TWI275439B - Laser processing apparatus - Google Patents

Description

1275439 九、發明說明： 【發明所屬之技術區域】 本發明係有關主要目的在於對印刷基板等被加工物進 行開孔加工的雷射加工機，係將發自一個雷射光源的雷射 光刀成複數光束，以提高其生產性及加工品質的裝置。 【先前技術】 藉由以半反射鏡將通過遮罩的雷射光分成複數光束， 亚將經分光之複數雷射光導至配置於各個透鏡的入射 側的複數個電掃描器系統（galvan〇 scanner system)，以 該複數個電掃描器I，可照射於經分割設定的加工

2 ’㈣光後之雷射光經由第丨電掃描H Θ透鏡的一半區域。 又’經分光後之另一束雷射光 導入⑽鏡的其餘-半區域，藉 ==器系統 統相對於+ 早田對％配置，可同時利用 的Μ透鏡提高生產性（參考專利文獻… 1/2 專利文獻1日本4#關巫· 1 1 〇 4 j *11} 本特開千叫1侧號公報（第3頁、 由於習知雷射加工步晉 及第2電掃描器系統對3=1電掃推器系統 雷射光掃猫，照射於翥射鏡分成複數先束之二束 半反射鏡分光之二東雷二= 二區域的構造，故於藉 射的差異所造成的# &生半反射鏡反射與透 “貝不均’又在分光能量不同的 315839 5 1275439 h心下$ 了使施量相等，進一步需要高價光學元件。 亦有、、二刀光之二束雷射光通過遮罩後至照射於被 加工物為止的光路你 長度不同，被加工物上的嚴密雷射束 點直從亦不同的問題。 $ 由於等量分割透鏡，同時對劃分設定的加 工^ η’故在加卫區域的加卫孔數出現極大差異時， ί，生：：：端部等加工區域内任一處皆無加工對象孔時 寻生產性提咼的期望無法達成。 【發明内容】 本發明係為解決此問題而研創的 ?一=分光之雷射光的能量或品質的差異 同、，广吏：個光路徑長度相同，也可使雷射束點直徑相 價提-生：!·生：：分光之雷射光照射於同-區域，以更低 1貝徒回生產性的雷射加工裝置。 /隹= :目的在於提供—種經分光之雷射光的能量 容易進行調整成均一狀態，並可使加工性 月匕更私疋的雷射加工裝置。 為了達成此目的，本發明 + 盪哭It屮Μ +\ 月之缉射加工裝置係於將自振 盈时射出的雷射光分成：透 藉第二偏光機構反射的第,雷身 :光偏3構，經由反射鏡 當-#丄„ 电卸描為沿雙軸方向掃描，透過上述 被力…勿加工，其特徵：在：猎弟-電掃描器掃描，對 節角产的第-Υϋ & # 昂偏光機構之前配置可調 度的弟二偏先角度調整用偏光機構。 315839 6 1275439 一又，本發明之雷射加工裝置係於將自振盪器射出的雷 射光刀成·透過第一偏光機構，經由反射鏡，再藉二 光機構反射的第1 +射杏·以乃莊 Μ 一〜 田射九，以及猎上述乐一偏光機構反射 ^藉第一電掃描器沿雙軸方向掃描，再透過上述第二偏 光機構的第2雷射光，並藉第二電掃描器掃描，對被加工

St工’其特徵在：藉由用以測定雷射光的焦點位置的測 定機構來測定二束雷射光的焦點位置，並以焦點位置調整 機構加以調整，使二束雷射光的焦點位置的差在期望美ς 以下。 土 + 【實施方式】

居1實施形氣I 第1圖係表示以分光用偏光分束器將一束雷射光分成” 二束雷射光，藉由獨立掃瞄二束雷射光，可同時對二處施 以加工的開孔用雷射加工裝置的概略構造圖。 於圖中，1係雷射振盪器，2係雷射光，2&係入射相 延遲器（phase retarder)3前的雷射光2的偏光方向，2b __ 係藉相延遲器3反射後的雷射光2的偏光方向，3係將直 線偏光的雷射光變成圓偏光的相延遲器，4係為了將加工 孔形成斯望大小、形狀，而自入射的雷射光截取必要部分 的雷射光的遮罩，5係反射雷射光2以導引光路徑的複數 個反射鏡，6係將雷射光2分成二束雷射光的第_偏光分 束器，7係藉第一偏光分束器6分光之一束雷射光，7&係 雷射光7的偏光方向，8係藉第一偏光分束器6分光之另 一束雷射光’ 8a係雷射光8的偏光方向，9係用來將雷射 315839 7 1275439 光7及雷射光8導至電掃瞄器12的第二偏光分束器，⑺ 係將雷射光7、8聚焦於被加工物13上的μ透鏡， 用來沿雙軸方向掃瞒雷射光8並導至第二偏光分束哭9的 第一電掃目苗器，12係用來沿雙軸方向掃目苗雷射光？與雷射— 光8亚導至被加工物13的第二電掃猫器，係被加工物， 14係用來移動被加工物13的ΧΥ載台。 _此外’藉第一偏光分束器6分光的雷射光7、8到達第 一偏光分束器8為止的各光路徑長度係設計成相同。 其-人，說明本實施形態的詳細動作。 __ 如本實施形態所示，於藉由分光用偏光分束器將 雷射光分成二束雷射光，藉獨立掃猫二束雷射光，可同時 對二處施以加工的開孔用雷射加工裝置中，自振盪器1以， 直線偏光振盡的雷射光2藉配置於光路徑途中的相延遲哭 3改。變成圓偏光，經由遮罩4、反射鏡5而導至第一偏光； 束态6。然後’藉第一偏光分束器6以圓偏光入射的雷射 光2的Ρ波成分係透過偏光分束器β成為雷射光7，$波成瞻 刀則為偏光分束器β所反射而分光成雷射光8，且由於圓 偏光具有所有方向的均勻偏光成分，故雷射光7與雷射光 8分光成具有相同能量。 透過第一偏光分束器6的雷射光γ經由彎曲反射鏡5 V至弟一偏光分束器9。 ^另方面，在第一偏光分束器β所反射的雷射光8則 藉乐一電掃瞄器11沿雙軸方向掃瞄後，將其導至第二偏光 分束器9。 315839 8 1275439 此外，雖然雷射井7比 器9，X； 白於相同位置導至第二偏光八Φ 口口 9，不過，雷射光8可藉由 偈先刀束 自疮 ^ 由*工制弟一電掃瞄器11 扼把 用度，而調整入射至篦- 的擺振 主弟一偏先分束器9的位置、 此後，雷射光7、8在 + 角又。 掃瞄後導至ίθϋη "器12沿雙軸方向 置。 透鏡1〇,分別聚焦於被加工物u的預定位 此時，藉由以第—雷搞 於被加工物⑴二 裔11掃瞒，雷射光8可照』 加物13上與雷射光7相同的位置。

置，預先設定的範圍内將雷射光7掃目苗至任意位 考慮分束器的光學元件的特性，藉由例如以第_ ^ 掃瞄器11將雷射光8以雷 —f 内掃晦，同時，經由例如在n 在4随方形的 的弟二電掃瞄器12 此軍 相異兩點位置。、、、射田射先於被加工㈣上的任意 8、#又」本貫施形態是第一偏光分束器6所反射的雷射光 過第广偏光分束器9,而透過第一偏光分束器6的雷射· 為第二偏光分束器9所反射的構造。 由於分光之二束雷射光分別歷經反射及透射二種過 ，，故可消除反射與透射的差異所造成雷射光品質的不均 或能量失衡。 於此，藉雷射光7及雷射光8對被加工物13加工時， 加工孔的品質對雷射光能量的依存度極大。 在藉雷射光7及雷射光8對被加工物13加工相同品質 的孔4 ’須使雷射光7與雷射光8的能量相同。 315839 9 1275439 因此，於本實施形態中，藉由使用將雷射光2分成雷 射光7及雷射光8的第一偏光分束器6，透射p波，反射s 波，分成二束雷射光束。 再者，須將均等地具有P波及s波的雷射光射入第一 偏光分束器6。 第2圖係於中央顯示第一偏光分束器6的前視圖，於 其左右顯示側視圖，於上部顯示俯視圖。 於圖中，61係偏光分束器的光學元件部分，在二氧化 碳氣體雷射情形t，係使用ZnSeGe，係用來作,m 折射雷射光的反射鏡。 入射至第-偏光分束器6的雷射光中，具有偏光方向 7a的成分（P波成分）透過’偏光方向⑸的成分（s波成分） 反射的性質。而且，P波及s波的偏光方向係呈直行。 因此，入射的雷射光的偏光方向若與偏光方向⑽ 波成分）相同，即全部透過’若與偏光方向_波成 相同，即全部反射。 又’右所有偏光方向係均—存在的 S波成45。的偏光方向，雷射 飞於^皮 射光8的能量相等。4切被#，雷射光7與雷 本實施形態中，如第丨圖所示， 束器，第-偏光分束器6到第二偏二:-個偏先分 ^ ^ , 局九刀束态9間的雷射光 8，、7的先路從長度相同，故可使 束點（beam spot)直徑相同。 束田射先的先 本發明的實施形態中，即使將光路徑分解成例如X、 315839 10 1275439 y、z方向，仍可分別成為相同光路 徑構成要素作大小設計變更，仍可=度’故即便對光路 以持雷射光8與：:=:向伸縮光 於上述弟1貫施形態中，自雷 &抑 # - Λ ,, J 田射振盟為1振盪的雷射 3又，、二反射光須以成9〇。的角度入射相延遲器 协α入鉍丄， 田射先2的偏光方向2a，相對 於以入射光軸及反射光軸作為邊 反射面的交線，必須以成45。二千面與相延遲器3的 乂肩Μ成45的角度入射相延遲器3。 軸角2入射於相延遲器3的偏光方向及光 車角度的凋正不充分，即有圓偏光率降低，入射於第 光分束器6的雷射光2的？波成分與S波成分失衡，而雷 射先^雷射光8的能量變得不均句，且雷射光2入射於 相L遲杰3日卞的偏光方向及光軸角度的調整，亦存在有因 偏光方向…、法目視’例如二氧化碳氣體雷射不是可見光情 开/中A軸角度亦無法目視’故圓偏光率之測定，若不充 刀退須要反復貫施角度調整，而造成作業極其煩瑣的情 形發生。 又，雖然在雷射光2成為圓偏光2b之後，入射於第一 偏光分束器6之前，可藉數面反射鏡5反射，不過，於藉 反射鏡5反射之際，圓偏光率亦會降低。 