JP2003173572A - 光ディスクとその記録再生装置 - Google Patents
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
Abstract
(57)【要約】
【課題】この発明は、例えば次世代光ディスク等におい
て有効な光透過層の厚さ及び光透過層の屈折率の範囲を
規定し、高密度記録に適した光ディスクとその記録再生
装置を提供することを目的としている。 【解決手段】基板１２上に形成された情報記録層１３を
光透過性を有するカバー層１４で覆ってなる光ディスク
１１において、カバー層１４の屈折率ｎに関する定数で
ない関数ｆ（ｎ）と、カバー層１４における収差の許容
値に基づいて決定される定数ｔ１，ｔ２とを用いて、カ
バー層１４の厚さｔをｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋
ｔ２の範囲に設定するようにしている。
て有効な光透過層の厚さ及び光透過層の屈折率の範囲を
規定し、高密度記録に適した光ディスクとその記録再生
装置を提供することを目的としている。 【解決手段】基板１２上に形成された情報記録層１３を
光透過性を有するカバー層１４で覆ってなる光ディスク
１１において、カバー層１４の屈折率ｎに関する定数で
ない関数ｆ（ｎ）と、カバー層１４における収差の許容
値に基づいて決定される定数ｔ１，ｔ２とを用いて、カ
バー層１４の厚さｔをｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋
ｔ２の範囲に設定するようにしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、情報の高密度記
録を可能とした光ディスクとその記録再生装置の改良に
関する。
録を可能とした光ディスクとその記録再生装置の改良に
関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、近年では、情報の高密度
記録が可能な光ディスクとして、片面１層に４．７ＧＢ
（Giga Byte）もの情報記録容量を有するＤＶＤ（Digit
al Versatile Disk）が実用化されている。
記録が可能な光ディスクとして、片面１層に４．７ＧＢ
（Giga Byte）もの情報記録容量を有するＤＶＤ（Digit
al Versatile Disk）が実用化されている。
【０００３】このＤＶＤには、例えば、再生専用のＤＶ
Ｄ−ＲＯＭ（Read Only Memory）や、書き替え可能なＤ
ＶＤ−ＲＡＭ（Random Access Memory）等の、複数の種
類が用意されている。
Ｄ−ＲＯＭ（Read Only Memory）や、書き替え可能なＤ
ＶＤ−ＲＡＭ（Random Access Memory）等の、複数の種
類が用意されている。
【０００４】そして、ＤＶＤでは、厚さ０．６ｍｍの透
明基板上に情報記録層を形成し、レーザ光を、透明基板
を透過させて情報記録層上に集束させることにより、情
報の書き込みや読み取りを行なう構成となっている。
明基板上に情報記録層を形成し、レーザ光を、透明基板
を透過させて情報記録層上に集束させることにより、情
報の書き込みや読み取りを行なう構成となっている。
【０００５】この場合、レーザ光を集束する対物レンズ
の開口数ＮＡ（Numerical Aperture）は、０．６を基準
値としている。また、透明基板の屈折率ｎは、波長６５
０ｎｍのレーザ光に対して、１．４５〜１．６５の範囲
に指定されている。
の開口数ＮＡ（Numerical Aperture）は、０．６を基準
値としている。また、透明基板の屈折率ｎは、波長６５
０ｎｍのレーザ光に対して、１．４５〜１．６５の範囲
に指定されている。
【０００６】このため、透明基板には、上記の条件に合
致した基板材料が選定される。この基板材料としては、
一般的にポリカーボネートが用いられている。この場
合、透明基板の屈折率ｎは１．５８となっている。
致した基板材料が選定される。この基板材料としては、
一般的にポリカーボネートが用いられている。この場
合、透明基板の屈折率ｎは１．５８となっている。
【０００７】上記のように、ＤＶＤを構成する透明基板
の厚さは、０．６ｍｍを基準値としている。ところが、
実際には、透明基板の厚さに、製造上のばらつきが生じ
ることは避けられないことである。
の厚さは、０．６ｍｍを基準値としている。ところが、
実際には、透明基板の厚さに、製造上のばらつきが生じ
ることは避けられないことである。
【０００８】しかしながら、ＤＶＤに対して記録再生を
行なう光学系側が、透明基板の厚さを基準値である０．
６ｍｍとして設計されていると、透明基板の厚さが０．
６ｍｍからばらついた場合に収差が発生する。
行なう光学系側が、透明基板の厚さを基準値である０．
６ｍｍとして設計されていると、透明基板の厚さが０．
６ｍｍからばらついた場合に収差が発生する。
【０００９】この光学系の収差は、ＤＶＤの情報記録層
上に集束されるビームスポットの径を増大させ、情報の
記録再生に悪影響を与えるため、一定値以下に抑えてお
く必要がある。
上に集束されるビームスポットの径を増大させ、情報の
記録再生に悪影響を与えるため、一定値以下に抑えてお
く必要がある。
【００１０】ここで、透明基板の厚さのばらつきに起因
して発生する光学系の収差は、透明基板の厚さの設計値
からのずれと、その透明基板の屈折率の設計値からのず
れとの、両方によって決まる。
して発生する光学系の収差は、透明基板の厚さの設計値
からのずれと、その透明基板の屈折率の設計値からのず
れとの、両方によって決まる。
【００１１】このため、ＤＶＤの場合には、透明基板の
厚さのばらつきに起因する光学系の収差を一定値以下に
抑えるために、透明基板に許容される厚さの範囲を、そ
の屈折率ｎとの２次元範囲として規定している。
厚さのばらつきに起因する光学系の収差を一定値以下に
抑えるために、透明基板に許容される厚さの範囲を、そ
の屈折率ｎとの２次元範囲として規定している。
【００１２】この２次元範囲については、例えば特開平
８−２７３１９９号公報等に示されている。すなわち、
この２次元範囲は、屈折率ｎが１．４５〜１．６５の範
囲に対して、透明基板の厚さの基準値に対する誤差を±
０．０２ｍｍとしている。
８−２７３１９９号公報等に示されている。すなわち、
この２次元範囲は、屈折率ｎが１．４５〜１．６５の範
囲に対して、透明基板の厚さの基準値に対する誤差を±
０．０２ｍｍとしている。
【００１３】そして、この２次元範囲は、横軸に屈折率
ｎ、縦軸に透明基板の厚さをとったとき、単純な長方形
ではなく、屈折率ｎがレンズ負荷仕様よりも小さくなる
場合には、透明基板の厚さを増加させる方向にずらせた
形で規定している。
ｎ、縦軸に透明基板の厚さをとったとき、単純な長方形
ではなく、屈折率ｎがレンズ負荷仕様よりも小さくなる
場合には、透明基板の厚さを増加させる方向にずらせた
形で規定している。
【００１４】現在、ＤＶＤをさらに高密度記録化するた
めの技術開発が進められている。この場合、光ディスク
の情報記録層上に集束されるビームスポットの径は、レ
ーザ光の波長に比例し、対物レンズの絞り角を表わす開
口数ＮＡに反比例する。
めの技術開発が進められている。この場合、光ディスク
の情報記録層上に集束されるビームスポットの径は、レ
ーザ光の波長に比例し、対物レンズの絞り角を表わす開
口数ＮＡに反比例する。
【００１５】このため、ＤＶＤの情報記録密度の向上を
目指して、ＤＶＤの情報記録層上に集束されるビームス
ポットの径の縮小化を図るためには、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要がある。
目指して、ＤＶＤの情報記録層上に集束されるビームス
ポットの径の縮小化を図るためには、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要がある。
