KR20140022929A

KR20140022929A - 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템

Info

Publication number: KR20140022929A
Application number: KR1020140001402A
Authority: KR
Inventors: 히로미치 오하시
Original assignee: 닛토덴코 가부시키가이샤
Priority date: 2006-10-11
Filing date: 2014-01-06
Publication date: 2014-02-25
Also published as: TW200839228A; US8078307B2; EP1914540A2; JP5248052B2; KR101383934B1; KR20140012764A; US20110056357A1; TWI416098B; KR20080033863A; EP1914540A3; EP2905609A1; EP2905608A1; US7908026B2; KR101394690B1; KR101529423B1; JP2008116437A; US20080087149A1

Abstract

(과제) 본 발명의 목적은, 각 사용자별 판정 조건을 사용함으로써 수율 향상, 제조 비용 저하, 생산성을 대폭 개선시키는 것에 있다.
(해결 수단) 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품의 결점을 검사하는 결점 검사 장치 (10) 로서, 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체의 결점을 검출하는 결점 검출 수단과, 결점 검출 수단에서 검출된 결점에 관한 정보인 결점 정보를 작성하는 결점 정보 작성 수단을 구비하고, 결점 정보는, 매엽 (枚葉) 의 시트상 제품을 제조하기 위해 사용되는 것을 특징으로 한다.

Description

광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템{APPARATUS FOR INSPECTING DEFFECTS OF SHEET-SHAPED PRODUCTS WITH OPTICAL FILMS, DATA PROCESSING APPARATUS THEREOF, CUTTING APPARATUS THEREOF AND PRODUCT SYSTEM THEREOF}

본 발명은, 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품의 결점을 검사하는 경우에, 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체의 결점을 검출하고, 당해 결점 정보를 매엽 (枚葉) 의 시트상 제품을 제조하기 위해서 사용하는 것에 관한 것이다.

종래 광학 필름 제조 메이커에서는, 광학 필름 부재를 갖는 띠 형상의 시트상 제품을 롤에 감도록 하여 연속적으로 또는 각 공정마다 다른 제조 라인에서 제조하고 있다. 이 「띠 형상의 시트상 제품」으로서, 예를 들면 액정 표시 장치에 사용되는 편광판 원반 (原反), 위상차판 원반, 편광판과 위상차판의 적층 필름 원반 등이 있다.

이 시트상 제품과 광학 표시 유닛을 부착시키기 위해서 점착제가 사용되는데, 이 점착제는 미리 시트상 제품에 점착층으로서 형성되고, 또한, 점착층의 보호용으로 이형 필름 (세퍼레이터로 부르는 경우가 있음.) 이 형성되어 있다.

도 12 에 적층 구조의 편광판을 갖는 시트상 제품을 도시하고, 이 시트상 제품의 제조 공정의 종래예를 이하에 설명한다. 우선, 전(前)공정으로서, (A) 편광자를 얻는 공정. 여기서는, 염색ㆍ가교 및 연신 처리를 한 폴리비닐알코올 (PVA) 필름을 건조시켜 편광자를 얻는다. (B) 편광판을 제조하는 공정. 여기서는, 편광자의 양면에 접착제를 통해서 트리아세틸셀룰로오스 (TAC) 필름을 부착하고 편광자 보호층을 적층하여 편광판을 제조한다. 여기서 도면에서는 위에 적층되는 TAC 필름에는 미리 안티글레어 처리가 되어 있다. (C) 세퍼레이터 및 보호 필름을 부착하는 공정. 편광판의 일방의 면 (도면에서는 하측) 에 강(强)점착제를 통하여 세퍼레이터를 부착하고, 또 다른 일방의 면 (도면에서는 상측) 에 약(弱)점착제를 통해서 보호 필름을 부착한다. 여기서, 세퍼레이터에는 미리 강점착제가 도포되고, 보호 필름에는 약점착제가 도포되어 있다. 세퍼레이터에 도포된 강점착제는, 세퍼레이터를 박리 후, TAC 에 전사된다. 또한, 보호 필름에 도포된 약점착제는 보호 필름을 박리하더라도 보호 필름에 형성된 상태이고, TAC 에 실질적으로 전사되지 않는다. 이상의 전공정에서는, 띠 형상의 시트상 제품이 제조되어, 롤상으로 감겨, 후공정에 제공된다.

이 전공정 (A, B, C) 에서는, 공정별로 검사자에 의한 소정의 검사가 행해지고 있다. 예를 들어, 공정 (A) 의 경우, PVA 원반의 반송 도중에, 검사자가 육안으로 롤을 감기 시작하는 타이밍과 감기 종료 타이밍에서 결점 (이물질, 오염, 비틀림, 표면 부착물 등) 을 확인하고 있었다. 또한, 공정 (B) 의 경우, 얻어진 편광판 원반을 롤상으로 감을 때에, 검사자가 육안으로 결점 (이물질, 오염, 쿠닉, 비틀림, 꼬임 등) 을 확인하고 있었다. 또한, 결점 검사 장치 (이물질, 오염 등을 카메라로 촬영하고, 화상 처리하여 결함을 판정하는 공지된 장치) 에 의해 부착 후의 편광판 원반을 자동적으로 검사하고, 모니터로 결함을 확인하여, 결함의 모니터링에 의해 주로 상태 관리 (감시) 에 이용하고 있었다.

또한, 공정 (C) 의 경우, 얻어진 띠 형상의 시트상 제품 원반을 롤상으로 감을 때에, 검사자가 육안으로 롤을 감기 시작하는 타이밍과 감기 종료 타이밍에서 결점 (이물질, 오염, 비틀림, 표면 부착물 등) 을 확인하고, 이 결점을 평가함으로써 시트상 제품 원반의 등급 (양호, 불량, 출하 가능 여부) 을 매기고 있었다.

이어서, 후공정으로서, (D) 원반 롤의 검사 공정. 여기서는, 시트상 제품 원반 롤의 외관을 롤식 자동 검반 (檢反) 장치 및/또는 검사자에 의한 육안 검사가 이루어진다. 롤식 자동 검반 장치는, 감기 불량, 외관 불량 등을 카메라로 촬영하고, 화상 처리하여 결함을 판정하는 공지된 장치이다. (E) 매엽 (枚葉) 의 시트상 제품으로 절단하는 공정. 여기서는, 원반 롤로부터 시트상 제품을 인출하여 소정 사이즈로 절단한다. 절단 방법으로는, 예를 들어, 정척 (定尺) 절단, 연속 펀칭 등을 들 수 있다. (F) 매엽의 시트상 제품을 검사하는 공정. 여기서는, 매엽식 자동 검사 장치 및 검사자에 의한 육안 검사가 이루어진다. 매엽식 자동 검사 장치는, 매엽의 시트상 제품의 결점을 자동으로 검사하는 장치로서, 광을 조사하여, 그 반사광 이미지나 투과광 이미지를 라인 센서나 2 차원 TV 카메라 등의 촬상부를 통하여 취득하고, 취득된 화상 데이터에 근거하여 결점 검출을 실시한다. 또한, 광원과 촬상부 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터를 개재시킨 상태에서 화상 데이터를 취득한다. 통상, 이 검사용 편광 필터의 편광축 (예를 들어, 편광 흡수축) 은, 검사 대상인 편광판의 편광축 (예를 들어, 편광 흡수축) 과 직교하는 상태 (크로스니콜) 가 되도록 배치된다. 크로스니콜하게 배치함으로써, 가령 결점이 존재하지 않으면 촬상부로부터 전체면 블랙의 화상이 입력되지만, 결점이 존재한다면, 그 부분이 블랙으로 되지 않고 휘점으로서 검출된다. 따라서, 적절한 임계값을 설정함으로써 결점을 검출할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 후공정 (D, E, F) 에서는, 롤상으로 감긴 시트상 제품 원반을 인출하여 소정 사이즈의 매엽의 시트상 제품으로 절단하고, 소정의 결점 검사를 실시하여, 출하 판정이 이루어지고 있다.

이상의 전체 제조 공정에서는, 매엽의 시트상 제품으로 절단된 다음, 개개의 시트상 제품의 결점 검사를 실시하는 것으로서, 예를 들어, 시트상 제품에 결점이 1 개 있는 것만으로 불량 판정되어, 원반 롤로부터 얻어지는 최종적인 매엽의 시트상 제품의 수율이 나빠진다는 문제가 있었다.

또한, 매엽의 시트상 제품을 검사하는 경우, 시트 표면에는, 세퍼레이터나 보호 필름이 형성된 상태로 되어 있다. 이 상태에서 매엽의 시트상 제품을 검사하면, 세퍼레이터나 보호 필름이 복굴절성 (위상차) 을 갖기 때문에, 이러한 경우에는 직선 편광을 타원 편광으로 해버려, 실질적으로는 편광판과 검사용 편광 필터가 크로스니콜 상태로는 되지 않는다. 그 결과, 시트상 제품에 포함되는 편광판의 결점 검사를 높은 정밀도로 실시할 수 없다는 문제가 발생하고 있었다.

또, 상기 문제를 해결한 적층 필름의 결점 검출 장치로서, 하기 특허 문헌 1 에 개시되는 편광판 검사 장치가 공지되어 있다. 이 편광판 검사 장치는, 광원과, 이 광원으로부터의 광을 직선 편광으로 하는 검사용 편광 필터를 갖고, 이 직선 편광을 보호막 (위상차층에 상당) 이 형성되어 있는 편광판에 입력시켜, 그 투과광 이미지에 근거하여 결함을 검출한다. 그리고, 광원으로부터 보호막이 형성된 편광판을 투과하는 광로 상에, 보호막에 의한 광의 복굴절을 보상하는 위상차판이 배치되어 있다. 이 위상차판을 별도로 배치함으로써, 보호막에 의한 위상 변화를 캔슬시켜 보호막에 의한 광의 복굴절을 보상하도록 하고 있다. 또한, 제품마다 미묘하게 상이한 보호막에 의한 복굴절을 보상하기 위해서, 전압에 의해 광의 위상각을 조정할 수 있는 가변 편광용 광학 소자를 배치하는 구성예도 개시되어 있다.

특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 2005-9919호

그러나, 상기 특허 문헌 1 에서는, 검사용의 위상차판이나 가변 편광용 광학 소자를 별도 배치할 필요가 있기 때문에 여분의 부품이 증가함과 함께, 여분으로 부품이 개재됨으로써 광원의 광량 저하를 초래하여 검사 정밀도를 저하시키기 때문에, 최근의 편광판에 요구되는 고정밀도 및 고품질의 검사 요구에 부응할 없는 경우가 있다.

또한, 결함 검사의 정밀도를 높이기 위해서 사람에 의한 육안 검사를 실시하고 있는데, 육안 검사이기 때문에, 그 검사 시간을 오랜 시간 필요로 한다. 따라서, 생산성이 나쁘고, 검사자 수를 많이 필요로 하여, 제조 비용 증가로 이어진다는 문제가 있었다.

그리고 또, 매엽으로 절단된 후의 검사에서는, 일률적인 임계값 (가장 어려운 값) 을 조건으로 하여 양호/불량 판정을 하고 있다. 그러나, 사용자 (예를 들어, 액정 장치 조립 메이커) 에 따라서 결점 정도의 양호/불량 판정이 상이하다. 어느 메이커에서는 불량인 것도, 다른 메이커에서는 과잉 품질로 되어 있는 경우가 있다. 그리고, 메이커측에서는 각 메이커의 품질 요구에 합치되는 검사를 실시하여, 비용 삭감, 납기 단축에 대한 요청이 있어, 이러한 요청으로 인해서 검사 공정의 개선이 강하게 요망되고 있었다.

본 발명은, 상기 실정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 각 사용자별 판정 조건을 사용함으로써 수율 향상, 제조 비용 저하, 생산성을 대폭 개선할 수 있는 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품의 결점을 검사하는 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치, 그 제조 시스템, 및 검사 데이터 처리 방법을 제공하는 것에 있다.

상기 과제를 해결하기 위해서 예의 연구를 거듭한 결과, 이하의 발명을 완성하기에 이르렀다.

본 발명의 결점 검사 장치는, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품의 결점을 검사하는 결점 검사 장치로서,

시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체의 결점을 검출하는 결점 검출 수단과,

상기 결점 검출 수단에서 검출된 결점에 관한 정보인 결점 정보를 작성하는 결점 정보 작성 수단을 구비하고,

상기 결점 정보는, 롤상 또는 매엽의 시트상 제품을 제조하기 위해 사용되는 것을 특징으로 한다.

상기 구성의 작용 효과는 다음과 같다. 결함 검사 장치는, 결점 검출 수단과 결점 정보 작성 수단을 구비하고 있다. 「결점」은, 제품으로서 바람직하지 못한 결함으로, 예를 들어, 표면 또는 내부의 이물질, 오염, 흠집, 이물질을 내포한 타흔 (打痕) 형상의 뒤틀린 듯한 특수 형상 결점 (쿠닉으로 부르는 경우가 있음.), 기포 등이 예시된다. 결점 검출 수단은 각종 결점을 검출할 수 있다. 그리고, 결점 검출 수단은, 시트상 제품 표면의 보호층 (예를 들어, 세퍼레이터, 보호 필름) 이 형성되어 있지 않은 상태에서 단층체 및/또는 적층체의 결점을 검출한다. 따라서, 보호층의 영향이 없이 높은 정밀도로 결점을 검출할 수 있다. 결점 정보 작성 수단은, 각 검사 수단에서 검출된 결점의 정보에 기초하여 개개의 결점 정보를 작성한다. 또한, 결점 정보 작성 수단은, 각 검사 수단에서 검출된 결점의 정보를 통합하여, 최종적인 결점 정보를 작성할 수도 있다.

