CN113899755A - 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备 - Google Patents

屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备 Download PDF

Info

Publication number
CN113899755A
CN113899755A CN202111361273.5A CN202111361273A CN113899755A CN 113899755 A CN113899755 A CN 113899755A CN 202111361273 A CN202111361273 A CN 202111361273A CN 113899755 A CN113899755 A CN 113899755A
Authority
CN
China
Prior art keywords
screen
folding
degree
light source
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111361273.5A
Other languages
English (en)
Inventor
刘亚丽
贾永臻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Original Assignee
Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd filed Critical Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority to CN202111361273.5A priority Critical patent/CN113899755A/zh
Priority to PCT/CN2021/133100 priority patent/WO2023087354A1/zh
Priority to US17/621,237 priority patent/US12025570B2/en
Publication of CN113899755A publication Critical patent/CN113899755A/zh
Priority to US18/678,928 priority patent/US20240310295A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8829Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/063Illuminating optical parts

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明提供了一种屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备,该检测方法包括:提供检测光线,并将检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;获取折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;对光源反射图像进行分析,得到折叠屏的折痕程度评估指标;对折叠屏的折痕程度进行评估。通过利用检测光线倾斜照射折叠屏,获取折叠屏反射的检测光线,并对光源反射图像进行图像算法分析,得到对应的折叠屏的折痕程度评估指标,进而对折叠屏的折痕程度进行评估,本发明实施例得到的折痕程度评估指标与人眼视觉效果相匹配,解决了斜视场景下现有折叠屏的折痕程度测量方法与人眼视觉感知结果不相匹配的问题。

