TW594715B - Optical information medium, method of manufacturing for the same, recording or reproducing method for the same and method of inspecting the same - Google Patents

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TW594715B
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layer
light
recording
reproduction
optical information
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TW090115420A
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English (en)
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Tsuyoshi Komaki
Hideki Hirata
Tatsuya Kato
Original Assignee
Tdk Corp
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594715 A7 ____B7 五、發明説明（1 ) 【發明所屬之技術領域】： (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於再生專用光碟、光記錄光碟等光資訊媒 體，以及製造此光資訊媒體之方法，以及對於此光資訊媒 體進行記錄或再生之方法，以及檢查此光資訊媒體之方法 【先前技術】： 最近幾年，於再生專用光碟及光記錄光碟等光資訊媒 體中，爲了將動晝資訊等巨大資訊量加以記錄及保存，記 錄密度提昇所帶來之媒體的高容量化被加以要求，爲了因 應此要求，高記錄密度化之硏究開發被廣爲進行。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 做爲在此當中之一，例如於D V D ( Digital Versatile Disk)般，將記錄再生之波長加以變短，並且將記錄再生光 學系統之物鏡數値口徑（N A )加以變大，並將雷射光束 之點直徑變小被加以提案。將D V D與C D比較的話，藉 由將記錄再生之波長由7 8 0 nm變更爲6 5 0 nm，以 及將NA由〇 · 45變更爲0 · 6，可達成6〜8倍之記 錄容量（4 · 7GB/面）。 再者於最近，爲了將高解析度之動畫像加以長時間記 錄，藉由將記錄再生之波長變短·至4 0 0 n m並且將物鏡 數値口徑擴大至0 · 8 5，以期望達到D V D之4倍的容 量，亦即2 0 G B /面以上的記錄容量。 然而，一旦加以高N A化，傾斜容限則會變小。傾斜 容限爲針對光學系統之光記錄媒體之傾斜的容許度，其爲 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210Χ 297公釐） 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___ B7五、發明説明（2 ) N A所決定。若設記錄再生之波長爲λ ，記錄與再生之光 線所入射之透明基體之厚度爲t的話，則傾斜容限爲 λ / ( t · N A 3 ) 之比例。此外’ 一旦光記錄媒體對雷射光光束產生傾 斜的話，亦即發生傾斜的話，將會發生波面像差（彗星像 差）’若設基體之折射率爲η，傾斜角爲0的話，則波面 像差係數爲 (1/2) · t · {η2 · sin0 · cos0 } · NA3/(n2-sin20 )·5’2 之表示。從這些式子當中，爲了將傾斜容限變大並抑 制彗星像差的產生，最好是將基體厚度t變小。實際上於 DVD中，藉由將基體厚度縮爲CD基體厚度（1 · 2 ’ m m程度）的約一半（〇 · 6 m m )，以確保傾斜容限。 然而，爲了將高解析度之動晝像加以長時間記錄，具 有更薄的基體厚度之構造被加以提案。此構造將一般厚度 之基體做爲維持剛性之支持基體來採用，於表面形成凹坑 與記錄層，於其上面設置厚度爲1 〇 〇 //m左右之光透過 層以做爲薄型基體，透過該光透過層將記錄再生光線加以 入射。於此構造中，因爲比起以往其基體可加以變薄，因 此可達成高N A化之高記錄密度的達成。具有如此構造之 媒體，例如記載於曰本特開平1 0 — 2 8 9 4 8 9號公報 。記載於同公報之媒體具有由光硬化性樹脂所構成之光透 過層。 然而，若是由紫外線硬化型樹脂等光硬化性樹脂來構 成光透過層的話，因爲於硬化時會發生收縮而使媒體產生 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210 X 297公釐） -5- 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _____B7__ —_五、發明説明（3 ) 翹曲。此外，將媒體保存於高溫高濕下的環境亦會產生翹 曲。一旦產生翹曲，容易產生讀取錯誤，翹曲量極大的話 則將無法讀取。 於日本特開平8 — 1 9 4 9 6 8號公報中，記載了具 有樹脂製的保護塗佈之光碟。於同公報中，藉由將耐拉破 壞伸展率維持於1 5 %以上，可以抑制保存於高溫高濕下 的環境之光碟翹曲的產生。然而於同公報中，並未記載透 過保護塗佈將記錄再生光線加以入射。 然而根據本發明者們的硏究，於透過厚度1 0 〇 // m 左右之光透過層（保護塗佈）將記錄再生光線加以入射的 情況下’僅僅是將光透過層之耐拉破壞伸展率維持於1 5 %以上，並無法得到良好的記錄再生特性。尤其是於將雷 射光光束之點直徑變小並且於線速度極快的情況下進行記 錄再生之際，仍會產生問題。尤其是焦點伺服機構的安定 性不夠。此外，亦會有雙折射率變大的問題。 藉由將記錄再生之波長短波長化並且將N A變大使雷 射光光束之點直徑變小，並將記錄再生時之線速度變快， 資料傳輸速率可顯著提昇，有可能實現1 〇 〇 M b P s或 是以上之資料傳輸速率。藉由於2 Ο Ο 0年末開始播放之 衛星數位播放，使尚解析度之影像資訊被傳輸至各個家庭 ，因此爲了達成錄影等，資料傳輸速率之顯著提昇被廣爲 要求。 然而，爲了提昇資料傳輸速率，必須達成上述焦點伺 服機構的高度安定性。 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS〉Α4規格（2!ΟΧ297公釐〉 ΓβΤ 一~ - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（4 ) 【發明所欲解決之課題】： 本發明之目的爲提供一種光資訊媒體，係於支持基體 表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層 ，並經由此光透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射 ，其特徵爲：於雷射光光束之點直徑極小並且其線速度極 快的情況下可以提昇記錄與再生的特性。 【用以解決課題之手段】： ‘藉由以下（1 )〜（1 5 )所述之本發明上述目的被 加以達成。 (1 ) 一種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資 訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，碰經由此光 透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，而上述光透 過層係由樹脂所構成，其耐拉破壞強度爲5〜4 Ο Μ P a 並且耐拉破壞伸展率爲1 5〜1 Ο Ο %並且耐拉破壞彈性 率爲 40 〜lOOOMPa。 (2 )如上述（1 )所記載之光資訊媒體，其特徵爲 ••上述光透過層的厚度爲3 0〜2 0 0 //m。 (3 ) —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資 訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光 透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲： 於資料記錄區域中，上述光透過層於波長6 3 0 nm之雙 折射率（絕對値）爲2 0 n m以下，於波長6 3 0 n m之 本紙張尺度適用中國國家標隼（CNS ) A4規格（210X297公釐） _ 7 - I ~~ 裝 „ 訂 . (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 A7 B7 五、發明説明（5 ) 雙折射率之分佈幅爲2 0 n m以下。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (4 ) 一種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資 訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光 透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲： 上述光透過層之記錄波長及再生波長之表面反射率爲10 %以下。 (5 ) —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資 訊記錄層，.於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光 透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲： 記錄時或是再生時之線速度之焦點誤差訊號的殘留誤差部 份以R來表示，焦點感度曲線之p - p値以F來表示的話 ，R/F不超過1〇%。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (· 6 ) —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資 訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光 透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲： 上述光透過層表面的最大波度以Wt (單位：nm)來表 示，記錄時或是再生時之線速度以V (單位：m / s )來 表示之際，於上述光透過層表面的記錄或是再生之雷射光 光束之點直徑爲3 0 0 n m以下爲條件下，貝[]