【００１６】一方、反り等の影響で、光ディスクがレー
ザ光の入射方向に対して傾くと、透明基板を透過するレ
ーザ光の光路が非対称になることから、情報記録層上に
集束されるレーザ光にコマ収差が発生する。
ザ光の入射方向に対して傾くと、透明基板を透過するレ
ーザ光の光路が非対称になることから、情報記録層上に
集束されるレーザ光にコマ収差が発生する。
【００１７】このコマ収差量は、近似として対物レンズ
の開口数ＮＡ値の３乗に比例するため、高密度記録化を
目指して開口数ＮＡを大きくすると、光ディスクの僅か
な特性変化で非常に大きなコマ収差を発生させてしまう
ことになる。
の開口数ＮＡ値の３乗に比例するため、高密度記録化を
目指して開口数ＮＡを大きくすると、光ディスクの僅か
な特性変化で非常に大きなコマ収差を発生させてしまう
ことになる。
【００１８】コマ収差は、光ディスクの光透過層の厚さ
に比例するため、高密度記録化を図る次世代の光ディス
クにおいては、光ディスクの傾きに対するマージンを確
保するため、光透過層の厚さを薄くすることが検討され
ている。
に比例するため、高密度記録化を図る次世代の光ディス
クにおいては、光ディスクの傾きに対するマージンを確
保するため、光透過層の厚さを薄くすることが検討され
ている。
【００１９】なお、このような次世代の光ディスクにお
ける対物レンズの開口数ＮＡと光透過層の厚さの例とし
ては、対物レンズの開口数ＮＡ＝０．８５、光透過層の
厚さの基準値＝０．１ｍｍが挙げられる。
ける対物レンズの開口数ＮＡと光透過層の厚さの例とし
ては、対物レンズの開口数ＮＡ＝０．８５、光透過層の
厚さの基準値＝０．１ｍｍが挙げられる。
【００２０】また、現行ＤＶＤよりも高密度記録化を図
った光ディスクの厚み誤差に関しては、例えば特開２０
００−１１４５４号公報等で提案されたものがある。す
なわち、この公開公報では、レーザ光の波長をλとする
と、透明基板の厚さむらΔｔを、 ｜Δｔ｜≦５．２６λ／ＮＡ＾４ とすることを提案している。これは、ＣＤ（Compact Di
sk）システムにおける厚さむら規格を基準として導出さ
れた範囲である。
った光ディスクの厚み誤差に関しては、例えば特開２０
００−１１４５４号公報等で提案されたものがある。す
なわち、この公開公報では、レーザ光の波長をλとする
と、透明基板の厚さむらΔｔを、 ｜Δｔ｜≦５．２６λ／ＮＡ＾４ とすることを提案している。これは、ＣＤ（Compact Di
sk）システムにおける厚さむら規格を基準として導出さ
れた範囲である。
【００２１】しかしながら、上式の規定は、次の２つの
観点から適切ではない。
観点から適切ではない。
【００２２】（１）本来、光透過層の厚さ範囲は、現在
のＤＶＤのように光透過層の屈折率ｎを考慮した上での
絶対値で規定すべきであるのに対して、上式では、光透
過層の厚さ範囲のみを規定している。
のＤＶＤのように光透過層の屈折率ｎを考慮した上での
絶対値で規定すべきであるのに対して、上式では、光透
過層の厚さ範囲のみを規定している。
【００２３】（２）次世代光ディスクでは、高ＮＡ化に
伴なって発生する球面収差を補正する機構の導入が考え
られており、ＣＤシステムを基準として光透過層の厚さ
範囲を規定することは、もはや適当なことではない。
伴なって発生する球面収差を補正する機構の導入が考え
られており、ＣＤシステムを基準として光透過層の厚さ
範囲を規定することは、もはや適当なことではない。
【００２４】まず、（１）については、光ディスクのド
ライブシステム全体を考慮した場合に必要となる条件で
ある。すなわち、光ディスクドライブは、その光学系を
構成する対物レンズの仕様として、記録再生すべき光デ
ィスクの光透過層の厚さと屈折率とを例外なく一義的に
定めている。
ライブシステム全体を考慮した場合に必要となる条件で
ある。すなわち、光ディスクドライブは、その光学系を
構成する対物レンズの仕様として、記録再生すべき光デ
ィスクの光透過層の厚さと屈折率とを例外なく一義的に
定めている。
【００２５】このため、光ディスクドライブに装填する
光ディスクとしては、当然のことながら、当該光ディス
クドライブの仕様値と同一の光透過層の厚さと屈折率と
を持つことが望まれる。
光ディスクとしては、当然のことながら、当該光ディス
クドライブの仕様値と同一の光透過層の厚さと屈折率と
を持つことが望まれる。
【００２６】しかしながら、光ディスクの製造上、ま
た、メーカにおいて光ディスクに使用する光透過層の材
料の選択上、光ディスクドライブに装填される光ディス
クの光透過層の厚さと屈折率とが、一定の幅を持つこと
は避けられない。問題は、その幅をどの程度まで許容す
るかである。
た、メーカにおいて光ディスクに使用する光透過層の材
料の選択上、光ディスクドライブに装填される光ディス
クの光透過層の厚さと屈折率とが、一定の幅を持つこと
は避けられない。問題は、その幅をどの程度まで許容す
るかである。
【００２７】この許容すべき幅は、上述した光ディスク
ドライブの対物レンズの負荷仕様値を基準にして、その
基準値からのずれによって一定の波面収差を与える光透
過層の厚さと屈折率との範囲として規定することが妥当
である。
ドライブの対物レンズの負荷仕様値を基準にして、その
基準値からのずれによって一定の波面収差を与える光透
過層の厚さと屈折率との範囲として規定することが妥当
である。
【００２８】これに対し、上式は、ただ単に光透過層の
厚さの範囲を規定しただけであり、光ディスクドライブ
の光学系仕様を考慮すれば、当然、同時に検討すること
が必要となる屈折率の概念が欠落しており、光ディスク
からそのドライブまでを考慮したシステムとしては、不
適切な規定といわざるを得ない。
厚さの範囲を規定しただけであり、光ディスクドライブ
の光学系仕様を考慮すれば、当然、同時に検討すること
が必要となる屈折率の概念が欠落しており、光ディスク
からそのドライブまでを考慮したシステムとしては、不
適切な規定といわざるを得ない。
【００２９】既に、ＤＶＤでは、上記した思想の下に、
透明基板（光透過層）の厚さと屈折率との一定の範囲が
規格として定められている。ただし、この規格も、高Ｎ
Ａ化に伴ない、また、光透過層の厚さの仕様値自体が大
きく異なる次世代光ディスクでは、全く通用しなくなる
ことは言うまでもないことである。
透明基板（光透過層）の厚さと屈折率との一定の範囲が
規格として定められている。ただし、この規格も、高Ｎ
Ａ化に伴ない、また、光透過層の厚さの仕様値自体が大
きく異なる次世代光ディスクでは、全く通用しなくなる
ことは言うまでもないことである。
【００３０】上記（２）は、次世代光ディスク特有の前
提条件となってきたものである。次世代光ディスクにお
いて、高ＮＡ化に伴なうコマ収差の増加は、光透過層を
薄くすることにより補償できることは既に述べた通りで
ある。
提条件となってきたものである。次世代光ディスクにお
いて、高ＮＡ化に伴なうコマ収差の増加は、光透過層を
薄くすることにより補償できることは既に述べた通りで
ある。
【００３１】一方、高ＮＡ化に伴なって、光透過層の厚
さ誤差に伴なう球面収差の増加も顕著になってくる。こ
れは、球面収差が、近似として、ＮＡ値の４乗に比例す
るからである。
さ誤差に伴なう球面収差の増加も顕著になってくる。こ
れは、球面収差が、近似として、ＮＡ値の４乗に比例す
るからである。
【００３２】この球面収差は、光透過層の厚さを薄くす
ることでは補償できないため、次世代光ディスクでは、
新たに球面収差を補正する機構を光学系に導入すること
を考えている。
ることでは補償できないため、次世代光ディスクでは、
新たに球面収差を補正する機構を光学系に導入すること
を考えている。
【００３３】この球面収差の補正機構は、従来のＤＶＤ
またはＣＤシステムでは全く導入されなかったものであ
り、ここに、従来システムとの違いがある。このため、
光透過層の厚さの誤差範囲を規定するには、従来のＤＶ
ＤやＣＤシステムを基準に考えていては、不適当な結果
となることは明らかである。