因此’本實施形態中，不使用圓偏光，而就使用直線 偏光振盪的雷射光的情形加以說明。 第3圖係表示本發明實施形態的雷射加工裝置的概略 11 315839 1275439 構造圖。 於圖中，2c係入射於坌二 的偏光方向，2d係透過第二偏光先:束她 的偏光方向，15係、用來後的雷射光2 光分束器，16係測定自透f 10 向的第三偏 動力式感測器’Π係遮蔽雷射光7的 =:-的 雷射光8的第二光閘。 3 18係遮蔽 動力式感測器16固定於χγ載台14， 能量之際，動力式感測器丨6 Α 、田、光的 部的位置。 H私動至雷射光可射到其受光 又，其他相同符號係與揭式第}實施形態 同，故省略其說明。 弟1圖相 第4圖係第3圖所子楚一 &止\丄 ^ ㈡所不弟二偏先分束器15的詳圖。 :圖中’ 20係飼服馬達，21係固定第三偏 哭 15及伺服馬達2〇的托牟，孫肱 口。 至第：偏光〜广 服馬達20的動力傳輪 f弟 “ “ 15的同步皮帶，23係安裝於伺服馬達 〇而用以傳輪伺服馬達20的動力於同步皮第： 帶輪，24係安襄於第三偏光分束器15且藉同步皮帶22; 轉的第二皮帶輪，25伤拎你坌一伯， m夕：： 扁光分束器15所反射的 田射先2之S波成分的阻尼器。 田射光2係自雷射振盈$ !以直線偏光 射鏡5反射，並導至第三偏光分束器& !猎反 %、田射光2的P波成分係透過第三偏光分束器15，並改 艾偏光方向’成為異於直線偏光^角度的直線偏光^， 315839 12 1275439 而導至遮罩4。 又，雷射光2的S波成分係藉第三偏光分束器15反 射，為阻尼器25所吸收。 在遮罩4 t，僅透過期望部分的雷射a 2係藉反射鏡 5反射，導至第一偏光分束器6。 於第一偏光分束器6中，雷射光2的卩波成分係透過 第一偏光分束器6(雷射光7)，S波成分則為第一偏光分束 器6所反射（雷射光8)。 雷：光7在藉反射鏡5反射’導至第二偏光分束器9 之後，¥至第二電掃瞒器12，沿X方向、Y方向掃瞎，藉 ίθ透鏡10聚焦，對裝載於χγ恭 j衣戰ΑΥ戟台14上的被加工物13 力口工0 J 一方面，雷射光8藉第-電掃瞄器11沿X方向、γ 方向知瞄，導至第二偏光分束器9。 此後，再度藉第二電掃瞄器1 w r η σ 1 z朝λ方向、Y方向掃瞄 之後，猎f6»透鏡10聚焦，對裝 工物13加工。 f衣载於Η载台14上的被加 為了改變雷射光7盘雷射水Q 入射於笛ν 土 、田射先8的能量平衡，只要改變 入射於弟一偏光分束器6的ρ、、古 -Γ A — 士 A /皮成刀與S波成分的比例即 可，而在直線偏光的雷射氺A a # M J 1 光入射於弟一偏光分束器 开> 中，只要改變射入的雷 、月 4 A 4 射先2的偏光角度2d即可。而且， 右月匕消除第一偏光分束哭g μ ° b的損失、製作誤差等，且射入 偏光方向與p波成分相同 #7而味4』的雷射光2時，即全部成為雷射 先7而处過，若入射偏光 勹田耵 π只S波成分相同的雷射光2， 315839 13 1275439 gp全部成為雷射光8而反射。 為了使雷射光7與雷射光8能量相等而分光，可用相， 對於P波及S波成45。的偏光角度射入雷射光2。 、 由於自雷射振盪器1振盪之際的雷射光2的偏光角度 2c係由雷射振盪器1的光學構造來決定，故不容易改變偏 光角度。 然而，由於若使雷射光2通過第三偏光分束器π，即 僅有P波成分透過，S波成分則反射，故藉由改變第三偏 光分束器15的角度，可容易改變雷射光2的偏光角度2c。剩 如前述，第三偏光分束器15所反射的雷射光2的S波成分 係藉阻尼器25擋住。 由於在藉第三偏光分束器15調整偏光方向的角度之 · 際，S波成分未能透過而造成損失，故在有效利用雷射光 之際，入射第三偏光分束器15前的雷射光2的偏光角度 2 c (自語射振靈為1振盪之際的偏光角度）可以盡量接近透 過第三偏光分束器15後的雷射光2的偏光角度2d的方式麵| 來設計。 於如此設計情形下，第三偏光分束器的角度調整量只 要可彌補各光學系統部分的製造誤差程度的量即可，此部 分的能量損失在數個％以下。 第三偏光分束器15的角度調整機構係如第4圖所示。 於托架21上固定第三偏光分束器丨5，使之能^雷射 光2的光軸為中心旋轉，且固定第二皮帶輪24，使之與第 三偏光分東器15 —齊旋轉。 315839 14 !275439 力又，女裝有第一皮帶輪23的伺服馬達2〇亦固定於托 j _上固疋於第二偏光分束器15的第二皮帶輪24及固· 疋於伺服馬達20的第一皮帶輪23係藉同步皮帶22聯結。' 