TWI338773B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI338773B
TWI338773B TW096119268A TW96119268A TWI338773B TW I338773 B TWI338773 B TW I338773B TW 096119268 A TW096119268 A TW 096119268A TW 96119268 A TW96119268 A TW 96119268A TW I338773 B TWI338773 B TW I338773B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
disk
optical element
rotating body
detected
shaped rotating
Prior art date
Application number
TW096119268A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200745528A (en
Inventor
Sun Ping
Ooi Shigenori
Original Assignee
Fujinon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujinon Corp filed Critical Fujinon Corp
Publication of TW200745528A publication Critical patent/TW200745528A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI338773B publication Critical patent/TWI338773B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0207Details of measuring devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/04Optical benches therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/24Suction devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/24Suction devices
    • G01N2001/247Syringes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/04Chucks, fixtures, jaws, holders or anvils
    • G01N2203/0417Chucks, fixtures, jaws, holders or anvils using vacuum

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1338773 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種相對用於測定透鏡等的光學元件的 偏:量測定襄置的光學系統,尤指一種適用於將被檢測光 5干70件以可圍繞著規定的軸旋轉的方式保持的被檢測光學 元件旋轉保持裝置。 【先前技術】 以往,公知有採用所謂自準直法的方法來對被檢測光 10學元件的偏心量進行測定的偏心量測定裝置(參照以下曰 本國專利前案1 )。 在這樣的偏心量測定裝置中,需要用於相對測定用光 學系統將被檢測光學元件以可圍繞著規定的軸旋轉的方式 保持的旋轉保持機構。以下專利前案〖中記載了包括可使 15被檢測光學元件在吸引保持的狀態下旋轉的吸引保持台的 旋轉保持機構。 另一方面,作爲這種旋轉保持機構,公知有吸引保持 台自身不旋轉的類型的機構。例如,以下日本國專利前案2 中記栽了 :使吸引保持台所吸引保持的被檢測光學元件的 20周面從一方側與V字狀的定位元件抵接,並且從另一方側 與自轉的旋轉圓板抵接,由此通過該旋轉圓板而使被檢測 光學元件旋轉的結構的旋轉保持機構(以下,稱作“被檢 測體夾持型的旋轉保持機構” )》 5 1338773 曰本國專利前案1 :特開2005- 55202號公報; 曰本國專利前案2 :特願2005- 167504號說明書。 但是,在使用上述的被檢測體夾持型的旋轉保持機構 來測定厚度相互不同的多個種類的被檢測光學元件的情況 5下,當被檢測光學元件的厚度改變時,需要進行吸引保持 台、V字狀的定位元件和旋轉圓板之間的軸方向的相對位 置調整《以往的被檢測體夾持型的旋轉保持機構中按照在 該相對的位置調整時使吸引保持台沿軸方向移動的方式構 成。 