KR20220106744A - 장척 광학 적층체의 검사 방법 및 검사 시스템 - Google Patents

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야스유키 미카사
쿄헤이 마츠바야시
히로카즈 타츠보
요스케 무라카미
츠요시 코마루
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닛토덴코 가부시키가이샤
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Abstract

(과제) 제 1 장척 광학 필름에 인자된 제 1 식별 정보와, 장척 광학 적층체에 인자된 제 2 식별 정보의 쌍방을 장척 광학 적층체의 상태에서 판독 가능하게 한다.
(해결 수단) 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하여 제 1 결함 정보를 취득하는 제 1 공정과, 제 1 장척 광학 필름에 제 1 식별 정보(M)를 인자하는 제 2 공정과, 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 3 공정과, 제 1 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체(F2)를 검사하여 제 2 결함 정보를 취득하는 제 4 공정과, 장척 광학 적층체에 제 2 식별 정보를 인자하는 제 5 공정과, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 6 공정을 포함하고, 제 1 식별 정보 및 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽을 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 레이저 각인으로 인자하거나, 또는 어느 한쪽을 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자한다.

Description

장척 광학 적층체의 검사 방법 및 검사 시스템
본 발명은 제 1 장척 광학 필름(예를 들면, 보호 필름)과 제 2 장척 광학 필름(예를 들면, 편광자)이 적층된 장척 광학 적층체(예를 들면, 편광 필름)의 검사 방법 및 검사 시스템에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 제 1 장척 광학 필름에 인자된 제 1 식별 정보와, 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체에 인자된 제 2 식별 정보의 쌍방을 장척 광학 적층체의 상태에서 판독 가능하게 함으로써 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을 수 있는 장척 광학 적층체의 검사 방법 및 검사 시스템에 관한 것이다.
장척 광학 적층체로서, 예를 들면 액정 표시 장치에 사용되는 편광 필름이 알려져 있다. 장척의 편광 필름으로부터 용도에 따른 사이즈의 편광 필름을 펀칭하기까지의 공정은, 예를 들면 이하와 같다.
우선, 롤투롤 방식으로 반송되는 장척의 편광 필름을 검사하여 편광 필름에 존재하는 결함을 검출한다. 결함이 검출된 경우에는 결함의 위치에 마킹을 실시하고, 편광 필름을 권취한다.
최종 제품으로서의 편광 필름(펀칭 후의 편광 필름)에는 유저의 사양에 따라 여러 가지의 사이즈가 존재하지만 장척의 편광 필름(편광 필름 원반(原反))으로서는 공통적으로 사용할 수 있는 경우가 많으므로 편광 필름 원반을 대량으로 제조해두고, 후일 필요에 따라 편광 필름 원반으로부터 필요한 사이즈의 편광 필름 제품을 펀칭하고 있다. 편광 필름 제품을 펀칭할 때에는 결함이 존재하는 위치를 피하거나, 또는 펀칭 후에 결함이 존재하는 위치에 마킹이 실시된 편광 필름 제품을 불량품으로서 제거하지 않으면 안된다.
따라서, 장척의 편광 필름을 검사할 때에는 결함을 검출하고, 그 결함의 위치 등을 결함 정보로서 기억해 둘 필요가 있다.
결함 정보를 적절하게 관리해서 편광 필름 제품의 수율을 높이기 위해 특허문헌 1에는 편광 필름의 폭 방향 단부에 식별 정보(적어도 편광 필름의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보)를 인자하여 결함 정보와 식별 정보를 연관 짓는 편광 필름의 검사 방법이 제안되어 있다.
특허문헌 1에 기재된 검사 방법에 의하면 편광 필름의 상태에서 발생한 결함의 결함 정보를 적절하게 관리하는 것이 가능하다.
그러나 편광 필름에는 보호 필름과 편광자가 적층된 편광 필름의 상태에서 발생한 결함뿐만 아니라 보호 필름 단체(편광자와 적층하기 전의 보호 필름)의 상태에서 발생하는 결함도 존재한다. 그리고 보호 필름 단체의 상태에서 발생한 결함은 편광 필름의 상태에서 검사해도 검출하기 어려운 경우가 있다.
이 때문에 보호 필름 단체이어도 검사를 행하는 경우가 있지만 종래 이 검사에 의해 검출한 결함의 결함 정보는 적절하게 관리되어 있지 않다. 구체적으로는 보호 필름 단체에 식별 정보를 인자하여 결함 정보와 연관 짓는 것은 행해지고 있지 않다.
또한, 보호 필름을 권취할 때 권취 어긋남, 권취 풀림, 블로킹, 게이지 밴드 등의 발생을 방지하기 위해 보호 필름의 폭 방향 단부에 레이저 각인에 의해 미소한 요철을 형성하는 널링 가공을 실시하는 경우가 있다(예를 들면, 특허문헌 2 참조).
일본국 특허 제5925609호 공보 일본국 특허 제5578759호 공보
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것이며, 제 1 장척 광학 필름(예를 들면, 보호 필름)에 인자된 제 1 식별 정보와, 제 2 장척 광학 필름(예를 들면, 편광자) 또는 장척 광학 적층체(예를 들면, 편광 필름)에 인자된 제 2 식별 정보의 쌍방을 장척 광학 적층체의 상태로 판독 가능하게 함으로써 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을 수 있는 장척 광학 적층체의 검사 방법 및 검사 시스템을 제공하는 것을 과제로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해 본 발명자들은 예의 검토한 결과, 제 1 장척 광학 필름에 인자하는 제 1 식별 정보와 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체에 인자하는 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽을 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 레이저 각인으로 인자하거나, 또는 어느 한쪽을 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자함으로써 만약 제 1 식별 정보와 제 2 식별 정보가 겹쳤다고 해도 양자를 구별해서 판독할 수 있는 것을 발견하여 본 발명을 완성했다.
즉, 상기 과제를 해결하기 위해 본 발명은 제 1 장척 광학 필름을 검사하여 상기 제 1 장척 광학 필름의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득하는 제 1 공정과, 상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 상기 제 1 장척 광학 필름의 길이 방향의 소정 간격마다 제 1 식별 정보를 인자하는 제 2 공정과, 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 3 공정과, 제 2 장척 광학 필름을 검사하거나, 또는 상기 제 1 장척 광학 필름과 상기 제 2 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체를 검사하여 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득하는 제 4 공정과, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 폭 방향 단부에 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 길이 방향의 소정 간격마다 제 2 식별 정보를 인자하는 제 5 공정과, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 결함 정보와 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 6 공정을 포함하고, 상기 제 2 공정에 있어서 인자하는 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 5 공정에 있어서 인자하는 상기 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽을 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 레이저 각인으로 인자하거나, 또는 어느 한쪽을 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법을 제공한다.
본 발명에 있어서 「결함 정보」란 적어도 결함의 위치를 포함하는 정보를 의미한다. 또한, 「제 1 식별 정보」란 적어도 제 1 장척 광학 필름의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보를 포함하는 정보를 의미한다. 또한, 「제 2 식별 정보」란 적어도 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보를 포함하는 정보를 의미한다.
본 발명에 의하면 제 1 공정에서 제 1 장척 광학 필름의 제 1 결함 정보를 취득하고, 제 2 공정에서 제 1 장척 광학 필름의 제 1 식별 정보를 인자하고, 제 3 공정에서 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억한다. 또한, 제 4 공정에서 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 제 2 결함 정보를 취득하고, 제 5 공정에서 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 제 2 식별 정보를 인자하고, 제 6 공정에서 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억한다.
제 1 식별 정보 및 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽이 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 레이저 각인으로 인자되거나, 또는 어느 한쪽이 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자된다. 투명 잉크는 광을 조사함으로써 형광 발광하는 잉크이며, 자외선을 조사함으로써 형광 발광하는 UV 잉크를 예시할 수 있다.
즉, 본 발명에 의하면 이하의 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴으로 제 1 식별 정보 및 제 2 식별 정보가 인자되게 된다.
(1) 인자 패턴 1
제 1 식별 정보: 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식, 제 2 식별 정보: 레이저 각인
(2) 인자 패턴 2
제 1 식별 정보: 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식, 제 2 식별 정보: 레이저 각인
(3) 인자 패턴 3
제 1 식별 정보: 레이저 각인, 제 2 식별 정보: 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식
(4) 인자 패턴 4
제 1 식별 정보: 레이저 각인, 제 2 식별 정보: 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식
(5) 인자 패턴 5
제 1 식별 정보: 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식, 제 2 식별 정보: 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식
(6) 인자 패턴 6
제 1 식별 정보: 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식, 제 2 식별 정보: 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식
이 때문에 본 발명자들이 지견한 바와 같이 제 1 식별 정보와 제 2 식별 정보가 겹쳤다고 해도 양자를 구별해서 판독할 수 있다. 즉, 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보를 연관 짓고, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보를 연관 지을) 수 있다.
따라서, 예를 들면 제 1 식별 정보를 판독하고, 제 3 공정에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다. 또한, 예를 들면 제 2 식별 정보를 판독하고, 제 6 공정에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보의 연관을 사용함으로써 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명에 있어서 제 1 공정~제 6 공정은 반드시 이 순서대로 실행할 필요는 없고, 예를 들면 제 2 공정을 실행한 후 제 1 공정을 실행하는 것도 가능하다. 또한, 제 5 공정을 실행한 후 제 4 공정을 실행하는 것도 가능하다.
본 발명에 있어서 바람직하게는 상기 제 2 공정에 있어서 상기 제 1 식별 정보를 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 상기 제 5 공정에 있어서 상기 제 2 식별 정보를 레이저 각인으로 인자한다.
상술한 바와 같이 제 1 식별 정보 및 제 2 식별 정보의 인자 방법으로서는 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴을 사용하는 것이 가능하다. 그러나 본 발명자들이 검토한 결과에 의하면 인자 패턴 1, 즉 제 1 식별 정보를 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 제 2 식별 정보를 레이저 각인으로 인자하는 것이 가장 제 1 식별 정보와 제 2 식별 정보를 구별해서 판독하기 쉽다.
따라서, 상기 바람직한 방법에 의하면 결함 정보와 식별 정보를 보다 한층 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보를 연관 짓고, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보를 연관 지을) 수 있다.
본 발명에 있어서 바람직하게는 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 7 공정을 더 포함한다.
상기 바람직한 방법에 의하면 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 제 2 식별 정보에 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 제 2 결함 정보가 연관 지어질 뿐만 아니라 제 1 장척 광학 필름의 제 1 결함 정보도 연관 지어져 기억되게 된다. 바꿔 말하면 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 제 2 식별 정보에 의거하여 제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보를 일원 관리할 수 있다.
따라서, 제 7 공정을 실행한 후에는 장척 광학 적층체를 구성하는 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부를 절단(예를 들면, 보호 필름의 널링 가공부를 절단)함으로써 제 1 식별 정보가 제거되었다고 해도 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보를 연관 지을) 수 있다.
또한, 예를 들면 제 2 식별 정보를 판독하고, 제 6 공정에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보의 연관을 사용함과 아울러, 제 7 공정에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 2 식별 정보의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름의 상태에서 발생한 결함의 위치 및 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다. 즉, 제품을 펀칭할 때에 제 1 식별 정보를 판독하는 수고를 줄이는 것이 가능하다.
본 발명에 있어서 바람직하게는 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 1 결함 정보와, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 식별 정보 및 상기 제 2 결함 정보에 의거하여 상기 장척 광학 적층체의 결함의 위치에 마킹을 실시하는 제 8 공정을 더 포함한다.
상기 바람직한 방법에 의하면 결함의 위치에 마킹이 실시되기 때문에 육안으로도 결함의 위치를 특정 가능하다.