Wt^ 1840e'°-04V 式成立。. (7 )如上述（6 )所記載之光資訊媒體，其特徵爲 :上述光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板，以及將 該光透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構成，而上 -8 - 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___B7五、發明説明（6 ) 述接著層含有紫外線硬化型樹脂之硬化物，上述接著層的 平均厚度爲〇 · 5/zm以上5/zm以下。 (8 )如上述（6 )或（7 )所記載之光資訊媒體， 其特徵爲：上述光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板 ，以及將該光透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構 成，而上述光透過性薄板是由聚碳酸酯、以及環狀聚烯烴 中的一種所構成，並且藉由流延法被製造。 (9 )如上述（3 )〜（8 )之任一項所記載之光資 訊媒體，其特徵爲：於線速度爲8 m/ s以上被加以使用 〇 (1 0 )如上述（3 )〜（9 )之任一項所記載之光 資訊媒體，其特徵爲：若將物鏡之數値口徑設爲NA，將 記錄光或再生光之波長設爲λ的話，則藉由滿足· A/NAS780nm 式子之裝置，記錄或再生被加以進行。 (1 1)爲上述（1)或（2)之光資訊媒體之上述 (3 )〜（1 0 )之任一項所記載之光資訊媒體。 (1 2 ) —種光資訊媒體之製造方法，係爲製造出上 述（6 )〜（8 )之任一項所記載之光資訊媒體，其特徵 爲··上述光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板，以及 將該光透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構成，而 上述接著層含有紫外線硬化型樹脂之硬化物，藉由將紫外 線Ρα射於紫外線硬化型樹脂之塗膜上使其硬化並將上述接 著層加以形成之際，將紫外線照射能量密度設定於 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) μ規格（210X297公羞） ZoZ~ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 A7 B7 -----—___________ 五、發明説明（7 ) 1000mW/Cm2以下。 (1 3 ) —種光資訊媒體之記錄或再生之方法，其特 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 徵爲：於支持基體表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄 層上，針對具有於波長6 3 Ο n m之雙折射率（絕對値） 爲2 0 nm以下，於波長6 3 0 nm之雙折射率之分佈幅 爲2 Ο n m以下之光透過層之光資訊媒體，透過光透過層 將記錄或再生之雷射光加以入射以進行記錄或再生。 (1 4 ) 一種光資訊媒體之記錄或再生之方法，其特 徵爲：於支持基體表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄 層上，針對具有記錄波長及再生波長之表面反射率爲1〇 %以下之光透過層之光資訊媒體，透過光透過層將記錄或 再生之雷射光加以入射以進行記錄或再生。 Γ 1 5 ) —種光資訊媒體之檢查方法，係於支持基體 表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層 ，並經由此光透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射 ，其特徵爲：記錄時或是再生時之線速度之焦點誤差訊號 的殘留誤差部份以R來表示，焦點感度曲線之p - p値以 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 F來表示的話，R/F不超過1 0%。 【發明之實施型態·】： 本發明之光資訊媒體之構成例如第1圖所示。此光資 訊媒體爲記錄媒體，於支持基體2 0上具有做爲資訊記錄 層之記錄層4，於此記錄層4上具有光透過層2。記錄或 是再生之雷射光透過光透過層2被加以照射。 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） ;1〇 - ' 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（8 ) 本發明不拘記錄層之種類均可適用。亦即，例如爲相 變化型記錄媒體，或是凹坑形成型記錄媒體，或是光磁氣 記錄媒體均可適用。一般而言，至少於記錄層的一邊設置 以記錄層的保護與光學效果爲目的之介電層與反射層，於 第1圖之圖示中加以省略。此外，本發明不僅限於如圖示 之可記錄型，亦可適用於再生專用型。於此情況下，採用 了全體設置凹坑之支持基體2 0，於此層上設置由金屬膜 、半金屬膜，介電體多層膜所構成之反射層，將上述凹坑 形狀轉錄於此反射層。於此情況下，反射層構成了資訊記 錄層。 接下來具體說明本發明之媒體各部之具體構成。 支持基體2 0是爲了維持媒體之剛性而加以設置。支 持基體20之厚度通常爲0·2〜1·2mm，最好是 〇 . 4〜1 · 2mm即可，透不透明均可。支持基體2〇 可由與一般之光記錄媒體相同之樹脂所構成即可，亦可由 玻璃加以構成。一般設置於光記錄媒體中之引導溝2 1 ’ 如圖所示，藉由將設置於支持基體2 0之溝轉錄於形成於 其上之各層上來加以形成。引導溝2 1從記錄或再生光之 入射側來看爲存在於面前之區域，而存在於與其相鄰之溝 之間的筋狀凸起物則稱爲紋間表面。 光透過層2具有讓雷射光透過之透光性。本發明中之 光透過層2之厚度西望是3 0〜2 0 0 ’較佳爲介於 5 0〜2 00#m之間，最好是介於7〇〜1 5 0//m。 若光透過層太薄的話，附著於光透過層表面之塵埃所造成 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -11 - I 裝 ^ 訂 . (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（9 ) 之光學性影響極大。此外，藉由高N A化使光接收器與媒 體之間的距離變小並使光接收器與媒體表面容易接觸，然 而，若光透過層太薄的話，對於與光接收器之接觸無法的 到足夠之保護效果。另一方面，若光透過層太厚的話，藉 由高N A化之高記錄密度之達成則變得困難。此外，若光 透過層太厚的話，於光透過層形成之際硬化所帶來之收縮 變大，其結果爲，媒體之翹曲量變大。然而，於本發明中 之光透過層，因爲耐拉破壞彈性率較小並耐拉破壞伸展率 較大，即使是超過5 0 /z m甚至是7 0 // m以上之相對較 厚之光透過層，硬化時所產生之翹曲量極小，並且所產生 之翹曲量會隨時間之經過而緩和。其結果爲，可得到以往 所沒有之低翹曲量及平面振動量之媒體。 光透過層2其耐拉破壞強度爲4 OMP a以下，最好 是3 5MP a以下，並且耐拉破壞伸展率爲1 5%以上， 最好是2 0 %以上，並且耐拉破壞彈性率爲1 0 0 0 MP a以下，最好是8 0 OMP a以下。若耐拉破壞強度 太大的話，則雙折射率及其分佈幅變大。若耐拉破壞伸展 率太小的話，則媒體之平面振動量變大且容易產生翹曲， 尤其是保存於高溫高濕下的環境下更容易產生翹曲。若耐 拉破壞彈性率太大的話，則媒體容易產生翹曲及平面振動 量變大。 另一方面，光透過層之耐拉破壞強度太小的話，則不 僅光透過層本來的效果，亦即保護資訊記錄層之效果會打 折扣，反而使媒體之翹曲量變大，因此耐拉破壞強度希望 張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） :12- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ______B7_五、發明説明（1〇 ) 是5MP a以上，最好是7MP a以上。