またはＣＤシステムでは全く導入されなかったものであ
り、ここに、従来システムとの違いがある。このため、
光透過層の厚さの誤差範囲を規定するには、従来のＤＶ
ＤやＣＤシステムを基準に考えていては、不適当な結果
となることは明らかである。
【００３４】すなわち、次世代光ディスクでは、球面収
差の補正機構を前提として、従来とは異なる波面収差を
基準として選び、光透過層の厚さの範囲を規定してやる
必要がある。
差の補正機構を前提として、従来とは異なる波面収差を
基準として選び、光透過層の厚さの範囲を規定してやる
必要がある。
【００３５】例えば、従来は、波面収差の基準値として
０．０４λrms以下を前提としていたとしても、次世代
では、球面収差の補正系による効果を考慮すると、０．
１０λrmsまで波面収差の基準を緩和することができ
る。
０．０４λrms以下を前提としていたとしても、次世代
では、球面収差の補正系による効果を考慮すると、０．
１０λrmsまで波面収差の基準を緩和することができ
る。
【００３６】このように、次世代光ディスクのドライブ
システムにおいて球面収差の補正系を導入する場合、従
来のシステムを基準にすることは誤った結果をもたらす
ことになる。上式はＣＤシステムを基準としており、次
世代光ディスクにおいては適切でない基準となるのであ
る。
システムにおいて球面収差の補正系を導入する場合、従
来のシステムを基準にすることは誤った結果をもたらす
ことになる。上式はＣＤシステムを基準としており、次
世代光ディスクにおいては適切でない基準となるのであ
る。
【００３７】次世代光ディスクの仕様として、例えば、
λ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５とした場合に、上記の
式では｜Δｔ｜≦４．０８μｍという厚さむら範囲を指
定していることになる。これは、先に述べた球面収差の
補正系を考えれば不当に狭い範囲であり、光ディスクの
生産上の歩留まりをむやみに減少させてしまうこととな
る。
λ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５とした場合に、上記の
式では｜Δｔ｜≦４．０８μｍという厚さむら範囲を指
定していることになる。これは、先に述べた球面収差の
補正系を考えれば不当に狭い範囲であり、光ディスクの
生産上の歩留まりをむやみに減少させてしまうこととな
る。
【００３８】
【発明が解決しようとする課題】そこで、この発明は上
記事情を考慮してなされたもので、例えば次世代光ディ
スク等において有効な光透過層の厚さ及び光透過層の屈
折率の範囲を規定し、高密度記録に適した極めて良好な
光ディスクとその記録再生装置を提供することを目的と
する。
記事情を考慮してなされたもので、例えば次世代光ディ
スク等において有効な光透過層の厚さ及び光透過層の屈
折率の範囲を規定し、高密度記録に適した極めて良好な
光ディスクとその記録再生装置を提供することを目的と
する。
【００３９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
クは、基板上に形成された情報記録層を光透過性を有す
るカバー層で覆ったものを対象としている。そして、カ
バー層の屈折率ｎに関する定数でない関数ｆ（ｎ）と、
カバー層における収差の許容値に基づいて決定される定
数ｔ１，ｔ２とを用いて、カバー層の厚さｔをｆ（ｎ）
−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋ｔ２の範囲に設定するようにし
たものである。
クは、基板上に形成された情報記録層を光透過性を有す
るカバー層で覆ったものを対象としている。そして、カ
バー層の屈折率ｎに関する定数でない関数ｆ（ｎ）と、
カバー層における収差の許容値に基づいて決定される定
数ｔ１，ｔ２とを用いて、カバー層の厚さｔをｆ（ｎ）
−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋ｔ２の範囲に設定するようにし
たものである。
【００４０】また、この発明に係る光ディスクの記録再
生装置は、基板上に形成された情報記録層を光透過性を
有するカバー層で覆い、カバー層の屈折率ｎに関する定
数でない関数ｆ（ｎ）と、カバー層における収差の許容
値に基づいて決定される定数ｔ１，ｔ２とを用いて、カ
バー層の厚さｔがｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋ｔ２
の範囲に設定された光ディスクに対して、カバー層側か
らレーザ光を照射するもので、カバー層における球面収
差を補正する補正手段を備えるものである。
生装置は、基板上に形成された情報記録層を光透過性を
有するカバー層で覆い、カバー層の屈折率ｎに関する定
数でない関数ｆ（ｎ）と、カバー層における収差の許容
値に基づいて決定される定数ｔ１，ｔ２とを用いて、カ
バー層の厚さｔがｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋ｔ２
の範囲に設定された光ディスクに対して、カバー層側か
らレーザ光を照射するもので、カバー層における球面収
差を補正する補正手段を備えるものである。
【００４１】上記のような構成によれば、カバー層の厚
み誤差に起因する球面収差を補正することにより、許容
される収差量を大きくすることができるので、高密度記
録化に適した光ディスクの光透過層の厚さ及び光透過層
の屈折率の範囲を規定する際に、製造上のマージンを大
きくとれるようになるため、光ディスクの歩留まりの向
上を図ることが可能となる。
み誤差に起因する球面収差を補正することにより、許容
される収差量を大きくすることができるので、高密度記
録化に適した光ディスクの光透過層の厚さ及び光透過層
の屈折率の範囲を規定する際に、製造上のマージンを大
きくとれるようになるため、光ディスクの歩留まりの向
上を図ることが可能となる。
【００４２】
【発明の実施の形態】以下、この発明の第１の実施の形
態について図面を参照して詳細に説明する。図１は、こ
の第１の実施の形態で説明する光ディスク１１の構造を
断面で示したものである。
態について図面を参照して詳細に説明する。図１は、こ
の第１の実施の形態で説明する光ディスク１１の構造を
断面で示したものである。
【００４３】この光ディスク１１は、例えばポリカーボ
ネート等からなる基板１２上に、例えば相変化記録膜を
含む情報記録層１３が形成されている。なお、この光デ
ィスク１１が再生専用ディスクである場合には、相変化
記録膜の代わりに金属反射膜による情報記録層１３が形
成される。
ネート等からなる基板１２上に、例えば相変化記録膜を
含む情報記録層１３が形成されている。なお、この光デ
ィスク１１が再生専用ディスクである場合には、相変化
記録膜の代わりに金属反射膜による情報記録層１３が形
成される。
【００４４】そして、この情報記録層１３の上に厚さｔ
のカバー層（光透過層）１４が形成されている。このカ
バー層１４は、例えばプラスチック材料からなる厚さｔ
のシートであり、これが基板１２上に形成された情報記
録層１３の上に粘着剤や紫外線硬化樹脂等を介して接着
されている。
のカバー層（光透過層）１４が形成されている。このカ
バー層１４は、例えばプラスチック材料からなる厚さｔ
のシートであり、これが基板１２上に形成された情報記
録層１３の上に粘着剤や紫外線硬化樹脂等を介して接着
されている。
【００４５】次に、図２は、この光ディスク１１に対し
て記録再生を行なう光ディスク装置を示している。この
光ディスク装置は、その光源に短波長の半導体レーザ光
源２０を用いている。この半導体レーザ光源２０からの
出射光１００の波長は、例えば３９５ｎｍ〜４１５ｎｍ
の範囲の紫色波長帯のものである。
て記録再生を行なう光ディスク装置を示している。この
光ディスク装置は、その光源に短波長の半導体レーザ光
源２０を用いている。この半導体レーザ光源２０からの