본 발명은 상기 제 1 장척 광학 필름이 보호 필름이며, 상기 제 2 장척 광학 필름이 편광자이며, 상기 장척 광학 적층체가 편광 필름일 경우에 적합하게 사용할 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제 1 장척 광학 필름이 위상차 필름 또는 액정 재료가 도포되는 기재이며, 상기 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름인 경우에도 사용할 수 있다. 기재에 도포되는 액정 재료에 의해 형성되는 액정층으로서는, 예를 들면 1/4 파장판이나, 1/2 파장판 등의 위상차판으로서 기능하는 것을 들 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제 1 장척 광학 필름이 반사형 편광자이며, 상기 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름인 경우에도 사용할 수 있다.
본 발명자들의 지견에 의하면 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공부가 형성될 경우 널링 가공부에 상당하는 부위(널링 가공부가 형성된 부위, 또는 널링 가공부가 형성될 예정인 부위)에 잉크젯 방식으로 제 1 식별 정보를 인자해도 제 1 식별 정보를 널링 가공부의 요철과 구별해서 판독할 수 있다. 한편, 널링 가공부에 상당하는 부위에 레이저 각인으로 제 1 식별 정보를 인자하면 제 1 식별 정보를 널링 가공부의 요철과 구별해서 판독하기 어려운 경우가 있다.
따라서, 본 발명에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공부가 형성될 경우 상기 제 2 공정에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 널링 가공부에 상당하는 부위에 상기 제 1 식별 정보를 잉크젯 방식으로 인자하는 것이 바람직하다. 이것에 의해 제 1 장척 광학 필름의 유효 폭이 제 1 식별 정보를 인자함으로써 좁아지는 일 없이 수율을 높일 수 있다.
또한, 본 발명에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공부가 형성되어 있으며, 상기 제 5 공정에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 널링 가공부보다 폭 방향 내측에 위치하는 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 부위에 상기 제 2 식별 정보를 인자하는 것이 바람직하다. 이것에 의해 제 2 식별 정보를 널링 가공부의 요철과 확실하게 구별해서 판독할 수 있다.
또한, 상기 과제를 해결하기 위해 본 발명은 제 1 장척 광학 필름을 검사하여 상기 제 1 장척 광학 필름의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득하는 제 1 검사 장치와, 상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 상기 제 1 장척 광학 필름의 길이 방향의 소정 간격마다 제 1 식별 정보를 인자하는 제 1 인자 장치와, 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 1 연산 기억 장치와, 제 2 장척 광학 필름을 검사하거나, 또는 상기 제 1 장척 광학 필름과 상기 제 2 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체를 검사하여 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득하는 제 2 검사 장치와, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 폭 방향 단부에 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 길이 방향의 소정 간격마다 제 2 식별 정보를 인자하는 제 2 인자 장치와, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 결함 정보와 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 2 연산 기억 장치를 구비하고, 상기 제 1 인자 장치가 인자하는 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 2 인자 장치가 인자하는 상기 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽이 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 레이저 각인으로 인자되거나, 또는 어느 한쪽이 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자되는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 시스템으로서도 제공된다.
(발명의 효과)
본 발명에 의하면 제 1 장척 광학 필름에 인자된 제 1 식별 정보와, 제 2 장척 광학 필름 또는 장척 광학 적층체에 인자된 제 2 식별 정보의 쌍방을 장척 광학 적층체의 상태로 판독 가능하게 함으로써 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을 수 있다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법의 개략 공정을 나타내는 플로우도이다.
도 2는 도 1에 나타내는 제 1 공정(S2)~제 3 공정(S4)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 3은 도 1에 나타내는 제 4 공정(S6)~제 6 공정(S8)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 4는 도 1에 나타내는 제 7 공정(S9)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 5는 도 4에 나타내는 제 1 판독 장치(9) 및 제 2 판독 장치(10)의 개략 구성예를 모식적으로 나타내는 측면도(장척 광학 적층체(F2)의 폭 방향으로부터 본 측면도)이다.
도 6은 도 1에 나타내는 판독 공정(S10), 2회째의 제 4 공정(S11), 및 제 6 공정(S12)(제 7 공정(S9) 실행 후의 제 4 공정 및 제 6 공정)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제 1 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법에 의한 제 1 식별 정보(M) 및 제 2 식별 정보(N)의 인자예를 나타내는 도면이다.
도 8은 도 7에 나타내는 장척 광학 적층체(F2)의 제 1 식별 정보(M)를 제 1 판독 장치(9)에서 판독한 결과의 일례를 나타낸다.
도 9는 도 7에 나타내는 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)를 제 2 판독 장치(10)에서 판독한 결과의 일례를 나타낸다.
도 10은 본 발명의 제 2 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정을 부분적으로 나타내는 플로우도이다.
도 11은 본 발명의 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정(제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정)을 나타내는 플로우도이다.
도 12는 본 발명의 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정(제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정)을 나타내는 플로우도이다.
도 13은 본 발명의 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정(장척 광학 적층체의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정)을 나타내는 플로우도이다.
도 14는 도 11에 나타내는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 15는 도 12에 나타내는 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 16은 도 13에 나타내는 장척 광학 적층체의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 17은 본 발명의 제 4 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법에 있어서의 인자 패턴을 설명하는 설명도이다.
<제 1 실시형태>
이하, 첨부된 도면을 적당히 참조하면서 본 발명의 제 1 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법(이하, 적당히 간단하게 「검사 방법」이라고 한다) 및 장척 광학 적층체의 검사 시스템(이하, 적당히 간단하게 「검사 시스템」이라고 한다)에 대해서 설명한다.
제 1 실시형태에 의한 검사 방법의 검사 대상인 장척 광학 적층체는 제 1 장척 광학 필름과 제 2 장척 광학 필름이 적층된 필름이다. 제 1 실시형태에서는 제 1 장척 광학 필름이 보호 필름이며, 제 2 장척 광학 필름이 편광자이며, 장척 광학 적층체가 편광 필름이며, 장척 광학 적층체를 검사하여 제 2 결함 정보를 취득하고, 장척 광학 적층체에 제 2 식별 정보를 인자하는 경우를 예로 들어 설명한다. 최초로 장척 광학 적층체(편광 필름)의 구체예에 대해서 설명한다.
[장척 광학 적층체]
장척 광학 적층체로서의 편광 필름은 (A) 염색 처리, 가교 처리, 및 연신 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 건조시켜 제 2 장척 광학 필름으로서의 편광자를 제조하는 공정과, (B) 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 편측 또는 양측에 제 1 장척 광학 필름으로서의 보호 필름을 접합하는 공정과, (C) 접합한 후에 가열 처리하는 공정을 포함하는 제조 방법에 의해 제조된다.
폴리비닐알코올계 필름의 염색 처리, 가교 처리, 연신 처리의 각 처리는 반드시 따로 실시할 필요는 없고, 동시에 실시해도 좋고, 또한 각 처리의 순번도 임의이어도 좋다. 또한, 폴리비닐알코올계 필름으로서 팽윤 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 사용해도 좋다. 일반적으로는 폴리비닐알코올계 필름을 요오드나 2색성 색소를 포함하는 용액에 침지하고, 요오드나 2색성 색소를 흡착시켜 염색한 후에 세정하고, 붕산이나 붕사 등을 포함하는 용액 중에서 연신 배율 3배~7배로 1축 연신한 후 건조시킨다. 요오드나 2색성 색소를 포함하는 용액 중에서 연신한 후 붕산이나 붕사 등을 포함하는 용액 중에서 추가로 연신(2단 연신)한 후 건조시킴으로써 요오드의 배향이 높아지고, 편광도 특성이 좋아지기 때문에 특히 바람직하다.
상기 폴리비닐알코올계 필름을 구성하는 폴리비닐알코올계 폴리머로서는, 예를 들면 아세트산 비닐을 중합한 후에 비누화한 것이나, 아세트산 비닐에 소량의 불포화카르복실산, 불포화술폰산, 양이온성 모노머 등의 공중합 가능한 모노머를 공중합한 것 등을 들 수 있다. 폴리비닐알코올계 폴리머의 평균 중합도는 특별히 제한되지 않고 임의의 것을 사용할 수 있지만 1000 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2000~5000이다. 또한, 폴리비닐알코올계 폴리머의 비누화도는 85몰% 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 98~100몰%이다.
제조되는 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 두께는 5~80㎛가 일반적이지만 이것에 한정되는 것은 아니고, 또한 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 두께를 조정하는 방법에 관해서도 특별히 한정되는 것은 아니고, 텐터, 롤 연신이나 압연 등의 통상의 방법을 사용할 수 있다.
제 2 장척 광학 필름(편광자)과 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)의 접합은 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 비닐알코올계 폴리머로 이루어지는 접착제, 또는 붕산이나 붕사, 글루타르알데히드나 멜라민, 옥살산 등의 비닐알코올계 폴리머의 수용성 가교제로 적어도 이루어지는 접착제 등을 통해 행할 수 있다. 제 2 장척 광학 필름(편광자)과 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)을 접합하는 접착층은 수용액의 도포 건조층 등으로서 형성되지만 그 수용액의 조제에 있어서는 필요에 따라 다른 첨가제나, 산 등의 촉매도 배합할 수 있다.
제 2 장척 광학 필름(편광자)의 편측 또는 양측에 접합하는 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)에는 적당한 투명 필름을 사용할 수 있다. 그 중에서도 투명성이나 기계적 강도, 열 안정성이나 수분 차폐성 등이 우수한 폴리머로 이루어지는 필름이 바람직하게 사용된다. 그 폴리머로서는 트리아세틸셀룰로오스 등의 아세테이트계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리아릴레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리술폰계 수지, 폴리에테르술폰계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 폴리노보넨계 수지, (메타)아크릴계 수지, 폴리메틸메타크릴레이트계 수지, 액정 폴리머 등을 들 수 있다. 필름은 캐스팅법, 캘린더법, 압출법 중 어느 하나로 제조한 것이어도 좋다.
또한, 일본국 특허공개 2001-343529호 공보(WO 01/37007)에 기재된 폴리머 필름, 예를 들면 (A) 측쇄에 치환 및/또는 비치환 이미드기를 갖는 열가소성 수지와, (B) 측쇄에 치환 및/또는 비치환 페닐 및 니트릴기를 갖는 열가소성 수지를 함유하는 수지 조성물을 들 수 있다. 구체예로서는 이소부틸렌과 N-메틸말레이미드로 이루어지는 교호 공중합체와 아크릴로니트릴·스티렌 공중합체를 함유하는 수지 조성물의 필름을 들 수 있다. 필름으로서는 수지 조성물의 혼합 압출품 등으로 이루어지는 필름을 사용할 수 있다. 이들 필름은 위상차가 작고, 광탄성 계수가 작기 때문에 장척 광학 적층체(편광 필름)의 변형에 의한 불균일 등의 문제를 해소할 수 있고, 또한 투습도가 작기 때문에 가습 내구성이 우수하다.
또한, 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)은 가능한 한 색이 없는 것이 바람직하다. 따라서, Rth=[(nx+ny)/2-nz]·d(단, nx, ny는 필름 평면 내의 주굴절률, nz는 필름 두께 방향의 굴절률, d는 필름 두께이다)로 나타내어지는 필름 두께 방향의 위상차값이 -90㎚~+75㎚인 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)이 바람직하게 사용된다. 두께 방향의 위상차값(Rth)이 -90㎚~+75㎚인 것을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)에 기인하는 장척 광학 적층체(편광 필름)의 착색(광학적인 착색)을 거의 해소할 수 있다. 두께 방향의 위상차값(Rth)은 더 바람직하게는 -80㎚~+60㎚이며, 특히 -70㎚~+45㎚가 바람직하다.
제 1 장척 광학 필름(보호 필름)으로서는 편광 특성이나 내구성 등의 점으로부터 (메타)아크릴계 수지가 바람직하다. 또한, 트리아세틸셀룰로오스 등의 아세테이트계 수지가 바람직하고, 특히 표면을 알칼리 등으로 비누화 처리한 트리아세틸셀룰로오스 필름이 바람직하다. 또한, 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 양측에 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)을 접합할 경우 그 표리에서 상이한 폴리머로 이루어지는 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)을 사용해도 좋다.