光透過層之耐拉 破壞伸展率太大的話，則光透過層變得太柔軟使強度不足 。此外，即使於其上設置更高強度之表面層，亦無法得到 保護效果。因此，耐拉破壞強度1 0 0 %以下，最好於 8 0 %以下。光透過層之耐拉破壞彈性率太小的話，則反 而使媒體之翹曲量變大，此外，因爲光透過層變得太柔軟 ’因此使耐拉破壞彈性率爲4 Ο Μ P a以上。 本明細書中之耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐 拉破壞彈性率爲規定於日本J I S K 7 1 2 7 - 1 9 8 9之中。於測定這些數値之際，將條件設定如下， 試驗片之長度：6 0 m m、 試驗片之寬度：1 0 mm、 標線間距離：4 Ο ± 1 m m、 固定具間距離：4 4 土 1 m m、 引拉速度：3 0mm/mi η 其他測定條件則依日本J I S K 7 1 2 7 - 1 9 8 9即可。將這些條件設定與曰本 J I S Κ 7 1 2 7 — 1 9 8 9不同之理由爲，如伺以 從媒體剝離之光透過層來測定般，是因爲考慮了媒體（光 碟）之尺寸（一般爲直徑12 cm之程度）。 如此，藉由將耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐 拉破壞彈性率各自設定於範圍內，使雙折射率及其分佈幅 變小，並且可使剛製造完之媒體之翹曲量變小，並且可以 抑制保存於高溫高濕下的環境下所產生之翹曲，並且可使 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -13 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 594715 A7 ________B7_ 五、發明説明（11 ) 媒體之平面振動量變小。 具體而言，容易使於波長6 3 0 n m之雙折射率（絕 對値）爲2 0 n m以下，亦可使其爲1 8 n m以下。此外 ，容易使於波長6 3 0 n m之雙折射率之分佈幅以p 一 p 値控制爲2 0 n m以下，亦可使其控制爲；[5 n m以下。 雖然雙折射率及其分佈幅愈小愈好，但因爲即使雙折射率 及其分佈幅顯著降低亦無法使效果顯著向上，因此並無必 要將雙折射率設定於未滿2 n m，此外亦無必要將雙折射 率之分佈幅設定於未滿2 n m。上述雙折射率及其分佈幅 爲資訊§5錄區域之値。亦即，例如於光碟中，爲除了非資 訊記錄區域（內週部及外週部）之區域。而於本發明所限 定之雙折射率及其分佈幅爲於波長6 3 0 n m之測定値， 但於本發明中記錄光或是再生光之波長並不限定於6 3 0 nm。若是於波長6 3 0 nm之雙折射率及其分佈幅爲如 上述較小的話，例如於2 5 0 n m〜9 0 0 n m程度之廣 波長域中，可以實現光之利用效率等之效果之提昇。 此外，於平面振動加速度較大且焦點伺服機構的誤差 容易發生之高線速度之際，具體而言爲8m/s以上之線 速度下，尤其是於1 〇〜3 5m/s之情況下，可以顯著 防止焦點伺服機構誤差之發生。具體而言，將焦點誤差訊 號的殘留誤差部份以R來表示，焦點感度曲線之P - P値 以F來表示之際，可以容易將R / F控制於1 〇 %以下， 甚至將R / F控制於6 %以下。雖然R / F愈小愈好，但 是因爲即使R / F極小也無法顯著提昇效果，因此沒有必 I 批衣 Ί.--1T------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -14 - 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___ B7_ 五 '發明説明（12 ) 要將R/F降至未滿〇.1%。 於本發明中，記錄波長或是再生波長中之光透過層之 表面反射率最好是1 0 %以下。將表面反射率控制爲1 〇 %以下之方法，於雷射能源利用效率低之高線速度之際， 具體而言爲8m/s以上之線速度下，尤其是於1 〇〜 3 5 m/ s之情況下最爲有效。雖然表面反射率愈小愈好 ，但是因爲即使表面反射率極小也無法顯著提昇效果，因 此沒有必要將表面反射率降至未滿0 . 1 %。 若將物鏡之數値口徑設爲NA，將記錄光或再生光之 波長設爲λ的話，藉由滿足 λ/ΝΑ^78〇ηιη A/NA^ 6 80nm 式子之裝置進行記錄或再生之情況下，本發明之效果 特別有效。亦即，將較短波長之記錄或再生光採用高N A 之物鏡加以照射情況下特別有效。而若於 40 0 nm$A/NA 的範圍內能夠實現優良之際路與再生特性，一般來說 即足夠。 本發明具有將耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐 拉破壞彈性率設定於上述範圍內之特徵，藉此以達到上述 各種效果。因此，構成光透過層之樹脂的具體構成以及光 透過層之形成方法並不特別被加以限定。例如，將樹脂乃 至於硬化後之樹脂之組成物加以塗佈，或是採用於必要之 際將硬化方法，或是事先製作之樹脂薄板，以紫外線硬化 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐〉 -15 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（13 ) 型接著劑或黏著劑等加以貼附之方法等。然而，爲了得到 本發明所限定範圍內之耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以 及耐拉破壞彈性率之光透過層，最好是藉由旋轉塗佈的方 式將活性能量線硬化型組織物加以塗佈，之後，藉由紫外 線等活性能量線所造成之硬化將光透過層加以硬化。 於活性能量線硬化型組織物中，一般而言至少個別具 有單官能基或多官能基之單體，聚寡合體及聚合物，更進 一步含有光重合起始劑，光重合起始助劑，重合禁止劑等 。如此的組成，例如可以從記錄於上述日本特開平8 -1 9 4 9 6 8號公報中之高密度光碟用保護塗佈劑之構成 材料中加以選擇。做爲用於本發明之組成物，最好是至少 含有於兩端上具有官能基之2官能基聚寡合體或單官能基 單體。若是上述2官能基聚寡合體之含有量太少或分子量 太小的話，則硬化後之耐拉破壞伸展率變得過小。若對2 官能基聚寡合體的單官能基單體的比例提高的話，則可使 硬化後之耐拉破壞伸展率不變小而可使耐拉破壞強度變小 。此外，藉由添加單官能基單體，光透過層與其所形成之 面之間的接著性亦可提升。然而，單官能基單體的添加量 若是過多的話，則硬化後之耐拉破壞伸展率變得過小。因 此，因應於本發明所要求之光透過層的物質的特性，來適 當的選擇2官能基聚寡合體的含有量，分子量，以及單官 能基單體的含有量即可。 做爲用於活性能量線硬化型組成物之聚寡合體與單體 ，可舉以下的例子。 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X 29*7公釐) -16: 一 ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) #1 ，項再填· 裝. 訂 管 594715 A7 ____ B7_ 五、發明説明（14 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 做爲2官能基聚寡合體，可列舉聚酯丙烯酸酯，環氧 丙烯酸酯，聚氨酯丙烯酸酯。做爲聚酯丙烯酸酯有東亞合 成化學工業公司製的阿羅尼克斯M - 6 2 0 0、阿羅尼克 斯Μ - 6 4 Ο 0X、阿羅尼克斯M— 6 4 1 0X、阿羅尼 克斯Μ — 6 4 2 0Χ。做爲環氧丙烯酸酯有昭和高分子公 司製的有李波克斯S Ρ — 1 5 0 6、李波克斯S Ρ — 1509、李波克斯SP — 1519 — 1、李波克斯SP —1 5 6 3 、李波克斯V R — 7 7、李波克斯V R — 6〇 、李波克斯VR - 9 0 ;大阪有機化學工業公司製的畢斯 科特540;日本化學公司製的卡亞拉特R—167;共 榮社油脂公司製的環氧聚酯3 0 0 2 A、環氧聚酯 3 0 〇 2M、環氧聚酯8 0MFA ;長瀨產業公司製的納 戴柯爾D Μ — 8 5 1、納戴柯爾D A — 8 1 1、納戴柯爾 D Μ — 8 1 1、納戴柯爾D A — 7 2 1、納戴柯爾D A — 9 1 1等。做爲聚氨酯丙烯酸酯有根上工業公司製的阿特 蘭治UN — 1 000PEP、阿特蘭治UN — 9 0〇0 Ρ E P、阿特蘭治U N — 9 2 0 0 A、阿特蘭治 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 UN— 25 0 0、阿特蘭治UN— 5200、阿特蘭治 UN— 1 102、阿特蘭治UN— 380G、阿特蘭治 UN - 5〇〇、阿特蘭治UN 一 9382 ;東亞合成化學 工業公司製的阿羅尼克斯Μ - 1 2 0 0 ;薩托馬公司製的 凱姆林庫9 5 0 3、凱姆林庫9 5 0 4、凱姆林庫 9 5 0 5 ° 做爲單官能基單體，可列舉芣基丙烯酸酯、苄基甲基 -17- 本紙張尺度適用中國(CNS)Α4規格（2ΐ〇χ297公慶） 594715 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（15) 丙烯酸酯、丁氧基丙烯酸乙酯、丁氧基甲基丙烯酸乙酯、 丁二醇單丙烯酸酯、環己酯丙烯酸酯、環己酯甲基丙烯酸 酯、二環丙烯酸戊酯、二環甲基丙烯酸戊酯、脂環族變性 新戊基乙二醇丙烯酸酯、二環戊烯基丙烯酸酯、2 -乙氧 基丙烯酸乙酯、2 -乙氧基甲基丙烯酸乙酯、2 —乙基丙 烯酸己酯、2 -乙基甲基丙烯酸己酯、縮水甘油丙烯酸酯 、縮水甘油甲基丙烯酸酯、2 -羥基丙烯酸乙酯、2 -羥 基甲基丙烯酸乙酯、2 -羥基甲基丙烯酸丙酯、異茨酯丙 烯酸酯、異茨酯丙烯酸甲酯、異癸基丙烯酸酯、異癸基甲 基丙烯酸酯、異辛基丙烯酸酯、異辛基甲基丙烯酸酯、十 二烷基丙烯酸酯、十二烷基甲基丙烯酸酯、2 -甲氧基丙 烯酸乙酯、甲氧基二甘醇甲基丙烯酸酯、甲氧基乙二醇丙 烯酸酯、氧氮陸圜丙烯酸酯、酚氧基羥基丙烯酸丙酯、酚 氧基丙烯酸乙酯、酚氧基甲基丙烯酸乙酯、E〇變性鄰苯 二甲酸丙烯酸酯、E 0變性鄰苯二甲酸甲基丙烯酸酯、硬 脂酸基丙烯酸酯、硬脂酸基甲基丙烯酸酯、四氧化糠基丙 烯酸酯、四氧化糠基甲基丙烯酸酯、乙烯基醋酸酯、N -乙烯基氮環戊烷。 