여기서 「결점 정보」는, 예를 들어, 결점의 종류에 관한 정보, 결점의 좌표에 관한 정보, 제조 식별 정보, 검사 대상 식별 정보 등의 정보를 포함한다. 이 결점 정보는, 매엽의 시트상 제품을 제조 (예를 들어, 절단) 하기 위해 사용된다. 이것에 의해, 결점 정보에 따라서 롤상 또는 매엽의 시트상 제품을 절단할 수 있기 때문에 수율이 향상된다. 또한, 절단된 매엽의 시트상 제품에 대하여 결점 검사할 필요가 없기 때문에, 검사원을 대폭 삭감할 수 있어 비용 장점이 크다.

또한, 본 발명에 있어서, 결점 정보를 각 검사 공정마다, 검사 대상물에 결점 정보를 형성할 수 있다. 형성된 결점 정보는, 다음 공정의 검사에서 판독되어, 당해 공정에서의 검사 결과와 통합되고, 통합된 결점 정보로서 다시 검사 대상물에 형성할 수 있다. 예를 들어, 편광판에 형성된 결점 정보와 세퍼레이터 및 보호 필름에 형성된 결점 정보를 부착시키기 전에 판독하고, 부착 후에, 보호 필름에 통합된 결점 정보를 형성할 수 있다.

또한, 본 발명의 검사 데이터 처리 장치는, 상기 본 발명의 결점 검사 장치에서 작성된 결점 정보를 취득하는 결점 정보 취득 수단과,

상기 결점 정보 취득 수단에서 취득된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 슬릿 또는 절단함으로써 얻어지는 롤상 또는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 수단과,

상기 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정하는 설정 수단을 구비한다.

이 구성의 작용 효과는 다음과 같다. 결점 정보 취득 수단은, 결점 검사 장치에서 작성된 결점 정보를 취득한다. 「취득」은 특별히 제한되지 않고, 예를 들어, 직접적인 키 입력 방법, 통신 (무선, 유선) 방법, 인자 (印字) 판독 방법 등의 취득 방법을 들 수 있다.

취득된 결점 정보는, 수율 산출 수단에 의해 해석되어, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 슬릿 또는 절단함으로써 얻어지는 롤상 또는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출한다. 「판정 조건」은, 예를 들어, 매엽 1 장당 결점수, 결점 사이즈에 기초하여 설정된다. 또한, 판정 조건에는, 예를 들어 매엽의 사이즈, 필요 매수 (납품수) 를 포함한다.

본 발명에 있어서 「수율」은, 원반으로부터 얻어진 양품의 매엽상 시트상 제품의 총면적을 원반의 총면적 (또는 유효 면적) 으로 나눗셈하여 얻어진다. 또는, 「수율」은, 원반으로부터 얻어진 양품의 매엽상 시트상 제품의 취득 개수를, 원반으로부터 얻어지는 이론상의 최대 취득 개수로 나눗셈하여 얻어진다. 또한, 수율의 값은 백분율로 표시되는 것이 바람직하다.

그리고, 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반이, 설정 수단에 의해서 설정된다. 예를 들어, 복수의 시트상 제품 원반으로부터 최적의 시트상 제품 원반을 설정하고자 하는 경우에, 예를 들어, 수율이 소정치 이상이면, 그 시트상 제품 원반이 설정되게 된다. 소정치로서, 복수의 시트상 제품 원반 중에서 최대의 수율치를 설정할 수 있다. 판정 조건에, 택 처리되어 납품처 (반송처) 의 데이터가 있으면, 여기서 설정된 시트상 제품 원반 롤은 그 납품처 (반송처) 에 출하되게 된다.

따라서, 미리 시트상 제품 원반 롤의 결점을 알고 있기 때문에, 판정 조건에 따라서, 예를 들어 최적 수율이 되는 시트상 제품 원반 롤을 설정할 수 있다.

또한, 본 발명의 절단 장치는, 상기 본 발명의 결점 정보 검사 데이터 처리 장치에서 설정된 시트상 제품 원반의 슬릿폭 및 결점 정보를 취득하는 취득 수단과,

상기 취득 수단에서 취득된 슬릿폭으로 시트상 제품 원반을 절단하는 절단 수단과,

상기 슬릿폭으로 절단된 시트상 제품 원반의 보호층에 상기 취득된 결점 정보를 형성하는 결점 정보 형성 수단을 구비한다.

이 구성의 작용 효과는 다음과 같다. 절단 장치는, 그 전단계 공정에서 제조된 시트상 제품 원반 롤을 슬릿폭으로 절단하기 위해 사용된다. 취득 수단은, 결점 정보 검사 데이터 처리 장치에서 설정된 시트상 제품 원반의 슬릿폭 및 당해 원반의 결점 정보를 취득한다. 절단 수단은, 이 슬릿폭으로, 설정된 시트상 제품 원반 롤을 슬릿한다. 슬릿에 따라서는, 1 개의 원반 롤로부터, 1 개 또는 2 개 이상의 원반 롤이 형성되는 것이어도 된다. 그리고, 결점 정보 형성 수단은, 슬릿된 시트상 제품 원반의 보호층에 취득된 결점 정보를 형성한다. 형성 방법은 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 인쇄, 전사 등을 들 수 있다. 이 결점 정보는, 매엽의 시트상 제품의 제조 (절단) 에 사용되게 된다.

또한, 본 발명의 시트상 제품 원반의 제조 시스템은, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품 원반을 제조하는 광학 필름을 포함하는 시트상 제품 원반의 제조 시스템으로서,

상기 결점 검출 수단에서 검출된 결점에 관한 정보인 결점 정보를 작성하는 결점 정보 작성 수단과,

상기 결점 정보 작성 수단에서 작성된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 슬릿 또는 절단함으로써 얻어지는 롤상 또는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 수단과,

상기 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정하는 설정 수단과,

상기 설정된 시트상 제품 원반을 슬릿폭으로 절단하는 절단 수단과,

상기 절단된 시트상 제품 원반의 보호층에 결점 정보를 형성하는 결점 정보 형성 수단을 구비하고 있다.

이 광학 필름을 포함하는 시트상 제품 원반의 제조 시스템은, 앞서 서술한 결점 검사 장치, 검사 데이터 처리 장치, 절단 장치의 수단을 구비하고, 그 작용 효과도 상기에서 기재한 바와 같다.

또한, 본 발명의, 시트상 제품 원반으로부터 매엽의 시트상 제품을 얻기 위한 절단 장치는, 상기 기재된 절단 장치 또는 제조 시스템에서 소정의 슬릿폭으로 절단된 시트상 제품 원반 혹은 슬릿 절단되어 있지 않은 시트상 제품 원반에 형성된 당해 시트상 제품 원반의 결점 정보를 판독하는 결점 정보 판독 수단과,

상기 결점 정보 판독 수단에 의해 판독된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 절단 위치를 산출하고, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조하는 절단 수단을 구비하고 있다.

이 구성의 작용 효과는 다음과 같다. 이 절단 장치는, 소정의 슬릿폭으로 절단된 시트상 제품 원반 혹은 슬릿 절단되어 있지 않은 시트상 제품 원반에 형성된 당해 시트상 제품 원반에 형성된 결점 정보를 판독하는 결점 정보 판독 수단을 구비하고 있다. 그리고, 절단 수단은, 판독된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 절단 위치를 산출하고, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조한다.

이것에 의해, 결점 정보에 기초하여 원반을 절단할 수 있기 때문에, 적절하면서 또한 수율이 최적 (또는 소정치 이상) 으로 된다.

또한, 본 발명의 절단 장치에 있어서, 절단된 시트상 제품에 당해 시트상 제품에 대응하는 제품 정보를 형성하는 제품 정보 형성 수단을 추가로 구비하는 것이 바람직하다.

「제품 정보」는 매엽의 시트상 제품의 식별 정보로, 예를 들어, 제조 식별 번호, 결점 정보가 포함되어 있다. 제품 정보가 개개의 매엽의 시트상 제품에 형성되기 때문에, 적출 작업 (결점이 있는지, 양품인지 여부의 판정을 하면서 적재) 을 자동화하는 것이 가능해진다. 또한, 절단 후의 자동 매수 카운트가 가능해져, 어디에서 어떠한 것이 완성되었는지를 명확하게 관리할 수 있게 된다. 또한, 사람이 대응하고 있던 집계 작업이나, 후공정, 출하 수량 관리의 자동화가 가능해진다. 또한, 절단 날 등의 장치의 사용 빈도와 절단 품질의 관리가 가능해진다. 또, 설비의 가동 상황을 명확하게 관리할 수 있다. 또한, 제품 정보에는 제조 식별 번호가 포함되어 있고, 이것에 의해서 추적 조사를 간단 용이하게 할 수 있게 된다.

또한, 본 발명의 광학 필름을 포함하는 시트상 제품의 제조 시스템은, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 제조하는 광학 필름을 포함하는 시트상 제품의 제조 시스템으로서,

상기 결점 정보 작성 수단에서 작성된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단함으로써 얻어지는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 수단과,

상기 설정된 시트상 제품 원반을 슬릿폭으로 절단하는 제 1 절단 수단과,

상기 절단된 시트상 제품 원반의 보호층에 결점 정보를 형성하는 결점 정보 형성 수단과,

상기 결점 정보 형성 수단에서 형성된 결점 정보를 판독하는 결점 정보 판독 수단과,

상기 결점 정보 판독 수단에 의해 판독된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조하는 제 2 절단 수단을 구비하고 있다.

또한, 본 발명의 제조 시스템에 있어서, 절단된 매엽의 시트상 제품에 당해 시트상 제품에 대응하는 결점 정보를 형성하는 결점 정보 형성 수단을 추가로 구비하는 것이 바람직하다.

이 제조 시스템은, 상기에서 이미 기재한 결점 검사 장치, 검사 데이터 처리 장치, 슬릿을 위한 절단 장치, 시트상 제품 원반으로부터 매엽의 시트상 제품을 얻기 위한 절단 장치의 기능을 갖는 것이다.

본 발명의 검사 데이터 처리 장치는, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체를 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하는 결점 정보 취득 수단과,

상기 결점 정보 취득 수단에서 취득된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반의 절단 위치 정보를 산출하는 절단 위치 정보 산출 수단을 구비하고 있다.

이 구성을 갖는 검사 데이터 처리 장치는, 광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체를 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득한다. 그리고, 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반의 절단 위치 정보를 산출할 수 있다.

또한, 별도의 본 발명의 절단 장치는, 상기의 검사 데이터 처리 장치에서 산출된 절단 위치 정보를 취득하는 절단 위치 정보 취득 수단과,

소정의 슬릿폭으로 절단된 시트상 제품 원반 혹은 슬릿 절단되어 있지 않은 시트상 제품 원반에 형성된 당해 시트상 제품 원반의 결점 정보를 판독하는 결점 정보 판독 수단과,

상기 결점 정보 판독 수단에 의해 판독된 결점 정보를 해석하여, 상기 절단 위치 정보 취득 수단에서 취득된 절단 위치 정보에 따라서, 절단 위치를 산출하고, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조하는 절단 수단을 구비하고 있다.

이 구성에 의하면, 결점 정보를 검사 데이터 처리 장치에서 해석하고, 산출된 절단 위치 정보에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 적절히 제조할 수 있다.

또한, 본 발명의 절단 장치에 있어서, 절단된 매엽의 시트상 제품에 당해 시트상 제품에 대응하는 제품 정보를 형성하는 제품 정보 형성 수단을 추가로 구비하는 것이 바람직하다.

이 구성의 작용 효과는 상기에서 설명한 바와 같다.

또한, 별도의 본 발명의 검사 데이터 처리 장치는,

양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건의 입력을 접수하는 입력 접수 수단과,

광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체를 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하는 결점 정보 취득 수단과,

상기 결점 정보를 해석하여, 상기 판정 조건에 따라서, 수율을 산출하는 수율 산출 수단과,

상기 산출된 수율을 표시 수단에 표시시키도록 제어하는 표시 제어 수단을 구비하고 있다.

이 구성에 의하면, 결점 정보를 해석하고, 입력된 판정 조건에 따라서 수율을 산출하여, 이 수율을 표시 수단에 의해 표시할 수 있다. 따라서, 시트상 제품 원반을 슬릿 가공, 매엽 절단 가공을 실시하기 전에, 미리 결점 정보와 판정 조건을 사용하여 수율을 산출할 수 있어, 생산성 향상에 크게 기여할 수 있다.

또한, 본 발명의 검사 데이터 처리 장치에 있어서, 수율을 산출하는 경우에 스킵 커트 방식을 채용하여 산출하는 것이 바람직하다. 이 구성에 의하면, 스킵 커트가 가능하기 때문에 수율을 향상시킬 수 있다. 여기서 말하는 스킵 커트 방식이란, 결점 정보에 기초하여, 불량 판정되는 결점부만을 피해서 원반을 커트하는 방식을 말한다.

또한, 본 발명의 검사 데이터 처리 장치에 있어서, 표시 제어 수단은, 시트상 제품 원반을 전개시켜서, 그것에 중복하도록, 양품으로서 얻어지는 매엽의 시트상 제품을 표시하도록 제어하는 것이 바람직하다. 이 구성에 의하면, 전개된 원반에 중복시켜 매엽 시트를 표시할 수 있어, 취득 개수, 취득 위치 상태를 간단히 확인할 수 있다. 또한, 결점 정보도 표시되도록 구성하는 것이 바람직하다. 결점 정보와 함께 표시함으로써 결점의 종류, 좌표도 확인할 수 있다.

