TWI416098B - 具有光學膜之片狀製品之缺陷檢查裝置、其檢查資料處理裝置、其切斷裝置及其製造系統 - Google Patents

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Description

具有光學膜之片狀製品之缺陷檢查裝置、其檢查資料處理裝置、其切斷裝置及其製造系統
本發明係關於具有光學膜之片狀製品之缺陷檢查裝置、其檢查資料處理裝置、其切斷裝置及其製造系統。更詳細而言係有關於檢查至少具有光學顯示裝置之部件之光學膜之片狀製品之缺陷之情況時，於構成片狀製品之單層體及/或疊層體，在片狀製品表面未設置有保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷，並為了製造分片之片狀製品而利用該缺陷資訊。
以往，光學膜製造廠係將具有光學膜部件之帶狀之片狀製品捲取於捲筒，連續或依各步驟而以個別之製造線來製造。作為此「帶狀之片狀製品」有例如使用於液晶顯示裝置之偏光板原片、相位差板原片、偏光板與相位差板之疊層膜原片等。
為了貼合此片狀製品與光學顯示單元而使用黏著劑，此黏著劑預先於片狀製品作為黏著層而形成，並進一步為了黏著層保護用而形成有剝離型膜(亦稱作隔離層)。
表示具有圖12之疊層構造之偏光板之片狀製品，並於以下說明此片狀製品之製造步驟之以往例。首先，作為前步驟為(A)獲得偏光元件之步驟。於此，乾燥經施加染色、架橋及延伸處理之聚乙烯醇(PVA)膜而獲得偏光元件。(B)製造偏光板之步驟。於此，於偏光元件之雙面，經由接著劑而貼合三醋酸纖維素(TAC)膜，疊層偏光元件保護層而製造偏光板。於此，圖式中係對於疊層於上之TAC膜預先施以抗眩光處理。(C)貼合隔離層及保護膜之步驟。於偏光板之一面(圖式中為下側)，經由強黏著劑而貼合隔離層，於另一面(圖式中為上側)，經由弱黏著劑而貼合保護膜。於此，於隔離層預先塗有強黏著劑，於保護膜預先塗有弱黏著劑。塗於隔離層之強黏著劑係於剝離隔離層後轉印至TAC。而且，塗於保護膜之弱黏著劑即使剝離保護膜，仍維持形成於保護膜，實質上並未轉印至TAC。於以上之前步驟中製造帶狀之片狀製品，並捲取為捲筒狀而提供給後步驟。
於此前步驟(A，B，C)中，於各步驟，由檢查者進行特定檢查。例如於步驟(A)之情況，於PVA原片之搬運中途，檢查者以目視在捲筒開始捲取及捲取結束之時點確認缺陷(異物、髒污、扭曲、表面附著物等)。而且，於步驟(B)之情況，將所獲得之偏光板原片捲取為捲筒狀時，檢查者以目視確認缺陷(異物、髒污、扭曲、折曲、皺折等)。而且，自動檢查以缺陷檢查裝置(以相機拍攝異物、髒污等，進行圖像處理來判斷缺陷之習知裝置)貼合後之偏光板原片，並以監視器確認缺陷，藉由缺陷之監控，主要利用於狀態管理(監視)。
而且，於步驟(C)之情況，將所獲得之帶狀之片狀製品原片捲取為捲筒狀時，檢查者以目視在捲筒開始捲取及捲取結束之時點確認缺陷(異物、髒污、扭曲、表面附著物等)，藉由評估該缺陷，來進行片狀製品原片之評等(良、不良、可否出貨)。
接著，作為後步驟為(D)原片捲筒之檢查步驟。於此，藉由捲筒式自動檢測原片裝置及/或檢查者之目視檢查來檢查片狀製品原片捲筒之外觀。捲筒式自動檢測原片裝置係以相機拍攝捲取不良、外觀不良等，並進行圖像處理來判斷缺陷之習知裝置。(E)切斷為分片之片狀製品之步驟。於此，從原片捲筒拉出片狀製品，切斷為特定尺寸。作為切斷方法可舉例如定尺切斷、連續打孔等。(F)檢查分片之片狀製品之步驟。於此，進行藉由分片式自動檢查裝置及檢查者之目視檢查。分片式自動檢查裝置係自動檢查分片之片狀製品之缺陷之裝置，其照射光，經由線感測器或二維TV相機等攝像部來取得其反射光像或穿透光像，並根據取得之圖像資料來進行缺陷檢測。而且，於使檢查用偏光濾光器介在光源與攝像部間之光路中之狀態下，取得圖像資料。通常，此檢查用偏光濾光器之偏光軸(例如偏光吸收軸)配置成與檢查對象之偏光板之偏光軸(例如偏光吸收軸)呈正交之狀態(正交偏光)。藉由配置為正交偏光，假設未存在有缺陷，則從攝像部會輸入整面黑之圖像，但若存在有缺陷，該部分不會成為黑而被檢測作為亮點。因此，藉由設定適當之臨限值，可檢測缺陷。
如以上所說明，於後步驟(D，E，F)中，拉出捲成捲筒狀之片狀製品原片，切斷為特定尺寸之分片之片狀製品，進行特定之缺陷檢查來進行出貨判斷。
於以上所有製造步驟中，由於切斷為分片之片狀製品後再進行各分片狀製品之缺陷檢查，例如片狀製品僅有1個缺陷即被判斷為不良，具有從原片捲筒所獲得之最終分片之片狀製品之良率惡化之問題。
而且，檢查分片之片狀製品之情況時，呈現於片材表面貼有隔離層或保護膜之狀態。若於此狀態下檢查分片之片狀製品，由於隔離層或保護膜具有複折射性(相位差)，因此於該情況下，直線偏光會成為橢圓偏光，偏光板與檢查用偏光濾光器實質上成為正交偏光之狀態。其結果，產生無法精度良好地進行片狀製品所含之偏光板之缺陷檢查之問題。
此外，作為解決上述問題之疊層膜之缺陷檢查裝置，習知有下述專利文獻1所揭示之偏光板檢查裝置。此偏光板檢查裝置係具有光源、及使來自此光源之光成為直線偏光之檢查用偏光濾光器；將此直線偏光輸入於附保護膜(相當於相位差層)之偏光板，並根據其穿透光像來進行缺陷檢測。並且，在從光源穿透附保護膜之偏光板之光路上，配置有補償保護膜所造成之光之複折射之相位差板。藉由另外配置此相位差板，來取消保護膜所造成之相位變化，補償保護膜所造成之光之複折射。並且，亦揭示有一種為了補償依各製品而微妙地不同之保護膜所造成之複折射，配置可藉由電壓來調整光之相位角之可變偏光用光學元件之結構例。
[專利文獻1]日本特開2005－9919號公報
然而，於上述專利文獻1中，由於必須另外配置檢查用之相位差板或可變偏光用光學元件，因此會增加額外之零件，並且因額外地介在有零件而導致光源之光量減少，降低檢查精度，故出現無法應付近年來對於偏光板所要求之高精度、高品質之檢查要求。
而且，為了提高缺陷檢查之精度而藉由人來進行目視檢查，但由於為目視檢查，其檢查時間需要長時間。因此，生產性不佳，需要許多檢查者人數，具有導致製造成本增加之問題。
並且，於切斷為分片後之檢查中，將單一之臨限值(最嚴格之值)作為條件來判斷良莠。然而，依使用者(例如液晶裝置組裝製造廠)不同，其缺陷程度之良莠判斷亦不同。即使於某製造廠為不良，於其他製造廠亦有成為品質過剩之個案。然後，從製造廠方面，要求進行符合各製造廠之品質要求之檢查，以刪減成本、縮短交期，為了該要求而強烈期待改善檢查步驟。
本發明係有鑑於上述實情所完成者，其目的在於提供一種可藉由利用依各使用者之判斷條件，來提高良率、降低製造成本，並大幅改善生產性之檢查至少具有光學顯示裝置之部件之光學膜之片狀製品之缺陷之缺陷檢查裝置、其檢查資料處理裝置、其切斷裝置、其製造系統及檢查資料處理方法。
為了解決上述問題而銳意地累積研究，結果達到完成以下發明。
本發明之缺陷檢查裝置之特徵為：其係檢查至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之缺陷者；且包含：缺陷檢測機構，其係於構成片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；及缺陷資訊製作機構，其係製作由前述缺陷檢測機構所檢測到之缺陷相關資訊即缺陷資訊；前述缺陷資訊係為了製造捲筒狀或分片之片狀製品而利用。
上述結構之作用效果如下。缺陷檢查裝置係包含缺陷檢測機構及缺陷資訊製作機構。「缺陷」為作為製品不適宜之故障，可例示例如表面或內部之異物、髒污、痕跡、異物陷入之打痕狀之扭曲該類之特殊狀缺陷(亦稱作折曲)、及氣泡等。缺陷檢測機構可檢測各種缺陷。然後，缺陷檢測機構係於片狀製品表面未設置有保護層(例如隔離層、保護膜)之狀態下，檢測單層體及/或疊層體之缺陷。因此，可未有保護層之影響而精度良好地檢測缺陷。缺陷資訊製作機構係根據由各檢查機構所檢測到之缺陷之資訊，來製作各個缺陷資訊。而且，缺陷資訊製作機構亦可統合由各檢查機構所檢測到之缺陷之資訊，來製作最終之缺陷資訊。
於此，「缺陷資訊」係包含例如有關缺陷種類之資訊、有關缺陷座標之資訊、製造識別資訊、檢查對象識別資訊等資訊。此缺陷資訊係為了製造(例如切斷)分片之片狀製品而利用。藉此，可按照缺陷資訊來切斷捲筒狀或分片之片狀製品，因此良率提高。而且，由於不須對於切斷之分片之片狀製品進行缺陷檢查，因此可大幅刪減檢查員，成本優點甚大。
而且，本發明中可依各檢查步驟來形成缺陷資訊，並於檢查對象物形成缺陷資訊。所形成之缺陷資訊係於下一步驟之檢查中被讀取，並與該步驟中之檢查結果統合，可作為經統合之缺陷資訊而進一步形成於檢查對象物。例如於貼合前讀取形成於偏光板之缺陷資訊、與形成於隔離層及保護膜之缺陷資訊，可於貼合後，於保護膜形成經統合之缺陷資訊。
而且，本發明之檢查資料處理裝置係包含：缺陷資訊取得機構，其係取得由上述本發明之缺陷檢查裝置所製作之缺陷資訊；良率算出機構，其係分析由前述缺陷資訊取得機構所取得之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出藉由割開或切斷片狀製品原片所獲得之捲筒狀或分片之片狀製品之良率；及設定機構，其係設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片。