適用於本發明之活性能量線硬化型組成物，其黏度相 對較高，具體而言於1000〜30000CP之程度。 相對於此於上述日本特開平8 — 1 9 4 9 6 8號公報中， 揭載了組成物於2 5 °C之適當黏度爲5〜3 0 0 c P之範 圍。 於上述日本特開平8 - 1 9 49 6 8號公報中，揭載 本紙張又度適用中.國國家標準（〇奶）八4規格（210乂 297公釐） -18 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) #1 項再填· 裝· 訂 甓 594715 A7 __ B7 五、發明説明（16 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 了藉由將光碟之保護膜達成至耐拉破壞伸展率15%以上 ，以抑制保存於尚溫高濕下的環境下所產生之光碟之翹曲 之理由。記載於同公報之耐拉破壞伸展率之範圍與本發明 所限定之範圍重複。然而，如上所述，因爲於同公報記載 之保護膜形成用組成物與本發明所採用之組成物不同，將 同公報記載之組成物加以硬化所形成之光透過層並不一定 具備有本發明中之光透過層之性質。並且，於同公報中， 爲了防止記錄部之腐鈾，僅僅記載了設置厚度1〜5 0 // m之保護膜之理由，但並未記載通過保護膜記錄光及再 生光加以入射之理由。因此，於同公報中，很明顯的並未 著眼於保護膜之雙折射率的降低。相對於此，於本發明中 ，爲了通過厚度1 0 0 // m左右之薄的光透過層將記錄光 及再生光加以入射，不僅可以顯著防止媒體之翹曲量，還 可抑制雙折射率及其分佈幅。於同公報中雖然記載了翹曲 量之降低，但未記載平面振動與平面振動加速度之內容。 此外，若是採用記載於同公報中低黏度之組成物的話，實 質上無法形成超過5 0 /zm厚度以上之光透過層。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明中之光透過層亦可爲2層以上之樹脂層之積層 體。做爲積層體型式，例如有於低耐拉破壞強度及高耐拉 破壞伸展率之內部層上，比起此內部層更具優良之耐摩擦 性之良好表面層被加以積層，且該表面層構成光透過層之 表面之構造。於此構造中，因爲即使將表面層比起內部層 設置的更薄亦可得到足夠之耐摩擦性，因此可使表面層更 薄。因此，關於表面層構成材料，其物質特性之要求並不 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -19 - 594715 A7 ____________B7_ 五、發明説明（17 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 嚴。因此，表面層構成材料可從各種樹脂中選擇耐摩擦性 相對較佳者來構成。而表面層之耐拉破壞強度最好比內部 層還高，其耐拉破壞強度最好比4 Ο Μ P a還高。 於此構造中之內部層及表面層最好是爲上述活性能量 線硬化型組成物之硬化物。關於用於內部層之形成之組成 物，如上所述，最好是選擇硬化後之耐拉破壞強度低，並 且耐拉破壞伸展率高，並且耐拉破壞彈性率低之組成。另 一方面，於用在表面層之形成之組成物，最好多官能寡聚 合體及/或多官能單體的比率較高之組成。藉由此，可使 表面層之變高。此外，將多官能單體的比率變高可提升內 部層及表面層之間的接著性。 採取內部層及表面層之2重構造的情況下，表面層之 厚度較佳爲0 _ 1〜10/zm，最好是〇 · 3〜5//m。 若表面層太薄的話，將光透過層全體之物質特性限定於本 發明之所定範圍內將極爲困難。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 亦可將內部層以2重構造以上之多重構造加以構成。 將光透過層以活性能量線硬化型組成物所組成之多重 構造加以構成的情況下，將形成下側層之組成物塗佈並加 以硬化之後，再將形成上側層之組成物塗佈並加以硬化。 然而，爲了提昇上側層與下側層之接著性，亦可利用於下 側層呈半硬化狀態時將上側層加以積層，最後使全部加以 硬化之方式。· 如上所述，對焦點感度曲線之P - P値F之焦點誤差 訊號的殘留誤差部份（R )的比例R / F可利用於光資訊 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -20 - '~ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 594715 A7 _______B7_ 五、發明説明（18 )
媒體之檢查。然而，即使爲同一媒體，R / F因使用線速 S不同而不同。本發明者們爲了將R/F控制在較佳範圍 內’將對應於使用線速度之應加以控制之參數加以探索， #'結果爲發現了光透過層表面之最大波度影響R/F極大 。具體而言，發現了將光透過層表面的最大波度以W t ( 單位：n m )來表示，記錄時或是再生時之使用線速度以 V(單位：m/s)來表示之際，最好是滿足 Wt$184〇e-0.04V 之式子。藉由因應使用線速度V使最大波度以W t以 滿足於上述範圍內的方式來形成光透過層，可實現低焦點 伺服機構誤差之媒體。雖然W t愈小愈好，但是因爲即使 W t極小也無法顯著提昇效果，因此一般W t爲 W t ^ 1 〇 n m 即可。而限定於本發明之最大波度W t規定於 ANSI B46 · 1。於測定光透過層之Wt之際，將 條件設定如下： 高透過濾鏡：0 . 2 m m、 低透過濾鏡：2 m m、 評估長度：20mm、 基準長度：1 6 m m、 探針下壓.力：1 0 m g、 探針：曲率半徑12 · 5/zm之鑽石針、 測定時間：2 5秒之間 其他測定條件則依A N S I B 4 6 1即可。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公羡1 ^21 - ~ I AW"""裝 ^ 訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 594715 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（19 ) W t所帶給上述R/F之影響因雷射光光束之點直徑 不同而不同。此情況之光束之點直徑爲雷射光入射（光透 過層表面）之點直徑。若是此光束之點直徑較大，即使 W t很大但R / F並不會變如此大。因此，限定於本發明 之V與W t之關係爲於上述光束之點直徑爲3 0 0 //m以 下的條件下，尤其是於2 0 0 // m以下特別有效。然而若 上述光束之點直徑太小的話，因爲光透過層表面粗糙的影 饗極大，因此本發明中之W t之控制最好是適用於上述光 束之點直徑爲1 0 // m以上的情況下。於如本發明之媒體 般之薄的光透過層的情況下，因爲光透過層表面中之光束 之點直徑較小，W t之控制較爲有效。而將雷射光之波長 設爲λ，將雷射光照射光學系統之數値口徑設爲N A，將 波長λ中之光透過層的折射率設爲η，將光透過層的厚度 設爲t的話，則光透過層表面中之光束之點直徑D爲 D = 2tan { sin*1 (NA/n) ) · t+1.22 λ /ΝΑ 被加以表示。而於光束點爲長圓形的情況下，上述光 束之點直徑爲記錄磁軌長方向之直徑。 於碟狀媒體中，光透過層表面的最大波度W t與上述 機構所發生之平面振動量與扭曲並無相關。然而，媒體之 平面振動量與扭曲較大的話，則無法測定W t。 因爲最大波度W t之最適値因使用線速度V不同而不 同，可因應使用線速度來控制光透過層表面的最大波度 W t即可，高線速度，例如線速度8 m / s以上，特別是 有必要對應1 0〜3 5 m / s之情況下，·最好是將光透過 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） _ 22 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Φ, 項再填· 裝· 訂 .豐 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ______B7五、發明説明（2〇 ) 層以以下說明來形成。 將包含紫外線硬化型樹脂之塗膜藉由旋轉塗佈來形成 ’於將此塗膜藉由紫外線照射使其硬化並形成光透過層之 情況下’有必要將旋轉塗佈條件以於塗膜上不產生不勻稱 塗佈的方式來控制。因此，例如以於塗膜上不混入氣泡的 方式來控制塗佈液的黏度，以塗佈液中不含膠化物的方式 來調製塗佈液。 另一方面’光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板 ，以及將該光透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構 成’，而於接著層含有紫外線硬化型樹脂之硬化物的情況下 ，接著層的平均厚度最好爲〇 · 5 /zm以上5 //m以下， 尤其最好是1〜3 // m。