제 1 장척 광학 필름(보호 필름)의 두께는 임의이지만 일반적으로는 장척 광학 적층체(편광 필름)의 박형화 등을 목적으로 해서 500㎛ 이하, 바람직하게는 1~300㎛, 특히 바람직하게는 5~200㎛가 된다.
제 1 장척 광학 필름(보호 필름)은 본 발명의 목적을 손상하지 않는 한 하드 코트 처리나 반사 방지 처리, 스티킹의 방지나 확산 내지 안티글레어 등을 목적으로 한 처리 등의 표면 처리를 실시한 것이어도 좋다. 하드 코트 처리는 장척 광학 적층체(편광 필름)의 표면의 스크래치 방지 등을 목적으로 실시되는 것이며, 예를 들면 실리콘계 등의 적당한 자외선 경화형 수지에 의한 경도나 미끄럼성 등이 우수한 경화 피막을 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)의 표면에 부가하는 방식 등에 의해 형성할 수 있다.
한편, 반사 방지 처리는 장척 광학 적층체(편광 필름)의 표면에서의 외광의 반사 방지를 목적으로 실시되는 것이며, 종래에 준한 반사 방지막 등의 형성에 의해 달성할 수 있다. 또한, 스티킹 방지 처리는 인접층과의 밀착 방지를 목적으로, 안티글레어 처리는 장척 광학 적층체(편광 필름)의 표면에서 외광이 반사하여 장척 광학 적층체(편광 필름) 투과광의 시인을 저해하는 것의 방지 등을 목적으로 실시되는 것이며, 예를 들면 샌드블라스트 방식이나 엠보스 가공 방식 등에 의한 조면화 방식이나 투명 미립자의 배합 방식 등의 적당한 방식에 의해 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)의 표면에 미세 요철 구조를 부여함으로써 형성할 수 있다.
상기 투명 미립자로는, 예를 들면 평균 입경이 0.5~20㎛인 실리카나 알루미나, 티타니아나 지르코니아, 산화주석이나 산화인듐, 산화카드뮴이나 산화안티몬 등을 들 수 있고, 도전성을 갖는 무기계 미립자를 사용해도 좋고, 또한 가교 또는 미가교의 폴리머 입상물 등으로 이루어지는 유기계 미립자 등을 사용할 수 있다. 투명 미립자의 사용량은 투명 수지 100질량부당 2~70질량부, 특히 5~50질량부가 일반적이다.
또한, 투명 미립자 배합의 안티글레어층은 투명 보호층 그 자체로서, 또는 투명 보호층 표면으로의 도포층 등으로서 형성할 수 있다. 안티글레어층은 장척 광학 적층체(편광 필름)의 투과광을 확산하여 시각을 확대하기 위한 확산층(시각 보상 기능 등)을 겸하는 것이어도 좋다. 또한, 상술한 반사 방지층이나 스티킹 방지층, 확산층이나 안티글레어층 등은 그들 층을 형성한 시트 등으로 이루어지는 광학층으로서 투명 보호층과는 별체의 것으로서 형성할 수도 있다.
[제 1 실시형태에 의한 검사 방법]
이하, 제 1 실시형태에 의한 검사 방법에 대해서 설명한다.
도 1은 제 1 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정을 나타내는 플로우도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이 제 1 실시형태에 의한 검사 방법은 제 1 장척 광학 필름(보호 필름)의 제조 공정에서 실행되는 공정(S1~S4)과, 장척 광학 적층체(편광 필름)의 제조 공정에서 실행되는 공정(S5~S12)을 포함하고 있다. 이하, 각 공정에 대해서 순서대로 설명한다.
[제 1 장척 광학 필름의 제조 공정에서 실행되는 공정]
제 1 장척 광학 필름의 제조 공정에서는 제 1 공정(S2)~제 3 공정(S4)이 실행된다. 또한, 제 1 실시형태에서는 널링 가공 공정(S1)이 실행된다.
(널링 가공 공정(S1))
널링 가공 공정(S1)에서는 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공을 실시하여 널링 가공부를 형성한다. 널링 가공의 구체적인 내용에 대해서는, 예를 들면 특허문헌 2에 기재된 바와 같이 공지이기 때문에 여기에서는 상세한 설명을 생략한다.
(제 1 공정(S2))
도 2는 제 1 공정(S2)~제 3 공정(S4)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 2에 나타내는 바와 같이 제 1 공정(S2)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 1 검사 장치(1)가 반송 롤(R)에 의해 롤투롤 방식으로 반송(도 2에 굵은 선 화살표로 나타내는 방향으로 반송)되는 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하여 제 1 장척 광학 필름(F1)의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득한다.
제 1 검사 장치(1)는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 표면에 대향 배치된 촬상 수단(1a)과, 촬상 수단(1a)에 전기적으로 접속되어 촬상 수단(1a)에서 취득한 제 1 장척 광학 필름(F1)의 표면의 촬상 화상에 적당한 화상 처리를 실시하는 화상 처리 수단(1b)을 구비한다. 촬상 수단(1a)으로서는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 폭 방향을 따라 촬상 소자가 직선형상으로 배치된 라인 센서나, 촬상 소자가 매트릭스형상으로 배치된 에어리어 센서를 사용할 수 있다. 촬상 수단(1a)의 시야는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 유효 폭(제품에 사용되는 폭) 이상으로 되어 있다. 화상 처리 수단(1b)은 촬상 화상에 2진화 등의 공지의 화상 처리를 실시함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1)에 존재하는 결함에 상당하는 화소 영역을 추출한다. 그리고 화상 처리 수단(1b)은 촬상 화상에 있어서의 결함의 위치(결함에 상당하는 화소 영역의 좌표)를 특정하고, 적어도 특정한 결함의 위치를 포함하는 정보를 제 1 결함 정보로서 취득한다. 취득한 제 1 결함 정보는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
(제 2 공정(S3))
제 2 공정(S3)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 1 인자 장치(2)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 폭 방향 단부(바람직하게는 널링 가공부)에 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 소정 간격(예를 들면, 1m의 등간격)마다 제 1 식별 정보(M)를 인자한다. 도 2에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 선단측(반송 방향 하류측)으로부터 순서대로 제 1 식별 정보(M1~M3)가 인자되어 있는 예를 도시하고 있다.
제 1 식별 정보(M)는 적어도 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보를 포함하는 정보이다. 제 1 식별 정보(M)는, 예를 들면 제 1 장척 광학 필름(F1)의 선단측으로부터 순서대로 증가 또는 감소하는 수치(이 수치에 의해 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 위치가 특정된다)가 2차원 코드나 바코드에 의해 나타내어져 있다. 제 1 식별 정보(M)에는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보 외에 인자한 일시, 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 번호, 인자한 공정의 종별 등 각종 부대 정보를 포함시키는 것이 가능하다.
제 1 실시형태에서는 제 1 인자 장치(2)에 의한 제 1 식별 정보(M)의 인자가 제 1 연산 기억 장치(4)에 의해 제어된다. 구체적으로는 로터리 인코더 등을 사용한 측장기(3)에 의해 제 1 장척 광학 필름(F1)의 반송 방향으로의 이동량이 측정되고, 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다. 제 1 연산 기억 장치(4)는 측장기(3)로부터 입력된 이동량에 의거하여 소정 간격마다 제 1 인자 장치(2)에 대해서 제어 신호를 송신하고, 제 1 인자 장치(2)에 소정 간격마다 제 1 식별 정보(M)를 인자시킨다.
또한, 제 1 실시형태에서는 제 1 연산 기억 장치(4)가 제 1 인자 장치(2)를 제어하는 기능도 가질 경우를 예로 들어 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니고, 제 1 연산 기억 장치(4)와는 다른 제어 장치가 제 1 인자 장치(2)를 제어하는 구성을 채용하는 것도 가능하다.
제 1 실시형태의 제 1 인자 장치(2)는 제 1 식별 정보(M)를 잉크젯 방식으로 인자한다. 제 1 실시형태의 제 1 인자 장치(2)는 바람직한 양태로서 제 1 식별 정보(M)를 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자한다. 구체적으로는 제 1 실시형태에서는 투명 잉크로서 자외선을 조사함으로써 형광 발광하는 UV 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 제 1 식별 정보(M)를 인자한다.
제 1 인자 장치(2)로서는, 예를 들면 Videojet Technologies제 잉크젯 프린터 「VJ1000 시리즈」나, Hitachi Industrial Equipment Systems Co., Ltd.제 잉크젯 프린터 「Gravis UX 시리즈」를 사용할 수 있다.
(제 3 공정(S4))
제 3 공정(S4)에서는 제 1 연산 기억 장치(4)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 이하와 같다.
예를 들면, 제 1 검사 장치(1)가 도 2에 나타내는 결함(D1)을 검출하고, 촬상 화상에 있어서의 결함(D1)의 위치(결함(D1)에 상당하는 화소 영역의 좌표)를 특정하고, 이것이 제 1 결함 정보로서 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된 것으로 한다. 제 1 연산 기억 장치(4)에는 측장기(3)로부터 제 1 장척 광학 필름(F1)의 반송 방향으로의 이동량이 입력되어 있기 때문에 제 1 연산 기억 장치(4)는 결함(D1)을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함(D1)에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점)과, 제 1 인자 장치(2)에 의해 제 1 식별 정보(M)를 인자한 시점 사이에 제 1 장척 광학 필름(F1)이 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악할 수 있다. 이 양 시점 사이의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 이동량과, 촬상 화상에 있어서의 결함(D1)에 상당하는 화소 영역의 좌표에 의거하여 제 1 연산 기억 장치(4)는 소정 제 1 식별 정보(M)(도 2에 나타내는 예에서는 제 1 식별 정보(M3))로부터 결함(D1)까지의 거리(제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향을 따른 거리)(X1)를 산출할 수 있다. 또한, 제 1 연산 기억 장치(4)는 촬상 화상에 있어서의 결함(D1)에 상당하는 화소 영역의 좌표에 의거하여 제 1 장척 광학 필름(F1)의 폭 방향의 에지로부터 결함(D1)까지의 거리(제 1 장척 광학 필름(F1)의 폭 방향을 따른 거리)(Y1)를 산출할 수 있다. 제 1 연산 기억 장치(4)는 적어도 이 제 1 식별 정보(M)(M3)와, 제 1 식별 정보(M)(M3)를 기준으로 한 결함(D1)의 좌표(X1, Y1)를 연관 지어 기억하게 된다.
[장척 광학 적층체의 제조 공정에서 실행되는 공정]
상술한 제조 공정에서 제조된 제 1 장척 광학 필름(F1)(널링 가공부에 제 1 식별 정보(M)가 잉크젯 방식으로 인자된 제 1 장척 광학 필름)은 롤형상으로 권회되어 원반 롤이 된다. 원반 롤이 된 제 1 장척 광학 필름(F1)은 장척 광학 적층체의 제조 공정으로 운반된다. 장척 광학 적층체의 제조 공정에서는 운반된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 원반 롤이 사용된다.
도 1에 나타내는 바와 같이 제 1 실시형태의 장척 광학 적층체의 제조 공정은 No. 1 공정과 No. 2 공정을 포함하고 있다. 제 1 실시형태의 장척 광학 적층체의 제조 공정에서는 No. 1 공정에서 제 4 공정(S6)~제 7 공정(S9)이 실행된 후 다시 No. 2 공정에서 제 4 공정(S11) 및 제 6 공정(S12)이 실행된다. 또한, 제 1 실시형태의 장척 광학 적층체의 제조 공정에서는 No. 1 공정에서 접합 공정(S5)이 실행되고, No. 2 공정에서 판독 공정(S10)이 실행된다.
(접합 공정(S5))
No. 1 공정에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)의 원반 롤이 조출되고, 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 원반 롤이 조출된다. 그리고 접합 공정(S5)에서는 제 2 장척 광학 필름의 편측 또는 양측에 상술한 바와 같이 접착제 등을 통해 제 1 장척 광학 필름(F1)을 접합하여 제 1 장척 광학 필름(F1)과 제 2 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체(F2)(편광 필름)를 얻는다.