Description

屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备
技术领域
本申请涉及显示领域,尤其涉及一种屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备。
背景技术
柔性折叠屏在多次弯折或长时间放置后,屏幕表面会产生不可逆的褶皱,行业内对屏幕的褶皱主要采用高度差方法进行测量,然而高度差测量方法与人眼视觉观察效果不一定匹配。即,会出现两个柔性折叠屏,消费者人眼视觉感知屏幕高度差较小的折叠屏相对于屏幕高度差较大的折叠屏存在屏幕褶皱更为明显的情况。
因此,需要开发与人眼视觉感知结果相匹配的测量方法对柔性折叠屏的屏幕褶皱进行测量。
发明内容
本发明提供一种斜视场景下屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备,以获得与人眼视觉感知结果相匹配的屏幕折痕程度检测结果。
为解决以上问题,本发明提供的技术方案如下:
本发明提供一种屏幕折痕程度的检测方法,其包括:
检测光线,并将所述检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;
获取所述折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;
对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标;
对所述折叠屏的折痕程度进行评估。
可选的,在本发明的一些实施例中,提供所述检测光线的光源为条纹光斑,所述条纹光斑的尺寸范围为(1mm×1mm)-(3mm×3mm),两个相邻的光斑条纹之间的间隙为1mm-3mm。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述光斑条纹的延伸方向与所述折叠屏的折痕方向相垂直。
可选的,在本发明的一些实施例中,,所述对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到所述光源反射图像中光斑条纹的变形曲率;
提取所述变形曲率中的最大值为所述折叠屏的折痕程度评估指标。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到所述光源图像中光斑条纹的变形曲率;
计算出平均变形曲率,所述平均变形曲率为所述折叠屏的折痕程度评估指标。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述折叠屏为熄屏状态。
可选的,在本发明的一些实施例中,测试环境为暗态,测试温度为5℃±3℃,测试湿度为25%-85%,测试压强为86kPa-106kPa。
相应的,本发明实施了提供一种视觉检测设备,用于实施本发明实施例提供的屏幕折痕程度的检测方法的各个步骤,所述视觉检测设备包括:
载物台,用于承载待检测的物体;
光源,设于所述载物台的上方,用于提供检测光线,所述检测光线倾斜照射所述物体的待测面;
相机,设于所述载物台的上方,用于获取所述物体的待测面反射的检测光线。
可选的,在本发明的一些实施例中,提供所述检测光线的光源为条纹光斑,所述条纹光斑的尺寸范围为(1mm×1mm)-(3mm×3mm),两个相邻的光斑条纹之间的间隙为1mm-3mm。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述物体为折叠屏,所述光斑条纹的延伸方向与所述折叠屏的折痕方向相垂直。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述视觉检测设备还包括第一支撑臂和第二支撑臂,所述第一支撑臂用于支撑所述光源,所述第二支撑臂用于支撑所述相机。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述第一支撑臂可相对于所述载物台进行转动,从而调节所述光源的出光面与载物台的载物面之间的夹角;所述第二支撑臂可相对于所述载物台进行转动,从而调节所述相机与所述载物面之间的夹角。
可选的,在本发明的一些实施例中,所述第一支撑臂与所述第二支撑臂为联动作用,从而保证所述光源从任何角度发出的光线经所述物体的待测面反射后都能够被所述相机获取。
本发明提供了一种屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备,该检测方法包括:提供检测光线,并将所述检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;获取所述折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标;对所述折叠屏的折痕程度进行评估。通过利用检测光线倾斜照射折叠屏,获取折叠屏反射的检测光线,并对光源反射图像进行图像算法分析,得到对应的折叠屏的折痕程度评估指标,进而对折叠屏的折痕程度进行评估,本发明实施例得到的折痕程度评估指标与人眼视觉效果相匹配,解决了斜视场景下现有折叠屏的折痕程度测量方法与人眼视觉感知结果不相匹配的问题。
附图说明
下面结合附图,通过对本申请的具体实施方式详细描述,将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本发明实施例提供的视觉检测设备的原理示意图;
