TWI305645B - High-density dual-layer optical disc - Google Patents

Description

1305645 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明關於一種具有第一與第二記錄層之高密度 光碟，該二層位於平分該碟片厚度之中央平面的一側 靠近一碟片表面。 【先前技術】 第1圖顯示一般DVD(數位多功能碟片）之結構。 1圖所示，該DVD(如參考號碼10所示）具有120毫米 徑與1.2毫米之厚度，且係形成有一直徑為1 5毫米之 孔，與一直徑為44毫米之夾持區域，且適於由包括在 碟裝置内之轉台與夾持器加以夾持。 DVD 1 0具有一記錄層，其中資料是以一種凹坑 而記錄。D V D 1 0之記錄層係位於離面對一光學檢取 之物鏡1(包括在該光碟裝置中）的碟片表面約0.6毫米 度。DVD 1 0之光學檢取元件的物鏡1具有之數值孔 NA等於0.6。 第2圖顯示一高密度單層DVD之結構。如第2 示，該高密度單層DVD(如參考號碼20所示）具有120 之直徑與1.2毫米之厚度，且係形成有一直徑為1 5毫 中心孔，與一直徑為44毫米之夾持區域，且適於由包 一光碟裝置内之轉台與夹持器加以夾持。高密度單層 2 0具有一記錄層，該記錄層係位於離面對一光學檢取 之物鏡2(包括在該光碟裝置中）的碟片表面約0.1毫米 雙層 ，且 如第 之直 中心 一光 模式 元件 之深 徑比 圖所 毫米 米之 括在 DVD 元件 之深 1305645 度。 高密度單層DVD 20之光學檢取元件的物鏡2具有 數值孔徑比NA等於0.85，其值比DVD 10之物鏡1相 較大。該光學檢取元件之物鏡2採用一波長比DVD 10 於再生或記錄高密度資料之波長要短之短波雷射光束。 意即對於高密度資料之再生或記錄，DVD 1 0會使 具有650奈米波長的一雷射光束，而高密度單層DVD 使用具有405奈米波長的一雷射光束。 藉由放射該短波雷射光束且達到增加該物鏡之數值 徑比（特別是在配置該光學檢取元件之物鏡2使其靠近 密度單層DVD20記錄層之情形下），此可以藉著在強度 集中雷射光束而在一高資料密度之凹坑上形成一小光 點，且可使該短波雷射光束之透明層長度最小。結果該 射光束效能之變動與像差之發生現象即可減至最低。 近年來，許多公司已開發高密度雙層光碟，例如高 度雙層 DVD或高密度雙層藍光雷射光碟（以下稱為“高 度雙層 BD”），以取代該高密度單層 DVD。該高密度雙 光碟可長時間記錄且儲存大量視頻與聲頻資料，具有約 高密度單層DVD二倍容量。 然而在上述高密度雙層光碟之情形中，無法有效地 制一在整個光碟各處不可避免產生之波前誤差，此係由 從一透明基材之光入射表面與各個第一與第二記錄層之 材厚度所產生之球面像差，也由於包括在該光學檢取元 内之物鏡傾斜所產生的慧差。因此，在高密度雙層光碟 之 對 用 用 20 孔 南 上 束 雷 密 密 層 為 限 於 基 件 之 6 1305645 領域中急需能夠解決此波前誤差之方法。 【發明内容】 本發明的一目的在於提供一種具有一第一與一第二 錄層之新穎高密度雙層光碟，該光碟經配置使得因為從 透明基材之光入射表面到各個第一與第二記錄層間的基 厚度所產生之波前誤差減至最小。該高密度雙層光碟的 實例為一高密度雙層DVD或高密度雙層藍光碟片。 本發明之一目的在於提供一種具有一第一舆一第二 錄層之新穎高密度雙層光碟，該光碟經配置使得因為從 透明基材（覆蓋層）之光入射表面到各個第一與第二記錄 間的基材厚度變化所產生之球面像差，及因為包括在該 學檢取元件内之物鏡傾斜所產生的慧差而在整個光碟上 造成之波前誤差減至最小。 