(제 4 공정(S6))
도 3은 제 4 공정(S6)~제 6 공정(S8)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 3에 나타내는 바와 같이 제 4 공정(S6)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 2 검사 장치(5)가 반송 롤(R)에 의해 롤투롤 방식으로 반송(도 3에 굵은 선 화살표로 나타내는 방향으로 반송)되는 장척 광학 적층체(F2)를 검사하여 장척 광학 적층체(F2)의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득한다.
제 2 검사 장치(5)는 도 2에 나타내는 제 1 검사 장치(1)와 마찬가지로 촬상 수단(5a) 및 화상 처리 수단(5b)을 구비하고, 제 1 검사 장치(1)와 마찬가지의 기능을 갖기 때문에 여기에서는 상세한 설명을 생략한다. 제 2 검사 장치(5)는 촬상 화상에 있어서의 결함의 위치(결함에 상당하는 화소 영역의 좌표)를 특정하고, 적어도 특정한 결함의 위치를 포함하는 정보를 제 2 결함 정보로서 취득한다. 취득한 제 2 결함 정보는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(제 5 공정(S7))
제 5 공정(S7)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 2 인자 장치(6)가 장척 광학 적층체(F2)의 폭 방향 단부(바람직하게는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 널링 가공부보다 폭 방향 내측에 위치하는 장척 광학 적층체(F2)의 부위)에 장척 광학 적층체(F2)의 길이 방향의 소정 간격(예를 들면, 1m의 등간격)마다 제 2 식별 정보(N)를 인자한다. 도 3에서는 장척 광학 적층체(F2)의 선단측(반송 방향 하류측)으로부터 순서대로 제 2 식별 정보(N1~N3)가 인자되어 있는 예를 도시하고 있다. 또한, 실제로는 장척 광학 적층체(F2)를 구성하는 제 1 장척 광학 필름(F1)에 제 1 식별 정보(M)가 인자되어 있지만 도 3에서는 편의상 제 1 식별 정보(M)의 도시를 생략하고 있다.
제 2 식별 정보(N)는 적어도 장척 광학 적층체(F2)의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보를 포함하는 점이 적어도 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 위치를 특정하는 정보를 포함하는 제 1 식별 정보(M)와 상이하고, 그 외의 점은 제 1 식별 정보(M)와 마찬가지이기 때문에 여기에서는 상세한 설명을 생략한다.
또한, 제 1 실시형태에서는 장척 광학 적층체(F2)에 인자되는 제 2 식별 정보(N)는 제 1 식별 정보(M)가 인자된 것과 동일한 제 1 장척 광학 필름(F1)에 인자되지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다.
예를 들면, 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 양측에 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)을 접합하여 장척 광학 적층체(F2)(편광 필름)를 형성할 경우에는 일방의 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)에 제 1 식별 정보(M)를 인자하고, 제 1 식별 정보(M)가 인자되어 있지 않은 타방의 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름. 위상차 필름을 겸해도 좋다)에 제 2 식별 정보(N)를 인자하는 것도 가능하다.
또한, 예를 들면 제 2 장척 광학 필름(편광자)의 양측에 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)을 접합하고, 또한 일방의 제 1 장척 광학 필름에 위상차 필름을 접합하여 장척 광학 적층체(F2)(위상차 기능이 부착된 편광 필름)를 형성할 경우에는 타방의 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)에 제 1 식별 정보(M)를 인자하고, 위상차 필름에 제 2 식별 정보(N)를 인자하는 것도 가능하다.
제 1 인자 장치(2)에 의한 제 1 식별 정보(M)의 인자가 제 1 연산 기억 장치(4)에 의해 제어되는 것과 마찬가지로 제 2 인자 장치(6)에 의한 제 2 식별 정보(N)의 인자는 제 2 연산 기억 장치(8)에 의해 제어된다. 구체적인 제어 내용에 대해서는 제 1 인자 장치(2)에 의한 제 1 식별 정보(M)의 인자의 제어와 마찬가지이기 때문에 여기에서는 상세한 설명을 생략한다.
제 1 실시형태의 제 2 인자 장치(6)는 제 1 인자 장치(2)와 상이하며, 제 2 식별 정보(N)를 레이저 각인으로 인자한다. 제 2 인자 장치(6)로서는, 예를 들면 CO2 레이저를 사용해서 레이저 각인으로 인자하는 기능을 갖는 공지의 여러 가지의 인자 장치를 적용 가능하기 때문에 여기에서는 상세한 설명을 생략한다.
(제 6 공정(S8))
제 6 공정(S8)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 1 연산 기억 장치(4)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억하는 경우와 마찬가지의 순서이기 때문에 상세한 설명은 생략하지만 제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(3)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기(7)로부터 입력된 장척 광학 적층체(F2)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 적어도 제 2 식별 정보(N)(도 3에 나타내는 예에서는 제 2 식별 정보(N3))와, 제 2 식별 정보(N)(N3)를 기준으로 한 결함(D2)의 좌표(X2, Y2)를 연관 지어 기억하게 된다.
(제 7 공정(S9))
도 4는 제 7 공정(S9)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
제 7 공정(S9)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 1 식별 정보(M)(도 4에는 제 1 식별 정보(M1~M3)를 도시)를 판독하기 위한 제 1 판독 장치(9)와 제 2 식별 정보(N)(도 4에는 제 2 식별 정보(N1~N3)를 도시)를 판독하기 위한 제 2 판독 장치(10)가 배치되고, 제 1 판독 장치(9)에서 판독한 제 1 식별 정보(M)와, 제 2 판독 장치(10)에서 판독한 제 2 식별 정보(N)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다. 여기에서 제 2 연산 기억 장치(8)에는 미리 제 1 연산 기억 장치(4)에 기억된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관(제 1 식별 정보(M)와, 제 1 식별 정보(M)를 기준으로 한 결함의 좌표의 관계)이 입력되고, 기억되어 있다. 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관의 입력은 제 1 연산 기억 장치(4)와 제 2 연산 기억 장치(8)를 전기적으로 접속하여 제 1 연산 기억 장치(4)로부터 제 2 연산 기억 장치(8)로 송신해도 좋고, 제 1 연산 기억 장치(4)로부터 다운로드하여 수동으로 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력해도 좋다. 또한, 제 2 연산 기억 장치(8)에는 측장기(3)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기(11)로부터 장척 광학 적층체(F2)의 반송 방향으로의 이동량이 입력된다.
제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(11)로부터 입력된 장척 광학 적층체(F2)의 반송 방향으로의 이동량에 의거하여 제 1 판독 장치(9)에서 제 1 식별 정보(M)를 판독한 시점(제 1 식별 정보(M)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된 시점)과, 제 2 판독 장치(10)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한 시점(제 2 식별 정보(N)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된 시점) 사이에 장척 광학 적층체(F2)가 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악할 수 있다. 이 양 시점 사이의 장척 광학 적층체(F2)의 이동량에 의거하여 제 2 연산 기억 장치(8)는 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)의 장척 광학 적층체(F2)의 길이 방향을 따른 위치 어긋남(도 4에 나타내는 예에서는 제 1 식별 정보(M3)와 제 2 식별 정보(N3)의 위치 어긋남(dX))을 산출할 수 있다.
따라서, 제 2 연산 기억 장치(8)는 미리 기억된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관과, 산출한 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)의 위치 어긋남에 의거하여 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억할 수 있다. 바꿔 말하면 제 2 식별 정보(N)와, 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억할 수 있다. 이와 같이 제 7 공정(S9)을 실행함으로써 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)에 의거하여 제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보를 일원 관리할 수 있다.
제 7 공정(S9)을 실행한 후의 장척 광학 적층체(F2)는 롤형상으로 권회되어 No. 2 공정으로 운반된다.
도 5는 제 1 판독 장치(9) 및 제 2 판독 장치(10)의 개략 구성예를 모식적으로 나타내는 측면도(장척 광학 적층체(F2)의 폭 방향으로부터 본 측면도)이다. 도 5(a)는 제 1 판독 장치(9)의 개략 구성예를, 도 5(b)는 제 2 판독 장치(10)의 개략 구성예를 나타낸다.
도 5(a)에 나타내는 바와 같이 제 1 판독 장치(9)는 자외선을 출사하는 UV 조명(91)과, 촬상 수단(에어리어 센서)(92)을 구비한다. UV 조명(91)으로부터 출사한 자외선을 장척 광학 적층체(F2)의 표면에 조사함으로써 투명 잉크(UV 잉크)로 인자된 제 1 식별 정보(M)가 형광 발광한다. 이것에 의해 장척 광학 적층체(F2)의 표면에 대해서 UV 조명(91)과 동일한 측(도 5(a)에 나타내는 예에서는 상측)에 배치한 촬상 수단(92)에서 취득한 촬상 화상 중 제 1 식별 정보(M)에 상당하는 화소 영역이 밝아져(제 2 식별 정보(N)에 상당하는 화소 영역은 배경과 마찬가지로 어두워져) 제 1 식별 정보(M)를 제 2 식별 정보(N)와 구별해서 판독할 수 있다.
또한, UV 조명(91)으로서는, 예를 들면 파장 200~400㎚ 정도의 자외선, 바람직하게는 파장 365㎚ 정도의 자외선을 출사하는 것을 사용할 수 있다. 또한, 촬상 수단(92)으로서는, 예를 들면 셔터 스피드(노광 시간)가 30~150μsec 정도의 고속 셔터가 부착된 에어리어 센서를 사용할 수 있다.
도 5(b)에 나타내는 바와 같이 제 2 판독 장치(10)는 장척 광학 적층체(F2)의 표면에 대해서 일방의 측(도 5(b)에 나타내는 예에서는 하측)에 배치되고, 평행 광속을 출사하는 조명(101)과, 장척 광학 적층체(F2)의 표면에 대해서 타방의 측(도 5(b)에 나타내는 예에서는 상측)에 배치되고, 장척 광학 적층체(F2)를 투과한 광을 수광하는 촬상 수단(에어리어 센서)(102)을 구비한다. 조명(101)으로부터 출사되어 장척 광학 적층체(F2)의 표면에 조사된 평행 광속은 레이저 각인으로 인자된 제 2 식별 정보(N)에 의해 산란한다. 이것에 의해 촬상 수단(102)에서 취득한 촬상 화상 중 제 2 식별 정보(N)에 상당하는 화소 영역이 어두워져(제 1 식별 정보(M)에 상당하는 화소 영역은 배경과 마찬가지로 밝아져) 제 2 식별 정보(N)를 제 1 식별 정보(M)와 구별해서 판독할 수 있다.
또한, 상세한 설명은 생략하지만 제 1 식별 정보(M)가 통상의 유색 잉크를 사용해서 인자되어 있을 경우에는 도 5(b)에 나타내는 조명(101)을 확산광을 조사하는 조명을 대신한 판독 장치를 제 1 식별 정보(M)를 판독하기 위한 판독 장치로서 사용함으로써 촬상 수단(102)에서 취득한 촬상 화상 중 제 1 식별 정보(M)에 상당하는 화소 영역이 어두워져(제 2 식별 정보(N)에 상당하는 화소 영역은 배경과 마찬가지로 밝아져) 제 1 식별 정보(M)를 제 2 식별 정보(N)와 구별해서 판독할 수 있다.
(판독 공정(S10))
No. 2 공정에서는 롤형상으로 권회된 장척 광학 적층체(F2)가 조출된다. 그리고 최초로 판독 공정(S10)이 실행된다.
도 6은 판독 공정(S10), 2회째의 제 4 공정(S11), 및 제 6 공정(S12)(제 7 공정(S9) 실행 후의 제 4 공정 및 제 6 공정)을 실행하기 위한 검사 시스템의 개략 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다. 또한, 실제로는 장척 광학 적층체(F2)를 구성하는 제 1 장척 광학 필름(F1)에 제 1 식별 정보(M)가 인자되어 있지만 도 6에서는 편의상 제 1 식별 정보(M)의 도시를 생략하고 있다.