또한, 다른 본 발명의 검사 데이터 처리 방법은, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건의 입력을 접수하고,

광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체를 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하고,

상기 결점 정보를 해석하여, 상기 판정 조건에 따라서, 수율을 산출하며,

상기 산출된 수율을 표시 수단에 표시시키는 것을 특징으로 한다.

이 구성의 작용 효과는, 상기 기재된 검사 데이터 처리 장치의 작용 효과를 갖는 것이며, 그 구체적 수단은 이것에 제한되지 않는다.

도 1 은 제조 시스템의 기능 블록을 나타내는 도면이다.
도 2 는 제조 공정과 검사 공정의 일례를 나타내는 도면이다.
도 3 은 표시된 결점 정보의 일례를 나타내는 도면이다.
도 4 는 검사 데이터 처리 장치에 있어서의 데이터 처리를 설명하는 도면이다.
도 5 는 검사 데이터 처리 장치에 있어서의 데이터 처리를 설명하는 도면이다.
도 6 은 검사 데이터 처리 장치에 있어서의 데이터 처리를 설명하는 도면이다.
도 7 은 검사 데이터 처리 장치에 있어서의 데이터 처리를 설명하는 도면이다.
도 8 은 검사 데이터 처리 장치에 있어서의 데이터 처리를 설명하는 도면이다.
도 9 는 결점 정보를 형성한 원반 롤에 대해 설명하는 도면이다.
도 10 은 제품 정보를 형성하는 처리에 대해 설명하는 도면이다.
도 11 은 제조 시스템의 기능 블록을 나타내는 도면이다.
도 12 는 편광판을 갖는 시트상 제품의 구성을 설명하는 도면이다.
〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉
10 : 결점 검사 장치
11 : 편광자 검사부
12 : 편광판 검사부
13 : 세퍼레이터 검사부
14 : 보호 필름 검사부
15 : 결점 정보 작성부
16 : 저장부
17 : 결점 정보 형성부
18 : 표시 제어부
19 : 이상 판정부
20 : 제 1 검사 데이터 처리 장치
21 : 취득 수단
22 : 저장부
23 : 수율 산출부
24 : 원반 설정부
25 : 입력 접수 수단
26 : 표시 제어부
30 : 슬릿용 절단 장치
31 : 취득 수단
32 : 결점 정보 판독부
33 : 절단 수단
34 : 결점 정보 형성부
40 : 제 2 검사 데이터 처리 장치
41 : 취득 수단
42 : 저장부
43 : 수율 산출부
44 : 원반 설정부
45 : 입력 접수 수단
46 : 표시 제어부
47 : 절단 위치 정보 작성부
50 : 매엽용 절단 장치
51 : 취득 수단
52 : 결점 정보 판독부
53 : 절단 수단
54 : 제품 정보 형성부

이하, 본 발명의 바람직한 실시형태에 관해서 설명한다.

<시트상 제품>

본 발명에 있어서 취급하는 시트상 제품의 예로서, 편광판 원반을 들어 설명한다. 편광판 원반은 긴 띠 형상으로 형성되어, 필름 형태의 편광판 원반으로부터 개개 크기의 편광판을 펀칭 (또는 절단) 함으로써 얻을 수 있다. 편광판 원반은, 미리 제조해 둔 폴리비닐알코올계 필름 (편광자) 의 표리 양면에 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스 필름 (투명한 편광자 보호층) 을 부착함으로써 얻을 수 있다. 이 다층 구조로 된 편광판 원반의 표면 또는 내부에 존재하는 결점 (흠집, 이물질, 쿠닉, 오염 등) 을 검출할 필요가 있다. 이것은, 후술하는 검출 수단에 의해 검출된다.

편광판 원반은, 종래 기술에서도 설명하였지만, (A) 편광자를 얻는 공정, (B) 편광판을 제조하는 공정, (C) 세퍼레이터 및 보호 필름을 부착하는 공정을 포함한 제조 방법에 의해 제조된다.

폴리비닐알코올계 필름의 염색, 가교, 연신의 각 처리는 따로따로 실시할 필요없이 동시에 실시해도 되고, 또한, 각 처리의 순서도 임의로 할 수 있다. 또, 폴리비닐알코올계 필름으로서, 팽윤 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 사용해도 된다. 일반적으로는, 폴리비닐알코올계 필름을 요오드나 2 색성 색소를 함유한 용액에 침지하여, 요오드나 2 색성 색소를 흡착시켜 염색한 후 세정하고, 붕산이나 붕사 등을 함유한 용액 중에서 연신 배율 3 배 ∼ 7 배로 1 축 연신한 후, 건조시킨다. 요오드나 2 색성 색소를 함유한 용액 중에서 연신한 후, 붕산이나 붕사 등을 함유한 용액 중에서 또 다시 연신 (2 단 연신) 한 후, 건조시킴으로써, 요오드의 배향이 높아지고, 편광도 특성이 양호해지기 때문에 특히 바람직하다.

상기한 폴리비닐알코올계 폴리머로는, 예를 들어, 아세트산비닐을 중합한 후에 비누화한 것이나, 아세트산비닐에 소량의 불포화 카르복실산, 불포화 술폰산, 양이온성 모노머 등의 공중합 가능한 모노머를 공중합한 것 등을 들 수 있다. 폴리비닐알코올계 폴리머의 평균 중합도는 특별히 제한되지 않고 임의의 것을 사용할 수 있는데, 1000 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2000 ∼ 5000 이다. 또한, 폴리비닐알코올계 폴리머의 비누화도는 85 몰% 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 98 ∼ 100 몰% 이다.

제조되는 편광자의 두께는 5 ∼ 80㎛ 가 일반적이지만, 이것에 한정되지는 않으며, 또한, 편광자의 두께를 조정하는 방법에 관해서도 특별히 한정되지 않고, 텐터, 롤 연신이나 압연 등의 통상적인 방법을 사용할 수 있다.

편광자와 보호층인 투명한 편광자 보호층의 접착 처리는 특별히 한정되지는 않고, 예를 들어, 비닐알코올계 폴리머로 이루어지는 접착제, 또는, 붕산이나 붕사, 글루탈알데히드나 멜라민, 옥살산 등의 비닐알코올계 폴리머의 수용성 가교제로 적어도 이루어지는 접착제 등을 통하여 실시할 수 있다. 이러한 접착층은 수용액의 도포 건조층 등으로서 형성되는데, 그 수용액의 조제시에 있어서는 필요에 따라서 다른 첨가제나, 산 등의 촉매도 배합할 수 있다.

편광자의 편측 또는 양측에 형성하는 편광자 보호층에는 적당한 투명 필름을 사용할 수 있다. 그 중에서도, 투명성이나 기계적 강도, 열 안정성이나 수분 차폐성 등이 우수한 폴리머로 이루어지는 필름이 바람직하게 사용된다. 그 폴리머로는, 트리아세틸셀룰로오스와 같은 아세테이트계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리알릴레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리술폰계 수지, 폴리에테르술폰계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 폴리노르보르넨계 수지, 폴리메틸메타크릴레이트계 수지, 액정 폴리머 등을 들 수 있다. 필름은, 캐스팅법, 캘린더법, 압출법 중의 임의의 방법에 의해 제조한 것이어도 상관없다.

또한, 일본 공개특허공보 2001-343529호 (WO01/37007) 에 기재된 폴리머 필름, 예를 들어, (A) 측쇄에 치환 및/또는 비치환 이미드기를 갖는 열가소성 수지와, (B) 측쇄에 치환 및/또는 비치환 페닐 그리고 니트릴기를 갖는 열가소성 수지를 함유하는 수지 조성물을 들 수 있다. 구체예로는 이소부틸렌과 N-메틸말레이미드로 이루어지는 교호 공중합체와 아크릴로니트릴ㆍ스티렌 공중합체를 함유하는 수지 조성물의 필름을 들 수 있다. 필름은 수지 조성물의 혼합 압출품 등으로 이루어지는 필름을 사용할 수 있다. 이들 필름은 위상차가 작고, 광탄성 계수가 작기 때문에 편광판의 변형에 의한 불균일함 등의 문제를 해소할 수 있고, 또 투습도가 작기 때문에 가습 내구성이 우수하다.

또한, 편광자 보호층은 가능한 한 착색이 되지 않은 것이 바람직하다. 따라서, Rth = [(nx ＋ ny)/2－nz]ㆍd (단, nx, ny 는 필름 평면 내의 주굴절률, nz 는 필름 두께 방향의 굴절률, d 는 필름 두께임.) 로 표시되는 필름 두께 방향의 위상차값이 －90㎚ ∼ ＋75㎚ 인 보호 필름을 바람직하게 사용할 수 있다. 이러한 두께 방향의 위상차값 (Rth) 이 －90㎚ ∼ ＋75㎚ 인 것을 사용함으로써, 보호 필름에서 기인하는 편광판의 착색 (광학적인 착색) 을 거의 해소할 수 있다. 두께 방향 위상차 (Rth) 는, 보다 바람직하게는 －80㎚ ∼ ＋60㎚, 특히 －70㎚ ∼ ＋45㎚ 가 바람직하다.

편광 특성이나 내구성 등의 관점에서 트리아세틸셀룰로오스와 같은 아세테이트계 수지가 바람직하고, 특히 표면을 알칼리 등으로 비누화 처리한 트리아세틸셀룰로오스 필름이 바람직하다.

편광자 보호층의 두께는 임의이지만, 일반적으로는 편광판의 박형화 등을 목적으로, 500㎛ 이하, 바람직하게는 1 ∼ 300㎛, 특히 바람직하게는 5 ∼ 200㎛ 이다. 또, 편광 필름의 양측에 투명 필름의 편광자 보호층을 형성하는 경우, 그 표리에서 상이한 폴리머 등으로 이루어지는 투명 필름으로 할 수도 있다.

편광자 보호층은, 본 발명의 목적을 손상시키지 않는 한, 하드코트 처리나 반사 방지 처리, 스티킹 방지나 확산 내지 안티글레어를 목적으로 한 처리 등을 실시한 것이어도 된다. 하드코트 처리는 편광판 표면의 흠집 방지 등을 목적으로 실시되는 것으로서, 예를 들어 실리콘계 등의 적당한 자외선 경화형 수지에 의한 경도 (硬度) 나 미끄러짐성 등이 우수한 경화 피막을 투명 보호 필름의 표면에 부가하는 방식 등에 의해 형성할 수 있다.

한편, 반사 방지 처리는 편광판 표면에서의 외광의 반사 방지를 목적으로 실시되는 것으로, 종래에 준한 반사 방지막 등의 형성에 의해 달성할 수 있다. 또한, 스티킹 방지는 접착층과의 밀착 방지를 목적으로, 안티글레어 처리는 편광판의 표면에서 외광이 반사되어 편광판 투과광의 시인을 저해하는 것의 방지 등을 목적으로 실시되는 것으로서, 예를 들어 샌드블라스트 방식이나 엠보싱 가공 방식에 의한 조면 (粗面) 화 방식이나 투명 미립자의 배합 방식 등과 같은 적당한 방식으로 투명 보호 필름의 표면에 미세 요철 구조를 부여함으로써 형성할 수 있다.

상기한 투명 미립자로는, 예를 들어 평균 입경이 0.5 ∼ 20㎛ 인 실리카나 알루미나, 티타니아나 지르코니아, 산화주석이나 산화인듐, 산화카드뮴이나 산화안티몬 등을 들 수 있고, 도전성을 갖는 무기계 미립자를 사용할 수도 있으며, 또한 가교 또는 미가교 폴리머 입자상물 등으로 이루어지는 유기계 미립자 등을 사용할 수 있다. 투명 미립자의 사용량은, 투명 수지 100 질량부 당 2 ∼ 70 질량부, 특히 5 ∼ 50 질량부가 일반적이다.

또한, 투명 미립자 배합의 안티글레어층은, 투명 보호층 그 자체로 형성하거나, 또는 투명 보호층 표면에 대한 도포층 등으로서 형성할 수 있다. 안티글레어층은, 편광판 투과광을 확산시켜 시각을 확대시키기 위한 확산층 (시각 보상 기능 등) 을 겸하는 것이어도 된다. 또, 상기한 반사 방지층이나 스티킹 방지층, 확산층이나 안티글레어층 등은, 이들 층을 형성한 시트 등으로 이루어지는 광학층으로서 투명 보호층과는 별체의 것으로 형성할 수도 있다.

본 발명에 의한 시트상 제품은, 실용시에 있어서 각종 광학층을 적층하여 광학 필름으로서 사용할 수 있다. 그 광학층에 관해서는 특별히 한정되지는 않고, 예를 들어, 상기 투명 보호 필름의 편광자를 접착시키지 않은 면 (상기 접착제 도포층을 형성하지 않은 면) 에 대하여, 하드코트 처리나 반사 방지 처리, 스티킹 방지나, 확산 내지 안티글레어를 목적으로 한 표면 처리를 실시하거나, 시각 보상 등을 목적으로 한 배향 액정층을 적층하는 방법을 들 수 있다. 또한, 반사판이나 반투과판, 위상차판 (1/2 이나 1/4 등의 파장판 (λ 판) 을 포함함.), 시각 보상 필름 등의 액정 표시 장치 등의 형성에 사용되는 광학 필름을 1 층 또는 2 층 이상 부착시킨 것도 들 수 있다. 특히 시트상 제품이 편광판이면, 반사판 또는 반투과 반사판이 적층되어 이루어지는 반사형 편광판 또는 반투과형 편광판, 위상차판이 적층되어 이루어지는 타원 편광판 또는 원 편광판, 시각 보상층 또는 시각 보상 필름이 적층되어 이루어지는 광시야각 편광판, 혹은 휘도 향상 필름이 적층되어 이루어지는 편광판으로서 바람직하게 적용된다.