此結構之作用效果如下。缺陷資訊取得機構係取得由缺陷檢查裝置所製作之缺陷資訊。「取得」並未特別限制，可舉例如直接之按鍵輸入方法、通信(無線、有線)方法、印字讀取方法等取得方法。
取得之缺陷資訊係藉由良率算出機構來分析，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出藉由割開或切斷片狀製品原片所獲得之捲筒狀或分片之片狀製品之良率。「判斷條件」係根據例如每1片分片之缺陷數、缺陷尺寸來設定。而且，判斷條件包含例如分片之尺寸、所需片數(交貨數)。
於本發明中，「良率」係以原片之總面積(或有效面積)，來除算從原片獲得之良品之分片狀片狀製品之總面積而獲得。或者，「良率」係以從原片獲得之理論上最大取得數，來除算從原片獲得之良品之分片狀片狀製品之取得數而獲得。而且，良率值宜以百分率來表示。
然後，良率為特定值以上之片狀製品原片係由設定機構來設定。例如欲從複數片狀製品原片設定最佳之片狀製品原片之情況時，例如若良率為特定值以上則設定該片狀製品原片。作為特定值，可於複數片狀製品原片中設定最大良率值。判斷條件若被鏈結而有交貨對象(搬運去處)之資料，則於此設定之片狀製品原片捲筒會出貨至該交貨對象(搬運去處)。
因此，由於預先得知片狀製品原片捲筒之缺陷，因此可按照判斷條件，來設定例如成為最佳良率之片狀製品原片捲筒。
而且，本發明之切斷裝置係包含：取得機構，其係取得由上述本發明之缺陷資訊檢查資料處理裝置所設定之片狀製品原片之割開寬度及缺陷資訊；切斷機構，其係以前述取得機構所取得之割開寬度來切斷片狀製品原片；及缺陷資訊形成機構，其係於以前述割開寬度切斷之片狀製品原片之保護層形成前述取得之缺陷資訊。
此結構之作用效果如下。切斷裝置係為了將其前段步驟所製造之片狀製品原片捲筒切斷為割開寬度而利用。取得機構係取得由缺陷資訊檢查資料處理裝置所設定之片狀製品原片之割開寬度及該原片之缺陷資訊。切斷機構係以此割開寬度來將設定好之片狀製品原片捲筒進行割開。依割開，亦可從1個原片捲筒形成1個或2個以上之原片捲筒。然後，缺陷資訊形成機構係形成在被割開之片狀製品原片之保護層取得之缺陷資訊。形成方法並未特別限定，可舉例如印刷、燒附等。此缺陷資訊係利用於分片之片狀製品之製造(切斷)。
而且，本發明之片狀製品原片之製造系統，係製造至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品原片之包含光學膜之片狀製品原片之製造系統；且包含：缺陷檢測機構，其係於構成片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；缺陷資訊製作機構，其係製作由前述缺陷檢測機構所檢測到之缺陷相關資訊即缺陷資訊；良率算出機構，其係分析由前述缺陷資訊製作機構所製作之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出藉由割開或切斷片狀製品原片所獲得之捲筒狀或分片之片狀製品之良率；設定機構，其係設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片；切斷機構，其係以割開寬度來切斷前述經設定之片狀製品原片；及缺陷資訊形成機構，其係於前述被切斷之片狀製品原片之保護層形成缺陷資訊。
此包含光學膜之片狀製品原片之製造系統係具備已述之缺陷檢查裝置、檢查資料處理裝置、切斷裝置之機構，其作用效果亦如上述所記載。
而且，本發明之用以從片狀製品原片獲得分片之片狀製品之切斷裝置係包含：缺陷資訊讀取機構，其係讀取形成於由上述記載之切斷裝置或製造系統中，切斷為特定割開寬度之片狀製品原片或未被割開切斷之片狀製品原片之該片狀製品原片之缺陷資訊；及第二切斷機構，其係分析由前述缺陷資訊讀取機構所讀取之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件來算出切斷位置，並切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品。
此結構之作用效果如下。此切斷裝置係具備缺陷資訊讀取機構，其係讀取形成於切斷為特定割開寬度之片狀製品原片或未被割開切斷之片狀製品原片之該片狀製品原片之缺陷資訊。然後，切斷機構係分析讀取到之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件來算出切斷位置，並切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品。
藉此，由於可根據缺陷資訊來切斷原片，因此適當，且良率成為最佳(或特定值以上)。
而且，於本發明之切斷裝置中宜進一步包含製品資訊形成機構，其係於切斷之單片之片狀製品形成與該片狀製品相對應之製品資訊。
「製品資訊」係分片之片狀製品之識別資訊，包含例如製造識別號碼、缺陷資訊。由於製品資訊形成於各個分片之片狀製品，因此可使拾取作業(一面判斷為有缺陷或良品，一面進行積載)自動化。而且，可實現切斷後之自動片數計算，可明確管理於何處完成何物。而且，可實現人工支援之合計作業、或後步驟、出貨數量管理之自動化。而且，可管理切斷刀等裝置之使用頻率及切斷品質。而且，可明確管理設備之運轉狀況。而且，製品資訊包含製品識別號碼，藉此可簡單容易地進行追蹤調查。
而且，本發明之包含光學膜之片狀製品之製造系統，係製造至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之包含光學膜之片狀製品之製造系統；且包含：缺陷檢測機構，其係於構成片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；缺陷資訊製作機構，其係製作由前述缺陷檢測機構所檢測到之缺陷相關資訊即缺陷資訊；良率算出機構，其係分析由前述缺陷資訊製作機構所製作之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率；設定機構，其係設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片；第一切斷機構，其係以割開寬度來切斷前述經設定之片狀製品原片；缺陷資訊形成機構，其係於前述被切斷之片狀製品原片之保護層形成缺陷資訊；缺陷資訊讀取機構，其係讀取由前述缺陷資訊形成機構所形成之缺陷資訊；及切斷機構，其係分析由前述缺陷資訊讀取機構所讀取之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品。
而且，於本發明之製造系統中宜進一步具備缺陷資訊形成機構，其係於切斷之分片之片狀製品，形成與該片狀製品相對應之缺陷資訊。
此製造系統係具有上述已記載之缺陷檢查裝置、檢查資料處理裝置、割開用之切斷裝置、及用以從片狀製品原片獲得分片之片狀製品之切斷裝置之功能。
本發明之檢查資料處理裝置係包含：缺陷資訊取得機構，其係取得藉由於構成至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之缺陷相關之缺陷資訊；及切斷位置資訊算出機構，其係分析由前述缺陷資訊取得機構所取得之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出片狀製品原片之切斷位置資訊。
此結構之檢查資料處理裝置係取得藉由於構成至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之缺陷相關之缺陷資訊。然後，分析缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件即判斷條件，來算出片狀製品原片之切斷位置資訊。
而且，其他本發明之切斷裝置係包含：切斷位置資訊取得機構，其係取得由上述檢查資料處理裝置所算出之切斷位置資訊；缺陷資訊讀取機構，其係讀取形成於切斷為特定割開寬度之片狀製品原片或未被割開切斷之片狀製品原片之該片狀製品原片之缺陷資訊；及切斷機構，其係分析由前述缺陷資訊讀取機構所讀取之缺陷資訊，按照由前述切斷位置資訊取得機構所取得之切斷位置資訊來算出切斷位置，切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品。
若根據此結構，以檢查資料處理裝置分析缺陷資訊，並根據算出之切斷位置資訊來切斷片狀製品原片，可適當地製造分片之片狀製品。
而且，於本發明之切斷裝置中宜進一步包含製品資訊形成機構，其係於切斷之分片之片狀製品形成與該片狀製品相對應之製品資訊。
此結構之作用效果如上述所說明。
而且，其他本發明之檢查資料處理裝置係包含：輸入受理機構，其係受理判斷良品與否之條件即判斷條件之輸入；缺陷資訊取得機構，其係取得藉由於構成至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之缺陷相關之缺陷資訊；及良率算出機構，其係分析前述缺陷資訊，按照前述判斷條件來算出良率；及顯示控制機構，其係控制成使顯示機構顯示前述算出之良率。
若根據此結構，可分析缺陷資訊，按照輸入之判斷條件來算出良率，並以顯示機構來顯示此良率。因此，將片狀製品原片進行割開加工、分片切斷加工前，可預先使用缺陷資訊及判斷條件來算出良率，可大幅有助於提高生產性。
而且，於本發明之檢查資料處理裝置中，於算出良率時，宜採用略過切斷(skip－cut)方式來算出。若根據此結構，由於可略過切斷，因此可提高良率。於此所謂略過切斷方式係指基於缺陷資訊，僅避開判斷為不良之缺陷部來切斷原片之方式。