도 6에 나타내는 바와 같이 판독 공정(S10)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 2 판독 장치(10)(도 4, 도 5(b) 참조)와 마찬가지의 구성을 갖는 제 2 판독 장치(12)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한다. 판독한 제 2 식별 정보(N)는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(제 4 공정(2회째)(S11))
2회째의 제 4 공정(S11)에서는 검사 시스템(100)이 구비하는 제 2 검사 장치(5)와 마찬가지의 구성을 갖는 제 2 검사 장치(13)(촬상 수단(13a) 및 화상 처리 수단(13b))가 반송 롤(R)에 의해 롤투롤 방식으로 반송(도 6에 굵은 선 화살표로 나타내는 방향으로 반송)되는 장척 광학 적층체(F2)를 검사하여 장척 광학 적층체(F2)의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 2 결함 정보는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(제 6 공정(2회째)(S12))
2회째의 제 6 공정(S12)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 2 검사 장치(13)에서 취득한 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 결함 정보와, 제 2 판독 장치(12)에서 판독한 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(3)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기(14)로부터 입력된 장척 광학 적층체(F2)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 제 2 판독 장치(12)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한 시점과, 제 2 검사 장치(13)에서 결함을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점) 사이에 장척 광학 적층체(F2)가 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 2 식별 정보(N)와, 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
제 1 실시형태에서는 장척 광학 적층체(F2)의 제조 공정에서 2회의 검사(제 2 검사 장치(5)에 의한 검사, 제 2 검사 장치(13)에 의한 검사)를 실행하는 경우를 예로 들어 설명했지만 3회 이상 검사할 경우에는 2회째 이후의 검사에 있어서 판독 공정(S10), 제 4 공정(S11), 및 제 6 공정(S12)을 반복해서 실행하면 좋다.
이상에 설명한 제 1 실시형태에 의한 검사 방법에 의하면 제 1 식별 정보(M)가 잉크젯 방식으로 인자되고, 제 2 식별 정보(N)가 레이저 각인으로 인자되기 때문에 본 발명자들이 지견한 바와 같이 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)가 겹쳤다고 해도 양자를 구별해서 판독할 수 있다. 즉, 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)(나아가서는 제 2 식별 정보(N))를 연관 짓고, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 지을) 수 있다.
또한, 예를 들면 제 2 식별 정보(N)를 판독하고, 제 6 공정(S8, S12)에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함과 아울러, 제 7 공정(S9)에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1)의 상태에서 발생한 결함의 위치 및 장척 광학 적층체(F2)의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다.
단, 본 발명에 의한 검사 방법은 제 1 식별 정보(M)가 잉크젯 방식으로 인자되고, 제 2 식별 정보(N)가 레이저 각인으로 인자되는 양태에 한정되는 것은 아니다. 제 1 식별 정보(M) 및 제 2 식별 정보(N) 중 어느 한쪽을 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 레이저 각인으로 인자하거나, 또는 어느 한쪽을 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자해도 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)를 구별해서 판독할 수 있다.
또한, 바람직한 양태로서 제 1 실시형태에 의한 검사 방법은 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 식별 정보(M)(나아가서는 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)) 및 제 1 결함 정보의 연관과, 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N) 및 제 2 결함 정보의 연관에 의거하여 장척 광학 적층체(F2)의 결함의 위치에 마킹을 실시하는 제 8 공정(도 1에서는 도시 생략)을 포함하는 것도 가능하다. 구체적으로는 제 2 식별 정보(N)를 판독하고, 제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보에 포함되는 결함의 위치에 잉크젯 방식의 마킹이나, 특허문헌 1에 기재된 바와 마찬가지의 매직을 사용한 마킹을 실시하는 것도 가능하다. 마킹을 실시하는 제 8 공정이 포함됨으로써 결함의 위치에 마킹이 실시되기 때문에 육안으로도 결함의 위치를 특정 가능하다.
도 7은 제 1 실시형태에 의한 검사 방법에 의한 제 1 식별 정보(M) 및 제 2 식별 정보(N)의 인자예를 나타내는 도면이다. 도 7에 나타내는 예는 제 1 장척 광학 필름(F1)으로서 트리아세틸셀룰로오스(TAC)제의 보호 필름과, 아크릴제의 보호 필름을 사용하고, 제 2 장척 광학 필름으로서의 편광자의 양측에 이들 제 1 장척 광학 필름(F1)을 접합하여 형성한 장척 광학 적층체(F2)(편광 필름)이다. 도 7에 나타내는 예에서는 아크릴제 보호 필름에 투명 잉크(UV 잉크)를 사용한 잉크젯 방식으로 제 1 식별 정보(M)를 인자한 후 이 아크릴제 보호 필름과 TAC제의 보호 필름을 편광자의 양측에 각각 접합하고, 이후 TAC제의 보호 필름측에 레이저 각인으로 제 2 식별 정보(N)를 인자하고 있다. 도 7에 나타내는 원형의 요철이 아크릴제 보호 필름의 폭 방향 단부에 형성한 널링 가공부이며, 마름모형의 요철이 TAC제 보호 필름의 폭 방향 단부에 형성한 널링 가공부이다.
또한, 도 7에 나타내는 촬상 화상은 제 1 판독 장치(9)가 구비하는 UV 조명(91)과, 제 2 판독 장치(10)가 구비하는 조명(101)의 쌍방을 동시에 사용해서 장척 광학 적층체(F2)를 조명한 경우에 얻어지는 촬상 화상이다.
도 8은 도 7에 나타내는 장척 광학 적층체(F2)의 제 1 식별 정보(M)를 제 1 판독 장치(9)에서 판독한 결과의 일례를 나타낸다. 도 8에 나타내는 바와 같이 제 1 판독 장치(9)에서 취득한 촬상 화상 중 제 1 식별 정보(M)에 상당하는 화소 영역이 밝아져(제 2 식별 정보(N)에 상당하는 화소 영역은 배경과 마찬가지로 어두워져) 제 1 식별 정보(M)를 제 2 식별 정보(N)와 구별해서 판독 가능하다는 것을 알 수 있다.
도 9는 도 7에 나타내는 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)를 제 2 판독 장치(10)에서 판독한 결과의 일례를 나타낸다. 도 9에 나타내는 바와 같이 제 2 판독 장치(10)에서 취득한 촬상 화상 중 제 2 식별 정보(N)에 상당하는 화소 영역이 어두워져(제 1 식별 정보(M)에 상당하는 화소 영역은 배경과 마찬가지로 밝아져) 제 2 식별 정보(N)를 제 1 식별 정보(M)와 구별해서 판독 가능하다는 것을 알 수 있다.
또한, 제 1 실시형태에서는 널링 가공 공정(S1)을 실행한 후(제 1 장척 광학 필름(F1)에 널링 가공부를 형성한 후)에 제 2 공정(S3)에 있어서 제 1 장척 광학 필름(F1)에 제 1 식별 정보(M)를 인자하는 예에 대해서 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 널링 가공부를 형성하기 전에 널링 가공부가 형성될 예정인 부위에 제 1 식별 정보(M)를 인자하는(즉, 제 1 식별 정보(M)를 인자한 후에 널링 가공부를 형성한다) 것도 가능하다.
또한, 제 1 실시형태에서는 장척 광학 적층체(F2)의 검사를 복수 회 실행하는 경우를 예로 들어 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니고, 장척 광학 적층체(F2)의 검사를 1회만 실행하는 것도 가능하다. 이 경우에는 도 1에 나타내는 판독 공정(S10), 제 4 공정(2회째)(S11), 및 제 6 공정(2회째)(S12)은 불필요하다. 단, 제 1 장척 광학 필름(F1)의 상태에서 발생한 결함의 위치 및 장척 광학 적층체(F2)의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭할 때나, 장척 광학 적층체(F2)의 결함의 위치에 마킹을 실시하는 제 8 공정을 실행할 경우에는 판독 공정(S10)은 필요하다.
또한, 제 1 실시형태에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 검사를 1회만 실행하는 경우를 예로 들어 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니고, 장척 광학 적층체(F2)의 검사와 마찬가지로 복수 회 실행하는 것도 가능하다. 이 경우에는 2회째 이후의 검사에 있어서 도 1에 나타내는 제 3 공정(S4) 후에 제 1 식별 정보(M)를 판독하는 판독 공정, 제 1 공정(S2)과 마찬가지로 제 1 결함 정보를 취득하는 공정, 및 제 3 공정(S4)과 마찬가지로 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억하는 공정을 반복해서 실행할 필요가 있다.
또한, 제 1 실시형태에서는 제 7 공정(S9)을 실행함으로써 장척 광학 적층체(F2)의 제 2 식별 정보(N)에 의거하여 제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보를 일원 관리하는 경우를 예로 들어 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 제 7 공정(S9)을 실행하는 일 없이 제 1 식별 정보(M)에 의거하여 제 1 결함 정보를 관리하고, 제 2 식별 정보(N)에 의거하여 제 2 결함 정보를 관리하는 것도 가능하다. 구체적으로는, 예를 들면 제 1 식별 정보(M)를 판독하고, 제 3 공정(S4)에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1)의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하고, 제 2 식별 정보(N)를 판독하고, 제 6 공정(S8)에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함으로써 장척 광학 적층체(F2)의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것도 가능하다.
또한, 제 1 실시형태에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)이 보호 필름이며, 제 2 장척 광학 필름이 편광자이며, 장척 광학 적층체(F2)가 편광 필름인 경우를 예로 들어 설명했지만 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 제 1 장척 광학 필름(F1)이 위상차 필름이며, 제 2 장척 광학 필름이 편광자이어도 좋다. 또한, 제 1 장척 광학 필름(F1)이 위상차 필름, 반사형 편광자, 반사 방지 필름, ITO 필름 등의 도전성 필름, 예를 들면 폴리이미드 등으로 제조되는 윈도우 필름 등이며, 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름(편광자와 보호 필름의 적층체)이어도 좋다.
<제 2 실시형태>
본 발명의 제 2 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법은 제 1 장척 광학 필름(F1)인 보호 필름에 안티글레어 처리 등의 표면 처리가 실시되고, 표면 처리의 전후에서 각각 검사를 실행하는 점이 제 1 실시형태와 상이하다. 이하, 제 2 실시형태에 의한 검사 방법에 대해서 주로 제 1 실시형태와 상이한 점을 설명하고, 제 1 실시형태와 마찬가지의 점에 대해서는 적당히 설명을 생략한다.
도 10은 제 2 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정을 부분적으로 나타내는 플로우도이다. 구체적으로는 도 10은 도 1에 나타내는 제 1 실시형태에 의한 검사 방법에 대해서 제 2 실시형태에 의한 검사 방법으로 부가되는 공정을 나타낸다.
제 2 실시형태에 의한 검사 방법은 제 1 실시형태에 의한 검사 방법에 포함되는 공정(S1~S12)에 추가하여 도 10에 나타내는 바와 같이 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 실행되는 제 3 공정(S4)과 접합 공정(S5) 사이에 파선으로 둘러싼 공정(S20)을 포함하고 있다. 구체적으로는 제 2 실시형태에 의한 검사 방법은 공정(S21~S24)을 포함하고 있다. 이하, 각 공정에 대해서 순서대로 설명한다.
(표면 처리 공정(S21))
표면 처리 공정(S21)에서는 제 3 공정(S4) 실행 후에 롤형상으로 권회된 제 1 장척 광학 필름(F1)(보호 필름)의 원반 롤이 조출되고, 표면 처리가 실시된다. 표면 처리 공정(S21)에서 실시되는 표면 처리로서는 안티글레어 처리 외에 하드 코트 처리, 반사 방지 처리, 스티킹 방지 처리 등을 예시할 수 있다.