依據本發明，上述與其他目的之達成可藉由提供一 具有一第一與第二記錄層（位於平分該碟片厚度之中央 面的一側且靠近一碟片表面）之高密度雙層光碟，一從一 明基材之光入射表面到該第一記錄層之第一基材厚度， 對應於將從一高密度單層光碟之一透明基材的光入射表 到一記錄層之基材厚度，減去該第一與第二記錄層間距 之半所獲得的一值；及一從該透明基材之光入射表面到 第二記錄層之第二基材厚度，會對應於將從該高密度單 光碟内該透明基材之光入射表面到該記錄層之基材厚度 上該第一與第二記錄層間距離之半所獲得的一值。 記 該 材 記 該 層 光 所 種 平 透 面 離 該 層 加 7 1305645 依據本發明，上述與其他目的之達成可藉由提供一種 具有第一與第二記錄層（位於平分該碟片厚度之中央平面 的一側且靠近一光入射表面）之高密度雙層光碟，一從該透 明基材之光入射表面到該第一記錄層之第一基材厚度具有 多於7 0微米（最小值）之值，及一從該透明基材之光入射表 面到該第二記錄層之第二基材厚度具有少於 1 0 8微米（最 大值）之值，且該第一與第二記錄層間距離具有在1 9微米土 5微米範圍内的一值。 較佳的是在該高密度單層光碟内從該透明基材之光入 射表面到該記錄層之基材厚度可為0.1毫米。該第一與第 二記錄層間之距離可為0.02毫米。該第一與該第二基材厚 度可分別為〇. 0 9毫米與0.11毫米。 較佳的是，該第一基材厚度與第二基材厚度可變動地 設定至一限度，使得該透明基材之折射率η係在 1.4 5至 1.7 0之範圍内。當該透明基材之折射率η等於1 . 6時，該 第一基材厚度與第二基材厚度可分別設定為 7 9.5微米± 5 微米與9 8.5微米± 5微米。 【實施方式】 在說明依據本發明的一新穎高密度雙層光碟前，首先 將說明一般高密度雙層DVD或高密度雙層BD。 一般高密度雙層 DVD(如參考號碼30所指）具有120 毫米之直徑與1.2毫米之厚度，且形成有一直徑為15毫米 之中心孔，與一直徑為44毫米之夾持區域且適於由包括在 8 1305645 一光碟裝置之轉台與夾持器加以夾持。高密度雙j 至少包含一第一記錄層，其係依據一般高密度， 之記錄層而形成；及一與該第一記錄層隔開0.0 2 之第二記錄層。詳言之，如第3圖所示，高密度 3 0之第一記錄層係位於距離面對一光學檢取元 2(包括在該光碟裝置中）之一碟片表面約 0.1毫 處，而該第二記錄層係位於距離該碟片表面約0. 深度處。 該高密度雙層光碟之光學檢取元件的物鏡2 於0.85的數值孔徑比NA，且採用波長為405奈 光束4，用於將高密度資料再生自或記錄至該第 記錄層，舆高密度單層DVD 20係相同方式。 當該光學檢取元件採用〇. 8 5之數值孔徑比與 之波長用於將高密度資料再生自或記錄至該記錄 為從一透明基材之該光入射表面到記錄層間之基 成之離焦裕度係可依據下列方程式1而明顯地減 DFM= Λ /((ΝΑ)4 Δ t).................方程式（1) 其中2為波長、ΝΑ為數值孔徑比，而At為 基材之光入射表面到記錄層間基材厚度之變量。 應注意與一般DVD比較下，增加物鏡之數值 減低波長可導致由於從一透明基材之該光入射表 記錄層間之基材厚度變化所造成離焦裕度的明顯 離焦裕度之明顯減少極端地造成系統雜訊增加。 同時，在該第一記錄層係形成於離該基材0 | DVD 30 L 層 DVD 毫米距離 雙層DVD 件之物鏡 米之深度 12毫米之 具有一等 米之雷射 一與第二 .405奈米 層時，因 材厚度造 低。 從一透明 孔徑比與 面到該等 減少。