若接著層太薄的話，因爲紫外線 的吸收量較少，難以產生活性。此外於空氣中進行硬化之 際，若接著層太薄的話，接著層之單位體積所接觸之空氣 量變多，於容易受氧氣阻害之樹脂（例如化合基重合系列 樹脂）及容易受濕氣阻害之樹脂（例如陽離子重合系列樹 脂）中，其容易失去活性。因此，接著層變得難以硬化， 接著力變得不足。此外，若接著層太薄的話亦難以形成一 層膜。另一方面，若接著層太厚的話，不僅接著層的厚度 分布變大，接著於接著層上的光透過性薄板表面的最大波 度W t亦會變大。而接著層的平均厚度是指，從光碟中心 開始之距離爲光碟半徑1 / 2之位置的厚度。 接下來說明接著層的形成方法。 於形成接著層之際，首先將包含紫外線硬化型樹脂或 本紙張尺度適用中周國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐) 「23 :' 丨 裝 „1T, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（21 ) 是其溶液之塗膜全面形成於支持基體側的表面（第1圖中 之記錄層4的表面）上。爲了將接著層的厚度分布及不勻 稱塗佈降低，最好是將紫外線硬化型樹脂以溶劑稀釋成樹 脂溶液，採用此樹脂溶液以形成塗膜。用於稀釋爲樹脂溶 液之溶劑並不特別限定，例如醇類、酯類、乙氧基乙醇類 ’碳氫類等各種溶劑中，選擇無法侵入支持基體及光透過 層薄板者加以採用。 樹脂溶液的黏度希望未滿1. 0 c P，最好爲4〜6 c P。黏度太高的話，則難以將接著層的厚度分布變小。 另一方面，若黏度太低的話，則難以形成一層膜。樹脂溶 液之固態成分濃度較佳爲1 〇〜5 0 w t %，最好是2 0 〜4 0 w t %。固態成分濃度太低的話，則難以形成一層 膜。固態成分濃度太高的話，則難以將接著層的厚度分布 變小’且難以將光透過層表面的最大波度W t變小。 塗膜之形成方法並不特別限定，例如採用旋轉塗佈法 ，噴霧塗佈法，滾動塗佈法，掃描塗佈法，模具塗佈法， 簾幕塗佈法，深層塗佈法等之一即可。然而，於旋轉塗佈 法中，愈往光碟的外周其接著層愈厚，此外，於滾動塗佈 法及染料塗佈法中，因爲容易於讀取側與拖曳側產生不同 接著層的厚度，接著層的厚度控制效果於此方法中特別有 效。於這些塗佈法當中，從容易形成一層膜，以及因非接 觸塗佈而不會赋予破壞於媒體上，以及可降低接著層表面 粗糙等來考慮，以旋轉塗佈法最佳。 塗膜形成後，將光透過層薄板裝載於塗膜上。光透過 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS〉A4規格（210 X 297公釐） _ 24 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 594715 A7 _____B7 五、發明説明（22) 層薄板之裝載最好於減壓環境下進行。做爲減壓環境，未 滿1氣壓，較佳爲〇 · 3氣壓以下，最好爲〇 · 1氣壓以 下。因爲藉由將光透過層薄板裝載於減壓環境中可防止氣 泡混入接著層中，可防止起因於氣泡之磁軌伺服機構之不 良。 裝載光透過層薄板之後，藉由紫外線照射將塗膜加以 硬化。紫外線照射一般是以採用高壓水銀燈來進行。硬化 可於減壓環境下進行，亦可於返回一般空氣狀態中進行。 於減壓環境下進行硬化的話，可以減輕硬化時的氧氣阻害 與溼度阻害。 於藉由紫外線照射將接著層加以形成之際，最好是將 紫外線照射能量密度設定於1 0 0 OmW/cm2以下，尤 其是最好是設定於6 0 0 m W/ c m 2以下。若將紫外線照 射能量密度設定於此範圍的話，可使接著於接著層之光透 過性薄板表面的最大波度W t變小，例如即使於接著層厚 度爲5 // m的情況下，亦可使光透過性薄板表面的最大波 度W t變小。然而，若紫外線照射能量密度太低的話，因 爲硬化所需時間變的太長使硬化不完全，紫外線照射能量 密度最好於5 m W/ c m 2以上。 光透過性薄板的構成材料最好是由聚碳酸酯、聚燃丙 酯以及環狀聚.烯烴中的一種所構成。 於本發明中所採用之聚碳酸酯並不特別限定，例如可 採用一般之2，2 -雙（4 -羥苯基）丙烷類芳香族之聚 碳酸酯，做爲如後所述之藉由流延法被製造之聚碳酸酯薄 I紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公-25: " I -φ—抑衣-------、訂------•線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ________ B7 五、發明説明（23 ) 板，例如Pure Ace (日本帝人公司製造）於市面上有售。 聚烯丙酯爲2價的苯酚及芳香族三羧酸所合成之聚酯 。於本發明所用之聚烯丙酯爲非晶質的聚烯丙酯，特別是 最好用雙苯酚A與對酉太酸之縮重合物。雖然聚烯丙酯與聚 碳酸酯同樣具有芳香環所以容易產生雙折射，但比起聚碳 酸酯其具有較高耐熱性。藉由之後所述之流延法所製造之 聚烯丙酯，例如有市面上所販售之愛爾每克（鍾淵化學工 業公司製）。 於本發明中所採用之環狀聚烯烴最好具有良好之光透 過性。做爲具有良好光透過性之環狀聚烯烴，可列舉以降 冰片烷系列化合物爲起始物質之非晶質聚烯丙酯。此化合 物亦具優良之耐熱性。於本發明中可採用市面上所販售之 環狀聚烯烴。做爲市面上所販售之環狀聚烯烴，·可列舉出 亞頓（JSR公司製）、齊歐尼克斯（日本Zeon公司 製）、亞培爾（三井化學公司製）等。於此當中亞頓與齊 歐尼克斯是以薄膜型態來加以販售。亞頓與齊歐尼克斯爲 將降冰片烷系列單體加以開環重合並添加氫元素。亞頓爲 因爲於降冰片烷系列單體之側鎖上使其具聚酯基，因此易 溶解於溶劑中。因此於薄板化之際，有利於利用之後所述 之流延法。此外，因爲對於有機材料之接著性良好，因此 亦有利於提高接著層之接著強度。此外，因爲帶電性低， 因此亦有利於防止塵埃附著。 光透過性薄板之製造方法並不特別限定，因爲於本發 明中所採用之光透過性薄板較薄，難以用一般之射出成形 (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -26- 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（24 ) 法來製造。因此，最好是採用流延法（溶劑鑄膜法）或熔 融押出法等將樹脂形成薄板狀之方法。在此當中最好是採 用流延法。流延法例如是記載於日本特公平3 -7 5 9 4 4號公報。於同公報中，記載了可製造具有優良 之透明性、雙折射性、可彎曲性、表面精度、膜厚之均一 程度等之柔軟性光碟基板之流延法，而於本發明中，光透 過性薄板之製造最好是沿用此流延法。於流延法中，藉由 以下的工程將光透過性薄板加以製造。 (1 )將聚碳酸酯小錠等樹脂錠溶解於二氯甲烷，丙 烯月青，丙烯酸甲酯等溶媒， (2 )經攪拌、脫泡、濾過之後，從印膜中將之連續 灌入高表面精度之模具上。 (·3 )透過乾燥爐將溶媒蒸發，以滾輪方式將之捲取 〇 比起一般之溶融押出法所製造出之薄板，因爲加諸於 以此流延法所製造之光透過性薄板之張力較小，使雙折射 率較小。相對於此由溶融押出法所製造出之薄板中，於延 伸方向中產生雙折射之分布。此外，於上述流延法中，藉 由將溶媒之蒸發速度適切的控制，可以製造表面狀態優良 且均一厚度之薄板，並且不會產生於溶融押出法所製造出 之薄板中所會產生之印模線所造成之痕跡。此外，若是採 用由流延法所製造出之薄板，可使光透過層表面的最大波 度W t降低，例如即使接著層之厚度爲5 // m以上亦可使 W t降低。 I 裝 ^ 訂 . (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -27 - 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _ B7______五、發明説明（25) 而光透過性薄板是否爲藉由流延法所製造出可由雙折 射之模式是否爲各向同性來加以確認，此外亦可藉由將薄 板中殘存溶劑以氣體色譜法來進行定性分析來加以確認。 【實施例】 實施例1 於形成溝槽之光碟狀支持基體（聚碳酸酯製，直徑 120mm，厚度1·2mm)的表面上，將由 A 1 9 8 P d i C u i (原子比）所構成之反射層藉由噴射法 來形成。溝槽的深度爲以波長；1 = 4 0 5 nm之光程長來 表示爲λ / 6。紋間表面·溝槽記錄方式中之記錄磁軌凹 坑爲 0 . 3 // m。 接下來於反射層表面上，採用A 1 2〇3中間電極並藉 由噴射法來形成厚度2 0 nm之第2介電體層。 接下來於第2介電體層上，採用由相變化材料所組成 之合金中間電極，並藉由噴射法來形成厚度1 2 nm之記 錄層。記錄層之組成（原子比）爲Sb74Te18 ( G 6 7 I Π 1 ) ° 接下來於記錄層表面上，採用Z n S ( 8 0莫爾％ ) —S i〇2 ( 2 0莫爾％ )中間電極並藉由噴射法來形成厚 度1 3 0 n m.之第1介電體層。 接下來於第1介電體層表面上，藉由旋轉塗佈法將紫 外線硬化型樹脂（昭和高分子公司製之S S P 5 0 U 1 〇 ’於2 5 °C之黏度爲1 9 0 0 c P )加以塗佈，並藉由照 本紙張朝巾卿家鮮（CNSyA4規格（2H)X297公釐)728 - ~~ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___ B7 五、發明説明（26 ) 射紫外線以形成厚度9 7 // m之內部層。接下來藉由旋轉 塗佈法將紫外線硬化型樹脂（三菱R A Y〇N公司製之 Μ Η - 7 3 6 1 )加以塗佈，並藉由照射紫外線以形成厚 度3 /zm之表面層，並得到厚度1 〇 〇 /zm之光透過層。 