10 但是,在用於使吸引保持台沿軸方向移動的z軸移動 台#的機構中存在機械加工上的誤差,在這種情況下當位 置調整時,在吸引保持台的中心轴和測定用光學系統的光 軸之間産生微小的偏差,從而由於該偏差的存在而産生偏 心量的測定精度的下降之虞。另外,由於存在該偏差,也 15産生來自被檢測面的反射光不能返回到攝影面上的情況。 因此,以往的被檢測體夾持型的旋轉保持機構中,每 當吸引保持台沿光轴方向移動時,需要進行吸引保持台和 測疋用光學系統之間的轴對準的再調整,在這種調整上需 要大S的勞力和時間。 20 【發明内容】 本發明鑒於上述問題而提出的,其目的在於,提供一 種包括被檢測體夾持型的旋轉保持機構的被檢測光學元件 旋轉保持裝置,該被檢測體夾持型的旋轉保持機構可使被 6 1338773 檢測光學元件的厚度改變時的軸方向的位置調整,在於錯 誤偏心量的測定產生不良影響的狀態下易於進行。、曰 本發明的被檢測光學元件旋轉保持裝置,相對偏心量 測定裝置的光學系統將被檢測光學元件以圍繞著規定的轴 5可旋轉的方式保持,包括: 吸引保持台,將上述被檢測光學元件吸引保持在上述 光學系統的光軸上; 圓盤狀旋轉體,與上述吸引保持台所吸引保持的上述 被檢測光學元件的周面從一方側抵接,並且使該被檢測光 10學元件圍繞著所述軸旋轉; V字狀抵接體,與上述吸引保持台所吸引保持的所述 被檢測光學元件的周面按照夾持上述軸的方式從上述圓盤 狀旋轉體的相反側抵接,防止上述被檢測光學元件在旋轉 時的位置偏差; 15 第一軸方向位置調整元件,用來進行上述圓盤狀旋轉 體的上述轴方向的位置調整;和 第二軸方向位置調整元件,用來進行上述V字狀抵接 體的上述軸方向的位置調整。 本發明的被檢測光學元件旋轉保持裝置,其中優點包 2〇括有:加力元件’對上述圓盤狀旋轉體按照沿上述被檢測 光學元件的周面的方式施加力;和制動器,克服上述加力 元件的作用力將上述圓盤狀旋轉體保持在從所述被檢測光 學元件的周面離開的位置。 根據本發明的被檢測光學元件旋轉保持裝置,通過包 7 1338773 括用於進行圓盤狀旋轉體的軸方向的位置調整的第一軸方 向位置調整元件、和用於進行v字狀抵接體的軸方向的位 置調整的第一軸方向位置調_整元件,可得到如下的效果。 也就是’被檢測光學元件的厚度改變時的吸引保持 5台、圓盤狀旋轉體及V字狀抵接體之間的轴方向的相對位 置調整,可在吸引保持台的軸方向位置固定的狀態下,通 過使圓盤狀旋轉體及V字狀抵接體沿軸方向移動來進行。 因而,在進行上述相對的位置調整時,不存在有吸引 保持台的中心轴和測定用光學系統的光軸之間産生偏差之 10虞’能防止給偏心量的測定帶來不良影響。另外,與以往 技術不同’每當進行上述相對的位置調整時不需要進行吸 引保持台和測定用光學系統統之間的軸對準的再調整,即 使被檢測光學元件的厚度改變時,也能在短時間内容易進 行上述相對的位置調整。 15 【實施方式】 下面,參照附圖詳細地說明本發明的實施方式。圖1 是表示本發明的一實施方式的被檢測光學元件旋轉保持裝 置的整體結構的平面圖,圖2是其正面圖《另外,圖3是 20對圖1所示的旋轉保持部的結構剖開一部分後進行表示的 平面圖’圖4是沿圖3的A — A線的剖面圖。另外,圖5 是示意表示反射型的偏心量測定裝置的整體結構的圓。 首先’基於圖5概略地說明反射型的偏心量測定裝置 的構成。該偏心量測定裝置卜用於測定被檢測光學元件即 8 1338773 被檢測透鏡2的偏心量,包括對成爲被檢測面的上表面2A 及下表面2B照射光的光源1丨、使來自光源丨丨的光束通過 的分劃板12、測定用光學系統1〇,該測定用光學系統1〇 包括:將來自分劃板12的光以大致直角反射的分光器13 ; 5使所入射的光形成爲平行光束的準直透鏡14 ;和使平行光 束聚焦在規定位置(光聚焦點)p上的物鏡15。此外,在 進行測定時,將上述規定位置(光聚焦點)p按照與上述上 表面2A的球面中心C!及上述下表面2B的球面中心C2依 鲁次一致的方式進行調整。 1〇 另外’該偏心量測定裝置1包括:CCD攝影機16,捕 獲由上表面2A及下表面2B反射的經由準直透鏡14及分 光器13所入射的反射光,並且對分劃板12的分劃像進行 攝影;和解析運算部丨7,對該CCD攝影機16所獲得的圖 像資訊進行解析、運算《進一步包括:z轴移動台18,將 15上述測定用光學系統丨〇及上述CCD攝影機16以一體化方 式保持、且沿該測定用光學系統丨〇的光軸&的方向移動; • 和固定台載置固定該Z軸移動台18。 接著基於圖1〜圖4對本實施方式的被檢測光學元件 旋轉保持裝置進行說明。