(판독 공정(S22))
판독 공정(S22)에서는 제 1 실시형태의 제 1 판독 장치(9)와 마찬가지의 구성을 갖는 판독 장치에서 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 식별 정보(M)를 판독한다. 판독한 제 1 식별 정보(M)는 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
(제 1 공정(2회째)(S23))
2회째의 제 1 공정(S23)에서는 제 1 실시형태의 제 1 검사 장치(1)(촬상 수단(1a) 및 화상 처리 수단(1b))와 마찬가지의 구성을 갖는 검사 장치가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하여 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 결함 정보인 제 1' 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 1' 결함 정보는 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
(제 3 공정(2회째)(S24))
2회째의 제 3 공정(S24)에서는 제 1 연산 기억 장치(4)가 2회째의 제 1 공정(S23)에서 취득한 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1' 결함 정보와, 판독 공정(S22)에서 판독한 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억한다. 제 1 연산 기억 장치(4)에는 제 3 공정(S4)에 의해 표면 처리 전의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)가 연관 지어 기억되어 있기 때문에 제 1 연산 기억 장치(4)는 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1' 결함 정보를 제 1 결함 정보에 덮어쓰고, 제 1 식별 정보(M)와 연관 지어 기억한다.
구체적으로는 제 1 연산 기억 장치(4)는 측장기(3)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기로부터 입력된 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 판독 장치에서 제 1 식별 정보(M)를 판독한 시점과, 검사 장치에서 결함을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점) 사이에 표면 처리 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)이 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 1 식별 정보(M)와, 제 1 식별 정보(M)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
이상에 설명한 제 2 실시형태에 의한 검사 방법으로도 상술한 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴으로 제 1 식별 정보(M) 및 제 2 식별 정보(N)가 인자된다. 따라서, 제 2 실시형태에 의한 검사 방법에 의하면 제 1 실시형태와 마찬가지로 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)가 겹쳤다고 해도 양자를 구별해서 판독할 수 있다. 즉, 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)(나아가서는 제 2 식별 정보(N))를 연관 짓고, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 지을) 수 있다.
또한, 예를 들면 제 2 식별 정보(N)를 판독하고, 제 6 공정(S8, S12)에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함과 아울러, 제 7 공정(S9)에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1)(표면 처리 전후의 쌍방의 제 1 장척 광학 필름)의 상태에서 발생한 결함의 위치 및 장척 광학 적층체(F2)의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다.
<제 3 실시형태>
본 발명의 제 3 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법은 제 1 장척 광학 필름(F1)이 액정 재료가 도포되는 기재이며, 제 1 장척 광학 필름(F1)으로의 액정 재료의 도포의 전후에서 검사를 실행하는 점과, 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름이며, 제 2 장척 광학 필름을 검사하여 제 2 결함 정보를 취득하고, 제 2 장척 광학 필름에 제 2 식별 정보(N)를 인자하는 점이 제 1 실시형태와 상이하다. 이하, 제 3 실시형태에 의한 검사 방법에 대해서 주로 제 1 실시형태와 상이한 점을 설명하고, 제 1 실시형태와 마찬가지의 점에 대해서는 적당히 설명을 생략한다. 또한, 제 1 실시형태에서는 장척 광학 적층체의 참조 부호로서 F2를 사용했지만 제 3 실시형태에서는 제 2 장척 광학 필름의 참조 부호로서 F2를 사용하는 것으로 한다.
도 11~도 13은 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 개략 공정을 나타내는 플로우도이다. 도 11은 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정을 나타내는 플로우도이다. 도 12는 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정을 나타내는 플로우도이다. 도 13은 장척 광학 적층체의 제조 공정에서 실행되는 개략 공정을 나타내는 플로우도이다.
또한, 도 14는 도 11에 나타내는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 도 15는 도 12에 나타내는 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 도 16은 도 13에 나타내는 장척 광학 적층체의 제조 공정에 있어서의 각 필름의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 또한, 도 14~도 16에 나타내어진 구성 요소의 치수, 축척, 및 형상은 실제의 것과는 상이한 경우가 있다는 것에 유의하길 바란다.
제 3 실시형태에 의한 검사 방법은 도 11에 나타내는 바와 같이 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 실행되는 공정(S31~S38)과, 도 12에 나타내는 바와 같이 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서 실행되는 공정(S41~S45)과, 도 13에 나타내는 바와 같이 장척 광학 적층체의 제조 공정에서 실행되는 공정(S51~S57)을 포함하고 있다. 이하, 각 공정에 대해서 순서대로 설명한다.
[제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 실행되는 공정]
(기재 제조 공정(S31))
도 11에 나타내는 기재 제조 공정(S31)에서는 도 14(a)에 나타내는 제 1 장척 광학 필름(F1)(기재)이 제조된다. 제 1 장척 광학 필름(F1)은, 예를 들면 수지 재료를 용융 압출해서 수지 필름을 제막하고, 이것을 연신함으로써 제조된다.
제 1 장척 광학 필름(F1)을 형성하는 수지 재료로서는, 예를 들면 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르; 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀; 노보넨계 폴리머 등의 환형상 폴리올레핀; 디아세틸셀룰로오스, 트리아세틸셀룰로오스 등의 셀룰로오스계 폴리머; 아크릴계 폴리머; 스티렌계 폴리머; 폴리카보네이트, 폴리아미드, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 바람직하게는 수지 재료로서 노보넨계 폴리머 등의 환형상 폴리올레핀이 사용된다.
(제 1 공정(S32))
제 1 공정(S32)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 1 검사 장치(1)(촬상 수단(1a) 및 화상 처리 수단(1b))가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하여 제 1 장척 광학 필름(F1)의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 1 결함 정보는 제 1 실시형태와 동일한 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
또한, 후술하는 바와 같이 기재인 제 3 실시형태의 제 1 장척 광학 필름(F1)은 제 2 장척 광학 필름(F2)과 접합한 후에 박리 제거되는 것이다. 그러나 제 1 장척 광학 필름에 결함이 존재하면 제 1 장척 광학 필름에 액정 재료가 도포되어 형성되는 액정층에 제 1 장척 광학 필름의 결함이 전사되거나, 반송중에 제 1 장척 광학 필름이 파단되어 제조 공정에 지장이 발생할 가능성이 있다. 이 때문에 제 3 실시형태에서도 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하는 의의가 있다.
(제 2 공정(S33))
제 2 공정(S33)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 1 인자 장치(2)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 폭 방향 단부에 제 1 장척 광학 필름(F1)의 길이 방향의 소정 간격마다 도 14(b)에 나타내는 제 1 식별 정보(M)를 잉크젯 방식(바람직하게는 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식)으로 인자한다.
(제 3 공정(S34))
제 3 공정(S34)에서는 제 1 연산 기억 장치(4)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 1 연산 기억 장치(4)는 측장기(3)로부터 입력된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 제 1 검사 장치(1)에 의해 결함을 검출한 시점과, 제 1 인자 장치(2)에 의해 제 1 식별 정보(M)를 인자한 시점 사이에 제 1 장척 광학 필름(F1)이 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 1 식별 정보(M)와, 제 1 식별 정보(M)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
(도포 공정(S35))
도포 공정(S35)에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)에 액정 재료(액정성 조성물)가 도포되고, 제 1 장척 광학 필름(F1) 상에 도 14(c)에 나타내는 액정층(F11)(배향 액정층)이 형성된다. 도 14(c)에 나타내는 바와 같이 액정 재료는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 식별 정보(M)가 인자된 면과 반대측의 면에 도포되고, 이 반대측의 면에 배향 액정층(F11)이 형성된다.
제 1 장척 광학 필름(F1)에 도포되는 액정성 조성물은 액정 화합물을 포함한다. 액정성 조성물을 제 1 장척 광학 필름(F1)에 도포한 후 액정 화합물을 소정 방향으로 배향시키고, 이 배향 상태를 고정함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1) 상에 배향 액정층(F11)이 형성된다.
액정 화합물로서는, 예를 들면 막대형상 액정 화합물이나, 원반형상 액정 화합물을 들 수 있다. 제 1 장척 광학 필름(F1)(기재)의 배향 규제력에 의해 호모지니어스 배향하기 쉬운 점에서 액정 화합물로서 막대형상 액정 화합물을 사용하는 것이 바람직하다. 막대형상 액정 화합물은 주쇄형 액정이어도, 측쇄형 액정이어도 좋다. 막대형상 액정 화합물은 액정 폴리머이어도, 중합성 액정 화합물의 중합물이어도 좋다. 중합 전의 액정 화합물(모노머)이 액정성을 나타내는 것이면 중합 후에는 액정성을 나타내지 않는 것이어도 좋다.
액정 화합물은 가열에 의해 액정성을 발현하는 서모트로픽 액정인 것이 바람직하다. 서모트로픽 액정은 온도 변화에 따라 결정상, 액정상, 등방상의 상전이가 발생한다. 액정성 조성물에 포함되는 액정 화합물은 네마틱 액정, 스멕틱 액정, 콜레스테릭 액정 중 어느 것이어도 좋다. 네마틱 액정에 카이랄제를 첨가하여 콜레스테릭 배향성을 갖게 해도 좋다.
액정성 조성물에 포함되는 액정 화합물이 서모트로픽 액정일 경우에는 제 1 장척 광학 필름(F1) 상에 액정성 조성물을 도포하고, 가열하여 액정 화합물을 액정상태로 해서 배향시켜 액정성 조성물층을 형성한다. 그리고 액정성 조성물층을 가열하여 액정상으로 함으로써 액정 화합물이 배향한 배향 액정층(F11)이 형성된다. 배향 액정층(F11)의 광학 특성은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 1/4 파장판이나, 1/2 파장판으로서 기능한다. 바람직하게는 배향 액정층(F11)은 포지티브 A 플레이트인 1/4 파장판으로서 기능하는 호모지니어스 배향 액정층이 된다.
(판독 공정(S36))
판독 공정(S36)에서는 제 1 실시형태의 제 1 판독 장치(9)와 마찬가지의 구성을 갖는 판독 장치에서 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 액정 재료 도포 후(배향 액정층(F11) 형성 후)의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 식별 정보(M)를 판독한다. 판독한 제 1 식별 정보(M)는 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
(제 1 공정(2회째)(S37))
2회째의 제 1 공정(S37)에서는 제 1 실시형태의 제 1 검사 장치(1)(촬상 수단(1a) 및 화상 처리 수단(1b))와 마찬가지의 구성을 갖는 검사 장치가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 액정 재료 도포 후(배향 액정층(F11) 형성 후)의 제 1 장척 광학 필름(F1)을 검사하여 액정 재료 도포 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 결함 정보인 제 1' 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 1' 결함 정보는 제 1 연산 기억 장치(4)에 입력된다.
(제 3 공정(2회째)(S38))
2회째의 제 3 공정(S38)에서는 제 1 연산 기억 장치(4)가 2회째의 제 1 공정(S37)에서 취득한 액정 재료 도포 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1' 결함 정보와, 판독 공정(S36)에서 판독한 제 1 식별 정보(M)를 연관 지어 기억한다. 제 1 연산 기억 장치(4)에는 제 3 공정(S34)에 의해 액정 재료 도포 전의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)가 연관 지어 기억되어 있기 때문에 제 1 연산 기억 장치(4)는 액정 재료 도포 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1' 결함 정보를 제 1 결함 정보에 덮어쓰고, 제 1 식별 정보(M)와 연관 지어 기억한다.
구체적으로는 제 1 연산 기억 장치(4)는 측장기(3)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기로부터 입력된 액정 재료 도포 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 판독 장치에서 제 1 식별 정보(M)를 판독한 시점과, 검사 장치에서 결함을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점) 사이에 액정 재료 도포 후의 제 1 장척 광학 필름(F1)이 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 1 식별 정보(M)와, 제 1 식별 정보(M)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
[제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서 실행되는 공정]
(보호 필름 제조 공정(S41))
도 12에 나타내는 보호 필름 제조 공정(S41)에서는 도 15(a)에 나타내는 보호 필름(F21)이 제조된다. 보호 필름(F21)으로서는 제 1 실시형태의 제 1 장척 광학 필름(F1)과 마찬가지의 것을 사용할 수 있다. 즉, 보호 필름(F21)으로서는, 예를 들면 트리아세틸셀룰로오스 등의 아세테이트계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리아릴레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리술폰계 수지, 폴리에테르술폰계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 포리노보넨계 수지, (메타)아크릴계 수지, 폴리메틸메타크릴레이트계 수지, 액정 폴리머 등의 폴리머로 이루어지는 필름이 바람직하게 사용된다.