士右伺服馬達20藉來自未圖示的控制裝置的信號而旋 轉時，動力即通過同步皮帶22而傳輸至第三偏光分束器 15，改變第三偏光分束器丨5的角度。 ^且，第二偏光分束器丨5所反射的雷射光2的s波成分 則藉阻尼器2 5擋住。 於此’由於在藉第三偏光分束器15調整偏光方向的角 度之際，S波成分會不透過而造成損失，故有效利用雷射 光之際，入射第三偏光分束器15前的雷射光2的偏光角度 2c可以儘量與透過第三偏光分束器15後的雷射光2的偏 光角度2d相同的角度入射。 由於第三偏光分束器15的角度調整以正確的偏光角 朝第偏光分束益6入射雷射光2，故可發揮微調偏光 角度2d的功能。 第5圖係表不自動調整偏光角度調整用偏光分束器的 角度，俾可以本發明實施形態的期望比例的能量取得雷射 光時的流程。 、、雖然使用第3圖及第5圖來說明，不過，為了便於闡 述，就二個能量相等的情形加以說明。 处而且，即便是二束雷射光能量不同的比例的情形，若 月匕文更初期設定，仍可利用相同方法設定。 決定雷射光7及雷射光8的容許能量差，將其輸入未 315839 15 1275439 圖示的控制裝置’進行第三偏光分束器1 5的自動角度調整 程序。 首先’動力式感測器16移動至固定於XY載台14的動 力感測器16的受光部可接收自透鏡10射出的雷射光 的位置。 此後，關閉第二光閘18，自雷射振盪器丨振盪雷射光。 藉由關閉第二光閘18，雷射光8為此部分所遮蔽，自 f Θ透鏡10僅射出雷射光7，而以動力式感測器丨6測定雷 射光7的能量。 _藝 能量測定後，暫停雷射光的振盪，關閉第一光閘17， 而開啟第二光閘18,再度振盪雷射光。此次，藉由關閉第 Y光閘17,以此部分遮蔽雷射光7，自f(9透鏡1〇僅射出· 田射光8，動力式感測器16測定雷射光8的能量。於能量 測定後，停止雷射光的振盪，並開啟第二光閘18。 計算於控制裝置中測定的二雷射光的能量差，將其與 初始輸入的容許值相比較。 / 雖若在容許值内，程序即結束。不過，於超過容許值· 情形下，即調整第三偏光分束器15的角度，再度實施二束 雷射光的能量測定，反覆進行前述動作，迄在容許值内為 止。 …、 弟三偏光分束器的角度調整量 -八射的雷 光2的偏光方向2c及第一偏光分束器6的安裝角度，若 透過第三偏光分束器15後的雷射光2的偏光角度: 射第三偏光分束器15前的雷射光2的偏光角2c變更數声 315839 16 1275439 左右，則邏輯上可導出，第三偏光分束器15的角度每Γ 可調整約7%能量差。 r 如上述，由入射的雷射光2的偏光角度2 c及第一偏光 - 分束器6的安裝角度亦可從邏輯上導出第三偏光分束器15 的調整角度與二束雷射光的能量差的關係。雖然這種關係 亦受能量差的容許值的影響，不過，若容許值為5%左右， 則只要進行2次上述調整循環，則調整（程序）即可結束， 故可在短時間内容易地完成調整。 _ 根據本實施形態，在藉由分光用偏光分束器將一束雷 射光分成二束雷射光，獨立地掃瞄二束雷射光，即可同時 對二個部位實施加工的雷射加工裝置中，藉由在分光用偏 光分束器之前設置偏光角度調整用偏光分束器，俾可對分 / 光用偏光分束的P波（透射波）與S波（反射波）進行雷射 · 光的偏光角度變更，又藉由於該偏光角度調整用偏光分束 器設置可作角度調節的機構，且可根據發自控制裝置的指 令進行角度調節，故經分光之雷射光的能量平衡即容易調儀藝 整，且藉由使能量均一化，使加工性能穩定，或縮短製程 時間，同時可達成穩定的生產。 又，藉由設置可測定雷射光能量的感測器，測定二束 雷射光的能量，偏光角度調整用偏光分束器可自動調整角 度，俾按所期望比例的能量取得二束雷射光，可進一步縮 短製程時間，除此之外，藉由調整變得容易，而無需作業 員的熟練度，可實現穩定的加工。 第3實施形態 17 315839 1275439 於上述第2實施形態中，因為將分光之二束雷射光的 品質差異抑至最小，故藉由使光路徑長度相同，而使射束 點直徑亦相同，但因進行掃目苗，使分光之二束雷射光照射 於各自不同位置，並在導至相同“透鏡之前，行經不同 的光路徑’故亦因通過的光學元件的製作精度品質不一， 而有聚焦特性變化的情形發生，於加工品質(隸 、 正圓度等）上出現差異。 又 田於在分光後的光學元件内，為提高電掃猫器的 驅動速度而使電反射鏡輕量化，且由於偏光分束器將用來 反射或透過雷射光的光學元件固定於架座部分，且使之一 ，化’故於特性上，難以抑制品質不―，而成為雷射光的 焦點位置不同的主要原因。 