圖丨及圖2所示的被檢測光學元 20件旋轉保持裝置3,用於相對上述偏心測定裝置1的測定用 光學系統10將所述被檢測透鏡2以可圍繞著規定的軸旋轉 的方式保持,包括吸引保持台4、旋轉保持部5及定位保持 部6 〇 上述吸引保持台4將被檢測透鏡吸引保持在圖5所示 9 1338773 的測定用光學系統ίο的光軸心上,由基部41及透鏡載置 部42構成》另外,該吸引保持台4如圓2所示,包括:沿 著該吸引保持台4的中心軸Z2從透鏡載置部42的前端; 延伸至基部4i的内部的吸引孔43 ;與該吸引孔43連結的 5吸引室44;和與該吸引室44連結的空氣排出口 45,利用 與該空氣排出口 45連接的真空泵(圓未示)將吸引孔43 及吸引室44内的空氣抽出至外部,從而將載置在透鏡載置 部4 2的前端部的被檢測透鏡2以維持規定的姿勢的方式吸 # 引保持。 1〇 另一方面,如圖2所示,上述旋轉保持部5包括:與 吸引保持台4所吸引保持的被檢測透鏡2的周面從一方側 (圖中右側)抵接,並且使該被檢測透鏡2圍繞著上述令 心轴&旋轉的圓盤狀旋轉體51 ;保持該圓盤狀旋轉體51 的滑板52;將該滑板52以可沿圖中左右方向移動的方式保 15持的基板53和頂板54 ;和保持該基板53的基部55。 詳細而言,如圖4所示,上述圓盤狀旋轉體51由圓盤 • 狀的基部51a、安裝在該基部5U的外周面的橡膠等所構成 的Ο環51b、與基部51a及〇環51b 一起旋轉的轴部51c、 和將該軸部51c以可旋轉的方式支撐的轴受部51d構成, 20並且按照將〇環5lb的外周面與上述被檢測透鏡2 (參照 圖2)的周面抵接的方式構成。另外,該圓盤狀旋轉體, 通過操作者捏住上述軸部51c而使其旋轉或用手指使〇環 5 lb旋轉,從而以該軸部51 c的中心軸Z3爲中心自轉。 另外,在上述基板53上形成有構成上述滑板52的移 10 1338773 動空間的凹部53a、和用於對該基板53進行在該基板53 固定於上述基部55 (參照圖2)時的囷中左右方向的位置 調整的槽部53b。進一步,如圖3所示,在上述凹部53a 設置有沿圖中左右方向延伸的導向銷56,在該導向銷% 5 上安裝有作爲加力元件的線圈彈簧57。 另外’如圖4所示,上述頂板54包括:與突設在上述 滑板52的圖中右端部上面的操作銷52a卡合的導向槽 54a;和與上述基板53上形成的上述槽部53b以大致同形 的方式形成的槽部54b,在上述基板53的上面由螺栓等固 10 定。 另外,如圖3所示,上述滑板52包括在圖中右下端部 上述導向銷5 6被插通的插通孔(圖未示),按照沿該導向 銷56可在圓中左右方向移動的方式構成。另外,該滑板52 通過借助上述線圈彈簧57的彈性的作用力沿圖中左方向被 15施加力’通過該作用力將上述圓盤狀旋轉體51的〇環51b 按壓在上述被檢測透鏡2(參照圖2)的周面。進一步,該 滑板52通過操作者捏住上述操作銷52a沿著上述導向槽 54a進行操作,而沿圖中左方向移動。 另外’如圖1及圖2所示,上述旋轉保持部5包括: 20克服上述線圈彈簧57的作用力而將上述圓盤狀旋轉體51 保持在從上述被檢測透鏡2的周面離開的位置上的制動器 58;和用於將上述基板53及頂板54固定在上述基部55的 固定螺釘59。 詳細而言,如圖3所示,上述制動器58由棒狀的插止 11 部58a、和將該插止部58a以沿前後方向(圖中上下方向) 可移動的方式保持的保持部58b構成,針對移動至上述導 向槽54a的圖中右端部爲止的上述操作鎖…,通過將插止 邛:8a突出來插止,從而將由上述滑板52保持的上述圓盤 5狀旋轉體51保持在通過克服上述線圈彈簧57的作用力而 從上述被檢測透鏡2的周面離開的位置上。 另外,如圖4所示,上述固定螺釘59由上述基板53 及上述頂板54的各槽部53b、5仆内所插通的螺釘部59a、 # ®定在該螺釘部他的上端部的按虔部59b、固定在該按麼 10部59b的上端部的操作部59c。該固定螺釘用於將相對上述 基部55 (參照圖2)進行了圖中左右方向的位置調整的上 述基板53及上述頂板54固定在上述基部55上,其前端部 被螺著於基部55所形成的螺釘孔(圖未示)。 另外,如圖2所示,上述旋轉保持部5經由作爲第一 U轴方向位置調整元件的2軸移動台7A設置在傾斜度調整台 8上’通過上述Z軸移動台7A可進行上述圓盤狀旋轉體51 φ 的/σ上下方向(吸引保持台4的中心軸Z2方向)的位置的 微調整3外,上述傾斜度調整纟8由兩個傾斜度調整架 台81、82和載置台83構成,通過對圖1所示的3個傾斜 2〇度調整螺釘84〜86進行操作而調整載置台83的傾斜度, 寿1J用該載置纟83射貝斜度調整,可進行相對上述測定用光 學系統10的光軸Zl (參照圖5)的上述吸引保持台4的中 心轴Z2的傾斜度的調整。 