보호 필름(F21)은 캐스팅법, 캘린더법, 압출법 중 어느 하나로 제조한 것이어도 좋다. 제조된 보호 필름(F21)은 롤형상으로 권회되어 원반 롤이 된다.
또한, 제 3 실시형태에서는 제 1 실시형태의 제 1 장척 광학 필름(F1)과 상이하며, 보호 필름(F21)에 식별 정보가 인자되지 않는다.
(접합 공정(S42))
제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서는 보호 필름(F21)의 원반 롤이 조출됨과 아울러, 별도 제조된 편광자(F22)의 원반 롤이 조출된다. 그리고 접합 공정(S42)에서는 편광자(F22)의 편측 또는 양측에 접착제 등을 통해 보호 필름(F21)을 접합하여 도 15(b)에 나타내는 바와 같이 보호 필름(F21)과 편광자(F22)가 적층된 제 2 장척 광학 필름(F2)(편광 필름)을 얻는다.
편광자(F22)로서는 제 1 실시형태의 제 2 장척 광학 필름과 마찬가지의 것을 사용할 수 있다. 즉, 편광자(F22)로서는 염색 처리, 가교 처리, 및 연신 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 건조시켜 제조된 것을 사용할 수 있다.
(제 4 공정(S43))
제 4 공정(S43)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 2 검사 장치(5)(촬상 수단(5a) 및 화상 처리 수단(5b))가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 제 2 장척 광학 필름(F2)을 검사하여 제 2 장척 광학 필름(F2)의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 2 결함 정보는 제 1 실시형태와 동일한 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(제 5 공정(S44))
제 5 공정(S44)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 2 인자 장치(6)가 제 2 장척 광학 필름(F2)의 폭 방향 단부에 제 2 장척 광학 필름(F2)의 길이 방향의 소정 간격마다 도 15(c)에 나타내는 제 2 식별 정보(N)를 레이저 각인으로 인자한다. 구체적으로는 제 2 장척 광학 필름(F2)을 구성하는 보호 필름(F21)에 제 2 식별 정보(N)를 인자한다.
(제 6 공정(S45))
제 6 공정(S45)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제 1 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(7)로부터 입력된 제 2 장척 광학 필름(F2)의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 제 2 검사 장치(5)에 의해 결함을 검출한 시점과, 제 2 인자 장치(6)에 의해 제 2 식별 정보(N)를 인자한 시점 사이에 제 2 장척 광학 필름(F2)이 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 2 식별 정보(N)와, 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
[장척 광학 적층체의 제조 공정에서 실행되는 공정]
상술한 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제조 공정에서 제조된 제 1 장척 광학 필름(F1)(기재인 제 1 장척 광학 필름(F1)의 일방의 면에 배향 액정층(F11)이 형성되고, 타방의 면에 제 1 식별 정보(M)가 잉크젯 방식으로 인자된 적층체)은 롤형상으로 권회되어 원반 롤이 된다. 또한, 상술한 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제조 공정에서 제조된 제 2 장척 광학 필름(F2)(보호 필름(F21)과 편광자(F22)가 적층되고, 보호 필름(F21)에 제 2 식별 정보(N)가 레이저 각인으로 인자된 편광 필름)은 롤형상으로 권회되어 원반 롤이 된다. 원반 롤이 된 제 1 장척 광학 필름(F1) 및 제 2 장척 광학 필름(F2)은 장척 광학 적층체의 제조 공정으로 운반된다. 장척 광학 적층체의 제조 공정에서는 운반된 제 1 장척 광학 필름(F1) 및 제 2 장척 광학 필름(F2)의 원반 롤이 사용된다.
도 13에 나타내는 바와 같이 제 3 실시형태의 장척 광학 적층체의 제조 공정은 No. 1 공정과 No. 2 공정을 포함하고 있다. 또한, 도 13에 나타내는 「A」는 도 11 및 도 12에 나타내는 「A로」에 후속하는 공정인 것을 의미하고 있다.
(접합 공정(S51))
No. 1 공정에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)(제 1 장척 광학 필름(F1)과 배향 액정층(F11)의 적층체)의 원반 롤이 조출되고, 제 2 장척 광학 필름(F2)(편광 필름)의 원반 롤이 조출된다. 그리고 접합 공정(S51)에서는 제 1 장척 광학 필름(F1)의 배향 액정층(F11)측과, 제 2 장척 광학 필름(F2)의 편광자(F22)측이 대향하도록 점착제(20)(예를 들면, 아크릴계의 점착제)를 통해 제 1 장척 광학 필름(F1)과 제 2 장척 광학 필름(F2)을 접합하여 도 16(a)에 나타내는 바와 같이 제 1 장척 광학 필름(F1)과 제 2 장척 광학 필름(F2)이 적층된 장척 광학 적층체를 얻는다. 이 장척 광학 적층체를 구성하는 제 1 장척 광학 필름(F1)에 제 1 식별 정보(M)가 인자되고, 제 2 장척 광학 필름(F2)의 보호 필름(F21)에 제 2 식별 정보(N)가 인자되어 있다.
(제 7 공정(S52))
제 7 공정(S52)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 장척 광학 적층체에 대해서 제 1 실시형태와 동일한 제 1 판독 장치(9)에서 판독한 제 1 식별 정보(M)와, 제 2 판독 장치(10)에서 판독한 제 2 식별 정보(N)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다(단, 도 4에 나타내는 형태와 상이하며, 제 1 판독 장치(9)는 장척 광학 적층체의 최하면에 인자된 제 1 식별 정보(M)를 판독할 수 있고, 제 2 판독 장치(10)는 장척 광학 적층체의 최상면에 인자된 제 2 식별 정보(N)를 판독할 수 있도록 배치된다). 여기에서 제 2 연산 기억 장치(8)에는 제 1 실시형태와 마찬가지로 미리 제 1 연산 기억 장치(4)에 기억된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관(제 1 식별 정보(M)와, 제 1 식별 정보(M)를 기준으로 한 결함의 좌표의 관계)이 입력되고, 기억되어 있다. 또한, 제 2 연산 기억 장치(8)에는 제 1 실시형태와 동일한 측장기(11)로부터 장척 광학 적층체의 반송 방향으로의 이동량이 입력된다.
제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(11)로부터 입력된 장척 광학 적층체의 반송 방향으로의 이동량에 의거하여 제 1 판독 장치(9)에서 제 1 식별 정보(M)를 판독한 시점(제 1 식별 정보(M)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된 시점)과, 제 2 판독 장치(10)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한 시점(제 2 식별 정보(N)가 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된 시점) 사이에 장척 광학 적층체가 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악할 수 있다. 이 양 시점 사이의 장척 광학 적층체의 이동량에 의거하여 제 2 연산 기억 장치(8)는 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)의 장척 광학 적층체의 길이 방향을 따른 위치 어긋남을 산출할 수 있다.
따라서, 제 2 연산 기억 장치(8)는 미리 기억된 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)의 연관과, 산출한 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)의 위치 어긋남에 의거하여 제 1 장척 광학 필름(F1)의 제 1 결함 정보와 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억할 수 있다. 바꿔 말하면 제 2 식별 정보(N)와, 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억할 수 있다. 이와 같이 제 7 공정(S52)을 실행함으로써 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제 2 식별 정보(N)에 의거하여 제 1 결함 정보 및 제 2 결함 정보를 일원 관리할 수 있다.
(제 3 결함 정보 취득 공정(S53))
제 3 결함 정보 취득 공정(S53)에서는 제 1 실시형태의 제 2 검사 장치(5)(촬상 수단(5a) 및 화상 처리 수단(5b))와 마찬가지의 구성을 갖는 검사 장치가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 도 16(a)에 나타내는 장척 광학 적층체를 검사하여 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 3 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 3 결함 정보는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(기억 공정(S54))
기억 공정(S54)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 3 결함 정보 취득 공정(S53)에서 취득한 장척 광학 적층체의 제 3 결함 정보와, 제 7 공정(S52)에서 판독한 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 2 연산 기억 장치(8)는 측장기(11)와 마찬가지의 구성을 갖는 측장기로부터 입력된 장척 광학 적층체의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 제 2 판독 장치(10)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한 시점과, 검사 장치에서 결함을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점) 사이에 장척 광학 적층체가 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 2 식별 정보(N)와, 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다. 이 기억 공정(S54)을 실행함으로써 제 2 장척 광학 필름(F2)의 제 2 식별 정보(N)에 의거하여 제 1 결함 정보, 제 2 결함 정보, 및 제 3 결함 정보를 일원 관리할 수 있다.
기억 공정(S54)을 실행한 후의 장척 광학 적층체는 롤형상으로 권회되어 No. 2 공정으로 운반된다.
(판독 공정(S55))
No. 2 공정에서는 롤형상으로 권회된 장척 광학 적층체가 조출되고, 최초로 도 16(a)에 나타내는 장척 광학 적층체를 구성하는 제 1 장척 광학 필름(F1)(기재)이 박리 제거된다. 그리고, 예를 들면 자외선 경화형 접착제(30)를 통해 장척 광학 적층체를 구성하는 배향 액정층(F11)에 액정 분자가 기재면(박리 제거 전의 제 1 장척 광학 필름(F1)의 면)에 대해서 수직 배향(호메오트로픽 배향)하고, 포지티브 C 플레이트로서 기능하는 배향 액정층(40)을 형성한다. 또한, 이 배향 액정층(40)에 점착제(20)와 마찬가지의 점착제(50)를 도포한다. 이상의 공정에 의해 도 16(b)에 나타내는 장척 광학 적층체를 형성한다.
도 16(b)에 나타내는 장척 광학 적층체는 편광 필름인 제 2 장척 광학 필름(F2) 상에 배향 액정층(F11)(바람직하게는 포지티브 A 플레이트인 1/4 파장판으로서 기능하는 호모지니어스 배향 액정층)과, 포지티브 C 플레이트로서 기능하는 배향 액정층(40)이 순서대로 적층되어 있기 때문에 경사 방향으로부터의 외광에 대해서도 반사광을 차폐 가능한 원편광판으로서 기능할 수 있다. 또한, 제 3 실시형태에서는 편광 필름인 제 2 장척 광학 필름(F2) 상에 배향 액정층(F11), 배향 액정층(40)의 순서대로 적층된 장척 광학 적층체를 제조하고 있지만 순번을 바꿔 넣어 제 2 장척 광학 필름(F2) 상에 배향 액정층(40), 배향 액정층(F11)의 순서대로 적층된 장척 광학 적층체를 제조해도 좋다. 이 경우에는 제 1 장척 광학 필름(F1)(기재) 상에 배향 액정층(40)이 형성되게 된다.
도 16(b)에 나타내는 장척 광학 적층체는 제 1 식별 정보(M)가 인자된 제 1 장척 광학 필름(F1)이 박리 제거되어 있기 때문에 제 2 장척 광학 필름(F2)의 보호 필름(F21)에 인자된 제 2 식별 정보(N)밖에 존재하지 않는다. 그리고 No. 2 공정에서는 이 장척 광학 적층체에 대해서 판독 공정(S55)이 실행된다.
판독 공정(S55)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 2 판독 장치(12)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한다. 판독한 제 2 식별 정보(N)는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(제 3 결함 정보 취득 공정(2회째)(S56))
2회째의 제 3 결함 정보 취득 공정(S56)에서는 제 1 실시형태와 동일한 제 2 검사 장치(13)(촬상 수단(13a) 및 화상 처리 수단(13b))가 반송 롤에 의해 롤투롤 방식으로 반송되는 장척 광학 적층체(도 16(b))를 검사하여 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 3 결함 정보를 취득한다. 취득한 제 3 결함 정보는 제 2 연산 기억 장치(8)에 입력된다.
