據求得上述△Z_max及△Z_ave，並且從各測定位置的遲滯值之數據求得其最小值與最大值。又，在上述薄膜的寬度方向中央部的測定位置，求得配向軸與PVA薄膜的長度方向(MD)形成的角度。

(2)偏光膜的色斑

在暗室內將觀察用偏光板(使用穿透率為約43%的偏光膜者)載置置面光源(背光)上，於其上載置對於該觀察用偏光板以形成正交尼科耳的方式所製作而成之偏光膜。其次，從背光隔著觀察用偏光板對偏光膜照射光(光度15,000cd)，且由偏光膜正上方距離1m的位置以目視觀察偏光膜，根據以下的判定基準，藉由官能評價進行偏光膜的色斑的評價。

○：沒有觀察到色斑、或即使觀察到了但實用上沒有問題的水準。

×：認為實用上會成為問題的水準的色斑。

此外，若依照後述之「(2)偏光膜的製造(i)」的製造條件，容易得到具有44%以上的高穿透率之偏光膜，藉由使用此種具有高穿透率之偏光膜並採用上述的方法，可明確地評價本發明中成為問題之色斑的有無乃至於其程度。

(3)偏光膜的偏光性能 (a)穿透率(Y)的測定

從以下的各實施例或比較例所得之偏光膜的寬度方向中央部，採取2片長度方向4cm×寬度方向4cm的正方形的試樣。針對1片的試樣，測定長度方向對測定裝置傾斜45°之情形的光穿透率與傾斜-45°之情形的光穿透率，求得此等的平均值(Y₁)(%)。再針對1片的試樣，同樣地測定傾斜45°之情形的光穿透率與傾斜-45°之情形的光穿透率，求得此等的平均值(Y₂)(%)。此外，上述穿透率的測定係使用日立製作所製的分光光度計「U-4100」(附屬於積分球)。又上述穿透率的測定係依照JIS Z8722(物體色的測定方法)的方法進行，使用C光源，對2°視野的可見光領域的視感度進行校正。

利用以下式[iii]平均用上述的方法求得之Y₁與Y₂，作為偏光膜的穿透率(Y)(%)。

穿透率(Y)=(Y₁+Y₂)/2 [iii]

(b)偏光度(V)的測定

對上述的「(a)穿透率(Y)的測定」中採取的偏光膜的試樣2片測定：重疊此等成長度方向為平行之情形的光穿透率(Y∥)(%)，及重疊此等成長度方向為正交之情形的光穿透率(Y⊥)(%)。此外Y∥及Y⊥系用與上述的「(a)穿透率(Y)的測定」同樣的方法而求得。由此等Y∥及Y⊥，利用以下式[iv]而求得偏光度(V)(%)。

偏光度(V)={(Y∥-Y⊥)/(Y∥+Y⊥)}^1/2×100 [iv]

《實施例1》 (1)PVA薄膜的製造

(i)使用包含PVA(乙酸乙烯酯的均聚物的皂化物、聚合度2,400、皂化度99.9莫耳%)100質量份、丙三醇12質量份、月桂酸二乙醇醯胺0.1質量份及水之揮發分率66質量%的製膜原液，利用具備旋轉軸互相平行的20個乾燥輥之製膜裝置，連續製膜厚度75μm、幅3m、長度10,000m、揮發分率3質量%的長條狀PVA薄膜。

具體而言，將上述的製膜原液從T型縫模於第1乾燥輥(表面溫度93℃、周速(S₁)13.6m/分鐘)上吐出成膜狀，在第1乾燥輥上，一邊以5m/秒的風速將熱風(溫度90℃、露點溫度10℃)均勻地吹拂至第1乾燥輥非接觸面的全體，一邊使PVA膜的揮發分率乾燥至25質量%為止，接著，從第1乾燥輥上剝離下來(自第1乾燥輥剝離下來時的揮發分率為25質量%)，PVA膜的第1乾燥輥接觸面與第1乾燥輥非接觸面以各乾燥輥交互對向的方式，用第2乾燥輥之後的乾燥輥進行乾燥，並且切斷、除去寬度方向兩端部(耳)後，捲繞成輥狀，以得到上述的PVA薄膜。

此外，上述的製膜中，第x乾燥輥為第5乾燥輥，第y乾燥輥為第13乾燥輥。又，比(S₂/S₁)為1.040，在第x乾燥輥至第y乾燥輥之間相鄰之2個乾燥輥間的周速的比(S_n+1/S_n)為0.995(最小值)~0.998(最大值)，比(S_y/S_x)為0.973，比(S_L/S₁)為1.007。又，第2乾燥輥至 第(x-1)乾燥輥之間存在的全部之乾燥輥的表面溫度為85℃(最小值)~90℃(最大值)，第x乾燥輥至第y乾燥輥之間存在的全部之乾燥輥的表面溫度為67℃(最小值)~75℃(最大值)。