另外,如圖1及圖2所示,上述定位保持部6包括: 12 1338773 與上述吸引保持台4所保持的被檢測透鏡2的周面按照央 持上述中心軸I的方式從上述圓盤狀旋轉體51的相反側 ^接、並且防止上述被檢測透鏡2旋轉時的位置偏差的v 字狀抵接體61 ;保持該v字狀抵接體61的基板62 ;和保 5持該基板62的基部63。 如圖1所不,在上述基板62上形成有用於對該基板Μ 進行在s亥基板62固定在上述基部63上時的圖中左右方向 的位置調整的槽部62a’在該槽部62a上設置有用於將進行 _ 完相對上述基部63的位置調整的上述基板62固定於上述 10基。P 63上的固定螺釘64。該固定螺釘64與上述固定螺釘 59相同地構成,其前端部被螺著於上述基部63上形成的螺 釘孔(圖未示)。 另外,如圖2所示,上述定位保持部6經由χγ軸移 動台9及作爲第二軸方向位置調整元件的ζ軸移動台7B被 15設置在上述傾斜度調整台8上。利用上述ΧΥ軸移動台9 可進行上述V子狀抵接體61的沿前後及左右方向(與吸引 • 保持台4的中心軸Ζ?正交的兩個方向)的位置的微調整, 利用上述Ζ軸移動台7Β可進行上述V字狀抵接體61的沿 上下方向(吸引保持台4的中心軸Ζ2方向)的位置的微調 20 整。 以下’對被檢測光學元件旋轉保持裝置3的作用及調 整方法進行說明。首先,作爲初始設定,進行上述測定用 光學系統10的光軸Ζ〗(參照圖5)和上述吸引保持台4的 中心軸Z2 (參照圖2)之間的軸對準調整。使用上述傾斜 13 1338773 ^台8按照上述測定用光學系統1〇的光轴&的傾斜 '述吸引保持台4的中心軸22的傾斜度相互—致的方 式進行該軸對準調整。 s μ接著’將上述被檢測透鏡2载置在上述吸引保持台4 .透鏡載置部42的前端部,並將其吸引保持。 ^接著,由上述旋轉保持部5的圓盤狀旋轉體 51及上述 保持邛6的V子狀抵接體61來失持吸引保持台4所吸 引保持的被檢測透鏡2。此時,以圓盤狀旋轉體51及V字 狀抵接體61適當地與被檢測透鏡2的周面抵接的方式在 1〇旋轉保持部5及定位保持部6中分別進行位置調整。 ^右基於圖2說明該位置調整’則使用Ζ轴移動台7Α進 行上述旋轉保持部5十的圓盤狀旋轉體51的圖中上下方向 的位置調整’圖中左右方向的位置調整通過使基板53相對 旋轉保持部5的基部55移動而進行。在進行該左右方向的 !5位置調整時,考慮通過上述線圈彈簧57 (參照圖3)的作 用力將圓盤狀旋轉體51適當地按壓在被檢測透鏡2的周面 上。位置調整後的基板53由固定螺釘59被固定在基部55。 另一方面,使用Ζ軸移動台7Β進行定位保持部6中的 V字狀抵接體61的圖中上下方向的位置調整,使用χγ軸 20移動台9進行圖中左右及前後方向的位置調整。此外,通 過使基板62相對定位保持部6的基部63移動而進行¥字 狀抵接體61的圖令左右方向的大致的位置調整,位置調整 後的基板62由固定螺釘64固定在基部63上。 接著,通過使上述圓盤狀旋轉體51旋轉,而一邊使由 1338773 上述圓盤狀旋轉體51及上述v字狀抵接體61所夾持的被 檢測透鏡2以上述中心轴^爲中心旋轉,一邊進行偏心量 的測疋此外,圓盤狀旋轉體5 1按照操作者捏住上述軸部 51c (參照圖4)而使其旋轉的方式構成,但是也可以構成 爲由電動電機等的驅動力來使圓盤狀旋轉體51旋轉。另 外,爲了操作者可目視旋轉角度,在圓盤狀旋轉體51上設 置旋轉角度的刻度也可。
偏心量測定後,由圓盤狀旋轉體51及v字狀抵接體 61所保持的被檢測透鏡2的夾持被解除,並且基於吸引保 持台4的吸引被解除,被檢測透鏡2從吸引保持台1取出。 此外,在使圓盤狀旋轉體51從被檢測透鏡2離開時,只要 操作者使上述滑板52沿圖中右方向移動,將其由上述制動 器5 8插止即可。 由此’被檢測光學元件旋轉保持裝置3中,吸引保持 15台4不包括上下方向的位置調整機構,吸引保持台4所保 持的被檢測透鏡2和圓盤狀旋轉體51及v字狀抵接體61 15 1 之間的相對高度調整通過使用旋轉保持部5側的Z軸移動 台7A和定位保持部6側的z軸移動台7B來進行。因此在 保持厚度不同的其他被檢測透鏡(圖未示)時,即使在進 2〇行上述相對高度調整時,吸引保持台4的中心軸心的傾斜 度和位置不會發生變化。 從而,在進行上述相對的位置調整時,不存在在吸引 保持台的中心轴Zz和測定用光學系統1〇的光軸心之間産生 偏差之虞,能防止給偏心量的測定帶來不良影響。另外, 1338773 每當進行上述相對的位置調整時無需進行吸引保持台4和 測定用光學系統ίο之間的轴對準的再調整,因此即使被檢 測透鏡2的厚度改變時,也能在短時間内容易地進行上述相 對的位置調整。 5 上述貫施例僅係為了方便說明而舉例而已,本發明所 主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準,而非僅限 於上述實施例。 【圖式簡單說明】 1〇 圖1是一實施方式的被檢測光學元件旋轉保持裝置的 平面圖。 圖2是一實施方式的被檢測光學元件旋轉保持裝 正面圖。 、 圖3是對圖1所示的旋轉保持部的結構剖開一部分後 15進行表示的平面圖。 圖4是沿圖3的A — A線的剖面圖。 圖5是反射型的偏心量測定裝置的概略構成圖。 【主要元件符號說明】 1偏心量測定裝置2 被檢測透鏡 2A上表面 2B下表面 4 吸引保持台 5旋轉保持部 ό定位保持部7Α、7Β、ΐ8ζ軸移 動台 1338773 11光源 14準直透鏡 17解析運算部