將如此製作出之光記錄碟片樣本之記錄層以淸除電路 (Bulk E r a s e r )加以初期化（結晶化）之後 ，採用Dr· Schenk公司製造之Briefl26P從光透過層側將 波長6 3 0 n m之雷射光加以照射，並測定資訊記錄區域 (樣本之半徑2 3〜5 8 m m )中之光透過層之雙折射率 ，以求得其絕對値之最大値以及最大値及最小値（分布幅 )之差，結果顯示於第1表中。 此外，將此樣本之光透過層之表面反射率以以下之步 驟加以測定。首先，於與上述支持基體相同尺寸之玻璃基 板的表面上，以上述之步驟形成了光透過層之後，將上述 光透過層從玻璃基板中剝離。接下來將此光透過層於波長 4 0 5 nm之反射率藉由附屬於島津製作所公司所製之分 光光度計Μ P S - 2 0 0 0之4 5 ^絕對鏡面反射率測定裝 置來加以測定。結果顯示於第1表中。 接下來將此樣本裝載於光記錄媒體評估裝置上，於 雷射波長·· 4 0 5 n m、 數値口徑N A : Ο · 8 5、 線速度：1 1 · 4 m/ s、 記錄訊號：1 一 7調製訊號（最短訊號長2 T ) 的條件下，於紋間表面及溝槽上進行記錄。接下來再 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS〉A4規格（210X 297公釐） _ 29 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
Φ— 項再填I 裝 訂 .豐 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7_五、發明説明（27 ) 生記錄訊號並測定訊號之變化性。結果顯示於第1表中。 而此訊號之變化性是藉由時間區間分析器加以測定，並藉 由以檢測窗幅爲T w a / T w ( % ) 所求·出之時間訊號之變化性。若此變化性爲1 3 %以 下者爲誤差之容許範圍，但爲了確保各種邊界値，希望爲 1 0 %以下，最好爲9 %以下。 此外，於以下的方法中對焦點感度曲線之Ρ — Ρ値F 之焦點誤差訊號的殘留誤差部份（R )的比例加以測定。 首先，將樣本裝塡於測定裝置中，以線速度1 1 · 4 m / s加以旋轉。接下來不加上焦點伺服機構，將樣本與 光接收器之間的距離一邊改變一邊檢測焦點誤差訊號，以 求得樣本之變位與焦點誤差訊號輸出之間的關係的焦點感 度曲線。此焦點感度曲線一般稱爲S字曲線，例如記載於 1 989年2月10日Ra d i 〇技術公司所出版之「光 碟技術」之第8 1頁上。從此焦點感度曲線中求得焦點誤 差訊號輸出之P - P値，亦即正向側輸出之尖峰値與負向 側輸出之尖峰値之差。接下來加上焦點伺服機構，以測定 焦點誤差訊號的殘留誤差部份之輸出P - P値。於此測定 中，藉由刃形支承法來進行焦點伺服機構。如此所求出之 焦點感度曲線之P - P値以F來表示，焦點誤差訊號的殘 留誤差部份輸出之P - P値以R來表示，並算出R / F。 結果顯示於第1表中。 於求得對焦點感度曲線之P - ρ値F之焦點誤差訊號 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） .30 - 1 辦本 „IT. (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（28 ) 的殘留誤差部份R的比例之際所採用之焦點伺服機構並不 特別限定，刃形支承法或非點收差法均可。 接下來將樣本之光透過層以切割刀切成平面尺寸6 0 m m X 1 0 m m之矩形做爲試驗片，用此試驗片根據日本 J I S K 7 1 2 7 - 1 9 8 9及限定於本發明之測定條 件，藉由歡李安特克公司製的T R Μ - 1 〇 〇型張力測定 器來測定耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐拉破壞彈 性率。結果顯示於第1表中。而於切出試驗片之際，於試 驗片上雖附著介電體層、記錄層、反射層等，但這些層的 附著並不影響耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐拉破 壌彈性率之測定値。 此外，關於樣本，藉由小野測器公司製的 L Μ 1 2 0 0來測定翹曲量及平面振動量。此外，並於 8 0 °C · 8 0 % R Η的環境下保存5 0小時後進行同樣的 測定。結果顯示於第1表中。 實施例2 藉由旋轉塗佈法將紫外線硬化型樹脂（日本化藥公司 製之Β8 25 °C之黏度爲5000cP)加以塗佈，並 藉由照射紫外線以形成厚度1 〇 〇 # m之光透過層，其他 與實施例1相同，以製作光記錄光碟樣本。關於此樣本， 進行與實施例1相同之測定。結果顯示於第1表中。 實施例3 本紙張尺度適用中.國國家榡準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -31 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（29 ) 藉由旋轉塗佈法將紫外綠硫化^ ^ 卜織硬化型樹脂（昭和高分子公
司製之SSP50U14 ^ D Z5C之黏度爲4〇〇〇cP )加以塗佈’並藉由照射紫外線以形成厚度丄q q # m之 光透過層，其他與實施^相同，以製作光記錄光碟樣本 。關於此樣本’進行與實施例丄相同之測定。結果顯示於 第1表中。 比較例 藉由旋轉塗佈法將紫外線硬化型樹脂（昭和高分子公 司製之No .303 — 2 25。(：之黏度爲4〇〇0〇1> )加以塗佈’並藉由照射紫外線以形成厚度1 〇 〇 # m之 光透過層，其他與實施例1相同，以製作光記錄光碟樣本 。關於此樣本，進行與實施例1相同之測定。結果顯示於 第1表中。 比較例2 藉由旋轉塗佈法將紫外線硬化型樹脂（長瀬千葉公司 製之T695/UR740 25 °C之黏度爲2100 c P )加以塗佈，並藉由照射紫外線以形成厚度1 〇 〇 /z m之光透過層，其他與實施例1相同，以製作光記錄光 碟樣本。關於此樣本，進行與實施例1相同之測定。結果 顯示於第1表中。 比較例3 本紙張尺度適用中國國家標隼（CNS ) A4規格（210x297公釐） -32 - ~裝 ： 訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 線 594715 A7 _________B7 五、發明説明（30 )
藉由旋轉塗佈法將紫外線硬化型樹脂（大日本油墨化 學工業公司製之SD3 1 8 25 °C之黏度爲1 40cP (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) )加以塗佈’並藉由照射紫外線以形成厚度1 # m之 光透過層’其他與實施例1相同，以製作光記錄光碟樣本 。關於此樣本，進行與實施例1相同之測定。結果顯示於 第1表中。 比較例4 準備記載於上述日本特開平8 - 1 9 4 9 6 8公報之 實施例3之紫外線硬化型樹脂。此紫外線硬化型樹脂含有 EPA— 1 (日本化藥公司製）2〇重量部 MANDA (日本化藥公司製）40重量部 THF— A (共榮油脂公司製）1〇重量部· R - 5 6 1(日本化藥公司製）3 0重量部 DarocurBP (千葉特用化學品公司製）3重量部 DMB I (日本化藥公司製）1重量部 Irgacure651乂千葉特用化學品公司製）3重量部， 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 5 °C之黏度爲6 4. c P。於光透過層之形成採用此紫外 線硬化型樹脂，其他與實施例1相同，以製作光記錄光碟 樣本。紫外線照射能量密度爲2 0 0 0 m W/ c m 2。然而 ，因爲此紫外線硬化型樹脂黏度較低，光透過層之厚度無 法超過5 0 // m，因此將光透過層之厚度設定爲超過5 0 // m °關於此樣本，進行與實施例1相同之測定。結果顯 示於第1表中。 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） · 33 - 594715 A7 B7 五、發明説明（31 ) 弟1表 耐拉破壞 強度 (MPa) 耐拉破 壞伸張 率 (%) 耐拉破 壞彈性 率 (MPa) 於波長630nm之 雙折射率 (nm) R/F (%) 變化 (% ) 表面 反射 率 (%) 翹曲量（nm) (%) 平面振動量 (nm) (%) 最大値分細 初期 保雜 初期 保存 實施例1 32 68 76 15 8 4.53 8.8 8 -74.8 -116.3 55.8 62.4 實施例2 17 55 200 16 11 4.38 8.6 8.5 -96.7 -123.8 34.9 31.8 實施例3 24 18 784 16 7 4.8 9 10 -68.4 -110.5 48.6 42.1 比較例1 . 44* 17 1044* 30* 25* 8.72 12.3 11.0* -186.2 -284.6 111.6 108.6 比較例2 4* 16 24* 19 16 6.5 11.5 9 -141.1 -248.4 87.4 79.7 比較例3 >50* 5* 2000* 54* 60* 10.70* 15 11.0* -265.7 -430.8 180.7 194.1 比較例4 65* . 4* 1810* 30* 24* 10.30* 12 11.0* -223.5 -286.3 150.5 174.3 * 限定範圍外 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 從第1表得.