出射光１００の波長は、例えば３９５ｎｍ〜４１５ｎｍ
の範囲の紫色波長帯のものである。
【００４６】この半導体レーザ光源２０からの出射光１
００は、コリメートレンズ２１により平行光に変換さ
れ、偏光ビームスプリッタ２２及びλ／４板２３を順次
透過した後、リレーレンズ系２４を透過し、対物レンズ
２５に入射する。これにより、光ディスク１１のカバー
層１４を透過し、情報記録層１３に集束される。
００は、コリメートレンズ２１により平行光に変換さ
れ、偏光ビームスプリッタ２２及びλ／４板２３を順次
透過した後、リレーレンズ系２４を透過し、対物レンズ
２５に入射する。これにより、光ディスク１１のカバー
層１４を透過し、情報記録層１３に集束される。
【００４７】そして、光ディスク１１の情報記録層１３
による反射光１０１は、再び光ディスク１１のカバー層
１４を透過し、対物レンズ２５、リレーレンズ系２４、
λ／４板２３を透過し、偏光ビームスプリッタ２２で略
直角に反射された後、光検出系２６を透過して光検出器
２７に入射される。
による反射光１０１は、再び光ディスク１１のカバー層
１４を透過し、対物レンズ２５、リレーレンズ系２４、
λ／４板２３を透過し、偏光ビームスプリッタ２２で略
直角に反射された後、光検出系２６を透過して光検出器
２７に入射される。
【００４８】この光検出器２７は、その受光部が複数の
領域に分割されており、それぞれの受光領域から光強度
に応じた電流を出力する。この光検出器２７の各受光領
域から出力された電流は、図示しないＩ／Ｖ増幅器によ
り電圧に変換された後、演算回路３０に供給される。
領域に分割されており、それぞれの受光領域から光強度
に応じた電流を出力する。この光検出器２７の各受光領
域から出力された電流は、図示しないＩ／Ｖ増幅器によ
り電圧に変換された後、演算回路３０に供給される。
【００４９】この演算回路３０は、光検出器２７の各受
光領域にそれぞれ対応する電圧信号を演算処理すること
により、ＨＦ（High Frequency）信号、フォーカス誤差
信号及びトラッキング誤差信号、上記リレーレンズ系２
４の制御信号等を生成している。
光領域にそれぞれ対応する電圧信号を演算処理すること
により、ＨＦ（High Frequency）信号、フォーカス誤差
信号及びトラッキング誤差信号、上記リレーレンズ系２
４の制御信号等を生成している。
【００５０】このうち、フォーカス誤差信号及びトラッ
キング誤差信号は、サーボ・ドライバ３１を介して駆動
部２９に供給されることにより、対物レンズ２５のフォ
ーカス方向及びトラッキング方向の制御に供される。
キング誤差信号は、サーボ・ドライバ３１を介して駆動
部２９に供給されることにより、対物レンズ２５のフォ
ーカス方向及びトラッキング方向の制御に供される。
【００５１】また、上記リレーレンズ系２４は、ボトム
レンズ２４ａとトップレンズ２４ｂとから構成されてい
る。そして、トップレンズ２４ｂは、演算回路３１から
のリレーレンズ系２４の制御信号が、サーボ・ドライバ
３１を介して駆動部２８に供給されることにより、光軸
方向に制御される。
レンズ２４ａとトップレンズ２４ｂとから構成されてい
る。そして、トップレンズ２４ｂは、演算回路３１から
のリレーレンズ系２４の制御信号が、サーボ・ドライバ
３１を介して駆動部２８に供給されることにより、光軸
方向に制御される。
【００５２】このリレーレンズ系２４は、カバー層１４
の厚さが規定値（例えば１００μｍ）のときには、レー
ザ光が対物レンズ２５にほぼ平行光として入射するよう
に設計されている。
の厚さが規定値（例えば１００μｍ）のときには、レー
ザ光が対物レンズ２５にほぼ平行光として入射するよう
に設計されている。
【００５３】ところが、カバー層１４の厚さが規定値か
らずれている場合には、カバー層１４の厚み誤差に起因
する球面収差が生じる。このとき、光ディスク１１の情
報記録層１３上に集束されるビームスポットの形状が歪
むため、安定かつ正確な記録再生が困難となる。
らずれている場合には、カバー層１４の厚み誤差に起因
する球面収差が生じる。このとき、光ディスク１１の情
報記録層１３上に集束されるビームスポットの形状が歪
むため、安定かつ正確な記録再生が困難となる。
【００５４】一方、対物レンズ２５への入射光を、収束
光あるいは発散光にすることによって球面収差が生じ
る。また、リレーレンズ系２４のトップレンズ２４ｂを
光軸方向に移動することにより、対物レンズ２５への入
射光を収束光あるいは発散光にすることができる。
光あるいは発散光にすることによって球面収差が生じ
る。また、リレーレンズ系２４のトップレンズ２４ｂを
光軸方向に移動することにより、対物レンズ２５への入
射光を収束光あるいは発散光にすることができる。
【００５５】このため、リレーレンズ系２４のトップレ
ンズ２４ｂを、カバー層１４の厚み誤差量に応じて光軸
方向に移動させ、対物レンズ２５への入射光を収束光あ
るいは発散光にすることにより、カバー層１４の厚み誤
差により生じる球面収差を補正することができる。
ンズ２４ｂを、カバー層１４の厚み誤差量に応じて光軸
方向に移動させ、対物レンズ２５への入射光を収束光あ
るいは発散光にすることにより、カバー層１４の厚み誤
差により生じる球面収差を補正することができる。
【００５６】具体的には、カバー層１４の厚みが規定値
よりも厚い場合、カバー層１４の厚み誤差量に応じて対
物レンズ２５への入射光が発散光になるように、リレー
レンズ系２４のトップレンズ２４ｂを光軸方向に移動さ
せる。
よりも厚い場合、カバー層１４の厚み誤差量に応じて対
物レンズ２５への入射光が発散光になるように、リレー
レンズ系２４のトップレンズ２４ｂを光軸方向に移動さ
せる。
【００５７】また、カバー層１４の厚みが規定値よりも
薄い場合、カバー層１４の厚み誤差量に応じて対物レン
ズ２５への入射光が収束光になるように、リレーレンズ
系２４のトップレンズ２４ｂを光軸方向に移動させる。
薄い場合、カバー層１４の厚み誤差量に応じて対物レン
ズ２５への入射光が収束光になるように、リレーレンズ
系２４のトップレンズ２４ｂを光軸方向に移動させる。
【００５８】このように、次世代光ディスクに対して記
録再生を行なう光ディスク装置においては、光ディスク
１１のカバー層１４の規定値からの厚み誤差に伴なう球
面収差を補正する手段を備えることが前提とされてい
る。
録再生を行なう光ディスク装置においては、光ディスク
１１のカバー層１４の規定値からの厚み誤差に伴なう球
面収差を補正する手段を備えることが前提とされてい
る。
【００５９】これは、従来の光ディスクシステムである
ＣＤやＤＶＤにおいては考慮されていなかったことであ
るため、次世代光ディスクを製造する上では従来の規定
をそのまま適用することは誤った結果を生むこととな
る。
ＣＤやＤＶＤにおいては考慮されていなかったことであ
るため、次世代光ディスクを製造する上では従来の規定
をそのまま適用することは誤った結果を生むこととな
る。
【００６０】このため、この第１の実施の形態で説明す
る光ディスク１１は、球面収差の補正手段を備えた光デ
ィスク装置で記録再生されることを考慮した、カバー層
１４の厚さ誤差及び屈折率の範囲を有するものとしてい
る。
る光ディスク１１は、球面収差の補正手段を備えた光デ
ィスク装置で記録再生されることを考慮した、カバー層
１４の厚さ誤差及び屈折率の範囲を有するものとしてい
る。
【００６１】次世代光ディスクに対して記録再生を行な
う光ディスク装置の仕様として、例えばレーザ光の波長
が４０５ｎｍで、対物レンズ２５のＮＡが０．８５を用
いた場合を考える。
う光ディスク装置の仕様として、例えばレーザ光の波長
が４０５ｎｍで、対物レンズ２５のＮＡが０．８５を用
いた場合を考える。
【００６２】そして、カバー層１４の屈折率が１．６２
２で、厚さが１００μｍなるレンズ負荷を有する光ディ
スク１１に対して、対物レンズ２５が、完全に収差の補
正がなされた理想的なものであると仮定する。
２で、厚さが１００μｍなるレンズ負荷を有する光ディ