而且，於本發明之檢查資料處理裝置中，顯示控制機構宜控制成以展開片狀製品原片並與其重複之方式，來顯示作為良品而獲得之分片之片狀製品。若根據此結構，可於展開之原片重疊並顯示分片片材，可簡單地確認取得數、取得位置狀態。而且，宜構成如亦顯示缺陷資訊。藉由與缺陷資訊一同顯示，亦可確認缺陷之種類、座標。
而且，其他本發明之檢查資料處理方法之特徵為：受理判斷良品與否之條件即判斷條件之輸入；取得藉由於構成至少具有光學顯示裝置之部件即光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之缺陷相關之缺陷資訊；分析前述缺陷資訊，按照前述判斷條件來算出良率；使顯示機構顯示前述算出之良率。
此結構之作用效果係具有上述記載之檢查資料處理裝置之作用效果，但其具體機構不限於此。
以下，說明有關本發明之適宜之實施形態。
<片狀製品>
作為本發明中處理之片狀製品之例，舉出偏光板原片來說明。偏光板原片形成長帶狀，可藉由從膜狀之偏光板原片將個別大小之偏光板打孔(或切斷)來獲得。偏光板原片可藉由於預先製造之聚乙烯醇系膜(偏光元件)之正反雙面，貼合例如三醋酸纖維素膜(透明之偏光元件保護層)來獲得。必須檢測存在於此多層構造之偏光板原片表面或內部之缺陷(痕跡、異物、折曲、髒污等)。此係藉由後述之檢測機構來檢測。
已於先前技術中說明，偏光板原片係藉由包含(A)獲得偏光元件之步驟、(B)製造偏光板之步驟、(C)貼合隔離層及保護膜之步驟之製造方法來製造。
聚乙烯醇系膜之染色、架橋、延伸之各處理不須個別進行，同時進行亦可，而且各處理之順序任意亦可。此外，作為聚乙烯醇系膜，亦可使用經施加膨潤處理之聚乙烯醇系膜。一般而言，將聚乙烯醇系膜浸漬於含碘或雙色性色素之溶液中，使其吸附碘或雙色性色素而染色後，予以洗淨，於含硼酸或硼砂等之溶液中，以延伸倍率3倍至7倍進行單軸延伸後，予以乾燥。於含碘或雙色性色素之溶液中延伸後，於含硼酸或硼砂等之溶液中進一步延伸(二段延伸)後予以乾燥，藉此，碘之配向提高，偏光度特性改善，因此特別適宜。
作為上述聚乙烯醇系聚合物，可舉例如聚合醋酸乙烯後鹼化者、或將醋酸乙烯與少量之不飽和羧酸、不飽和碸酸、陽離子性單體等可共聚合之單體進行共聚合者等。聚乙烯醇系聚合物之平均聚合度並未特別限制，可使用任意者，1000以上較適宜，2000~5000更適宜。而且，聚乙烯醇系聚合物之鹼化程度宜為85莫耳%以上，更宜為98~100莫耳%。
製造之偏光元件厚度一般為5~80 μm，但未限定於此，而且關於調整偏光元件厚度之方法，並未特別限定，可使用拉幅機、捲筒延伸或壓延等通常之方法。
偏光元件與保護層之透明之偏光元件保護層之黏著處理並未特別限定，可經由例如由乙烯醇系聚合物所組成之接著劑、或至少由硼酸或硼砂、戊二醛或三聚氰胺、硝酸等乙烯醇系聚合物之水溶性架橋劑所組成之接著劑等來進行。該接著劑係作為水溶液之塗布乾燥層等而形成，但於該水溶液之調製時，可因應需要亦添加其他添加劑或酸等觸媒。
設置在偏光元件之單側或兩側之偏光元件保護層可使用適當之透明膜。其中尤宜使用透明性或機械強度、熱安定性或水分遮蔽性良好之聚合物所組成之膜。作為該聚合物可舉出如三醋酸纖維素之醋酸系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚芳香酯、聚乙烯對苯二甲酸酯等聚酯系樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚碸系樹脂、聚醚碸系樹脂、聚苯乙烯樹脂、聚乙烯、聚丙烯等聚烯烴系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚氯乙烯系樹脂、聚降冰片烯(polynorbornene)樹脂、聚甲基丙烯酸甲酯、液晶聚合物等。亦能以流延法、延壓法、壓出法等之任一方法來製造膜。
而且，可舉出於日本特開2001－343529號公報(WO 01/37007)所記載之聚合物膜，例如含有(A)於側鏈具有置換及/或非置換醯亞胺基之熱塑性樹脂、及(B)於側鏈具有置換及/或非置換苯基及腈基之熱塑性樹脂之樹脂組成物。作為具體例可舉出含有由異丁烯與N－甲基順丁烯二醯亞胺(methylmaleimide)所組成之交互共聚物、及丙烯腈．苯乙烯共聚物之樹脂組成物之膜。膜可使用由樹脂組成物之混合壓出品等所組成之膜。此等膜之相位差小，光彈性係數小，因此可消除因偏光板變形所造成之不均等故障，而且由於透濕度小，因此加濕耐久性良好。
而且，偏光元件保護層宜儘可能未帶有顏色。因此，宜使用由Rth＝[(nx＋ny)/2－nz]．d(其中，nx、ny為膜平面內之主折射率，nz為膜厚方向之折射率，d為膜厚)所表示之膜厚度方向之相位差值為－90 nm~＋75 nm之保護膜。藉由使用該厚度方向之相位差值(Rth)為－90 nm~＋75 nm者，可大致消除起因於保護膜之偏光板之著色(光學著色)。厚度方向相位差值(Rth)進一步宜為－80 nm~＋60 nm，特別宜為－70 nm~＋45 nm。
從偏光特性或耐久性等方面考量，如三醋酸纖維素之醋酸系樹脂較適宜，特別宜為表面以鹼等進行過鹼化處理之三醋酸纖維素膜。
偏光元件保護層之厚度為任意，但一般以偏光板之薄型化等為目的而設為500 μm以下，宜設為1~300 μm，特別宜設為5~200 μm。此外，於偏光膜之兩側設置透明膜之偏光元件保護層之情況時，其正反面可為不同聚合物等所組成之透明膜。
若無損於本發明之目的，偏光元件保護層亦可經施加硬膜處理或防反射處理，或施加以防止戳刺、或為了擴散或抗眩光等為目的之處理等。硬膜處理係以偏光板表面損傷防止等為目的而施行，可採用例如將矽基系等適當之紫外線硬化型樹脂所組成之硬度或平滑性等良好之硬化皮膜，附加於透明保護膜表面之方式等來形成。
另一方面，防反射處理係以防止反射偏光板表面之外光為目的而施行，可藉由依據以往之防反射膜等之形成來達成。而且，戳刺防止係以防止與鄰接層密貼為目的而施行，抗眩光處理係以防止外光在偏光板表面反射而妨礙偏光板穿透光之視認等為目的所施行，可藉由例如噴砂方式或凹凸加工方式等粗面化方式或透明微粒子之添加方式等適當方式，於透明保護膜之表面賦予微細凹凸構造來形成。
前述透明微粒子可舉例如平均粒徑0.5~20 μm之氧化矽或氧化鋁、氧化鈦或氧化鋯、氧化錫或氧化銦、氧化鎘或氧化鍗等，亦可使用具導電性之無機系微粒子，而且可使用由架橋或未架橋之聚合物粒狀物等所組成之有機系微粒子等。透明微粒子之使用量係透明樹脂每100質量部為2~70質量部，特別一般為5~50質量部。
並且，添加透明微粒子之抗眩光層可作為透明保護層本身，或作為對於透明保護層表面之塗層等來設置。抗眩光層亦可兼作用以擴散偏光板穿透光來擴大視角之擴散層(視角補償功能等)。此外，上述防反射層或防戳刺層、擴散層或抗眩光層等亦可作為由設有其等層之片材等所組成之光學層，有別於透明保護層而另外設置。
按照本發明之片狀製品在實用時可疊層各種光學層而作為光學膜使用。關於該光學層並未特別限定，可舉例如對於前述透明保護膜之未黏著偏光元件之面(未設置前述接著劑塗布層之面)，施加硬膜處理或防反射處理、以防止戳刺、或為了擴散或抗眩光為目的之表面處理，或疊層以視角補償等為目的之配向液晶層之方法。而且，亦可舉出將反射板或半穿透板、相位差板(包含1/2或1/4等之波片(λ板)、視角補償膜等用於形成液晶顯示裝置等之光學膜，貼合1層或2層以上者。特別是片狀製品若為偏光板，宜適用疊層有反射板或半穿透反射板而成之反射型偏光板或半穿透型偏光板、疊層相位差板而成之橢圓偏光板或圓偏光板、疊層視角補償層或視角補償膜而成之廣視角偏光板、或疊層亮度提高膜而成之偏光板。
反射型偏光板係於偏光板設有反射層，用以形成反射來自視認側(顯示側)之入射光而顯示之類型之液晶顯示裝置等，可省略內建背光等光源，具有容易謀求液晶顯示裝置之薄型化等優點。反射型偏光板之形成可採用因應需要而經由透明保護層等，於偏光板之單面附設由金屬等所組成之反射層之方式等適當方式來進行。
作為反射型偏光板之具體例，可舉出因應需要而於經霧面處理之透明保護膜之單面，附設由鋁等反射性金屬所組成之箔或蒸鍍膜來形成有反射層者等。而且，亦可舉出使前述透明保護膜含有微粒子而製成表面微細凹凸構造，於其上具有微細凹凸構造之反射層者等。前述微細凹凸構造之反射層係藉由漫射來擴散入射光，以防止指向性或閃亮之觀感，具有可抑制亮暗不均之優點等。而且，含有微粒子之透明保護膜係具有入射光及其反射光穿透時擴散，可更加抑制亮暗不均之優點等。反映透明保護膜之表面微細凹凸構造之微細凹凸構造之反射層之形成可藉由例如真空蒸鍍方式、離子電鍍方式、濺鍍方式等蒸鍍方式或電鍍方式等之適當方式，將金屬直接附設於透明保護層表面之方法等來進行。
用以取代直接對前述偏光板之透明膜(偏光元件保護層)賦予之方式，反射板亦可作為於相當於該透明膜之適當之膜，設置反射層而成之反射片材等而使用。此外，由於反射層通常由金屬組成，因此從防止氧化造成反射率降低，進而從初始反射率之長期持續之觀點、或避免另外附設保護層之觀點等考量，其反射面由透明膜或偏光板等被覆之狀態下之使用狀態較適宜。