此 .1毫米處 9 1305645 而該第二記錄層係位於離該基材Ο · 0 8毫米處之情形時，此 配置比該第一記錄層離0.1毫米而該第二記錄層離0.1 2毫 米之情形，可提供較佳之DFM(離焦裕度）保證。 因此基於DFM之考量，需求該第二記錄層之厚度少於 該第一記錄層。 意即，該第二記錄層係位於〇 · 1毫米之厚度内。 除DFM外，在考慮各層之厚度時同時須考慮一球面像 差、慧差與該等WFE。 首先，當假設從一透明基材之光入射表面到第一記錄 層之基材厚度係〇 · 1毫米而形成在該記錄層上一光束點之 波前誤差為 〇，則隨著從該透明基材之光入射表面到第二 記錄層之基材厚度而變化的波前誤差如第 4圖之圖表所 示。例如，當從該透明基材之光入射表面到第二記錄層之 基材厚度為〇 · 〇 8毫米或0 · 1 2毫米時，該波前誤差具有約 0.18又 rms之值。 一般而言，全像差應具有低於0.07又rms之值，以免 在一光學系統中產生大量之誤差。在實驗中，其顯示如果 在一真實系統中檢取系統之全像差具有低於 0.0 7 5 λ rms 之值，則該檢取系統將沒有問題。 本發明現將考慮低於0.075 λ rms之情況。 如第4圖所示，在從基材至第二記錄層之厚度係0. 〇 8 毫米或0.1 2毫米時，此值超過真實系統中可接受之0.0 7 5 λ rms甚多。 如上述，當分別設定從該透明基材之光入射表面到第 10 1305645 一與第二記錄層之基材厚度為0.1毫米與0.12毫米，或分 別設定為0.1毫米與0.0 8毫米時，該波前誤差約是真實系 統中無法接受之〇.18λ rms。 同時，如上述可有數種解決方案以補償該波前誤差。 意即，藉由精細地調整包括在該光碟裝置内之準直鏡3位 置，或藉由額外地安裝一液晶元件與其類似者至該光碟裝 置，當從該透明基材之光入射表面到第二記錄層之基材厚 度為 0.0 8毫米或 0.1 2毫米時，該波前誤差會減低至約 0.045 λ rms。 第5圖顯示依據本發明之高密度雙層光碟的構造。如 第5圖中所示之高密度雙層DVD(如參考號碼40所指）具有 第一與第二記錄層。從一透明基材之光入射表面到該第一 記錄層之第一基材厚度‘ t Γ，會對應於將從在一般高密度 單層光碟内之一透明基材的光入射表面到一記錄層之基材 厚度，減去該第一與第二記錄層間距離之半所獲得的一值。 從該透明基材之光入射表面到該第二記錄層之第二基 材厚度‘ t2 ’，會對應於將從在該一般高密度單層光碟内該 透明基材之光入射表面到該記錄層之基材厚度，加上該第 一與第二記錄層間距離之半所獲得的一值。 意即，本發明之高密度雙層DVD或高密度雙層BD具 有120毫米之直徑與1.2毫米之厚度，且形成有一直徑為 1 5毫米之中心孔與一直徑為4 4毫米之夾持區域，及適於 由包括在一光碟裝置内之轉台與夾持器加以夾持。本發明 之高密度雙層DVD 40係設置有一第一記錄層，該第一記 11 1305645 錄層係位於距離面對一光學檢取元件之物鸯 光碟裝置中）的一碟片表面約0.09毫米之深 二記錄層係位於距離該光學檢取元件之物鏡 約0.11毫米之深度處。 因此，在上述參考第4圖之情況下，當 透明基材之光入射表面到第一與第二記錄層 〇. 〇 9毫米與0.1 1毫米時，該波前誤差只有約 接近在真實系統中可接受之 〇_〇75λ rms。 細地調整準直鏡3之位置與安裝一額外之液 前誤差會減低至約 〇 . 〇 2 5又r m s。以此方式 限制由於從該透明基材之光入射表面到記錄 度產生之波前誤差。 第6 A至6 C圖係係用於比較因物鏡傾斜 差變化，與該高密度雙層光碟内從該透明基 面到記錄層間基材厚度之變化的圖表。請參 圖，在一包括於一光學檢取元件内之物鏡未 由於從一透明基材（即覆蓋層）的光入射表面 基材厚度變化所產生的球面像差，定義了分） 至6 C圖中之線①。