スク１１に対して、対物レンズ２５が、完全に収差の補
正がなされた理想的なものであると仮定する。
【００６３】この対物レンズ２５に対して、カバー層１
４の屈折率ｎ及びカバー層１４の厚さｔが種々異なる光
ディスク１１を用いた場合に生ずる波面収差のrms値を
求めた結果を、図３に示している。
４の屈折率ｎ及びカバー層１４の厚さｔが種々異なる光
ディスク１１を用いた場合に生ずる波面収差のrms値を
求めた結果を、図３に示している。
【００６４】図３では、横軸にカバー層１４の屈折率
ｎ、縦軸にカバー層１４の厚さｔをとり、座標平面上の
それぞれの点における収差のrms値を等高線表示してい
る。等高線の刻みは、レーザ光の波長（＝４０５ｎｍ）
の１００分の２である。
ｎ、縦軸にカバー層１４の厚さｔをとり、座標平面上の
それぞれの点における収差のrms値を等高線表示してい
る。等高線の刻みは、レーザ光の波長（＝４０５ｎｍ）
の１００分の２である。
【００６５】図３において、◎で示した点は基準仕様、
つまり、対物レンズ２５の負荷仕様のポイントで、この
点で収差は０となる。この結果により、カバー層１４の
屈折率ｎ及び厚さｔが種々異なる光ディスク１１を用い
た場合、残留収差量を一定とするためには、例えば屈折
率ｎがレンズ負荷仕様値より大きくなる場合に、カバー
層１４の厚さｔを仕様値よりやや増加させた方が良いこ
とがわかる。
つまり、対物レンズ２５の負荷仕様のポイントで、この
点で収差は０となる。この結果により、カバー層１４の
屈折率ｎ及び厚さｔが種々異なる光ディスク１１を用い
た場合、残留収差量を一定とするためには、例えば屈折
率ｎがレンズ負荷仕様値より大きくなる場合に、カバー
層１４の厚さｔを仕様値よりやや増加させた方が良いこ
とがわかる。
【００６６】したがって、次世代ＤＶＤにおける光ディ
スク１１のカバー層１４の規定として、カバー層１４の
厚さｔの誤差許容範囲は、カバー層１４の屈折率ｎに応
じて絶対値として変化させるように規定することが必要
となる。
スク１１のカバー層１４の規定として、カバー層１４の
厚さｔの誤差許容範囲は、カバー層１４の屈折率ｎに応
じて絶対値として変化させるように規定することが必要
となる。
【００６７】この第１の実施の形態で説明する光ディス
ク１１のカバー層１４の屈折率ｎと厚さｔとの範囲は、
図４に示すようになる。これは、
ク１１のカバー層１４の屈折率ｎと厚さｔとの範囲は、
図４に示すようになる。これは、
【数３】
の領域を示している。
【００６８】これは、図３に示した等高線図における収
差が０．１λrms以下の範囲とほぼ一致しており、この
ような範囲の光ディスク１１を規定することで、カバー
層１４の厚さｔと屈折率ｎの仕様値からのずれによる収
差を、ほぼ０．１λrms以下という条件に保つことがで
きる。
差が０．１λrms以下の範囲とほぼ一致しており、この
ような範囲の光ディスク１１を規定することで、カバー
層１４の厚さｔと屈折率ｎの仕様値からのずれによる収
差を、ほぼ０．１λrms以下という条件に保つことがで
きる。
【００６９】図３の波面収差量の等高線は縦軸方向にほ
ぼ平行に並んでおり、その曲線は上式（３）に一定のオ
フセットを与えた形になっている。このため、収差の許
容値が決まれば、カバー層１４の厚さｔと屈折率ｎの範
囲を、上式（１）〜（３）により定めることができる。
ぼ平行に並んでおり、その曲線は上式（３）に一定のオ
フセットを与えた形になっている。このため、収差の許
容値が決まれば、カバー層１４の厚さｔと屈折率ｎの範
囲を、上式（１）〜（３）により定めることができる。
【００７０】このとき、収差の許容値に応じてｔ１，ｔ
２を変化させることで、カバー層１４の厚さｔの範囲を
調整すれば良い。例えば、許容できる収差が０．０４λ
rmsの場合には、上記式においてｔ１，ｔ２＝４μｍと
することで適正な範囲を指定することができる（図５参
照）。
２を変化させることで、カバー層１４の厚さｔの範囲を
調整すれば良い。例えば、許容できる収差が０．０４λ
rmsの場合には、上記式においてｔ１，ｔ２＝４μｍと
することで適正な範囲を指定することができる（図５参
照）。
【００７１】一方、屈折率ｎの範囲については、カバー
層１４の材質とレーザ光の波長によって決まるものであ
り、光ディスク１１のカバー層１４の材料として有効な
ものが含まれる範囲を規定することになる。
層１４の材質とレーザ光の波長によって決まるものであ
り、光ディスク１１のカバー層１４の材料として有効な
ものが含まれる範囲を規定することになる。
【００７２】この場合、１．４７〜１．６７程度とする
ことで、ポリカーボネート等の光ディスク１１のカバー
層（光透過層）１４として有効な材料の紫色波長帯での
屈折率ｎをカバーすることができる。
ことで、ポリカーボネート等の光ディスク１１のカバー
層（光透過層）１４として有効な材料の紫色波長帯での
屈折率ｎをカバーすることができる。
【００７３】従来の光ディスク装置では、光ディスクの
光透過層の厚さと屈折率誤差とによる収差は０．０２〜
０．０３λrmsが限度であった。このため、例えば収差
の許容値を０．０２λrmsとすれば、図３よりカバー層
１４の厚さｔの誤差範囲はｔ１，ｔ２＝２μｍとする必
要があった。
光透過層の厚さと屈折率誤差とによる収差は０．０２〜
０．０３λrmsが限度であった。このため、例えば収差
の許容値を０．０２λrmsとすれば、図３よりカバー層
１４の厚さｔの誤差範囲はｔ１，ｔ２＝２μｍとする必
要があった。
【００７４】この場合、光ディスク１１の製造上のマー
ジンが非常に狭くなることが容易に想像される。しかし
ながら、次世代光ディスクでは、上述したように球面収
差の補正手段を導入することが前提となる。
ジンが非常に狭くなることが容易に想像される。しかし
ながら、次世代光ディスクでは、上述したように球面収
差の補正手段を導入することが前提となる。
【００７５】このため、許容される収差量は、従来の光
ディスク装置に比べて大きくとることができる。したが
って、例えば上記のように許容収差量を０．１λrmsと
すれば、ｔ１，ｔ２＝１０μｍとなり、光ディスク１１
の製造上のマージンを大きくとることができ、歩留まり
の向上が期待できることになる。
ディスク装置に比べて大きくとることができる。したが
って、例えば上記のように許容収差量を０．１λrmsと
すれば、ｔ１，ｔ２＝１０μｍとなり、光ディスク１１
の製造上のマージンを大きくとることができ、歩留まり
の向上が期待できることになる。
【００７６】一方、前述した公知例のように、カバー層
の厚さ誤差を屈折率に関係なく一定とした仕様を考える
と、これは上式（３）を定数（カバー層厚さの仕様値）
とすることに相当する。
の厚さ誤差を屈折率に関係なく一定とした仕様を考える
と、これは上式（３）を定数（カバー層厚さの仕様値）
とすることに相当する。
【００７７】この場合、例えばｔ１，ｔ２＝２μｍとす
ると、図６に示されるような領域となる。図６からわか
るように、このような領域は波面収差が一定値以下の領
域と合っていない。
ると、図６に示されるような領域となる。図６からわか
るように、このような領域は波面収差が一定値以下の領
域と合っていない。
【００７８】上記した第１の実施の形態との比較として
ｔ１，ｔ２＝１０μｍの場合を考えると、図７のような
領域となる。この場合も、領域の境界で波面収差の値が
大きく変化してしまい、例えばｎ＝１．４７、ｔ＝１１
０μｍのところでは、収差が０．１２λrmsに達するこ
ととなる。
ｔ１，ｔ２＝１０μｍの場合を考えると、図７のような
領域となる。この場合も、領域の境界で波面収差の値が
大きく変化してしまい、例えばｎ＝１．４７、ｔ＝１１
０μｍのところでは、収差が０．１２λrmsに達するこ
ととなる。
【００７９】このため、上記した第１の実施の形態でｔ
１，ｔ２＝１０μｍとした場合に、全領域において、波
面収差が０．１０λrms以下に抑えられていたことを考
えると、許容収差量を大きくする必要が生ずる。