因此’本實施形態之雷射加工裝置係說明，即使在經 ^光之二束雷射光的焦點位置不同情形下，為了進—步ς 尚加工品質，而加裝焦點位置調整機構的設計。 y 構造^圖係表示本發明實施形態的雷射加工裝置的概略 於圖中，30係作為雷射光7的第一焦點位置 的第-可變形反射鏡，31係作為雷射光7的第二 可變機構的第二可變形反射鏡，32係作為取藉雷射 開加工孔的孔徑、孔位置等的攝影元件 置)攝影機。 ’⑽“何輕合裝 由於其他相同符號與第丨實施形態所示第丨 故省略其說明。 ° 同’ 315839 18 1275439 且’本貫施形恶的第3偏光分束器係供能量調整用， 對於本實施形態的焦點位置調整，可發揮另一功能。亦即， 第6圖本實施形態中，係對第丨圖的系統再行附加，故可 對上述第1實施形態更確實地進行能量調整。 透過第一偏光分束器6的雷射光7經由第一可變形反 射鏡30、第二可變形反射鏡31，導至第二偏光分束H。 另一方面，第一偏光分束器β所反射的雷射光8於藉 第包掃瞄裔11沿雙軸方向掃瞄後，即導至第二偏光分束 ^此後，雷射光7、8在藉第二電掃瞄器12沿雙軸方卢 掃目田後，藉f <9透鏡1 〇照射於被加工物13上。 第7圖係表示本發明實施形態的雷射加工裝置中，你 如將可變形反射鏡30變形成凹形時之雷射光7的焦點位 變化的概略圖。 於圖中，4係遮罩，10係f Θ透鏡（焦距ρ)，30係 可變形反射鏡（焦距f)，33係# μ透鏡1G轉移遮罩^ ^像時的焦點位置，34係利用可變形反射鏡30的透鏡效 移動的假想遮罩位置’35係藉W透鏡1()轉移遮罩位置 34的圖像時的焦點位置。 所形成的圖像藉焦距透鏡10轉移！ . 上之情形下，於可變形反射鏡為平面時，f6 透鏡10的焦距ρ 变 、、、 、遮罩4至f Θ透鏡10的距離Α鱼；^ $ 鏡10至焦點位置Μ沾沉女以 ^ 置33的距離（即工件距離B)的關係可藉以 广公式表示。 315839 19 1275439 1/A+1/B=1/F ···(】） 於此，藉由配置於光路徑中的可變形反射鏡30的效 果，遮罩4可視為位於假想位置34。 在可變形反射鏡30視為與焦距f的透鏡等效情形下， 假想的遮罩位置34與可變形反射鏡3〇間的距離51，可藉 公式（2)表示，藉由變化公式（2)，可藉公式（3)求出bi。9 l/al + l/bl = l/ f ."(2) bl (3) -f · al/(al-f) 於此’在求出的公式(3)的右邊標上-i，係因可變形反 射鏡30的焦距f極大，故解出公式⑶的話，μ即為負。 其次’在假想的遮罩位置34的圖像藉焦距？的f 鏡10而視為轉移至被加工物上時，假想的遮罩位置

=鏡雜 1G的距離82與f0透鏡1()至變化後的焦點位置 —、距的關係’即工件距離b2的關係，可藉公式⑷表 不’又，假想的遮罩位置34至f A 公式⑸表示。 34心透鏡1。的距離a2可藉 l/a2+ l/b2= Ι/p …⑷ a2=M + dl ...⑸ 因此’可由公式⑷、公式⑸導出公式⑻。 ㈣·（bl + dl)/((M + dl) —F)...⑹ 由於在光路徑設計時，al、dl、F三 疋的要素，故於公式式 、疋° 、卜 30及第飞中右决疋弟—可變形反射鏡 及弟一可變形反射鏡31的焦距f， 由公式⑻求出雷射光7的工件距離b2/求出b1’而可 315839 20 1275439 藉由倒算該等公式，雷射光7的工件距離b2即可自由 改變。 遮罩4至第一、第二可變形反射鏡30、31的距離···“ 可變形反射鏡30、31至f 0透鏡10的距離 f Θ透鏡1 〇的焦距 • · · ^ 例如，al = 1 500_，dl = 185mra，F= 100_ 時，雷射 光8的工件距離b = 1〇6· 309mm，在此時，欲使雷射光7的 工件距離相對於雷射光8縮短〇· lmm時，即可算出焦距bl 一 1525· 54mm，而可變形反射鏡30、31加以調整使之形成鐵藝 此一焦距即可。 又，在可變形反射鏡為凸形之情形下，亦可獲得相同 效果，於此情形下，雷射光7的焦點位置可朝拉長 作用。