而在該光學檢取元件内之物鏡具有少於 角的狀態下產生之慧差，定義了分別顯示在： 中之線②。由於該球面像差與慧差在整個光 之波前誤差，定義了分別顯示於第6A與6C 在第6A與6C圖中，線①是應用第4圖 L 2 (包括在該 度處，而該第 2的碟片表面 分別設定從該 之基材厚度為 0.0 8 λ rm s， 再者，藉著精 晶元件’該波 >即可有效地 層間之基材厚 造成之波前誤 材之光入射表 考第6A至6C 傾斜之狀態， 到記錄層之間 ί>]顯示在第6 A 〇 . 6度之傾斜 第6A與6C圖 碟各處所造成 圖中之線③。 中之圖表所繪 12 1305645 出，而線②是由下列方程式（2)所獲得。 ② =t(n2-l/2n2)NA3a...............方程式（2) 其中‘t’為厚度、‘η’為折射率、NA為物鏡之數 比，‘ a ’為傾斜量。 通常，考慮一般光學系統之最大傾斜量為 0.6 該慧差係根據該值應用於方程式。 意即，該波前誤差之值係根據方程式（3)計算出 ③ =/"(①2 +②2).........................方程式（3) 其中，①：在物鏡未傾斜之狀態下由於從一透 的光入射表面到記錄層之間基材厚度變化所產生的 差，②：在少於0 · 6度（最大值）傾斜角之狀態下所 慧差，及③：由於該球面像差與慧差對整個光碟所 波前誤差。 因此，如第 6 A圖所示，從該透明基材之光入 分別到第一與第二記錄層之基材厚度必須設定在if 微米至1 0 8微米間，以滿足真實系統中可接受之最 誤差值 〇·〇75λ rms。 此結果係考慮了表示光碟折射性之折射率而 值。 特別的是，該結果是根據1.6 0之折射率。 再者，如第6B圖所示，從該透明基材之光入 分別到第一與第二記錄層之基材厚度必須設定在介 微米至1 06.5微米間，以滿足真實系統中可接受之 前誤差值0.075 λ rms。 值孔徑 ，因此 明基材 球面像 產生之 造成之 射表面 r於 7〇 大波前 獲得的 射表面 於 68.5 最大波 13 1305645 因此，如第 6 C圖所示，從該透明基材之光入射表 分別到第一與第二記錄層之基材厚度必須設定在介於7 1 微米至1 1 0.5微米間，以滿足真實系統中可接受之最大 前誤差值0.075 λ rms。 以下將詳加說明之。 第 7圖係顯示應用至依據本發明之高密度雙層光 時，從一透明基材之光入射表面到第一與第二記錄層間 基材厚度的範圍表。如第6 A至6 C圖所示，從該透明基 之光入射表面到記錄層之基材厚度，係依據該透明基材 一折射率而變動地設定。 例如，當該透明基材之折射率η為1.6 0時，從該透 基材之光入射表面到該該等記錄層之基材厚度，必須設 在介於約70微米至108微米間，以滿足0.075 λ rms之 大波前誤差值。 如果對其他折射率考慮相同之情況件，當該透明基 之折射率η等於1.4 5時（如第5 B圖所示），從該透明基 的光入射表面到該等記錄層之基材厚度必須設定在介於 6 8.5微米至106.5微米間，以滿足0.075又rms之最大 前誤差值。 此外，當該透明基材之折射率η等於1 · 7 5時（如第 圖所示），從該透明基材的光入射表面到該等記錄層之基 厚度必須設定在介於約1 1 〇 . 5微米至7 1.4微米間，以滿 0.075 λ rms之最大波前誤差值。 結論是，從該透明基材之光入射表面到該第一記錄 面 .4 波 碟 之 材 之 明 定 最 材 材 約 波 5C 材 足 層 14 1305645 之基材厚度係在約108微米+2.5(或-1 .5)微米（最大值）之範 圍内，而從該透明基材之光入射表面到該第二記錄層之基 材厚度係在約7 〇微米+ 1.4 (或-1 · 5 )微米（最小值）之範圍内。 因此參考第8圖所示，依據本發明一具體實施例之高 密度雙層光碟構造，從該透明基材的光入射表面到該第一 記錄層之基材厚度係設定在一 7 0微米值（最小值），而從該 透明基材之光入射表面到該第二記錄層之基材厚度係設定 為一 1 0 8微米值（最大值），同時該第一與第二記錄層間之 距離係設定在1 9微米± 5微米之範圍内。 現在，將在下文更詳細加以說明。 該第一與第二記錄層可用該等值的一平均加以區分， (意即以89微米（=70+ 1 08/2)當作一界線），例如當第一記錄 層具有7 0微米之最小值時，該第二記錄層必須具有一 8 9 微米之界線值，而當第二記錄層具有1 0 8微米之值時，該 第一記錄層必須具有一 8 9微米之界線值。 因此，該第一記錄層與第二記錄層間之距離可被設定 為1 9微米。且如果考慮製造誤差裕度，其可被設定成現行 系統中可接受之1 9微米± 5微米之值。 雖然可考慮比上述之值的範圍較寬之厚度，然在考慮 用於製造該記錄層之技術時，需求其誤差裕度為± 5微米。 因此，如果企求各層間距離係以1 9微米為代表時，各層間 之平均值將最為穩定。意即，8如果分別計算各層之平均 值，該平均值分別為7 9.5微米與9 8.5微米"依據此結果， 從該透明基材之光入射表面到各個第一與第二記錄層之基 15 1305645 材厚度可分別設定在7 9.5微米± 5微米與9 8.5微米± 5微米。 因此，如第8圖所示，當該透明基材之折射率η等於 1.6 0時，從該透明基材的光入射表面分別到第一與第二記 錄層之基材厚度，係分別設定在7 9.5微米與9 8.5微米， 而第一與第二記錄層間之距離係設定在1 9微米± 5微米之 範圍内。在此情形下，依據所許可± 5微米之距離限制，從 該透明基材之光入射表面分別到該第一與第二記錄層之基 材厚度，係分別設定在7 9 · 5微米± 5微米與9 8.5微米± 5微 米。 依據該高密度雙層光碟之組態，可以有效地限制由於 從該透明基材的光入射表面分別到第一與第二記錄層之基 材厚度變化所產生的球面像差，及由於該物鏡之傾斜產生 之慧差在整個光碟各處所造成之波前誤差。 雖然本文所揭示之本發明較佳具體實施例僅供示範目 的，熟知本項技術人士應瞭解各種修改、增加與替代均係 可行且不脫離本發明揭示於隨附申請專利範圍之範疇與精 神。 由以上說明可明顯得知，本發明提供一種高密度雙層 光碟，用於最小化由於從一透明基材的光入射表面分別到 第一與第二記錄層之基材厚度變化所產生的球面像差，及 由於該物鏡之傾斜產生之慧差在整個光碟各處所造成之波 前誤差，及能夠更準確地將信號記錄至或再生自該光碟。 【圖式簡單說明】 16 1305645