반사형 편광판은 편광판에 반사층을 형성한 것으로, 시인측 (표시측) 으로부터의 입사광을 반사시켜 표시하는 타입의 액정 표시 장치 등을 형성하기 위한 것이고, 백라이트 등의 광원의 내장을 생략할 수 있어 액정 표시 장치의 박형화를 도모하기 쉽다는 등의 이점을 갖는다. 반사형 편광판의 형성은 필요에 따라서 투명 보호층 등을 사이에 두고 편광판의 편면에 금속 등으로 이루어지는 반사층을 부설하는 방식 등의 적당한 방식으로 실시할 수 있다.

반사형 편광판의 구체예로는 필요에 따라서 매트 처리한 투명 보호 필름의 편면에, 알루미늄 등의 반사성 금속으로 이루어지는 박 (箔) 이나 증착막을 부설하여 반사층을 형성한 것 등을 들 수 있다. 또한 상기 투명 보호 필름에 미립자를 함유시켜 표면 미세 요철 구조로 하고, 그 위에 미세 요철 구조의 반사층을 갖는 것 등도 들 수 있다. 상기한 미세 요철 구조의 반사층은, 입사광을 난반사에 의해 확산시켜 지향성이나 번쩍거리는 눈부심을 방지하여 명암의 불균일을 억제할 수 있는 이점 등을 갖는다. 또한 미립자가 함유된 투명 보호 필름은, 입사광 및 그 반사광이 그것을 투과할 때에 확산되어 명암 불균일을 좀더 억제할 수 있는 이점 등도 가지고 있다. 투명 보호 필름의 표면 미세 요철 구조를 반영시킨 미세 요철 구조의 반사층의 형성은, 예를 들어 진공 증착 방식, 이온 플레이팅 방식, 스퍼터링 방식 등과 같은 증착 방식이나 도금 방식 등의 적당한 방식으로 금속을 투명 보호층의 표면에 직접 부설하는 방법 등에 의해 실시할 수 있다.

반사판은 상기 편광판의 투명 필름 (편광자 보호층) 에 직접 부여하는 방식 대신에, 그 투명 필름에 준한 적당한 필름에 반사층을 형성하여 이루어지는 반사 시트 등으로 하여 사용할 수도 있다. 또 반사층은 통상 금속으로 이루어지기 때문에, 그 반사면이 투명 필름이나 편광판 등으로 피복된 상태의 사용 형태가, 산화에 의한 반사율의 저하 방지, 나아가서는 초기 반사율의 장기 지속 면이나 보호층의 별도 부설을 피할 수 있는 면 등에서 보다 바람직하다.

또한, 반투과형 편광판은, 상기에 있어서 반사층에서 광을 반사하고 또한 투과시키는 하프 미러 등의 반투과형 반사층으로 함으로써 얻을 수 있다. 반투과형 편광판은 통상 액정 셀의 이면측에 형성되고, 액정 표시 장치 등을 비교적 밝은 분위기에서 사용하는 경우에는 시인측 (표시측) 으로부터의 입사광을 반사시켜 화상을 표시하고, 비교적 어두운 분위기에서는 반투과형 편광판의 백사이드에 내장되어 있는 백라이트 등의 내장 광원을 사용하여 화상을 표시하는 타입의 액정 표시 장치 등을 형성할 수 있다. 즉, 반투과형 편광판은, 밝은 분위기하에서는 백라이트 등의 광원 사용 에너지를 절약할 수 있고, 비교적 어두운 분위기하에서도 내장 광원을 이용하여 사용할 수 있는 타입의 액정 표시 장치 등의 형성에 유용하다.

편광판에 추가로 위상차판이 적층되어 이루어지는 타원 편광판 또는 원 편광판에 대해 설명한다. 직선 편광을 타원 편광 또는 원 편광으로 바꾸거나, 타원 편광 또는 원 편광을 직선 편광으로 바꾸거나, 또는 직선 편광의 편광 방향을 바꾸는 경우에 위상차판 등이 사용된다. 특히, 직선 편광을 원 편광으로 바꾸거나, 원 편광을 직선 편광으로 바꾸는 위상차판으로는, 소위 1/4 파장판 (λ/4 판이라고도 함.) 이 사용된다. 1/2 파장판 (λ/2 판이라고도 함.) 은 통상적으로 직선 편광의 편광 방향을 바꾸는 경우에 사용된다.

타원 편광판은 슈퍼 트위스트 네마틱 (STN) 형 액정 표시 장치의 액정층의 복굴절에 의해 생긴 착색 (청색 또는 황색) 을 보상 (방지) 하여, 상기 착색이 없는 흑백 표시하는 경우 등에 유효하게 사용된다. 또한, 3 차원의 굴절률을 제어한 것은 액정 표시 장치의 화면을 경사 방향에서 보았을 때에 생기는 착색도 보상 (방지) 할 수 있어 바람직하다. 원 편광판은, 예를 들어 화상이 컬러 표시가 되는 반사형 액정 표시 장치의 화상의 색조를 조절하는 경우 등에 유효하게 사용되고, 또한 반사 방지의 기능도 갖는다.

다른 예로는 위상차판을 들 수 있다. 위상차판으로는, 고분자 소재를 1 축 또는 2 축 연신 처리하여 이루어지는 복굴절성 필름, 액정 폴리머의 배향 필름, 액정 폴리머의 배향층을 필름으로 지지한 것 등을 들 수 있다. 연신 처리는, 예를 들어 롤 연신법, 장간극연 (長間隙沿) 연신법, 텐터 연신법, 튜블러 연신법 등에 의해 실시할 수 있다. 연신 배율은, 1 축 연신의 경우에는 1.1 ∼ 3 배 정도가 일반적이다. 위상차판의 두께도 특별히 제한되지 않으며, 일반적으로는 10 ∼ 200㎛, 바람직하게는 20 ∼ 100㎛ 이다.

상기 고분자 소재로는, 예를 들어 폴리비닐알코올, 폴리비닐부티랄, 폴리메틸비닐에테르, 폴리히드록시에틸아크릴레이트, 히드록시에틸셀룰로오스, 히드록시프로필셀룰로오스, 메틸셀룰로오스, 폴리카보네이트, 폴리알릴레이트, 폴리술폰, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리에테르술폰, 폴리페닐렌술파이드, 폴리페닐렌옥사이드, 폴리알릴술폰, 폴리아미드, 폴리이미드, 폴리올레핀, 폴리염화비닐, 셀룰로오스계 중합체, 또는 이들의 2 원계, 3 원계 각종 공중합체, 그래프트 공중합체, 블렌드물 등을 들 수 있다. 이들 고분자 소재는 연신 등에 의해 배향물 (연신 필름) 이 된다.

상기 액정 폴리머로는, 예를 들어, 액정 배향성을 부여하는 공액성의 직선상 원자단 (메소겐) 이 폴리머의 주쇄나 측쇄에 도입된 주쇄형이나 측쇄형의 여러 가지 것 등을 들 수 있다. 주쇄형 액정성 폴리머의 구체예로는, 굴곡성을 부여하는 스페이서부에 의해 메소겐기를 결합한 구조의, 예를 들어 네마틱 배향성의 폴리에스테르계 액정성 폴리머, 디스코틱 폴리머나 콜레스테릭 폴리머 등을 들 수 있다. 측쇄형 액정성 폴리머의 구체예로는, 폴리실록산, 폴리아크릴레이트, 폴리메타크릴레이트 또는 폴리말로네이트를 주쇄 골격으로 하고, 측쇄로서 공액성의 원자단으로 이루어지는 스페이서부를 통해서 네마틱 배향 부여성의 파라 치환 고리형 화합물 단위로 이루어지는 메소겐부를 갖는 것 등을 들 수 있다. 이들 액정성 폴리머의 형성은, 예를 들어, 유리판 상에 형성한 폴리이미드나 폴리비닐알코올 등의 박막의 표면을 러빙 처리한 것, 산화규소를 사방 증착한 것 등의 배향 처리면 상에 액정성 폴리머의 용액을 전개하여 열처리함으로써 이루어진다.

위상차판은, 예를 들어 각종 파장판이나 액정층의 복굴절에 의한 착색이나 시각 등의 보상을 목적으로 한 것 등과 같은 사용 목적에 따른 적당한 위상차를 갖는 것이면 되고, 2 종 이상의 위상차판을 적층하여 위상차 등의 광학 특성을 제어한 것 등이어도 된다.

시각 보상 필름은 액정 표시 장치의 화면을, 화면에 수직이 아니라 약간 경사진 방향에서 본 경우라도 화상이 비교적 선명하게 보이도록 시야각을 넓히기 위한 필름이다. 이러한 시각 보상 위상차판으로는, 예를 들어 위상차 필름, 액정 폴리머 등의 배향 필름이나 투명 기재 상에 액정 폴리머 등의 배향층을 지지한 것 등으로 이루어진다. 통상의 위상차판은 그 면방향으로 1 축으로 연신된 복굴절을 갖는 폴리머 필름이 사용되는데 비해, 시각 보상 필름으로서 사용되는 위상차판에는 면방향으로 2 축으로 연신된 복굴절을 갖는 폴리머 필름이라든가, 면방향으로 1 축으로 연신되고 두께 방향으로도 연신된 두께 방향의 굴절률을 제어한 복굴절을 갖는 폴리머나 경사 배향 필름과 같은 2 방향 연신 필름 등이 사용된다. 경사 배향 필름으로는, 예를 들어 폴리머 필름에 열수축 필름을 접착하여 가열에 의한 그 수축력의 작용하에 폴리머 필름을 연신 처리 또는/및 수축 처리한 것이나, 액정 폴리머를 경사 배향시킨 것 등을 들 수 있다. 위상차판의 소재 원료 폴리머는 앞서 위상차판에서 설명한 폴리머와 동일한 것이 사용되고, 액정 셀에 의한 위상차에서 기인하는 시인각의 변화에 따른 착색 등의 방지나 양호한 시인의 시야각 확대 등을 목적으로 한 적당한 것을 사용할 수 있다.

또한, 양호한 시인의 넓은 시야각을 달성한다는 점 등에서, 액정 폴리머의 배향층, 특히 디스코틱 액정 폴리머의 경사 배향층으로 이루어지는 광학적 이방성층을 트리아세틸셀룰로오스 필름으로 지지한 광학 보상 위상차판을 바람직하게 사용할 수 있다.

편광판과 휘도 향상 필름을 부착시킨 편광판은, 통상 액정 셀의 이면측 사이드에 형성되어 사용된다. 휘도 향상 필름은, 액정 표시 장치 등의 백라이트나 이면측으로부터의 반사 등에 의해 자연광이 입사되면 소정 편광축의 직선 편광 또는 소정 방향의 원 편광을 반사시키고 다른 광은 투과시키는 특성을 나타내는 것으로, 휘도 향상 필름을 편광판과 적층한 편광판은 백라이트 등의 광원으로부터의 광을 입사시켜 소정 편광 상태의 투과광을 얻음과 함께, 상기 소정 편광 상태 이외의 광은 투과시키지 않고 반사된다. 이 휘도 향상 필름면에서 반사된 광을 다시 그 뒤측에 형성된 반사층 등을 통해서 반전시켜 휘도 향상 필름에 재입사시키고, 그 일부 또는 전부를 소정 편광 상태의 광으로서 투과시켜 휘도 향상 필름을 투과하는 광의 증량을 도모함과 함께, 편광자에 흡수시키기 어려운 편광을 공급하여 액정 화상 표시 등에 이용할 수 있는 광량의 증대를 도모함으로써 휘도를 향상시킬 수 있는 것이다. 즉, 휘도 향상 필름을 사용하지 않고, 백라이트 등에 의해 액정 셀의 이면측에서 편광자를 통하여 광이 입사된 경우에는, 편광자의 편광축에 일치하지 않는 편광 방향을 갖는 광은 거의 편광자에 흡수되어 버려, 편광자를 투과하지 않는다. 즉, 사용한 편광자의 특성에 따라서도 다르지만, 대략 50% 의 광이 편광자에 흡수되고, 그 만큼 액정 화상 표시 등에 이용할 수 있는 광량이 감소하여 화상이 어두워진다. 휘도 향상 필름은 편광자에 흡수되는 편광 방향을 갖는 광을 편광자에 입사시키지 않고 휘도 향상 필름에서 일단 반사시키고, 다시 그 뒤측에 형성된 반사층 등을 통하여 반전시켜 휘도 향상 필름에 재입사시키는 것을 반복하여, 이 양자 사이에서 반사, 반전하는 광의 편광 방향이 편광자를 통과할 수 있는 편광 방향으로 된 편광만을, 휘도 향상 필름은 투과시켜 편광자에 공급하기 때문에, 백라이트 등의 광을 효율적으로 액정 표시 장치의 화상 표시에 사용할 수 있어, 화면을 밝게 할 수 있다.

휘도 향상 필름과 상기 반사층 등의 사이에 확산판을 설치할 수도 있다. 휘도 향상 필름에 의해 반사된 편광 상태의 광은 상기 반사층 등을 향하지만, 설치된 확산판은 통과하는 광을 균일하게 확산시키는 동시에 편광 상태를 해소하여 비편광 상태가 된다. 즉, 확산판은 편광을 원래의 자연광 상태로 되돌린다. 이 비편광 상태, 즉 자연광 상태의 광이 반사층 등을 향하고, 반사층 등을 통해서 반사되어, 다시 확산판을 통과하고 휘도 향상 필름에 재입사되는 것을 반복한다. 이와 같이 휘도 향상 필름과 상기 반사층 등의 사이에, 편광을 원래의 자연광으로 되돌리는 확산판을 설치함으로써 표시 화면의 밝기를 유지하면서, 동시에 표시 화면의 밝기의 불균일함을 적게 하여 균일하고 밝은 화면을 제공할 수 있다. 이러한 확산판을 설치함으로써, 첫회의 입사광은 반사의 반복 회수가 적당하게 증가하여 확산판의 확산 기능과 맞물려 균일하고 밝은 표시 화면을 제공할 수 있는 것으로 생각된다.