１，ｔ２＝１０μｍとした場合に、全領域において、波
面収差が０．１０λrms以下に抑えられていたことを考
えると、許容収差量を大きくする必要が生ずる。
【００８０】逆に言えば、ある一定の許容収差量に対し
て、従来例ではカバー層の厚さ誤差の許容範囲を狭めな
くてはならなくなる。すなわち、ディスク製造上のマー
ジンを縮小させることになるのである。
て、従来例ではカバー層の厚さ誤差の許容範囲を狭めな
くてはならなくなる。すなわち、ディスク製造上のマー
ジンを縮小させることになるのである。
【００８１】また、この発明の第２の実施の形態につい
て説明する。この第２の実施の形態で説明する光ディス
ク１１のカバー層１４の厚さｔと屈折率ｎの範囲を、図
８に示している。これは、図４で示した第１の実施の形
態の光ディスク１１の範囲とほぼ同様ではあるが、領域
を曲線ではなく直線で囲んだ範囲としている。
て説明する。この第２の実施の形態で説明する光ディス
ク１１のカバー層１４の厚さｔと屈折率ｎの範囲を、図
８に示している。これは、図４で示した第１の実施の形
態の光ディスク１１の範囲とほぼ同様ではあるが、領域
を曲線ではなく直線で囲んだ範囲としている。
【００８２】この場合、図８において、収差が０．１０
λrmsを示す曲線上から、複数（図示の場合は３つ）の
点をサンプルし、そのサンプル点を直線で結んで範囲を
設定している。これによっても、第１の実施の形態の光
ディスク１１とほぼ同等の効果を得ることができる。
λrmsを示す曲線上から、複数（図示の場合は３つ）の
点をサンプルし、そのサンプル点を直線で結んで範囲を
設定している。これによっても、第１の実施の形態の光
ディスク１１とほぼ同等の効果を得ることができる。
【００８３】さらに、この発明の第３の実施の形態につ
いて説明する。図９は、この第３の実施の形態で説明す
る光ディスク５１の断面を示している。この光ディスク
５１は、例えばポリカーボネート等からなる基板５２上
に、例えば相変化記録膜を含む情報記録層５３が形成さ
れる。
いて説明する。図９は、この第３の実施の形態で説明す
る光ディスク５１の断面を示している。この光ディスク
５１は、例えばポリカーボネート等からなる基板５２上
に、例えば相変化記録膜を含む情報記録層５３が形成さ
れる。
【００８４】そして、この情報記録層５３の上には、透
明性の中間層５４が形成され、さらにその上に別の情報
記録層５５が形成されている。なお、情報記録層５３，
５５は、共に金属反射膜による再生専用層でも良いし、
共に記録再生可能層であっても良いし、一方が再生専用
層で他方が記録再生可能層であっても良い。
明性の中間層５４が形成され、さらにその上に別の情報
記録層５５が形成されている。なお、情報記録層５３，
５５は、共に金属反射膜による再生専用層でも良いし、
共に記録再生可能層であっても良いし、一方が再生専用
層で他方が記録再生可能層であっても良い。
【００８５】さらに、この情報記録層５５の上にカバー
層（光透過層）５６が形成されている。このカバー層５
６は、例えばプラスチック材料からなるシートであり、
これが情報記録層５５の上に粘着剤や紫外線硬化樹脂を
介して接着されている。
層（光透過層）５６が形成されている。このカバー層５
６は、例えばプラスチック材料からなるシートであり、
これが情報記録層５５の上に粘着剤や紫外線硬化樹脂を
介して接着されている。
【００８６】上記の中間層５４の役割は、一方の情報記
録層５３または５５を再生している場合に、他方の情報
記録層５５または５３からの情報の漏れ込み（クロスト
ーク）を光学的に遮断することである。
録層５３または５５を再生している場合に、他方の情報
記録層５５または５３からの情報の漏れ込み（クロスト
ーク）を光学的に遮断することである。
【００８７】その意味では、２層の情報記録層５３，５
５の間隔はできるだけ離れていた方がよく、中間層５４
の厚さは厚い方がよいことになる。しかしながら、その
場合には、記録再生する光学系に負担がかかることにな
る。
５の間隔はできるだけ離れていた方がよく、中間層５４
の厚さは厚い方がよいことになる。しかしながら、その
場合には、記録再生する光学系に負担がかかることにな
る。
【００８８】すなわち、対物レンズ２５の負荷として、
カバー層５６の表面から中間層５４の中心までの厚さを
規定した場合には、どちらの情報記録層５３または５５
を記録再生する場合でも、中間層５４の半分の厚さの厚
み誤差による収差が発生するからである。
カバー層５６の表面から中間層５４の中心までの厚さを
規定した場合には、どちらの情報記録層５３または５５
を記録再生する場合でも、中間層５４の半分の厚さの厚
み誤差による収差が発生するからである。
【００８９】したがって、記録再生光学系の収差という
観点からは、中間層５４の厚さは薄い方が良いことにな
る。つまり、中間層５４の厚さは、情報記録層５３，５
５間のクロストークと、記録再生光学系の収差における
トレードオフ関係との妥協点に定められることになる。
観点からは、中間層５４の厚さは薄い方が良いことにな
る。つまり、中間層５４の厚さは、情報記録層５３，５
５間のクロストークと、記録再生光学系の収差における
トレードオフ関係との妥協点に定められることになる。
【００９０】次世代光ディスクに対して記録再生を行な
う光ディスク装置の仕様として、例えばレーザ光の波長
を４０５ｎｍとし、対物レンズ２５のＮＡを０．８５と
した場合、上記のトレードオフを考えると、中間層５４
の厚さは２０〜３０μｍ程度が適当である。
う光ディスク装置の仕様として、例えばレーザ光の波長
を４０５ｎｍとし、対物レンズ２５のＮＡを０．８５と
した場合、上記のトレードオフを考えると、中間層５４
の厚さは２０〜３０μｍ程度が適当である。
【００９１】２層タイプの光ディスク５１の光透過層の
厚さ規定としては、カバー層５６の厚さの最小値と、カ
バー層５６の厚さとカバー層５６に隣接する情報記録層
５５の厚さと中間層５４の厚さとの合計値の最大値と、
で表わすのが良い。
厚さ規定としては、カバー層５６の厚さの最小値と、カ
バー層５６の厚さとカバー層５６に隣接する情報記録層
５５の厚さと中間層５４の厚さとの合計値の最大値と、
で表わすのが良い。
【００９２】このときの光ディスク５１の光透過層の厚
さと屈折率との範囲は、図１０に示すようになる。な
お、これまでに説明した実施の形態と同様に、光ディス
ク５１の光透過層の屈折率が１．６２２、厚さが１００
μｍのレンズ負荷を仮定している。
さと屈折率との範囲は、図１０に示すようになる。な
お、これまでに説明した実施の形態と同様に、光ディス
ク５１の光透過層の屈折率が１．６２２、厚さが１００
μｍのレンズ負荷を仮定している。
【００９３】規定された領域は、屈折率が１．４７≦ｎ
≦１．６７で、カバー層５６の厚さがｆ（ｎ）−ｔ１以
上、カバー層５６＋情報記録層５５＋中間層５４の厚さ
がｆ（ｎ）＋ｔ２以下の範囲であり、ｔ１，ｔ２＝２０
μｍである。なお、ｆ（ｎ）は式（３）の通りである。
結果として、中間層５４の厚さが入るため１層の場合と
比べて厚さ方向の範囲は広くなる。
≦１．６７で、カバー層５６の厚さがｆ（ｎ）−ｔ１以
上、カバー層５６＋情報記録層５５＋中間層５４の厚さ
がｆ（ｎ）＋ｔ２以下の範囲であり、ｔ１，ｔ２＝２０
μｍである。なお、ｆ（ｎ）は式（３）の通りである。
結果として、中間層５４の厚さが入るため１層の場合と
比べて厚さ方向の範囲は広くなる。
【００９４】さらに、この発明の第４の実施の形態につ
いて説明する。図１１は、この第４の実施の形態で説明
する光ディスク５１のカバー層５６の厚さと屈折率の範
囲を示している。
いて説明する。図１１は、この第４の実施の形態で説明
する光ディスク５１のカバー層５６の厚さと屈折率の範
囲を示している。
【００９５】これは、図１０で示した第３の実施の形態
の光ディスク５１の範囲とほぼ同様ではあるが、領域を
曲線ではなく直線で囲んだ範囲としたものである。この
場合も、収差が０．２０λrmsを示す曲線上から、複数