图2为本发明实施例提供的视觉检测设备的正视结构示意图;
图3为本发明实施例提供的视觉检测设备的俯视结构示意图;
图4为本发明实施例提供的屏幕折痕程度的检测方法的流程图;
图5为本发明实施例提供的光源的示意图;
图6为本发明实施例提供的光源反射图像的示意图;
图7为本发明实施例提供的第一种褶皱程度评估指标与人因实验的拟合图;
图8为本发明实施例提供的第二种褶皱程度评估指标与人因实验的拟合图;
图9为本发明实施例提供的光源反射图像、褶皱评估指标随弯折次数增加的变化表图。
具体实施方式
下面将结合本发明的具体实施方案,对本发明实施方案和/或实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显而易见的,下面所描述的实施方案和/或实施例仅仅是本发明一部分实施方案和/或实施例,而不是全部的实施方案和/或实施例。基于本发明中的实施方案和/或实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方案和/或实施例,都属于本发明保护范围。
本发明所提到的方向用语,例如[上]、[下]、[左]、[右]、[前]、[后]、[内]、[外]、[侧]等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明和理解本发明,而非用以限制本发明。术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或是暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
针对现有高度差测量方法检测折叠屏的屏幕折痕程度,存在检测结果与人眼视觉观察效果不匹配的问题,本发明提供一种视觉检测设备,以及采用该视觉检测设备实施的屏幕折痕程度的检测方法可以解决这个问题。
在一种实施例中,请参照图1至图3,图1示出了本发明实施例提供的视觉检测设备的原理示意简图,图2示出了本发明实施例提供的视觉检测设备的正视结构示意图,图3示出了本发明实施例提供的视觉检测设备的俯视结构示意图。如图所示,本发明实施例提供的视觉检测设备10包括:
载物台110,用于承载待检测的物体20;
光源120,设于载物台110的上方,用于提供检测光线,检测光线倾斜照射物体20的待测面;
相机130,设于载物台110的上方,用于获取物体20的待测面反射的检测光线。
在一种实施例中,视觉检测设备10还包括第一支撑臂140和第二支撑臂150,第一支撑臂140用于支撑光源120,第二支撑臂150用于支撑相机130。
在一种实施例中,第一支撑臂140包括两个相互平行的第一支撑杆141,两个第一支撑杆141的一端分别连接在载物台110的两侧,且两个第一支撑杆141均可以以该连接端为转动中心进行转动,从而调节第一支撑杆141与载物台110的夹角,进而调节光源120的出光面与载物台110的载物面之间的夹角。两个第一支撑杆141的另一端分别连接光源120的两侧,光源120可以垂直连接于第一支撑杆141,也可以倾斜连接于第一支撑杆141。进一步,光源120的两侧分别滑动连接于第一支撑杆141,即光源120可以相对于第一支撑杆141做平行于第一支撑杆141的滑移运动,从而调节光源120与载物台110之间的距离。
第一支撑臂140还可以包括第二支撑杆142,两个第一支撑杆141的另一端固定连接第二支撑杆142,第二支撑杆142进一步提高第一支撑臂140的稳定性。
在一种实施例中,第二支撑臂150包括两个相互平行的第三支撑杆151,第三支撑杆151的一端转动连接在载物台110上,两个第三支撑杆151分别连接在载物台110的两侧,且两个第三支撑杆151均可以以该连接端为转动中心进行转动,从而调节第三支撑杆151与载物台110之间的夹角,进而调节相机130的与载物台110的载物面之间的夹角。进一步,第三支撑杆151与第一支撑杆141为联动作用,即当对第一支撑杆141进行转动调节时,第三支撑杆151会发生相应的转动;当对第三支撑杆151进行转动调节时,第一支撑杆141会发生相应的转动;从而保证光源120从任何角度发出的光线经物体20反射后都能够被相机130获取。
第二支撑臂150还包括第四支撑杆152,相机130设于第四支撑杆152上,第四支撑杆152平行于载物台110的载物面,第四支撑杆152的两端分别连接于两个第三支撑杆151,且可以相对于第三支撑杆151做平行于第三支撑杆151的滑移运动,从而调节相机130与载物台110之间的距离。进一步,相机130滑动设于第四支撑杆152上,即相机130可在第四支撑杆152上做平行于载物台110的载物面的滑移运动,从而调节相机130与物体20的相对位置。
第二支撑臂150还可以包括第五支撑杆153,第五支撑杆153与第三支撑杆151平行,两个第一支撑杆141的另一端固定连接第五支撑杆153,第五支撑杆153进一步提高第二支撑臂150的稳定性。
本发明实施例还提供一种屏幕折痕程度的检测方法,该检测方法的步骤通过本发明实施例提供的如图1和图2所示的视觉检测设备进行实施。该检测方法的测试环境为暗态,测试温度为5℃±3℃,测试湿度为25%-85%,测试压强为86kPa-106kPa。
在一种实施例中,请参照图4,图4示出了本发明实施例提供的屏幕折痕程度的检测方法的流程图。如图4所示,该检测方法包括:
S1、提供检测光线,并将检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;