상기 휘도 향상 필름으로는 예를 들어 유전체의 다층 박막이나 굴절률 이방성이 상이한 박막 필름의 다층 적층체와 같이, 소정 편광축의 직선 편광을 투과시키고 다른 광은 반사하는 특성을 나타내는 것, 콜레스테릭 액정 폴리머의 배향 필름이나 그 배향 액정층을 필름 기재 상에 지지한 것과 같이, 좌선성 또는 우선성 회전 중 어느 일방의 원 편광은 반사하고 다른 광은 투과시키는 특성을 나타내는 것 등의 적당한 것을 사용할 수 있다.

따라서, 상기한 소정 편광축의 직선 편광을 투과시키는 타입의 휘도 향상 필름에서는 그 투과광을 그대로 편광판에 편광축을 정렬시켜 입사시킴으로써, 편광판에 의한 흡수 손실을 억제하면서 효율적으로 투과시킬 수 있다. 한편, 콜레스테릭 액정층과 같이 원 편광을 투과시키는 타입의 휘도 향상 필름에서는 그대로 편광자에 입사시킬 수도 있지만, 흡수 손실을 억제하는 점에서 그 원 편광을 위상차판을 통해 직선 편광화하여 편광판에 입사시키는 것이 바람직하다. 또한, 그 위상차판으로서 1/4 파장판을 사용함으로써, 원 편광을 직선 편광으로 변환할 수 있다.

가시광역 등의 넓은 파장 범위에서 1/4 파장판으로서 기능하는 위상차판은, 예를 들어 파장 550㎚ 의 담색광에 대하여 1/4 파장판으로서 기능하는 위상차층과 다른 위상차 특성을 나타내는 위상차층, 예를 들어 1/2 파장판으로서 기능하는 위상차층을 중첩하는 방식 등에 의해 얻을 수 있다. 따라서, 편광판과 휘도 향상 필름 사이에 배치하는 위상차판은 1 층 또는 2 층 이상의 위상차층으로 이루어지는 것일 수 있다.

또한, 콜레스테릭 액정층에 관해서도, 반사 파장이 상이한 것의 조합으로 하여 2 층 또는 3 층 이상 중첩한 배치 구조로 함으로써 가시광역 등의 넓은 파장 범위에서 원 편광을 반사하는 것을 얻을 수 있고, 이것에 기초하여 넓은 파장 범위의 투과 원 편광을 얻을 수 있다.

또한, 본 발명의 시트상 제품 (예를 들어 편광판) 은, 상기한 편광 분리형 편광판과 같이, 편광판과 2 층 또는 3 층 이상의 광학층을 적층한 것으로 이루어져 있어도 된다. 따라서, 상기한 반사형 편광판이나 반투과형 편광판과 위상차판을 조합한 반사형 타원 편광판이나 반투과형 타원 편광판 등이어도 된다.

편광판에 상기 광학층을 적층한 광학 필름은, 액정 표시 장치 등의 제조 과정에서 순차 별개로 적층하는 방식으로도 형성할 수 있지만, 미리 적층하여 광학 필름으로 한 것은 품질의 안정성이나 조립 작업성 등이 우수하여 액정 표시 장치 등의 제조 공정을 향상시킬 수 있는 이점이 있다. 적층에는 점착제층 등의 적당한 접착 수단을 사용할 수 있다. 상기 편광판과 다른 광학층의 접착시에 있어서, 이들 광학축은 목적으로 하는 위상차 특성 등에 따라서 적당한 배치 각도로 할 수 있다.

본 발명에 따른 편광판이나, 상기한 적층 광학 부재에는, 액정 셀 등의 다른 부재와 접착시키기 위한 점착층이 형성된다. 그 점착층은 특별히 한정되지 않으며, 아크릴계 등의 종래에 준한 적절한 점착제로 형성할 수 있다. 흡습에 의한 발포 현상이나 박리 현상의 방지, 열팽창차 등에 의한 광학 특성의 저하나 액정 셀의 휨 방지, 나아가서는 고품질이면서 내구성이 우수한 액정 표시 장치의 형성성 등의 면에서, 흡습률이 낮고 내열성이 우수한 점착층인 것이 바람직하다. 또한, 미립자를 함유하여 광 확산성을 나타내는 점착층 등으로 할 수 있다. 점착층은 필요에 따라서 필요한 면에 형성하면 되고, 예를 들어, 편광자와 편광자 보호층으로 이루어지는 편광판에 대해 언급한다면, 필요에 따라서 편광자 보호층의 편면 또는 양면에 점착층을 형성하면 된다.

상기 점착층의 노출면에 대해서는, 실용에 이용될 때까지는, 그 오염 방지 등을 목적으로 세퍼레이터 (이형 필름으로 부르는 경우가 있음.) 가 임시로 부착되어 커버된다. 그럼으로써, 통상적인 취급 상태에서 점착층에 접촉되는 것을 방지할 수 있다. 세퍼레이터로는, 상기 두께 조건을 제외하고, 예를 들어 플라스틱 필름, 고무 시트, 종이, 천, 부직포, 네트, 발포 시트나 금속박, 그들의 라미네이트체 등의 적당한 박엽체 (薄葉體) 를 필요에 따라서 실리콘계나 장쇄 알킬계, 불소계나 황화몰리브덴 등의 적당한 박리제로 코팅 처리한 것 등과 같은, 종래에 준한 적당한 것을 사용할 수 있다.

이 세퍼레이터가 형성된 면과 반대면의 편광판에는, 보호 필름이 약점착제를 통하여 형성된다. 그 목적은, 흠집 방지, 오염 방지 등이 주목적이다. 보호 필름으로는, 예를 들어 플라스틱 필름, 고무 시트, 종이, 천, 부직포, 네트, 발포 시트나 금속박, 그들의 라미네이트체 등의 적당한 박엽체를 필요에 따라서 실리콘계나 장쇄 알킬계, 불소계나 황화몰리브덴 등의 적당한 박리제로 코팅 처리한 것 등과 같은, 종래에 준한 적당한 것을 사용할 수 있다.

또한, 본 발명에 있어서, 상기한 편광판을 형성하는 편광자나 편광자 보호층이나 광학 필름 등, 또한 점착층 등의 각 층에는, 예를 들어 살리실산에스테르계 화합물이나 벤조페놀계 화합물, 벤조트리아졸계 화합물이나 시아노아크릴레이트계 화합물, 니켈 착염계 화합물 등의 자외선 흡수제에 의해 처리하는 방식 등의 방식에 의해 자외선 흡수능을 갖게 한 것 등이어도 된다.

본 발명에 의한 시트상 제품은, 액정 표시 장치, 유기 EL 표시 장치, PDP 등의 화상 표시 장치 (광학 표시 장치에 상당함.) 의 형성에 바람직하게 사용할 수 있다.

본 발명의 편광판 또는 광학 필름은 액정 표시 장치 등의 각종 장치의 형성 등에 바람직하게 사용할 수 있다. 액정 표시 장치의 형성은 종래에 준하여 할 수 있다. 즉 액정 표시 장치는 일반적으로, 액정 셀 (광학 표시 유닛에 상당함.) 과 편광판 또는 광학 필름, 및 필요에 따른 조명 시스템 등의 구성 부품을 적절히 조립하여 구동 회로를 조립함으로써 형성되지만, 본 발명에서는 본 발명에 의한 편광판 또는 광학 필름을 사용하는 것을 제외하고 특별히 한정되지 않고, 종래에 준할 수 있다. 액정 셀에 관해서도, 예를 들어 TN 형이나 STN 형, π 형 등의 임의의 타입의 것을 사용할 수 있다.

액정 셀의 편측 또는 양측에 편광판 또는 광학 필름을 배치한 액정 표시 장치나, 조명 시스템에 백라이트 또는 반사판을 사용한 것 등의 적당한 액정 표시 장치를 형성할 수 있다. 그 경우, 본 발명에 의한 편광판 또는 광학 필름은 액정 셀의 편측 또는 양측에 설치할 수 있다. 양측에 편광판 또는 광학 필름을 형성하는 경우, 그것들은 동일한 것이어도 되고 다른 것이어도 된다. 또한, 액정 표시 장치의 형성시에 있어서는, 예를 들어 확산판, 안티글레어층, 반사 방지막, 보호판, 프리즘 어레이, 렌즈 어레이 시트, 광확산판, 백라이트 등의 적당한 부품을 적당한 위치에 1 층 또는 2 층 이상 배치할 수 있다.

본 발명에 의한 시트상 제품 (예를 들어 편광판) 은, 액정 표시 장치 등의 각종 장치의 형성 등에 바람직하게 사용할 수 있다. 액정 표시 장치는, 본 발명에 의한 시트상 제품 (예를 들어 편광판) 을 액정 셀의 편측 또는 양측에 배치하여 이루어지는 투과형이나 반사형, 또는 투과·반사 양용형 등의 종래에 준한 적절한 구조를 갖는 것으로서 형성할 수 있다. 따라서, 액정 표시 장치를 형성하는 액정 셀은 임의이고, 예를 들어 박막 트랜지스터형으로 대표되는 단순 매트릭스 구동형의 것 등 적당한 타입의 액정 셀을 사용한 것이어도 된다.

또한 액정 셀의 양측에 편광판이나 광학 부재를 형성하는 경우, 그것들은 동일한 것이어도 되고, 상이한 것이어도 된다. 그리고, 액정 표시 장치의 형성시에 있어서는, 예를 들어 프리즘 어레이 시트나 렌즈 어레이 시트, 광확산판이나 백라이트 등의 적당한 부품을 적당한 위치에 1 층 또는 2 층 이상 배치할 수 있다.

<제조 시스템의 구성>

(실시형태 1)

이하에 도면을 사용하여, 본 발명의 결함 검사 장치, 절단 장치, 검사 데이터 처리 장치, 제조 시스템의 구성에 관해서 설명한다. 도 1 은 제조 시스템의 기능 블록도이다. 도 1 의 기능 설명에서는, 본 발명의 작용 효과를 나타내는 수단 등에 관해서 주로 설명하고, 종래 공지된 수단에 관해서는 그 설명을 생략하거나 또는 간단하게 설명한다. 도 1 의 제조 시스템은, 결점 검사 장치 (10), 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20), 슬릿용 절단 장치 (30), 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40), 매엽용 절단 장치 (50) 를 구비하여 구성되어 있다. 이하, 각 장치에 대해 설명한다.

도 2 는, 전체의 검사 공정을 설명하는 도면이다. 제조 공정은 전공정과 후공정으로 나뉘어 있다. 전공정은, (A) PVA 의 처리 공정, (B) TAC 의 처리 공정, (C) PVA 와 TAC 의 부착 공정 (편광판 형성 공정), (D) 세퍼레이터의 처리 공정 (점착제 도포), (E) 보호 필름의 처리 공정 (점착제 도포), (F) 편광판과 세퍼레이터 및 보호 필름의 부착 공정, (G) 슬릿 절단 공정으로 이루어진다. 실시형태 1 에서는, (A), (C), (D), (E) 의 공정에 결점 검사 장치를 배치하고 있다.

후공정은, (H) 매엽의 시트상 제품을 얻기 위한 매엽 절단 공정, (I) 간이 검사의 공정으로 이루어진다. 간이 검사는, 타흔 등의 비교적 간단하게 검사할 수 있는 결점을 대상으로 하고 있다.

(결점 검사 장치)

결점 검사 수단은 각 제조 공정마다, 예를 들어, 시트상 제품을 구성하는 단층체의 가공 처리마다, 적층체 형성 (성막) 공정마다 검사부를 형성할 수 있다. 여기서는 설명상, 결점 검출 수단은, 편광자 검사부 (11), 편광판 검사부 (12), 세퍼레이터 검사부 (13), 보호 필름 검사부 (14) 를 갖고 있다. 또한, 결점 검사 수단은, 편광판 검사부 (12) 만, 편광판 검사부 (12), 세퍼레이터 검사부 (13) 및 보호 필름 검사부 (14) 만으로 구성할 수도 있다. 또한, 편광판을 구성하는 TAC 필름의 처리 공정에 있어서 TAC 필름의 결점을 검출하도록 구성할 수 있다. 이와 같이, 시트상 제품을 구성하는 부재를 단층체 (접착제 또는 점착제를 포함해도 됨.) 마다 결점 검사함으로써, 세퍼레이터 또는 보호 필름의 영향 없이 높은 정밀도로 결점을 검출할 수 있다. 또한, 시트상 제품을 구성하는 적층체 (예를 들어, 편광판) 의 결점 검사를 함으로써, 세퍼레이터 또는 보호 필름의 영향 없이 높은 정밀도로 결점을 검출할 수 있다. 그리고, 세퍼레이터와 보호 필름에 관해서는, 그 자체 (점착제가 도포되어 있는 상태를 포함함.) 에서 결점을 검출하고, 다른 결점 정보와 통합함으로써, 세퍼레이터와 보호 필름이 부착된 상태의 시트상 제품으로서의 결점 정보가 얻어진다.

편광자 검사부 (11) 는, 염색ㆍ가교 및 연신 처리한 폴리비닐알코올 (PVA) 필름을 건조시켜 편광자를 얻는 제조 공정 중에서, 최종 단계인 건조 공정 후에 배치되어, PVA 필름 원반의 결점을 검사한다. 또한, TAC 와의 부착 공정 전에 PVA 를 검사할 수 있는 위치에 편광자 검사부 (11) 를 배치할 수도 있다.