本 發 明 上 述 與 其 他 g 的、 特 色 與 其他 優 勢 可 從 下 列 結 合 隨 附 圖 式 之 詳 細 說 明 中 清楚 地 瞭 解 ，其 中 » 第 1 圖 顯 示 一 普 通 DVD之構造； 第 2 圖 顯 示 一 般 兩 密 度單 層 DVD 丨之樟 P造， 第 3 圖 顯 示 可 說 明 本 發明 的 一 兩 密度 雙 層 光 碟 之 構 造 範 例 第 4 圖 係 用 於 比 較 因 球面 像 差 造 成之 波 前 誤 差 變 化 ， 與 該 密 度 雙 層 光 碟 内 從 一透 明 基 材 之光 入 射 表 面 到 記 錄 層 間 基 材 厚 度 之 變 化 的 圖 式； 第 5 圖 顯 示 依 據 本 發 明之 — 密 度雙 層 光 碟1 的； 溝： 造 > 第 6A至< 5C 圖 係 用 於 比較 因 物 鏡 傾斜 造 成 之 波 前 誤 差 變 化 J 與 該 1¾ 密 度 雙 層 光 碟内 從 一 透 明基 材 之 光 入 射 表 面 到 記 錄 層 間 基 材 厚 度 之 變 化的 圖 式 J 第 7 圖 係 顯 示 應 用 於 依據 本 發 明 之該 1¾ 密 度 雙 層 光 碟 時 5 從 一 透 明 基 材 之 光 入 射表 面 到 第 一與 第 — 記 錄 層 間 之 基 材 厚 度 的 範 圍 圖 表 > 第 8 圖 顯 示 依 據 本 發 明一 具 體 實 施例 之 兩 密 度 雙 層 光 碟 的 構 造 〇 [ 元 件 代 表 符 號 簡 單 說 明 ] 1 物 鏡 2 物 鏡 3 準 直 鏡 4 雷 射 光束 10 數 位 多 功 能 光 碟 20 r§3 密 度單 層 DVD 30 密 度 雙 層 DVD 40 1¾ 密 度雙 層 DVD 17