知本發明之效果極爲明顯。亦即，耐拉破 壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐拉破壞彈性率限定於本發 明之範圍內之樣本中，雙折射率及其分布幅極小，此外， 焦點誤差少，變化量小，翹曲量及平面振動量極小，再者 ，保存於高溫高濕的環境下其翹曲量及平面振動量亦極小 〇 相對於此，若耐拉破壞強度，耐拉破壞伸展率以及耐 拉破壞彈性率中的至少一項脫離本發明之範圍的話，則本 發明之效果無法實現。 此外，不設置上述內部層，並將上述表面層設置厚度 1 Ο Ο μ. m以做爲光透過層，其他與實施例1相同’以製 作光記錄光碟樣本。針對此樣本之光透過層之耐拉破壞強 度加以測定，其爲5 Ο Μ P a以上。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -34 - 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（32 ) 實施例4 樣本Ν ο · 1 將光透過層以下列步驟加以形成之外，其他與實施例 1相同，以製作光記錄光碟樣本。 於光透過層形成之際，首先於第1介電體層表面上， 藉由旋轉塗佈法將新力化學公司製的紫外線硬化型樹脂 SK 5 1 1 0加以塗佈以形成樹脂層。接下來於真空中（ 0 . 1大氣壓以下），以做爲光透過性薄板將聚碳酸酯薄 板（厚度1 0 0 、雙折射率15 nm)裝載於樹脂層 上。此聚碳酸酯薄板爲日本帝人公司製造之pure Ace，爲 藉由上述流延法製造之化合物。此聚碳酸酯之玻璃轉折點 爲1 4 5 °C，分子量約4 0 0 0 0。於載置此光透過性薄 板的狀態下，以6 0 0 0 r p m於1 〇秒間將光碟加以旋 轉，將多餘的樹脂排除掉。接下來回到空氣狀態中，以紫 外線加以照射使上述樹脂層硬化，以得到厚度1 〇 3 # m 之光透過層。 紫外線來源則是採用愛格拉非克公司製的Xe Flash Lamp，藉由輸出1 2 0 J並以8道傳送來將紫外線加以照 射。此時，紫外線照射能量密度無法測定（超過5 〇 〇 〇 m W/ c m 2 )。而照射能量密度是藉由E T I Inst rumentation P.roducts 公司製的 UVICURE PLUS 來加以測定 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 樣本N ο . 2 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS〉A4規格（210X297公釐〉 -35- 594715 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（33 ) 做爲紫外線來源採用牛尾電機公司製的高壓水銀燈（ 3 k W型、照射能量密度3 〇 〇 m J / c m 2 )，紫外線照 射能量密度爲600mJ/cm2之外，其他與樣本N0. 1相同’以製作光記錄光碟樣本。 樣本N 〇 . 3 用於接著劑的形成之紫外線硬化型樹脂採用長瀨凱姆 提克斯公司製的T 6 9 5 / U R 6 2 1 ，紫外線來源採用 牛尾電機公司製的Multi Light ( 2 5 0 W型），紫外線照 射能量密度爲5 0 m J / c m 2之外，其他與樣本N 〇 . 1 相同，以製作光記錄光碟樣本。 樣本N 〇 · 4 於第1介電體層表面上，藉由旋轉塗佈法將紫外線硬 化型樹脂（日本化藥公司製之B 8 2 5 °C之黏度爲 5 0 0 0 c P )加以塗佈，並藉由照射紫外線以形成厚度 10 0/zm之光透過層，其他與樣本No · 1相同，以製 作光記錄光碟樣本。而紫外線照射條件則與樣本N 〇 . 2 之接著層硬化條件相同。 樣本N 〇 . 5 .(比較） 爲TDK有限公司製的DVD — RAM (單面2 . 6 GB型），而整個構造爲記錄再生用之雷射光通過厚度 0.6mm之聚碳酸酯基體以入射。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -36 - —裝 ： 訂 . (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 504715 Α7 Β7 五、發明説明（34 ) 樣本N 0 · 6 (比較） (锖先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 爲TDK有限公司製的DVD — RAM (雙面5 · 2 GB型），而整個構造爲記錄再生用之雷射光通過厚度 〇 · 6 m m之聚碳酸酯基體以入射。 評估 關於上述各樣本之雷射光入射，針對規定於 ANSI B 4 6 · 1之稀疏度參數（中心線平均稀疏度 R a，最大稀疏度R t，中心線波度W a以及最大波度 w t )加以測定。這些稀疏度參數是於雷射光入射面之半 輕4 0 m m處加以測定。測定方向爲樣本之針對圓周方向 之切線方向，測定長度爲2 0 m m。重複此測定5次以求 取平均値。而測定最大波度W t之際之條件爲限定於本發 明之上述測定條件。結果如第2表所示。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 此外，關於上述各樣本，一邊將線速度由低速變至高 速，一邊測定對焦點感度曲線之P - P値F之焦點誤差訊 號的殘留誤差部份（R )的比例R / F，以求取R / F不 超過1 0 %之最大線速度V m a X，結果如第2表所示。 樣本No.1〜4之測定條件設定於 雷射波長.：4〇5 n m、 數値口徑ΝΑ:0.85 ，而將樣本Ν 〇 · 5〜6之測定條件設定於與D V D 一 R A Μ相同，亦即 -37- 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS〉Α4規格（21〇χ297公釐） 594715 A 7 ___ B7 五、發明説明（35 ) 雷射波長·· 6 3 5 n m、 數値口徑ΝΑ:〇·6〇 第2表 樣本No. Vmax (m/s) Ra (nm) Rt (nm) Wa (nm) Wt (nm) 1 7.3 1.3 21.1 293 1400 2 10.8 1.3 18.5 273 1240 3 12.5 1.3 17.5 258 1170 4 28.9 1.1 9.1 144 636 5 (比較） 24.1 1 9 414 1780 6 (比較） 8.4 1.2 11.4 568 2440 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 從第2表得知Vma X因樣本的不同而不同。此外’ 亦可得知V m a X與R a及R t不具相關性而與W a及 W t.具有相關性。第2圖顯示了橫軸爲線速度V及縱軸爲 最大波度W t之圖示。於第2圖中，繪出上述各樣本中之 V m a X及W t之關係的各點，此外，亦同時繪出 Wt = 184〇e"°*04V 所表示之曲線。 爲了將具有繪於第2圖之W t之各樣本使用於上述 R/ F不超過1 〇 %之方式下，有必要將使用線速度V設 定於比各樣本之V m a X還慢，於第2圖中，每個樣本均 存在於 Wt=1.840e - 004V 所表示的曲線上方。因此，使用滿足於 Wt$1840e -0 … 式子之線速度V的情況下，於各樣本中其上述R / F 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐〉 -38 - 594715 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（36 ) 均不超過1 0 % ° 於第2圖中’市面上販售之DVD — RAM之樣本 N 〇 . 5〜6 ，儘管比起樣本Ν ο · 1其W t顯著的大， 但其V m a X則比樣本Ν ο · 1大。因此，可以使用比 W t S 1 8 4 0 e -。… 式子所限定之線速度V還要大之線速度。其理由爲將 樣本N 〇 · 5〜6中之R / F的測定條件設定爲與D V D 一 R A Μ之再生條件相同。亦即，於樣本Ν ο · 1〜4中 ，因爲光入射面之光束點直徑約1 2 0 左右’雖然對 W t之控制有效，但於樣本Ν 〇 · 5〜6中，因爲光入射 面之光束點直徑約4 9 0 // m左右，非常的大，因此沒有 必要控制W t。 【發明之效果】： 於本發明中，透過厚度約1 〇 〇 /zm左右之光透過層 進行資訊的再生之光資訊媒體中，將耐拉破壞強度，耐拉 破壞伸展率以及耐拉破壞彈性率各控制於所定範圍內。具 有如此特性之光透過層，其雙折射率極小，其分佈幅亦小 ，並且媒體之翹曲量及平面振動量亦小。. 於本發明之媒體中，翹曲量及平面振動量極小，尤其 是因爲平面振動量極小而於線速度較快之際其平面振動加 速度可達較小。其結果爲，於線速度較快之際之焦點誤差 訊號的殘留誤差部份（R )與焦點感度曲線之p — p ( peak-to-peak)値F之比例爲1 0 %以下，於高傳輸速率下 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -39 - (請先閱讀背面之注意事- •I ，項再填· 裝-- :寫本頁) 訂 594715 A7 B7 五、發明説明（37 ) 之焦點伺服機構的誤差變少。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 媒體之翹曲量及平面振動量之間並無任何直接相關。 