（図示の場合は３つ）の点をサンプルし、そのサンプル
点を直線で結んで範囲を設定している。
の光ディスク５１の範囲とほぼ同様ではあるが、領域を
曲線ではなく直線で囲んだ範囲としたものである。この
場合も、収差が０．２０λrmsを示す曲線上から、複数
（図示の場合は３つ）の点をサンプルし、そのサンプル
点を直線で結んで範囲を設定している。
【００９６】これによっても、第３の実施の形態の光デ
ィスク５１とほぼ同等の効果を得ることができる。ま
た、上記下第３及び第４の実施の形態では、２つの情報
記録層５３，５５を持つ場合を示したが、２層以上の情
報記録層を持つ光ディスクにも適用可能であることは言
うまでもない。
ィスク５１とほぼ同等の効果を得ることができる。ま
た、上記下第３及び第４の実施の形態では、２つの情報
記録層５３，５５を持つ場合を示したが、２層以上の情
報記録層を持つ光ディスクにも適用可能であることは言
うまでもない。
【００９７】なお、この発明は上記した各実施の形態に
限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない
範囲で種々変形して実施することができる。
限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない
範囲で種々変形して実施することができる。
【００９８】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
例えば次世代光ディスク等において有効な光透過層の厚
さ及び光透過層の屈折率の範囲を規定し、高密度記録に
適した極めて良好な光ディスクとその記録再生装置を提
供することができる。
例えば次世代光ディスク等において有効な光透過層の厚
さ及び光透過層の屈折率の範囲を規定し、高密度記録に
適した極めて良好な光ディスクとその記録再生装置を提
供することができる。
【図１】この発明の第１の実施の形態に係る光ディスク
の詳細な構造を説明するために示す側断面図。
の詳細な構造を説明するために示す側断面図。
【図２】同第１の実施の形態における光ディスクに対し
て記録再生を行なう光ディスク装置を説明するために示
すブロック構成図。
て記録再生を行なう光ディスク装置を説明するために示
すブロック構成図。
【図３】光ディスクの収差のrms値をカバー層の屈折率
と厚さとの関係をパラメータとして説明するために示す
図。
と厚さとの関係をパラメータとして説明するために示す
図。
【図４】同第１の実施の形態における許容収差が０．１
０λrmsの場合の光ディスクのカバー層の屈折率と厚さ
との範囲を説明するために示す図。
０λrmsの場合の光ディスクのカバー層の屈折率と厚さ
との範囲を説明するために示す図。
【図５】同第１の実施の形態における許容収差が０．０
４λrmsの場合の光ディスクのカバー層の屈折率と厚さ
との範囲を説明するために示す図。
４λrmsの場合の光ディスクのカバー層の屈折率と厚さ
との範囲を説明するために示す図。
【図６】公知例における光ディスクのカバー層の屈折率
と厚さとの範囲を説明するために示す図。
と厚さとの範囲を説明するために示す図。
【図７】同公知例における光ディスクのカバー層の屈折
率と厚さとの範囲の他の例を説明するために示す図。
率と厚さとの範囲の他の例を説明するために示す図。
【図８】この発明の第２の実施の形態に係る光ディスク
のカバー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために示
す図。
のカバー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために示
す図。
【図９】この発明の第３の実施の形態に係る光ディスク
の詳細な構造を説明するために示す側断面図。
の詳細な構造を説明するために示す側断面図。
【図１０】同第３の実施の形態における光ディスクのカ
バー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために示す
図。
バー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために示す
図。
【図１１】この発明の第４の実施の形態に係る光ディス
クのカバー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために
示す図。
クのカバー層の屈折率と厚さとの範囲を説明するために
示す図。
１１…光ディスク、
１２…基板、
１３…情報記録層、
１４…カバー層、
２０…半導体レーザ光源、
２１…コリメートレンズ、
２２…偏光ビームスプリッタ、
２３…λ／４板、
２４…リレーレンズ系、
２５…対物レンズ、
２６…光検出系、
２７…光検出器、
２８…駆動部、
２９…駆動部、
３０…演算回路、
３１…サーボ・ドライバ、
５１…光ディスク、
５２…基板、
５３…情報記録層、
５４…中間層、
５５…情報記録層、
５６…カバー層。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 5D029 JB13 LB07 LC06 LC08
5D090 AA01 BB04 CC14 DD02 FF11
JJ11 LL03
Claims (14)
- 【請求項１】 基板上に形成された情報記録層を光透過
性を有するカバー層で覆ってなる光ディスクにおいて、 前記カバー層の厚み及び屈折率の仕様値からのずれによ
る収差が一定の許容値以内となるように、前記カバー層
の厚み及び屈折率の範囲が設定されたことを特徴とする
光ディスク。 - 【請求項２】 基板上に形成された情報記録層を光透過
性を有するカバー層で覆ってなる光ディスクにおいて、 前記カバー層の屈折率ｎに関する定数でない関数ｆ
（ｎ）と、前記カバー層における収差の許容値に基づい
て決定される定数ｔ１，ｔ２とを用いて、前記カバー層
の厚さｔがｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦ｆ（ｎ）＋ｔ２の範囲
に設定されたことを特徴とする光ディスク。 - 【請求項３】 前記カバー層に入射されるレーザ光の波
長が３９５〜４１５ｎｍで、前記カバー層の屈折率が
１．４７〜１．６７の範囲に設定されたことを特徴とす
る請求項２記載の光ディスク。 - 【請求項４】 前記カバー層に入射されるレーザ光を照
射するレンズの開口数が０．８５で、前記関数ｆ（ｎ）
が、 【数１】 であることを特徴とする請求項２記載の光ディスク。 - 【請求項５】 前記定数ｔ１，ｔ２が、２μｍ以上に設
定されることを特徴とする請求項４記載の光ディスク。 - 【請求項６】 前記定数ｔ１，ｔ２が、略１０μｍに設
定されることを特徴とする請求項４記載の光ディスク。 - 【請求項７】 前記ｆ（ｎ）−ｔ１及びｆ（ｎ）＋ｔ２
が示す曲線の所定位置をサンプルし、各サンプル点を直
線で結んだ領域を、前記カバー層の厚さｔの範囲とした
ことを特徴とする請求項２記載の光ディスク。 - 【請求項８】 基板上に、複数の情報記録層を相互間に
光透過性を有する中間層を挟んで積層し、外側の情報記
録層を光透過性を有するカバー層で覆ってなる光ディス
クにおいて、 前記カバー層の屈折率ｎに関する定数でない関数ｆ
（ｎ）と、前記カバー層、情報記録層及び中間層でなる
光透過層における収差の許容値に基づいて決定される定
数ｔ１，ｔ２とを用いて、前記カバー層の厚さｔがｆ
（ｎ）−ｔ１以上に設定され、前記カバー層と中間層と
前記基板に最も近い情報記録層を除く情報記録層との合
計の厚さがｆ（ｎ）＋ｔ２以下に設定されたことを特徴
とする光ディスク。 - 【請求項９】 前記カバー層に入射されるレーザ光の波
長が３９５〜４１５ｎｍで、前記カバー層及び中間層の
屈折率が１．４７〜１．６７の範囲に設定されたことを
特徴とする請求項８記載の光ディスク。 - 【請求項１０】 前記カバー層に入射されるレーザ光を
照射するレンズの開口数が０．８５で、前記関数ｆ