Claims (1)

1305645 十、申請專利範圍： 1. 一種高密度雙層光碟，至少包含一第一記錄層與一第二 記錄層，該等層均位於一平分該碟片厚度之中央平面的 一側，且靠近一光入射表面；其中 一從一透明基材之光入射表面到該第一記錄層之第一 基材厚度具有多於70微米（最小值）之值；及 一從該透明基材之光入射表面到該第二記錄層之第二 基材厚度具有少於1 〇 8微米（最大值）之值，分別在該透明 基材之折射率為η之情況。 2. 如申請專利範圍第1項所述之高密度雙層光碟，其中該 第一基材厚度與該第二基材厚度會被設定至一限度，使 該透明基材之折射率η為1.60。 3 .如申請專利範圍第1項所述之高密度雙層光碟，其中該 第一與第二記錄層間之距離係在1 9微米± 5微米之範圍 内。 4.如申請專利範圍第1項所述之高密度雙層光碟，其中該 第一基材厚度與該第二基材厚度會被變動地設定至一 限度，使該透明基材之折射率η在1.45至1.70範圍内。 5 .如申請專利範圍第4項所述之高密度雙層光碟，其中分 18 1305645 別設定該第一基材厚度與第二基材厚度為 79.5微米±5 微米與9 8.5微米± 5微米，當該透明基材之折射率η係 等於1.60。 6. —種用於記錄至或再生自一光學記錄媒體之裝置，至少 包含： 將一資料記錄至或再生自該光學記錄媒體之光學檢取 器，該光學記錄媒體包括二記錄層，該第一記錄層具有多 於7 0微米（最小值）的一厚度而該第二記錄層具有少於1 0 8 微米（最大值）的一厚度（分別離一透明基材之光入射表 面），且分別在該透明基材之折射率為η之情況；及 控制該檢取器將資料記錄至或再生自該光學記錄媒體 之該第一或第二記錄層的控制器。 7. 如申請專利範圍第6項所述之裝置，其中一從一透明基 材之該光入射表面到該第一記錄層之第一基材厚度具 有多於7 0微米（最小值）之值，及一從該透明基材之該 光入射表面到該第二記錄層之第二基材厚度具有少於 108微米（最大值）之值。 8. 如申請專利範圍第6項所述之裝置，其中該第一基材厚 度與第二基材厚度會被設定至一限度，使得該透明基材 之折射率η為1.60。 19 1305645 9. 一種高密度雙層光碟，至少包含一第一記錄層與一第二 記錄層，該等層均位於一平分該碟片厚度之中央平面的 一側，且靠近一光入射表面；其中 一從一透明基材之該光入射表面到該第一記錄層之第 一基材厚度具有多於68.5微米（最小值）之值；及 一從該透明基材之光入射表面到該第二記錄層之第二 基材厚度具有少於1 1 〇 · 5微米（最大值）之值， 其中該6 8 · 5微米至1 1 0.5微米之範圍是根據一折射率 比值為1.45至1.60。 10. 如申請專利範圍第9項所述之高密度雙層光碟，其中一 從一透明基材之光入射表面到該第一記錄層具有多於 6 8 · 5微米值（最小值）之第一基材厚度會被設定至一限 度，使得該透明基材之折射率η為1.4 5。 1 1 .如申請專利範圍第9項所述之高密度雙層光碟，其中一 從該透明基材之光入射表面到該第二記錄層具有少於 110.5微米值（最大值）之第二基材厚度會被設定至一限 度，使得該透明基材之折射率η為1.7 0。 12.如申請專利範圍第9項所述之高密度雙層光碟，其中該 第一與第二記錄層間之距離係在1 9微米± 5微米之範圍 20 1305645 内。 1 3 .如申請專利範圍第1 2項所述之高密度雙層光碟，其中 其中該第一基材厚度與該第二基材厚度被分別設定為 7 9.5微米± 5微米與9 8 · 5微米± 5微米，當該透明基材之 折射率比係等於1.6 0。