本發明實施形態中，藉由變化第一可變形反射鏡如 或第二可變形反射鏡31的焦距f，可相對於雷射光8藉 Θ透鏡1 〇轉移遮罩4的圖像時的焦點位置，獨立變化雷^ 光7的焦點位置’在因雷射u及雷射光8分別通過的3 學元件的品質不一而發生焦點位置差異情形下，藉由以j 射光8的焦點位置為基準，量測雷鼾水 ' 、， 里只j田射先7的焦點位置的^ 差量，可決定可變形反射鏡30、31的隹f二1仏 ϋ丄的焦距f，而可將雷』 光8與7的焦點位置差抑至最小。 八 ‘於此，有為了改變雷射光7的焦點位置，僅調整第— 可艾形反射鏡30或第二可變形反射鏡31中任一方的焦距 的方法’以及一併調整第一可變形反射鏡3〇、第二可變形 315839 21 1275439 反射鏡31二者的焦距’將二個可變形反射鏡的焦距均調整 而達到焦點位置變化量與藉任一可變形反射鏡變化焦點位· 置的情形相等的方法，無論在那一種情形下，變化雷射光 7的焦點位置均可獲得同等效果。 如本發明實施形態所示，二個可變形反射鏡配置於互 扭位置，例如，可變形反射鏡3〇配置位置係垂直於包含X 軸方向及Z軸方向的光路徑的面，並且相對於乂軸方向及 Z軸方向的90。光路徑角度朝45。的法線方向，而可變形 反射鏡31之配置位置則垂直於包含z軸方向及”由方向的 光路位的面’並且相對於z軸方向及γ軸方向的⑽。光路 ，角度朝45、法線方向時，藉由綜合二個可變形反射鏡 的焦距的效果，以變化雷射光7的焦點位置，並使二個可 ，'反射鏡的焦距相等，即具有減輕因可變形反射鏡置入 、’路径中所發生的像差的效果，而可實施品質更穩定的加 14實施形態 分光::於加裝變化光路徑長度的機構，作為 槿上 點位置不同時的焦點位置調整機 構的运射加工裝置加以說明。 構造Γ圖係表示本發明實施形態的雷射加卫裝置的概略 於圖中，37係作為焦點位置可變機構—部分的第—、、舌 動反射鏡’其具有能平行於χ軸移動， : 轴為支㈣更㈣峨剑輪⑽置可變機構 315839 22 1275439 夕邛为的第二活動反射鏡，具有即使因第一活動反射鏡37 私動而入射角變化’仍可作角度調整，而不會造成導至第， 二偏光分束器9的光路徑變化的構造。 由於其他相同符號係與第3實施形態所示之第6圖相 同’故省略其說明。 —第9圖係表示本發明實施形態的雷射加工裝置中，例 如藉由變化第-活動反射鏡37、第二活動式反射鏡祁的 位置及角度，延長第一活動反射鏡37與第二活動反射鏡 36間的光路徑長度，藉此，延長雷射光7之遮罩4至Μ · 透鏡10間的光路徑長度時，雷射光7的焦點位置變化的概 各圖於圖中’ 4係遮罩，1 〇儀焦距F1的f 0透鏡， 係可視為藉由光路徑長度延長而以透鏡1〇為基準移動後 的遮罩位L39係# w透鏡10轉移遮罩4圖像的焦點位· 置’40係藉ίθ透鏡10轉移遮罩位置38圖像的焦點位置。 於第9圖中，如同第3實施形態，μ透鏡1〇的焦距 F卜遮罩4至透鏡10的距離w透鏡1〇至焦點_ 位置39的距離（即工件距離Β1)的關係可藉以下公式表 示。 1/A1 + 1/bi=i/fi 〜（7) 藉由第，舌動反射鏡3 7與第二活動反射鏡3 β間 的光路徑長度延長，移動後的遮罩位置38至透鏡1〇 的距離A2 f 0透鏡1 〇至焦點位置的距離（即工件距離 B2)的關係可藉以下公式表示。 1/A2+1/B2=1/F1 …（8) 315839 23 1275439 於此，由於ίθ透鏡ι〇的焦距F1係為固定，故在藉 由遮罩4與f<9透鏡10間的光路徑長度延長，A2大於μ 的情形下’ Β2較Β1小。亦即，由上述可知，藉由工件距 離自Β1移動至Β2 ’能將焦點位置39移至4〇。 例如，於Al = 1685mm，Fl = 100mm時，雷射光8的工 件距離Bl = 106. 3091mm’在此時欲使雷射光7的工件距離 相對於雷射光8縮短0.05_的情形下，可使A1 = 1697 67 mm，俾使Β2=106·2591_，並將第一活動反射鏡37與第 二活動反射鏡36間的光路徑長度延長12. 67mm。 第10圖係表示於本發明第4實施形態中，變化第一、、舌 動反射鏡37與第二活動反射鏡36_光路徑長度，移動 雷射光7的焦點位置之情形中，第—活動反射鏡3了、第二 活動反射鏡36的配置以及雷射光7的偏光方向7a的變 於圖中，？3係標示於光路徑長度不變化時之入射於第

二偏光分束器9的雷射光7的偏光方向，7b係標示於第一 活動反射鏡37與第二活動反射鏡％間的光路徑長度變化 時之雷射光7的偏光方向。 由於在光路徑長度不變化之情形，雷射光7的偏光方 ° _第二偏光分束器9的S波成分—致，故雷射光7 部能量經由第二偏光分束器9反射，作為加工能量 :、而由於在光路徑長度變化之情形，藉由雷射光7 的偏光方向7'係對於第二偏光分束器9的3波成分以帶有 315839 24 1275439 角度㈣態人射，雷射光7所具能量中，—部分係以第二 偏光刀束為9的P波成分透過，故於此部分會發生雷射光 7的能量損失。 例如’以透過第三偏光分束器丨5的雷射光的偏光方向 以相對於第-偏光分束器6的S ;皮、P》皮成45。