此外，半穿透型偏光板可藉由於上述製成以反射層反射光且穿透之半鏡等之半穿透型反射層來獲得。半穿透型偏光板通常設置於液晶胞之背面側，對於形成在較明亮之氣氛下使用液晶顯示裝置等之情況時，反射來自視認側(顯示側)之入射光而顯示圖像，於較暗之氣氛中，使用內建於半穿透型偏光板之背側之背光等內建光源來顯示圖像之類型之液晶顯示裝置等有用。亦即，半穿透型偏光板係對於形成在明亮氣氛下，可節約背光等光源使用之能源，即使於較昏暗氣氛下，仍可使用內建光源之類型之液晶顯示裝置等有用。
說明有關於偏光板進一步疊層有相位差板而成之橢圓偏光板或圓偏光板。將直線偏光改變為橢圓偏光或圓偏光，或將橢圓偏光或圓偏光改變為直線偏光，或者改變直線偏光之偏光方向之情況時，使用相位差板等。特別是作為將直線偏光改變為圓偏光，或將圓偏光改變為直線偏光之相位差板，係使用所謂1/4波片(亦稱為λ/4板)。半波片(亦稱為λ/2板)通常使用於改變直線偏光之偏光方向之情況。
橢圓偏光板係有效使用於補償(防止)由於超扭轉向列(STN)型液晶顯示裝置之液晶層之複折射所產生之著色(藍或黃)，以進行未有前述著色之黑白顯示之情況等。並且，欲控制三維之折射率則宜亦補償(防止)從斜向觀看液晶顯示裝置之畫面時所產生之著色。圓偏光板係有效使用於例如圖像呈彩色顯示之反射型液晶顯示裝置之圖像之色調之情況等，而且亦具有防反射功能。
作為其他例可舉出相位差板。作為相位差板可舉出將高分子材料予以單軸或雙軸延伸處理而成福折射性膜、液晶聚合物之配向膜、以膜來支持液晶聚合物之配向層者等。延伸處理可藉由例如捲筒延伸法、長間隙延伸法、拉幅機延伸法、管件延伸法等來進行。延伸倍率在單軸延伸之情況下一般為1.1~3倍程度。相位差板之厚度亦未特別限制，一般為10~200 μm，宜為20~100 μm。
作為前述高分子材料可舉例如聚乙烯醇、聚乙烯醇縮丁醛、聚甲基乙烯醚、聚羥基丙烯酸乙酯、羥基乙基纖維素、羥基丙基纖維素、甲基纖維素、聚碳酸酯、聚芳酯、聚硫碸、聚乙烯對苯二甲酸酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚醚碸、聚苯硫醚、聚苯醚、聚芳碸、聚乙烯醇、聚醯胺、聚醯亞胺、聚烯烴、聚氯乙烯、纖維素系聚合物、或此等之二元系、三元系之各種共聚物、接枝共聚物、混合物等。此等高分子材料係藉由延伸等而成為配向物(延伸膜)。
作為前述液晶聚合物，可舉例如賦予液晶配向性之共軛性直線狀原子團(液晶原)被導入聚合物之主鏈或側鏈之主鏈型或側鏈型之各種液晶聚合物等。作為主鍵型之液晶性聚合物之具體例可舉出賦予屈曲性之間隔物部且結合有液晶原基之構造，例如向列配向性之聚酯系液晶性聚合物、圓盤型聚合物或膽固醇型聚合物等。作為側鏈型液晶聚合物之具體例可舉出以聚矽氧烷、聚丙烯酸、聚甲基丙烯酸酯或聚丙二酸作為主鏈骨架，作為側鏈經由由共軛性原子團所組成之間隔物部，而具有由向列配向賦予性之對(para)置換環狀化合物單位所組成之液晶原部者等。此等液晶性聚合物係藉由在形成於玻璃板上之聚醯亞胺或聚乙烯醇等之薄膜表面經摩擦處理者、斜向蒸鍍有氧化矽者等之配向處理面上，展開液晶性聚合物之溶液並予以熱處理來進行。
相位差板係因應以例如補償各種波片或液晶層之複折射所造成之著色或視角等為目的者，因應使用目的而具有適當之相位差，或疊層2種以上之相位差板來控制相位差等光學特性者等均可。
視角補償膜係於從不垂直於畫面而稍微傾斜之方向觀看液晶顯示裝置之畫面之情況時，用以擴大視角以使畫面看似較鮮明之膜。作為此種視角補償相位差板，係由例如相位差膜、液晶聚合物等之配向膜、或於透明基材上支持有液晶聚合物等之配向層者等所組成。通常之相位差板係具有於其面方向單軸地延伸之具有複折射之聚合物膜，相對於此，作為視角補償膜使用之相位差板係使用具有於面方向雙軸地延伸之具有複折射之聚合物膜，或於面方向單軸地延伸且亦於厚度方向延伸之控制厚度方向之折射率之具有複折射之聚合物、或如傾斜配向膜之雙向延伸膜等。作為傾斜配向膜可舉例如於聚合物膜黏著熱收縮膜，並於加熱所造成之其收縮力之作用下，將聚合物膜予以延伸處理或/及收縮處理者，或將液晶聚合物傾斜配向者等。相位差板之材料原料聚合物係使用與先前之相位差板所說明之聚合物相同者，能以防止基於液晶胞之相位差之視角變化所造成之著色等、或擴大良好視認之視角等為目的而使用適當者。
而且，根據達成良好視認之廣視角之觀點等，可適宜地使用以三醋酸纖維素膜來支持液晶聚合物之配向層，特別是支持由圓盤型液晶聚合物之傾斜配向層所組成之光學各向異性層之光學補償相位差板。
貼合有偏光板及亮度提高膜之偏光板通常設置於液晶胞之背面側而使用。亮度提高膜係顯示出若由於來自液晶顯示裝置等之背光或背面側之反射等，自然光入射，則反射特定偏光軸之直線偏光或特定方向之圓偏光，並使其他光穿透之特性；將亮度提高膜與偏光板疊層之偏光板係使來自背光等光源之光入射，以獲得特定偏光狀態之穿透光，並且不使前述特定偏光狀態以外之光穿透而反射。由此亮度提高膜面所反射之光進一步經由設置於其後側之反射層等而反轉，並再度入射於亮度提高膜，其一部分或全部成為特定偏光狀態之光而穿透，以謀求穿透亮度提高膜之光之增量，並且對於偏光元件提供難以吸收之偏光，以謀求增大可由液晶顯示之圖像顯示等利用之光量，藉此可提高亮度。亦即，於不使用亮度提高膜而以背光等，從液晶胞之背面側經由偏光元件而入射光之情況時，具有與偏光元件之偏光軸不一致之偏光方向之光幾乎均由偏光元件吸收，不會穿透偏光元件。亦即，雖依所使用之偏光元件之特性而不同，但約略50%之光會由偏光元件吸收，因該吸收部分，可利用於液晶圖像顯示等之光量減少，圖像變暗。亮度提高膜係不讓具有會被偏光元件吸收之偏光方向之光入射於偏光元件，並重複以亮度提高膜暫時反射，進一步經由設置於其後側之反射層等反轉，使其再度入射於亮度提高膜，由於僅有於此兩者間反射、反轉之光之偏光方向成為可通過偏光元件之偏光方向之偏光，會穿透亮度提高膜並供給至偏光元件，因此可將背光等之光有效率地使用於液晶顯示裝置之圖像顯示，可使畫面變得明亮。
亦可於亮度提高膜與上述反射層等間設置擴散板。由亮度提高膜反射之偏光狀態之光會朝向上述反射層等，但設置之擴散板均勻地擴散通過之光，同時消除偏光狀態而成為非偏光狀態。亦即，擴散板係將偏光回復到原本之自然光狀態。此非偏光狀態，亦即自然光狀態之光朝向反射層等，並重複經由反射層等反射，再度通過擴散板而再入射於亮度提高膜。如此，於亮度提高膜與上述反射層等間，設置將偏光回復到原本之自然光狀態之擴散板，藉此維持顯示畫面之明亮度，同時減少顯示畫面之明亮度不均，可提供均勻且明亮之畫面。藉由設置該擴散板，據判初次之入射光會程度良好地增加反射之重複次數，並搭配擴散板之擴散功能而可提供均勻之明亮顯示畫面。
作為前述亮度提高膜可使用例如：諸如介電體之多層薄膜或折射率各向異性不同之薄膜膜體之多層疊層體一般，其顯示出使特定偏光軸之直線偏光穿透並反射其他光之特性者；及諸如膽固醇型液晶聚合物之配向膜或於膜基材上支持其配向液晶層者一般，其顯示出反射左旋或右旋之任一方之圓偏光並使其他光穿透之特性者等之適當者。
因此，前述使特定偏光軸之直線偏光穿透之類型之亮度提高膜係藉由使其穿透光直接於偏光板對齊偏光軸而入射，可抑制偏光板所造成之吸收損失，同時有效率地使其穿透。另一方面，諸如膽固醇型液晶層一般，使圓偏光穿透之類型之亮度提高膜亦可直接使其入射於偏光元件，但根據抑制吸收損失之觀點，宜經由相位差板將該圓偏光予以直線偏光化，並入射於偏光板。此外，藉由使用1/4波片來作為該相位差板，可將圓偏光轉換為直線偏光。
於可見光域等寬廣之波長範圍內作為1/4波片作用之相位差板，係可藉由重疊例如對於波長550 nm之淡色光作為1/4波片作用之相位差層，與顯示出其他相位差特定之相位差層之例如作為1/2波片作用之相位差層之方式等來獲得。因此，配置於偏光板與亮度提高膜間之相位差板亦可由1層或2層以上之相位差層來組成。
此外，關於膽固醇液晶層，亦可藉由組合反射波長不同者，製作2層或3層以上之配置構造，來獲得於可見光區域等寬廣之波長範圍內反射圓偏光者，可基於其來獲得波長範圍寬廣之穿透圓偏光。
而且，本發明之片狀製品(例如偏光板)亦可如上述偏光分離型偏光板，疊層偏光板與2層或3層以上之光學層來組成。因此，亦可為組合上述反射型偏光板或半穿透型偏光板與相位差板之反射型橢圓偏光板或半穿透型橢圓偏光板等。
於偏光板疊層有前述光學層之光學膜亦可在液晶顯示裝置等之製造過程中，以依序個別疊層之方式來形成，但預先疊層而製成光學膜者係於品質安定性或組裝作業等優異，具有可提升液晶顯示裝置等之製造步驟之優點。疊層可使用黏著劑層等適當之接著機構。前述偏光板與其他光學層之黏著時，其等之光學軸可因應作為目的之相位差特性等來設定為適當之配置角度。
於按照本發明之偏光板或前述疊層光學部件，設置有用以與液晶胞等其他部件黏著之黏著層。該黏著層並未特別限定，能以丙烯酸系等依據以往之適當之黏著劑來形成。根據防止吸濕所造成之發泡現象或剝離現象、防止熱膨脹差等所造成之光學特性降低或液晶胞之翹曲，進而根據高品質且耐久性良好之圖像顯示裝置之形成性等觀點，宜為吸濕率低且耐熱性良好之黏著層。而且，亦可製作含有微粒子而顯示出光擴散性之黏著層等。黏著層只要因應需要設置於所需面即可，例如若針對由偏光元件及偏光元件保護層所組成之偏光板來說，只要因應需要而於偏光元件保護層之單面或雙面設置黏著層即可。
對於前述黏著層之露出面，到供做實用為止之期間，以其污染防止等為目的而暫時裝設隔離層(亦稱為剝離型膜)來覆蓋。藉此，可防止於慣例之處理狀態下與黏著層接觸。上述厚度條件除外，作為隔離層可依據以往使用適當者，例如將塑膠膜、橡膠片材、紙、布、不織布、網、發泡片材或金屬箔、其等之疊層體等之適當薄片體，因應需要而以矽基系或長鏈烷系、氟系或硫化錳等之適當之剝離劑，來予以覆膜處理者等。