구체적 검사 방법은 종래 공지된 방법을 적용할 수 있으며, 예를 들어, 필름 양면에 광원 (반사 방식, 투과 방식) 을 조사하여 CCD 카메라로 촬상하고, 그 화상을 화상 처리하는 검사 방법이 예시되고, 그 구체적 장치도 공지된 것을 적용할 수 있다. 이것에 의해 필름 표면 부착 이물질, 흠집, 오염 등을 검출할 수 있다. 또한, 필름 속에 혼합되어 내포된 상태의 이물질도 검출할 수 있다.

편광자 검사부 (11) 에서 얻어진 결점의 정보는, 그 위치 좌표와 함께 저장부 (16) 에 저장된다. 결점의 위치 좌표는, 원반의 절대 좌표이어도 되고, 원반 필름의 폭방향 단부에 형성된 위치 정보 (또는 마크) 를 원점으로 하는 상대 좌표이어도 된다. 결점의 정보는, 그 종류, 사이즈 및/또는 형상도 포함하는 정보이다. 또한, 결점의 정보 및 그 위치 정보 (위치 좌표) 는, 원반 필름의 식별 정보 (예를 들어, 제조 Lot 등) 와 함께 택 처리되어 저장부 (16) 에 저장된다. 위치 좌표는, 공지된 방법에 의해 취득ㆍ연산할 수 있으며, 원점으로부터의 반송량을 시트의 반송 속도로부터 연산해도 되고, 로터리 인코더 등의 위치 검출 장치를 사용하여 반송량을 검출하고, 좌표를 산출해도 된다.

또, 저장부 (16) 는, 비휘발성의 기록 매체이어도 되고 휘발성의 기록 매체이어도 되며, 예를 들어 하드디스크를 예시할 수 있다.

편광판 검사부 (12) 는, 편광자의 양면에 접착제를 통하여 트리아세틸셀룰로오스 (TAC) 필름을 부착시켜, 편광판을 얻는 제조 공정 중에서, 최종 단계인 부착 공정 후에 배치되어, 편광판 원반의 결점을 검사한다. 구체적 검사 방법은 종래 공지된 방법을 적용할 수 있으며, 예를 들어, 필름 양면에 광원 (반사 방식, 투과 방식) 을 조사하여 CCD 카메라로 촬상하고, 그 화상을 화상 처리하는 검사 방법이 예시되고, 그 구체적 장치도 공지된 것을 적용할 수 있다. 또한, CCD 카메라와 검사 대상물 사이에 검사용 편광 필름을 통하여 검사하는 방법도 적용할 수 있다.

편광판이 TAC/PVA/TAC 의 적층체인 경우, 검사 방법으로서, 그 필름 양면에 대하여 투과광, 반사광에 의한 화상 촬영ㆍ화상 처리하는 방법 (계통 1, 2), 검사용 편광 필름을 CCD 카메라와 검사 대상물 사이에, 검사 대상인 편광판의 편광축과 크로스니콜하게 되도록 배치 (0 도 크로스라고 부르는 경우가 있음.) 하여 화상 촬영ㆍ화상 처리하는 방법 (계통 3), 검사용 편광 필름을 CCD 카메라와 검사 대상물 사이에, 검사 대상인 편광판의 편광축과 소정 각도 (예를 들어, 0 도보다 크고 10 도 이내의 범위) 가 되도록 배치 (x 도 크로스라고 부르는 경우가 있음.) 하여 화상 촬영ㆍ화상 처리하는 방법 (계통 4) 을 들 수 있다.

투과광에 의한 화상 촬영ㆍ화상 처리 방법에서는, 원반 필름 내부의 이물질을 검출할 수 있다. 반사광에 의한 화상 촬영ㆍ화상 처리 방법에서는, 원반 필름 표면의 부착 이물질을 검출할 수 있다. 0 도 크로스에 의한 화상 촬영ㆍ화상 처리 방법에서는, 주로 표면 이물질, 오염, 내부의 이물질 등을 휘점으로서 검출할 수 있다. x 도 크로스에 의한 화상 촬영ㆍ화상 처리 방법에서는, 주로 쿠닉을 검출할 수 있다.

편광판 검사부 (12) 에서 얻어진 결점의 정보는, 그 위치 정보 (위치 좌표), 원반 필름의 식별 정보 (예를 들어, 제조 Lot 등) 와 함께 택 처리되어 저장부 (16) 에 저장된다.

세퍼레이터 검사부 (13) 는, 세퍼레이터에 점착제를 도포하는 공정 후에 배치할 수 있다. 또는, 편광판 원반과의 부착 전에, 세퍼레이터를 검사할 수 있는 위치에 배치할 수 있다. 구체적 검사 방법은 종래 공지된 방법을 적용할 수 있으며, 예를 들어, 필름 양면에 광원 (반사 방식, 투과 방식) 을 조사하여 CCD 카메라로 촬상하고, 그 화상을 화상 처리하는 검사 방법이 예시되고, 그 구체적 장치도 공지된 것을 적용할 수 있다. 이것에 의해 세퍼레이터 필름 또는 점착제 표면 부착 이물질, 오염, 흠집, 점착제 도포 불량 (코드 (cord), 균열) 등을 검출할 수 있다. 또한, 세퍼레이터 필름 또는 점착제에 혼합되어 내포된 상태의 이물질도 검출할 수 있다.

세퍼레이터 검사부 (13) 에서 얻어진 결점의 정보는, 그 위치 정보 (위치 좌표), 원반 필름의 식별 정보 (예를 들어, 제조 Lot 등) 와 함께 택 처리되어 저장부 (16) 에 저장된다.

*보호 필름 검사부 (14) 는, 보호 필름에 점착제를 도포하는 공정 후에 배치할 수 있다. 또는, 편광판 원반과의 부착 전에, 보호 필름을 검사할 수 있는 위치에 배치할 수 있다. 구체적 검사 방법은 종래 공지된 방법을 적용할 수 있으며, 예를 들어, 필름 양면에 광원 (반사 방식, 투과 방식) 을 조사하여 CCD 카메라로 촬상하고, 그 화상을 화상 처리하는 검사 방법이 예시되고, 그 구체적 장치도 공지된 것을 적용할 수 있다. 이것에 의해 보호 필름 또는 점착제 표면 부착 이물질, 오염, 흠집, 점착제 도포 불량 (코드, 균열) 등을 검출할 수 있다. 또한, 보호 필름 또는 점착제에 혼합되어 내포된 상태의 이물질도 검출할 수 있다.

보호 필름 검사부 (14) 에서 얻어진 결점의 정보는, 그 위치 정보 (위치 좌표), 원반 필름의 식별 정보 (예를 들어, 제조 Lot 등) 와 함께 택 처리되어 저장부 (16) 에 저장된다.

결점 정보 작성부 (15) 는, 저장부 (16) 에 저장되어 있는, 각 검사부에서 얻어진 결점의 정보, 결점의 위치 정보 (위치 좌표), 제조 식별 정보를 통합하여, 시트상 제품으로서의 결점 정보를 작성한다. 예를 들어, 편광자 검사부 (11) 에서 얻어진 결점의 정보와 편광판 검사부 (12) 에서 얻어진 결점의 정보는 동일한 편광자 원반을 검사하고 있기 때문에, 일부 결점의 정보가 중복되어 있게 된다. 이 경우, 같은 위치 정보 (위치 좌표) 에 동 종류, 동 사이즈 또는 동 형상의 결점 정보가 있으면, 결점으로서는 1 개만 존재하는 것으로 판정한다. 또는, 데이터 처리의 간소화를 위해, 같은 위치 정보 (위치 좌표) 의 결점은, 결점으로서 1 개만 존재하는 것으로 판정해도 된다. 또, 동 위치에서 검출된 결점은 모두 포함되도록 통합할 수도 있다.

또한, 복수의 결점 정보를 통합하는 경우, 원점을 정하고, 이 원점을 기준으로 결점의 위치 좌표를 보정하는 처리를 실시한다.

결점 정보 형성부 (17) 는, 각 검사부에서 얻어진 결점의 정보를 그 위치 정보, 제조 식별 정보와 함께 검사 대상물에 형성한다. 예를 들어, 편광자 검사부 (11) 에서 얻어진 상기 정보를 코드 데이터 (2 차원 코드, QR 코드) 로서, PVA 필름 원반의 일단면에 소정 피치 (예를 들어 1000㎜) 로 형성한다. 또한, 편광판 검사부 (12) 에서 얻어진 상기 정보를 코드 데이터 (2 차원 코드, QR 코드) 로서, 편광판 원반의 일단면에 소정 피치 (예를 들어 1000㎜) 로 형성한다.

또한, 결점 정보 형성부 (17) 는, 결점 정보 작성부 (15) 에서 작성된 결점 정보 (각 검사부에서 얻어진 결점 정보의 통합 데이터) 를 보호 필름 또는 세퍼레이터에 형성할 수 있다.

결점 정보 형성부 (17) 는 종래 공지된 장치로 구성할 수 있고, 예를 들어, 2 차원 코드를 형성하는 경우, 공지된 2 차원 코드 형성 장치로 구성할 수 있다.

표시 제어부 (18) 는, 각 검사부의 검사 결과를 모니터에 표시시키도록 기능한다. 구체적으로 표시 제어부 (18) 는, 각 검사부에 의한 검사와 실시간으로, 예를 들어, 결점의 사이즈, 종류, 형상, 결점 좌표, 제조 Lot 등을 모니터에 표시한다. 이것에 의해, 어디에 어떠한 사이즈의 결점이 몇 개 있는지를 제조하면서 바로 확인할 수 있고, 예를 들어, 장치 오퍼레이터가 이 모니터를 봄으로써, 주기성 결점, 돌발성 결점의 존재를 판단해서 그 제조 라인의 문제를 조정할 수 있어, 결점 발생의 개선, 수율 향상에 도움이 된다. 또한, 실시간으로 유효 폭의 확인이 가능하여, 원반의 품위를 확정하는 데에 도움이 된다.

도 3 은, 모니터에 표시되는 결점 정보의 일례를 나타내는 도면이다. 원반의 폭, 길이 방향의 좌표와 함께 결점의 종류 (쿠닉, 휘점), 사이즈 (소 (＜10㎛), 중 (10㎛ ∼ 20㎛), 대 (＞20㎛)) 가 표시되어 있다.

이상 판정부 (19) 는, 각 검사부의 검사 결과로부터 주기성 결점, 돌발성 결점을 판정한다. 구체적으로는, 이상 판정부 (19) 는, 미리 저장부 (16) 에 저장되어 있는 이상 판정 조건에 따라서, 주기성 결점, 돌발성 결점을 판정하고, 예를 들어, 원반의 폭방향 좌표 (이하, x 좌표라고 함.) 가 같은 위치에서 연속적으로 소정 개수 이상의 결점이 검출되어 있는 경우, 주기성 결점으로 판정한다. 또한, 예를 들어, 원반의 길이 방향 좌표 (이하, y 좌표라고 함.) 가 같은 위치에서 소정 개수 이상의 결점이 검출되어 있는 경우, 돌발성 결점으로 판정한다.

이상 판정부 (19) 의 결과, 이상으로 판정된 경우, 이상 판정부 (19) 는 경보음 및/또는 경고 표시를 실시하도록 기능하는 것이 바람직하다.

(제 1 검사 데이터 처리 장치)

제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 는, 원하는 설정 조건에 따라서 결점 정보를 해석하여, 예를 들어 최적 수율의 시트상 제품 원반을 선택할 수 있다. 이것에 의해, 슬릿용 절단 공정보다 하류의 제조 공정에 있어서 원하는 설정 조건 (사용자측 고유의 조건) 에 최적인 시트상 제품 원반을 제조할 수 있다.

제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 는, 결점 검사 장치 (10) 와 네트워크를 통하여 접속되어 있다. 취득 수단 (21) 은, 공지된 통신 수단으로 구성할 수 있고, 이 경우, 결점 검사 장치 (10) 의 통신 수단 (도시 생략) 과 통신에 의해 결점 정보를 수신할 수 있다. 또한, 취득 수단 (21) 이 기록 매체 판독 장치 (예를 들어 CD 드라이브) 로 구성되어 있는 경우, 결점 정보는 CD 에 기록되어 있어도 된다. 이 경우, 결점 검사 장치 (10) 는 기록 매체 기입 장치 (도시 생략) 을 구비하여, 결점 정보를 기입하도록 구성된다. 또한, 취득 수단 (21) 이 코드 데이터 판독 장치로 구성되는 경우, 시트상 제품에 형성된 결점 정보를 판독하도록 구성해도 된다. 또, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 는, 후술하는 슬릿용 절단 장치 (30) 가 판독한 결점 정보를 수신하도록 구성할 수도 있다.

취득 수단 (21) 에서 취득된 결점 정보는 저장부 (22) 에 저장된다. 저장부 (22) 는, 예를 들어 하드디스크로 구성된다.

수율 산출부 (23) 는, 저장부 (22) 로부터 결점 정보를 취득한다. 그리고, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단함으로써 얻어지는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출한다. 설정 조건은 1 개여도 되지만 복수 개 설정할 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다. 이것에 의해 출하처의 판정 조건을 적절히 선택할 수 있기 때문이다. 또한, 판정 조건의 데이터는 미리 저장부 (22) 에 저장되어, 입력 접수 수단 (25) 으로부터 판정 조건을 선택할 수 있도록 구성되어 있어도 되고, 입력 접수 수단 (25) 을 통하여 직접 입력되도록 구성되어 있어도 된다. 또, 수율을 산출하는 경우에 스킵 커트 방식을 채용하여 산출하는 것이 바람직하다. 이 수율 산출에 동반하여, 슬릿폭 및/또는 슬릿 위치가 산출된다.