S2、获取折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;
S3、对光源反射图像进行分析,得到折叠屏的折痕程度评估指标;
S4、对折叠屏的折痕程度进行评估。
本发明实施例通过利用检测光线倾斜照射折叠屏,获取折叠屏反射的检测光线,并对光源反射图像进行图像算法分析,得到对应的折叠屏的折痕程度评估指标,进而对折叠屏的折痕程度进行评估,本发明实施例得到的折痕程度评估指标与人眼视觉效果相匹配,解决了斜视场景下现有折叠屏的折痕程度测量方法与人眼视觉感知结果不相匹配的问题。
具体的,
请参照图1,步骤S1中提供检测光线,并将检测光线倾斜照射折叠屏的步骤,包括:
采用条纹光斑作为检测光源,发出检测光线。检测光线如图1中倾斜向下传播,照射折叠屏。请参照图5,图5示出了本发明实施例提供的光源的示意图,即条纹光斑的示意图,在本发明实施例中,条纹光斑的光斑条纹半径尺寸范围为(1mm×1mm)-(3mm×3mm),光斑条纹之间的间隙为1mm-3mm。本发明实施例适用于人眼倾斜观看折叠屏的场景。
请参照图1,步骤S2中获取折叠屏反射的检测光线,得到对应的光源反射图像的步骤,包括:
利用折叠屏的待测面反射照射至折叠屏的检测光线。其中,照射到折叠屏上的条纹光斑的光斑条纹的延伸方向与折叠屏的折痕方向相垂直。在本发明实施例中,折叠屏保持息屏状态,以避免折叠屏自身光线对测试光线的干扰。
利用相机获取折叠屏的待测面反射后的检测光线,并根据获取的检测光线进行成像,得到对应的光源反射图像。请参照图6,图6示出了本发明实施例提供的光源反射图像的示意图,如图6所示,在折叠屏的折叠区501内,光斑条纹发生弯曲形变。
在一种实施方案中,步骤S3中对光源反射图像进行分析,得到折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到光源反射图像中光斑条纹的变形曲率;具体为通过弧微分算法,计算光斑条纹的变形曲率。其中,光斑条纹的变形曲率为光斑条纹上某个点的切线方向角对弧长的转动率,表明光斑条纹曲线偏离直线的程度,其数值即为光斑条纹曲线在某一点的弯曲程度的数值。
取变形曲率中的最大值作为折叠屏的折痕程度评估指标;其中,最大变形曲率的值越大,折叠屏的褶皱程度越大,最大变形曲率的值越小,折叠屏的褶皱程度越小。
请参照图7,图7示出了本实施例的光斑条纹的最大变形曲率与人因实验的拟合图。其中,拟合值R2=0.9166,拟合值接近于1,证明本实施方案提供的屏幕折痕程度的检测方法与人眼视觉效果具有良好的匹配性。图9示出了本实施例的光源反射图像和最大变形曲率随弯折次数增加的变化表图。其中,随着弯折次数的增加,平均变形曲率的值逐渐增大,进一步证明本实施方案提供的屏幕折痕程度的检测方法与人眼视觉效果具有良好的匹配性。
请参照图7,步骤S4中对折叠屏的折痕程度进行评估的步骤,包括:当实物人因得分为0即最大变形曲率为0时,折叠屏无折痕;当实物人因得分为0-3(不包括0)时,折叠屏存在轻微的折痕;当实物人因得分为3-6(不包括3)时,折叠屏存在较明显的折痕;当实物人因得分为6-10(不包括6)时,折叠屏存在严重的折痕。
在一种实施方案中,步骤S3中对光源反射图像进行分析,得到折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到光源反射图像中光斑条纹的变形曲率。
计算出平均变形曲率,并将该平均变形曲率作为折叠屏的折痕程度评估指标;其中,平均变形曲率的值越大,折叠屏的折痕程度越大,平均变形曲率的值越小,折叠屏的折痕程度越小。
请参照图8,图8示出了本实施例的光斑条纹的平均变形曲率与人因实验的拟合图。其中,拟合值R2=0.9324,拟合值接近于1,证明本实施方案提供的屏幕折痕程度的检测方法与人眼视觉效果具有良好的匹配性。图9示出了本实施例的光源反射图像和平均变形曲率随弯折次数增加的变化表图。其中,随着弯折次数的增加,平均变形曲率的值逐渐增大,进一步证明本实施方案提供的屏幕折痕程度的检测方法与人眼视觉效果具有良好的匹配性。
请参照图8,步骤S4中对折叠屏的折痕程度进行评估的步骤,包括:当实物人因得分为0即最大变形曲率为0时,折叠屏无折痕;当实物人因得分为0-3(不包括0)时,折叠屏存在轻微的折痕;当实物人因得分为3-6(不包括3)时,折叠屏存在较明显的折痕;当实物人因得分为6-10(不包括6)时,折叠屏存在严重的折痕。
综上所述,本发明实施例提供了一种屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备,该检测方法包括:提供检测光线,并将检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;获取折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;对光源反射图像进行分析,得到折叠屏的折痕程度评估指标;对折叠屏的折痕程度进行评估。通过利用检测光线倾斜照射折叠屏,获取折叠屏反射的检测光线,并对光源反射图像进行图像算法分析,得到对应的折叠屏的折痕程度评估指标,进而对折叠屏的折痕程度进行评估,本发明实施例得到的折痕程度评估指标与人眼视觉效果相匹配,解决了斜视场景下现有折叠屏的折痕程度测量方法与人眼视觉感知结果不相匹配的问题。
以上对本发明实施例所提供的屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (13)