於設有此隔離層之面之相反面之偏光板，經由弱黏著劑而形成保護膜。其目的係防止刮傷、防止污染等為主要目的。作為保護膜可依據以往使用適當者，例如將塑膠膜、橡膠片材、紙、布、不織布、網、發泡片材或金屬箔、其等之疊層體等之適當薄片體，因應需要而以矽基系或長鏈烷系、氟系或硫化錳等之適當之剝離劑，來予以覆膜處理者等。
此外，於本發明中，形成上述偏光板之偏光元件、偏光元件保護層或光學膜等，或黏著層等之各層，亦可為藉由以例如水楊酸酯系化合物或苯并酚系化合物、苯并三氮系化合物或氰基丙烯酸系化合物、鎳錯合鹽系化合物等之紫外線吸收劑處理之方式等方式，來使其具有紫外線吸收能力者等。
按照本發明之片狀製品宜使用於形成液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置、PDP等圖像顯示裝置(相當於光學顯示裝置)。
本發明之偏光板或光學膜宜使用於液晶顯示裝置等各種裝置之形成等。液晶顯示裝置之形成係依據以往來進行。亦即，液晶顯示裝置一般係藉由適當組合液晶胞(相當於光學顯示單元)與偏光板或光學膜、及因應需要之照明系統等構成零件，並組入驅動電路等來形成，但於本發明中，除了使用按照本發明之偏光板或光學膜之點以外，並未特別限定，可依據以往。關於液晶胞，亦可使用例如TN型或STN型、π型等任意類型。
可形成於液晶胞之單側或兩側，配置有偏光板或光學膜之液晶顯示裝置，或於照明系統使用背光或反射板等之適當之液晶顯示裝置。該情況下，按照本發明之偏光板或光學膜可設置於液晶胞之單側或兩側。於兩側設置偏光板或光學膜之情況時，其等為相同或不同均可。並且，形成液晶顯示裝置時，可於適當位置，將例如擴散板、抗眩光板、防反射膜、保護板、稜鏡陣列、透鏡陣列片材、光擴散板、背光等之適當零件配置1層或2層以上。
按照本發明之片狀製品(例如偏光板)宜使用於液晶顯示裝置等各種裝置之形成等。液晶顯示裝置可作為於液晶胞之單側或兩側，配置按照本發明之片狀製品(例如偏光板)而成之穿透型或反射型、或者穿透/反射兩用型之依據以往之具有適當構造者而形成。因此，形成液晶顯示裝置之液晶胞為任意，亦可使用例如由薄膜電晶體型所代表之單純矩陣驅動型等任意類型之液晶胞。
而且，於液晶胞之兩側設置偏光板或光學部件之情況時，其等為相同或不同均可。並且，形成液晶顯示裝置時，可於適當位置，將例如稜鏡陣列片材、透鏡陣列片材、光擴散板或背光等之適當零件配置1層或2層以上。
<製造系統之結構>
(實施形態1)以下使用圖式來說明有關本發明之缺陷檢查裝置、切斷裝置、檢查資料處理裝置及製造系統之結構。圖1為製造系統之功能區塊圖。圖1之功能說明主要說明有關發揮本發明之作用效果之機構等，關於以往習知之機構則省略其說明或簡單地說明。圖1之製造系統係具有缺陷檢查裝置10、第一檢查資料處理裝置20、割開用切斷裝置30、第二檢查資料處理裝置40及分片用切斷裝置50。以下針對各裝置來說明。
圖2係說明全體之檢查步驟之圖。製造步驟區別為前步驟與後步驟。前步驟係由(A)PVA之處理步驟、(B)TAC之處理步驟、(C)PVA與TAC之貼合步驟(偏光板形成步驟)、(D)隔離層之處理步驟(黏著劑塗布)、(E)保護膜之處理步驟(黏著劑塗布)、(F)偏光板與隔離層及保護膜之貼合步驟、及(G)割開切斷步驟所組成。於實施形態1中，於(A)、(C)、(D)、(E)之步驟配置缺陷檢查裝置。
後步驟係由(H)用以獲得分片之片狀製品之分片切斷步驟、(I)簡易檢查步驟所組成。簡易檢查係以打痕等可較簡單地檢查到之缺陷作為對象。
(缺陷檢查裝置)缺陷檢查機構可針對各製造步驟，例如針對構成片狀製品之單層體之各加工處理、各疊層體形成(成膜)步驟，來設置檢查部。於此，缺陷檢查機構在說明上係具有：偏光元件檢查部11、偏光板檢查部12、隔離層檢查部13及保護膜檢查部14。而且，缺陷檢查機構亦可僅以偏光板檢查部12，或僅以偏光板檢查部12、隔離層檢查部13及保護膜檢查部14來構成。而且，於構成偏光板之TAC膜之處理步驟中，亦可構成如檢測TAC膜之缺陷。如此，藉由針對各單層體(亦可含接著劑或黏著劑)，來將構成片狀製品之部件進行缺陷檢查，可未有隔離層或保護膜之影響，精度良好地檢測缺陷。而且，藉由進行構成片狀製品之疊層體(例如偏光板)之缺陷檢查，可未有隔離層或保護膜之影響而精度良好地檢測缺陷。然後，關於隔離層及保護膜，於其本身(包含塗有黏著劑之狀態)檢測缺陷，並與其他缺陷資訊統合，藉此來獲得作為貼有隔離層及保護膜之狀態下之片狀製品之缺陷資訊。
偏光元件檢查部11係於乾燥經施加染色、架橋及延伸處理之聚乙烯醇(PVA)膜以獲得偏光元件之製造步驟中，配置於最終階段之乾燥步驟後，以檢查PVA膜原片之缺陷。而且，亦可於與TAC貼合之步驟前，在可檢查PVA之位置配置偏光元件檢查部11。
具體檢查方法可適用以往習知之方法，可例示例如於膜雙面照射光源(反射方式、穿透方式)，以CCD相機拍攝，將其圖像進行圖像處理之檢查方法，其具體裝置可適用習知者。藉此可檢測膜表面附著異物、痕跡、髒污等。而且，亦可檢測被攪拌入膜中之狀態之異物。
由偏光元件檢查部11所獲得之缺陷資訊係與其位置座標一同儲存於儲存部16。缺陷之位置座標為原片之絕對座標，或以形成於原片膜之寬度方向端部之位置資訊(或標記)為原點之相對座標均可。缺陷資訊係包含其種類、尺寸及/或形狀之資訊。而且，缺陷資訊及其位置資訊(位置座標)係與原片膜之識別資訊(例如製造批次等)一同鏈結而儲存於儲存部16。位置座標能以習知之方法來取得、運算，從片材之搬運速度來運算距原點之搬運量，或使用旋轉編碼器等位置檢測裝置來檢測搬運量，算出座標均可。
此外，儲存部16為非揮發性記錄媒體或揮發性記錄媒體均可，可例示例如硬碟。
偏光板檢查部12係於偏光元件之雙面，經由接著劑而貼合三醋酸纖維素(TAC)膜，於獲得偏光板之製造步驟中，配置於最終階段之貼合步驟後，以檢查偏光板原片之缺陷。具體之檢查方法可適用以往習知之方法，可例示例如於膜雙面照射光源(反射方式、穿透方式)，以CCD相機拍攝，將其圖像進行圖像處理之檢查方法，其具體裝置亦可適用習知者。而且，亦可適用於CCD相機與檢查對象物間，經由檢查用偏光膜來檢查之方法。
偏光板為TAC/PVA/TAC之疊層體之情況時，作為檢查方法可舉出：對於其膜雙面，進行藉由穿透光、反射光之圖像拍攝、圖像處理之方法(系統1、2)；將檢查用偏光膜配置於CCD相機與檢查對象物間，與檢查對象之偏光板之偏光軸呈偏光正交(亦稱為0度交叉)，以進行圖像拍攝、圖像處理之方法(系統3)；及於檢查用偏光膜設置於CCD相機與檢查對象物間，與檢查對象之偏光板之偏光軸呈特定角度(例如較0度大之10度以上之範圍)(亦稱為x度交叉)，以進行圖像拍攝、圖像處理之方法(系統4)。
藉由穿透光之圖像拍攝、圖像處理方法可檢測原片膜內部之異物。藉由反射光之圖像拍攝、圖像處理方法可檢測原片膜表面之附著異物。於藉由0度交叉之圖像拍攝、圖像處理方法，主要可將表面異物、髒污、內部異物等作為亮點來檢測。藉由x度交叉之圖像拍攝、圖像處理方法主要可檢測折曲。
由偏光板檢查部12所獲得之缺陷資訊係與其位置資訊(位置座標)、原片膜之識別資訊(例如製造批次等)一同鏈結而儲存於儲存部16。
隔離層檢查部13可配置在將黏著劑塗於隔離層之步驟後。或者，在與偏光板原片貼合前，可配置在可檢查隔離層之位置。具體檢查方法可適用以往習知之方法，例如於膜雙面照射光源(反射方式、穿透方式)，以CCD相機拍攝，將其圖像進行圖像處理之檢查方法，其具體裝置亦可適用習知者。藉此，可檢測隔離層膜或黏著劑之表面附著異物、髒污、痕跡、黏著劑塗布不良(紋路、裂開)等。而且，亦可檢測被攪拌入隔離層膜或黏著劑中之狀態之異物。
由隔離層檢查部13所獲得之缺陷資訊係與其位置資訊(位置座標)、原片膜之識別資訊(例如製造批次等)一同鏈結而儲存於儲存部16。
保護膜檢查部14可配置在將黏著劑塗於保護膜之步驟後。或者，在與偏光板原片貼合前，可配置在可檢查保護膜之位置。具體檢查方法可適用以往習知之方法，例如於膜雙面照射光源(反射方式、穿透方式)，以CCD相機拍攝，將其圖像進行圖像處理之檢查方法，其具體裝置亦可適用習知者。藉此，可檢測保護膜或黏著劑之表面附著異物、髒污、痕跡、黏著劑塗布不良(紋路、裂開)等。而且，亦可檢測被攪拌入保護膜或黏著劑中之狀態之異物。
由保護層檢查部14所獲得之缺陷資訊係與其位置資訊(位置座標)、原片膜之識別資訊(例如製造批次等)一同鏈結而儲存於儲存部16。
缺陷資訊製作部15係統合儲存於儲存部16之從各檢查部獲得之缺陷資訊、缺陷之位置資訊(位置座標)、製造識別資訊，並製作作為片狀製品之缺陷資訊。例如由於由偏光元件檢查部11所獲得之缺陷資訊與由偏光板檢查部12所獲得之缺陷資訊，係檢查同一偏光元件原片，因此一部分之缺陷資訊會重複。此情況下，若相同之位置資訊(位置座標)具有同種類、同尺寸或同形狀之缺陷資訊，則判斷作為缺陷僅存在有1個。或者，為了簡化資料處理，位置資訊(位置座標)相同之缺陷判斷為作為缺陷僅存在有1個亦可。而且，於相同位置檢測到之缺陷亦可統合為包含全部。
而且，統合複數缺陷資訊之情況時，進行設定原點，並以該原點為基準來補正缺陷之位置座標之處理。