42透鏡載置部 45空氣排出口 51b Ο 環 52滑板 53a 凹部 54a導向槽
9 XY轴移動台 10 測定用光學系 統 12 分劃板 13 分光器 15 物鏡 16 CCD攝影機 19 固定台 41 基部(吸引保持 台的) 43 51 吸引孔 圓盤狀旋轉體 44 吸引室 51c 軸部 51d 軸受部 52a 操作銷 53 基板(旋轉保持 部的) 53b 、54b、62a 槽 54 部 頂板 55 基部(旋轉保 持部的) 56 導向銷 58 制動器 58a 插止部 59, ‘ 64固定螺釘 59a 螺釘部 59c 操作部 61 V字狀抵接體 57線圈彈黃 58b保持部 59b按壓部 ,_、π邱M /、疋徂保持部 基板 的)基部 81、82傾斜度調整84〜86傾斜度調 整螺釘 C1、C2球面中心 P 規定位置(光83載置台 聚焦點) Z1一(測定用光學系統的)中心輛 17 1338773
Z2—(吸引保持台的)中心軸 Z3 —(圓盤狀旋轉體轴部的)中心軸 3 —被檢測光學元件旋轉保持裝置 51a—(圓盤狀旋轉體的)基部 18

Claims (1)

  1. 十、申請專利範圍: 1. 一種被檢測光學元件旋轉保持裝置,相對偏心量測 疋裝置的光學系統將被檢測光學元件以可圍繞著規定的軸 旋轉的方式保持,包括: 吸引保持台,將上述被檢測光學元件吸引保持在上述 光學系統的光軸上; 圓盤狀旋轉體,與上述吸引保持台所吸引保持的上述 被檢測光學元件的周面從一方側抵接,並且使該被檢測光 學元件圍繞著所述軸旋轉; v字狀抵接體,與上述吸引保持台所吸引保持的所述 被檢測光學元件的周面按照夾持上述軸的方式從上述圓盤 狀旋轉體的相反側抵接,防止上述被檢測光學元件在旋轉 時的位置偏差; 第一軸方向位置調整元件,用來進行上述圓盤狀旋轉 體的上述軸方向的位置調整;以及 第二軸方向位置調整元件,用來進行上述v字狀抵接 體的上述軸方向的位置調整。 2. 根據申請專利範圍第1項所述的被檢測光學元件旋 轉保持裝置,其中,包括: 加力元件,對上述圓盤狀旋轉體按照沿上述被檢測光 學元件的周面的方式施加力;以及 制動器,克服上述加力元件的作用力將上述圓盤狀旋 轉體保持在從所述被檢測光學元件的周面離開的位置。
TW096119268A 2006-06-02 2007-05-30 Rotation holding device of optical element to be tested TW200745528A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006154609A JP4815273B2 (ja) 2006-06-02 2006-06-02 被検光学素子回転保持装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200745528A TW200745528A (en) 2007-12-16
TWI338773B true TWI338773B (zh) 2011-03-11

Family

ID=38855266

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW096119268A TW200745528A (en) 2006-06-02 2007-05-30 Rotation holding device of optical element to be tested

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4815273B2 (zh)
KR (1) KR20070115624A (zh)
CN (1) CN100592052C (zh)
TW (1) TW200745528A (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5362431B2 (ja) * 2008-06-10 2013-12-11 富士フイルム株式会社 偏芯量測定方法