1.一种屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,包括:
提供检测光线,并将所述检测光线倾斜照射折叠屏的待测面;
获取所述折叠屏的待测面反射的检测光线,得到对应的光源反射图像;
对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标;
对所述折叠屏的折痕程度进行评估。
2.如权利要求1所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,提供所述检测光线的光源为条纹光斑,所述条纹光斑的尺寸范围为(1mm×1mm)-(3mm×3mm),两个相邻的光斑条纹之间的间隙为1mm-3mm。
3.如权利要求2所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,所述光斑条纹的延伸方向与所述折叠屏的折痕方向相垂直。
4.如权利要求3所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,所述对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到所述光源反射图像中光斑条纹的变形曲率;
提取所述变形曲率中的最大值为所述折叠屏的折痕程度评估指标。
5.如权利要求3所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,所述对所述光源反射图像进行分析,得到所述折叠屏的折痕程度评估指标的步骤,包括:
利用图像算法得到所述光源图像中光斑条纹的变形曲率;
计算出平均变形曲率,所述平均变形曲率为所述折叠屏的折痕程度评估指标。
6.如权利要求1所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,所述折叠屏为熄屏状态。
7.如权利要求1所述的屏幕折痕程度的检测方法,其特征在于,测试环境为暗态,测试温度为5℃±3℃,测试湿度为25%-85%,测试压强为86kPa-106kPa。
8.一种视觉检测设备,其特征在于,用于实施如权利要求1至7任意一项所述的屏幕折痕程度的检测方法的各个步骤,所述视觉检测设备包括:
载物台,用于承载待检测的物体;
光源,设于所述载物台的上方,用于提供检测光线,所述检测光线倾斜照射所述物体的待测面;
相机,设于所述载物台的上方,用于获取所述物体的待测面反射的检测光线。
9.如权利要求8所述的视觉检测设备,其特征在于,提供所述检测光线的光源为条纹光斑,所述条纹光斑的尺寸范围为(1mm×1mm)-(3mm×3mm),两个相邻的光斑条纹之间的间隙为1mm-3mm。
10.如权利要求9所述的视觉检测设备,其特征在于,所述物体为折叠屏,所述光斑条纹的延伸方向与所述折叠屏的折痕方向相垂直。
11.如权利要求8所述的视觉检测设备,其特征在于,所述视觉检测设备还包括第一支撑臂和第二支撑臂,所述第一支撑臂用于支撑所述光源,所述第二支撑臂用于支撑所述相机。
12.如权利要求11所述的视觉检测设备,其特征在于,所述第一支撑臂可相对于所述载物台进行转动,从而调节所述光源的出光面与载物台的载物面之间的夹角;所述第二支撑臂可相对于所述载物台进行转动,从而调节所述相机与所述载物面之间的夹角。
13.如权利要求12所述的视觉检测设备,其特征在于,所述第一支撑臂与所述第二支撑臂为联动作用,从而保证所述光源从任何角度发出的光线经所述物体的待测面反射后都能够被所述相机获取。
CN202111361273.5A 2021-11-17 2021-11-17 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备 Pending CN113899755A (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111361273.5A CN113899755A (zh) 2021-11-17 2021-11-17 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备
PCT/CN2021/133100 WO2023087354A1 (zh) 2021-11-17 2021-11-25 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备
US17/621,237 US12025570B2 (en) 2021-11-17 2021-11-25 Detection method of crease degree of screen and visual detection device
US18/678,928 US20240310295A1 (en) 2021-11-17 2024-05-30 Detection method of crease degree of screen and visual detection apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111361273.5A CN113899755A (zh) 2021-11-17 2021-11-17 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113899755A true CN113899755A (zh) 2022-01-07