缺陷資訊形成部17係將各檢查部所獲得之缺陷資訊，與其位置資訊、製造識別資訊一同形成於檢查對象物。例如將偏光元件檢查部11所獲得之上述資訊，作為碼資料(二維碼、QR碼)而以特定間距(例如1000 mm)形成於PVA膜原片之一側端面。而且，將偏光板檢查部12所獲得之上述資訊，作為碼資料(二維碼、QR碼)而以特定間距(例如1000 mm)形成於偏光板原片之一側端面。
而且，缺陷資訊形成部17可於保護膜或隔離層，形成由缺陷資訊製作部15所製作之缺陷資訊(由各檢查部所獲得之缺陷資訊之統合資料)。
缺陷資訊形成部17可由以往習知之裝置來構成，例如形成二維碼之情況時，可由習知之二維碼形成裝置來構成。
顯示控制部18係發揮功能以使各檢查部之檢查結果顯示於監視器。具體而言，顯示控制部18係與各檢查部之檢查即時地於監視器顯示例如缺陷之尺寸、種類、形狀、缺陷座標、製造批次等。藉此，可一面製造，一面立即確認何處有幾個尺寸為何之缺陷，例如裝置操作員藉由觀看該監視器，可判斷週期性缺陷、突發性缺陷之存在，並調整該製造線之故障，有助於改善缺陷產生、提高良率。而且，可即時確認有效寬度，有助於確定原片品質。
圖3係表示顯示於監視器之缺陷資訊之一例之圖。缺陷種類(折曲、亮點)、尺寸(例如小(<10 μm)、中(10 μm~20 μm)、大(<20 μm))係與原片寬度、長度方向之座標一同顯示。
異常判斷部19係從各檢查部之檢查結果，來判斷週期性缺陷、突發性缺陷。具體而言，異常判斷部19係按照預先儲存於儲存部16之異常判斷條件，判斷週期性缺陷、突發性缺陷，例如於原片之寬度方向座標(以下稱為x座標)相同之位置，連續檢測到特定個數以上之缺陷之情況時，判斷為週期性缺陷。而且，例如於原片之長度方向座標(以下稱為y座標)相同之位置，連續檢測到特定個數以上之缺陷之情況時，判斷為突發性缺陷。
異常判斷部19結果判斷為異常之情況時，異常判斷部19宜發揮發出警報音及/或進行警告顯示之功能。
(第一檢查資料處理裝置)第一檢查資料處理裝置20係按照所需之特定條件來分析缺陷資訊，可選擇例如最佳良率之片狀製品原片。藉此，於較割開用切斷步驟屬於下游之製造步驟中，可製造對於所需之設定條件(使用者側特有之條件)最佳之片狀製品原片。
第一檢查資料處理裝置20係經由網路而與缺陷檢查裝置10連接。取得機構21可由習知之通信機構來構成，此情況下，可藉由與缺陷檢查裝置10之通信機構(未圖示)進行通信，來接收缺陷資訊。而且，由記錄媒體讀取裝置(例如CD驅動器)構成取得機構21之情況時，缺陷資訊亦可記錄於CD。此情況下，缺陷檢查裝置10係具備記錄媒體寫入裝置(未圖示)，以構成為寫入缺陷資訊。而且，由碼資料讀取裝置構成取得機構21之情況時，亦可構成為讀取形成於片狀製品之缺陷資訊。而且，第一檢查資料處理裝置20亦可構成為，接收後述之割開用切斷裝置30所讀取之缺陷資訊。
由取得機構21取得之缺陷資訊係儲存於儲存部22。儲存部22係由例如硬碟所構成。
良率算出部23係從儲存部22取得缺陷資訊。然後，按照判斷良品與否之條件之判斷條件，算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率。設定條件可為1個，但宜構成為可設定複數個。藉此可適當選擇出貨對象之判斷條件。而且，判斷條件之資料亦可預先儲存於儲存部22，構成為可從輸入受理機構25來選擇判斷條件，或構成為經由輸入受理機構25來直接輸入。而且，於算出良率之情況時，宜採用略過切斷(skip－cut)方式來算出。伴隨於此良率算出而算出割開寬度及/或割開位置。
例如依據分片之尺寸及原片寬來割開，以形成有效寬之原片捲筒之情況時，可從1捆原片捲筒，於兩側之割開位置切斷，製造1捆有效寬之原片捲筒。於此，割開位置係考慮到例如缺陷配置(位置座標)，於缺陷集中於一方端部之情況時，可避開該缺陷多之端部側來設定割開位置。而且，從1捆原片捲筒割開以獲得複數原片捲筒之情況下，於缺陷集中於中央之情況時，可避開中央部分來設定割開位置。而且，於獲得複數捆原片捲筒之情況時，各個之割開寬度不同亦可。
原片設定部24(相當於設定機構)係設定所算出之良率為特定值以上之片狀製品原片。例如欲從複數片狀製品原片設定最佳片狀製品原片之情況時，例如若良率為特定值以上，則設定該片狀製品原片。作為特定值，可於複數片狀製品原片中設定最大良率值。判斷條件中若有交貨對象(搬運去處)之資料，則於此設定之片狀製品原片捲筒會被搬運至交貨對象(搬運去處)。
輸入受理機構25可例示鍵盤、滑鼠、觸控式面板等輸入裝置，按照顯示於監視器之操作畫面之操作指示，來輸入設定條件等。
顯示控制部26係統籌地控制第一檢查資料處理裝置20之操作畫面等之顯示。而且，顯示控制部26可使監視器顯示算出之良率。而且，顯示控制部26係能以展開片狀製品原片，並與其重複之方式，來使監視器顯示作為良品而獲得之分片之片狀製品。
圖4至圖8係表示有關良率算出、最佳片狀製品原片之設定之顯示之一例。圖4係表示來自使用者之訂貨資訊之一覽例，及已製造之原片批次(片狀製品原片批次)之一覽例。於此，選擇任一訂貨資訊。接著，圖5係輸入所選擇之訂貨資訊之判斷條件之輸入畫面例。於設定條件預先包含於訂貨資訊之情況或儲存於儲存部22之情況時，判斷條件會自動輸入並顯示。訂貨資訊中包含分片尺寸及交貨數。作為缺陷項目有折曲、亮點及異物。於畫面左側之主區，作為缺陷尺寸規格可設定下限、上限。下限值之缺陷為缺陷規格個數以上，則判斷為不良品。上限值之缺陷若為1個，則判斷為不良品。作為缺陷數而顯示有規格內、規格外之算出結果。例如規格內之「378」表示雖存在有缺陷，但不視為不良品之數量。規格外之「12」係表示以缺陷規格尺寸判斷為不良品之數量。
於畫面右側之模擬中，可自由輸入缺陷尺寸規格之各項目。例如將上限變更為「0.2」而輸入之情況時，缺陷數之規格外增加至「20」。總言之，藉由於模擬側自由輸入缺陷尺寸規格，可算出與主區不同結果之缺陷數，可容易進行與主區之缺陷數之比較。
圖6係表示圖5之主區與模擬結果之其他顯示例。於畫面中央展開有原片捲筒，規格外之缺陷以四角標記表示。而且，以避開片材範圍之方式僅表示缺陷，並表示採用略過切斷方式。而且，對於任意批次號碼之原片捲筒，適用並算出2種不同種類之訂貨資訊之判斷條件，並分為上下來顯示。於此，表示從1捆原片割開為符合2種訂貨資訊之2捆原片捲筒。而且，顯示有批次號碼、原片長、原片寬、原片有效寬度(割開寬度)、缺陷數及良率。而且，顯示有上部之展開捲筒與下部之展開捲筒各個之訂貨資訊之貨號及規格(識別資訊)、取得數(良品數)、割開寬度、略過次數(略過切割之次數)及總略過長。藉此，可對於任意之片狀製品原片，同時適用不同之訂貨資訊之設定條件。而且，從1捆原片捲筒，以有關複數訂貨或同一訂貨之設定條件來算出良率並分別比較，藉此可設定成為最佳良率之1捆原片捲筒。
圖7係表示對於訂貨資訊設定有最佳良率之原片批次(設定批次xxxxx－03、良率80.3)之情況下之顯示例。顯示有批次號碼及原片長，並顯示有訂貨資訊所含之去處(交貨對象)、貨號、規格、尺寸、出貨預定日、片數、取得數、良率等。
圖8係表示展開原片捲筒並將缺陷與片材之取得位置重複顯示之一例。其為從1捆原片捲筒割開為2捆原片捲筒之一例。於原片寬設定有效寬度，於該有效寬度內表示片材之取得位置。於此，顯示混合有2種尺寸之片材之取得位置。並且，避開缺陷來設定取得位置。藉此，原片之有效寬度在全長中變得明確。而且，可得知何處有幾個尺寸為何之缺陷。可得知總面積之外觀狀態，可進行取得位置狀態之模擬。而且，可與使用者決定正確之原片銷售單價。
異常判斷部27係從片狀製品原片之缺陷資訊，來判斷週期性缺陷、突發性缺陷。具體而言，異常判斷部27可按照預先儲存於儲存部22之異常判斷條件，來判斷週期性缺陷、突發性缺陷。
此外，第一檢查資料處理裝置20係作為僅取得片狀製品原片之缺陷資訊之結構來說明，但亦可構成為亦可取得各檢查部之檢查結果之缺陷資訊等。然後，可構成為可顯示各檢查步驟之缺陷資訊，並判斷週期性、突發性缺陷。而且，異常判斷部27亦可構成為從各檢查步驟之缺陷資訊，判斷週期性缺陷、突發性缺陷。
(割開用切斷裝置)割開用切斷裝置30可按照從第一檢查資料處理裝置20取得之割開寬度及/或割開位置，來將第一檢查資料處理裝置20所設定之片狀製品原片予以割開切斷。而且，割開用切斷裝置30可構成為，於裝載有片狀製品原片捲筒，並讀取到缺陷資訊之情況時，對第一檢查資料處理裝置20詢問缺陷資訊所含之製造批次，按照對於該詢問之割開寬度及/或割開位置來割開切斷。
取得機構31可由習知之通信機構來構成，此情況下，藉由與第一檢查資料處理裝置20之通信機構(未圖示)之通信，可接收缺陷資訊(片狀製品之缺陷資訊(包含缺陷之資訊、位置座標及製造識別資訊)、割開寬度及/或割開位置。
缺陷資訊讀取部32(相當於缺陷資訊讀取機構)係讀取形成於片狀製品原片之缺陷資訊。缺陷資訊由碼資料(例如QR碼)形成之情況時，可由習知之碼資料讀取裝置來構成。
切斷機構33係以如上述取得之割開寬度及/或割開位置，來將片狀製品原片予以割開切斷。此切斷方法可適用以往習知之割開切斷方法。
缺陷資訊形成部34(相當於缺陷資訊形成機構)係於被割開切斷之片狀製品原片之特定位置，形成缺陷資訊。例如圖9所示，將缺陷資訊作為碼資料(二維碼、QR碼)，以特定間距(例如1000 mm)形成於割開後之片狀製品原片之一側端面。缺陷資訊包含例如缺陷之種類、尺寸、形狀、座標、製造識別號碼、搬運去處之資料。缺陷資訊形成部34可由以往習知之裝置來構成，例如形成二維碼之情況時，可由習知之二維碼形成裝置來構成。而且，缺陷資訊形成部34可使缺陷資訊中包含分片片材之切斷位置資訊而形成。切斷位置資訊係於第一檢查資料處理裝置20算出良率時同時算出。