14. 一種用於記錄至或再生自一光學記錄媒體之裝置，至少 包含： 將一資料記錄至或再生自該光學記錄媒體之光學檢取 器，該光學記錄媒體包括二記錄層’該第一記錄層具有多 於68.5微米（最小值）的一厚度及該第二記錄層具有少於 1 1 0.5微米（最大值）的一厚度（分別離一透明基材之光入射 表面），且分別在該透明基材之折射率為η之情況；及

控制該檢取器將資料記錄至或再生自該光學記錄媒體 之該第一或第二記錄層的控制器。 1 5.如申請專利範圍第1 4項所述之裝置，其中該折射率比 係 1 · 4 5 至 1 · 7 0。 1 6.如申請專利範圍第1 4項所述之裝置，其中一從一透明 基材之該光入射表面到該第一記錄層之第一基材厚度 具有多於7 0微米（最小值）之值，及一從一透明基材之 21 1305645 該光入射表面到該第二記錄層之第二基材厚度具有少 於1 0 8微米（最大值）之值，係分別在該透明基材之折射 率為1 . 6 0之情況。

17. —種高密度雙層光碟，至少包含一第一記錄層與一第二 記錄層，該等層均位於一平分該碟片厚度之中央平面的 一側，且靠近一光入射表面；其：中 該第一與第二記錄層位於離該透明基材之該光入射表 面6 8.5微米至1 1 0.5微米的一範圍内，係在該透明基材之 折射率η為1.4 5至1.7 0之情況。 18.如申請專利範圍第17項所述之高密度雙層光碟，其中 從一透明基材之光入射表面到該第一與第二記錄層具 有68.5微米至106.5微米範圍之第一與第二基材厚度 會被設定至一限度，使該折射率η等於1.4 5。