Family

ID=79194525

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111361273.5A Pending CN113899755A (zh) 2021-11-17 2021-11-17 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备

Country Status (3)

Country Link
US (2) US12025570B2 (zh)
CN (1) CN113899755A (zh)
WO (1) WO2023087354A1 (zh)

Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4629319A (en) * 1984-02-14 1986-12-16 Diffracto Ltd. Panel surface flaw inspection
JPH10300446A (ja) * 1997-04-30 1998-11-13 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JP2005337857A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Toray Ind Inc 表面凹凸の検査方法および検査装置
CN104331978A (zh) * 2014-11-19 2015-02-04 广州广电运通金融电子股份有限公司 纸币褶皱的识别装置和方法
CN107607549A (zh) * 2017-09-27 2018-01-19 深圳精创视觉科技有限公司 玻璃缺陷检测装置
CN107703058A (zh) * 2017-09-14 2018-02-16 深圳市智信精密仪器有限公司 外观面检测装置及提供光栅纹进行外观检测的光源系统
CN108180868A (zh) * 2017-12-29 2018-06-19 南京理工大学 一种基于条纹投影的实时三维显微成像系统
CN109557101A (zh) * 2018-12-29 2019-04-02 桂林电子科技大学 一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法
CN109946312A (zh) * 2019-03-25 2019-06-28 江苏博虏智能科技有限公司 一种地毯表面瑕疵检测装置及瑕疵检测方法
JP2019152591A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 オムロン株式会社 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム
US20190287237A1 (en) * 2016-12-01 2019-09-19 Autaza Tecnologia LTDA-EPP Method and system for automatic quality inspection of materials and virtual material surfaces
CN110261390A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 深圳市智能机器人研究院 一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法
CN110868485A (zh) * 2019-10-17 2020-03-06 努比亚技术有限公司 折叠屏折痕消除方法、终端及计算机可读存储介质
CN111044517A (zh) * 2019-12-31 2020-04-21 宁波高新区意融科技有限公司 一种基于三维特征的织物褶皱等级的评定方法
CN111487316A (zh) * 2020-05-26 2020-08-04 广州多浦乐电子科技股份有限公司 折叠屏折痕检测装置及方法
CN111855671A (zh) * 2020-07-29 2020-10-30 无锡先导智能装备股份有限公司 表面缺陷检测方法、装置及系统
JP2020190441A (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 セーレン株式会社 皺検査装置、皺判定装置及び皺検査方法
CN112150441A (zh) * 2020-09-24 2020-12-29 菲特(天津)检测技术有限公司 一种基于机器视觉的光滑漆面表面缺陷检测方法
CN213902830U (zh) * 2020-12-29 2021-08-06 深圳精智达技术股份有限公司 检测装置
CN113299213A (zh) * 2021-06-17 2021-08-24 合肥维信诺科技有限公司 折痕检测方法及装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002202113A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Toshiba Lighting & Technology Corp 金属等の光学的表面検査方法および装置
JP4081414B2 (ja) 2002-10-08 2008-04-23 新日本製鐵株式会社 帯状体の形状不良検査方法およびその装置
JP5248052B2 (ja) * 2006-10-11 2013-07-31 日東電工株式会社 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム
CN105627942A (zh) 2015-12-25 2016-06-01 华南理工大学 一种机器视觉检测物体表面微变形的成像装置及其方法
CN205718885U (zh) * 2016-06-28 2016-11-23 苏州佳祺仕信息科技有限公司 表面平整度检测设备
CN110057835B (zh) * 2019-05-29 2024-09-20 深圳中科飞测科技股份有限公司 一种检测装置及检测方法
CN111273466B (zh) * 2020-01-20 2022-06-17 凌云光技术股份有限公司 一种显示屏表面缺陷检测系统
CN112326671A (zh) * 2020-11-05 2021-02-05 菲特(天津)检测技术有限公司 一种基于机器视觉的金属板材表面缺陷检测方法

