JP2020190441A - 皺検査装置、皺判定装置及び皺検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
皺検査装置10について、図1〜5を参照して説明する。皺検査装置10は、第一方向に搬送中の媒体70での皺71の発生を検査する。実施形態では、媒体70は、長尺材とする。但し、媒体70は、短尺材であってもよい。第一方向は、媒体70の長手方向に沿った方向である。第一方向の上流側を「第一側」といい、第二方向の下流側を「第二側」という。第一方向に直交する方向を「第二方向」という。第二方向は、媒体70の短手方向に一致する。第一方向及び第二方向は、水平方向とする。媒体70の表面は、搬送中に水平な状態となる。皺71は、次の方向に筋状の形状を有する。前述の方向は、媒体70の表面内で第二方向に交差する方向である。前述の方向は、第一方向を含む。皺71は、第二方向に直線状の皺を含まない。換言すれば、皺71は、第二方向に沿った真っ直ぐな皺を含まない。
皺判定装置50について、図1を参照して説明する。皺判定装置50は、皺検査装置10と、制御装置60とを備える。皺検査装置10は、制御装置60とデータ通信可能に接続され、制御装置60と共に皺判定装置50となる。制御装置60は、情報処理装置である。情報処理装置としては、パーソナルコンピュータが例示される。実施形態では、皺判定装置50は、制御装置60として、ラップトップ型のパーソナルコンピュータを採用する。制御装置60は、接続インターフェース61と、プロセッサ62と、ストレージ63と、メモリ64と、ディスプレイ65とを備える。実施形態では、接続インターフェース61を「接続I/F61」と記載する。
実施形態によれば、次のような効果を得ることができる。
実施形態は、次のようにすることもできる。以下に示す変形例のうちの幾つかの構成は、適宜組み合わせて採用することもできる。以下では、上記とは異なる点を説明することとし、同様の点についての説明は、適宜省略する。
30 第一遮光体、 31 スリット、 40 撮像装置、 45 第二遮光体
50 皺判定装置、 60 制御装置、 61 接続インターフェース(接続I/F)
62 プロセッサ、 63 ストレージ、 64 メモリ、 65 ディスプレイ
66 操作画面、 70 媒体、 71 皺、 B1,B2 壁面
C1,C2 部分、 F 設定枠、 L1,L2 仮想直線、 N 法線
P 入射点、 R1 第一領域、 R2 第二領域、 RA 照明範囲
RB 撮像範囲、 RC,RD 表示領域、 W1,W2,W3,W4 寸法
θ1 入射角、 θ2 反射角
Claims (9)
- 第一方向に搬送中の媒体の表面に前記第一方向に直交する第二方向に直線状の入射光を照射する照明装置と、
前記入射光が前記媒体の表面で反射した反射光を撮像する撮像装置と、を備え、
前記照明装置は、
前記入射光となる光を発する光源を含み、更に、
前記媒体の表面に対する前記入射光の入射角が0°より大きくなる前記媒体の表面から離間した位置に設けられ、
前記撮像装置は、前記入射光が前記媒体の表面で正反射した正反射光の光路に設けられ、前記反射光として前記正反射光を撮像する、皺検査装置。 - 前記照明装置は、更に、前記光源より前記入射光の進行方向の前側に第一遮光体を含み、
前記第一遮光体は、前記入射光が通過する前記第二方向に直線状のスリットを有する、請求項1に記載の皺検査装置。 - 前記第一遮光体は、前記進行方向の前側の表面を艶消し状の面とする、請求項2に記載の皺検査装置。
- 前記第一遮光体は、前記進行方向の後側の表面を艶消し状の面とする、請求項2又は請求項3に記載の皺検査装置。
- 前記照明装置は、前記入射光の進行方向の前側の表面に、前記第二方向に直線状の第一領域と、前記第一領域を除く艶消し状の第二領域と、を含み、
前記入射光は、前記第一領域から照射される、請求項1に記載の皺検査装置。 - 前記媒体に対して前記照明装置とは反対側に設けられる第二遮光体を備える、請求項1から請求項5の何れか1項に記載の皺検査装置。
- 前記第二遮光体は、前記照明装置の側の表面を艶消し状の面とする、請求項6に記載の皺検査装置。
- 請求項1から請求項7の何れか1項に記載の皺検査装置と、
プロセッサと、を備え、
前記プロセッサは、
前記撮像装置で撮像された画像に対応する撮像データを取得する取得処理と、
取得済みの前記撮像データを画像解析し、前記媒体での前記第二方向に交差する方向の皺の発生を判定する判定処理と、を実行する、皺判定装置。 - 請求項1から請求項7の何れか1項に記載の皺検査装置で実行される皺検査方法であって、
前記照明装置から搬送中の前記媒体の表面に前記入射光を照射する照明工程と、
前記撮像装置で前記正反射光を撮像する撮像工程と、を含む皺検査方法。
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