(第二檢查資料處理裝置)使用於第二檢查資料處理裝置40及分片用切斷裝置50之製造線與較其上游之製造線連續，或設置於其他線(例如不同之製造場所)均可。例如可將上游製造步驟所製造之片狀製品原片搬運至不同製造場所，於該處實施下游之製造步驟。於下游之製造步驟，使用第二檢查資料處理裝置40，一面設定所需之設定條件，確認良率等，一面選擇最佳之片狀製品原片，可製造分片之片狀製品。而且，亦可構成為從第一檢查資料處理裝置20，獲得與製造識別資訊相對應之切斷位置資訊。
第二檢查資料處理裝置40係經由網路而與第一檢查資料處理裝置20連接。取得機構41可由習知之通信機構來構成，此情況下，可藉由與第一檢查資料處理裝置20之通信機構(未圖示)進行通信，來接收缺陷資訊(片狀製品之缺陷資訊(包含缺陷之資訊、位置資訊、製造識別資訊、搬運去處之資訊)。而且，由記錄媒體讀取裝置(例如CD驅動器)構成取得機構41之情況時，缺陷資訊亦可記錄於例如CD。此情況下，第一檢查資料處理裝置20係具備記錄媒體寫入裝置(未圖示)，以構成為寫入缺陷資訊。而且，由碼資料讀取裝置構成取得機構41之情況時，亦可構成為讀取形成於片狀製品原片之缺陷資訊。
由取得機構41取得之缺陷資訊係儲存於儲存部42。儲存部42係由例如硬碟所構成。
良率算出部43係從儲存部42取得缺陷資訊。然後，按照判斷良品與否之條件之判斷條件，算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率。設定條件可為1個，但宜構成為可設定複數個。藉此可適當選擇所需之判斷之判斷條件。判斷條件之資料亦可預先儲存於儲存部42，構成為可從輸入受理機構45來選擇判斷條件，或構成為經由輸入受理機構45來直接輸入。而且，於算出良率之情況時，宜採用略過切斷(skip－cut)方式來算出。略過切斷方式係例如於切斷長度70 cm之分片製品之情況下，缺陷存在於距離正前之切斷位置20 cm長之位置之情況時，避開(略過)此缺陷，以從距離正前之切斷位置例如21 cm長之位置開始切斷之方式來搬送切斷。
切斷位置資訊製作部47係伴隨於良率算出而製作分片之切斷位置之資訊。此切斷位置之資訊至少包含原片之長度座標(y座標)。然後，切斷位置之資訊可提供至分片之切斷裝置50。
原片設定部44(相當於設定機構)係設定所算出之良率為特定值以上之片狀製品原片。例如欲從複數片狀製品原片設定最佳片狀製品原片之情況時，例如若良率為特定值以上，則設定該片狀製品原片。作為特定值，可於複數片狀製品原片中設定最大良率值。於此設定之片狀製品原片捲筒係搬運至下一製造步驟之分片用切斷裝置50。
輸入受理機構45可例示鍵盤、滑鼠、觸控式面板等輸入裝置，按照顯示於監視器之操作畫面之操作指示，來輸入設定條件等。
顯示控制部46係統籌地控制第一檢查資料處理裝置40之操作畫面等之顯示。而且，顯示控制部46可使監視器顯示算出之良率。而且，顯示控制部46係能以展開片狀製品原片，並與其重複之方式，來使監視器顯示作為良品而獲得之分片之片狀製品。如於上述第一檢查資料處理裝置20所說明，可針對圖4至圖8所示之良率算出、最佳片狀製品原片之設定來進行顯示。
此外，第二檢查資料處理裝置40係作為僅取得片狀製品原片之缺陷資訊之結構來說明，但亦可構成為亦可取得各檢查部之檢查結果之缺陷資訊等。然後，可構成為可顯示各檢查步驟之缺陷資訊，並判斷週期性、突發性缺陷。
而且，於使第一檢查資料處理裝置20作為伺服器而作用，使第二檢查資料處理裝置40作為從屬端作用之情況下，可構成為以軟體程式來構成第一檢查資料處理裝置20之功能，並將其下載至第二檢查資料處理裝置40。而且，亦可構成為第二檢查資料處理裝置40作為從屬端，由伺服器之第一檢查資料處理裝置20來執行實質處理。
(分片用切斷裝置)分片用切斷裝置50係具有將片狀製品原片切斷為分片之片狀製品之功能。
取得機構51可由習知之通信機構來構成，此情況下，可藉由與第二檢查資料處理裝置40之通信機構(未圖示)之通信，來接收缺陷資訊(片狀製品之缺陷資訊(包含缺陷之資訊、位置資訊、製造識別資訊))及/或切斷位置資訊。
缺陷資訊讀取部52(相當於缺陷資訊讀取機構)係讀取形成於切斷為特定割開寬度之片狀製品原片或未被割開切斷之片狀製品原片之形成於該片狀製品原片之缺陷資訊。由於缺陷資訊包含位置座標(x、y)，因此藉由將此資訊與從第二檢查資料處理裝置40取得之切斷位置資訊(y座標)核對，可決定切斷位置。缺陷資訊由碼資料(例如QR碼)形成之情況時，可由習知之碼資料讀取裝置來構成。
切斷機構53可按照上述切斷位置資訊來切斷片狀製品。而且，切斷機構53可分析讀取之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件之判斷條件，來切斷片狀製品原片以製造分片之片狀製品。切斷機構53可進行例如裁斷方式、打孔方式、雷射切割方式之切斷。
製品資訊形成部54(相當於製品資訊形成機構)係於切斷為分片之片狀製品，形成與該片狀製品相對應之製品資訊。例如於分片之片狀製品之一部分，將製品資訊作為碼資料(例如二維碼、QR碼)來形成。製品資訊可包含例如缺陷資訊、製造識別號碼、搬運去處、製造者等之資料，但宜至少包含製造識別號碼(製造批次)。製品資訊形成部54可由以往習知之裝置來構成，例如形成二維碼之情況時，可由習知之二維碼形成裝置來構成。
例如圖10所示，於切斷後之分片之片狀製品之每1片形成有製品資訊。
若按照以上之實施形態1，於將片狀製品切斷為分片後，僅以打痕等之簡易檢查，亦可進行作為製品之最終良莠判斷。因此，不需要以分片為單位之缺陷檢查或多人數所進行目視檢查。
(實施形態2)以下係由獨立之檢查裝置構成各步驟之檢查功能，由各檢查裝置所獲得之缺陷資訊傳送至第一檢查資料處理裝置120，第一檢查資料處理裝置120製作片狀製品原片之經統合之缺陷資訊之結構。
偏光元件檢查裝置210之結構係具備：偏光元件檢查部211，其係檢查偏光元件原片之缺陷；及通信部212，其係將該檢查所獲得之缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊傳送至外部裝置。
偏光板檢查裝置220之結構係具備：偏光板檢查部221，其係檢查偏光板原片之缺陷；及通信部222，其係將該檢查所獲得之缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊傳送至外部裝置。
隔離層檢查裝置230之結構係具備：隔離層檢查部231，其係檢查隔離層之缺陷；及通信部232，其係將該檢查所獲得之缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊傳送至外部裝置。
保護膜檢查裝置240之結構係具備：保護膜檢查部241，其係檢查保護膜之缺陷；及通信部242，其係將該檢查所獲得之缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊傳送至外部裝置。
第一檢查資料處理裝置120之結構係包含：通信部121，其係從各檢查裝置接收缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊；儲存部122，其係將接收到缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊賦予關連而儲存；缺陷資訊製作部128，其係統合從各檢查裝置接收到之缺陷資訊、其位置資訊、製造識別資訊，並製作片狀製品原片之缺陷資訊；良率算出部123，其係分析缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件之判斷條件，算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率；及原片設定部124，其係設定良率為特定值以上之片狀製品原片。
於此之各構成要素中，省略與實施形態1所說明之功能相同者之說明。
實施形態2中，第一檢查資料處理裝置120具備缺陷資訊製作部128。缺陷資訊製作部128之實質功能係與實施形態1所說明者相同，可統合由各檢查裝置檢測到之缺陷資訊，製作作為片狀製品原片之缺陷資訊。
而且，第一檢查資料處理裝置120係對於設置於各檢查裝置附近之碼形成裝置(相當於缺陷資訊形成機構)，傳送用以形成檢測到之缺陷資訊之命令信號(亦可包含缺陷資訊，不包含之情況時，從檢查裝置接收缺陷資訊)。藉由該命令信號，碼形成裝置係於特定位置形成缺陷資訊。而且，第一檢查資料處理裝置可與檢查裝置之檢查連動，控制監視器以於監視器顯示缺陷資訊(藉由顯示控制部126之功能)。而且，第一檢查資料處理裝置120係於異常判斷部判斷為異常之情況時，可於該當之檢查裝置之監視器，進行表示異常之警告顯示(藉由異常判斷部127之功能)。
(實施形態3)於實施形態3說明有關檢查資料處理裝置為1個之形態。於實施形態1、2中，構成為存在2個檢查資料處理裝置。然而，於製造場所相同之情況下，可由1個來構成檢查資料處理裝置。