1 9.如申請專利範圍第1 8項所述之高密度雙層光碟，其中 從該透明基材之光入射表面到該第一與第二記錄層具 有70.0微米至108.0微米範圍之第一與第二基材厚度 會被設定至一限度，使得該折射率η等於1.6 0。 20.如申請專利範圍第18項所述之高密度雙層光碟，其中 從該透明基材之光入射表面到該第一與第二記錄層具 22 1305645 有7 1.4微米至1 1 0.5微米之範圍的第一與第二基材厚 度會被設定至一範圍，使得該折射率η等於1 · 7 0。 21. —種高密度雙層光碟，至少包含一第一記錄層與一第二 記錄層，該等層均位於一平分該碟片厚度之中央平面的 一側，且靠近一光入射表面，其中；

該第一與第二記錄層位於離該透明基材之該光入射表 面7 0.0微米至1 0 8.0微米的一範圍内，係在該透明基材之 折射率η為1 _ 6 0之情況。 22.如申請專利範圍第21項所述之高密度雙層光碟，其中 該第一基材厚度與該第二基材厚度被設定為79.5微米土 5微米與9 8.5微米± 5微米。

23. —種用於記錄至或再生自一光學記錄媒體之裝置，至少 包含： 將一資料記錄至或再生自該光學記錄媒體之光學檢取 器，該光學記錄媒體包括具有第一記錄層與第二記錄層的 二記錄層，該第一記錄層舆第二記錄層位於距離一透明基 材之該光入射表面6 8.5微米至1 1 0 · 5微米之範圍内，在該 透明基材之一折射率η範圍為1.4 5至1 · 7 0之情況；及 控制該檢取器將資料記錄至或再生自該光學記錄媒體 之該第一或第二記錄層的控制器。 23 1305645 2 4.如申請專利範圍第2 3項所述之裝置，其中一從一透明 基材之該光入射表面到該第一記錄層之第一基材厚度 具有多於7 0微米（最小值）之值，及一從一透明基材之 該光入射表面到該第二記錄層之第二基材厚度具有少 於1 0 8微米（最大值）之值，分別在該折射率η為1.6 0 之情況。

25. —種高密度雙層光碟，至少包含一第一記錄層與一第二 記錄層，該等層均位於一平分該碟片厚度之中央平面的 一側，且靠近一光入射表面，其中； 一從一透明基材之一光入射表面到該第一記錄層的第 一基材厚度，會對應於將從在一高密度單層光碟内一透明 基材的光入射表面到一記錄層之一基材厚度，減去該第一 與第二記錄層間距離之半所獲得的一值；及

一從該透明基材之該光入射表面到該第二記錄層的第 二基材厚度，會對應於將從在該高密度單層光碟内該透明 基材之光入射表面到該記錄層之基材厚度，加上該第一與 第二記錄層間距離之半所獲得的一值。 26.如申請專利範圍第25項所述之高密度雙層光碟，其中 從在該高密度單層光碟内該透明基材之光入射表面到 該記錄層之基材厚度係0.1毫米。 24 1305645 27.如申請專利範圍第25項所述之高密度雙層光碟，其中 該第一與第二記錄層間之距離係〇 . 〇 2毫米。 2 8 .如申請專利範圍第2 5項所述之高密度雙層光碟，其中 該第一與該第二記錄基材厚度分別係0 . 〇 9毫米與0 · 11 毫米。

25 1305645 七、指定代表圖： (一） 、本案指定代表圖為：第5圖。 (二） 、本代表圖之元件代表符號簡單說明： 2 物鏡 3 準直鏡 4 雷射光束 40 高密度雙層DVD 八、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明 特徵的化學式：