的角度導 引雷射光，即使經由第-偏光分束器6反射的雷射光8與 透過的雷射光7的能量相等，仍由於在第二偏光分束器9 光7的能量損失，故雷射光8與雷射光7的能量無 於此情形下’即可實施第三偏光分束器15的偏光角度 二旦，而為了彌補於第二偏光分束器9損失的雷射光7的 ’可调整入射於第一偏光分束器6的雷射光的偏光角 例如’由於藉由增 ^ ? χ ^ 分，可增加雷射光心！ί 光分束器6的ρ波成 的 的此置，故可進行第三偏光分束器15 光角产從豐… 光分束器6的雷射光的偏 尤用没攸對彼此正交的ρ 波的方向傾斜。”波s波45的角度再朝接近Ρ 本發明貫施形能Φ 4 ^ Μ - ^ ^ ,心 可猎由變化第一活動反射鏡3Υ 〆、弟—活動反射鏡36間 刺用f /g、采& 勺先路徑長度，相對於雷射光8 &鏡10轉移遮罩4 化雷射光7的焦點位署4 —占位置獨立艾 ，因雷射光8及雷射光7分別通 巧的九學兀件的品質不— 下，亦可藉由以雷射光8=焦點位置上發生變化情形 勺…點位置為基準，量測雷射光 315839 25 1275439 7的…占位置偏差量’以決定第-活動反射鏡37與第二活 動反射鏡36的距離’而將雷射光8及7的焦點位置差抑至 最小。 一又^此時發生的雷射光7的能量損失，可藉由使用第 一偏光刀束益15實施偏光角度調整來彌補，而可使雷射光 8與雷射光7的能量相等。 其次，使用第11圖說明，為了調整二束雷射光的焦點 位置差，自動調整二個可變形反射鏡的焦距，或藉二活動 反射鏡自動調整光路徑長度時的流程。 β Τ先，將ΧΥ載台14上預先設置的被加工物13(例如 [克力板^移人透鏡1〇的加工區域内。開啟第一光間 Π ’關閉第二光閘18，僅藉雷射光8對被加工物進行焦點 4 f ^用加工’例如藉未圖示的驅動裝置U方向移

動弟一偏光分束11 6到f Θ透鏡1G間的光路徑元件及CCD 攝影機32套組，沿z軸方向變化被加工物以與μ透鏡

10間的距離，同時，藉由移動ΧΥ載台14，於不同位置實 施不同工件距離的加工。、 此後開啟第一光閘！ 7，關閉第二光閑工8，僅以雷射 光7中對被加工物進行焦點位置確認用加工。 於加工貝施後，藉由移動χγ載台14，以CCD攝影機 32測定利用雷射光8、7所得加工孔的孔徑、正圓度。 根據於控制袭置中所測定的加工孔徑、正圓度，判斷 束田射光的焦點位置’ S焦點位置在容許值内，程序即 結束’不過’在超過容許值的情形下，根據二束雷射光的 315839 26 1275439 焦點位置差，計算可變形反射鏡的焦距，或藉二個活動 射鏡所作光路徑長度調整量，再彦眚 欠 厌只施一束雷射光的隹赴 位置確$忍用加工，於達到容許值内 、…、 干俚内之則反覆進行前述動 作0 於此，在藉活動反射鏡調整光路徑長度情 焦點位置的調整結束時刻，藉第三偏光分束器15 ; 整’使一束雷射光的能量調成均一。 ° 藉由此種焦點位置的調整係定期地實施，例如於。 中或裝置啟動時等實施，故二束雷射 ]^祆 ,.^ ^ …礼口口質可經常維 持更南精度’由於作業員亦益需孰绩疮 貝j…而热練度，故可實施穩定的 加工0 η根據士發明，可將分光之雷射光的能量或品質差異抑 至最小，错由各個光路徑長度相同，使射束點直徑大致相 同，並可低廉提高生產性。 【圖式簡單說明】 第1圖係表示本發明第1實施形態的雷射加工裝置的 概略構造圖。 & 第2圖係偏光分束器的分光模式圖。 第3圖係表示本發明第2實施形態的雷射加工裝置的 概略構造圖。 第4圖係偏光角度調整用偏光分束器部分的放大圖。 第5圖係偏光角度調整用偏光分束器的自動調整程序 的流程圖。 第6圖係顯示本發明第3實施形態的雷射加工裝置的 315839 27 1275439 概略構造圖。 第7圖係概略顯示本發明第3實施形態之雷射加工裝 置之焦點位置變化圖。 第8圖係顯示本發明第4實施形態的雷射加工裝置的 概略構造圖。 第9圖係概略顯示本發明第4實施形態的雷射加工裝 置之焦點位置變化圖。 第10圖係概略顯示本發明第4實施形態之雷射加工裝 置之雷射光偏光方向變化模式圖。 ^第11圖係藉焦點位置可變機構所為之焦點位置自動 調整程序的流程圖。 【主要元件符號說明】 1 2a 2b 2c 4 6 7 7a 8 8a 9 11 雷射光 雷射振盪器 入射相延遲器3前的雷射光2的偏光方向 以相延遲器反射後的雷射光2的偏光方向 2d直線偏光 3 相延遲器 遮罩 5 曲反射鏡 第一偏光分束器 藉第一偏光分束器6分光之一雷射光 雷射光7的偏光方向 藉第一偏光分束器6分光之另一雷射光 雷射光8的偏光方向 第二偏光分束器 1〇 透鏡 第一電掃瞄器 12 第二電掃瞄器 315839 28 1275439 13 15 17 20 22 24 30 32 33 34 35 36 38 14 16 18 21 23 25 31 被加工物 第二偏光分束器 第一光閘 伺服馬達 同步皮帶 弟二皮帶輪 第一可變形反射鏡 CCD攝影機 XY載台 動力感測器 第二光閘 托架 第一皮帶輪 阻尼器 第二可變形反射鏡 猎透鏡1〇轉印辦I 4I知卓4的圖像時的焦點位置假想遮罩位置 藉f0透鏡10轉印遮罩位置 第二活動反射鏡 37 遮罩位置 34的圖像時的焦點位置 第一活動鏡 39 40 61 62 A1 A2 al a2 B bl 藉透鏡10轉印遮罩4 早4的圖像的焦點位置 藉f0透鏡10轉印戚置 “、、罩3 8的圖像的焦點位置 偏光分束器的光學元件部分 用來成90°折射雷射光的鏡 遮罩4至透鏡1Q的距離 遮罩4至透鏡1〇的距離 遮罩38至ί Θ透鏡10的距離 遮罩4至第一、第二可蠻 y ^ ^ s ^ ^ , 九鏡3〇、31的距離 假想遮罩位置34至f θ诱锊1 π σ边蹺10的距離 f <9透鏡1 〇至焦點位置Μ 1 的距離即工件距 假想遮罩位置34與可變形 又心鏡30間的距離 315839 29 1275439 b2 雷射光7的工件距離 dl 可變形反射鏡30、31至f0透鏡10的距離 F f 0透鏡10的焦距 f 可變形反射鏡30的焦距 % % 30 315839

Claims (1)

1275439 曰修(¾)正本I第931 13913號專利申請案 申請專利範圍修正本 (95年10月31曰） .-種：射加工裝置，係將自振盪器射出的雷射光分成： 透過第一偏光機構，經由反射鏡，再藉第二偏光機構反 f的第1雷射光；以及藉上述第一偏光機構反射，並藉 第:電掃描器沿雙軸方向掃描’透過上述第二偏光機構 的第2雷射光，並藉第二電掃描器掃描，對被加工物加 工的雷射加工裝置，其特徵為：在第一偏光機構之前配 置可調節角度的第三偏光角度調整用偏光機構。 2.如申請專利範圍第1項之雷射加工裝置，其中，設有可 測定雷射光之能量的感測器，以測定二束雷射光之能 里，並以所期望之能量比例取得二束雷射光之方式，調 整第三偏光角度調整用偏光機構的角度。 3·如申請專利範圍第1項之雷射加工裝置，其中，設有用 以測定雷射光焦點位置的測定機構，以測量二束雷射光 的焦點位置，並以焦點位置調整機構加以調整，俾使二 束雷射光的焦點位置差在所期望之基準以下。 4·如申請專利範圍第3項之雷射加工裝置，其中，於雷射 光分為二束後之一雷射光路徑中配置可變形反射鏡，並 具備藉由改變該可變形反射鏡的焦距而調整焦點位置 的焦點位置調整機構。 5 ·如申凊專利範圍第3項之雷射加工裝置，其中，於雷射 光分為二束後之一雷射光路徑中，具備藉由改變分光後 (修正本）315839 1 1275439 而調整焦點位置的焦點 之一雷射光路徑的光路徑長度 位置調整機構。 6. 如申請專利範㈣5項之雷射加工裝置，其中，藉由使 配置於雷射光路徑中以反射上述雷射光的反射鏡的安 裝形態可變，而變化光路徑長度。 7. -種：射加工裝置’係將自振盪器射出的雷射光分成: 透過f -偏光機構，經由反射鏡，再藉第二偏光機構反 射的第1雷射光；以及藉上述第—偏光機構反射，並藉 第一電掃描器沿雙軸方向掃描，且透過上述第二偏光機 構的第2 f射光，並藉第二铸描器掃描，對被加工物 加工的雷射加工裝置，其特徵為：根據用以測定雷射光 之焦點位置的測定機構，4測二束雷射光的焦點位置， 並以焦點位置調整機構加以調整，俾使二束雷射光的焦 點位置差在所期望之基準以下。 8. 如申請專利範圍第7項之雷射加工裝置，其中，於雷射 光分為二束後之一雷射光路徑中配置可變形反射鏡，並 具備藉由改變該可變形反射鏡的焦距，以調整焦點位置 的焦點位置調整機構。 9. 如申睛專利範圍第7項之雷射加工裝置，其中，於雷射 光分為二束後之一雷射光路徑中，具備藉由改變分光後 之一雷射光路徑的光路徑長度，以調整焦點位置的焦點 位置調整機構。 10·如申請專利範圍第7項之雷射加工裝置，其中，藉由使 配置於雷射光路徑中以反射上述雷射光的反射鏡的安 (修正本）315839 2 1275439 装形態可變’而變化光路徑長戶。 U.如申請專利範圍第1項或第7項之雷射加工裝置，其 中’弟一與弟一偏光機構的反射面呈相對向配置，形成 分光後之各雷射光的光路徑長度分別相同的光路徑。 (修正本）315839