該情況下，第一檢查資料處理裝置構成為具備切斷位置資訊製作部之功能，或構成為割開用切斷裝置分析讀取到之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件之判斷條件來算出切斷位置，切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品均可。
(實施形態4)本發明之第一檢查資料處理裝置、第二檢查資料處理裝置可藉由軟體及硬體(CPU、記憶體等)之協同作用來實現，亦可由專用電路、韌體等，或由其等之組合來實現。
由軟體實現之情況，其程式如下。此程式記錄於記錄媒體，可作為記錄媒體來提供，而且亦可經由通信線路來提供(下載提供)。經由通信線路提供之情況時，僅提供其一部分之功能，其他部分留在伺服器裝置均可，作為全體功能若可發揮本發明之功能，即包含於本發明之技術範圍內。
本發明之軟體程式係用以使電腦執行以下步驟之程式：受理判斷良品與否之條件之判斷條件之輸入之步驟；取得藉由於構成至少具有光學顯示裝置之部件之光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體，在片狀製品表面未設置有保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體所獲得之缺陷相關之缺陷資訊之步驟；分析前述缺陷資訊，按照前述判斷條件來算出良率之步驟；及使顯示機構顯示前述算出之良率之步驟。
而且，其他本發明之軟體程式係用以使電腦執行以下步驟之程式：取得由缺陷檢測機構所檢測到之缺陷資訊之步驟，其中該缺陷檢測機構係於構成至少具有光學顯示裝置之部件之光學膜之片狀製品之單層體及/或疊層體，在片狀製品表面未設置有保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；分析前述取得之缺陷資訊，按照判斷良品與否之條件之判斷條件，來算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率之步驟；及設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片之步驟。
<其他實施形態>
本發明係說明有關包含偏光板之片狀製品，但本發明不限制於此，作為光學膜亦可針對偏光板與相位差板之疊層體，或僅針對相位差板來適用。
10．．．缺陷檢查裝置
11．．．偏光元件檢查部
12．．．偏光板檢查部
13．．．隔離層檢查部
14．．．保護膜檢查部
15．．．缺陷資訊製作部
16．．．儲存部
17．．．缺陷資訊形成部
18．．．顯示控制部
19．．．異常判斷部
20．．．第一檢查資料處理裝置
21．．．取得機構
22．．．儲存部
23．．．良率算出部
24．．．原片設定部
25．．．輸入受理機構
26．．．顯示控制部
30．．．割開用切斷裝置
31．．．取得機構
32．．．缺陷資訊讀取部
33．．．切斷機構
34．．．缺陷資訊形成部
40．．．第二檢查資料處理裝置
41．．．取得機構
42．．．儲存部
43．．．良率算出部
44．．．原片設定部
45．．．輸入受理機構
46．．．顯示控制部
47．．．切斷位置資訊製作部
50．．．分片用切斷裝置
51．．．取得機構
52．．．缺陷資訊讀取部
53．．．切斷機構
54．．．製品資訊形成部
圖1係表示製造系統之功能區塊圖。
圖2係表示製造步驟及檢查步驟之一例之圖。
圖3係表示顯示之缺陷資訊之一例之圖。
圖4係說明檢查資料處理裝置之資料處理之圖。
圖5係說明檢查資料處理裝置之資料處理之圖。
圖6係說明檢查資料處理裝置之資料處理之圖。
圖7係說明檢查資料處理裝置之資料處理之圖。
圖8係說明檢查資料處理裝置之資料處理之圖。
圖9係說明形成有缺陷資訊之原片捲筒之圖。
圖10係說明形成製品資訊之處理之圖。
圖11係表示製造系統之功能區塊圖。
圖12係說明具有偏光板之片狀製品之結構圖。
10．．．缺陷檢查裝置
11．．．偏光元件檢查部
12．．．偏光板檢查部
13．．．隔離層檢查部
14．．．保護膜檢查部
15．．．缺陷資訊製作部
16,22,42．．．儲存部
17,34．．．缺陷資訊形成部
18,26,46．．．顯示控制部
19,27．．．異常判斷部
20．．．第一檢查資料處理裝置
21,31,41,51．．．取得機構
23,43．．．良率算出部
24,44．．．原片設定部
25,45．．．輸入受理機構
30．．．割開用切斷裝置
32,52．．．缺陷資訊讀取部
33,53．．．切斷機構
40．．．第二檢查資料處理裝置
47．．．切斷位置資訊製作部
50．．．分片用切斷裝置
54．．．製品資訊形成部

Claims (10)

  1. 一種片狀製品原片之製造系統，其係製造至少具有光學膜之片狀製品原片的含光學膜片狀製品原片之製造系統，該光學膜為光學顯示裝置之部件；該片狀製品原片之製造系統包含：缺陷檢測機構，其係於構成片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；缺陷資訊製作機構，其係製作缺陷資訊，即與由前述缺陷檢測機構所檢測到之缺陷相關之資訊；良率算出機構，其係分析由前述缺陷資訊製作機構所製作之缺陷資訊，按照判斷條件即判斷良品與否之條件，來算出藉由割開或切斷片狀製品原片所獲得之捲筒狀或分片之片狀製品之良率；設定機構，其係設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片；切斷機構，其係以割開寬度來切斷前述經設定之片狀製品原片；及缺陷資訊形成機構，其係於前述被切斷之片狀製品原片之保護層形成二維碼或QR碼之缺陷資訊。
  2. 一種片狀製品之製造系統，其係製造至少具有光學膜之片狀製品的含光學膜片狀製品之製造系統，該光學膜為光學顯示裝置之部件；該片狀製品之製造系統包含：缺陷檢測機構，其係於構成片狀製品之單層體及/或疊 層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢測該單層體及/或疊層體之缺陷；缺陷資訊製作機構，其係製作缺陷資訊，即與由前述缺陷檢測機構所檢測到之缺陷相關之資訊；良率算出機構，其係分析由前述缺陷資訊製作機構所製作之缺陷資訊，按照判斷條件即判斷良品與否之條件來算出切斷位置，並算出藉由切斷片狀製品原片所獲得之分片之片狀製品之良率；設定機構，其係設定前述良率為特定值以上之片狀製品原片；第一切斷機構，其係以割開寬度來切斷前述經設定之片狀製品原片；缺陷資訊形成機構，其係於前述被切斷之片狀製品原片之保護層形成缺陷資訊；缺陷資訊讀取機構，其係讀取由前述缺陷資訊形成機構所形成之缺陷資訊；及第二切斷機構，其係分析由前述缺陷資訊讀取機構所讀取之缺陷資訊，按照判斷條件即判斷良品與否之條件，來切斷片狀製品原片而製造分片之片狀製品。
  3. 如請求項2之片狀製品之製造系統，其中進一步包含製品資訊形成機構，其係於前述被切斷之分片之片狀製品形成與該片狀製品相對應之製品資訊。
  4. 一種檢查資料處理裝置，其係包含：缺陷資訊取得機構，其係取得藉由於構成至少具有光 學膜作為光學顯示裝置之部件的片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之與缺陷相關之缺陷資訊；切斷位置資訊算出機構，其係分析由前述缺陷資訊取得機構所取得之缺陷資訊，按照判斷條件即判斷良品與否之條件，來算出片狀製品原片之切斷位置資訊；良率算出機構，其係分析前述缺陷資訊，按照前述判斷條件來算出良率；及顯示控制機構，其係控制以使前述算出之良率顯示於顯示機構，前述顯示控制機構係控制以使片狀製品原片展開並與其重複之方式，來顯示作為良品而獲得之分片之片狀製品。
  5. 如請求項4之檢查資料處理裝置，其中為製作前述片狀製品之前述缺陷資訊，前述缺陷資訊包含缺陷之資訊、缺陷之位置資訊及製造識別資訊。
  6. 一種檢查資料處理裝置，其包含：輸入受理機構，其係受理判斷條件即判斷良品與否之條件的輸入；缺陷資訊取得機構，其係取得藉由於構成至少具有光學膜作為光學顯示裝置之部件的片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之與缺陷相關之缺陷資訊；良率算出機構，其係分析前述缺陷資訊，按照前述判 斷條件來算出良率；及顯示控制機構，其係控制以使前述算出之良率顯示於顯示機構，前述顯示控制機構係控制以使片狀製品原片展開並與其重複之方式，來顯示作為良品而獲得之分片之片狀製品。
  7. 如請求項6之檢查資料處理裝置，其中於算出前述良率時，採用略過切斷(skip-cut)方式來算出。
  8. 一種檢查資料處理方法，其特徵為：受理判斷條件即判斷良品與否之條件的輸入；取得藉由於構成至少具有光學膜作為光學顯示裝置之部件的片狀製品之單層體及/或疊層體未設有片狀製品表面保護層之狀態下，檢查該單層體及/或疊層體所獲得之與缺陷相關之缺陷資訊；分析前述缺陷資訊，按照前述判斷條件來算出良率；使前述算出之良率及以使片狀製品原片展開並與其重複之方式，作為良品而獲得之分片之片狀製品顯示於顯示機構。
  9. 如請求項8之檢查資料處理方法，其中於算出前述良率時，採用略過切斷方式來算出。
  10. 如請求項8之檢查資料處理方法，其中為製作前述片狀製品之前述缺陷資訊，前述缺陷資訊包含缺陷之資訊、缺陷之位置資訊及製造識別資訊。
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