예를 들어, 매엽의 사이즈와 원반폭으로부터, 슬릿하여 유효폭의 원반 롤을 형성하는 경우에, 1 개의 원반 롤로부터 양 사이드의 슬릿 위치에서 절단하여 1 개의 유효폭의 원반 롤을 제조할 수 있다. 여기서, 슬릿 위치는, 예를 들어, 결점의 배치 (위치 좌표) 를 고려하여, 일방의 단부에 결점이 집중되어 있는 경우, 이 결점이 많은 단부측을 피하도록 슬릿 위치를 설정할 수 있다. 또한, 1 개의 원반 롤로부터 복수의 원반 롤을 슬릿하여 얻는 경우, 중앙에 결점이 집중되어 있는 경우에 중앙 부분을 피하도록 슬릿 위치를 설정할 수 있다. 또한, 복수 개의 원반 롤을 얻는 경우, 개개의 슬릿폭이 상이해도 된다.

원반 설정부 (24) (설정 수단에 상당함.) 는, 산출된 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정한다. 예를 들어, 복수의 시트상 제품 원반으로부터 최적의 시트상 제품 원반을 설정하고자 하는 경우에, 예를 들어 수율이 소정치 이상이면, 그 시트상 제품 원반이 설정되게 된다. 소정치로서, 복수의 시트상 제품 원반 중에서 최대의 수율치를 설정할 수 있다. 판정 조건에, 납품처 (또는 반송처) 의 데이터가 있으면, 여기서 설정된 시트상 제품 원반 롤은, 납품처 (또는 반송처) 에 반송되게 된다.

입력 접수 수단 (25) 은, 키보드, 마우스, 터치 패널 등의 입력 장치를 예시할 수 있고, 모니터에 표시되는 조작 화면의 조작 안내에 따라서 설정 조건 등이 입력되게 된다.

표시 제어부 (26) 는, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 의 조작 화면 등의 표시를 통괄적으로 제어하는 것이다. 또한, 표시 제어부 (26) 는, 산출된 수율을 모니터에 표시시킬 수 있다. 또한, 표시 제어부 (26) 는, 시트상 제품 원반을 전개시켜서, 그것에 중복하도록, 양품으로서 얻어지는 매엽의 시트상 제품을 모니터에 표시할 수 있다.

도 4 내지 8 에 수율 산출, 최적 시트상 제품 원반의 설정에 관한 표시의 일례를 나타낸다. 도 4 는, 사용자로부터의 주문 정보의 일람예와 이미 제조되어 있는 원반 로트 (시트상 제품 원반 로트) 의 일람예를 나타낸다. 여기서, 임의의 하나의 주문 정보를 선택한다. 이어서, 도 5 는, 선택된 주문 정보의 판정 조건을 입력하는 입력 화면예이다. 미리 설정 조건이 주문 정보에 포함되어 있는 경우 또는 저장부 (22) 에 저장되어 있는 경우에, 판정 조건은 자동적으로 입력되고 표시된다. 주문 정보에는, 매엽의 사이즈와 납품수가 포함되어 있다. 결점 항목으로서, 쿠닉, 휘점, 이물질이 있다. 화면 좌측의 마스터에 있어서, 결점 사이즈 규격으로서 하한, 상한을 설정할 수 있다. 하한치의 결점이 결점 규격 개수 이상은 불량품으로서 판정된다. 상한치의 결점이 1 개 있으면 불량품으로서 판정된다. 결점수로서, 규격 내, 규격 외의 산출 결과가 표시된다. 예를 들어, 규격 내의 「378」은, 결점이 존재하지만 불량품으로서 취급하지 않는 수량을 나타낸다. 규격 외의 「12」는, 결점 사이즈 규격에서 불량품으로서 판단된 수량을 나타낸다.

화면 우측의 시뮬레이션에 있어서, 결점 사이즈 규격의 각 항목을 자유롭게 입력할 수 있다. 예를 들어, 상한을 「0.2」로 변경하여 입력한 경우, 결점수의 규격 외가 「20」으로 증가하였다. 즉, 시뮬레이션측에서 자유롭게 결점 사이즈 규격을 입력함으로써 마스터와는 다른 결과의 결점수를 산출할 수 있어, 마스터에서의 결점수와의 비교를 용이하게 실시할 수 있다.

도 6 은, 도 5 에서의 마스터와 시뮬레이션 결과를 나타내는 별도의 표시예이다. 화면의 중앙에는, 원반 롤이 전개되고, 규격 외의 결점이 사각 마크로 표시되어 있다. 또한, 시트 범위를 피하도록 결점만이 표시되어 있고, 스킵 커트 방식을 채용하고 있음이 표시되어 있다. 또한, 임의의 로트 No. 의 원반 롤에 대하여, 상이한 2 종류의 주문 정보의 판정 조건이 적용되어 산출되어 있어, 상하로 분리되어 표시되어 있다. 여기서는, 1 개의 원반으로부터 2 종류의 주문 정보에 합치된 2 개의 원반 롤이 슬릿되는 것을 나타내고 있다. 또한, 로트 No, 원반 길이, 원반폭, 원반 유효폭 (슬릿폭), 결점수, 수율이 표시된다. 또한, 상부의 전개 롤과 하부의 전개 롤 각각의 주문 정보의 품번과 규격 (식별 정보), 취득 개수 (양품수), 슬릿폭, 스킵 회수 (스킵 커트한 회수), 총 스킵 길이가 표시된다. 이것에 의해, 임의의 시트상 제품 원반에 대하여, 상이한 주문 정보의 설정 조건을 동시에 적용할 수 있다. 또한, 1 개의 원반 롤로부터, 복수의 주문 또는 동일 주문에 관계된 설정 조건에서 수율을 산출하고, 각각 비교함으로써 최적 수율이 되는 1 개의 원반 롤을 설정할 수 있다.

도 7 은, 주문 정보에 대하여 최적 수율의 원반 로트 (설정 로트 xxxxx-03, 수율 80.3) 가 설정된 경우의 표시예를 나타내고 있다. 로트 No 와 원반 길이가 표시되고, 주문 정보에 포함되어 있는, 반송처 (납품처), 품번, 규격, 사이즈, 출하 예정일, 매수, 취득 개수, 수율 등이 표시된다.

도 8 은, 원반 롤을 전개하고 결점과 시트의 취득 위치를 중복해서 표시하는 일례를 나타내고 있다. 1 개의 원반 롤로부터, 2 개의 원반 롤로 슬릿하는 일례이다. 원반폭에 대하여 유효폭이 설정되고, 그 유효폭 내에 시트의 취득 위치가 표시되어 있다. 여기서는, 2 종류의 사이즈의 시트가 혼재된 취득 위치가 표시되어 있다. 또, 결점을 피하도록 취득 위치가 설정되어 있다. 이것에 의해, 전체 길이에 있어서 원반의 유효폭이 명확하게 된다. 또한, 어디에 어떠한 사이즈의 결점이 몇 개 있는지를 알 수 있다. 전체 면적의 외관 상태를 알 수 있으며, 취득 위치 상태의 시뮬레이션이 가능해진다. 또한, 정확한 원반 판매 단가를 유저와 결정할 수 있다.

이상 판정부 (27) 는, 시트상 제품 원반의 결점 정보로부터 주기성 결점, 돌발성 결점을 판정한다. 구체적으로 이상 판정부 (27) 는, 미리 저장부 (22) 에 저장되어 있는 이상 판정 조건에 따라서, 주기성 결점, 돌발성 결점을 판정할 수 있다.

또, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 는, 시트상 제품 원반의 결점 정보만을 취득하는 구성으로서 설명하였지만, 각 검사부에서의 검사 결과인 결점의 정보 등도 취득할 수 있도록 구성해도 된다. 그리고, 각 검사 공정에서의 결점의 정보를 표시시키고, 주기성, 돌발성 결점을 판정할 수 있도록 구성할 수 있다. 또한, 이상 판정부 (27) 가, 각 검사 공정의 결점의 정보로부터 주기성 결점, 돌발성 결점을 판정하도록 구성할 수도 있다.

(슬릿용 절단 장치)

슬릿용 절단 장치 (30) 는, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 에서 설정된 시트상 제품 원반을, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 로부터 취득한 슬릿폭 및/또는 슬릿 위치에 따라서 슬릿 절단할 수 있다. 또한, 슬릿용 절단 장치 (30) 는, 시트상 제품 원반 롤이 세트되어 결점 정보가 판독된 경우에, 결점 정보에 포함되는 제조 로트를 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 에 문의하고, 그 문의에 대한 슬릿폭 및/또는 슬릿 위치에 따라서 슬릿 절단하도록 구성할 수 있다.

취득 수단 (31) 은 공지된 통신 수단으로 구성할 수 있고, 이 경우, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 의 통신 수단 (도시 생략) 과의 통신에 의해, 결점 정보 (시트상 제품의 결점 정보 (결점의 정보, 위치 좌표, 제조 식별 정보를 포함함.)), 슬릿폭 및/또는 슬릿 위치를 수신할 수 있다.

결점 정보 판독부 (32) (결점 정보 판독 수단에 상당함.) 는, 시트상 제품 원반에 형성된 결점 정보를 판독한다. 결점 정보가 코드 데이터 (예를 들어, QR 코드) 로 형성되어 있는 경우, 공지된 코드 데이터 판독 장치로 구성할 수 있다.

절단 수단 (33) 은, 시트상 제품 원반을 전술한 바와 같이 취득된 슬릿폭 및/또는 슬릿 위치에서 슬릿 절단한다. 이 절단 방법은 종래 공지된 슬릿 절단 방법을 적용할 수 있다.

결점 정보 형성부 (34) (결점 정보 형성 수단에 상당함.) 는, 슬릿 절단된 시트상 제품 원반의 소정 위치에 결점 정보를 형성한다. 예를 들어, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 결점 정보를 코드 데이터 (2 차원 코드, QR 코드) 로서, 슬릿 후의 시트상 제품 원반의 일단면에 소정 피치 (예를 들어 1000㎜) 로 형성한다. 결점 정보에는, 예를 들어, 결점의 종류, 사이즈, 형상, 좌표, 제조 식별 번호, 반송처의 데이터가 포함되어 있다. 결점 정보 형성부 (34) 는 종래 공지된 장치로 구성할 수 있고, 예를 들어, 2 차원 코드를 형성하는 경우, 공지된 2 차원 코드 형성 장치로 구성할 수 있다. 또한, 결점 정보 형성부 (34) 는, 결점 정보에 매엽 시트의 절단 위치 정보를 포함시켜 형성할 수 있다. 절단 위치 정보는, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 에서 수율이 산출되었을 때에, 동시에 산출된다.

(제 2 검사 데이터 처리 장치)

제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 및 매엽용 절단 장치 (50) 에 사용되는 제조 라인은, 이보다 상류의 제조 라인과 연속하고 있어도 되고, 별도 라인 (예를 들어, 상이한 제조 장소) 에 설치되어 있어도 된다. 예를 들어, 상류 제조 공정에서 제조된 시트상 제품 원반을 다른 제조소에 반송하고, 여기서 하류의 제조 공정을 실시할 수 있다. 하류의 제조 공정에서는, 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 를 사용해서, 원하는 설정 조건을 설정하고 수율 등을 확인하면서 최적의 시트상 제품 원반을 선택하여, 매엽의 시트상 제품을 제조할 수 있다. 또한, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 로부터 제조 식별 정보에 대응하는 절단 위치 정보를 얻도록 구성되어 있어도 된다.

제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 는, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 와 네트워크를 통해서 접속되어 있다. 취득 수단 (41) 은 공지된 통신 수단으로 구성할 수 있고, 이 경우, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 의 통신 수단 (도시 생략) 과 통신에 의해, 결점 정보 (시트상 제품의 결점 정보 (결점의 정보, 위치 정보, 제조 식별 정보, 반송처의 정보를 포함함.)) 를 수신할 수 있다. 또한, 취득 수단 (41) 이 기록 매체 판독 장치 (예를 들어 CD 드라이브) 로 구성되어 있는 경우, 결점 정보는 예를 들어 CD 에 기록되어 있어도 된다. 이 경우, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 는 기록 매체 기입 장치 (도시 생략) 를 구비하여, 결점 정보를 기입하도록 구성된다. 또한, 취득 수단 (41) 이 코드 데이터 판독 장치로 구성되는 경우, 시트상 제품 원반에 형성된 결점 정보를 판독하도록 구성해도 된다.

취득 수단 (41) 에서 취득된 결점 정보는 저장부 (42) 에 저장된다. 저장부 (42) 는, 예를 들어 하드디스크로 구성된다.

수율 산출부 (43) 는, 저장부 (42) 로부터 결점 정보를 취득한다. 그리고, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단함으로써 얻어지는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출한다. 설정 조건은 1 개이어도 되지만 복수 개 설정할 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 원하는 판정의 판정 조건을 적절히 선택할 수 있기 때문이다. 판정 조건의 데이터는, 미리 저장부 (42) 에 저장되어, 입력 접수 수단 (45) 으로부터 판정 조건을 선택할 수 있도록 구성되어 있어도 되고, 입력 접수 수단 (45) 을 통하여 직접 입력되도록 구성되어 있어도 된다. 또, 수율을 산출하는 경우에 스킵 커트 방식을 채용하여 산출하는 것이 바람직하다. 스킵 커트 방식은, 예를 들어 길이 70㎝ 인 매엽 제품을 절단하는 경우에 결점이 직전의 절단 위치로부터 20㎝ 길이의 위치에 존재하고 있는 경우, 이 결점을 피하여 (스킵하여) 직전의 절단 위치로부터 예를 들어 21㎝ 길이의 위치에서 절단이 시작되도록 반송되어 절단한다.