（ｎ）が、 【数２】 であることを特徴とする請求項８記載の光ディスク。 - 【請求項１１】 前記定数ｔ１，ｔ２が、略２μｍ以上
に設定されることを特徴とする請求項１０記載の光ディ
スク。 - 【請求項１２】 前記定数ｔ１，ｔ２が、略２０μｍに
設定されることを特徴とする請求項１０記載の光ディス
ク。 - 【請求項１３】 前記ｆ（ｎ）−ｔ１が示す曲線の所定
位置をサンプルし、各サンプル点を直線で結んだ領域
を、前記カバー層の厚さｔの範囲とするとともに、前記
ｆ（ｎ）＋ｔ２が示す曲線の所定位置をサンプルし、各
サンプル点を直線で結んだ領域を、前記カバー層と中間
層と前記基板に最も近い情報記録層を除く情報記録層と
の合計の厚さの範囲としたことを特徴とする請求項８記
載の光ディスク。 - 【請求項１４】 基板上に形成された情報記録層を光透
過性を有するカバー層で覆い、カバー層の屈折率ｎに関
する定数でない関数ｆ（ｎ）と、前記カバー層における
収差の許容値に基づいて決定される定数ｔ１，ｔ２とを
用いて、前記カバー層の厚さｔがｆ（ｎ）−ｔ１≦ｔ≦
ｆ（ｎ）＋ｔ２の範囲に設定された光ディスクに対し
て、前記カバー層側からレーザ光を照射するもので、前
記カバー層における球面収差を補正する補正手段を備え
たことを特徴とする光ディスクの記録再生装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001372939A JP2003173572A (ja) | 2001-12-06 | 2001-12-06 | 光ディスクとその記録再生装置 |
| EP09167547A EP2110813A1 (en) | 2001-12-06 | 2002-03-27 | Optical disk and recording/reproducing apparatus |
| EP02007071A EP1318510A3 (en) | 2001-12-06 | 2002-03-27 | Optical disk and recording/reproducing apparatus |
| US10/107,404 US20030108813A1 (en) | 2001-12-06 | 2002-03-28 | Optical disk and recording/reproducing apparatus |
| CNB021087164A CN1273963C (zh) | 2001-12-06 | 2002-03-29 | 一种光盘 |
| US11/171,289 US20050237915A1 (en) | 2001-12-06 | 2005-07-01 | Optical disk and recording/reproducing apparatus |
| US11/556,997 US20070111142A1 (en) | 2001-12-06 | 2006-11-06 | Optical disk and recording/reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001372939A JP2003173572A (ja) | 2001-12-06 | 2001-12-06 | 光ディスクとその記録再生装置 |
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ID=19181738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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| JP (1) | JP2003173572A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| JPH11259893A (ja) * | 1998-01-09 | 1999-09-24 | Sony Corp | 光学ヘッド、記録及び／又は再生装置並びに記録及び／又は再生方法、並びに厚み検出方法 |
| JP4613356B2 (ja) * | 1998-03-03 | 2011-01-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光記録媒体、光記録方法、光信号再生方法、光記録装置及び光信号再生装置 |
| JP4258037B2 (ja) * | 1998-06-29 | 2009-04-30 | ソニー株式会社 | 光記録媒体と、これを用いた光記録再生装置 |
| JP2000123416A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Sony Corp | 光記録媒体と光記録再生装置 |
| JP2000131603A (ja) * | 1998-10-22 | 2000-05-12 | Sony Corp | 光学ヘッド及び記録再生装置 |
| JP3671126B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2005-07-13 | Ｔｄｋ株式会社 | 光情報媒体およびその製造方法 |
| KR20010075534A (ko) * | 1999-08-31 | 2001-08-09 | 니시무로 타이죠 | 광디스크와 이 광디스크로부터 데이터를 재생하는 방법 및장치 |
| JP2002074749A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-15 | Sony Corp | 光学記録媒体およびその製造方法 |
| JP2002163830A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Toshiba Corp | 光学的収差を利用した光情報処理システムおよび厚みムラのある透明層で保護された記録層を持つ情報媒体 |
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2001
- 2001-12-06 JP JP2001372939A patent/JP2003173572A/ja active Pending
-
2002
- 2002-03-27 EP EP02007071A patent/EP1318510A3/en not_active Ceased
- 2002-03-27 EP EP09167547A patent/EP2110813A1/en not_active Withdrawn
- 2002-03-28 US US10/107,404 patent/US20030108813A1/en not_active Abandoned
- 2002-03-29 CN CNB021087164A patent/CN1273963C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-07-01 US US11/171,289 patent/US20050237915A1/en not_active Abandoned
Also Published As
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|---|---|
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| CN1423253A (zh) | 2003-06-11 |
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| EP2110813A1 (en) | 2009-10-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A02 | Decision of refusal |
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