KR100956230B1 (ko) 2008-08-07 2010-05-04 삼성전기주식회사 렌즈 측정 장치 및 그 제어방법
CN104718494B (zh) * 2012-11-01 2017-08-11 夏普株式会社 位置调整装置和位置调整方法
JP2019015567A (ja) * 2017-07-05 2019-01-31 日本電産株式会社 レンズ偏芯測定治具およびレンズ偏芯測定装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002148413A (ja) * 2000-11-10 2002-05-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズ接合装置及び接合方法
JP2004325307A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Olympus Corp 偏心測定装置
JP2005055202A (ja) * 2003-08-06 2005-03-03 Mitsutoyo Corp 偏芯測定装置、レンズ取付方法およびレンズ偏芯検査方法
JP2005127839A (ja) * 2003-10-23 2005-05-19 Olympus Corp レンズ偏心測定装置
JP2005221471A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Olympus Corp レンズ偏芯測定用治具及びこれを用いたレンズ偏芯測定装置並びにその測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW200745528A (en) 2007-12-16
CN101082538A (zh) 2007-12-05
CN100592052C (zh) 2010-02-24
KR20070115624A (ko) 2007-12-06
JP4815273B2 (ja) 2011-11-16
JP2007322314A (ja) 2007-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI338773B (zh)
JP4751156B2 (ja) オートコリメータ及びそれを用いた角度測定装置
KR20080014250A (ko) 렌즈 조립 편심 조정방법 및 렌즈경통
JP4370064B2 (ja) レンズの心取り装置
JP6817139B2 (ja) 試料ホルダーユニット及び試料観察装置
JP2011151551A (ja) カメラモジュールの製造方法及び装置
JP2002244018A (ja) ミラーの距離、角度調整機構
JP4718208B2 (ja) 偏心測定方法
JP2007046971A (ja) レンズ偏心測定装置及びレンズ偏心測定方法
JP4086290B2 (ja) フェルールのクランプ装置およびこれを具備した顕微干渉計装置
JP4093564B2 (ja) クランプ装置の傾き調整方法
JP2000009663A (ja) 結晶方位測定装置
JP2006208175A (ja) 偏心測定方法および偏心測定装置
JP2021067774A (ja) 光学装置および光学式測定機
JP3333245B2 (ja) レンズ心取機およびレンズ心取り方法
JP2005055202A (ja) 偏芯測定装置、レンズ取付方法およびレンズ偏芯検査方法
JP3635606B2 (ja) コリメータセッティング装置
JP3635324B2 (ja) 単結晶研磨加工面を所定の方位角に設定調整する方法ならびにこの方法を実施するのに用いられる研磨加工治具
JP2005221471A (ja) レンズ偏芯測定用治具及びこれを用いたレンズ偏芯測定装置並びにその測定方法
JP7317976B2 (ja) レンズ固定部および光学系におけるシリンドリカルレンズの位置合わせ方法
JP2004219251A (ja) 表面性状測定器及び表面性状測定器用治具並びに調整方法
JP2006292458A (ja) 斜め球面研磨フェルールの球面偏心検査方法および装置
JP2005069697A (ja) 顕微干渉計装置によるフェルールの測定方法
JP3901318B2 (ja) 光学部品の角度測定方法とその装置
JP2011143509A (ja) 心出し装置および心出し方法ならびに心取り機および心取り方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees