TWI253764B - Cluster packaging of light emitting diodes - Google Patents

Description

1253764 ⑴ 政、發明說明 (發明說明應敘明：發明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及圖式簡單說明 發明範圍 本發明乃關於微電子裝置，質言之，乃關於發光二極體 者。 發明背景 發光二極體廣泛用於消費性及商務性用途。嫻於工藝者 皆知，發光二極體通常含於半導體基板上之二極體區。微 電子基板可含砷化鎵，磷化鎵，其合金，碳化硅及/或藍 寶石等。發光二極體不斷開|發亍業已獲致具高效率堅固耐 用且涵蓋可見光譜及其外之考源的成果。此等屬性連同固 態裝置潛在之長久使用壽命使發光二極體成為各種顯示 性應用中能與白熱燈及螢光燈並駕齊驅。 現已利用數種方法以增加發光二極體的輸出。其中兩種 方法包括增大發光二極體的尺寸及並聯多個分立之發光 二極體。增大發光二極體的尺寸固可以增大發光二極體的 發光面積而增高輸出，不過增大尺寸後產益會趨減。而且 發光二極體尺寸增大聚光亦較不易。故增大發光二極體尺 寸會增加與其產生光量有關之成本。 提供經個別測試並互連之多個分立發光二極體或為解 決增大尺寸難題及由發光二極體聚光等問題的方法。惟多 個發光二極體之個別測試、胜配及/或互連亦會增加成本。 發明概要 本發明之諸具體實例提供於具有發光二極體區之半導 體基板上劃線供各別之多個發光二極體間之劃線，而提供 1253764 (2) 發明說明續頁 發光二極體的建構方法。然後循選定之劃線將該半導體基 板分割，以提供此多個發光二極體的單元化子集。單元化 子集至少包含兩個發光二極體，再就此多個發光二極體之 單元化子集之發光二極體提供電性連接。 在本發明另一具體實例中，諸劃線界定此多個發光二極 體之各別二極體。 在本發明之特別具體實施例中’半導體基板由碳化石圭構 成，或由藍寶石基板構成。 在本發明其他一具體實施例=中，所選定循其分割半導體 基板之劃線乃屬一串發光二極體之線。且所選定之劃線可 屬至少含有兩並列之長方形諸發光二極體的劃線。同樣， 所選定之劃線可屬含發光二極體之正方形劃線。 此外，可採焊接發光二極體之接觸點以提供電性連接。 各發光二極體可具有單元化子集中之共同接觸點，並具單 元化子集中每一發光二極體之個別接觸點。在此一具體實 施例中，可就共同接觸點採公共連接，並就個別接觸點採 串並連接以提供電性連接。公共連接可將連接焊接至共同 接觸點行之。並聯連接可將每一個別接觸點連接至一導電 匯流條完成。此並聯連接將第一個別接觸點連接至導電匯 流條，再將其餘個別接觸點一連串連接至第一個別接點。 在本發明再一具體實施例中，所選定分割半導體基板之 劃線乃屬提供一選定波長斷面之發光二極體單元化子集 之諸劃線。此選定之波長斷面可為選定之諸波長之範圍。 在本發明另一具體實施例中，所選定分割半導體基板之 1253764 -

ί-Λ 發明說明續I 劃線乃’屬提供選定之光輸出位準之發光二極體單元化子 集之劃線。 本發明又一具體實施例中，劃線提供一種手指（ATON) 形狀給每一發光二極體。 在本發明另一具體實施例中，多個發光二極體之單元 化子集中發光二極體的電性連接乃選擇性地連接發光二 極體，以提供一組具有預先界定特性之發光二極體。此預 先界定之特性可屬光輸出特性及/或順向偏壓之電性特性。 圖式之簡、單說明 圖1為本發明具體實施垧劃線之半導體基板分割前之 * ? 頂視圖； i 圖2為本發明具體實施例多個發光二極體之單元化子 集的側視圖； 圖3為本發明具體實施例中互連之發光二極體的頂視 圖；及 圖4為本發明具體實施例之例示操作的流程圖表。 發明之詳細說明 茲將參考例示本發明各具體實施例之圖1至4以說明本 發明。如圖所示，諸層或區之尺寸皆予放大以供說明本發 明的一般結構。並參酌於基板或另一層上構成之層，依各 種取向以說明本發明。技術方家皆知，參酌於另一層或基 本上構成層乃預期另外諸層介_入。無介入層時乃屬”直接" 於層或基板上構成者。文中相同數字係指相同元件。 圖1至4例示本發明之各具體實施例及依據實例製造發 發明說明續頁 1253764 (4) 光二極體的各種方法。如圖1所示，晶圓1 〇，諸如碳化石圭 或藍寶石晶圓，其上業經形成多個諸如發光二極體之發光 裝置1 2。每一發光裝置1 2周邊皆由多個劃線1 4界定。劃線 1 4可採如鋸及/或蝕刻晶圓1 0達成，以提供溝槽為分割晶 圓1 0之準據。例如，以碳化硅基板而言，劃線可深入基板 達裝置結構約2 0至約2 5微米。發光裝置1 2可含有共同發光 區，此區構成於晶圓1 0上或屬分立裝置，諸如於晶圓1 0 及/或其層上形成而由台面，護圈或植入區所隔離之個別 裝置等。 .· > 此外，留下約3 0至4 0微米之裝置結構可用於獲致約2 0 ^ t 至約2 5微米裝置結構體之劃線分割晶圓處之取光。此可藉 選擇較鄰接之裝置並確定裝置行列界線位置而完成之。此 一確定即可用以改變構成劃線之鋸的切割高度。由改變循 分割劃線之厚度及供微差裝置與光輸出之劃線，即可減少 循不正確劃線分割晶圓疏失的可能性。 依據本發明的具體實施例，晶圓1 〇沿劃線1 4選擇性地 予以分割，劃線乃經選定以供發光裝置1 2之單元化子集者 。因之，例如，晶圓1 0可沿劃線A - A1，B - B，，E - E f及F - F ’ 分割以供該提供8個發光裝置線性系列之發光裝置1 2的單 元化子集16。同樣，晶圓10可沿劃線B-Bh CW，E-Ef及 F - F ’分割，提供2 X 8個發光蓼置長方形發光裝置系列之發 光裝置12的單元化子集18。如圖1中另一例示，晶圓10可 沿劃線C - C ’，D - D、E - E ’及F - F ’分割，提供8 X 8個發光裝置 正方形發光裝置系列之發光裝置1 2的單元化子集2 0。 1253764 .

圖1中之發光裝置12固呈大致正方形，但亦可重行配置 及/或增加劃線1 4而呈其它形狀之發光裝置。例如，可將 晶圓1 0另行劃線以分隔發光裝置1 2而提供三角形的發光 裝置。同樣，可重配及/或增加劃線1 4以提供不同形狀發 光裝置之組合。因此，在單一晶圓中可提供長方形及三角 形之裝置。同理在單一晶圓中亦可提供不同之多邊多角形 裝置。·此外，可由劃線提供不同形狀，諸如弧，曲線等， 從而循選定之劃線分割可獲任何形狀。不過，特殊之分割 技術限制一定形狀之實用性。、裝置之單元化子集中，特殊 裝置型式及/或型式之組合’即.·由晶圓1 〇分割劃線之選擇而 ' ? 予以決定之。 '

循界定發光二極體之晶圓1 〇上劃線而選擇性分割或不 分割晶圓1 0可用於很多不同型式的發光裝置。本發明之 具體實施例特別適合用於下述美國專利申請案律師案號 5 3 0 8 - 1 6 2中之發光裝置。該申請案名稱為”發光二極體包 括基板修改及其製造方法"，於2002年1月25日提出列入本 件以供參考。 圖2顯示本發明具體實施例中發光二極體單元化子集 的互連。發光二極體40的單元化子集包括具有發光區52 之基板50。發光二極體40之單元化子集中發光二極體42 ，4 4，4 6，4 8可如劃線所提供之圖2所示之"手指π形狀。 或呈其它形狀或諸形狀之組合。在支承基板6 0上的導電材 料5 4供給發光二極體4 0之單元化子集接觸區之電性接觸 。導電材料5 4可屬焊錫、共晶黏合劑或導電環氧樹脂等。 -10- 發明說明續頁 1253764 ⑹ 支承基板60上含有導電區58(如一金屬體及/或匯流排）， 以導體56將其連接至發光二極體40單元化子集的第二接 觸點。

導體56可用焊接連接至發光二極體40之單元化子集。不 過亦可用他種連接，諸如，共晶黏劑或環氧樹脂等。而且 發光二極體40之單元化子集中的發光二極體42，44，46 ，48可各別連接至導電區84(如圖3所示），或以導體56内 串一起然後連接至導電區58(如圖2所示）。内串接觸及各 別連接至導電區5 8之組合亦可_縣用84。 雖圖2所示之本發明具體實施例係以”浮片晶片”組構 加以說明，其中經由基板5 0取光，並參考相對兩側皆含接 觸點之·發光二極體而說明如技術方家所知者，但本發明之 說明亦可應用於其它組構。例如，亦可採接觸點在裝置同 一側之裝置。此外，非屬π浮片晶片’’組構之裝置亦可採用 。另外，雖圖2顯示發光二極體之單元化子集乃裝設於支 承基板6 0上，但此支承基板可省略不用。

請參考圖3所示發光二極體82之2x4單元化子集連接之 頂視圖。如圖3所示，發光二極體82之單元化子集安裝於 一支承基板80上。發光二極體82單元化子集中諸發光二極 體之接觸點連接至支承基板80之導電區84,以提供至發光 二極體之電性連接。發光二極體的第二接點可連接至發光 二極體之對側，或以焊接法直>妾連接至支承基板8 0。 圖3中所示發光二極體的接觸點固居於發光二極體的相 對兩面上，但諸接觸點亦可位於發光二極體的共同面上。 -11 - 發明說明續寅 1253764 ⑺ 在此情況下，可選擇性地以焊接、共晶黏劑及/或導電性 環氧樹脂提供自支承基板8 0之電性連接。或若接點在支承 基板8 0對面之發光二極體面上時，可用導體連接至接點。

圖4顯示本發明具體實施例之運作情形。如圖4所示， 製造含有發光區之晶圓（方格1 〇 〇)。次將晶圓劃線以界定 分立之發光二極體（方格1 1 〇)。此劃線過程會對發光二極 體周邊產生所望形狀，並可採鋸及/或蝕刻晶圓提供劃線 行之。晶圓之劃線應具足夠深度，俾可沿劃線分割晶圓。 然後沿所選定之劃線分割晶圓j以提供含兩個或多個二極 體之發光二極體之單元化子集（方格120)。 、 i

所選劃線可根據一或多項举則選定。例如，選定劃線以 供發光二極體單元化子集中所望之二極體數量。亦可選定 劃線以提供具有所望之光及/或電等特性之二極體單元化 子集。例如，可選定劃線提供具有所望光輸出位準，波長 及/或多波長之二極體。並可選定劃線提供所望波長概況 ，諸如波長範圍等。同樣，可選定劃線提供具有所望電性 特性諸如順向偏壓（Vf)之發光二極體的單元化子集。此種 選定可根據晶圓上發光二極體的實際量度行之，亦可根據 預測之發光二極體的特性行之。同樣，晶圓内發光二極體 可設計具有不同特性，諸如輸出波長等。如此，可選定劃 線以提供所望之具有不同特性的發光二極體組合。 分割晶圓提供發光二極體之潭元化子集後，即行構成至 發光二極體單元化子集中各發光二極體的連接（方格1 3 0) 。最好採用焊接以完成此項連接，不過共晶黏劑及/或導 -12- 1253764 發明讀7明續i 電性環氧樹脂亦可採用。此外，最好發光二極體連接於基 板的相對面上，且用於經基板取光之π浮片晶片”組構中。 在此一具體實施例中，基板宜屬碳化硅材料。 本發明具體實施例中雖經說明由分割而分成發光二極 體之子集，但以技術方家就本揭示的理解言之，亦可採其 它方法分割發光二極體單元化子集。例如，分割子集可採 鋸，雷射切割，水注銑等慣用於分離個別模具的技術行之。 同樣本發明具體實施例雖經參考提供電性連接之發光 二極體單元化子集中每一.發光二，極體加以說明，應非意為 本發明受該等具體實施例之限制。在本發明之其它具體 實施例中，所選定之單元化子集之發光二極體，其全部 或大部發光二極體皆已備有連接。如上所述，可選定備有 連接之發光二極體以供特殊特性，諸如波長或波長範圍， 電壓特性及/或輸出位準等等。此等所選定之發光二極體 或具有上述所提供之連接。此一選擇性互連之提供可如美 國專利申請案第09/9 8 1，5 23號所說明者，該案於200 1年10 月1 7日提出，名稱為’’大面積碳化硅裝置及其製造方法π ，錄入本文參考。 在圖式及說明書中，業經揭示本發明之標準化較佳具 體實施例，且雖採特定術語，但其僅供一般敘述意念而 非供限制之用。本發明之範圍載於下列之申請專利範圍中。 -13 -

Claims (1)

1253764 拾、申請專利範圍 1 . 一種構成發光二極體之方法，包含： 刻劃一個其上形成發光區之半導體基板，以於多個 發光二極體的各別之間提供劃線；然後 循所選定的劃線分割半導體基板以提供此多個發光 二極體之單元化子集，單元化子集至少含有兩個發光二 極體，以及 提供至該多個發光二極體之單元化子集中發光二極 體的電性連接。 \ 2 .如申請專利範圍第1項之‘方丨法，其中半導體基板由碳化 石圭基板構成。 3 .如申請專利範圍第1項之方法，其中半導體基板由藍寶 石基板構成。 4 .如申請專利範圍第1項之方法，其中所選定循之分割半 導體基板的劃線包含為提供條形發光二極體單元化子 集而選定之劃線。 5 .如申請專利範圍第1項之方法，其中所選定循之分割半 導體基板的劃線包含為提供至少含兩平行列之發光二 極體單元化子集的長方形發光二極體而選定之劃線。 6 .如申請專利範圍第1項之方法，其中所選定循之分割半 導體基板的劃線包含為提Ί共-正方形發光二極體單元化 子集而選定之劃線。 7.如申請專利範圍第1項之方法，其中提供電性連接之步 驟包括焊接至發光二極體接觸點之步驟。 1253764 申請專利範圍讀頁 8 .如申請專利範圍第1項之方法，其中發光二極體單元化 子集之多個發光二極體，具有供單元化子集中每一發光 二極體之共同接觸點，並具有對應單元化子集中每一發 光二極體之各別接觸點，且其中提供電性連接之步驟所 包括之步驟為： 就共同接觸點提供公共連接；及 就各別接觸點提供平行連接。 9 .如申請專利範圍第8項之方法，其中提供公共連接之步 驟包括焊接至共同接觸點之_連.接。 10. 如申請專利範圍第8項之方法，其中提供平行連接之步 驟包括連接各接觸點至匯流條之步驟。 11. 如申請專利範圍第8項之方法，其中提供平行連接之步 驟所包含之步驟為： 連接各接觸點的第一個接點至導電匯流線；及 内串其餘各接觸點至該各接觸點的第一個接觸點。 12. 如申請專利範圍第1項之方法，其中所選定循之分割半 導體基板之劃線包含為提供具所選波長概況之發光二 極體單元化子集所選定之劃線。 13. 如申請專利範圍第12項之方法，其中所選波長概況包括 一選定之波長範圍。 14. 如申請專利範圍第1項之方法，其中所選定循之分割半 導體基板之劃線包含為提僉具所選光輸出位準之發光 二極體單元化子集所選定之劃線。 15.如申請專利範圍第1項之方法，其中劃線提供一種手指 1253764 申請專利範圍續頁 形狀（ATON)之發光二極體。 16. 如申請專利範圍第1項之方法，其中就多個發光二極體 單元化子集之發光二極體提供電性連接之步驟，包括選 擇性連接該多個發光二極體單元化子集之諸發光二極 體，以便提供一組具有預先界定特性之發光二極體。 17. 如申請專利範圍第16項之方法，其中預先界定之特性包 括光輸出特性。 18. 如申請專利範圍第16項之方法，其中預先界定之特性包 括電性特性。 ，一 19. 如申請專利範圍第18項之方·法，其中電性特性包括順向 > f 偏壓電壓。 ' 20. 如申請專利範圍第1項之方法，其中劃線界定多個發光 二極體中之各別發光二極體。