(기억 공정(2회째)(S57))
2회째의 기억 공정(S57)에서는 제 2 연산 기억 장치(8)가 제 2 검사 장치(13)에서 취득한 장척 광학 적층체의 제 2 결함 정보와, 제 2 판독 장치(12)에서 판독한 제 2 식별 정보(N)를 연관 지어 기억한다. 구체적으로는 제 2 연산 기억 장치(8)는 제 1 실시형태와 동일한 측장기(14)로부터 입력된 장척 광학 적층체의 반송 방향으로의 이동량을 사용해서 제 2 판독 장치(12)에서 제 2 식별 정보(N)를 판독한 시점과, 제 2 검사 장치(13)에서 결함을 검출한 시점(촬상 화상에 있어서의 결함에 상당하는 화소 영역의 좌표를 특정한 시점) 사이에 장척 광학 적층체가 얼마만큼 반송 방향으로 이동하고 있는지를 파악하고, 적어도 제 2 식별 정보(N)와 제 2 식별 정보(N)를 기준으로 한 결함의 좌표를 연관 지어 기억한다.
이상에 설명한 제 3 실시형태에 의한 검사 방법에서는 제 1 식별 정보(M)를 잉크젯 방식으로 인자하고, 제 2 식별 정보(N)를 레이저 각인으로 인자하고 있다(단, 이것에 한정되지 않고, 상술한 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴으로 제 1 식별 정보(M) 및 제 2 식별 정보(N)를 인자하면 좋다). 따라서, 제 3 실시형태에 의한 검사 방법에 의하면 제 1 실시형태와 마찬가지로 제 1 식별 정보(M)와 제 2 식별 정보(N)가 상하 방향으로 보아 겹쳤다고 해도 양자를 구별해서 판독할 수 있다. 즉, 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을(제 1 결함 정보와 제 1 식별 정보(M)(나아가서는 제 2 식별 정보(N))를 연관 짓고, 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 짓고, 제 3 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)를 연관 지을) 수 있다.
또한, 예를 들면 제 2 식별 정보(N)를 판독하고, 제 6 공정(S45)에서 기억한 제 2 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용하고, 제 7 공정(S52)에서 기억한 제 1 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용하고, 기억 공정(S54, S57)에서 기억한 제 3 결함 정보와 제 2 식별 정보(N)의 연관을 사용함으로써 제 1 장척 광학 필름(F1)의 상태에서 발생한 결함의 위치, 제 2 장척 광학 필름(F2)의 상태에서 발생한 결함의 위치, 및 장척 광학 적층체의 상태에서 발생한 결함의 위치를 피해 제품을 펀칭하는 것이 가능하다.
또한, 제 3 실시형태에서는 제 1 식별 정보(M)가 인자되는 제 1 장척 광학 필름(F1)이 액정 재료가 도포되는 기재(배향 액정층(F11)이 형성되는 기재)이며, 배향 액정층(F11)이 1/4 파장판으로서 기능하는 경우를 예로 들어 설명했지만 이것에 한정되는 것은 아니다. 제 1 장척 광학 필름(F1)으로서 1/4 파장판으로서 기능하는 수지 필름의 연신 필름(위상차 필름)을 사용하고, 이 연신 필름에 제 1 식별 정보(M)를 인자하는 양태를 채용하는 것도 가능하다(이 경우의 제 1 장척 광학 필름(F1)은 제 2 장척 광학 필름(F2)과 접합한 후에도 박리 제거되지 않는다). 이와 같은 수지 필름의 재료로서는, 예를 들면 폴리카보네이트계 수지, 폴리에스테르카보네이트계 수지, 폴리에스테르계 수지, 폴리비닐아세탈계 수지, 폴리아릴레이트계 수지, 환형상 올레핀계 수지, 셀룰로오스계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리에테르계 수지, 폴리스티렌계 수지, 아크릴계 수지를 들 수 있다. 이들 수지는 단독으로 사용해도 좋고, 조합해서(예를 들면, 블렌드, 공중합시켜) 사용해도 좋다.
<제 4 실시형태>
본 발명의 제 4 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법은 제 1 실시형태에 의한 검사 방법과 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 조합, 또는 제 2 실시형태에 의한 검사 방법과 제 3 실시형태에 의한 검사 방법의 조합이다.
구체적으로는 제 4 실시형태에 의한 검사 방법에서는 제 1 및 제 2 실시형태에 의한 검사 방법과 마찬가지로 보호 필름에 식별 정보를 인자하고, 제 1~제 3 실시형태에 의한 검사 방법과 마찬가지로 편광 필름(보호 필름과 편광자의 적층체)에 식별 정보를 인자하고, 제 3 실시형태에 의한 검사 방법과 마찬가지로 기재 또는 위상차 필름에 식별 정보를 인자한다.
도 17은 제 4 실시형태에 의한 장척 광학 적층체의 검사 방법에 있어서의 인자 패턴을 설명하는 설명도이다. 도 17(a)는 제 3 실시형태의 접합 공정(S51)에서 얻어지는 장척 광학 적층체(도 16(a)에 나타내는 기재(F1)를 박리 제거하기 전의 장척 광학 적층체)에 대응하는 장척 광학 적층체의 상태를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 도 17(a)는 제 4 실시형태에서의 바람직한 인자 패턴을 나타낸다.
도 17(a)에 나타내는 바와 같이 기재(F1)(또는 위상차 필름)에 인자하는 식별 정보를 제 1 식별 정보(M), 편광 필름(F2)(구체적으로는 보호 필름(F21))에 인자하는 식별 정보를 제 2 식별 정보(N), 보호 필름(F21)에 인자하는 식별 정보를 제 3 식별 정보(P)라고 한다. 이때 본 발명자들의 지견에 의하면 도 17(b)에 나타내는 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴으로 제 1 식별 정보(M), 제 2 식별 정보(N), 및 제 3 식별 정보(P)를 인자하는 것이 바람직하다. 즉, 제 1 식별 정보(M), 제 2 식별 정보(N), 및 제 3 식별 정보(P) 중 레이저 각인으로 인자하는 것은 1개의 식별 정보만이며, 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하는 것도 1개의 식별 정보만인 것이 바람직하다. 도 17(b)에 나타내는 인자 패턴 1~6 중 어느 하나의 패턴으로 제 1 식별 정보(M), 제 2 식별 정보(N), 및 제 3 식별 정보(P)를 인자함으로써 제 1 식별 정보(M), 제 2 식별 정보(N), 및 제 3 식별 정보(P)가 상하 방향으로 보아 겹쳤다고 해도 이들을 구별해서 판독할 수 있다. 즉, 결함 정보와 식별 정보를 적절하게 연관 지을 수 있다.
1: 제 1 검사 장치 2: 제 1 인자 장치
3, 7, 11, 14: 측장기 4: 제 1 연산 기억 장치
5, 13: 제 2 검사 장치 6: 제 2 인자 장치
8: 제 2 연산 기억 장치 9: 제 1 판독 장치
10, 12: 제 2 판독 장치 100: 검사 시스템
F1: 제 1 장척 광학 필름
F2: 장척 광학 적층체, 제 2 장척 광학 필름
M: 제 1 식별 정보 N: 제 2 식별 정보

Claims (10)

  1. 제 1 장척 광학 필름을 검사하여 상기 제 1 장척 광학 필름의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득하는 제 1 공정과,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 상기 제 1 장척 광학 필름의 길이 방향의 소정 간격마다 제 1 식별 정보를 인자하는 제 2 공정과,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 3 공정과,
    제 2 장척 광학 필름을 검사하거나, 또는 상기 제 1 장척 광학 필름과 상기 제 2 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체를 검사하여 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득하는 제 4 공정과,
    상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 폭 방향 단부에 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 길이 방향의 소정 간격마다 제 2 식별 정보를 인자하는 제 5 공정과,
    상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 결함 정보와 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 6 공정을 포함하고,
    상기 제 2 공정에 있어서 인자하는 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 5 공정에 있어서 인자하는 상기 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽을 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 레이저 각인으로 인자하거나, 또는 어느 한쪽을 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고, 어느 다른 쪽을 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 공정에 있어서 상기 제 1 식별 정보를 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자하고,
    상기 제 5 공정에 있어서 상기 제 2 식별 정보를 레이저 각인으로 인자하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 7 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 1 결함 정보와, 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 식별 정보 및 상기 제 2 결함 정보에 의거하여 상기 장척 광학 적층체의 결함의 위치에 마킹을 실시하는 제 8 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름이 보호 필름이며,
    상기 제 2 장척 광학 필름이 편광자이며,
    상기 장척 광학 적층체가 편광 필름인 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름이 위상차 필름 또는 액정 재료가 도포되는 기재이며,
    상기 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름인 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름이 반사형 편광자이며,
    상기 제 2 장척 광학 필름이 편광 필름인 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공부가 형성되고,
    상기 제 2 공정에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 널링 가공부에 상당하는 부위에 상기 제 1 식별 정보를 잉크젯 방식으로 인자하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  9. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 널링 가공부가 형성되어 있으며,
    상기 제 5 공정에 있어서 상기 제 1 장척 광학 필름의 널링 가공부보다 폭 방향 내측에 위치하는 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 부위에 상기 제 2 식별 정보를 인자하는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 방법.
  10. 제 1 장척 광학 필름을 검사하여 상기 제 1 장척 광학 필름의 결함 정보인 제 1 결함 정보를 취득하는 제 1 검사 장치와,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 폭 방향 단부에 상기 제 1 장척 광학 필름의 길이 방향의 소정 간격마다 제 1 식별 정보를 인자하는 제 1 인자 장치와,
    상기 제 1 장척 광학 필름의 상기 제 1 결함 정보와 상기 제 1 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 1 연산 기억 장치와,
    제 2 장척 광학 필름을 검사하거나, 또는 상기 제 1 장척 광학 필름과 상기 제 2 장척 광학 필름이 적층된 장척 광학 적층체를 검사하여 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 결함 정보인 제 2 결함 정보를 취득하는 제 2 검사 장치와,
    상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 폭 방향 단부에 상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 길이 방향의 소정 간격마다 제 2 식별 정보를 인자하는 제 2 인자 장치와,
    상기 제 2 장척 광학 필름 또는 상기 장척 광학 적층체의 상기 제 2 결함 정보와 상기 제 2 식별 정보를 연관 지어 기억하는 제 2 연산 기억 장치를 구비하고,
    상기 제 1 인자 장치가 인자하는 상기 제 1 식별 정보 및 상기 제 2 인자 장치가 인자하는 상기 제 2 식별 정보 중 어느 한쪽이 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 레이저 각인으로 인자되거나, 또는 어느 한쪽이 투명 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자되고, 어느 다른 쪽이 유색 잉크를 사용한 잉크젯 방식으로 인자되는 것을 특징으로 하는 장척 광학 적층체의 검사 시스템.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925609B2 (ja) 1980-02-14 1984-06-19 椿本興業株式会社 水の除鹿装置
JP5578759B2 (ja) 2007-08-10 2014-08-27 日東電工株式会社 フィルム及びその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7297969B1 (en) * 2003-06-09 2007-11-20 Cognex Technology And Investment Corporation Web marking and inspection system
US7542821B2 (en) * 2007-07-26 2009-06-02 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization of image inspection systems
DE102007043408A1 (de) * 2007-09-12 2009-03-19 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Detektion von Trägerfolienresten oder Trägerfehlstellen sowie Applikationsmaschine
JP2009243911A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Toray Ind Inc 欠陥検査システム
KR101512142B1 (ko) * 2013-12-31 2015-04-14 (주)엔에스 필름 제조 장치
CN111736240A (zh) * 2015-07-17 2020-10-02 大日本印刷株式会社 光学部件用层积体以及图像显示装置
KR102475056B1 (ko) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925609B2 (ja) 1980-02-14 1984-06-19 椿本興業株式会社 水の除鹿装置
JP5578759B2 (ja) 2007-08-10 2014-08-27 日東電工株式会社 フィルム及びその製造方法

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