Patent Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4629319A (en) * 1984-02-14 1986-12-16 Diffracto Ltd. Panel surface flaw inspection
JPH10300446A (ja) * 1997-04-30 1998-11-13 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JP2005337857A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Toray Ind Inc 表面凹凸の検査方法および検査装置
CN104331978A (zh) * 2014-11-19 2015-02-04 广州广电运通金融电子股份有限公司 纸币褶皱的识别装置和方法
US20190287237A1 (en) * 2016-12-01 2019-09-19 Autaza Tecnologia LTDA-EPP Method and system for automatic quality inspection of materials and virtual material surfaces
CN107703058A (zh) * 2017-09-14 2018-02-16 深圳市智信精密仪器有限公司 外观面检测装置及提供光栅纹进行外观检测的光源系统
CN107607549A (zh) * 2017-09-27 2018-01-19 深圳精创视觉科技有限公司 玻璃缺陷检测装置
CN108180868A (zh) * 2017-12-29 2018-06-19 南京理工大学 一种基于条纹投影的实时三维显微成像系统
JP2019152591A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 オムロン株式会社 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム
CN109557101A (zh) * 2018-12-29 2019-04-02 桂林电子科技大学 一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法
CN109946312A (zh) * 2019-03-25 2019-06-28 江苏博虏智能科技有限公司 一种地毯表面瑕疵检测装置及瑕疵检测方法
JP2020190441A (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 セーレン株式会社 皺検査装置、皺判定装置及び皺検査方法
CN110261390A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 深圳市智能机器人研究院 一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法
CN110868485A (zh) * 2019-10-17 2020-03-06 努比亚技术有限公司 折叠屏折痕消除方法、终端及计算机可读存储介质
CN111044517A (zh) * 2019-12-31 2020-04-21 宁波高新区意融科技有限公司 一种基于三维特征的织物褶皱等级的评定方法
CN111487316A (zh) * 2020-05-26 2020-08-04 广州多浦乐电子科技股份有限公司 折叠屏折痕检测装置及方法
CN111855671A (zh) * 2020-07-29 2020-10-30 无锡先导智能装备股份有限公司 表面缺陷检测方法、装置及系统
CN112150441A (zh) * 2020-09-24 2020-12-29 菲特(天津)检测技术有限公司 一种基于机器视觉的光滑漆面表面缺陷检测方法
CN213902830U (zh) * 2020-12-29 2021-08-06 深圳精智达技术股份有限公司 检测装置
CN113299213A (zh) * 2021-06-17 2021-08-24 合肥维信诺科技有限公司 折痕检测方法及装置

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
宋宇航 等: "一种高反射曲面表面缺陷的反射条纹检测方法", 《机械科学与技术》 *
杨莓 等: "激光在高反面轴类零件表面瑕疵检测的应用", 《激光与红外》 *
袁婷 等: "条纹反射法检测光学反射镜面形", 《光子学报》 *
高月锋 等: "《趣味科学探究》", 31 March 2019, 中国矿业大学出版社 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023087354A1 (zh) 2023-05-25
US12025570B2 (en) 2024-07-02
US20240310295A1 (en) 2024-09-19
US20240027366A1 (en) 2024-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7413304B2 (en) Ophthalmic apparatus
JP5572407B2 (ja) 眼科装置及び画像分類プログラム
JP3010072B2 (ja) 角膜形状測定装置
ES2447545T3 (es) Sistema y método de deflectometría de transformada de Fourier
Armstrong et al. In vivo size and shape measurement of the human upper airway using endoscopic long-range optical coherence tomography
BR112014006704B1 (pt) Método e aparelho para medir as características geométricas de uma estrutura de crepe em uma folha de papel
CN113899754A (zh) 屏幕褶皱程度的检测方法和视觉检测设备
US9307902B2 (en) Image processing device, image processing system, image processing method, and program
CN105277133B (zh) 表面倾斜或弯曲的透明材料的主体的高度图的计算方法
TWI442048B (zh) 在透明基板中計量缺陷之方法
US9372079B1 (en) Optical plate for calibration of coordinate measuring machines
CN113899755A (zh) 屏幕折痕程度的检测方法和视觉检测设备
Chen et al. Ultrawide-field parallel spectral domain optical coherence tomography for nondestructive inspection of glass
US6771362B2 (en) Method and apparatus for testing and mapping phase objects
TWI724204B (zh) 使用了掃描型白色干涉顯微鏡的三維形狀計測方法
CN101506615B (zh) 用于通过单视角背照射逆光照相法不接触式测量具有两层的三维物体的方法
JP2010230578A (ja) 偏芯量測定方法
Nhung et al. Development of 3D breast measurement system using structured light for bra design
WO2010113459A1 (ja) 眼科観察装置
JP3586169B2 (ja) 鮮明度光沢度の測定方法及び測定装置
JP2022097472A (ja) クロマティックレンジセンサーシステム
Kemper et al. Quantitative determination of out-of-plane displacements by endoscopic electronic-speckle-pattern interferometry
JP2969036B2 (ja) ゴム引きコード布の検査方法及び検査装置
EP4428486A1 (en) A method for three-dimensional (3d) image calibration for a spectral domain optical coherence tomography (oct) system
CN105067626B (zh) 一种多次反射式的图像能见度测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20220107

RJ01 Rejection of invention patent application after publication