雖然於翹曲量較大之媒體其平面振動量有較大之傾向，但 例如光碟狀媒體呈傘狀翹曲之情況下其平面振動量幾乎不 增大。另一方面，伴隨著扭曲之翹曲一旦發生，即使測定 出的翹曲量不大但其平面振動量則變的極大。 做爲關於焦點伺服機構的特性之判定基準將R / F加 以利用，爲以往未被提案，而本發明者們發現，將R / F 降低，具體而言爲將R/F降至1 0%以下，有助於再生 之際i跳動的降低，此外亦有助於寫入錯誤之防止。藉由 於記蠢或再生時所使用之線速度（使用線速度）中將 R / F加以測定，因爲可以判定該媒體於該使用線速度中 是否能達到高信賴性之記錄及再生，因此可將R / F的測 定應用於媒體的檢查。即使R / F比1 0 %還大，焦點伺 機構並不會失去功用。 於本發明之媒體中，因爲雙折射率極小使光的利用效 率變高，其結果爲可提高再生訊號之輸出。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 於光透過層般的樹脂層中，耐拉破壞強度及耐拉破壞 伸展率以及耐拉破壞彈性率3者之間並無直接的相關關係 【圖面之簡單說明】： 第1圖係爲顯示本發明之光資訊媒體的構成例之部份 剖面圖。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -40 - 594715 A7 B7 五、發明説明（38 ) 第2圖係爲顯示，針對焦點感度曲線之P 一 P値之焦 點誤差訊號的殘留誤差部份（R )之比例R/ F不超過 1 0 %之最大的線速度V m a X，以及與媒體之光入射線 的最大波度W t之關係。 【圖號說明】： 2:光透過層 2 0 :支持基體 2 1 :溝紋 4 :記錄層 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消賣合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -41 -

Claims (1)

  1. 594715 ABJCD 六、申請專利範圍 ， 1·一種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資訊 記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光透 過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，而上述光透過 層係由樹脂所構成，其耐拉破壞強度爲5〜4 OMP a並 且耐拉破壞伸展率爲1 5〜1 0 0 %並且耐拉破壞彈性率 爲 40 〜1000 MPa。 2 ·如申請專利範圍第1項之光資訊媒體，其中，上 述光透過層的厚度爲3 0〜2 0 0 。 3 . —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資訊 記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光透 .過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲：於 資料記錄區域中，上述光透過層於波長6 3 0 n m之雙折 射率（絕對値）爲2〜2 0 n m以下，於波長6 3 0 n m 之雙折射率之分佈幅爲2〜2 0 nm以下。 4 · 一種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資訊 記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光透 過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲：上 述光透過層之記錄波長及再生波長之表面反射率爲10% 以下。 5 · —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資訊 記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光透 過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，.其特徵爲：記 錄時或是再生時之線速度之焦點誤差訊號的殘留誤差部份 以R來表示，焦點感度曲線之P - p値以F來表示的話， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（21〇X：297公釐） (請先閱讀背面之注意事項存填寫本育) -裝· 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -42- 594715 ABCD 々、申請專利範圍 2 R/F不超過1〇%。 6 · —種光資訊媒體，係於支持基體表面上具有資訊 記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層，並經由此光透 過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射，其特徵爲：上 述光透過層表面的最大波度以Wt (單位：nm)來表示 ，記錄時或是再生時之線速度以V (單位：m / s )來表 示之際，於上述光透過層表面的記錄或是再生之雷射光光 束之點直徑爲3 0 0 n m以下爲條件下，則 10nmSWtS1.8 40e 一 0.04V 式成立。 7 ·如申請專利範圍第6項之光資訊媒體，其中，上 述光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板，以及將該光 透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構成，而上述接 著層含有紫外線硬化型樹脂之硬化物，上述接著層的平均_ 厚度爲0 · 5#m以上5//m以下。 8 ·如申請專利範圍第6項之光資訊媒體.，其中，上 述光透過層係由樹脂所構成之光透過性薄板，以及將該光 透過性薄板接著於支持基體側之接著層所構成。 9 ·如申請專利範圍第1項至第8項之任一項之光資 訊媒體，其中，於線速度爲8 m / s以上3 5 m/ s以下 被加以使用。 1 〇 ·如申請專利範圍第1項至第8項之任一項之光 資訊媒體，其中，若將物鏡之數値口徑設爲N A，將記錄 光或再生光之波長設爲λ的話，則藉由滿足 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2i〇X297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 、tT 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -43 - 594715 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 3 A/NA^7 8 0nm 式子之裝置，記錄或再生被加以進行。 1 1 . 一種製造如申請專利範圍第6項至第8項中任 一項所述之光資訊媒體之方法，其中，‘上述光透過層係由 樹脂所構成之光透過性薄板，以及將該光透過性薄板接著 於支持基體側之接著層所構成，而上述接著層含有紫外線 硬化型樹脂之硬化物，藉由將紫外線照射於紫外線硬化型 樹脂之塗膜上使其硬化並將上述接著層加以形成之際，將 紫外線照射能量密度設定於1 0 0 0 m W / c m 2以下·。‘ 1 2 · —種光資訊媒體之記錄或再生之方法，其特徵 爲：於支持基體表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄層 上，針對具有於波長6 3 0 n m之雙折射率（絕對値）爲 2〜2 0 nm以下，於波長6 3 0 nm之雙折射率之分佈 幅爲2〜2 0 nm以下之光透過層之光資訊媒體，透過光· 透過層將記錄或再生之雷射光加以入射以進行記錄或再生 〇 1 3 · —種光資訊媒體之記錄或再生之方法，其特徵 爲：於支持基體表面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄層 上，針對具有記錄波長及再生波長之表面反射率爲1 〇 % 以下之光透過層之光資訊媒體，透過光透過層將記錄或再 生之雷射光加以入射以進行記錄或再生。 1 4 · 一種光資訊媒體之檢查方法，係於支持基體表 面上具有資訊記錄層，於此資訊記錄層上具有光透過層， 並經由此光透過層，記錄或是再生之雷射光被加以照射， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS〉A4規格（210X297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝- 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 44- 594715 ABCD 六、申請專利範圍 4 其特徵爲：記錄時或是再生時之線速度之焦點誤差訊號的 殘留誤差部份以R來表示，焦點感度曲線之P - P値以F 來表示的話，R/F不超過1 0%。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -45 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210 X 297公釐）
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