절단 위치 정보 작성부 (47) 는, 수율 산출에 동반하여 매엽의 절단 위치의 정보를 작성한다. 이 절단 위치의 정보는, 원반의 길이 좌표 (y 좌표) 를 적어도 포함하고 있다. 그리고, 절단 위치의 정보는, 매엽의 절단 장치 (50) 에 제공할 수 있다.

원반 설정부 (44) (설정 수단에 상당함.) 는, 산출된 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정한다. 예를 들어, 복수의 시트상 제품 원반으로부터 최적의 시트상 제품 원반을 설정하고자 하는 경우에, 예를 들어 수율이 소정치 이상이면, 그 시트상 제품 원반이 설정되게 된다. 소정치로서, 복수의 시트상 제품 원반 중에서 최대의 수율치를 설정할 수 있다. 여기서 설정된 시트상 제품 원반 롤은, 예를 들어, 다음의 제조 공정인 매엽용 절단 장치 (50) 에 반송되게 된다.

입력 접수 수단 (45) 은, 키보드, 마우스, 터치 패널 등의 입력 장치를 예시할 수 있고, 모니터에 표시되는 조작 화면의 조작 안내에 따라서 설정 조건 등이 입력되게 된다.

표시 제어부 (46) 는, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (40) 의 조작 화면 등의 표시를 통괄적으로 제어하는 것이다. 또한, 표시 제어부 (46) 는, 산출된 수율을 모니터에 표시시킬 수 있다. 또한, 표시 제어부 (46) 는, 시트상 제품 원반을 전개시켜서, 그것에 중복하도록, 양품으로서 얻어지는 매엽의 시트상 제품을 모니터에 표시할 수 있다. 상기한 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 에서 설명한 바와 같이, 도 4 ∼ 도 8 에 나타내는 수율 산출, 최적 시트상 제품 원반의 설정에 관해서 표시를 실시할 수 있다.

또, 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 는, 시트상 제품 원반의 결점 정보만을 취득하는 구성으로서 설명하였지만, 각 검사부에서의 검사 결과인 결점의 정보 등도 취득할 수 있도록 구성해도 된다. 그리고, 각 검사 공정에서의 결점의 정보를 표시시키고, 주기성, 돌발성 결점을 판정할 수 있도록 구성할 수 있다.

또한, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 를 서버로서 기능시키고, 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 를 클라이언트로서 기능시킨 경우에 있어서, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 의 기능을 소프트웨어 프로그램으로 구성하고, 이것을 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 에 다운로드 가능하게 구성할 수 있다. 또한, 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 를 클라이언트로 하고, 실질적 처리를 서버인 제 1 검사 데이터 처리 장치 (20) 가 실행하도록 구성할 수도 있다.

(매엽용 절단 장치)

매엽용 절단 장치 (50) 는, 시트상 제품 원반을 매엽의 시트상 제품으로 절단하는 기능을 갖고 있다.

취득 수단 (51) 은 공지된 통신 수단으로 구성할 수 있고, 이 경우, 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 의 통신 수단 (도시 생략) 과의 통신에 의해, 결점 정보 (시트상 제품의 결점 정보 (결점의 정보, 위치 정보, 제조 식별 정보를 포함함.)) 및/또는 절단 위치 정보를 수신할 수 있다.

결점 정보 판독부 (52) (결점 정보 판독 수단에 상당함.) 는, 소정의 슬릿폭으로 절단된 시트상 제품 원반 혹은 슬릿 절단되어 있지 않은 시트상 제품 원반에 형성된 당해 시트상 제품 원반에 형성된 결점 정보를 판독한다. 결점 정보에는 위치 좌표 (x, y) 가 포함되어 있기 때문에, 이 정보와 제 2 검사 데이터 처리 장치 (40) 로부터 취득한 절단 위치 정보 (y 좌표) 를 대조함으로써, 절단 위치를 결정할 수 있다. 결점 정보가 코드 데이터 (예를 들어, QR 코드) 로 형성되어 있는 경우, 공지된 코드 데이터 판독 장치로 구성할 수 있다.

*절단 수단 (53) 은, 상기의 절단 위치 정보에 따라서 시트상 제품을 절단할 수 있다. 또한, 절단 수단 (53) 은 판독된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조할 수 있다. 절단 수단 (53) 은, 예를 들어, 길로틴 방식, 펀칭 방식, 레이저 커트 방식의 절단이 가능하다.

제품 정보 형성부 (54) (제품 정보 형성 수단에 상당함.) 는, 매엽으로 절단된 시트상 제품에 당해 시트상 제품에 대응하는 제품 정보를 형성한다. 예를 들어, 매엽의 시트상 제품의 일부에 제품 정보를 코드 데이터 (2 차원 코드, QR 코드) 로서 형성한다. 제품 정보에는, 예를 들어 결점 정보, 제조 식별 번호, 반송처, 제조원 등의 데이터가 포함되어 있어도 되지만, 적어도 제조 식별 번호 (제조 로트) 가 포함되어 있는 것이 바람직하다. 제품 정보 형성부 (54) 는, 종래 공지된 장치로 구성할 수 있고, 예를 들어 2 차원 코드를 형성하는 경우, 공지된 2 차원 코드 형성 장치로 구성할 수 있다.

예를 들어, 도 10 에 나타내는 바와 같이, 절단된 후의 매엽의 시트상 제품의 1 장 1 장에 제품 정보가 형성된다.

이상의 실시형태 1 에 의하면, 매엽으로 시트상 제품을 절단한 후, 타흔 등의 간이 검사만으로 제품으로서의 최종적인 양부 판정이 가능해진다. 따라서, 매엽 단위의 결점 검사나 다수에 의한 육안 검사를 실시할 필요가 없다.

(실시형태 2)

이하에서는, 각 공정의 검사 기능을 독립된 검사 장치로 구성하고, 각 검사 장치에서 얻어진 결점 정보는 제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 에 송신되어, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 가 시트상 제품 원반의 통합 결점 정보를 작성하는 구성이다.

편광자 검사 장치 (210) 는, 편광자 원반의 결점을 검사하는 편광자 검사부 (211) 와, 당해 검사에서 얻어진 결점의 정보를 그 위치 정보, 제조 식별 정보와 함께 외부 장치에 송신하는 통신부 (212) 를 구비하는 구성이다.

편광판 검사 장치 (220) 는, 편광판 원반의 결점을 검사하는 편광판 검사부 (221) 와, 당해 검사에서 얻어진 결점의 정보를 그 위치 정보, 제조 식별 정보와 함께 외부 장치에 송신하는 통신부 (222) 를 구비하는 구성이다.

세퍼레이터 검사 장치 (230) 는, 세퍼레이터의 결점을 검사하는 세퍼레이터 검사부 (231) 와, 당해 검사에서 얻어진 결점의 정보를 그 위치 정보, 제조 식별 정보와 함께 외부 장치에 송신하는 통신부 (232) 를 구비하는 구성이다.

보호 필름 검사 장치 (240) 는, 보호 필름의 결점을 검사하는 보호 필름 검사부 (241) 와, 당해 검사에서 얻어진 결점의 정보를 그 위치 정보, 제조 식별 정보와 함께 외부 장치에 송신하는 통신부 (242) 를 구비하는 구성이다.

제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 는, 각 검사 장치로부터 결점의 정보, 그 위치 정보, 제조 식별 정보를 수신하는 통신부 (121) 와, 수신한 결점의 정보, 그 위치 정보, 제조 식별 정보를 관련지어 저장하는 저장부 (122) 와, 각 검사 장치로부터 수신한 결점의 정보, 그 위치 정보, 제조 식별 정보를 통합하여 시트상 제품 원반의 결점 정보를 작성하는 결점 정보 작성부 (128) 와, 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서 시트상 제품 원반을 절단함으로써 얻어지는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출하는 수율 산출부 (123) 와, 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정하는 원반 설정부 (124) 를 구비하는 구성이다.

여기서의 각 구성 요소 중에서, 실시형태 1 에서 설명한 기능과 동일한 것의 설명은 생략한다.

실시형태 2 에 있어서, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 에 결점 정보 작성부 (128) 가 구비되어 있다. 결점 정보 작성부 (128) 의 실질적 기능은 실시형태 1 에서 설명한 것과 동일하고, 각 검사 장치에서 검출된 결점의 정보를 통합하여 시트상 제품 원반으로서의 결점 정보를 작성할 수 있다.

또한, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 는, 각 검사 장치 부근에 설치된 코드 형성 장치 (결점 정보 형성 수단에 상당함.) 로, 검출된 결점 정보를 형성하기 위한 명령 신호 (결점 정보를 포함하고 있어도 된다. 포함하고 있지 않은 경우, 결점 정보는 검사 장치로부터 수신함.) 를 송신한다. 이 명령 신호에 의해, 코드 형성 장치는 소정 위치에 결점 정보를 형성한다. 또한, 제 1 검사 데이터 처리 장치는, 검사 장치의 검사와 연동하도록, 모니터에 결점 정보를 표시하도록 모니터를 제어할 수 있다 (표시 제어부 (126) 의 기능에 의함). 또한, 제 1 검사 데이터 처리 장치 (120) 는, 이상 판정부에서 이상으로 판정된 경우, 해당하는 검사 장치의 모니터에 이상임을 나타내는 경고 표시를 할 수 있다 (이상 판정부 (127) 의 기능에 의함).

(실시형태 3)

실시형태 3 에 있어서는, 검사 데이터 처리 장치가 1 개인 형태에 관해서 설명한다. 실시형태 1, 2 에서는, 검사 데이터 처리 장치가 2 개 존재하도록 구성되어 있다. 그러나, 제조 장소가 동일한 경우에는, 검사 데이터 처리 장치를 하나로 구성할 수 있다.

이러한 경우, 제 1 검사 데이터 처리 장치는 절단 위치 정보 작성부의 기능을 구비하도록 구성해도 되고, 슬릿용 절단 장치가, 판독한 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서 절단 위치를 산출하고, 시트상 제품 원반을 절단하여 매엽의 시트상 제품을 제조하도록 구성해도 된다.

(실시형태 4)

본 발명의 제 1 검사 데이터 처리 장치, 제 2 검사 데이터 처리 장치는, 소프트웨어와 하드웨어 (CPU, 메모리 등) 를 협동 작용에 의해서 실현할 수 있고, 전용 회로, 펌웨어 등으로, 또는 그들의 조합으로 실현할 수도 있다.

소프트웨어로 실현하는 경우, 그 프로그램은 다음과 같이 된다. 이 프로그램은, 기록 매체에 기록되어 기록 매체로서 제공할 수 있고, 또한, 통신 회선을 통하여 제공 (다운로드 제공) 되어도 된다. 통신 회선을 통하여 제공되는 경우, 그 일부의 기능만이 제공되어도 되고, 다른 일부가 서버 장치에 남아 있어도 되며, 전체적인 기능으로서 본 발명의 기능이 발휘되어 있으면 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.

본 발명의 소프트웨어 프로그램은, 컴퓨터에,

양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건의 입력을 접수하는 단계와,

광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체를 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하는 단계와,

상기 결점 정보를 해석하여, 상기 판정 조건에 따라서 수율을 산출하는 단계와,

상기 산출된 수율을 표시 수단에 표시시키는 단계를 실행시키기 위한 프로그램이다.

또한, 다른 본 발명의 소프트웨어 프로그램은, 컴퓨터에,

광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및/또는 적층체로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및/또는 적층체의 결점을 검출하는 결점 검출 수단에서 검출된 결점 정보를 취득하는 단계와,

상기 취득된 결점 정보를 해석하여, 양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건에 따라서 시트상 제품 원반을 절단함으로써 얻어지는 매엽의 시트상 제품의 수율을 산출하는 단계와,

상기 수율이 소정치 이상인 시트상 제품 원반을 설정하는 단계를 실행시키기 위한 프로그램이다.

<다른 실시형태>

본 발명은 편광판을 포함하는 시트상 제품에 관해서 설명하였는데, 본 발명은 이것에 제한되지 않고, 광학 필름으로서 편광판과 위상차판의 적층체, 위상차판에만 관해서도 적용할 수 있다.

Claims

양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건의 입력을 접수하는 입력 접수 수단과,
광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및 적층체 중 하나 이상으로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및 적층체 중 하나 이상을 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하는 결점 정보 취득 수단과,
상기 결점 정보를 해석하여, 상기 판정 조건에 따라서, 수율을 산출하는 수율 산출 수단과,
상기 산출된 수율을 표시 수단에 표시시키도록 제어하는 표시 제어 수단을 구비하는 검사 데이터 처리 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 수율을 산출하는 경우에, 스킵 커트 방식을 채용하여 산출하는 것을 특징으로 하는 검사 데이터 처리 장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 표시 제어 수단은, 시트상 제품 원반을 전개시켜서, 그것에 중복하도록, 양품으로서 얻어지는 매엽의 시트상 제품을 표시하도록 제어하는 검사 데이터 처리 장치.
양품인지 아닌지를 판정하는 조건인 판정 조건의 입력을 접수하고,
광학 표시 장치의 부재인 광학 필름을 적어도 갖는 시트상 제품을 구성하는 단층체 및 적층체 중 하나 이상으로서, 시트상 제품 표면의 보호층이 형성되어 있지 않은 상태에서 당해 단층체 및 적층체 중 하나 이상을 검사함으로써 얻어지는 결점에 관한 결점 정보를 취득하고,
상기 결점 정보를 해석하여, 상기 판정 조건에 따라서, 수율을 산출하며,
상기 산출된 수율을 표시 수단에 표시시키는 것을 특징으로 하는 검사 데이터 처리 방법.