針對所得之PVA薄膜，利用上述的方法求得△Z_max、△ Z_ave、遲滯值及配向軸與PVA薄膜的長度方向形成的角度。將結果示於表1。

(2)偏光膜的製造

(i)從上述(1)所得之PVA薄膜的寬度方向(TD)的中央部，採取長度方向12cm×寬度方向20cm的長方形的試驗片，將該試驗片的長度方向的兩端固定在拉伸治具以使得拉伸部分的尺寸成為長度方向10cm×寬度方向20cm，在溫度30℃的水中浸漬38秒鐘浸漬的其間，以24cm/分鐘的拉伸速度於長度方向單軸拉伸(第1段拉伸)至原來長度的2.2倍後，在含有濃度0.03質量%的碘及3質量%的碘化鉀之溫度30℃的碘/碘化鉀水溶液中浸漬60秒鐘浸漬的其間，以24cm/分鐘的拉伸速度於長度方向單軸拉伸(第2段拉伸)至長度的3.3倍為止，接著，在含有濃度3質量%的硼酸及3質量%的碘化鉀之溫度30℃的硼酸/碘化鉀水溶液中浸漬約20秒鐘浸漬的期間，以24cm/分鐘的拉伸速度於長度方向單軸拉伸(第3段拉伸)至原來長度的3.6倍為止，繼而一邊浸漬在含有濃度4質量%的硼酸及約5質量%的碘化鉀之溫度60℃的硼酸/碘化鉀水溶液中，一邊以24cm/分鐘的拉伸速度於長度方向單軸拉伸(4段目拉伸)至極限拉伸倍率之前的 拉伸倍率(預先進行同樣的操作所求得之薄膜破裂時的拉伸倍率當作極限拉伸倍率，且採用比其低0.2倍的拉伸倍率)為止之後，在含有濃度3質量%的碘化鉀之碘化鉀水溶液中浸漬10秒鐘，進行固定處理，然後用60℃的乾燥機乾燥4分鐘，以製造偏光膜(厚度28μm)。

針對該偏光膜，利用上述的方法進行色斑的評價。將結果示於表1。

(ii)除了將上述(i)中，第2段拉伸時的於「溫度30℃的碘/碘化鉀水溶液」中的浸漬時間從60秒鐘，改變為75秒鐘、90秒鐘、105秒鐘或120秒鐘以外，進行與上述(i)同樣的操作，以製造穿透率不同的4片偏光膜(厚度28μm)。

(iii)分別針對上述(i)及(ii)中所得之穿透率(Y)不同的5片偏光膜，按照上述的方法，求得穿透率(Y)及偏光度(V)，將該5點標繪在橫軸為穿透率(Y)及縱軸為偏光度(V)的圖表上。而且將該5點的近似曲線拉繪在圖表上，從該近似曲線求得穿透率(Y)為44.25%時的偏光度(V)的值。將結果示於表1。

《實施例2及比較例1~5》

除了PVA薄膜的製造條件為如表1所示以外，與實施例1同樣地製膜PVA薄膜，並且與實施例1同樣地製造偏光膜。將結果示於表1。

Claims (11)

1. 一種聚乙烯醇系聚合物薄膜，其係在薄膜的面內於薄膜的寬度方向以20mm節距測定配向軸時，於全部的相鄰之2個測定位置中，相鄰之2個測定位置的配向軸彼此形成的角度(但在0~90°的範圍內)為2.3°以下，全部的相鄰之2個測定位置的前述角度之平均值為0.6°以下。
2. 如請求項1之聚乙烯醇系聚合物薄膜，其中前述配向軸的測定位置的遲滯值，於全部的測定位置中為5~100nm。
3. 如請求項1或2之聚乙烯醇系聚合物薄膜，其中在前述配向軸的測定位置中之至少1個的配向軸與聚乙烯醇系聚合物薄膜的長度方向形成的角度(但在0~90°的範圍內)為45~90°。
4. 如請求項1或2之聚乙烯醇系聚合物薄膜，其寬度為2m以上。
5. 一種如請求項1至4之聚乙烯醇系聚合物薄膜之製造方法，其係聚乙烯醇系聚合物薄膜之製造方法，其包括：(a)使用具備旋轉軸互相平行之3個以上的乾燥輥的製膜裝置，在該乾燥輥中的位於最上游側之第1乾燥輥上，將含有聚乙烯醇系聚合物的製膜原液吐出成膜狀且部分乾燥之後，將其以之後接續之乾燥輥進行進一步乾燥而製膜；此時，(b)將從第1乾燥輥進行剝離時的聚乙烯醇系聚合 物膜的揮發分率設為20~40質量%；(c)將第2乾燥輥的周速(S₂)對第1乾燥輥的周速(S₁)的比(S₂/S₁)設為1.015~1.050；(d)將第2乾燥輥或較其下游側的乾燥輥中，從聚乙烯醇系聚合物膜的揮發分率成為20質量%時的乾燥輥(第x乾燥輥)至聚乙烯醇系聚合物膜的揮發分率成為10質量%時的乾燥輥(第y乾燥輥)之間相鄰之2根乾燥輥中的下游側之乾燥輥的周速(S_n+1)對上游側的乾燥輥的周速(S_n)的比(S_n+1/S_n)均設為0.992~0.999。
6. 如請求項5之製造方法，其中將存在於第x乾燥輥至第y乾燥輥之間的全部乾燥輥的表面溫度設為60~85℃。
7. 如請求項5或6之製造方法，其中第1乾燥輥的周速(S₁)為8~25m/分鐘。
8. 如請求項5或6之製造方法，其中將第y乾燥輥的周速(S_y)對第x乾燥輥的周速(S_x)的比(S_y/S_x)設為0.940~0.990。
9. 一種光學薄膜，其係由如請求項1至4中任一項之聚乙烯醇系聚合物薄膜製造而成。
10. 如請求項9項之光學薄膜，其係偏光膜。
11. 一種光學薄膜之製造方法，其係具有：使用如請求項1至4中任一項之聚乙烯醇系聚合物薄膜進行單軸拉伸的步驟。